JP2001524228A - 機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法 - Google Patents

機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法

Info

Publication number
JP2001524228A
JP2001524228A JP51943098A JP51943098A JP2001524228A JP 2001524228 A JP2001524228 A JP 2001524228A JP 51943098 A JP51943098 A JP 51943098A JP 51943098 A JP51943098 A JP 51943098A JP 2001524228 A JP2001524228 A JP 2001524228A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
target
edge
reference point
edges
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP51943098A
Other languages
English (en)
Inventor
ジェイ. マイケル,デイビッド
エス. ウォラク,アーロン
Original Assignee
コグネクス コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コグネクス コーポレイション filed Critical コグネクス コーポレイション
Publication of JP2001524228A publication Critical patent/JP2001524228A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/80Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 機械視覚法は2つ又はそれ以上の領域を有する型の較正標的を解析し、各領域は例えば色、コントラスト、又は輝度など隣接領域と異なる「画像化可能」な特性を有する。各領域は少なくとも2つのエッジ(「隣接エッジ」と呼ばれる)を有し、それらは直線で基準点の方向を向き、任意に基準点(例えば標的の中心、又は他の位置)で交わる。本発明の方法は標的の画像生成を含み、隣接エッジに応答して画像形状を識別し、直線をそれらエッジと一致させ、それら直線から標的の方向及び位置の両方又は一方を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】 機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法 [発明の属する技術分野] 本発明は機械視覚に関し、更に詳細には較正標的並びに画像内で標的の位置及 び方向を決定する方法に関する。 [従来の技術] 機械視覚は、物体の性質及び画像内に示される他の特徴を決定する画像の自動 解析に関係する。機械視覚は自動製造ラインでよく利用され、組立前の配置及び 心合わせを決定するために部材の画像が解析される。機械視覚はまた品質保証の ためにも使用される。例えば、薬品及び食品の包装業において、製品ラベル、ロ ット番号、賞味期限などが正しく配置され、判読できることを保証するために、 包装の画像が解析される。 多くの機械視覚の応用では、画像を解析される物体が較正標的を含むことが不 可欠である。標的(たいていは十字形の印)は、画像内の他の特徴に関して物体 の方向及び位置の決定を容易にする。標的はまた、画像内の座標位置を「現実世 界」内の座標位置(例えば、載物台の座標位置又は物体が配置されるベルトコン ベア)に関連づけることを容易にする。較正座標はまた、現実世界に関してカメ ラの位置及び方向を決定することを容易にし、ピクセルの大きさ及びレンズの歪 みのようなカメラ及びレンズのパラメータを決定することを容易にするために使 用される。 十字形の印に加えて、従来の技術はドットの配列、同心円の半球レンズ、及び 平行なストリップを較正標的として提案している。これら標的の多くは、中心及 び方向を見出すことを困難にする性質を有する。これらは一般に、標的、特にそ れらの本体が撮像されるときの清澄性の欠如に起因する。それはまた、そのよう な画像を解析するのに使用される従来の機械視覚技術における不一致にも起因す る。例えば、十字形に印を付けられた標的のエッジは画像内で不正確に画定され 、これらのエッジの位置を機械視覚解析装置に間違って解釈させ、1ピクセル又 はそれ以上だけ印の中心を誤って予測する。更に他の実施例により、カメラレン ズ内の局所化された欠陥は円形較正印が卵形に見える原因となり、その結果、画 像の縦横比を装置に誤認させる。 前記のものに加えて、多くの従来技術による較正標的は限られた倍率の範囲に おいてのみ有用である。画像内に多く現れない限り、例えば平行なストリップは 十分な較正情報を提供しない。これに適合するように、機械視覚装置は低い倍率 を利用しなければならない。しかし、倍率が減少するにつれて、機械視覚装置の 個々のストリップを識別する能力も減少する。類似の欠点が、狭い範囲を除く全 範囲で使用する他の従来技術による較正標的の有用性を制限する。 従来技術は位置合せマークとして格子模様の使用を提案しているが、それらの 画像が従来の機械視覚装置により解析される方法もそれらの有用性を限られた範 囲の倍率に制限する。特に、従来技術の装置は、それらのコーナー(即ち白黒画 面の8個の黒い(又は白い)コーナー)を識別し照合することにより配置情報を 格子模様から得る。しかし、コーナーに依存することにより、正確な検出及び解 析を保証する十分な解像度で画像が格予模様全体を写すことを装置は必要とする 。 [発明が解決しようとする課題] 本発明の目的は、機械視覚解析に対して改良された較正標的及び方法を提供す ることである。 本発明の関連する目的は、広い範囲で信頼性のある較正標的及び方法を提供す ることである。 本発明の他の目的は、従来のデジタルデータプロセッサ又は他の従来の機械視 覚解析装置で容易に実施できるような方法を提供することである。 本発明の更に他の目的は、過度の費用を掛けずに較正標的を容易に解析できる ような方法を提供することである。 [課題を解決するための手段] 前記の目的は本発明により達成され、本発明は一側面において2個又はそれ以 上の領域を有する型の較正標的の解析に対する機械視覚を提供し、各領域は隣接 する領域と異なる「画像化可能」な特性(即ち異なる色、コントラスト、又は明 るさ)を有する。各領域は少なくとも2個のエッジ(「隣接エッジ」と呼ばれる )を有し、それらは直線で、基準点(例えば標的の中心、又は他の位置)の方向 を向き、任意に接触する。その方法は標的の画像の生成を含み、隣接エッジに対 応する特性の画像で識別され、標的の他のエッジからの方向及び位置の両方又は どちらか一方を決定する。 他の側面では、本発明は4個の領域を有する型の標的を解析するための上記の ような方法を提供し、各領域の隣接エッジは互いに垂直で、標的内の各領域は端 を接する隣接物と異なる画像化可能な特性を有する。例えば正方形の格子模様の 場合、それら領域のエッジは標的の中心で接することができる。 更に他の側面では本発明は、画像内で識別されるエッジの角度の機能として標 的の方向を決定し、それらのエッジに適合された直線の交差部分として基準点の 位置を決定するために、上記のような方法を提供する。前記に関して、本発明は ソーベル(Sobel)角度画像を生成するためにソーベルエッジツールを画像に適用 し、その角度画像から角度のヒストグラムを生成することにより画像内の標的の 方向を決定する方法を提供する。他の実施例では、ハフ(Hough)直線ツールを画 像に適用することにより方向が決定され、そのツールで識別されたエッジの主要 な角度が決定される。 基準点の位置に関して、画像キャリパ(caliper)視覚ツールを基準点を近似す る位置で始まる画像に適用することにより、本発明の一側面が隣接するエッジの 位置を呼び出す。その基準点を近似する位置自体は、隣接するエッジを近似する 直線を見出すためにハフ直線視覚ツールを画像に適用し、それらの直線の交差線 を決定することにより決定される。或いは、基準点を近似する位置は、画像に最 もぴったりと適合するエッジをテンプレートが何処で示すかを見出す2値又はグ レイスケールを実行することにより決定できる。 他の実施例では、基準点を近似する位置は、隣接するエッジが一直線に並ぶ各 軸に沿う画像に投影視覚ツールを適用することにより決定される。エッジの近似 位置を見出すために、第1差分演算予視覚ツール及び頂点検出視覚ツールが投影 ツールの出力に(即ち投影に対して)適用される。 本発明は産業及び研究において広い応用を有する。本発明は、倍率に関係なく 標的の位置及び方向を正確に決定することを可能にすることにより画像の較正を 容易にする。従って、例えば標的を支持する物体は、そのような各画像から位置 及び方向を正確に決定することで組立プロセスの間に複数のカメラにより画像化 できる。 本発明のこれら及び他の側面は、以下の図及び記述で明らかである。 [図面の簡単な説明] 図1Aから図1Cは、本発明による較正標的を描いている。 図1Dは、図1Bで描かれた標的に対する回転の効果を描いている。 図2は、図1Bに描かれた型の較正標的を導入した、本発明による物体を描い ている。 図3は、較正標的の基準点及び方向を決定するための本発明による機械視覚シス テムを描いている。 図4及び図5は、較正標的の基準点及び方向を決定するために較正標的の画像 を解像するための本発明による方法が描かれている。 図6は、本発明による標的の倍率不変性を描いている。 [発明の実施の形態] 図1Aから図1Cは、本発明による較正標的を描いている。図1Aを参照する と、本発明による標的10は領域12,14,及び16を有する。各領域は、標 的上の基準位置又は基準点18に方向付けられた少なくとも2つの直線エッジに より境界を付けられる。従って、例えば領域12はエッジ20,24により境界 を付けられ、領域14はエッジ20,22により境界を付けられ、領域16はエ ッジ22,24により境界を付けられる。図で明らかなように、エッジは隣接す る領域により共有され、従って以下で「隣接エッジ」と呼ばれる。従って、領域 12はエッジ20を領域14と共有し、領域14はエッジ22を領域16と共有 し、領域16はエッジ24を領域12と共有する。図では、基準点14が標的1 0の中心にあるが、当業者は基準点が如何なる位置にも配置できることを高く評 価するであろう。 各領域は、隣接する領域と異なる画像化可能な特性を有する。ここで使用され るように、「画像化可能な特性」は(例えば、図3に示されるような型の)機械 視覚装置により画像化されるような特性であり、特にそのような装置により使用 される画像収集素子により画像化される。例えば、図では領域12は黒く色付け された特性を有し、領域14は白色、領域16は灰色である。色に加えて、(可 視スペクトルで作動する画像収集素子を一般に利用する)従来の機械視覚装置で 有用な画像化可能な特性は、コントラスト、明るさ、及び点描を含む。 当業者は、それによって領域が画像内で識別され見分けられる如何なる他の特 性も本発明の実施に適していることを高く評価するであろう。従って、例えば温 度感受性(又は赤外線)画像収集素子に対して画像化可能な特性は温度である。 他の実施例によると、核崩壊放射線感知画像収集素子を利用する機械視覚装置に 対して、画像化可能な特性は放出された放射線の強度又は周波数である。 図に示されるように、隣接するエッジ20,22,24はまっすぐな直線セグ メントから成る。それらのエッジは、画像化可能な異なる特性を有する領域間の 境界として暗黙のうちに定められる。従って、例えばエッジ20は黒色領域12 と白色領域14の間の境界により定められたまっすぐな直線のセグメントである 。同様にエッジ24は、黒色領域12と灰色領域16の間の境界により定められ る。更にエッジ22は、灰色領域14と灰色領域16の間の境界により定められ る。 図1Bは、4個の矩形(更に詳細には正方形)領域32,34,36,38を 有する本発明による較正標的30を描いている。上記のように、各領域は、標的 の中心にある基準点40の方向を向く少なくとも2つの直線エッジにより境界を 付けられる。従って、例えば領域32はエッジ42,44により境界を付けられ 、領域34はエッジ42,46により境界を付けられ、他も同様である。上記の ように、これらのエッジは隣接する領域に共有される。従って、領域32はエッ ジ42を領域34と共有し、他も同様である。標的30内の各領域は、端を接す る隣接領域と異なる画像化可能な特性を有する。従って、領域32,36は白色 であり、一方、それらと端を接する隣接領域34,38は黒色である。 図1Cは、5個の領域52,54,56,58,60を有する本発明による較 正標的50を描いており、各領域は基準点62の方向を向く2つの直線エッジを 有する。隣接する領域は異なるコントラストを有し、図示されるように、それに よって共通の境界においてエッジを定める。標的50の領域52から60を分割 するエッジは基準点62の方向に向いているが、それらエッジはその位置では交 わらない。図1Cで明らかなように、基準点62においては如何なる標識又は他 の画像化可能な要素も提供されない。 図1Aから図1Cに示される較正標的に加えて、より多くの領域(少なくとも 2領域)及び形状、又はそれらと一致する教示が本発明の範囲内にあることを、 当業者は高く評価するであろう。更に、標的は如何なる大きさでもよく、それら の領域は一様な大きさである必要がないことも高く評価されるであろう。更に、 標的の外板が直線である必要はなく、全く如何なる形状でもとり得ることは高く 評価されるであろう。 図2は、機械視覚画像化、検出、及びそれらと組み合わされた本発明による較 正標的を有する操作の両方又は一方を使用するための本発明による物体を描いて いる。図では、物体は図1Bに示される型の較正標的72の包装と組み合わされ た較正標的を有する集積回路チップ70である。勿論、本発明による他の標的も 物体70と同様に結合される。標的は物体と既知の方法で結合される。例えば、 標的は物体の表面上にモールドされ、食刻され、又は印刷される。他の実施例に よると、標的を実施するデカルコマニアは物体に接着されるか、ねじで取り付け られるか、又は貼り付けられる。更に他の実施例によると、標的を合体した較正 板は物体上に配置され、摩擦により正しい位置に保持される。集積回路チップに 加えて、物体はプリント基板、電子部品、機械部品、容器、ビン、自動車部品、 又は紙製品などのような標的が結合し得る他の物体を含み得る。 図3は本発明による較正標的84が結合した物体82の基準点及び方向を決定 するための本発明による機械視覚装置80を描いており、特に図1Bで示される 型の4領域標的を描いている。装置80は、物体82を含む場面の画像を生成す る画像収集素子86を含む。素予(例えば、従来のビデオカメラ又はスキャナ) は可視スペクトルに対して応答するが、他のスペクトル(例えば、赤外線、又は ガンマ線など)の放出(又は反射)に対しても応答する。画像収集素子86によ り生成されたディジタル画像データ(又はピクセル)は、従来の方法で画像収集 素子の視野内各点の画像強度(例えば、コントラスト、色、及び輝度)を表す。 ディジタル画像データは画像収集素子86から通信経路88を経由して画像解 析装置90に伝送される。この画像解析装置は、標的画像の基準点及び方向を決 定するようにプログラムされた従来のディジタルデータプロセッサ、又はCognex 社から一般に市販される型の視覚処理装置である。画像解析装置90は1個又は 複数の中央処理装置92,主メモリ94,入出力装置96,及びディスク駆動装 置(又は大容量記憶装置)98を有し、全て従来の型式である。 装置90,更に詳細には中央処理装置92は、図4で図示され以下で記述され るような動作を教示するプログラム命令を含む。当業者は、プログラム可能なデ ィジタルデータプロセッサの実施に加えて、特定目的のハードウェアで実施でき る方法及び装置を高く評価するであろう。 図4を参照すると、基準点及び方向を決定する標的84の画像を解像する本発 明の方法が示されている。以下の議論は、図1Bで示される型の4領域標的の識 別に特に向けられる。当業者は、これらの教示が本発明による標的の発見、及び 標的(例えば、従来の十字形の標的)上の基準位置又は基準点を向く検出可能な 直線エッジを有する他の標的に容易に適用できることを高く評価するであろう。 利便性のために、以下の議論では本発明による較正標的であるか従来技術による 較正標的であるかに関わらず、そのような直線エッジを「隣接エッジ」と呼ぶ。 ステップ100では、標的84(又は標的84及び物体82)の画像は、例え ば画像収集素子86を使用して生成され、以下で議論されるように機械視覚解析 に入力される。画像はリアルタイムで生成でき、(記憶装置98のような)記憶 装置から検索されるか、他の信号源から受信される。 ステップ102から108では、本発明の方法は他の戦略を使用して画像内の 標的の方向を予測する。例えばステップ102で示されるように、本発明の方法 は、画像内で識別可能なエッジの角度を見出す従来のホフ直線視覚ツールを適用 することにより方向を決定している。実施例では、標的が画像全体を占める場合 、それらの直線は隣接エッジと一致する必要がある。他方、標的が画像の一部分 だけを占める場合、(例えば他の標的と)無関係なエッジがツールの出力で明ら かになり得る。それら無関係なエッジは一般に無視されるが、実施例ではそれら が結果を歪曲する場合、ハフ視覚ツールが標的を含む部分だけに適用されるよう 画像にウインドウが設けられる。一旦、ハフ直線ツールにより直線の角度が決定 されたら、画像の方向はそれら角度の優勢な角度から決定される。或いは、画像 の角度は角度のヒストグラムを取ることにより決定できる。 ステップ102で使用されるハフ視覚ツールは、画像内直線の角度を見出すた めの従来型のツールであって、市販されている。好ましいツールはCognex Line Finderであり、Cognex社から市販されている。 ハフ視覚ツールを使用することの代わりの案が、ステップ106に示されてい る。そこではソベル(Sobel)エッジツールを隣接エッジを見出す画像に適用する ことにより、図示された方法が標的の方向を決定する。特にそのツールは、画像 内のエッジの方向を明らかにするソベル角度画像を生成する。上記のように、標 的が画像全体を占める場合には、隣接エッジがソベルエッジツール画像により識 別される唯一のものである。他方、標的が画像の一部分のみを占める場合、如何 なる無関係なエッジも無視され、ウィンドウの外側に置かれる。 ソベルエッジツールは、画像内の直線を見出すための従来型のツールであり、 一般に市販されている。そのような好ましいツールはCognex Edge Detection To olであり、Cognex社から一般に市販されている。 一旦、ソベル角度画像がステップ106で生成されたら、画像内の標的の方向 はエッジ角度情報のヒストグラムを生成することにより決定される(ステップ1 08参照)。そのヒストグラムより、ヒストグラムと角度0°に向けられた標的 のテンプレートヒストグラムとの寸法相互関係を得ることにより標的の方向は決 定される。ソベル角度画像に加えてソベル大きさ画像が生成された場合、各方向 におけるしきい値長さより長いエッジの数を数えることにより、そのようなヒス トグラムが生成され得る。 ハフ視覚ツール又はソベルエッジツールを適用する代わりに、本発明の方法は ユーザ(又はオペレータ)から標的の方向角を得ることを企図している。このた めに、ディジタルデータプロセッサ90と結合したキーボード又は他の入力装置 を経てユーザは方向角情報を入力できる。 ステップ110から118では、本発明の方法は画像内の基準点の位置(即ち 座標)を決定する。特にステップ10では、本発明の方法は、上記のように画像 内の識別可能な直線の角度を見出すためにハフ視覚ツールを適用できる。画像内 の直線の角度に加えて、従来のハフ視覚ツールは(例えば、中心ピクセルからの )各直線の距離を決定する。上記のように標的が画像全体を占める場合、それら の直線はソベルエッジツール画像により識別可能な唯一のものである。他方、標 的が画像の一部分のみを占める場合、如何なる無関係なエッジも無視されるか、 ウィンドウの外側に置かれる。 上記のように、ステップ104で使用されるハフ視覚ツールは、画像内の直線 の角度及び位置を見出すための従来型のツールであり、一般に市販されている。 再度、そのような好ましいツールはCognex Line Finderであり、Cognex社から市 販されている。当業者は勿論、画像内標的の方向及び基準点を決定するためにハ フ視覚ツールの単一アプリケーションが十分な情報を提供できるように、ステッ プ102及びステップ110を組み合わせたことを高く評価するであろう。 ハフ視覚ツールを使用する代わりに、画像内で識別可能な直線の位置を見出す ために、本発明の方法は投影視覚ツールを画像に適用できる(ステップ112参 照)。標的の2次元画像を1次元画像に写像する投影ツールは、画像内エッジに より定められる軸に沿って適用される。当業者は、各投影の1階差分の頂点を見 出すことによりエッジの位置が識別可能であることを高く評価するであろう。上 記のように、標的が画像全体を占める場合、それらの直線がソベルエッジツール により識別可能な唯一の直線である。他方、標的が画像の一部分のみを占める場 合、如何なる無関係なエッジも無視されるか、ウィンドウの外側に置かれる。 ステップ112で使用される投影視覚ツールは、標的の2次元画像を1次元画 像に写像するための、従来型の既知で市販されているツールである。そのような 好ましいツールはCognex Caliper Toolであり、Cognex社から市販されている。 ステップ114では、本発明の方法は基準点の位置を計算するためにステップ 110,112で生成された情報を使用しており、特にステップ110,112 で見出された直線の共通部分を計算する。 ハフ視覚ツール及び投影ツールを使用する代わりに、本発明の方法は画像上で バイナリ又はグレイスケールを実行することにより基準点の位置を決定できる。 そのために、本発明の方法はテンプレートとして必要とされているエッジの予想 配列のパターンマッチングを使用し、即ち、図1Bに示される型の標的の場合は 十字形のパターンである。この目的のために相関視覚ツールを使用することは、 この技術分野では既知である。そのような操作のためのテンプレートは類似の標 的の従来の画像からも生成できるが、好ましくは人工的に生成される。 ハフ視覚ツールと投影ツールの代わりに、本発明の方法は画像とテンプレート 間の絶対差分距離の合計を使用してグレイスケール画像位置決めを適用できる。 そのために、本発明の方法はテンプレートとして必要とされているエッジの予想 配列のパターンマッチングを使用し、即ち、図1Bに示される型の標的の場合は 十字形のパターンである。そのような操作のためのテンプレートは類似の標的の 従来の画像からも生成できるが、好ましくは人工的に生成される。好ましいグレ イスケール画像位置決めツールは米国特許第5,548,326号で開示されて いる。 ステップ110から118は、画像内の標的の基準点の近似位置を決定するた めに使用できるが、本発明の方法はその予測を更に正確にするために、追加のス テップ120,122を利用する。これら2つのステップは、精度を上げるため に1回又は数回(もし、あったとしても)呼び出される。 ステップ120では、本発明の方法は領域の隣接エッジを定める画像内の点を 見つけるために従来のキャリパ視覚ツールを適用している。ステップ120の最 初の呼び出しでは、本発明の方法はキャリパを各エッジに沿う50点(当業者は 他の点の数でも高く評価するであろうが)に適用し、ステップ110から118 で識別されるように基準点の予測に最も近い点で始まる。好ましくはキャリパは 、その点における標的のあり得る誤植によるズレ(例えば図1C)又はその点に おける高過ぎる空間周波数(例えば図1B)を避けるために基準点の実際の予測 位置から少し離れた点に適用される。従って、ステップ120では本発明の方法 はキャリパツールにより直線を各エッジに沿って見出された点に一致させ、好ま しくは従来の最小自乗法を使用する。 ステップ122では、本発明の方法はステップ120で識別された直線の共有 部分として基準点の正確な位置を計算する。この目的に対して従来の幾何学的な 計算が実行できるが、好ましくは基準点は従来の最小自乗法を使用して計算され る。好ましくは図1Bで示される型の対称な較正標的の画像が検査されるとき、 本発明の方法は各直線と一致するために(最も近い)基準点の両側の同じ数の点 を利用する。他方、これは、暗から明(又は明から暗)への変化のみにより定め られるエッジを見出す従来のエッジ検出技術により導入される偏りを最小化する 。 図1Bで示される型の較正標的は、従来のエッジ検出技術により別な方法で導 入された偏りを更に最小化する限りにおいて、本発明の方法により都合よく処理 される。これに関して、「向かい合う」隣接エッジ(即ち基準点をはさんで互い に向かい合うエッジ)が基準点をはさんで極性を変えるまっすぐな直線セグメン トを定めるという事実により、そのような偏りが減少することは高く評価される であろう。即ち、基準点の一方の側で明から暗に、他の側で暗から明に(好まし くは同じ大きさだけ)変化する領域により、そのようなセグメントは定められる 。 ステップ120の第2の、及びそれに続く呼び出しでは、本発明の方法はキャ リパツールを以前の繰り返しで見出された直線に沿う点に特に適用している。好 ましくは、これらの点は直線に沿う画像内のピクセル毎にあるが、当業者は少数 の点も使用できることを高く評価するであろう。キャリパは直線に直角に適用で きるが、好ましい実施例では画像ピクセルによって定められたグリッドに沿って 適用される。キャリパの範囲は、ステップ120の後に続く各呼び出しと共に減 少する。本発明の方法は、予測された中心点から以下の4つの状況の1つが起こ るまでキャリパの適用を継続し、標本点に適用されたキャリパによってはエッジ は見出されず、1つ以上のエッジがキャリパにより見出され、最高のスコアリン グエッジが2番目のスコアリングエッジの2倍以下であり(この2倍というのは CONFUSION_THRESHOLDから来た)、計算されたエッジ点と(ステップ120の以 前 の呼び出しから計算された)基準線の間の距離は(ステップ120の各呼び出し 毎に減少する)しきい値より大きいか、又はキャリパは画像の外部に拡がす。従 って、上記のようにステップ120では本発明の方法はキャリパツールにより、 好ましくは従来の最小自乗法を使用して各エッジに沿って見出された点に直線を 一致させる。 ステップ122の第2の、及びそれに続く呼び出しでは、本発明の方法はステ ップ120で識別された直線の共通部分として基準点の正確な位置を計算する。 上記のように従来の幾何学的計算もこの目的のために実行できるが、好ましくは 基準点は従来の最小自乗法を使用して計算される。 図5を参照すると、基準点及び方向を決定する標的84の画像を解像するため の本発明の方法が示されている。特にステップ150では、その方法は標的84 及び本発明による2個またはそれ以上の領域を有する標的の画像を呼び出し、各 領域は基準点の方向を向く少なくとも2つの直線エッジにより定められ、少なく とも1個の領域は隣接領域と異なる画像化可能な特性を有する。ステップ152 は、図4のステップ100と関連して記述された方法又は同等の方法で達成でき る。 ステップ152では、画像内の標的の方向の予測を生成するために、本発明の 方法は画像を解析する。ステップ152は、図4のステップ102から108と 関連して記述された方法又は同等の方法で達成できる。 ステップ154では、本発明の方法は標的の基準点の位置の予測を生成するた めに画像を解析する。ステップ154は、図4のステップ102から108と関 連して記述された方法又は同等の方法で達成できる。 ステップ156では、本発明の方法は画像内の基準点の位置及び画像内の標的 の方向の予測を更に正確にするために画像を解析する。ステップ156は、図4 のステップ120から122と関連して記述された方法又は同等の方法で達成で きる。 本発明による較正標的及び方法は、それらの倍率が変化しないように従来技術 の標的及び方法よりも進歩している。標的の隣接エッジを解析することにより、 倍率に関係なく本発明の方法は、同じ画像化可能な外観を保持する形状(即ち領 域)の信頼性を保証する。これは従来技術の標的及び方法と対照的で、それらは 較正形状を定めるために個々の直線(又はドット)に依存する。上記のように、 そのような直線及びドットの画像化可能な外観は倍率の程度の変化により変わる 。格子模様の標的を解析する従来の方法でさえコーナーの解析に依存し、コーナ ーの解析は倍率不変ではない。 本発明による標的及び方法の倍率不変性が、図6Aから図6Cに描かれている 。図6Aを参照すると、高さXからカメラ200が(物体204上の)標的20 2を写す画像化装置が示されている。カメラ200に生成された画像はワークス テーション208のモニタ206に表示される。図6Bを参照すると、(同じ倍 率の)カメラが(同じ大きさの)標的をより高い距離X'から写すことを除いて 同じ画像化装置が示されている。同様に図6Cは、(同じ倍率の)カメラが(同 じ大きさの)標的を更に高い距離X''から写すことを除いて同じ画像化装置が示 されている。図6Aから図6Cに描かれたモニタ画像を比較すると、カメラに生 成されモニタに写された標的の画像が、カメラの相対的な高さ(X、X'、X'' )に関わりなく外観において同一であることがわかる。この倍率不変性は、特定 の制限内で高さ(又は同様に倍率)に関わりなく、標的が同じ外観を有すること の結果である。当業者はそれらの制限が従来技術に対する同様の制限(例えば、 交差した毛、平行ストリップなど)より広いことを高く評価するであろう。 本発明による較正標的及び方法の他の長所は、360°全範囲を通して角度方 向の決定を可能にしたことである。例えば図1Dを参照すると、領域の相対位置 は標的の全方向を決定するために使用でき、即ち0°、90°、180°、又は 270°の何れでも回転される。標的の正確な位置を決定するために、この情報 は上記のように隣接エッジの解析によりなされた相対方向の決定と組み合わされ る。 以上、本発明の好ましい実施例について図示し記載したが、請求の範囲によっ て定められる本発明の範囲から逸脱することなしに種々の変形および変更がなし 得ることは、当業者には明らかであろう。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. A. i)各領域は基準点の方向を向く少なくとも2つの直線エッジによ り定められる2個又はそれ以上の領域と、 ii)隣接領域と異なる画像化可能な特性を有する少なくとも1つの前記領域を 含む標的の画像を生成し、 B.較正標的内の直線に対応して画像内の前記エッジを識別し、 C.前記エッジと一致する直線が交わる位置を決定する諸ステップから成るこ とを特徴とする、機械視覚が前記較正標的の画像内の前記基準点の位置を決定す る方法。 2. 前記ステップBがエッジ検出視覚ツールを前記画像に適用することにより 前記画像内の前記エッジを識別することを特徴とする、請求項1記載の方法。 3. 前記ステップBがキャリパ(caliper)視覚ツールを前記画像に適用するこ とにより前記エッジを識別することを特徴とする、請求項1記載の方法。 4. 前記ステップBが第1差分演算子視覚ツールを画像に適用し、頂点検出視 覚ツールを前記第1演算子視覚ツールの出力に適用することにより前記画像内の 前記エッジを識別することを特徴とする、請求項1記載の方法。 5. 前記ステップBが前記キャリパ視覚ツールを前記基準点の近似位置から画 像に適用することにより前記画像内の前記エッジを識別することを特徴とする、 請求項1記載の方法。 6. ハフ(Hough)直線視覚ツールを前記画像に適用し、それにより識別された 前記直線の交点を見出すことにより基準点の近似位置を決定するステップを含む ことを特徴とする、請求項5記載の方法。 7. 前記画像内の前記エッジの予想パターンを実質的に近似するテンプレート を使用して相関視覚ツールを前記画像に適用することにより前記基準点の近似位 置を決定するステップを含むことを特徴とする、請求項5記載の方法。 8. 投影視覚ツールを前記エッジが整列することが予想される1つ又は複数の 軸に沿って適用することにより前記基準点の近似位置を決定するステップを含む ことを特徴とする、請求項5記載の方法。 9. 前記較正標的内の直線に対応して画像内のエッジを識別し、 前記識別されたエッジの角度に基づいて前記標的の方向を決定するステップを 含むことを特徴とする、請求項1記載の方法。 10. 前記ステップBが前記較正標的内の直線に対応して前記画像内のエッジ を識別するために、ハフ直線視覚ツールを適用するステップを含み、 前記識別されたエッジの角度に基づいて前記標的の方向を決定するステップを 更に含むことを特徴とする、請求項1記載の方法。 11. A.少なくともソベル(Sobel)角度画像を生成するためにソベルエッジ ツールを前記画像に適用し、 B.前記標的の方向を決定するために、前記ソベル角度画像のヒストグラムを 取ることを含むことを特徴とする、請求項1記載の方法。 12. A. i)各領域は基準点の方向を向く少なくとも2つの直線エッジに より定められる2個又はそれ以上の領域と、 ii)隣接領域と異なる画像化可能な特性を有する少なくとも1つの前記領域を 含む標的の画像を生成し、 B.較正標的内の直線に対応して画像内の前記エッジを識別し、 C.前記識別されたエッジの角度に基づいて前記標的の方向を決定する諸ステ ップから成ることを特徴とする、機械視覚が前記画像内の前記較正標的の方向を 決定する方法。 13. 前記ステップBが前記較正標的内の直線に対応して前記画像内の前記エ ッジを識別するためにハフ直線視覚ツールを前記画像に適用することを含み、 前記ステップCが識別された前記エッジの角度に基づいて前記標的の方向を決 定することを含むことを特徴とする、請求項12記載の方法。 14. 少なくともソベル角度画像を生成するために前記ステップBがソベルエ ッジツールの適用を含み、 前記標的の方向を決定するために前記ステップCがソベル角度画像の角度ヒス トグラムを取ることを特徴とする、請求項12記載の方法。 15. 前記ステップAが前記標的の画像を生成するステップを含み、前記標的 内では各領域が隣接領域と異なる色、コントラスト、輝度、及び点描の何れかを 有することを特徴とする、請求項1及び12に記載の方法。 16.標的の画像を画像収集するための画像捕捉手段を有する機械視覚システム と使用するためのものであって、各領域がこの種の画像においてそれに隣接する 領域と異なる特性を有することを特徴とする、請求項15記載の方法。 17.ステップAが、基準点が中心にある標的の画像を生成するステップを含む ことを特徴とする、請求項1及び12記載の方法。 18.ステップAが、直線エッジが基準点に実質的に合わさる標的の画像を生成 するステップを含むことを特徴とする、請求項17記載の方法。 19.ステップAが、4つの画像形成可能領域を有する標的の画像を生成するス テップを含むことを特徴とする、請求項1及び12記載の方法。 20.各領域の少なくとも2つの直線エッジが互いに垂直である4領域標的の画 像を生成するステップを含むことを特徴とする、請求項19記載の方法。 21.画像内における較正標的の位置と配向を決定するための機械視覚方法であ って、 A.次のもの、すなわち i)基準点に向けられる少なくとも2つの直線エッジにより各々定められる 2又は複数の領域と、 ii)隣接する領域と異なる画像形成可能特性を有する領域の少なくとも1つ とを含む標的の画像を生成し、 B.画像の分析に基づいて、その中の標的の配向の評価値を生成し、 C.画像の分析に基づいて、その中の基準点の位置の評価値を生成し、 D.画像の分析に基づいて、画像内の基準点の位置の少なくとも1つ及び画像 内の標的の評価値を精成する 諸ステップを含むことを特徴とする機械視覚方法。 22.ステップBが次の諸ステップ、すなわち i)ハフ直線視覚ツールを画像に適用して、像内のエッジ角度を見出し、 ii)ソベルエッジツールを画像に適用して、ソベル角度画像を生成し、そのソ ベル角度画像で表示される角度のヒストブラムを生成し、そしてその1つのジメ ンション的な相関を決定し、 iii)ユーザーから配向を入力する諸ステップの1又は複数のステップを含むこ とを特徴とする、請求項21記載の方法。 23.ステップ(C)が次の諸ステップ、すなわち、 i)ハフ視覚ツールを画像に適用して、その中のエッジの概略位置を見出し、そ れらのエッジにより定められる線の交差点を見出し、 ii)投影視覚ツールを画像に適用して、その中のエッジの概略位置を見出し、 そしてそれらのエッジにより定められる線の交差点を見出し、 iii)相関視覚ツールを画像に適用して、基準点の概略的座標を見出し、 iv)絶対差の和を決定して基準点の概略座標を見出す 諸ステップの1又は複数を含むことを特徴とする、請求項22記載の方法。 24.ステップ(D)が、少なくとも1時点に、次の諸ステップ、すなわち、 i)基準点位置の現在評価値及び標的配向の現在評価値により定められる、画像 内の予測されるエッジの各々に沿ってキャリパ視覚ツールを適用し、 ii)キャリパ視覚ツールにより決定されるエッジ点に線を適合させる諸ステッ プを順次呼び出すステップを含むことを特徴とする、請求項23記載の方法。 25.ステップ(D)(i)が、下記の条件の何れかに遭遇するまで、すなわち、 サンプル点においてキャリパ視覚ツールによりエッジが見出せない、 サンプル点においてキャリパ視覚ツールにより1より多いエッジが見出せない、 サンプルエッジ点と公称線との間の距離がしきい値より大きい、又は サンプルエッジ点に対するキャリパ視覚ツール窓が画像の外側に延びているとい う条件の何れかに遭遇するまで予測されるエッジの各々に沿ってキャリパ視覚ツ ールを適用するステップを含むことを特徴とする、請求項24記載の方法。
JP51943098A 1996-10-07 1997-10-07 機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法 Pending JP2001524228A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/726,521 1996-10-07
US08/726,521 US6137893A (en) 1996-10-07 1996-10-07 Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image
PCT/US1997/018268 WO1998018117A2 (en) 1996-10-07 1997-10-07 Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001524228A true JP2001524228A (ja) 2001-11-27

Family

ID=24918945

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51943098A Pending JP2001524228A (ja) 1996-10-07 1997-10-07 機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6137893A (ja)
EP (1) EP0883857A2 (ja)
JP (1) JP2001524228A (ja)
WO (1) WO1998018117A2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011221747A (ja) * 2010-04-08 2011-11-04 National Institute Of Advanced Industrial & Technology クロスマーク検出装置及び方法、並びにプログラム
CN105841576A (zh) * 2015-02-04 2016-08-10 赫克斯冈技术中心 坐标测量机

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7016539B1 (en) 1998-07-13 2006-03-21 Cognex Corporation Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition
DE19921778A1 (de) * 1999-03-24 2000-10-05 Anitra Medienprojekte Gmbh Verfahren, Träger für Muster und Lesegerät zur zweidimensionalen Positionsbestimmung auf Flächen und zur zugehörigen Auslösung von Programmprozessen
DE29924323U1 (de) 1999-03-24 2002-12-05 Anitra Medienprojekte Gmbh Träger für Muster und Lesegerät zur Positionsbestimmung
US6650779B2 (en) * 1999-03-26 2003-11-18 Georgia Tech Research Corp. Method and apparatus for analyzing an image to detect and identify patterns
GB9915880D0 (en) 1999-07-08 1999-09-08 British Aerospace Optical target and apparatus and method for automatic identification thereof
US6658164B1 (en) * 1999-08-09 2003-12-02 Cross Match Technologies, Inc. Calibration and correction in a fingerprint scanner
US6812933B1 (en) * 1999-10-29 2004-11-02 Cognex Technology And Investment Method for rendering algebraically defined two-dimensional shapes by computing pixel intensity using an edge model and signed distance to the nearest boundary
US7043055B1 (en) 1999-10-29 2006-05-09 Cognex Corporation Method and apparatus for locating objects using universal alignment targets
US6813376B1 (en) * 1999-10-29 2004-11-02 Rudolph Technologies, Inc. System and method for detecting defects on a structure-bearing surface using optical inspection
US6671049B1 (en) 1999-10-29 2003-12-30 Cognex Corporation Article of manufacture bearing a universal alignment target
GB9927678D0 (en) 1999-11-23 2000-01-19 Canon Kk Image processing apparatus
DE60028075D1 (de) * 1999-11-23 2006-06-22 Canon Kk Bildverarbeitungsgerät
US6744913B1 (en) * 2000-04-18 2004-06-01 Semiconductor Technology & Instruments, Inc. System and method for locating image features
US6816625B2 (en) 2000-08-16 2004-11-09 Lewis Jr Clarence A Distortion free image capture system and method
GB0023681D0 (en) 2000-09-27 2000-11-08 Canon Kk Image processing apparatus
GB2370737B (en) 2000-10-06 2005-03-16 Canon Kk Image processing apparatus
GB2370738B (en) 2000-10-27 2005-02-16 Canon Kk Image processing apparatus
EP1204073B1 (en) 2000-10-27 2007-01-31 Canon Kabushiki Kaisha Image generation method and apparatus
US6751338B1 (en) 2000-12-15 2004-06-15 Cognex Corporation System and method of using range image data with machine vision tools
US6681151B1 (en) 2000-12-15 2004-01-20 Cognex Technology And Investment Corporation System and method for servoing robots based upon workpieces with fiducial marks using machine vision
US6728582B1 (en) 2000-12-15 2004-04-27 Cognex Corporation System and method for determining the position of an object in three dimensions using a machine vision system with two cameras
US6771808B1 (en) 2000-12-15 2004-08-03 Cognex Corporation System and method for registering patterns transformed in six degrees of freedom using machine vision
US6751361B1 (en) * 2000-12-22 2004-06-15 Cognex Corporation Method and apparatus for performing fixturing in a machine vision system
US6997387B1 (en) * 2001-03-28 2006-02-14 The Code Corporation Apparatus and method for calibration of projected target point within an image
GB2383245B (en) 2001-11-05 2005-05-18 Canon Europa Nv Image processing apparatus
US7003161B2 (en) * 2001-11-16 2006-02-21 Mitutoyo Corporation Systems and methods for boundary detection in images
US6798515B1 (en) 2001-11-29 2004-09-28 Cognex Technology And Investment Corporation Method for calculating a scale relationship for an imaging system
EP1347418A3 (en) 2002-02-28 2005-11-23 Canon Europa N.V. Texture map editing
US7085432B2 (en) * 2002-06-10 2006-08-01 Lockheed Martin Corporation Edge detection using Hough transformation
US8218000B2 (en) * 2002-09-13 2012-07-10 Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. Method and system for size calibration
DE10242628B4 (de) * 2002-09-13 2004-08-12 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Verfahren und System zur Größenkalibrierung
US7957554B1 (en) * 2002-12-31 2011-06-07 Cognex Technology And Investment Corporation Method and apparatus for human interface to a machine vision system
US7190834B2 (en) 2003-07-22 2007-03-13 Cognex Technology And Investment Corporation Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image
US8081820B2 (en) 2003-07-22 2011-12-20 Cognex Technology And Investment Corporation Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns
JP3714350B2 (ja) * 2004-01-27 2005-11-09 セイコーエプソン株式会社 画像中の人物候補領域抽出方法及び人物候補領域抽出システム並びに人物候補領域抽出プログラム
JP4428067B2 (ja) * 2004-01-28 2010-03-10 ソニー株式会社 画像照合装置、プログラム、および画像照合方法
US20050175217A1 (en) * 2004-02-05 2005-08-11 Mueller Louis F. Using target images to determine a location of a stage
US7522306B2 (en) * 2004-02-11 2009-04-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for generating a calibration target on a medium
US20050197860A1 (en) * 2004-02-23 2005-09-08 Rademr, Inc. Data management system
JP2005267457A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Casio Comput Co Ltd 画像処理装置、撮影装置、画像処理方法及びプログラム
US7075097B2 (en) * 2004-03-25 2006-07-11 Mitutoyo Corporation Optical path array and angular filter for translation and orientation sensing
US7551765B2 (en) * 2004-06-14 2009-06-23 Delphi Technologies, Inc. Electronic component detection system
ATE383817T1 (de) 2004-06-17 2008-02-15 Cadent Ltd Verfahren zum bereitstellen von daten im zusammenhang mit der mundhöhle
US7522163B2 (en) * 2004-08-28 2009-04-21 David Holmes Method and apparatus for determining offsets of a part from a digital image
US8437502B1 (en) 2004-09-25 2013-05-07 Cognex Technology And Investment Corporation General pose refinement and tracking tool
EP1828862A2 (en) * 2004-12-14 2007-09-05 Sky-Trax Incorporated Method and apparatus for determining position and rotational orientation of an object
US7606437B2 (en) * 2005-01-11 2009-10-20 Eastman Kodak Company Image processing based on ambient air attributes
US8111904B2 (en) 2005-10-07 2012-02-07 Cognex Technology And Investment Corp. Methods and apparatus for practical 3D vision system
US7724942B2 (en) * 2005-10-31 2010-05-25 Mitutoyo Corporation Optical aberration correction for machine vision inspection systems
US8311311B2 (en) 2005-10-31 2012-11-13 Mitutoyo Corporation Optical aberration correction for machine vision inspection systems
US7965887B2 (en) * 2005-12-01 2011-06-21 Cognex Technology And Investment Corp. Method of pattern location using color image data
US7570800B2 (en) * 2005-12-14 2009-08-04 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for binning defects detected on a specimen
US7732768B1 (en) * 2006-03-02 2010-06-08 Thermoteknix Systems Ltd. Image alignment and trend analysis features for an infrared imaging system
US8162584B2 (en) 2006-08-23 2012-04-24 Cognex Corporation Method and apparatus for semiconductor wafer alignment
US7773773B2 (en) 2006-10-18 2010-08-10 Ut-Battelle, Llc Method and system for determining a volume of an object from two-dimensional images
US8126260B2 (en) * 2007-05-29 2012-02-28 Cognex Corporation System and method for locating a three-dimensional object using machine vision
CN102113321B (zh) * 2008-08-05 2013-09-11 爱信精机株式会社 目标对象物位置确定装置
JP5339124B2 (ja) * 2008-09-30 2013-11-13 アイシン精機株式会社 車載カメラの校正装置
EP3412511B1 (en) * 2008-10-06 2021-12-29 Mobileye Vision Technologies Ltd. Bundling of driver assistance systems
WO2010044939A1 (en) * 2008-10-17 2010-04-22 Honda Motor Co., Ltd. Structure and motion with stereo using lines
JP5471038B2 (ja) 2009-05-27 2014-04-16 アイシン精機株式会社 校正目標検出装置と、校正目標を検出する校正目標検出方法と、校正目標検出装置のためのプログラム
US9533418B2 (en) 2009-05-29 2017-01-03 Cognex Corporation Methods and apparatus for practical 3D vision system
CN101794373B (zh) * 2009-12-30 2012-07-04 上海维宏电子科技股份有限公司 带旋转的亚像素匹配算法在机器视觉系统中的应用方法
US9393694B2 (en) 2010-05-14 2016-07-19 Cognex Corporation System and method for robust calibration between a machine vision system and a robot
US8855406B2 (en) 2010-09-10 2014-10-07 Honda Motor Co., Ltd. Egomotion using assorted features
CN102288606B (zh) * 2011-05-06 2013-04-03 山东农业大学 基于机器视觉的花粉活力测定方法
US20120327214A1 (en) * 2011-06-21 2012-12-27 HNJ Solutions, Inc. System and method for image calibration
US9349033B2 (en) * 2011-09-21 2016-05-24 The United States of America, as represented by the Secretary of Commerce, The National Institute of Standards and Technology Standard calibration target for contactless fingerprint scanners
FR2986326B1 (fr) * 2012-01-27 2014-03-14 Msc & Sgcc Procede optique d'inspection d'articles transparents ou translucides visant a attribuer un reglage optique de reference au systeme de vision
US9946947B2 (en) * 2012-10-31 2018-04-17 Cognex Corporation System and method for finding saddle point-like structures in an image and determining information from the same
US9189702B2 (en) * 2012-12-31 2015-11-17 Cognex Corporation Imaging system for determining multi-view alignment
US9440313B2 (en) 2013-03-12 2016-09-13 Serenity Data Security, Llc Hard drive data destroying device
US9679224B2 (en) 2013-06-28 2017-06-13 Cognex Corporation Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models
US9833962B2 (en) 2014-02-26 2017-12-05 Toyota Motor Engineering & Manufacturing Norh America, Inc. Systems and methods for controlling manufacturing processes
US9286695B2 (en) 2014-03-13 2016-03-15 Bendix Commercial Vehicle Systems Llc Systems and methods for tracking points within an encasement
TWI507678B (zh) * 2014-04-09 2015-11-11 Inventec Energy Corp 辨識影像之裝置及其方法
US9675430B2 (en) 2014-08-15 2017-06-13 Align Technology, Inc. Confocal imaging apparatus with curved focal surface
US9596459B2 (en) * 2014-09-05 2017-03-14 Intel Corporation Multi-target camera calibration
CA2991238A1 (en) 2015-07-02 2017-01-05 Serenity Data Services, Inc. Hard drive dismantling system
US11167384B2 (en) 2015-07-02 2021-11-09 Serenity Data Security, Llc Hard drive non-destructive dismantling system
US10556240B2 (en) 2015-07-02 2020-02-11 Serenity Data Security, Llc Product verification for hard drive data destroying device
DE102016120775A1 (de) 2015-11-02 2017-05-04 Cognex Corporation System und Verfahren zum Erkennen von Linien in einem Bild mit einem Sichtsystem
US10937168B2 (en) 2015-11-02 2021-03-02 Cognex Corporation System and method for finding and classifying lines in an image with a vision system
CN105528789B (zh) * 2015-12-08 2018-09-18 深圳市恒科通机器人有限公司 机器人视觉定位方法和装置、视觉标定方法和装置
EP3467428A4 (en) * 2016-05-30 2019-05-08 Sony Corporation INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGE CAPTURE SYSTEM
US20180240250A1 (en) * 2017-02-21 2018-08-23 Wipro Limited System and method for assisted pose estimation
WO2018204649A1 (en) 2017-05-04 2018-11-08 Intraop Medical Corporation Machine vision alignment and positioning system for electron beam treatment systems
US10762405B2 (en) 2017-10-26 2020-09-01 Datalogic Ip Tech S.R.L. System and method for extracting bitstream data in two-dimensional optical codes
US10650584B2 (en) 2018-03-30 2020-05-12 Konica Minolta Laboratory U.S.A., Inc. Three-dimensional modeling scanner
DE102019004235B4 (de) 2018-07-16 2024-01-18 Mako Surgical Corp. System und verfahren zur bildbasierten registrierung und kalibrierung
US10735665B2 (en) * 2018-10-30 2020-08-04 Dell Products, Lp Method and system for head mounted display infrared emitter brightness optimization based on image saturation
CN111428731B (zh) * 2019-04-04 2023-09-26 深圳市联合视觉创新科技有限公司 基于机器视觉的多类目标识别定位方法、装置和设备
CN110909668B (zh) * 2019-11-20 2021-02-19 广州极飞科技有限公司 目标检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备
WO2023141903A1 (en) * 2022-01-27 2023-08-03 Cognex Vision Inspection System (Shanghai) Co., Ltd. Easy line finder based on dynamic time warping method
CN118172579A (zh) * 2024-05-13 2024-06-11 苏州荣视软件技术有限公司 基于机器视觉的电气柜装配检测方法、系统及介质

Family Cites Families (143)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3816722A (en) * 1970-09-29 1974-06-11 Nippon Electric Co Computer for calculating the similarity between patterns and pattern recognition system comprising the similarity computer
JPS5425782B2 (ja) * 1973-03-28 1979-08-30
US3967100A (en) * 1973-11-12 1976-06-29 Naonobu Shimomura Digital function generator utilizing cascade accumulation
US3968475A (en) * 1974-11-11 1976-07-06 Sperry Rand Corporation Digital processor for extracting data from a binary image
JPS5177047A (ja) * 1974-12-27 1976-07-03 Naonobu Shimomura
US4011403A (en) * 1976-03-30 1977-03-08 Northwestern University Fiber optic laser illuminators
CH611017A5 (ja) * 1976-05-05 1979-05-15 Zumbach Electronic Ag
US4183013A (en) * 1976-11-29 1980-01-08 Coulter Electronics, Inc. System for extracting shape features from an image
JPS5369063A (en) * 1976-12-01 1978-06-20 Hitachi Ltd Detector of position alignment patterns
US4200861A (en) * 1978-09-01 1980-04-29 View Engineering, Inc. Pattern recognition apparatus and method
US4385322A (en) * 1978-09-01 1983-05-24 View Engineering, Inc. Pattern recognition apparatus and method
JPS5579590A (en) * 1978-12-13 1980-06-16 Hitachi Ltd Video data processor
US4300164A (en) * 1980-03-21 1981-11-10 View Engineering, Inc. Adaptive video processor
JPS57102017A (en) * 1980-12-17 1982-06-24 Hitachi Ltd Pattern detector
US4441124A (en) * 1981-11-05 1984-04-03 Western Electric Company, Inc. Technique for inspecting semiconductor wafers for particulate contamination
DE3267548D1 (en) * 1982-05-28 1986-01-02 Ibm Deutschland Process and device for an automatic optical inspection
US4534813A (en) * 1982-07-26 1985-08-13 Mcdonnell Douglas Corporation Compound curve-flat pattern process
US4736437A (en) * 1982-11-22 1988-04-05 View Engineering, Inc. High speed pattern recognizer
US4577344A (en) * 1983-01-17 1986-03-18 Automatix Incorporated Vision system
US4783829A (en) * 1983-02-23 1988-11-08 Hitachi, Ltd. Pattern recognition apparatus
GB8311813D0 (en) * 1983-04-29 1983-06-02 West G A W Coding and storing raster scan images
US4581762A (en) * 1984-01-19 1986-04-08 Itran Corporation Vision inspection system
US4606065A (en) * 1984-02-09 1986-08-12 Imaging Technology Incorporated Image processing-system
US4541116A (en) * 1984-02-27 1985-09-10 Environmental Research Institute Of Mi Neighborhood image processing stage for implementing filtering operations
US4860374A (en) * 1984-04-19 1989-08-22 Nikon Corporation Apparatus for detecting position of reference pattern
US4688088A (en) * 1984-04-20 1987-08-18 Canon Kabushiki Kaisha Position detecting device and method
EP0163885A1 (de) * 1984-05-11 1985-12-11 Siemens Aktiengesellschaft Anordnung zur Segmentierung von Linien
JPS6134583A (ja) * 1984-07-26 1986-02-18 シャープ株式会社 照明装置
US4953224A (en) * 1984-09-27 1990-08-28 Hitachi, Ltd. Pattern defects detection method and apparatus
JPS6180222A (ja) * 1984-09-28 1986-04-23 Asahi Glass Co Ltd メガネ合せ方法及びメガネ合せ装置
EP0233888B1 (en) * 1984-12-14 1990-12-12 AHLBOM, Sten Hugo Nils Image processing device
US4876728A (en) * 1985-06-04 1989-10-24 Adept Technology, Inc. Vision system for distinguishing touching parts
US4831580A (en) * 1985-07-12 1989-05-16 Nippon Electric Industry Co., Ltd. Program generator
US4617619A (en) * 1985-10-02 1986-10-14 American Sterilizer Company Reflector for multiple source lighting fixture
US4742551A (en) * 1985-10-07 1988-05-03 Fairchild Camera & Instrument Corporation Multistatistics gatherer
US4706168A (en) * 1985-11-15 1987-11-10 View Engineering, Inc. Systems and methods for illuminating objects for vision systems
US4860375A (en) * 1986-03-10 1989-08-22 Environmental Research Inst. Of Michigan High speed cellular processing system
US4728195A (en) * 1986-03-19 1988-03-01 Cognex Corporation Method for imaging printed circuit board component leads
GB8608431D0 (en) * 1986-04-07 1986-05-14 Crosfield Electronics Ltd Monitoring digital image processing equipment
US4783828A (en) * 1986-06-02 1988-11-08 Honeywell Inc. Two-dimensional object recognition using chain codes, histogram normalization and trellis algorithm
US4771469A (en) * 1986-06-30 1988-09-13 Honeywell Inc. Means and method of representing an object shape by hierarchical boundary decomposition
US4783826A (en) * 1986-08-18 1988-11-08 The Gerber Scientific Company, Inc. Pattern inspection system
US4724330A (en) * 1986-09-24 1988-02-09 Xerox Corporation Self aligning raster input scanner
US4955062A (en) * 1986-12-10 1990-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Pattern detecting method and apparatus
US4972359A (en) * 1987-04-03 1990-11-20 Cognex Corporation Digital image processing system
US4764870A (en) * 1987-04-09 1988-08-16 R.A.P.I.D., Inc. System and method for remote presentation of diagnostic image information
US4982438A (en) * 1987-06-02 1991-01-01 Hitachi, Ltd. Apparatus and method for recognizing three-dimensional shape of object
CA1318977C (en) * 1987-07-22 1993-06-08 Kazuhito Hori Image recognition system
JPH07120385B2 (ja) * 1987-07-24 1995-12-20 シャープ株式会社 光学的読取り方法
JP2630605B2 (ja) * 1987-07-29 1997-07-16 三菱電機株式会社 曲面創成方法
US4903218A (en) * 1987-08-13 1990-02-20 Digital Equipment Corporation Console emulation for a graphics workstation
US5119435A (en) * 1987-09-21 1992-06-02 Kulicke And Soffa Industries, Inc. Pattern recognition apparatus and method
US4907169A (en) * 1987-09-30 1990-03-06 International Technical Associates Adaptive tracking vision and guidance system
US5081656A (en) * 1987-10-30 1992-01-14 Four Pi Systems Corporation Automated laminography system for inspection of electronics
US5287449A (en) * 1987-11-06 1994-02-15 Hitachi, Ltd. Automatic program generation method with a visual data structure display
JPH01160158A (ja) * 1987-12-17 1989-06-23 Murata Mach Ltd 遠隔地の機械制御システム
JP2622573B2 (ja) * 1988-01-27 1997-06-18 キヤノン株式会社 マーク検知装置及び方法
JP2739130B2 (ja) * 1988-05-12 1998-04-08 株式会社鷹山 画像処理方法
JP2541631B2 (ja) * 1988-07-26 1996-10-09 ファナック株式会社 Cncのリモ―ト診断方式
US5046190A (en) * 1988-09-06 1991-09-03 Allen-Bradley Company, Inc. Pipeline image processor
US4975972A (en) * 1988-10-18 1990-12-04 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for surface inspection
US5054096A (en) * 1988-10-24 1991-10-01 Empire Blue Cross/Blue Shield Method and apparatus for converting documents into electronic data for transaction processing
US4876457A (en) * 1988-10-31 1989-10-24 American Telephone And Telegraph Company Method and apparatus for differentiating a planar textured surface from a surrounding background
US4932065A (en) * 1988-11-16 1990-06-05 Ncr Corporation Universal character segmentation scheme for multifont OCR images
NL8803112A (nl) * 1988-12-19 1990-07-16 Elbicon Nv Werkwijze en inrichting voor het sorteren van een stroom voorwerpen in afhankelijkheid van optische eigenschappen van de voorwerpen.
IL89484A (en) * 1989-03-03 1992-08-18 Nct Ltd Numerical Control Tech System for automatic finishing of machined parts
EP0385009A1 (en) 1989-03-03 1990-09-05 Hewlett-Packard Limited Apparatus and method for use in image processing
US5081689A (en) * 1989-03-27 1992-01-14 Hughes Aircraft Company Apparatus and method for extracting edges and lines
US5027419A (en) * 1989-03-31 1991-06-25 Atomic Energy Of Canada Limited Optical images by quadrupole convolution
US5153925A (en) * 1989-04-27 1992-10-06 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus
US5060276A (en) * 1989-05-31 1991-10-22 At&T Bell Laboratories Technique for object orientation detection using a feed-forward neural network
US5253309A (en) * 1989-06-23 1993-10-12 Harmonic Lightwaves, Inc. Optical distribution of analog and digital signals using optical modulators with complementary outputs
DE3923449A1 (de) * 1989-07-15 1991-01-24 Philips Patentverwaltung Verfahren zum bestimmen von kanten in bildern
EP0410378A3 (en) 1989-07-26 1992-08-05 Hitachi, Ltd. Multimedia telemeeting terminal device, communication system and manipulation method thereof
US5063608A (en) * 1989-11-03 1991-11-05 Datacube Inc. Adaptive zonal coder
US5164994A (en) * 1989-12-21 1992-11-17 Hughes Aircraft Company Solder joint locator
JP3092809B2 (ja) * 1989-12-21 2000-09-25 株式会社日立製作所 検査方法、並びに検査プログラムデータの自動作成機能を有する検査装置
JPH03210679A (ja) * 1990-01-12 1991-09-13 Hiyuutec:Kk パターンマッチング方法および装置
US5151951A (en) * 1990-03-15 1992-09-29 Sharp Kabushiki Kaisha Character recognition device which divides a single character region into subregions to obtain a character code
US5271068A (en) * 1990-03-15 1993-12-14 Sharp Kabushiki Kaisha Character recognition device which divides a single character region into subregions to obtain a character code
US5495424A (en) 1990-04-18 1996-02-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and apparatus for inspecting solder portions
US4959898A (en) * 1990-05-22 1990-10-02 Emhart Industries, Inc. Surface mount machine with lead coplanarity verifier
JP2690603B2 (ja) 1990-05-30 1997-12-10 ファナック株式会社 視覚センサのキャリブレーション方法
US5243607A (en) * 1990-06-25 1993-09-07 The Johns Hopkins University Method and apparatus for fault tolerance
US5113565A (en) * 1990-07-06 1992-05-19 International Business Machines Corp. Apparatus and method for inspection and alignment of semiconductor chips and conductive lead frames
JPH0475183A (ja) * 1990-07-17 1992-03-10 Mitsubishi Electric Corp 画像の相関度検出装置
JP2865827B2 (ja) 1990-08-13 1999-03-08 株式会社日立製作所 会議システムにおけるデータ蓄積方法
US5206820A (en) * 1990-08-31 1993-04-27 At&T Bell Laboratories Metrology system for analyzing panel misregistration in a panel manufacturing process and providing appropriate information for adjusting panel manufacturing processes
JP2591292B2 (ja) * 1990-09-05 1997-03-19 日本電気株式会社 画像処理装置とそれを用いた自動光学検査装置
US5388252A (en) 1990-09-07 1995-02-07 Eastman Kodak Company System for transparent monitoring of processors in a network with display of screen images at a remote station for diagnosis by technical support personnel
US5115309A (en) * 1990-09-10 1992-05-19 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for dynamic channel bandwidth allocation among multiple parallel video coders
US5168269A (en) * 1990-11-08 1992-12-01 Norton-Lambert Corp. Mouse driven remote communication system
US5327156A (en) 1990-11-09 1994-07-05 Fuji Photo Film Co., Ltd. Apparatus for processing signals representative of a computer graphics image and a real image including storing processed signals back into internal memory
US5086478A (en) * 1990-12-27 1992-02-04 International Business Machines Corporation Finding fiducials on printed circuit boards to sub pixel accuracy
US5091968A (en) * 1990-12-28 1992-02-25 Ncr Corporation Optical character recognition system and method
US5133022A (en) * 1991-02-06 1992-07-21 Recognition Equipment Incorporated Normalizing correlator for video processing
TW198107B (ja) 1991-02-28 1993-01-11 Ibm
JP3175175B2 (ja) * 1991-03-01 2001-06-11 ミノルタ株式会社 合焦検出装置
US5143436A (en) * 1991-03-06 1992-09-01 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Ringlight for use in high radiation
US5265173A (en) * 1991-03-20 1993-11-23 Hughes Aircraft Company Rectilinear object image matcher
CA2072198A1 (en) 1991-06-24 1992-12-25 Scott C. Farrand Remote console emulator for computer system manager
JP2700965B2 (ja) 1991-07-04 1998-01-21 ファナック株式会社 自動キャリブレーション方式
DE4222804A1 (de) 1991-07-10 1993-04-01 Raytheon Co Einrichtung und verfahren zur automatischen visuellen pruefung elektrischer und elektronischer baueinheiten
US5477138A (en) 1991-07-23 1995-12-19 Vlsi Technology, Inc. Apparatus and method for testing the calibration of a variety of electronic package lead inspection systems
DE69222102T2 (de) 1991-08-02 1998-03-26 Grass Valley Group Bedienerschnittstelle für Videoschnittsystem zur Anzeige und interaktive Steuerung von Videomaterial
US5297238A (en) * 1991-08-30 1994-03-22 Cimetrix Incorporated Robot end-effector terminal control frame (TCF) calibration method and device
US5475766A (en) 1991-09-05 1995-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Pattern inspection apparatus with corner rounding of reference pattern data
JPH0568243A (ja) * 1991-09-09 1993-03-19 Hitachi Ltd 可変長符号化制御方式
FR2683340A1 (fr) 1991-11-05 1993-05-07 Sgs Thomson Microelectronics Circuit elevateur au carre de nombres binaires.
US5315388A (en) * 1991-11-19 1994-05-24 General Instrument Corporation Multiple serial access memory for use in feedback systems such as motion compensated television
US5159281A (en) * 1991-11-20 1992-10-27 Nsi Partners Digital demodulator using numerical processor to evaluate period measurements
US5179419A (en) * 1991-11-22 1993-01-12 At&T Bell Laboratories Methods of detecting, classifying and quantifying defects in optical fiber end faces
US5145432A (en) * 1991-11-27 1992-09-08 Zenith Electronics Corporation Optical interprogation system for use in constructing flat tension shadow mask CRTS
US5299269A (en) * 1991-12-20 1994-03-29 Eastman Kodak Company Character segmentation using an associative memory for optical character recognition
US5216503A (en) * 1991-12-24 1993-06-01 General Instrument Corporation Statistical multiplexer for a multichannel image compression system
US5371690A (en) 1992-01-17 1994-12-06 Cognex Corporation Method and apparatus for inspection of surface mounted devices
JP3073599B2 (ja) 1992-04-22 2000-08-07 本田技研工業株式会社 画像のエッジ検出装置
US5594859A (en) 1992-06-03 1997-01-14 Digital Equipment Corporation Graphical user interface for video teleconferencing
GB2270581A (en) 1992-09-15 1994-03-16 Ibm Computer workstation
US5367667A (en) 1992-09-25 1994-11-22 Compaq Computer Corporation System for performing remote computer system diagnostic tests
US5367439A (en) 1992-12-24 1994-11-22 Cognex Corporation System for frontal illumination
US5583956A (en) 1993-01-12 1996-12-10 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Estimation of skew angle in text image
US5608872A (en) 1993-03-19 1997-03-04 Ncr Corporation System for allowing all remote computers to perform annotation on an image and replicating the annotated image on the respective displays of other comuters
US5481712A (en) 1993-04-06 1996-01-02 Cognex Corporation Method and apparatus for interactively generating a computer program for machine vision analysis of an object
JPH06325181A (ja) 1993-05-17 1994-11-25 Mitsubishi Electric Corp パターン認識方法
US5455933A (en) 1993-07-14 1995-10-03 Dell Usa, L.P. Circuit and method for remote diagnosis of personal computers
DE69322775T2 (de) 1993-08-12 1999-07-22 Ibm Verfahren zur Inspektion vom Verbindungskugel-Satz eines intergrierten Schaltungsmoduls
US5640199A (en) 1993-10-06 1997-06-17 Cognex Corporation Automated optical inspection apparatus
US5532739A (en) 1993-10-06 1996-07-02 Cognex Corporation Automated optical inspection apparatus
CA2113752C (en) 1994-01-19 1999-03-02 Stephen Michael Rooks Inspection system for cross-sectional imaging
US5519840A (en) 1994-01-24 1996-05-21 At&T Corp. Method for implementing approximate data structures using operations on machine words
US5583954A (en) 1994-03-01 1996-12-10 Cognex Corporation Methods and apparatus for fast correlation
US5526050A (en) 1994-03-31 1996-06-11 Cognex Corporation Methods and apparatus for concurrently acquiring video data from multiple video data sources
US5550763A (en) 1994-05-02 1996-08-27 Michael; David J. Using cone shaped search models to locate ball bonds on wire bonded devices
US5613013A (en) 1994-05-13 1997-03-18 Reticula Corporation Glass patterns in image alignment and analysis
US5557410A (en) 1994-05-26 1996-09-17 Lockheed Missiles & Space Company, Inc. Method of calibrating a three-dimensional optical measurement system
US5495537A (en) 1994-06-01 1996-02-27 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision template matching of images predominantly having generally diagonal and elongate features
US5602937A (en) 1994-06-01 1997-02-11 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision high accuracy searching
US5640200A (en) 1994-08-31 1997-06-17 Cognex Corporation Golden template comparison using efficient image registration
US5574668A (en) 1995-02-22 1996-11-12 Beaty; Elwin M. Apparatus and method for measuring ball grid arrays
US5553859A (en) 1995-03-22 1996-09-10 Lazer-Tron Corporation Arcade game for sensing and validating objects
US5566877A (en) 1995-05-01 1996-10-22 Motorola Inc. Method for inspecting a semiconductor device
US5846318A (en) 1997-07-17 1998-12-08 Memc Electric Materials, Inc. Method and system for controlling growth of a silicon crystal

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011221747A (ja) * 2010-04-08 2011-11-04 National Institute Of Advanced Industrial & Technology クロスマーク検出装置及び方法、並びにプログラム
CN105841576A (zh) * 2015-02-04 2016-08-10 赫克斯冈技术中心 坐标测量机

Also Published As

Publication number Publication date
WO1998018117A3 (en) 1998-07-02
US6137893A (en) 2000-10-24
EP0883857A2 (en) 1998-12-16
WO1998018117A2 (en) 1998-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001524228A (ja) 機械視覚較正標的並びに画像内で標的の位置及び方向を決定する方法
TWI566204B (zh) 三維物件識別技術
US6917702B2 (en) Calibration of multiple cameras for a turntable-based 3D scanner
JP4885584B2 (ja) レンジファインダ校正方法及び装置
US6751338B1 (en) System and method of using range image data with machine vision tools
US9207069B2 (en) Device for generating a three-dimensional model based on point cloud data
CN100442009C (zh) 用于范围检测的测量设备和方法
CN105139416A (zh) 一种基于图像信息和深度信息的物体识别方法
EP3496035A1 (en) Using 3d vision for automated industrial inspection
US11158039B2 (en) Using 3D vision for automated industrial inspection
TW201104508A (en) Stereoscopic form reader
Stevens et al. Precise matching of 3-D target models to multisensor data
CN113256740A (zh) 一种雷达与相机的标定方法、电子设备及存储介质
US6873712B2 (en) Method for identifying an object image
CN112308916A (zh) 一种基于图像靶标的目标位姿识别方法
Song et al. Calibration of event-based camera and 3d lidar
JPH08110807A (ja) 自動キャリブレーション方法およびその装置
CN115375610A (zh) 检测方法及装置、检测设备和存储介质
CN106442539B (zh) 利用图像信息测量工件表面缺陷的方法
JP3301031B2 (ja) 物体の自動認識方法および自動認識装置
CN109523594A (zh) 一种视觉托盒特征点坐标定位方法及系统
Vuori et al. Three-dimensional imaging system with structured lighting and practical constraints
JPH0933227A (ja) 三次元形状識別方法
Albrecht An analysis of visual mono-slam
US20230334819A1 (en) Illuminant estimation method and apparatus for electronic device