JP2001521201A - 多層導電性反射防止コーティング - Google Patents

多層導電性反射防止コーティング

Info

Publication number
JP2001521201A
JP2001521201A JP2000518292A JP2000518292A JP2001521201A JP 2001521201 A JP2001521201 A JP 2001521201A JP 2000518292 A JP2000518292 A JP 2000518292A JP 2000518292 A JP2000518292 A JP 2000518292A JP 2001521201 A JP2001521201 A JP 2001521201A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating
layer
substrate
flexible substrate
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000518292A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4255617B2 (ja
Inventor
リッペンス,パウル
ペルソーネ,ペーテル
Original Assignee
イノヴェイティヴ・スパッタリング・テクノロジー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by イノヴェイティヴ・スパッタリング・テクノロジー filed Critical イノヴェイティヴ・スパッタリング・テクノロジー
Publication of JP2001521201A publication Critical patent/JP2001521201A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4255617B2 publication Critical patent/JP4255617B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/11Anti-reflection coatings
    • G02B1/113Anti-reflection coatings using inorganic layer materials only
    • G02B1/115Multilayers
    • G02B1/116Multilayers including electrically conducting layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/3411Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
    • C03C17/3417Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials all coatings being oxide coatings
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/16Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements having an anti-static effect, e.g. electrically conducting coatings
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/913Material designed to be responsive to temperature, light, moisture

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 柔軟基板上に積層させるための所定の光学的特性を備えた多層無機物反射防止コーティングが提供される。コーティングは5つの材料層から成る堆積を含む。堆積の第3層は、前記コーティングの光学的特性に影響を与えることなく、25から2000Ω/sqまでの調整可能な電気的面抵抗を前記コーティングに与える、好ましくはインジウム・スズ酸化物などの導電性素材から成るダミー層である。前記多層反射防止コーティングは単一通過型または二重通過型の真空マグネトロン・スパッタ作業により柔軟基板(例えば高分子フィルム)上に積層可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 <発明の分野> 本発明は柔軟な基板(以下、柔軟基板という)上に積層させるための多層反射
防止コーティングに関する。
【0002】 <発明の背景> 多層反射防止コーティングの性能は、そのアドミタンス図及び対応する反射率
図から評価することができる。
【0003】 アドミタンスのプロットにおいて、反射防止コーティングを構成している堆積
の複素光学的アドミタンスYの軌跡は複素平面内にプロットされ、堆積のアドミ
ッタンスは、あたかも全積層工程の間にプロットされたかのように、基板に始ま
り堆積の前面で終止している。堆積の一部を成す各誘電体層に対して、この軌跡
は実軸上に中心を持つ円の円弧で、時計回りに追跡される。もしアドミタンス・
プロットの終点が、エントランス媒体である空気の光学的アドミタンス・ポイン
ト(1,0)の近くであるなら、全コーティング堆積の最適な反射防止特性が得
られる。
【0004】 反射率図では、入射光の反射率(以下、反射率と呼ぶ)がその波長の関数とし
てプロットされる。その反射率は、視覚波長範囲、すなわちおおまかに400n
mから700nmまでの範囲において、可能な限り低くあるべきである。
【0005】 図1に示されているような、いわゆる広化Vコート、平坦化Vコート、あるい
はバームレン型コートは、一般によく知られた反射防止コーティングである。こ
のコーティング6には、4つの材料層から成る堆積が含まれる。基板から最も遠
くに位置している第1層1は、相互平均的視覚波長であるλ0を約510nmの デザイン波長としたときに、約λ0/4の厚みを有することを意味する1/4波 長層である。第2層2は、約λ0/2の層厚を有する半波長層である。基板の最 も近くに位置している第3層3及び第4層4は、それぞれ一般にλ0/12とλ0 /16の層厚を持つ非常に薄い材料層である。このようなコーティングの例は米
国特許第5450238号に記載されている。
【0006】 低屈折率及び大バンド幅といった最適な光学的特性を得るため、4層から成る
堆積は非常に低い屈折率と非常に高い屈折率を持つ材料を組み合わせるべきであ
る。実際には、二酸化シリコンが非常に低い屈折率(約1.46)を持つ材料と
して使用され、二酸化チタンが非常に高い屈折率(約2.35)を持つ材料とし
て使用される。
【0007】 図2には、このような4層のバームレン型反射防止ガラスコーティングのアド
ミタンスのプロットが示されており、これはλ0を510nmとしたときに、基 板から最も遠くに位置する0.25λ0の光学的層厚を持つ二酸化シリコン層と 、それに続いて0.52λ0の光学的層厚を持つ二酸化チタン層と、さらに続い て0.09λ0の光学的層厚を持つ二酸化シリコン層と、そして最後に最も基板 に近い0.06λ0の光学的層厚を持つ二酸化チタン層とから成る堆積に関係す る。対応する反射率図は図7においてプロットAで示されている。これらの図か
らわかるように、このバームレン型コーティングの光学的特性は非常に良く、視
覚波長範囲では非常に反射率が低く、しかもバンド幅が大きい。バンド幅は、1
%の反射率における、長波長λLの短波長λsに対する比率として定義される。
【0008】 しかしながら、このようなコーティングの非常に重大な欠点は電気抵抗が大き
い(一般に20000Ω/sq以上)ということで、そのためにこうしたコーテ
ィングは、例えば陰極線管(CRT)のコーティングとして、帯電防止またはE
MI(Electro-Magnetic Interference)遮蔽への適用に適しない。
【0009】 コーティングの導電率を改善するには、二酸化チタン層を、例えばインジウム
またはアルミニウムでドープされた亜鉛酸化物、アンチモンまたはフッ素でドー
プされたスズ酸化物、スズでドープされたカドミウム酸化物、あるいはインジウ
ム・スズ酸化物といった導電性材料で置き換えることが一般的である。
【0010】 しかしながら、こうした修正されたバームレン型コーティングの光学的特性は
、二酸化シリコンを二酸化チタンよりも低い屈折率(一般に2.0〜2.1)を
有する導電性素材と組み合わせているために、すでに述べたバームレン型コーテ
ィングよりも劣る。入射光の反射率はそれ故により高く、かつバンド幅はより低
い。これは図7の反射率プロットBからわかる。このプロットBは、基板から最
も遠くに位置する0.24λ0の光学的層厚を持つ二酸化シリコン層と、それに 続いて0.39λ0の光学的層厚を持つインジウム・スズ酸化物層と、さらに続 いて0.06λ0の光学的層厚を持つ二酸化シリコン層と、そして最後に最も基 板に近い0.06λ0の光学的層厚を持つインジウム・スズ酸化物層とから成る 堆積を含む修正されたバームレン型ガラスコーティングに関するものである。図
3は対応するアドミタンスのプロットを示している。
【0011】 米国特許第5270858号には、バームレン型層の中間の二酸化チタン層が
、ドープされた亜鉛酸化物またはインジウム・スズ酸化物といった導電性材料で
部分的に置き換えられた、5つの材料層から成る堆積を含む多層反射防止コーテ
ィングが記載されている。
【0012】 このコーティングは幾分導電性があるという利点を有するが、まだ重大な欠点
が存在する。
【0013】 二酸化チタンの一部が(より屈折率が低い)導電性材料に置き換えられたため
に、すでに述べられたバームレン型コーティングの光学的特性よりもコーティン
グの光学的特性は悪い。このことは図7の反射率プロットCからわかる。このプ
ロットCは、基板から最も遠くに位置する0.28λ0の光学的層厚を持つ二酸 化シリコン層と、それに続いて0.13λ0の光学的層厚を持つ二酸化チタン層 と、さらに続いて0.37λ0の光学的層厚を持つ亜鉛酸化物層と、またさらに 続いて0.12λ0の光学的層厚を持つ二酸化シリコン層と、そして最後に最も 基板に近い0.03λ0の光学的層厚を持つ二酸化チタン層とから成る堆積を含 む、ガラス上コーティングに関するものである。
【0014】 さらに、堆積を構成している導電性材料層の層厚は非常に重要で、層厚はコー
ティングの光学的特性に直接的に影響を与えるので設計仕様に正確に従わなけれ
ばならない。コーティングの導電率はそれ故に全く調整が効かず、EMIを遮蔽
する用途に適するコーティングを与えるには大きさが十分ではない。
【0015】 <発明の目的と概要> そこで本発明の目的は、柔軟基板上に積層させるのに適し、視覚波長範囲にお
いて反射率が低く、かつバンド幅が大きいといった最適な光学的特性を有する、
反射防止コーティングを提供することにある。
【0016】 本発明のもう一つの目的は、導電性を有し、帯電防止及びEMI遮蔽への適用
に適する、反射防止コーティングを提供することにある。
【0017】 本発明の更なる目的は、コーティングの光学的特性とは独立に調整が可能な導
電率を有する反射防止コーティングを提供することにある。
【0018】 本発明のもう一つの更なる目的は、工業応用に適したコーティング処理を実行
するための、合理的なスピードで反射防止コーティングをコーティングさせるた
めの方法を提供することにある。
【0019】 本発明は柔軟基板上に積層させるための所定の光学的特性を備えた多層無機物
反射防止コーティングを構成する。このコーティングは5つの材料層から成る堆
積を含む。堆積の第3層は、前記コーティングの光学的特性に影響を与えること
なく、25から2000Ω/sq(sq=square)までの調整可能な電気的面抵抗 (すなわち、コーティングの単位正方形面積当たりの抵抗)を前記コーティング
に与える、好ましくはインジウム・スズ酸化物などの導電性材料から成る、ダミ
ー層である。このダミー層は、その層厚がコーティングの光学的特性に一切また
はほとんど影響を与えない層として定義される。
【0020】 基板から最も遠く離れた位置にある第1層は、基板の屈折率より小さな屈折率
と、0.2λ0と0.3λ0との間、すなわち約0.25λ0(1/4波長)の光 学的層厚を有する。第2層は、約2.2より大きな屈折率と、0.4λ0と0. 6λ0との間、すなわち約0.5λ0(1/2波長)の光学的層厚を有する。第4
層は、第1層とほぼ同じ屈折率と、約0.1λ0未満、すなわちどんな場合でも 0.15λ0未満の光学的層厚を有する。第5層は、第2層とほぼ同じ屈折率と 、0.025λ0と0.1λ0との間、すなわち約0.04λ0の光学的層厚を有 する。ここで、λ0は480nmと560nmとの間、すなわち約510nmの 設計波長を表す。
【0021】 本発明による多層反射防止層は、 (1)柔軟基板を、繰り出し、そして巻き直すためのセクションと、 (2)コーティングを構成する材料層が基板上に連続的にスパッタされる積層
セクションと、 (3)その表面上で基板が積層セクションを通過する、中央冷却ドラムと、 を備えた真空チャンバ内で実行可能な単一通過型または二重通過型の真空マグネ
トロン・スパッタ作業により柔軟基板(例えば高分子フィルム)上に積層できる
。単一通過型作業が実行される場合には、最小5つの積層セクションが必要とさ
れ、二重通過型作業が実行される場合には、最小3つの積層セクションのみが必
要とされる。
【0022】 <詳細な説明> 次に本発明を以下の添付図面を参照しながら詳細に説明する。 以下の説明において、「光学的特性」には、特に、反射率とバンド幅BWとが
含まれる。ここで、反射率とは入射光の百分率反射率であり、バンド幅BWとは
、例えば図7の反射率プロットDに示されているような、1%の反射率における
長波長λLの短波長λsに対する比率(BW=λL/λs)である。
【0023】 本発明によれば、図5に示されたような、5層の材料層から成る堆積を含む、
柔軟基板に対する多層反射防止コーティング7が提供される。
【0024】 第1層8は基板から最も遠くに位置し、基板の屈折率よりも小さい屈折率を持
つ材料から成り、0.2λ0と0.3λ0との間、一般的には約0.25λ0(1 /4波長)の光学的層厚を有する。層厚は約510nmであるλ0に対する割合 として表され、視覚的波長領域、すなわち400nmから700nmを限定する
境界波長の相互平均として表される。
【0025】 コーティングに含まれる第2層9は、約2.2より大きな屈折率を持つ材料か
ら成り、0.4λ0と0.6λ0との間、一般的には約0.5λ0(半波長)の光 学的層厚を有する。
【0026】 第3層10は導電性材料から成り、以下において詳細に特徴付けられる。
【0027】 第4層11は、第1層8とほぼ同じ屈折率を持つ材料から成り、約0.1λ0 未満、一般的には0.05λ0と0.15λ0との間の光学的層厚を有する。
【0028】 第5層12は基板13に最も近く、第2層9とほぼ同じ屈折率を有する材料か
ら成り、0.025λ0と0.1λ0との間、一般的には約0.05λ0の光学的 層厚を有する。
【0029】 堆積は好ましくは、非常に高い屈折率と非常に低い屈折率をそれぞれ有する材
料として二酸化チタンと二酸化シリコンを組み合わせ、それによって、すでに述
べた4層のバームレン型コーティングの光学的特性と両立できる良い光学的特性
を持つコーティングが実現される。このことは、以下の実施例2によって特徴付
けられる本発明によるコーティングに関する図7の反射率プロットDからわかる
【0030】 基板13に最も近い第5層12に二酸化チタンを使用すれば、当該層に防湿性
が与えられるという更なる利点が生まれる。この防湿性によって、湿気が外側か
ら基板と第5層12の接触面を通過して層内に浸透することが妨げられ、その結
果、ひび形成といったコーティング堆積の劣化が防止される。
【0031】 本発明による反射防止コーティングは、透明なPETフィルム上に積層される
ときには0.15%、あるいは例えば強く架橋結合したUV硬化処理されたアク
リル酸塩から成るハードコーティングを有する基板上に積層されるときには0.
25%、を越えないフォトピック反射率を実現する。フォトピック反射率は目の
感度と反射率プロットとの畳み込みであって、標準的発光物D65と1931年
に照明国際委員会によって定義された2°オブザーバを使用して380から78
0nmまでの波長領域で測定される。
【0032】 さらに、コーティングは約1.60より大きなバンド幅(すでに上で定義され
た)を有し、それは柔軟基板に対する従来最も一般的なコーティングのバンド幅
より大きい。しかしながら実際には、層厚または反射率の小さくかつ/または局
所的な偏りによって(層の組成の小さな偏りの結果として)、明所反射率の値が
増加する。これらの値は、柔軟基板や透明基板上に積層されると最大約0.60
%まで、あるいはハードコーティングされた柔軟基板上に積層されると最大約0
.70%まで、上昇することがある。好ましくはこれらの値はそれぞれ0.60
%と0.70%、最も好ましくはそれぞれ0.45%と0.55%を超えるべき
ではない。本発明によるコーティング堆積における第3材料層10は導電性材料
から成り、反射防止コーティングに望ましい導電率を与える。
【0033】 この第3層は、その層厚がコーティングの光学的特性に一切または非常にわず
かにしか影響を与えないことを意味する、いわゆる「ダミー層」である。このダ
ミー層の層厚を変えることによって、コーティングの導電率はコーティングの光
学的特性に影響を与えることなく広範囲に調整可能である。
【0034】 もしある層が堆積の複素光学的アドミタンスYが実数値をとるポジションにお
いて堆積内に挿入され、そしてもしその挿入された層の屈折率がその実数値に等
しいならば、その層はダミー層として作用する。
【0035】 基板上に第5及び第4の堆積層11と12を積層させた後、図6のアドミッタ
ンス図からわかるように、その発生期の堆積は約2の実アドミタンスを有する。
もしこの時点で約2の屈折率を持つ材料層が挿入されるならば、アドミタンス図
は、極めて小さな半径の円(理想的には点)として継続し、そのことはコーティ
ングの光学的特性が事実上変わらないままであることを意味している。インジウ
ム・スズ酸化物(ITO)は約2の屈折率を有し、上記特性に非常に適している
。本発明による反射防止コーティングを構成している堆積に第3層として挿入さ
れたITO層は、それ故にダミー層として作用する。
【0036】 ITOダミー層は導電性を有し、コーティングに調整可能な導電率を与える。
実際に、ITOダミー層の層厚を5nmと50nmの間、好ましくは20nmと
40nmの間で変化させることによって、コーティングの光学的特性に影響を与
えることなく、コーティングの電気的面抵抗を25Ω/sqと2000Ω/sq
の間で調整することができる。例えば陰極線管への適用に対しては、コーティン
グの電気的面抵抗は非常に低く、25Ω/sqと500Ω/sqの間にあること
が好ましい。
【0037】 電気的面積抵抗は単位正方形の表面領域(縦長=横長)の伝導体の抵抗と定義
され、導電層の抵抗率と導電性コーティング層の層厚との比率として計算できる
【0038】 本発明によるコーティングには、その色が調整可能かつ再生可能であるという
更なる利点が存在する。提案されたコーティングの光学的特性は、構成堆積層の
層厚及び/または材料の化学量論における小さな変化にはあまり敏感ではないの
で、色の微調整が可能である。
【0039】 <本発明のいくつかの典型的な実施例> 本発明による反射防止コーティングのいくつかの実施例を以下詳細に説明する
。なお、本発明はそれらに限定されるのではない。
【0040】 <実施例1> 表1で与えられるような組成の堆積を含む反射防止コーティングは1.75の
バンド幅を有し、基板としての(透明な)ポリエチレンテレフタル酸塩(PET
)フィルムに積層されるときには明所反射率(すでに上で定義された)は0.0
94%、基板としてのハードコーティングされたPETフィルム上に積層される
ときには明所反射率は0.175%になる。ハードコーティングは強く架橋結合
したUV硬化処理されたアクリル酸塩から成り、約3.5μmの層厚を有する。
このコーティングに関する反射率プロットは図8のプロットEで示されている。
【0041】 コーティングは、約250Ω/sq未満の電気的面抵抗を有し、それは積層さ
れたITO材料の正確な組成に依存する。
【0042】
【表1】
【0043】 <実施例2> 表2で与えられるような組成の堆積を含む反射防止コーティングは1.65の
バンド幅を有し、基板としてのポリエチレンテレフタル酸塩(PET)フィルム
に積層されるときには明所反射率(すでに上で定義された)は0.094%、基
板としてのハードコーティングされたPETフィルム上に積層されるときには明
所反射率は0.172%になる。ハードコーティングは強く架橋結合したUV硬
化処理されたアクリル酸塩から成り、約3.5μmの層厚を有する。このコーテ
ィングに関する反射率プロットは、図8のプロットFまたは図7のプロットDで
示されている。
【0044】 コーティングは、約200Ω/sq未満の電気的面抵抗を有し、それは積層さ
れたITO材料の正確な組成に依存する。
【0045】
【表2】
【0046】 <実施例3> 表3で与えられるような組成の堆積を含む反射防止コーティングは1.64の
バンド幅を有し、基板としてのポリエチレンテレフタル酸塩(PET)フィルム
に積層されるときには明所反射率(すでに上で定義された)は0.087%、基
板としてのハードコーティングされたPETフィルム上に積層されるときには明
所反射率は0.166%になる。ハードコーティングは強く架橋結合したUV硬
化処理されたアクリル酸塩から成り、約3.5μmの層厚を有する。このコーテ
ィングに関する反射率プロットは、図8のプロットGで示されている。
【0047】 コーティングは175Ω/sqの電気的面抵抗を有し、それは積層されたIT
O材料の正確な組成に依存する。
【0048】
【表3】
【0049】 <実施例4> 表4で与えられるような組成の堆積を含む反射防止コーティングは1.6のバ
ンド幅を有し、基板としてのポリエチレンテレフタル酸塩(PET)フィルムに
積層されるときには明所反射率(すでに上で定義された)は0.081%、基板
としてのハードコーティングされたPETフィルム上に積層されるときには明所
反射率は0.161%になる。ハードコーティングは強く架橋結合したUV硬化
処理されたアクリル酸塩から成り、約3.5μmの層厚を有する。このコーティ
ングに関する反射率プロットは、図8のプロットHで示されている。
【0050】 コーティングは150Ω/sqの電気的面抵抗を有し、それは積層されたIT
O材料の正確な組成に依存する。
【0051】
【表4】 表1から表4において言及された実施例は、ITOダミー層の層厚において互
いに異なっている。提案されたコーティングはそれぞれ、25nm、30nm、
35nm、そして40nmの物理的層厚を有するITO層を含む。図8はこれら
4つのコーティングの反射率プロットを組み合わせたもので、ITO層の層厚が
事実上コーティングの反射率特性に影響を与えないことを実証しており、ITO
層がダミー層であることを保証している。他方、ITO層の層厚はコーティング
の電気的面抵抗に直接影響を与える。例えば40nmの物理的層厚を有するIT
O層を含むコーティングは、25nmの物理的層厚を有するITO層を含むコー
ティングの電気的面抵抗よりも約1.6倍も面抵抗が小さい。
【0052】 <実施例5> 表5で与えられるような組成を有する堆積を含む本発明による反射防止コーテ
ィング堆積は、3つの積層セクションを持つ大きなウェブ型コーティング機また
は回転型コーティング機上での2度の通過において積層された。コーティング堆
積は約1000mmにわたって均一で、かつ、 ・450nm〜650nmの範囲における平均スペクトル反射率:0.30%〜
0.36%、 ・450nm〜650nmの波長範囲における最大反射率:0.51%〜1.6
2%、 ・バンド幅:1.55〜1.58、 ・明所反射率:0.33%、 ・このコーティングの面抵抗は約500Ω/sq、 という特性を有していた。
【0053】
【表5】 本発明によれば、反射防止コーティングを備える柔軟基板をコーティングする
ための方法も提供される。この方法では、真空ウェブ型コーティング機における
単一通過型または二重通過型の真空マグネトロン・スパッタ作業によりコーティ
ングが基板上に積層される。このスパッタ作業は、 (1)柔軟基板を、繰り出し、そして巻き直すためのセクション30と、 (2)コーティングを構成する材料層が基板上に連続的にスパッタされる積層
セクションと、 (3)その表面上で基板が前記積層セクションを通過する、中央冷却ドラム2
4と、 を備えた真空チャンバ20内で実行できる。真空ウェブ型コーティング機は例え
ば3つまたは5つの積層セクションを備えた大きなウェブ型コーティング機また
は回転型コーティング機であることが可能である。
【0054】 異なったスパッタ・マグネトロンが本発明によるコーティングを得るために使
用できる。例えば、シリコン、チタン及びIn/Sn合金(90/10、重量%
)ターゲットを使用する回転可能型または平面型マグネトロンが、Ar/O2媒 体ガスにおける反応スパッタのために使用できる。
【0055】 しかしながら、シリンダ台に固定された(酸素が不足した)TiOx(x<2
)回転可能型セラミック・ターゲットからスパッタすることが好ましい。
【0056】 従来技術では、従来の平面型二酸化チタン・ターゲットによるスパッタ速度は
非常に低く、かつ同じくターゲットに印可される電力は低く保たれなければなら
ず、そのために工程が工業的応用上適当でなくなるため、二酸化チタン(TiO 2 )ターゲットからのスパッタは避けられる。DCモードでは、ターゲット上の 電力密度は、二酸化チタン・ターゲットの低導電率によるアークを抑制するため
に低く保たれなければならない。RFモードでは、スパッタ用ウェブ型コーティ
ング機周辺での電磁干渉を避ける理由から遮蔽を行うために、電力密度は低く保
たれなければならない。二酸化チタンは屈折率が非常に高いために他の材料より
も良い光学的特性がもたらされるために、しかしながら他のあらゆる基板材料の
代わりに二酸化チタンが使用されることが望ましい。
【0057】 理論的には、二酸化チタンは、平面型または回転可能型チタン・ターゲットか
らの酸素に富むプラズマ内におけるDC(またはRF)反応スパッタによって積
層できる。しかしながら、この作業によれば、大きな酸素流量が与えられる(こ
ときアークが発生し、積層速度が低くなる)としても、化学量論的チタン材料層
を得ることが非常が困難になることがわかっている。不足化学量論的な回転可能
型TiOx(x<2)ターゲットを使用すると、スパッタ速度は向上し、プラズ
マにほとんど酸素を加えることなく、化学量論的二酸化チタン層が得られる。
【0058】 さらに、不足化学量論的ターゲット素材から開始すると、二酸化チタンはアナ
タース形としてではなくルチル形として積層され、ルチル形の屈折率はアナター
ス形の屈折率よりも幾分高いので、光学的特性がより良くなる。
【0059】 単一通過型作業を使用すると、堆積を含む5層8〜12(基板からTiO2− SiO2−ITO−TiO2−SiO2)が、5つの別個の隣接する積層セクショ ンにおいて、基板上に連続的にスパッタされる。
【0060】 図9は可能な単一通過型作業を示している。真空ポンプはチャンバ20に真空
を作り出す。またこのチャンバ20は、柔軟基板23のための繰り出しロール2
1及び巻き直しロール22と、スパッタ源あるいはターゲット25〜29と、冷
却ドラム24とを含む。柔軟基板23は繰り出しロール21から繰り出され、冷
却ドラム24の表面上を積層セクションを経由して移動し、最後に巻き直しロー
ル22上で巻き直される。基板に最も近くなければならない材料層である第5層
は最初に回転可能型TiOxターゲット25からスパッタされる。次の積層セク
ションにおいて、堆積の第4層、第3層、第2層、及び第1層が、それぞれ、回
転可能型シリコン・ターゲット26、平面型インジウム/スズまたはITOター
ゲット27、回転可能型TiOxターゲット28、そして回転可能型シリコン・
ターゲット29により、連続的にスパッタされる。
【0061】 二重通過型作業を使用すると、基板に最も近い積層されるべき2つの材料層(
TiO2−SiO2)が、基板の積層セクションを経由する第1通過の間にスパッ
タされ、そして残る3つの材料層(ITO−TiO2−SiO2)が第2通過の間
にスパッタされる。このことは、二重通過型作業には3つの積層セクションだけ
が必要とされるこを暗示している。
【0062】 図10は可能な二重通過型作業を示している。コーティングを構成する堆積の
第5層と第4層は、柔軟基板23の積層セクションを経由する第1通過の間に、
それぞれ回転可能型TiOx32と回転可能型シリコン・ターゲット33からス
パッタされる。第2通過の間、材料層は平面型インジウム/スズまたはITOタ
ーゲット31と回転可能型TiOxターゲット32と回転可能型シリコン・ター
ゲット33から、連続的に基板23上にスパッタされる。
【0063】 以上の説明から、回転可能型マグネトロンはそれぞれ平面型マグネトロンに置
き換えることができ、そしてその逆も可能であることは明らかである。
【0064】 本発明による反射防止コーティングは、陰極線管あるいは液晶ディスプレイ(
両方ともテレビあるいはコンピュータモニタに適用される)の前面を構成する高
分子フィルムに対するコーティングとして十分に使用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来技術による4層のバームレン型コーティングの概略図である。
【図2】 従来技術による4層のバームレン型コーティングのアドミタンスのプロットを
グラフに示した図である。
【図3】 従来技術による修正された4層のバームレン型コーティングのアドミタンスの
プロットをグラフに示した図である。
【図4】 従来技術による導電性のある5層のバームレン型コーティングのアドミタンス
のプロットをグラフに示した図である。
【図5】 本発明による反射防止5層コーティングの概略図である。
【図6】 本発明による反射防止5層コーティングのアドミッタンスのプロットをグラフ
に示した図である。
【図7】 従来技術の一部を成す、4層バームレン型コーティング(A)、修正された4
層バームレン型コーティング(B)、及び5層導電性コーティング(C)と、そ
して本発明による5層コーティング(D)の反射率プロットを示した図である。
【図8】 物理的層厚が25nm(E)、30nm(F)、35nm(G)、そして40
nm(H)であるダミーのインジウム・スズ酸化物層を含む5層導電性コーティ
ング(基板としての透明なPETフィルム上のコーティング)の反射率プロット
をそれぞれ示した図である。
【図9】 本発明による反射防止コーティングによって柔軟基板をコーティングするため
の単一通過型スパッタ工程を説明するための図である。
【図10】 幅広いウェブ型コーティング機または回転型コーティング機上で実行される、
本発明による反射防止コーティングによって柔軟基板をコーティングするための
二重通過型スパッタ工程を説明するための図である。
【図11】 物理的層厚が約25nmであるダミーのインジウム・スズ酸化物層が使用され
、ハードコーティングされたPET基板上に積層された、本発明による5層導電
性コーティングの反射率プロットを示した図である。このコーティングは、5つ
の積層チャンバを有する幅広いウェブ型コーティング機または回転コーティング
機上で実行された(基板幅は1200mm)。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成12年4月21日(2000.4.21)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2K009 AA07 AA15 BB24 CC03 CC24 DD04 DD09 EE03 4F100 AA20B AA20E AA21C AA21E AA33D AK25 AK42 AR00A BA05 BA07 CC00B CC00C CC00D CC00E EG001 EH661 EH662 EJ501 EJ502 GB41 HB00 JD04E JG01D JG04D JK13A JL00 JL10 JN06B JN06C JN06D JN06E JN18B JN18C JN18E YY00B YY00C YY00E

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 柔軟基板(13)上に積層させるための所定の光学的特性を
    備えた多層無機物反射防止コーティング(7)であって、該基板から最も遠い順
    に第1層、第2層、第3層、第4層、及び第5層までの材料層から成る堆積を含
    み、λ0を約510nmとしたときに、 前記第1層(8)は、前記基板の屈折率より小さな屈折率と、約1/4波長(
    λ0/4)の光学的層厚を有し、 前記第2層(9)は、約2.2より大きな屈折率と、約半波長(λ0/2)の 光学的層厚を有し、 前記第4層(11)は、前記第1層とほぼ同じ屈折率と、約0.1λ0未満の 光学的層厚を有し、 前記第5層(12)は、前記第2層とほぼ同じ屈折率と、約0.04λ0の光 学的層厚を有すると共に、 前記第3層(10)は25Ω/sqから2000Ω/sqまで調整可能な電気
    的面積抵抗を前記コーティングに与える導電性素材から成る、前記コーティング
    の光学的特性に影響を与えることのないダミー層であることを特徴とする多層無
    機物反射防止コーティング。
  2. 【請求項2】 25Ω/sqから500Ω/sqまでの電気的面積抵抗を有
    することを特徴とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  3. 【請求項3】 前記ダミー層はインジウム・スズ酸化物から成ることを特徴
    とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  4. 【請求項4】 前記ダミー層の厚さは5nmと50nmとの間にあることを
    特徴とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  5. 【請求項5】 前記ダミー層の厚さは20nmと40nmとの間にあること
    を特徴とする請求項4に記載の反射防止コーティング。
  6. 【請求項6】 前記第1層と前記第4層は二酸化シリコンから成り、前記第
    2層と前記第5層は二酸化チタンから成ることを特徴とする請求項1に記載の反
    射防止コーティング。
  7. 【請求項7】 入射光が前記柔軟基板上に入射したときの光反射率は、38
    0nmから780nmまでの波長領域において0.60%を越えないことを特徴
    とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  8. 【請求項8】 入射光がハードコーティングされた柔軟基板上に入射したと
    きの光反射率は、380nmから780nmまでの波長領域において0.70%
    を越えないことを特徴とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  9. 【請求項9】 約1.50よりも大きいのバンド幅を有することを特徴とす
    る請求項1に記載の反射防止コーティング。
  10. 【請求項10】 前記第5層は防湿性を有することを特徴とする請求項1に
    記載の反射防止コーティング。
  11. 【請求項11】 前記コーティングの色は調整可能かつ再生可能であること
    を特徴とする請求項1に記載の反射防止コーティング。
  12. 【請求項12】 柔軟基板を請求項1に記載された反射防止コーティングに
    よってコーティングをするための方法であって、前記コーティングは、単一通過
    型真空マグネトロン・スパッタ作業により行われるとと共に、このスパッタ作業
    は、 (1)前記柔軟基板(23)を繰り出し、そして巻き直すためのセクション(
    30)と、 (2)前記コーティングを構成する材料層が前記基板上に連続的にスパッタさ
    れる5つの積層セクションと、 (3)その表面上で前記基板(23)が前記5つのターゲット・セクションを
    通過する中央冷却ドラム(24)と、 を備えた真空チャンバ(20)内で行なわれることを特徴とするコーティング方
    法。
  13. 【請求項13】 柔軟基板を請求項1に記載された反射防止コーティングに
    よってコーティングするための方法であって、前記コーティングは、二重通過型
    真空マグネトロン・スパッタ作業により行われると共に、このスパッタ作業は、 (1)前記柔軟基板(23)を繰り出し、そして巻き直すためのセクション(
    30)と、 (2)前記コーティングを構成する材料層が前記基板上に連続的にスパッタさ
    れる3つの積層セクションと、 (3)その表面上で前記基板(23)が前記3つのターゲット・セクションを
    通過する中央冷却ドラム(24)と、 を備えた真空チャンバ(20)内で実行されることを特徴とするコーティング方
    法。
  14. 【請求項14】 回転可能型または平面型TiOxターゲットが使用される
    ことを特徴とする請求項12または13に記載のコーティング方法。
  15. 【請求項15】 請求項1に記載された多層無機物反射防止コーティングに
    よって陰極線管(CRT)の前面を構成する高分子フィルムをコーティングする
    ことを特徴とするコーティング方法。
JP2000518292A 1997-10-29 1998-10-27 多層導電性反射防止コーティング Expired - Fee Related JP4255617B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP97203335.1 1997-10-29
EP97203335A EP0913712A1 (en) 1997-10-29 1997-10-29 Multilayer electrically conductive anti-reflective coating
PCT/EP1998/006996 WO1999022253A1 (en) 1997-10-29 1998-10-27 Multilayer electrically conductive anti-reflective coating

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001521201A true JP2001521201A (ja) 2001-11-06
JP4255617B2 JP4255617B2 (ja) 2009-04-15

Family

ID=8228870

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000518292A Expired - Fee Related JP4255617B2 (ja) 1997-10-29 1998-10-27 多層導電性反射防止コーティング

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6975453B1 (ja)
EP (2) EP0913712A1 (ja)
JP (1) JP4255617B2 (ja)
KR (1) KR100533348B1 (ja)
CN (1) CN1131440C (ja)
AT (1) ATE265693T1 (ja)
AU (1) AU745365B2 (ja)
DE (1) DE69823539T2 (ja)
WO (1) WO1999022253A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212545A1 (ko) * 2017-05-19 2018-11-22 동우화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치
WO2018212547A1 (ko) * 2017-05-19 2018-11-22 동우화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU781979B2 (en) * 2000-01-26 2005-06-23 Carl Zeiss Vision Australia Holdings Ltd Anti-static, anti-reflection coating
EP1699743A2 (de) * 2003-11-27 2006-09-13 Glamaco Maschinenbau GmbH Verfahren und einrichtungen zur herstellung und/oder zur bedruckung einer heizbaren gebogenen glasscheibe
CN100388013C (zh) * 2005-01-14 2008-05-14 索尼株式会社 光学设备、透镜镜筒、图像拾取设备和电子设备
US20070236798A1 (en) * 2006-04-05 2007-10-11 Shelestak Larry J Antireflective coating and substrates coated therewith
CN101393276B (zh) * 2007-09-21 2010-06-16 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 宽频带抗反射膜及具有该宽频带抗反射膜的光学元件
CN102152563B (zh) * 2010-12-07 2014-04-16 深圳欧菲光科技股份有限公司 透明导电材料
WO2012133216A1 (ja) * 2011-03-25 2012-10-04 Hoya株式会社 プラスチックレンズ
CN102837467B (zh) * 2011-06-22 2015-04-08 信义光伏产业(安徽)控股有限公司 一种透明导电膜玻璃及其制备方法
KR20130081575A (ko) * 2012-01-09 2013-07-17 (주)도 은 반사 방지 코팅막 및 그 제조 방법
US20140153122A1 (en) * 2012-11-30 2014-06-05 Guardian Industries Corp. Concentrating solar power apparatus having mirror coating and anti-soiling coating
CN104908377A (zh) * 2014-03-11 2015-09-16 信义光伏产业(安徽)控股有限公司 多层膜减反射玻璃及其制备方法
KR20160020696A (ko) 2014-08-14 2016-02-24 (주) 유니플라텍 다층 박막 구조의 투명 전도막
PE20171673A1 (es) * 2015-03-18 2017-11-21 Vision Ease Lp Recubrimiento resistente al cuarteado y metodo del mismo
US10100998B2 (en) * 2015-05-26 2018-10-16 The Boeing Company Electrically shielded lighting apparatus
CN110168135B (zh) * 2017-01-12 2021-12-31 应用材料公司 硬涂层系统以及用于以连续卷绕式工艺制造硬涂层系统的方法
KR101922550B1 (ko) 2017-06-27 2018-11-27 주식회사 엘지화학 장식 부재 및 이의 제조방법

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5990801A (ja) * 1982-08-09 1984-05-25 オプチカル・コ−テイング・ラボラトリ−・インコ−ポレ−テツド 導電性の反射防止コ−テイングを有する光学物品
JPS60168102A (ja) * 1983-11-10 1985-08-31 オプチカル コ−テイング ラボラトリ− インコ−ポレ−テツド 光学製品
JPS63137301U (ja) * 1987-03-02 1988-09-09
JPH05503372A (ja) * 1990-10-11 1993-06-03 バイラテック・シン・フィルムズ・インコーポレイテッド D.c.反応性スパッタリングされた反射防止被覆
JPH0634802A (ja) * 1992-07-20 1994-02-10 Fuji Photo Optical Co Ltd 導電性反射防止膜
US5450238A (en) * 1993-12-10 1995-09-12 Viratec Thin Films, Inc. Four-layer antireflection coating for deposition in in-like DC sputtering apparatus
JPH07248415A (ja) * 1994-03-10 1995-09-26 Olympus Optical Co Ltd 光学薄膜の製造方法
US5508091A (en) * 1992-12-04 1996-04-16 Photran Corporation Transparent electrodes for liquid cells and liquid crystal displays
JPH09258004A (ja) * 1996-03-25 1997-10-03 Ulvac Japan Ltd 反射防止多層膜とその成膜方法並びにその成膜装置
JPH10508263A (ja) * 1994-11-01 1998-08-18 デポジション・テクノロジーズ・インコーポレイテッド 低可視光透過率および低可視光反射率を有する光学素子

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5270858A (en) * 1990-10-11 1993-12-14 Viratec Thin Films Inc D.C. reactively sputtered antireflection coatings
US5667880A (en) * 1992-07-20 1997-09-16 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Electroconductive antireflection film
US5939189A (en) * 1995-05-09 1999-08-17 Flex Products, Inc. Flexible plastic substrate with anti-reflection coating having low reflective color and method

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5990801A (ja) * 1982-08-09 1984-05-25 オプチカル・コ−テイング・ラボラトリ−・インコ−ポレ−テツド 導電性の反射防止コ−テイングを有する光学物品
JPS60168102A (ja) * 1983-11-10 1985-08-31 オプチカル コ−テイング ラボラトリ− インコ−ポレ−テツド 光学製品
JPS63137301U (ja) * 1987-03-02 1988-09-09
JPH05503372A (ja) * 1990-10-11 1993-06-03 バイラテック・シン・フィルムズ・インコーポレイテッド D.c.反応性スパッタリングされた反射防止被覆
JPH0634802A (ja) * 1992-07-20 1994-02-10 Fuji Photo Optical Co Ltd 導電性反射防止膜
US5508091A (en) * 1992-12-04 1996-04-16 Photran Corporation Transparent electrodes for liquid cells and liquid crystal displays
US5450238A (en) * 1993-12-10 1995-09-12 Viratec Thin Films, Inc. Four-layer antireflection coating for deposition in in-like DC sputtering apparatus
JPH07248415A (ja) * 1994-03-10 1995-09-26 Olympus Optical Co Ltd 光学薄膜の製造方法
JPH10508263A (ja) * 1994-11-01 1998-08-18 デポジション・テクノロジーズ・インコーポレイテッド 低可視光透過率および低可視光反射率を有する光学素子
JPH09258004A (ja) * 1996-03-25 1997-10-03 Ulvac Japan Ltd 反射防止多層膜とその成膜方法並びにその成膜装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212545A1 (ko) * 2017-05-19 2018-11-22 동우화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치
WO2018212547A1 (ko) * 2017-05-19 2018-11-22 동우화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치
KR20180126951A (ko) * 2017-05-19 2018-11-28 동우 화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치
KR102139525B1 (ko) 2017-05-19 2020-07-30 동우 화인켐 주식회사 하드코팅 필름 및 이를 포함하는 화상표시장치
US11364712B2 (en) 2017-05-19 2022-06-21 Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd Hard coating film and image display apparatus comprising same

Also Published As

Publication number Publication date
AU745365B2 (en) 2002-03-21
AU1337799A (en) 1999-05-17
JP4255617B2 (ja) 2009-04-15
US6975453B1 (en) 2005-12-13
EP1027620A1 (en) 2000-08-16
DE69823539D1 (de) 2004-06-03
CN1280676A (zh) 2001-01-17
EP0913712A1 (en) 1999-05-06
EP1027620B1 (en) 2004-04-28
KR20010031039A (ko) 2001-04-16
ATE265693T1 (de) 2004-05-15
CN1131440C (zh) 2003-12-17
DE69823539T2 (de) 2005-04-14
KR100533348B1 (ko) 2005-12-05
WO1999022253A1 (en) 1999-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4255617B2 (ja) 多層導電性反射防止コーティング
US5667880A (en) Electroconductive antireflection film
US5728456A (en) Methods and apparatus for providing an absorbing, broad band, low brightness, antireflection coating
US5691044A (en) Light absorptive antireflector
US5521765A (en) Electrically-conductive, contrast-selectable, contrast-improving filter
JPH0414761B2 (ja)
Szczyrbowski et al. Antireflective coatings on large scale substrates produced by reactive twin-magnetron sputtering
JP2002341111A (ja) 光学的電気的特性を有する機能性薄膜
JP2005502077A (ja) 反射防止膜とその関連方法
US6586101B2 (en) Anti-reflection coating with transparent surface conductive layer
US6657271B2 (en) Transparent substrate with multilayer antireflection film having electrical conductivity
JP3464785B2 (ja) 改良された反射防止複合材料
JP2509215B2 (ja) 反射防止能を有する透明導電性フイルム
US4957358A (en) Antifogging film and optical element using the same
JP3190240B2 (ja) 光吸収性反射防止体とその製造方法
JP3135010B2 (ja) 導電性反射防止膜
JPH11171596A (ja) 反射防止膜
KR20000012127A (ko) 반사 방지막 및 음극선관
JP3934742B2 (ja) 反射防止膜
JP3534384B2 (ja) 導電性反射防止膜およびその製造方法
KR970000382B1 (ko) 저반사 코팅유리 및 그 제조방법
JP2697000B2 (ja) 光学膜を被覆した物品
JP4701528B2 (ja) 反射防止フィルム
JP4553021B2 (ja) 反射防止膜およびその製造方法
KR20020022338A (ko) 투명 기재용의 광흡수성 다층 코팅 필름

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050802

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090116

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090128

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees