JP2001345178A - 発光装置およびその作製方法 - Google Patents
発光装置およびその作製方法Info
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- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
る。 【解決手段】 絶縁体101の上に陽極102、陽極1
02と直交するバンク104が設けられている。バンク
104の一部(制御バンク104b)は金属膜からな
り、これに電圧を印加することで電界を形成し、電荷を
帯びたEL材料の軌道を制御することができる。これを
利用してEL層の成膜位置を精密に制御することが可能
となる。
Description
料を挟んだ素子(以下、発光素子という)を有する装置
(以下、発光装置という)およびその作製方法に関す
る。特に発光性材料としてEL(Electro Luminescenc
e)が得られる発光性材料(以下、EL材料という)を
利用した発光素子(以下、EL素子という)を用いた発
光装置(以下、EL発光装置)に関する。なお、有機E
Lディスプレイや有機発光ダイオード(OLED:Orga
nic Light Emitting Diode)は本発明の発光装置に含ま
れる。
料は、一重項励起もしくは三重項励起または両者の励起
を経由して発光(燐光および/または蛍光)するすべて
の発光性材料を含む。
L材料を挟んだ構造のEL素子を有した構造からなる。
この陽極と陰極との間に電圧を加えてEL材料中に電流
を流することによりキャリアを再結合させて発光させ
る。即ち、EL発光装置は発光素子自体に発光能力があ
るため、液晶表示装置に用いるようなバックライトが不
要である。さらに視野角が広く、軽量であるという利点
をもつ。
するには、様々な成膜方法が採用されている。特に、低
分子系有機EL材料の成膜には蒸着法が用いられ、高分
子系有機EL材料の成膜にはスピンコーティング法もし
くはインクジェット法が用いられている。
蒸着法の場合はEL材料の利用効率が悪いという問題が
ある。蒸着法の場合、抵抗加熱や電子ビーム加熱により
気化したEL材料を飛散させて成膜するが、被膜形成面
に成膜される分以外にもシャドーマスクや蒸着室内壁に
成膜されてしまう分の損失が大きかった。現状ではEL
材料の単価が高いため、このような問題は製造コストの
増大を招く結果となってしまう。
端から吐出されたEL材料を含む液滴の軌道の制御が難
しく、液滴の着弾点(EL層を成膜する部分)を正確に
制御することが難しかった。この着弾点がずれてしまう
と、となりの画素に液滴が混入されてしまうといった問
題が起こり得た。この問題は高精細な画素部を有する発
光装置を作製する上で特に顕著な問題となる。
成膜するにあたって成膜位置を精密に制御するための技
術を提供することを課題とする。そして、高精細な画素
部を有する発光装置を得ることを課題とする。さらに、
その発光装置を表示部として用いた表示品質の高い電気
器具を提供することを課題とする。
するバンクの一部に金属膜を用い、該金属膜に電圧をか
ける(負もしくは正に帯電させる)ことで電界を形成
し、その電界によりEL材料の軌道を制御することを特
徴としている。従って、本明細書において「電界を加え
る」とは、「荷電粒子の向きを制御する」と同義であ
る。
法もしくはインクジェット法のように皮膜形成面の上方
もしくは下方からEL材料が飛んできて付着するような
成膜方法において、EL材料の成膜位置を精密に制御す
ることが可能となり、高精細な画素部を有する発光装置
を得ることができる。
極もしくは陰極をストライプ状に複数本形成するにあた
って、個々の配線を電気的に絶縁するための絶縁膜であ
り、珪素化合物膜もしくは樹脂膜などを用いることがで
きる。
図1(A)〜(C)を用いて説明する。なお、図1
(A)は画素部の上面図であり、図1(B)は図1
(A)をA−A’で切断した断面図、図1(C)は図1
(A)をB−B’で切断した断面図である。但し、ここ
で示す発光装置は発光素子を封止する前の状態である。
に陽極102が設けられている。絶縁体101はガラス
基板、プラスチック基板(プラスチックフィルムを含
む)、金属基板もしくはセラミックス基板の上に絶縁膜
を設けたものを用いても良いし、石英基板をそのまま用
いても良い。
に複数並べられ、全体として縞状(ストライプ状)に配
置されている。また、陽極102としては仕事関数の大
きい導電膜が用いられ、典型的には可視光に対して透明
な酸化物導電膜が用いられる。酸化物導電膜としては、
酸化インジウム、酸化スズ、酸化亜鉛もしくはこれらの
化合物からなる導電膜を用いることができる。さらに、
これらの酸化物導電膜にガリウムを添加したものであっ
ても良い。
間に設けられ、陽極102の端部にEL層105が形成
されないように分離する役割を担う絶縁膜である。分離
絶縁膜103としては珪素を含む絶縁膜、代表的には酸
化珪素膜、窒化珪素膜、窒化酸化珪素膜もしくは炭化珪
素膜を用いることができる。
104が設けられている。バンク104はこの上に形成
されるEL層105および陰極106をパターニングす
るためのマスク材として用いられる絶縁膜である。バン
ク104は絶縁膜を用いて形成した支持バンク104a
とその上に設けられた金属膜からなる制御バンク104
bを含む。
御バンク104bの線幅よりも細くなっている。このよ
うな構造は制御バンク104bをマスクとして支持バン
ク104aに対して等方的なエッチングを施せば得るこ
とができる。本発明では制御バンク104bに電圧をか
けて負もしくは正に帯電させ、EL材料に電界を加える
ことによりEL材料の軌道を制御することが可能とな
る。
2と直交するように)EL層105および陰極106が
設けられる。これらはバンク104によって帯状に分離
され、全体としてストライプ状に設けられている。もち
ろん、帯状に分離された個々の陰極は電気的に絶縁され
ている。
素子において陽極と陰極との間に設けられた絶縁層を指
し、様々な有機膜もしくは無機膜を組み合わせて形成さ
れる層である。典型的には、EL層は少なくとも発光層
を含み、発光層に電荷注入層や電荷輸送層を組み合わせ
て用いられる。また、EL層105としては、有機EL
材料、無機EL材料もしくはそれらを組み合わせたEL
材料を用いる。また、有機EL材料を用いる場合、低分
子材料を用いても高分子材料を用いても良く、公知の如
何なる材料を用いても良い。
膜が用いられ、典型的には周期表の1族もしくは2族に
属する元素を含む導電膜が用いられる。代表的にはマグ
ネシウム、リチウム、セシウム、ベリリウム、カリウム
もしくはカルシウムを含む合金膜が用いられる。また、
ビスマス膜を用いることもできる。
極106がEL素子100を形成する。実際には、EL
素子100の上に樹脂膜を封止材として設けるか、EL
素子100の上に密閉空間を作るかして、EL素子10
0を外気から保護する。これはEL層105や陰極10
6が酸化することで劣化してしまうため、酸素および水
に極力触れないようにするためである。
は、蒸着法、イオンプレーティング法もしくはインクジ
ェット法のように、上方もしくは下方からEL材料が飛
んできて付着することにより成膜される手法を用いる場
合において、バンクの一部である金属膜を用いてEL材
料に電界を加え、その電界により成膜位置の制御を行う
ことを特徴とするものである。
を行いながらEL材料を成膜することが可能となり、高
精細な画素部を有する発光装置を実現することができ
る。
作製する際のEL層の成膜過程について図2を用いて説
明する。なお、一部図1の符号を参照して説明する。
は陽極102が形成され、その上には支持バンク104
aおよび制御バンク104bを含むバンク104が形成さ
れている。
帯電させる。これは陽極102に正電圧を印加しても良
いし、正に帯電したイオンシャワーを浴びせることで帯
電させることも可能である。そして、制御バンク104
bは負に帯電させる。これは制御バンク104bに負電圧
を印加することで可能である。負電圧の大きさは実施者
が適宜決定すれば良い。
ンプレーティング法もしくはインクジェット法により積
層する。このとき、本発明ではEL材料201を、制御
バンク104bと同一極性に帯電させる点に特徴があ
る。即ち、本実施例の場合は、制御バンク104bが負
に帯電しているため、EL材料201も負に帯電させ
る。これによりEL材料201は制御バンク104bの
周囲に形成された電界に反発し、制御バンク104bを
避けるような軌道を描く。
電しているため、負に帯電したEL材料201を引き寄
せる方向に働く。
04を避けて陽極102へ積層される。こうして画素の
部分にEL層202が形成される。即ち、特にシャドー
マスク等を設けることなく、EL材料を集中的に画素に
成膜することができ、EL材料の利用効率を大幅に向上
させることが可能となる。また、本発明は画素ピッチが
数十μmといった非常に微細な画素部においても何ら問
題なく実施することが可能である。
極を形成する材料(陰極材料)203を負に帯電させて
蒸着法もしくはイオンプレーティング法により成膜する
ことで上記と同様の効果を得ることができる。即ち、バ
ンク104を避けて画素の部分に陰極204を形成する
ことができる。
EL材料を成膜する際に本発明を実施する場合について
図3に示す。
着室の隔壁302は負の電圧が印加される負電源303
に接続されている。また、蒸着室301の内部には蒸着
ボート304が設置され、その中には固体EL材料30
5が備えられている。この蒸着ボート304は支持台3
06に接続された電源307a、307bを用いて加熱さ
れる。即ち、本実施例では抵抗加熱による蒸着源を用い
ている。
(気体となったEL材料が蒸着ボート外に出るための
孔)のすぐ外に、孔から出た気体となったEL材料(以
下、気体EL材料という)を取り囲むように配置された
リング状電極320が設けられている。このリング状電
極320は負電源308に接続され、リング状電極32
0の内側に電場を形成して、気体EL材料を負に帯電さ
せる。即ち、蒸着ボート304から飛び出した気体EL
材料は、飛散中に電場を通過させることで帯電する。こ
のとき、蒸着室の隔壁302は負に帯電しているため、
隔壁302に付着するEL材料を最小限に抑えることが
できる。
御バンク310が形成する電界を避けるようにして陽極
311に積層される。制御バンク310には負電源31
2が接続され、これにより電界が形成される。なお、図
示されていないが全ての制御バンクは同電位となるよう
に電気的に接続されている。
板313を保持するサセプタ314には正電源315が
接続され、サセプタ314を正に帯電させている。この
サセプタ314は陽極311と電気的に接続されてお
り、陽極311を正に帯電させる。
気体EL材料309の利用効率を高め、必要最小限の量
で所望のEL層を形成することが可能となる。従って、
EL材料の消費量が大幅に削減されるため、製造コスト
を低減することができる。
源308を接続して気体EL材料309を負に帯電させ
る方式としたが、蒸着ボート304から飛び出した後、
飛散中に電場を通過させることにより帯電させることも
可能である。また、蒸着源として抵抗加熱を例にとった
が、電子ビーム(EB)加熱であっても構わない。
電させる例を示しているが、正に帯電させることも可能
である。その場合、隔壁302、蒸着ボート304およ
び制御バンク310を正に帯電させ、陽極311を負に
帯電させれば良い。
ト法によりEL材料を塗布する際に本発明を実施する場
合について図4に示す。なお、図4(A)、(B)はい
ずれも不活性雰囲気中(窒素ガスもしくは希ガス中)で
行われる。
板、402は陽極であり、陽極402には負電源403
が接続されている。また、本実施例では制御バンク40
4に負電源405を接続する。この場合、図示されない
が全ての制御バンクは同電位となるように電気的に接続
されている。
ト方式でEL層を成膜するための薄膜形成装置のヘッド
406〜408が配置されている。ヘッド406の中に
は赤色発光のためのEL材料を含む溶液409が備えら
れ、ヘッド407の中には緑色発光のためのEL材料を
含む溶液410が備えられ、ヘッド408の中には青色
発光のためのEL材料を含む溶液411が備えられてい
る。これらのEL材料を含む溶液はピエゾ素子を用いて
吐出される。もちろん、バブルジェット(登録商標)方
式を用いても良い。
々に負電源412〜414を接続し、EL材料409〜
411を負に帯電させている。この状態で吐出されたE
L材料を含む溶液は点線で示される軌道に沿って落下
し、バンクの間に露出した陽極402上に塗布される。
即ち、負に帯電したEL材料を含む溶液409〜411
は、やはり負に帯電した制御バンク404を避けて画素
内に塗布される。
L層415、緑色発光に対応するEL層416および青
色発光に対応するEL層417が形成される。なお、こ
こでは三つの画素しか図示されないが、一画素ずつ成膜
しても良いし、三つ以上の複数の画素に同時に成膜する
ことも可能である。
06〜408の吐出口付近にEL材料を含む溶液を帯電
させるための電極を設けた例である。本実施例では、引
出電極421、加速電極422および制御電極423を
設けている。また、各々には電源424が接続されてい
る。
らEL材料を含む溶液を引き出すための電界を形成する
電極である。また、加速電極422は引き出されたEL
材料を加速させるための電界を形成する電極であり、制
御電極423は最終的にEL材料の落下する位置を制御
するための電界を形成する電極である。もちろん、これ
ら三つを常に用いる必要はなく、この組み合わせに限定
する必要はない。
の電極のいずれかを用いてEL材料を含む溶液を負に帯
電させている。従って、ヘッド406〜408に特に電
源を設ける必要がなく、吐出されたEL材料を含む溶液
自体を直接帯電させることができる。この場合も、図4
(A)の場合と同様にEL材料を含む溶液は点線で示さ
れる軌道に沿って落下し、バンクの間に露出した陽極4
02上に塗布される。即ち、負に帯電したEL材料40
9〜411は、やはり負に帯電した制御バンク404を
避けて画素内に塗布される。
ェット法によりEL材料を塗布する際に軌道がずれてし
まう可能性が大幅に減り、歩留まりを向上させることが
可能となる。そのため製造コストを低減することができ
る。
負に帯電させる例を示しているが、正に帯電させること
も可能である。その場合、制御バンク404およびEL
材料を含む溶液409〜411を正に帯電させ、陽極4
02を負に帯電させれば良い。
ティング法によりEL層を成膜する際に本発明を実施す
る場合について図5に示す。
着室の隔壁502は正の電圧が印加される正電源503
に接続されている。また、蒸着室501の内部には蒸着
ボート504が設置され、その中には固体EL材料50
5が備えられている。この蒸着ボート504は支持台5
06に接続された電源507a、507bを用いて加熱さ
れる。即ち、本実施例では抵抗加熱による蒸着源を用い
ている。
せん状に巻いたアンテナ508が設けられている。アン
テナ508には高周波電源508aが接続されており、
高真空中にて高周波が印加され、電波(典型的にはマイ
クロ波)を発生させることができる。本実施例ではこの
電波を気化した気体EL材料509に加えて正に帯電さ
せる。このとき、アンテナ508の間にプラズマを発生
させても良い。このプラズマはアルゴンガスもしくはネ
オンガスといった希ガスを用いて形成すれば良い。この
とき、蒸着室の隔壁502は正に帯電しているため、隔
壁502に付着するEL材料を最小限に抑えることがで
きる。
制御バンク510が形成する電界を避けるようにして陽
極511に積層される。制御バンク510には正電源5
12が接続され、これにより電界が形成される。なお、
図示されていないが全ての制御バンクは同電位となるよ
うに電気的に接続されている。また、このとき陽極51
1が形成された基板513を保持するサセプタ514に
は負電源515が接続され、サセプタ514を負に帯電
させている。このサセプタ514は陽極511と電気的
に接続されており、陽極311を負に帯電させる。
気体EL材料509の利用効率を高め、必要最小限の量
で所望のEL層を形成することが可能となる。従って、
EL材料の消費量が大幅に削減されるため、製造コスト
を低減することができる。
との間に形成された電界を気体EL材料509に加えて
正に帯電させる方式としたが、陽極511と蒸着ボート
504との間にバイアス電圧をかけて正に帯電させるこ
ともできる。
電させる例を示しているが、負に帯電させることも可能
である。その場合、隔壁502、蒸着ボート504およ
び制御バンク510を負に帯電させ、陽極511を正に
帯電させれば良い。
を図6に示す。発光素子を形成するための基板601上
には画素部602が形成されている。画素部602は走
査線(ここでは陽極および補助配線を含む積層配線)群
603とデータ線(ここでは陰極)群604が互いに直
交するように交差している。このとき交差した部分(以
下、交差部という)は走査線とデータ線とにEL材料が
挟まれたEL素子が形成される。このとき画素部602
は図1に示した構造の画素部である。
には、画素部602へ各信号を伝送する駆動回路が形成
されたICがCOG方式により実装されている。本実施
例ではこのICが、ガラス基板、石英基板もしくはプラ
スチック基板上にTFTで駆動回路を形成したものであ
る点に特徴がある。本明細書ではこのような特徴を有す
るICをスティックドライバと呼ぶ。もちろん、シリコ
ン基板上に公知のIC技術により駆動回路を形成したI
Cチップを用いることも可能である。
ィックドライバであり、606は走査線側のスティック
ドライバである。なお、ここでは複数個に分割して実装
した例を示しているが、各1個づつとしても良い。ま
た、カラー表示に対応した画素部を形成するためには、
XGAクラスでデータ線の本数が3072本であり走査
線側が768本必要となる。このような数で形成された
データ線及び走査線は画素部602の端部で数ブロック
毎に区分して引出線607を形成し、スティックドライ
バ605、606の出力端子のピッチに合わせて集めら
れている。
8が形成され、この部分で外部回路と接続するFPC
(フレキシブルプリント配線板:Flexible Printed Cir
cuit)を貼り合わせる。そして、外部入力端子608と
スティックドライバとの間は基板601上に形成した接
続配線609によって結ばれ、最終的にはスティックド
ライバの入力端子のピッチに合わせて集められる。
は図7に示すように、駆動回路を形成するための基板
(ここではガラス基板)701上に形成され、TFTで
形成された駆動回路702と、入力端子703および出
力端子704が設けられている。基板701の材料とし
ては、図6の基板601と熱膨張係数の近い材料を用い
ることが望ましく、ガラス、石英ガラスもしくはプラス
チックを用いることが望ましい。熱膨張係数の近い材料
を用いると、熱を加えた際に応力の発生を最小限に抑制
することができ、応力に起因する接続不良や動作不良を
回避できる。
(能動層)、特にチャネル形成領域が多結晶半導体膜も
しくは単結晶半導体膜で形成されている。多結晶半導体
膜および単結晶半導体膜はいずれも公知の技術で形成さ
れたもので良い。また、TFT構造にも特に限定はな
い。
板601上に実装する方法は異方導電性材料もしくはメ
タルバンプを用いた接続方法またはワイヤボンディング
方式を採用することができる。特に、ITO(酸化イン
ジウムと酸化スズとの化合物からなる酸化物)からなる
配線上にスティックドライバを形成する場合は異方導電
性材料を用いた接続方法が好ましい。
801にスティックドライバ802が異方導電性材料を
用いて実装された例を示している。基板801上には画
素部803、引出線804、入力端子805、接続配線
(図示せず)が設けられている。なお、画素部803は
カバー材806およびシール材807により密閉空間8
08に封入され外気から保護されている。
P809が異方導電性材料で接着されている。異方導電
性材料は樹脂810と表面が金属メッキされた直径数十
〜数百μmの導電性粒子811からなり、導電性粒子8
11によりスティックドライバ側の入力端子812もし
くはTCP809と引出線804もしくは入力端子80
5とが電気的に接続されている。
にスティックドライバを接着材815で固定して、金属
ワイヤ816によりスティックドライバ802の入力端
子812と引出線804もしくは入力端子805とを電
気的に接続しても良い。この場合、接続したスティック
ドライバ802は樹脂膜817で封入する。
8に示した方法に限定されるものではなく、公知の実装
方法を用いることが可能である。
を図9に示す。図9(A)は本発明の発光装置の上面図
であり、図9(B)は図8(A)をA−A’で切断した
断面図に相当する。まず、図9(A)の上面図について
説明する。
り、ここではプラスチック材を用いる。プラスチック材
としては、ポリイミド、ポリアミド、アクリル樹脂、エ
ポキシ樹脂、PES(ポリエチレンサルファイル)、P
C(ポリカーボネート)、PET(ポリエチレンテレフ
タレート)もしくはPEN(ポリエチレンナフタレー
ト)を板状もしくはフィルム状にして用いることができ
る。
極)であり、本実施例では酸化亜鉛に酸化ガリウムを添
加した酸化物導電膜を用いる。このとき走査線902の
上にニッケル配線903が設けられている(図9(A)
参照)。
(陰極)であり、本実施例ではビスマス膜を用いる。ま
た、905はアクリル樹脂からなるバンクであり、デー
タ線904を分断するための隔壁として機能する。走査
線902とデータ線904は両方ともストライプ状に複
数本形成されており、互いに直交するように設けられ
る。なお、図9(A)では図示されないが、走査線90
2とデータ線904の間にはEL層が挟まれており、9
06で示される交差部が画素となる。
り、TFTで形成された駆動回路を含んでいる。ここで
は駆動回路をプラスチック基板上に形成しているが、ガ
ラス基板上に形成しても構わない。なお、スティックド
ライバ907の構造は図7で説明した通りである。ま
た、一つのスティックドライバを設けた例を示している
が、複数個に分割して設けても構わない。
あり、TFTで形成された駆動回路を含んでいる。ここ
でも駆動回路をプラスチック基板上に形成している。ま
た、スティックドライバ908も図7で説明した構造で
ある。また、一つのスティックドライバを設けた例を示
しているが、複数個に分割して設けても構わない。
909と電気的に接続され、接続配線909がスティッ
クドライバ908と接続される。これはスティックドラ
イバ908をバンク905上に設けることが困難だから
である。
ティックドライバ907は接続配線910aおよび入力
端子911を介してFPC912に接続される。また、
データ線側スティックドライバ908は接続配線910
bおよび入力端子911を介してFPC912に接続さ
れる。
材913によりプラスチック材901に貼り合わせたカ
バー材である。シール材913としては光硬化樹脂を用
いれば良く、脱ガスが少なく、吸湿性の低い材料が好ま
しい。また、カバー材としては基板901と同一の材料
が好ましく、ガラス(石英ガラスを含む)もしくはプラ
スチックを用いることができる。ここではプラスチック
材を用いる。
る。なお、図9(A)と同一の部分は同一の符号を用い
て説明する。
域は画素の構造を示しており、この拡大図を図9(C)
に示す。916はEL層であり、正孔注入層、正孔輸送
層、発光層、電子輸送層もしくは電子注入層を適宜組み
合わせて形成する。勿論、発光層を単層で用いても良
い。EL層916を形成する構造および材料は公知のも
のを用いれば良い。
5は下層の幅が上層の幅よりも狭い形状となっており、
データ線904を物理的に分断する。
スティックドライバ907は異方導電性材料917を用
いて走査線902および接続配線910aに電気的に接
続されている。また同様にFPC912も異方導電性材
料918を用いて接続配線910aに電気的に接続され
ている。
19は、樹脂からなる封止材920により外気から遮断
され、EL層の劣化を防ぐ構造となっている。
は、画素部919が走査線902、補助配線903、デ
ータ線904、バンク905およびEL層916で形成
されるため、非常に簡単なプロセスで作製することがで
きる。さらに、補助配線903を設けたことで走査線9
02の配線抵抗を低減することができ、表示品質の高い
発光装置とすることができる。
(画像を観測する面)に偏光板を設けても良い。この偏
光板は、外部から入射した光の反射を抑え、観測者が表
示面に映り込むことを防ぐ効果を有する。一般的には円
偏光板が用いられている。但し、EL層から発した光が
偏光板により反射されて内部に戻されることを防ぐた
め、屈折率を調節して内部反射の少ない構造とすること
が望ましい。
907、908を別工程で作製して実装する。その結
果、特に煩雑なプロセスを必要とせずに発光装置を作製
することができるため歩留まりが高く、製造コストを下
げることができる。
装置における回路構成の一実施例を図10に示す。画素
部11は複数の走査線とデータ線で形成され、複数のE
L素子が形成される。その周辺の領域には走査線側ドラ
イバ12及びデータ線側ドライバ13が設けられ、これ
らのドライバ(駆動回路)にスティックドライバが用い
られる。このスティックドライバの構造は図7、図8を
用いて説明した通りである。
4と接続されている。このように、画素部11が形成さ
れた基板上には、走査線側ドライバ12、データ線側ド
ライバ13および入力端子14が形成されている。
17、オペアンプを含む電源回路18のうちコントロー
ル回路16と電源回路18はプリント配線板に実装し、
FPCを用いて入力端子14に接続される。また、FP
Cの一方の端にはインターフェースコネクタ19が設け
られ、これを介してクロック信号及びデータ信号15、
画質信号20が上記プリント配線板に入力される。ま
た、安定化電源17からの電源信号もインターフェース
コネクタ19を介して上記プリント配線板に入力され
る。
びデータ信号15は、スティックドライバの入力仕様に
変換するためのコントロール回路16に入力され、それ
ぞれのタイミング仕様に変換される。
上に陽極、EL層、陰極の順に積層していく場合につい
て説明したが、陰極、EL層、陽極および補助配線の順
に積層していくことも可能である。
になるのに対して、後者は絶縁体から離れる方向に光が
放射される。
ずれの構成とも自由に組み合わせて実施することが可能
である。
ックドライバの作製方法について図11を用いて説明す
る。ここでは駆動回路を形成する基本単位としてCMO
S回路を作製する場合の例について説明する。
基板1100上に下地膜1101を300nmの厚さに
形成する。本実施例では下地膜1102として窒化酸化
珪素膜を積層して用いる。この時、ガラス基板1100
に接する方の窒素濃度を10〜25wt%としておくと
良い。
の非晶質珪素膜(図示せず))を公知の成膜法で形成す
る。なお、非晶質珪素膜に限定する必要はなく、非晶質
構造を含む半導体膜(微結晶半導体膜を含む)であれば
良い。さらに非晶質シリコンゲルマニウム膜などの非晶
質構造を含む化合物半導体膜でも良い。また、膜厚は2
0〜100nmの厚さであれば良い。
結晶化し、結晶質珪素膜(多結晶シリコン膜若しくはポ
リシリコン膜ともいう)1102を形成する。公知の結
晶化方法としては、電熱炉を使用した熱結晶化方法、レ
ーザー光を用いたレーザーアニール結晶化法、赤外光を
用いたランプアニール結晶化法がある。
報に記載された技術を用い、非晶質珪素膜にニッケルを
添加し、ファーネスアニールを行って結晶化させる。ニ
ッケルは結晶化を促進させる触媒として用いられる。
の活性層として用いるが、非晶質珪素膜を用いることも
可能である。また、オフ電流を低減する必要のあるスイ
ッチング用TFTの活性層を非晶質珪素膜で形成し、電
流制御用TFTの活性層を結晶質珪素膜で形成すること
も可能である。非晶質珪素膜はキャリア移動度が低いた
め電流を流しにくくオフ電流が流れにくい。即ち、電流
を流しにくい非晶質珪素膜と電流を流しやすい結晶質珪
素膜の両者の利点を生かすことができる。
珪素膜1102上に酸化珪素膜でなる保護膜1103を
130nmの厚さに形成する。この厚さは100〜20
0nm(好ましくは130〜170nm)の範囲で選べ
ば良い。また、珪素を含む絶縁膜であれば他の膜でも良
い。この保護膜1103は不純物を添加する際に結晶質
珪素膜が直接プラズマに曝されないようにするためと、
微妙な濃度制御を可能にするために設ける。
を形成し、保護膜1103を介してn型を付与する不純
物元素(以下、n型不純物元素という)を添加する。な
お、n型不純物元素としては、代表的には周期表の15
族に属する元素、典型的にはリン又は砒素を用いること
ができる。なお、本実施例ではフォスフィン(PH3)
を質量分離しないでプラズマ励起したプラズマドーピン
グ法を用い、リンを1×1018atoms/cm3の濃度で添加
する。勿論、質量分離を行うイオンインプランテーショ
ン法を用いても良い。
1105には、n型不純物元素が2×1016〜5×10
19atoms/cm3(代表的には5×1017〜5×1018atoms
/cm3)の濃度で含まれるようにドーズ量を調節する。
珪素膜の不要な部分を除去して、後にpチャネル型TF
Tの活性層となる半導体膜1106および後にnチャネ
ル型TFTの活性層となる半導体膜1107を形成す
る。
膜1106、1107を覆ってゲート絶縁膜1108を
形成する。ゲート絶縁膜1108としては、10〜20
0nm、好ましくは50〜150nmの厚さの珪素を含
む絶縁膜を用いれば良い。これは単層構造でも積層構造
でも良い。
成し、パターニングしてゲート電極1109、1110
を形成する。このゲート電極1109、1110の端部
をテーパー状にすることもできる。また、ゲート電極は
単層の導電膜で形成しても良いが、必要に応じて二層、
三層といった積層膜とすることが好ましい。ゲート電極
の材料としては公知のあらゆる導電膜を用いることがで
きる。
(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、
クロム(Cr)、シリコン(Si)から選ばれた元素で
なる膜、または前記元素の窒化物膜(代表的には窒化タ
ンタル膜、窒化タングステン膜、窒化チタン膜)、また
は前記元素を組み合わせた合金膜(代表的にはMo−W
合金、Mo−Ta合金)、または前記元素のシリサイド
膜(代表的にはタングステンシリサイド膜、チタンシリ
サイド膜)を用いることができる。勿論、単層で用いて
も積層して用いても良い。
テン(WN)膜と、350nm厚のタングステン(W)
膜とでなる積層膜を用いる。これはスパッタ法で形成す
れば良い。また、スパッタガスとしてXe、Ne等の不
活性ガスを添加すると応力による膜はがれを防止するこ
とができる。
純物領域1105の一部とゲート絶縁膜1108を挟ん
で重なるように形成する。この重なった部分が後にゲー
ト電極と重なったLDD領域となる。
ト1111を形成し、n型不純物元素(本実施例ではリ
ン)を添加して高濃度にリンを含む不純物領域1112
〜1115を形成する。ここでもフォスフィン(P
H3)を用いたイオンドープ法で行い、この領域のリン
の濃度は1×1020〜1×1021atoms/cm3(代表的に
は2×1020〜5×1021atoms/cm3)となるように調
節する。この工程によってnチャネル型TFTのソース
領域若しくはドレイン領域が形成される。
層となる半導体膜1106にもn型不純物領域111
2、1113を形成する点に特徴がある。この領域は非
晶質珪素膜の結晶化に用いたニッケルをゲッタリングす
るために後工程で必要となる。
トマスク911を除去し、新たにレジスト1116を形
成する。そして、p型不純物元素(本実施例ではボロ
ン)を添加し、高濃度にボロンを含む不純物領域111
7、1118を形成する。ここではジボラン(B2H6)
を用いたイオンドープ法により3×1020〜3×1021
atoms/cm3(代表的には5×1020〜1×1021atoms/c
m3)の濃度となるようにボロンを添加する。
には既に1×1020〜1×1021atoms/cm3の濃度でリ
ンが添加されているが、ここで添加されるボロンはその
少なくとも3倍以上の濃度で添加される。そのため、予
め形成されていたn型の不純物領域は完全にP型に反転
し、P型の不純物領域として機能する。
後、図11(G)に示すように、それぞれの濃度で添加
されたn型またはp型不純物元素を活性化する。活性化
手段としては、ファーネスアニール法、レーザーアニー
ル法、またはランプアニール法で行うことができる。本
実施例では電熱炉において窒素雰囲気中、550℃、4
時間の熱処理を行う。
チャネル形成領域1121、1122からn型不純物領
域1114、1115およびp型不純物領域1119、
1120の方へ移動してゲッタリング(捕獲)される。
即ち、n型不純物領域1114、1115およびp型不
純物領域1119、1120に含まれたリンによりニッ
ケルがゲッタリングされる。この工程によりチャネル形
成領域1121、1122のニッケル濃度を1×1017
atoms/cm3以下(好ましくは1×1016atoms/cm3以下)
とすることができる。また逆に、n型不純物領域111
4、1115およびp型不純物領域1119、1120
にはニッケルが偏析して5×1018atoms/cm3以上(代
表的には1×1019〜5×1020atoms/cm3)濃度で存
在するようになる。
縁膜1123を形成する。層間絶縁膜1123として
は、珪素を含む絶縁膜を単層で用いるか、その中で組み
合わせた積層膜を用いれば良い。また、膜厚は400n
m〜1.5μmとすれば良い。本実施例では、200n
m厚の窒化酸化珪素膜の上に800nm厚の酸化珪素膜
を積層した構造とする。
中で、300〜450℃で1〜12時間の熱処理を行い
水素化処理を行う。この工程は熱的に励起された水素に
より半導体膜の不対結合手を水素終端する工程である。
水素化の他の手段として、プラズマ水素化(プラズマに
より励起された水素を用いる)を行っても良い。
成する間に入れても良い。即ち、200nm厚の窒化酸
化珪素膜を形成した後で上記のように水素化処理を行
い、その後で残り800nm厚の酸化珪素膜を形成して
も構わない。
ンタクトホールを形成し、ソース配線1124、112
5と、ドレイン配線1126を形成する。このとき同時
に図7に示す入力端子703および出力端子704を形
成すれば良い。なお、本実施例ではこの電極を、Ti
(チタン)膜を100nm、Tiを含むアルミニウム膜
を300nmおよびTi膜150nmをスパッタ法で連
続形成した3層構造の積層膜とする。勿論、他の導電膜
でも良い。
0〜300nm)の厚さでパッシベーション膜1127
を形成する。本実施例ではパッシベーション膜1127
として300nm厚の窒化酸化珪素膜を用いる。これは
窒化珪素膜で代用しても良い。
2、NH3等水素を含むガスを用いてプラズマ処理を行う
ことは有効である。この前処理により励起された水素が
層間絶縁膜1123に供給され、熱処理を行うことで、
パッシベーション膜1127の膜質が改善される。それ
と同時に、層間絶縁膜1123に添加された水素が下層
側に拡散するため、効果的に活性層を水素化することが
できる。
ネル型TFT1131およびnチャネル型TFT113
2を相補的に組み合わせたCMOS回路が完成する。本
実施例の場合、pチャネル型TFT1131の活性層は
ソース領域1117、ドレイン領域1118およびチャ
ネル形成領域1121で形成される。
ソース領域1115、ドレイン領域1114、LDD領
域1133およびチャネル形成領域1122を含み、L
DD領域1133はゲート絶縁膜1108を挟んでゲー
ト電極1110と重なっている。このLDD領域113
3のうち、ゲート電極1110と重なっている領域のチ
ャネル長方向の長さは0.5〜3.0μm、好ましくは
1.0〜2.0μmとする。
る劣化を抑制する上で非常に有効である。但し、ドレイ
ン領域1114側のみにLDD領域1133を形成して
いるのは、動作速度を落とさないための配慮である。ホ
ットキャリア効果はドレイン領域とチャネル形成領域の
接合部付近で問題となるため、ドレイン領域側に設けら
れていれば十分に効果が得られる。勿論、ソース領域側
に同様に設けても良い。
しているが、実際にはCMOS回路、NMOS回路もし
くはPMOS回路を組み合わせて駆動回路を形成する。
その際、PMOS回路の作製にはpチャネル型TFT1
131の作製方法を、NMOS回路の作製にはnチャネ
ル型TFT1132の作製方法を参照すれば良い。
ずれの構成とも自由に組み合わせて実施することが可能
である。
(B)、(C)とは異なる形状のバンクを用いた場合に
ついて図12を用いて説明する。図12(A)におい
て、絶縁体1201上には陽極1202が設けられ、そ
の上に分離絶縁膜1203が設けられる。さらに、支持
バンク1204aおよび制御バンク1204bからなるバ
ンク1204が設けられる。
成した後、その上に改めて制御バンク1204bを設け
ている。従って、制御バンク1204bの線幅は支持バ
ンク1204aの線幅よりも狭くなっている。
204の間(画素に相当する部分)にはEL層1205
および陰極1206が設けられる。こうして、陽極12
02、EL層1205および陰極1206からなるEL
素子1200が形成されている。
施例1〜4のいずれの構成においてもバンクとして用い
ることが可能であり、実施例5〜9のいずれの構成とも
自由に組み合わせて実施することが可能である。
より1枚の基板から複数の発光装置を作製する場合に本
発明を実施する例について説明する。説明には図13を
用いる。
302が形成されている。本実施例では1枚のガラス基
板上に九つの画素部、即ち、九つの発光装置が形成され
ることになる。また、各画素は図1に示すような構造か
らなり、図中のX方向に陽極1303が形成され、Y方
向に制御バンク1304が形成されている。
となるように個々の陽極を接続するための配線(以下、
陽極接続配線という)1305が形成され、陽極パッド
1306に電圧を加えればその電圧が全て陽極に伝わる
ようになっている。また、制御バンク1304が全て同
電位となるように個々の制御バンクを接続するための配
線(以下、バンク接続配線という)1307が形成さ
れ、バンクパッド1308に電圧を加えればその電圧が
全て制御バンクに伝わるようになっている。
05およびバンク接続配線1307を静電対策に活用す
る点に特徴がある。即ち、全てが同電位になっていれば
突発的に大きな電圧が配線間に加わることもないため、
絶縁破壊等を効果的に抑制することができる。
大図を図14(A)に示す。なお、本実施例では実施例
10に示したバンク構造を用いている。
1305とバンク接続配線1307とは同時に形成され
ている。即ち、両者は同一の金属膜で同一の層に形成さ
れている。このとき、陽極接続配線1305は陽極13
03と同時に形成されたバッファ配線1401で連結さ
れた部分を有する。また、バンク接続配線1307は陽
極1303と同時に形成されたバッファ配線1402、
1403および制御バンク1307と同時に形成された
バッファ配線1404で連結された部分を有する。
断面図を図14(B)に、B−B’で切断した断面図を
図14(C)に、C−C’で切断した断面図を図14
(D)に示す。なお、1405は支持バンク、1406
は分離絶縁膜である。
と同一材料からなる配線であり、典型的には酸化物導電
膜からなる配線である。酸化物導電膜は金属膜に比べて
抵抗値が高いため、バッファ配線は一種の抵抗体として
機能することになる。そのため、陽極接続配線1305
もしくは陰極接続配線1307に大電流が流れたとして
も、バッファ配線で緩衝され、複数の発光装置に被害が
及ぶのを防ぐことが可能となる。
ロセスにより一度に複数の発光装置を作製する場合に
も、複雑な配線を施すことなく、本発明を実施すること
が可能となる。
しくはスクライバーを用いて基板1301を分断し、発
光装置を個々に分離すれば良い。このとき、陽極接続配
線1305やバンク接続配線1307も分断してしまえ
ば、各発光装置は電気的に孤立した状態となる。
分断した後に、必要に応じて実施例5〜9に示したステ
ィックドライバを設けることも可能である。また、本実
施例の構成は実施例1〜4もしくは10のいずれの構成
とも自由に組み合わせて実施することが可能である。
ャドーマスクとを組み合わせて用いる場合について説明
する。説明には図15を用いる。なお、図2(A)に示
した構造と同一の部分は同一の符号を用いて説明する。
にシャドーマスク1501を設け、シャドーマスク15
01を負に帯電させておく。即ち、シャドーマスク15
01と制御バンク104bを同じ極性に帯電させてお
く。
X1とし、シャドーマスク1501に設けられた開口部
の距離をX2とすると、X1<X2の関係とすることが好
ましい。このようにすると、シャドーマスク1501の
上方から飛んできたEL材料(もしくはEL材料を含む
溶液)201は、まずシャドーマスク1501が形成す
る電界によりシャドーマスク1501の開口部付近に導
かれる。さらに、制御バンク104bが形成する電界に
より画素内へと導かれる。こうしてEL層202が成膜
される。
材料、緑色発光用のEL材料および青色発光用のEL材
料を分けて成膜する場合のように、異なる種類のEL材
料を複数回に分けて成膜する場合に有効である。
いずれの構成とも自由に組み合わせて実施することが可
能である。
スクを用いることなく、本発明の電界制御により赤色発
光用のEL材料、緑色発光用のEL材料および青色発光
用のEL材料を分けて成膜する場合について説明する。
示す。図16(A)、(B)では、図示しない絶縁体上
に陽極1601〜1604が形成され、それらと直交す
るように制御バンク1605が形成されている。
うに、陽極1603のみ正に帯電させ、他の陽極160
1、1602、1604を負に帯電させる。さらに制御
バンク1605を負に帯電させ、この状態で負に帯電さ
せた赤色発光用のEL材料を蒸着法により成膜する。こ
のとき、負に帯電した陽極上ではEL材料が反発され、
殆どが正に帯電した陽極1603上に成膜される。こう
して赤色発光用のEL層1606が成膜される。
602のみ正に帯電させ、他の陽極1601、160
3、1604を負に帯電させる。さらに制御バンク16
05を負に帯電させ、この状態で負に帯電させた緑色発
光用のEL材料を蒸着法により成膜する。このとき、負
に帯電した陽極上ではEL材料が反発され、殆どが正に
帯電した陽極1602上に成膜される。こうして緑色発
光用のEL層1607が成膜される。
層も同様に陽極1601、1604のみを正に帯電さ
せ、他の陽極1602、1603を負に帯電させて青色
発光用のEL材料を成膜すれば良い。
が形成する電界および陽極1601〜1604が形成す
る電界により、EL材料の軌道を決定し、シャドーマス
クを用いずに選択的な成膜を可能とするものである。
いずれの構成とも自由に組み合わせて実施することが可
能である。
起子からの燐光を発光に利用できるEL材料を用いるこ
とで、外部発光量子効率を飛躍的に向上させることがで
きる。これにより、EL素子の低消費電力化、長寿命
化、および軽量化が可能になる。ここで、三重項励起子
を利用し、外部発光量子効率を向上させた報告を示す。 (T.Tsutsui, C.Adachi, S.Saito, Photochemical Proce
sses in Organized Molecular Systems, ed.K.Honda,
(Elsevier Sci.Pub., Tokyo,1991) p.437.) 上記論文に報告されたEL材料(クマリン色素)の分子
式を以下に示す。
stikov, S.Sibley, M.E.Thompson, S.R.Forrest, Natur
e 395 (1998) p.151.) 上記論文に報告されたEL材料(Pt錯体)の分子式を
以下に示す。
M.E.Thompson, S.R.Forrest, Appl.Phys.Lett.,75 (199
9) p.4.) (T.Tsutsui, M.-J.Yang, M.Yahiro, K.Nakamura, T.Wat
anabe, T.tsuji, Y.Fukuda, T.Wakimoto, S.Mayaguchi,
Jpn.Appl.Phys., 38 (12B) (1999) L1502.) 上記論文に報告されたEL材料(Ir錯体)の分子式を
以下に示す。
を利用できれば原理的には一重項励起子からの蛍光発光
を用いる場合より3〜4倍の高い外部発光量子効率の実
現が可能となる。なお、本実施例の構成は、実施例1〜
実施例13のいずれの構成とも自由に組み合わせて実施
することが可能である。
た発光装置は、自発光型であるため液晶表示装置に比べ
て明るい場所での視認性に優れ、しかも視野角が広い。
従って、様々な電気器具の表示部として用いることがで
きる。その際、本発明の発光装置はパッシブ型の発光装
置でありながらも配線抵抗を減らすことで大画面化を可
能としているため、用途も幅広いものとすることができ
る。
ラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッド
マウントディスプレイ)、カーナビゲーションシステ
ム、カーオーディオ、ノート型パーソナルコンピュー
タ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュー
タ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍)、記録
媒体を備えた画像再生装置(具体的にはコンパクトディ
スク(CD)、レーザーディスク(登録商標)(LD)
又はデジタルバーサタイルディスク(DVD)等の記録
媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備
えた装置)などが挙げられる。それら電気器具の具体例
を図17に示す。
筐体2001、支持台2002、表示部2003を含
む。本発明の発光装置は表示部2003に用いることが
できる。ELディスプレイは自発光型であるためバック
ライトが必要なく、液晶ディスプレイよりも薄い表示部
とすることができる。なお、表示部2003に用いる発
光装置にスティックドライバを設ける場合は、数十個に
分割して設けることが好ましい。
2101、表示部2102、音声入力部2103、操作
スイッチ2104、バッテリー2105、受像部210
6を含む。本発明の発光装置は表示部2102に用いる
ことができる。なお、表示部2102に用いる発光装置
にスティックドライバを設ける場合は、数個に分割して
設けることが好ましい。
体2201、表示部2202、接眼部部2203、操作
スイッチ2204を含む。本発明の発光装置は表示部2
202に用いることができる。なお、表示部2202に
用いる発光装置にスティックドライバを設ける場合は、
数個に分割して設けることが好ましい。
装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体230
1、記録媒体(CD、LDまたはDVD等)2302、
操作スイッチ2303、表示部(a)2304、表示部
(b)2305を含む。表示部(a)は主として画像情
報を表示し、表示部(b)は主として文字情報を表示す
るが、本発明の発光装置はこれら表示部(a)、(b)
に用いることができる。なお、記録媒体を備えた画像再
生装置には、CD再生装置、ゲーム機器なども含まれう
る。なお、表示部(a)2304、表示部(b)230
5に用いる発光装置にスティックドライバを設ける場合
は、数十個に分割して設けることが好ましい。
ュータであり、本体2401、表示部2402、受像部
2403、操作スイッチ2404、メモリスロット24
05を含む。本発明の電気光学装置は表示部2402に
用いることができる。この携帯型コンピュータはフラッ
シュメモリや不揮発性メモリを集積化した記録媒体に情
報を記録したり、それを再生したりすることができる。
なお、表示部2402に用いる発光装置にスティックド
ライバを設ける場合は、数個に分割して設けることが好
ましい。
あり、本体2501、筐体2502、表示部2503、
キーボード2504を含む。本発明の発光装置は表示部
2503に用いることができる。なお、表示部2503
に用いる発光装置にスティックドライバを設ける場合
は、数十個に分割して設けることが好ましい。
なれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投
影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用
いることも可能となる。
ATV(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて
配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情
報を表示する機会が増してきている。EL材料の応答速
度は非常に高いため、そのような動画表示を行うに適し
ている。
を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報
を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、特
に携帯電話やカーオーディオのような文字情報を主とす
る表示部に発光装置を用いる場合には、非発光部分を背
景として文字情報を発光部分で形成するように駆動する
ことが望ましい。
体2601、音声出力部2602、音声入力部260
3、表示部2604、操作スイッチ2605、アンテナ
2606を含む。本発明の発光装置は表示部2604に
用いることができる。なお、表示部2604は黒色の背
景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電力を
抑えることができる。
載用オーディオ)であり、本体2701、表示部270
2、操作スイッチ2703、2704を含む。本発明の
発光装置は表示部2702に用いることができる。ま
た、本実施例では車載用オーディオを示すが、据え置き
型(家庭用)オーディオに用いても良い。なお、表示部
2704は黒色の背景に白色の文字を表示することで消
費電力を抑えられる。なお、表示部2704に用いる発
光装置にスティックドライバを設ける場合は、数個に分
割して設けることが好ましい。
く、あらゆる分野の電気器具に用いることが可能であ
る。また、本実施例の電気器具は実施例1〜14の構成
を自由に組み合わせた発光装置を用いることで得ること
ができる。
するにあたって成膜位置を精密に制御することが可能と
なる。そのため高精細な画素部を有する発光装置を作製
することができる。また、必要な部分に優先的にEL材
料を成膜することができるため、EL材料の利用効率が
高まり、製造コストを低減することができる。さらに、
本発明の発光装置を表示部として用いることで高精細な
表示部を有した電気器具を得ることができる。
図。
るための図。
程を説明するための図。
成膜工程を説明するための図。
図。
の構成を示す図。
Claims (8)
- 【請求項1】絶縁体の上に陽極、該陽極と直交する陰極
並びに前記陽極および前記陰極の間に設けられた発光性
材料を含む発光装置であって、 前記陽極もしくは陰極と直交してバンクが設けられ、該
バンクは一部に金属膜を含むことを特徴とする発光装
置。 - 【請求項2】絶縁体の上に陽極、該陽極と直交する陰極
並びに前記陽極および前記陰極の間に設けられた発光性
材料を含む発光装置であって、 前記陽極もしくは陰極と直交してバンクが設けられ、該
バンクは絶縁膜および金属膜を積層してなることを特徴
とする発光装置。 - 【請求項3】請求項1または請求項2において、前記発
光性材料とはEL材料であることを特徴とする発光装
置。 - 【請求項4】絶縁体の上に電極を形成する工程と、 前記電極と直交するようにバンクを形成する工程と、 前記バンクの一部を負もしくは正に帯電させながら前記
電極の上方にEL材料を積層する工程と、 を含むことを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項5】絶縁体の上に電極を形成する工程と、 前記電極と直交するように絶縁膜および金属膜を積層し
てなるバンクを形成する工程と、 前記金属膜を負もしくは正に帯電させながら前記電極の
上方にEL材料を積層する工程と、 を含むことを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項6】請求項5において、前記絶縁膜は樹脂膜か
らなることを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項7】請求項4または請求項5において、前記電
極は酸化物導電膜からなることを特徴とする発光装置の
作製方法。 - 【請求項8】請求項4または請求項5において、前記E
L材料を積層する工程は蒸着法、イオンプレーティング
法もしくはインクジェット法により行われることを特徴
とする発光装置の作製方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004111398A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Samsung Nec Mobile Display Co Ltd | 光学共振効果を利用した有機電界発光素子 |
US7301168B2 (en) | 2005-03-04 | 2007-11-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Organic light emitting diode display and manufacturing method with partition and emission regions to improve emission characteristics |
JP2008091071A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、およびその製造方法 |
JP2010219115A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Fuji Xerox Co Ltd | 発光素子、露光ヘッド、カートリッジ、画像形成装置及び発光素子製造方法 |
WO2011001613A1 (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | シャープ株式会社 | 有機el素子、有機el素子の製造方法、および有機el表示装置 |
WO2017168581A1 (ja) * | 2016-03-29 | 2017-10-05 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2356372B1 (de) | 2008-12-11 | 2016-08-10 | OSRAM OLED GmbH | Organische leuchtdiode und beleuchtungsmittel |
KR20200045600A (ko) | 2018-10-22 | 2020-05-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 증착 장치 및 이를 이용한 증착 방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09102393A (ja) * | 1995-10-06 | 1997-04-15 | Pioneer Electron Corp | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネル及びその製造方法 |
JPH09234870A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Toshiba Corp | インクジェット記録装置 |
WO1998012689A1 (fr) * | 1996-09-19 | 1998-03-26 | Seiko Epson Corporation | Ecran matriciel et son procede de fabrication |
JPH10321372A (ja) * | 1997-05-20 | 1998-12-04 | Pioneer Electron Corp | 有機elディスプレイパネルとその製造方法 |
JPH10335068A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 発光型表示装置 |
-
2001
- 2001-03-26 JP JP2001086501A patent/JP4637390B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09102393A (ja) * | 1995-10-06 | 1997-04-15 | Pioneer Electron Corp | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネル及びその製造方法 |
JPH09234870A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Toshiba Corp | インクジェット記録装置 |
WO1998012689A1 (fr) * | 1996-09-19 | 1998-03-26 | Seiko Epson Corporation | Ecran matriciel et son procede de fabrication |
JPH10321372A (ja) * | 1997-05-20 | 1998-12-04 | Pioneer Electron Corp | 有機elディスプレイパネルとその製造方法 |
JPH10335068A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 発光型表示装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004111398A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Samsung Nec Mobile Display Co Ltd | 光学共振効果を利用した有機電界発光素子 |
US7301168B2 (en) | 2005-03-04 | 2007-11-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Organic light emitting diode display and manufacturing method with partition and emission regions to improve emission characteristics |
KR101112534B1 (ko) | 2005-03-04 | 2012-03-13 | 삼성전자주식회사 | 유기 발광 표시 소자 및 그 제조 방법 |
JP2008091071A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、およびその製造方法 |
JP2010219115A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Fuji Xerox Co Ltd | 発光素子、露光ヘッド、カートリッジ、画像形成装置及び発光素子製造方法 |
WO2011001613A1 (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | シャープ株式会社 | 有機el素子、有機el素子の製造方法、および有機el表示装置 |
CN102484207A (zh) * | 2009-07-02 | 2012-05-30 | 夏普株式会社 | 有机el元件、有机el元件的制造方法和有机el元件显示装置 |
KR101398237B1 (ko) * | 2009-07-02 | 2014-05-23 | 퓨엔스 가부시끼가이샤 | 유기 el 소자, 유기 el 소자의 제조방법, 및 유기 el 표시장치 |
US8853678B2 (en) | 2009-07-02 | 2014-10-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Organic EL element, method for manufacturing the same, and organic EL display device |
JP5940808B2 (ja) * | 2009-07-02 | 2016-06-29 | シャープ株式会社 | 有機el素子、有機el素子の製造方法、および有機el表示装置 |
WO2017168581A1 (ja) * | 2016-03-29 | 2017-10-05 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
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Publication number | Publication date |
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