JP2001343361A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

液体クロマトグラフ質量分析装置

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JP2001343361A
JP2001343361A JP2000162111A JP2000162111A JP2001343361A JP 2001343361 A JP2001343361 A JP 2001343361A JP 2000162111 A JP2000162111 A JP 2000162111A JP 2000162111 A JP2000162111 A JP 2000162111A JP 2001343361 A JP2001343361 A JP 2001343361A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率のよい加熱を行うことにより十分な脱溶
媒を行うとともに、清掃も容易な吸引部を備えた液体ク
ロマトグラフ質量分析装置を提供する。 【解決手段】 脱溶媒管20の近傍に加熱ブロック33
を設け、加熱ブロック33と脱溶媒管20の入口側端部
の双方に接触し、脱溶媒管20の入口の周囲を覆う取り
外し可能な熱伝達部材(キャップ)34を設ける。加熱
ブロック33からの熱はキャップ34を介して脱溶媒管
20の入口側端部に伝達される。このため、液滴は脱溶
媒管20に入った直後の未だ速度が低い入口側で十分な
加熱を受け、大きな脱溶媒効果が挙がる。また、キャッ
プ34が脱溶媒管20の入口の周囲を覆うため、清掃の
際はキャップ34を取り外すだけでよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図1に示すように、典型的な液体クロマ
トグラフ質量分析装置には、イオン化室11、質量分析
検出室14、及び、それらの間にそれぞれ隔壁で隔てら
れた第1中間室12及び第2中間室13が設けられてい
る。イオン化室11には、液体クロマトグラフ装置のカ
ラムの出口端に接続されたノズル15が配設される。質
量分析検出室14にはマスフィルタ16及びイオン検出
器17が設けられ、それらの中間にある第1及び第2中
間室12,13にはそれぞれ第1イオンレンズ18及び
第2イオンレンズ19が設けられている。イオン化室1
1と第1中間室12との間は細径のサンプルコーンや脱
溶媒管20を介して、第1中間室12と第2中間室13
との間は極小径の通過孔(オリフィス)を有するスキマ
ー21を介してのみ連通している。
【0003】イオン化室11内はノズル15から連続的
に供給される試料液の気化分子によりほぼ大気圧になっ
ている一方、質量分析検出室14内は質量分析のために
ターボ分子ポンプ(TMP)27により約10−3〜1
−4Paの高真空状態まで真空排気される。このように
真空度の差の大きいイオン化室11と質量分析検出室1
4との間に、イオンを通すための穴を設けなければなら
ないことから、両者11、14の間に第1及び第2中間
室12,13を設け、徐々に真空度を上げるようにして
いるのである。なお、第1中間室12内はロータリポン
プ(RP)25により約10Paまで、第2中間室13
内はターボ分子ポンプ(TMP)26により約10−1
〜10−2Paまで真空排気される。
【0004】試料液はノズル15からイオン化室11内
に噴霧され、液滴中の溶媒が蒸発する過程で試料分子は
イオン化される。未だイオン化していない液滴とイオン
を含むミスト(霧)はイオン化室11と第1中間室12
との圧力差によりサンプルコーンや脱溶媒管20の中に
引き込まれ、脱溶媒管20を通過する過程で更にイオン
化が進む。第1中間室12内には第1イオンレンズ18
が設けられており、その電界により脱溶媒管20を介し
てのイオンの引き込みを助けるとともに、イオンをスキ
マー21のオリフィス近傍に収束させる。スキマー21
のオリフィスを通って第2中間室13に導入されたイオ
ンは、第2イオンレンズ19により収束及び加速された
後、質量分析検出室14へと送られる。質量分析検出室
14では、特定の質量数(質量m/電荷z)を有するイ
オンのみがマスフィルタ16中央の長手方向の空間を通
り抜け、イオン検出器17に到達して検出される。
【0005】イオン化室11では、ノズルから噴霧され
る液体試料を加熱、高速気流、高電界等によって霧化
し、イオン化する。例えば、大気圧化学イオン化法(A
PCI)では、スプレーノズル15先端の前方に針電極
を配置しておき、スプレーノズル15において加熱によ
り霧化した液体試料の液滴に、針電極からのコロナ放電
により生成したキャリアガスイオン(バッファイオン)
を化学反応させてイオン化を行なう。一方、エレクトロ
スプレイイオン化法(ESI)では、スプレーノズル1
5の先端部に数kV程度の高電圧を印加して強い不平等
電界を発生させる。液体試料はこの電界により電荷分離
し、クーロン引力により引きちぎられる。液滴中の溶媒
は周囲の空気に触れて蒸発し、気体イオンが発生する。
【0006】しかし、これらの方法だけでは未だイオン
化は不十分であり、多くの液滴はイオン化することな
く、そのままサンプルコーンや脱溶媒管20に吸引され
る。液滴は質量も大きく、電気的にほぼ中性であるた
め、第1、第2中間室12、13のイオンレンズ18、
19や質量分析検出室14のマスフィルタ16において
電界の影響をほとんど受けることなく通過してしまい、
検出器17に入ってノイズの原因となる。
【0007】液滴がこのように検出器17へ侵入するこ
とを防止するために、質量分析装置の各部において様々
な工夫が施されているが、最も重要なのは、ノズル15
から噴霧された液滴がイオン化室11から第1中間室1
2へ入る最初の部分(以下、この部分を吸引部と呼ぶ)
において十分に溶媒を除去することである。そのため従
来より吸引部には、加熱機構を有するサンプルコーン
(図6)や脱溶媒管が用いられていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】サンプルコーンは、十
分に加熱したとしても、そこを通る液滴の通過時間が非
常に短いために十分な脱溶媒化が難しい。また、サンプ
ルコーンは液体試料が間近で噴霧されるために汚れやす
いが、それを清掃するためにはそれを取り外さなければ
ならず、装置全体を停止して真空を落とさねばならない
という問題があった。
【0009】脱溶媒管の場合は、加熱ガスを吹き付けた
り、管の周囲にヒータを設ける等の方法で加熱するよう
にしていた。サンプルコーンに比べると、加熱部分が長
いために脱溶媒化が進むという利点はあるものの、加熱
能力に対して実際に試料液滴の脱溶媒に用いられる熱量
の割合が低く、いずれの加熱方法でもエネルギ能率の悪
いものであった。また上記同様、脱溶媒管の入口周辺は
汚れやすいが、細い管の周囲をきれいに清掃するのは難
しく、十分な清掃を行うためにはやはり装置全体の真空
を落として、脱溶媒管を取り外して清掃しなければなら
ないという問題があった。
【0010】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、効率の
よい加熱を行うことにより十分な脱溶媒を行うととも
に、清掃も容易な吸引部を備えた液体クロマトグラフ質
量分析装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、高圧側室内で液体試料をノズルか
ら噴霧し、噴霧された液滴を高圧側室内の圧力と低圧側
室内の圧力との差圧により両者を連通する脱溶媒管を介
して低圧側室内に導入する機構を有する液体クロマトグ
ラフ質量分析装置において、脱溶媒管の近傍に加熱ブロ
ックを設け、加熱ブロックと脱溶媒管の入口側端部の双
方に接触し、脱溶媒管の入口の周囲を覆う取り外し可能
な熱伝達部材を設けたことを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態及び効果】液体クロマトグラフのカ
ラムから流出した液体試料は、高圧側室(前記イオン化
室)内に配置されたノズルから噴霧され、液滴となる。
この際、前記のように大気圧化学イオン化法(APC
I)やエレクトロスプレイイオン化法(ESI)等が用
いられ、一部はイオン化されるが、多くは液滴のまま残
る。このイオンと液滴を含むミストは、高圧側室と低圧
側室(前記第1中間室)との間の圧力差により、両者を
連通する脱溶媒管を介して低圧側室に吸引される。
【0013】本発明に係る液体クロマトグラフ質量分析
装置では、加熱ブロックからの熱が、熱伝達部材を介し
て脱溶媒管の入口側端部に伝達される。このため、ミス
トは脱溶媒管に入った直後に大きな加熱を受ける。ミス
ト中の液滴は脱溶媒管内において、高圧側室と低圧側室
との差圧による加速を受け、徐々に速度を上げてゆく。
十分な速度を得た液滴を加熱しても脱溶媒の効果は少な
いが、本発明では速度の未だ低い入口側で十分な加熱を
行うことにより、大きな脱溶媒効果を挙げることができ
る。すなわち、脱溶媒の熱効率が高い。
【0014】また、この熱伝達部材は脱溶媒管の入口の
周囲を覆うため、試料により汚れるのはほとんどこの熱
伝達部材となる。従って、この熱伝達部材を取り外し、
清掃することにより、脱溶媒管の入口付近は再びきれい
な状態となり、次の試料の分析においても正確な測定を
行うことができる。
【0015】
【実施例】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ
質量分析装置を図1〜図5により説明する。装置全体の
構成は既述の通りであり、ここではイオン化室11と第
1中間室12との間の吸引部を中心に説明する。
【0016】図1、図2に示すように、本実施例の液体
クロマトグラフ質量分析装置では屈曲した脱溶媒管20
を用いており、イオン化室11の入口側中心軸はイオン
光軸xに対して約45度傾いている。また、液体試料を
噴霧するスプレーノズル15は、脱溶媒管20の入口側
中心軸に対して直角の方向に噴霧するように配置されて
いる。なお、噴霧方向前方には噴霧された液滴を回収す
るためのドレイン39が設けられている。
【0017】脱溶媒管20の周囲には、脱溶媒管20の
入口側を主に加熱するための加熱機構30が設けられて
いる。加熱機構30は図3に示すように、イオン化室1
1と第1中間室12との隔壁を構成する円板31に固定
されるベース32、ベース32上に固定される加熱ブロ
ック33、及び、加熱ブロック33に取り付けられる穴
開きキャップ34等から構成される。加熱ブロック33
にはヒータが内蔵されている。なお、図3において35
はヒータに電力を供給するためのリード線である。ベー
ス32と隔壁円板31との間にはシールリング36が介
挿される。
【0018】脱溶媒管20は隔壁円板31、ベース32
及び加熱ブロック33を貫通しており、キャップ34を
ネジで加熱ブロック33に取り付けたとき、キャップ3
4の穴34aが丁度脱溶媒管20の入口側端部に接触す
るようになっている。
【0019】このような構造及び配置により、本実施例
の液体クロマトグラフ質量分析装置における試料噴霧の
際の動作は次のようになる。スプレーノズル15から噴
霧された液滴はその噴霧の勢い(運動量)により直接脱
溶媒管20に入るのではなく、イオン化室11と第1中
間室12との間の差圧により吸引されるのみとなる。ま
た、吸引された液滴のうち大きいものは脱溶媒管20の
屈曲部で管壁に衝突して分解し、大きいまま第1中間室
12に入ることが阻止される。
【0020】加熱ブロック33は内部に設けられたヒー
タにより加熱されるが、その熱はキャップ34を介した
伝熱により脱溶媒管20の入口付近を主に加熱する。な
お、そのやや後方の部分も、加熱ブロック33全体に囲
まれていることにより、その雰囲気により加熱される。
【0021】脱溶媒管20に吸引された液滴は、その入
口付近で直ちに加熱され、脱溶媒化される。この時点で
は、液滴はイオン化室11と第1中間室12との差圧に
より、直前の運動方向(噴霧方向)に直角の方向に引き
込まれた直後であるため、その速度が遅い。このように
速度が遅い時点で集中的に加熱されることにより、液滴
の脱溶媒化が効率よく行われる。
【0022】また、脱溶媒管20の入口付近は噴霧され
た液体試料により汚染されるが、本実施例の装置では汚
染されるのはほとんどキャップ34のみであり、それを
取り外すことにより容易に清掃することができる。この
際、脱溶媒管20自体はそのままであるため、装置全体
の真空排気を停止する必要はない。
【0023】その効果を図により説明する。図5(a)
は加熱機構30による加熱を行わない場合の検出器17
の出力データであり、試料による高いピークの間に液滴
によるノイズピークが多数現れている。図5(b)は加
熱機構30による加熱を行った場合の出力データであ
り、試料によるピーク以外のノイズがほとんど抑制され
ている。
【図面の簡単な説明】
【図1】 液体クロマトグラフ質量分析装置の全体構成
図。
【図2】 イオン化室と第1中間室との間の吸引部の拡
大断面図。
【図3】 脱溶媒管を加熱するためのの加熱機構の分解
斜視図。
【図4】 加熱機構の組み立て斜視図。
【図5】 加熱機構の効果を示すための検出器出力デー
タのグラフ。
【図6】 サンプルコーンの説明図。
【符号の説明】
11…イオン化室 12…第1中間室 13…第2中間室 14…質量分析検出室 15…スプレーノズル 16…マスフィルタ 17…イオン検出器 18、19…イオンレンズ 20…脱溶媒管 21…スキマー 30…加熱機構 31…隔壁円板 32…ベース 33…加熱ブロック 34…キャップ 34a…脱溶媒管用の穴 39…ドレイン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高圧側室内で液体試料をノズルから噴霧
    し、噴霧された液滴を高圧側室内の圧力と低圧側室内の
    圧力との差圧により両者を連通する脱溶媒管を介して低
    圧側室内に導入する機構を有する液体クロマトグラフ質
    量分析装置において、 脱溶媒管の近傍に加熱ブロックを設け、加熱ブロックと
    脱溶媒管の入口側端部の双方に接触し、脱溶媒管の入口
    の周囲を覆う取り外し可能な熱伝達部材を設けたことを
    特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置。
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