JPH10185876A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
液体クロマトグラフ質量分析装置Info
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- JPH10185876A JPH10185876A JP8345715A JP34571596A JPH10185876A JP H10185876 A JPH10185876 A JP H10185876A JP 8345715 A JP8345715 A JP 8345715A JP 34571596 A JP34571596 A JP 34571596A JP H10185876 A JPH10185876 A JP H10185876A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pipe
- sample
- liquid chromatograph
- sprayed
- ions
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- Pending
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 液体クロマトグラフ質量分析装置のインター
フェース部にあるスプレー手段により噴霧されたイオ
ン、荷電液滴のほとんどを質量分析部に送り込むように
して、非常に感度のよい分析を行うようにする。 【解決手段】 脱溶媒化手段（３３）のスプレー手段
（３１ａ）に対向する側は加熱された細管パイプ群（３
３ａ）からなり、かつ、これらパイプ群（３３ａ）は途
中で１つの流路に合流されて１流路（３３ｂ）にされた
上で他端側から質量分析部（２０）に向けて送られるよ
うにする。
フェース部にあるスプレー手段により噴霧されたイオ
ン、荷電液滴のほとんどを質量分析部に送り込むように
して、非常に感度のよい分析を行うようにする。 【解決手段】 脱溶媒化手段（３３）のスプレー手段
（３１ａ）に対向する側は加熱された細管パイプ群（３
３ａ）からなり、かつ、これらパイプ群（３３ａ）は途
中で１つの流路に合流されて１流路（３３ｂ）にされた
上で他端側から質量分析部（２０）に向けて送られるよ
うにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置（以下ＬＣ／ＭＳという）に関し、さら
に詳しくはＬＣ／ＭＳの液体クロマトグラフ部と質量分
析部とのインタフェースに関する。
フ質量分析装置（以下ＬＣ／ＭＳという）に関し、さら
に詳しくはＬＣ／ＭＳの液体クロマトグラフ部と質量分
析部とのインタフェースに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＬＣ／ＭＳでは、液体クロマトグラフ部
で分離された成分を大気圧下でイオン化して質量分析部
に導入する方法が用いられることがある。この場合、液
体クロマトグラフ部のカラムにより分離された成分をイ
オン化するインタフェースが必要である。ＬＣ／ＭＳに
一般的に用いられるインタフェースとしては、エレクト
ロスプレイインタフェース（ＥＳＩ）や大気圧化学イオ
ン化インタフェース（ＡＰＣＩ）等、いくつかの種類が
ある。
で分離された成分を大気圧下でイオン化して質量分析部
に導入する方法が用いられることがある。この場合、液
体クロマトグラフ部のカラムにより分離された成分をイ
オン化するインタフェースが必要である。ＬＣ／ＭＳに
一般的に用いられるインタフェースとしては、エレクト
ロスプレイインタフェース（ＥＳＩ）や大気圧化学イオ
ン化インタフェース（ＡＰＣＩ）等、いくつかの種類が
ある。
【０００３】ＥＳＩ法では液体試料を細いスプレーニー
ドルの先端に送り、そのニードルの先端に高電圧を印加
する。これによりニードル先端には強い不平等電界が形
成され、この強い電界により液体試料が帯電液滴として
噴霧され、更に、液滴内でのイオンのクーロン反発力に
より液滴の分裂が進行してイオン化が行われる。
ドルの先端に送り、そのニードルの先端に高電圧を印加
する。これによりニードル先端には強い不平等電界が形
成され、この強い電界により液体試料が帯電液滴として
噴霧され、更に、液滴内でのイオンのクーロン反発力に
より液滴の分裂が進行してイオン化が行われる。
【０００４】一方、ＡＰＣＩ法ではネブライザ（霧化
器）においてガス流により液体試料を強制噴霧し、これ
を加熱することにより液滴の脱溶媒化を行った後、コロ
ナ放電により生成したバッファイオンにより試料のイオ
ン化（化学イオン化）を行う。図５は従来からのＬＣ／
ＭＳの一般的な構成を示す図である。１０は液体クロマ
トグラフ部、２０は質量分析部である。３０はインタフ
ェース部で、本図のものはＥＳＩ法を用いたエレクトロ
スプレーイオン化部３１を用いている。また、エレクト
ロスプレーイオン化部の後に設けられているパイプ３２
にはヒータ３２ｈが取り付けてあり、このものはエレク
トロスプレーイオン化部３１で生成された荷電液滴の脱
溶媒化を促進するための脱溶媒化手段として機能する。
器）においてガス流により液体試料を強制噴霧し、これ
を加熱することにより液滴の脱溶媒化を行った後、コロ
ナ放電により生成したバッファイオンにより試料のイオ
ン化（化学イオン化）を行う。図５は従来からのＬＣ／
ＭＳの一般的な構成を示す図である。１０は液体クロマ
トグラフ部、２０は質量分析部である。３０はインタフ
ェース部で、本図のものはＥＳＩ法を用いたエレクトロ
スプレーイオン化部３１を用いている。また、エレクト
ロスプレーイオン化部の後に設けられているパイプ３２
にはヒータ３２ｈが取り付けてあり、このものはエレク
トロスプレーイオン化部３１で生成された荷電液滴の脱
溶媒化を促進するための脱溶媒化手段として機能する。
【０００５】エレクトロスプレーニードル３１ａは液体
クロマトグラフ部１０から送られてくる試料液体が通過
する細管を有し、パイプ３２に対向する側の先端はニー
ドル状にしてあり、細管を通過した液体がニードル先端
のノズル部分から噴出されるようになっている。そして
図示しない高電圧発生回路よりエレクトロスプレーニー
ドル３１ａに数ＫＶ程度の高電圧が印加される。このよ
うな構造にすることにより液体クロマトグラフ部１０か
ら送られてくる液体試料は、ニードル先端のノズル付近
に形成された強い電界によりスプレー状に引き出され、
その際、液体試料の一部はイオンや荷電液滴となってパ
イプ３２に入る。
クロマトグラフ部１０から送られてくる試料液体が通過
する細管を有し、パイプ３２に対向する側の先端はニー
ドル状にしてあり、細管を通過した液体がニードル先端
のノズル部分から噴出されるようになっている。そして
図示しない高電圧発生回路よりエレクトロスプレーニー
ドル３１ａに数ＫＶ程度の高電圧が印加される。このよ
うな構造にすることにより液体クロマトグラフ部１０か
ら送られてくる液体試料は、ニードル先端のノズル付近
に形成された強い電界によりスプレー状に引き出され、
その際、液体試料の一部はイオンや荷電液滴となってパ
イプ３２に入る。
【０００６】荷電液滴はパイプ３２内でヒータ３２ｈに
より加熱されることにより溶媒が蒸発し、他の粒子との
衝突等を経ることによりさらに微小化してイオン化が促
進され、生成されたイオンがパイプ３２から引き出され
て質量分析部２０に送られる。
より加熱されることにより溶媒が蒸発し、他の粒子との
衝突等を経ることによりさらに微小化してイオン化が促
進され、生成されたイオンがパイプ３２から引き出され
て質量分析部２０に送られる。
【０００７】このようにして、パイプ３２を通過する際
に脱溶媒化、イオン化が促進された上でイオンが質量分
析部に導入されることになる。
に脱溶媒化、イオン化が促進された上でイオンが質量分
析部に導入されることになる。
【０００８】これに対し、ＡＰＣＩ法によるイオン化を
行うときは図５のエレクトロスプレーイオン化部３１の
代わりに図６に示すような大気圧化学イオン化部５４が
取り付けられる。すなわち、試料液体が通過する細管を
有するとともに先端がニードル状にしてあるプローブ５
４ａ、プローブ５４ａのニードル部分を囲むように設け
られる霧化室５４ｂ、霧化室の開口部前面に取り付けら
れる放電電極５４ｃを具備する大気圧化学イオン化部５
４が取り付けられる。霧化室５４ｂを図示しないヒータ
により加熱するとともに、放電電極５４ｃに数ＫＶの電
圧を印加する。このようにすることにより、液体クロマ
トグラフ部１０から送られてくる液体試料は別途にプロ
ーブに接続されたガスラインからの霧化用ガスによりプ
ローブ５４ａのニードル先端のノズルから霧化室５４ｂ
内に噴霧され、ヒータにより脱溶媒化された後放電電極
において生成されるバッファイオンとの接触によりイオ
ン化される。そして、生成されたイオンや荷電液滴は加
熱されたパイプ３２を介して前述のＥＳＩ法と同様に脱
溶媒化、イオン化が促進されつつ、質量分析部２０に送
られる。
行うときは図５のエレクトロスプレーイオン化部３１の
代わりに図６に示すような大気圧化学イオン化部５４が
取り付けられる。すなわち、試料液体が通過する細管を
有するとともに先端がニードル状にしてあるプローブ５
４ａ、プローブ５４ａのニードル部分を囲むように設け
られる霧化室５４ｂ、霧化室の開口部前面に取り付けら
れる放電電極５４ｃを具備する大気圧化学イオン化部５
４が取り付けられる。霧化室５４ｂを図示しないヒータ
により加熱するとともに、放電電極５４ｃに数ＫＶの電
圧を印加する。このようにすることにより、液体クロマ
トグラフ部１０から送られてくる液体試料は別途にプロ
ーブに接続されたガスラインからの霧化用ガスによりプ
ローブ５４ａのニードル先端のノズルから霧化室５４ｂ
内に噴霧され、ヒータにより脱溶媒化された後放電電極
において生成されるバッファイオンとの接触によりイオ
ン化される。そして、生成されたイオンや荷電液滴は加
熱されたパイプ３２を介して前述のＥＳＩ法と同様に脱
溶媒化、イオン化が促進されつつ、質量分析部２０に送
られる。
【０００９】なお、脱溶媒化を促進するために、スプレ
ー方向とは逆方向に窒素ガスの対向流（Ｎ2 カーテン）
を与えることにより脱溶媒化を促進することももなされ
ている。
ー方向とは逆方向に窒素ガスの対向流（Ｎ2 カーテン）
を与えることにより脱溶媒化を促進することももなされ
ている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ＥＳＩ法やＡＰＣＩ法
によりイオン化されたイオン、あるいは荷電液滴のう
ち、加熱パイプを通過した試料のみが質量分析部に入
り、質量分離された上で検出器により測定される。
によりイオン化されたイオン、あるいは荷電液滴のう
ち、加熱パイプを通過した試料のみが質量分析部に入
り、質量分離された上で検出器により測定される。
【００１１】しかしながら、この方法では、加熱パイプ
を通過するのは、噴霧された試料のうちの一部だけであ
り、ほとんどの試料はそのまま真空排気系から排出され
ることになっていた。
を通過するのは、噴霧された試料のうちの一部だけであ
り、ほとんどの試料はそのまま真空排気系から排出され
ることになっていた。
【００１２】そのため、試料は有効利用されず、また、
一部の試料のみしか分析に寄与させることができないこ
とから検出感度を向上させることができない原因となっ
ていた。
一部の試料のみしか分析に寄与させることができないこ
とから検出感度を向上させることができない原因となっ
ていた。
【００１３】そこで、本発明は、インタフェース部で噴
霧された試料のほとんどを脱溶媒化しつつ質量分析部に
送り込んで有効に分析に寄与することができる液体クロ
マトグラフ装置を提供することを目的とする。
霧された試料のほとんどを脱溶媒化しつつ質量分析部に
送り込んで有効に分析に寄与することができる液体クロ
マトグラフ装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置
（ＬＣ／ＭＳ）は、液体クロマトグラフ部と質量分析部
との間に、液体クロマトグラフ部から送られてくる液体
試料をスプレー手段によりイオン化しつつ噴霧し、生成
されたイオンあるいは荷電液滴をスプレー手段に対向す
るように配置された脱溶媒化手段により脱溶媒化しなが
ら質量分析部に導入するインタフェース部を備えた液体
クロマトグラフ質量分析装置において、前記脱溶媒化手
段のスプレー手段に対向する側は加熱された細管パイプ
群からなり、かつ、これらパイプ群は途中で１つの流路
に合流されて１流路にされた上で他端側から質量分析部
に向けて排出されることを特徴とする。
になされた本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置
（ＬＣ／ＭＳ）は、液体クロマトグラフ部と質量分析部
との間に、液体クロマトグラフ部から送られてくる液体
試料をスプレー手段によりイオン化しつつ噴霧し、生成
されたイオンあるいは荷電液滴をスプレー手段に対向す
るように配置された脱溶媒化手段により脱溶媒化しなが
ら質量分析部に導入するインタフェース部を備えた液体
クロマトグラフ質量分析装置において、前記脱溶媒化手
段のスプレー手段に対向する側は加熱された細管パイプ
群からなり、かつ、これらパイプ群は途中で１つの流路
に合流されて１流路にされた上で他端側から質量分析部
に向けて排出されることを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】本発明のＬＣ／ＭＳでは、インタ
フェース部にある脱溶媒化手段は、液体クロマトグラフ
から送られてくる試料をイオン化しつつ噴霧するスプレ
ー手段に対向して配置される側の部分が細径のパイプを
束ねた形状であるため、その断面積を大きくすることが
でき、噴霧されたイオンや荷電液滴のほとんどを脱溶媒
化手段に取り込むことができる。そして、脱溶媒化手段
に取り込まれたイオン、荷電液滴は加熱により脱溶媒化
が促進されつつ移動し、脱溶媒化手段の後段で合流して
１流路とした上で質量分析部に送り込まれる。そのた
め、イオン化された試料を無駄にすることなく質量分析
部へ送ることができ感度の高い測定が可能となる。以
下、本発明を実施例を用いて説明する。図１は本発明の
一実施例であるＬＣ／ＭＳの構成図である。図におい
て、従来例である図５と同じものは同符号を付すことに
より、説明を省略する。図に示すようにエレクトロスプ
レー３１ａに対向する位置に脱溶媒化パイプ３３が取り
付けられている。この脱溶媒化パイプ３３は細径のパイ
プを束ねたパイプ群３３ａと、パイプ群３３ａの下流側
にあって合流された合流パイプ３３ｂと、脱溶媒化パイ
プ３３全体を加熱するヒータ３３ｈとから構成されてい
る。パイプ群３３ａおよび合流パイプ３３ｂには金属を
用いて熱伝導を良好にすることにより、図４に示すよう
にヒータ３３ｈをパイプ群３３ａの外周に取り付けられ
て外周から加熱できるようにする。なお、パイプ群にガ
ラスなどの熱伝導性が良好でない材料を用いる場合に
は、１つ１つのパイプにヒータを巻回するようにする。
フェース部にある脱溶媒化手段は、液体クロマトグラフ
から送られてくる試料をイオン化しつつ噴霧するスプレ
ー手段に対向して配置される側の部分が細径のパイプを
束ねた形状であるため、その断面積を大きくすることが
でき、噴霧されたイオンや荷電液滴のほとんどを脱溶媒
化手段に取り込むことができる。そして、脱溶媒化手段
に取り込まれたイオン、荷電液滴は加熱により脱溶媒化
が促進されつつ移動し、脱溶媒化手段の後段で合流して
１流路とした上で質量分析部に送り込まれる。そのた
め、イオン化された試料を無駄にすることなく質量分析
部へ送ることができ感度の高い測定が可能となる。以
下、本発明を実施例を用いて説明する。図１は本発明の
一実施例であるＬＣ／ＭＳの構成図である。図におい
て、従来例である図５と同じものは同符号を付すことに
より、説明を省略する。図に示すようにエレクトロスプ
レー３１ａに対向する位置に脱溶媒化パイプ３３が取り
付けられている。この脱溶媒化パイプ３３は細径のパイ
プを束ねたパイプ群３３ａと、パイプ群３３ａの下流側
にあって合流された合流パイプ３３ｂと、脱溶媒化パイ
プ３３全体を加熱するヒータ３３ｈとから構成されてい
る。パイプ群３３ａおよび合流パイプ３３ｂには金属を
用いて熱伝導を良好にすることにより、図４に示すよう
にヒータ３３ｈをパイプ群３３ａの外周に取り付けられ
て外周から加熱できるようにする。なお、パイプ群にガ
ラスなどの熱伝導性が良好でない材料を用いる場合に
は、１つ１つのパイプにヒータを巻回するようにする。
【００１６】このような脱溶媒化パイプを用いることに
より、エレクトロスプレー３１ａから試料がイオン、荷
電液滴などが噴霧されると、パイプ群によって形成され
る広い断面にわたって試料が脱溶媒化パイプ３３のパイ
プ群３３ａ内に取り込まれる。取り込まれたイオン、荷
電液滴は加熱により脱溶媒化が促進されつつ下流側に進
み、合流パイプ３３ｂに至り、さらに脱溶媒化が促進さ
れつつ質量分析部に送り込まれる。このようにして、エ
レクトロースプレー３１ａから噴霧されたほとんどの試
料が脱溶媒化されつつ質量分析部に送り込まれることと
なる。
より、エレクトロスプレー３１ａから試料がイオン、荷
電液滴などが噴霧されると、パイプ群によって形成され
る広い断面にわたって試料が脱溶媒化パイプ３３のパイ
プ群３３ａ内に取り込まれる。取り込まれたイオン、荷
電液滴は加熱により脱溶媒化が促進されつつ下流側に進
み、合流パイプ３３ｂに至り、さらに脱溶媒化が促進さ
れつつ質量分析部に送り込まれる。このようにして、エ
レクトロースプレー３１ａから噴霧されたほとんどの試
料が脱溶媒化されつつ質量分析部に送り込まれることと
なる。
【００１７】図２は、本発明の他の一実施例であるＬＣ
／ＭＳの構成図である。この図のものでは、パイプ群３
４ａ、ヒータ３４ｈは図１と同様であるが、合流パイプ
３３ｂのかわりに、合流部分が直接質量分析部との境界
に当たるサンプリングコーン３４ｄに接続されている。
／ＭＳの構成図である。この図のものでは、パイプ群３
４ａ、ヒータ３４ｈは図１と同様であるが、合流パイプ
３３ｂのかわりに、合流部分が直接質量分析部との境界
に当たるサンプリングコーン３４ｄに接続されている。
【００１８】図３は、本発明の他の一実施例であるＬＣ
／ＭＳの構成図である。この図のものでは、パイプ群３
５ａ、合流パイプ３５ｂ、ヒータ３５ｈは図１と同様で
あるが、パイプ群３５ａの外周側数カ所にに乾燥窒素を
吹き出すためのパイプ３５ｎが設けてあり、いわゆるカ
ウンタフローをさせることにより、脱溶媒化を促進させ
ている。
／ＭＳの構成図である。この図のものでは、パイプ群３
５ａ、合流パイプ３５ｂ、ヒータ３５ｈは図１と同様で
あるが、パイプ群３５ａの外周側数カ所にに乾燥窒素を
吹き出すためのパイプ３５ｎが設けてあり、いわゆるカ
ウンタフローをさせることにより、脱溶媒化を促進させ
ている。
【００１９】図４は、本発明の他の一実施例であるＬＣ
／ＭＳの脱溶媒化手段の断面図である。このものでは、
中心部分にはパイプ３３ａではなく、棒３３ｃを使用し
ているので、導入したくない粒の大きい試料の部分をカ
ットすることができる。
／ＭＳの脱溶媒化手段の断面図である。このものでは、
中心部分にはパイプ３３ａではなく、棒３３ｃを使用し
ているので、導入したくない粒の大きい試料の部分をカ
ットすることができる。
【００２０】図１から図４に示した実施例では、パイプ
は円筒形状としたが、これを六角形状のパイプ（ハニカ
ム形状）あるいは三角形、四角形パイプを束ねた構成と
してもよい。このようにすることにより、パイプとパイ
プとの間に隙間がなくなるので、さらにサンプルの収集
率が向上する。
は円筒形状としたが、これを六角形状のパイプ（ハニカ
ム形状）あるいは三角形、四角形パイプを束ねた構成と
してもよい。このようにすることにより、パイプとパイ
プとの間に隙間がなくなるので、さらにサンプルの収集
率が向上する。
【００２１】
【発明の効果】以上、説明したように本発明のＬＣ／Ｍ
Ｓでは、噴霧されたイオン、荷電液滴をほとんど質量分
析部に送り込むことができるので、非常に感度のよい分
析が可能となる。
Ｓでは、噴霧されたイオン、荷電液滴をほとんど質量分
析部に送り込むことができるので、非常に感度のよい分
析が可能となる。
【００２２】また、中心部分にパイプのかわりに棒体を
使用することにより、大粒の試料をカットすることがで
きる。
使用することにより、大粒の試料をカットすることがで
きる。
【図１】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ質
量分析装置の構成図。
量分析装置の構成図。
【図２】本発明の他の一実施例である液体クロマトグラ
フ質量分析装置の構成図。
フ質量分析装置の構成図。
【図３】本発明の他の一実施例である液体クロマトグラ
フ質量分析装置の要部構成図。
フ質量分析装置の要部構成図。
【図４】本発明の他の一実施例である液体クロマトグラ
フ質量分析装置の要部断面構成図。
フ質量分析装置の要部断面構成図。
【図５】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図。
構成図。
【図６】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図。
構成図。
１０：液体クロマトグラフ部 ２０：質量分析部 ３０：インタフェース部 ３１：エレクトロスプレーイオン化部 ３１ａ：エレクトロスプレーニードル ３３、３４、３５：脱溶媒化パイプ ３３ａ、３４ａ、３５ａ：パイプ群 ３３ｂ、３４ｂ、３５ｂ：合流パイプ ３３ｈ、３４ｈ、３５ｈ：ヒータ ３３ｃ：棒 ３４ｄ：サンプリングコーン ３５ｎ：乾燥窒素用パイプ
Claims (1)
- 【請求項１】 液体クロマトグラフ部と質量分析部との
間に、液体クロマトグラフ部から送られてくる液体試料
をスプレー手段によりイオン化しつつ噴霧し、生成され
たイオンあるいは荷電液滴をスプレー手段に対向するよ
うに配置された脱溶媒化手段により脱溶媒化しながら質
量分析部に導入するインタフェース部を備えた液体クロ
マトグラフ質量分析装置において、前記脱溶媒化手段の
スプレー手段に対向する側は加熱された細管パイプ群か
らなり、かつ、これらパイプ群は途中で１つの流路に合
流されて１流路にされた上で他端側から質量分析部に向
けて排出されることを特徴とする液体クロマトグラフ質
量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8345715A JPH10185876A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8345715A JPH10185876A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10185876A true JPH10185876A (ja) | 1998-07-14 |
Family
ID=18378477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8345715A Pending JPH10185876A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10185876A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003046543A1 (fr) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrometre de masse a ionisation a la pression atmospherique |
| JPWO2003046543A1 (ja) * | 2001-11-26 | 2005-04-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| WO2016006390A1 (ja) * | 2014-07-07 | 2016-01-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| JP2016011847A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | 株式会社島津製作所 | イオン化室 |
| JP6106864B1 (ja) * | 2016-09-21 | 2017-04-05 | ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 | イオン源アダプタ |
| CN106783505A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 大气压离子源的真空接口 |
-
1996
- 1996-12-25 JP JP8345715A patent/JPH10185876A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003046543A1 (fr) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrometre de masse a ionisation a la pression atmospherique |
| JPWO2003046543A1 (ja) * | 2001-11-26 | 2005-04-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| US7081620B2 (en) | 2001-11-26 | 2006-07-25 | Hitachi High -Technologies Corporation | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer system |
| JP2016011847A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | 株式会社島津製作所 | イオン化室 |
| WO2016006390A1 (ja) * | 2014-07-07 | 2016-01-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| JP2016018625A (ja) * | 2014-07-07 | 2016-02-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| GB2544908A (en) * | 2014-07-07 | 2017-05-31 | Hitachi High Tech Corp | Mass spectrometry device |
| US9892901B2 (en) | 2014-07-07 | 2018-02-13 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometry device |
| GB2544908B (en) * | 2014-07-07 | 2020-12-30 | Hitachi High Tech Corp | Mass spectrometry device |
| JP6106864B1 (ja) * | 2016-09-21 | 2017-04-05 | ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 | イオン源アダプタ |
| CN106783505A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 大气压离子源的真空接口 |
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