JP2001326240A - ワイヤボンディング方法及び装置 - Google Patents

ワイヤボンディング方法及び装置

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JP2001326240A JP2000146016A JP2000146016A JP2001326240A JP 2001326240 A JP2001326240 A JP 2001326240A JP 2000146016 A JP2000146016 A JP 2000146016A JP 2000146016 A JP2000146016 A JP 2000146016A JP 2001326240 A JP2001326240 A JP 2001326240A
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wire bonding
wire
electrode
electron beam
bonding
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Haruhiko Makino
晴彦 牧野
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Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子部品側の電極やワイヤ先端部の表面酸化
による接合性の劣化を防止する。 【解決手段】 ボンディングの直前に電子銃150によ
って電子ビームをICチップ200の電極210に照射
し、この電極210の銅表面に発生した酸化膜を可能な
範囲で除去し、その後、できるだけ短時間にワイヤ22
0の先端部230をこの電極210に接合する。また、
ワイヤ220の先端部230はボール状に形成されてお
り、この表面に対して、やはりボンディングの直前に電
子銃150によって電子ビームを照射し、このワイヤ2
20の先端部230の銅表面に発生した酸化膜を可能な
範囲で除去し、その後、できるだけ短時間にICチップ
200の電極210に接合する。したがって、ICチッ
プ200側の電極210やワイヤ220に銅を用いた場
合でも良好な接合性を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種の電子部品を
ワイヤボンディングするための方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は、ICチップのワイヤボンディン
グ装置の従来例を示す外観斜視図である。このワイヤボ
ンディング装置は、基台10上にワイヤボンディング作
業を行うキャピラリ等を設けたボンディングヘッド12
やICチップ等を所定の温度に加熱するヒートコラム1
4等を配設したものである。ヒートコラム14には、リ
ードフレーム等を介してパッケージに装着されたICチ
ップ(図示せず)が配置されており、ボンディングヘッ
ド12等の作動によってICチップ側の電極とパッケー
ジ側の外部引き出し電極とがワイヤで接続される。
【0003】ところで、このような半導体の組み立て作
業に用いられるワイヤボンディング装置としては、IC
チップ側のアルミニウム製の電極にアルミニウム製のワ
イヤを熱と超音波によって接合するタイプと、ICチッ
プ側のアルミニウム製の電極に金製のワイヤを熱と超音
波によって接合するタイプとが知られている。しかし近
年では、ICチップ側の高速度化等に伴い、ICチップ
側のインターコネクションを銅で作製する方法が考え出
されている。そして、ICチップの電極にも銅電極を用
いることが考えらている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
にICチップの電極を銅電極とした場合、銅製のワイヤ
なら接合可能であるが、銅対銅の接合には銅表面の酸化
が良好な接合性を妨げるという問題がある。そこで、一
般的には、銅表面の酸化による接合性の劣化を防止する
方法としては、ワイヤボンディング装置のヒートコラム
に窒素ガスやホーミングガスを流して銅製ワイヤの表面
酸化を防ぐことが考えられているが、十分な効果を得る
ことは困難である。
【0005】そこで本発明の目的は、電子部品側の電極
やワイヤ先端部の表面酸化による接合性の劣化を防止す
ることが可能なワイヤボンディング方法及び装置を提供
することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のワイヤボンディ
ング方法は、真空室内でワイヤボンディングを行うとと
もに、前記ワイヤボンディングを行う電子部品の電極に
電子ビームを照射し、前記電極表面の酸化膜を除去した
後に、ワイヤボンディングを行うようにしたことを特徴
とする。また本発明のワイヤボンディング装置は、ワイ
ヤボンディング作業を行う真空室と、前記真空室内でワ
イヤボンディングを行う電子部品の電極に電子ビームを
照射する電子銃を含む電子ビーム装置とを有し、前記電
子ビームの照射によって前記電極表面の酸化膜を除去し
た後に、ワイヤボンディングを行うようにしたことを特
徴とする。
【0007】本発明のワイヤボンディング方法では、真
空室内でワイヤボンディングを行うことにより、電子部
品側の電極とワイヤとの接合部分における表面酸化を抑
制することができ、電子部品側の電極とワイヤとの接合
性をさらに向上できる。また、ワイヤボンディングを行
う電子部品の電極に電子ビームを照射し、電極表面の酸
化膜を除去した後に、ワイヤボンディングを行うように
したことから、電子部品側の電極とワイヤとの接合性を
さらに向上できる。したがって、電子部品側の電極やワ
イヤに銅を用いた場合でも良好な接合性を得ることがで
き、信頼性の高いワイヤボンディングを行うことがで
き、製品性能の向上や歩留を向上することが可能とな
る。
【0008】また、本発明のワイヤボンディング装置に
おいても同様に、真空室内でワイヤボンディングを行う
ことにより、電子部品側の電極とワイヤとの接合部分に
おける表面酸化を抑制することができ、電子部品側の電
極とワイヤとの接合性をさらに向上できる。また、ワイ
ヤボンディングを行う電子部品の電極に電子ビームを照
射し、電極表面の酸化膜を除去した後に、ワイヤボンデ
ィングを行うようにしたことから、電子部品側の電極と
ワイヤとの接合性をさらに向上できる。したがって、電
子部品側の電極やワイヤに銅を用いた場合でも良好な接
合性を得ることができ、信頼性の高いワイヤボンディン
グを行うことができ、製品性能の向上や歩留を向上する
ことが可能となる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明によるワイヤボンデ
ィング方法及び装置の実施の形態について説明する。図
1は、本発明の実施の形態によるICチップのワイヤボ
ンディング装置を示す外観斜視図である。このワイヤボ
ンディング装置は、基台110上に真空室120を設置
し、この真空室120内に、ワイヤボンディング作業を
行うボンディングヘッド130、ICチップ等を加熱す
るヒートコラム140、電子ビームを出力する電子銃1
50等を配置し、この真空室120内でワイヤボンディ
ング作業を行うようにしたものである。
【0010】真空室120は、外部の真空装置160に
接続されており、この真空装置160の作動によって真
空室120が所定の真空度に制御され、この真空内でワ
イヤボンディング作業を行うことにより、ボンディング
を行う電極やワイヤの酸化を抑制する。なお、ワイヤボ
ンディングを行う電極やワイヤの周辺だけを真空に制御
することは構造的に困難であるので、本例では、ボンデ
ィングヘッド130、ヒートコラム140、電子銃15
0を含むワイヤボンディング作業領域を全体的に包囲す
る真空室120を設けたことにより、容易に真空状態を
得るようにしたものである。
【0011】また、ボンディングヘッド130には、ワ
イヤを繰り出しながらボンディング作業を行うためのキ
ャピラリや、ワイヤの先端部を加熱してボールを形成す
るための電気トーチ等が配置されている。また、ヒート
コラム140には、リードフレーム等を介してパッケー
ジに装着されたICチップ(図1では省略する)が配置
されており、ヒートコラム140はワイヤボンディング
作業を行うためにICチップやパッケージ等を所定の温
度に保持する。そして、ボンディングヘッド130の作
動によってキャピラリを移動し、ICチップ側の電極と
パッケージ側の外部引き出し電極とをワイヤで接続する
ワイヤボンディング作業を行う。なお、ボンディングの
際にはワイヤの先端部が電気トーチによって加熱され、
ボール状に形成された状態で電極と接合されるようにな
っている。また、本例では、ICチップ側の電極、パッ
ケージ側の外部引き出し電極、及びワイヤにそれぞれ銅
製のものを用いている。
【0012】また、電子銃150は、ボンディングヘッ
ド130に搭載され、ICチップ側の電極、パッケージ
側の電極、及びワイヤ先端部のボールの各表面に電子ビ
ームを照射するものである。このように、ICチップ側
の電極、パッケージ側の電極、及びワイヤ先端部のボー
ルの各表面に電子ビームを照射することにより、表面の
酸化膜を可能な範囲で除去し、ボンディングによる接合
性を向上するものである。なお、このような電子銃15
0による電子ビームの照射位置は、ボンディングヘッド
130の移動機構によって制御する。このようにボンデ
ィングヘッド130の移動機構を兼用することにより、
電子銃150を移動するための専用の機構が不要とな
り、低コストで実現できる。また、電子銃150は、外
部の電子ビーム発生装置170に接続されており、この
電子ビーム発生装置170によって電子ビームの照射動
作が制御されるようになっている。
【0013】次に、以上のような構成のワイヤボンディ
ング装置で実現されるワイヤボンディング方法について
説明する。図2はICチップの電極に電子ビームを照射
している状態を示す概略斜視図である。ICチップ20
0の側縁部には、複数の銅製電極210が等間隔で設け
られており、ワイヤボンディング作業では、各電極21
0について順番に銅製ワイヤ220の先端部230を熱
と超音波を用いて溶着していく。なお、ワイヤ220の
先端部230は、上述した電気トーチによってボール状
に形成され、その後、キャピラリの移動によってICチ
ップ200の電極210に接合される。そして、本例の
ワイヤボンディング作業においては、ボンディングの直
前に電子銃150によって一定量の電子ビームをICチ
ップ200の電極210に一定時間だけ照射し、この電
極210の銅表面に発生した酸化膜を可能な範囲で除去
し、その後、できるだけ短時間にワイヤ220の先端部
230をこの電極210に接合する。
【0014】また、図3はワイヤの先端部に電子ビーム
を照射している状態を示す概略斜視図である。上述のよ
うにワイヤ220の先端部230はボール状に形成され
ており、この表面に対して、やはりボンディングの直前
に電子銃150によって一定量の電子ビームを一定時間
だけ照射し、このワイヤ220の先端部230の銅表面
に発生した酸化膜を可能な範囲で除去し、その後、でき
るだけ短時間にICチップ200の電極210に接合す
る。なお、本例では、電子銃150が1つであることか
ら、ICチップ200の電極210に対する電子ビーム
の照射動作とワイヤ220の先端部230に対する電子
ビームの照射動作とは前後して行われることになるが、
できるだけ効率よくこの動作を行い、迅速にワイヤボン
ディングを行うようにする。
【0015】以上のようにして本例では、ICチップ2
00の電極210とワイヤ220の先端部230の双方
に電子ビームを照射し、銅表面に発生した酸化膜を可能
な範囲で除去することにより、両者の良好な接合状態を
得ることができ、信頼性の高いワイヤボンディングを行
うことができる。したがって、ICチップ200側の電
極210やワイヤ220に銅を用いた場合でも良好な接
合性を得ることができ、製品性能の向上や歩留を向上す
ることが可能となる。
【0016】なお、以上の例では、ICチップのワイヤ
ボンディングを行う構成について説明したが、本発明は
他の電子部品のワイヤボンディングを行う方法や装置に
ついても同様に適用し得るものである。また、上述のよ
うなワイヤボンディング装置において、電子部品はX−
Yテーブル上に配置され、このX−Yテーブルとボンデ
ィングヘッドとの相対移動によってワイヤボンディング
が行われるものが一般的であるが、このような構造は本
発明の特徴と直接関係しないため、本例の説明では省略
した。また、上述した例では、1つの電子銃によってI
Cチップ側の電極とワイヤの先端部に電子ビームを照射
する例について説明したが、2つの電子銃によってIC
チップ側の電極とワイヤの先端部に個別に電子ビームを
照射することも可能である。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明のワイヤボン
ディング方法では、真空室内でワイヤボンディングを行
うとともに、ワイヤボンディングを行う電子部品の電極
に電子ビームを照射し、前記電極表面の酸化膜を除去し
た後に、ワイヤボンディングを行うようにした。このた
め、真空室内でワイヤボンディングを行うことにより、
電子部品側の電極とワイヤとの接合部分における表面酸
化を抑制することができ、電子部品側の電極とワイヤと
の接合性をさらに向上できる。また、ワイヤボンディン
グを行う電子部品の電極に電子ビームを照射し、電極表
面の酸化膜を除去した後に、ワイヤボンディングを行う
ようにしたことから、電子部品側の電極とワイヤとの接
合性をさらに向上できる。したがって、電子部品側の電
極やワイヤに銅を用いた場合でも良好な接合性を得るこ
とができ、信頼性の高いワイヤボンディングを行うこと
ができ、製品性能の向上や歩留を向上することが可能と
なる。
【0018】また本発明のワイヤボンディング装置で
は、ワイヤボンディング作業を行う真空室と、真空室内
でワイヤボンディングを行う電子部品の電極に電子ビー
ムを照射する電子銃を含む電子ビーム装置とを有し、電
子ビームの照射によって電極表面の酸化膜を除去した後
に、ワイヤボンディングを行うようにした。このため、
真空室内でワイヤボンディングを行うことにより、電子
部品側の電極とワイヤとの接合部分における表面酸化を
抑制することができ、電子部品側の電極とワイヤとの接
合性をさらに向上できる。また、ワイヤボンディングを
行う電子部品の電極に電子ビームを照射し、電極表面の
酸化膜を除去した後に、ワイヤボンディングを行うよう
にしたことから、電子部品側の電極とワイヤとの接合性
をさらに向上できる。したがって、電子部品側の電極や
ワイヤに銅を用いた場合でも良好な接合性を得ることが
でき、信頼性の高いワイヤボンディングを行うことがで
き、製品性能の向上や歩留を向上することが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態によるICチップのワイヤ
ボンディング装置を示す外観斜視図である。
【図2】図1に示すワイヤボンディング装置においてI
Cチップの電極に電子ビームを照射している状態を示す
概略斜視図である。
【図3】図1に示すワイヤボンディング装置においてワ
イヤの先端部に電子ビームを照射している状態を示す概
略斜視図である。
【図4】従来のワイヤボンディング装置を示す外観斜視
図である。
【符号の説明】
110……基台、120……真空室、130……ボンデ
ィングヘッド、140……ヒートコラム、150……電
子銃、160……真空装置、170……電子ビーム発生
装置、200……ICチップ、210……電極、220
……ワイヤ、230……先端部。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空室内でワイヤボンディングを行うと
    ともに、 前記ワイヤボンディングを行う電子部品の電極に電子ビ
    ームを照射し、前記電極表面の酸化膜を除去した後に、
    ワイヤボンディングを行うようにした、 ことを特徴とするワイヤボンディング方法。
  2. 【請求項2】 ボンディングワイヤの先端部にボールを
    形成した後、前記ボールに電子ビームを照射し、前記ボ
    ール表面の酸化膜を除去した後に、ワイヤボンディング
    を行うことを特徴とする請求項1記載のワイヤボンディ
    ング方法。
  3. 【請求項3】 前記電子部品はICチップであることを
    特徴とする請求項1記載のワイヤボンディング方法。
  4. 【請求項4】 前記電子部品の電極及びボンディングワ
    イヤが銅より形成されていることを特徴とする請求項1
    記載のワイヤボンディング方法。
  5. 【請求項5】 ワイヤボンディング作業を行う真空室
    と、 前記真空室内でワイヤボンディングを行う電子部品の電
    極に電子ビームを照射する電子銃を含む電子ビーム装置
    とを有し、 前記電子ビームの照射によって前記電極表面の酸化膜を
    除去した後に、ワイヤボンディングを行うようにした、 ことを特徴とするワイヤボンディング装置。
  6. 【請求項6】 ボンディングワイヤの先端部にボールを
    形成した後、前記ボールに電子ビームを照射し、前記ボ
    ール表面の酸化膜を除去した後に、ワイヤボンディング
    を行うことを特徴とする請求項5記載のワイヤボンディ
    ング装置。
  7. 【請求項7】 前記ワイヤボンディング作業を行うボン
    ディングヘッドと、電子部品を加熱するヒートコラム
    と、前記電子銃とを含むワイヤボンディング作業領域を
    全体的に前記真空室で包囲したことを特徴とする請求項
    5記載のワイヤボンディング装置。
  8. 【請求項8】 前記真空室を真空にするための真空装置
    と前記電子銃の電子ビームを制御する電子ビーム制御装
    置とをワイヤボンディング装置の装置本体に接続したこ
    とを特徴とする請求項5記載のワイヤボンディング装
    置。
  9. 【請求項9】 前記電子部品はICチップであることを
    特徴とする請求項5記載のワイヤボンディング装置。
  10. 【請求項10】 前記電子部品の電極及びボンディング
    ワイヤが銅より形成されていることを特徴とする請求項
    5記載のワイヤボンディング装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002231754A (ja) * 2001-02-05 2002-08-16 Nec Corp 半導体装置の製造方法
JP2006332152A (ja) * 2005-05-24 2006-12-07 Matsushita Electric Works Ltd 半導体素子の実装方法

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