JP2001318356A - 液晶表示装置及びその検査方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその検査方法Info
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 カラー表示ムラや短絡欠陥を容易に検査でき
る液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 表示エリア１内にドライブ信号を入力す
るデータ信号線２のＲ色データ信号線２ａ上に正極性ダ
イオード４を、Ｇ色データ信号線２ｂ上に負極性ダイオ
ード５を形成する。Ｂ色データ信号線２ｃ上にはダイオ
ードは形成しない。Ｒ色の表示ムラの検査では、ショー
トバー６に、正極性ダイオード４により実際に液晶表示
エリア１の入力信号となるＲ色データライン電圧が０Ｖ
になるような電圧−Ｅ1Ｖを印加すれば、負極性ダイオ
ード５によりＧ色データライン電圧は−Ｅ1Ｖに、Ｂ色
データライン電圧は−Ｅ1Ｖとなる。対向する透明電極
に０Ｖの電圧を印加すれば、Ｒ色のみの表示が可能とな
ってＲ色表示ムラが検出できる。
る液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 表示エリア１内にドライブ信号を入力す
るデータ信号線２のＲ色データ信号線２ａ上に正極性ダ
イオード４を、Ｇ色データ信号線２ｂ上に負極性ダイオ
ード５を形成する。Ｂ色データ信号線２ｃ上にはダイオ
ードは形成しない。Ｒ色の表示ムラの検査では、ショー
トバー６に、正極性ダイオード４により実際に液晶表示
エリア１の入力信号となるＲ色データライン電圧が０Ｖ
になるような電圧−Ｅ1Ｖを印加すれば、負極性ダイオ
ード５によりＧ色データライン電圧は−Ｅ1Ｖに、Ｂ色
データライン電圧は−Ｅ1Ｖとなる。対向する透明電極
に０Ｖの電圧を印加すれば、Ｒ色のみの表示が可能とな
ってＲ色表示ムラが検出できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置とそ
の検査方法に関し、特に、カラー表示における表示ム
ラ、画素電極やデータ信号線の短絡やトランジスタ欠陥
により発生する点欠陥並びに線欠陥の検出のための検査
方法に関するものである。
の検査方法に関し、特に、カラー表示における表示ム
ラ、画素電極やデータ信号線の短絡やトランジスタ欠陥
により発生する点欠陥並びに線欠陥の検出のための検査
方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、場所を取らず、軽量で、消費電力
の小さい液晶表示装置の需要は、省スペースや携帯性か
ら大幅に増大しており、机上のモニターや携帯機器のデ
ィスプレイ等に多数使用されている。
の小さい液晶表示装置の需要は、省スペースや携帯性か
ら大幅に増大しており、机上のモニターや携帯機器のデ
ィスプレイ等に多数使用されている。
【０００３】図７は、アクティブ・マトリクス方式の液
晶表示装置の構造を示す斜視図である。液晶表示装置に
はさまざまな種類があるが、ここでは薄膜トランジスタ
（以下「ＴＦＴ」と云う）等のアクティブ素子を用いた
アクティブ・マトリクス方式で説明する。
晶表示装置の構造を示す斜視図である。液晶表示装置に
はさまざまな種類があるが、ここでは薄膜トランジスタ
（以下「ＴＦＴ」と云う）等のアクティブ素子を用いた
アクティブ・マトリクス方式で説明する。
【０００４】ガラス基板２０上には、走査信号線２１及
びデータ信号線２２が交差して形成されており、この交
差部にＴＦＴ２３及び画素電極２４が形成されている。
ＴＦＴ２３において、走査信号線２１はゲートに、デー
タ信号線２２はソースに、また画素電極２４はドレイン
に接続されている。通常、それらが縦横に複数個並んで
いる。これらを形成したガラス基板２０と、透明電極２
５を有するガラス基板２６は対向しており、両基板間に
液晶２７が注入されている。図中、ＴＦＴ２３は簡略化
して示している。
びデータ信号線２２が交差して形成されており、この交
差部にＴＦＴ２３及び画素電極２４が形成されている。
ＴＦＴ２３において、走査信号線２１はゲートに、デー
タ信号線２２はソースに、また画素電極２４はドレイン
に接続されている。通常、それらが縦横に複数個並んで
いる。これらを形成したガラス基板２０と、透明電極２
５を有するガラス基板２６は対向しており、両基板間に
液晶２７が注入されている。図中、ＴＦＴ２３は簡略化
して示している。
【０００５】カラー表示については、前記画素電極２４
に対向する透明電極２５に対し、１ラインごとに異なる
赤、緑、青の３色（以下Ｒ、Ｇ、Ｂ色と云う）のカラー
フィルタ２８、２９及び３０を設けることによって実現
できる。通常、Ｒ、Ｇ、Ｂの３色をまとめて１画素と呼
ぶ。ガラス基板２０と２６の外側には、図示していない
がフィルム状の偏光板が設けられている。
に対向する透明電極２５に対し、１ラインごとに異なる
赤、緑、青の３色（以下Ｒ、Ｇ、Ｂ色と云う）のカラー
フィルタ２８、２９及び３０を設けることによって実現
できる。通常、Ｒ、Ｇ、Ｂの３色をまとめて１画素と呼
ぶ。ガラス基板２０と２６の外側には、図示していない
がフィルム状の偏光板が設けられている。
【０００６】図７における液晶表示装置は、ガラス基板
２０側の画素電極２４とガラス基板２６側の透明電極２
５との間に電圧が印加された時、液晶分子が真っ直ぐ立
ち、光を透過させず、画面が黒になる。これは、電圧が
印加されない状態で画面が白になるので、ノーマリホワ
イト方式と呼ばれる。図において、Ｒ色及びＧ色につい
ては液晶がねじれ、それぞれのカラーフィルター２８及
び２９を介して光が透過しているが、Ｂ色では光は透過
していない。ここでは、Ｂ色の電極間にのみ電圧が印加
されているが、これは各色の画素電極にＴＦＴを介して
データ信号線（Ｂ色では２２）より入力される電圧を変
化させることで制御できる。
２０側の画素電極２４とガラス基板２６側の透明電極２
５との間に電圧が印加された時、液晶分子が真っ直ぐ立
ち、光を透過させず、画面が黒になる。これは、電圧が
印加されない状態で画面が白になるので、ノーマリホワ
イト方式と呼ばれる。図において、Ｒ色及びＧ色につい
ては液晶がねじれ、それぞれのカラーフィルター２８及
び２９を介して光が透過しているが、Ｂ色では光は透過
していない。ここでは、Ｂ色の電極間にのみ電圧が印加
されているが、これは各色の画素電極にＴＦＴを介して
データ信号線（Ｂ色では２２）より入力される電圧を変
化させることで制御できる。
【０００７】このような液晶表示装置において、カラー
フィルタの形成もしくは組み込みの際に、厚みや特性に
ばらつきが生じた場合、カラー表示ムラが起こる。この
表示ムラを検査するためには、例えばＲ色の表示ムラの
場合、Ｒ色の電極のみ光を透過させるための検査信号を
入力して点灯検査を行っている。具体的には、データ信
号線の端子上に検査用のプローブを接触させてＧ色及び
Ｂ色の電極に駆動用電圧を印加することでＲ色表示を行
う。また、液晶表示装置における画素電極の短絡欠陥、
データ信号線の短絡欠陥等の検査についても、同様にデ
ータ用の信号線の端子にプローブを接触して信号を印加
して行っている。
フィルタの形成もしくは組み込みの際に、厚みや特性に
ばらつきが生じた場合、カラー表示ムラが起こる。この
表示ムラを検査するためには、例えばＲ色の表示ムラの
場合、Ｒ色の電極のみ光を透過させるための検査信号を
入力して点灯検査を行っている。具体的には、データ信
号線の端子上に検査用のプローブを接触させてＧ色及び
Ｂ色の電極に駆動用電圧を印加することでＲ色表示を行
う。また、液晶表示装置における画素電極の短絡欠陥、
データ信号線の短絡欠陥等の検査についても、同様にデ
ータ用の信号線の端子にプローブを接触して信号を印加
して行っている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、液晶表
示装置の表示の高精細化の要求に伴い、画素数の増大及
び画素ピッチの縮小により、検査のためのプローブも数
が増えるとともに間隔の縮小が求められ、検査装置の構
造が複雑かつ高価になってきている。また、プローブの
ピッチが微小となるため、プローブ同士が接触するとい
う問題が生じることもあった。
示装置の表示の高精細化の要求に伴い、画素数の増大及
び画素ピッチの縮小により、検査のためのプローブも数
が増えるとともに間隔の縮小が求められ、検査装置の構
造が複雑かつ高価になってきている。また、プローブの
ピッチが微小となるため、プローブ同士が接触するとい
う問題が生じることもあった。
【０００９】この対策として、特開平７−５４８１号で
は、データ信号線から略垂直方向に分岐させた信号線を
１本おきに２本連続して絶縁膜で被覆しておき、導体の
ショートバーをずらして接触させることで、露出してい
る信号線にＲＧＢの各色ごとの異なる電気信号を入力さ
せてカラー表示の検査を行う方法が提案されている。し
かし、この方法では、３本のショートバーを接触させる
ことができるように絶縁膜を形成するので、表示エリア
外の面積が大きくなってしまい、通常の使用では必要の
ない検査用のエリアのために液晶表示装置自体が大きく
なるという問題が生じてしまう。
は、データ信号線から略垂直方向に分岐させた信号線を
１本おきに２本連続して絶縁膜で被覆しておき、導体の
ショートバーをずらして接触させることで、露出してい
る信号線にＲＧＢの各色ごとの異なる電気信号を入力さ
せてカラー表示の検査を行う方法が提案されている。し
かし、この方法では、３本のショートバーを接触させる
ことができるように絶縁膜を形成するので、表示エリア
外の面積が大きくなってしまい、通常の使用では必要の
ない検査用のエリアのために液晶表示装置自体が大きく
なるという問題が生じてしまう。
【００１０】本発明は、カラー表示ムラや短絡欠陥を容
易に検査できる液晶表示装置及びその検査方法を提供す
ることを目的とする。
易に検査できる液晶表示装置及びその検査方法を提供す
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、末端が開放された、データを入力するため
の複数のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形
成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオ
ードを形成し、第３のラインにはダイオードを形成しな
いことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも前
記末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給す
るショートバーを接触させることができるように前記デ
ータ信号線を形成している。
に本発明は、末端が開放された、データを入力するため
の複数のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形
成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオ
ードを形成し、第３のラインにはダイオードを形成しな
いことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも前
記末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給す
るショートバーを接触させることができるように前記デ
ータ信号線を形成している。
【００１２】また本発明では、前記ダイオードよりも非
末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給する
ショートバーを接触させることができるように前記デー
タ信号線を形成している。
末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給する
ショートバーを接触させることができるように前記デー
タ信号線を形成している。
【００１３】また本発明は、データを入力する複数のデ
ータ信号線より分岐させ末端を開放した検査信号線の第
１のラインにダイオードを形成し、第２のラインに第１
のラインとは逆極性のダイオードを形成し、第３のライ
ンにはダイオードを形成しないことを順に繰り返し、か
つ、前記ダイオードよりも末端側の前記検査信号線部分
に、検査電圧を供給するショートバーを接触させること
ができるように前記検査信号線を形成している。
ータ信号線より分岐させ末端を開放した検査信号線の第
１のラインにダイオードを形成し、第２のラインに第１
のラインとは逆極性のダイオードを形成し、第３のライ
ンにはダイオードを形成しないことを順に繰り返し、か
つ、前記ダイオードよりも末端側の前記検査信号線部分
に、検査電圧を供給するショートバーを接触させること
ができるように前記検査信号線を形成している。
【００１４】また本発明では、前記ダイオードよりも前
記データ信号線側の前記検査信号線部分に、検査電圧を
供給するショートバーを接触させることができるように
前記検査信号線を形成している。
記データ信号線側の前記検査信号線部分に、検査電圧を
供給するショートバーを接触させることができるように
前記検査信号線を形成している。
【００１５】尚、前記第１、第２、第３のラインは、そ
れぞれ赤、緑、青用のデータ信号線である。
れぞれ赤、緑、青用のデータ信号線である。
【００１６】また本発明は、液晶表示装置を検査するた
めに、末端が開放された、データを入力するための複数
のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形成し、
第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオードを
形成し、第３のラインにはダイオードを形成しないこと
を順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも末端側
に、検査電圧を供給するショートバーを接触させること
ができるように形成した前記データ信号線部分に、導体
から成るショートバーを接触させ、該ショートバーに電
圧の異なるＤＣ電圧を順次印加している。
めに、末端が開放された、データを入力するための複数
のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形成し、
第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオードを
形成し、第３のラインにはダイオードを形成しないこと
を順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも末端側
に、検査電圧を供給するショートバーを接触させること
ができるように形成した前記データ信号線部分に、導体
から成るショートバーを接触させ、該ショートバーに電
圧の異なるＤＣ電圧を順次印加している。
【００１７】また本発明は、液晶表示装置を検査するた
めに、末端が開放された、データを入力するための複数
のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形成し、
第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオードを
形成し、第３のラインにはダイオードを形成しないこと
を順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも非末端側
の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給するショー
トバーを接触させることができるように形成した前記デ
ータ信号線部分に、導体から成るショートバーを接触さ
せ、該ショートバーに検査電圧を印加している。
めに、末端が開放された、データを入力するための複数
のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形成し、
第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオードを
形成し、第３のラインにはダイオードを形成しないこと
を順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも非末端側
の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給するショー
トバーを接触させることができるように形成した前記デ
ータ信号線部分に、導体から成るショートバーを接触さ
せ、該ショートバーに検査電圧を印加している。
【００１８】また本発明は、液晶表示装置を検査するた
めに、データを入力する複数のデータ信号線より分岐さ
せ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダイオー
ドを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性の
ダイオードを形成し、第３のラインにはダイオードを形
成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよ
りも末端側に、検査電圧を供給するショートバーを接触
させることができるように形成した前記検査信号線部分
に、導体から成るショートバーを接触させ、該ショート
バーに電圧の異なるＤＣ電圧を順次印加している。
めに、データを入力する複数のデータ信号線より分岐さ
せ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダイオー
ドを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性の
ダイオードを形成し、第３のラインにはダイオードを形
成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよ
りも末端側に、検査電圧を供給するショートバーを接触
させることができるように形成した前記検査信号線部分
に、導体から成るショートバーを接触させ、該ショート
バーに電圧の異なるＤＣ電圧を順次印加している。
【００１９】また本発明は、液晶表示装置を検査するた
めに、データを入力する複数のデータ信号線より分岐さ
せ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダイオー
ドを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性の
ダイオードを形成し、第３のラインにはダイオードを形
成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよ
りも前記データ信号線側の前記検査信号線部分に、検査
電圧を供給するショートバーを接触させることができる
ように形成した前記検査信号線部分に、導体から成るシ
ョートバーを接触させ、該ショートバーに検査電圧を印
加している。
めに、データを入力する複数のデータ信号線より分岐さ
せ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダイオー
ドを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性の
ダイオードを形成し、第３のラインにはダイオードを形
成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよ
りも前記データ信号線側の前記検査信号線部分に、検査
電圧を供給するショートバーを接触させることができる
ように形成した前記検査信号線部分に、導体から成るシ
ョートバーを接触させ、該ショートバーに検査電圧を印
加している。
【００２０】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図を参照して
説明する。図１は、本発明の第１実施形態を示す回路図
で、データ信号線とそれを使った検査方法を示す。尚、
図１において、表示エリア１以外の部分は入力端子部で
ある。表示エリア１内の各ＲＧＢ画素にはＴＡＢ１５と
データ信号線２を通してドライブ信号が入力される。こ
のデータ信号線２は、Ｒ色データ信号線２ａ、Ｇ色デー
タ信号線２ｂ及びＢ色データ信号線２ｃが順に並んで構
成されている。Ｒ色データ信号線２ａ上に正極性ダイオ
ード４を形成し、Ｇ色データ信号線２ｂ上に負極性ダイ
オード５を形成する。また、Ｂ色データ信号線２ｃ上に
はダイオードは形成しない。全てのデータ信号線につい
て、これを順に繰り返す。データ信号線２の正極性ダイ
オード４及び負極性ダイオード５より外側は開放されて
いる。
説明する。図１は、本発明の第１実施形態を示す回路図
で、データ信号線とそれを使った検査方法を示す。尚、
図１において、表示エリア１以外の部分は入力端子部で
ある。表示エリア１内の各ＲＧＢ画素にはＴＡＢ１５と
データ信号線２を通してドライブ信号が入力される。こ
のデータ信号線２は、Ｒ色データ信号線２ａ、Ｇ色デー
タ信号線２ｂ及びＢ色データ信号線２ｃが順に並んで構
成されている。Ｒ色データ信号線２ａ上に正極性ダイオ
ード４を形成し、Ｇ色データ信号線２ｂ上に負極性ダイ
オード５を形成する。また、Ｂ色データ信号線２ｃ上に
はダイオードは形成しない。全てのデータ信号線につい
て、これを順に繰り返す。データ信号線２の正極性ダイ
オード４及び負極性ダイオード５より外側は開放されて
いる。
【００２１】尚、本明細書では、便宜上、Ｒ色データ信
号線２ａ上に図のような向きで形成されたダイオードを
正極性ダイオードといい、Ｇ色データ信号線２ｂ上のダ
イオードのようにその逆の極性に形成されたダイオード
を負極性のダイオードという。
号線２ａ上に図のような向きで形成されたダイオードを
正極性ダイオードといい、Ｇ色データ信号線２ｂ上のダ
イオードのようにその逆の極性に形成されたダイオード
を負極性のダイオードという。
【００２２】表示エリア１の内部の信号線や素子は、通
常フォトリソグラフィーの工程で形成されるが、前記ダ
イオード４及び５は、ＴＦＴ等のアクティブ素子を有す
る液晶表示装置では、素子形成のプロセスにおいてＮ型
層とＰ型層を隣り合わせて形成すれば容易に作成でき
る。
常フォトリソグラフィーの工程で形成されるが、前記ダ
イオード４及び５は、ＴＦＴ等のアクティブ素子を有す
る液晶表示装置では、素子形成のプロセスにおいてＮ型
層とＰ型層を隣り合わせて形成すれば容易に作成でき
る。
【００２３】図２（ａ）は、Ｒ色データ信号線２ａに設
けられたダイオード４の特性を示す図であり、同図
（ｂ）はＧ色データ信号線２ｂに設けられたダイオード
５の特性を示す図である。（ｂ）において、ダイオード
５はＥ3で順方向電流が流れ出すが、Ｅ3はほぼ０Ｖであ
る。
けられたダイオード４の特性を示す図であり、同図
（ｂ）はＧ色データ信号線２ｂに設けられたダイオード
５の特性を示す図である。（ｂ）において、ダイオード
５はＥ3で順方向電流が流れ出すが、Ｅ3はほぼ０Ｖであ
る。
【００２４】図１において、検査が終了するまではＴＡ
Ｂ１５は施されない。今、カラー表示ムラの検査を行う
場合、データ信号線２上のダイオード４及び５より外側
（開放側）に、全てのデータ信号線に接触するように、
導体のショートバー６を載置する。データ信号線２は、
外側にショートバー６を載置できる長さを有した状態で
開放されており、カラー表示ムラの検査においては、シ
ョートバー６に異なる３種類のＤＣ電圧を順次印加して
検査を行う。
Ｂ１５は施されない。今、カラー表示ムラの検査を行う
場合、データ信号線２上のダイオード４及び５より外側
（開放側）に、全てのデータ信号線に接触するように、
導体のショートバー６を載置する。データ信号線２は、
外側にショートバー６を載置できる長さを有した状態で
開放されており、カラー表示ムラの検査においては、シ
ョートバー６に異なる３種類のＤＣ電圧を順次印加して
検査を行う。
【００２５】図３の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、それぞ
れＲ色表示、Ｇ色表示、Ｂ色表示におけるショートバー
の電圧と透明電極の電圧、そのときの３種類のデータ信
号線の電圧を示す図である。図１の液晶表示エリア１
は、図７で示したようなノーマリホワイト方式の表示エ
リアとする。即ち、画素電極に接続したデータ信号線と
透明電極の間に電位差がない場合のみ、光が透過する。
れＲ色表示、Ｇ色表示、Ｂ色表示におけるショートバー
の電圧と透明電極の電圧、そのときの３種類のデータ信
号線の電圧を示す図である。図１の液晶表示エリア１
は、図７で示したようなノーマリホワイト方式の表示エ
リアとする。即ち、画素電極に接続したデータ信号線と
透明電極の間に電位差がない場合のみ、光が透過する。
【００２６】Ｒ色のカラーフィルタの表示ムラの検査の
ためＲ色表示を行う場合、図３（ａ）のように、ショー
トバー６に、正極性ダイオード４により実際に液晶表示
エリア１の入力信号となるＲ色データライン電圧が０Ｖ
になるような電圧−Ｅ1Ｖを印加すれば、負極性ダイオ
ード５によりＧ色データライン電圧は−Ｅ1Ｖに、さら
にダイオードが形成されていないＢ色データ信号線２ｃ
即ちＢ色データライン電圧はそのまま−Ｅ1Ｖとなる。
この時、対向する透明電極に０Ｖの電圧を印加すれば、
Ｒ色データライン電圧が０Ｖで電位差がなくなり、Ｒ色
のみの表示が可能となる。このように、ショートバー６
に単一のＤＣ電圧−Ｅ1Ｖを印加し、透明電極の電圧を
調整するだけで、各色のデータライン電圧としてＲ色表
示に必要な電圧が供給できる。
ためＲ色表示を行う場合、図３（ａ）のように、ショー
トバー６に、正極性ダイオード４により実際に液晶表示
エリア１の入力信号となるＲ色データライン電圧が０Ｖ
になるような電圧−Ｅ1Ｖを印加すれば、負極性ダイオ
ード５によりＧ色データライン電圧は−Ｅ1Ｖに、さら
にダイオードが形成されていないＢ色データ信号線２ｃ
即ちＢ色データライン電圧はそのまま−Ｅ1Ｖとなる。
この時、対向する透明電極に０Ｖの電圧を印加すれば、
Ｒ色データライン電圧が０Ｖで電位差がなくなり、Ｒ色
のみの表示が可能となる。このように、ショートバー６
に単一のＤＣ電圧−Ｅ1Ｖを印加し、透明電極の電圧を
調整するだけで、各色のデータライン電圧としてＲ色表
示に必要な電圧が供給できる。
【００２７】同様に、Ｇ色のカラーフィルタの表示ムラ
の検査のためＧ色表示を行う場合、図３（ｂ）のよう
に、ショートバー６に、負極性ダイオード５によりＧ色
データライン電圧が０Ｖになるような電圧＋Ｅ2Ｖを印
加すれば、正極性ダイオード４により、Ｒ色データライ
ン電圧は（Ｅ2−Ｅ）Ｖになり、さらにダイオードが形
成されていないＢ色データライン電圧はそのまま＋Ｅ2
Ｖとなる。この時、対向する透明電極に０Ｖの電圧を印
加すれば、Ｇ色データライン電圧との電位差がなくな
り、Ｇ色のみの表示が可能となる。
の検査のためＧ色表示を行う場合、図３（ｂ）のよう
に、ショートバー６に、負極性ダイオード５によりＧ色
データライン電圧が０Ｖになるような電圧＋Ｅ2Ｖを印
加すれば、正極性ダイオード４により、Ｒ色データライ
ン電圧は（Ｅ2−Ｅ）Ｖになり、さらにダイオードが形
成されていないＢ色データライン電圧はそのまま＋Ｅ2
Ｖとなる。この時、対向する透明電極に０Ｖの電圧を印
加すれば、Ｇ色データライン電圧との電位差がなくな
り、Ｇ色のみの表示が可能となる。
【００２８】さらに、Ｂ色のカラーフィルタの表示ムラ
の検査のためＢ色表示を行う場合、図３（ｃ）のよう
に、ショートバー６に＋ＥＶを印加すれば、正極性ダイ
オード４により、Ｒ色データライン電圧は０Ｖになり、
負極性ダイオード５によりＧ色データライン電圧も同様
に０Ｖに、さらにダイオードが形成されていないＢ色デ
ータライン電圧はそのまま＋ＥＶとなる。この時、対向
する透明電極に＋ＥＶの電圧を印加すれば、Ｂ色データ
ライン電圧との電位差がなくなり、Ｂ色のみの表示が可
能となる。
の検査のためＢ色表示を行う場合、図３（ｃ）のよう
に、ショートバー６に＋ＥＶを印加すれば、正極性ダイ
オード４により、Ｒ色データライン電圧は０Ｖになり、
負極性ダイオード５によりＧ色データライン電圧も同様
に０Ｖに、さらにダイオードが形成されていないＢ色デ
ータライン電圧はそのまま＋ＥＶとなる。この時、対向
する透明電極に＋ＥＶの電圧を印加すれば、Ｂ色データ
ライン電圧との電位差がなくなり、Ｂ色のみの表示が可
能となる。
【００２９】図４は、ノーマリホワイト方式における透
明電極とデータ信号線の電位差と液晶透過率の関係を示
す図である。上記の検査はこの関係を考慮して行ってお
り、例えば、Ｅ＝＋３．５Ｖ〜＋５Ｖ、Ｅ1＝−３．５
Ｖ〜−１０Ｖ、Ｅ2＝＋７Ｖ〜＋１０Ｖを設定すれば、
Ｅ2−Ｅ＝＋３．５Ｖ〜＋５Ｖとなり、この場合の透過
率の低さより、図１（ａ）に示すような各色のカラー表
示の検査がショートバー６への単一電圧の印加で可能と
なる。
明電極とデータ信号線の電位差と液晶透過率の関係を示
す図である。上記の検査はこの関係を考慮して行ってお
り、例えば、Ｅ＝＋３．５Ｖ〜＋５Ｖ、Ｅ1＝−３．５
Ｖ〜−１０Ｖ、Ｅ2＝＋７Ｖ〜＋１０Ｖを設定すれば、
Ｅ2−Ｅ＝＋３．５Ｖ〜＋５Ｖとなり、この場合の透過
率の低さより、図１（ａ）に示すような各色のカラー表
示の検査がショートバー６への単一電圧の印加で可能と
なる。
【００３０】図５は、上記のような検査において検出で
きる短絡欠陥を示す回路図である。ＴＦＴ７のソースに
データ信号線２ａが、ゲートに走査信号線８が接続され
ている。ドレインは画素電極９ａに接続され、この画素
電極と対向するガラス基板に形成された透明電極１１の
間に液晶１０が封入されている。また、並列にコンデン
サー１２が形成されている。
きる短絡欠陥を示す回路図である。ＴＦＴ７のソースに
データ信号線２ａが、ゲートに走査信号線８が接続され
ている。ドレインは画素電極９ａに接続され、この画素
電極と対向するガラス基板に形成された透明電極１１の
間に液晶１０が封入されている。また、並列にコンデン
サー１２が形成されている。
【００３１】例えば、Ｒ色表示の検査においては、Ｒ色
データ信号線２ａに接続した画素電極９ａのみの表示が
行われるが、この時、画素電極９ｂにおいても表示が行
われた場合、画素電極９ａと画素電極９ｂの短絡欠陥
（抵抗１３で表す）があることがわかり、点欠陥として
検出できる。また、データ信号線２ｂに接続された画素
全てで表示が行われた場合は、データ信号線２ａ及び２
ｂの短絡欠陥（抵抗１４で表す）があることがわかり、
線欠陥として検出できる。
データ信号線２ａに接続した画素電極９ａのみの表示が
行われるが、この時、画素電極９ｂにおいても表示が行
われた場合、画素電極９ａと画素電極９ｂの短絡欠陥
（抵抗１３で表す）があることがわかり、点欠陥として
検出できる。また、データ信号線２ｂに接続された画素
全てで表示が行われた場合は、データ信号線２ａ及び２
ｂの短絡欠陥（抵抗１４で表す）があることがわかり、
線欠陥として検出できる。
【００３２】さらに、表示が行われるべき画素で表示が
行われなかった場合、その画素電極に接続されたＴＦＴ
の欠陥が検出できる。
行われなかった場合、その画素電極に接続されたＴＦＴ
の欠陥が検出できる。
【００３３】図１（ｂ）は、白黒中間表示の際の検査方
法を示す図である。即ち、データ信号線２上のダイオー
ド４及び５より内側（表示エリア１側）に、全てのデー
タ信号線に接触するように、導体のショートバー６を載
置する。データ信号線２は、内側にショートバー６を載
置できる長さを有した状態で形成されている。ショート
バー６からデータ信号線２へ検査信号を入力すること
で、白黒中間表示のムラや欠陥の検出が可能となる。
法を示す図である。即ち、データ信号線２上のダイオー
ド４及び５より内側（表示エリア１側）に、全てのデー
タ信号線に接触するように、導体のショートバー６を載
置する。データ信号線２は、内側にショートバー６を載
置できる長さを有した状態で形成されている。ショート
バー６からデータ信号線２へ検査信号を入力すること
で、白黒中間表示のムラや欠陥の検出が可能となる。
【００３４】以上の検査が終了した後、ＴＡＢ１５を図
１（ａ）に示す位置に貼着することによってＴＡＢ１５
上のデータ信号線と前記データ信号線２を接続する。通
常動作の際のデータ信号は、ドライブＩＣ（図示せず）
からＴＡＢ１５及びデータ信号線２を通してダイオード
４、５よりもエリア１側の点に供給されるので、検査用
のダイオード４及び５を切除する必要はない。
１（ａ）に示す位置に貼着することによってＴＡＢ１５
上のデータ信号線と前記データ信号線２を接続する。通
常動作の際のデータ信号は、ドライブＩＣ（図示せず）
からＴＡＢ１５及びデータ信号線２を通してダイオード
４、５よりもエリア１側の点に供給されるので、検査用
のダイオード４及び５を切除する必要はない。
【００３５】図６は、本発明の第２実施形態を示す回路
図である。表示エリア１内の各ＲＧＢ画素にドライブ信
号を入力するデータ信号線２から検査信号線３を分岐さ
せる。データ信号線２は、Ｒ色データ信号線２ａ、Ｇ色
データ信号線２ｂ及びＢ色データ信号線２ｃが順に並ん
で構成されており、同様に分岐した検査信号線３も、
Ｒ、Ｇ、Ｂの順に並んでいる。Ｒ色検査信号線３ａ上に
正極性ダイオード４を形成し、Ｇ色検査信号線３ｂ上に
負極性ダイオード５を形成する。また、Ｂ色検査信号線
３ｃ上にはダイオードは形成しない。全ての検査信号線
について、これを順に繰り返し、検査信号線３の正極性
ダイオード４及び負極性ダイオード５より外側は開放し
ておく。
図である。表示エリア１内の各ＲＧＢ画素にドライブ信
号を入力するデータ信号線２から検査信号線３を分岐さ
せる。データ信号線２は、Ｒ色データ信号線２ａ、Ｇ色
データ信号線２ｂ及びＢ色データ信号線２ｃが順に並ん
で構成されており、同様に分岐した検査信号線３も、
Ｒ、Ｇ、Ｂの順に並んでいる。Ｒ色検査信号線３ａ上に
正極性ダイオード４を形成し、Ｇ色検査信号線３ｂ上に
負極性ダイオード５を形成する。また、Ｂ色検査信号線
３ｃ上にはダイオードは形成しない。全ての検査信号線
について、これを順に繰り返し、検査信号線３の正極性
ダイオード４及び負極性ダイオード５より外側は開放し
ておく。
【００３６】表示エリア１の内部の信号線や素子は、通
常フォトリソグラフィーの工程で形成されるが、前記デ
ータ信号線２の分岐は同様の工程で形成が可能である。
また、前記ダイオード４及び５は、前述のようにＴＦＴ
等のアクティブ素子を有する液晶表示装置では、素子形
成のプロセスにおいてＮ型層とＰ型層を隣り合わせて形
成すれば容易に作成できる。
常フォトリソグラフィーの工程で形成されるが、前記デ
ータ信号線２の分岐は同様の工程で形成が可能である。
また、前記ダイオード４及び５は、前述のようにＴＦＴ
等のアクティブ素子を有する液晶表示装置では、素子形
成のプロセスにおいてＮ型層とＰ型層を隣り合わせて形
成すれば容易に作成できる。
【００３７】図６の第２実施形態においても、検査方法
は図１に示した第１実施形態と同様で、ダイオード４及
び５の前後にショートバー６を載置して単一のＤＣ電圧
を印加してそれぞれの検査を行う。同図のＲ色検査信号
線３ａに形成されたダイオード４は、図１においてＲ色
データ信号線２ａに形成されたダイオード４と同じ特性
を有し、Ｇ色検査信号線３ｂに形成されたダイオード５
は図１のＧ色データ信号線２ｂに形成されたダイオード
５と同じ特性を有している。
は図１に示した第１実施形態と同様で、ダイオード４及
び５の前後にショートバー６を載置して単一のＤＣ電圧
を印加してそれぞれの検査を行う。同図のＲ色検査信号
線３ａに形成されたダイオード４は、図１においてＲ色
データ信号線２ａに形成されたダイオード４と同じ特性
を有し、Ｇ色検査信号線３ｂに形成されたダイオード５
は図１のＧ色データ信号線２ｂに形成されたダイオード
５と同じ特性を有している。
【００３８】通常動作の際のデータ信号は、図６のデー
タ信号線２からダイオード４及び５を介さずに直接表示
エリア１に入力されるので、検査用のダイオード４及び
５を切除する必要はない。
タ信号線２からダイオード４及び５を介さずに直接表示
エリア１に入力されるので、検査用のダイオード４及び
５を切除する必要はない。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
簡単で確実な接触のできるショートバーから単一のＤＣ
電圧を印加するだけで、ダイオードの極性と有無により
所望のカラー表示ができるので、容易にカラー表示ムラ
の検出が可能となる液晶表示装置が実現できる。従っ
て、液晶表示装置の検査において、プローブによる全デ
ータ信号端子への接触による検査電圧の印加が不要にな
り、細いプローブによる接触ミスや微小な間隔のプロー
ブの短絡等から生じる検査ミスの問題が解消される。こ
のとき、検査用エリアのために、液晶表示装置の面積が
大幅に増大することはない。
簡単で確実な接触のできるショートバーから単一のＤＣ
電圧を印加するだけで、ダイオードの極性と有無により
所望のカラー表示ができるので、容易にカラー表示ムラ
の検出が可能となる液晶表示装置が実現できる。従っ
て、液晶表示装置の検査において、プローブによる全デ
ータ信号端子への接触による検査電圧の印加が不要にな
り、細いプローブによる接触ミスや微小な間隔のプロー
ブの短絡等から生じる検査ミスの問題が解消される。こ
のとき、検査用エリアのために、液晶表示装置の面積が
大幅に増大することはない。
【００４０】また、液晶表示装置の検査において、ダイ
オードよりも表示エリア側にショートバーを接続するこ
ともできるので、プローブによる全データ信号端子への
接触による検査信号の入力が不要になり、ショートバー
による簡単で確実な接触により白黒中間表示のムラや欠
陥の検出が可能となる液晶表示装置が実現できる。
オードよりも表示エリア側にショートバーを接続するこ
ともできるので、プローブによる全データ信号端子への
接触による検査信号の入力が不要になり、ショートバー
による簡単で確実な接触により白黒中間表示のムラや欠
陥の検出が可能となる液晶表示装置が実現できる。
【００４１】また、第１、第２、第３のラインの全てに
ショートバーが接触しても、ダイオードの極性と有無に
より、赤、緑、青のいずれかのカラー表示が有効になっ
て、容易にカラー表示ムラの検出ができる液晶表示装置
が得られる。
ショートバーが接触しても、ダイオードの極性と有無に
より、赤、緑、青のいずれかのカラー表示が有効になっ
て、容易にカラー表示ムラの検出ができる液晶表示装置
が得られる。
【００４２】本発明の検査方法によると、ダイオードの
極性と有無により、ショートバーによる簡単で確実な接
触をとり、単一のＤＣ電圧を印加するだけで異なった種
類のカラー表示が行え、表示ムラの検出が可能になる。
従って、カラー表示ムラの検査において、プローブを全
データ信号端子に接触させて、各々のデータ信号線に所
定の検査電圧を印加する必要がなくなり、検査ミスが減
少し、検査コストが大幅に削減できる。
極性と有無により、ショートバーによる簡単で確実な接
触をとり、単一のＤＣ電圧を印加するだけで異なった種
類のカラー表示が行え、表示ムラの検出が可能になる。
従って、カラー表示ムラの検査において、プローブを全
データ信号端子に接触させて、各々のデータ信号線に所
定の検査電圧を印加する必要がなくなり、検査ミスが減
少し、検査コストが大幅に削減できる。
【図１】 本発明の第１の実施形態を示す回路図であ
る。
る。
【図２】 データ信号線に設けられたダイオードの特性
を示す図である。
を示す図である。
【図３】 ショートバー、透明電極、データ信号線の電
圧を示す図である。
圧を示す図である。
【図４】 透明電極とデータ信号線の電位差と液晶透過
率の関係を示す図である。
率の関係を示す図である。
【図５】 画素電極及びデータ信号線の短絡欠陥を示す
回路図である。
回路図である。
【図６】 本発明の第２の実施形態を示す回路図であ
る。
る。
【図７】 液晶表示装置の構造を示す斜視図である。
１ 表示エリア ２、２２ データ信号線 ２ａ Ｒ色データ信号線 ２ｂ Ｇ色データ信号線 ２ｃ Ｂ色データ信号線 ３ 検査信号線 ３ａ Ｒ色検査信号線 ３ｂ Ｇ色検査信号線 ３ｃ Ｂ色検査信号線 ４ 正極性ダイオード ５ 負極性ダイオード ６ ショートバー ７、２３ ＴＦＴ ８、２１ 走査信号線 ９ａ、９ｂ、２４ 画素電極 １０、２７ 液晶 １１、２５ 透明電極 １２ コンデンサー １３、１４ 抵抗 ２０、２６ ガラス基板 ２８、２９、３０ カラーフィルタ
Claims (10)
- 【請求項１】末端が開放された、データを入力するため
の複数のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形
成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオ
ードを形成し、第３のラインにはダイオードを形成しな
いことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも前
記末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給す
るショートバーを接触させることができるように前記デ
ータ信号線を形成したことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項２】前記ダイオードよりも非末端側の前記デー
タ信号線部分に、検査電圧を供給するショートバーを接
触させることができるように前記データ信号線を形成し
たことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。 - 【請求項３】データを入力する複数のデータ信号線より
分岐させ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダ
イオードを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆
極性のダイオードを形成し、第３のラインにはダイオー
ドを形成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオ
ードよりも末端側の前記検査信号線部分に、検査電圧を
供給するショートバーを接触させることができるように
前記検査信号線を形成したことを特徴とする液晶表示装
置。 - 【請求項４】前記ダイオードよりも前記データ信号線側
の前記検査信号線部分に、検査電圧を供給するショート
バーを接触させることができるように前記検査信号線を
形成したことを特徴とする請求項３に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項５】前記第１、第２、第３のラインは、それぞ
れ赤、緑、青用のデータ信号線であることを特徴とする
請求項１から４のいずれかに記載の液晶表示装置。 - 【請求項６】末端が開放された、データを入力するため
の複数のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形
成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオ
ードを形成し、第３のラインにはダイオードを形成しな
いことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも前
記末端側に、検査電圧を供給するショートバーを接触さ
せることができるように形成した前記データ信号線部分
に、導体から成るショートバーを接触させ、該ショート
バーに電圧の異なるＤＣ電圧を順次印加することを特徴
とする液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項７】末端が開放された、データを入力するため
の複数のデータ信号線の第１のラインにダイオードを形
成し、第２のラインに第１のラインとは逆極性のダイオ
ードを形成し、第３のラインにはダイオードを形成しな
いことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオードよりも非
末端側の前記データ信号線部分に、検査電圧を供給する
ショートバーを接触させることができるように形成した
前記検査信号線部分に、導体から成るショートバーを接
触させ、該ショートバーに検査電圧を印加することを特
徴とする請求項６に記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項８】データを入力する複数のデータ信号線より
分岐させ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダ
イオードを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆
極性のダイオードを形成し、第３のラインにはダイオー
ドを形成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオ
ードよりも末端側に、検査電圧を供給するショートバー
を接触させることができるように形成した前記検査信号
線部分に、導体から成るショートバーを接触させ、該シ
ョートバーに電圧の異なるＤＣ電圧を順次印加すること
を特徴とする液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項９】データを入力する複数のデータ信号線より
分岐させ末端を開放した検査信号線の第１のラインにダ
イオードを形成し、第２のラインに第１のラインとは逆
極性のダイオードを形成し、第３のラインにはダイオー
ドを形成しないことを順に繰り返し、かつ、前記ダイオ
ードよりも前記データ信号線側の前記検査信号線部分
に、検査電圧を供給するショートバーを接触させること
ができるように形成した前記検査信号線部分に、導体か
ら成るショートバーを接触させ、該ショートバーに検査
電圧を印加することを特徴とする請求項８に記載の液晶
表示装置の検査方法。 - 【請求項１０】前記第１、第２、第３のラインは、それ
ぞれ赤、緑、青用のデータ信号線であることを特徴とす
る請求項６から９のいずれかに記載の液晶表示装置の検
査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000134172A JP3591713B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
| US09/845,637 US6757047B2 (en) | 2000-05-08 | 2001-04-30 | Liquid crystal display device and testing method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000134172A JP3591713B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001318356A true JP2001318356A (ja) | 2001-11-16 |
| JP3591713B2 JP3591713B2 (ja) | 2004-11-24 |
Family
ID=18642499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000134172A Expired - Fee Related JP3591713B2 (ja) | 2000-05-08 | 2000-05-08 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6757047B2 (ja) |
| JP (1) | JP3591713B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102012593B (zh) * | 2009-09-07 | 2012-02-15 | 上海天马微电子有限公司 | 液晶显示装置的阵列基板 |
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|---|---|---|---|---|
| TWI330339B (en) * | 2004-06-25 | 2010-09-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Lcd panel inspecting system and method |
| CN103163669B (zh) * | 2011-12-16 | 2016-02-24 | 上海中航光电子有限公司 | 液晶显示装置 |
| CN102854646B (zh) * | 2012-09-25 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶基板的固化电压施加装置 |
| CN105759472A (zh) * | 2016-05-06 | 2016-07-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 面板检测单元、阵列基板及液晶显示装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH075481A (ja) | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Fujitsu Ltd | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
| JP3213472B2 (ja) * | 1994-04-26 | 2001-10-02 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 |
| JPH10288950A (ja) * | 1997-04-14 | 1998-10-27 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP4260250B2 (ja) * | 1997-09-25 | 2009-04-30 | 三星電子株式会社 | 静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法 |
| GB2342213B (en) * | 1998-09-30 | 2003-01-22 | Lg Philips Lcd Co Ltd | Thin film transistor substrate with testing circuit |
-
2000
- 2000-05-08 JP JP2000134172A patent/JP3591713B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-04-30 US US09/845,637 patent/US6757047B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102012593B (zh) * | 2009-09-07 | 2012-02-15 | 上海天马微电子有限公司 | 液晶显示装置的阵列基板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020126230A1 (en) | 2002-09-12 |
| JP3591713B2 (ja) | 2004-11-24 |
| US6757047B2 (en) | 2004-06-29 |
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| KR101147835B1 (ko) | 액정 표시 패널의 검사 장치 |
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