JP2001297999A - 切削装置 - Google Patents

切削装置

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JP2001297999A
JP2001297999A JP2000110788A JP2000110788A JP2001297999A JP 2001297999 A JP2001297999 A JP 2001297999A JP 2000110788 A JP2000110788 A JP 2000110788A JP 2000110788 A JP2000110788 A JP 2000110788A JP 2001297999 A JP2001297999 A JP 2001297999A
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distance
axis
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rotating blade
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JP2000110788A
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Kazuma Sekiya
一馬 関家
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Disco Corp
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被加工物を保持する保持手段と回転ブレード
を備えた切削手段との相対的な切削方向、割り出し方向
及び切り込み方向の移動によって被加工物を切削する切
削装置において、回転ブレードを交換した場合において
も、煩雑な作業をすることなく誤差のない精密な切削を
可能とする。 【解決手段】 切削装置の所要位置に、その所要位置か
ら回転ブレードまでの割り出し方向の距離を測定する距
離測定手段40を配設し、回転ブレード24を交換した
際に、距離測定手段40から交換前の基準位置にある回
転ブレードまでの距離と交換後の回転ブレード24まで
の距離との差を求めて補正値とし、補正値に基づいて切
削手段23の割り出し方向の調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被加工物を切削す
る切削装置に関し、特に、例えば半導体ウェーハのよう
に精密な切削が要求される切削装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェーハ等の被加工物を精密切削
する切削装置は、例えば図5に示すように、回転ブレー
ド24を備えた切削手段23と、撮像手段37を備えた
アライメント手段36と、被加工物を保持する保持手段
15とを備えており、図示したように保持テープTを介
してフレームFに保持された半導体ウェーハWが保持手
段15に保持され、保持手段15がX軸方向に移動して
アライメント手段36によって切削すべきストリートが
検出されてから、更に保持手段15がX軸方向に移動す
ると共に切削手段23が下降して半導体ウェーハWに切
り込むことによりストリートが切削される。
【0003】ここで、アライメント手段36と切削手段
23とは一体的に構成され、両者は一体となってY軸方
向及びZ軸方向に移動できる構成となっている。また、
アライメント手段36には、例えばCCDカメラからな
る撮像手段37を備えており、撮像手段37における撮
像領域には、図6に示すような基準線であるヘアーライ
ン39がX軸方向に予め形成されている。
【0004】そして、ヘアーライン39と回転ブレード
24とは、図7に示すように、Y軸方向の座標が等しく
なるように、即ちX軸方向に一直線上となるように予め
調整されており、撮像手段37をY軸方向に移動させな
がら切削すべきストリートを撮像してそのストリートと
ヘアーライン39とが合致したときには、そのストリー
トと回転ブレード24とが一直線上に位置することにな
る。
【0005】このようにして切削位置のアライメントが
行われると、その状態で保持手段15をX軸方向に移動
させながら切削手段23を+Z方向に下降させることに
より、回転ブレード24が切削すべきストリートに切り
込んで、当該ストリートが切削される。
【0006】また、ストリート間隔分だけ切削手段23
をY軸方向に割り出し送りしながら同様の切削を行うこ
とにより、同方向のストリートがすべて切削される。そ
して更に、保持テーブル15を90度回転させて上記と
同様の切削を行うことにより、すべてのストリートが縦
横に切削されて個々のチップに分割される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにしてストリートを誤差なく切削するためには、ヘ
アーライン39と回転ブレード24とのY座標が一致し
ていることが条件となるが、例えば回転ブレードの寿命
により新しい回転ブレードに交換した場合は、回転ブレ
ードには製品ごとの微妙なバラツキがあるため、新たに
装着した回転ブレードとヘアーライン39とはY座標が
一致しないことがある。
【0008】また、回転ブレード24は、図8(A)、
(B)に示すように、回転スピンドル50に装着してか
らナット51を回転スピンドル50の先端部に形成され
た雄ネジ部52に螺合させてマウンタ53とナット51
とで挟持することにより固定されるため、ナット51の
締め具合等によっては、交換前と同様の装着状態になる
とは限らず、このような回転ブレード24の装着状態に
起因してヘアーライン39とY座標が一致しなくなるこ
ともある。
【0009】従って、新たな回転ブレードを装着した場
合には、保持手段15にダミーウェーハを保持させて新
たな回転ブレードを用いて切削を行って切削溝を形成
し、形成された切削溝を撮像手段37によって撮像し、
図9に示すように切削溝54とヘアーライン39とが合
致しない場合には、モニター45を見ながらアライメン
ト手段36の位置を調整ネジ等により調整して図10の
ように両者を合致させるという煩雑な作業をしなければ
ならない。
【0010】また、半導体ウェーハの切削途中で回転ブ
レード24が破損した場合には、破損した回転ブレード
を回転スピンドル50から取り外して新たな回転ブレー
ドを装着し、更に切削途中の半導体ウェーハを保持手段
15から取り外してダミーウェーハに交換し、新たに装
着した回転ブレードを用いてダミーウェーハを切削して
切削溝を形成し、上記と同様に、形成された切削溝とヘ
アーライン39とを合致させる作業をしなければならな
い。
【0011】そして更に、その作業が完了した後に、ダ
ミーウェーハを保持手段15から取り外して切削途中の
半導体ウェーハを保持させ、再度ストリートを撮像して
アライメントを行なってから切削を再開しなければなら
ず、作業性及び生産性が極めて悪いという問題がある。
【0012】このように、精密な切削が要求される切削
装置においては、回転ブレードを交換した場合において
も、煩雑な作業をすることなく誤差のない精密な切削を
可能とすることに課題を有している。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、被加工物を保持する保持
手段と、保持手段に保持された被加工物を切削する回転
ブレードを含む切削手段とから少なくとも構成され、保
持手段と切削手段との相対的な切削方向、割り出し方向
及び切り込み方向の移動によって被加工物を切削する切
削装置であって、切削装置の所要位置には、所要位置か
ら回転ブレードまでの割り出し方向の距離を測定する距
離測定手段が配設されている切削装置を提供する。
【0014】そしてこの切削装置は、距離測定手段に
は、距離測定手段から回転ブレードまでの割り出し方向
の距離を記憶する第一の記憶手段と、測定手段から所定
の基準位置までの割り出し方向の距離を予め記憶する第
二の記憶手段と、第一の記憶手段に記憶されている距離
の値と第二の記憶手段に記憶されている距離の値との差
を求めて補正値とする補正値算出手段とが接続され、補
正値算出手段によって算出された補正値に基づいて回転
ブレードの割り出し方向の位置を補正して、回転ブレー
ドの位置を所定の基準位置に合致させること、保持手段
に保持された被加工物の切削すべき領域を撮像して回転
ブレードと切削すべき領域との割り出し方向の位置を合
致させるアライメント手段が配設され、アライメント手
段を構成する撮像手段の撮像領域には、撮像した切削す
べき領域と回転ブレードの割り出し方向の位置とを合致
させるための基準線であるヘアーラインが形成されてお
り、ヘアーラインを所定の基準位置として回転ブレード
までの割り出し方向の距離を測定すること、切削手段に
新たな回転ブレードが装着された際に、回転ブレードの
割り出し方向の位置が補正されること、保持手段は、切
削方向をX軸方向とした場合にX軸方向に移動可能なX
軸移動テーブルと、X軸移動テーブルに割り出し回転可
能に配設され被加工物を保持する保持テーブルとから少
なくとも構成され、切削手段は、回転ブレードを回転可
能に支持するスピンドルユニットと、割り出し方向をY
軸方向とした場合にスピンドルユニットをY軸方向に移
動可能に支持するY軸移動基台と、切り込み方向をZ軸
方向とした場合にスピンドルユニットをZ軸方向に移動
可能に支持するZ軸スライダーとから少なくとも構成さ
れ、距離測定手段は、X軸移動テーブルの所要位置に配
設され、保持手段のX軸方向の移動と切削手段のY軸方
向及びZ軸方向の移動とによって、距離測定手段と回転
ブレードとがY軸方向の対向する位置に位置付けられ、
距離測定手段から回転ブレードまでのY軸方向の距離が
測定されることを付加的要件とする。
【0015】上記のように構成される切削装置において
は、回転ブレードまでの割り出し方向の距離を測定でき
る距離測定手段が配設されており、その測定した距離と
回転ブレードの基準位置までの距離との差を補正値とし
て算出し、その補正値に基づいて回転ブレードの割り出
し方向の位置を調整することができるため、回転ブレー
ドを交換した場合でも、回転ブレードの製品ごとのバラ
ツキや装着誤差等に対応して、常に精密な切削を行うこ
とが可能となる。
【0016】また、回転ブレードを交換した場合に、ダ
ミーウェーハを切削して形成された切削溝を撮像してア
ライメント手段の位置を調整するといった作業が不要と
なる。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明に係る切削装置の実施の形
態の一例について、図面を参照して説明する。なお、従
来例と同様に構成される部位については同一の符号を付
して説明する。
【0018】図1に示す切削装置10を用いて、例えば
半導体ウェーハを切削する場合は、切削しようとする半
導体ウェーハWは、保持テープTを介してフレームFに
保持された状態でカセット11に複数収容される。
【0019】そして、カセット11に収容された半導体
ウェーハWは、搬出入手段12によって仮置き領域13
に搬出されてから、搬送手段14によって保持手段15
に搬送される。
【0020】図2に示すように、保持手段15は、被加
工物を保持する保持テーブル16と保持テーブル16を
回転可能に支持するX軸移動テーブル17とから構成さ
れ、X軸移動テーブル17はX軸スライダー18によっ
てX軸方向に移動可能に支持されている。
【0021】ここで、X軸スライダー18は、切削方向
であるX軸方向に配設されたX軸ガイドレール19と、
X軸ガイドレール19に摺動可能に支持されたX軸移動
基台20と、X軸移動基台20に形成されたナット部
(図示せず)に螺合するX軸ボールネジ21と、X軸ボ
ールネジ21を回転駆動するX軸駆動源22とから構成
されており、保持手段15はX軸移動基台20に固定さ
れている。
【0022】保持手段15に保持された半導体ウェーハ
Wに切削を施す切削手段23は、回転ブレード24を回
転可能に支持するスピンドルユニット25と、スピンド
ルユニット25を割り出し方向であるY軸方向に移動可
能に支持するY軸スライダー26と、スピンドルユニッ
ト25を切り込み方向であるZ軸方向に移動可能に支持
するZ軸スライダー27とから構成される。
【0023】ここで、Y軸スライダー26は、Y軸方向
に配設されたY軸ガイドレール28と、Y軸ガイドレー
ル28に摺動可能に支持されたY軸移動基台29と、Y
軸移動基台29に形成されたナット部(図示せず)に螺
合するY軸ボールネジ30と、Y軸ボールネジ30を回
転駆動するY軸駆動源31とから構成される。
【0024】一方、Z軸スライダー27は、壁部32の
側面においてZ軸方向に配設されたZ軸ガイドレール3
3と、スピンドルユニット25を支持すると共にZ軸ガ
イドレール33に摺動可能に支持された昇降部34と、
Z軸方向に配設されて昇降部33に形成されたナット部
(図示せず)に螺合するZ軸ボールネジ(図示せず)
と、Z軸ボールネジを回転駆動するZ軸駆動源35とか
ら構成される。
【0025】スピンドルユニット25の側部にはアライ
メント手段36が固定されており、このアライメント手
段36には、下方に向けて配設されたCCDカメラ等か
らなる撮像手段37を備えている。撮像手段37におけ
る画像が撮像される撮像領域38には、図6に示したよ
うに、基準線であるヘアーライン39がX軸方向に予め
形成されており、このような画像は、図1に示した切削
装置10の上部に備えたモニター45に表示させること
ができる。
【0026】更に、保持手段15を構成するX軸移動テ
ーブル17には、回転ブレード24との距離を精密に測
定する距離測定手段40が配設されている。
【0027】このように構成される切削装置10を用い
て、保持手段15に保持された半導体ウェーハWを切削
する際は、まず最初に、従来例において図8に示したよ
うに、回転スピンドル50に回転ブレード24を装着す
る。
【0028】回転ブレード24の装着の際は、回転ブレ
ード24のY座標とヘアーライン39のY座標とが等し
くなるように、即ち、回転ブレード24とヘアーライン
39とがX軸方向に一直線上に位置するように固定され
なければならない。従って、回転ブレード24の装着
後、まず、ダミーウェーハを保持手段15に保持し、保
持手段15が+X方向に移動すると共に回転ブレード2
4が高速回転しながらスピンドルユニット25が+Z方
向に下降してダミーウェーハに切り込むことによってそ
のダミーウェーハを切削して切削溝を形成する。
【0029】そして、撮像手段37によって切削溝を撮
像し、図9に示したように切削溝とヘアーライン39と
が合致しない場合は、ヘアーライン39と回転ブレード
24とが一直線上に位置していないことになるため、モ
ニター45に表示された画像を見ながらアライメント手
段36を調整ネジ等の調整によりY軸方向にずらすこと
により、図10のように両者を合致させる。
【0030】また、図7に示す如く、例えばヘアーライ
ン39をY座標の−Lの位置に位置付けて基準位置と
し、この時の回転ブレード24までの距離を距離測定手
段40によって測定し、測定により求めた距離を後述す
る図4に示す第二の記憶手段42に記憶させておく。こ
の基準位置−Lは、Y軸駆動源31の制御情報、例えば
パルス数から取得することができる。
【0031】更に、このときのスピンドルユニット25
のZ軸方向の位置及び保持手段15のX軸方向の位置も
Z軸駆動源35及びX軸駆動源22の制御情報から取得
し、適宜の記憶手段に記憶させておくことにより、後の
測定基準位置とすることができる。
【0032】このようにしてヘアーライン39と回転ブ
レード24とが一直線上に位置していることが確認でき
たら、次に、切削しようとする半導体ウェーハWを保持
手段15に保持し、保持手段15を+X方向に移動させ
ることにより、半導体ウェーハWを撮像手段37の直下
に位置付けてストリートを撮像し、アライメント手段3
6に予め記憶させてある画像とのパターンマッチング処
理によって切削すべきストリートを検出する。
【0033】パターンマッチングは、Y軸スライダー2
6による駆動の下でアライメント手段36をY軸方向に
移動させながら撮像手段37によって半導体ウェーハW
の表面を撮像し、撮像されたストリートの画像と予め記
憶させてある画像とが一致したときに切削すべきストリ
ートが検出されたと判断し、このときにアライメント手
段36の移動を止める。
【0034】アライメント手段36とスピンドルユニッ
ト25とは一体に形成されているため、切削すべきスト
リートを検出したときにスピンドルユニット25のY軸
方向の移動も停止し、それから保持手段15が+X方向
に移動すると共に回転ブレード24が高速回転しながら
スピンドルユニット25が+Z方向に下降して検出され
たストリートに切り込むことによって、ストリートが切
削される。
【0035】しかし、上記のようにして切削を行う場合
において、ストリートを精密に切削するためには、ヘア
ーライン39と回転ブレード24とが一直線上に位置し
ていること、即ちY座標が完全に一致していることが条
件となるため、寿命や破損等により回転ブレード24を
交換した場合には、回転ブレード24の製品ごとのバラ
ツキ、装着状態の若干の相違等に起因してヘアーライン
39と回転ブレード24のY座標が一致せず、誤差が生
じる場合がある。そこで、回転ブレード24を交換した
場合には、距離測定手段40を用いてその誤差を補正し
てから切削を行うようにする。具体的には、以下のよう
に補正を行う。
【0036】図3及び図4に示すように、距離測定手段
40は、回転ブレード24に対向する位置に配設されて
おり、この距離測定手段40としては、例えば光波干渉
式レーザー精密測長器を用いることができる。なお、距
離測定手段40が配設される位置は、回転ブレード24
とのY軸方向の距離を測定できる位置であれば、X軸移
動テーブル17以外の場所でもよい。
【0037】距離測定手段40は、自身と回転ブレード
24との距離を測定し、測定結果をメモリ等からなる第
一の記憶手段41に記憶させる。また、撮像領域に形成
され所定のY座標(−L)に位置付けられたヘアーライ
ンを基準位置とし、第二の記憶手段42には、距離測定
手段40から回転ブレードの基準位置(ヘアーラインの
位置)までの距離が予め測定されて記憶されている。
【0038】そして、回転ブレードを交換した場合は、
補正値算出手段43において第一の記憶手段41に記憶
された距離の値から第二の記憶手段42に予め記憶され
た距離の値(基準位置における距離測定手段40と回転
ブレード24との距離)を減算し、答えが0になった場
合は誤差なしと判断する。一方、0にならなかった場合
は誤差ありと判断し、減算の結果を補正値としてY軸移
動制御手段44に記憶させる。
【0039】そして、Y軸移動制御手段44は、求めた
補正値を考慮してY軸スライダー26を構成するY軸駆
動源31の駆動を制御する。例えば、求めた補正値が3
μmである場合は、回転ブレード24が基準位置−Lよ
り+Y方向に3μmずれていることになるため、スピン
ドルユニット25を基準位置−Lより3μmだけ−Y方
向に移動させて切削を行う。また、求めた補正値が−7
μmである場合は、回転ブレード24が基準位置−Lよ
り−Y方向に7μmずれていることになるため、スピン
ドルユニット25を基準位置−Lより7μmだけ+Y方
向に移動させて切削を行う。
【0040】このようにして補正値に対応して回転ブレ
ード24の位置をY軸方向に移動させてから切削を行う
ことにより、ヘアーライン39と回転ブレード24との
Y座標が一致していない場合においても、ストリートを
正確に切削することができる。
【0041】また、回転ブレード24を交換した場合で
あっても、ダミーウェーハを保持手段15に保持させて
切削し、形成された切削溝を撮像してアライメント手段
36の位置を調整するといった作業が不要となるため、
生産性が向上する。
【0042】特に、半導体ウェーハ等の被加工物の切削
の途中で回転ブレードを交換しなければならない場合に
は、切削途中の半導体ウェーハの着脱、ダミーウェーハ
の着脱といった煩雑な作業が不要となるため、作業性、
生産性が飛躍的に向上する。
【0043】なお、アライメント手段36によって検出
されたストリートの切削後は、スピンドルユニット25
をY軸方向にストリート間隔分だけ割り出し送りすると
共に保持手段15をX軸方向に移動させながらスピンド
ルユニット25をZ軸方向に下降させることにより、即
ち、保持手段15と切削手段23との相対的な切削方
向、割り出し方向、切り込み方向の移動によって、回転
ブレード24がストリートに切り込んで切削され、スピ
ンドルユニット25の割り出し送りと共に順次ストリー
トが切削されていく。
【0044】更に、同方向のストリートがすべて切削さ
れた後は、保持テーブル16を90度回転させてから上
記と同様の切削を行うことにより、すべてのストリート
が縦横に切削される。
【0045】このように、ストリート間隔分だけスピン
ドルユニット25を割り出し送りしながら切削を行うこ
とで、最初のストリートの切削時は誤差が補正されてい
るため、その他のストリートについても正確な切削を行
うことができる。また、回転ブレードを交換した際は、
最初だけ誤差の補正をすれば済み、その後の切削におい
ては誤差を考慮する必要はない。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る切削
装置においては、回転ブレードまでの割り出し方向の距
離を測定できる距離測定手段が配設されており、その測
定した距離と回転ブレードの基準位置までの距離との差
を補正値として算出し、その補正値に基づいて回転ブレ
ードの割り出し方向の位置を調整することができるた
め、回転ブレードを交換した場合でも、回転ブレードの
製品ごとのバラツキや装着誤差等に対応して、常に精密
な切削を行うことが可能となるため、被加工物の品質が
向上する。
【0047】また、回転ブレードを交換した場合に、ダ
ミーウェーハを切削して形成された切削溝を撮像してア
ライメント手段の位置を調整するといった作業が不要と
なるため、生産性が向上する。特に、半導体ウェーハ等
の被加工物の切削の途中で回転ブレードを交換しなけれ
ばならない場合には、切削途中の半導体ウェーハの着
脱、ダミーウェーハの着脱といった煩雑な作業が不要と
なるため、作業性、生産性が飛躍的に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る切削装置の実施の形態の一例を示
す斜視図である。
【図2】同切削装置の内部構造を示す斜視図である。
【図3】同切削装置の切削手段及び距離測定手段を示す
斜視図である。
【図4】同距離測定手段を用いて回転ブレードとの距離
を測定するための構成を示す説明図である。
【図5】切削手段を用いて保持手段に保持された半導体
ウェーハを切削する様子を示す斜視図である。
【図6】ヘアーラインを示す説明図である。
【図7】回転ブレードとヘアーラインとの位置関係を示
す説明図である。
【図8】回転ブレードの装着状態を示す斜視図である。
【図9】ヘアーラインと切削溝とが一致しない状態を示
す説明図である。
【図10】ヘアーラインと切削溝とが一致している状態
を示す説明図である。
【符号の説明】
10…切削装置 11…カセット 12…搬出入手段 13…仮置き領域 14…搬送手段 15…保持手段 16…保持テーブル 17…X軸移動テーブル 18…X軸スライダー 19…X軸ガイドレール 20…X軸移動基台 21…X軸ボールネジ 22…X軸駆動源 23…切削手段 24…回転ブレード 25…スピンドルユニット 26…Y軸スライダー 27…Z軸スライダー 28…Y軸ガイドレール 29…Y軸移動基台 30…Y軸ボールネジ 31…Y軸駆動源 32…壁部 33…Z軸ガイドレール 34…昇降部 35…Z軸駆動源 36…アライメント手段 37…撮像手段 38…撮像領域 39…ヘアーライン 40…距離測定手段 41…第一の記憶手段 42…第二の記憶手段 43…補正値算出手段 44…Y軸移動制御手段 45…モニター 50…回転スピンドル 51…ナット 52…雄ネジ部 53…マウンタ 54…切削溝

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を保持する保持手段と、該保持
    手段に保持された被加工物を切削する回転ブレードを含
    む切削手段とから少なくとも構成され、該保持手段と該
    切削手段との相対的な切削方向、割り出し方向及び切り
    込み方向の移動によって被加工物を切削する切削装置で
    あって、 該切削装置の所要位置には、該所要位置から該回転ブレ
    ードまでの割り出し方向の距離を測定する距離測定手段
    が配設されている切削装置。
  2. 【請求項2】 距離測定手段には、該距離測定手段から
    回転ブレードまでの割り出し方向の距離を記憶する第一
    の記憶手段と、該測定手段から所定の基準位置までの割
    り出し方向の距離を予め記憶する第二の記憶手段と、該
    第一の記憶手段に記憶されている距離の値と該第二の記
    憶手段に記憶されている距離の値との差を求めて補正値
    とする補正値算出手段とが接続され、 該補正値算出手段によって算出された補正値に基づいて
    該回転ブレードの割り出し方向の位置を補正して、該回
    転ブレードの位置を該所定の基準位置に合致させる請求
    項1に記載の切削装置。
  3. 【請求項3】 保持手段に保持された被加工物の切削す
    べき領域を撮像して回転ブレードと該切削すべき領域と
    の割り出し方向の位置を合致させるアライメント手段が
    配設され、該アライメント手段を構成する撮像手段の撮
    像領域には、撮像した該切削すべき領域と回転ブレード
    の割り出し方向の位置とを合致させるための基準線であ
    るヘアーラインが形成されており、該ヘアーラインを所
    定の基準位置として回転ブレードまでの割り出し方向の
    距離を測定する請求項2に記載の切削装置。
  4. 【請求項4】 切削手段に新たな回転ブレードが装着さ
    れた際に、該回転ブレードの割り出し方向の位置が補正
    される請求項2または3に記載の切削装置。
  5. 【請求項5】 保持手段は、切削方向をX軸方向とした
    場合に該X軸方向に移動可能なX軸移動テーブルと、該
    X軸移動テーブルに割り出し回転可能に配設され被加工
    物を保持する保持テーブルとから少なくとも構成され、 切削手段は、回転ブレードを回転可能に支持するスピン
    ドルユニットと、割り出し方向をY軸方向とした場合に
    該スピンドルユニットを該Y軸方向に移動可能に支持す
    るY軸移動基台と、切り込み方向をZ軸方向とした場合
    に該スピンドルユニットを該Z軸方向に移動可能に支持
    するZ軸スライダーとから少なくとも構成され、 距離測定手段は、該X軸移動テーブルの所要位置に配設
    され、該保持手段のX軸方向の移動と該切削手段のY軸
    方向及びZ軸方向の移動とによって、該距離測定手段と
    該回転ブレードとがY軸方向の対向する位置に位置付け
    られ、該距離測定手段から該回転ブレードまでのY軸方
    向の距離が測定される請求項1、2、3または4に記載
    の切削装置。
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