JP2001265075A

JP2001265075A - 画像形成装置

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Publication number: JP2001265075A
Application number: JP2000079315A
Authority: JP
Inventors: Atsushi Asai; 淳浅井
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2000-03-16
Filing date: 2000-03-16
Publication date: 2001-09-28
Anticipated expiration: 2020-03-16
Also published as: US6516161B2; US20010033754A1; EP1134625B1; EP1134625A1; JP3848043B2

Abstract

(57)【要約】【課題】生産性を低下させることなく、像担持体の電
位の変動に対応した調整を行い画像品質を維持すること
のできる品質性に優れた画像形成装置を提供する。【解決手段】感光体１上の複数の異なる位置であっ
て、かつ、非画像形成領域について、電位センサ１０に
よって表面電位を測定し、測定結果に基づいて、レーザ
２によるレーザ制御値や一次帯電器３の一次電流値など
を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、複写機や
プリンタ等の電子写真方式の画像形成装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の電子写真方式の画像形成
装置としては、たとえば、複写機やレーザビームプリン
タ等がある。

【０００３】従来、これら複写機，レーザビームプリン
タ等の画像形成装置には、画像領域内部に設けられた感
光体表面電位を測定するための電位センサを有し、ウォ
ーミングアップ中に帯電後の感光体電位や露光後の感光
体電位の測定を行うことで、一次帯電電流や一次帯電器
のグリッド電位、レーザ等の露光量、現像バイアス等を
制御し決定するものが知られている。

【０００４】また、電源投入後又はウォーミングアップ
後からの一定時間経過後に、再度電位制御を行うことで
装置内部の温度変化、経時的なレーザ光量の変動や感光
体に起因する帯電能力の変動、感度の変動による電位変
動を防止するものも知られている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来技術の場合には、下記のような問題が生じて
いた。

【０００６】特に高速機では、生産性の低下を防止する
ことが重視され、連続コピー、プリント等の連続ＪＯＢ
では電位制御を行うために必要な時間が十分確保できな
いことから、従来、電位制御を行っていない。

【０００７】また、生産性を低下させないために紙間の
短い時間で測定した電位に対して制御を行う場合には、
感光体の周方向の電位ムラの影響を受けてしまうため
に、適切な電位制御ができず画像カブリや濃度薄が発生
することがあった。

【０００８】一方、特開平１０−２２８１５９号公開公
報には、１画像形成期間内における感光体の帯電の均一
化を目的として、感光体の特定位置に対応する電位に基
づき帯電条件を変化させて、１画像形成期間内の画像濃
度ムラを防止する技術が開示されている。

【０００９】しかし、この技術では、１画像形成期間内
の画像濃度ムラの防止が目的であり、連続ＪＯＢ中のレ
ーザの経時変動、感光体の電位変動経時変動を防止する
ものではなかった。

【００１０】また、特開平５−３２３７４１号公開公報
及び特開平５−３２３７４２号公開公報には、感光体の
特定位置又は平均電位を基準値として、記憶後に特定の
感光体位置の電位を測定することによって感光体の電位
変動を検知する技術が開示されている。

【００１１】しかし、これらの技術では検知する電位が
感光体の特定位置であることから検知の精度が十分では
なかった。更に、この方法において、基準となる感光体
の電位及びそれに対応する感光体位置に関する情報につ
いて検出子や検出センサ等の位置情報検知手段を用いる
ことからコストアップになる。

【００１２】また、検出子や検出センサ等の位置情報検
知手段を用いずに、感光体の位置情報をタイマ等でカウ
ントすることで感光体域を認識する方法を用いた場合に
は、本体電源が切られたときにはカウント情報が消去さ
れるため、再度本体電源が投入されたときに基準電位及
び位置の対応関係の再測定が必要となることから生産性
の低下が発生していた。

【００１３】本発明は上記の従来技術の課題を解決する
ためになされたもので、その目的とするところは、生産
性を低下させることなく、像担持体の電位の変動に対応
した調整を行い画像品質を維持することのできる品質性
に優れた画像形成装置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明にあっては、像担持体上を一様に帯電する帯電
手段と、該帯電手段によって帯電された像担持体上を露
光する露光手段と、該露光手段による露光によって、前
記像担持体上に形成された潜像を現像する現像手段と、
前記像担持体の表面電位を測定する電位測定手段と、を
備えた画像形成装置において、前記像担持体上の複数の
異なる位置であって、かつ非画像領域部について前記電
位測定手段により表面電位を測定し、測定された複数の
測定結果に基づいて、前記帯電手段による帯電量，露光
手段による露光量及び現像手段による現像バイアスの直
流成分のうちの少なくともいずれか一つの補正を行うこ
とを特徴とする。

【００１５】従って、非画像領域部で測定を行うので生
産性を落とすことなく、また、複数の異なる位置の測定
結果を反映するので、誤差も少なくなる。

【００１６】前記像担持体は略円筒状の部材から構成さ
れると共に、該像担持体を周方向に複数箇所に区分した
各領域をそれぞれ認識する認識手段を設け、該認識手段
により認識された領域と、前記電位測定手段による測定
結果との対応によって、複数の異なる位置における測定
結果を得るとよい。

【００１７】前記複数箇所に区分した全ての領域につい
て前記電位測定手段による測定結果が得られた場合に、
前記補正を行うとよい。

【００１８】前記複数箇所に区分した領域において、同
一の領域内で前記電位測定手段によって複数回測定が行
われた場合には、最新の測定結果のみを前記補正に反映
させるとよい。

【００１９】前記複数箇所に区分した全ての領域につい
て前記電位測定手段による測定結果が得られた場合に、
これら全ての測定値の平均値に基づいて、前記補正を行
うとよい。

【００２０】前記電位測定手段によって測定される表面
電位は、前記露光手段によって露光された後の表面電位
であるとよい。

【００２１】前記電位測定手段によって測定される表面
電位は、前記帯電手段によって帯電された後、前記露光
手段によって露光される前の表面電位であるとよい。

【００２２】前記非画像領域には、画像形成領域と画像
形成領域との間の領域が含まれるとよい。

【００２３】前記非画像領域には、画像形成準備動作中
の領域、及び、画像形成後の後処理中の領域が含まれる
とよい。

【００２４】前記露光手段は、温度制御手段を有してい
ない半導体レーザであるとよい。

【００２５】装置本体の電源が入っている間のみ、前記
像担持体を加熱する加熱手段を備えるとよい。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下に図面を参照して、この発明
の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただ
し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、
材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載が
ない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣
旨のものではない。

【００２７】（第１の実施の形態）図１〜図４を参照し
て、本発明の第１の実施の形態に係る画像形成装置につ
いて説明する。

【００２８】まず、図１を参照して、画像形成装置全体
の構成等について説明する。図１は本発明の実施の形態
に係る画像形成装置（電子写真方式の複写機）の概略構
成図である。

【００２９】図に示すように、画像形成装置には、像担
持体としての感光体１の周りに、公知の画像形成プロセ
スを行うための各種構成部材が設けられている。以下、
画像形成プロセスの順に従って、主要構成部材について
説明する。

【００３０】まず、像担持体としての感光体１上を一様
に帯電するための帯電手段としての一次帯電器３が設け
られており、この一次帯電器３は高圧電源４によって駆
動される。

【００３１】この一次帯電器３によって帯電された後
に、露光手段としてのレーザ２によって潜像が形成され
る。このレーザ２は、コントローラ９によって制御され
るレーザドライバ６により駆動され、ポリゴンスキャナ
ー１１によって、感光体１上に露光走査を行う。

【００３２】なお、露光されていない部分が最終的な形
成画像に対応した潜像となるものと、露光した部分が該
潜像となるものの２通りタイプのものがあるが、以下の
説明では前者の場合について説明する。

【００３３】また、このレーザ２による潜像形成部の下
流側において、感光体１の表面電位を測定する電位測定
手段としての電位センサ１０が設けられており、この電
位センサ１０の下流側において、潜像を現像化するため
の現像手段としての現像器５も設けられている。

【００３４】なお、特に図には示さないが、この現像器
５によって現像化された像を、転写材上に転写するため
の転写手段や、転写材上に転写された像を定着させるた
めの定着手段なども設けられている。

【００３５】ここで、感光体１は直径１００ｍｍのプラ
ス帯電の略円筒状のアモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）
ドラムで、プロセススピードが２５０ｍｍ／ｓｅｃであ
る。また、上述したように、感光体１の回転方向におい
て、一次帯電器３及び露光位置よりも下流側であって、
かつ現像位置よりも上流側に、長手方向画像範囲内部に
電位センサ１０が設置されている。

【００３６】この電位センサ１０は、振動子の内側に電
極を有する周知の方式のものを用いている。

【００３７】また、現像剤として、ネガ帯電１成分磁性
トナーを用い、露光源となるレーザ２として、波長６７
０ｎｍ、最大出力３０ｍＷの汎用半導体レーザ２を用
い、露光走査には上述のようにポリゴンスキャナ１１を
用いている。ここで、半導体レーザのモニタ電流の温度
特性は±１％／Ｋであるが、加熱手段、温度制御手段は
設けていない。

【００３８】また、感光体内部に４０Ｗ程度の加熱手段
としての感光体ヒータが設置されており、４２℃程度で
温調されている。なお、この感光体ヒータは装置本体の
電源が入っている間のみ駆動する。

【００３９】なお、本実施の形態に係る装置のレーザチ
ップ部の温度変化が最も大きな場合を想定した実験によ
ると、メインスイッチＯＦＦで７．５℃の低温環境に一
晩放置後、メインスイッチを投入し、ウォームアップ中
に通常の電位制御後に連続ＪＯＢが開始され、同時に周
囲温度が約３０分間で２５℃に上昇した場合、レーザチ
ップ部の温度はウォームアップ時の電位制御時には約１
２℃、連続ＪＯＢ１時間経過後は約３２℃であり、２０
Ｋの上昇があることが分かった。

【００４０】次に、本実施の形態に係る画像形成装置の
動作について説明する。

【００４１】メインスイッチ投入後、定着器の温度が１
８５℃程度の所定の温度に立ち上がるまで（ウォームア
ップ中に）、以下に示すような、周知の電位制御を行
う。

【００４２】ダーク電位（ＶＤ）の制御は、一次帯電を
行いながら電位センサ１０の測定位置において、感光体
１の表面電位が所定の目標電位ＶＤＴに収束するように
一次電流値のフィードバック制御を行い、一次電流値の
制御値を決定する。

【００４３】一次電流はコントローラ９から１０ビット
の制御信号をＤＡ変換器に送り、高圧制御回路への入力
値を制御することで行う。

【００４４】続いて上記方法で決定された一次電流値を
用いて一次帯電を行いながらレーザ露光を行い、ライト
電位（ＶＬ）が所定の目標電位ＶＬＴに収束するように
レーザ光量のフィードバック制御を行い、レーザ制御値
を決定する。

【００４５】レーザ制御はコントローラ９から８ビット
の制御信号をＤＡ変換器へ入力することで行う。上記電
位制御の結果得られた一次電流値、及びレーザ制御値を
メモリ内に格納する。

【００４６】次に、連続ＪＯＢ中における光量補正であ
る紙間光量補正について、特に図４を参照して説明す
る。図４は本実施の形態に係る画像形成装置における主
要制御フローチャート図である。

【００４７】感光体１が回転を開始（Ｓ１）後、定速度
になった後に任意の時間から認識手段を構成するタイマ
のカウントを開始する（Ｓ２）。

【００４８】感光体１周の８分割の領域Ａ（０）〜Ａ
（７）をタイマーで決め、同一ＪＯＢ中は感光体の特定
位置に特定の分割領域Ａ（０）〜Ａ（７）を対応させ
る。

【００４９】次に、連続ＪＯＢ中の画像形成領域間に存
在するＶＬ相当電位となっている非画像領域部（以下紙
間）において表面電位測定及び上記分割領域との対応を
行い、電位と領域の情報を以下に示す方法でメモリ内に
格納する。

【００５０】本実施の形態においては、画像形成領域の
進行方向上下流側の領域である非画像形成領域には、前
の画像の後端余白部と次の画像の先端余白が含まれ、い
ずれも画像露光と同一の露光量でレーザを点灯するた
め、非画像形成領域全体がＶＬ相当電位となる。

【００５１】本実施の形態においてはＬＴＲサイズの横
送りの連続ＪＯＢ中の非画像形成領域の進行方向長さは
最短距離で５０ｍｍである。このとき電位センサの静的
な読み取り検知幅、及び電位センサの動的な応答性によ
って画像部電位の影響を受けないように読み取り範囲を
設定することが必要となる。

【００５２】本実施の形態における電位センサ１０と感
光体１との距離は１．７〜２．３ｍｍであり、静止時の
読み取り検知幅は９０％で約３ｍｍ（被測定物の電位を
１００％とした場合、電位が９０％と測定される幅が約
３ｍｍ）である。また、電位センサ１０の動的応答性は
０Ｖから４００Ｖへの変化が安定するまでは８０〜１２
０ｍｓ、４００Ｖから０Ｖへの変化が安定するまでは３
０〜５０ｍｓである。

【００５３】これらの特性から、本実施の形態では、電
位測定位置は画像後端から２５ｍｍ〜３０ｍｍとしてい
る。各領域中の任意の場所において、測定値ＶＬＭ
（Ｘ）が測定されたときに、その領域の代表電位ＶＬＭ
（Ｘ）とする。

【００５４】電位測定は瞬間的なノイズが入ることを考
慮して、１０ｍｓ毎に４回行い、４回の平均を１回の測
定値ＶＬＭ（Ｘ）とする。なお、４回測定の中間位置を
もって上記分割領域の特定を行う。

【００５５】つまり、図４において、紙間であるか否か
の判定を行い（Ｓ３）、紙間であった場合には、電位セ
ンサ１０によって４回測定を行い（Ｓ４）、この４回の
測定結果からその平均の電位を求めて（Ｓ５）、その値
をメモリに格納する（Ｓ６）。

【００５６】このプロセスを繰り返すことによって、上
記の測定が毎紙間で行われ、上述した各領域において、
それぞれ測定値が記憶される。

【００５７】図２はＶＬの周方向電位プロファイルを示
したものであり、横軸が感光体の周方向位置、縦軸がＶ
Ｌである。また、感光体１周における固有の位置に領域
Ａ（０）〜Ａ（７）が対応していることが示されてい
る。

【００５８】図３は領域Ａ（０）〜Ａ（７）の各領域中
の各測定データが紙間測定毎に格納されることを示した
ものである。矢印の方向に従って数字の順に紙間におけ
る感光体１の表面電位の測定が進み、各領域のデータが
連続ＪＯＢの開始から１回以上測定されたときに○、１
回も測定されていない場合は×で示している。

【００５９】この図では、Ａ（０）〜Ａ（７）の各領域
を最低１回測定するのに最短の８回の紙間測定で終了し
ていることを示している。ただし、実際には紙のサイズ
や紙間距離の設定、感光体の周長によっては３０回以上
の測定が必要になることもあるが、通常は１０〜３０回
程度でＡ（０）〜Ａ（７）すべての測定が終了する。

【００６０】すべての領域において、最低１回の代表電
位ＶＬＭ（Ｘ）が求まった時に全領域の平均電位として
ドラム１周電位ＶＬＭが算出される。ここで、既に測定
された領域において、再度測定が行われた場合は最新の
値に更新する。

【００６１】こうして、Ａ（０）〜Ａ（７）の領域がす
べて埋まり（Ｓ７）、かつＪＯＢの開始からカウントし
たタイマーで１分の整数倍の時間が経過後（Ｓ８）、ド
ラム一周電位ＶＬＭ、ターゲット電位ＶＬＴ、補正前の
レーザ光量制御値ＰＢを用い、補正後のレーザ光量制御
値ＰＡを以下の式に従い求める（Ｓ９）。

【００６２】ＰＡ＝ＰＢ＋α（ＶＬＭ−ＶＬＴ）ここでαは制御係数で、感光体の感度とレーザパワーの
ＤＡ変換器の入出力値から求めた所定の固定値とする。

【００６３】補正のタイミングは、連続ＪＯＢ中におけ
る上記所定の時間経過後の最初の紙間において行う。そ
れ以後、次の補正が入るまでの一次電流制御値及びレー
ザ制御値は上記の補正後の値を用いる。

【００６４】補正を行った後は、Ａ（０）〜Ａ（７）の
すべての領域の値をクリアして（Ｓ１２）、新たに各領
域の測定を行い、連続ＪＯＢ中にこの測定及び補正を繰
り返す。

【００６５】なお、上記説明においては、連続ＪＯＢ中
において、紙間を電位測定領域としている場合を例に説
明したが、必ずしも連続ＪＯＢに限られず、単数枚のＪ
ＯＢにおける前回転（画像形成準備動作）、後回転（画
像形成後の後処理）中に含まれる非画像領域を電位測定
領域として、同様の方法が適用可能である。

【００６６】また、電位センサ１０によって、露光前の
電位を測定した値に基づいて、制御を行うことも可能で
ある。

【００６７】さらに、本実施の形態においては補正式に
おいてＶＬＴを目標とする補正にしているが、ＶＬＴの
かわりに電位制御時等で得られた実測のＶＬの値を目標
とすることももちろん可能である。

【００６８】また、上記説明では、レーザ制御値（露光
量）の補正を行っているが、現像バイアス（現像バイア
スの直流成分）の補正に変えることも可能である。

【００６９】（第２の実施の形態）図５には、第２の実
施の形態が示されている。上記第１の実施の形態では、
露光量（レーザ制御値）の調整を行う場合について示し
たが、本実施の形態では、帯電量と露光量のいずれにつ
いても調整を行う場合について説明する。

【００７０】その他の基本的な構成等については第１の
実施の形態と同一なので、その説明は省略する。

【００７１】本実施の形態では、紙間において第１ステ
ップとして一次電流値（帯電量）の補正値の算出を行
い、続いて第２ステップとしてレーザ制御値（露光量）
の補正値の算出を順次行った後、第３ステップでは一次
電流値とレーザ制御値の両方を紙間で補正を行い、それ
以後の画像域の制御値をその値とするものである。

【００７２】装置本体の基本的構成は上記第１の実施の
形態と同様である。なお、感光体１にはドラムヒータは
用いていない。また、感光体１の帯電能の温度特性は２
Ｖ／Ｋであり、感度の温度特性は３Ｖ／Ｋである。

【００７３】本実施の形態に係る装置の感光１体の温度
変化が最も大きな場合を想定した実験によると、メイン
スイッチＯＦＦで７．５℃の低温環境に一晩放置後、メ
インスイッチを投入し、ウォームアップ中に通常の電位
制御後に連続ＪＯＢが開始され、同時に周囲温度が約３
０分間で２５℃に上昇した場合、感光体１の温度はウォ
ームアップ時の電位制御時には約１０℃、連続ＪＯＢ１
時間経過後は約３０℃であり、２０Ｋの上昇があること
が分かった。

【００７４】次に、本発明の第２の実施の形態に係る画
像形成装置の動作について説明する。

【００７５】ウォーミングアップ中の電位制御工程につ
いては、上記第１の実施の形態の場合と同様であり、こ
のときの一次電流値ＩＢとレーザ制御値ＰＢを記憶す
る。

【００７６】連続ＪＯＢ中における光量補正である紙間
光量補正について、図５を参照して説明する。図５は本
実施の形態に係る画像形成装置における主要制御フロー
チャート図である。

【００７７】連続ＪＯＢの開始（Ｓ１）後、タイマーを
開始し（Ｓ２）、紙間において一次電流を１Ｂ、レーザ
の点灯をＯＦＦすることでＶＤ部を形成する。このと
き、現像バイアスのＤＣ分を上げ、ＡＣ成分をＯＦＦに
することでＶＤ部の感光体１への現像が防止される。電
位測定位置は画像の影響を受けないように画像後端から
２５ｍｍ〜３０ｍｍとする。

【００７８】測定回数は４回で、その平均値を１つの測
定値とし、紙間で繰り返し測定することでドラム一周を
分割したＡ（０）〜Ａ（７）各領域のＶＤを求め、すべ
ての領域が埋まった後の各領域の平均をドラム一周電位
ＶＤＭとする。

【００７９】つまり、図５において、紙間であるか否か
の判定を行い（Ｓ３）、紙間であった場合には、一次電
流をＩＢ、レーザの点灯をＯＦＦとして（Ｓ４）、電位
センサ１０によって４回測定を行い（Ｓ５）、この４回
の測定結果からその平均の電位を求めて（Ｓ６）、その
値をメモリに格納する（Ｓ７）。

【００８０】そして、Ａ（０）〜Ａ（７）の領域につい
て１回以上測定されたら（Ｓ８）、次のステップに移行
する。

【００８１】すなわち、このようにして求められたドラ
ム一周電位ＶＤＭ、ターゲット電位ＶＤＴ、補正前の一
次電流制御値ＩＢを用い、補正後の一次電流制御値ＩＡ
を以下の式に従い求める（Ｓ９）。ＩＡ＝ＩＢ＋β（ＶＤＴ−ＶＤＭ）

【００８２】ここで、βは、感光体１の帯電能、一次電
流制御用ＤＡ変換器の入出力特性から求められる所定の
固定値である。

【００８３】次に、第２ステップではレーザ制御値の補
正値の算出を行う。一次電流値は紙間でＩＡとする。但
し画像域はＩＢの制御値を用いる。

【００８４】まず、Ａ（０）〜Ａ（７）のすべての領域
の値をクリアして（Ｓ１０）、その後、上記第１の実施
の形態の場合とほぼ同様に、紙間であるか否かの判定を
行い（Ｓ１１）、紙間であった場合には、紙間のレーザ
の光量制御値をＰＢ，一次電流値をＩＡとし（Ｓ１
２）、電位センサ１０によって４回測定を行い（Ｓ１
３）、この４回の測定結果からその平均の電位を求めて
（Ｓ１４）、その値をメモリに格納する（Ｓ１５）。

【００８５】そして、Ａ（０）〜Ａ（７）の各領域に測
定したＶＬがすべて埋まった後（Ｓ１６）、平均電位を
ドラム一周電位ＶＬＭとして、ターゲット電位ＶＬＴ、
補正前のレーザ光量制御値ＰＢを用い、補正後のレーザ
光量制御値ＰＡを以下の式に従い求める（Ｓ１７）。

【００８６】ＰＡ＝ＰＢ＋α（ＶＬＭ−ＶＬＴ）ここでαは制御係数で、感光体の感度とレーザパワーの
ＤＡ変換器の入出力値から求めた所定の固定値とする。

【００８７】補正のタイミングは上記第１の実施の形態
の場合とは異なり、上記２つの値を計算後の最初の紙間
において行う（Ｓ１８）。すなわち、補正は、一次電流
制御値ＩＢ、レーザ制御値ＰＢの両方とも各々ＩＡ，Ｐ
Ａに切換え（Ｓ１９）、それ以後次の補正が入るまで一
次電流制御値、レーザ制御値は上記の補正後の値を用い
る。

【００８８】補正を行った後はＡ（０）〜Ａ（７）すべ
ての領域の値をクリアして（Ｓ２０）、新たに各領域の
一次電流制御値、レーザ制御の補正値を求め、紙間のタ
イミングで両方の制御値の補正を行うことを連続ＪＯＢ
中に繰り返す。

【００８９】本実施の形態ではＶＤ，ＶＬの両方とも補
正を行うことで、上記第１の実施の形態よりも精度の高
い補正が可能となり、特にドラムヒータがない場合や夜
間ドラムヒータを切った場合の夏季の朝空調が入った後
や冬季の朝暖房が入り環境温度が急激に変動する場合に
有効である。

【００９０】以上のように、上記各実施の形態では、レ
ーザの温度変化、感光体の温度変化、感光体の帯電、光
疲労の変動速度が数１０分で１％以下の比較的長時間の
過渡現象であるのに対し、測定の繰り返しで感光体の１
周相当分が測定されるまでの時間は十分短いことに着目
することにより、複数回の測定データに基づいて、各部
材の調整を行うことで、画像品質の維持（連続ＪＯＢ中
の感光体１の電位変動によるカブリ，濃度変動，画像変
動の防止）を可能としたものである。

【００９１】また、連続ＪＯＢ中の生産性を低下させる
ことなく、光量の制御または一次電流値の制御を行うこ
とが可能になり、レーザ周辺の温度変動によるレーザ光
量の変動、感光体の温度、光履歴、帯電履歴に起因する
電位変動を防止することで、連続ＪＯＢにおいてカブリ
や濃度薄が発生することなく安定した画質が得られる。

【００９２】また、感光体の平均電位間の比較に基づい
た補正であることから、従来技術に比べて、より正確な
検知に基づく補正が可能になった。

【００９３】さらに、温度の変動に対しても、適宜調整
を行えることから、従来、温度制御が必須であったモニ
タ電流の温度特性±１％／℃以上の汎用半導体レーザ
を、加熱手段、温度制御手段等なしで使用が可能にな
り、部品の削減による信頼性向上、コストダウン、省エ
ネルギーが達成できる。

【００９４】さらに、感光体特定位置情報については検
出子、検出センサ等を用いる必要がなく、位置情報の管
理が連続ＪＯＢ内で済むという利点がある。

【００９５】また、感光体起因の帯電履歴、光履歴によ
る電位ドリフトがあった場合にも、従来技術に比べて、
より正確に電位補正することが可能になり、生産性を落
とすことなく連続ＪＯＢ中の画像濃度の変動やカブリの
発生を防止することが可能になる。

【００９６】さらに、感光体の温度変化に起因する感度
特性の変動があっても感光体の電位を正確に補正するこ
とが可能になり、感光体の温調ヒータの削減や、従来行
われてきたメインスイッチＯＦＦ後に感光体ヒータをつ
けたまま放置を行う必要がなくなり、省エネルギーが可
能になる。

【００９７】また、連続ＪＯＢによる光学部品の昇温に
よりレーザのスポット径等の変動起因による露光後電位
の経時変動があっても感光体電位を正確に補正すること
が可能になり、昇温対策の省略、装置の信頼性の向上に
寄与することになる。

【００９８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、生産性
を低下させることなく、像担持体の電位の変動に対応し
た調整を行って、画像品質を維持することができ、品質
性に優れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置の概略
構成図である。

【図２】感光体ＶＬ電位の周方向プロファイルを示す図
である。

【図３】感光体一周分割領域Ａ（０）〜Ａ（７）へのデ
ータ格納推移図である。

【図４】本発明の第１の実施の形態に係る画像形成装置
における主要制御フローチャート図である。

【図５】本発明の第２の実施の形態に係る画像形成装置
における主要制御フローチャート図である。

【符号の説明】

１感光体２レーザ３一次帯電器４高圧電源５現像器６レーザドライバ９コントローラ１０電位センサ１１ポリゴンスキャナ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】像担持体上を一様に帯電する帯電手段と、該帯電手段によって帯電された像担持体上を露光する露
光手段と、該露光手段による露光によって、前記像担持体上に形成
された潜像を現像する現像手段と、前記像担持体の表面電位を測定する電位測定手段と、を
備えた画像形成装置において、前記像担持体上の複数の異なる位置であって、かつ非画
像領域部について前記電位測定手段により表面電位を測
定し、測定された複数の測定結果に基づいて、前記帯電
手段による帯電量，露光手段による露光量及び現像手段
による現像バイアスの直流成分のうちの少なくともいず
れか一つの補正を行うことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】前記像担持体は略円筒状の部材から構成さ
れると共に、該像担持体を周方向に複数箇所に区分した各領域をそれ
ぞれ認識する認識手段を設け、該認識手段により認識された領域と、前記電位測定手段
による測定結果との対応によって、複数の異なる位置に
おける測定結果を得ることを特徴とする請求項１に記載
の画像形成装置。
【請求項３】前記複数箇所に区分した全ての領域につい
て前記電位測定手段による測定結果が得られた場合に、
前記補正を行うことを特徴とする請求項２に記載の画像
形成装置。
【請求項４】前記複数箇所に区分した領域において、同
一の領域内で前記電位測定手段によって複数回測定が行
われた場合には、最新の測定結果のみを前記補正に反映
させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装
置。
【請求項５】前記複数箇所に区分した全ての領域につい
て前記電位測定手段による測定結果が得られた場合に、
これら全ての測定値の平均値に基づいて、前記補正を行
うことを特徴とする請求項３または４に記載の画像形成
装置。
【請求項６】前記電位測定手段によって測定される表面
電位は、前記露光手段によって露光された後の表面電位
であることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに
記載の画像形成装置。
【請求項７】前記電位測定手段によって測定される表面
電位は、前記帯電手段によって帯電された後、前記露光
手段によって露光される前の表面電位であることを特徴
とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の画像形成装
置。
【請求項８】前記非画像領域には、画像形成領域と画像
形成領域との間の領域が含まれることを特徴とする請求
項１〜７のいずれか一つに記載の画像形成装置。
【請求項９】前記非画像領域には、画像形成準備動作中
の領域、及び、画像形成後の後処理中の領域が含まれる
ことを特徴とする請求項１〜７のいずれか一つに記載の
画像形成装置。
【請求項１０】前記露光手段は、温度制御手段を有して
いない半導体レーザであることを特徴とする請求項１〜
９のいずれか一つに記載の画像形成装置。
【請求項１１】装置本体の電源が入っている間のみ、前
記像担持体を加熱する加熱手段を備えることを特徴とす
る請求項１〜１０のいずれか一つに記載の画像形成装
置。