JP2001257475A - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents
多層プリント配線板の製造方法Info
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- JP2001257475A JP2001257475A JP2000067892A JP2000067892A JP2001257475A JP 2001257475 A JP2001257475 A JP 2001257475A JP 2000067892 A JP2000067892 A JP 2000067892A JP 2000067892 A JP2000067892 A JP 2000067892A JP 2001257475 A JP2001257475 A JP 2001257475A
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- resin
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- rcc
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の樹脂付き銅箔を用いたビルドアップ法
のコンフォーマルマスク法による多層プリント配線板の
製造方法を改善し、バイアホールの小径化を図っても、
バイアホールの接続信頼性を確保できる技術を提供す
る。 【解決手段】 バイアホール用のボトムランド2を設け
たコア材5に、樹脂付き銅箔7を高温プレス成形により
積層し、樹脂付き銅箔7によってボトムランド2に対応
する位置の銅箔9が除去されたコンフォーマルマスクを
形成し、レーザ加工により樹脂8を除去してバイアホー
ル用の穴16を形成し、穴内のデスミア処理をして、銅
メッキ処理及び所定のパターン形成処理を行うものであ
るビルドアップ法による多層プリント配線板の製造方法
において、レーザ加工後に樹脂付き銅箔7の銅箔9厚み
を薄くするものとした。
のコンフォーマルマスク法による多層プリント配線板の
製造方法を改善し、バイアホールの小径化を図っても、
バイアホールの接続信頼性を確保できる技術を提供す
る。 【解決手段】 バイアホール用のボトムランド2を設け
たコア材5に、樹脂付き銅箔7を高温プレス成形により
積層し、樹脂付き銅箔7によってボトムランド2に対応
する位置の銅箔9が除去されたコンフォーマルマスクを
形成し、レーザ加工により樹脂8を除去してバイアホー
ル用の穴16を形成し、穴内のデスミア処理をして、銅
メッキ処理及び所定のパターン形成処理を行うものであ
るビルドアップ法による多層プリント配線板の製造方法
において、レーザ加工後に樹脂付き銅箔7の銅箔9厚み
を薄くするものとした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビルドアップ法に
おけるコンフォーマルマスク法により多層プリント配線
板を製造する方法に関するものである。
おけるコンフォーマルマスク法により多層プリント配線
板を製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、携帯電話・パソコン等の情報通信
機器を中心とした電子機器の軽薄短小化、高機能化の進
展に応じ、多層プリント配線板の製造技術の一つとし
て、ビルドアップ法と呼ばれるものが急速に普及してい
る。このビルドアップ法には、コンフォーマルマスク法
と呼ばれる、レーザ加工によってバイアホールを形成す
る工法が知られている。
機器を中心とした電子機器の軽薄短小化、高機能化の進
展に応じ、多層プリント配線板の製造技術の一つとし
て、ビルドアップ法と呼ばれるものが急速に普及してい
る。このビルドアップ法には、コンフォーマルマスク法
と呼ばれる、レーザ加工によってバイアホールを形成す
る工法が知られている。
【0003】このコンフォーマルマスク法は、図4で示
すように、内層材となるコア材5に、外層となる銅箔9
を有した樹脂付き銅箔7を積層し、この樹脂付き銅箔7
の銅箔9の一部を、コア材5にあるボトムランド2の位
置に合わせて除去する(図4(a))。これをいわゆる
コンフォーマルマスクとして、その銅箔9が除かれた部
分へレーザを照射し(図4(b))、樹脂を除去するこ
とでバイアホール用の穴16を形成するのである(図4
(c))。そして、レーザ加工によって発生するスミア
17を除去し(図4(d))、銅メッキ処理により穴内
へ所定厚みの銅メッキ層18を形成することでバイアホ
ールが完成される(図4(e))。その後パターン形成
の処理を行い、さらに、樹脂付き銅箔を積層して同様な
処理を順次行うことで多層プリント配線板を製造するも
のである。
すように、内層材となるコア材5に、外層となる銅箔9
を有した樹脂付き銅箔7を積層し、この樹脂付き銅箔7
の銅箔9の一部を、コア材5にあるボトムランド2の位
置に合わせて除去する(図4(a))。これをいわゆる
コンフォーマルマスクとして、その銅箔9が除かれた部
分へレーザを照射し(図4(b))、樹脂を除去するこ
とでバイアホール用の穴16を形成するのである(図4
(c))。そして、レーザ加工によって発生するスミア
17を除去し(図4(d))、銅メッキ処理により穴内
へ所定厚みの銅メッキ層18を形成することでバイアホ
ールが完成される(図4(e))。その後パターン形成
の処理を行い、さらに、樹脂付き銅箔を積層して同様な
処理を順次行うことで多層プリント配線板を製造するも
のである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このコンフォーマルマ
スク法で用いられる樹脂付き銅箔は、一般に12〜18
μm厚さ程度の銅箔に、60〜80μm厚さ程度の樹脂
が塗工された、いわゆるRCC(Resin Coated Coppe
r)と呼ばれているものである(以下、樹脂付き銅箔を
RCCという)。そのため、銅メッキ処理後に形成され
るパターンの厚みは、銅メッキ層厚みとRCCの銅箔厚
みとの合計によって決まることになり、銅箔の厚みの分
だけパターンの厚みが大きくなるため、エッチングによ
るパターン形成の精度が悪くなる傾向となる。
スク法で用いられる樹脂付き銅箔は、一般に12〜18
μm厚さ程度の銅箔に、60〜80μm厚さ程度の樹脂
が塗工された、いわゆるRCC(Resin Coated Coppe
r)と呼ばれているものである(以下、樹脂付き銅箔を
RCCという)。そのため、銅メッキ処理後に形成され
るパターンの厚みは、銅メッキ層厚みとRCCの銅箔厚
みとの合計によって決まることになり、銅箔の厚みの分
だけパターンの厚みが大きくなるため、エッチングによ
るパターン形成の精度が悪くなる傾向となる。
【0005】そして、このRCCを用いることはバイア
ホール用の穴径が小さくなるほど、或いは、RCCの樹
脂厚みが大きくなるほど、バイアホール用の穴内に処理
する銅メッキ層厚みを十分に確保できない場合が生じ、
バイアホールの接続信頼性を低下させる傾向がある。こ
のことを小径のバイアホールを形成する場合を例にして
説明すると、次のようになる。図5(a)には理想的な
バイアホールとパターンとが形成された多層板に、次の
RCCが積層された状態の断面を示したものである。図
5(a)のように、径R0で形成されたバイアホール用
の穴16内における銅メッキ層18厚みC0は、ある程
度の厚さを均一に確保して処理されていなければならな
い。この銅メッキ層厚みC0が均一に穴16内で確保さ
れていることが、バイアホールの接続信頼性となるから
である。そして、RCCの銅箔9及び銅メッキ層18に
より形成されるパターンと、その上に積層されるRCC
の銅箔9’との間隙、即ち樹脂8’による層間絶縁距離
W0が十分に確保された状態であるものがプリント配線
板として理想的なものである。この層間絶縁距離は、ク
ロストーク特性や絶縁信頼性などのプリント配線板に要
求される性能に大きく影響するからである。
ホール用の穴径が小さくなるほど、或いは、RCCの樹
脂厚みが大きくなるほど、バイアホール用の穴内に処理
する銅メッキ層厚みを十分に確保できない場合が生じ、
バイアホールの接続信頼性を低下させる傾向がある。こ
のことを小径のバイアホールを形成する場合を例にして
説明すると、次のようになる。図5(a)には理想的な
バイアホールとパターンとが形成された多層板に、次の
RCCが積層された状態の断面を示したものである。図
5(a)のように、径R0で形成されたバイアホール用
の穴16内における銅メッキ層18厚みC0は、ある程
度の厚さを均一に確保して処理されていなければならな
い。この銅メッキ層厚みC0が均一に穴16内で確保さ
れていることが、バイアホールの接続信頼性となるから
である。そして、RCCの銅箔9及び銅メッキ層18に
より形成されるパターンと、その上に積層されるRCC
の銅箔9’との間隙、即ち樹脂8’による層間絶縁距離
W0が十分に確保された状態であるものがプリント配線
板として理想的なものである。この層間絶縁距離は、ク
ロストーク特性や絶縁信頼性などのプリント配線板に要
求される性能に大きく影響するからである。
【0006】しかしながら、図5(a)と同様な構成材
料で、小径のバイアホールを形成する場合(r<
R0)、まず、層間絶縁距離W1をW0と同じようにす
ると、径rが小さくなっているため、穴16内における
メッキのスローイングパワーが低下し、銅メッキ層厚さ
C1が確保できなくなり、接続信頼性が著しく低下する
ことになる。また、逆に穴16内の銅メッキ層厚みC2
をC0と同じように確保すると、パターン側の銅メッキ
層18が厚くなるため、層間絶縁距離W2が確保できな
くなりクロストーク特性等の低下原因となる。以上のよ
うな不具合は、RCC7の樹脂8厚みが大きくなる場合
でも同様に生じる。
料で、小径のバイアホールを形成する場合(r<
R0)、まず、層間絶縁距離W1をW0と同じようにす
ると、径rが小さくなっているため、穴16内における
メッキのスローイングパワーが低下し、銅メッキ層厚さ
C1が確保できなくなり、接続信頼性が著しく低下する
ことになる。また、逆に穴16内の銅メッキ層厚みC2
をC0と同じように確保すると、パターン側の銅メッキ
層18が厚くなるため、層間絶縁距離W2が確保できな
くなりクロストーク特性等の低下原因となる。以上のよ
うな不具合は、RCC7の樹脂8厚みが大きくなる場合
でも同様に生じる。
【0007】このようなコンフォールマスク法での不具
合を解消するためには、薄い銅箔厚みのRCCを使用す
ることも考えられるが、現状では、市場において供給さ
れている銅箔厚みに限界があるうえ、コスト的にも非常
に高くなるため、実用上好ましい対応とはいえない。
合を解消するためには、薄い銅箔厚みのRCCを使用す
ることも考えられるが、現状では、市場において供給さ
れている銅箔厚みに限界があるうえ、コスト的にも非常
に高くなるため、実用上好ましい対応とはいえない。
【0008】そこで、本発明は、従来の樹脂付き銅箔を
用いたビルドアップ法におけるコンフォーマルマスク法
による多層プリント配線板の製造方法を改善し、バイア
ホールの小径化を図っても、バイアホールの接続信頼性
を十分に確保できる技術の提供を目的としている。
用いたビルドアップ法におけるコンフォーマルマスク法
による多層プリント配線板の製造方法を改善し、バイア
ホールの小径化を図っても、バイアホールの接続信頼性
を十分に確保できる技術の提供を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明では、バイアホール用のボトムランドを設け
たコア材に、RCCを高温プレス成形により積層し、該
RCCによってボトムランドに対応する位置の銅箔を除
去したコンフォーマルマスクを形成し、レーザ加工によ
り樹脂を除去してバイアホール用の穴を形成し、該穴内
のデスミア処理をして、銅メッキ処理及び所定のパター
ン形成処理を行うものであるビルドアップ法による多層
プリント配線板の製造方法において、レーザ加工後にR
CCの銅箔厚みを薄くして、デスミア処理、銅メッキ処
理及び所定のパターン形成処理するものとした。
め、本発明では、バイアホール用のボトムランドを設け
たコア材に、RCCを高温プレス成形により積層し、該
RCCによってボトムランドに対応する位置の銅箔を除
去したコンフォーマルマスクを形成し、レーザ加工によ
り樹脂を除去してバイアホール用の穴を形成し、該穴内
のデスミア処理をして、銅メッキ処理及び所定のパター
ン形成処理を行うものであるビルドアップ法による多層
プリント配線板の製造方法において、レーザ加工後にR
CCの銅箔厚みを薄くして、デスミア処理、銅メッキ処
理及び所定のパターン形成処理するものとした。
【0010】本発明によれば、レーザ加工後にRCCの
厚みが薄くなっているので、バイアホールの穴径を小さ
くしても、穴内における銅メッキ層厚みを十分確保でき
る銅メッキ処理が施せることになる。そして、RCCの
銅箔厚みが薄くされているので、銅メッキ層の厚みを大
きくするような銅メッキ処理を施しても、次に積層され
るRCCとの層間絶縁距離も十分に確保することが可能
となるのである。
厚みが薄くなっているので、バイアホールの穴径を小さ
くしても、穴内における銅メッキ層厚みを十分確保でき
る銅メッキ処理が施せることになる。そして、RCCの
銅箔厚みが薄くされているので、銅メッキ層の厚みを大
きくするような銅メッキ処理を施しても、次に積層され
るRCCとの層間絶縁距離も十分に確保することが可能
となるのである。
【0011】本発明では、コア材に積層したRCCによ
りコンフォーマルマスクを形成し、レーザによるバイア
ホール用の穴をレーザ加工した後に、RCCの銅箔厚み
を薄くすることに特徴があり、積層したRCCを予めエ
ッチング等することでその銅箔厚みを薄くする場合や、
単に、RCCの銅箔厚みが薄いものを使用する場合に比
べ、次のような作用を有する。コア材に積層したRCC
は、ボトムランド位置に合わせて所定のバイアホール径
となるように銅箔が除去されてコンフォーマルマスクと
して形成され、その銅箔の開口部分、即ち樹脂の露出し
た部分へ、銅箔の開口部分よりも若干大きなレーザ径の
レーザ光を照射することで、バイアホール用の穴が形成
される。このとき、コンフォーマルマスクである銅箔に
はレーザ光が直接照射される部分もあり、かなりの高温
となる。そのため、レーザ加工時にRCCの銅箔厚みが
薄いと、レーザにより高温に加熱された部分では銅箔と
樹脂との剥離が生じたり、穴壁が余分に溶かされたりす
ることが生じる。つまり、レーザ加工前に銅箔厚みの薄
い状態のRCCであると、レーザによるバイアホール用
の穴明けが行えないことになる。しかし、本発明におい
ては、レーザ加工時に従来と同様の銅箔厚みを有するR
CCを用いることができるので、レーザによるバイアホ
ール用の穴形成を問題なく行うことができるのである。
りコンフォーマルマスクを形成し、レーザによるバイア
ホール用の穴をレーザ加工した後に、RCCの銅箔厚み
を薄くすることに特徴があり、積層したRCCを予めエ
ッチング等することでその銅箔厚みを薄くする場合や、
単に、RCCの銅箔厚みが薄いものを使用する場合に比
べ、次のような作用を有する。コア材に積層したRCC
は、ボトムランド位置に合わせて所定のバイアホール径
となるように銅箔が除去されてコンフォーマルマスクと
して形成され、その銅箔の開口部分、即ち樹脂の露出し
た部分へ、銅箔の開口部分よりも若干大きなレーザ径の
レーザ光を照射することで、バイアホール用の穴が形成
される。このとき、コンフォーマルマスクである銅箔に
はレーザ光が直接照射される部分もあり、かなりの高温
となる。そのため、レーザ加工時にRCCの銅箔厚みが
薄いと、レーザにより高温に加熱された部分では銅箔と
樹脂との剥離が生じたり、穴壁が余分に溶かされたりす
ることが生じる。つまり、レーザ加工前に銅箔厚みの薄
い状態のRCCであると、レーザによるバイアホール用
の穴明けが行えないことになる。しかし、本発明におい
ては、レーザ加工時に従来と同様の銅箔厚みを有するR
CCを用いることができるので、レーザによるバイアホ
ール用の穴形成を問題なく行うことができるのである。
【0012】また、さらに本発明のように、レーザー加
工後にRCCの銅箔厚みを薄くするという方法は、パタ
ーンの接着強度を従来と同様に確保できるという作用も
有している。バイアホールの穴内へ形成する銅メッキ層
をより厚くするには、レーザ加工後にRCCの銅箔を全
てエッチング等で取り除いて銅メッキ処理を行うことが
考えられる。この場合パターン部分も銅メッキ処理によ
り形成されることになるが、この銅メッキ処理で形成さ
れたパターンと樹脂との接着強度は、RCCにおける樹
脂と銅箔との接着強度よりも低下し、プリント配線板の
特性の観点からすると好ましい方法とはいえない。本発
明では、RCCの銅箔厚みを薄くするだけであるため、
形成されるパターンの接着強度は従来のものと同様に確
保でき、そして、バイアホールの接続信頼性が向上し、
クロストーク特性や絶縁信頼性をも確保できるようにな
るのである。
工後にRCCの銅箔厚みを薄くするという方法は、パタ
ーンの接着強度を従来と同様に確保できるという作用も
有している。バイアホールの穴内へ形成する銅メッキ層
をより厚くするには、レーザ加工後にRCCの銅箔を全
てエッチング等で取り除いて銅メッキ処理を行うことが
考えられる。この場合パターン部分も銅メッキ処理によ
り形成されることになるが、この銅メッキ処理で形成さ
れたパターンと樹脂との接着強度は、RCCにおける樹
脂と銅箔との接着強度よりも低下し、プリント配線板の
特性の観点からすると好ましい方法とはいえない。本発
明では、RCCの銅箔厚みを薄くするだけであるため、
形成されるパターンの接着強度は従来のものと同様に確
保でき、そして、バイアホールの接続信頼性が向上し、
クロストーク特性や絶縁信頼性をも確保できるようにな
るのである。
【0013】本発明におけるRCCの銅箔厚みを薄くす
る方法は、銅箔の物理的な加工、例えば物理研磨によっ
て行ってもよく、或いは化学的な加工、例えばエッチン
グによる化学研磨によって行うことが可能である。要
は、レーザ加工後に行う銅メッキ処理、即ちバイアホー
ル用の穴内への銅メッキ処理で、接続信頼性が確保でき
るような銅メッキ層厚みが実現できるように、RCCの
銅箔厚みを薄くできるような手段をとればよいものであ
る。
る方法は、銅箔の物理的な加工、例えば物理研磨によっ
て行ってもよく、或いは化学的な加工、例えばエッチン
グによる化学研磨によって行うことが可能である。要
は、レーザ加工後に行う銅メッキ処理、即ちバイアホー
ル用の穴内への銅メッキ処理で、接続信頼性が確保でき
るような銅メッキ層厚みが実現できるように、RCCの
銅箔厚みを薄くできるような手段をとればよいものであ
る。
【0014】本発明でのRCCの銅箔厚みを薄くする方
法は、上述の通りどのような方法によっても可能である
が、実用的には、レーザ加工後に銅箔表面を物理研磨し
て、その後エッチングによって薄くすることが好まし
い。レーザ加工を行うと溶解した樹脂が飛散して付着す
るスミアと呼ばれる汚れが、バイアホール用の穴内及び
穴周辺の銅箔に生じる。このスミアは、銅箔に付着した
状態であると、エッチング等の化学研磨により銅箔厚み
を薄くしようとした場合に保護膜となり、RCCの銅箔
を均一に薄くエッチング処理できなくなる。そこで、R
CCの銅箔表面に付着したスミアを物理研磨によって除
去する。その際、穴内にはスミアが残存した状態である
ので、RCCの銅箔をエッチングしても、ボトムランド
の銅はエッチングされないことになる。このことを言い
換えると、スミアのすべてをエッチング前に取り除いて
おくと、RCCの銅箔厚みを薄くするエッチングをした
際に、それと同時にボトムランドの銅もエッチングされ
てしまい好ましいものではない。従って、レーザ加工に
よって発生したスミアを利用して、先にRCCの銅箔表
面に付着したスミアのみを除去し、穴内にはスミアを残
存させた状態で、エッチングを行うのである。これによ
って、ボトムランドを保護した状態で、RCCの銅箔厚
さを理想的にコントロールすることが可能となる。
法は、上述の通りどのような方法によっても可能である
が、実用的には、レーザ加工後に銅箔表面を物理研磨し
て、その後エッチングによって薄くすることが好まし
い。レーザ加工を行うと溶解した樹脂が飛散して付着す
るスミアと呼ばれる汚れが、バイアホール用の穴内及び
穴周辺の銅箔に生じる。このスミアは、銅箔に付着した
状態であると、エッチング等の化学研磨により銅箔厚み
を薄くしようとした場合に保護膜となり、RCCの銅箔
を均一に薄くエッチング処理できなくなる。そこで、R
CCの銅箔表面に付着したスミアを物理研磨によって除
去する。その際、穴内にはスミアが残存した状態である
ので、RCCの銅箔をエッチングしても、ボトムランド
の銅はエッチングされないことになる。このことを言い
換えると、スミアのすべてをエッチング前に取り除いて
おくと、RCCの銅箔厚みを薄くするエッチングをした
際に、それと同時にボトムランドの銅もエッチングされ
てしまい好ましいものではない。従って、レーザ加工に
よって発生したスミアを利用して、先にRCCの銅箔表
面に付着したスミアのみを除去し、穴内にはスミアを残
存させた状態で、エッチングを行うのである。これによ
って、ボトムランドを保護した状態で、RCCの銅箔厚
さを理想的にコントロールすることが可能となる。
【0015】この場合における物理研磨は、例えば、バ
フ研磨やベルトサンダーなどの表面を研削できるような
ものであればよく、エッチングも従来より知られてい
る、硫酸系、塩化銅系などのエッチング液を用いて行う
ことが可能である。このような物理研磨やエッチングに
関する技術は、本発明の技術分野において様々なものが
利用されているが、従来のこれらに関する技術や設備等
をそのまま適用できるので、レーザ加工後に物理研磨し
エッチング処理を行うことよってRCCの銅箔厚みを薄
くすることは、非常に実用的な方法といえるのである。
フ研磨やベルトサンダーなどの表面を研削できるような
ものであればよく、エッチングも従来より知られてい
る、硫酸系、塩化銅系などのエッチング液を用いて行う
ことが可能である。このような物理研磨やエッチングに
関する技術は、本発明の技術分野において様々なものが
利用されているが、従来のこれらに関する技術や設備等
をそのまま適用できるので、レーザ加工後に物理研磨し
エッチング処理を行うことよってRCCの銅箔厚みを薄
くすることは、非常に実用的な方法といえるのである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について説明する。まず、ビルドアップ法におけるコ
ンフォーマルマスクの形成について、図1及び図2を参
照しながら説明する。
態について説明する。まず、ビルドアップ法におけるコ
ンフォーマルマスクの形成について、図1及び図2を参
照しながら説明する。
【0017】まず、図1(ア)に示すように、層間絶縁
材としてガラスエポキシ材1に銅箔を張り合わせて、エ
ッチングにより、ボトムランド2、内層パターン3、円
形の基準マーク4を設けたコア材5となる両面プリント
配線板を用意した。この基準マーク4は、銅箔がφ1.
0mmの円形に除かれた状態のもので、その反対面側
は、透過光が通り抜けやすくなるように基準マーク4よ
りもやや大きな面積の銅箔を除去している。
材としてガラスエポキシ材1に銅箔を張り合わせて、エ
ッチングにより、ボトムランド2、内層パターン3、円
形の基準マーク4を設けたコア材5となる両面プリント
配線板を用意した。この基準マーク4は、銅箔がφ1.
0mmの円形に除かれた状態のもので、その反対面側
は、透過光が通り抜けやすくなるように基準マーク4よ
りもやや大きな面積の銅箔を除去している。
【0018】そして、基準マーク4が認識できる程度の
面積(φ2.0mm)の円形開口部6を予め穿設してあ
るRCC7を準備した。このRCC7は、エポキシ系の
樹脂8が銅箔9に塗工されたもので、樹脂が半硬化状
態、いわゆるBステージ状態にされている。このRCC
7を、コア材5の基準マーク4が開口部6中央に配置さ
れるように両面に重ね、高温プレス成型により積層した
(図1(イ))。高温プレスは、離型フィルムをRCC
7表面に敷き乗せ、それをSUS板で挟み込み、熱間圧
縮プレス成形するものである。この高温プレス成形を行
うと、図1(イ)に示すように、RCC7の開口部6で
あった部分には樹脂8が流れ込み、開口部の空間を樹脂
で埋めた状態となる。従って、積層されたこの部分、即
ち基準マーク4の部分には、光が透過できる通路を厚さ
方向に形成することになる。
面積(φ2.0mm)の円形開口部6を予め穿設してあ
るRCC7を準備した。このRCC7は、エポキシ系の
樹脂8が銅箔9に塗工されたもので、樹脂が半硬化状
態、いわゆるBステージ状態にされている。このRCC
7を、コア材5の基準マーク4が開口部6中央に配置さ
れるように両面に重ね、高温プレス成型により積層した
(図1(イ))。高温プレスは、離型フィルムをRCC
7表面に敷き乗せ、それをSUS板で挟み込み、熱間圧
縮プレス成形するものである。この高温プレス成形を行
うと、図1(イ)に示すように、RCC7の開口部6で
あった部分には樹脂8が流れ込み、開口部の空間を樹脂
で埋めた状態となる。従って、積層されたこの部分、即
ち基準マーク4の部分には、光が透過できる通路を厚さ
方向に形成することになる。
【0019】次に、このように積層したものの表面にレ
ーザーマスク形成用レジスト10を被覆した。このレー
ザーマスク形成用レジスト10は、ドライフィルムと呼
ばれる紫外線硬化型のレジストで、熱圧着することによ
り被覆するものである。これに、位置決め部11、基準
穴明け部12、バイアホール形成部13が設けられたレ
ーザーマスク用フィルム14を載置した。バイアホール
形成部13は、コア材5に設けられているボトムランド
2位置に相当するようフィルムに形成されたものであ
る。レーザーマスク用フィルム14の載置は、基準マー
ク4の相当する部分へ透過光を照射して、反対側に設置
するCCDカメラ15で、基準マーク4の部分を透過し
てくる光に、位置決め部11が精確に重なるようにフィ
ルムを移動させて行った(図2(ウ))。
ーザーマスク形成用レジスト10を被覆した。このレー
ザーマスク形成用レジスト10は、ドライフィルムと呼
ばれる紫外線硬化型のレジストで、熱圧着することによ
り被覆するものである。これに、位置決め部11、基準
穴明け部12、バイアホール形成部13が設けられたレ
ーザーマスク用フィルム14を載置した。バイアホール
形成部13は、コア材5に設けられているボトムランド
2位置に相当するようフィルムに形成されたものであ
る。レーザーマスク用フィルム14の載置は、基準マー
ク4の相当する部分へ透過光を照射して、反対側に設置
するCCDカメラ15で、基準マーク4の部分を透過し
てくる光に、位置決め部11が精確に重なるようにフィ
ルムを移動させて行った(図2(ウ))。
【0020】このようにしてレーザーマスク用フィルム
14を載置した後、レーザーマスク形成用レジスト10
を露光、現像し、塩化第二銅系のエッチング液により、
基準穴明け部12及びバイアホール形成部13に対応す
るRCC7の銅箔9を除去した。そして、残存するレー
ザーマスク形成用レジスト10を剥離すると、図2
(エ)に示すように基準穴明け部12とバイアホール形
成部13とに対応する部分が、RCC7の樹脂8表面を
露出した状態になる。
14を載置した後、レーザーマスク形成用レジスト10
を露光、現像し、塩化第二銅系のエッチング液により、
基準穴明け部12及びバイアホール形成部13に対応す
るRCC7の銅箔9を除去した。そして、残存するレー
ザーマスク形成用レジスト10を剥離すると、図2
(エ)に示すように基準穴明け部12とバイアホール形
成部13とに対応する部分が、RCC7の樹脂8表面を
露出した状態になる。
【0021】図2(エ)のように形成されたバイアホー
ル形成部13’は、RCC7の銅箔9が所定のバイアホ
ール径に開口除去された状態でコンフォーマルマスクを
形成しているものである。続いて、本実施形態における
レーザ加工以後の工程について、図3を参照しながら説
明する。
ル形成部13’は、RCC7の銅箔9が所定のバイアホ
ール径に開口除去された状態でコンフォーマルマスクを
形成しているものである。続いて、本実施形態における
レーザ加工以後の工程について、図3を参照しながら説
明する。
【0022】図3は、図2(エ)の波線Aで囲まれた部
分を拡大して示したものである。図3(A)で示すよう
に、φ0.1mm径のバイアホールが形成されるよう
に、RCC7の銅箔9が除去されたバイアホール形成部
13’があり、この場所に対して、レーザ径φ0.2程
度の炭酸ガスレーザー(レーザ加工条件:周波数100
0HZ、パルス幅20μsec)を照射した(図3
(B))。これにより、図3(C)に示すようなバイア
ホール用の穴16が形成された。この穴16の内部及び
ボトムランド2表面、銅箔9の一部には、エポキシ系樹
脂7が溶解して生じるスミア17が付着した状態とな
る。
分を拡大して示したものである。図3(A)で示すよう
に、φ0.1mm径のバイアホールが形成されるよう
に、RCC7の銅箔9が除去されたバイアホール形成部
13’があり、この場所に対して、レーザ径φ0.2程
度の炭酸ガスレーザー(レーザ加工条件:周波数100
0HZ、パルス幅20μsec)を照射した(図3
(B))。これにより、図3(C)に示すようなバイア
ホール用の穴16が形成された。この穴16の内部及び
ボトムランド2表面、銅箔9の一部には、エポキシ系樹
脂7が溶解して生じるスミア17が付着した状態とな
る。
【0023】このレーザ加工後、銅箔9の表面に付着し
たスミア17を除去するため、ベルトサンダー(研磨条
件:粗さ1000番、切削速度150m/min)によ
り表面の物理研磨を行った(図3(D))。そして、硫
酸−過酸化水素系のエッチング液を用いて、18μm厚
さであったRCC7の銅箔9を約6μm厚さになるまで
化学研磨を行った(図3(E))。この際、穴16内に
はスミア17が残存しているため、ボトムランド2表面
はエッチングされていないことが確認された。
たスミア17を除去するため、ベルトサンダー(研磨条
件:粗さ1000番、切削速度150m/min)によ
り表面の物理研磨を行った(図3(D))。そして、硫
酸−過酸化水素系のエッチング液を用いて、18μm厚
さであったRCC7の銅箔9を約6μm厚さになるまで
化学研磨を行った(図3(E))。この際、穴16内に
はスミア17が残存しているため、ボトムランド2表面
はエッチングされていないことが確認された。
【0024】このRCC7の銅箔9厚さを薄くした後、
穴16内のスミア17を除去するために、過マンガン酸
カリウム溶液に浸漬してデスミア処理を行った(図3
(F))。その後、銅メッキ処理として無電解銅メッキ
処理及び電解メッキ処理をすることで、所定厚みの銅メ
ッキ層18を形成した(図2(G))。この無電解メッ
キ処理前には、いわゆるキャタライズ処理と呼ばれる無
電解メッキの析出核となるパラジウムの沈着処理を行っ
ており、無電解銅メッキ処理の条件は、硫酸銅・五水和
物3g/L、水酸化ナトリウム5g/L、ホルムアルデ
ヒド9g/Lの溶液に20分間浸漬するもので、次いで
電解メッキ処理条件は、硫酸銅50g/L、硫酸220
g/L溶液中、1.5A/dm2の電流密度で60分間
メッキ処理を行ったものである。
穴16内のスミア17を除去するために、過マンガン酸
カリウム溶液に浸漬してデスミア処理を行った(図3
(F))。その後、銅メッキ処理として無電解銅メッキ
処理及び電解メッキ処理をすることで、所定厚みの銅メ
ッキ層18を形成した(図2(G))。この無電解メッ
キ処理前には、いわゆるキャタライズ処理と呼ばれる無
電解メッキの析出核となるパラジウムの沈着処理を行っ
ており、無電解銅メッキ処理の条件は、硫酸銅・五水和
物3g/L、水酸化ナトリウム5g/L、ホルムアルデ
ヒド9g/Lの溶液に20分間浸漬するもので、次いで
電解メッキ処理条件は、硫酸銅50g/L、硫酸220
g/L溶液中、1.5A/dm2の電流密度で60分間
メッキ処理を行ったものである。
【0025】このように銅メッキ処理が施されたもの
に、図示は省略するが、パターンを形成するためのエッ
チングレジストを被覆し、図2(エ)の基準穴明け部1
2’に設けられた基準穴を用いてパターン用フィルムを
位置決め載置し、エッチングレジストの露光現像を行
い、塩化第二銅系のエッチング液によりパターンの形成
を行った。このようにして形成された多層板をコア材と
して、さらに、RCC7を積層して、上記に説明した工
程を繰り返すことによって多層プリント配線板の製造を
行った。
に、図示は省略するが、パターンを形成するためのエッ
チングレジストを被覆し、図2(エ)の基準穴明け部1
2’に設けられた基準穴を用いてパターン用フィルムを
位置決め載置し、エッチングレジストの露光現像を行
い、塩化第二銅系のエッチング液によりパターンの形成
を行った。このようにして形成された多層板をコア材と
して、さらに、RCC7を積層して、上記に説明した工
程を繰り返すことによって多層プリント配線板の製造を
行った。
【0026】本実施形態で示した製造方法で得られた多
層プリント配線板の断面を確認したところ、バイアホー
ル径を小さくした場合であっても、バイアホール用の穴
内に処理される銅メッキ層の厚みが十分に確保されると
ともに、外層側のパターンとの間隔、即ち絶縁層厚さも
同様に確保されていた。従って、バイアホールの接続信
頼性が高く、クロストーク特性等も何ら従来と遜色のな
いものが得られることが判明した
層プリント配線板の断面を確認したところ、バイアホー
ル径を小さくした場合であっても、バイアホール用の穴
内に処理される銅メッキ層の厚みが十分に確保されると
ともに、外層側のパターンとの間隔、即ち絶縁層厚さも
同様に確保されていた。従って、バイアホールの接続信
頼性が高く、クロストーク特性等も何ら従来と遜色のな
いものが得られることが判明した
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る製造方
法によれば、RCCを用いてレーザ加工を行うコンフォ
ーマルマスク法で多層プリント配線板を製造する際に、
バイアホール径の小径化を図っても、バイアホールでの
接続信頼性を十分に高くすることができ、クロストーク
特性や絶縁信頼性などのプリント配線板性能も確保する
とともにパターンと樹脂との接着強度も従来と同様なレ
ベルのものにすることができる。
法によれば、RCCを用いてレーザ加工を行うコンフォ
ーマルマスク法で多層プリント配線板を製造する際に、
バイアホール径の小径化を図っても、バイアホールでの
接続信頼性を十分に高くすることができ、クロストーク
特性や絶縁信頼性などのプリント配線板性能も確保する
とともにパターンと樹脂との接着強度も従来と同様なレ
ベルのものにすることができる。
【図1】本実施形態のコンフォーマルマスク形成手順の
うち、(ア)前準備、(イ)積層工程をそれぞれ示した
フロー図。
うち、(ア)前準備、(イ)積層工程をそれぞれ示した
フロー図。
【図2】本実施形態のコンフォーマルマスク形成手順の
うち、(ウ)レーザマスク形成用レジスト被覆工程、
(エ)露光・現像・エッチング工程をそれぞれ示したフ
ロー図。
うち、(ウ)レーザマスク形成用レジスト被覆工程、
(エ)露光・現像・エッチング工程をそれぞれ示したフ
ロー図。
【図3】本実施形態におけるレーザ加工以後の製造手順
を示したフロー図。
を示したフロー図。
【図4】従来のレーザ加工以後の製造手順を示すフロー
図。
図。
【図5】バイアホールを形成した場合の断面を示す図。
1 ガラスエポキシ材 2 ボトムランド 3 内層パターン 4 基準マーク 5 コア材 6 開口部 7、7’ RCC 8、8’ 樹脂 9、9’ 銅箔 10 レーザマスク形成用レジスト 11 位置決め部 12、12’基準穴明け部 13、13’バイアホール形成部 14 レーザマスク用フィルム 15 CCDカメラ 16 穴 17 スミア 18 銅メッキ層 W0、W1、W2 層間絶縁距離 R、r バイアホール径 C0、C1、C2 銅メッキ層厚み
Claims (2)
- 【請求項1】 バイアホール用のボトムランドを設けた
コア材に、樹脂付き銅箔を高温プレス成形により積層
し、該樹脂付き銅箔によってボトムランドに対応する位
置の銅箔が除去されたコンフォーマルマスクを形成し、
レーザ加工により樹脂を除去してバイアホール用の穴を
形成し、該穴内のデスミア処理をして、銅メッキ処理及
び所定のパターン形成処理を行うものであるビルドアッ
プ法による多層プリント配線板の製造方法において、 レーザ加工後に樹脂付き銅箔の銅箔厚みを薄くして、デ
スミア処理、銅メッキ処理及び所定のパターン形成処理
をすることを特徴とする多層プリント配線板の製造方
法。 - 【請求項2】 レーザ加工後に樹脂付き銅箔の表面を物
理研磨し、エッチングにより樹脂付き銅箔の銅箔厚みを
薄くするものである請求項1に記載の多層プリント配線
板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000067892A JP2001257475A (ja) | 2000-03-13 | 2000-03-13 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000067892A JP2001257475A (ja) | 2000-03-13 | 2000-03-13 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001257475A true JP2001257475A (ja) | 2001-09-21 |
Family
ID=18587014
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000067892A Pending JP2001257475A (ja) | 2000-03-13 | 2000-03-13 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001257475A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003101232A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Daiwa Kogyo:Kk | 導電接続構造及びその形成方法 |
KR100632556B1 (ko) | 2005-01-28 | 2006-10-11 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판의 제조방법 |
KR100701353B1 (ko) | 2005-08-19 | 2007-03-29 | 주식회사 두산 | 다층 인쇄 회로 기판 및 그 제조 방법 |
CN114760768A (zh) * | 2022-06-10 | 2022-07-15 | 四川英创力电子科技股份有限公司 | 一种内层阴阳铜印制电路板加工方法及印制电路板 |
-
2000
- 2000-03-13 JP JP2000067892A patent/JP2001257475A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003101232A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Daiwa Kogyo:Kk | 導電接続構造及びその形成方法 |
KR100632556B1 (ko) | 2005-01-28 | 2006-10-11 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판의 제조방법 |
KR100701353B1 (ko) | 2005-08-19 | 2007-03-29 | 주식회사 두산 | 다층 인쇄 회로 기판 및 그 제조 방법 |
CN114760768A (zh) * | 2022-06-10 | 2022-07-15 | 四川英创力电子科技股份有限公司 | 一种内层阴阳铜印制电路板加工方法及印制电路板 |
CN114760768B (zh) * | 2022-06-10 | 2022-08-30 | 四川英创力电子科技股份有限公司 | 一种内层阴阳铜印制电路板加工方法及印制电路板 |
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