JP2001257298A - 熱伝界面体及びその使用方法 - Google Patents

熱伝界面体及びその使用方法

Info

Publication number
JP2001257298A
JP2001257298A JP2001001982A JP2001001982A JP2001257298A JP 2001257298 A JP2001257298 A JP 2001257298A JP 2001001982 A JP2001001982 A JP 2001001982A JP 2001001982 A JP2001001982 A JP 2001001982A JP 2001257298 A JP2001257298 A JP 2001257298A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
alloy
heat transfer
heat
transfer interface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001001982A
Other languages
English (en)
Inventor
Choong-Un Kim
キム チュン−ウン
Seung-Mun You
ユー シェン−ムン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thermax International LLC
Original Assignee
Thermax International LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thermax International LLC filed Critical Thermax International LLC
Publication of JP2001257298A publication Critical patent/JP2001257298A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/01Manufacture or treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3736Metallic materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3738Semiconductor materials
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • F28F2013/005Thermal joints
    • F28F2013/006Heat conductive materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/14Layer or component removable to expose adhesive
    • Y10T428/1419Wax containing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/14Layer or component removable to expose adhesive
    • Y10T428/1452Polymer derived only from ethylenically unsaturated monomer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Powder Metallurgy (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 或る物体から別の物体に熱を伝達するための
熱伝界面体(a thermaljoint)及び、半導体装置のよ
うな熱発生装置とヒートシンク(heat sink)のような
熱除去装置との間に熱を伝達する方法を提供しようとす
る。 【解決手段】 少なくとも1つの固相と、該固相と平衡
状態にある少なくとも1つの液相と、を包含する少なく
とも2つの構成元素からなる合金を包含して構成され、
前記合金は、作動温度(TP)、液体温度(TL)及び固体
温度(TS)を有し、前記作動温度(TP)は前記液体温度
(TL)と前記固体温度(TS)間に存在するように構成さ
れた、熱伝達を容易にさせる熱伝界面体を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、或る物体から別の
物体に熱を伝達するための熱伝界面体(a thermal jo
int)及び、半導体装置のような熱発生装置とヒートシ
ンク(heat sink)のような熱除去装置との間に熱を伝
達する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】効率的な熱伝達を必要とする装置が数多
くある。例えば、高速コンピュータ及びその他の高速装
置は多くの集積回路チップを必要とし、これらのチップ
には多くの能動装置が収納されて、非常に近接した距離
に離隔されてある。正常的な作動下で、例えば、バイポ
ーラトランジスタのような前記各装置は非常に大きい電
力密度を消費するようになる。又、前記各装置が正常的
に作動するためには相対的に低い作動温度が必要とな
る。即ち、装置の発熱を充分に冷却させることが必要で
ある。反対に、現在使用されている限られた冷却容量を
有する装置及びそれらの装置が組合された集積回路チッ
プの最大作動可能温度は、許容可能な電力密度、回路密
度及びシステム速度を制限する。即ち、装置及び集積回
路チップの冷却能力を向上させると、電力密度、回路密
度及びシステム速度を増加することができる。
【0003】伝導によって或る物体から別の物体に熱を
伝達、若しくは、発散するとき、熱交換過程で最も重要
な部分は、両物体間の接触部である。両物体間の熱交換
率を向上させる典型的な方法としては、両物体間の接触
面を機械加工して公差を高め、連結面の一層多くの部分
が接触するように密着させることである。この方法は、
処理費用が高く、表面処理の滑らかさ及び表面を横切っ
て印加される圧力の量も顧慮するべきである。表面不規
則がマイクロ単位で両接触面間の圧力が大きくても、相
対的に低い熱効率が得られる理由は、両物体間の接触部
が空気と空き空間に包まれた状態で相対的に少ない部分
のみが接触するからである。接触部の空隙及び空き空間
は熱抵抗を増加させる傾向がある。
【0004】このような両物体間の接触部の熱抵抗は、
接触面内の空隙及び空き空間を埋め込める界面材料を提
供することによって低減することができる。熱グリース
から相転換混合物に至るまでの多様な物質が電子装置を
冷却させるときなどの場合に接触物質として使用されて
いる。これら接触物質の主な機能としては、空き空間の
数を最小化させ、接触圧力を印加した状況下で粘性流動
又は化学反応による接触面積を増加させることである。
併し、これら接触物質は、無結晶グリース/オイル、シ
リコングリース、パラフィン密ろうのような相対的に低
い熱伝導を有する混合物を基礎としているため、これら
の物質による熱的性能の向上は制限的になる。高い熱流
速、又は、高い作動温度を経由する作動環境下で、熱伝
界面体としての前記各物質の性能は、揮発性要素の損失
により急激に低下することもある。このような問題点を
緩和するために、前記接触物質を熱伝導に優れた粉末と
混合するか、又は、金属構造と結合させる方法が採択さ
れるが、設計が複雑で、費用が高いという不都合な点が
あった。
【0005】はんだ付けは、両物体間の接触部の熱抵抗
を低減させる方法として従来から使用されてきた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】然るに、このような従
来はんだ付け法においては、両物体間の金属接触部をは
んだ付けすることによって熱接触は向上されるが、はん
だ付けする物質と反応する面のみに利用できる不都合な
点があった。そのため、アルミニウム、セラミック及び
プラスチックのように反応しない面に対しては貴金属の
ような結合層を被覆させる過程を先行するべきであっ
た。
【0007】且つ、結合物質、又は、被覆層間の熱的不
一致のため、はんだ付け物質に亀裂が発生することもあ
ると共に、相対的に高価で、製作上に制限が多いことか
ら、効率的に熱伝界面体としてはんだ付けを利用するこ
とは制限されている。
【0008】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたもので、相対的に熱伝導の大きい熱伝界面体、
特に、該熱伝界面体の熱伝導が典型的な金属及び合金に
匹敵し、容易に付着可能な熱伝界面体を提供することを
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、熱伝達を促進
させる熱伝界面体に関するものである。
【0010】本発明に係る熱伝界面体は、2つ以上の構
成元素からなる合金を包含して構成されている。このと
き、前記合金は、作動温度TP、液体温度TL及び固体温度
TSを有することを特徴とする。前記作動温度TPが前記液
体温度TLと前記固体温度TS間にあるとき、合金内には最
小1つ以上の液相及び固相が存在するが、できれば、液
相及び固相が実際に平衡状態であることが好ましい。熱
伝界面体は、熱発生部と熱発散部間に載置するように設
計する。
【0011】そして、本発明は、熱発生部と熱除去部間
に位置する熱伝界面体を包含する装置に関するものであ
る。このような装置は多様な機械の部品となり、例え
ば、コンピュータ、プリント、携帯電話(cellular ph
one)、TV、VCR、電力増幅器、変圧器、電力供給回路、
高発熱トランジスタ、ダイオード及びスイッチ基板など
の機械に利用することができるが、これらに限定される
ものではない。
【0012】且つ、本発明は、熱を発散する方法に関す
るものである。その方法は次の段階中の1つ以上を包含
して構成される。即ち、 (a)熱発生部と熱発散部間に最小2つ以上の要素から
なる合金により構成された熱伝界面体を載置させる。
【0013】(b)合金の液体温度TLと固体温度TS間の
温度範囲で前記熱伝界面体を作動させて、最小限1つ以
上の液相及び固相を前記合金に包含させる。このとき、
液相及び固相が実際に平衡状態にあれば一層好ましい。
【0014】更に、本発明は、低い熱抵抗を有する熱伝
界面体を構成する方法に関するものである。その方法は
次の過程中の1つ以上を包含して構成される。即ち、 (a)液体温度TL及び固体温度TSを有する2つ以上の要
素からなる合金を形成する。
【0015】(b)少なくとも一方側が接触面に空き空
間を有する熱発生部と熱発散部との間に合金を載置させ
る。
【0016】(c)接触面の空き空間を充填し得る液相
を形成するために、固体温度TS以上に合金温度を高め
る。
【0017】(d)液体温度の以下に作動温度を低下さ
せる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に対し
て説明する。
【0019】本発明は、両媒体間の熱伝達を向上させて
熱接触抵抗を低減させる熱伝界面体の構成及び応用に関
するものである。本発明における熱伝界面体とは、少な
くとも2つ以上の構成要素からなる合金を包含するもの
で、発熱体と放熱体間の界面に載置される大きさに形成
される。前記合金は、液体温度TL以上の温度では完全融
解されて液相になり、個体温度TS以下の温度では固相に
存在する特性を有する。液体温度(TL)と固体温度
(TS)間の温度(TP)で熱伝界面体が作動すると、前記
合金は最小1つ以上の液相及び固相を有する。ここで、
前記液相は、固相と熱力学的平衡状態にあることが好ま
しい。このような作動条件下で、固相は本来の物理的形
状を維持するが、液相は両接触面間の空隙及び空き空間
を充填させる。そのため、前記両接触面間の空隙及び空
き空間は最小化されるか、若しくは完全に除去されるの
で、前記両接触面間の熱抵抗が減少して、それら両接触
面間の熱伝導が増加する。
【0020】本発明において、“構成要素”とは、化学
元素、化合物及びそれらの組合せがなす全ての組成を通
称し、“熱伝界面体”とは、熱伝達を向上させる目的で
両媒体間に挟み込まれる全ての形態の構造物を意味す
る。前記熱伝界面体は、板(sheet)、薄膜、粉末及び
網などの多様な物理的形態に存在することができる。ま
た、本発明において、“合金”とは、最小2つ以上の化
学元素間の組合せ、若しくは、2つ以上の化合物の組合
せを意味するもので、各構成元素のそれぞれの液体温度
及び固体温度とは相異する温度特性を有する全ての物質
を包含する。且つ、前記合金は、液体温度TL以上では殆
ど、又は、完全に融解されて液相に存在し、固体温度TS
以下では殆ど、又は、完全に凝固して固相に存在する。
そして、前記液相温度と固相温度間の温度で、前記合金
は最小1つ以上の固相及び液相を有する。全ての相は実
質的に相平衡状態にあることが好ましい。適合な合金は
2元系、3元系及び4元系である。且つ、前記合金は5
つ以上の元素と、合成物、又は、化合物に構成すること
ができる。また、合金体が必ずしも金属である必要はな
い。
【0021】最も理想的な合金は、2つ又はそれ以上の
金属が均一に分布された混合物、若しくは、固溶体であ
るが、これら合金が必ずしも均一である必要はない。幾
つかの合金は2つ以上の金属からなる均一混合物、又
は、2つ以上の金属からなる固溶体ではない。にもかか
わらず、それら非均一合金が後述する融解特性を有すれ
ば、本発明の実施例で使用することもできる。即ち、合
金がある液体温度以上では完全に融解されて液相にな
り、所定固体温度以下で凝固して固相になれば、本発明
の実施例において、前記非均一合金を使用することがで
きる。前記合金を前記固体温度と前記液体温度との間の
温度に加熱すると、少なくとも1つの液相と少なくとも
1つの固相とが共存する。このとき、前記液相及び固相
を包含した全ての相が実質的に殆ど又は完全に平衡状態
にあることが好ましい。
【0022】完全な相平衡を有する系においては、各相
に存在する各化学元素(構成元素)の化学エネルギー
(chemical potential)は同様である。ここで、前記
エネルギー(μ)はモル当たり部分ギブス自由エネルギ
ー(partial Gibbs free energy、G)を称するもの
で、次式により表現される。
【0023】
【数1】 ここで、μは化学エネルギー、Gはギブス自由エネルギ
ー、nはモル数を意味し、i及びjは平衡系に存在する化
学元素をそれぞれ意味する。固相(α)及び液相(L)
が完全な平衡状態にある温度(T)におけるA−Bの2元
系合金の場合、次の平衡条件を充足するべきである。
【0024】
【数2】 類似するように、2元系で完全な3相平衡(2つの固相
α、β及び1つの液相L)が存在するとすれば、次の平
衡条件を充足するべきである。
【0025】
【数3】 一般に、合金系においては、元素の数が増加するほど各
平衡条件の数が増加する。例えば、3元系(A−B−C)
合金の場合、固相αと液相Lとが平衡であるときは次の
条件を充足する。
【0026】
【数4】 併し、完璧な相平衡は実際には達成することが困難で、
その代わりに、実質的な相平衡を維持するだけである。
即ち、系の全ての相に存在する各化学元素の化学エネル
ギーが実質的に同一であれば、実質的に相平衡に至った
ものと見なすことができる。本発明の実施例に適合な合
金を使用すると、合金の多様な相が実質的な平衡状態ま
たは完璧な平衡状態になる。併し、非平衡状態の条件下
で適合な合金を作動させて実質的な相平衡結果を得るこ
ともできる。
【0027】本発明の実施例によって、少なくとも1つ
の固相及び少なくとも1つの液相を有する合金を熱伝界
面体の形成に使用して、両構成要素間に熱伝達を促進す
ることができる。便宜上、このような特性を有する全て
の合金に対し、本明細書では“2相合金”と称する。こ
こで、2相合金というのは、少なくとも1つ以上の固相
及び少なくとも1つ以上の液相が共存する状態を称する
ものであるが、合金は一層多くの液相及び/又は固相を
包含することができる。図1は、熱伝界面体を形成する
ために本発明の実施例で使用する2相合金の相状態図で
あって、同図から見ると、元素A及び元素Bとを混合して
合金を形成したとき、最終の合金は元素A及び元素Bの融
解特性とは相異する融解特性を有する。前記合金は、単
一の液体温度で融解されるよりは、多様な温度範囲、例
えば、TSからTLまでの温度範囲で融解される。合金のTS
及びTLは、元素A及び元素Bの液体温度間に位置され、こ
れらの温度は元素Bの含有量(CB)が増加すると低下す
る。併し、元素Bの含有量に比例して合金のTSはTLより
も速く低下する。合金を与えられたCBからTSとTL間の温
度(T)に加熱すると、合金は固相と平衡状態にある液
相を維持する。完璧な相平衡系において、液相及び固相
の量は、熱力学的な平衡の原理に支配される(lever r
ule)。例えば、合金の組成がXであるとすると、温度T
における各相の構成比率は次式によって決定される。
【0028】
【数5】 ここで、指定されたCL及びCSは、与えられた温度におけ
る液相及び固相の平衡組成を意味する(図1参照)。
【0029】即ち、与えられたCBにおいて、合金の温度
が上昇すると液相の比率が増加され、反対に、合金の温
度が低下すると固相の比率が増加する。このような関係
は、熱界面に生じやすい高温点(hot spot)を最小化
するときに有利な役割を行う。例えば、局部的に前記高
温点が発生すると、該高温点部分の温度が周りの温度よ
りも上昇し、よって、前記高温点付近における液相の比
率が増加される。一層多くの液相が生成されると、前記
高温点付近での熱接触が改善されて、前記領域で一層多
くの熱を除去することができる。
【0030】図1に示された状態図の他にも多様な種類
の状態図が存在するが、図2及び図3は、簡単な2元系
状態図を示す。
【0031】即ち、図2は、共晶合金(Eutectic allo
y)の状態図、図3は、包晶合金(Peritectic alloy)
の状態図、をそれぞれ示している。
【0032】これらの合金系は、固体状態で固溶体を形
成することができないことが前記図1と相異する。その
代わりに、合金の組成及び温度によって固体状態で1つ
以上の相を形成する。且つ、固溶体を形成しない相異点
とは関係なく、両状態図では液相と固相とが一緒に共存
する領域が存在する(各状態図において、影領域として
表示されてある)。合金の組成及び温度が前記影領域に
包含されると、少なくとも1つの固相と共存する少なく
とも1つの液相を有する合金系を得ることができる。こ
のような2相合金系は、本発明に係る熱伝界面体を形成
するときに用いることができる。
【0033】前記図1及び図3が2元系合金について説
明しているが、状態図は3元系合金、若しくは、一層多
くの合金元素、合成物または化合物を有する多元系合金
を表示することが可能であるが、この場合はやや複雑に
なる。合金元素及び化合物の数に拘わらず、所定の適合
な合金の垂直面の状態図(vertical section、温度対
固定された合金組成)は、前記3つの状態図中の1つ、
又は、前記各状態図を組み合わせることによる。即ち、
適合な合金は2元系合金及び3元系合金に限定されるも
のではなく、4個、5個、6個、又は、それ以上の構成
元素(合金元素、合成物又は化合物)を有する合金を本
発明の実施例で利用することができる。
【0034】図4は、本発明の実施例に係る2つの構成
要素間で使用される熱伝界面体を示した断面図で、装置
40は、発熱体41及び放熱体42により構成され、そ
れら発熱体41と放熱体42間に本発明に係る熱伝界面
体45が挟み込まれる。
【0035】作動温度が合金の固体温度TS以上に上昇す
る前に、各構成要素の表面に存在する空き空間は、典型
的に空気によって充填されてある(図4には示されてな
い)。このような空隙及び空き空間は、両構成要素間に
発生するかなり高い熱抵抗に主に原因がある。作動温度
が合金の固体温度以上に上昇した後、液相が形成され
る。接触している両媒体には、通常、接触圧力(contac
t pressure)が加えられるので、該接触圧力によって
生成された液相は空隙に押されて空隙を充填するように
なる。このとき、固相は実質的に同一形状を維持する。
図4から説明したように、空隙及び空き空間において、
液相は固相によって元の位置を維持し、所定の液体維持
メカニズムの必要性を除去する。空隙及び空き空間の数
が実質的に減少若しくは除去されるため、熱抵抗を実質
的に減少させることができる。
【0036】上述したように、所定の温度範囲内で最小
限1つ以上の固相と液相とが共存する合金を本発明の実
施例に係る熱伝界面体を形成するときに用いることがで
きる。適合な合金は優れた熱伝導度を有するべきで、常
温よりは高いが典型的な作動温度よりは低い温度で融解
を開始するべきで、作動温度で実質的な相平衡を維持す
るべきである。且つ、合金は、正常作動温度(operatin
g temperature)で空隙を充分に充填しながらも界面の
外に漏れないほどの充分な量の液相を生成するべきであ
る。また、その他の設計要素、即ち、材料費、加工費、
耐食性及び使用上の容易性なども界面体の有用度を左右
する要素となる。
【0037】一般に、合金を選択すれば、固相/液相平
衡の温度範囲は決められる。合金の化学組成を変更させ
ることなく液相の比率を減少させる必要があるとき、2
相合金と一緒に添加物を使用することができる。添加物
は合金の化学平衡に寄与しないのが一般的で、適切な添
加物はかなり高い熱伝導度を有して、正常作動環境下で
固形に存在する。これら添加物は、金属、セラミック又
はその他の物質である。これら添加物の例としては、ダ
イヤモンド粉末、セラミック粉末及び金属粉末(例え
ば、Cu、Ag、Au、及びPb)などが挙げられるが、これら
に限定されるものではない。更に、規定された量の金属
粉末又は金属繊維は核の形成位置を提供し、該核形成位
置の周りに固相の形成を促進する。2相合金の基本動作
は変化しないが、金属添加物が存在するため、固相の比
率が増加して、合金の組成を実質的に変更させることな
く液相比率を制御することが容易になる。
【0038】なお、適切な合金の例としては、Bi、Pb、
Sn、Cd、In、Tl、Te、Ga及びHgのような各元素の所定化
合物を包含する合金系が包含されるが、これらに限定さ
れるものではない。また、遷移金属及び非遷移金属を前
記合金系に添加することもできる。ここで、典型的な非
遷移金属としては、Na、Li、Al、Mg、Zn、As、K、Rb及
びCdを包含するが、これらに限定されるものではない。
更に、適切な遷移金属としては、公知された全ての遷移
金属が包含され、特に、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、N
i、Cu、Zn、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、
Hf、Ta、W、Re、Os、Ir、Pt、Au、Hg、ランタン族元素
(Lanthanides)及びアクチニド元素(Actinides)など
が包含されるが、これらに限定されるものではない。好
ましい遷移金属はCu、Au及びAgである。その他に、Si及
びGeのような半伝導元素を合金に添加することができ
る。本発明の実施例に使用可能な適切な合金の例として
は、Bi−In、Sn−In−Ga、Bi−In−Sn、Bi−Pb−In、Bi
−Pb−Cd及びこれらをベースとする全ての合金系である
が、これらに限定されるものではない。
【0039】付加的に適切な合金は、Cu、Ag、Au、Pt、
Pb、Si及びGeのような貴金属の所定化合物を包含する合
金系である。更に、Al、Mg、Zn、Cr、Ni及びBeなどの所
定化合物を包含する合金を使用することもできる。その
他にも、1つ以上の遷移金属を上述した各合金に添加し
て、それら合金の化学的安定性を変更することもでき
る。本発明の実施例に使用可能な適切な合金としては、
Au−Si、Ag−Si、Au−Ge、Cu−Zn、Al−Ag、Ag−Ge、Ag
−Cu−Zn及びAg−Cu−Sn等があるが、これらに限定され
るものではない。
【0040】上述したように、適切な合金は必ずしも金
属である必要はない。本発明の実施例に他の合金系を使
用することもできる。例えば、非金属合金として、塩化
物、酸化物、窒化物、硫化物及びアンティモン族元素
(Antimonides)の合成合金を包含することができる。
適切な塩化物合金の例として、MgCl−NaClが挙げられ
る。且つ、適切なシリカ合金としては、鉛ガラス(Flin
t glass)、SiO2/CaCO2、SiO2/PbO、又は、SiO2/Ti
O2があるが、これらに限定されずその他にも数多くの合
金がある。
【0041】好ましい2相合金の形態としては、定めら
れた厚さに圧延された薄板が好ましいが、その他の形態
のものも可能である。例えば、物理的、化学的、又は、
電子化学的沈澱法を使用して、連結面の片方若しくは両
方に2相合金を被覆することができる。且つ、連結面に
粉末形態に載置することも可能で、作動条件下で、前記
粉末が堅くなって層を形成する。2相合金の作動は本質
的に連結面に対する液洗状態の湿潤程度とは関係ないた
め、予め表面処理を行う必要がない。実際に、アルミニ
ウム表面のような濡れない表面は、界面の組合及び解体
が容易に行われる。連結面が合金と反応する憂いがある
場合は、アルミナのような非反応層を被覆するべきで、
このような薄い被覆層は電気的に非伝導性であるため、
電気絶縁が必要な高性能熱伝界面体を必要とするときに
有用である。
【0042】熱伝界面体及び該熱伝界面体を用いて構成
される各装置に加えて、本発明の実施例では、ある要素
から別の要素に熱を発散する方法を提供する。
【0043】詳しくは、(a)熱発生部と熱発散部間に2
相合金からなる熱伝界面体を提供し、(b)前記合金が
少なくとも1つの液相及び固相を有するように、前記合
金の液体温度(TL)と固体温度(TS)間の温度で前記熱
伝界面体を作動させる。
【0044】このとき、液体状体が固体状態と実質的に
平衡状態であることが好ましく、熱伝界面体が熱発生部
の片面と直接接触することがより好ましい。同様に、熱
伝界面体が熱除去部の片面と直接接触することが好まし
い。ここで、前記熱発生部は、熱を除去するべき全ての
装置又は物体を包含するもので、例えば、半導体装置、
マイクロ電子装置、反応炉及び多重チップモジュールが
あるが、これらに限定されるものではない。又、前記熱
除去部は、熱源から熱を除去し得る全ての装置又は物体
を包含するもので、例えば、ヒートシンク、熱パイプ及
び冷却板があるが、これらに限定されるものではない。
【0045】本発明の実施例に係る放熱法は、ある要素
から別の要素に熱を除去する必要がある全てのシステム
で使用することができる。
【0046】本発明を使用するとき、作動温度TPを常に
合金の固体温度TSよりも高く維持する必要はないことに
注目するべきである。その代わりに、接触面(界面)の
空隙及び空き空間が実質的に液体相態で充填されるよう
に、作動温度を所定時間の間合金の固体温度TSよりも高
く維持する必要がある。空隙及び空き空間が実際に液相
で充填された後、熱伝界面体の全体が単に固相のみを包
含するように作動温度を固体温度TS以下に低下させる。
即ち、本発明を実施するときの最終作動温度は、固体温
度TSと液体温度TLの間、又は、固体温度TS以下になる。
【0047】上述したように、本発明の実施例に係る熱
伝界面体及び放熱方法は、ある要素から他の要素に熱を
伝達する必要のある全ての装置に使用することができ
る。例えば、スーパーコンピュータ、ワークステーショ
ン、個人用コンピュータ、ノートブックコンピュータ、
プリント、携帯電話(cellular phone)、TV及びVCRの
ような家電機器の内外部の熱パッケージング、そして、
商業的、軍事的用度の各種運送手段の電子制御システム
で使用することができる。更には、電子装置の熱パッケ
ージの応用として、基地局(base station)、電力増
幅器、変圧器、AC及びDC電力供給回路、高出力トランジ
スタ、ダイオード及びスイッチ基板のような電力システ
ム及び通信システムまでに拡張して使用することができ
る。且つ、熱伝界面体は、ヒートシンク組立体、又は、
熱パイプ組立体に対して所定形態の界面として使用する
ことができる。更に、熱伝界面体の適用は、熱交換器、
凝縮器及びその他の類似装置に対する界面として使用す
ることもできる。その他の適用例として、例えば、米国
特許第4,092,697号には、集積回路パッケージのための
熱伝達装置が説明されているが、本発明の実施例に係る
熱伝界面体を前記米国特許に記載された集積回路パッケ
ージの熱伝達装置の代わりに使用することができる。同
様に、米国特許第5,323,292号には、一致型のチップ−
熱交換接触部を有する、集積化された多重チップモジュ
ールが記載されているが、本発明に係る熱伝界面体を前
記多重チップモジュールの一致型のチップ−熱交換部の
代わりに使用することもできる。前記各米国特許の内容
は参照として本明細書の中に添付されている。
【0048】以下、各実施例に基づいて本発明を一層詳
しく説明する。なお、各実施例に記述された数字は近似
値である。 実施例1 この実施例は、液相保存メカニズムを使用せずに熱抵抗
を減少させるときに、本発明に係る熱伝界面体を使用す
ることができるか否かを示す。
【0049】多様なサンプルグループに対して熱接触イ
ンピーダンスを熱流速の関数として測定するためにASTM
D-5470(検査方法A)と類似した検査過程が行われ
た。図5は、ASTM D-5470によって典型的に使用される
装置を示す。
【0050】装置50において、試験材料51は下方側
の測定バー52Aと上方側の測定バー52B間に載置され
る。前記下方側の測定バー52Aは冷却装置53の上方
側に位置され、該冷却装置53は断熱器55Aの上方側
に位置される。一方、ヒーター54は前記上方側の測定
バー52Bの上方側に位置され、断熱器55Bが前記ヒー
タ54の上方側に位置される。危険防止ヒーター56は
前記断熱器55Bの上方側に位置されて、断熱器57に
覆われる。下向きの力が前記断熱器57の上面に与えら
れて、前記試験材料51に垂直に伝達される。
【0051】熱接触インピーダンスを測定するときに使
用される実際の装置は、厚い断熱ブロックを前記断熱器
57及び危険防止ヒーター56の代わりに使用すること
以外には図5に示された装置と類似し、効果も類似す
る。ASTM D-5470では、載置された検査材料に適用され
る圧力が3.0±0.1MPaになるべきであると明示されてい
る。併し、この検査では69±0.5kPa(約10psi)程度の
力のみが与えられた。殆どの適用分野では一層小さい締
め圧力が随伴されるため、低い接触圧力が一層適当であ
ると判断される。
【0052】3つのタイプの熱伝界面体に対して試験を
行った。前記3つのタイプとは、bare contact(即
ち、如何なる熱伝界面体も装着されてない)、2相合金
を有する熱伝界面体、及び液相合金を有する熱伝界面体
である。ここで、前記液相合金を有する熱伝界面体と
は、液体温度よりも高温に合金を融解させて形成した液
体金属熱伝界面体を称する。これに対し、前記2相合金
を有する熱伝界面体とは、本発明の実施例に係る熱伝界
面体を意味する。試験に使用した両合金は全てBi/In/
Snの3種類の合金である。特に、単相合金はBi/In/Sn
の3種類の金属の共晶合金であって、60℃の温度で完
全に融解される。2相合金は56wt.%のIn、約26wt.%
のSn、及び、約18wt.%のBiにより構成される。2相合
金は約60℃の温度で融解を開始するが、90℃を越える
までは液体状態及び固体状態を維持する。60℃と90
℃間の温度範囲において、合金の中には3つの平衡を成
す相が存在する。
【0053】比較のために使用された他のサンプルは、
米国、マサチューセッツ州、ウバン市に所在の(株)Pa
rker HannifinのChomerics部で“Chomerics T412”と
いう商品名で販売している商品である。これは熱テープ
に製作され、2ホウ素化チタン(titanium diboride)
が積載される、圧力に敏感なアクリル接着剤及びアルミ
ニウム帯により構成されている。
【0054】作動中の液体損失程度を測定するために、
試験過程中液相保存システムは使用されてない。3個の
熱伝界面体に対して収集された試験結果が表1に要約さ
れてある。
【0055】
【表1】 図6は、試験結果をグラフで示したものである。図6に
は、ログスケールの熱接触インピーダンスが熱流速の関
数として示されている。
【0056】図中、黒く塗られた四角形は、bare cont
actの熱接触インピーダンス値、黒く塗られた円は、液
相合金を有する熱伝界面体の熱接触インピーダンス、黒
く塗られてない円は、2相合金を有する熱伝界面体の熱
接触インピーダンス、をそれぞれ意味する。
【0057】試験結果、接触面の熱抵抗を低減させるた
めには、2相合金を有する熱伝界面体が液相熱伝界面体
と類似するか、又は優れることが分かる。
【0058】試験の間、液相合金を有する熱伝界面体の
厚さが最初は約150ミクロンであったが、液相が界面か
ら接触面の外側に流出されるため、接触圧力下で継続し
て圧縮されて薄くなることが分かる。反面、2相合金を
有する熱伝界面体において、厚さが薄くなり合金が伸び
る減少は実際には無視できるほど小さかった。これは本
発明では液相保存メカニズムを必要としないことを意味
する。
【0059】10psiの接触圧力と共に3psiまでの別の接
触圧力下で追加的な試験を行った。
【0060】その結果、2相合金を有する熱伝界面体の
性能が接触圧力の変化に殆ど影響を受けないことが観察
された。この結果から、1つ以上の固相が存在すると、
小さい接触圧力下でも接触部の空き空間に液相を再分配
する過程を促進させることが分かる。 実施例2 この実施例は、全体作動時間の間、作動温度が合金の固
体温度よりも高く維持される必要がないことを示す。前
記実施例1で使用された2相合金と本質的に類似した材
料を形成して同装置内に位置させた。材料の熱接触イン
ピーダンスは前記実施例1で説明した方法と同様に熱流
速の関数として測定した。熱流速が40W/cm3以下である
とき、材料は固体形態であった。約40W/cm3で材料が融
解を開始して接触部の空き空間を充填した。結果的に、
熱接触インピーダンスが減少した。約60W/cm3の熱流速
に到達した後、材料を実温まで冷却させ、その後、再び
50W/cm3程度まで熱を加え、このときの熱接触インピー
ダンスも測定した。
【0061】図7において、黒く塗られてない円は、最
初の加熱で測定した熱接触インピーダンス、黒く塗られ
た円は、2番目の加熱で測定した熱接触インピーダン
ス、をそれぞれ意味する。2番目の加熱で、低い熱流速
(即ち、材料が固体状態であるとき)で接触部の熱接触
インピーダンスは最初の加熱よりも2倍以上低い。これ
は、最初の加熱で、接触部の空き空間が液体状態で充填
されたことを意味する。その結果、材料が実温まで冷却
された後、液体状態がなくても低い熱接触インピーダン
スを有する接触面を得ることができた。追加的に熱を加
えても熱接触インピーダンスはそれほど変わってないこ
とが分かる。
【0062】実施例2は、本発明の実施例によると、低
い熱抵抗を有する熱伝界面体が得られることを示す。低
い熱抵抗を有する熱伝界面体は、適当な合金を、該合金
の個体温度以上で作動させることによって得ることが可
能で、作動温度を常に個体温度よりも高く維持する必要
はない。一応、接触部の空き空間が液体状態により充填
された後は、作動温度を個体温度以下に低下することが
可能で、その場合も、熱伝界面体は相変わらず優れた熱
伝導を示す。
【0063】以上、本発明を幾つかの制限された実施例
を用いて説明したが、修正及び変更を行うことも可能で
ある。例えば、本発明の各実施例では液体保存システム
を必要としないが、所定条件下では液体保存システムを
使用することもできる。同様に、結合面の湿潤性が重要
ではないが、結合面の湿潤性が必要な状況もありえる。
更に、熱伝界面体においても、上述したような融解特性
を有する適当な合金を用いて構成したが、合金ではない
が、類似した融解特性を有する他の物質を合金の代わり
に使用することもできる。最後に、合金が平衡又は準平
衡状態であることが好ましいことは明らかであるが、合
金を非平衡状態で作動させても相変わらず接触部の空き
空間を充填させ、接触熱抵抗を小さくして同様の結果を
得ることができる。例えば、適当な合金又は金属を高温
で完全に液体状態に変化させて接触部の空き空間を充填
した後、固体温度又は融解点以下の温度で作動させる
と、本発明の利点は達成される。付け加えて、本発明の
範囲内に包含される全ての変更及び修正を含めて本発明
の範囲を請求する。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る熱伝
界面体及び熱伝達方法においては、次のような優れた効
果がある。
【0065】1)液相保存システムを使用しなくても、
作動条件下で液体の実質的な損失がない。これは本質的
に熱伝界面体が装置の製作を単純にさせて、費用を低減
し得ることを意味する。
【0066】2)事実上、熱伝界面体の性能が接触圧力
に依存しないため、熱伝界面体は相対的に高い又は相対
的に低い接触圧力下で使用することができる。
【0067】3)熱伝界面体は作動条件下で液相が存在
するため、局部的に熱い地点を縮小、若しくは、最小化
することができる。且つ、固体状態も存在するため、熱
伝界面体は幾つかの適用分野で要求される強性を提供す
ることができる。即ち、以前は非実用的であるから、又
は、適合でないからといって使用されなかった多様な分
野に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】A、B要素の仮想的な合金システムの状態を概略
的に示した図である。
【図2】A、B要素の共晶状態を概略的に示した図であ
る。
【図3】A、B要素の包晶状態を概略的に示した図であ
る。
【図4】本発明を具体化させる作動条件下における熱伝
界面体を示した図である。
【図5】多様なサンプルの熱接触インピーダンスを測定
するために使用される機構を示した図である。
【図6】多様なサンプルの熱接触インピーダンスを熱流
速の関数として示した図である。
【図7】或るサンプルに対し、多様な作動温度における
熱接触インピーダンスを熱流速の関数として示したグラ
フである。
【符号の説明】
40 装置 41 発熱体 42 放熱体 45 熱伝界面体
フロントページの続き (71)出願人 501011439 3611 Battle Creek Dri ve, Missouri City, TX 77459, United Stat es of America (72)発明者 チュン−ウン キム アメリカ合衆国 テキサス 76006, ア ーリントン, ステネット ドライブ 2203 (72)発明者 シェン−ムン ユー アメリカ合衆国 テキサス 76012, ア ーリントン, パーク ビスタ ドライブ ナンバー2901 1705

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1つの固相と、該固相と平衡
    状態にある少なくとも1つの液相と、を包含する少なく
    とも2つの構成元素からなる合金を包含して構成され、
    前記合金は、作動温度(TP)、液体温度(TL)及び固体
    温度(TS)を有し、前記作動温度(TP)は前記液体温度
    (TL)と前記固体温度(TS)間に存在するように構成さ
    れた、熱伝達を容易にさせる熱伝界面体。
  2. 【請求項2】 前記合金は、添加物を追加包含して構成
    されることを特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  3. 【請求項3】 前記作動温度(TP)が前記液体温度
    (TL)と前記固体温度(TS)間に入ると、前記合金が複
    数の固相を有するか、又は、前記合金が1つ以上の液相
    を有することを特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  4. 【請求項4】 前記合金は、2元系、3元系、4元系、5元
    系、又は、6元系以上の構成元素を包含する多元系中の
    1つであることを特徴とする請求項1記載の熱伝界面
    体。
  5. 【請求項5】 前記合金は、Bi、Pb、Sn、Cd、Sb、In、
    Tl、Te、Se、Ga、Hg及びこれらの化合物中1つ以上を包
    含することを特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  6. 【請求項6】 前記合金は、Na、Li、Al、Mg、Ag、Cu、
    Zn、As、K、Rb、Ca、Au、Si、Ge及びこれらの化合物中
    1つ以上を追加包含することを特徴とする請求項1記載
    の熱伝界面体。
  7. 【請求項7】 前記合金は、Cu、Ag、Au、Pt、Pd、Si、
    Ge、Al、Mg、Zn、Cr、Ni、Be及びこれらの化合物中1つ
    以上を追加包含することを特徴とする請求項1記載の熱
    伝界面体。
  8. 【請求項8】 前記合金は、1つ以上の遷移金属を追加
    包含することを特徴とする請求項5、6及び7中何れか
    1つに記載の熱伝界面体。
  9. 【請求項9】 前記合金は、インジウム(In)、ビスマ
    ス(Bi)及びスズ(Sn)からなる3元系合金であること
    を特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  10. 【請求項10】 前記合金は、NaClとMgClとの混合物で
    あることを特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  11. 【請求項11】 前記合金は、鉛ガラス(Flint glas
    s)、SiO2/CaCO2、SiO2/PbO、又は、SiO2/TiO2であ
    ることを特徴とする請求項1記載の熱伝界面体。
  12. 【請求項12】 発熱体と、 放熱体と、 前記発熱体と前記放熱体間に位置する熱伝界面体と、に
    より構成され、 前記熱伝界面体は、少なくとも2つの構成元素からなる
    合金により構成され、前記合金は、少なくとも1つの固
    相と、該固相と平衡状態にある少なくとも1つの液相
    と、を包含して構成され、 前記合金は、作動温度(TP)、液体温度(TL)及び固体
    温度(TS)を有し、前記作動温度(TP)は前記液体温度
    (TL)と前記固体温度(TS)間に存在するように構成さ
    れた、熱装置。
  13. 【請求項13】 前記熱伝界面体の一方側面が前記放熱
    体の一方表面に直接接触することを特徴とする請求項1
    2記載の熱装置。
  14. 【請求項14】 前記熱伝界面体の一方側面が前記発熱
    体の一方表面に直接接触することを特徴とする請求項1
    2記載の熱装置。
  15. 【請求項15】 前記熱装置は、半導体装置又は熱交換
    装置であることを特徴とする請求項12記載の熱装置。
  16. 【請求項16】 発熱体と、放熱体と、前記発熱体と前
    記放熱体間に位置する熱伝界面体と、により構成され、
    前記熱伝界面体は、少なくとも2つの構成元素からなる
    合金により構成され、前記合金は、少なくとも1つの固
    相と、該固相と平衡状態にある少なくとも1つの液相
    と、を包含して構成され、前記合金は、作動温度
    (TP)、液体温度(TL)及び固体温度(TS)を有し、前
    記作動温度(TP)は前記液体温度(TL)と前記固体温度
    (TS)間に存在するように構成された熱装置を包含する
    機構において、 前記機構は、コンピュータ、プリント、携帯電話(cell
    ular phone)、TV、VCR、電力増幅器、変圧器、電力供
    給回路、高出力トランジスタ、ダイオード又はスイッチ
    ングボードであることを特徴とする、熱装置を包含する
    機構。
  17. 【請求項17】 少なくとも2個の構成元素により構成
    され、液体温度(TL)及び固体温度(TS)を有し、少な
    くとも1つの固相と、該固相と平衡状態にある少なくと
    も1つの液相と、を包含する合金からなる熱伝界面体を
    発熱体と放熱体間に提供する段階と、 前記液体温度(TL)と固体温度(TS)間の温度で前記熱
    伝界面体を作動させる段階と、 を包含することを特徴とする放熱方法。
  18. 【請求項18】 前記熱伝界面体を前記液体温度(TL
    と前記固体温度(TS)間の温度で作動させた後、更に、
    前記固体温度(TS)以下の温度で作動させることを特徴
    とする請求項17記載の放熱方法。
  19. 【請求項19】 前記放熱体は熱伝達表面を有する半導
    体装置で、前記発熱体は熱伝達表面を有するヒートシン
    クであることを特徴とする請求項17記載の放熱方法。
  20. 【請求項20】 前記熱伝界面体の一方側面が前記半導
    体の熱伝達面及び前記ヒートシンクの熱伝達面と直接接
    触することを特徴とする請求項17記載の放熱方法。
  21. 【請求項21】 少なくとも2つの構成元素により構成
    されて、液体温度(TL)及び固体温度(TS)を有する合
    金を提供する段階と、 発熱体と放熱体間に前記合金を位置させて、界面空隙を
    有する少なくとも1つの界面を形成する段階と、 前記合金を前記固体温度(TL)以上の温度で作動させ
    て、前記界面空隙を充填させる液相を形成する段階と、 前記液体温度(TL)以下に作動温度を低下させる段階
    と、 を順次行うことを特徴とする、低い熱抵抗を有する熱伝
    界面体の製造方法。
  22. 【請求項22】 前記作動温度を前記固体温度(TS)以
    下に低下させることを特徴とする請求項21記載の低い
    熱抵抗を有する熱伝界面体の製造方法。
  23. 【請求項23】 前記合金を前記液体温度(TL)以上の
    温度で作動させることを特徴とする請求項21記載の低
    い熱抵抗を有する熱伝界面体の製造方法。
JP2001001982A 2000-01-11 2001-01-09 熱伝界面体及びその使用方法 Withdrawn JP2001257298A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/481,194 US6343647B2 (en) 2000-01-11 2000-01-11 Thermal joint and method of use
US09/481.194 2000-01-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001257298A true JP2001257298A (ja) 2001-09-21

Family

ID=23911006

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001001982A Withdrawn JP2001257298A (ja) 2000-01-11 2001-01-09 熱伝界面体及びその使用方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6343647B2 (ja)
JP (1) JP2001257298A (ja)
KR (1) KR100459794B1 (ja)
AU (1) AU2001227751A1 (ja)
TW (1) TW503544B (ja)
WO (1) WO2001052323A2 (ja)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4459470B2 (ja) * 2001-04-06 2010-04-28 信越化学工業株式会社 電子部品の放熱構造体及びそれに用いる放熱シート
US7436058B2 (en) * 2002-05-09 2008-10-14 Intel Corporation Reactive solder material
US20030230403A1 (en) * 2002-06-14 2003-12-18 Webb Brent J. Conductive thermal interface and compound
EP1550733B1 (en) * 2002-10-07 2013-08-28 Panasonic Corporation Element for thermal fuse, thermal fuse and battery including the same
US6665186B1 (en) 2002-10-24 2003-12-16 International Business Machines Corporation Liquid metal thermal interface for an electronic module
JP4014528B2 (ja) * 2003-03-28 2007-11-28 日本碍子株式会社 ヒートスプレッダモジュールの製造方法及びヒートスプレッダモジュール
US7416922B2 (en) * 2003-03-31 2008-08-26 Intel Corporation Heat sink with preattached thermal interface material and method of making same
US7014093B2 (en) * 2003-06-26 2006-03-21 Intel Corporation Multi-layer polymer-solder hybrid thermal interface material for integrated heat spreader and method of making same
US7527090B2 (en) * 2003-06-30 2009-05-05 Intel Corporation Heat dissipating device with preselected designed interface for thermal interface materials
US7004243B1 (en) * 2003-07-22 2006-02-28 Unisys Corporation Method of extending the operational period of a heat-exchanger in a chip tester
CN100370635C (zh) * 2003-12-22 2008-02-20 中国电子科技集团公司第十八研究所 温差电元件与电极的压接方法
US20060120051A1 (en) * 2004-12-03 2006-06-08 Chris Macris Liquid metal thermal interface material system
JP4378334B2 (ja) * 2005-09-09 2009-12-02 日本碍子株式会社 ヒートスプレッダモジュール及びその製造方法
US9386327B2 (en) 2006-05-24 2016-07-05 Time Warner Cable Enterprises Llc Secondary content insertion apparatus and methods
US8280982B2 (en) 2006-05-24 2012-10-02 Time Warner Cable Inc. Personal content server apparatus and methods
US8024762B2 (en) 2006-06-13 2011-09-20 Time Warner Cable Inc. Methods and apparatus for providing virtual content over a network
WO2008036220A2 (en) * 2006-09-18 2008-03-27 Zink Imaging, Inc. Thermal printer with auxiliary heat sink and methods for printing using same
TWI344196B (en) * 2006-11-15 2011-06-21 Ind Tech Res Inst Melting temperature adjustable metal thermal interface materials and use thereof
US8016022B2 (en) * 2006-11-27 2011-09-13 Honeywell International Inc. Systems and methods for passive thermal management using phase change material
US8181206B2 (en) 2007-02-28 2012-05-15 Time Warner Cable Inc. Personal content server apparatus and methods
US8216418B2 (en) * 2007-06-13 2012-07-10 Lam Research Corporation Electrode assembly and plasma processing chamber utilizing thermally conductive gasket and o-rings
JP4345855B2 (ja) * 2007-07-31 2009-10-14 セイコーエプソン株式会社 半導体装置、放熱体、及び半導体装置の製造方法
US8187414B2 (en) * 2007-10-12 2012-05-29 Lam Research Corporation Anchoring inserts, electrode assemblies, and plasma processing chambers
US8152954B2 (en) 2007-10-12 2012-04-10 Lam Research Corporation Showerhead electrode assemblies and plasma processing chambers incorporating the same
TWI354529B (en) * 2007-11-23 2011-12-11 Ind Tech Res Inst Metal thermal interface material and thermal modul
US9503691B2 (en) 2008-02-19 2016-11-22 Time Warner Cable Enterprises Llc Methods and apparatus for enhanced advertising and promotional delivery in a network
US8187413B2 (en) * 2008-03-18 2012-05-29 Lam Research Corporation Electrode assembly and plasma processing chamber utilizing thermally conductive gasket
US8679288B2 (en) * 2008-06-09 2014-03-25 Lam Research Corporation Showerhead electrode assemblies for plasma processing apparatuses
US8449679B2 (en) 2008-08-15 2013-05-28 Lam Research Corporation Temperature controlled hot edge ring assembly
WO2011007224A2 (en) * 2009-07-13 2011-01-20 Clipper Windpower, Inc. Low cost, high thermal conductivity heat flux transporter
US20130224510A1 (en) * 2012-02-29 2013-08-29 General Electric Company System including thermal interface material
US20140111595A1 (en) 2012-10-19 2014-04-24 Zink Imaging, Inc. Thermal printer with dual time-constant heat sink
US20140282786A1 (en) 2013-03-12 2014-09-18 Time Warner Cable Enterprises Llc Methods and apparatus for providing and uploading content to personalized network storage
US9826662B2 (en) 2013-12-12 2017-11-21 General Electric Company Reusable phase-change thermal interface structures
KR20170108766A (ko) * 2016-03-18 2017-09-27 헤베이 리신 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 높은 연성을 가지는 무연 솔더 조성물
WO2020100614A1 (ja) * 2018-11-16 2020-05-22 株式会社日本スペリア社 はんだ接合部及びその製造方法
DE112020006983T5 (de) * 2020-03-27 2023-01-12 Mitsubishi Electric Corporation Mit Metall zusammengefügter Körper, Halbleitereinheit, Wellenleiterrohr und Verfahren zum Verbinden von zu verbindenden Elementen
CN115808748A (zh) * 2021-09-14 2023-03-17 戴尔产品有限公司 用于热电冷却光学端口的系统和方法

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3678995A (en) * 1970-06-22 1972-07-25 Rca Corp Support for electrical components and method of making the same
US4092697A (en) 1976-12-06 1978-05-30 International Business Machines Corporation Heat transfer mechanism for integrated circuit package
JPS54132774A (en) * 1978-04-05 1979-10-16 Fujitsu Ltd Method of joining radiation plate
GB2090710B (en) * 1980-12-26 1984-10-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd Thermistor heating device
US4384610A (en) * 1981-10-19 1983-05-24 Mcdonnell Douglas Corporation Simple thermal joint
US4654754A (en) * 1982-11-02 1987-03-31 Fairchild Weston Systems, Inc. Thermal link
US4842911A (en) 1983-09-02 1989-06-27 The Bergquist Company Interfacing for heat sinks
US4567505A (en) 1983-10-27 1986-01-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Heat sink and method of attaching heat sink to a semiconductor integrated circuit and the like
JPS60166163A (ja) * 1984-02-09 1985-08-29 Nec Kansai Ltd ロウ付け方法
DE3587481T2 (de) * 1984-02-27 1993-12-16 Toshiba Kawasaki Kk Schaltungssubstrat mit hoher Wärmeleitfähigkeit.
US4685606A (en) * 1986-05-09 1987-08-11 International Business Machines Corporation Oxide-free extruded thermal joint
US4915167A (en) 1988-08-05 1990-04-10 Westinghouse Electric Corp. Thermal coupling to enhance heat transfer
US5224017A (en) * 1989-05-17 1993-06-29 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Composite heat transfer device
US5198189A (en) * 1989-08-03 1993-03-30 International Business Machines Corporation Liquid metal matrix thermal paste
US5291371A (en) * 1990-04-27 1994-03-01 International Business Machines Corporation Thermal joint
JP3018554B2 (ja) * 1991-04-25 2000-03-13 株式会社日立製作所 半導体モジュ−ル及びその製造方法
JPH0541563A (ja) * 1991-05-28 1993-02-19 Fuji Electric Co Ltd 半導体レーザ装置の接合方法と半田層
US5141050A (en) * 1991-07-31 1992-08-25 Tra-Con, Inc. Controlled highly densified diamond packing of thermally conductive electrically resistive conduit
JP3067337B2 (ja) * 1991-10-09 2000-07-17 東海ゴム工業株式会社 異方性熱伝導シートの製法
JP3201868B2 (ja) * 1992-03-20 2001-08-27 アジレント・テクノロジーズ・インク 導電性熱インターフェース及びその方法
US5323292A (en) 1992-10-06 1994-06-21 Hewlett-Packard Company Integrated multi-chip module having a conformal chip/heat exchanger interface
US5323294A (en) * 1993-03-31 1994-06-21 Unisys Corporation Liquid metal heat conducting member and integrated circuit package incorporating same
US5344607A (en) 1993-06-16 1994-09-06 International Business Machines Corporation Lead-free, high tin, ternary solder alloy of tin, bismuth, and indium
WO1995002313A1 (en) * 1993-07-06 1995-01-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Heat dissipating sheet
JP3348528B2 (ja) * 1994-07-20 2002-11-20 富士通株式会社 半導体装置の製造方法と半導体装置及び電子回路装置の製造方法と電子回路装置
US5604978A (en) * 1994-12-05 1997-02-25 International Business Machines Corporation Method for cooling of chips using a plurality of materials
US5672297A (en) * 1995-10-27 1997-09-30 The Dow Chemical Company Conductive composite articles based on expandable and contractible particulate matrices
EP0956590A1 (en) * 1996-04-29 1999-11-17 Parker-Hannifin Corporation Conformal thermal interface material for electronic components
US5930893A (en) * 1996-05-29 1999-08-03 Eaton; Manford L. Thermally conductive material and method of using the same
US5858537A (en) * 1996-05-31 1999-01-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Compliant attachment
US5864176A (en) * 1997-04-04 1999-01-26 Unisys Corporation Electro-mechnical subassembly having a greatly reduced thermal resistance between two mating faces by including a film of liquid, that evaporates without leaving any residue, between the faces
US5944097A (en) * 1997-05-06 1999-08-31 Northrop Grumman Corporation Composite substrate carrier for high power electronic devices
JP3094094B2 (ja) * 1998-02-02 2000-10-03 科学技術庁航空宇宙技術研究所長 接合媒体
JP2941801B1 (ja) * 1998-09-17 1999-08-30 北川工業株式会社 熱伝導材

Also Published As

Publication number Publication date
US6343647B2 (en) 2002-02-05
KR20010070181A (ko) 2001-07-25
AU2001227751A1 (en) 2001-07-24
TW503544B (en) 2002-09-21
WO2001052323A3 (en) 2001-12-13
KR100459794B1 (ko) 2004-12-03
WO2001052323A2 (en) 2001-07-19
US20010032719A1 (en) 2001-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001257298A (ja) 熱伝界面体及びその使用方法
US6869642B2 (en) Phase change thermal interface composition having induced bonding property
JP4546086B2 (ja) 乾燥熱界面材料
US7576428B2 (en) Melting temperature adjustable metal thermal interface materials and application thereof
US6365973B1 (en) Filled solder
US5945217A (en) Thermally conductive polytrafluoroethylene article
US5024264A (en) Method of cooling a semiconductor device with a cooling unit, using metal sherbet between the device and the cooling unit
US5050040A (en) Composite material, a heat-dissipating member using the material in a circuit system, the circuit system
US20120328789A1 (en) Metal-graphite foam composite and a cooling apparatus for using the same
US20020070445A1 (en) Enveloped thermal interface with metal matrix components
WO2002084735A1 (en) Radiating structural body of electronic part and radiating sheet used for the radiating structural body
EP0696630A2 (en) Heat conductive material and method for producing the same
US5039335A (en) Composite material for a circuit system and method of making
TWI555767B (zh) 具環氧化堅果殼油之熱介面材料
US20210296201A1 (en) Silicon Carbide Module Integrated with Heat Sink and the Method Thereof
US6652705B1 (en) Graphitic allotrope interface composition and method of fabricating the same
Tong et al. Thermal interface materials in electronic packaging
Vijay Solder-TIMs (Thermal Interface Materials) for superior thermal management in power electronics
JPH0342512B2 (ja)
JPS58199546A (ja) 半導体冷却装置
Van Godbold et al. Novel designs in power modules
US12004324B2 (en) Metallic thermal interface materials and associated devices, systems, and methods
TWI224123B (en) Thermal interface material composition
JP2005526903A (ja) サーマルインターフェース材料、およびインジウムと亜鉛とを含む組成物
CN1327025A (zh) 一种绝缘导热硅脂材料

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080401