JP2001243085A - Ｉｃテスタ、ｉｃテスト方法、及び記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の課題は、異機種間で共有化するテス
トプログラムの変換処理を事前に行わず、ターゲットと
なるＩＣテスタ内部でテストプログラムの変換処理を実
現して変換処理の手間とコストを低減することである。 【解決手段】 解析変換処理部１０４１は、入出力装置
１０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機
種用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩ
Ｃテスト処理を実行する。解析変換処理部１０４１は、
ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム
３０１から１命令分のプログラムを順次解析し、その解
析したプログラムを自機用のテストプログラム３０２に
順次変換して記憶部１０４４に記憶する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、異機種間でテスト
プログラムを共有化するＩＣテスタ、ＩＣテスト方法、
及びその処理プログラムを格納する記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のＩＣテスタは、機種毎に特有のテ
ストプログラムを有しており、異なる機種間でのテスト
プログラムの互換性はない。

【０００３】従来、異機種間でテストプログラムを共有
化する場合、図５に示すように、まず、トランスレータ
３０４を用いて事前にオリジナルのテストプログラム３
０１をターゲットとなるＩＣテスタ３１０で実行可能な
テストプログラム３０２に変換する。

【０００４】そして、テストプログラム３０２をターゲ
ットとなるＩＣテスタ３１０を構成するコントロール部
３０３内のテストプログラム解析実行部３０５で実行す
る方法をとっていた。

【０００５】従来のテストプログラム解析実行部３０５
において実行される処理について図５に示すフローチャ
ートを参照して説明する。

【０００６】テストプログラム解析実行部３０５は、ま
ず、プログラム実行環境を初期化する等の前処理を実行
し（ステップＳ１）、テストプログラム３０２から１命
令分のプログラムを読み込む（ステップＳ２）。

【０００７】次いで、テストプログラム解析実行部３０
５は、読み込んだプログラムが終了命令か否かを判別し
（ステップＳ３）、終了命令であれば本処理を終了し、
終了命令でなければ、その命令内容を解析する（ステッ
プＳ４）。

【０００８】次いで、テストプログラム解析実行部３０
５は、命令内容の解析結果に従って各処理１〜３に分岐
して（ステップＳ５）、各処理を実行して、ＩＣテスタ
ハードウェア３０６を制御する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のＩＣテ
スタにあっては、異機種間でテストプログラムを共有化
する場合、ターゲットとなるＩＣテスタ毎にトランスレ
ータ等を用いて事前にテストプログラムを変換していた
ため、変換する手間とコストが余分にかかるという問題
があった。

【００１０】本発明の課題は、異機種間で共有化するテ
ストプログラムの変換処理を事前に行わず、ターゲット
となるＩＣテスタ内部でテストプログラムの変換処理を
実現して変換処理の手間とコストを低減することであ
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、ＩＣテストプログラムに基
づいてＩＣテストを実行するＩＣテスタ（例えば、図１
のＩＣテスタ１００）において、他機種用のＩＣテスト
プログラムを解析して自機用のＩＣテストプログラムに
変換するプログラム変換手段（例えば、図２の解析変換
処理部１０４１）と、前記プログラム変換手段により変
換された自機用のＩＣテストプログラムに基づいてＩＣ
テストを実行するＩＣテスト実行手段（例えば、図２の
テストプログラム解析実行部１０４２）と、を備えるこ
とを特徴としている。

【００１２】請求項１記載の発明によれば、ＩＣテスト
プログラムに基づいてＩＣテストを実行するＩＣテスタ
において、プログラム変換手段が、他機種用のＩＣテス
トプログラムを解析して自機用のＩＣテストプログラム
に変換し、ＩＣテスト実行手段が、前記プログラム変換
手段により変換された自機用のＩＣテストプログラムに
基づいてＩＣテストを実行する。

【００１３】請求項３記載の発明は、ＩＣテストプログ
ラムに基づいてＩＣテストを実行するＩＣテスト方法に
おいて、他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自
機用のＩＣテストプログラムに変換するプログラム変換
行程と、前記変換された自機用のＩＣテストプログラム
に基づいてＩＣテストを実行するＩＣテスト実行行程
と、を含むことを特徴としている。

【００１４】請求項３記載の発明によれば、ＩＣテスト
プログラムに基づいてＩＣテストを実行するＩＣテスト
方法において、他機種用のＩＣテストプログラムを解析
して自機用のＩＣテストプログラムに変換するプログラ
ム変換行程と、前記変換された自機用のＩＣテストプロ
グラムに基づいてＩＣテストを実行するＩＣテスト実行
行程と、を含む。

【００１５】請求項５記載の発明は、ＩＣテストプログ
ラムに基づいてＩＣテストを制御するためのコンピュー
タが実効可能なプログラムを格納した記憶媒体であっ
て、他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自機用
のＩＣテストプログラムに変換するためのコンピュータ
が実効可能なプログラムコードと、前記変換された自機
用のＩＣテストプログラムに基づいてＩＣテストを実行
するためのコンピュータが実効可能なプログラムコード
と、を含むプログラムを格納することを特徴としてい
る。

【００１６】請求項５記載の発明によれば、ＩＣテスト
プログラムに基づいてＩＣテストを制御するためのコン
ピュータが実効可能なプログラムを格納した記憶媒体で
あって、他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自
機用のＩＣテストプログラムに変換するためのコンピュ
ータが実効可能なプログラムコードと、前記変換された
自機用のＩＣテストプログラムに基づいてＩＣテストを
実行するためのコンピュータが実効可能なプログラムコ
ードと、を含むプログラムを格納する。

【００１７】したがって、他機種用のテストプログラム
をトランスレータ等で事前に自機用のプログラムに変換
する処理を省略でき、変換処理の手間とコストを低減で
きる。

【００１８】また、請求項２に記載する発明のように、
請求項１記載のＩＣテスタにおいて、前記プログラム変
換手段は、前記他機種用のＩＣテストプログラムを１命
令分毎に解析して自機用のＩＣテストプログラムに変換
するようにしてもよい。

【００１９】請求項２記載の発明によれば、前記プログ
ラム変換手段は、前記他機種用のＩＣテストプログラム
を１命令分毎に解析して自機用のＩＣテストプログラム
に変換する。

【００２０】また、請求項４に記載する発明のように、
請求項３記載のＩＣテスト方法において、前記プログラ
ム変換行程は、前記他機種用のＩＣテストプログラムを
１命令分毎に解析して自機用のＩＣテストプログラムに
変換するようにしてもよい。

【００２１】請求項４記載の発明によれば、前記プログ
ラム変換行程は、前記他機種用のＩＣテストプログラム
を１命令分毎に解析して自機用のＩＣテストプログラム
に変換する。

【００２２】また、請求項６に記載する発明のように、
請求項５記載の記憶媒体において、前記プログラムを変
換するプログラムコードは、前記他機種用のＩＣテスト
プログラムを１命令分毎に解析して自機用のＩＣテスト
プログラムに変換するようにしてもよい。

【００２３】請求項６記載の発明によれば、前記プログ
ラムを変換するプログラムコードは、前記他機種用のＩ
Ｃテストプログラムを１命令分毎に解析して自機用のＩ
Ｃテストプログラムに変換する。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。図１〜図３は、本発明を適用
したＩＣテスタ１００の一実施の形態を示す図である。
まず、構成を説明する。図１は、本実施の形態における
ＩＣテスタ１００の全体構成を示す図であり、ＩＣテス
タ１００は、ＩＣテスタ本体１０２と入出力装置１０１
とＩＣ測定部１０３とから構成される。ＩＣテスタ本体
１０２は、ＩＣテストの実行を制御するコントロール部
１０４を有する。

【００２５】コントロール部１０４は、図２に示すよう
に解析変換処理部１０４１、テストプログラム解析実行
部１０４２、ＩＣテスタハードウェア部１０４３、及び
記憶部１０４４により構成される。

【００２６】解析変換処理部１０４１は、入出力装置１
０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機種
用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩＣ
テスト処理（図３参照）を実行する。

【００２７】解析変換処理部１０４１は、ＩＣテスト処
理に際して、読み出したテストプログラム３０１から１
命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログ
ラムを自機用のテストプログラム３０２に順次変換して
記憶部１０４４に記憶する。

【００２８】テストプログラム解析実行部１０４２は、
記憶部１０４４に記憶された自機用のテストプログラム
３０２を読み出して後述するＩＣテスト処理（図３参
照）を実行する。

【００２９】テストプログラム解析実行部１０４２は、
ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム
３０２から１命令分のプログラムを順次解析し、その解
析した命令内容に従って各種処理を実行してＩＣテスタ
ハードウェア部１０４３を制御する。

【００３０】ＩＣテスタハードウェア部１０４３は、テ
ストプログラム解析実行部１０４２により制御されて各
種のＩＣテストを実行し、各種のＩＣテスト信号をＩＣ
測定部１０３に出力する。

【００３１】記憶部１０４４は、ハードディスク装置等
により構成され、他機種用のテストプログラム３０１と
自機用のテストプログラム３０２を記憶する。

【００３２】次に、本実施の形態の動作を説明する。図
２の解析変換処理部１０４１とテストプログラム解析実
行部１０４２により実行されるＩＣテスト処理について
図３に示すフローチャートを参照して説明する。

【００３３】解析変換処理部１０４１は、まず、プログ
ラム実行環境を初期化する等の前処理を実行し（ステッ
プＳ１０１）、記憶部１０４４に記憶されたテストプロ
グラムを参照して、そのテストプログラムが他機種用の
テストプログラム３０１か、自機用のテストプログラム
３０２かを判別する（ステップＳ１０２）。

【００３４】解析変換処理部１０４１は、自機用のテス
トプログラム３０２であると判別した場合は、従来のＩ
Ｃテスト処理に移行する（ステップＳ１０３）。また、
解析変換処理部１０４１は、他機種用のテストプログラ
ム３０１であると判別した場合は、そのテストプログラ
ム３０１から１命令分のプログラムを読み込み（ステッ
プＳ１０４）、読み込んだプログラムが終了命令か否か
を判別する（ステップＳ１０５）。

【００３５】解析変換処理部１０４１は、読み込んだプ
ログラムが終了命令でない場合は、そのプログラムを解
析して自機用のプログラムに変換し（ステップＳ１０
６）、ステップＳ１０４に戻って次の１命令分のプログ
ラムを読み込んで、ステップＳ１０５とステップＳ１０
６の各処理を繰り返し実行する。

【００３６】解析変換処理部１０４１は、テストプログ
ラム３０１から１命令分のプログラムを順次読み込んで
ステップＳ１０４〜ステップＳ１０６の処理を繰り返し
実行し、全ての命令プログラムを自機用の命令プログラ
ムに変換して、自機用のテストプログラム３０２として
記憶部１０４４に記憶すると、処理権限をテストプログ
ラム解析実行部１０４２に移行する。

【００３７】テストプログラム解析実行部１０４２は、
記憶部１０４４に記憶された自機用のテストプログラム
３０２から１命令分のプログラムを読み込み（ステップ
Ｓ１０７）、読み込んだ命令プログラムが終了命令か否
かを判別する（ステップＳ１０８）。

【００３８】テストプログラム解析実行部１０４２は、
読み込んだ命令プログラムが終了命令でない場合は本処
理を終了し、終了命令でなければ、その命令内容を解析
する（ステップＳ１０９）。

【００３９】次いで、テストプログラム解析実行部１０
４２は、命令内容の解析結果に従って各処理１〜３に分
岐して（ステップＳ１１０）、各処理を実行して、ＩＣ
テスタハードウェア３０６の動作を制御する。

【００４０】以上のように、本実施の形態のＩＣテスタ
１００では、ＩＣテスタ本体１０２を構成するコントロ
ール部１０４内に他機種用のテストプログラムを解析し
て自機用のテストプログラムに変換する変換機能を備え
たため、他機種用のテストプログラムをトランスレータ
等で事前に自機用のプログラムに変換する処理を省略で
きる。

【００４１】したがって、異機種間で共有化するテスト
プログラムの変換処理を事前に行わず、ターゲットとな
るＩＣテスタ内部でテストプログラムの変換処理が可能
になり、変換処理の手間とコストを低減できる。

【００４２】

【発明の効果】本発明によれば、他機種用のテストプロ
グラムをトランスレータ等で事前に自機用のプログラム
に変換する処理を省略でき、変換処理の手間とコストを
低減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した一実施の形態におけるＩＣテ
スタ１００の構成を示すブロック図である。

【図２】図１のコントロール部１０４の内部構成を示す
ブロック図である。

【図３】図２の解析変換処理部１０４１とテストプログ
ラム解析実行部１０４２により実行されるＩＣテスト処
理を示すフローチャートである。

【図４】従来のテストプログラムの変換処理とＩＣテス
タ３１０を構成するコントロール部３０３の処理機能と
の関係を示す図である。

【図５】図４のテストプログラム解析実行部３０５によ
り実行されるＩＣテスト処理を示すフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１００ ＩＣテスタ １０１ 入出力装置 １０２ ＩＣテスタ本体 １０３ ＩＣ測定部 １０４ コントロール部 １０４１ 解析変換処理部 １０４２ テストプログラム解析実行部 １０４３ ＩＣテスタハードウェア １０４４ 記憶部 ３０１ 他機種用のテストプログラム ３０２ 自機用のテストプログラム

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ＩＣテストプログラムに基づいてＩＣテス
   トを実行するＩＣテスタにおいて、 他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自機用のＩ
   Ｃテストプログラムに変換するプログラム変換手段と、 前記プログラム変換手段により変換された自機用のＩＣ
   テストプログラムに基づいてＩＣテストを実行するＩＣ
   テスト実行手段と、 を備えることを特徴とするＩＣテスタ。
2. 【請求項２】前記プログラム変換手段は、前記他機種用
   のＩＣテストプログラムを１命令分毎に解析して自機用
   のＩＣテストプログラムに変換することを特徴とする請
   求項１記載のＩＣテスタ。
3. 【請求項３】ＩＣテストプログラムに基づいてＩＣテス
   トを実行するＩＣテスト方法において、 他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自機用のＩ
   Ｃテストプログラムに変換するプログラム変換行程と、 前記変換された自機用のＩＣテストプログラムに基づい
   てＩＣテストを実行するＩＣテスト実行行程と、 を含むことを特徴とするＩＣテスト方法。
4. 【請求項４】前記プログラム変換行程は、前記他機種用
   のＩＣテストプログラムを１命令分毎に解析して自機用
   のＩＣテストプログラムに変換することを特徴とする請
   求項３記載のＩＣテスト方法。
5. 【請求項５】ＩＣテストプログラムに基づいてＩＣテス
   トを制御するためのコンピュータが実効可能なプログラ
   ムを格納した記憶媒体であって、 他機種用のＩＣテストプログラムを解析して自機用のＩ
   Ｃテストプログラムに変換するためのコンピュータが実
   効可能なプログラムコードと、 前記変換された自機用のＩＣテストプログラムに基づい
   てＩＣテストを実行するためのコンピュータが実効可能
   なプログラムコードと、 を含むプログラムを格納することを特徴とする記憶媒
   体。
6. 【請求項６】前記プログラムを変換するプログラムコー
   ドは、前記他機種用のＩＣテストプログラムを１命令分
   毎に解析して自機用のＩＣテストプログラムに変換する
   ことを特徴とする請求項５記載の記憶媒体。