JP2001237342A - ウェハーの製造方法 - Google Patents

ウェハーの製造方法

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JP2001237342A
JP2001237342A JP2000044726A JP2000044726A JP2001237342A JP 2001237342 A JP2001237342 A JP 2001237342A JP 2000044726 A JP2000044726 A JP 2000044726A JP 2000044726 A JP2000044726 A JP 2000044726A JP 2001237342 A JP2001237342 A JP 2001237342A
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Japan
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wafer
resin
connection terminals
electrodes
mold
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JP2000044726A
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English (en)
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Mitsuhiko Imada
光彦 今田
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Mitsui High Tec Inc
Original Assignee
Mitsui High Tec Inc
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • H01L2224/1147Manufacturing methods using a lift-off mask
    • H01L2224/1148Permanent masks, i.e. masks left in the finished device, e.g. passivation layers

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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェハーの電極に接続端子を、形成工程を出
来るだけ簡略化して多岐な工程を経ずに、位置精度よ
く、また作業性よく形成する。 【解決手段】 電極に接続端子を形成したウェハーの製
造方法において、ウェハー1に、該ウェハー1の電極3
を覆う突起5を形成した金型4を被せ、該金型4の突起
間に形成される空間に樹脂7を封入し、その樹脂7を硬
化させた後、金型4を取り外して形成される前記突起が
位置していた樹脂の穴8に半田、めっき、又はスクリー
ン印刷により接続端子9を形成するウェハーの製造方法
にある。また、必要に応じて前記接続端子の上面に半田
ボールを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェハーの製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置は小型化、薄型化、或いは多
ピン化に対応するための一策としてフリップチップ方式
により半導体チップの電極端子と搭載基板の配線パター
ン、或いはリードフレーム等との電気的な接続が行われ
る。
【0003】フリップチップによる接続を信頼性高く、
また生産性よく行うには半導体チップの電極に接続端子
として機能する端子を形成しておく必要がある。かかる
ことからウェハーの電極に半田やめっき等により導電金
属を設けて接続端子が形成されている。
【0004】従来、ウェハーの接続端子は、該ウェハー
の主面にポリイミド等の絶縁層を設け、電極上の絶縁層
をエッチング等により開口し、該開口した箇所に接続端
子用のポストをスクリーン印刷やめっき等により形成
し、次いで前記ポストを含む上部全体を樹脂で封止し、
該樹脂を硬化した後に、研磨或いは研削により樹脂を除
いて前記ポストを露出させ、その上面に半田ボールを設
けて形成している。
【0005】
【この発明が解決しようとする課題】これでは接続端子
が位置精度よく形成される等の効果がある。しかし、形
成工程が多岐にわたり、また、封止した樹脂を研磨或い
は研削してポストの上面を再露出させねばならぬ等、作
業が煩雑になる問題がある。
【0006】本発明は製造工程を出来るだけ簡略化して
多岐な工程を経ずに、ウェハーの電極に接続端子を位置
精度よく、また作業性よく形成することを目的とする。
【0007】
【課題を解決する手段】本発明の要旨は、電極に接続端
子を形成したウェハーの製造方法において、ウェハーに
該ウェハーの電極を覆う突起を形成した金型を被せ、前
記被せた金型の突起間に形成される空間部に樹脂を封入
し、樹脂を硬化させた後、前記金型を取り外して形成さ
れる前記突起が位置していた樹脂のない穴に半田、めっ
き、又はスクリーン印刷により接続端子を形成すること
を特徴とするウェハーの製造方法にある。
【0008】他の要旨は、電極に接続端子を形成したウ
ェハーの製造方法において、ウェハーに該ウェハーの電
極を覆う突起を形成した金型を被せ、前記被せた金型の
突起間に形成される空間部に樹脂を封入し、樹脂を硬化
させた後、前記金型を取り外して形成される前記突起が
位置していた樹脂のない穴に半田、めっき、又はスクリ
ーン印刷により接続端子を形成し、前記接続端子の上面
をならし、該接続端子の上面に半田ボールを設けること
を特徴とするウェハーの製造方法にある。
【0009】さらに他の要旨は、前記接続端子を形成し
たウェハーを、半島体チップのサイズにダイシングする
ウェハーの製造方法にある。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の1実施例について
図面を参照し詳細に述べる。図面において、1はウェハ
ーでその下面に接着シート2が設けられ、該ウェハー1
の上面には電極3が形成されている。このウェハー1に
形成されたままの電極3では搭載基板の配線パターンや
リードフレームのリード等との電気的な接続が困難、或
いは信頼性高く行えない。そこで、本実施例では以下の
ようにして前記電極3に接続端子を形成する。
【0011】4はウェハー1に被せる金型で、該金型4
には前記ウェハー1に形成された電極3の上面を覆う突
起5が複数個形成されていて、前記突起5が電極3に接
して覆うように金型4を図1の(b)に示すようにウェ
ハー1に被せる。この突起5の高さは接続端子の所要高
さに応じて形成される。また、該突起5の平断面形状は
円形、楕円形、或いは多角形等にされるが、この実施例
では円形にしている。
【0012】なお、前記ウェハー1下面側には平らな下
金型6が設けられている。
【0013】ウェハー1に被せた金型4の突起5の間に
は空間が形成されることになるが、予め該金型4には樹
脂注入口(図示しない)が形成されていて、そこを介し
て前記空間に溶融した樹脂7、例えばエポキシ樹脂、シ
リコーン樹脂、或いはフェノール樹脂等を注入し、ウェ
ハー1の上面側を図2の(c)に示すように封止する。
該樹脂7を硬化させた後、前記金型4は図2の(d)の
ように取り外される。
【0014】金型4を取り外したウェハー1上には封止
した樹脂7が前記突起5で覆われていた電極3以外の箇
所に形成され存在している。該樹脂7は前記突起5の高
さに対応した高さを有している。また、この実施例では
突起5の断面形状を前記のように円形としているので、
その形状に対応した穴は樹脂が存在しない空所になって
いる。
【0015】前記ウェハー1の電極3上は樹脂7のない
穴8、この実施例では円筒状の穴8が形成されているの
で、該穴8に半田、めっき、或いはスクリーン印刷等に
より半田、導電金属、或いは半田ペースト等からなる接
続端子9が形成される。この接続端子9は上面が前記樹
脂7の上面より若干突出するように形成されるが、前記
のように穴8に形成することから接続端子9の上面の中
央部が盛り上がり、当該接続端子9の上面は半球状にな
り、そのままでも接続端子9として適用できる形状とな
る。このようにして電極3に接続端子9が形成されたウ
ェハー1が製造される。
【0016】前記接続端子9の上面に半田ボールが必要
なウェハー1を製造する場合には、樹脂7の穴8に接続
端子9を形成している上面を、図3の(f)に示すよう
に研削、或いは研磨等によりならして、例えば平坦に
し、或いは多少の凹凸をつけ、該接続端子9の上面に半
田ボール10をスクリーン印刷等により設ける。また、
半田ボール10は芯部が金属球で表層に半田を設けたも
のでもよい。
【0017】本発明では前記のように電極3の上に接続
端子9、さらに半田ボール10を形成するので、該接続
端子9や半田ボール10を位置精度よく設けたウェハー
1が得られる。
【0018】接続端子9が形成されたウェハー1、さら
に接続端子9に半田ボール10が形成されたウェハー1
は、所望の半導体チップ11単位に機械的切断装置、或
いはレーザー切断装置等により図4に示すようにダイシ
ングされる。
【0019】
【本発明の効果】本発明は、ウェハーに、該ウェハーの
電極を覆う突起を形成した金型を被せ、該金型の突起間
に形成される空間に樹脂を封入して、該樹脂を硬化させ
た後、金型を取り外し、前記突起が位置していた樹脂の
ない穴に半田、めっき、又はスクリーン印刷により接続
端子を形成し、さらに必要に応じて、前記接続端子の上
面に半田ボールを設けるので、ウェハーの電極に接続端
子を形成するのに、ウェハーに絶縁層を設ける必要がな
く、また、封止樹脂は接続端子の上面に位置することが
なく樹脂研磨が不要となる等、製造工程を簡略化でき、
作業性がよくなる。さらに、形成される接続端子の位置
精度がすぐれる等の作用効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例におけるウェハーの製造途中
の過程を示す図。
【図2】本発明の1実施例におけるウェハーの製造途中
の過程を示す図。
【図3】本発明の他の実施例を説明するための図。
【図4】本発明の他の実施例においてウェハーから半導
体チップ単位へのダイシングを示す図。
【符号の説明】
1 ウェハー 2 接着シート 3 電極 4 金型 5 突起 6 下金型 7 樹脂 8 穴 9 接続端子 10 半田ボール 11 半導体チップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/92 604E

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極に接続端子を形成したウェハーの製
    造方法において、ウェハーに該ウェハーの電極を覆う突
    起を形成した金型を被せ、該金型の突起間に形成される
    空間部に樹脂を封入し、前記樹脂を硬化させた後、前記
    金型を取り外して形成される前記突起が位置していた樹
    脂の穴に半田、めっき、又はスクリーン印刷により接続
    端子を形成することを特徴とするウェハーの製造方法。
  2. 【請求項2】 電極に接続端子を形成したウェハーの製
    造方法において、ウェハーに該ウェハーの電極を覆う突
    起を形成した金型を被せ、該金型の突起間に形成される
    空間部に樹脂を封入し、前記樹脂を硬化させた後、前記
    金型を取り外して形成される前記突起が位置していた樹
    脂の穴に半田、めっき、又はスクリーン印刷により接続
    端子を形成し、前記接続端子の上面をならし、該接続端
    子の上面に半田ボールを設けることを特徴とするウェハ
    ーの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記接続端子を形成したウェハーを、半
    導体チップのサイズにダイシングすることを特徴とする
    請求項1又は請求項2記載のウェハーの製造方法。
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