JP2001235514A - 電気検査治具，検査ピン及び電気検査機の使用方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、電気検査治具の製作納期の短縮，
製作費用の低減および小型化・薄形化が可能で、かつ、
生産機種の切替えロスを改善可能な、電気検査治具，検
査ピン及び電気検査機の使用方法を提供する。 【解決手段】 電気検査機３０に突設された検査ピン
は、形状記憶合金からなる棒状のピン本体と、このピン
本体を覆う被覆部材と、一端に設けられた圧縮ばねと、
他端に形成された当接部とを具備した構成としてあり、
電気検査治具２０の貫通孔に装入され、パッド４２と電
気的に接触する。また、電気検査治具２０を取り外し、
検査ピン１０を加熱することにより、検査ピン１０を元
の形状に復元できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板な
どの配線処理が施された被検査体の電気的接続を検査す
る電気検査機に用いられる、電気検査治具，検査ピン及
び電気検査機の使用方法に関する。

【０００２】従来、電子技術は、その進歩とともに、さ
まざまな分野で利用されており、この電子技術の利用
は、一般的に、電子部品が搭載されたプリント配線板を
介して行われてきた。また、このプリント配線板は、電
子装置の高機能化、小型化及び薄形化の要求により、多
くの電子部品が高密度に表面実装されるようになってき
た。

【０００３】ここで、電子部品が実装されたプリント配
線板の検査としては、一般的に、外観検査と電気検査が
あり、さらに、この電気検査には、電気的接続を検査す
るオープン・ショート検査と実際にプリント配線板を動
作させて検査する実機検査がある。なお、プリント配線
板の電気検査は、最終的な品質を保証する上で、原則的
に必要不可欠であることは勿論である。

【０００４】このような電気検査においては、被検査体
である多種多様なプリント配線板と電気検査機を電気的
に接続する必要があることから、一般的に、プリント配
線板ごとに製作される、検査ピンにより電気的接続を行
なう電気検査治具が用いられてきた。また、この電気検
査治具は、通常、絶縁性の樹脂からなる平板に、圧縮ば
ねが内蔵された二重円筒からなるエクステンションピン
（検査ピン）が、テストポイントとしてのパッドと当接
する位置に突設された構成としてある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、この従来の
電気検査治具は、プリント配線板ごとにエクステンショ
ンピンを突設し、かつ、このエクステンションピンと電
気検査機の外部端子を電気的に接続させる必要があるた
め、電気検査治具の構造が複雑化し、製作納期が長くな
るといった問題があった。

【０００６】また、この電気検査治具は、高価なエクス
テンションピンを電気検査治具に取り付けるために、治
具費用が高額となるといった問題があった。つまり、使
用頻度の低い電気検査治具に対しても、エクステンショ
ンピンを突設するために、検査ピン（エクステンション
ピン）を有効に活用することができなかった。

【０００７】また、従来の電気検査治具は、エクステン
ションピンおよび電気配線を有する構成としてあるの
で、大型化・厚形化し広い保管場所を必要とし、保管コ
ストが高額となるといった問題があった。

【０００８】さらに、保管していた電気検査治具を久し
ぶりに使い始める場合には、エクステンションピンの曲
がりなどの点検を細心の注意を払って行なう必要がある
ために、生産機種の切替えに長時間を要し切り替えロス
を改善できないといった問題があった。

【０００９】本発明は、上記の問題を解決すべくなされ
たものであり、電気検査治具の製作納期の短縮，製作費
用の低減および小型化・薄形化が可能で、かつ、生産機
種の切替えロスを改善可能な、電気検査治具，検査ピン
及び電気検査機の使用方法の提供を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における請求項１記載の電気検査治具の発明
は、電気検査機と被検査体の間に配設された平板状の基
体と、この基体の前記電気検査機側表面において、前記
電気検査機に突設される可撓性および屈曲性を有する検
査ピンに対応するように、かつ、前記基体の前記被検査
体側表面において、前記被検査体のテストポイントに対
応するように穿設された貫通孔とを具備し、この貫通孔
に移動自在に挿入された前記検査ピンが、前記テストポ
イントと電気的に接触する構成としてある。

【００１１】これにより、電気検査治具は、構造が単純
化されるので、製作納期の短縮と製作費用の低減が可能
となり、また、検査ピンとその配線を有しないので、小
型化・薄形化が可能となる。また、この電気検査治具
は、生産機種の切替えにおいて、当該治具と一体化した
検査ピンを有しないので、上述した従来の電気検査治具
のように、検査ピンの点検を行なう必要がなく、切り替
え工数を低減することができる。

【００１２】請求項２記載の発明は、上記請求項１に記
載の電気検査治具において、前記基体が、前記検査ピン
に対応して穿設された第一の貫通孔を有する電気検査機
側平板と、前記テストポイントに対応して穿設された第
三の貫通孔を有する被検査体側平板と、前記電気検査機
側平板と被検査体側平板に挟まれ、かつ、前記第一の貫
通孔と前記第三の貫通孔を連通させる第二の貫通孔が穿
設された連通用平板とからなっている。

【００１３】このようにすることにより、電気検査治具
は、検査ピンを滑らかに移動させることができる。ま
た、検査ピンを垂直方向に突出させることができるの
で、検査ピンを精度良くテストポイントと当接させるこ
とができる。

【００１４】請求項３記載の発明は、上記請求項１また
は請求項２に記載の電気検査治具において、前記基体の
材質を、透明な材質とした構成としてある。

【００１５】このようにすることにより、電気検査治具
の導入確認検査、例えば、貫通孔とテストポイントの位
置確認などを容易に行なうことができる。

【００１６】上記目的を達成するために、本発明におけ
る請求項４記載の検査ピンは、形状記憶合金からなる棒
状のピン本体と、このピン本体を覆う被覆部材と、前記
ピン本体の一端に設けられた圧縮ばねと、前記ピン本体
の他端に形成された当接部と、を具備した構成としてあ
る。

【００１７】このようにすると、検査ピンは、後述する
電気検査治具の貫通孔に挿入される際に、曲率半径が小
さく折れ曲がらず、すなわち、屈曲性が向上して、貫通
孔内での移動が容易となるとともに、また、貫通孔から
引き出されて曲がった形状となっても、加熱されると精
度良く元の形状に復元する。

【００１８】請求項５記載の発明は、上記請求項４に記
載の検査ピンにおいて、前記被覆部材をフッ素化合物で
構成してある。

【００１９】このようにすることにより、検査ピンは、
貫通孔内面との接触抵抗が低減され、滑らかに移動でき
る。また、フッ素化合物の耐熱性により、形状記憶合金
を元の形状に復元させる際に、被覆部材が付いた状態で
検査ピンを加熱することができる。

【００２０】請求項６記載の発明は、上記請求項４また
は請求項５に記載の検査ピンにおいて、前記ピン本体と
前記圧縮ばねの間に、ガイド部材を設けた構成としてあ
る。

【００２１】このようにすることにより、検査ピンは、
電気検査機のソケットの内周側面との摺動性が向上し、
滑らかに移動することができる。

【００２２】請求項７記載の電気検査機の使用方法の発
明は、被検査体のテストポイントに、検査ピンを当接さ
せて電気検査を行なう電気検査機の使用方法において、
上記請求項１〜請求項３のいずれかに記載の検査ピン
を、前記電気検査機に付勢可能に突設する工程と、上記
請求項４〜請求項６のいずれかに記載の電気検査治具
を、前記検査ピンが前記電気検査治具に穿設された貫通
孔を貫通するように、前記電気検査機に取り付ける工程
と、前記被検査体の検査終了後に、前記電気検査治具を
前記電気検査機から取り外す工程と、前記検査ピンを加
熱し、形状記憶合金の特性を利用して、曲がった前記検
査ピンを元の形状に復元させる工程と、を含む方法とし
てある。

【００２３】このように、本発明は、電気検査機の使用
方法としても有効であり、生産機種の切替えにおいて、
使用していた電気検査治具を電気検査機から取り外し、
曲がった検査ピンを加熱して元の形状に復元させて、新
たに生産する電気検査治具を取り付けるだけなので、検
査ピンの点検に要する時間が短縮でき、切り替えロスを
改善できる。

【００２４】

【発明の実施の形態】先ず、本発明の電気検査治具にお
ける第一実施形態について、図面を参照して説明する。 ＜電気検査治具における第一実施形態＞図１は、本発明
の検査ピンにおける第一実施形態の概略側面図を示して
いる。同図において、電気検査治具は、複数の貫通孔２
４ａ、２４ｂ、２４ｃが穿設された平板状の基体２２か
らなっている。

【００２５】ここで、貫通孔２４ａ、２４ｂ、２４ｃ
は、基体２２の電気検査機側表面２３ａにおいて、図４
に示すように、電気検査機３０のソケット３２に付勢可
能に突設された、可撓性および屈曲性を有する検査ピン
１０に対応するように、かつ、被検査体側表面２３ｂに
おいて、図７に示すように、被検査体（プリント配線板
４０）のテストポイント（パッド４２）に対応するよう
に穿設してある。つまり、この貫通孔２４ａ、２４ｂ、
２４ｃに移動自在に挿入された検査ピン１０が、テスト
ポイントと電気的に接触する構成としてある。なお、貫
通孔２４ｂ、２４ｃは、斜めに穿設してあるが、三次元
レーザ加工機などを用いることにより容易に加工でき
る。

【００２６】これにより、電気検査治具は、構造が単純
化されるので、製作納期の短縮と製作費用の低減が可能
となり、また、検査ピンとその配線を有しないので、小
型化・薄形化が可能となる。また、多品種少量生産にお
いては、生産機種の切り替えロスを低減する改善を行な
う必要があるが、電気検査治具が小型化・薄形化される
と、切り替えロスの改善を行ないやすくなることは勿論
である。

【００２７】ここで、上述した電気検査治具は、検査ピ
ン１０が貫通孔２４ｂ、２４ｃに挿入され、被検査体側
表面２３ｂから斜めに突出するので、この突出量によっ
て当接部１４の水平面における位置がずれるので、この
位置のずれを許容できる場合、例えば、テストポイント
が大きい場合に限定される。

【００２８】そこで、水平面における位置のずれを許容
できない場合には、斜めに穿設される貫通孔２４ｂ、２
４ｃの代わりに、図２に示すように、被検査体側表面２
３ｂに垂直に穿設した貫通孔２５ａと、これに連通すよ
うに、電気検査機側表面２３ａから角度を付けて穿設し
た貫通孔２５ｂ、２５ｃを設けると良い。これにより、
貫通孔２５ａから突出する検査ピン１０は、被検査体側
表面２３ｂに対して垂直に突き出るので、検査ピン１０
が移動しても、当接部１４の水平面における位置がずれ
ることはない。

【００２９】また、好ましくは、基体２２の材質を、透
明な材質（例えば、透明なアクリル材）とすると良く、
これにより、電気検査治具の導入確認検査、具体的に
は、貫通孔とテストポイントの位置確認を容易に行なう
ことができる。

【００３０】続いて、本発明の電気検査治具における第
二実施形態について、図面を参照して説明する。 ＜電気検査治具における第二実施形態＞図３は、本発明
の検査ピンにおける第二実施形態の概略側面図を示して
いる。同図において、電気検査治具は、複数の貫通孔２
６ｂ、２７ｂ、２８ｂが穿設された電気検査機側平板２
２ｂと、複数の貫通孔２６ｃ、２７ｃ、２８ｃが穿設さ
れた連通用平板２２ｃと、複数の貫通孔２６ｄ、２７
ｄ、２８ｄが穿設された被検査体側平板２２ｄとで構成
してある。

【００３１】ここで、同図（ａ）に示すように、電気検
査機側平板２２ｂは、図４に示す検査ピン１０に対応し
て、第一の貫通孔２６ｂ、２７ｂ、２８ｂが穿設されて
おり、また、同図（ｃ）に示すように、被検査体側平板
２２ｄは、被検査体のテストポイントに対応して、第三
の貫通孔２６ｄ、２７ｄ、２８ｄが穿設されており、さ
らにまた、同図（ｂ）に示すように、連通用平板２２ｃ
は、第一の貫通孔２６ｂ、２７ｂ、２８ｂと第三の貫通
孔２６ｄ、２７ｄ、２８ｄを連通させる第二の貫通孔２
６ｃ、２７ｃ、２８ｃが穿設してある。この結果、電気
検査治具２０は、同図（ｄ）に示すように、電気検査機
側平板２２ｂ／連通用平板２２ｃ／被検査体側平板２２
ｄを積層した構成となる。

【００３２】このように、電気検査治具２０は、貫通孔
２６ｂ、２６ｃ、２６ｄのように、貫通孔２６ｃを斜め
に穿設し、貫通孔２６ｂ、２６ｄを垂直方向に穿設する
ことにより、検査ピン１０の先端部における位置ずれを
防止し、さらに、検査ピン１０の貫通孔２６ｂ、２６
ｃ、２６ｄにおける移動性を向上させることができる。

【００３３】また、ソケット３２とテストポイント（パ
ッド４２）の水平面における位置が大きくずれており、
貫通孔の傾き角度が大きくなる場合には、例えば、貫通
孔２７ｂ、２７ｃ、２７ｄのように、三段階に分けて徐
々に屈曲するようにすると良く、これにより、検査ピン
１０の移動性を向上させることができる。

【００３４】また、その他の構造および作用について
は、第一実施形態と同様としてある。つまり、電気検査
治具における第二実施形態は、第一実施形態と比べて検
査ピンがより滑らかに移動することができる。

【００３５】続いて、本発明の検査ピンにおける第一実
施形態について、図面を参照して説明する。 ＜検査ピンにおける第一実施形態＞図５は、本発明の検
査ピンにおける第一実施形態の概略拡大側面図を示して
いる。同図において、検査ピンは、形状記憶合金からな
る棒状のピン本体１２と、このピン本体１２を覆う被覆
部材１６と、ピン本体１２の一端に設けられた圧縮ばね
１８と、ピン本体１２の他端に形成された当接部１４に
よって構成してある。

【００３６】ここで、ピン本体１２は、可撓性を有して
おり、また、形状記憶合金からなるので、変形しても加
熱することによって、元の形状、通常、一直線状に容易
に復元することができる。また、ピン本体１２は、被覆
部材１６で覆われているので、折れ曲がる際に、曲率半
径が小さくならず、すなわち、屈曲性が向上する。な
お、この際の曲率半径は、被覆部材１６が厚ければ大き
くなり、薄ければ小さくなることは勿論である。

【００３７】好ましくは、被覆部材１６をフッ素化合物
（ＰＴＦＥ）とすると良く、これにより、検査ピンは、
フッ素化合物の耐熱性に優れかつ摩擦抵抗が小さい特性
を効果的に利用することができ、後述する貫通孔との接
触抵抗を低減して、滑らかに移動できるとともに、ピン
本体１２を復元するため加熱する際に、例えば、被覆部
材が熱変形する危険性を低減できる。なお、被覆部材１
６は、フッ素化合物に限定するものではなく、例えば、
同様に耐熱性に優れかつ摩擦抵抗が小さい特性を有する
材質とすることができることは勿論である。

【００３８】圧縮ばね１８は、ピン本体１２の一端に巻
き付けることにより連結してある。ここで、圧縮ばね１
８とピン本体１２の連結は、巻き付けによる取り付け構
造によらないものでも良い。また、検査ピンが後述する
電気検査機のソケットに突設され、かつ、ソケット内で
移動する必要があるので、圧縮ばね１８の外周径は、被
覆部材１６の外径より小さくしてある。

【００３９】当接部１４は、ピン本体１２の他端に設け
た球状の導電体であり、この球径を被覆部材１６の外径
より小さくしてある。このようにすることにより、後述
する電気検査治具の貫通孔を滑らかに移動できる。

【００４０】上述した構造の検査ピンは、当接部１４が
被検査体のテストポイントに当接すると、当接部１４，
ピン本体１２及び圧縮ばね１８を介して、電気検査機の
ソケットと電気的に接続する。また、検査ピンは、形状
記憶合金からなるピン本体１２によって、折れ曲がった
としても、加熱することにより、精度良く元の形状に復
元することができる。

【００４１】続いて、本発明の検査ピンにおける第二実
施形態について、図面を参照して説明する。 ＜検査ピンにおける第二実施形態＞図６は、本発明の検
査ピンにおける第二実施形態の概略拡大側面図を示して
いる。

【００４２】同図において、検査ピンは、円錐状の当接
部１４ａを有し、また、ピン本体１２の他端には、導電
性の材質からなる円柱状のガイド部材１３を設けてあ
り、圧縮ばね１８ａがガイド部材１３に突設した構成と
してあり、その他の構造については、検査ピンにおける
第一実施形態と同様としてある。

【００４３】ここで、当接部１４ａは、円錐状の形状と
してあるが、図５に示した球状やこの円錐状の形状は、
当接部の例示でありこれに限定するものではない。した
がって、当接部１４ａは、他の形状、例えば、クラウン
形状とすることもできる。ただし、当接部１４ａは、被
覆部材１６の外径より小さな外形寸法である必要があ
り、これにより、電気検査治具の貫通孔を当接部１４ａ
が通り抜けることが可能となり、後述する電気検査治具
を容易に脱着できる。

【００４４】また、ガイド部材１３は、ピン本体１２の
一端に突設してあり、図４に示すように、電気検査機３
０に埋設された円筒形状のソケット３２に遊嵌されるこ
とにより、ソケット３２の内周側面との摺動性が向上
し、検査ピン１２を滑らかに移動させることができる。
ここで、ガイド部材１３は、ソケット３２と当接して電
気的に接続し、接触面積を増加させることができる。

【００４５】また、好ましくは、圧縮ばね１８ａの端部
の外周径については、ソケット３２の内径より大きくす
ると良く、これにより、検査ピン１０をソケット３２に
装入する際に、圧縮ばね１８ａの端部がソケット３２の
内周側面と付勢しながら当接して、自由落下を防止する
ことができる。つまり、検査ピン１０は、ソケット３２
に着脱自在に取り付けることができる。その他の構造お
よび作用については、検査ピンにおける第一実施形態と
同様としてある。

【００４６】次に、本発明の電気検査機の使用方法にお
ける実施形態について説明する。上述した検査ピンおよ
び電気検査治具を用いることにより、本発明は、被検査
体のテストポイントに、検査ピンを当接させて電気検査
を行なう電気検査機の使用方法としても有効である。

【００４７】＜電気検査機の使用方法における実施形態
＞本発明に係る電気検査機の使用方法は、先ず、図４に
示すように、上述した検査ピン１０を、電気検査機３０
のソケット３２に付勢可能に突設する工程を有してい
る。

【００４８】このように、検査ピン１０を電気検査治具
２０と一体化させないことによって、検査ピン１０を多
くのプリント配線板４０の電気検査に共用できるので、
検査ピンの費用を削減することができる。なお、検査ピ
ン１０は、電気検査機３０に限定するものではなく、例
えば、電気検査機３０の付属的部品に突設する構成とす
ることができることは、勿論である。

【００４９】続いて、電気検査機の使用方法は、上述し
た電気検査治具２０を、検査ピン１０が貫通孔を貫通さ
せながら、電気検査機３０に取り付ける工程を有してい
る。ここで、検査ピン１０は、折れ曲がることなく一直
線状となっているので、各当接部１４は、容易に貫通孔
に挿入され、また、電気検査治具２０の被検査体側表面
２３ｂから突出した検査ピン１０の当接部１４は、被検
査体のテストポイントと当接する構成としてある。

【００５０】そして、図７に示すように、被検査体であ
るプリント配線板４０と、電気検査機３０の距離が近づ
くと検査ピン１０がパッド４２と当接し、電気検査を行
なうことができる。

【００５１】ここで、検査ピン１０は、同じ長さとして
あるので、電気検査治具２０が電気検査機３０に取り付
けられると、電気検査治具２０の被検査体側表面２３ｂ
からの突出量が異なる。しかし、この突出量の差は、検
査ピン１０の圧縮ばねで吸収することができるので、問
題なく電気検査を行なうことができる。また、上述した
ように、検査ピン１０は可撓性を有しているので、長さ
の異なる検査ピン１０を使用することができることは、
勿論である。

【００５２】次に、電気検査機の使用方法は、被検査体
の検査終了後に、電気検査治具２０を電気検査機３０か
ら取り外す工程を有している。つまり、生産機種を変更
するためには、電気検査治具２０を取り外す必要があ
る。ここで、検査ピン１０が電気検査治具２０ととも
に、抜けるようであれば、例えば、ガイド部材１３と係
止する係止部材を設けるとよい。

【００５３】また、検査ピン１０は、電気検査治具２０
が取り外されると、貫通孔の形状によってそれぞれ曲が
った形状となる。このため、次の生産機種の電気検査治
具２０に穿設された貫通孔に検査ピン１０を挿入させる
ことができない。ここで、検査ピン１０を容易に貫通孔
に挿入させるには、検査ピン１０を元の形状、すなわ
ち、真っ直ぐな一直線状の形状とする必要がある。

【００５４】そこで、本発明の電気検査機の使用方法
は、折れ曲がった検査ピン１０を加熱し、形状記憶合金
の特性を利用して、曲がった検査ピン１０を一直線状に
復元させる工程を有している。このように、検査ピン１
０は形状記憶合金からなるので、加熱することにより、
極めて簡単に元の形状（一般的に、一直線状）に復元す
ることができ、検査ピン１０が、一直線状に復元される
ことによって、電気検査治具２０を容易に電気検査機３
０に取り付けることができる。

【００５５】このように、本発明は、電気検査機の使用
方法としても有効であり、生産機種の切替えにおいて、
生産の終了した電気検査治具を電気検査機から取り外
し、折れ曲がった検査ピンを加熱して元の形状に復元さ
せて、新たに生産する電気検査治具を容易に取り付ける
ことができるので、切り替えロスを改善できる。

【００５６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来のようなエクステンションピンを必要とせず、ま
た、その組立作業も必要としないので、電気検査治具の
製作納期の短縮や、製作費用の低減を行なうことができ
る。また、従来の電気検査治具と比較し、本発明による
電気検査治具は、小型化・薄形化できるため、保管や管
理上有利であり、生産機種の切り替えロスを改善するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、本発明の電気検査治具における第一実
施形態の概略側面図を示している。

【図２】図２は、本発明の電気検査治具における第一実
施形態の応用例に係る概略側面図を示している。

【図３】図３は、本発明の電気検査治具における第二実
施形態の概略側面図を示しており、（ａ）は電気検査機
側平板を、（ｂ）は連通用平板を、（ｃ）は被検査体側
平板を、（ｄ）は積層された電気検査治具を示してい
る。

【図４】図４は、本発明の検査ピンが突設された電気検
査機の要部の側面図を示している。

【図５】図５は、本発明の検査ピンにおける第一実施形
態の概略拡大側面図を示している。

【図６】図６は、本発明の検査ピンにおける第二実施形
態の概略拡大側面図を示している。

【図７】図７は、本発明の検査ピンと電気検査治具の電
気検査状態における側面図を示している。

【符号の説明】

１０ 検査ピン １２ ピン本体 １３ ガイド部材 １４、１４ａ 当接部 １６ 被覆部材 １８、１８ａ 圧縮ばね ２０ 電気検査治具 ２２ 基体 ２２ｂ 電気検査機側平板 ２２ｃ 連通用平板 ２２ｄ 被検査体側平板 ２３ａ 電気検査機側表面 ２３ｂ 被検査体側表面 ２４ａ、２４ｂ、２４ｃ 貫通孔 ２５ａ、２５ｂ、２５ｃ 貫通孔 ２６ｂ、２６ｃ、２６ｄ 貫通孔 ２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ 貫通孔 ２８ｂ、２８ｃ、２８ｄ 貫通孔 ３０ 電気検査機 ３２ ソケット ４０ プリント配線板 ４２ パッド

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電気検査機と被検査体の間に配設された
   平板状の基体と、 この基体の前記電気検査機側表面において、前記電気検
   査機に突設される可撓性を有する検査ピンの位置に対応
   し、かつ、前記基体の前記被検査体側表面において、前
   記被検査体のテストポイントの位置に対応するように穿
   設された貫通孔とを具備し、 この貫通孔に移動自在に挿入された前記検査ピンの先端
   が、前記テストポイントと電気的に接触することを特徴
   とする電気検査治具。
2. 【請求項２】 上記請求項１に記載の電気検査治具にお
   いて、 前記基体が、前記検査ピンの位置に対応して穿設された
   第一の貫通孔を有する電気検査機側平板と、前記テスト
   ポイントの位置に対応して穿設された第三の貫通孔を有
   する被検査体側平板と、前記電気検査機側平板と被検査
   体側平板に挟まれ、かつ、前記第一の貫通孔と前記第三
   の貫通孔を連通させる第二の貫通孔が穿設された連通用
   平板とからなることを特徴とする電気検査治具。
3. 【請求項３】 上記請求項１または請求項２に記載の電
   気検査治具において、 前記基体の材質を、透明な材質としたことを特徴とする
   電気検査治具。
4. 【請求項４】 請求項１〜３のいずれかに記載の検査ピ
   ンが、 形状記憶合金からなる棒状のピン本体と、 このピン本体を覆う被覆部材と、 前記ピン本体の一端に設けられた圧縮ばねと、 前記ピン本体の他端に形成された当接部と、 を具備したことを特徴とする検査ピン。
5. 【請求項５】 上記請求項４に記載の検査ピンにおい
   て、 前記被覆部材をフッ素化合物で構成したことを特徴とす
   る検査ピン。
6. 【請求項６】 上記請求項４または請求項５に記載の検
   査ピンにおいて、 前記ピン本体と前記圧縮ばねの間に、前記電気検査機に
   埋設されたソケットの内周側面を移動するガイド部材を
   設けたことを特徴とする検査ピン。
7. 【請求項７】 被検査体のテストポイントに、検査ピン
   を当接させて電気検査を行なう電気検査機の使用方法に
   おいて、 形状記憶合金からなる棒状のピン本体と、このピン本体
   を覆う被覆部材と、前記ピン本体の一端に設けられた圧
   縮ばねと、前記ピン本体の他端に形成された当接部と、
   を具備したことを特徴とする検査ピンを、前記電気検査
   機に埋設されたソケットに付勢可能に突設する工程と、 電気検査機と被検査体の間に配設された平板状の基体
   と、この基体の前記電気検査機側表面において、前記電
   気検査機に突設される可撓性を有する検査ピンの位置に
   対応し、かつ、前記基体の前記被検査体側表面におい
   て、前記被検査体のテストポイントの位置に対応するよ
   うに穿設された貫通孔とを具備し、この貫通孔に移動自
   在に挿入された前記検査ピンの先端が、前記テストポイ
   ントと電気的に接触することを特徴とする電気検査治具
   を、前記検査ピンが前記電気検査治具に穿設された貫通
   孔を貫通するように、前記電気検査機に取り付ける工程
   と、 を含むことを特徴とする電気検査機の使用方法。
8. 【請求項８】 上記請求項７に記載の電気検査機の使用
   方法において、 前記電気検査治具を前記電気検査機から取り外した後
   に、前記検査ピンを加熱し、曲がった前記検査ピンを直
   線状に復元させる工程と、を含むことを特徴とする電気
   検査機の使用方法。