JP2001208774A - 電子部品の特性測定用治具の接触子 - Google Patents

電子部品の特性測定用治具の接触子

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JP2001208774A
JP2001208774A JP2000016777A JP2000016777A JP2001208774A JP 2001208774 A JP2001208774 A JP 2001208774A JP 2000016777 A JP2000016777 A JP 2000016777A JP 2000016777 A JP2000016777 A JP 2000016777A JP 2001208774 A JP2001208774 A JP 2001208774A
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jig
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Seishi Murata
清史 村田
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Toko Inc
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Toko Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の接触子はインダクタンス成分や容量成分
による測定誤差が大きくなる上、電極数の多いチップ型
電子部品の測定時に接触不良となり易い。 【解決手段】導体パターン31が形成されたプリント基板
30と、プリント基板30上に取付けた弾性部材10と、弾性
部材10の上面の少なくとも一部を覆い且つ導体パターン
31に電気的に接続した金属箔22とで接触子を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品の電気的特
性を測定する治具における接触子に係り、特に高周波チ
ップ型電子部品の特性測定に適した接触子の構造に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術とその問題点】使用周波数が数百MHzを
超えるような高周波電子部品では、電気的特性の測定時
にこの電子部品の特性に影響を与えないように、測定治
具に設けられる接触子を極力小型にする必要がある。こ
のため、小型金属片をチップ型電子部品の電極形状に合
わせてプリント基板上に半田付けした固定型の接触子が
従来用いられている。この接触子は構造的には単純で作
り易い利点がある。ところが、チップ型電子部品の複数
の電極と、測定治具の複数の接触子との双方に、それぞ
れ位置や寸法のバラツキが生じるため、接触不良が避け
られない問題があった。
【0003】このような固定型の接触子の欠点を補うた
め、接触子を片持ちバネ型とすることも考えられる。入
出力側の接触子はインピーダンス整合がとれていれば片
持ちバネ型とすることは可能である。しかし、アース用
の接触子がインダクタンス成分や容量成分を持つと測定
誤差が大きくなるので、アース用の接触子は出来るだけ
小型化する必要があり、片持ちバネ型には出来ない。し
たがって、入出力側の接触子を片持ちバネ型とした測定
治具を用いた場合でも、アース電極が複数あるチップ型
電子部品の測定を行う際には接触不良の可能性が残る問
題がある。そこで、本発明は適度な弾性を有しかつ高周
波帯の測定においても大きな測定誤差を生じることがな
い接触子を提供することを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品の特
性測定用治具の接触子において、導体パターンが形成さ
れたプリント基板と、このプリント基板上に取付けられ
た弾性部材と、弾性部材の上面の少なくとも一部を覆い
且つ導体パターンに電気的に接続された金属箔とを備え
たことを特徴とする。
【0005】
【実施例】実際には一つの治具に複数の接触子が設けら
れるが、以下の実施例では一つの接触子のみを図示して
説明する。図1は本発明の特性測定用治具における接触
子の一実施例を示すもので、10はシリコーンゴムあるい
はフッ素ゴムなどの耐熱性の弾性材料からなる弾性部材
である。弾性部材10の下面は、プリント基板30の導体パ
ターン31上に接着剤、あるいは両面テープ等により接着
してある。弾性部材10の上には、柔軟な絶縁性のフィル
ム21の上面に金属箔22を取付けてなるフレキシブルプリ
ント基板20が被せてある。本実施例のフレキシブルプリ
ント基板20には、4本の金属箔22が平行に設けてある。
【0006】フレキシブルプリント基板20には、図2の
ように細長い貫通孔23を複数設けることによって、表面
が金属箔22からなる、たわみ易い複数の帯状部22aを形
成してある。フレキシブルプリント基板20は、図3に示
すように予備成形してから、帯状部22aが弾性部材10の
上面に対向した位置にくるようにして弾性部材10に被
せ、金属箔22の両端部を半田40で導体パターン31に半田
付けしてある。
【0007】図4は、この接触子の使用状態を示すもの
で、電極51を有するチップ型電子部品50の電気的特性を
測定する場合の例である。電子部品50の電極51を接触子
の帯状部22aに当接させ、弾性部材10が歪むまで電子部
品50を押し下げた状態で、電子部品50の特性が測定され
る。厚み方向にわずかに変形した弾性部材10には、電極
51を上方向に押し戻そうとする弾性力が生じるので、こ
のとき金属箔の帯状部22aと電極51との間で良好な接触
状態が得られる。
【0008】図5はフレキシブルプリント基板20の他の
実施例を示すもので、フィルム21のほぼ上面全体に金属
箔22を設けるとともに、平行な細長い貫通孔23を複数形
成したものである。この場合も、表面が金属箔22からな
る、たわみ易い複数の帯状部22aが形成されている。本
実施例の場合、図2のフレキシブルプリント基板20より
も両端部の金属箔22の面積が広くなるので、導体パター
ン31への半田付けが容易になる。
【0009】金属箔とフィルムが一体となったフレキシ
ブルプリント基板を使用せず、図6のように金属箔60だ
けを弾性部材10に被せる構成とすることもできる。この
金属箔60は、その一端部あるいは両端部をプリント基板
30の導体パターン31に半田付けされる。このように構成
した場合も、接触子の金属箔60に電極を接触させた電子
部品を押し下げたとき、変形した弾性部材10の弾性によ
って良好な接触状態が得られる。
【0010】図6に図示したと同様な金属箔60を用いた
接触子の他の実施例を図7に示す。弾性部材10の一側面
には、一部を切り欠くことによって段部12を形成してあ
る。弾性部材10に被せた金属箔60は、一端をプリント基
板30の導体パターン31に半田40で接続し、鉤状に曲げた
他端62を段部12に係合してある。このように構成した接
触子は、金属箔60の他端62側がフリーになり弾性部材10
の変形に追随して金属箔60が動きやすくなるので、電子
部品の電極と金属箔60との接触が安定する。
【0011】以上は一つの接触子の構造について説明し
たが、実際の治具においては、一つの治具の共通なプリ
ント基板30上に、このような接触子が電子部品の電極と
同じ数だけ設けられることになる。
【0012】
【発明の効果】
本発明によれば、特性測定用治具
の全ての接触子に弾性を持たせられるので、電極数の多
い電子部品であっても安定した接触状態を得ることがで
きる。また、接触子を小型に構成できるので、被測定電
子部品の電気特性に殆ど影響を与えることがなく、GH
zの周波数帯でも使用可能である。さらに、独立して撓
む複数の帯状部を金属箔に設けることにより電子部品の
電極に多点で接触するので、信頼性が高く耐久性のよい
接触子を得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の接触子の一実施例を示す斜視図
【図2】 同接触子のフレキシブルプリント基板の展開
斜視図
【図3】 同接触子の一部の分解斜視図
【図4】 同接触子の使用状態を示す正面図
【図5】 フレキシブルプリント基板の他の実施例を示
す展開斜視図
【図6】 本発明の接触子の他の実施例を示す要部の斜
視図
【図7】 本発明の接触子のさらに他の実施例を示す正
面図
【符号の説明】
10 弾性部材 20 フレキシブルプリント基板
22、60金属箔 22a 帯状部 30 プリント基板 31 導体パターン

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導体パターンが形成されたプリント基板
    と、該プリント基板上に取付けられた弾性部材と、弾性
    部材の上面の少なくとも一部を覆い且つ該導体パターン
    に電気的に接続された金属箔とを備えたことを特徴とす
    る電子部品の特性測定用治具の接触子。
  2. 【請求項2】 弾性部材の一側面に段部を形成するとと
    もに、金属箔の一端を導体パターンに電気的に接続し、
    金属箔の他端を該段部に係合させた請求項1の電子部品
    の特性測定用治具の接触子。
  3. 【請求項3】 金属箔を柔軟な絶縁性のフィルムの上面
    に取付けた請求項1の電子部品の特性測定用治具の接触
    子。
  4. 【請求項4】 複数の細長い貫通孔を該フィルムに設け
    ることによって、表面が金属箔からなる複数の帯状部を
    形成し、該帯状部を弾性部材の上面に対向させた請求項
    3の電子部品の特性測定用治具の接触子。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016197535A (ja) * 2015-04-03 2016-11-24 シチズン電子株式会社 コネクタ
JP2020101410A (ja) * 2018-12-20 2020-07-02 三菱電機株式会社 電子部品の検査装置及び検査方法

Cited By (3)

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JP2016197535A (ja) * 2015-04-03 2016-11-24 シチズン電子株式会社 コネクタ
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