JP2001203138A - 流体加熱装置および処理液吐出機構 - Google Patents

流体加熱装置および処理液吐出機構

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JP2001203138A
JP2001203138A JP2000010520A JP2000010520A JP2001203138A JP 2001203138 A JP2001203138 A JP 2001203138A JP 2000010520 A JP2000010520 A JP 2000010520A JP 2000010520 A JP2000010520 A JP 2000010520A JP 2001203138 A JP2001203138 A JP 2001203138A
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resist
processing liquid
heating element
electromagnetic induction
wafer
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JP2000010520A
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Hidekazu Shirakawa
英一 白川
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レジスト液等の流体を簡易な構造で効率良く
加熱することができる流体加熱装置、および簡易な構造
で効率良く所望の温度でレジスト液等の処理液を吐出す
ることができる処理液吐出機構を提供すること。 【解決手段】 高周波電源142から電磁コイル141
に高周波電流が供給され、この電磁コイル141の電磁
誘導作用により、発熱体143の磁性体からなるコア部
144に磁界が作用して、発熱体143内に渦電流が生
じ、それによって発熱体143が発熱し、レジスト液供
給管88の先端部およびレジスト液吐出ノズル86を通
流するレジスト液が加熱される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、半導体ウ
エハへレジスト膜を形成する際に用いるレジスト液のよ
うな流体を加熱するための流体加熱装置、および、レジ
スト液のような処理液を吐出する処理液吐出機構に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスのフォトリソグラフィー
工程においては、半導体ウエハ(以下、単に「ウエハ」
と記す)にレジストを塗布し、これにより形成されたレ
ジスト膜を所定の回路パターンに応じて露光し、この露
光パターンを現像処理することによりレジスト膜に回路
パターンを形成している。
【0003】従来から、このような一連の工程を実施す
るために、レジスト塗布現像処理システムが用いられて
いる。この塗布現像処理システムでは、カセット・ステ
ーションのカセットからウエハが一枚ずつ取り出されて
処理ステーションに搬送される。処理ステーションにお
いては、まず、アドヒージョン処理ユニットにて疎水化
処理が施された後、レジスト塗布処理ユニットにおいて
レジストが塗布され、次いで、プリベーク処理される。
その後、ウエハは、処理ステーションからインターフェ
ース・ステーションを介して露光装置に搬送されて、露
光装置にて所定のパターンが露光された後、インターフ
ェース・ステーションを介して、再度処理ステーション
に搬送される。この露光されたウエハは、ホットプレー
トユニットにてポストエクスポージャーベーク処理が施
された後、現像処理ユニットにおいて現像処理が施さ
れ、次いで、この現像されたウエハにポストベーク処理
が施される。これにより、一連の処理が終了し、ウエハ
はカセット・ステーションに搬送されて、ウエハカセッ
トに収容される。
【0004】このような一連の処理の中で、レジスト塗
布処理ユニットにおいては、ウエハをカップ内に設けら
れたスピンチャックに真空吸着させた状態で回転させつ
つ、レジスト液吐出ノズルからウエハ表面の略中央にレ
ジスト液を滴下し、遠心力によってレジスト液をウエハ
の全面に拡げることによりレジスト膜が形成される。こ
の場合に、高精度の線幅を形成するためには、レジスト
膜の厚さを厳密に制御する必要があることから、レジス
ト液吐出ノズルから吐出されるレジスト液の温度に温調
している。
【0005】従来は、このようなレジスト液の温調は、
水を加熱温調してポンプによって循環させつつ熱交換を
行うウォータージャケットにより加熱することにより行
っている。すなわち、レジストノズルの先端部では、レ
ジスト液を流す管路(内管路)の外周面に、内部に温水
を流す管路(外管路)が装着されて、二重管または三重
管からなる熱交換器が構成されている。この内管路を流
れるレジスト液に対して、外管路内に温水を向流で流す
ことにより、温水からレジスト液に伝熱されて、レジス
ト液がノズル先端から吐出される際に、レジスト液が所
定温度に加熱されるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウォー
タージャケットによってレジスト液を加熱する際には、
温水からの伝熱が内管路と外管路との壁面を通してなさ
れるのみであるため、伝熱効率があまり良くなく、その
改善が要望されている。
【0007】また、ウォータージャケットには、温水を
通流させるためのポンプ、温水を所定温度に維持するた
めのヒーター、およびこれらの制御機器等が必要とさ
れ、設備が大掛かりにならざるを得ない。
【0008】さらに、温水を流す外管路は、レジスト液
を吐出するノズルの最先端位置まで配置することができ
ないため、レジスト液の吐出停止時、ノズルの最先端位
置でレジスト液が乾燥することがあり、再度レジスト液
を吐出する際には、ダミーディスペンスが避けられな
い。
【0009】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、レジスト液等の流体を簡易な構造で効率良く
加熱することができる流体加熱装置、および簡易な構造
で効率良く所望の温度でレジスト液等の処理液を吐出す
ることができる処理液吐出機構を提供することを目的と
する。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の観点では、管路内を流れる流体を加
熱する流体加熱装置であって、管路内に配置された磁性
体からなる発熱体と、高周波電力発生手段と、前記管路
の外側に配置され、前記高周波電力発生手段から高周波
電流が供給されることにより、管路内に電磁誘導作用を
及ぼす電磁誘導手段とを具備し、前記電磁誘導手段によ
る電磁誘導作用により前記発熱体を加熱し、それにより
前記管路内を流れる流体を加熱することを特徴とする流
体加熱装置を提供する。
【0011】このように本発明の第1の観点によれば、
管路の外側に配置された電磁誘導手段に高周波電流が供
給されることにより、この電磁誘導手段の電磁誘導作用
によって管路内に配置された発熱体が発熱して管路内を
流れる流体を加熱するので、ポンプやヒーター等の大が
かりな設備を用いない簡易な構造で効率良く加熱するこ
とができる。
【0012】この場合に、管路内を流れる流体の温度を
測定する温度検出手段と、この温度検出手段の検出信号
に基づいて、前記高周波電力発生手段による前記発熱体
の発熱を制御して、管路内を流れる液体の温度を調整す
るための制御手段とをさらに具備することが好ましい。
また、電磁誘導手段としては、電磁コイルを用いること
ができる。
【0013】前記発熱体は、その表面に被覆部材が形成
されていることが好ましい。これにより、管路を通流す
る流体が腐食性等、発熱体を劣化させるものであっても
発熱体が劣化することが防止される。
【0014】前記発熱体の外側には、前記発熱体をを前
記管路の内壁から離間するように配置させる配管内固定
手段が設けられていることが好ましい。これにより、管
路内の中央部に発熱体を配置することができ、管路内を
流れる流体を効率よく加熱することができるとともに、
流体が通流するためのスペースを確保することができ
る。
【0015】さらに、前記管路の内壁に沿って配置され
た磁性体からなる発熱部材をさらに具備することが好ま
しい。これにより、管路を通流する流体を内側および外
側の両方から加熱することができ、加熱効率を極めて高
くすることができる。この場合に、この発熱部材の内側
を覆う被覆部材をさらに具備することが好ましい。これ
により、管路を通流する流体が腐食性等、発熱部材を劣
化させるものであっても発熱部材が劣化することが防止
される。
【0016】本発明の第2の観点では、処理液を供給す
る配管と、前記配管の先端に設けられ、処理液を吐出す
る処理液吐出ノズルと、少なくとも前記処理液吐出ノズ
ル内に配置された磁性体からなる発熱体と、高周波電力
発生手段と、少なくとも前記処理液吐出ノズルの外側に
配置され、前記高周波電力発生手段から高周波電流が供
給されることにより、少なくとも処理液吐出ノズル内に
電磁誘導作用を及ぼす電磁誘導手段と、処理液の温度を
測定する温度センサーと、この温度センサーの検出信号
に基づいて、前記高周波電力発生手段による前記発熱体
の発熱を制御して、処理液吐出ノズルから吐出される処
理液の温度を調整するための制御手段とを具備し、前記
電磁誘導手段による電磁誘導作用により前記発熱体を加
熱し、それにより処理液を加熱することを特徴とする処
理液吐出機構を提供する。
【0017】このように本発明の第2の観点によれば、
少なくとも処理液吐出ノズルの外側に配置された電磁誘
導手段に高周波電流が供給されることにより、この電磁
誘導手段の電磁誘導作用によって少なくとも処理液吐出
ノズル内に配置された発熱体が発熱して処理液を加熱す
るので、ポンプやヒーター等の大がかりな設備を用いな
い簡易な構造で効率良く加熱することができ、処理液を
温調することができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について詳細に説明する。図1は本発明
の一実施形態に係るレジスト塗布ユニットが搭載された
レジスト塗布・現像処理システムを示す概略平面図、図
2はその正面図、図3はその背面図である。
【0019】この処理システムは、搬送ステーションで
あるカセットステーション10と、複数の処理ユニット
を有する処理ステーション11と、処理ステーション1
1と隣接して設けられる露光装置(図示せず)との間で
ウエハWを受け渡すためのインターフェイス部12とを
具備している。
【0020】上記カセットステーション10は、被処理
体としての半導体ウエハ(以下、単にウエハと記す)W
を複数枚例えば25枚単位でウエハカセットCRに搭載
された状態で他のシステムからこのシステムへ搬入また
はこのシステムから他のシステムへ搬出したり、ウエハ
カセットCRと処理ステーション11との間でウエハW
の搬送を行うためのものである。
【0021】このカセットステーション10において
は、図1に示すように、カセット載置台20上に図中X
方向に沿って複数(図では4個)の位置決め突起20a
が形成されており、この突起20aの位置にウエハカセ
ットCRがそれぞれのウエハ出入口を処理ステーション
11側に向けて一列に載置可能となっている。ウエハカ
セットCRにおいてはウエハWが垂直方向(Z方向)に
配列されている。また、カセットステーション10は、
ウエハカセット載置台20と処理ステーション11との
間に位置するウエハ搬送機構21を有している。このウ
エハ搬送機構21は、カセット配列方向(X方向)およ
びその中のウエハWのウエハ配列方向(Z方向)に移動
可能なウエハ搬送用アーム21aを有しており、この搬
送アーム21aによりいずれかのウエハカセットCRに
対して選択的にアクセス可能となっている。また、ウエ
ハ搬送用アーム21aは、θ方向に回転可能に構成され
ており、後述する処理ステーション11側の第3の処理
部Gに属するアライメントユニット(ALIM)およ
びエクステンションユニット(EXT)にもアクセスで
きるようになっている。
【0022】上記処理ステーション11は、半導体ウエ
ハWへ対して塗布・現象を行う際の一連の工程を実施す
るための複数の処理ユニットを備え、これらが所定位置
に多段に配置されており、これらにより半導体ウエハW
が一枚ずつ処理される。この処理ステーション11は、
図1に示すように、中心部に搬送路22aを有し、この
中に主ウエハ搬送機構22が設けられ、ウエハ搬送路2
2aの周りに全ての処理ユニットが配置されている。こ
れら複数の処理ユニットは、複数の処理部に分かれてお
り、各処理部は複数の処理ユニットが鉛直方向に沿って
多段に配置されている。
【0023】主ウエハ搬送機構22は、図3に示すよう
に、筒状支持体49の内側に、ウエハ搬送装置46を上
下方向(Z方向)に昇降自在に装備している。筒状支持
体49はモータ(図示せず)の回転駆動力によって回転
可能となっており、それにともなってウエハ搬送装置4
6も一体的に回転可能となっている。
【0024】ウエハ搬送装置46は、搬送基台47の前
後方向に移動自在な複数本の保持部材48を備え、これ
らの保持部材48によって各処理ユニット間でのウエハ
Wの受け渡しを実現している。
【0025】また、図1に示すように、この実施の形態
においては、4個の処理部G,G ,G,Gがウ
エハ搬送路22aの周囲に実際に配置されており、処理
部G は必要に応じて配置可能となっている。
【0026】これらのうち、第1および第2の処理部G
,Gはシステム正面(図1において手前)側に並列
に配置され、第3の処理部Gはカセットステーション
10に隣接して配置され、第4の処理部Gはインター
フェイス部12に隣接して配置されている。また、第5
の処理部Gは背面部に配置可能となっている。
【0027】第1の処理部Gでは、ウエハWにレジス
トを塗布するレジスト塗布ユニット(COT)およびレ
ジストのパターンを現像する現像ユニット(DEV)が
下から順に2段に重ねられている。第2の処理部G
同様に、2台のスピナ型処理ユニットとしてレジスト塗
布ユニット(COT)および現像ユニット(DEV)が
下から順に2段に重ねられている。
【0028】第3の処理部Gにおいては、図3に示す
ように、ウエハWを載置台SPに載せて所定の処理を行
うオーブン型の処理ユニットが多段に重ねられている。
すなわち冷却処理を行うクーリングユニット(CO
L)、レジストの定着性を高めるためのいわゆる疎水化
処理を行うアドヒージョンユニット(AD)、位置合わ
せを行うアライメントユニット(ALIM)、ウエハW
の搬入出を行うエクステンションユニット(EXT)、
露光処理前や露光処理後、さらには現像処理後にウエハ
Wに対して加熱処理を行う4つのホットプレートユニッ
ト(HP)が下から順に8段に重ねられている。なお、
アライメントユニット(ALIM)の代わりにクーリン
グユニット(COL)を設け、クーリングユニット(C
OL)にアライメント機能を持たせてもよい。
【0029】第4の処理部Gも、オーブン型の処理ユ
ニットが多段に重ねられている。すなわち、クーリング
ユニット(COL)、クーリングプレートを備えたウエ
ハ搬入出部であるエクステンション・クーリングユニッ
ト(EXTCOL)、エクステンションユニット(EX
T)、クーリングユニット(COL)、および4つのホ
ットプレートユニット(HP)が下から順に8段に重ね
られている。
【0030】主ウエハ搬送機構22の背部側に第5の処
理部Gを設ける場合には、案内レール25に沿って主
ウエハ搬送機構21から見て側方へ移動できるようにな
っている。したがって、第5の処理部Gを設けた場合
でも、これを案内レール25に沿ってスライドすること
により空間部が確保されるので、主ウエハ搬送機構21
に対して背後からメンテナンス作業を容易に行うことが
できる。
【0031】上記インターフェイス部12は、奥行方向
(X方向)については、処理ステーション11と同じ長
さを有している。図1、図2に示すように、このインタ
ーフェイス部12の正面部には、可搬性のピックアップ
カセットCRと定置型のバッファカセットBRが2段に
配置され、背面部には周辺露光装置23が配設され、中
央部には、ウエハ搬送機構24が配設されている。この
ウエハ搬送機構24は、ウエハ搬送用アーム24aを有
しており、このウエハ搬送用アーム24aは、X方向、
Z方向に移動して両カセットCR,BRおよび周辺露光
装置23にアクセス可能となっている。また、このウエ
ハ搬送用アーム24aは、θ方向に回転可能であり、処
理ステーション11の第4の処理部Gに属するエクス
テンションユニット(EXT)や、さらには隣接する露
光装置側のウエハ受け渡し台(図示せず)にもアクセス
可能となっている。
【0032】このようなレジスト塗布現像処理システム
においては、まず、カセットステーション10におい
て、ウエハ搬送機構21のウエハ搬送用アーム21aが
カセット載置台20上の未処理のウエハWを収容してい
るウエハカセットCRにアクセスして、そのカセットC
Rから一枚のウエハWを取り出し、第3の処理部G
エクステンションユニット(EXT)に搬送する。
【0033】ウエハWは、このエクステンションユニッ
ト(EXT)から、主ウエハ搬送機構22のウエハ搬送
装置46により、処理ステーション11に搬入される。
そして、第3の処理部Gのアライメントユニット(A
LIM)によりアライメントされた後、アドヒージョン
処理ユニット(AD)に搬送され、そこでレジストの定
着性を高めるための疎水化処理(HMDS処理)が施さ
れる。この処理は加熱を伴うため、その後ウエハWは、
ウエハ搬送装置46により、クーリングユニット(CO
L)に搬送されて冷却される。
【0034】アドヒージョン処理が終了し、クーリング
ユニット(COL)で所定の温度に冷却さたウエハW
は、引き続き、ウエハ搬送装置46によりレジスト塗布
ユニット(COT)に搬送され、そこで塗布膜が形成さ
れる。塗布処理終了後、ウエハWは処理部G,G
いずれかのホットプレートユニット(HP)内でプリベ
ーク処理され、その後いずれかのクーリングユニット
(COL)にて所定の温度に冷却される。
【0035】冷却されたウエハWは、第3の処理部G
のアライメントユニット(ALIM)に搬送され、そこ
でアライメントされた後、第4の処理部群Gのエクス
テンションユニット(EXT)を介してインターフェイ
ス部12に搬送される。
【0036】インターフェイス部12では、例えば周辺
露光装置23によりウエハの周縁例えば1mmを露光
し、後工程の現像処理で周縁の余分なレジストを除去す
る処理を行った後、インターフェイス部12に隣接して
設けられた露光装置(図示せず)により所定のパターン
に従ってウエハWのレジスト膜に露光処理が施される。
【0037】露光後のウエハWは、再びインターフェイ
ス部12に戻され、ウエハ搬送体24により、第4の処
理部Gに属するエクステンションユニット(EXT)
に搬送される。そして、ウエハWは、ウエハ搬送装置4
6により、いずれかのホットプレートユニット(HP)
に搬送されてポストエクスポージャーベーク処理が施さ
れ、次いで、クーリングユニット(COL)により所定
の温度に冷却される。
【0038】その後、ウエハWは現像ユニット(DE
V)に搬送され、そこで露光パターンの現像が行われ
る。現像処理終了後、ウエハWはいずれかのホットプレ
ートユニット(HP)に搬送されてポストベーク処理が
施され、次いで、クーリングユニット(COL)により
所定温度に冷却される。このような一連の処理が終了し
た後、第3処理ユニット群Gのエクステンションユニ
ット(EXT)を介してカセットステーション10に戻
され、いずれかのウエハカセットCRに収容される。
【0039】次に、本実施形態におけるレジスト塗布ユ
ニット(COT)について説明する。図4および図5
は、レジスト塗布ユニット(COT)の全体構成を示す
概略断面図および概略平面図である。
【0040】このレジスト塗布ユニット(COT)の中
央部には環状のカップCPが配置され、カップCPの内
側にはスピンチャック52が配置されている。スピンチ
ャック52は真空吸着によってウエハWを固定保持した
状態で駆動モータ54によって回転される。駆動モータ
54は、ユニット底板50に設けられた開口50aに昇
降移動可能に配置され、たとえばアルミニウムからなる
キャップ状のフランジ部材58を介してたとえばエアシ
リンダからなる昇降駆動手段60および昇降ガイド手段
62と結合されている。駆動モータ54の側面にはたと
えばステンレス鋼(SUS)からなる筒状の冷却ジャケ
ット64が取り付けられ、フランジ部材58は、この冷
却ジャケット64の上半部を覆うように取り付けられて
いる。
【0041】レジスト塗布時、フランジ部材58の下端
58aは、開口50aの外周付近でユニット底板50に
密着し、これによってユニット内部が密閉される。スピ
ンチャック52と主ウエハ搬送機構22の保持部材48
との間でウエハWの受け渡しが行われる時は、昇降駆動
手段60が駆動モータ54ないしスピンチャック52を
上方へ持ち上げることでフランジ部材58の下端がユニ
ット底板50から浮くようになっている。
【0042】ウエハWの表面にレジスト液を供給するた
めの液吐出手段であるレジスト液吐出ノズル86は、レ
ジスト液供給管88を介してレジスト液供給部89に接
続されている。このレジスト液吐出ノズル86はスキャ
ンアーム92の先端部にノズル保持体100を介して着
脱可能に取り付けられている。このスキャンアーム92
は、ユニット底板50の上に一方向(Y方向)に敷設さ
れたガイドレール94上で水平移動可能な垂直支持部材
96の上端部に取り付けられており、図示しないY方向
駆動機構によって垂直支持部材96と一体にY方向に移
動するようになっている。
【0043】待機部90では、レジスト液吐出ノズル8
6の吐出口が溶媒雰囲気室の口90aに挿入され、溶媒
の雰囲気に曝されることで、ノズル先端のレジスト液が
固化または劣化しないようになっている。また、ノズル
待機部90には形状等が異なる複数本のレジスト液吐出
ノズル86が待機されており、例えばレジスト液の種類
に応じてそれらのノズルが使い分けられるようになって
いる。
【0044】スキャンアーム92は待機部90にてX方
向の動作を行うことが可能であり、スキャンアーム92
がY方向に移動して待機部90との受け渡し可能位置に
位置した際に、ノズル86を選択的に交換することがで
きるようになっている。
【0045】また、スキャンアーム92の先端部のノズ
ル保持体100には、図5に示すように、ウエハ表面へ
のレジスト液の供給に先立ってウエハ表面にウエハ表面
を濡らすための溶剤例えばシンナーを供給する溶剤ノズ
ル101も取り付けられている。この溶剤ノズル101
は図示しない溶剤供給管を介して溶剤供給部132(図
6参照)に接続されている。溶剤ノズル101とレジス
ト液吐出ノズル86はスキャンアーム92のY移動方向
に沿う直線上に各々の吐出口が位置するように取り付け
られている。
【0046】さらに、ガイドレール94上には、スキャ
ンアーム92を支持する垂直支持部材96だけでなく、
リンスノズルスキャンアーム120を支持しY方向に移
動可能な垂直支持部材122も設けられている。このリ
ンスノズルスキャンアーム120の先端部にはサイドリ
ンス用のリンスノズル124が取り付けられている。Y
方向駆動機構(図示せず)によってリンスノズルスキャ
ンアーム120およびリンスノズル124はカップCP
の側方に設定されたリンスノズル待機位置(実線の位
置)とスピンチャック52に設置されているウエハWの
周辺部の真上に設定されたリンス液吐出位置(点線の位
置)との間で直線移動するようになっている。
【0047】図6はレジスト塗布装置ユニット(CO
T)の制御系の構成を示す図である。レジスト塗布装置
ユニット(COT)はユニットコントローラ130を有
しており、このユニットコントローラ130はレジスト
塗布装置ユニット(COT)内の各部を制御する。具体
的には、駆動モータ54の駆動を制御する他、レジスト
液供給部89やシンナー供給部132等を制御する。ま
た、ユニットコントローラ130は、レジスト供給部1
31からレジスト液吐出ノズル86へのレジスト液の供
給やシンナー供給部132からシンナーノズル101へ
のシンナーの供給を制御し、さらに、後述する温度セン
サー137の検出信号に基づいて、温調器138に制御
信号を送信し、この温調器138が以下に説明するレジ
スト液加熱機構を制御してレジスト液吐出ノズル86レ
ジストノズルから吐出されるレジスト液を加熱してレジ
スト液の温調を行うようになっている。
【0048】このレジスト液加熱機構について、図7お
よび図8を参照して説明する。図7は、レジスト液吐出
ノズル86およびレジスト液供給管88の先端部を拡大
して示す側面図であり、図8はその断面図である。
【0049】レジスト液供給管88の先端部およびレジ
スト液吐出ノズル86には、電磁誘導手段として例えば
電磁コイル141が巻回されており、この電磁コイル1
41には高周波電源142が接続されている。そして、
この高周波電源142から所定の周波数の高周波電力が
電磁コイル141に供給され、レジスト液供給管88の
先端部およびレジスト液吐出ノズル86の内部に電磁誘
導作用が及ぼされるようになっている。なお、図8に示
すように、レジスト液吐出ノズル86の先端部にはレジ
スト液吐出孔86aが形成されている。
【0050】レジスト液供給管88の先端部およびレジ
スト液吐出ノズル86には、図8に示すように複数の発
熱体143が挿入されている。この発熱体143は、磁
性体からなるコア部144と、被覆部材145とで構成
されており、被覆部材145からは外方へ脚状のスペー
サー(配管内固定手段)146が延びている。発熱体1
43の外観は、図9に示すように、カプセル状をなして
おり、この発熱体143は例えばレジスト液供給管88
の端部から適宜の治具により挿入される。この場合に、
複数のスペーサー146の存在により、発熱体143が
レジスト液吐出ノズル86およびレジスト液供給管88
の内壁から離隔した状態で配置される。
【0051】発熱体143のコア部144を構成する材
料は磁性体であればよいが、典型的には鉄系材料等の金
属材料が例示される。被覆部材145は例えば樹脂で構
成され、レジスト液吐出ノズル86およびレジスト液供
給管88を通流するレジスト液によってコア部144が
劣化することを防止する機能を有する。
【0052】このように発熱体143がレジスト液供給
管88の先端部およびレジスト液吐出ノズル86に挿入
された状態で、高周波電源142から電磁コイル141
に給電することにより、その電磁誘導作用によって発熱
体143に磁界が作用され、磁性体からなるコア部14
4に渦電流が生じ、それによって発熱体143が発熱
し、レジスト液供給管88の先端部およびレジスト液吐
出ノズル86を通流するレジスト液が加熱される。この
場合に、高周波電源142の周波数としては、実質的に
磁界のみを作用させてコア部144のみを加熱すること
が可能な比較的低い周波数、例えば400kHz程度が
好ましい。
【0053】レジスト液吐出ノズル86の先端部近傍に
は、温度検出手段である熱電対等の温度センサー137
が設けられており、その検出信号はユニットコントロー
ラ130に出力される。ユニットコントローラ130に
は温調器138が接続されている。この温調器138は
温度センサー137の検出信号に基づいてユニットコン
トローラ130から送信された制御信号に基づいて高周
波電源142の出力を制御して発熱体143によるレジ
スト液の加熱を調整する。これにより、レジスト液の温
度が所定の温度に制御される。
【0054】以上のように構成されたレジスト塗布装置
ユニット(COT)においては、まず、主ウエハ搬送機
構22の保持部材48によってレジスト塗布装置ユニッ
ト(COT)内のカップCPの真上までウエハWが搬送
されると、そのウエハWは、例えばエアシリンダからな
る昇降駆動手段60および昇降ガイド手段62によって
上昇してきたスピンチャック52によって真空吸着され
る。主ウエハ搬送機構22はウエハWをスピンチャック
52に真空吸着せしめた後、保持部材48をレジスト塗
布装置ユニット(COT)内から引き戻し、レジスト塗
布装置ユニット(COT)へのウエハWの受け渡しを終
える。
【0055】次いで、スピンチャック52は、ウエハW
がカップCP内の定位置になるまで下降され、駆動モー
タ54によって回転駆動が開始される。その後、レジス
トノズル待機部90からのノズル保持体100の移動が
スキャンアーム92によって開始される。このノズル保
持体100の移動はY方向に沿って行われる。溶剤ノズ
ル101の吐出口がスピンチャック52の中心(ウエハ
Wの中心)上に到達したところで溶剤ノズル101から
回転しているウエハWの表面に溶剤として例えばシンナ
ーが供給される。ウエハ表面に供給された溶剤は遠心力
によってウエハ中心からその周囲全域にむらなく広が
る。
【0056】続いて、ノズル保持体100は、レジスト
液吐出ノズル86の吐出口がスピンチャック52の中心
(ウエハWの中心)上に到達するまでY方向に移動さ
れ、レジスト液吐出ノズル86の吐出口からレジスト液
が、回転するウエハWの表面の中心に滴下されてウエハ
表面へのレジスト塗布が行われる。
【0057】レジスト液の滴下後、駆動モータ54によ
りウエハWが高速で回転され、レジスト液がウエハWの
径方向外方に拡散される。その後、ウエハWはさらに回
転され、残余のレジスト液が振り切られる。塗布処理が
終了した後、スピンチャック52を停止し、主ウエハ搬
送機構22の保持部材48によってウエハWを取出し
て、塗布作業が完了する。
【0058】このようなレジスト液の塗布処理に際して
は、上述したレジスト液加熱機構によりレジスト液を加
熱するとともに、温度センサー137の検出信号に基づ
いて、ユニットコントローラ130から温調器138に
制御信号を送信し、この温調器138によりレジスト液
の温度を制御する。
【0059】すなわち、発熱体143が挿入されたレジ
スト液供給管88の先端部およびレジスト液吐出ノズル
86に巻回された電磁コイル141に高周波電源142
から給電することにより、電磁コイル141の電磁誘導
作用によって発熱体143に磁界が作用され、磁性体か
らなるコア部144に渦電流が生じ、それによって発熱
体143が発熱し、レジスト液供給管88の先端部およ
びレジスト液吐出ノズル86を通流するレジスト液が加
熱されるとともに、温度センサー137の信号に応じて
ユニットコントローラ130から送信された制御信号に
基づいて温調器138が高周波電源142の出力を制御
して発熱体143によるレジスト液の加熱を調整し、レ
ジスト液の温度を所定の温度に制御する。
【0060】このようにレジスト液供給管88の先端部
およびレジスト液吐出ノズル86の外側に配置された電
磁誘導手段としての電磁コイル141に高周波電流が供
給されることにより、この電磁コイル141の電磁誘導
作用によって発熱体143が発熱してレジスト液供給管
88の先端部およびレジスト液吐出ノズル86内を流れ
るレジスト液を加熱するので、水を加熱・循環させて温
調を行う方式において必要であったポンプやヒーター等
の大がかりな設備を用いない簡易な構造で効率良く加熱
することができる。
【0061】また、発熱体143は、コア部144の表
面に例えば樹脂からなる被覆部材145が形成されて構
成されているので、通流するレジスト液によってコア部
144が劣化することが防止される。
【0062】さらに、発熱体143には配管内固定手段
であるスペーサー146が設けられているので、発熱体
143をレジスト液吐出ノズル86およびレジスト液供
給管88の内壁から離間して、これらの中央部に配置さ
せることができ、レジスト液供給管88およびレジスト
液吐出ノズル86を流れるレジスト液を効率よく加熱す
ることができるとともに、流体が通流するためのスペー
スを確保することができる。
【0063】さらにまた、発熱体143をレジスト液吐
出ノズル86の先端位置まで配置することが可能である
ため、従来のように、レジスト液の吐出停止時にノズル
の先端位置でレジスト液が乾燥するといったことを確実
に防止することができる。
【0064】次に、レジスト液加熱機構の他の例につい
て図10を参照しながら説明する。図10は他のレジス
ト液加熱機構が施されたレジスト液吐出ノズル86を示
す横断面図である。上記実施形態では、レジスト液吐出
ノズル86およびレジスト液供給管88の中に発熱体1
43を挿入したのみであったが、本例では発熱体143
の他にレジスト液吐出ノズル86の内壁に磁性体からな
る発熱部材147を配置する。図示してはいないがレジ
スト液供給管88の内壁にも同様に発熱部材を配置され
ている。発熱部材147の内側には被覆部材148が配
置されている。発熱部材147としては、発熱体143
のコア部144と同様、磁性体であればよく、典型的に
は鉄系材料等の金属材料が例示される。被覆部材148
は例えば樹脂で構成され、レジスト液吐出ノズル86お
よびレジスト液供給管88を通流するレジスト液によっ
て発熱部材147が劣化することを防止する機能を有す
る。レジスト液吐出ノズル86やレジスト液供給管88
等は、通常、樹脂製であるため、これらによって電磁誘
導による加熱は行われないが、このようにこれらの内壁
に磁性体からなる発熱部材147を配置することによ
り、これらを通流するレジスト液を電磁誘導作用により
これらの外側からも加熱することができ、結果としてレ
ジスト液吐出ノズル86やレジスト液供給管88を通流
しているレジスト液を内側および外側の両方から加熱す
ることができ、加熱効率を極めて高くすることができ
る。
【0065】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態で
は、電磁誘導手段として電磁コイルを用いたが、これに
限らずアンテナ等、誘導加熱に適する所定周波数の電磁
波を放射するものであれば採用可能である。また、上記
実施形態では発熱体または発熱部材を被覆部材で被覆し
たが、被覆部材は必ずしも設けなくともよい。ただし、
発熱体または発熱部材を保護する観点からは設けること
が好ましい。さらに、上記実施形態ではレジスト液供給
管の先端部およびレジスト液吐出ノズルに発熱体を挿入
するとともに電磁コイルを巻回したが、レジスト液吐出
ノズルのみに発熱体を挿入し電磁コイルを巻回して、レ
ジスト液吐出ノズルのみを加熱するようにしてもよい。
さらにまた、上記実施形態ではレジスト塗布処理ユニッ
トにおけるレジスト液の加熱に本発明を適用したが、本
発明はこれに限らず現像液や洗浄液等の他の処理液に適
用することができ、さらに処理液のみならず、気体を含
む流体全般に適用することも可能である。さらにまた、
上記実施形態ではノズル部分に本発明を適用した場合に
ついて説明したが、これに限らず流体が通流する管路で
あれば適用可能である。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
管路の外側に配置された電磁誘導手段に高周波電流が供
給されることにより、この電磁誘導手段の電磁誘導作用
によって管路内に配置された発熱体が発熱して管路内を
流れる流体を加熱するので、ポンプやヒーター等の大が
かりな設備を用いない簡易な構造で効率良く加熱するこ
とができる。また、少なくとも処理液吐出ノズルの外側
に配置された電磁誘導手段に高周波電流が供給されるこ
とにより、この電磁誘導手段の電磁誘導作用によって少
なくとも処理液吐出ノズル内に配置された発熱体が発熱
して処理液を加熱するので、ポンプやヒーター等の大が
かりな設備を用いない簡易な構造で効率良く加熱するこ
とができ、処理液を温調することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るレジスト塗布ユニッ
トが搭載された半導体ウエハのレジスト塗布現像処理シ
ステムの全体構成を示す平面図。
【図2】図1のレジスト塗布現像処理システムの全体構
成を示す正面図。
【図3】図1のレジスト塗布現像処理システムの全体構
成を示す背面図。
【図4】図1に示したレジスト塗布現像処理システムに
搭載されたレジスト塗布装置の全体構成を示す概略断面
図。
【図5】図4に示したレジスト塗布装置の全体構成を示
す概略平面図。
【図6】図4に示したレジスト塗布装置の制御系の構成
を示す図。
【図7】レジスト液加熱機構が設けられたレジスト液供
給管の先端部およびレジスト液吐出ノズルを拡大して示
す側面図。
【図8】レジスト液加熱機構が設けられたレジスト液供
給管の先端部およびレジスト液吐出ノズルを拡大して示
す、断面図。
【図9】発熱体を示す斜視図。
【図10】他のレジスト液加熱機構が施されたレジスト
液吐出ノズルを示す横断面図。
【符号の説明】
86;レジスト液吐出ノズル 88;レジスト液供給管 130;ユニットコントローラ(制御手段) 137;温度センサー(温度検出手段) 138;温調器 141;電磁コイル 142;高周波電源 143;発熱体 144;コア部 145;被覆部材 146;スペーサー(配管内固定手段) 147;発熱部材 148;被覆部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/16 501 H05B 6/10 311 H05B 6/10 311 H01L 21/30 564Z Fターム(参考) 2H025 AA00 AA04 AB16 EA04 EA05 3K059 AA10 AB00 AB19 AB23 AB28 AC10 AC33 AC37 AC54 AD03 AD37 BD02 CD14 CD44 CD52 CD74 CD77 4D075 AC64 AC84 AC96 BB35Z CA47 DA08 DB14 DC22 EA45 4F042 AA07 BA19 CB26 DA09 5F046 JA02 JA24

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 管路内を流れる流体を加熱する流体加熱
    装置であって、 管路内に配置された磁性体からなる発熱体と、 高周波電力発生手段と、 前記管路の外側に配置され、前記高周波電力発生手段か
    ら高周波電流が供給されることにより、管路内に電磁誘
    導作用を及ぼす電磁誘導手段とを具備し、 前記電磁誘導手段による電磁誘導作用により前記発熱体
    を加熱し、それにより前記管路内を流れる流体を加熱す
    ることを特徴とする流体加熱装置。
  2. 【請求項2】 管路内を流れる流体の温度を測定する温
    度検出手段と、この温度検出手段の検出信号に基づい
    て、前記高周波電力発生手段による前記発熱体の発熱を
    制御して、管路内を流れる液体の温度を調整するための
    制御手段とをさらに具備することを特徴とする請求項1
    に記載の流体加熱装置。
  3. 【請求項3】 前記電磁誘導手段は、電磁コイルである
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の流体
    加熱装置。
  4. 【請求項4】 前記発熱体は、その表面に被覆部材が形
    成されていることを特徴とする請求項1から請求項3の
    いずれか1項に記載の流体加熱装置。
  5. 【請求項5】 前記発熱体の外側には、前記発熱体を前
    記管路の内壁から離間するように配置させる配管内固定
    手段が設けられていることを特徴とする請求項1から請
    求項4のいずれか1項に記載の流体加熱装置。
  6. 【請求項6】 前記管路の内壁に沿って配置された磁性
    体からなる発熱部材をさらに具備することを特徴とする
    請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の流体加熱
    装置。
  7. 【請求項7】 前記発熱部材の内側を覆う被覆部材をさ
    らに具備することを特徴とする請求項6に記載の流体加
    熱装置。
  8. 【請求項8】 処理液を供給する配管と、 前記配管の先端に設けられ、処理液を吐出する処理液吐
    出ノズルと、 少なくとも前記処理液吐出ノズル内に配置された磁性体
    からなる発熱体と、 高周波電力発生手段と、 少なくとも前記処理液吐出ノズルの外側に配置され、前
    記高周波電力発生手段から高周波電力が供給されること
    により、少なくとも処理液吐出ノズル内に電磁誘導作用
    を及ぼす電磁誘導手段と、 処理液の温度を測定する温度センサーと、 この温度センサーの検出信号に基づいて、前記交流電源
    による前記発熱体の発熱を制御して、処理液吐出ノズル
    から吐出される処理液の温度を調整するための制御手段
    とを具備し、 前記電磁誘導手段による電磁誘導作用により前記発熱体
    を加熱し、それにより処理液を加熱することを特徴とす
    る処理液吐出機構。
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