JP2001196522A - プリント配線板およびマルチチップ・モジュール - Google Patents

プリント配線板およびマルチチップ・モジュール

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JP2001196522A
JP2001196522A JP2000003205A JP2000003205A JP2001196522A JP 2001196522 A JP2001196522 A JP 2001196522A JP 2000003205 A JP2000003205 A JP 2000003205A JP 2000003205 A JP2000003205 A JP 2000003205A JP 2001196522 A JP2001196522 A JP 2001196522A
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Japan
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bare chip
wiring board
printed wiring
insulating layer
chip
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JP2000003205A
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English (en)
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Kazuyuki Kawashima
和之 川嶋
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Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ワイヤボンディングやフリップチップボンデ
ィングのような専用設備を要するボンディング工程を経
由せずに、埋設された半導体素子のベアチップへの電気
的接続を行え、しかも、埋設されたベアチップを覆う絶
縁層上にそのベアチップと重なるように導電層や電子回
路部品を配置できるようにする。 【解決手段】 プリント配線板10の内部に、複数の接
続用電極21、22を有する半導体素子のベアチップ2
0を埋設する。ベアチップ20を覆うプリント配線板1
0の絶縁層16は、ベアチップ20の接続用電極21、
22を露出させる複数のビアホール19a、19bを有
する。ベアチップ20の接続用電極21、22は、ビア
ホール19a、19bを介して、絶縁層16上に形成さ
れたプリント配線板10の導電層17の対応する箇所に
電気的に接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板
(Printed Wiring Board)およびマルチチップ・モジュ
ールに関し、さらに言えば、半導体素子のベアチップが
埋設されたプリント配線板と、プリント配線板上に複数
の半導体素子チップを実装してなるマルチチップ・モジ
ュールに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路などの半導体素子のベア
チップをプリント配線板上に実装する場合、導電性ワイ
ヤを用いて接続を行うワイヤ・ボンディング法や導電性
バンプを用いて接続を行うフリップチップ・ボンディン
グ法を使用して、ベアチップの接続用電極をプリント配
線板上の配線に電気的に接続するのが一般的である。し
かし、これらのボンディング法を実施するには、高価な
専用設備が必要であり、またボンディング完了後に、プ
リント配線板上に実装されたベアチップを樹脂で封止す
る作業が必要であるという問題がある。さらに、封止用
樹脂は実装されたベアチップよりも広い範囲に及ぶた
め、ベアチップが実装された箇所のみならず封止用樹脂
に覆われた箇所にも他の電子部品を実装できず、実装密
度の向上に支障があるという問題もある。そこで、これ
らの問題を解消ないし抑制すべく、従来より種々の改良
案が開発・提案されている。
【0003】特開平9−8213号公報には、多層配線
基板の内部に二段構成とした凹部または穴部を設け、そ
の凹部または穴部の中に半導体素子のベアチップを実装
する技術が開示されている。半導体素子のベアチップ
は、凹部または穴部の下段の部分に埋設される。そのベ
アチップを多層配線基板の配線と電気的に接続するボン
ディングワイヤは、その凹部または穴部の上段の部分
(下段の部分よりも広い)に埋設される。封止用樹脂
は、その凹部または穴部からはみ出さないようにスクリ
ーン印刷でその凹部または穴部の全体に充填される。こ
のため、この従来技術では、封止用樹脂の及ぶ範囲はそ
の凹部または穴部の大きさと同じとなり、その結果、樹
脂封止に必要な面積を減少することができる。すなわ
ち、上記の実装密度の向上に関する問題を解消できる。
【0004】半導体素子のベアチップを埋設するもので
はないが、本発明に関連する従来技術が、特開平5−3
27228号公報と特開平9−270367号公報に開
示されている。
【0005】特開平5−327228号公報には、内層
導体回路を覆う接着剤層を有する多層プリント配線板に
おいて、前記内層導体回路に電子回路部品を実装し、そ
の内層導体回路と上部または下部の導体回路層との間の
電気的接続を前記多層プリント配線板に形成されたスル
ーホールまたはバイアホールを介して行う技術が開示さ
れている。この従来技術によれば、電子回路部品は多層
プリント配線板の(外層回路ではなく)内層回路と共に
実装されるため、その電子回路部品を覆う封止用樹脂が
不要であると共に、前記接着剤層上に埋設された電子回
路部品と重なるように他の電子回路部品を実装すること
ができる。よって、上記の樹脂封止および実装密度の向
上に関する問題を解消できる。
【0006】特開平9−270367号公報には、絶縁
基板内にインダクタンス、導電路、キャパシタンス等の
第1回路素子を埋め込み形成すると共に、前記絶縁基板
上に同様の第2回路素子を形成し、前記第1および第2
の回路素子同士の電気的接続を、前記絶縁基板に貫通・
形成されたバイアホール導体を介して行う技術が開示さ
れている。これらバイアホール導体は、第1回路素子の
端子電極として使用される。この従来技術によれば、前
記第1および第2の回路素子同士の電気的接続を行うバ
イアホール導体が端子電極として使用されるため、複合
電子部品または回路モジュールの小型化・薄型化が可能
となる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
技術では次のような問題がある。
【0008】特開平9−8213号公報に開示された従
来技術では、プリント配線板の配線層と埋設された半導
体素子のベアチップの電極との接続は、ワイヤボンディ
ングによって行う。このため、ワイヤボンディング用の
専用設備が必要である。また、プリント配線板の凹部ま
たは穴部の表面には、ベアチップを覆う封止用樹脂が露
出するため、配線用導電層やベアチップよりも小型の電
子部品をその封止用樹脂上に配置することはできない。
【0009】特開平5−327228号公報に開示され
た従来技術では、前記内層導体回路に埋設される電子回
路部品は、その内層導体回路との電気的接続をハンダ付
けによって行うため、特開平9−8213号公報に開示
された従来技術の場合と同様に、ハンダ付け工程が必要
である。また、前記内層導体回路に埋設されるのは電子
回路部品に限定され、半導体素子のベアチップを埋設す
る場合については言及されていない。また、この従来技
術を半導体素子のベアチップに適用するのは困難であ
る。
【0010】特開平9−270367号公報に開示され
た従来技術では、前記絶縁基板内に埋設されるのはイン
ダクタンスなどの回路素子に限定され、半導体素子のベ
アチップを埋設する場合については言及されていない。
また、この従来技術を半導体素子のベアチップに適用す
るのは、次のような理由により不可能である。
【0011】すなわち、この従来技術では電気的接続に
絶縁基板に貫通・形成されたバイアホール導体を使用す
るため、絶縁基板内に埋設される第1回路素子が半導体
素子のベアチップである場合には、そのベアチップの多
数の接続用電極と同数のバイアホール導体を小ピッチで
絶縁基板に貫通・形成する必要がある。しかし、そのよ
うなことは極めて困難であるか、実現不可能である。
【0012】そこで、本発明の目的は、ワイヤボンディ
ングやフリップチップボンディングのような専用設備を
要するボンディング工程を経由せずに、埋設された半導
体素子のベアチップへの電気的接続を行えるプリント配
線板およびマルチチップ・モジュールを提供することに
ある。
【0013】本発明の他の目的は、埋設された半導体素
子のベアチップを覆う絶縁層上に、そのベアチップと重
なるように導電層を配置したり他の電子回路部品を実装
したりすることができるプリント配線板およびマルチチ
ップ・モジュールを提供することにある。
【0014】本発明のさらに他の目的は、埋設された半
導体素子のベアチップに対するボンディング工程の簡略
化と、電子回路部品の実装密度の向上とを達成できるプ
リント配線板およびマルチチップ・モジュールを提供す
ることにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】(1) 本発明のプリン
ト配線板は、複数の接続用電極を有する半導体素子の第
1ベアチップと、前記第1ベアチップを覆う第1絶縁層
と、前記第1絶縁層上に形成された第1導電層とを備
え、前記第1絶縁層は、前記第1ベアチップの接続用電
極を露出させる第1群のビアホールを有しており、しか
も、前記接続用電極は、前記第1群のビアホールを介し
て前記第1導電層の対応する箇所に電気的に接続されて
いることを特徴とする。
【0016】(2) 本発明のプリント配線板では、半
導体素子の第1ベアチップを覆う第1絶縁層に、その第
1ベアチップの複数の接続用電極を露出させる第1群の
ビアホールが形成されている。そして、それらの接続用
電極は、前記ビアホールを介して第1絶縁層上に形成さ
れた第1導電層の対応する箇所に電気的に接続されてい
る。このため、第1導電層をメッキ法などで形成する際
に、その第1導電層の対応する箇所を前記ビアホールを
介して前記第1ベアチップの複数の接続用電極にそれぞ
れ接触せしめることができる。よって、ワイヤボンディ
ングやフリップチップボンディングのような高価な専用
設備を要するボンディング工程を経由せずに、埋設され
た第1ベアチップの接続用電極と前記第1導電層との電
気的接続を行うことが可能である。これは、埋設された
半導体素子のベアチップに対するボンディング工程の簡
略化につながるものである。
【0017】また、前記半導体素子の第1ベアチップを
覆っているのは、封止用樹脂ではなく、前記プリント配
線板を構成する第1絶縁層であるため、その第1絶縁層
上に他の導電層を配置したり他の電子回路部品を実装し
たりすることができる。すなわち、埋設された前記ベア
チップと重なるように他の導電層を配置したり他の電子
回路部品を実装したりすることが可能である。これは、
電子回路部品の実装密度の向上につながるものである。 (3) 本発明のプリント配線板の好ましい例では、複
数の接続用電極を有する半導体素子の第2ベアチップ
が、前記プリント配線板の前記第1ベアチップと同じ側
にさらに設けられる。前記第1絶縁層は、前記第2ベア
チップを覆っていると共に、前記第2ベアチップの接続
用電極を露出させる第2群のビアホールを有している。
そして、前記第2ベアチップの接続用電極は、前記第2
群のビアホールを介して前記第1導電層の対応する箇所
に電気的に接続される。この例では、小型のマルチチッ
プ・モジュールが簡単に得られる利点がさらに得られ
る。
【0018】この例では、前記第1および第2のベアチ
ップは、前記第1導電層を介して互いに電気的に接続さ
れているのが好ましい。前記第1および第2のベアチッ
プ間の電気的接続が容易に行える利点がさらに得られ
る。
【0019】本発明のプリント配線板の他の好ましい例
では、複数の接続用電極を有する半導体素子の第2ベア
チップが、前記プリント配線板の前記第1ベアチップと
反対側にさらに設けられる。前記第2ベアチップは第2
絶縁層によって覆われると共に、その第2絶縁層の上に
は第2導電層が形成される。そして、前記第2絶縁層
は、前記第2ベアチップの接続用電極を露出させる第2
群のビアホールを有していて、前記第2ベアチップの接
続用電極は、前記第2群のビアホールを介して前記第2
導電層の対応する箇所に電気的に接続される。この例で
も、小型のマルチチップ・モジュールが簡単に得られる
利点がさらに得られる。
【0020】この例では、前記第1および第2のベアチ
ップは、前記プリント配線板を貫通するスルーホールを
介して互いに電気的に接続されているのが好ましい。前
記第1および第2のベアチップ間の電気的接続が容易に
行える利点がさらに得られる。
【0021】(4) 本発明のマルチチップ・モジュー
ルは、プリント配線板と、前記プリント配線板の内部に
埋設された、複数の接続用電極を有する半導体素子の第
1ベアチップとを備え、前記第1ベアチップを覆う前記
プリント配線板の第1絶縁層が、前記第1ベアチップの
接続用電極を露出させる第1群のビアホールを有してお
り、しかも、前記第1ベアチップの接続用電極は、前記
第1群のビアホールを介して、前記第1絶縁層上に形成
された前記プリント配線板の第1導電層の対応する箇所
に電気的に接続されていることを特徴とする。
【0022】(5) 本発明のマルチチップ・モジュー
ルでは、本発明のプリント配線板について述べたのと同
じ理由により、ワイヤボンディングやフリップチップボ
ンディングのようなボンディング工程を経由せずに、埋
設された半導体素子の第1ベアチップへの電気的接続を
行うことが可能であり、しかも、埋設されたベアチップ
と重なるように他の導電層を配置したり他の電子回路部
品を実装したりすることも可能である。よって、埋設さ
れた半導体素子のベアチップに対するボンディング工程
の簡略化と、電子回路部品の実装密度の向上が達成でき
る。
【0023】(6) 本発明のマルチチップ・モジュー
ルの好ましい例では、前記プリント配線板の外部に実装
された、複数の接続用リードを有する半導体素子のパッ
ケージ付きチップをさらに備える。前記パッケージ付き
チップの接続用リードは、前記第1導電層の対応する箇
所に電気的に接続される。この例では、前記パッケージ
付きチップの接続用リードを前記第1ベアチップと重な
る位置に設けることが可能であり、したがって、前記パ
ッケージ付きチップのレイアウトの自由度が増加する利
点がさらに得られる。
【0024】本発明のマルチチップ・モジュールの他の
好ましい例では、複数の接続用電極を有する半導体素子
の第2ベアチップが、前記プリント配線板の前記第1ベ
アチップと同じ側にさらに設けられる。前記第1絶縁層
は、前記第2ベアチップを覆っていると共に、前記第2
ベアチップの接続用電極を露出させる第2群のビアホー
ルを有している。そして、前記第2ベアチップの接続用
電極は、前記第2群のビアホールを介して前記第1導電
層の対応する箇所に電気的に接続される。この例では、
小型のマルチチップ・モジュールが簡単に得られる利点
がさらに得られる。
【0025】この例では、前記第1および第2のベアチ
ップは、前記第1導電層を介して互いに電気的に接続さ
れているのが好ましい。前記第1および第2のベアチッ
プ間の電気的接続が容易に行える利点がさらに得られ
る。
【0026】本発明のマルチチップ・モジュールのさら
に他の好ましい例では、複数の接続用電極を有する半導
体素子の第2ベアチップが、前記プリント配線板の前記
第1ベアチップと反対側にさらに設けられる。前記第2
ベアチップは前記プリント配線板の第2絶縁層によって
覆われると共に、その第2絶縁層の上には前記プリント
配線板の第2導電層が形成される。そして、前記第2絶
縁層は、前記第2ベアチップの接続用電極を露出させる
第2群のビアホールを有していて、前記第2ベアチップ
の接続用電極は、前記第2群のビアホールを介して前記
第2導電層の対応する箇所に電気的に接続される。この
例では、小型のマルチチップ・モジュールが簡単に得ら
れる利点がさらに得られる。
【0027】この例では、前記第1および第2のベアチ
ップは、前記プリント配線板を貫通するスルーホールを
介して互いに電気的に接続されているのが好ましい。前
記第1および第2のベアチップ間の電気的接続が容易に
行える利点がさらに得られる。
【0028】また、前記第1および第2のベアチップ
は、互いに背中合わせになるように配置されるのが好ま
しい。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
について添付図面を参照しながら説明する。
【0030】(第1実施形態)図1は本発明の第1実施
形態のマルチチップ・モジュールを示す。
【0031】図1より明らかなように、この第1実施形
態のこのマルチチップ・モジュールは、半導体素子のベ
アチップ20が内部に埋設されたプリント配線板10
と、そのプリント配線板10の片面に実装された半導体
素子のパッケージ付きチップ30とを備えている。ベア
チップ20は、その表面に配置された接続用電極21と
22を有している。パッケージ付きチップ30は、ベア
チップ20と異なり、プラスチック、セラミック等のパ
ッケージを有しており、そのパッケージの両側には複数
の接続用リード31が突出形成されている。
【0032】プリント配線板10は、ガラスまたはセラ
ミックの板状コア11を備えており、その表面は絶縁層
12で覆われている。絶縁層12の上には、所定パター
ンを持つ導電層13と半導体素子のベアチップ20とが
配置されている。ベアチップ20の一面に形成された接
続用電極21、22は、コア11とは反対側(すなわち
外側)に位置している。
【0033】絶縁層12の上にはさらに、導電層13を
覆う絶縁層14が形成されているが、ベアチップ20は
その絶縁層14から露出している。絶縁層14の上に
は、所定パターンを持つ導電層15が形成され、その絶
縁層14の上にはさらに、導電層15を覆う絶縁層16
が形成されている。絶縁層16は、ベアチップ20をも
覆っている。こうして、ベアチップ20はプリント配線
板10の内部に埋設されている。導電層13と15は、
それぞれ所定の内層回路を構成する。
【0034】ベアチップ20を覆う絶縁層16は、ベア
チップ20の接続用電極21と22に対応する箇所にそ
れぞれビアホール19aと19bを有している。電極2
1の各々は対応するビアホール19aから露出し、電極
22の各々は対応するビアホール19bから露出してい
る。ベアチップ20を覆う絶縁層16はさらに、ビアホ
ール19cを有しており、絶縁層16の下方にある導電
層15の一部がそのビアホール19cから露出してい
る。
【0035】絶縁層16の上には、所定パターンを持つ
最外層の導電層17が形成されている。導電層17は、
所定の外層回路を構成するが、下方に埋設されたベアチ
ップ20の電極21、22にビアホール19aと19b
を介して接触している。こうして、導電層17はその対
応する箇所において、電極21と22に電気的に接続さ
れている。導電層17はまた、ビアホール19cを介し
て下方にある導電層15に接触しており、その結果、導
電層17は導電層15にも電気的に接続されている。
【0036】絶縁層16の上にはさらに、導電層15を
覆う最外層の絶縁層18が形成されている。導電層15
は、半導体素子のパッケージ付きチップ30や図示しな
い他の電子部品等の接続に必要な箇所を除いて、絶縁層
18から露出している。パッケージ付きチップ30は、
ハンダ付け等によってその接続用リード31を導電層1
7の露出した箇所に固着することにより、プリント配線
板10の所定回路に電気的に接続されている。
【0037】次に、以上の構成を持つ第1実施形態のマ
ルチチップ・モジュールの製造方法について、図2を参
照しながら説明する。
【0038】まず、図2(a)に示すように、コア11
の表面に絶縁層12、所定パターンを持つ導電層13、
絶縁層14、および所定パターンを持つ導電層15を順
に形成する。その後、絶縁層14の所定箇所に穴をあ
け、半導体素子のベアチップ20をその穴を介して下方
の絶縁層12上に載置する。この時、ベアチップ20の
電極21が上方すなわちコア11とは反対側を向くよう
にする。この時の状態を図2(a)に示す。
【0039】続いて、図2(b)に示すように、導電層
15とベアチップ20を含めてプリント配線板10の全
体を覆うように絶縁層16を形成する。そして、公知の
方法により、絶縁層16にビアホール19a、19b、
19cを形成し、ベアチップ20の電極21、22をビ
アホール19a、19bからそれぞれ露出させると共
に、導電層15の所定箇所をビアホール19cから露出
させる。絶縁層16は、適当な絶縁材料を塗布して形成
してもよいし、絶縁材料の膜を貼り付けて形成してもよ
い。この時の状態を図2(b)に示す。
【0040】次に、ビアホール19a、19b、19c
を形成した絶縁層16の上に、メッキ法により、所定パ
ターンを持つ導電層17を選択的に形成する。すると、
その導電層17は、ビアホール19aと19bを介して
ベアチップ20の電極21と22に接触し、その結果、
導電層17はその所定箇所で対応する電極21と22の
各々に電気的に接続される。それと同時に、導電層17
は、ビアホール19cを介して下方の導電層15の所定
箇所に接触し、その結果、導電層17は導電層15の所
定箇所に電気的に接続される。
【0041】次に、絶縁層16の上に最外層の絶縁層1
8を形成して、導電層17を覆う。絶縁層18は、半導
体素子のパッケージ付きチップ30の搭載に使用される
導電層17の所定箇所を露出させるように、所定のパタ
ーンを有している。この時の状態を図2(c)に示す。
【0042】最後に、図1に示すように、パッケージ付
きチップ30の接続用リード31を導電層17の所定の
露出箇所にハンダ付け等によって固着させることによ
り、チップ30をプリント配線板10上に搭載する。チ
ップ30は、プリント配線板10の内部に埋設されたベ
アチップ20と重なる位置にある。こうして図1に示す
マルチチップ・モジュールが完成する。
【0043】なお、図示していないが、必要に応じて、
キャパシタ等の他の電子回路部品や他のパッケージ付き
チップを導電層17上に固着してもよいことは言うまで
もない。
【0044】以上述べたように、本発明の第1実施形態
のマルチチップ・モジュールでは、半導体素子のベアチ
ップ20を覆う絶縁層16に、そのベアチップ20の複
数の接続用電極21と22を露出させる複数のビアホー
ル19aと19bが形成されている。そして、接続用電
極21と22は、ビアホール19aと19bを介して絶
縁層16上に形成された導電層17の対応する箇所に電
気的に接続されている。このため、導電層17をメッキ
法などで形成する際に、その導電層17の対応する箇所
をビアホール19aと19bを介してベアチップ20の
複数の接続用電極21と22にそれぞれ接触せしめるこ
とができる。よって、ワイヤボンディングやフリップチ
ップボンディングのような高価な専用設備を要するボン
ディング工程を経由せずに、埋設されたベアチップ20
の接続用電極21、22と導電層17との電気的接続を
行うことが可能である。すなわち、埋設された半導体素
子のベアチップ20に対するボンディング工程を簡略化
できる。
【0045】また、ベアチップ20を覆っているのは、
封止用樹脂ではなく、プリント配線板10を構成する絶
縁層16であるため、その絶縁層16上に、ベアチップ
20と重なるように他の導電層を配置したり他の電子回
路部品を実装したりすることができる。そして、その上
にさらにパッケージ付きチップ30を重なるように搭載
することにより、半導体素子や電子回路部品をプリント
配線板10上に三次元的に実装することも可能となり、
実装密度のいっそうの向上が可能となる。
【0046】なお、上述した第1実施形態のマルチチッ
プ・モジュールでは、プリント配線板10がコア11を
有しているが、コアを持たなくてもよいことは言うまで
もない。
【0047】(第2実施形態)図3は、本発明の第2実
施形態のマルチチップ・モジュールを示す。このマルチ
チップ・モジュールは、コアのないプリント配線板40
の内部に二つの半導体素子のベアチップ20aと20b
を隣接して埋設したものである。
【0048】図3に示すように、プリント配線板40は
また、絶縁層41、所定パターンを持つ導電層42、絶
縁層43、所定パターンを持つ導電層44、絶縁層4
5、所定パターンを持つ導電層46、絶縁層47、所定
パターンを持つ導電層48、絶縁層49をこの順に積層
して構成されている。半導体素子のベアチップ20aと
20bは、絶縁層43上に載置され、絶縁層45と47
によってその側部と上部を覆われている。
【0049】ベアチップ20aと20bを覆う絶縁層4
7は、ベアチップ20aの複数の電極21a、22aに
対応する箇所に複数のビアホール50a、50bを有
し、ベアチップ20bの複数の電極21b、22bに対
応する箇所に複数のビアホール50c、50dを有して
いる。ベアチップ20aの電極21aの各々は、対応す
るビアホール50aから露出し、電極22aの各々は、
対応するビアホール50bから露出している。ベアチッ
プ20bの電極21b各々は、対応するビアホール50
cから露出し、電極22bの各々は、対応するビアホー
ル50dから露出している。
【0050】ベアチップ20aと20bを覆う絶縁層4
7の上には、所定パターンを持つ最外層の導電層48が
形成されている。この導電層48は、ビアホール50a
と50bを介してベアチップ20aの電極21aと22
aにそれぞれ接触しており、その結果、導電層48はそ
の所定箇所において電極21a、22aに電気的に接続
されている。さらに、この導電層48は、ビアホール5
0cと50dを介してベアチップ20bの電極21b、
22bにそれぞれ接触しており、その結果、導電層48
はその所定箇所において電極21b、22bに電気的に
接続されている。
【0051】プリント配線板40は、ベアチップ20a
と20bの周囲にプリント配線板40を貫通する複数の
スルーホール51aと51bを有している。スルーホー
ル51aと51bの内壁には、導電層52aと52bが
それぞれ形成されており、それら導電層52aと52b
によって、最外層の導電層48が反対側にある最外層の
導電層42に電気的に接続されている。その結果、ベア
チップ20aの電極21aとベアチップ20bの電極2
2bとが互いに電気的に接続されている。なお、ベアチ
ップ20aの電極21bとベアチップ20bの電極22
aとは、導電層48によって電気的に接続されている。
【0052】以上述べたように、本発明の第2実施形態
のマルチチップ・モジュールにおいても、半導体素子の
ベアチップ20aと20bを覆う絶縁層47に、ベアチ
ップ20aの接続用電極21aと22aを露出させる複
数のビアホール50a、50bと、ベアチップ20bの
接続用電極21bと22bを露出させる複数のビアホー
ル50c、50dとが形成されており、それらの電極2
1a、22a、21b、22bはそれらビアホール50
a、50b、50c、50dを介して絶縁層47上に形
成された導電層48に電気的に接続されている。このた
め、第1実施形態の場合と同様に、ワイヤボンディング
やフリップチップボンディングのような高価な専用設備
を要するボンディング工程を経由せずに、埋設されたベ
アチップ20aと20bの接続用電極21a、22a、
21b、22bと導電層48との電気的接続を行うこと
が可能である。すなわち、埋設された半導体素子のベア
チップ20あ、20bに対するボンディング工程を簡略
化できる。
【0053】また、ベアチップ20a、20bが、プリ
ント配線板10を構成する絶縁層16によって覆われて
いるため、その絶縁層16上にベアチップ20と重なる
ように他の導電層を配置したり他の電子回路部品を実装
したりすることができる。そして、その上にさらにパッ
ケージ付きチップ30を重なるように搭載することによ
り、半導体素子や電子回路部品をプリント配線板10上
に三次元的に実装することも可能となり、実装密度のい
っそうの向上が可能となる。
【0054】(第3実施形態)図4は、本発明の第3実
施形態のマルチチップ・モジュールを示す。このマルチ
チップ・モジュールは、コアのないプリント配線板60
の内部に二つの半導体素子のベアチップ20aと20b
を背中合わせにして埋設したものである。
【0055】図4に示すように、プリント配線板60
は、絶縁層61、所定パターンを持つ導電層62、絶縁
層63、所定パターンを持つ導電層64、絶縁層65、
所定パターンを持つ導電層66、絶縁層67、所定パタ
ーンを持つ導電層68、絶縁層69、所定パターンを持
つ導電層70、絶縁層71をこの順に積層して構成され
ている。半導体素子のベアチップ20aと20bは、絶
縁層67を間に挟んで背中合わせに配置され、絶縁層6
3、65、67、69によってその周囲を覆われてい
る。
【0056】ベアチップ20bを覆う絶縁層63は、ベ
アチップ20bの複数の電極21bと22bに対応する
箇所に複数のビアホール72cと72dを有している。
電極21bと22bは、それぞれビアホール72cと7
2dから露出している。絶縁層63の下面に形成された
導電層62は、ビアホール72cと72dを介してベア
チップ20bの電極21bと22bにそれぞれ接触して
おり、その結果、導電層62はその所定箇所において電
極21b、22bに電気的に接続されている。
【0057】同様に、ベアチップ20aを覆う絶縁層6
9は、ベアチップ20aの複数の電極21aと22aに
対応する箇所にビアホール72aと72bを有してい
る。電極21aと22aは、それぞれビアホール72a
と72bから露出している。絶縁層69の上面に形成さ
れた導電層70は、ビアホール72aと72bを介して
ベアチップ20aの電極21aと22aにそれぞれ接触
しており、その結果、導電層70はその所定箇所におい
て電極21a、22aに電気的に接続されている。
【0058】プリント配線板60は、それを貫通するス
ルーホール73aと73bをベアチップ20aと20b
の周囲に有している。スルーホール51aと51bの内
壁には、導電層74aと74bがそれぞれ形成されてお
り、それら導電層74aと74bにより、最外層の二つ
の導電層62と70は互いに電気的に接続されている。
こうして、ベアチップ20aの電極21aとベアチップ
20bの電極21bとが互いに電気的に接続されてい
る。
【0059】以上述べたように、本発明の第3実施形態
のマルチチップ・モジュールにおいても、半導体素子の
ベアチップ20aを覆う絶縁層69に、ベアチップ20
aの接続用電極21aと22aを露出させる複数のビア
ホール72aと72bが形成され、ベアチップ20bを
覆う絶縁層63に、ベアチップ20bの接続用電極21
bと22bを露出させる複数のビアホール72cと72
dが形成されている。そして、ベアチップ20aの電極
21aと22aはビアホール72aと72bを介して導
電層70に電気的に接続され、ベアチップ20bの電極
21bと22bはビアホール72cと72dを介して導
電層62に電気的に接続されている。その結果、上述し
た第2実施形態の場合と同じ効果が得られる。
【0060】さらに、半導体素子のベアチップ20aと
20bを背中合わせにしてプリント配線板60内に埋設
されているので、第2実施形態の場合に比べて一層の小
型化が達成できる利点がある。
【0061】なお、上記第1〜第3の実施形態のプリン
ト配線板10、40、60の内部構成は、あくまで例と
して示したものであり、少なくとも一つの半導体素子の
ベアチップが埋設されていさえすれば、それらの層構造
は任意に変更できるものである。また、上記第2および
第3の実施形態において、第1実施形態と同様に、半導
体素子のパッケージ付きチップや他の電子回路部品を搭
載してもよいことは言うまでもない。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプリント
配線板およびマルチチップ・モジュールによれば、ワイ
ヤボンディングやフリップチップボンディングのような
専用設備を要するボンディング工程を経由せずに、埋設
された半導体素子のベアチップへの電気的接続を行うこ
とができる。よって、埋設された半導体素子のベアチッ
プに対するボンディング工程を簡略化できる。
【0063】また、埋設された半導体素子のベアチップ
を覆う絶縁層上に、そのベアチップと重なるように導電
層を配置したり他の電子回路部品を実装したりすること
もできる。よって、電子回路部品の実装密度を向上でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態のマルチチップ・モジュ
ールの構成を示す要部断面図である。
【図2】本発明の第1実施形態のマルチチップ・モジュ
ールの製造方法を示す要部断面図である。
【図3】本発明の第2実施形態のマルチチップ・モジュ
ールの構成を示す要部断面図である。
【図4】本発明の第3実施形態のマルチチップ・モジュ
ールの構成を示す要部断面図である。
【符号の説明】
10、40、60 プリント配線板 11 プリント配線板のコア 12、14、16、18、41、43、45、47、4
9、61、63、65、67、69、71 絶縁層 13、15、17、42、44、46、48、52a、
52b、62、64、66、68、70、74a、74
b 導電層 19a、19b、19c、50a、50b、50c、5
0d、72a、72b、72c、72d ビアホール 20、20a、20b 半導体素子のベアチップ 21、21a、21b、22、22a、22b ベアチ
ップの接続用電極 30 半導体素子のパッケージ付きチップ 31 パッケージ付きチップの接続用リード 51a、51b、73a、73b スルーホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 1/18 3/46

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の接続用電極を有する半導体素子の
    第1ベアチップと、 前記第1ベアチップを覆う第1絶縁層と、 前記第1絶縁層上に形成された第1導電層とを備え、 前記第1絶縁層は、前記第1ベアチップの接続用電極を
    露出させる第1群のビアホールを有しており、しかも、
    前記接続用電極は、前記第1群のビアホールを介して前
    記第1導電層の対応する箇所に電気的に接続されている
    ことを特徴とするプリント配線板。
  2. 【請求項2】 複数の接続用電極を有する半導体素子の
    第2ベアチップを、前記プリント配線板の前記第1ベア
    チップと同じ側に備えており、 前記第1絶縁層は、前記第2ベアチップを覆っていると
    共に、前記第2ベアチップの接続用電極を露出させる第
    2群のビアホールを有しており、 しかも、前記第2ベアチップの接続用電極は、前記第2
    群のビアホールを介して前記第1導電層の対応する箇所
    に電気的に接続されている請求項1に記載のプリント配
    線板。
  3. 【請求項3】 複数の接続用電極を有する半導体素子の
    第2ベアチップを、前記プリント配線板の前記第1ベア
    チップと反対側に備えており、 前記第2ベアチップは、第2絶縁層によって覆われると
    共に、その第2絶縁層の上には第2導電層が形成されて
    おり、 しかも、前記第2絶縁層は、前記第2ベアチップの接続
    用電極を露出させる第2群のビアホールを有していて、
    前記第2ベアチップの接続用電極は、前記第2群のビア
    ホールを介して前記第2導電層の対応する箇所に電気的
    に接続されている請求項1に記載のプリント配線板。
  4. 【請求項4】 プリント配線板と、 前記プリント配線板の内部に埋設された、複数の接続用
    電極を有する半導体素子の第1ベアチップとを備え、 前記第1ベアチップを覆う前記プリント配線板の第1絶
    縁層が、前記第1ベアチップの接続用電極を露出させる
    第1群のビアホールを有しており、 しかも、前記第1ベアチップの接続用電極は、前記第1
    群のビアホールを介して、前記第1絶縁層上に形成され
    た前記プリント配線板の第1導電層の対応する箇所に電
    気的に接続されていることを特徴とするマルチチップ・
    モジュール。
  5. 【請求項5】 前記プリント配線板の外部に実装され
    た、複数の接続用リードを有する半導体素子のパッケー
    ジ付きチップをさらに備えており、 前記パッケージ付きチップの接続用リードは、前記第1
    導電層の対応する箇所に電気的に接続されている請求項
    4に記載のマルチチップ・モジュール。
  6. 【請求項6】 複数の接続用電極を有する半導体素子の
    第2ベアチップが、前記プリント配線板の前記第1ベア
    チップと同じ側にさらに設けられており、 前記第1絶縁層は、前記第2ベアチップを覆っていると
    共に、前記第2ベアチップの接続用電極を露出させる第
    2群のビアホールを有しており、 前記第2ベアチップの接続用電極は、前記第2群のビア
    ホールを介して前記第1導電層の対応する箇所に電気的
    に接続されている請求項4または5に記載のマルチチッ
    プ・モジュール。
  7. 【請求項7】 前記第1および第2のベアチップは、前
    記第1導電層を介して互いに電気的に接続されている請
    求項6に記載のマルチチップ・モジュール。
  8. 【請求項8】 複数の接続用電極を有する半導体素子の
    第2ベアチップが、前記プリント配線板の前記第1ベア
    チップと反対側にさらに設けられており、 前記第2ベアチップは、前記プリント配線板の第2絶縁
    層によって覆われると共に、その第2絶縁層の上には前
    記プリント配線板の第2導電層が形成されており、 前記第2絶縁層は、前記第2ベアチップの接続用電極を
    露出させる第2群のビアホールを有していて、前記第2
    ベアチップの接続用電極は、前記第2群のビアホールを
    介して前記第2導電層の対応する箇所に電気的に接続さ
    れている請求項4または5に記載のマルチチップ・モジ
    ュール。
  9. 【請求項9】 前記第1および第2のベアチップは、前
    記プリント配線板を貫通するスルーホールを介して互い
    に電気的に接続されている請求項8に記載のマルチチッ
    プ・モジュール。
  10. 【請求項10】 前記第1および第2のベアチップは、
    互いに背中合わせになるように配置されている請求項8
    または9に記載のマルチチップ・モジュール。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1398828A2 (de) * 2002-08-29 2004-03-17 Infineon Technologies AG Halbleitergehäuse mit vorvernetzten Kunststoffeinbettmassen und Verfahren zur Herstellung desselben
US7530163B2 (en) 2002-11-26 2009-05-12 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Electronic parts packaging structure and method of manufacturing the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP1398828A2 (de) * 2002-08-29 2004-03-17 Infineon Technologies AG Halbleitergehäuse mit vorvernetzten Kunststoffeinbettmassen und Verfahren zur Herstellung desselben
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