JP2001195750A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フォーカスバランス調整及びトラッキングバ
ランス調整を行うことにより、再生信号の乱れによるエ
ラーレートの悪化を防止するようにする。 【解決手段】 ジッター測定部７により測定されたジッ
ター値とエラー信号生成部８により生成されたバランス
調整済のＦＥ信号とに基づいて、フォーカスサーボ１２
にフォーカスバランスの制御を行わせるフォーカス制御
部１１と、エラーセンター測定部９により測定されたエ
ラーセンター値とエラー信号生成部８により生成された
バランス調整済のＴＥ信号とに基づいて、トラッキング
サーボ１４にトラッキングバランスの制御を行わせるト
ラッキング制御部１３とを用いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、フォーカス及びト
ラッキングにバランスを与えることによりデフォーカス
調整及びデトラック調整を行う光ディスク装置に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＣＤ（Compact Disk）及びＤＶＤ
（ディジタルバーサタイルディスク）を１つの光ディス
ク再生装置で再生する場合に、１つの対物レンズであり
ながら焦点が光軸方向に２箇所存在する対物レンズ（以
下、２焦点レンズという。）が用いられている。

【０００３】また、光ディスク再生装置では、起動時
に、自動的にデフォーカス及びデトラックの調整が行わ
れる。デフォーカス調整では、ジッターの最良点で光ピ
ックアップからの光ビームが光ディスクの信号記録面に
対してフォーカスするように調整される。デトラック調
整では、当該光ビームが光ディスクの信号記録面上のト
ラックを正確に追跡するように調整される。従来、これ
らのデフォーカス調整及びデトラック調整は、バイアス
電圧（オフセット電圧）を与えることにより調整してい
た。

【０００４】そして、ＣＤ及びＤＶＤを再生できる上記
２焦点レンズが備えられた光ディスク再生装置では、Ｃ
Ｄ及びＤＶＤのデフォーカスが異なるため、デフォーカ
ス調整するバイアス電圧値が大きな値として設定されて
いる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このように
バイアス電圧値が設定された光ディスク再生装置を用い
て傷が付いた光ディスクを再生する場合には、フォーカ
ス及びトラッキングともに、以下に述べるような問題が
生じてしまう。

【０００６】まず、第１に、傷が付いた光ディスクを再
生中に生じる問題である。即ち、図６に示すように、光
ディスクを再生中、傷部分ではサーボがはずれないよう
に駆動電圧はホールドされる。エラー信号は検出されな
いため、ゼロに近づく。傷部分の前後では、エラー信号
に調整で加えられていたバイアス電圧分のオフセットが
生じる。そして、傷部分を通過後は、再びエラー信号に
オフセット電圧が加えられるため、サーボ系がそのエラ
ーに追従することにより駆動電圧が乱れてしまう。この
駆動電圧の乱れにより、光ディスクから再生した信号が
影響を受けて、波形が乱れてエラーレートを悪化させて
しまう。

【０００７】第２に、自動的にデフォーカス及びデトラ
ックの調整が行われたときの光ディスクの位置と、再生
するときの光ディスクの位置の、それぞれの位置におけ
る傷の程度が相違する場合に生じる問題である。即ち、
傷部分では、光ディスクからの戻り光量が著しく劣化す
るため、自動調整した固定のオフセット電圧値が光ディ
スクの位置によって最適値から大きくずれてしまう。

【０００８】そこで、本発明は、このような実情に鑑み
てなされたものであり、フォーカスバランス調整及びト
ラッキングバランス調整を行うことにより、再生信号の
乱れによるエラーレートの悪化が防止された光ディスク
装置を提供することを目的とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明に係る光ディスク装置は、ディジタルデー
タが光学的に読み取り可能な状態で記録された信号記録
面を有する光学式ディスクの上記信号記録面に対して、
２焦点レンズを介して光ビームを照射し、その反射光を
検出する光ピックアップと、上記２焦点レンズを上記光
ビームの光軸方向へ駆動制御する駆動制御手段と、上記
光ピックアップにより検出されたフォーカスエラーセン
ター値を測定するフォーカスエラーセンター値測定手段
と、上記反射光と可変する係数Ｋとに基づいてバランス
調整を行ったフォーカスエラー信号を生成するフォーカ
スエラー信号生成手段と、上記フォーカスエラーセンタ
ー値測定手段により測定されたフォーカスエラーセンタ
ー値と、上記フォーカスエラー信号生成手段により生成
されたバランス調整済のフォーカスエラー信号とに基づ
いて、上記駆動制御手段にフォーカスバランスの制御を
行わせるフォーカスバランス制御手段とを備えることを
特徴とする。

【００１０】この光ディスク装置では、フォーカスバラ
ンス制御手段は、フォーカスエラーセンター値とバラン
ス調整済のフォーカスエラー信号とに基づいて、駆動制
御手段にフォーカスバランスの制御を行わせている。

【００１１】また、本発明に係る光ディスク装置は、デ
ィジタルデータが光学的に読み取り可能な状態で記録さ
れた信号記録面を有する光学式ディスクの上記信号記録
面に対して、２焦点レンズを介して光ビームを照射し、
その反射光を検出する光ピックアップと、上記２焦点レ
ンズを上記光学式ディスクの径方向へ駆動制御する駆動
制御手段と、上記光ピックアップにより検出されたトラ
ッキングエラーセンター値を測定するトラッキングエラ
ーセンター値測定手段と、上記反射光と可変する係数Ｋ
とに基づいてバランス調整を行ったトラッキングエラー
信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、上
記トラッキングエラーセンター値測定手段により測定さ
れたトラッキングエラーセンター値と、上記トラッキン
グエラー信号生成手段により生成されたバランス調整済
のトラッキングエラー信号とに基づいて、上記駆動制御
手段にトラッキングバランスの制御を行わせるトラッキ
ングバランス制御手段とを備えることを特徴とする。

【００１２】この光ディスク装置では、トラッキングバ
ランス制御手段は、トラッキングエラーセンター値とバ
ランス調整済のトラッキングエラー信号とに基づいて、
駆動制御手段にトラッキングバランスの制御を行わせて
いる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した実施の形
態について、図面を参照しながら説明する。

【００１４】本発明を適用した実施の形態である光ディ
スク装置は、焦点が光軸方向に２箇所存在する対物レン
ズ（以下、２焦点レンズという。）を備えた装置であ
る。本発明を適用した実施の形態である光ディスク装置
を図１に示す。

【００１５】光ディスク装置１は、この図１に示すよう
に、光ディスク２と、スピンドルモータ３と、光ピック
アップ４と、ＲＦアンプ５と、ディスク判別部６と、ジ
ッター測定部７と、エラー信号生成部８と、エラーセン
ター測定部９と、データ処理部１０と、フォーカス制御
部１１と、フォーカスサーボ１２と、トラッキング制御
部１３と、トラッキングサーボ１４とを備える。

【００１６】光ディスク２は、例えばＣＤ（Compact Di
sk）、ＤＶＤ（ディジタルバーサタイルディスク）等で
あり、スピンドルモータ３により回転駆動される。

【００１７】光ピックアップ４は、図示しない２焦点レ
ンズと半導体レーザと光検出部とを有する。この光ピッ
クアップ４の光検出部は、図２に示すように、４分割の
フォトダイオードＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、この前後又は左右
に配置されたフォトダイオードＥ，Ｆとから構成され、
半導体レーザが２焦点レンズを介して光ディスク２の信
号面にレーザビームを照射することにより得られた反射
光を受光する。光ピックアップ４の光検出部は、フォト
ダイオードＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄで検出した検出信号Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄと、フォトダイオードＥ，Ｆで検出した検出信号
Ｅ，ＦとをＲＦアンプ５に供給する。

【００１８】なお、光ピックアップ４は、図示しないフ
ィードモータによりディスクの半径方向へ移動制御され
る。

【００１９】ＲＦアンプ５は、光ピックアップ４から供
給された検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを用いて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ
＋Ｄ）の演算を行い、この演算した結果であるＲＦ信号
を図示しない波形整形回路を用いて波形整形することに
より２値化ＲＦ信号に変換する。そして、ＲＦアンプ５
は、この変換した２値化ＲＦ信号をデータ処理部１０に
供給する。

【００２０】また、ＲＦアンプ５は、光ピックアップ４
から供給された検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに基づいて、光
ピックアップ４の光検出部が受光した全光量に関する信
号であるプルイン信号（以下、ＰＩ信号という。）を生
成し、この生成したＰＩ信号をディスク判別部６に供給
する。

【００２１】さらに、ＲＦアンプ５は、光ピックアップ
４から供給された検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに基づいて、
光ピックアップ４の光検出部が受光した全光量の振幅値
を測定し、この測定した全光量の振幅値をエラーセンタ
ー測定部９に供給する。

【００２２】さらにまた、ＲＦアンプ５は、光ピックア
ップ４から供給された検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ及び検出
信号Ｅ，Ｆを、エラー信号生成部８に供給する。

【００２３】ディスク判別部６は、ＲＦアンプ５から供
給されたＲＦ信号から、光ディスク２の表面反射による
ミラー信号（以下、表面反射ディスク検出信号とい
う。）と、光ディスク２の信号面反射によるミラー信号
（以下、信号面反射ディスク検出信号という。）とを生
成し、この生成した表面反射ディスク検出信号と信号面
反射ディスク検出信号とに基づいて、光ディスク２の種
類を判別する。

【００２４】具体的には、ディスク判別部６は、表面反
射ディスク検出信号と信号面反射ディスク検出信号とが
検出される期間を計測し、この期間が、例えば期間Ｔ１
であるならば光ディスク２はＣＤと判定し、期間Ｔ１よ
りも長い期間Ｔ２であるならば光ディスク２はＤＶＤと
判定する。これは、ＣＤはディスク基板の厚みが１．２
ｍｍであり、ＤＶＤはディスク基板の厚みが０．６ｍｍ
であるという、ディスク基板の厚みの相違を利用したも
のである。

【００２５】また、ディスク判別部６は、ＲＦアンプ５
から供給されたＰＩ信号に基づいて、光ディスク２がＤ
ＶＤであると判定した場合には、この光ディスク２の片
面が１層であるか２層であるかを判定する。具体的に
は、ディスク判別部６は、ＰＩ信号に基づいて、例え
ば、光ディスク２の光の反射率が４５〜８５％である場
合には片面１層であると判定し、光の反射率が１８〜３
０％である場合には片面２層であると判定する。なお、
ここでのＰＩ信号は、ＲＦ信号の低周波分でもある。

【００２６】ディスク判別部６は、このように光ディス
ク２の種類を判別した結果（以下、ディスク判別結果情
報という。）をデータ処理部１０に供給する。

【００２７】ジッター測定部７は、ＲＦアンプ５から供
給されたＲＦ信号についてのジッターレベルを測定し、
測定されたジッター値をデータ処理部１０に供給する。

【００２８】エラー信号生成部８は、ＲＦアンプ５から
供給された検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、データ処理部１
０により設定された係数Ｋとを用いて、図３に示すよう
に、（Ａ＋Ｃ）−Ｋ（Ｂ＋Ｄ）の演算を行い、この演算
した結果をバランス調整済みのフォーカスエラー信号
（以下、バランス調整済ＦＥ信号という。）としてデー
タ処理部１０に供給する。

【００２９】ここでのＫは、データ処理部１０に予めプ
ログラムされた係数であり、例えば、初期値をＫ０＝
１．０とし、Ｋ＝１．０７，１．１４，１．２０，１．
２６，１．３３・・・、又は、Ｋ＝０．９５，０．８
８，０．８２，０．７６・・・というような値をとる。

【００３０】また、エラー信号生成部８は、ＲＦアンプ
５から供給された検出信号Ｅ，Ｆと、データ処理部１０
により設定された係数Ｋとを用いて、Ｅ−ＫＦの演算を
行い、この演算した結果をバランス調整済みのトラッキ
ングエラー信号（以下、バランス調整済ＴＥ信号とい
う。）としてデータ処理部１０に供給する。

【００３１】ここでのＫは、データ処理部１０に予めプ
ログラムされた係数であり、例えば、初期値をＫ０＝
１．０とし、Ｋ＝１．１０，１．２１，１．３３，１．
４６，１．６１・・・、又は、Ｋ＝０．９１，０．８
３，０．７５，０．６８・・・というような値をとる。

【００３２】エラーセンター測定部９は、エラーセンタ
ー測定値をデータ処理部１０に供給する。

【００３３】データ処理部１０は、ＲＦアンプ５から供
給された２値化ＲＦ信号に対して復調処理を行い、オー
ディオ・ビデオデータを生成し、この生成したオーディ
オ・ビデオデータを図示しないオーディオ・ビデオ回路
に供給する。

【００３４】また、データ処理部１０は、ディスク判別
部６から供給されたディスク判別結果情報に基づいて、
光ディスク２が例えばＣＤであるかＤＶＤであるかを認
識する。さらに、データ処理部１０は、光ディスク２が
ＤＶＤである場合には、片面が１層であるか２層である
かも認識する。

【００３５】さらに、データ処理部１０は、エラーセン
ター測定部９から供給されたエラーセンター値と、エラ
ー信号生成部８から供給されたバランス調整済ＦＥ信号
とに基づいて、フォーカスバランスの制御を行う。具体
的には、データ処理部１０は、エラーセンター値とバラ
ンス調整済ＦＥ信号とに基づいて、最少のＦＥ信号とエ
ラーセンター値との差の値が得られるまで係数Ｋの値を
変更することにより、エラー信号生成部８にバランス調
整済ＦＥ信号を生成させる。データ処理部１０は、この
ように生成されたバランス調整済ＦＥ信号をフォーカス
制御部１１に供給することにより、フォーカス制御部１
１にフォーカスバランスの制御を行わせる。

【００３６】そして、データ処理部１０は、フォーカス
バランスの制御を行ってもジャストフォーカスでない場
合には、フォーカス制御部１１に備えられた図示しない
フォーカスバイアス電圧調整部にバイアス制御信号を供
給することにより、このフォーカスバイアス電圧調整部
にフォーカスバイアス電圧をフォーカスサーボ１２に供
給させる。フォーカスサーボ１２は、フォーカスバイア
ス電圧調整部からフォーカスバイアス電圧を供給される
ことにより、ジャストフォーカスのための微調整を行
う。

【００３７】さらにまた、データ処理部１０は、エラー
センター測定部９から供給されたエラーセンター測定値
と、エラー信号生成部８から供給されたバランス調整済
ＴＥ信号とに基づいて、トラッキングバランスの制御を
行う。具体的には、データ処理部１０は、エラーセンタ
ー測定値とバランス調整済ＴＥ信号とに基づいて、メイ
ンビームスポットが記録トラックの真上にくるように係
数Ｋの値を変更することにより、エラー信号生成部８に
バランス調整済ＴＥ信号を生成させる。データ処理部１
０は、このように生成されたバランス調整済ＴＥ信号を
トラッキング制御部１３に供給することにより、トラッ
キング制御部１３にトラッキングバランスの制御を行わ
せる。

【００３８】そして、データ処理部１０は、トラッキン
グバランスの制御を行ってもジャストトラックでない場
合には、トラッキング制御部１３に備えられた図示しな
いトラッキングバイアス電圧調整部にバイアス制御信号
を供給することにより、このトラッキングバイアス電圧
調整部にトラッキングバイアス電圧をトラッキングサー
ボ１４に供給させる。トラッキングサーボ１４は、トラ
ッキングバイアス電圧調整部からトラッキングバイアス
電圧を供給されることにより、ジャストトラッキングの
ための微調整を行う。

【００３９】フォーカス制御部１１は、データ処理部１
０から供給されたバランス調整済ＦＥ信号に基づいて、
フォーカスサーボ１２にフォーカスバランスの制御を行
わせる。

【００４０】また、フォーカス制御部１１は、図示しな
いフォーカスバイアス電圧調整部を備える。このフォー
カスバイアス電圧調整部は、データ処理部１０からバイ
アス制御信号が供給されると、この供給されたバイアス
制御信号に基づいて、フォーカスバイアス電圧をフォー
カスサーボ１２に供給する。フォーカスバイアス電圧調
整部は、このようにフォーカスバイアス電圧をフォーカ
スサーボ１２に供給することにより、ジャストフォーカ
スのための微調整を行う。

【００４１】フォーカスサーボ１２は、フォーカス制御
部１１からの制御信号に基づいて、フォーカスバランス
の制御を行う。また、フォーカスサーボ１２は、フォー
カスバイアス電圧調整部から供給されたフォーカスバイ
アス電圧に基づいて、ジャストフォーカスのための微調
整を行う。

【００４２】トラッキング制御部１３は、データ処理部
１０から供給されたバランス調整済ＴＥ信号に基づい
て、トラッキングサーボ１４にトラッキングバランスの
制御を行わせる。

【００４３】また、トラッキング制御部１３は、図示し
ないトラッキングバイアス電圧調整部を備える。このト
ラッキングバイアス電圧調整部は、データ処理部１０か
らバイアス制御信号が供給されると、この供給されたバ
イアス制御信号に基づいて、トラッキングバイアス電圧
をトラッキングサーボ１４に供給する。トラッキングバ
イアス電圧調整部は、このようにトラッキングバイアス
電圧をトラッキングサーボ１４に供給することにより、
ジャストトラックのための微調整を行う。

【００４４】トラッキングサーボ１４は、トラッキング
制御部１３からの制御信号に基づいて、トラッキングバ
ランスの制御を行う。また、トラッキングサーボ１４
は、トラッキングバイアス電圧調整部から供給されたト
ラッキングバイアス電圧に基づいて、ジャストトラッキ
ングのための微調整を行う。

【００４５】以上のように構成された光ディスク装置１
では、フォーカスサーボ１２は、フォーカス制御部１１
からの制御信号に基づいて、フォーカスバランスの制御
を行う。また、トラッキングサーボ１４は、トラッキン
グ制御部１３からの制御信号に基づいて、トラッキング
バランスの制御を行う。

【００４６】つぎに、デフォーカスの自動調整が行われ
るときの処理の流れを、図４に示すフローチャートを用
いて説明する。

【００４７】まず、図４に示すステップＳ１において、
通常、エラーセンター値を測定するようにレーザをオン
させ、対物レンズをジャストフォーカス点から充分距離
を離した状態でエラーセンター値を測定し、この測定し
たエラーセンター値をＥcとする。こうすることによ
り、光学的、電気的オフセットを取り除いたエラーセン
ター値を測定することができる。

【００４８】続いて、フォーカスバイアス設定限界値Ｅ
maxを設定する。これは、上記のエラーセンター値Ｅcを
基準として設定する。そして、データ処理部１０は、バ
ランス調整済ＦＥ信号を生成するために用いられる係数
Ｋの値を、初期値としてのＫ０＝１．０と設定し、この
Ｋ０＝１．０を用いてエラー信号生成部８にバランス調
整済ＦＥ信号を生成させる。

【００４９】続いて、ステップＳ２において、フォーカ
スバイアス調整を行い、ジッターの最小値となる、又は
ジッターが急激に悪化する２点のデフォーカス値の真ん
中を与えるフォーカスバイアス値Ｅkをメモリに記憶す
る。

【００５０】続いて、ステップＳ３において、データ処
理部１０は、フォーカスバイアス値Ｅkの絶対値が、フ
ォーカスバイアス設定限界値Ｅmaxよりも大きいか否か
を判断する。そして、データ処理部１０が現在のフォー
カスバイアス値Ｅkの絶対値がフォーカスバイアス設定
限界値Ｅmaxよりも大きくないと判断した場合には、処
理を終了する。こうすることにより、粗調整をＫの値を
用いることにより行い、微調整をフォーカスバイアス調
整で行うことができる。

【００５１】一方、データ処理部１０が現在のフォーカ
スバイアス値Ｅkの絶対値がフォーカスバイアス設定限
界値Ｅmaxよりも大きいと判断した場合には、処理は、
ステップＳ４へ進む。

【００５２】続いて、ステップＳ４において、データ処
理部１０は、次のＫをＫに代入し、処理は、ステップＳ
２へ戻る。

【００５３】つぎに、デトラックの自動調整が行われる
ときの処理の流れを、図５に示すフローチャートを用い
て説明する。

【００５４】まず、図５に示すステップＳ１１におい
て、通常、エラーセンター値を測定するようにレーザを
オンさせ、対物レンズをジャストフォーカス点から充分
距離を離した状態でエラーセンター値を測定し、この測
定したエラーセンター値をＥcとする。こうすることに
より、光学的、電気的オフセットを取り除いたエラーセ
ンター値を測定することができる。

【００５５】続いて、トラッキングバイアス設定限界値
Ｅmaxを設定する。これは、上記のエラーセンター値Ｅc
を基準として設定する。そして、データ処理部１０は、
バランス調整済ＴＥ信号を生成するために用いられる係
数Ｋの値を、初期値としてのＫ０＝１．０と設定し、こ
のＫ０＝１．０を用いてエラー信号生成部８にバランス
調整済ＴＥ信号を生成させる。

【００５６】続いて、ステップＳ１２において、トラッ
キングオフセット調整を行い、データ処理部１０は、ト
ラッキングエラーの振幅を測定し、その中点を計算して
オフセットが最小値となるオフセット値Ｅkをメモリに
記憶する。

【００５７】続いて、ステップＳ１３において、データ
処理部１０は、トラッキングオフセット値Ｅkの絶対値
が、トラッキングバイアス設定限界値Ｅmaxよりも大き
いか否かを判断する。そして、データ処理部１０が現在
のトラッキングオフセット値Ｅkの絶対値がトラッキン
グバイアス設定限界値Ｅmaxよりも大きくないと判断し
た場合には、処理を終了する。こうすることにより、粗
調整をＫの値を用いることにより行い、微調整をトラッ
キングオフセット調整で行うことができる。

【００５８】一方、データ処理部１０が現在のトラッキ
ングオフセット値Ｅkの絶対値がトラッキングバイアス
設定限界値Ｅmaxよりも大きいと判断した場合には、処
理は、ステップＳ１４へ進む。

【００５９】続いて、ステップＳ１４において、データ
処理部１０は、次のＫをＫに代入し、処理は、ステップ
Ｓ１２へ戻る。

【００６０】以上述べたように、本発明を適用した実施
の形態である光ディスク装置１では、フォーカスサーボ
１２がフォーカス制御部１１からの制御信号に基づいて
フォーカスバランスの制御を行い、オフセット電圧を印
加しないため、光ピックアップ４からの光ビームが傷部
分を通過後にフォーカス及びトラッキングの駆動電圧が
オフセット電圧に追従することにより生じる駆動電圧の
暴れがなく、この暴れによるエラーレートの悪化を防止
することができる。

【００６１】また、本発明を適用した実施の形態である
光ディスク装置１では、自動的にデフォーカス及びデト
ラックの調整が行われたときの光ディスクの位置と、再
生するときの光ディスクの位置の、それぞれの位置にお
ける傷の程度が相違する場合であっても、固定されたオ
フセット電圧値によるバイアス調整ではないため、最適
なバイアス値からずれることがない。

【００６２】なお、上述した光ディスク装置１では、光
ディスク２にＣＤ又はＤＶＤが用いられているが、光学
式ディスクであればＣＤ又はＤＶＤ以外のディスクであ
ってもよい。

【００６３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る光デ
ィスク装置によれば、フォーカスバランスの制御及びト
ラッキングバランスの制御が行われてオフセット電圧が
印加されないため、光ピックアップからの光ビームが傷
部分を通過後にフォーカス及びトラッキングの駆動電圧
がオフセット電圧に追従することにより生じる駆動電圧
の暴れがなく、この暴れによるエラーレートの悪化を防
止することができる。

【００６４】また、本発明に係る光ディスク装置によれ
ば、自動的にデフォーカス及びデトラックの調整が行わ
れたときの光学式ディスクの位置と、再生するときの光
学式ディスクの位置の、それぞれの位置における傷の程
度が相違する場合であっても、固定されたオフセット電
圧値によるバイアス調整ではないため、最適なバイアス
値からずれることがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した実施の形態を示す光ディスク
装置のブロック構成図である。

【図２】本発明を適用した実施の形態における光ピック
アップ４の光検出部に備えられたフォトダイオードの配
置構成図である。

【図３】フォーカスバイアス調整とフォーカスバランス
調整とを説明するための図である。

【図４】デフォーカスの自動調整が行われるときの処理
の流れを説明するためのフローチャートである。

【図５】デトラックの自動調整が行われるときの処理の
流れを説明するためのフローチャートである。

【図６】フォーカスバイア調整での問題を説明するため
の図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク装置、２ 光ディスク、３ スピンドル
モータ、４ 光ピックアップ、５ ＲＦアンプ、６ デ
ィスク判別部、７ ジッター測定部、８ エラー信号生
成部、９ エラーセンター測定部、１０ データ処理
部、１１ フォーカス制御部、１２ フォーカスサー
ボ、１３ トラッキング制御部、１４ トラッキングサ
ーボ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディジタルデータが光学的に読み取り可
   能な状態で記録された信号記録面を有する光学式ディス
   クの上記信号記録面に対して、２焦点レンズを介して光
   ビームを照射し、その反射光を検出する光ピックアップ
   と、 上記２焦点レンズを上記光ビームの光軸方向へ駆動制御
   する駆動制御手段と、 上記光ピックアップにより検出されたフォーカスエラー
   センター値を測定するフォーカスエラーセンター値測定
   手段と、 上記反射光と可変する係数Ｋとに基づいてバランス調整
   を行ったフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエ
   ラー信号生成手段と、 上記フォーカスエラーセンター値測定手段により測定さ
   れたフォーカスエラーセンター値と、上記フォーカスエ
   ラー信号生成手段により生成されたバランス調整済のフ
   ォーカスエラー信号とに基づいて、上記駆動制御手段に
   フォーカスバランスの制御を行わせるフォーカスバラン
   ス制御手段とを備えることを特徴とする光ディスク装
   置。
2. 【請求項２】 上記駆動制御手段にフォーカスバイアス
   電圧を供給するフォーカスバイアス電圧供給手段と、 上記フォーカスバイアス電圧供給手段に上記駆動制御手
   段へフォーカスバイアス電圧を供給させることにより、
   当該駆動制御手段にフォーカスバイアスの制御を行わせ
   るフォーカスバイアス制御手段とを備えることを特徴と
   する請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 ディジタルデータが光学的に読み取り可
   能な状態で記録された信号記録面を有する光学式ディス
   クの上記信号記録面に対して、２焦点レンズを介して光
   ビームを照射し、その反射光を検出する光ピックアップ
   と、 上記２焦点レンズを上記光学式ディスクの径方向へ駆動
   制御する駆動制御手段と、 上記光ピックアップにより検出されたトラッキングエラ
   ーセンター値を測定するトラッキングエラーセンター値
   測定手段と、 上記反射光と可変する係数Ｋとに基づいてバランス調整
   を行ったトラッキングエラー信号を生成するトラッキン
   グエラー信号生成手段と、 上記トラッキングエラーセンター値測定手段により測定
   されたトラッキングエラーセンター値と、上記トラッキ
   ングエラー信号生成手段により生成されたバランス調整
   済のトラッキングエラー信号とに基づいて、上記駆動制
   御手段にトラッキングバランスの制御を行わせるトラッ
   キングバランス制御手段とを備えることを特徴とする光
   ディスク装置。
4. 【請求項４】 上記駆動制御手段にトラッキングバイア
   ス電圧を供給するトラッキングバイアス電圧供給手段
   と、 上記トラッキングバイアス電圧供給手段に上記駆動制御
   手段へトラッキングバイアス電圧を供給させることによ
   り、当該駆動制御手段にトラッキングバイアスの制御を
   行わせるトラッキングバイアス制御手段とを備えること
   を特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。