CN1750141A - 光盘设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种光盘设备,其中,根据抖动测量部分测量的抖动值和误差信号产生部分产生的平衡调整的FE信号,利用使聚焦伺服机构来控制聚焦平衡的聚焦控制部分,并且根据从误差中心测量部分测量的误差中心值和误差信号产生部分产生的平衡调整的TE信号,利用使跟踪伺服机构来控制跟踪平衡的跟踪控制部分,通过执行聚焦平衡调整和跟踪平衡调整,防止了由于再现的信号的干扰引起的误差率的恶化。而且,聚焦伺服机构执行聚焦下搜索从而正确地接通聚焦。
Description
本专利申请是下述专利申请的分案申请:
申请号:200310124291.7
申请日:2001年1月12日
发明名称:光盘设备
技术领域
本发明涉及一种平衡聚焦误差信号和跟踪误差信号从而进行散焦调整和偏道调整的光盘设备。
本发明还涉及一种使用从光盘等的返回信号把光拾取器放射的光束聚焦到光盘等的信号记录表面上的光盘设备。
背景技术
最近,在光轴方向上的两个位置处有焦点的物镜(此后称为双焦点透镜)被用来由一个光盘再现设备再现CD(光盘)、DVD(数字通用盘)。
通常,在光盘再现设备中,散焦和偏道调整在设备起动时自动进行。执行散焦调整使得来自光拾取器的光束以最佳抖动点被聚焦在光盘的信号记录表面上。执行偏道调整使得光束准确地跟踪光盘的信号记录表面上的光道。通常,这些散焦和偏道调整通过应用偏置电压(偏移电压)来实现。
而且,在包括能够再现CD和DVD的双焦点透镜的光盘再现设备中,CD的散焦和DVD的散焦彼此不同,从而执行散焦调整的偏置电压值被设置在一个较大值。
另外,在再现光盘的通常情况下,光拾取器的物镜在物镜越来越靠近光盘的方向上被聚焦在光盘上。
同时,当使用其偏置电压值如上进行设置的光盘设备再现受损的光盘时,聚焦和跟踪都会带来下面的问题。
第一个问题发生在再现受损的光盘时。即如图1所示,对于受损部分保持驱动电压。检测不到误差信号,从而误差信号越来越接近零。在受损部分之前和之后,产生等于已经被施加到误差信号以进行其上的调整的偏置电压的偏移。而且,在通过受损的部分后,再次施加偏移电压到误差信号,从而伺服机构系统跟随误差,所以驱动电压被干扰。由于驱动电压的干扰,从光盘再现的信号受到影响,其波形被干扰,使得误差率恶化。
第二个问题出现在当自动进行散焦调整和偏道调整时在光盘的位置处的损坏程度与再现光盘时在光盘的位置处的损坏程度有差别的情况下。即,从光盘来的返回光量在受损部分明显被降低,使得进行自动调整的固定偏移电压值根据光盘位置而大大地偏离最佳值。
另外,如果使用包括上述双焦点透镜的光盘再现设备再现CD,在所谓的上搜索期间在用于检测聚焦伺服机构的接通状态的真正S状信号之前产生称作S状伪信号的信号,这是由于两个焦点的存在导致的,其中上搜索指的是双焦点透镜沿着透镜从一个遥远的位置越来越靠近光盘的方向移动从而实现聚焦。
称作S状伪信号的信号和真正的S状信号具有很多变形形式,从而难以进行固定水平的检测。另外,如果光盘再现设备接通聚焦伺服机构,聚焦的接通就失效,结果误把称作S状伪信号的信号当作真正的S状信号。为避免这一故障,可执行所谓的下搜索,其中物镜在一个方向上被聚焦在光盘上,在这个方向上透镜从一个比聚焦位置更靠近光盘的位置移动离开。
但是,在下搜索中,物镜越来越靠近光盘,通过聚焦位置,如果透镜一直移动下去,物镜将撞到光盘上。那么光盘将被损坏。此外,由于双焦点透镜的焦距短,这是由于透镜的特性导致的,因此考虑在光盘旋转期间的表面模糊,难以在设计中提供用来防止光盘与物镜之间的撞击的机械止动器。
发明内容
因此考虑上述情况作出了本发明,并且本发明的第一个目的是提供一种光盘设备,其防止了由于再现的信号的干扰所引起的误差率的恶化。
本发明的第二个目的是提供一种光盘设备,其中通过使用聚焦过零检测信号和/或聚焦成功信号执行下聚焦搜索来正确地接通聚焦。
为实现第一目的,根据本发明的光盘设备包括:一个用于把光束经双焦点透镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上,并用于检测其反射光的光拾取器;用于在光束的光轴方向上驱动和控制双焦点透镜的驱动控制装置;用于测量由光拾取器检测到的聚焦误差中心值的聚焦误差中心值测量装置;用于基于反射光和可变系数Kf产生进行了平衡调整的聚焦误差信号的聚焦误差信号产生装置;以及用于基于由聚焦误差中心值测量装置测量的聚焦误差中心值和聚焦误差信号产生装置产生的并进行了平衡调整的聚焦误差信号使驱动控制装置控制聚焦平衡的聚焦平衡控制装置。
在这个光盘设备中,聚焦平衡控制装置基于聚焦误差中心值和平衡调整的聚焦误差信号使得驱动控制装置控制聚焦平衡。
根据本发明的另一个光盘设备包括:一个用于把光束经双焦点透镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上并用于检测其反射光的光拾取器;用于在光盘的径向上驱动和控制双焦点透镜的驱动控制装置;用于测量由光拾取器检测到的跟踪误差中心值的跟踪误差中心值测量装置;用于基于反射光和可变系数Kt产生进行了平衡调整的跟踪误差信号的跟踪误差信号产生装置;以及用于基于由跟踪误差中心值测量装置测量的跟踪误差中心值和跟踪误差信号产生装置产生的并进行了平衡调整的跟踪误差信号使驱动控制装置控制跟踪平衡的跟踪平衡控制装置。
在这个光盘设备中,跟踪平衡控制装置基于跟踪误差中心值和平衡调整的跟踪误差信号使得驱动控制装置控制跟踪平衡。
而且,为实现第二目的,根据本发明的光盘设备包括:一个用于把光束经物镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上并用于检测其反射光的光拾取器;用于基于光拾取器检测到的反射光,检测聚焦误差信号的聚焦误差信号检测装置;用于基于聚焦误差信号检测装置检测到的聚焦误差信号,检测聚焦过零检测信号的聚焦过零检测信号检测装置;以及用于在光束的光轴方向上驱动和控制物镜的驱动控制装置,其中,如果物镜以预定速度在离开光盘的距离被缩短的方向上被驱动,在从聚焦过零检测信号检测装置检测到的聚焦过零检测信号不再被检测时开始经过预定时间周期后,驱动控制装置停止向光盘更靠近移动的物镜,并且如果在停止物镜后物镜沿着离开光盘的距离被增大的方向被驱动,驱动控制装置基于聚焦过零检测信号控制从光拾取器照射的光束的聚焦位置使其被聚焦在光盘的信号记录表面上。
根据本发明的又一光盘设备包括:一个用于把光束经物镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上并用于检测其反射光的光拾取器;用于基于光拾取器检测到的反射光总光量检测引入信号的引入信号检测装置;用于基于引入信号检测装置检测的引入信号检测聚焦成功信号的聚焦成功信号检测装置;用于在光束的光轴方向上驱动和控制物镜的驱动控制装置,其中,如果物镜以预定速度在离开光盘的距离被缩短的方向上被驱动,在从聚焦成功信号检测装置检测到的聚焦成功信号不再被检测时开始经过预定时间周期后,驱动控制装置停止向光盘更靠近移动的物镜,并且如果在停止物镜后物镜沿着离开光盘的距离被增大的方向被驱动,驱动控制装置基于聚焦成功信号控制从光拾取器照射的光束的聚焦位置使其被聚焦在光盘的信号记录表面上。
另外,根据本发明的又一光盘设备包括:一个用于把光束经物镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上并用于检测其反射光的光拾取器;用于基于光拾取器检测到的反射光检测聚焦误差信号的聚焦误差信号检测装置;用于基于聚焦误差信号检测装置检测到的聚焦误差信号检测聚焦过零检测信号的聚焦过零检测信号检测装置;用于基于光拾取器检测到的反射光总量检测引入信号的引入信号检测装置;用于基于引入信号检测装置检测的引入信号检测聚焦成功信号的聚焦成功信号检测装置;以及用于在光束的光轴方向上驱动和控制物镜的驱动控制装置,其中,如果物镜以预定速度在离开光盘的距离被缩短的方向上被驱动,在从聚焦过零检测信号检测装置检测到的聚焦过零检测信号不再被检测时开始经过预定时间周期后或从聚焦成功信号检测装置检测到的聚焦成功信号不再被检测到时开始经过预定时间周期后,驱动控制装置停止向光盘更靠近移动的物镜,并且如果在停止物镜后物镜沿着离开光盘的距离被增大的方向被驱动,驱动控制装置基于聚焦过零检测信号和聚焦成功信号控制从光拾取器照射的光束的聚焦位置使其被聚焦在光盘的信号记录表面上。如上所述,根据本发明,聚焦平衡和跟踪平衡被控制,使得不再施加偏移电压。因此,没有在来自光拾取器的光束通过受损部分后用于聚焦和跟踪的驱动电压跟随偏移电压而带来的驱动电压的干扰。而且,根据本发明的光盘设备,即使散焦和偏道被自动调整时光盘的位置与再现光盘时光盘的位置之间损坏程度不同,偏置调整也不取决于固定的偏移电压值。因此,偏置值并不偏离最佳偏置值。
而且,根据本发明的光盘设备,可能避免在真正的S状信号之前有称作S状伪信号的信号,这个伪信号是当把物镜沿着更靠近光盘移动透镜的方向聚焦时,使用双焦点透镜所引起的。因此,可防止把称作S状伪信号的信号误当作聚焦误差信号引起的聚焦的错误接通。
另外,根据本发明的光盘设备,把物镜越来越移近光盘的动作受到光盘的返回信号的控制。因此,不必要执行防止物镜与光盘彼此接触的处理。
附图说明
图1是解释聚焦偏置调整中的问题的视图;
图2是表示应用本发明的实施例的光盘设备的结构框图;
图3是表示应用本发明的实施例中的光拾取器的光电二极管的布局结构的视图;
图4是解释聚焦偏置调整和聚焦平衡调整的视图;
图5是解释自动调整散焦时的处理流程的流程图;
图6是解释自动调整偏道时的处理流程的流程图;
图7是表示应用本发明的实施例的光盘设备的结构框图;
图8是解释在执行上搜索以聚焦在光盘102上后转向下搜索的处理的图。
具体实施方式
下面参考附图解释应用本发明的实施例。
作为应用本发明的第一实施例的光盘设备包括在光轴方向的两个位置处有焦点的物镜(以后称为双焦点透镜)。图2表示根据应用本发明的实施例的光盘设备。
光盘设备1包括光盘2、主轴马达3、光拾取器4、RF放大器5、盘判别部分6、抖动测量部分7、误差信号产生部分8、误差中心测量部分9和数据处理部分10、聚焦控制部分11、聚焦伺服机构12、跟踪控制部分13以及跟踪伺服机构14。
光盘2可以是任何具有不同盘格式的光盘,如CD(光盘)、DVD(数字通用盘)等,并且由主轴马达3驱动和旋转。
光拾取器4使用双焦点透镜作为物镜,并且还具有双轴致动器、半导体激光器和光检测部分。光拾取器4的光检测部分4-1由四个一组的光电二极管A,B,C和D以及设置在所述四个一组的光电二极管之前和之后的光电二极管E和F构成。光拾取器4的光检测部分4-1向RF放大器5提供由光电二极管A,B,C和D检测到的检测信号A,B,C和D以及由光电二极管E和F检测到的检测信号E和F。
注意光拾取器4受到未示出的进给马达控制而在盘的径向上移动。
RF放大器5使用从光拾取器4提供的检测信号A,B,C和D计算(A+B+C+D)。作为这一计算的结果的RF信号被未示出的波形整形电路整理波形,从而转换成二进制的RF信号。另外,RF放大器5向数据处理部分10提供转换后的二进制RF信号。
基于从光拾取器4提供的检测信号A,B,C和D,RF放大器5产生引入信号(以后称为PI信号),作为与光拾取器4的光检测部分接收到的全部光量相关的信号,并把PI信号提供给盘判别部分6。
另外,基于检测信号A,B,C和D,RF放大器5测量光拾取器4的光检测部分接收到的全部光量的振幅值并把测量的总光量的振幅值提供给误差中心测量部分9。
而且,RF放大器5对误差信号产生部分8提供光拾取器4提供的检测信号A,B,C和D以及检测信号E和F。
根据RF放大器5提供的RF信号,盘判别部分6基于光盘2的表面反射产生镜像信号(以后称为表面反射盘检测信号)并基于光盘2的信号记录表面反射产生镜像信号(以后称为信号记录表面反射盘检测信号)。盘判别部分6基于产生的表面反射盘检测信号和信号记录表面反射盘检测信号确定光盘2的类型。
尤其,盘判别部分6测量检测到表面反射盘检测信号和信号表面反射盘检测信号的一个周期。如果这个周期是T1,例如,光盘2被确定为是CD。或者,如果是比周期T1长的周期T2,则盘被确定为是DVD。这个确定使用盘厚度差,即CD的厚度是1.2mm,DVD的厚度是0.6mm。
对于光拾取器4的双焦点透镜设置两个聚焦位置,从而与上述两种类型的盘相应。
而且,如果基于RF放大器5提供的PI信号把光盘2确定为DVD,盘判别部分6确定光盘2的一侧有一层还是有二层。尤其,如果基于PI信号光盘2的光反射率是45到85%,则盘判别部分6确定一侧有一层,或者如果光盘2的光反射率是15到30%,则盘判别部分6确定一侧有二层。注意这里使用的PI信号也是低频分量。
盘判别部分6向数据处理部分10提供这样确定光盘2的类型的结果(以后称为盘确定结果信息)。
抖动测量部分7相对于RF放大器5提供的RF信号测量抖动水平并向数据处理部分10提供测量值。
误差信号产生部分8使用检测信号A,B,C和D以及数据处理部分10设置的系数Kf计算(A+C)-Kf(B+D),如图4所示。部分8把计算结果提供给数据处理部分10,作为平衡调整的聚焦误差信号(以后称为平衡调整的FE信号)。
系数Kf是提前在数据处理部分10中设计的系数并且采用从Kf0=1.0的初始值开始的值Kf=1.07,1.14,1.20,1.26,1.33,...或Kf=0.95,0.88,0.82,0.76,....。
另外,误差信号产生部分8使用RF放大器5提供的检测信号E和F以及数据处理部分10设置的系数Kt计算E-Kt*F并把计算的结果作为平衡调整的跟踪误差信号(以后称为平衡调整的TE信号)输出到数据处理部分10。
这里使用的系数Kt是提前设计的系数并且采用从Kt0=1.0的初始值开始的值Kt=1.10,1.21,,1.33,1.46,1.61...或Kt=0.91,0.83,0.75,0.68,....。
误差中心测量部分9对数据处理部分10提供误差中心测量值。
数据处理部分10对RF放大器提供的二进制RF信号执行解调处理,产生信息信号,如音频/视频数据等,并提供音频/视频数据给未示出的音频/视频电路。
数据处理部分10基于从盘判别部分6提供的盘确定结果信息识别例如光盘2是CD还是DVD。如果光盘2是DVD,数据处理部分10还识别出一侧具有一层还是两层。
另外,数据处理部分10基于误差信号产生部分8提供的误差中心值和平衡调整的FE信号控制聚焦平衡。尤其,数据处理部分10基于误差中心值和平衡调整的FE信号改变系数Kf的值,直到在FE信号与误差中心值之间获得最小的差值。使误差信号产生部分8产生平衡调整的FE信号。数据处理部分10向聚焦控制部分11提供这样产生的平衡调整的FE信号,从而引起聚焦控制部分11控制聚焦平衡。
另外,如果甚至在控制聚焦平衡后都没有实现正好聚焦,数据处理部分10提供偏置控制信号给未示出的但是包括在聚焦控制部分11中的聚焦偏置电压调整部分,从而使得聚焦偏置电压调整部分提供聚焦偏置电压给聚焦伺服机构12。从而,这样提供有来自聚焦偏置电压调整部分的聚焦偏置电压的聚焦伺服机构12驱动光拾取器4的双轴致动器,以进行正好聚焦的精细调整。
另外,数据处理部分10还基于误差中心测量部分9提供的误差中心测量值和误差信号产生部分8提供的平衡调整的TE信号控制跟踪平衡。尤其,基于误差中心测量值和平衡调整的TE信号,数据处理部分10改变系数Kt的值,以使得主聚束光点正好在记录光道上。使误差信号产生部分8产生平衡调整的TE信号。数据处理部分10向跟踪控制部分13提供这样产生的平衡调整的TE信号,从而引起跟踪控制部分13控制跟踪平衡。
另外,如果甚至在控制跟踪平衡后都没有实现正好跟踪,数据处理部分10提供偏置控制信号给未示出的但是包括在跟踪控制部分13中的跟踪偏置电压调整部分。以这种方式,使得跟踪偏置电压调整部分提供跟踪偏置电压给跟踪伺服机构14。跟踪伺服机构14提供有来自跟踪偏置电压调整部分的跟踪偏置电压,从而驱动光拾取器4的双轴致动器,以进行正好跟踪的精细调整。
在这样结构的光盘设备1中,聚焦伺服机构12基于来自聚焦控制部分11的控制信号执行聚焦平衡。跟踪伺服机构14基于来自跟踪控制部分13的控制信号执行跟踪平衡。
接着,参考图5所示的流程图解释当执行散焦自动调整时处理的流程。
首先,在图5所示的步骤S1中,光拾取器4的半导体激光器被接通,以测量误差中心值。随着物镜足够远离正好聚焦点,测量误差中心值,并且把测量的误差中心值作为Ec。以这种方式,可测量没有光和电偏移的误差中心值。
随后,设置聚焦偏置设定极限值Emax。而且,在数据处理部分10中,用于产生平衡调整的FE信号的系数K被设置为Kf0=1.0,作为初始值。使用值Kf0=1.0,使误差信号产生部分8产生平衡调整的FE信号。
接着,在步骤S2中,执行聚焦偏置调整,并且给出在抖动具有最小值或被明显破坏的两个点处的散焦值之间的中心值的聚焦偏置值Ek被存储到存储器中。
在后面的步骤S3中,数据处理部分10确定聚焦偏置值Ek的绝对值是否大于聚焦偏置设定极限值Emax。如果当前的聚焦偏置设置极限值Ek的绝对值确定为小于聚焦偏置设定极限值Emax,则处理结束。以这种方式,可使用Kf的值进行粗略的调整,同时通过聚焦偏置调整实现精细调整。
另一方面,如果数据处理部分10确定当前偏置值Ek的绝对值不小于聚焦偏置设定极限值Emax,则处理进行到步骤S4。
随后,在步骤S4中,数据处理部分10用下一个Kf替代该Kf并且处理返回步骤S2。
接着参考图6所示的流程图解释当执行偏道自动调整时处理的流程。
首先,在图6所示的步骤S11中,正常接通激光器,以测量误差中心值,随着物镜足够远离正好聚焦点,测量误差中心值。把这样测量的误差中心值作为Ec。以这种方式,可测量没有光和电偏移的误差中心值。
随后,设置跟踪偏置设定极限值Emax。参考上述误差中心值Ec设置该值。而且,数据处理部分10把用于产生平衡调整的TE信号的系数K设置为Kt0=1.0。使用值Kt0=1.0,使误差信号产生部分8产生平衡调整的TE信号。
接着,在步骤S12中,执行跟踪偏移调整。数据处理部分10测量跟踪误差的振幅,计算其中心点,并将使偏移最小化的偏移值Ek存储到存储器中。
在后面的步骤S13中,数据处理部分10确定跟踪偏移值Ek的绝对值是否大于跟踪偏置设定极限值Emax。而且,如果数据处理部分10确定当前的跟踪偏移值Ek的绝对值小于跟踪偏置设定极限值Emax,则处理结束。以这种方式,可使用Kt的值进行粗略的调整,同时通过跟踪偏移调整实现精细调整。
另一方面,如果数据处理部分10确定为当前跟踪偏移值Ek的绝对值不小于跟踪偏置设定极限值Emax,则处理进行到步骤S14。
随后,在步骤S14中,数据处理部分10用下一个Kt替代该Kt并且处理返回步骤S12。
如上所述,在作为应用了本发明的实施例的光盘设备1中,聚焦伺服机构12基于来自聚焦控制部分11的控制信号控制聚焦平衡,从而不施加偏移电压。因此,没有在来自光拾取器4的光束通过受损部分后用于聚焦和跟踪的驱动电压跟随偏移电压而带来的驱动电压的干扰。从而可能防止由这种干扰引起的误差率的恶化。而且,在作为应用本发明的实施例的光盘设备1中,即使散焦调整和偏道调整被自动执行时与再现光盘时光盘的位置不同,也不以固定的偏移电压值执行偏置调整,因此,偏置值并偏离最佳偏置值。
在上述光盘设备1中,把CD或DVD用作光盘2。但是,本发明可适用于除CD和DVD之外的不同种类的盘,只要光盘设备与具有不同记录密度的盘兼容。
接着,参考附图解释应用本发明的第二实施例。
作为应用本发明的第二实施例的光盘设备是一种这样的设备,其中在光轴方向的两个位置处有焦点的物镜(以后称为双焦点透镜)沿着透镜远离开盘的方向被聚焦在光盘上,即执行所谓的下搜索。图7表示根据应用本发明的
实施例的光盘设备。
在作为应用本发明的实施例的光盘设备中,首先以恒定速度沿着透镜靠近盘的方向移动双轴透镜。在从通过聚焦位置时开始的预定时间周期后,停止上搜索。接着,沿着双焦点透镜远离开光盘的方向把双焦点透镜聚焦在光盘上。
如图7所示,光盘设备101包括光盘102、主轴马达103、光拾取器104、RF放大器105、PI信号(引入信号)检测部分106、FOK(聚焦成功,Focus OK)信号检测部分107、盘判别部分108、误差信号检测部分109、FZC信号(聚焦过零检测信号)检测部分110、数据处理部分111、聚焦伺服机构112以及跟踪伺服机构113。
光盘102是例如CD(光盘)、DVD(数字通用盘)等,并且由主轴马达103驱动来旋转。
光拾取器104使用未示出的双焦点透镜作为物镜,并且还具有在聚焦方向和跟踪方向驱动双轴透镜的双轴致动器、半导体激光器和光检测部分。与上述第一实施例的图2中所示的一样,光拾取器104的光检测部分由划分为四的光电二极管A,B,C和D以及纵向或横向设置的光电二极管E和F构成,并接收通过照射激光束在光盘102的信号表面上而获得的反射光。光拾取器104的光检测部分向RF放大器105提供由光电二极管A,B,C和D检测到的检测信号A,B,C和D以及由光电二极管E和F检测到的检测信号E和F。
注意光拾取器104受到未示出的进给马达控制而在盘的径向上移动。
RF放大器105使用从光拾取器104提供的检测信号A,B,C和D计算(A+B+C+D)。作为这一计算的结果的RF信号被未示出的波形整形电路整理波形,从而转换成二进制的RF信号。另外,RF放大器105向数据处理部分111提供转换后的二进制RF信号。
而且,RF放大器105使用从光拾取器104提供的检测信号A,B,C和D计算(A+C)-(B+D),并把这一计算结果(以后称为FE信号)作为聚焦误差信号提供给误差信号检测部分109。
而且,RF放大器105使用从光拾取器104提供的检测信号E和F计算(E-F),并把这一计算结果(以后称为TE信号)作为跟踪误差信号提供给误差信号检测部分109。
而且,基于检测信号A,B,C和D,RF放大器105产生引入信号(以后称为PI信号),作为与光拾取器104接收到的全部光量相关的信号。RF放大器还把PI信号提供给PI信号检测部分106。
PI信号检测部分106检测从RF放大器105提供的PI信号,并产生FOK信号,作为通过比较光拾取器104的光检测部分接收到的全部光量和预定的阈值而得到的信号。而且PI信号检测部分106对FOK信号检测部分107提供产生的FOK信号。
这个FOK信号也是表达可允许焦点进入的范围的信号。
一检测到从PI信号检测部分106提供的FOK信号,FOK信号检测部分107产生用于识别FOK信号的检测的信号(以后称为FOK检测信号)并向数据处理部分111提供FOK检测信号。
根据RF放大器105提供的RF信号,盘判别部分108基于光盘102的表面反射产生镜像信号(以后称为表面反射盘检测信号)并基于光盘102的信号记录表面反射产生镜像信号(以后称为信号记录表面反射盘检测信号)。基于表面反射盘检测信号和信号记录表面反射盘检测信号,部分108确定光盘102的类型。
尤其,盘判别部分108测量检测到表面反射盘检测信号和信号表面反射盘检测信号的一个周期。如果这个周期是T1,例如,光盘102被确定为是CD。或者,如果是比周期T1长的周期T2,则光盘102被确定为是DVD。这个确定使用盘基片厚度差,即CD具有厚度是1.2mm的盘基片,DVD具有厚度是0.6mm的盘基片。在光拾取器104的双焦点透镜中设置两个聚焦点,从而与上述两种类型的盘相应。
而且,如果基于PI信号检测部分提供的PI信号把光盘102确定为DVD,盘判别部分108确定光盘102的一侧有一层还是有二层。例如,如果光盘102的光反射率是45到85%,则盘判别部分108确定在一侧上有一层。如果光反射率是18到30%,则确定在一侧上有二层。注意这里使用的PI信号也是RF信号的低频分量。
盘判别部分108向数据处理部分111提供这样确定光盘102的类型的结果(以后称为盘确定结果信息)。
误差信号检测部分109检测从RF放大器105提供的FE信号,并基于检测为S状波形分量的FE信号产生聚焦过零检测信号(后面称为FZC信号),作为通过比较S状波形分量和预定阈值而得到的信号。而且,误差信号检测部分109向FZC信号检测部分110提供产生的FZC信号。
而且,误差信号检测部分109检测从RF放大器105提供的TE信号,基于检测到的TE信号产生用于控制跟踪的控制信号。另外,误差信号检测部分109向跟踪伺服机构113提供产生的控制信号。
一检测到从误差信号检测部分109提供的FZC信号,FZC信号检测部分110产生用于识别FZC信号的检测的信号(后面称为FZC检测信号),并把FZC检测信号提供给数据处理部分111。
数据处理部分111对从RF放大器105提供的二进制RF信号执行解码处理,产生信息信号,如音频/视频数据等,并提供音频/视频数据给未示出的音频/视频电路。
而且数据处理部分111基于从盘判别部分108提供的盘确定结果信息识别例如光盘102是CD还是DVD。如果光盘102是DVD,数据处理部分111还识别出一侧具有一层还是两层。
一旦自FOK信号检测部分107提供FOK检测信号并且一旦自FZC信号检测部分110提供FZC检测信号,数据处理部分111识别出从在朝向盘的方向上越来越靠近光盘的双焦点透镜照射的激光束的焦点相对于光盘102的信号记录表面通过了聚焦位置。
此后,在从不再提供FOK检测信号时开始的预定周期后,数据处理部分111向聚焦伺服机构112提供控制信号,用于停止双焦点透镜移近光盘102。以这种方式,在预定周期后停止双焦点透镜朝向光盘102的接近操作。
此后,数据处理部分111设置从停止越来越靠近盘的接近操作时开始的例如10ms的保持周期。接着,部分111向聚焦伺服机构112提供控制信号,用于开始下搜索。这样在停止接近操作后设置预定保持周期,这是因为光拾取器104的双轴致动器在光透镜的光轴方向上振动,并且,如果在停止接近操作后把操作突然转向下搜索,则从FOK信号检测部分107输出的FOK信号也颤动,将其提供给数据处理部分111。
另外,数据处理部分111基于FOK信号检测部分107提供的FOK检测信号和FZC信号检测部分110提供的FZC检测信号产生控制信号,用于相对于光盘102的信号表面聚焦透镜。数据处理部分111把产生的控制信号提供给聚焦伺服机构112,从而使聚焦伺服机构聚焦在光盘102的信号表面上。
聚焦伺服机构112基于从数据处理部分111提供的把透镜聚焦在光盘102的信号表面上的控制信号,通过光拾取器104的双轴致动器,驱动并控制双焦点透镜的运动,以聚焦在光盘102的信号表面上。跟踪伺服机构113基于从误差信号检测部分109提供的进行跟踪控制的控制信号,通过光拾取器104的双轴致动器驱动并控制双焦点透镜的运动,以在光盘102的光道上跟踪。
在如上所述构造的光盘设备101中,聚焦伺服机构112基于从数据处理部分111提供的控制信号,让双焦点透镜在透镜越来越靠近光盘102的方向上移动。在从一旦通过聚焦位置开始的预定周期后停止上搜索。之后,聚焦伺服机构112基于从数据处理部分111提供的以聚焦在光盘102的信号表面上的控制信号,让双焦点透镜以恒定速度在透镜越来越远离光盘102的方向上移动,并驱动和控制双焦点透镜的运动,以在光盘102的信号表面上聚焦。
接着,在光盘设备101中,双焦点透镜以恒定速度沿着越来越靠近光盘102的方向移动。在从通过聚焦点时开始的预定时间后停止上搜索。之后,沿着透镜越来越远离光盘102的方向把双焦点透镜聚焦在光盘102上,从而实现下搜索。这一处理的流程将参考图8来解释。
作为前提,光盘设备101处于PI信号还没有被PI信号检测部分6检测到但是双焦点透镜正以恒定的速度沿着透镜越来越靠近光盘102、例如CD的方向移动的状态下。
首先,PI信号检测部分106检测PI信号,之后基于检测到的PI信号产生FOK信号。部分106向FOK信号检测部分107提供FOK信号。
此时,FOK信号变为“H”,如图8所示。一检测到从PI信号检测部分106提供的FOK信号,FOK信号检测部分107产生FOK检测信号并将FOK检测信号提供给数据处理部分111。
随后,一检测到FE信号,误差信号检测部分109基于检测到的FE信号产生FZC信号并将FZC信号提供给FZC信号检测部分110。此时,FZC信号变为“H”,如图8所示。而且,一检测到误差信号检测部分109提供的FZC信号,FZC信号检测部分110产生FZC检测信号并将FZC检测信号提供给数据处理部分111。
这样,数据处理部分111提供有来自FOK信号检测部分107的FOK检测信号,还提供有来自FZC信号检测部分110的FZC检测信号。那么,数据处理部分111识别出从双焦点透镜照射的激光束的焦点相对于光盘102的信号记录表面已通过聚焦位置,同时双焦点透镜正沿着透镜越来越靠近光盘102的方向移动。
之后,在从停止提供FOK检测信号时开始的预定周期后,数据处理部分111向聚焦伺服机构112提供用于停止双焦点透镜朝向光盘102的接近操作的控制信号。一旦从数据处理部分111向聚焦伺服机构112提供了用于停止双焦点透镜朝向光盘102的接近操作的控制信号,聚焦伺服机构112控制双焦点透镜以使得在预定周期后停止朝向光盘102的接近操作。
随后,数据处理部分111设置在停止接近操作后的例如10ms的保持周期。接着,部分111向聚焦伺服机构112提供控制信号,用于开始下搜索。基于数据处理部分111提供的控制信号,聚焦伺服机构112停止双焦点透镜的大约10ms的周期的移动,之后控制双焦点透镜的操作,以在透镜越来越远离光盘102的方向上进行下搜索。
随后,数据处理部分111基于FOK信号检测部分107提供的FOK检测信号和FZC信号检测部分110提供的FZC检测信号产生控制信号,用于在光盘102的信号表面上聚焦。数据处理部分111把产生的控制信号提供给聚焦伺服机构112。而且,基于从数据处理部分111提供的控制信号,聚焦伺服机构112控制双焦点透镜的操作,以在光盘102的信号表面上聚焦。
通过上述处理,可避免接通聚焦的失败,这种失败是把称作S状伪信号的信号误当作误差信号,并且甚至在用光盘设备101再现CD时也转向聚焦伺服机构。
如上所述,在作为应用本发明的本发明的第二实施例的光盘设备101中,防止在FE信号之前立刻产生称作S状伪信号的信号,该信号的产生是由于双焦点透镜通过使用FZC信号和/或FOK信号进行聚焦下搜索而在透镜越来越靠近光盘2的方向上被聚焦时的球面象差带来的。因此,可能防止聚焦接通失败、防止把这个称作S状伪信号的信号误当作FE信号。
而且,在作为应用本发明的实施例的光盘设备101中,把双焦点透镜移向光盘的操作由来自光盘102的返回信号的控制。因此,执行防止双焦点透镜和光盘2彼此接触的处理。
在上述光盘设备101中,CD或DVD被用作光盘2。除CD和DVD之外的任何其它盘都可使用,只要该盘是光类型。
而且,在上述光盘设备101中,数据处理部分111在从不再提供FOK检测信号开始的预定周期后向聚焦伺服机构112提供用于停止双焦点透镜朝向光盘102的接近操作的控制信号。但是,另一种情况是,可在从不再提供FZC信号时开始的预定时间后,把用于停止朝向光盘102移动的双焦点透镜的控制信号提供给聚焦伺服机构112。
Claims (10)
1.一种光盘设备包括:
一个光拾取器,用于把光束经双焦点透镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上,并用于检测其反射光;
驱动控制装置,用于在光束的光轴方向上驱动和控制双焦点透镜;
聚焦误差中心值测量装置,用于测量由光拾取器检测到的聚焦误差中心值;
聚焦误差信号产生装置,用于基于反射光和可变系数Kf产生进行了平衡调整的聚焦误差信号;以及
聚焦平衡控制装置,用于使驱动控制装置基于由聚焦误差中心值测量装置测量的聚焦误差中心值和聚焦误差信号产生装置产生的并进行了平衡调整的聚焦误差信号控制聚焦平衡。
2.根据权利要求1的光盘设备,其中还包括:
聚焦偏置电压提供装置,用于提供聚焦偏置电压给驱动控制装置;
聚焦偏置控制装置,用于使聚焦偏置电压提供装置提供聚焦偏置电压给驱动控制装置,以引起驱动控制装置控制聚焦偏置。
3.根据权利要求1的光盘设备,其中相应于多个分别具有不同的盘基片厚度的盘,双焦点透镜由单个物镜形成两个焦点位置。
4.根据权利要求1的光盘设备,其中聚焦误差中心值测量装置测量双焦点透镜与正好聚焦位置保持足够距离的误差中心值。
5.根据权利要求1的光盘设备,其中多个包括用作参考的初始值的值被设置并被存储为系数Kf。
6.一种光盘设备包括:
一个光拾取器,用于把光束经双焦点透镜照射在包括记录了可被光读出的数字数据的信号记录表面的光盘的信号记录表面上并用于检测其反射光;
驱动控制装置,用于在光盘的径向上驱动和控制双焦点透镜;
跟踪误差中心值测量装置,用于测量由光拾取器检测到的跟踪误差中心值;
跟踪误差信号产生装置,用于基于反射光和可变系数Kt产生进行了平衡调整的跟踪误差信号;以及
跟踪平衡控制装置,用于使驱动控制装置基于由跟踪误差中心值测量装置测量的跟踪误差中心值和跟踪误差信号产生装置产生的并进行了平衡调整的跟踪误差信号控制跟踪平衡。
7.根据权利要求6的光盘设备,其中还包括:
跟踪偏置电压提供装置,用于提供跟踪偏置电压给驱动控制装置;
跟踪偏置控制装置,用于使跟踪偏置电压提供装置提供跟踪偏置电压给驱动控制装置以引起驱动控制装置控制跟踪偏置。
8.根据权利要求6的光盘设备,其中相应于多个分别具有不同的盘基片厚度的盘,双焦点透镜由单个物镜形成两个焦点位置。
9.根据权利要求6的光盘设备,其中跟踪误差中心值测量装置测量双焦点透镜与正好聚焦位置保持足够距离的误差中心值。
10.根据权利要求6的光盘设备,其中多个包括用作参考的初始值的值被设置并被存储为系数Kt。
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