JP2001189076A - 同期式メモリ装置のデータ出力装置 - Google Patents

同期式メモリ装置のデータ出力装置

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JP2001189076A JP2000360188A JP2000360188A JP2001189076A JP 2001189076 A JP2001189076 A JP 2001189076A JP 2000360188 A JP2000360188 A JP 2000360188A JP 2000360188 A JP2000360188 A JP 2000360188A JP 2001189076 A JP2001189076 A JP 2001189076A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 2ビットプリフェッチ方式とウェーブパイプ
ライン方式の両方式を適用した高速データ出力可能なDD
R SDRAMを提供する。 【解決手段】 偶数バンクに接続された第1感知増幅器
から出力された偶数データを貯蔵するための第1貯蔵手
段と、奇数バンクに接続された第2感知増幅器から出力
された奇数データを貯蔵するための第2貯蔵手段と、前
記第1貯蔵手段及び前記第2貯蔵手段に接続された前記偶
数データ及び前記奇数データを同時に入力するための選
択手段と、クロック信号の立ち上がりエッジに同期させ
て前記偶数データ及び前記奇数データのいずれか1つを
貯蔵及び出力する第3貯蔵手段と、クロック信号の立ち
下がりエッジに同期させて前記偶数データ及び前記奇数
データのいずれか1つを貯蔵及び出力する第4貯蔵手段
と、前記第3貯蔵手段から入力されたデータ及び前記第4
貯蔵手段から入力されたデータを出力するデータ出力手
段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体メモリ装置
において、DDR(Double Data Rate)同期式メモリのデー
タ出力装置に関し、特にデータがクロックの立ち上がり
エッジ及び立ち下がりエッジに同期されて出力されるDD
R SDRAMに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、DDR(Double Data Rate)同期式
メモリ装置とは、従来のSDR(Single Data Rate)同期式
メモリ装置がクロックの立ち上がりエッジでのみデータ
を出力するのに対し、クロックの立ち上がりエッジ及び
立ち下がりエッジの両方においてデータを出力する方式
を使用したメモリ装置をいう。
【0003】図1は、従来の技術にかかるデータ出力装
置が含まれた同期式メモリ装置の回路図である。
【0004】多数のレジスタ(Register)を使用するウェ
ーブパイプライン(Wave Pipeline)方式が適用された同
期式メモリ装置に関して、データを高速に出力させ、デ
ータの帯域幅(Bandwidth)をさらに高めたDDR同期式メモ
リにおいても同様にウェーブパイプライン方式がデータ
の出力経路に適用される。
【0005】図1において、メモリに入力された命令信
号(Command)は、命令デコーダ(Command Decoder)120
に入力される。命令デコーダ120は、入力された命令信
号をデコード(Decoding)してそれに適合した信号を生成
する。
【0006】例えば、同期式メモリにおいて読出し命令
信号として/CS、/RAS、/CAS、/WEが入力された場合、命
令デコーダ120は、メモリ内部において読出し動作の開
始を指示する読出し信号122及びバースト長の情報を有
しているbst_end信号124を生成する。
【0007】この信号は、モードレジスタ(Mode Regist
er)130にプログラム(Programming)されたCASレイテンシ
信号(CAS latency)132とクロックバッファ(Clock Buf
fer)110から生成された内部クロック信号であるiclk(In
ternal Clock)信号112と共にデータ出力制御部170に入
力されて複数のレジスタの入力と出力を制御する信号で
あるパイプ入力信号(pin)180とパイプ出力信号(pout)18
2とを生成する。
【0008】(N+1)個のカラムアドレス(Column Addres
s)信号は、(N+1)個のカラムアドレスバッファ140を介し
て内部カラムアドレス信号(ca<0:n>)142を生成する。内
部カラムアドレス信号(ca<0:n>)は、バースト読出し(Bu
rst Read)動作の際に連続的な内部カラムアドレス(Colu
mn Address)を生成するバーストカラムアドレスカウン
タ(Burst Column Address Counter)150にスタートアド
レスとして入力される。
【0009】バーストカラムアドレスカウンタ150は、
内部クロック(iclk)112により同期されてカラムアドレ
スデコーダ160にカラムアドレスを伝達し、カラムアド
レスデコーダ160は出力信号(Yi)165を出力する。
【0010】出力信号(Yi)165によってビットライン感
知増幅器(Bit Line Sense Amplifier)210が選択され
る。バンク活性化命令(Bank Active Command)によりワ
ードライン(Word Line)211が選択された場合、セルキャ
パシタ214に貯蔵されているデータは、ビットライン(Bi
t Line)212に載せられることとなり、ビットライン感知
増幅器210により感知増幅される。
【0011】ビットライン感知増幅器210によって増幅
されたデータは、ローカル入出力ライン(Local IO)に載
せられることとなる。ローカル入出力ライン(Local IO)
に伝達されたデータは、ローカル入出力ライン感知増幅
器(IO Sense Amplifier)220を介して再び感知、増幅さ
れてグローバル入出力ライン(Global IO)230に載せられ
ることとなる。
【0012】データ出力制御部170から出力されたパイ
プ入力信号(pin<0:n>)180-0〜180-nは、レジスタの入力
スイッチ184-0〜184-nを制御してグローバル入出力ライ
ン230に連続的に載せられたデータを順にレジスタ190-0
〜190-nに貯蔵する役割をする。したがって、n個のレジ
スタがあれば、n個のパイプ入力信号(pin)が存在する。
【0013】また、データ出力制御部170から出力され
たパイプ出力信号(pout<0:n>)182-0〜182-nは、各レジ
スタの出力スイッチを制御してレジスタに貯蔵されてい
るデータを順に出力ドライバー200に送り、データ(DQ)2
90を出力する役割を果す信号である。同様に、n個のレ
ジスタがあればn個のパイプ出力信号(pout)が存在す
る。
【0014】図2は、従来の技術にかかる図1に示した同
期式メモリのデータ出力に関する信号のフローチャート
であって、CASレイテンシは3であって、バースト長は4
である場合を示す。
【0015】外部のクロックがメモリに入力されて内部
クロック(iclk)が生成される。読出し命令が入力されれ
ば、読出し命令が入力されたクロックからCL(Cas Laten
cy)−1個のクロックが過ぎた後に最初のパイプ出力信号
(pout)がイネーブル(enable)され、以後のクロックに応
じてバースト長だけ、順にパイプ出力信号(pout)がイネ
ーブルされる。
【0016】CL−1個が過ぎたクロックからそれぞれの
パイプ出力信号(pout)によりクロックアクセスタイム(C
lock Access Time、tAC)程度の時間が過ぎた後にデータ
が出力され、このデータは出力保持時間(Output Hold T
ime、tOH)程度の間保持される。
【0017】以上で説明したように、ウェーブパイプラ
イン方式を適用すれば、データを高速に出力することの
できるため、DDR SDRAMにも前記ウェーブパイプライン
方式を適用すれば、データを高速に出力することができ
る。ところが、DDR SDRAMは、クロックの両側エッジを
使用してデータを出力させるため、通常2ビットプリフ
ェッチ方式(2Bit Prefetch)を適用している。したがっ
てDDR SDRAMでは、2ビットプリフェッチ方式とウェーブ
パイプライン方式の両方式を適用するためには新しいデ
ータ出力経路の設計が必要となる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、2ビットプ
リフェッチ方式とウェーブパイプライン方式の両方式を
適用して高速のデータ出力を可能にするDDR SDRAMを提
供することが目的である。
【0019】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明に係る同期式メモリ装置のデータ出力装置
は、同期式メモリ装置に含まれたデータ出力装置におい
て、選択された偶数バンクに接続された第1感知増幅器
から出力された偶数データを順に貯蔵するための第1貯
蔵手段と、選択された奇数バンクに接続された第2感知
増幅器から出力された奇数データを順に貯蔵するための
第2貯蔵手段と、前記第1貯蔵手段及び前記第2貯蔵手段
に接続された前記偶数データ及び前記奇数データを同時
に入力させるための選択手段と、クロック信号の立ち上
がりエッジに同期させて前記偶数データ及び前記奇数デ
ータの内のいずれか1つを貯蔵及び出力する第3貯蔵手
段と、クロック信号の立ち下がりエッジに同期させて前
記偶数データ及び前記奇数データの内のいずれか1つを
貯蔵及び出力する第4貯蔵手段と、前記第3貯蔵手段から
入力されたデータ及び前記第4貯蔵手段から入力された
データを出力するデータ出力手段とを備える。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明が属する技術分野に
おいて通常の知識を有する者が本発明の技術的思想を容
易に実施できる程度に詳細に説明するため、添付した図
面を参照して本発明の最も好ましい実施の形態を説明す
る。
【0021】通常、2ビットプリフェッチ方式が適用さ
れる同期式メモリ装置は、バンクが偶数と奇数とに分け
られている。図3a、図3bに本発明に係るデータ出力装置
を備えるDDR同期式メモリ装置の回路図を示す。図3a、
図3bに示すように、前記の同期式メモリ装置にウェーブ
パイプライン方式を適用するために、本発明のデータ出
力装置300は、偶数バンクのデータを貯蔵する複数の偶
数レジスタ320-0〜320-nと、奇数バンクのデータを貯蔵
する複数の奇数レジスタ330-0〜330-nと、優先順位制御
信号(sose<0:n>)345-0〜345-nに応答して前記偶数レジ
スタから出力されたデータと前記奇数レジスタから出力
されたデータとを順に出力する複数のマルチプレクサ34
0-0〜340-nと、前記マルチプレクサから先に出力された
データをラッチした後、クロックの立ち上がりエッジに
同期させて出力するrdoレジスタ350と、前記マルチプレ
クサから後に出力されたデータをラッチした後、クロッ
クの立ち下がりエッジに同期させて出力するfdoレジス
タ360と、前記rdoレジスタ350及びfdoレジスタ360から
伝達されたデータをバッファリングしてメモリ外部に出
力するための出力ドライバー370を含んで構成される。
【0022】入出力感知増幅器220aで増幅された前記偶
数バンクから出力された偶数データは、各偶数レジスタ
に貯蔵され、入出力感知増幅器220bで増幅された前記奇
数バンクから出力された奇数データは、各奇数レジスタ
に貯蔵される。
【0023】各偶数レジスタ320-0〜320-nは、偶数グロ
ーバル入出力ライン230aに載せられた前記偶数データを
対応する各スイッチング素子310-0〜310-nを介して取り
込んで貯蔵する。各スイッチング素子310-0〜310-nは、
複数のパイプ入力信号315-0〜315-nに応答して動作す
る。
【0024】同様に、各奇数レジスタ330-0〜330-nは、
奇数グローバル入出力ライン230bに載せられた前記奇数
データを対応する各スイッチング素子311-0〜311-nを介
して取り込んで貯蔵する。各スイッチング素子311-0〜3
11-nは、複数のパイプ入力信号316-0〜316-nに応答して
動作する。
【0025】図4、図5に示したように、データ出力制御
回路520から出力されたパイプ入力信号315は、前記デー
タ出力制御回路520に入力されたCASレイテンシ信号45
3、読出し信号451、bst_end信号452、rclk信号541、fc
lk信号542が利用されて生成される。
【0026】上記したように、CASレイテンシ信号453
は、モードレジスタ420にプログラムされており、読出
し信号451とbst_end信号は、読出し命令信号400に応答
して命令デコーダ410によって生成され、出力される。
【0027】rclk信号541とfclk信号542は、各々外部ク
ロック信号(CLK)の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジに同期して生成されるが、遅延固定ループ回路(DL
L)510に入力された内部クロック信号(iclk)456に応答し
て遅延固定ループ回路(DLL)510で生成されて出力され
る。上記したように、内部クロック信号456は、クロッ
クバッファ440に入力された外部クロック信号402が利用
されて生成される。
【0028】各マルチプレクサ340-0〜340-nには、偶数
及び奇数レジスタから各々偶数データ及び奇数データが
同時に入力される。各マルチプレクサは、sose信号345-
0〜345-nの制御を受けて、rdoレジスタ及びfdoレジスタ
に各々偶数データ及び奇数データを、あるいはrdoレジ
スタ及びfdoレジスタに各々奇数データ及び偶数データ
を伝達する。
【0029】図7はマルチプレクサの構成を示した回路
図である。
【0030】図7に示したように、マルチプレクサ340
は、4個のスイッチング素子710a、710b、710c、710dか
ら構成されており、各スイッチング素子はsose信号720
a、720bと反転されたsose信号(/sose)により制御され
る。
【0031】スイッチング素子710a、710bは、第1バッ
ファ342に接続され、スイッチング素子710c、710dは、
第2バッファ344に接続される。第1バッファ342は、rdo
レジスタ350から出力されるデータを一時貯蔵し、第2バ
ッファ344は、fdoレジスタ360から出力されるデータを
一時貯蔵する。
【0032】第1及び第4スイッチング素子710a、710dの
入力端は、偶数レジスタの出力端に接続され、第2及び
第3スイッチング素子710b、710cの入力端は、奇数レジ
スタの出力端に接続される。また第1及び第2スイッチン
グ素子710a、710bの出力端は、第1バッファ342の入力端
に接続され、第3及び第4スイッチング素子710c、710dの
出力端は第2バッファ344の入力端に接続される。
【0033】sose信号720a、720bが入力されて第1スイ
ッチング素子710a及び第3スイッチング素子710cが動作
する場合、偶数レジスタ320に貯蔵された偶数データは
第1バッファ342に出力され、奇数レジスタ330に貯蔵さ
れた奇数データは第2バッファ344に出力される。
【0034】これに対し、反転されたsose信号(/sose)7
30a、730bが入力されて第2スイッチング素子710b及び第
4スイッチング素子710dが動作する場合、偶数レジスタ3
20に貯蔵された偶数データは第2バッファ344に出力さ
れ、奇数レジスタ330に貯蔵された奇数データは第1バッ
ファ342に出力される。
【0035】即ち、sose信号に応じて、出力ドライバー
370からデータ(DQ)として偶数データが先に出力され
るか、奇数データが先に出力されるかが決定される。
【0036】sose信号は、sose信号発生器530で生成さ
れる。図4及び図5に示すように、sose信号発生器530
は、CASレイテンシ信号(CAS latency)453、読出し信
号(read)451、ca<0>信号454、rclk信号541、fclk信号
542を取り込んで、sose信号345-0〜345-nを生成する。
ここで、ca<0>信号454は、カラムアドレスバッファ430
から出力された内部カラムアドレスca<0:n>の下位ビッ
トである。このca<0>に応じてデータ出力時にスタート
アドレスが偶数(ca<0>="low")であるのか、または奇数
(ca<0>="high")であるのかが決定される。ca<0>以外のc
a<1:n>信号は、内部クロック信号(iclk)456に同期して
偶数バンク方向に向かったYi信号165a、及び奇数バンク
方向に向かったYj信号165bをイネーブルさせる。各ビッ
トライン感知増幅器210a、210bにより増幅された偶数及
び奇数データは、各々Yi及びYj信号に応答してローカル
入出力ラインに載せられることとなる。感知増幅器220
a、220bにより再び増幅された偶数データ及び奇数デー
タは、各々偶数グローバル入出力ライン230a及び奇数グ
ローバル入出力ライン230bに載せられることとなる。
【0037】各々偶数レジスタ320-0〜320-n及び奇数レ
ジスタ330-0〜330-nに貯蔵される偶数データ及び奇数デ
ータは、CASレイテンシ信号453及びca<0>信号454に含ま
れた情報を利用してsose信号345-0〜345-nの制御に応じ
て、rdoレジスタ350及びfdoレジスタ360、またはfdoレ
ジスタ360及びrdoレジスタ350に伝達される。
【0038】例えば、CASレイテンシが2であって、カラ
ムアドレス(ca<0>)がロジックローであるならば、偶数
レジスタに貯蔵されたデータはrdoレジスタ350に伝達さ
れ、奇数レジスタに貯蔵されたデータはfdoレジスタ360
に伝達される。カラムアドレス(ca<0>)がロジックハイ
であるならば、奇数レジスタに貯蔵されたデータはrdo
レジスタ350に伝達され、偶数レジスタに貯蔵されたデ
ータはfdoレジスタ360に伝達される。
【0039】CASレイテンシが2.5である場合には、カラ
ムアドレス(ca<0>)がロジックローであるならば、偶数
レジスタに貯蔵されたデータはfdoレジスタ360に伝達さ
れ、奇数レジスタに貯蔵されたデータはrdoレジスタ350
に伝達される。カラムアドレス(ca<0>)がロジックハイ
であるならば、奇数レジスタに貯蔵されたデータはfdo
レジスタ360に伝達され、偶数レジスタに貯蔵されたデ
ータはrdoレジスタ350に伝達される。
【0040】この場合、従来のパイプライン技術(pipel
ine technique)が適用された同期式メモリと同様に、複
数の奇数レジスタ及び偶数レジスタに貯蔵されたデータ
を順にrdoレジスタ及びfdoレジスタに伝達するために、
rpout信号及びfpout信号が必要である。
【0041】図6に示したように、rpout信号 355-0〜35
5-nは、rpout_en信号 552及び遅延固定ループ回路(DL
L) 510の出力信号fclk 542が入力され、rpout信号発生
器610によって生成される。同様に、fpout信号 365-0〜
365-nは、fpout_en信号 553及び遅延固定ループ回路(D
LL) 510の出力信号rclk 541が入力され、fpout信号発生
器620によって生成される。rpout_en信号552及びfpout
_en信号553は、データ出力制御器520によって生成さ
れ、CASレイテンシとバースト長の情報を含んでいる信
号である。
【0042】図8はrpout信号発生器を示す回路図であ
る。
【0043】図8に示したように、rpout信号発生器は、
NANDゲート810、インバータ820、シフトレジスタ840か
ら構成される。NANDゲート810は、fclk信号542とrpout
_en信号552を取り込んで出力信号を生成する。この出
力信号は、インバータ820に入力されて反転された信号r
pout_inc信号830として出力される。rpout_inc信号83
0が、シフトレジスタ840に入力され、rpout_en信号552
によってイネーブルされることによって、複数のrpout
信号(rpout<0:n>)355-0〜355-nが生成される。
【0044】図6に示すように、fpout信号もrpout信号
を発生する過程と同様に生成される。この場合、複数の
fpout信号365-0〜365-nは、fpout信号発生器620に入力
されるfpout_en信号553及びrclk信号541を利用して生
成される。
【0045】図9は、CASレイテンシが2であって、バー
スト長が2であるDDR同期式メモリにおけるデータ出力の
状態を示すタイミングチャートである。
【0046】rclk信号は外部クロック信号の立ち上がり
エッジに同期して発生し、fclk信号は外部クロック信号
の立ち下がりエッジに同期して発生する。
【0047】rpout_en信号に応答して、fclk信号に同
期されたrpout_inc信号によりrpout信号(rpout<0:n
>)が発生し、fpout_en信号に応答して、rclk信号に同
期をされたfpout_inc信号によりfpout信号(fpout<0:n
>)が発生する。
【0048】rdo_en信号に応答して、rclk_do信号がr
clk信号に同期して発生し、このrclk_do信号が活性化
された直後にrdoレジスタにラッチされたデータが出力
ドライバーを介して出力される。
【0049】また、fdo_en信号に応答して、fclk_do
信号がfclk信号に同期して発生し、このfclk_do信号が
活性化された直後にfdoレジスタにラッチされたデータ
が出力ドライバーを介して出力される。
【0050】
【発明の効果】以上で詳述した本発明に係る同期式メモ
リのデータ出力装置は、200MHz以上の高速で動作するDD
R同期式メモリ装置にも適用可能であり、またデータ出
力装置の回路構成が簡単となることから連続的なデータ
出力に起因した電力損失を低減することが可能となる利
点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来技術のデータ出力装置が含まれた同期式
メモリ装置を示す回路図である。
【図2】 従来技術の同期式メモリのデータ出力に関す
るタイミングチャートである。
【図3a】 図3bと合わせることによって、本発明に
係るデータ出力装置を備えるDDR同期式メモリ装置を示
す回路図である。
【図3b】 図3aと合わせることによって、本発明に
係るデータ出力装置を備えるDDR同期式メモリ装置を示
す回路図である。
【図4】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置に備えら
れた命令デコーダ、モードレジスタ、カラムアドレスバ
ッファ、クロックバッファにおける信号の入出力関係を
示す図である。
【図5】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置に備えら
れた遅延固定ループ回路(DLL)、データ出力制御器、sos
e信号発生器における信号の入出力関係を示す図であ
る。
【図6】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置に備えら
れたrpout信号発生器、fpout信号発生器における信号の
入出力関係を示す図である。
【図7】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置に備えら
れたマルチプレクサを示す回路図である。
【図8】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置に備えら
れたrpout信号発生器を示す回路図である。
【図9】 本発明に係るDDR同期式メモリ装置における
データ出力を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
100、402 クロック信号の入力端 101、400 命令信号(Command)の入力端 102、401 アドレス信号(Address)の入力端 211、211a、211b ビットライン 212、212a、212b ワードライン 213、213a、213b トランジスタ 214、214a、214b セルキャパシタ 215、215a、215b、216、216a、21
6b トランジスタ 290、380 データの出力端 342 第1バッファ 344 第2バッファ

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同期式メモリ装置のデータ出力装置にお
    いて、 選択された偶数バンクに接続された第1感知増幅器から
    出力された偶数データを順に貯蔵するための第1貯蔵手
    段と、 選択された奇数バンクに接続された第2感知増幅器から
    出力された奇数データを順に貯蔵するための第2貯蔵手
    段と、 前記偶数データ及び前記奇数データが同時に入力される
    前記第1貯蔵手段及び前記第2貯蔵手段に接続された選択
    手段と、 クロック信号の立ち上がりエッジに同期して前記偶数デ
    ータ及び前記奇数データのいずれか1つを貯蔵及び出力
    する第3貯蔵手段と、 クロック信号の立ち下がりエッジに同期して前記偶数デ
    ータ及び前記奇数データのいずれか1つを貯蔵及び出力
    する第4貯蔵手段と、 前記第3貯蔵手段から入力されたデータ及び前記第4貯蔵
    手段から入力されたデータを出力するデータ出力手段と
    を備えることを特徴とする同期式メモリ装置のデータ出
    力装置。
  2. 【請求項2】 前記第1貯蔵手段は、 データ出力制御回路において生成された複数の入力制御
    信号に応答して前記偶数データを順に取り込んで貯蔵す
    る複数の偶数レジスタと、 前記第1感知増幅器と前記複数の偶数レジスタとの間に
    接続された、前記複数の入力制御信号に応答してスイッ
    チング動作をする第1グループのスイッチ素子とを備え
    ることを特徴とする請求項1に記載の同期式メモリ装置
    のデータ出力装置。
  3. 【請求項3】 前記データ出力制御回路の出力信号は、
    第1イネーブル信号、第2イネーブル信号、第3イネーブ
    ル信号、第4イネーブル信号、第1出力制御信号及び第2
    出力制御信号を備えることを特徴とする請求項2に記載
    の同期式メモリ装置のデータ出力装置。
  4. 【請求項4】 前記第2貯蔵手段は、 データ出力制御回路において生成された前記複数の入力
    制御信号に応答して前記奇数データを順に取り込んで貯
    蔵する複数の奇数レジスタと、 前記第2感知増幅器と前記複数の奇数レジスタとの間に
    接続された、前記複数の入力制御信号に応答してスイッ
    チング動作をする第2グループのスイッチ素子とを備え
    ることを特徴とする請求項1に記載の同期式メモリ装置
    のデータ出力装置。
  5. 【請求項5】 前記選択手段は、 第1信号発生回路により生成された優先順位制御信号に
    応答する第1スイッチング素子及び第2スイッチング素
    子、反転された優先順位制御信号に応答する第3スイッ
    チング素子及び第4スイッチング素子を備え、前記クロ
    ック信号の立ち上がりエッジに応答して前記偶数データ
    と前記奇数データの内、いずれのデータが出力されるか
    を決定する複数のマルチプレックシング装置と、 第1バッファ及び第2バッファを備え、前記複数のマルチ
    プレックシング装置から入力された前記偶数データ及び
    前記奇数データを貯蔵して前記第3貯蔵手段及び前記第4
    貯蔵手段に出力する複数の貯蔵ユニットとを備えること
    を特徴とする請求項1に記載の同期式メモリ装置のデー
    タ出力装置。
  6. 【請求項6】 前記第1スイッチング素子及び前記第4ス
    イッチング素子の入力端は前記偶数レジスタの出力端に
    接続され、前記第2スイッチング素子及び前記第3スイッ
    チング素子の入力端は前記奇数レジスタの出力端に接続
    され、前記第1スイッチング素子及び第3スイッチング素
    子の出力端は互いに接続されて前記第1バッファの入力
    端に接続され、前記2スイッチング素子及び第4スイッチ
    ング素子の出力端は互いに接続されて前記第2バッファ
    の入力端に接続されることを特徴とする請求項5に記載
    の同期式メモリ装置のデータ出力装置。
  7. 【請求項7】 前記第3貯蔵手段は、 第1NANDゲート、第1インバータ、第1ラッチ及びスイッ
    チング回路から構成される第2信号発生回路により生成
    された複数の第1制御信号に応答して、前記偶数データ
    及び前記奇数データの内のいずれか1つを出力する第3
    グループのスイッチング素子と、 前記偶数データ及び前記奇数データの内のいずれか1つ
    を貯蔵する第1レジスタとを備えることを特徴とする請
    求項1に記載の同期式メモリ装置のデータ出力装置。
  8. 【請求項8】 第4貯蔵手段は、 第2NANDゲート、第2インバータ、第2ラッチ及びスイ
    ッチング回路から構成される第3信号発生回路により生
    成された複数の第2制御信号に応答して、前記偶数デー
    タ及び前記奇数データの内のいずれか1つを出力する第
    4グループのスイッチング素子と、 前記偶数データ及び前記奇数データのいずれか1つを貯
    蔵する第2レジスタとを備えることを特徴とする請求項
    1に記載の同期式メモリ装置のデータ出力装置。
  9. 【請求項9】 前記データ出力手段は、 前記データ出力制御回路から生成された第1出力制御信
    号に応答して前記第1レジスタから入力されたデータを
    出力する第5スイッチング素子と、 前記データ出力制御回路から生成された第2出力制御信
    号に応答して前記第2レジスタから入力されたデータを
    出力する第6スイッチング素子と、 前記第1レジスタ及び前記第2レジスタの各々から入力
    された前記偶数データ及び前記奇数データ、または前記
    第2レジスタ及び前記制1レジスタの各々から入力され
    た前記偶数データ及び前記奇数データを前記メモリ装置
    の外部に出力する出力ドライバーとを備えることを特徴
    とする請求項1に記載の同期式メモリ装置のデータ出力
    装置。
  10. 【請求項10】 前記入力制御信号は、前記データ出力
    回路から生成され、前記外部クロック信号の立ち上がり
    エッジ及び立ち下がりエッジに各々同期化される第1内
    部クロック信号及び第2内部クロック信号を備えること
    を特徴とする請求項2に記載の同期式メモリ装置のデー
    タ出力装置。
  11. 【請求項11】 CASレイテンシ=2であり、スタートア
    ドレスがロジックローである場合、前記第1スイッチン
    グ素子及び前記第2スイッチング素子が作動することを
    特徴とする請求項5に記載の同期式メモリ装置のデータ
    出力装置。
  12. 【請求項12】 CASレイテン=2であり、スタートアド
    レスがロジックハイである場合、前記第3スイッチング
    素子及び前記第4スイッチング素子が作動することを特
    徴とする請求項5に記載の同期式メモリ装置のデータ出
    力装置。
  13. 【請求項13】 CASレイテンシ=2.5であり、スタート
    アドレスがロジックローである場合、前記第3スイッチ
    ング素子及び前記第4スイッチング素子が作動すること
    を特徴とする請求項5に記載の同期式メモリ装置のデー
    タ出力装置。
  14. 【請求項14】 CASレイテンシ=2.5であり、スタート
    アドレスがロジックハイである場合、前記第1スイッチ
    ング素子及び前記第2スイッチング素子が作動すること
    を特徴とする請求項5に記載の同期式メモリ装置のデー
    タ出力装置。
  15. 【請求項15】 前記第1制御信号は、前記第1イネー
    ブル信号に応答して前記第1NANDゲートに入力された前
    記第2内部クロック信号をナンド処理し、前記第1NAND
    ゲートの出力を前記第1インバータによって反転され、
    前記第1イネーブル信号に応答して前記第1ラッチ及び
    スイッチング回路に入力された前記第1インバータの出
    力信号をラッチ及びスイッチングすることによって生成
    されることを特徴とする請求項7に記載の同期式メモリ
    装置のデータ出力装置。
  16. 【請求項16】 前記第2制御信号は、前記第2イネー
    ブル信号に応答して前記第2NANDゲートに入力された前
    記第1内部クロック信号をナンド処理し、前記第2NAND
    ゲートの出力を前記第2インバータによって反転され、
    前記第2イネーブル信号に応答して前記第2ラッチ及び
    スイッチング回路に入力された前記第2インバータの出
    力信号をラッチ及びスイッチングすることによって生成
    されることを特徴とする請求項8に記載の同期式メモリ
    装置のデータ出力装置。
  17. 【請求項17】 前記第1出力制御信号は、前記データ
    出力制御回路から出力された第3イネーブル信号に応答
    して前記第1内部クロック信号に同期して生成されるこ
    とを特徴とする請求項9に記載の同期式メモリ装置のデ
    ータ出力装置。
  18. 【請求項18】 前記第2出力制御信号は、前記データ
    出力制御回路から出力された第4イネーブル信号に応答
    して前記第2内部クロック信号に同期して生成されるこ
    とを特徴とする請求項9に記載の同期式メモリ装置のデ
    ータ出力装置。
  19. 【請求項19】 前記偶数データが前記第1レジスタに
    よりラッチされ、前記奇数データが前記第2レジスタに
    よりラッチされた場合、前記出力ドライバーは、次の読
    み出し動作の前に前記外部クロック信号の1周期の間、
    前記外部クロック信号の立ち上がりエッジから前記偶数
    データを、前記外部クロック信号の立ち下がりエッジか
    ら前記奇数データを外部に出力することを特徴とする請
    求項9に記載の同期式メモリ装置のデータ出力装置。
  20. 【請求項20】 前記奇数データが前記第1レジスタに
    よりラッチされ、前記偶数データが前記第2レジスタに
    よりラッチされた場合、前記出力ドライバーは、次の読
    み出し動作の前に前記外部クロック信号の1周期の間、
    前記外部クロック信号の立ち上がりエッジから前記奇数
    データを、前記外部クロック信号の立ち下がりエッジか
    ら前記偶数データを外部に出力することを特徴とする請
    求項9に記載の同期式メモリ装置に含まれたデータ出力
    装置。
  21. 【請求項21】 前記偶数データは前記第1出力制御信
    号がハイに活性化された直後に出力され、前記奇数デー
    タは前記第2出力制御信号がハイに活性化された直後に
    出力されることを特徴とする請求項19に記載の同期式
    メモリ装置のデータ出力装置。
  22. 【請求項22】 前記奇数データは前記第1出力制御信
    号がハイに活性化された直後に出力され、前記偶数デー
    タは前記第2出力制御信号がハイに活性化された直後に
    出力されることを特徴とする請求項20に記載の同期式
    メモリ装置のデータ出力装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003281887A (ja) * 2001-11-07 2003-10-03 Samsung Electronics Co Ltd 同期式半導体メモリ装置及びウェーブパイプラインの制御方法
JP2004171743A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Samsung Electronics Co Ltd 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法
JP2004171738A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Hynix Semiconductor Inc 高速データの出力のためのパイプラッチ回路
JP2005129210A (ja) * 2003-10-22 2005-05-19 Samsung Electronics Co Ltd 半導体メモリ装置とそのタイミング制御方法
JP2007122706A (ja) * 2005-10-01 2007-05-17 Samsung Electronics Co Ltd メモリマッピング方法及び装置
JP2009015953A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Elpida Memory Inc アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2009015952A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Elpida Memory Inc アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
US7558127B2 (en) 2002-11-18 2009-07-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Data output circuit and method in DDR synchronous semiconductor device

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6512374B1 (en) 1999-04-26 2003-01-28 Medrad, Inc. MR local imaging coil operable as a receive only or a transmit/receive coil
US6918016B1 (en) * 2001-07-17 2005-07-12 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble
KR100452328B1 (ko) * 2002-07-31 2004-10-12 삼성전자주식회사 동기식 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로
KR100484249B1 (ko) * 2002-08-07 2005-04-22 주식회사 하이닉스반도체 고속데이터 출력을 위한 동기식 메모리 장치의 파이프래치회로 및 그를 이용한 동기식 메모리 장치
KR100532956B1 (ko) * 2003-06-28 2005-12-01 주식회사 하이닉스반도체 Ddr sdram에서의 링잉 현상 방지 방법
KR100540487B1 (ko) * 2003-10-31 2006-01-10 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력제어회로
KR100562661B1 (ko) 2004-10-29 2006-03-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 소세브신호 발생회로 및 방법
JP2008536236A (ja) * 2005-04-13 2008-09-04 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) コンピュータシステムにおけるデータ値の整合性(コヒーレンス:coherence)
US7385860B2 (en) * 2005-06-10 2008-06-10 Hynix Semiconductor Inc. Data output circuit of synchronous memory device
KR100757925B1 (ko) * 2006-04-05 2007-09-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 데이터 출력 장치 및 제어방법
KR100990140B1 (ko) * 2007-09-28 2010-10-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자
KR102133370B1 (ko) 2013-10-07 2020-07-14 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그를 포함하는 반도체 시스템

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4961162A (en) * 1989-01-13 1990-10-02 International Business Machines Corporation Multiprocessing system for performing floating point arithmetic operations
US6094532A (en) * 1997-03-25 2000-07-25 Sun Microsystems, Inc. Multiprocessor distributed memory system and board and methods therefor
KR100213241B1 (ko) 1997-06-23 1999-08-02 윤종용 데이터 입출력 회로 및 데이터 입출력 방법
JP3386705B2 (ja) 1997-12-25 2003-03-17 株式会社東芝 半導体記憶装置およびそのバーストアドレスカウンタ
KR100278653B1 (ko) 1998-01-23 2001-02-01 윤종용 이중 데이터율 모드 반도체 메모리 장치
US6064600A (en) 1999-03-01 2000-05-16 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for reading memory device register data
JP3289701B2 (ja) * 1999-04-12 2002-06-10 日本電気株式会社 半導体記憶装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003281887A (ja) * 2001-11-07 2003-10-03 Samsung Electronics Co Ltd 同期式半導体メモリ装置及びウェーブパイプラインの制御方法
JP2004171743A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Samsung Electronics Co Ltd 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法
US7558127B2 (en) 2002-11-18 2009-07-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Data output circuit and method in DDR synchronous semiconductor device
JP4607444B2 (ja) * 2002-11-18 2011-01-05 三星電子株式会社 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法
JP2004171738A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Hynix Semiconductor Inc 高速データの出力のためのパイプラッチ回路
JP4544609B2 (ja) * 2002-11-20 2010-09-15 株式会社ハイニックスセミコンダクター 高速データの出力のためのパイプラッチ回路
JP2005129210A (ja) * 2003-10-22 2005-05-19 Samsung Electronics Co Ltd 半導体メモリ装置とそのタイミング制御方法
JP2007122706A (ja) * 2005-10-01 2007-05-17 Samsung Electronics Co Ltd メモリマッピング方法及び装置
JP2009015953A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Elpida Memory Inc アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2009015952A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Elpida Memory Inc アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム

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