JP2001185317A - コネクタ検査具 - Google Patents
コネクタ検査具Info
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- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/20—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for assembling or disassembling contact members with insulating base, case or sleeve
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
- G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検査具本体における検知ピンのがたつきをな
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができるようにする。 【解決手段】 ブロック体３１に複数の検知ピン４０を
進退自在に収容した検査具本体３０を有し、検査対象と
なるコネクタの各端子収容室に、各検知ピン４０を挿入
することにより、各端子収容室内の端子の挿入不良の有
無を検査するコネクタ検査具において、水平な第一長孔
３１ｂと垂直な第二長孔３２ａを直交させることによっ
て、検査具本体３０に複数の矩形開口部３３を形成し、
これら矩形開口部３３に検知ピン４０を挿通することに
より、これら検知ピン４０の縦横方向の移動を制限した
構成としてある。
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができるようにする。 【解決手段】 ブロック体３１に複数の検知ピン４０を
進退自在に収容した検査具本体３０を有し、検査対象と
なるコネクタの各端子収容室に、各検知ピン４０を挿入
することにより、各端子収容室内の端子の挿入不良の有
無を検査するコネクタ検査具において、水平な第一長孔
３１ｂと垂直な第二長孔３２ａを直交させることによっ
て、検査具本体３０に複数の矩形開口部３３を形成し、
これら矩形開口部３３に検知ピン４０を挿通することに
より、これら検知ピン４０の縦横方向の移動を制限した
構成としてある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタ内の端子
の挿入不良を検知するコネクタ検査具に関し、特に、検
査具本体における検知ピンのがたつきをなくし、該検知
ピン等の破損防止を図ったコネクタ検査具に関する。
の挿入不良を検知するコネクタ検査具に関し、特に、検
査具本体における検知ピンのがたつきをなくし、該検知
ピン等の破損防止を図ったコネクタ検査具に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のコネクタ検査具について、図３〜
図５を参照しつつ説明する。図３は従来のコネクタ検査
具を示す斜視図である。また、図４（ａ），（ｂ）は上
記従来のコネクタ検査具の検査動作を示す断面図であ
る。さらに、図５（ａ），（ｂ）は図４（ａ），（ｂ）
の拡大図である。
図５を参照しつつ説明する。図３は従来のコネクタ検査
具を示す斜視図である。また、図４（ａ），（ｂ）は上
記従来のコネクタ検査具の検査動作を示す断面図であ
る。さらに、図５（ａ），（ｂ）は図４（ａ），（ｂ）
の拡大図である。
【０００３】図３において、１００は従来のコネクタ検
査具であり、主として、基台１０に平行に設けた二本の
ガイドシャフト５０，５０に、ホルダ２０と検査具本体
３００を摺動自在に取り付けた構成となっている。
査具であり、主として、基台１０に平行に設けた二本の
ガイドシャフト５０，５０に、ホルダ２０と検査具本体
３００を摺動自在に取り付けた構成となっている。
【０００４】ホルダ２０は、検査対象となるコネクタ８
０のハウジング８１を保持する枠状となっており、各ガ
イドシャフト５０に挿通した二つのスプリング６０，６
０によって検査具本体３００側に付勢されている。
０のハウジング８１を保持する枠状となっており、各ガ
イドシャフト５０に挿通した二つのスプリング６０，６
０によって検査具本体３００側に付勢されている。
【０００５】同図及び図４（ａ）に示すように、検査具
本体３００には、コネクタ８０のハウジング８１の先端
側に嵌合する凹状の嵌合部３０１と、コネクタ８０の各
端子収容室８２に対応する複数の貫通孔３０２とが設け
てある。
本体３００には、コネクタ８０のハウジング８１の先端
側に嵌合する凹状の嵌合部３０１と、コネクタ８０の各
端子収容室８２に対応する複数の貫通孔３０２とが設け
てある。
【０００６】図５（ａ）に示すように、検査具本体３０
０の各貫通孔３０２には、検知ピン４０が収容してあ
る。各検知ピン４０の先端側には、導通検知部４０ａと
挿入不良検知部４０ｂとが設けてあり、各検知ピン４０
は、スプリング４１によってホルダ２０側に付勢されて
いる。
０の各貫通孔３０２には、検知ピン４０が収容してあ
る。各検知ピン４０の先端側には、導通検知部４０ａと
挿入不良検知部４０ｂとが設けてあり、各検知ピン４０
は、スプリング４１によってホルダ２０側に付勢されて
いる。
【０００７】このような構成の検査具本体３００は、図
４（ａ），（ｂ）に示すように、操作レバー７０によっ
て前後に進退可能となっている。
４（ａ），（ｂ）に示すように、操作レバー７０によっ
て前後に進退可能となっている。
【０００８】図３及び図５（ａ）に示すように、コネク
タ８０は、ハウジング８１内に複数の前記端子収容室８
２を有し、各端子収容室内８２には、可撓性を有するラ
ンス８３が一体成形してある。
タ８０は、ハウジング８１内に複数の前記端子収容室８
２を有し、各端子収容室内８２には、可撓性を有するラ
ンス８３が一体成形してある。
【０００９】各端子収容室８２に端子８４を挿入する
と、該端子８４に設けた切欠部８４ａにランス８３が係
合し、端子８４が端子収容室８２に保持される。但し、
端子収容室８２に端子８４が完全に挿入されていない、
すなわち、端子８４の挿入不良があった場合は、図５
（ｂ）に示すように、ランス８３が端子８４の切欠部８
４ａに係合しない状態となる。
と、該端子８４に設けた切欠部８４ａにランス８３が係
合し、端子８４が端子収容室８２に保持される。但し、
端子収容室８２に端子８４が完全に挿入されていない、
すなわち、端子８４の挿入不良があった場合は、図５
（ｂ）に示すように、ランス８３が端子８４の切欠部８
４ａに係合しない状態となる。
【００１０】なお、検知ピン４０及び端子８４に接続さ
れた電線４２，８５（図３参照）は、図示しないチェッ
カに接続してあり、作業者は、該チェッカによって、端
子８４の挿入不良や導通不良の有無を確認している。
れた電線４２，８５（図３参照）は、図示しないチェッ
カに接続してあり、作業者は、該チェッカによって、端
子８４の挿入不良や導通不良の有無を確認している。
【００１１】次に、図４（ａ），（ｂ）及び図５
（ａ），（ｂ）を参照しつつ、従来のコネクタ検査具１
００による検査動作について説明する。
（ａ），（ｂ）を参照しつつ、従来のコネクタ検査具１
００による検査動作について説明する。
【００１２】図４（ａ）及び図５（ａ）において、コネ
クタ検査具１００のホルダ２０にコネクタ８０をセット
し、操作レバー７０を操作して、検査具本体３００をコ
ネクタ８０側に移動させる。
クタ検査具１００のホルダ２０にコネクタ８０をセット
し、操作レバー７０を操作して、検査具本体３００をコ
ネクタ８０側に移動させる。
【００１３】すると、図４（ｂ）及び図５（ｂ）に示す
ように、検査具本体３００の嵌合部３０１にコネクタ８
０の先端側が嵌合し、該コネクタ８０の各端子収容室８
２に各検知ピン４０が挿入される。
ように、検査具本体３００の嵌合部３０１にコネクタ８
０の先端側が嵌合し、該コネクタ８０の各端子収容室８
２に各検知ピン４０が挿入される。
【００１４】ここで、端子収容室８２に端子８４が完全
に挿入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知
部４０ｂがランス８３の下に入り込み、これによって、
該検知ピン４０の導通検知部４０ａが端子８４と接触
し、前記チェッカがランプ等を点灯させて導通を表示す
る。
に挿入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知
部４０ｂがランス８３の下に入り込み、これによって、
該検知ピン４０の導通検知部４０ａが端子８４と接触
し、前記チェッカがランプ等を点灯させて導通を表示す
る。
【００１５】また、端子収容室８２に端子８４が不良挿
入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知部４
０ｂがランス８３に当接し、これによって、該検知ピン
４０の導通検知部４０ａが端子８４に接触できず、前記
チェッカがランプ等を点灯させないことにより非導通を
表示する。
入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知部４
０ｂがランス８３に当接し、これによって、該検知ピン
４０の導通検知部４０ａが端子８４に接触できず、前記
チェッカがランプ等を点灯させないことにより非導通を
表示する。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来のコネクタ検査具１００では、図６に示すように、矩
形の検知ピン４０に対して、検査具本体３００の貫通孔
３０２がこれより若干大きい長円状となっていたため、
該貫通孔３０２の円弧部分で検知ピン４０のがたつきが
生じ、検査具本体３００とコネクタ８０を嵌合させたと
きに、検知ピン４０がハウジング８１に衝突して、これ
らの一方又は両方が破損してしまうという問題があっ
た。
来のコネクタ検査具１００では、図６に示すように、矩
形の検知ピン４０に対して、検査具本体３００の貫通孔
３０２がこれより若干大きい長円状となっていたため、
該貫通孔３０２の円弧部分で検知ピン４０のがたつきが
生じ、検査具本体３００とコネクタ８０を嵌合させたと
きに、検知ピン４０がハウジング８１に衝突して、これ
らの一方又は両方が破損してしまうという問題があっ
た。
【００１７】このような問題は、検査具本体３００の貫
通孔３０２を、検知ピン４０と同じ矩形とすれば解決で
きる。しかし、検査具本体３００の貫通孔３０２は、エ
ンドミルなどの回転刃によって切削形成することが一般
的であるため、このような工具によって、矩形の貫通孔
３０２を形成することは不可能であった。
通孔３０２を、検知ピン４０と同じ矩形とすれば解決で
きる。しかし、検査具本体３００の貫通孔３０２は、エ
ンドミルなどの回転刃によって切削形成することが一般
的であるため、このような工具によって、矩形の貫通孔
３０２を形成することは不可能であった。
【００１８】また、従来は、検査具本体３００に複数の
貫通孔３０２を一つずつ切削形成していたため、各貫通
孔３０２の位置的な精度が低く、これが検知ピン４０と
ハウジング８１の衝突をまねくという問題もあった。
貫通孔３０２を一つずつ切削形成していたため、各貫通
孔３０２の位置的な精度が低く、これが検知ピン４０と
ハウジング８１の衝突をまねくという問題もあった。
【００１９】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、検査具本体における検知ピンのがたつきをな
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができるコネクタ検査具の提供を目
的とする。
のであり、検査具本体における検知ピンのがたつきをな
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができるコネクタ検査具の提供を目
的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載のコネクタ検査具は、ブロック体に複
数の検知ピンを進退自在に収容した検査具本体を有し、
検査対象となるコネクタの各端子収容室に、各検知ピン
を挿入することにより、各端子収容室内の端子の挿入不
良の有無を検査するコネクタ検査具において、垂直な長
孔と水平な長孔を直交させることによって、前記検査具
本体に複数の矩形開口部を形成し、これら矩形開口部に
前記検知ピンを挿通することにより、これら検知ピンの
縦横方向の移動を制限した構成としてある。
に、請求項１記載のコネクタ検査具は、ブロック体に複
数の検知ピンを進退自在に収容した検査具本体を有し、
検査対象となるコネクタの各端子収容室に、各検知ピン
を挿入することにより、各端子収容室内の端子の挿入不
良の有無を検査するコネクタ検査具において、垂直な長
孔と水平な長孔を直交させることによって、前記検査具
本体に複数の矩形開口部を形成し、これら矩形開口部に
前記検知ピンを挿通することにより、これら検知ピンの
縦横方向の移動を制限した構成としてある。
【００２１】このような構成によれば、垂直な長孔と水
平な長孔を直交させることによって、たとえ、これら長
孔の両端が円弧状となっていても、検知ピンの外形に対
応した複数の矩形開口部を形成することができる。
平な長孔を直交させることによって、たとえ、これら長
孔の両端が円弧状となっていても、検知ピンの外形に対
応した複数の矩形開口部を形成することができる。
【００２２】該矩形開口部に検知ピンを挿通することに
より、検知ピンの縦横方向の移動が制限され、がたつき
をなくすことができる。これによって、検知ピンとコネ
クタハウジングの衝突による破損を確実に防止すること
ができる。
より、検知ピンの縦横方向の移動が制限され、がたつき
をなくすことができる。これによって、検知ピンとコネ
クタハウジングの衝突による破損を確実に防止すること
ができる。
【００２３】また、垂直な長孔と水平な長孔を直交させ
ることによって、複数の矩形開口部を形成しているの
で、検知ピンを収容する貫通孔を一つずつ穿設していた
従来技術に比べ、これら矩形開口部の位置的な精度を大
幅に向上させることができ、これによっても、検知ピン
等の破損防止を図ることができる。
ることによって、複数の矩形開口部を形成しているの
で、検知ピンを収容する貫通孔を一つずつ穿設していた
従来技術に比べ、これら矩形開口部の位置的な精度を大
幅に向上させることができ、これによっても、検知ピン
等の破損防止を図ることができる。
【００２４】好ましくは、請求項２記載のコネクタ検査
具のように、前記検査具本体を形成するブロック体に、
垂直又は水平な第一長孔を複数平行に穿設し、該ブロッ
ク体の第一長孔の開口面に、水平又は垂直な第二長孔を
複数平行に穿設したプレートを取り付けることによっ
て、これら第一及び第二長孔を直交させ、複数の前記矩
形開口部を形成した構成とする。
具のように、前記検査具本体を形成するブロック体に、
垂直又は水平な第一長孔を複数平行に穿設し、該ブロッ
ク体の第一長孔の開口面に、水平又は垂直な第二長孔を
複数平行に穿設したプレートを取り付けることによっ
て、これら第一及び第二長孔を直交させ、複数の前記矩
形開口部を形成した構成とする。
【００２５】このような構成によれば、既存のブロック
体又はプレートを、第一又は第二長孔の数が異なる他の
ブロック体又はプレートに交換することにより、端子数
の異なる多種類のコネクタの検査に容易に対応すること
ができる。
体又はプレートを、第一又は第二長孔の数が異なる他の
ブロック体又はプレートに交換することにより、端子数
の異なる多種類のコネクタの検査に容易に対応すること
ができる。
【００２６】好ましくは、請求項３記載のコネクタ検査
具のように、前記ブロック体における前記第一長孔どう
しを仕切る壁部と、前記第二プレートにおける前記第二
長孔どうしを仕切る壁部とを、互いに直交かつ嵌合させ
ることによって、四つの壁面に囲まれた複数の前記矩形
開口部を形成した構成とする。
具のように、前記ブロック体における前記第一長孔どう
しを仕切る壁部と、前記第二プレートにおける前記第二
長孔どうしを仕切る壁部とを、互いに直交かつ嵌合させ
ることによって、四つの壁面に囲まれた複数の前記矩形
開口部を形成した構成とする。
【００２７】このような構成によれば、仕切壁（第一長
孔どうしを仕切る壁部、及び、第二長孔どうしを仕切る
壁部）の四つの壁面に囲まれた矩形開口部を形成するこ
とができ、検知ピンをより安定した状態で保持すること
ができる。
孔どうしを仕切る壁部、及び、第二長孔どうしを仕切る
壁部）の四つの壁面に囲まれた矩形開口部を形成するこ
とができ、検知ピンをより安定した状態で保持すること
ができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】以下、本発明のコネクタ検査具の
一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００２９】なお、本発明のコネクタ検査具は、検査具
本体の構成に特徴があり、その他の部分は従来と同様に
なっているため、検査具本体以外の構成要素の詳細な説
明は省略する。
本体の構成に特徴があり、その他の部分は従来と同様に
なっているため、検査具本体以外の構成要素の詳細な説
明は省略する。
【００３０】図１は本発明の一実施形態に係るコネクタ
検査具の検査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正
面図，同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図
（ｃ）は同図（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。また、図２
（ａ）は上記検査具本体を構成するブロック体の正面
図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成するプレートの
正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレートを組み付け
た状態の正面図である。
検査具の検査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正
面図，同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図
（ｃ）は同図（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。また、図２
（ａ）は上記検査具本体を構成するブロック体の正面
図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成するプレートの
正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレートを組み付け
た状態の正面図である。
【００３１】図１（ａ）〜（ｃ）において、検査具本体
３０は、ブロック体３１と二枚のプレート３２，３２を
備えた構成となっている。
３０は、ブロック体３１と二枚のプレート３２，３２を
備えた構成となっている。
【００３２】図２（ａ）に示すように、ブロック体３１
の正面には、検査対象となるコネクタ８０（図３参照）
が嵌合する凹状の嵌合部３１ａが設けてある。
の正面には、検査対象となるコネクタ８０（図３参照）
が嵌合する凹状の嵌合部３１ａが設けてある。
【００３３】該嵌合部３１ａの奥には、ブロック体３１
の背面に貫通する水平な第一長孔３１ｂが複数平行に穿
設してある。なお、これら第一長孔３１ｂは、図示しな
いエンドミルなどの回転刃によって切削形成しているた
め、孔の両端が円弧状となっている。
の背面に貫通する水平な第一長孔３１ｂが複数平行に穿
設してある。なお、これら第一長孔３１ｂは、図示しな
いエンドミルなどの回転刃によって切削形成しているた
め、孔の両端が円弧状となっている。
【００３４】同図及び図１（ｃ）に示すように、これら
第一長孔３１ｂを区画する各仕切壁３１ｃの前後端に
は、プレート３２の各仕切壁３２ｂ（図２（ｂ）参照）
が嵌合する切欠部３１ｄがそれぞれ形成してある。
第一長孔３１ｂを区画する各仕切壁３１ｃの前後端に
は、プレート３２の各仕切壁３２ｂ（図２（ｂ）参照）
が嵌合する切欠部３１ｄがそれぞれ形成してある。
【００３５】図２（ｂ）に示すように、各プレート３２
には、垂直な第二長孔３２ａが複数平行に穿設してあ
る。なお、上述した第一長孔３１ｂと同様、第二長孔３
２ａもエンドミルなどの回転刃によって切削形成してい
るため、孔の両端が円弧状になっている。
には、垂直な第二長孔３２ａが複数平行に穿設してあ
る。なお、上述した第一長孔３１ｂと同様、第二長孔３
２ａもエンドミルなどの回転刃によって切削形成してい
るため、孔の両端が円弧状になっている。
【００３６】同図及び図１（ｂ），（ｃ）に示すよう
に、各プレート３２は、その仕切壁３２ｂを上述したブ
ロック体３１の仕切壁３１ｃ（切欠部３１ｄ）に嵌合さ
せることにより、第一長孔３１ｂの前後開口面にそれぞ
れ取り付けられる。
に、各プレート３２は、その仕切壁３２ｂを上述したブ
ロック体３１の仕切壁３１ｃ（切欠部３１ｄ）に嵌合さ
せることにより、第一長孔３１ｂの前後開口面にそれぞ
れ取り付けられる。
【００３７】このように、プレート３２をブロック体３
１に取り付けると、図１（ａ）及び図２（ｃ）に示すよ
うに、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔３２ａが
互いに直交し、検知ピン４０の外形に対応する複数の矩
形開口部３３が形成される。
１に取り付けると、図１（ａ）及び図２（ｃ）に示すよ
うに、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔３２ａが
互いに直交し、検知ピン４０の外形に対応する複数の矩
形開口部３３が形成される。
【００３８】ここで、上述した検査具本体３０の組み立
ては、まず、ブロック体３１に二枚のプレート３２，３
２をそれぞれ取り付けて、複数の矩形開口部３３を形成
し、次いで、各矩形開口部３３に検知ピン４０をそれぞ
れ挿通するといった手順を採っている。
ては、まず、ブロック体３１に二枚のプレート３２，３
２をそれぞれ取り付けて、複数の矩形開口部３３を形成
し、次いで、各矩形開口部３３に検知ピン４０をそれぞ
れ挿通するといった手順を採っている。
【００３９】このように、複数の矩形開口部３３を形成
してから、これら矩形開口部３３に各検知ピン４０を挿
通することにより、従来のような各検知ピン４０に個別
に対応する貫通孔３０２（図４（ａ）参照）がなくて
も、各検知ピン４０をスムーズに組み付けることができ
る。
してから、これら矩形開口部３３に各検知ピン４０を挿
通することにより、従来のような各検知ピン４０に個別
に対応する貫通孔３０２（図４（ａ）参照）がなくて
も、各検知ピン４０をスムーズに組み付けることができ
る。
【００４０】上記構成からなる本実施形態のコネクタ検
査具によれば、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔
３２ａを直交させることによって、たとえ、これら長孔
３１ｂ，３２ａの両端が円弧状となっていても、検知ピ
ン４０の外形に対応した複数の矩形開口部３３を形成す
ることができる。
査具によれば、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔
３２ａを直交させることによって、たとえ、これら長孔
３１ｂ，３２ａの両端が円弧状となっていても、検知ピ
ン４０の外形に対応した複数の矩形開口部３３を形成す
ることができる。
【００４１】該矩形開口部３３に検知ピン４０を挿通す
ることにより、検知ピン４０の縦横方向の移動が制限さ
れ、がたつきをなくすことができる。これによって、検
知ピン４０と、検査対象となるコネクタ８０のハウジン
グ８１（図３参照）の衝突による破損を確実に防止する
ことができる。
ることにより、検知ピン４０の縦横方向の移動が制限さ
れ、がたつきをなくすことができる。これによって、検
知ピン４０と、検査対象となるコネクタ８０のハウジン
グ８１（図３参照）の衝突による破損を確実に防止する
ことができる。
【００４２】また、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二
長孔３２ａを直交させることによって、複数の矩形開口
部３３を形成しているので、検知ピン４０を収容する貫
通孔３０２（図４（ａ）参照）を一つずつ穿設していた
従来技術に比べ、これら矩形開口部３３の位置的な精度
を大幅に向上させることができ、これによっても、検知
ピン４０等の破損防止を図ることができる。
長孔３２ａを直交させることによって、複数の矩形開口
部３３を形成しているので、検知ピン４０を収容する貫
通孔３０２（図４（ａ）参照）を一つずつ穿設していた
従来技術に比べ、これら矩形開口部３３の位置的な精度
を大幅に向上させることができ、これによっても、検知
ピン４０等の破損防止を図ることができる。
【００４３】さらに、図示した既存のブロック体３１又
はプレート３２を、第一又は第二長孔３１ｂ，３２ａの
数が異なる他のブロック体又はプレートに交換すること
により、端子数の異なる多種類のコネクタの検査に容易
に対応することができる。
はプレート３２を、第一又は第二長孔３１ｂ，３２ａの
数が異なる他のブロック体又はプレートに交換すること
により、端子数の異なる多種類のコネクタの検査に容易
に対応することができる。
【００４４】これに加え、本実施形態では、第一長孔３
１ｂの仕切壁３１ｃと、第二長孔３２ａの仕切壁３２ｂ
とを互いに嵌合させて、これら長孔３１ｂ，３２ａを直
交させているので、各仕切壁３１ｃ，３２ｂの四つの壁
面に囲まれた矩形開口部３３を形成することができ、検
知ピン４０をより安定した状態で保持することができ
る。
１ｂの仕切壁３１ｃと、第二長孔３２ａの仕切壁３２ｂ
とを互いに嵌合させて、これら長孔３１ｂ，３２ａを直
交させているので、各仕切壁３１ｃ，３２ｂの四つの壁
面に囲まれた矩形開口部３３を形成することができ、検
知ピン４０をより安定した状態で保持することができ
る。
【００４５】なお、本発明のコネクタ検査具は、上述し
た実施形態に限定されるものではない。例えば、検査具
本体３０を形成するブロック体３１に垂直な第一長孔を
形成し、プレート３２に水平な第二長孔を形成した構成
としてもよい。
た実施形態に限定されるものではない。例えば、検査具
本体３０を形成するブロック体３１に垂直な第一長孔を
形成し、プレート３２に水平な第二長孔を形成した構成
としてもよい。
【００４６】
【発明の効果】以上のように、本発明のコネクタ検査具
によれば、検査具本体における検知ピンのがたつきをな
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができる。
によれば、検査具本体における検知ピンのがたつきをな
くすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を
確実に防止することができる。
【図１】本発明の一実施形態に係るコネクタ検査具の検
査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正面図，同図
（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図（ｃ）は同図
（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。
査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正面図，同図
（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図（ｃ）は同図
（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。
【図２】同図（ａ）は上記検査具本体を構成するブロッ
ク体の正面図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成する
プレートの正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレート
を組み付けた状態の正面図である。
ク体の正面図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成する
プレートの正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレート
を組み付けた状態の正面図である。
【図３】従来のコネクタ検査具を示す斜視図である。
【図４】同図（ａ），（ｂ）は上記従来のコネクタ検査
具の検査動作を示す断面図である。
具の検査動作を示す断面図である。
【図５】同図（ａ），（ｂ）は図４（ａ），（ｂ）の拡
大図である。
大図である。
【図６】上記従来のコネクタ検査具における検知ピン
と、これを収容する貫通孔とを示す正面拡大図である。
と、これを収容する貫通孔とを示す正面拡大図である。
３０ 検査具本体 ３１ ブロック体 ３１ａ 嵌合部 ３１ｂ 第一長孔 ３１ｃ 仕切壁 ３１ｄ 切欠部 ３２ プレート ３２ａ 第二長孔 ３２ｂ 仕切壁 ３３ 矩形開口部
Claims (3)
- 【請求項１】 ブロック体に複数の検知ピンを進退自在
に収容した検査具本体を有し、検査対象となるコネクタ
の各端子収容室に、各検知ピンを挿入することにより、
各端子収容室内の端子の挿入不良の有無を検査するコネ
クタ検査具において、 垂直な長孔と水平な長孔を直交させることによって、前
記検査具本体に複数の矩形開口部を形成し、これら矩形
開口部に前記検知ピンを挿通することにより、これら検
知ピンの縦横方向の移動を制限したことを特徴とするコ
ネクタ検査具。 - 【請求項２】 前記検査具本体を形成するブロック体
に、垂直又は水平な第一長孔を複数平行に穿設し、該ブ
ロック体の第一長孔の開口面に、水平又は垂直な第二長
孔を複数平行に穿設したプレートを取り付けることによ
って、これら第一及び第二長孔を直交させ、複数の前記
矩形開口部を形成した請求項１記載のコネクタ検査具。 - 【請求項３】 前記ブロック体における前記第一長孔ど
うしを仕切る壁部と、前記第二プレートにおける前記第
二長孔どうしを仕切る壁部とを、互いに直交かつ嵌合さ
せることによって、四つの壁面に囲まれた複数の前記矩
形開口部を形成した請求項２記載のコネクタ検査具。
Priority Applications (3)
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|---|---|---|---|
| JP37023599A JP3682843B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | コネクタ検査具 |
| US09/745,997 US6390846B2 (en) | 1999-12-27 | 2000-12-26 | Connector checker |
| DE10065366A DE10065366C2 (de) | 1999-12-27 | 2000-12-27 | Elektrischer Prüfstecker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP37023599A JP3682843B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | コネクタ検査具 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001185317A true JP2001185317A (ja) | 2001-07-06 |
| JP3682843B2 JP3682843B2 (ja) | 2005-08-17 |
Family
ID=18496395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP37023599A Expired - Fee Related JP3682843B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | コネクタ検査具 |
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| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JP3682843B2 (ja) |
| DE (1) | DE10065366C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009025164A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Tokugen:Kk | 検査治具とその製造方法 |
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| FR2999806A1 (fr) | 2012-12-19 | 2014-06-20 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'une structure, notamment de type mis, en particulier pour diode electroluminescente. |
| CN113275267B (zh) * | 2021-05-31 | 2022-05-17 | 苏州东辉精密机械有限公司 | 一种射频同轴连接器测试方法 |
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| JP3216779B2 (ja) * | 1995-02-23 | 2001-10-09 | 矢崎総業株式会社 | コネクタにおける端子金具の不完全挿入矯正方法及び矯正用治具 |
-
1999
- 1999-12-27 JP JP37023599A patent/JP3682843B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-12-26 US US09/745,997 patent/US6390846B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-27 DE DE10065366A patent/DE10065366C2/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009025164A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Tokugen:Kk | 検査治具とその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20010006346A1 (en) | 2001-07-05 |
| JP3682843B2 (ja) | 2005-08-17 |
| DE10065366C2 (de) | 2003-08-28 |
| DE10065366A1 (de) | 2001-07-12 |
| US6390846B2 (en) | 2002-05-21 |
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