JP2001184797A

JP2001184797A - 磁気記録特性検査装置

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Publication number: JP2001184797A
Application number: JP36921699A
Authority: JP
Inventors: Masami Makuuchi; 雅巳幕内; Ritsuro Orihashi; 律郎折橋; Tokuo Nakajo; 徳男中條; Masayoshi Takahashi; 昌義高橋; Shinji Honma; 真司本間
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1999-12-27
Filing date: 1999-12-27
Publication date: 2001-07-06
Anticipated expiration: 2019-12-27
Also published as: JP3826171B2

Abstract

(57)【要約】【課題】ディジタル方式の磁気記録特性検査装置におい
て、Ａ／Ｄ変換手段を用いてディジタル化したディスク
再生信号データをメモリに保持する際に、メモリバスの
配線数を低減しかつメモリ容量を低減する。【解決手段】Ａ／Ｄ変換回路とメモリの間に現サンプリ
ングの振幅値データと１サンプリング前の振幅値データ
との差分を求める減算回路を配置してメモリに当該差分
のデータを格納と共に少なくとも１個の基準となる振幅
値データを格納するようにし、更にメモリから読み出し
たデータの積分を行なって元の振幅値データを復元する
積分回路を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気記録媒体及び
／又は磁気ヘッドの磁気記録特性を検査するための装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、パーソナルコンピュータ、汎用コ
ンピュータ、ワークステーション等の情報処理装置にお
いて使用する外部記憶装置として磁気記録装置が通常用
いられる。特に磁気ディスク装置は、近年における磁気
ディスクの磁性体及び磁気ヘッドの改良、更には信号処
理技術の向上等により、記録の高密度化、高速化が急速
に進んでおり、ビット当たりの価格低減が著しい。この
ような磁気ディスク装置は、情報処理装置の高性能化、
実用性向上に大きく寄与している。

【０００３】磁気ディスク装置は、上記したように外部
記憶装置として用いられるため記録再生するデータに対
して高い信頼性が要求される。そのため、製品に組み込
む磁気ディスクや磁気ヘッドに対して厳しい検査が行な
われる。検査は、実使用周波数で行なわれるのが普通で
あり、国際的に規定された検査項目がある。その検査項
目に例えば国際ディスクドライブ協会（ＩＤＥＭＡ）に
おいて規定されているＴＡＡ（ＴｒａｃｋＡｖｅｒａ
ｇｅＡｍｐｌｉｔｕｄｅ）やＰＷ５０（Pulse Width
50）がある。

【０００４】ＴＡＡは、ディスク再生信号の振幅のピー
ク値のディスク一周に亘っての変化を測定し、その平均
値を求めるものである。ディスク一周のディスク再生信
号の波形を図６上部に示す。一周は、多数の再生波形で
埋められるが、その一部を拡大して図６下部に示す。磁
気ヘッドから、記録媒体の磁化反転毎に正側のパルス波
形と負側のパルス波形が再生され、正側のパルス波形の
繰り返しによって再生信号の周波数が表される。ＴＡＡ
は、ディスク一周中の正側パルス波形の個数をｎ、正側
パルス波形の振幅のピーク値をＶi（i＝１，２，３，…
…）として、式(１)で表される。

【０００５】

【数１】

【０００６】また、ＰＷ５０は、再生波形をＴＡＡの５
０％であるパルス幅検出レベルで切った（スライスし
た）ときのパルス幅ｔwiのディスク一周分の平均値であ
り、式(２)で表される。

【０００７】

【数２】

【０００８】検査は、ＴＡＡやＰＷ５０によるパラメト
リックテストの他に、一定周期データの書き込み／読み
出しを行った際に、ディスク再生信号振幅がデータパル
ス単位で平均ディスク再生信号振幅よりも過小な振幅で
再生されるミッシングエラーや平均振幅よりも過大な振
幅で再生されるスパイクエラーを検出するサーティファ
イテスト等がある。これらの検査を通して、磁気ディス
クや磁気ヘッド或いは両者の組合せの評価／製品テスト
を行なう。

【０００９】このような検査を行なう従来の装置の例を
図７に示す（例えば特開平１０−８３５０１参照）。磁
気ヘッド（Ｒ／Ｗヘッド）１１３からの再生信号は、読
出／書込アンプ６０１及び増幅器（ＡＭＰ）６０４で増
幅された後、ＴＡＡ検出回路６０５、ＰＷ検出回路６０
７に供給されると共に、波形比較回路６０８を介してエ
ラー検出回路６０９に供給され、それぞれＴＡＡ、ＰＷ
５０、ミッシングエラー及びスパイクエラーが検出され
る。これらの各検出は、アナログ信号処理によって行な
われる。なお、スライスレベル作成回路６０６からＰＷ
検出回路６０７及び波形比較回路６０８にそれぞれ検出
及び比較に必要なレベルが供給され、エラーメモリ６１
０にエラー検出結果が記憶される。また、ディスク回転
部１１５によって回転しているディスク１１４への記録
は、テスト信号発生回路６０２、書込制御回路６０３及
び読出／書込アンプ６０１を経た信号をＲ／Ｗヘッド１
１３に供給することによって行なわれ、検査装置の全体
の動作がＣＰＵ１０２及びメモリ１０３を有する制御部
１０１によって制御される。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】記録再生するデータの
速度は、上記したように年々急速に高まっており、それ
に伴って最近は、検査のためのテスト信号の周波数が１
ＧＨz近辺にまで及んでいる。そのため、そのような高
い周波数の信号による検査をアナログ信号処理で行なう
ことが困難になりつつある。

【００１１】本発明に至る過程で考えた検査装置を図５
に示す。本検査装置は、ディジタル方式による高速の信
号処理を採用することによって高い周波数の検査を実現
するものである。以下に、本検査装置の概略を説明す
る。

【００１２】磁気ヘッド（Ｒ／Ｗヘッド）１１３からの
再生信号は、再生増幅器（再生アンプ）１２０によって
増幅された後、アナログ／ディジタル変換回路（以下
「Ａ／Ｄ変換回路」という）１２１によってディジタル
信号に変換される。Ａ／Ｄ変換では、まずアナログ信号
がサンプリング（標本化）され、ホールド（保持）され
る。ホールドされる標本値即ちアナログ信号の振幅値に
対してディジタルデータ（振幅値データ）が与えられ
る。ディジタルデータは、続いてメモリ１２２に記憶さ
れる。メモリ１２２は、検査に必要なデータ量、例えば
ディスク一周分乃至数周分のデータを格納する。

【００１３】データ処理部１２３は、メモリ１２２に格
納されているデータを読み出し、ディジタル方式による
演算処理によってＴＡＡ、ＰＷ５０、ミッシングエラー
及びスパイクエラーを検出する。この場合、メモリ１２
２からの読み出し速度は、データ処理部１２３の動作に
見合った速度に設定することが可能である。これによっ
てデータ処理部１２３は、検出を確実に行なうことが可
能となる。データ処理は、再生動作終了後或いは再生動
作と並行して行なわれる。解析処理部１２４は検出デー
タを評価して検査結果を出力する。

【００１４】ディスク回転部１１５によって回転してい
る磁気ディスク１１４への記録は、書き込みデータ生成
部１１１からの検査用データ信号を書込増幅器（書込ア
ンプ）１１２で増幅した後、Ｒ／Ｗヘッド１１３に供給
することによって行なわれる。

【００１５】モード切替／タイミング制御部１１９は、
各回路の動作を制御するための種々の制御信号を生成し
て出力する。制御信号には、Ａ／Ｄ変換に先立って行な
われるサンプルホールドのためのサンプリングクロッ
ク、メモリ１２２への書込／読出のアドレス及びタイミ
ングを制御するメモリ制御信号（Adr，WE，RO）、デー
タ処理部１２３の動作を制御するデータ処理タイミング
制御信号、解析処理部１２４の動作を制御する解析処理
タイミング制御信号がある。また、記録側の制御信号と
して、書き込みデータ生成部１１１の動作を制御し、デ
ータ生成のタイミングを制御するためのデータ生成タイ
ミング制御信号、書込増幅器１１２の書込状態、待機状
態の別を制御する書き込みモード信号がある。

【００１６】ところで、ディスク回転部１１５の回転周
波数は、検査の条件によって様々であり、磁気ディスク
装置の製品種類によっても様々である。そのために、デ
ィスク回転周波数を任意に設定することができるよう
に、回転部１１５の回転制御を行なうディスク回転制御
部１１６に可変周波数発振回路１１７が接続される。ま
た、検査用データ信号の周波数も同様に様々であるた
め、モード切替／タイミング制御部１１９の動作周波数
を任意に設定できるよう、モード切替／タイミング制御
部１１９に可変周波数発振回路１１８が接続される。

【００１７】以上の検査装置の全体の動作がＣＰＵ１０
２及びメモリ１０３を有する制御部１０１によって制御
される。即ち、メモリ１０３に保持した動作プログラム
に従って、ＣＰＵ１０２は、書き込みデータ生成部１１
１と解析処理部１２４とモード切替／タイミング制御部
１１９と可変周波数発振回路１１７，１１８とを制御す
ることによって検査装置全体の動作を制御し、更に、検
査結果や検査状況についてホストコンピュータと通信を
行なう。

【００１８】このようにして図５に示した検査装置は、
ディスク再生信号をディジタル信号に変換することによ
り、アナログ信号処理では困難であった高い周波数での
パラメトリックテスト（ＴＡＡ及びＰＷ５０の算出処
理）及びサーティファイテスト（ミッシングエラー及び
スパイクエラーの算出処理）を実現することができる。

【００１９】ところで、図５の検査装置では、Ａ／Ｄ変
換回路１２１の動作速度に合わせてメモリ１２２を高速
に書込動作させ、またＡ／Ｄ変換回路１２１とメモリ１
２２とを接続するバス（メモリバス）を高速動作させる
必要がある。

【００２０】また、メモリバスにおいては、Ａ／Ｄ変換
回路１２１の符号化ビット数に応じたビット毎の複数の
配線が配設される。ビット毎の複数の高速信号を伝送す
る上で、メモリバスの各配線は、インピーダンス整合を
考慮し、かつ、全てのビット配線が等しい配線長になる
ように配線を設計する必要があり、またビット配線間に
おけるクロストーク等の配線間誘導雑音を低減するため
ビット配線間隔を広くするか或いはビット配線間に接地
パターンを配設することが必要となる。

【００２１】また、データ処理部１２３において、例え
ばＴＡＡやＰＷ５０などディスク１周分の測定値の平均
演算処理を行なう場合、トラック１周乃至数周分のディ
スク再生信号データをメモリ１２２に保持する必要があ
るが、高速Ａ／Ｄ変換回路により出力される膨大な量の
データを保持するため大容量の高速メモリが必要にな
る。高速化と大容量化は経済性の面で相反するため、高
い周波数で動作する検査装置ではメモリ容量の低減が望
まれることとなる。

【００２２】本発明の目的は、上記課題を解決し、磁気
ヘッド再生信号のＡ／Ｄ変換後にメモリに格納するデー
タ量を低減すると共にメモリバスの配線数を低減するこ
とが可能な改良された磁気記録特性検査装置を提供する
ことにある。

【００２３】

【課題を解決するための手段】本発明の前記課題は、磁
気ヘッド再生信号のＡ／Ｄ変換を行なうＡ／Ｄ変換回路
とメモリの間に現サンプリングの振幅値データと１サン
プリング前の振幅値データとの差分を求める減算回路を
配置することによってメモリには当該差分のデータを格
納すると共にこれとは別に少なくとも１個の基準となる
振幅値データを格納するようにし、更に、メモリから読
み出した基準となる振幅値データに差分デーを順次加算
することによってデータの積分を行ない、それによって
元の振幅値データを復元する積分回路を備えることによ
って効果的に解決することが可能である。

【００２４】磁気ヘッドからの再生信号の周波数成分
は、一般に周波数が高くなるほど低下する傾向を持つ。
従って上記差分のデータ量は、振幅値データ量よりも少
ない。即ち、振幅値の符号化ビット数をｆビット、差分
の符号化ビット数をｎビットとすると、ｆ＞ｎとなる。
従って、上記のような手段を採用することによって、メ
モリバスの配線数をｆからｎに低減し、メモリの容量を
ｎ／ｆに低減することが可能となる。

【００２５】前記基準となる振幅値データは、積分開始
時に設定される振幅値レベルとなるものである。このよ
うな振幅値レベルは、低い符号化ビット数（例えばｎビ
ット）で表されるような低い振幅値を採用することが望
ましい。再生信号の波形は、前記したように磁化反転部
分でピーク状のパルス波形になるが、磁化反転の間の磁
化方向が固定している部分の振幅値は非常に低い。従っ
て、この部分の振幅値が基準になる振幅値レベルとして
採用される。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る磁気記録特性
検査装置を図面に示した発明の実施の形態を参照して詳
細に説明する。なお、図１及び図５における同一の記号
は、同一物又は類似物を表示するものとする。

【００２７】本発明の一実施の形態を示す図１におい
て、２０１は、現サンプリングの振幅値データと１サン
プリング前の振幅値データとの差分の演算を行なう機能
を含んだＡ／Ｄ変換部、２１０は、Ａ／Ｄ変換部２０１
の出力するｎビットのデータを記憶するメモリ、２２０
は、メモリ２１０から読み出したｎビットデータの積分
演算を行なう積分回路である。モード切替／タイミング
制御部１１９は、Ａ／Ｄ変換部２０１、メモリ２１０及
び積分回路２２０への各制御信号を生成して出力する。

【００２８】Ａ／Ｄ変換部２０１において、２０２は、
再生アンプ１２０からの再生信号を符号化ビット数がｆ
ビットのディジタル信号即ち振幅値データに変換するＡ
／Ｄ変換回路、２０３は、Ａ／Ｄ変換回路２０２出力の
ｆビットの振幅値データを一時記憶するラッチ、２０４
は、Ａ／Ｄ変換回路２０２出力の振幅値データとラッチ
２０３出力の振幅値データの差分を演算してｎビットの
差分データを出力する減算回路、２０７は、ｆビットの
振幅値データをｎビットの振幅値データに変換する符号
変換回路、２０６は、減算回路２０４出力のｎビット差
分データ及び符号変換回路２０７出力のｎビット振幅値
データのいずれかを選択するセレクタ(SEL）、２０５
は、ｆビットの振幅値データがｎビットのデータとして
表すことが可能であるか否かを検出する振幅値検出回路
を示す。

【００２９】本発明の実施の形態の磁気記録特性検査装
置は、その他に、図５に示したデータ処理部１２３、解
析処理部１２４、書き込みデータ生成部１１１、書込増
幅器１１２、ディスク回転制御部１１６、可変周波数発
振回路１１７、可変周波数発振回路１１８及び制御部１
０１を備えているが、図１では図示を省略した。

【００３０】続いて、本発明の実施の形態の動作を説明
する。試験データが書き込まれかつ回転制御部１１６
（図１では図示せず）によって任意の回転数で回転動作
する磁気ディスク１１４から、記録磁区の変化に応じた
ディスク１１４表面の磁界の変化をＲ／Ｗヘッド１１３
で検出し、再生アンプ１２０により所定のレベルに増幅
してディスク再生信号として出力する。

【００３１】次に、Ａ／Ｄ変換回路２０２は、モード切
替／タイミング制御部１１９が出力するサンプリングク
ロックに従って該再生信号をフルスケールが２^fステッ
プで表される振幅値データに変換して出力する。続い
て、ラッチ２０３は、１サンプル前の振幅値データを上
記サンプリングクロックに従って保持する。

【００３２】また、振幅値検出回路２０５は、Ａ／Ｄ変
換回路２０２の出力であるｆビットの振幅値データをｎ
ビットの振幅値で表現できる値であるか否かを判別して
振幅値検出信号をモード切替／タイミング制御部１１９
に出力する。モード切替／タイミング制御部１１９は、
振幅値検出信号と内部で生成した測定開始信号（図示せ
ず）とから切替制御信号を生成してセレクタ２０６の切
り替え動作を制御すると同時に符号変換回路２０７の変
換動作を開始させる。

【００３３】符号変換回路２０７は、上記切替制御信号
に従って、Ａ／Ｄ変換回路２０２出力のｆビットの振幅
値データをｎビットのデータに変換して出力する。この
ｎビットデータが後述する積分演算の際に最初に必要に
なる基準となる振幅値データとなる。一方、減算回路２
０４は、Ａ／Ｄ変換回路２０２出力のｆビットの振幅値
データとラッチ２０３出力の１サンプル前のｆビットの
振幅値データとの差分を算出して出力する。

【００３４】次に、セレクタ２０６は、減算回路２０４
の出力であるｎビットの差分データと、符号変換回路２
０７出力のｎビット振幅値データとをモード切替／タイ
ミング制御部１１９が出力する切替制御信号に従って選
択して出力する。

【００３５】メモリ２１０は、セレクタ２０６が出力す
るｎビットのデータをモード切替／タイミング制御部１
１９が出力するメモリ制御信号に従って順次記憶する。

【００３６】ここで、上記した各回路の動作波形を図２
に示す。図２は、測定開始時における検査装置の動作概
略を示すものである。図２の最上段のディスク再生信号
は、丸印の部分でサンプリングされる。そして、再生信
号の最大振幅（フルスケール）が２^fステップで表され
る。丸印の部分（サンプリングポイント）の各振幅値が
ディジタル化され、ｆビットで表される。ディスク再生
信号の振幅がｎビットの振幅値データで表示できる期間
のみ振幅値検出回路２０５は、図２の２段目に示すよう
に、振幅値検出信号を規定の電圧レベル（ここでは
“Ｈ”レベル）にて出力する。また、同信号は、ｎビッ
トの範囲を越えるとき、“Ｌ”レベルとなる。

【００３７】この振幅値検出信号を受けたモード切替／
タイミング制御部１１９は、その内部で、振幅値検出信
号が“Ｈ”レベルとなっている有効期間内において測定
開始信号（図２の３段目）を有効状態（ここでは“Ｈ”
レベル）に切り替え、かつ、メモリ制御信号であるライ
トイネーブル信号（WE、図２の最下段）とメモリアドレ
ス（Adr、図２には示さず）を出力開始してメモリ２１
０に対する記憶動作の制御を開始する。

【００３８】このとき、測定開始におけるディスク再生
信号の振幅値データが振幅値検出信号からｎビットで表
現可能であることが明白であるため、モード切替／タイ
ミング制御部１１９は、セレクタ２０６へのモード切替
制御信号（図２の４段目）を振幅値データを選択出力す
る電圧レベル（ここでは“Ｈ”レベル）に設定する。次
に、モード切替／タイミング制御部１１９は、１サンプ
ル経過後、セレクタ２０６への切替制御信号を差分デー
タを選択出力する電圧レベル（ここでは“Ｌ”レベル）
に切り替える。以上により、セレクタ２０６は、モード
切替制御信号が“Ｈ”レベルのときｎビットに変換した
振幅データを出力し、該信号が“Ｌ”レベルのときｎビ
ットの差分データを出力する（図２の５段目）。従っ
て、メモリ２１０は、図３(１)に示す如く、ディスク再
生信号に対して測定開始データをｎビットの振幅値で、
またそれ以降をｎビットの差分データで記憶する。本発
明の実施の形態においては、記憶するデータ量をトラッ
ク一周分のｎビットのデータとした。

【００３９】ここで、本発明における差分データを表現
するビット数ｎは、Ａ／Ｄ変換回路２０２が出力するデ
ィジタルデータのビット数ｆとの間でｆ＞ｎであり、か
つ式(３)に示す関係が成り立つビット数とすることで、
ディスク再生信号をｎビットの差分データで表現するこ
とが可能となる。

【００４０】

【数３】Ｖfs×２^n-f≧（dＶa／dｔs)max ・・・・・・（３）但し、式(３)において、ＶaはＲ／Ｗヘッド１１３出力
の再生信号の振幅値、ＶfsはＡ／Ｄ変換回路２０２のフ
ルスケールである出力電圧範囲、ｔsはサンプリング時
間、dｘ／dｙはｘをｙで微分演算処理する演算記号、
（ｘ)maxはｘの最大値を算出する演算記号である。

【００４１】また、ディスク再生信号は、磁気ディスク
のトラック上に記録した磁区の境界における磁束の変化
を検出して再生されたものであるため、書き込み磁区の
中央では、図２に示すようなパルス波形は出力されず、
０［Ｖ］を必ず通過する。即ち、ディスク再生信号をｆ
よりも小のｎビットの振幅値で表現できる点が必ずディ
スク再生信号中には存在するため、本発明は、磁気記録
媒体、磁気ヘッド又はその両者の磁気記録特性の検査装
置において適用可能である。

【００４２】続いて、メモリ２１０の保持データは、モ
ード切替／タイミング制御部１１９の出力するメモリ制
御信号の内のメモリアドレス（Adr）と、リードアウト
信号（RO）とに従って読み出される。

【００４３】ここで、メモリ２１０から読み出したｎビ
ットの差分データの積分演算を行なう積分回路２２０に
ついて説明する。積分回路２２０は、積分演算によって
元のｆビットの振幅値データを復元する。積分回路２２
０の構成を図４に示す。図４において、２２１は、メモ
リ２１０出力のｎビットデータにその１サンプル前迄累
積した結果を加算してｆビットのデータとして出力する
加算回路、２２２は、加算回路２２１の出力信号を保持
するラッチ、２２３は、ｎビットデータをｆビットデー
タに変換する符号逆変換回路、２２４は、加算回路２２
１出力のｆビットデータ及び符号逆変換回路２２３出力
のｆビットデータのいずれかを選択するセレクタであ
る。メモリ１２２からはメモリアドレスに従って、記憶
順と同じ順序で基準となるｎビットの振幅値データ及び
差分データが読み出される。

【００４４】加算回路２２１は、ラッチ２２２が保持し
ている１サンプル前迄の差分データを累積した結果に現
サンプルの差分データを加算することによって差分デー
タの積分演算を行ない、更に、セレクタ２２４は、モー
ド切替／タイミング制御部１１９の積分制御信号の内の
切替信号に従って符号逆変換回路２２３が出力する測定
開始時の振幅値データに続いて積分演算結果のデータを
出力する。ラッチ２２２はモード切替／タイミング制御
部１１９の積分制御信号の内のクロック信号に従って動
作する。以上の動作により、積分回路２２０は、測定開
始時の振幅値データを基点レベルとしてｎビットデータ
から元のｆビットの振幅値データを復元する。

【００４５】振幅値データを復元した後の検査動作は、
図５に示した装置の場合と同様であり、パラメトリック
テスト（ＴＡＡ及びＰＷ５０の算出処理）及びサーティ
ファイテスト（ミッシングエラー及びスパイクエラーの
算出処理）を実行する。

【００４６】本発明の実施の形態では、メモリ２１０に
検査に必要なトラック一周分のｎビットデータをメモリ
２１０に保持してから後に、書込みの場合よりも低い周
波数のメモリ制御信号で読み出しを行なった。なお、本
発明は、これに限るものではなく、メモリ２１０への保
持を実行しながら読み出しを行なってもよく、また、メ
モリ制御信号の周波数を書込みと読み出しで同一とする
ことが可能である。また、メモリ２１０への保持データ
量は、検査条件に応じて増減することとなる。

【００４７】本発明の実施の形態においては、ｆ＞ｎと
なるので、メモリ２１０の記憶容量をｎ／ｆだけ低減す
ることが可能となり、また、メモリ２１０への入出力配
線数即ちメモリバスの配線数も同様にｎ／ｆだけ減らす
ことができる。これにより、検査装置の高速化及びコス
ト低減を実現することができる。

【００４８】なお、上記の説明では、測定開始をディス
ク再生信号がｎビットで表現できる期間において行なう
ことについて述べたが、本発明はこれに限定するもので
はなく、例えば図３(２)に示すように、振幅値検出信号
に振幅値／差分値判定ビットとしての意味を持たせて１
ビットのフラグデータとしてメモリ２１０に保持するよ
うにＡ／Ｄ変換部２０１及びメモリ２１０を構成するこ
とにより、任意のタイミングにおいて測定を開始するこ
とが可能であることは言うまでもない。この場合、メモ
リ２１０に保持するデータは、（ｎ＋１）ビットで表現
されることになる。この場合、ｆ＞ｎ＋１とすることに
より、メモリ容量の低減及びメモリバス配線数の低減の
効果を得ることができる。いずれにしても、１個以上の
振幅値データがあれば、ｎビットの差分データから元の
ｆビットの振幅値データを得ることが可能である。即
ち、本発明において、メモリ２１０に保持するデータ
は、１個以上の振幅値データと、その他を差分データと
して表現し、メモリ保持データ全体をｎビット或いは
（ｎ＋１）ビットで表現するものである。

【００４９】また、上記の図１に示す検査装置では、検
査対象を磁気ディスクとする場合には、磁気ヘッドに標
準的な特性又は良品で特性が既知のものを用い、検査対
象を磁気ヘッドとする場合には、磁気デイスクに標準的
な特性又は良品で特性が既知のものを用いる。勿論、検
査対象を未知の磁気デイスクと磁気ヘッドの組み合わせ
としてその総合特性を検査することが可能である。更
に、上記では磁気記録媒体が磁気ディスクである場合を
述べたが、磁気記録媒体を磁気テープとすることが可能
である。この場合には、媒体の駆動部をテープ駆動部と
する。

【００５０】

【発明の効果】本発明によれば、メモリに保持する再生
信号のデータとして差分データを保持するようにしたの
で、メモリ容量を低減することが可能となり、メモリの
高速化が容易となる。また、メモリバスの配線数を低減
することができ、これにより、高速化のための配線設計
及び実装設計を容易化することができる。以上により、
アナログ方式では困難であった高い周波数で動作するデ
ィジタル方式の磁気記録特性検査を実現することができ
る。更に、メモリ容量低減によるメモリの価格低減、配
線数の低減による実装コストの低減により、磁気記録特
性検査装置の低コスト化を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る磁気記録特性検査装置の実施の形
態を説明するための構成図。

【図２】本発明の実施の形態の動作概略を説明するため
の波形図。

【図３】本発明の実施の形態で用いるメモリに保持する
振幅値データの概略を説明するための図。

【図４】本発明の実施の形態で用いる積分回路を説明す
るための構成図。

【図５】本発明を得る過程で考えた磁気記録特性検査装
置を説明するための構成図。

【図６】ディスク再生信号に関するディスク再生信号平
均振幅（ＴＡＡ）及びディスク再生信号平均パルス幅
（ＰＷ５０）を説明するための波形図。

【図７】従来の磁気記録特性検査装置を説明するための
構成図。

【符号の説明】

１１３…Ｒ／Ｗヘッド、１１４…磁気ディスク、１１５
…ディスク回転部、１１６ディスク回転制御部、１１９
…モード切替／タイミング制御部、１２０…再生アン
プ、１２１，２０２…Ａ／Ｄ変換回路、１２２，２１０
…メモリ、１２３…データ処理部、１２４…解析処理
部、２０１…Ａ／Ｄ変換部、２０３，２２２…ラッチ、
２０４…減算回路、２０５…振幅値検出回路、２０６，
２２４…セレクタ、２０７…符号変換回路、２２０…積
分回路、２２１…加算回路、２２３…符号逆変換回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者折橋律郎神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者中條徳男神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者高橋昌義神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者本間真司東京都渋谷区東三丁目16番３号日立電子エンジニアリング株式会社内Ｆターム(参考） 5D044 AB01 BC01 CC05 DE87 EF01 FG07 FG10 GK18 5D091 AA10 CC01 FF05 HH20

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】磁気ヘッド再生信号をサンプリングして
からアナログ／ディジタル変換を行なうことによってデ
ィジタル化した振幅値データを出力するアナログ／ディ
ジタル変換回路と、現サンプルの振幅値データと１サン
プル前の振幅値データとの減算を行なって差を差分デー
タとして出力する減算回路と、当該差分データを格納す
ると共に少なくとも１個の基準となる振幅値データを格
納するメモリと、当該メモリから読み出した基準となる
振幅値データに差分データを順次加算することによって
元の振幅値データを復元する積分回路と、復元した振幅
値データを用いて検査データを算出するデータ処理部と
を有してなることを特徴とする磁気記録特性検査装置。
【請求項２】磁気ヘッドの出力する再生信号をサンプ
リングしてｆビットのディジタル化した振幅値データに
変換するアナログ／ディジタル変換手段、現サンプルの
振幅値データと１サンプル前の振幅値データとの減算を
行なって差をｎビット（但し、ｆ＞ｎ）の差分データと
して出力する減算手段、及びｎビットで表すことが可能
なｆビットの振幅値データをｎビットの振幅値データに
変換する符号変換手段を含んでなるアナログ／ディジタ
ル変換部と、当該アナログ／ディジタル変換部が出力す
るｎビットの差分データ及び少なくとも１個のｎビット
振幅値データを記憶する記憶手段と、当該記憶手段から
読み出したｎビットの振幅値データにｎビットの差分デ
ータを順次加算して累積することによってｆビットの振
幅値データを出力する積分手段と、当該積分手段が出力
するｆビットの振幅値データを用いて検査データを算出
するデータ処理部とを有してなることを特徴とする磁気
記録特性検査装置。
【請求項３】前記ｆとｎとの関係が、磁気ヘッド出力
の再生信号の振幅値Ｖaと、アナログ／ディジタル変換
手段のフルスケールである出力電圧範囲Ｖfsと、サンプ
リング時間ｔsと、ｘをｙで微分演算処理する演算記号d
ｘ／dｙと、ｘの最大値を算出する演算記号（ｘ)maxと
を用いて、Ｖfs×２^n-f≧（dＶa／dｔｓ）ｍａｘの関係にあることを特徴とする請求項２に記載の磁気記
録特性検査装置。