JP2001183139A - 物理量検出装置 - Google Patents
物理量検出装置Info
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- JP2001183139A JP2001183139A JP36516699A JP36516699A JP2001183139A JP 2001183139 A JP2001183139 A JP 2001183139A JP 36516699 A JP36516699 A JP 36516699A JP 36516699 A JP36516699 A JP 36516699A JP 2001183139 A JP2001183139 A JP 2001183139A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 角速度検出素子が収容された密閉空間内の圧
力変動にかかわらず、角速度検出装置の検出特性を良好
な値に維持すること。 【解決手段】 角速度検出装置は、密閉空間内にて基板
10上に振動可能に支持された振動子20を駆動電極部
51−1〜51−4によりX軸方向に振動させ、角速度
が作用したときに発生するコリオリ力により同振動子の
Y軸方向の振動を検出電極53−1〜53−4により検
出する。サーボアンプ76は、振動子のX軸方向の振幅
が一定となるように出力電圧E0X ’を発生する。この出
力電圧は、前記密閉空間の圧力を表す値となっていて、
サーボアンプ79は、出力電圧E0X ’が一定となるよう
に電圧ERCを変更し、これを離調調整電極54−1〜5
4−4にを印加する。この結果、振動子の検出振動共振
周波数が変更され、同振動子の駆動周波数におけるゲイ
ン(実効検出振動Q値)が一定に維持される。
力変動にかかわらず、角速度検出装置の検出特性を良好
な値に維持すること。 【解決手段】 角速度検出装置は、密閉空間内にて基板
10上に振動可能に支持された振動子20を駆動電極部
51−1〜51−4によりX軸方向に振動させ、角速度
が作用したときに発生するコリオリ力により同振動子の
Y軸方向の振動を検出電極53−1〜53−4により検
出する。サーボアンプ76は、振動子のX軸方向の振幅
が一定となるように出力電圧E0X ’を発生する。この出
力電圧は、前記密閉空間の圧力を表す値となっていて、
サーボアンプ79は、出力電圧E0X ’が一定となるよう
に電圧ERCを変更し、これを離調調整電極54−1〜5
4−4にを印加する。この結果、振動子の検出振動共振
周波数が変更され、同振動子の駆動周波数におけるゲイ
ン(実効検出振動Q値)が一定に維持される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板に変位可能に
支持された可動部と、前記可動部の変位に応じた量を検
出する検出手段とを備えた加速度や角速度等を検出する
物理量検出装置に関する。
支持された可動部と、前記可動部の変位に応じた量を検
出する検出手段とを備えた加速度や角速度等を検出する
物理量検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば基板と蓋部材とで形成
される気密又は液密の密閉空間において、前記基板に変
位(振動)可能に支持された可動部(振動部)を加速度
或いは角速度等に応じて変位(振動)させ、この可動部
の変位(振動)を検出することにより前記加速度或いは
角速度等の物理量を検出する物理量検出装置が知られて
いる。このような物理量検出装置においては、温度変化
等により密閉空間内の圧力が上昇すると、可動部に折れ
などが発生したり、可動部の振動特性が変化して検出感
度が低下するという問題がある。このため、特開平4−
174363号公報に開示された検出装置は、蓋部材に
密閉空間内の圧力変動に応じて変形する薄肉部を設け、
これにより前記圧力変動を吸収するようになっている。
される気密又は液密の密閉空間において、前記基板に変
位(振動)可能に支持された可動部(振動部)を加速度
或いは角速度等に応じて変位(振動)させ、この可動部
の変位(振動)を検出することにより前記加速度或いは
角速度等の物理量を検出する物理量検出装置が知られて
いる。このような物理量検出装置においては、温度変化
等により密閉空間内の圧力が上昇すると、可動部に折れ
などが発生したり、可動部の振動特性が変化して検出感
度が低下するという問題がある。このため、特開平4−
174363号公報に開示された検出装置は、蓋部材に
密閉空間内の圧力変動に応じて変形する薄肉部を設け、
これにより前記圧力変動を吸収するようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報に開示された従来技術は、蓋部材の薄肉部が圧力変動
に応じて変形することを利用しており、薄肉部の肉厚や
弾性等は製品間で変動する(ばらつく)ことから、極め
て微妙な変位(振動)を検出する物理量検出装置に対し
ては、十分に圧力変動を吸収することができない場合が
ある。
報に開示された従来技術は、蓋部材の薄肉部が圧力変動
に応じて変形することを利用しており、薄肉部の肉厚や
弾性等は製品間で変動する(ばらつく)ことから、極め
て微妙な変位(振動)を検出する物理量検出装置に対し
ては、十分に圧力変動を吸収することができない場合が
ある。
【0004】
【本発明の概要】本発明は、上記課題に対処すべくなさ
れたものであり、その特徴は、密閉空間内で基板に変位
可能に支持された可動部と、前記可動部が外力を受けた
ときに同可動部に生じる変位に応じた量を検出する変位
検出手段とを備え、前記変位検出手段の検出値を出力す
る物理量検出装置において、前記可動部を所定方向に所
定の駆動周波数にて振動させる駆動手段と、前記密閉空
間の圧力に応じた量を検出する圧力検出手段と、指示信
号に応じて前記駆動周波数における前記可動部の検出振
動のゲインを変更するゲイン変更手段と、前記検出され
た密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前記ゲイン変更
手段に前記指示信号を出力するゲイン変更指示手段とを
備えたことにある。
れたものであり、その特徴は、密閉空間内で基板に変位
可能に支持された可動部と、前記可動部が外力を受けた
ときに同可動部に生じる変位に応じた量を検出する変位
検出手段とを備え、前記変位検出手段の検出値を出力す
る物理量検出装置において、前記可動部を所定方向に所
定の駆動周波数にて振動させる駆動手段と、前記密閉空
間の圧力に応じた量を検出する圧力検出手段と、指示信
号に応じて前記駆動周波数における前記可動部の検出振
動のゲインを変更するゲイン変更手段と、前記検出され
た密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前記ゲイン変更
手段に前記指示信号を出力するゲイン変更指示手段とを
備えたことにある。
【0005】これによれば、可動部は、気密又は液密に
維持された密閉空間内において駆動手段により振動され
ているため、この振動方向に直交する軸回りの角速度が
加わるとコリオリ力(外力)が発生して変位する。変位
検出手段はこの変位に応じた量を検出し、その検出値
(検出量)が物理量検出装置の出力とされる。また、圧
力検出手段は密閉空間の圧力に応じた量を検出し、ゲイ
ン変更指示手段はこの検出量に基づいてゲイン変更手段
に指示信号を発生する。ゲイン変更手段は、この指示信
号に応じて駆動周波数における可動部の検出振動のゲイ
ン(駆動周波数における可動部のゲイン(振幅値)=実
効検出振動Q値)を変更する。従って、密閉空間内の圧
力が変動した場合であっても、可動部の検出振動のゲイ
ンを一定に保つことが可能となり、物理量検出装置の感
度を良好に維持することができる。この場合において、
圧力検出手段の検出する圧力に応じた量としては、密閉
空間の圧力、同密閉空間の温度、又は前記駆動手段が駆
動振幅を一定に維持する制御を行っているときの駆動信
号の振幅等を採用することができる。
維持された密閉空間内において駆動手段により振動され
ているため、この振動方向に直交する軸回りの角速度が
加わるとコリオリ力(外力)が発生して変位する。変位
検出手段はこの変位に応じた量を検出し、その検出値
(検出量)が物理量検出装置の出力とされる。また、圧
力検出手段は密閉空間の圧力に応じた量を検出し、ゲイ
ン変更指示手段はこの検出量に基づいてゲイン変更手段
に指示信号を発生する。ゲイン変更手段は、この指示信
号に応じて駆動周波数における可動部の検出振動のゲイ
ン(駆動周波数における可動部のゲイン(振幅値)=実
効検出振動Q値)を変更する。従って、密閉空間内の圧
力が変動した場合であっても、可動部の検出振動のゲイ
ンを一定に保つことが可能となり、物理量検出装置の感
度を良好に維持することができる。この場合において、
圧力検出手段の検出する圧力に応じた量としては、密閉
空間の圧力、同密閉空間の温度、又は前記駆動手段が駆
動振幅を一定に維持する制御を行っているときの駆動信
号の振幅等を採用することができる。
【0006】また、前記物理量検出装置において、前記
ゲイン変更手段を、前記可動部の検出振動の共振周波数
を調整する調整手段とすることができる。この共振周波
数の調整は、前記可動部に対し、前記検出振動の振動方
向における同可動部の変位が大きくなるに従って同変位
を妨げる方向に大きくなる力を付与することにより実現
することができる。
ゲイン変更手段を、前記可動部の検出振動の共振周波数
を調整する調整手段とすることができる。この共振周波
数の調整は、前記可動部に対し、前記検出振動の振動方
向における同可動部の変位が大きくなるに従って同変位
を妨げる方向に大きくなる力を付与することにより実現
することができる。
【0007】また、前記物理量検出装置において、前記
変位検出手段は、前記可動部に形成された可動部電極と
前記基板に固定された検出電極との間の静電容量の変化
を検出することにより前記変位に応じた量を検出するよ
うに構成され、前記ゲイン変更手段は、前記可動部が前
記外力を受けていない場合における前記可動部電極と前
記検出電極との距離を変更することにより前記検出振動
のゲインを変更するように構成されることが好適であ
る。
変位検出手段は、前記可動部に形成された可動部電極と
前記基板に固定された検出電極との間の静電容量の変化
を検出することにより前記変位に応じた量を検出するよ
うに構成され、前記ゲイン変更手段は、前記可動部が前
記外力を受けていない場合における前記可動部電極と前
記検出電極との距離を変更することにより前記検出振動
のゲインを変更するように構成されることが好適であ
る。
【0008】いま、可動部電極と検出電極との電極間距
離をd、密閉空間の圧力をPとすると、検出振動のゲイ
ンは、一般にdn/Pm(n≒3、m≒1)に比例する。
従って、上記のように、検出電極と可動部電極との電極
間距離dを密閉空間の圧力Pの変動に応じて変更すれ
ば、同圧力Pの変動にかかわらず、一定の検出振動のゲ
インを得ることが可能となり、角速度検出装置の感度を
良好に維持することができる。また、この場合には、検
出振動共振周波数の変更を伴わないため、角速度が可動
部に作用してから検出手段により検出されるまでの時間
が長くなることはなく、物理量検出装置の応答性も良好
に維持される。
離をd、密閉空間の圧力をPとすると、検出振動のゲイ
ンは、一般にdn/Pm(n≒3、m≒1)に比例する。
従って、上記のように、検出電極と可動部電極との電極
間距離dを密閉空間の圧力Pの変動に応じて変更すれ
ば、同圧力Pの変動にかかわらず、一定の検出振動のゲ
インを得ることが可能となり、角速度検出装置の感度を
良好に維持することができる。また、この場合には、検
出振動共振周波数の変更を伴わないため、角速度が可動
部に作用してから検出手段により検出されるまでの時間
が長くなることはなく、物理量検出装置の応答性も良好
に維持される。
【0009】本発明の他の特徴は、密閉空間内で基板に
変位可能に支持された可動部と、前記可動部が外力を受
けたときに同可動部に生じる変位に応じた量を検出する
変位検出手段とを備え、前記変位検出手段の検出量を出
力する物理量検出装置において、前記密閉空間の圧力に
応じた量を検出する圧力検出手段と、指示信号に応じて
前記密閉空間の体積を変更させる体積変更手段と、前記
検出された密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前記体
積変更手段に前記指示信号を出力する体積変更指示手段
とを備えたことにある。
変位可能に支持された可動部と、前記可動部が外力を受
けたときに同可動部に生じる変位に応じた量を検出する
変位検出手段とを備え、前記変位検出手段の検出量を出
力する物理量検出装置において、前記密閉空間の圧力に
応じた量を検出する圧力検出手段と、指示信号に応じて
前記密閉空間の体積を変更させる体積変更手段と、前記
検出された密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前記体
積変更手段に前記指示信号を出力する体積変更指示手段
とを備えたことにある。
【0010】これによれば、圧力検出手段が密閉空間の
圧力に応じた量を検出し、その検出量に応じて体積変更
手段が密閉空間の体積を変更する。従って、体積変更手
段の特性が製品間で異なる場合であっても、その特性上
の差異は圧力検出手段による検出量に反映されて補償さ
れることとなるため、密閉空間内の圧力を所望の値に維
持することが可能となる。
圧力に応じた量を検出し、その検出量に応じて体積変更
手段が密閉空間の体積を変更する。従って、体積変更手
段の特性が製品間で異なる場合であっても、その特性上
の差異は圧力検出手段による検出量に反映されて補償さ
れることとなるため、密閉空間内の圧力を所望の値に維
持することが可能となる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の物理量検出装置
(角速度検出装置)の各実施形態について図面を参照し
つつ説明すると、図1は第1実施形態に係る角速度検出
装置の半導体素子部分の平面図である。
(角速度検出装置)の各実施形態について図面を参照し
つつ説明すると、図1は第1実施形態に係る角速度検出
装置の半導体素子部分の平面図である。
【0012】この角速度検出素子は、水平面内にて互い
に直交したX,Y軸各方向の中心線に対してそれぞれ対
称に形成されており、シリコンで方形状に形成された基
板10上に、振動子20、一対のメインフレーム30−
1,30−2及び一対のサブフレーム30−3,30−
4をその上面から所定距離だけ隔てた水平面内に延設さ
せている。これらの振動子20及び各フレーム30−
1,30−2,30−3,30−4は、基板10上に振
動可能に支持された可動部(振動部)を構成する。ま
た、基板10上には図示しない蓋部材が固着されてい
て、基板10と同蓋部材が構成する密閉空間内に、上記
振動子20、一対のメインフレーム30−1,30−
2、及び一対のサブフレーム30−3,30−4を含む
角速度検出素子全体が収容されている。この密閉空間内
は、略真空に保たれているが、若干の空気分子が残存し
ている。なお、他の部材により構成される密閉空間内に
基板10を含む角速度検出素子全体を配設してもよい。
に直交したX,Y軸各方向の中心線に対してそれぞれ対
称に形成されており、シリコンで方形状に形成された基
板10上に、振動子20、一対のメインフレーム30−
1,30−2及び一対のサブフレーム30−3,30−
4をその上面から所定距離だけ隔てた水平面内に延設さ
せている。これらの振動子20及び各フレーム30−
1,30−2,30−3,30−4は、基板10上に振
動可能に支持された可動部(振動部)を構成する。ま
た、基板10上には図示しない蓋部材が固着されてい
て、基板10と同蓋部材が構成する密閉空間内に、上記
振動子20、一対のメインフレーム30−1,30−
2、及び一対のサブフレーム30−3,30−4を含む
角速度検出素子全体が収容されている。この密閉空間内
は、略真空に保たれているが、若干の空気分子が残存し
ている。なお、他の部材により構成される密閉空間内に
基板10を含む角速度検出素子全体を配設してもよい。
【0013】振動子20は、X軸方向に振動している状
態で、X,Y両軸に直交するZ軸回りの角速度によって
同角速度の大きさに比例した振幅でY軸方向に振動する
もので、中央部に設けられて適当な質量を有するととも
にX軸及びY軸を各辺の延設方向とする長方形状のマス
部21と、このマス部21の各対角位置からX軸方向に
延設された4つのアーム部22−1〜22−4とを有し
ている。
態で、X,Y両軸に直交するZ軸回りの角速度によって
同角速度の大きさに比例した振幅でY軸方向に振動する
もので、中央部に設けられて適当な質量を有するととも
にX軸及びY軸を各辺の延設方向とする長方形状のマス
部21と、このマス部21の各対角位置からX軸方向に
延設された4つのアーム部22−1〜22−4とを有し
ている。
【0014】メインフレーム30−1,30−2は、振
動子20をX軸方向に振動させるもので、振動子20の
アーム部22−1〜22−4のY軸方向外側位置にてX
軸方向にそれぞれ延設された幅広の長尺部31−1,3
1−2と、両長尺部31−1,31−2の両端にてそれ
らの両側にそれぞれY軸方向に短く延設された幅広の終
端部32−1〜32−4とからなり、ほぼI型にそれぞ
れ形成されている。サブフレーム30−3,30−4
も、幅広に構成されていて、長尺部31−1,31−2
のY軸方向各外側にてX軸方向にそれぞれ延設されてい
る。
動子20をX軸方向に振動させるもので、振動子20の
アーム部22−1〜22−4のY軸方向外側位置にてX
軸方向にそれぞれ延設された幅広の長尺部31−1,3
1−2と、両長尺部31−1,31−2の両端にてそれ
らの両側にそれぞれY軸方向に短く延設された幅広の終
端部32−1〜32−4とからなり、ほぼI型にそれぞ
れ形成されている。サブフレーム30−3,30−4
も、幅広に構成されていて、長尺部31−1,31−2
のY軸方向各外側にてX軸方向にそれぞれ延設されてい
る。
【0015】メインフレーム30−1,30−2は、X
軸方向に延設された梁(検出ばね)33−1〜33−4
により振動子20に連結されている。梁33−1〜33
−4も、基板10上面から所定距離だけ隔てた水平面内
に形成されていて、各一端は振動子20のアーム部22
−1〜22−4の根元付近にそれぞれ接続され、各他端
はメインフレーム30−1,30−2の各終端部32−
1〜32−4にそれぞれ接続されている。また、梁33
−1〜33−4は、振動子20のアーム部22−1〜2
2−4、メインフレーム30−1,30−2の長尺部3
1−1,31−2及び終端部32−1〜32−4の幅よ
り細く構成されていて、X軸方向には実質的に変形不能
であり、Y方向には変形可能となっている。これによ
り、メインフレーム30−1,30−2から振動子20
へX軸方向の振動が効率よく伝達されるようになるとと
もに、振動子20がメインフレーム30−1,30−2
に対しX軸方向に比べてY軸方向に振動し易くなってい
る。すなわち、梁33−1〜33−4は、振動子20
を、基板10、メインフレーム30−1,30−2及び
サブフレーム30−3,30−4に対してY軸方向に振
動可能に支持する機能を有する。
軸方向に延設された梁(検出ばね)33−1〜33−4
により振動子20に連結されている。梁33−1〜33
−4も、基板10上面から所定距離だけ隔てた水平面内
に形成されていて、各一端は振動子20のアーム部22
−1〜22−4の根元付近にそれぞれ接続され、各他端
はメインフレーム30−1,30−2の各終端部32−
1〜32−4にそれぞれ接続されている。また、梁33
−1〜33−4は、振動子20のアーム部22−1〜2
2−4、メインフレーム30−1,30−2の長尺部3
1−1,31−2及び終端部32−1〜32−4の幅よ
り細く構成されていて、X軸方向には実質的に変形不能
であり、Y方向には変形可能となっている。これによ
り、メインフレーム30−1,30−2から振動子20
へX軸方向の振動が効率よく伝達されるようになるとと
もに、振動子20がメインフレーム30−1,30−2
に対しX軸方向に比べてY軸方向に振動し易くなってい
る。すなわち、梁33−1〜33−4は、振動子20
を、基板10、メインフレーム30−1,30−2及び
サブフレーム30−3,30−4に対してY軸方向に振
動可能に支持する機能を有する。
【0016】メインフレーム30−1は、アンカ41−
1,41−2、梁42−1,42−2、サブフレーム3
0−3、及び梁(駆動ばね)43−1,43−2を介
し、基板10に対して振動可能に支持されている。アン
カ41−1,41−2は、メインフレーム30−1の長
尺部31−1の各外側位置にて、基板10の上面に絶縁
層を介して形成され、同基板10に対して固定されてい
る。このアンカ41−1,41−2には梁42−1,4
2−2の各一端がそれぞれ接続されるとともに、同梁4
2−1,42−2はアンカ41−1,41−2からそれ
ぞれY軸方向外側に延設されている。梁42−1,42
−2の各先端はサブフレーム30−3の外側端にそれぞ
れ接続されており、サブフレーム30−3には、同フレ
ーム30−3のX軸方向内側にてY軸方向に延設された
梁43−1,43−2の各一端がそれぞれ接続されてい
る。梁43−1,43−2の各他端はメインフレーム3
0−1の長尺部31−1の外側端にそれぞれ接続されて
いる。梁42−1,42−2,43−1,43−2は、
振動子20、メインフレーム30−1,30−2及びサ
ブフレーム30−3,30−4と同様に、基板10から
所定距離だけ上方に浮いて設けられており、梁33−
1,33−2と同様に狭い幅を有するように形成されて
いる。
1,41−2、梁42−1,42−2、サブフレーム3
0−3、及び梁(駆動ばね)43−1,43−2を介
し、基板10に対して振動可能に支持されている。アン
カ41−1,41−2は、メインフレーム30−1の長
尺部31−1の各外側位置にて、基板10の上面に絶縁
層を介して形成され、同基板10に対して固定されてい
る。このアンカ41−1,41−2には梁42−1,4
2−2の各一端がそれぞれ接続されるとともに、同梁4
2−1,42−2はアンカ41−1,41−2からそれ
ぞれY軸方向外側に延設されている。梁42−1,42
−2の各先端はサブフレーム30−3の外側端にそれぞ
れ接続されており、サブフレーム30−3には、同フレ
ーム30−3のX軸方向内側にてY軸方向に延設された
梁43−1,43−2の各一端がそれぞれ接続されてい
る。梁43−1,43−2の各他端はメインフレーム3
0−1の長尺部31−1の外側端にそれぞれ接続されて
いる。梁42−1,42−2,43−1,43−2は、
振動子20、メインフレーム30−1,30−2及びサ
ブフレーム30−3,30−4と同様に、基板10から
所定距離だけ上方に浮いて設けられており、梁33−
1,33−2と同様に狭い幅を有するように形成されて
いる。
【0017】メインフレーム30−2は、アンカ41−
3,41−4、梁42−3,42−4、サブフレーム3
0−4、及び梁(駆動ばね)43−3,43−4を介
し、基板10に対して振動可能に支持されている。これ
らのアンカ41−3,41−4、梁42−3,42−
4、サブフレーム30−4、及び梁43−3,43−4
は、アンカ41−1,41−2、梁42−1,42−
2、サブフレーム30−3及び梁43−1,43−2と
Y軸方向の中心線に対して対称かつそれぞれ同様に構成
されている。これらの構成により、メインフレーム30
−1,30−2は、基板10に対しX軸方向に振動し易
くかつY軸方向に振動し難く支持されている。すなわ
ち、梁42−1〜42−4,43−1〜43−4は、メ
インフレーム30−1,30−2、サブフレーム30−
3,30−4、及び振動子20を基板10に対してX軸
方向に振動可能に支持する機能を有する。また、サブフ
レーム30−3,30−4は、補強部材として作用し
て、梁42−1〜42−4,43−1〜43−4をX軸
方向以外に変形し難くする。なお、これらのアンカ41
−1〜41−4、梁42−1〜42−4,43−1〜4
3−4,33−1〜33−4が、可動部(振動子20及
びフレーム30−1〜30−4)を基板10に対して振
動可能に支持する支持部材を構成する。
3,41−4、梁42−3,42−4、サブフレーム3
0−4、及び梁(駆動ばね)43−3,43−4を介
し、基板10に対して振動可能に支持されている。これ
らのアンカ41−3,41−4、梁42−3,42−
4、サブフレーム30−4、及び梁43−3,43−4
は、アンカ41−1,41−2、梁42−1,42−
2、サブフレーム30−3及び梁43−1,43−2と
Y軸方向の中心線に対して対称かつそれぞれ同様に構成
されている。これらの構成により、メインフレーム30
−1,30−2は、基板10に対しX軸方向に振動し易
くかつY軸方向に振動し難く支持されている。すなわ
ち、梁42−1〜42−4,43−1〜43−4は、メ
インフレーム30−1,30−2、サブフレーム30−
3,30−4、及び振動子20を基板10に対してX軸
方向に振動可能に支持する機能を有する。また、サブフ
レーム30−3,30−4は、補強部材として作用し
て、梁42−1〜42−4,43−1〜43−4をX軸
方向以外に変形し難くする。なお、これらのアンカ41
−1〜41−4、梁42−1〜42−4,43−1〜4
3−4,33−1〜33−4が、可動部(振動子20及
びフレーム30−1〜30−4)を基板10に対して振
動可能に支持する支持部材を構成する。
【0018】基板10上には、メインフレーム30−
1,30−2を基板10に対してX軸方向に駆動するた
めの駆動電極部51−1〜51−4と、前記メインフレ
ーム30−1,30−2の基板10に対するX軸方向の
駆動をモニタするための駆動モニタ電極部52−1〜5
2−4と、振動子20の基板10に対するY軸方向の振
動を検出するための検出電極部53−1〜53−4と、
振動子20の検出振動共振周波数を変更して検出振動の
ゲイン(実効検出振動Q値)を変更する離調調整電極部
54−1〜54−4が設けられている。なお、離調調整
とは、駆動電極部51−1〜51−4によるX軸方向の
振動の共振周波数(駆動振動共振周波数)と振動子20
のY軸方向の振動の共振周波数(検出振動共振周波数)
との差を調整することを意味する。
1,30−2を基板10に対してX軸方向に駆動するた
めの駆動電極部51−1〜51−4と、前記メインフレ
ーム30−1,30−2の基板10に対するX軸方向の
駆動をモニタするための駆動モニタ電極部52−1〜5
2−4と、振動子20の基板10に対するY軸方向の振
動を検出するための検出電極部53−1〜53−4と、
振動子20の検出振動共振周波数を変更して検出振動の
ゲイン(実効検出振動Q値)を変更する離調調整電極部
54−1〜54−4が設けられている。なお、離調調整
とは、駆動電極部51−1〜51−4によるX軸方向の
振動の共振周波数(駆動振動共振周波数)と振動子20
のY軸方向の振動の共振周波数(検出振動共振周波数)
との差を調整することを意味する。
【0019】駆動電極部51−1〜51−4は、メイン
フレーム30−1,30−2の終端部32−1〜32−
4の各X軸方向外側位置にて同終端部32−1〜32−
4に向けてX軸方向に延設した複数の電極指を有する櫛
歯状電極51a1〜51a4をそれぞれ備えている。各
櫛歯状電極51a1〜51a4は絶縁層を介して基板1
0の上面に形成・固定されていて、同様に絶縁層を介し
て基板10の上面に形成・固定されたパッド部51b1
〜51b4とそれぞれ接続されている。また、パッド部
51b1〜51b4の上面には、導電金属(例えばアル
ミニウム)からなる電極パッド51c1〜51c4がそ
れぞれ形成されている。
フレーム30−1,30−2の終端部32−1〜32−
4の各X軸方向外側位置にて同終端部32−1〜32−
4に向けてX軸方向に延設した複数の電極指を有する櫛
歯状電極51a1〜51a4をそれぞれ備えている。各
櫛歯状電極51a1〜51a4は絶縁層を介して基板1
0の上面に形成・固定されていて、同様に絶縁層を介し
て基板10の上面に形成・固定されたパッド部51b1
〜51b4とそれぞれ接続されている。また、パッド部
51b1〜51b4の上面には、導電金属(例えばアル
ミニウム)からなる電極パッド51c1〜51c4がそ
れぞれ形成されている。
【0020】前記メインフレーム30−1,30−2の
終端部32−1〜32−4には、X軸方向外側に向けて
延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極32a1〜3
2a4が櫛歯状電極51a1〜51a4に対向してそれ
ぞれ設けられている。櫛歯状電極32a1〜32a4
は、終端部32−1〜32−4と一体的に形成されて基
板10の上面から所定距離だけ浮かして設けられてお
り、同電極32a1〜32a4の各電極指は櫛歯状電極
51a1〜51a4の各隣合う電極指の幅方向中心位置
に侵入して同隣合う電極指に対向している。
終端部32−1〜32−4には、X軸方向外側に向けて
延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極32a1〜3
2a4が櫛歯状電極51a1〜51a4に対向してそれ
ぞれ設けられている。櫛歯状電極32a1〜32a4
は、終端部32−1〜32−4と一体的に形成されて基
板10の上面から所定距離だけ浮かして設けられてお
り、同電極32a1〜32a4の各電極指は櫛歯状電極
51a1〜51a4の各隣合う電極指の幅方向中心位置
に侵入して同隣合う電極指に対向している。
【0021】駆動モニタ電極部52−1〜52−4は、
メインフレーム30−1,30−2の終端部32−1〜
32−4の各X軸方向内側位置にて同終端部32−1〜
32−4に向けてX軸方向に延設した複数の電極指を有
する櫛歯状電極52a1〜52a4をそれぞれ備えてい
る。各櫛歯状電極52a1〜52a4は、絶縁層を介し
て基板10の上面に形成・固定されていて、同様に絶縁
層を介して基板10の上面に形成・固定されたパッド部
52b1〜52b4とそれぞれ接続されている。また、
パッド部52b1〜52b4の上面には、導電金属(例
えばアルミニウム)からなる電極パッド52c1〜52
c4がそれぞれ形成されている。
メインフレーム30−1,30−2の終端部32−1〜
32−4の各X軸方向内側位置にて同終端部32−1〜
32−4に向けてX軸方向に延設した複数の電極指を有
する櫛歯状電極52a1〜52a4をそれぞれ備えてい
る。各櫛歯状電極52a1〜52a4は、絶縁層を介し
て基板10の上面に形成・固定されていて、同様に絶縁
層を介して基板10の上面に形成・固定されたパッド部
52b1〜52b4とそれぞれ接続されている。また、
パッド部52b1〜52b4の上面には、導電金属(例
えばアルミニウム)からなる電極パッド52c1〜52
c4がそれぞれ形成されている。
【0022】前記メインフレーム30−1,30−2の
終端部32−1〜32−4には、X軸方向内側に向けて
延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極32b1〜3
2b4が櫛歯状電極52a1〜52a4に対向してそれ
ぞれ設けられている。櫛歯状電極32b1〜32b4
は、終端部32−1〜32−4と一体的に形成されて基
板10の上面から所定距離だけ浮かして設けられてお
り、同電極32b1〜32b4の各電極指は櫛歯状電極
52a1〜52a4の各隣合う電極指の幅方向中心位置
に侵入して同隣合う電極指に対向している。
終端部32−1〜32−4には、X軸方向内側に向けて
延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極32b1〜3
2b4が櫛歯状電極52a1〜52a4に対向してそれ
ぞれ設けられている。櫛歯状電極32b1〜32b4
は、終端部32−1〜32−4と一体的に形成されて基
板10の上面から所定距離だけ浮かして設けられてお
り、同電極32b1〜32b4の各電極指は櫛歯状電極
52a1〜52a4の各隣合う電極指の幅方向中心位置
に侵入して同隣合う電極指に対向している。
【0023】検出電極部53−1〜53−4は、マス部
21の各外側位置にてX軸方向内外両側に延設された複
数の電極指を有する櫛歯状電極53a1〜53a4をそ
れぞれ備えている。各櫛歯状電極53a1〜53a4
は、絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定されて
いて、同様に絶縁層を介して基板10の上面に形成・固
定されたパッド部53b1〜53b4とそれぞれ接続さ
れている。パッド部53b1〜53b4の上面には、導
電金属(例えばアルミニウム)からなる電極パッド53
c1〜53c4がそれぞれ形成されている。
21の各外側位置にてX軸方向内外両側に延設された複
数の電極指を有する櫛歯状電極53a1〜53a4をそ
れぞれ備えている。各櫛歯状電極53a1〜53a4
は、絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定されて
いて、同様に絶縁層を介して基板10の上面に形成・固
定されたパッド部53b1〜53b4とそれぞれ接続さ
れている。パッド部53b1〜53b4の上面には、導
電金属(例えばアルミニウム)からなる電極パッド53
c1〜53c4がそれぞれ形成されている。
【0024】離調調整電極部54−1〜54−4は、振
動子20のX軸方向各外側位置にてX軸方向内側に延設
された複数の電極指を有する櫛歯状電極54a1〜54
a4をそれぞれ備えている。各櫛歯状電極54a1〜5
4a4は、絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定
されていて、同様に絶縁層を介して基板10の上面に形
成・固定されたパッド部54b1〜54b4とそれぞれ
接続されている。パッド部54b1〜54b4の上面に
は、導電金属(例えばアルミニウム)からなる電極パッ
ド54c1〜54c4がそれぞれ形成されている。
動子20のX軸方向各外側位置にてX軸方向内側に延設
された複数の電極指を有する櫛歯状電極54a1〜54
a4をそれぞれ備えている。各櫛歯状電極54a1〜5
4a4は、絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定
されていて、同様に絶縁層を介して基板10の上面に形
成・固定されたパッド部54b1〜54b4とそれぞれ
接続されている。パッド部54b1〜54b4の上面に
は、導電金属(例えばアルミニウム)からなる電極パッ
ド54c1〜54c4がそれぞれ形成されている。
【0025】振動子20のマス部21には、X軸方向外
側に向けて延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極2
1a1〜21a4が櫛歯状電極53a1〜53a4の各
一方に対向してそれぞれ設けられている。また、振動子
20のアーム部22−1〜22−4の端部には、X軸方
向内側に向けて延設された複数の電極指を有する櫛歯状
電極22a1〜22a4が櫛歯状電極53a1〜53a
4の各他方に対向してそれぞれ設けられている。更に、
振動子20のアーム部22−1〜22−4の端部には、
X軸方向外側に向けて延設された複数の電極指を有する
櫛歯状電極23a1〜23a4が櫛歯状電極54a1〜
54a4に対向してそれぞれ設けられている。
側に向けて延設した複数の電極指からなる櫛歯状電極2
1a1〜21a4が櫛歯状電極53a1〜53a4の各
一方に対向してそれぞれ設けられている。また、振動子
20のアーム部22−1〜22−4の端部には、X軸方
向内側に向けて延設された複数の電極指を有する櫛歯状
電極22a1〜22a4が櫛歯状電極53a1〜53a
4の各他方に対向してそれぞれ設けられている。更に、
振動子20のアーム部22−1〜22−4の端部には、
X軸方向外側に向けて延設された複数の電極指を有する
櫛歯状電極23a1〜23a4が櫛歯状電極54a1〜
54a4に対向してそれぞれ設けられている。
【0026】櫛歯状電極21a1〜21a4,22a1
〜22a4は、マス部21及びアーム部22−1〜22
−4と一体的に形成されて基板10の上面から所定距離
だけ浮かして設けられており、同電極21a1〜21a
4,22a1〜22a4の各電極指は櫛歯状電極53a
1〜53a4の各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電
極指に対向している。この場合、櫛歯状電極21a1〜
21a4,22a1〜22a4の各電極指は櫛歯状電極
53a1〜53a4の隣合う各電極指の幅方向中心位置
から一方にずれて設けられている。
〜22a4は、マス部21及びアーム部22−1〜22
−4と一体的に形成されて基板10の上面から所定距離
だけ浮かして設けられており、同電極21a1〜21a
4,22a1〜22a4の各電極指は櫛歯状電極53a
1〜53a4の各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電
極指に対向している。この場合、櫛歯状電極21a1〜
21a4,22a1〜22a4の各電極指は櫛歯状電極
53a1〜53a4の隣合う各電極指の幅方向中心位置
から一方にずれて設けられている。
【0027】また、櫛歯状電極23a1〜23a4は、
アーム部22−1〜22−4と一体的に形成されて基板
10の上面から所定距離だけ浮かして設けられており、
同電極23a1〜23a4の各電極指は離調調整電極部
54−1〜54−4の櫛歯状電極54a1〜54a4の
各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電極指に対向して
いる。
アーム部22−1〜22−4と一体的に形成されて基板
10の上面から所定距離だけ浮かして設けられており、
同電極23a1〜23a4の各電極指は離調調整電極部
54−1〜54−4の櫛歯状電極54a1〜54a4の
各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電極指に対向して
いる。
【0028】更に、基板10上には、振動子20に梁3
3−3,33−4、メインフレーム30−2、梁43−
3,43−4、サブフレーム30−4、梁42−3及び
アンカ41−3を介して電気的に接続されたパッド部2
0aが設けられている。パッド部20aは、アンカ41
−3と一体的に形成されて基板10の上面に形成・固定
されており、パッド部20aの上面には、導電金属(例
えばアルミニウム)で形成された電極パッド20bが設
けられている。
3−3,33−4、メインフレーム30−2、梁43−
3,43−4、サブフレーム30−4、梁42−3及び
アンカ41−3を介して電気的に接続されたパッド部2
0aが設けられている。パッド部20aは、アンカ41
−3と一体的に形成されて基板10の上面に形成・固定
されており、パッド部20aの上面には、導電金属(例
えばアルミニウム)で形成された電極パッド20bが設
けられている。
【0029】次に、上記のように構成した角速度検出素
子を用いて角速度を検出するための電気回路装置につい
て説明すると、図2は同電気回路装置をブロック図によ
り示している。
子を用いて角速度を検出するための電気回路装置につい
て説明すると、図2は同電気回路装置をブロック図によ
り示している。
【0030】この電気回路装置において、検出電極部5
3−1,53−2の電極パッド53c1,53c2には
高周波発振器61が接続されており、同発振器61は、
振動子20の共振周波数よりも極めて高い周波数f1の
検出用信号E1sin(2πf1t)を同パッド53c1,53
c2に供給する。この高周波発振器61には位相反転回
路61aが接続されており、同回路61aは前記検出用
信号E1sin(2πf1t)の位相を反転した検出用信号E1si
n(2πf1t+π)を検出電極部53−3,53−4の電
極パッド53c3,53c4に供給する。
3−1,53−2の電極パッド53c1,53c2には
高周波発振器61が接続されており、同発振器61は、
振動子20の共振周波数よりも極めて高い周波数f1の
検出用信号E1sin(2πf1t)を同パッド53c1,53
c2に供給する。この高周波発振器61には位相反転回
路61aが接続されており、同回路61aは前記検出用
信号E1sin(2πf1t)の位相を反転した検出用信号E1si
n(2πf1t+π)を検出電極部53−3,53−4の電
極パッド53c3,53c4に供給する。
【0031】駆動モニタ電極部52−1,52−3の電
極パッド52c1,52c3には高周波発振器62が接
続されており、同発振器62は、振動子20の共振周波
数よりも極めて高くかつ前記周波数f1とは異なる周波
数f2のモニタ用信号E2sin(2πf2t)を同パッド52
c1,52c3に供給する。高周波発振器62には位相
反転回路62aが接続されており、同回路62aはモニ
タ用信号E2sin(2πf2t)の位相を反転したモニタ用信
号E2sin(2πf2t+π)を駆動モニタ電極部52−2,
52−4の電極パッド52c2,52c4に供給する。
これにより、振動子20のX,Y軸方向の各振動をE0xs
in(2πf0t),E0ysin(2πf0t)で表すと、電極パッ
ド20bから出力されて振動子20のX,Y両軸方向の
各振動をそれぞれ表す信号は、E2・E0x・sin(2πf0t)・
sin(2πf2t),E1・E0y・sin(2πf0t)・sin(2πf1
t)となる。なお、周波数f0は、振動子20の共振周波
数近傍の周波数である。
極パッド52c1,52c3には高周波発振器62が接
続されており、同発振器62は、振動子20の共振周波
数よりも極めて高くかつ前記周波数f1とは異なる周波
数f2のモニタ用信号E2sin(2πf2t)を同パッド52
c1,52c3に供給する。高周波発振器62には位相
反転回路62aが接続されており、同回路62aはモニ
タ用信号E2sin(2πf2t)の位相を反転したモニタ用信
号E2sin(2πf2t+π)を駆動モニタ電極部52−2,
52−4の電極パッド52c2,52c4に供給する。
これにより、振動子20のX,Y軸方向の各振動をE0xs
in(2πf0t),E0ysin(2πf0t)で表すと、電極パッ
ド20bから出力されて振動子20のX,Y両軸方向の
各振動をそれぞれ表す信号は、E2・E0x・sin(2πf0t)・
sin(2πf2t),E1・E0y・sin(2πf0t)・sin(2πf1
t)となる。なお、周波数f0は、振動子20の共振周波
数近傍の周波数である。
【0032】駆動電極部51−1〜51−4の各電極パ
ッド51c1〜51c4には、駆動回路70が接続され
ている。駆動回路70は、電極パッド20bから増幅器
63を介して入力した信号に基づいて駆動信号を形成し
て各電極パッド51c1〜51c4に供給する。
ッド51c1〜51c4には、駆動回路70が接続され
ている。駆動回路70は、電極パッド20bから増幅器
63を介して入力した信号に基づいて駆動信号を形成し
て各電極パッド51c1〜51c4に供給する。
【0033】駆動回路70は、増幅器63に直列接続さ
れた復調回路71、復調回路71に接続された移相回路
72、及び移相回路72に接続された乗算回路73を備
えているとともに、復調回路71に接続されたrms回
路(root mean square)75と、rms回路75及び乗
算回路73の間に直列接続されサーボアンプ76とを備
えている。
れた復調回路71、復調回路71に接続された移相回路
72、及び移相回路72に接続された乗算回路73を備
えているとともに、復調回路71に接続されたrms回
路(root mean square)75と、rms回路75及び乗
算回路73の間に直列接続されサーボアンプ76とを備
えている。
【0034】復調回路71は、電極パッド20bから出
力された信号を周波数f2で同期検波して(周波数2π
f2の信号の振幅エンベロープを取り出して)、振動子
20のX軸方向の振動成分を表す信号E0xsin(2πf
0t)を出力する。移相回路72は、振動子20の振動を
表す検出信号が振動子20を駆動するための信号に対し
てπ/2(=1/(4f0)秒に相当)だけ遅れること
を補正するために、入力信号の位相をπ/2だけ進めて
出力する。rms回路75は、前記復調回路71からの
信号を直流信号に変換して、振動子20のX軸方向の振
動成分の振幅を表す信号E0xを出力する。
力された信号を周波数f2で同期検波して(周波数2π
f2の信号の振幅エンベロープを取り出して)、振動子
20のX軸方向の振動成分を表す信号E0xsin(2πf
0t)を出力する。移相回路72は、振動子20の振動を
表す検出信号が振動子20を駆動するための信号に対し
てπ/2(=1/(4f0)秒に相当)だけ遅れること
を補正するために、入力信号の位相をπ/2だけ進めて
出力する。rms回路75は、前記復調回路71からの
信号を直流信号に変換して、振動子20のX軸方向の振
動成分の振幅を表す信号E0xを出力する。
【0035】サーボアンプ76は、rms回路75から
の出力信号E0xと一定の参照電圧V0とを比較し、同出力
信号E0xと同参照電圧V0とを等しくするために必要な所
定の電圧E0x'を出力する。乗算回路73は、移相回路7
2の出力信号と電圧E0x'と所定の定数を乗算した信号E
0x'sin(2πf0t)を出力する。即ち、サーボアンプ7
6は、rms回路75からの信号が大きくなるにしたが
って乗算回路73の出力信号の振幅が小さくなるように
制御し、振動子20のX軸方向の振動成分の振幅が一定
値となるように機能する。
の出力信号E0xと一定の参照電圧V0とを比較し、同出力
信号E0xと同参照電圧V0とを等しくするために必要な所
定の電圧E0x'を出力する。乗算回路73は、移相回路7
2の出力信号と電圧E0x'と所定の定数を乗算した信号E
0x'sin(2πf0t)を出力する。即ち、サーボアンプ7
6は、rms回路75からの信号が大きくなるにしたが
って乗算回路73の出力信号の振幅が小さくなるように
制御し、振動子20のX軸方向の振動成分の振幅が一定
値となるように機能する。
【0036】ここで、サーボアンプ76の出力電圧E0x'
について説明を加える。角速度検出素子の存在する密閉
空間内の温度が上昇し、その圧力が上昇すると、振動子
20は密閉空間内の気体(この例では、空気。なお、同
密閉空間に他の気体又は液体が存在しているときは、そ
れらの流体。)から大きい摩擦力を受けるために振動し
難くなる。従って、rms回路75からの出力信号E0x
は小さくなり、サーボアンプ76の出力電圧E0x'は大き
くなる。これとは逆に、角速度検出素子の存在する密閉
空間の圧力が低下すると、振動子20の密閉空間内の気
体から受ける摩擦力が小さくなるため、同振動子20は
振動し易くなる。従って、rms回路75からの出力信
号E0xは大きくなり、サーボアンプ76の出力電圧E0x'
は小さくなる。このことから明らかなように、サーボア
ンプ76の出力電圧E0x'は、密閉空間の圧力を表す値と
なる。
について説明を加える。角速度検出素子の存在する密閉
空間内の温度が上昇し、その圧力が上昇すると、振動子
20は密閉空間内の気体(この例では、空気。なお、同
密閉空間に他の気体又は液体が存在しているときは、そ
れらの流体。)から大きい摩擦力を受けるために振動し
難くなる。従って、rms回路75からの出力信号E0x
は小さくなり、サーボアンプ76の出力電圧E0x'は大き
くなる。これとは逆に、角速度検出素子の存在する密閉
空間の圧力が低下すると、振動子20の密閉空間内の気
体から受ける摩擦力が小さくなるため、同振動子20は
振動し易くなる。従って、rms回路75からの出力信
号E0xは大きくなり、サーボアンプ76の出力電圧E0x'
は小さくなる。このことから明らかなように、サーボア
ンプ76の出力電圧E0x'は、密閉空間の圧力を表す値と
なる。
【0037】また、駆動回路70は、乗算回路73の出
力に接続された加算器77−1,77−3も備えている
とともに、乗算回路73に位相反転回路73aを介して
接続された加算器77−2,77−4も備えている。位
相反転回路73aは、乗算回路73からの信号を位相反
転して出力する。加算器77−1〜77−4には、一定
の直流電圧EBを出力する定電圧源回路78も接続されて
いる。
力に接続された加算器77−1,77−3も備えている
とともに、乗算回路73に位相反転回路73aを介して
接続された加算器77−2,77−4も備えている。位
相反転回路73aは、乗算回路73からの信号を位相反
転して出力する。加算器77−1〜77−4には、一定
の直流電圧EBを出力する定電圧源回路78も接続されて
いる。
【0038】加算器77−1,77−3は、乗算回路7
3からの信号E0x'sin(2πf0t)と定電圧源回路78か
らの直流電圧信号EBとを加算して、加算電圧EB+E0x'si
n(2πf0t)を駆動電極部51−1,51−3の電極パ
ッド51c1,51c3にそれぞれ供給する。加算器7
7−2,77−4は、位相反転回路73aからの信号E
0x'sin(2πf0t+π)と定電圧源回路78からの直流
電圧信号EBとを加算して、加算電圧EB+E0x'sin(2πf
0t+π)=EB−E0x'sin(2πf0t)を駆動電極部51−
2,51−4の電極パッド51c2,51c4にそれぞ
れ供給する。
3からの信号E0x'sin(2πf0t)と定電圧源回路78か
らの直流電圧信号EBとを加算して、加算電圧EB+E0x'si
n(2πf0t)を駆動電極部51−1,51−3の電極パ
ッド51c1,51c3にそれぞれ供給する。加算器7
7−2,77−4は、位相反転回路73aからの信号E
0x'sin(2πf0t+π)と定電圧源回路78からの直流
電圧信号EBとを加算して、加算電圧EB+E0x'sin(2πf
0t+π)=EB−E0x'sin(2πf0t)を駆動電極部51−
2,51−4の電極パッド51c2,51c4にそれぞ
れ供給する。
【0039】さらに、駆動回路70は、サーボアンプ7
6の出力に接続されたサーボアンプ79を備えている。
サーボアンプ79は、サーボアンプ76の出力電圧E0x'
と一定の参照電圧VQとを比較し、同サーボアンプ76の
出力電圧E0x'が同参照電圧VQと等しくするために必要な
所定の離調電圧ERCを出力する。サーボアンプ79は、
この離調電圧ERCを離調調整電極部54−1〜54−4
の電極パッド54c1〜54c4に印加する。
6の出力に接続されたサーボアンプ79を備えている。
サーボアンプ79は、サーボアンプ76の出力電圧E0x'
と一定の参照電圧VQとを比較し、同サーボアンプ76の
出力電圧E0x'が同参照電圧VQと等しくするために必要な
所定の離調電圧ERCを出力する。サーボアンプ79は、
この離調電圧ERCを離調調整電極部54−1〜54−4
の電極パッド54c1〜54c4に印加する。
【0040】また、増幅器63には、直列接続された復
調回路81、検波回路82及び増幅器83からなる出力
回路80が接続されている。復調回路81は、電極パッ
ド20bから出力された信号を周波数f1で同期検波し
て(周波数f1の信号の振幅エンベロープを取り出し
て)、振動子20のY軸方向の振動成分を表す信号E0ys
in(2πf0t)を出力する。検波回路82は、前記復調
回路81からの信号を周波数f0で同期検波して(振動
子20のY軸方向の振動成分の振幅エンベロープを取り
出して)、振動子20のY軸方向の振動成分の振幅を表
す信号E0yを出力する。増幅器83は、前記信号E0yを入
力して出力端子OUTから振動子20のY軸方向の振動
の大きさを表す直流信号を出力する。これが、角速度検
出装置の出力となる。
調回路81、検波回路82及び増幅器83からなる出力
回路80が接続されている。復調回路81は、電極パッ
ド20bから出力された信号を周波数f1で同期検波し
て(周波数f1の信号の振幅エンベロープを取り出し
て)、振動子20のY軸方向の振動成分を表す信号E0ys
in(2πf0t)を出力する。検波回路82は、前記復調
回路81からの信号を周波数f0で同期検波して(振動
子20のY軸方向の振動成分の振幅エンベロープを取り
出して)、振動子20のY軸方向の振動成分の振幅を表
す信号E0yを出力する。増幅器83は、前記信号E0yを入
力して出力端子OUTから振動子20のY軸方向の振動
の大きさを表す直流信号を出力する。これが、角速度検
出装置の出力となる。
【0041】次に、上記のように構成した角速度検出装
置を使ってZ軸回りの角速度を検出する動作について説
明する。まず、この角速度検出装置を角速度を検出しよ
うとする物体(例えば、自動車の車体)に固定して、前
述のように電気回路装置を作動させる。この状態で、Z
軸回りに角速度が作用すると、振動子20はコリオリ力
によって前記角速度に比例した振幅でY軸方向に振動し
始める。
置を使ってZ軸回りの角速度を検出する動作について説
明する。まず、この角速度検出装置を角速度を検出しよ
うとする物体(例えば、自動車の車体)に固定して、前
述のように電気回路装置を作動させる。この状態で、Z
軸回りに角速度が作用すると、振動子20はコリオリ力
によって前記角速度に比例した振幅でY軸方向に振動し
始める。
【0042】この場合、振動子20のY軸方向への振動
により検出電極部53−1〜53−4の静電容量が前記
振動に応じて変化する。そして、この静電容量の変化
は、高周波発振器61及び位相反転回路61aから出力
された検出用信号E1sin(2πf 1t),E1sin(2πf1t
+π)=−E1sin(2πf1t)の振幅を変調した信号、す
なわちE1・E0y・sin(2πf0t)・sin(2πf1t)となって
電極パッド20bに現れ、増幅器63を介して出力回路
80に出力される。出力回路80は、復調回路81、検
波回路82及び増幅器83の作用により、出力端子OU
Tから前記振動子20のY軸方向の振動の大きさを表す
信号E0yを出力する。そして、このY軸方向の振動の大
きさはZ軸回りの角速度に比例するので、同角速度を表
す検出信号が出力端子OUTから出力されることにな
る。
により検出電極部53−1〜53−4の静電容量が前記
振動に応じて変化する。そして、この静電容量の変化
は、高周波発振器61及び位相反転回路61aから出力
された検出用信号E1sin(2πf 1t),E1sin(2πf1t
+π)=−E1sin(2πf1t)の振幅を変調した信号、す
なわちE1・E0y・sin(2πf0t)・sin(2πf1t)となって
電極パッド20bに現れ、増幅器63を介して出力回路
80に出力される。出力回路80は、復調回路81、検
波回路82及び増幅器83の作用により、出力端子OU
Tから前記振動子20のY軸方向の振動の大きさを表す
信号E0yを出力する。そして、このY軸方向の振動の大
きさはZ軸回りの角速度に比例するので、同角速度を表
す検出信号が出力端子OUTから出力されることにな
る。
【0043】また、上記の角速度検出装置においては、
密閉空間の圧力変動に応じてサーボアンプ76の出力電
圧E0x'が変化し、サーボアンプ79は、この出力電圧E
0x'が一定となるように、離調電圧ERCを変化させる。こ
れにより、離調調整電極部54−1〜54−4による静
電引力の大きさが変化し、Y軸方向の力に対する振動子
20の変位量すなわち検出用の梁33−1〜33−4の
ばね定数が変更される。その結果、振動子20のY軸方
向の共振周波数(検出振動共振周波数)が適宜調整され
るので、密閉空間内の圧力変動にかかわらず、常に安定
した出力を得ることができる。
密閉空間の圧力変動に応じてサーボアンプ76の出力電
圧E0x'が変化し、サーボアンプ79は、この出力電圧E
0x'が一定となるように、離調電圧ERCを変化させる。こ
れにより、離調調整電極部54−1〜54−4による静
電引力の大きさが変化し、Y軸方向の力に対する振動子
20の変位量すなわち検出用の梁33−1〜33−4の
ばね定数が変更される。その結果、振動子20のY軸方
向の共振周波数(検出振動共振周波数)が適宜調整され
るので、密閉空間内の圧力変動にかかわらず、常に安定
した出力を得ることができる。
【0044】このように、離調調整電極部54−1〜5
4−4は、ゲイン変更指示手段として機能する電気回路
装置(サーボアンプ79)からの密閉空間の圧力に応じ
た指示信号に基づいて、可動部である振動子20の検出
振動の共振周波数を調整する調整手段(ゲイン変更手
段)として機能する。また、この調整手段は、振動子2
0に対し、検出振動の振動方向(Y軸方向)における振
動子20の変位が大きくなるに従って、同変位を妨げる
方向に大きくなる力を付与する手段ともいえる。
4−4は、ゲイン変更指示手段として機能する電気回路
装置(サーボアンプ79)からの密閉空間の圧力に応じ
た指示信号に基づいて、可動部である振動子20の検出
振動の共振周波数を調整する調整手段(ゲイン変更手
段)として機能する。また、この調整手段は、振動子2
0に対し、検出振動の振動方向(Y軸方向)における振
動子20の変位が大きくなるに従って、同変位を妨げる
方向に大きくなる力を付与する手段ともいえる。
【0045】ここで、上記の作用について説明を加える
と、図3は上記角速度検出装置の振動周波数に対する振
幅の変化の状態を示したものであり、図3(A)は密閉
空間内の圧力が低下した場合、図3(B)は密閉空間内
の圧力が上昇した場合である。
と、図3は上記角速度検出装置の振動周波数に対する振
幅の変化の状態を示したものであり、図3(A)は密閉
空間内の圧力が低下した場合、図3(B)は密閉空間内
の圧力が上昇した場合である。
【0046】図3において、曲線L1は密閉空間内の圧力
が標準値である場合の特性である。角速度検出装置とし
ては、検出特性を示す駆動共振周波数f0における振幅、
即ち実効検出振動のゲイン(実効検出振動Q値)が一定
値ωsとなることが望ましい。ところが、前述したよう
に、密閉空間内の圧力が低下すると振動子20の摩擦抵
抗が低下するため、振動子20は振動し易くなる。従っ
て、そのまま放置すると、図3(A)の曲線L2にて示し
たように検出特性が変化し、駆動共振周波数f0における
実効検出振動Q値はωuに上昇してしまう。これに対
し、第1実施形態においては、密閉空間の圧力低下に伴
ってサーボアンプ76の出力値E0x'が小さくなるので、
サーボアンプ79はこれを補償すべく離調電圧ERCを増
大する。これにより、検出振動共振周波数が増大して特
性は同図3(A)の曲線L3のようになり、実効検出振動
Q値がωsに維持される。
が標準値である場合の特性である。角速度検出装置とし
ては、検出特性を示す駆動共振周波数f0における振幅、
即ち実効検出振動のゲイン(実効検出振動Q値)が一定
値ωsとなることが望ましい。ところが、前述したよう
に、密閉空間内の圧力が低下すると振動子20の摩擦抵
抗が低下するため、振動子20は振動し易くなる。従っ
て、そのまま放置すると、図3(A)の曲線L2にて示し
たように検出特性が変化し、駆動共振周波数f0における
実効検出振動Q値はωuに上昇してしまう。これに対
し、第1実施形態においては、密閉空間の圧力低下に伴
ってサーボアンプ76の出力値E0x'が小さくなるので、
サーボアンプ79はこれを補償すべく離調電圧ERCを増
大する。これにより、検出振動共振周波数が増大して特
性は同図3(A)の曲線L3のようになり、実効検出振動
Q値がωsに維持される。
【0047】同様に、密閉空間内の圧力が上昇すると振
動子20の摩擦抵抗が増大するため、振動子20は振動
し難くなる。従って、そのまま放置すると、図3(B)
の曲線L4にて示したように検出特性が変化し、駆動振動
共振周波数f0における実効検出振動Q値はωdに低下し
てしまう。これに対し、第1実施形態においては、密閉
空間の圧力上昇に伴ってサーボアンプ76の出力値E0x'
が大きくなるので、サーボアンプ79はこれを補償すべ
く離調電圧ERCを減少する。これにより、検出振動共振
周波数が低下して特性は同図3(B)の曲線L5のように
なり、実効検出振動Q値がωsに維持される。
動子20の摩擦抵抗が増大するため、振動子20は振動
し難くなる。従って、そのまま放置すると、図3(B)
の曲線L4にて示したように検出特性が変化し、駆動振動
共振周波数f0における実効検出振動Q値はωdに低下し
てしまう。これに対し、第1実施形態においては、密閉
空間の圧力上昇に伴ってサーボアンプ76の出力値E0x'
が大きくなるので、サーボアンプ79はこれを補償すべ
く離調電圧ERCを減少する。これにより、検出振動共振
周波数が低下して特性は同図3(B)の曲線L5のように
なり、実効検出振動Q値がωsに維持される。
【0048】その結果、第1実施形態によれば、密閉空
間内の圧力が温度変化により変動した場合であっても実
効検出振動Q値、即ち駆動振動の周波数における検出振
動のゲインが一定に保たれるため、角速度検出装置の検
出特性が安定したものとなり、角速度の検出精度を向上
させることができる。
間内の圧力が温度変化により変動した場合であっても実
効検出振動Q値、即ち駆動振動の周波数における検出振
動のゲインが一定に保たれるため、角速度検出装置の検
出特性が安定したものとなり、角速度の検出精度を向上
させることができる。
【0049】次に、本発明の第2実施形態に係る角速度
検出装置について説明する。図4は第2実施形態に係る
角速度検出素子の平面図、図5は、その内の一つの検出
電極53−2のX軸方向外側端部を拡大して示した平面
図である。
検出装置について説明する。図4は第2実施形態に係る
角速度検出素子の平面図、図5は、その内の一つの検出
電極53−2のX軸方向外側端部を拡大して示した平面
図である。
【0050】この角速度検出素子は、上記第1実施形態
の角速度検出素子と比べて、検出電極53−1〜53−
4の構造が若干だけ異なる点、及び、離調調整電極部5
4−1〜54−4に代えてQ値調整用電極部55−1〜
55−4を設けた点で相違する。他の部分に関しては、
上記第1実施形態と同じであるので、同一符号を付して
その説明を省略する。
の角速度検出素子と比べて、検出電極53−1〜53−
4の構造が若干だけ異なる点、及び、離調調整電極部5
4−1〜54−4に代えてQ値調整用電極部55−1〜
55−4を設けた点で相違する。他の部分に関しては、
上記第1実施形態と同じであるので、同一符号を付して
その説明を省略する。
【0051】この第2実施形態に係る検出電極53−1
〜53−4は、櫛歯状電極53a1〜53a4と、電極
連結部53d1〜53d4と、調整電極接続部53e1
〜53e4と、移動電極指53f1〜53f4と、各一
対の電極アーム部53g1〜53g4と、調整用電極指
53h1〜53h4と、パッド部53i1〜53i4と
を備えている。
〜53−4は、櫛歯状電極53a1〜53a4と、電極
連結部53d1〜53d4と、調整電極接続部53e1
〜53e4と、移動電極指53f1〜53f4と、各一
対の電極アーム部53g1〜53g4と、調整用電極指
53h1〜53h4と、パッド部53i1〜53i4と
を備えている。
【0052】櫛歯状電極53a1〜53a4の電極指
は、アーム部22−1〜22−4の櫛歯状電極22a1
〜22a4の各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電極
指に対向していて、L字形の電極連結部53d1〜53
d4を介してパッド部53i1〜53i4に接続されて
いる。これら、櫛歯状電極53a1〜53a4と、電極
連結部53d1〜53d4と、パッド部53i1〜53
i4は絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定され
ている。
は、アーム部22−1〜22−4の櫛歯状電極22a1
〜22a4の各隣合う電極指間に侵入して同隣合う電極
指に対向していて、L字形の電極連結部53d1〜53
d4を介してパッド部53i1〜53i4に接続されて
いる。これら、櫛歯状電極53a1〜53a4と、電極
連結部53d1〜53d4と、パッド部53i1〜53
i4は絶縁層を介して基板10の上面に形成・固定され
ている。
【0053】電極接続部53e1〜53e4は、振動子
20のアーム部22−1〜22−4のX軸方向外側にお
いてY軸方向に伸び、X軸方向内側に伸びる移動電極指
53f1〜53f4と、X軸方向外側に伸びる各一対の
アームである電極アーム部53g1〜53g4と、X軸
方向外側に伸びる調整用電極指53h1〜53h4と一
体的に形成されパッド部53i1〜53i4に接続され
ていて、これらは基板10の上面から所定距離だけ浮か
して設けられている。移動電極指53f1〜53f4
は、アーム部22−1〜22−4からX軸方向外側に伸
びた電極指23a1〜23a4の各隣合う電極指間に侵
入して同隣合う電極指に対向している。電極アーム部5
3g1〜53g4は、Y軸方向の幅が小さく形成され、
これにより、パッド部53i1〜53i4に対してY軸
方向に変形可能に構成されている。パッド部53i1〜
53i4の上面には、導電金属(例えばアルミニウム)
で形成された電極パッド53j1〜53j4が設けられ
ている。
20のアーム部22−1〜22−4のX軸方向外側にお
いてY軸方向に伸び、X軸方向内側に伸びる移動電極指
53f1〜53f4と、X軸方向外側に伸びる各一対の
アームである電極アーム部53g1〜53g4と、X軸
方向外側に伸びる調整用電極指53h1〜53h4と一
体的に形成されパッド部53i1〜53i4に接続され
ていて、これらは基板10の上面から所定距離だけ浮か
して設けられている。移動電極指53f1〜53f4
は、アーム部22−1〜22−4からX軸方向外側に伸
びた電極指23a1〜23a4の各隣合う電極指間に侵
入して同隣合う電極指に対向している。電極アーム部5
3g1〜53g4は、Y軸方向の幅が小さく形成され、
これにより、パッド部53i1〜53i4に対してY軸
方向に変形可能に構成されている。パッド部53i1〜
53i4の上面には、導電金属(例えばアルミニウム)
で形成された電極パッド53j1〜53j4が設けられ
ている。
【0054】Q値調整用電極部55−1〜55−4は、
検出電極53−1〜53−4の電極接続部53e1〜5
3e4、電極アーム部53g1〜53g4、及びパッド
部53i1〜53i4の各々により囲まれた領域内に形
成されていて、絶縁層を介して基板10の上面に形成・
固定された電極指55a1〜55a4と、これに接続さ
れるとともに基板10の上面に絶縁層を介して形成・固
定されたパッド部55b1〜55b4とからなってい
る。電極指55a1〜55a4は、各電極パッド55b
1〜55b4からX軸方向内側に伸びるととともに、前
記調整用電極指53h1〜53h4と対向している。パ
ッド部55b1〜55b4の上面には、導電金属(例え
ばアルミニウム)で形成された電極パッド55c1〜5
5c4が設けられている。
検出電極53−1〜53−4の電極接続部53e1〜5
3e4、電極アーム部53g1〜53g4、及びパッド
部53i1〜53i4の各々により囲まれた領域内に形
成されていて、絶縁層を介して基板10の上面に形成・
固定された電極指55a1〜55a4と、これに接続さ
れるとともに基板10の上面に絶縁層を介して形成・固
定されたパッド部55b1〜55b4とからなってい
る。電極指55a1〜55a4は、各電極パッド55b
1〜55b4からX軸方向内側に伸びるととともに、前
記調整用電極指53h1〜53h4と対向している。パ
ッド部55b1〜55b4の上面には、導電金属(例え
ばアルミニウム)で形成された電極パッド55c1〜5
5c4が設けられている。
【0055】次に、上記のように構成した角速度検出素
子を用いて角速度を検出するための電気回路装置につい
て説明すると、図6は同電気回路装置をブロック図によ
り示している。この電気回路装置は、図5に示したもの
と実質的に同一の構成を有しているため、同一部分には
同一符号を付してその説明を省略する。図5の回路装置
と本回路装置との相違点は、本回路装置においては、サ
ーボアンプ79の出力がQ値調整用電極部55−1〜5
5−4の電極パッド55c1〜55c4に接続されてい
る点、及び検出電極53−1〜53−4の電極パッドが
53c1〜53c4から53j1〜53j4に変更され
ている点のみである。
子を用いて角速度を検出するための電気回路装置につい
て説明すると、図6は同電気回路装置をブロック図によ
り示している。この電気回路装置は、図5に示したもの
と実質的に同一の構成を有しているため、同一部分には
同一符号を付してその説明を省略する。図5の回路装置
と本回路装置との相違点は、本回路装置においては、サ
ーボアンプ79の出力がQ値調整用電極部55−1〜5
5−4の電極パッド55c1〜55c4に接続されてい
る点、及び検出電極53−1〜53−4の電極パッドが
53c1〜53c4から53j1〜53j4に変更され
ている点のみである。
【0056】このように構成した第2実施形態に係る角
速度検出装置においても、上記第1実施形態と場合と同
様にZ軸回りの角速度が検出され、出力回路80の出力
端子OUTから前記振動子20のY軸方向の振動の大き
さを表す信号E0yが出力される。一方、角速度検出素子
が収容される密閉空間内の圧力が変化した場合の出力特
性の補償方法については、第2実施形態は第1実施形態
と相違するため、この点について以下に説明する。
速度検出装置においても、上記第1実施形態と場合と同
様にZ軸回りの角速度が検出され、出力回路80の出力
端子OUTから前記振動子20のY軸方向の振動の大き
さを表す信号E0yが出力される。一方、角速度検出素子
が収容される密閉空間内の圧力が変化した場合の出力特
性の補償方法については、第2実施形態は第1実施形態
と相違するため、この点について以下に説明する。
【0057】図6に示した電気回路装置においても、密
閉空間の圧力変動に応じてサーボアンプ76の出力電圧
E0x'が変化し、この電圧E0x'はサーボアンプ79に入力
されている。サーボアンプ79は、この出力電圧E0x'が
一定となるように、Q値調整電圧EQCを変化させる。こ
れにより、検出電極53−1〜53−4の調整用電極指
53h1〜53h4とQ値調整用電極部55−1〜55
−4の電極指55a1〜55a4との間の静電引力が変
化し、これらの電極指間の距離が変化する。これによ
り、移動電極指53f1〜53f4とアーム部22−1
〜22−4の電極指23a1〜23a4との距離が、図
5(A)のd1から図5(B)のd2の間で変化する。
この結果、角速度検出装置としての感度(特性)を示す
実効検出振動Q値が、密閉空間の圧力変動にかかわらず
略一定に保たれる。
閉空間の圧力変動に応じてサーボアンプ76の出力電圧
E0x'が変化し、この電圧E0x'はサーボアンプ79に入力
されている。サーボアンプ79は、この出力電圧E0x'が
一定となるように、Q値調整電圧EQCを変化させる。こ
れにより、検出電極53−1〜53−4の調整用電極指
53h1〜53h4とQ値調整用電極部55−1〜55
−4の電極指55a1〜55a4との間の静電引力が変
化し、これらの電極指間の距離が変化する。これによ
り、移動電極指53f1〜53f4とアーム部22−1
〜22−4の電極指23a1〜23a4との距離が、図
5(A)のd1から図5(B)のd2の間で変化する。
この結果、角速度検出装置としての感度(特性)を示す
実効検出振動Q値が、密閉空間の圧力変動にかかわらず
略一定に保たれる。
【0058】ここで、上記第2実施形態の実効検出振動
Q値の調整方法について説明を加えておく。一般に、上
記のような角速度検出素子において、振動子の電極指と
同電極指に対向する検出電極の電極指とが形成するコン
デンサの極板間距離をdとし、この距離dがコリオリ力
によってΔdだけ変化するとき、感度Sに相当するコン
デンサの静電容量変化ΔCはΔd/d2に比例する。一
方、距離変化分Δdは実効検出振動Q値に比例し、また
角速度検出素子の収容されている密閉空間の圧力をPと
すると、実効検出振動Q値はdn/Pm(n≒3,m≒
1)に比例することが知られている。以上のことから、
感度Sはdn-2/Pmに比例し、dn-2/Pmの値を一定に
保てば、感度Sを圧力Pの変動にかかわらず一定に維持
することが可能であることが解る。このような知見に基
づき、第2実施形態においては、サーボアンプ79及び
Q値調整電極部55−1〜55−4により、密閉空間の
圧力Pの変化に応じて実質的にdn-2/Pmの値を一定に
保つように、移動電極指53f1〜53f4とアーム部
22−1〜22−4の電極指23a1〜23a4との距
離を変化させる。
Q値の調整方法について説明を加えておく。一般に、上
記のような角速度検出素子において、振動子の電極指と
同電極指に対向する検出電極の電極指とが形成するコン
デンサの極板間距離をdとし、この距離dがコリオリ力
によってΔdだけ変化するとき、感度Sに相当するコン
デンサの静電容量変化ΔCはΔd/d2に比例する。一
方、距離変化分Δdは実効検出振動Q値に比例し、また
角速度検出素子の収容されている密閉空間の圧力をPと
すると、実効検出振動Q値はdn/Pm(n≒3,m≒
1)に比例することが知られている。以上のことから、
感度Sはdn-2/Pmに比例し、dn-2/Pmの値を一定に
保てば、感度Sを圧力Pの変動にかかわらず一定に維持
することが可能であることが解る。このような知見に基
づき、第2実施形態においては、サーボアンプ79及び
Q値調整電極部55−1〜55−4により、密閉空間の
圧力Pの変化に応じて実質的にdn-2/Pmの値を一定に
保つように、移動電極指53f1〜53f4とアーム部
22−1〜22−4の電極指23a1〜23a4との距
離を変化させる。
【0059】この結果、密閉空間の圧力が低下した場合
に、角速度検出装置の検出特性は図3(A)の曲線L1か
ら曲線L2へと変化し、実効検出振動Q値がωsからωu
に上昇するところ、本第2実施形態は検出振動共振周波
数を変更することなく特性をL1に維持する。同様に、密
閉空間の圧力が上昇した場合に、角速度検出装置の検出
特性は図3(B)の曲線L1から曲線L4へと変化し、実効
検出振動Q値がωsからωdに低下するところ、本第2
実施形態は検出振動共振周波数を変更することなく特性
を曲線L1に維持する。
に、角速度検出装置の検出特性は図3(A)の曲線L1か
ら曲線L2へと変化し、実効検出振動Q値がωsからωu
に上昇するところ、本第2実施形態は検出振動共振周波
数を変更することなく特性をL1に維持する。同様に、密
閉空間の圧力が上昇した場合に、角速度検出装置の検出
特性は図3(B)の曲線L1から曲線L4へと変化し、実効
検出振動Q値がωsからωdに低下するところ、本第2
実施形態は検出振動共振周波数を変更することなく特性
を曲線L1に維持する。
【0060】従って、第2実施形態によれば、密閉空間
の圧力変動が生じた場合であっても、角速度検出装置の
感度特性が一定に維持され、角速度が精度良く検出され
る。また、圧力変動の補償を検出振動共振周波数の変更
なく行うことができるので、作用した角速度が角速度検
出装置の出力となって現れるまでの時間遅れを小さくす
ることができ、角速度検出装置の応答特性を良好に維持
することができる。
の圧力変動が生じた場合であっても、角速度検出装置の
感度特性が一定に維持され、角速度が精度良く検出され
る。また、圧力変動の補償を検出振動共振周波数の変更
なく行うことができるので、作用した角速度が角速度検
出装置の出力となって現れるまでの時間遅れを小さくす
ることができ、角速度検出装置の応答特性を良好に維持
することができる。
【0061】なお、上記第2実施形態においては、移動
電極指53f1〜53f4とアーム部22−1〜22−
4の電極指23a1〜23a4との距離が連続的(リニ
ア)に変化するように構成したが、同距離を連続的に変
化させるほどの精度が要求されない場合、或いは、同距
離の変化量を大きくとる必要がある場合には、サーボア
ンプ79の出力を2値化(値「0」、及び「0」でない
電圧値V)とし、電圧「0」がQ値調整用電極部55−
1〜55−4の電極パッド55c1〜55c4に印加さ
れたときには、検出電極53−1〜53−4の調整用電
極指53h1〜53h4とQ値調整用電極部55−1〜
55−4の電極指55a1〜55a4との間の距離を所
定の距離とするとともに、電圧Vが電極パッド55c1
〜55c4に印加されたときには同距離を「0」とする
ように構成してもよい。なお、電圧Vを電極パッド55
c1〜55c4に印加して、前記距離を「0」とする場
合には、コンデンサの極板間距離がある値以下となった
ときに両極板間が互いに引き合う力を発生するプルイン
現象を利用する。
電極指53f1〜53f4とアーム部22−1〜22−
4の電極指23a1〜23a4との距離が連続的(リニ
ア)に変化するように構成したが、同距離を連続的に変
化させるほどの精度が要求されない場合、或いは、同距
離の変化量を大きくとる必要がある場合には、サーボア
ンプ79の出力を2値化(値「0」、及び「0」でない
電圧値V)とし、電圧「0」がQ値調整用電極部55−
1〜55−4の電極パッド55c1〜55c4に印加さ
れたときには、検出電極53−1〜53−4の調整用電
極指53h1〜53h4とQ値調整用電極部55−1〜
55−4の電極指55a1〜55a4との間の距離を所
定の距離とするとともに、電圧Vが電極パッド55c1
〜55c4に印加されたときには同距離を「0」とする
ように構成してもよい。なお、電圧Vを電極パッド55
c1〜55c4に印加して、前記距離を「0」とする場
合には、コンデンサの極板間距離がある値以下となった
ときに両極板間が互いに引き合う力を発生するプルイン
現象を利用する。
【0062】次に、本発明の第3実施形態に係る角速度
検出装置について説明すると、図7は第3実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、ベース基体90と、ベース基体90の上に固定さ
れた素子設置基体91と、素子設置基体91の上に固定
された角速度検出素子92と、ベース基体90に固定さ
れた温度センサ93と、可動側壁94と、天板95とか
ら構成されている。
検出装置について説明すると、図7は第3実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、ベース基体90と、ベース基体90の上に固定さ
れた素子設置基体91と、素子設置基体91の上に固定
された角速度検出素子92と、ベース基体90に固定さ
れた温度センサ93と、可動側壁94と、天板95とか
ら構成されている。
【0063】角速度検出素子92は、図1に示した角速
度検出装置素子から離調調整電極部54−1〜54−4
を省略したものである。また、この角速度検出素子92
は、図2に示した電気回路装置からサーボアンプ79を
省略した電気回路装置を含んでいる。樹脂からなるベー
ス基体90、圧電素子からなる可動側壁94、及び樹脂
からなる天板95は、密閉空間を形成するように互いに
接合されている。可動側壁94を構成する圧電素子は、
図示しない外部制御回路と接続されていて、同外部制御
回路からの駆動信号を受けて伸縮するようになってい
る。
度検出装置素子から離調調整電極部54−1〜54−4
を省略したものである。また、この角速度検出素子92
は、図2に示した電気回路装置からサーボアンプ79を
省略した電気回路装置を含んでいる。樹脂からなるベー
ス基体90、圧電素子からなる可動側壁94、及び樹脂
からなる天板95は、密閉空間を形成するように互いに
接合されている。可動側壁94を構成する圧電素子は、
図示しない外部制御回路と接続されていて、同外部制御
回路からの駆動信号を受けて伸縮するようになってい
る。
【0064】上記密閉空間内は、略真空に保たれている
が、空気分子が若干だけ存在している。素子設置基体9
1、角速度検出素子92、及び温度センサ93は、上記
密閉空間内に収容されている。温度センサ93は、この
密閉空間内の温度(気体温度)を検出し、図示しないリ
ード線を介して前記外部制御回路に接続され、同外部制
御回路に気体温度に関する信号を送出するようになって
いる。
が、空気分子が若干だけ存在している。素子設置基体9
1、角速度検出素子92、及び温度センサ93は、上記
密閉空間内に収容されている。温度センサ93は、この
密閉空間内の温度(気体温度)を検出し、図示しないリ
ード線を介して前記外部制御回路に接続され、同外部制
御回路に気体温度に関する信号を送出するようになって
いる。
【0065】次に、このように構成された角速度検出装
置の作用について説明すると、この角速度検出装置は、
第1,第2実施形態と同様にZ軸回りの角速度が検出さ
れ、出力回路80の出力端子OUTから前記振動子20
のY軸方向の振動の大きさを表す信号E0yが出力され
る。一方、角速度検出素子が収容される密閉空間内の圧
力が変化した場合の補償方法については、第1,第2実
施形態と相違するため、この点について以下に説明す
る。
置の作用について説明すると、この角速度検出装置は、
第1,第2実施形態と同様にZ軸回りの角速度が検出さ
れ、出力回路80の出力端子OUTから前記振動子20
のY軸方向の振動の大きさを表す信号E0yが出力され
る。一方、角速度検出素子が収容される密閉空間内の圧
力が変化した場合の補償方法については、第1,第2実
施形態と相違するため、この点について以下に説明す
る。
【0066】第3実施形態においては、温度センサ93
が角速度検出素子92が収容されている密閉空間内の温
度を検出し、体積変更指示手段として機能する外部制御
回路は、前記検出温度に基づき前記密閉空間内の圧力が
一定に維持されるように可動側壁94を構成する圧電素
子に駆動(指示)信号を送出し、これにより体積変更手
段としての圧電素子を伸縮させて同密閉空間の体積を変
更する。
が角速度検出素子92が収容されている密閉空間内の温
度を検出し、体積変更指示手段として機能する外部制御
回路は、前記検出温度に基づき前記密閉空間内の圧力が
一定に維持されるように可動側壁94を構成する圧電素
子に駆動(指示)信号を送出し、これにより体積変更手
段としての圧電素子を伸縮させて同密閉空間の体積を変
更する。
【0067】この結果、第3実施形態に係る角速度検出
装置においては、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように可動側壁94を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
装置においては、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように可動側壁94を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
【0068】次に、本発明の第4実施形態に係る角速度
検出装置について説明すると、図8は第4実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、第3実施形態の可動側壁94に代えて側壁に変形
可能部材96を採用し、ベース基体90、変形可能部材
96、及び天板95により角速度検出素子92を収容す
る密閉空間を構成するとともに、ベース基体90と天板
95との間に圧電素子97を介在させた点でのみ第3実
施形態の角速度検出装置と相違する。従って、第3実施
形態と同一構成部分については同一符号を付して、その
説明を省略する。
検出装置について説明すると、図8は第4実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、第3実施形態の可動側壁94に代えて側壁に変形
可能部材96を採用し、ベース基体90、変形可能部材
96、及び天板95により角速度検出素子92を収容す
る密閉空間を構成するとともに、ベース基体90と天板
95との間に圧電素子97を介在させた点でのみ第3実
施形態の角速度検出装置と相違する。従って、第3実施
形態と同一構成部分については同一符号を付して、その
説明を省略する。
【0069】この第4実施形態においては、第3実施形
態と同様に、温度センサ93が密閉空間内の温度を検出
し、体積変更指示手段としての外部制御回路は同検出温
度に基づき同密閉空間内の圧力が一定に維持されるよう
に圧電素子97に駆動(指示)信号を送出し、これによ
り体積変更手段としての圧電素子97を伸縮させ、同密
閉空間の体積を変更する。
態と同様に、温度センサ93が密閉空間内の温度を検出
し、体積変更指示手段としての外部制御回路は同検出温
度に基づき同密閉空間内の圧力が一定に維持されるよう
に圧電素子97に駆動(指示)信号を送出し、これによ
り体積変更手段としての圧電素子97を伸縮させ、同密
閉空間の体積を変更する。
【0070】この結果、第4実施形態に係る角速度検出
装置においても、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように圧電素子97を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
装置においても、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように圧電素子97を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
【0071】次に、本発明の第5実施形態に係る角速度
検出装置について説明すると、図8は第5実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、第4実施形態の圧電素子97を省略し、圧電素子
98を天板95の上部とベース基体90と相対移動不能
に構成されてなる堅牢な構造体99との間に介在させた
点でのみ第4実施形態の角速度検出装置と相違する。従
って、第4実施形態と同一構成部分については同一符号
を付して、その説明を省略する。
検出装置について説明すると、図8は第5実施形態に係
る角速度検出装置の側断面図である。この角速度検出装
置は、第4実施形態の圧電素子97を省略し、圧電素子
98を天板95の上部とベース基体90と相対移動不能
に構成されてなる堅牢な構造体99との間に介在させた
点でのみ第4実施形態の角速度検出装置と相違する。従
って、第4実施形態と同一構成部分については同一符号
を付して、その説明を省略する。
【0072】この第5実施形態においても、第3,4実
施形態と同様に、温度センサ93が密閉空間内の温度を
検出し、体積変更指示手段としての外部制御回路は同検
出温度に基づき同密閉空間内の圧力が一定に維持される
ように圧電素子98に駆動(指示)信号を送出し、体積
変更手段としての圧電素子98を伸縮させる。この結
果、圧電素子98は天板95とベース基体90との距離
を変更し、前記密閉空間の体積を変更する。
施形態と同様に、温度センサ93が密閉空間内の温度を
検出し、体積変更指示手段としての外部制御回路は同検
出温度に基づき同密閉空間内の圧力が一定に維持される
ように圧電素子98に駆動(指示)信号を送出し、体積
変更手段としての圧電素子98を伸縮させる。この結
果、圧電素子98は天板95とベース基体90との距離
を変更し、前記密閉空間の体積を変更する。
【0073】この結果、第4実施形態に係る角速度検出
装置においても、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように圧電素子98を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
装置においても、その実効検出振動Q値が温度変化に拘
らず一定に維持され、角速度検出装置の特性が良好に維
持される。また、外部制御回路は温度センサ93により
直接検出された密閉空間内の温度に基づき、密閉空間内
の圧力を一定に維持するように圧電素子98を伸縮させ
るため、同密閉空間内の圧力を精度よく一定値に維持す
ることが可能となる。
【0074】なお、第3〜5実施形態においては、温度
センサ93に代えて圧力センサを採用することもでき
る。この場合には、密閉空間内の圧力を直接検出するた
め、より精度良く同密閉空間内の圧力を一定値に維持す
ることが可能となる。また、第1,第2実施形態にて説
明したように、サーボアンプ76の出力電圧E0x'は密閉
空間内の圧力を表す値であるので、温度センサ93の出
力に代え、この電圧E0x'を用いて密閉空間の体積を変更
してもよい。
センサ93に代えて圧力センサを採用することもでき
る。この場合には、密閉空間内の圧力を直接検出するた
め、より精度良く同密閉空間内の圧力を一定値に維持す
ることが可能となる。また、第1,第2実施形態にて説
明したように、サーボアンプ76の出力電圧E0x'は密閉
空間内の圧力を表す値であるので、温度センサ93の出
力に代え、この電圧E0x'を用いて密閉空間の体積を変更
してもよい。
【0075】以上、説明したように、本発明の第1,第
2実施形態におていは、角速度検出素子が収容されてい
る密閉空間の圧力に応じた値をサーボアンプ76の出力
電圧E0x'により検出し、これに応じて検出振動のゲイン
(実効検出振動Q値)を調整・変更する。また、第3〜
第5実施形態においては、角速度検出素子が収容されて
いる密閉空間の圧力に応じた値を温度センサ93により
検出し、これに応じて密閉空間の体積を調整・変更す
る。この結果、上記各実施形態によれば、角速度検出装
置の検出特性が良好なものに維持される。なお、本発明
は角速度の検出の他、加速度等が作用したときの可動部
の変位を検出する加速度検出装置等、密閉空間内に配設
された可動部の変位を検出する形式の物理量検出装置に
適用することもできる。
2実施形態におていは、角速度検出素子が収容されてい
る密閉空間の圧力に応じた値をサーボアンプ76の出力
電圧E0x'により検出し、これに応じて検出振動のゲイン
(実効検出振動Q値)を調整・変更する。また、第3〜
第5実施形態においては、角速度検出素子が収容されて
いる密閉空間の圧力に応じた値を温度センサ93により
検出し、これに応じて密閉空間の体積を調整・変更す
る。この結果、上記各実施形態によれば、角速度検出装
置の検出特性が良好なものに維持される。なお、本発明
は角速度の検出の他、加速度等が作用したときの可動部
の変位を検出する加速度検出装置等、密閉空間内に配設
された可動部の変位を検出する形式の物理量検出装置に
適用することもできる。
【図1】 本発明の第1実施形態に係る角速度検出素子
の平面図である。
の平面図である。
【図2】 前記第1実施形態に係る角速度検出素子を用
いて角速度を検出するための電気回路装置のブロック図
である。
いて角速度を検出するための電気回路装置のブロック図
である。
【図3】 本発明による角速度検出装置の振幅の周波数
特性を説明するためのグラフである。
特性を説明するためのグラフである。
【図4】 本発明の第2実施形態に係る角速度検出素子
の平面図である。
の平面図である。
【図5】 図4に示した角速度検出素子の検出電極、及
びQ値調整用電極部の一つを拡大して示した平面図であ
る。
びQ値調整用電極部の一つを拡大して示した平面図であ
る。
【図6】 前記第2実施形態に係る角速度検出素子を用
いて角速度を検出するための電気回路装置のブロック図
である。
いて角速度を検出するための電気回路装置のブロック図
である。
【図7】 本発明の第3実施形態に係る角速度検出素子
の側断面図である。
の側断面図である。
【図8】 本発明の第4実施形態に係る角速度検出素子
の側断面図である。
の側断面図である。
【図9】 本発明の第5実施形態に係る角速度検出素子
の側断面図である。
の側断面図である。
10…基板、20…振動子、21…マス部、22…アー
ム部、30−1,30−2…メインフレーム、30−
3,30−4…サブフレーム、33−1〜33−4…梁
(検出用梁)、41−1〜41−4…アンカ、42−1
〜42−4,43−1〜43−4…梁(駆動用梁)、5
1−1〜51−4…駆動電極部(駆動部)、52−1〜
52−4…駆動モニタ電極部(駆動モニタ部)、53−
1〜53−4…検出電極部(検出部)、53h1〜53
h4…調整用電極指、53g1〜53g4…電極アーム
部、54−1〜54−4…離調調整電極部(ゲイン変更
手段,検出振動の共振周波数調整手段)、55−1〜5
5−4…Q値調整電極部(ゲイン変更手段)、61…高
周波発振器、62…高周波発振器、63…増幅器、70
…駆動回路、71…復調回路、72…移相回路、73…
乗算回路、75…検波回路、76…サーボアンプ、77
−1〜77−4…加算器、78…定電圧源回路、79…
サーボアンプ(ゲイン変更指示手段)、80…出力回
路、81…復調回路、82…検波回路、83…増幅器、
90…ベース基体、92…角速度検出素子、93…温度
センサ、94…可動側壁(圧電素子,体積変更手段)、
95…天板、96…変形可能部材、97,98…圧電素
子(体積変更手段)、99…構造体。
ム部、30−1,30−2…メインフレーム、30−
3,30−4…サブフレーム、33−1〜33−4…梁
(検出用梁)、41−1〜41−4…アンカ、42−1
〜42−4,43−1〜43−4…梁(駆動用梁)、5
1−1〜51−4…駆動電極部(駆動部)、52−1〜
52−4…駆動モニタ電極部(駆動モニタ部)、53−
1〜53−4…検出電極部(検出部)、53h1〜53
h4…調整用電極指、53g1〜53g4…電極アーム
部、54−1〜54−4…離調調整電極部(ゲイン変更
手段,検出振動の共振周波数調整手段)、55−1〜5
5−4…Q値調整電極部(ゲイン変更手段)、61…高
周波発振器、62…高周波発振器、63…増幅器、70
…駆動回路、71…復調回路、72…移相回路、73…
乗算回路、75…検波回路、76…サーボアンプ、77
−1〜77−4…加算器、78…定電圧源回路、79…
サーボアンプ(ゲイン変更指示手段)、80…出力回
路、81…復調回路、82…検波回路、83…増幅器、
90…ベース基体、92…角速度検出素子、93…温度
センサ、94…可動側壁(圧電素子,体積変更手段)、
95…天板、96…変形可能部材、97,98…圧電素
子(体積変更手段)、99…構造体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 千田 英美 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 (72)発明者 瀬川 勉 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 (72)発明者 横山 敦子 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 (72)発明者 千田 和身 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 (72)発明者 岡山 倫久 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 Fターム(参考) 2F105 BB04 BB09 BB17 CC04 CD03 CD05 CD11 CD13 4M112 AA01 AA02 BA07 BA08 CA24 CA26 CA32 CA36 EA02 GA03
Claims (5)
- 【請求項1】密閉空間内で基板に変位可能に支持された
可動部と、 前記可動部が外力を受けたときに同可動部に生じる変位
に応じた量を検出する変位検出手段とを備え、前記変位
検出手段の検出値を出力する物理量検出装置において、 前記可動部を所定方向に所定の駆動周波数にて振動させ
る駆動手段と、 前記密閉空間の圧力に応じた量を検出する圧力検出手段
と、 指示信号に応じて前記駆動周波数における前記可動部の
検出振動のゲインを変更するゲイン変更手段と、 前記検出された密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前
記ゲイン変更手段に前記指示信号を出力するゲイン変更
指示手段とを備えたことを特徴とする物理量検出装置。 - 【請求項2】前記ゲイン変更手段は、前記可動部の検出
振動の共振周波数を調整する調整手段である請求項1に
記載の物理量検出装置。 - 【請求項3】前記調整手段は、前記可動部に対し、前記
検出振動の振動方向における同可動部の変位が大きくな
るに従って同変位を妨げる方向に大きくなる力を付与す
る手段である請求項2に記載の物理量検出装置。 - 【請求項4】前記変位検出手段は、前記可動部に形成さ
れた可動部電極と前記基板に固定された検出電極との間
の静電容量の変化を検出することにより前記変位に応じ
た量を検出するように構成され、 前記ゲイン変更手段は、前記可動部が前記外力を受けて
いない場合における前記可動部電極と前記検出電極との
距離を変更することにより前記検出振動のゲインを変更
するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載
の物理量検出装置。 - 【請求項5】密閉空間内で基板に変位可能に支持された
可動部と、 前記可動部が外力を受けたときに同可動部に生じる変位
に応じた量を検出する変位検出手段とを備え、前記変位
検出手段の検出値を出力する物理量検出装置において、 前記密閉空間の圧力に応じた量を検出する圧力検出手段
と、 指示信号に応じて前記密閉空間の体積を変更させる体積
変更手段と、 前記検出された密閉空間の圧力に応じた量に基づいて前
記体積変更手段に前記指示信号を出力する体積変更指示
手段とを備えたことを特徴とする物理量検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36516699A JP2001183139A (ja) | 1999-12-22 | 1999-12-22 | 物理量検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36516699A JP2001183139A (ja) | 1999-12-22 | 1999-12-22 | 物理量検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001183139A true JP2001183139A (ja) | 2001-07-06 |
Family
ID=18483593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36516699A Pending JP2001183139A (ja) | 1999-12-22 | 1999-12-22 | 物理量検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001183139A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100501185B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-07-18 | 삼성전기주식회사 | Mems 정전용량형 센서의 출력 레벨 균일화 방법 및 장치 |
JP2005345476A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Robert Bosch Gmbh | 周波数トラッキングによる回転レートセンサ |
JP2012154803A (ja) * | 2011-01-26 | 2012-08-16 | Denso Corp | 角速度センサ装置 |
JP2012202768A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Denso Corp | 角速度センサ |
JP2013234931A (ja) * | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Denso Corp | 静電容量式センサ |
JP2013234930A (ja) * | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Denso Corp | 角速度センサ |
-
1999
- 1999-12-22 JP JP36516699A patent/JP2001183139A/ja active Pending
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---|---|---|---|---|
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