JP2001176949A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
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- JP2001176949A JP2001176949A JP36291799A JP36291799A JP2001176949A JP 2001176949 A JP2001176949 A JP 2001176949A JP 36291799 A JP36291799 A JP 36291799A JP 36291799 A JP36291799 A JP 36291799A JP 2001176949 A JP2001176949 A JP 2001176949A
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】安価な構成で精度良く基板の位置を検出し処理
室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行うこと
が可能な基板処理装置及び基板処理方法を提供する。 【解決手段】そこで本発明では、処理室の入口より上流
側の第1の位置において、基板が搬送されてきたことを
検出するセンサと、第1の位置まで基板を搬送する第1
の搬送手段と、処理室内における上流側の第2の位置と
下流側の第3の位置との間で基板を往復運動させるた
め、搬送方向を反転可能な第2の搬送手段と、第2の搬
送手段による基板の移動量を検出するモニタ手段と、セ
ンサの検出結果とモニタ手段の検出する移動量とに応じ
て第2の搬送手段による基板の搬送方向を逆転させる制
御手段とを備えたことを特徴とする。
室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行うこと
が可能な基板処理装置及び基板処理方法を提供する。 【解決手段】そこで本発明では、処理室の入口より上流
側の第1の位置において、基板が搬送されてきたことを
検出するセンサと、第1の位置まで基板を搬送する第1
の搬送手段と、処理室内における上流側の第2の位置と
下流側の第3の位置との間で基板を往復運動させるた
め、搬送方向を反転可能な第2の搬送手段と、第2の搬
送手段による基板の移動量を検出するモニタ手段と、セ
ンサの検出結果とモニタ手段の検出する移動量とに応じ
て第2の搬送手段による基板の搬送方向を逆転させる制
御手段とを備えたことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶用ガラス角型
基板、フォトマスク用ガラス角型基板、カラーフィルタ
用基板、プラズマディスプレイ用基板、半導体ウエハな
どの各種基板に洗浄液、現像液、エッチング液、剥離液
などの処理液を供給して基板の表面処理を行う基板処理
装置に関する。
基板、フォトマスク用ガラス角型基板、カラーフィルタ
用基板、プラズマディスプレイ用基板、半導体ウエハな
どの各種基板に洗浄液、現像液、エッチング液、剥離液
などの処理液を供給して基板の表面処理を行う基板処理
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、液晶や半導体の製造工程において
は、基板の表面に対して洗浄液、エッチング液、現像
液、剥離液などの処理液を供給することにより基板の洗
浄、エッチング、現像、剥離などの表面処理を行う基板
処理装置が用いられている。
は、基板の表面に対して洗浄液、エッチング液、現像
液、剥離液などの処理液を供給することにより基板の洗
浄、エッチング、現像、剥離などの表面処理を行う基板
処理装置が用いられている。
【0003】図7は従来のこのような基板処理装置の例
を示す模式図である。図7に示す装置は、ガラス角型基
板の表面にまずエッチング液を供給して該基板の表面に
形成されている薄膜を剥離し、その後にエッチング液を
純水にてリンスするエッチング装置である。
を示す模式図である。図7に示す装置は、ガラス角型基
板の表面にまずエッチング液を供給して該基板の表面に
形成されている薄膜を剥離し、その後にエッチング液を
純水にてリンスするエッチング装置である。
【0004】図7において、Wはガラス角型基板であ
り、この基板Wは、多数配列された搬送ローラ1の上に
載置されて水平姿勢もしくは若干の傾斜姿勢に維持され
つつ図の左方から右方へ搬送される。このエッチング装
置は、多数の搬送ローラ1によって搬送される基板Wに
向けてエッチング液を供給して該基板の表面に形成され
ている薄膜をエッチングするエッチング処理チャンバC
と、その後に配置されて基板Wに付着しているエッチン
グ液を純水にてリンスするリンスチャンバDと、そのさ
らに後に配置されて基板に付着したリンス液を取り除い
て基板Wを乾燥させる乾燥チャンバ(不図示)とからな
る。
り、この基板Wは、多数配列された搬送ローラ1の上に
載置されて水平姿勢もしくは若干の傾斜姿勢に維持され
つつ図の左方から右方へ搬送される。このエッチング装
置は、多数の搬送ローラ1によって搬送される基板Wに
向けてエッチング液を供給して該基板の表面に形成され
ている薄膜をエッチングするエッチング処理チャンバC
と、その後に配置されて基板Wに付着しているエッチン
グ液を純水にてリンスするリンスチャンバDと、そのさ
らに後に配置されて基板に付着したリンス液を取り除い
て基板Wを乾燥させる乾燥チャンバ(不図示)とからな
る。
【0005】エッチング処理チャンバCはエッチング処
理室2を有し、リンスチャンバDはリンス処理室4を有
するとともに、両処理室2、4は室構成体3によって区
画されている。この室構成体3には、搬送ローラ1によ
って搬送される基板Wを通過させるための開口5が形成
されている。そして、搬送方向について上流側のエッチ
ング処理室2には、搬送される基板Wの上面に向けてエ
ッチング液を吐出するエッチング液供給ノズル11が多
数所定の間隔で基板搬送方向に配列されている。一方、
下流側のリンス処理室4には、搬送される基板Wの上下
両面に向けて純水を吐出する純水供給ノズル24が多数
所定の間隔で基板搬送方向に配列されている。ここで、
エッチング液供給ノズル11及び純水供給ノズル24と
も1つのノズルは紙面に垂直な方向に延びており、搬送
される基板Wの幅方向(搬送方向に垂直な方向)につい
ても基板Wに液が均一に供給されるように構成されてい
る。
理室2を有し、リンスチャンバDはリンス処理室4を有
するとともに、両処理室2、4は室構成体3によって区
画されている。この室構成体3には、搬送ローラ1によ
って搬送される基板Wを通過させるための開口5が形成
されている。そして、搬送方向について上流側のエッチ
ング処理室2には、搬送される基板Wの上面に向けてエ
ッチング液を吐出するエッチング液供給ノズル11が多
数所定の間隔で基板搬送方向に配列されている。一方、
下流側のリンス処理室4には、搬送される基板Wの上下
両面に向けて純水を吐出する純水供給ノズル24が多数
所定の間隔で基板搬送方向に配列されている。ここで、
エッチング液供給ノズル11及び純水供給ノズル24と
も1つのノズルは紙面に垂直な方向に延びており、搬送
される基板Wの幅方向(搬送方向に垂直な方向)につい
ても基板Wに液が均一に供給されるように構成されてい
る。
【0006】エッチング処理室2には、基板Wに向けて
エッチング液供給ノズル11から吐出されたエッチング
液を回収するためのドレイン15が設けられ、ドレイン
15によって回収されたエッチング液はタンク18に貯
溜される。タンク18に貯溜されたエッチング液はポン
プ19によってタンク18から送出され、開閉弁22及
びフィルタ23を介してエッチング液供給ノズル11に
供給されて再利用される。
エッチング液供給ノズル11から吐出されたエッチング
液を回収するためのドレイン15が設けられ、ドレイン
15によって回収されたエッチング液はタンク18に貯
溜される。タンク18に貯溜されたエッチング液はポン
プ19によってタンク18から送出され、開閉弁22及
びフィルタ23を介してエッチング液供給ノズル11に
供給されて再利用される。
【0007】リンス処理室4には基板Wに向けて純水供
給ノズル24から吐出された純水を回収するためのドレ
イン34が設けられ、ドレイン34によって回収された
純水は廃棄される。したがって、純水供給ノズル24に
は、純水タンク29に貯溜された新鮮な純水が、ポンプ
30によって開閉弁31及びフィルタ32を介して供給
される。
給ノズル24から吐出された純水を回収するためのドレ
イン34が設けられ、ドレイン34によって回収された
純水は廃棄される。したがって、純水供給ノズル24に
は、純水タンク29に貯溜された新鮮な純水が、ポンプ
30によって開閉弁31及びフィルタ32を介して供給
される。
【0008】エッチング処理室2の上流側(図の左方)
端部近傍及び下流側(図の右方)端部近傍には、それぞ
れ搬送ローラ1によって搬送される基板Wの有無を検出
するセンサ16、17が配置されている。センサ16、
17の出力は制御装置21に伝達されており、基板Wが
センサ16、17の位置まで搬送されると制御装置21
はそれを検知する。ここで、多数の搬送ローラ1は制御
装置21によってその動作が制御されるように構成され
ているが、特に剥離処理室2内の搬送ローラ1は他とは
独立した可逆転モータにより駆動されており、センサ1
6、17の出力によって搬送ローラ1の回転方向を逆転
させることによりエッチング処理室2内のセンサ16と
センサ17との間で基板を往復運動させるように構成さ
れている。エッチング処理室2内において基板を往復運
動させるのは、基板表面全体に渡って均一にエッチング
液を供給することができ均一な表面処理を行うこともで
きる。
端部近傍及び下流側(図の右方)端部近傍には、それぞ
れ搬送ローラ1によって搬送される基板Wの有無を検出
するセンサ16、17が配置されている。センサ16、
17の出力は制御装置21に伝達されており、基板Wが
センサ16、17の位置まで搬送されると制御装置21
はそれを検知する。ここで、多数の搬送ローラ1は制御
装置21によってその動作が制御されるように構成され
ているが、特に剥離処理室2内の搬送ローラ1は他とは
独立した可逆転モータにより駆動されており、センサ1
6、17の出力によって搬送ローラ1の回転方向を逆転
させることによりエッチング処理室2内のセンサ16と
センサ17との間で基板を往復運動させるように構成さ
れている。エッチング処理室2内において基板を往復運
動させるのは、基板表面全体に渡って均一にエッチング
液を供給することができ均一な表面処理を行うこともで
きる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし図7図示のよう
な構成では、エッチング処理室2内にセンサ16、17
が配置されるので、センサ16及び17にはエッチング
液供給ノズル11から吐出されたエッチング液がかかっ
てしまう。そこで、センサとしては酸及びアルカリに対
して耐久性のある材質を使用しなければならないので、
コストアップの原因となってしまう。例えば、センサ1
6及び17として光電センサを用いると、基板Wの搬送
位置から離れた位置に配置することは可能となるけれど
も、液の飛散や処理室内の雰囲気によって誤検出を生じ
てしまう。また振り子センサなどの接触式センサを用い
て基板の有無を検出しようとすると、液の結晶化のため
に接触式センサの可動部分が固定部に固着されてしま
い、誤検出を生じたり基板の搬送を妨害したりしてしま
う。本発明は、このような従来の問題点を解消すべくな
されたものであり、安価な構成で精度良く基板の位置を
検出し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理
を行うことが可能な基板処理装置及び基板処理方法を提
供することをその目的とするものである。
な構成では、エッチング処理室2内にセンサ16、17
が配置されるので、センサ16及び17にはエッチング
液供給ノズル11から吐出されたエッチング液がかかっ
てしまう。そこで、センサとしては酸及びアルカリに対
して耐久性のある材質を使用しなければならないので、
コストアップの原因となってしまう。例えば、センサ1
6及び17として光電センサを用いると、基板Wの搬送
位置から離れた位置に配置することは可能となるけれど
も、液の飛散や処理室内の雰囲気によって誤検出を生じ
てしまう。また振り子センサなどの接触式センサを用い
て基板の有無を検出しようとすると、液の結晶化のため
に接触式センサの可動部分が固定部に固着されてしま
い、誤検出を生じたり基板の搬送を妨害したりしてしま
う。本発明は、このような従来の問題点を解消すべくな
されたものであり、安価な構成で精度良く基板の位置を
検出し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理
を行うことが可能な基板処理装置及び基板処理方法を提
供することをその目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決する為
に、請求項1に係る発明は、上流側から下流側へ向けて
所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理液を供給
して基板の処理を行う基板処理装置において、搬送され
る基板の入口及び出口を有する処理室を構成する室構成
体と、処理室内に搬送された基板に対して処理液を供給
して基板の処理を行う処理液供給手段と、処理室の入口
より上流側の第1の位置において、基板が搬送されてき
たことを検出するセンサと、第1の位置まで基板を搬送
する第1の搬送手段と、処理室内における上流側の第2
の位置と下流側の第3の位置との間で基板を往復運動さ
せるため、搬送方向を反転可能な第2の搬送手段と、第
2の搬送手段による基板の移動量を検出するモニタ手段
と、センサの検出結果とモニタ手段の検出する移動量と
に応じて第2の搬送手段による基板の搬送方向を逆転さ
せる制御手段とを備えたことを特徴とする。
に、請求項1に係る発明は、上流側から下流側へ向けて
所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理液を供給
して基板の処理を行う基板処理装置において、搬送され
る基板の入口及び出口を有する処理室を構成する室構成
体と、処理室内に搬送された基板に対して処理液を供給
して基板の処理を行う処理液供給手段と、処理室の入口
より上流側の第1の位置において、基板が搬送されてき
たことを検出するセンサと、第1の位置まで基板を搬送
する第1の搬送手段と、処理室内における上流側の第2
の位置と下流側の第3の位置との間で基板を往復運動さ
せるため、搬送方向を反転可能な第2の搬送手段と、第
2の搬送手段による基板の移動量を検出するモニタ手段
と、センサの検出結果とモニタ手段の検出する移動量と
に応じて第2の搬送手段による基板の搬送方向を逆転さ
せる制御手段とを備えたことを特徴とする。
【0011】また請求項2に係る発明は、請求項1記載
の基板処理装置において、制御手段は、センサが基板を
検出したときにモニタ手段による基板の移動量の検出を
開始し、この移動量が第1の位置から第3の位置までの
距離に等しくなったときに第2の搬送手段による基板の
搬送方向を逆転させるとともに再びカウント手段による
基板の移動量の検出をリセットし、この移動量が第3の
位置から第2の位置までの距離に等しくなったときに第
2の搬送手段による基板の搬送方向を再び逆転させるも
のであることを特徴とする。
の基板処理装置において、制御手段は、センサが基板を
検出したときにモニタ手段による基板の移動量の検出を
開始し、この移動量が第1の位置から第3の位置までの
距離に等しくなったときに第2の搬送手段による基板の
搬送方向を逆転させるとともに再びカウント手段による
基板の移動量の検出をリセットし、この移動量が第3の
位置から第2の位置までの距離に等しくなったときに第
2の搬送手段による基板の搬送方向を再び逆転させるも
のであることを特徴とする。
【0012】更に請求項3に係る発明は、請求項1記載
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とそ
の駆動源によって駆動され基板を搬送する基板搬送機構
とを有し、モニタ手段は駆動源の駆動量を検出すること
によって基板の移動量を検出するように構成されている
ことを特徴とする。
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とそ
の駆動源によって駆動され基板を搬送する基板搬送機構
とを有し、モニタ手段は駆動源の駆動量を検出すること
によって基板の移動量を検出するように構成されている
ことを特徴とする。
【0013】また請求項4に係る発明は、請求項3記載
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とな
るモータとそのモータによって駆動され基板を搬送する
多数の搬送ローラとを有し、モニタ手段はモータの回転
軸の回転量を検出することによって基板の移動量を検出
するように構成されていることを特徴とする。
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とな
るモータとそのモータによって駆動され基板を搬送する
多数の搬送ローラとを有し、モニタ手段はモータの回転
軸の回転量を検出することによって基板の移動量を検出
するように構成されていることを特徴とする。
【0014】請求項5に係る発明では、請求項1記載の
基板処理装置において、処理液供給手段は、処理室内に
搬送された基板に対してエッチング液を供給して基板の
処理を行うエッチング液供給手段であることを特徴とす
る。
基板処理装置において、処理液供給手段は、処理室内に
搬送された基板に対してエッチング液を供給して基板の
処理を行うエッチング液供給手段であることを特徴とす
る。
【0015】加えて請求項6に係る発明では、処理室内
において所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理
液を供給して基板の処理を行う基板処理方法において、
処理室の搬送方向について上流側の第1の位置におい
て、基板が搬送されてきたことを検出するステップと、
処理室内において、基板表面に処理液を供給しつつ、上
記第1の位置から基板の往復運動のために処理室内にお
いて予め定められた下流側反転位置に向けて所定の搬送
手段により基板を搬送するステップと、基板が搬送され
てきたことを第1の位置において検出した時点より搬送
手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記第1の位置
から上記下流側反転位置までの距離に応じた量となった
ときに基板の搬送方向を逆転させるステップとを備えた
ことを特徴とする。
において所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理
液を供給して基板の処理を行う基板処理方法において、
処理室の搬送方向について上流側の第1の位置におい
て、基板が搬送されてきたことを検出するステップと、
処理室内において、基板表面に処理液を供給しつつ、上
記第1の位置から基板の往復運動のために処理室内にお
いて予め定められた下流側反転位置に向けて所定の搬送
手段により基板を搬送するステップと、基板が搬送され
てきたことを第1の位置において検出した時点より搬送
手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記第1の位置
から上記下流側反転位置までの距離に応じた量となった
ときに基板の搬送方向を逆転させるステップとを備えた
ことを特徴とする。
【0016】更に請求項7に係る発明では、請求項6記
載の基板処理方法において、基板の搬送方向逆転時から
の搬送手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記下流
側反転位置から基板の往復運動のために処理室内におい
て予め定められた上流側反転位置までの距離に応じた量
となったときに基板の搬送方向を再度逆転させるステッ
プを備えたことを特徴とする。
載の基板処理方法において、基板の搬送方向逆転時から
の搬送手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記下流
側反転位置から基板の往復運動のために処理室内におい
て予め定められた上流側反転位置までの距離に応じた量
となったときに基板の搬送方向を再度逆転させるステッ
プを備えたことを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
用いて詳細に説明する。図1は本発明の実施の一形態で
あるエッチング装置を示す模式図であり、図7と同様の
部材については同符号を付しそれらについての説明は省
略する。図1において、搬送ローラは、エッチング処理
室2前のニュートラルゾーンに配置され第1モータM1
によって同期して駆動される第1ローラ群R1、エッチ
ング処理室2内に配置され逆転可能な第2モータM2に
よって同期して駆動される第2ローラ群R2、及びリン
ス処理室4内に配置され第3モータM3によって同期し
て駆動される第3ローラ群R3に分割されている。な
お、第3モータM3によって駆動される第3ローラ群R
3及びそれより下流側の動作は本発明の範疇ではないの
で説明を省略する。
用いて詳細に説明する。図1は本発明の実施の一形態で
あるエッチング装置を示す模式図であり、図7と同様の
部材については同符号を付しそれらについての説明は省
略する。図1において、搬送ローラは、エッチング処理
室2前のニュートラルゾーンに配置され第1モータM1
によって同期して駆動される第1ローラ群R1、エッチ
ング処理室2内に配置され逆転可能な第2モータM2に
よって同期して駆動される第2ローラ群R2、及びリン
ス処理室4内に配置され第3モータM3によって同期し
て駆動される第3ローラ群R3に分割されている。な
お、第3モータM3によって駆動される第3ローラ群R
3及びそれより下流側の動作は本発明の範疇ではないの
で説明を省略する。
【0018】PS1は、エッチング処理室2の入口5よ
り上流側(すなわち剥離処理室2の外)の第1の位置P
1に配置され、基板Wが搬送されてきたことを検出する
センサである。図においてセンサPS1は基板搬送路の
上側に示されているけれども、搬送される基板Wの有効
面である上面に接触することは好ましくないので、セン
サPS1は搬送されてきた基板Wの下面に接触して基板
Wが搬送されてきたことを検出する振り子センサからな
る。なお、センサPS1の設けられている第1の位置P
1はエッチング処理室2の外であるので、エッチング液
供給ノズル11から吐出されるエッチング液がセンサP
S1にかかることはないしセンサPS1はエッチング液
の雰囲気中にも配置されていないので、センサPS1と
して非接触式の光電センサを用いることも可能である。
り上流側(すなわち剥離処理室2の外)の第1の位置P
1に配置され、基板Wが搬送されてきたことを検出する
センサである。図においてセンサPS1は基板搬送路の
上側に示されているけれども、搬送される基板Wの有効
面である上面に接触することは好ましくないので、セン
サPS1は搬送されてきた基板Wの下面に接触して基板
Wが搬送されてきたことを検出する振り子センサからな
る。なお、センサPS1の設けられている第1の位置P
1はエッチング処理室2の外であるので、エッチング液
供給ノズル11から吐出されるエッチング液がセンサP
S1にかかることはないしセンサPS1はエッチング液
の雰囲気中にも配置されていないので、センサPS1と
して非接触式の光電センサを用いることも可能である。
【0019】PS2は、エッチング処理室2内における
基板Wの移動量すなわち第2モータM2の駆動量をモニ
タするために、その回転軸に設けられたセクタとその回
転量を検出するフォトカプラのごとき光学的検出素子と
からなる駆動量モニタである。駆動量モニタPS2は、
エッチング処理室2の外で、第2モータM2の回転軸と
第2ローラ群R2との間に設けられている。したがっ
て、駆動量モニタPS2に光学的検出素子を用いても、
エッチング液供給ノズル11から吐出されるエッチング
液がかかることはないしエッチング液の雰囲気中にも配
置されていないので、誤検出が生じることはない。エッ
チング処理室2内において基板Wを上流側の第2の位置
(上流側反転位置)P2と下流側の第3の位置(下流側
反転位置)P3との間で往復移動させるために、第2モ
ータM2は正逆回転可能でありこの回転方向に応じて第
2ローラ群R2の回転方向が制御される。なお、ここ
で、図1図示のように、センサPS1が配置されている
第1の位置P1とエッチング処理室2内の第2の位置
(上流側反転位置)P2との間の距離をL1とし、エッ
チング処理室2内の第2の位置(上流側反転位置)P2
と第3の位置(下流側反転位置)P3の間の距離(すな
わち基板の往復運動距離)をL2とする。そして、この
距離L1及びL2は、ともに装置の機械的構成により予
め知られている値である。
基板Wの移動量すなわち第2モータM2の駆動量をモニ
タするために、その回転軸に設けられたセクタとその回
転量を検出するフォトカプラのごとき光学的検出素子と
からなる駆動量モニタである。駆動量モニタPS2は、
エッチング処理室2の外で、第2モータM2の回転軸と
第2ローラ群R2との間に設けられている。したがっ
て、駆動量モニタPS2に光学的検出素子を用いても、
エッチング液供給ノズル11から吐出されるエッチング
液がかかることはないしエッチング液の雰囲気中にも配
置されていないので、誤検出が生じることはない。エッ
チング処理室2内において基板Wを上流側の第2の位置
(上流側反転位置)P2と下流側の第3の位置(下流側
反転位置)P3との間で往復移動させるために、第2モ
ータM2は正逆回転可能でありこの回転方向に応じて第
2ローラ群R2の回転方向が制御される。なお、ここ
で、図1図示のように、センサPS1が配置されている
第1の位置P1とエッチング処理室2内の第2の位置
(上流側反転位置)P2との間の距離をL1とし、エッ
チング処理室2内の第2の位置(上流側反転位置)P2
と第3の位置(下流側反転位置)P3の間の距離(すな
わち基板の往復運動距離)をL2とする。そして、この
距離L1及びL2は、ともに装置の機械的構成により予
め知られている値である。
【0020】本実施形態にかかるエッチング装置の制御
回路を図2のブロック図に示す。図2において、MCは
制御回路であり、図1図示のセンサPS1及び駆動量モ
ニタPS2の出力が入力され、それらに応じて第1モー
タM1、第2モータM2及び第3モータM3の駆動を制
御するとともに、図1における制御装置21と同様にエ
ッチング液を供給するポンプ19及び純水を供給するポ
ンプ30をも制御する。
回路を図2のブロック図に示す。図2において、MCは
制御回路であり、図1図示のセンサPS1及び駆動量モ
ニタPS2の出力が入力され、それらに応じて第1モー
タM1、第2モータM2及び第3モータM3の駆動を制
御するとともに、図1における制御装置21と同様にエ
ッチング液を供給するポンプ19及び純水を供給するポ
ンプ30をも制御する。
【0021】図1のエッチング処理室外のニュートラル
ゾーン内にある第1の位置P1に配置されたセンサPS
1は、第1のローラ群R1により搬送される基板Wの先
端がこの位置P1に達すると検出信号を出力し、この検
出信号は制御回路MCに入力される。一方、第2モータ
M2の回転量をモニタする駆動量モニタPS2の出力も
制御回路MCに入力されるとともに、この駆動量モニタ
PS2のカウント開始及びカウント値のリセットなどは
制御回路MCによって制御される。ここで、駆動量モニ
タPS2は第2モータM2の駆動量をモニタしている
が、第2モータM2の駆動はすべて第2ローラ群R2に
伝達されておりかつ第2ローラ群R2の回転によって基
板Wが搬送されるのであるから、駆動量モニタPS2に
よってモニタされる駆動量は基板Wの移動量に対応して
いる。
ゾーン内にある第1の位置P1に配置されたセンサPS
1は、第1のローラ群R1により搬送される基板Wの先
端がこの位置P1に達すると検出信号を出力し、この検
出信号は制御回路MCに入力される。一方、第2モータ
M2の回転量をモニタする駆動量モニタPS2の出力も
制御回路MCに入力されるとともに、この駆動量モニタ
PS2のカウント開始及びカウント値のリセットなどは
制御回路MCによって制御される。ここで、駆動量モニ
タPS2は第2モータM2の駆動量をモニタしている
が、第2モータM2の駆動はすべて第2ローラ群R2に
伝達されておりかつ第2ローラ群R2の回転によって基
板Wが搬送されるのであるから、駆動量モニタPS2に
よってモニタされる駆動量は基板Wの移動量に対応して
いる。
【0022】次に、本実施形態にかかるエッチング装置
の動作を図3のフローチャートを参照しつつ説明する。
まず、図3のステップS1において第1モータM1及び
第2モータM2を同期して駆動することにより基板Wを
上流側から下流側への所定の搬送方向に搬送する。そし
て、ステップS2において、搬送されてきた基板Wの先
端WTをセンサPS1が検出する(図4図示の状態)
と、ステップS3に進んで駆動量モニタPS2のカウン
トが開始させられ、同時にステップS4で揺動時間を測
定する経過時間タイマー(不図示)がスタートさせられ
る。ここで、駆動量モニタPS2のカウント値をCと
し、センサPS1が配置されている第1の位置P1とエ
ッチング処理室2内の第2の位置(上流側反転位置)P
2との間の距離L1に対応するカウント値をC1とし、
基板の往復運動距離L2に対応するカウント値をC2と
する。なお、前述のように距離L1及びL2はともに既
知の値であるので、それに対応したカウント値C1及び
C2も既知の値である。
の動作を図3のフローチャートを参照しつつ説明する。
まず、図3のステップS1において第1モータM1及び
第2モータM2を同期して駆動することにより基板Wを
上流側から下流側への所定の搬送方向に搬送する。そし
て、ステップS2において、搬送されてきた基板Wの先
端WTをセンサPS1が検出する(図4図示の状態)
と、ステップS3に進んで駆動量モニタPS2のカウン
トが開始させられ、同時にステップS4で揺動時間を測
定する経過時間タイマー(不図示)がスタートさせられ
る。ここで、駆動量モニタPS2のカウント値をCと
し、センサPS1が配置されている第1の位置P1とエ
ッチング処理室2内の第2の位置(上流側反転位置)P
2との間の距離L1に対応するカウント値をC1とし、
基板の往復運動距離L2に対応するカウント値をC2と
する。なお、前述のように距離L1及びL2はともに既
知の値であるので、それに対応したカウント値C1及び
C2も既知の値である。
【0023】ステップS5では、駆動量モニタPS2の
カウント値CがC1+C2に達したか否かを判定する。
これは、すなわち、基板Wの先端WTが第1の位置P1
から第3の位置(下流側反転位置)P3まで搬送された
ことを判定している。ここで、図5図示のように、基板
Wの先端WTが第3の位置(下流側反転位置)P3まで
搬送されたことが検出されると、ステップS6に進んで
第1モータM1を停止させるとともに第2モータM2の
回転方向を逆転させ、ステップS7で駆動量モニタPS
2のカウント値をリセット(すなわちC=0とする)
し、ステップS8で駆動量モニタPS2のカウントを再
び開始させる。これによって、基板Wは搬送方向とは逆
方向に搬送されることになる。
カウント値CがC1+C2に達したか否かを判定する。
これは、すなわち、基板Wの先端WTが第1の位置P1
から第3の位置(下流側反転位置)P3まで搬送された
ことを判定している。ここで、図5図示のように、基板
Wの先端WTが第3の位置(下流側反転位置)P3まで
搬送されたことが検出されると、ステップS6に進んで
第1モータM1を停止させるとともに第2モータM2の
回転方向を逆転させ、ステップS7で駆動量モニタPS
2のカウント値をリセット(すなわちC=0とする)
し、ステップS8で駆動量モニタPS2のカウントを再
び開始させる。これによって、基板Wは搬送方向とは逆
方向に搬送されることになる。
【0024】そして、ステップS9では、駆動量モニタ
PS2のカウント値Cが基板の往復運動距離L2に対応
するカウント値C2に達したか否かを判定する。これ
は、すなわち、基板Wの後端WEが第2の位置(上流側
反転位置)P2まで搬送されたことを判定している。こ
こで、図6図示のように、基板Wの後端WEが第2の位
置(上流側反転位置)P2まで搬送されたことが検出さ
れると、ステップS10に進んで第2モータM2の回転
方向を逆転させ基板Wを再び搬送方向に搬送する。
PS2のカウント値Cが基板の往復運動距離L2に対応
するカウント値C2に達したか否かを判定する。これ
は、すなわち、基板Wの後端WEが第2の位置(上流側
反転位置)P2まで搬送されたことを判定している。こ
こで、図6図示のように、基板Wの後端WEが第2の位
置(上流側反転位置)P2まで搬送されたことが検出さ
れると、ステップS10に進んで第2モータM2の回転
方向を逆転させ基板Wを再び搬送方向に搬送する。
【0025】ステップS11〜S13では、前述のステ
ップS7〜S9と同様に、駆動量モニタPS2のカウン
ト値をリセットして駆動量モニタPS2のカウントを再
び開始させ、駆動量モニタPS2のカウント値Cが基板
の往復運動距離L2に対応するカウント値C2に達した
か否かを判定する。これは、すなわち、図5のように基
板Wの前端WTが再び第3の位置(下流側反転位置)P
3まで搬送されたことを判定している。ステップS13
で駆動量モニタPS2のカウント値Cが基板の往復運動
距離L2に対応するカウント値C2に達したことが検出
されることにより、基板Wの往復運動が1回終了したこ
とになる。
ップS7〜S9と同様に、駆動量モニタPS2のカウン
ト値をリセットして駆動量モニタPS2のカウントを再
び開始させ、駆動量モニタPS2のカウント値Cが基板
の往復運動距離L2に対応するカウント値C2に達した
か否かを判定する。これは、すなわち、図5のように基
板Wの前端WTが再び第3の位置(下流側反転位置)P
3まで搬送されたことを判定している。ステップS13
で駆動量モニタPS2のカウント値Cが基板の往復運動
距離L2に対応するカウント値C2に達したことが検出
されることにより、基板Wの往復運動が1回終了したこ
とになる。
【0026】ステップS14では、基板の往復運動時間
をチェックする。すなわち、実際の基板往復運動時間
(すなわち不図示の経過時間タイマーのカウント値)を
TCとし、予め定められた所望の基板往復運動時間をT
Sとして、ステップS14においてはこの実際の基板往
復運動時間TCが所望の基板往復運動時間TSに達して
いるか否かが判定される。ここで、実際の基板往復運動
時間TCが所望の基板往復運動時間TSに達していなけ
ればステップS6に戻って第2モータM2の回転方向を
逆転させ、基板Wは搬送方向とは逆方向に搬送される。
ステップS6からステップS14までを所望の基板往復
運動時間TSだけ繰り返すことにより、基板WをX回だ
け往復運動させつつ処理を行うことができる。
をチェックする。すなわち、実際の基板往復運動時間
(すなわち不図示の経過時間タイマーのカウント値)を
TCとし、予め定められた所望の基板往復運動時間をT
Sとして、ステップS14においてはこの実際の基板往
復運動時間TCが所望の基板往復運動時間TSに達して
いるか否かが判定される。ここで、実際の基板往復運動
時間TCが所望の基板往復運動時間TSに達していなけ
ればステップS6に戻って第2モータM2の回転方向を
逆転させ、基板Wは搬送方向とは逆方向に搬送される。
ステップS6からステップS14までを所望の基板往復
運動時間TSだけ繰り返すことにより、基板WをX回だ
け往復運動させつつ処理を行うことができる。
【0027】このようにして、基板Wはエッチング処理
室2内の第2の位置(上流側反転位置)P2と第3の位
置(下流側反転位置)P3との間を所望の基板往復運動
時間TSだけ往復運動させられ、エッチング液供給ノズ
ル11から吐出されるエッチング液を基板上面全体に均
一に受けることができる。ステップS14において実際
の基板往復運動時間TCが所望の基板往復運動時間TS
に達していると判定されれば、第2モータM2はそのま
ま駆動させられて基板Wはエッチング処理室2内から搬
出される。そして、第3モータM3によって駆動される
第3ローラ群R3に基板Wが引き渡されてリンス処理室
4内に搬入され、基板Wに付着したエッチング液が純水
によってリンスされる。ここで、基板Wが第2ローラ群
R2から第3ローラ群R3に滑らかに引き渡されるため
に、所定のタイミングで第2モータM2に同期して第3
モータM3が駆動されていることは言うまでもない。
室2内の第2の位置(上流側反転位置)P2と第3の位
置(下流側反転位置)P3との間を所望の基板往復運動
時間TSだけ往復運動させられ、エッチング液供給ノズ
ル11から吐出されるエッチング液を基板上面全体に均
一に受けることができる。ステップS14において実際
の基板往復運動時間TCが所望の基板往復運動時間TS
に達していると判定されれば、第2モータM2はそのま
ま駆動させられて基板Wはエッチング処理室2内から搬
出される。そして、第3モータM3によって駆動される
第3ローラ群R3に基板Wが引き渡されてリンス処理室
4内に搬入され、基板Wに付着したエッチング液が純水
によってリンスされる。ここで、基板Wが第2ローラ群
R2から第3ローラ群R3に滑らかに引き渡されるため
に、所定のタイミングで第2モータM2に同期して第3
モータM3が駆動されていることは言うまでもない。
【0028】以上のように、本発明の実施の一形態であ
るエッチング装置によれば、エッチング処理室2入口よ
り上流側の第1の位置P1において基板が搬送されてき
たことを検出するセンサPS1と、処理室内における上
流側の第2の位置P2と下流側の第3の位置P3との間
で基板を往復運動させるため反転可能な第2のモータM
2による基板の移動量を検出する駆動量モニタPS2と
によって、第2のモータM2の動作を制御することによ
り、安価な光電センサを用いて精度良く基板の位置を検
出し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を
行うことができる。
るエッチング装置によれば、エッチング処理室2入口よ
り上流側の第1の位置P1において基板が搬送されてき
たことを検出するセンサPS1と、処理室内における上
流側の第2の位置P2と下流側の第3の位置P3との間
で基板を往復運動させるため反転可能な第2のモータM
2による基板の移動量を検出する駆動量モニタPS2と
によって、第2のモータM2の動作を制御することによ
り、安価な光電センサを用いて精度良く基板の位置を検
出し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を
行うことができる。
【0029】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、エッチング装置に限らず、ノズルから基
板に向けて剥離液を供給しつつ基板を往復移動させる剥
離装置や、ノズルから基板に向けて現像液を供給しつつ
基板を往復移動させる現像装置、及びノズルから基板に
向けて薬液からなる洗浄液を供給しつつ基板を往復移動
させる洗浄装置にも適用することができる。また、上記
実施形態においては、基板を搬送する第2モータM2の
回転軸の回転量によって基板の移動量をモニタしていた
が、これに限らず、例えば制御回路MCから第2モータ
M2への駆動指示量や、第2のローラ群R2の回転量に
よって基板の移動量をモニタすることも可能である。
ものではなく、エッチング装置に限らず、ノズルから基
板に向けて剥離液を供給しつつ基板を往復移動させる剥
離装置や、ノズルから基板に向けて現像液を供給しつつ
基板を往復移動させる現像装置、及びノズルから基板に
向けて薬液からなる洗浄液を供給しつつ基板を往復移動
させる洗浄装置にも適用することができる。また、上記
実施形態においては、基板を搬送する第2モータM2の
回転軸の回転量によって基板の移動量をモニタしていた
が、これに限らず、例えば制御回路MCから第2モータ
M2への駆動指示量や、第2のローラ群R2の回転量に
よって基板の移動量をモニタすることも可能である。
【0030】
【発明の効果】以上詳細に説明した如く、請求項1に係
る発明は、上流側から下流側へ向けて所定方向に搬送さ
れる基板の表面に所定の処理液を供給して基板の処理を
行う基板処理装置において、搬送される基板の入口及び
出口を有する処理室を構成する室構成体と、処理室内に
搬送された基板に対して処理液を供給して基板の処理を
行う処理液供給手段と、処理室の入口より上流側の第1
の位置において、基板が搬送されてきたことを検出する
センサと、第1の位置まで基板を搬送する第1の搬送手
段と、処理室内における上流側の第2の位置と下流側の
第3の位置との間で基板を往復運動させるため、搬送方
向を反転可能な第2の搬送手段と、第2の搬送手段によ
る基板の移動量を検出するモニタ手段と、センサの検出
結果とモニタ手段の検出する移動量とに応じて第2の搬
送手段による基板の搬送方向を逆転させる制御手段とを
備えたことを特徴とするものであり、このように構成す
ることにより、安価な構成で精度良く基板の位置を検出
し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行
うことが可能な基板処理装置を提供することが可能とな
る。
る発明は、上流側から下流側へ向けて所定方向に搬送さ
れる基板の表面に所定の処理液を供給して基板の処理を
行う基板処理装置において、搬送される基板の入口及び
出口を有する処理室を構成する室構成体と、処理室内に
搬送された基板に対して処理液を供給して基板の処理を
行う処理液供給手段と、処理室の入口より上流側の第1
の位置において、基板が搬送されてきたことを検出する
センサと、第1の位置まで基板を搬送する第1の搬送手
段と、処理室内における上流側の第2の位置と下流側の
第3の位置との間で基板を往復運動させるため、搬送方
向を反転可能な第2の搬送手段と、第2の搬送手段によ
る基板の移動量を検出するモニタ手段と、センサの検出
結果とモニタ手段の検出する移動量とに応じて第2の搬
送手段による基板の搬送方向を逆転させる制御手段とを
備えたことを特徴とするものであり、このように構成す
ることにより、安価な構成で精度良く基板の位置を検出
し処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行
うことが可能な基板処理装置を提供することが可能とな
る。
【0031】また請求項2に係る発明は、請求項1記載
の基板処理装置において、制御手段は、センサが基板を
検出したときにモニタ手段による基板の移動量の検出を
開始し、この移動量が第1の位置から第3の位置までの
距離に等しくなったときに第2の搬送手段による基板の
搬送方向を逆転させるとともに再びカウント手段による
基板の移動量の検出をリセットし、この移動量が第3の
位置から第2の位置までの距離に等しくなったときに第
2の搬送手段による基板の搬送方向を再び逆転させるも
のであり、このように構成することにより、簡単な演算
のみによって、精度良く基板の位置を検出し処理室内で
基板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが可能
な基板処理装置を提供することが可能となる。
の基板処理装置において、制御手段は、センサが基板を
検出したときにモニタ手段による基板の移動量の検出を
開始し、この移動量が第1の位置から第3の位置までの
距離に等しくなったときに第2の搬送手段による基板の
搬送方向を逆転させるとともに再びカウント手段による
基板の移動量の検出をリセットし、この移動量が第3の
位置から第2の位置までの距離に等しくなったときに第
2の搬送手段による基板の搬送方向を再び逆転させるも
のであり、このように構成することにより、簡単な演算
のみによって、精度良く基板の位置を検出し処理室内で
基板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが可能
な基板処理装置を提供することが可能となる。
【0032】更に請求項3に係る発明は、請求項1記載
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とそ
の駆動源によって駆動され基板を搬送する基板搬送機構
とを有し、モニタ手段は駆動源の駆動量を検出すること
によって基板の移動量を検出するように構成されている
ものであり、このように構成することにより、基板の処
理室外において基板の移動量を簡単にモニタすることが
でき、処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理
を行うことが可能な基板処理装置を提供することが可能
となる。
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とそ
の駆動源によって駆動され基板を搬送する基板搬送機構
とを有し、モニタ手段は駆動源の駆動量を検出すること
によって基板の移動量を検出するように構成されている
ものであり、このように構成することにより、基板の処
理室外において基板の移動量を簡単にモニタすることが
でき、処理室内で基板を安定して往復運動させつつ処理
を行うことが可能な基板処理装置を提供することが可能
となる。
【0033】また請求項4に係る発明は、請求項3記載
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とな
るモータとそのモータによって駆動され基板を搬送する
多数の搬送ローラとを有し、モニタ手段はモータの回転
軸の回転量を検出することによって基板の移動量を検出
するように構成されているものであり、このように構成
することにより、基板の処理室外において基板の移動量
を極めて簡単かつ安価にモニタすることができ、処理室
内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが
可能な基板処理装置を提供することが可能となる。
の基板処理装置において、第2の搬送手段は駆動源とな
るモータとそのモータによって駆動され基板を搬送する
多数の搬送ローラとを有し、モニタ手段はモータの回転
軸の回転量を検出することによって基板の移動量を検出
するように構成されているものであり、このように構成
することにより、基板の処理室外において基板の移動量
を極めて簡単かつ安価にモニタすることができ、処理室
内で基板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが
可能な基板処理装置を提供することが可能となる。
【0034】請求項5に係る発明では、請求項1記載の
基板処理装置において、処理液供給手段は、処理室内に
搬送された基板に対してエッチング液を供給して基板の
処理を行うエッチング液供給手段であることを特徴とす
るものであり、このように構成することにより、安価な
構成で精度良く基板の位置を検出し処理室内で基板を安
定して往復運動させつつ処理を行うことが可能なエッチ
ング装置を提供することが可能となる。
基板処理装置において、処理液供給手段は、処理室内に
搬送された基板に対してエッチング液を供給して基板の
処理を行うエッチング液供給手段であることを特徴とす
るものであり、このように構成することにより、安価な
構成で精度良く基板の位置を検出し処理室内で基板を安
定して往復運動させつつ処理を行うことが可能なエッチ
ング装置を提供することが可能となる。
【0035】加えて請求項6に係る発明では、処理室内
において所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理
液を供給して基板の処理を行う基板処理方法において、
処理室の搬送方向について上流側の第1の位置におい
て、基板が搬送されてきたことを検出するステップと、
処理室内において、基板表面に処理液を供給しつつ、上
記第1の位置から基板の往復運動のために処理室内にお
いて予め定められた下流側反転位置に向けて所定の搬送
手段により基板を搬送するステップと、基板が搬送され
てきたことを第1の位置において検出した時点より搬送
手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記第1の位置
から上記下流側反転位置までの距離に応じた量となった
ときに基板の搬送方向を逆転させるステップとを備えた
ことを特徴とするものであり、このような構成により、
安価な構成で精度良く基板の位置を検出し処理室内で基
板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが可能な
基板処理方法を提供することが可能となる。
において所定方向に搬送される基板の表面に所定の処理
液を供給して基板の処理を行う基板処理方法において、
処理室の搬送方向について上流側の第1の位置におい
て、基板が搬送されてきたことを検出するステップと、
処理室内において、基板表面に処理液を供給しつつ、上
記第1の位置から基板の往復運動のために処理室内にお
いて予め定められた下流側反転位置に向けて所定の搬送
手段により基板を搬送するステップと、基板が搬送され
てきたことを第1の位置において検出した時点より搬送
手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記第1の位置
から上記下流側反転位置までの距離に応じた量となった
ときに基板の搬送方向を逆転させるステップとを備えた
ことを特徴とするものであり、このような構成により、
安価な構成で精度良く基板の位置を検出し処理室内で基
板を安定して往復運動させつつ処理を行うことが可能な
基板処理方法を提供することが可能となる。
【0036】更に、請求項7に係る発明は、請求項6記
載の基板処理方法において、基板の搬送方向逆転時から
の搬送手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記下流
側反転位置から基板の往復運動のために処理室内におい
て予め定められた上流側反転位置までの距離に応じた量
となったときに基板の搬送方向を再度逆転させるステッ
プを備えたことを特徴とするものであり、このような構
成により、処理室内で基板を更に安定して往復運動させ
つつ処理を行うことが可能な基板処理方法を提供するこ
とが可能となる。
載の基板処理方法において、基板の搬送方向逆転時から
の搬送手段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記下流
側反転位置から基板の往復運動のために処理室内におい
て予め定められた上流側反転位置までの距離に応じた量
となったときに基板の搬送方向を再度逆転させるステッ
プを備えたことを特徴とするものであり、このような構
成により、処理室内で基板を更に安定して往復運動させ
つつ処理を行うことが可能な基板処理方法を提供するこ
とが可能となる。
【図1】実施の形態であるエッチング装置の構成を示す
模式図である。
模式図である。
【図2】実施の形態におけるエッチング装置の電気的制
御回路を示すブロック図である。
御回路を示すブロック図である。
【図3】実施の形態におけるエッチング装置の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図4】実施の形態におけるエッチング装置の動作状態
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図5】実施の形態におけるエッチング装置の動作状態
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図6】実施の形態におけるエッチング装置の動作状態
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図7】従来のエッチング装置の構成を示す模式図であ
る。
る。
W 基板 2 処理室 3 室構成体 5 入口及び出口 11 エッチング液供給ノズル(処理液供給手段) PS1 センサ M1、R1 第1の搬送手段 M2、R2 第2の搬送手段 PS2 駆動量モニタ(モニタ手段) MC 制御回路(制御手段) P1 第1の位置 P2 第2の位置 P3 第3の位置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/306 H01L 21/306 R
Claims (7)
- 【請求項1】上流側から下流側へ向けて所定方向に搬送
される基板の表面に所定の処理液を供給して基板の処理
を行う基板処理装置において、 搬送される基板の入口及び出口を有する処理室を構成す
る室構成体と、処理室内に搬送された基板に対して処理
液を供給して基板の処理を行う処理液供給手段と、処理
室の入口より上流側の第1の位置において、基板が搬送
されてきたことを検出するセンサと、第1の位置まで基
板を搬送する第1の搬送手段と、処理室内における上流
側の第2の位置と下流側の第3の位置との間で基板を往
復運動させるため、搬送方向を反転可能な第2の搬送手
段と、第2の搬送手段による基板の移動量を検出するモ
ニタ手段と、センサの検出結果とモニタ手段の検出する
移動量とに応じて第2の搬送手段による基板の搬送方向
を逆転させる制御手段と、を備えたことを特徴とする基
板処理装置。 - 【請求項2】制御手段は、センサが基板を検出したとき
にモニタ手段による基板の移動量の検出を開始し、この
移動量が第1の位置から第3の位置までの距離に等しく
なったときに第2の搬送手段による基板の搬送方向を逆
転させるとともに再びカウント手段による基板の移動量
の検出をリセットし、この移動量が第3の位置から第2
の位置までの距離に等しくなったときに第2の搬送手段
による基板の搬送方向を再び逆転させるものである請求
項1記載の基板処理装置。 - 【請求項3】第2の搬送手段は駆動源とその駆動源によ
って駆動され基板を搬送する基板搬送機構とを有し、モ
ニタ手段は駆動源の駆動量を検出することによって基板
の移動量を検出するように構成されている請求項1記載
の基板処理装置。 - 【請求項4】第2の搬送手段は駆動源となるモータとそ
のモータによって駆動され基板を搬送する多数の搬送ロ
ーラとを有し、モニタ手段はモータの回転軸の回転量を
検出することによって基板の移動量を検出するように構
成されている請求項3記載の基板処理装置。 - 【請求項5】処理液供給手段は、処理室内に搬送された
基板に対してエッチング液を供給して基板の処理を行う
エッチング液供給手段である請求項1記載の基板処理装
置。 - 【請求項6】処理室内において所定方向に搬送される基
板の表面に所定の処理液を供給して基板の処理を行う基
板処理方法において、処理室の搬送方向について上流側
の第1の位置において、基板が搬送されてきたことを検
出するステップと、処理室内において、基板表面に処理
液を供給しつつ、上記第1の位置から基板の往復運動の
ために処理室内において予め定められた下流側反転位置
に向けて所定の搬送手段により基板を搬送するステップ
と、基板が搬送されてきたことを第1の位置において検
出した時点より搬送手段の駆動量をモニタし、この駆動
量が上記第1の位置から上記下流側反転位置までの距離
に応じた量となったときに基板の搬送方向を逆転させる
ステップと、を備えたことを特徴とする基板処理方法。 - 【請求項7】更に、基板の搬送方向逆転時からの搬送手
段の駆動量をモニタし、この駆動量が上記下流側反転位
置から基板の往復運動のために処理室内において予め定
められた上流側反転位置までの距離に応じた量となった
ときに基板の搬送方向を再度逆転させるステップを備え
た請求項6記載の基板処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36291799A JP2001176949A (ja) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36291799A JP2001176949A (ja) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001176949A true JP2001176949A (ja) | 2001-06-29 |
Family
ID=18478056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36291799A Pending JP2001176949A (ja) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001176949A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005303230A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-10-27 | Tokyo Electron Ltd | 現像処理装置および現像処理方法 |
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-
1999
- 1999-12-21 JP JP36291799A patent/JP2001176949A/ja active Pending
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