JP2001176673A - 有機el素子 - Google Patents
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- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 91
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 91
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 137
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 136
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 67
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 60
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 18
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 13
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 8
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 8
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910021480 group 4 element Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 abstract 1
- REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N aluminium(3+) Chemical compound [Al+3] REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 31
- 239000000463 material Substances 0.000 description 28
- 239000010408 film Substances 0.000 description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 22
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 19
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 14
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 13
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 13
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 13
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 11
- -1 aluminum quinolinol Chemical compound 0.000 description 10
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 10
- DCZNSJVFOQPSRV-UHFFFAOYSA-N n,n-diphenyl-4-[4-(n-phenylanilino)phenyl]aniline Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 DCZNSJVFOQPSRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 9
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 6
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 6
- MCJGNVYPOGVAJF-UHFFFAOYSA-N quinolin-8-ol Chemical class C1=CN=C2C(O)=CC=CC2=C1 MCJGNVYPOGVAJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N strontium oxide Chemical compound [O-2].[Sr+2] IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 6
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 5
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 5
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 5
- 229960003540 oxyquinoline Drugs 0.000 description 5
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 5
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N Calcium oxide Chemical compound [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910018068 Li 2 O Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 4
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 4
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 4
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- BRSRUYVJULRMRQ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylanthracene Chemical class C1=CC=CC=C1C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C12 BRSRUYVJULRMRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OGGKVJMNFFSDEV-UHFFFAOYSA-N 3-methyl-n-[4-[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]phenyl]-n-phenylaniline Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 OGGKVJMNFFSDEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 3
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 3
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N lithium oxide Chemical compound [Li+].[Li+].[O-2] FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001947 lithium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 3
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 3
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- CWBWCLMMHLCMAM-UHFFFAOYSA-M rubidium(1+);hydroxide Chemical compound [OH-].[Rb+].[Rb+] CWBWCLMMHLCMAM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 3
- UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N (e)-2-phenylethenamine Chemical class N\C=C\C1=CC=CC=C1 UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N 0.000 description 2
- CAMPQFALWQQPAZ-UHFFFAOYSA-N 1-n-(4-methylphenyl)-4-n-[4-[4-(n-[4-(n-(4-methylphenyl)anilino)phenyl]anilino)phenyl]phenyl]-1-n,4-n-diphenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(C)=CC=1)C1=CC=CC=C1 CAMPQFALWQQPAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101001127448 Arabidopsis thaliana Peroxidase 23 Proteins 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N coronene Chemical compound C1=C(C2=C34)C=CC3=CC=C(C=C3)C4=C4C3=CC=C(C=C3)C4=C2C3=C1 VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 2
- XUCJHNOBJLKZNU-UHFFFAOYSA-M dilithium;hydroxide Chemical compound [Li+].[Li+].[OH-] XUCJHNOBJLKZNU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- FZFYOUJTOSBFPQ-UHFFFAOYSA-M dipotassium;hydroxide Chemical compound [OH-].[K+].[K+] FZFYOUJTOSBFPQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004866 oxadiazoles Chemical class 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 150000003248 quinolines Chemical class 0.000 description 2
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012945 sealing adhesive Substances 0.000 description 2
- KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N sodium oxide Chemical compound [O-2].[Na+].[Na+] KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical compound OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QGKMIGUHVLGJBR-UHFFFAOYSA-M (4z)-1-(3-methylbutyl)-4-[[1-(3-methylbutyl)quinolin-1-ium-4-yl]methylidene]quinoline;iodide Chemical class [I-].C12=CC=CC=C2N(CCC(C)C)C=CC1=CC1=CC=[N+](CCC(C)C)C2=CC=CC=C12 QGKMIGUHVLGJBR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 1,4,4-triphenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)=CC=C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XFYQEBBUVNLYBR-UHFFFAOYSA-N 12-phthaloperinone Chemical class C1=CC(N2C(=O)C=3C(=CC=CC=3)C2=N2)=C3C2=CC=CC3=C1 XFYQEBBUVNLYBR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MVWPVABZQQJTPL-UHFFFAOYSA-N 2,3-diphenylcyclohexa-2,5-diene-1,4-dione Chemical class O=C1C=CC(=O)C(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 MVWPVABZQQJTPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108091006149 Electron carriers Proteins 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005793 GeO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical compound N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N Zinc dication Chemical compound [Zn+2] PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910007541 Zn O Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004840 adhesive resin Substances 0.000 description 1
- 229920006223 adhesive resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 1
- PSYWRPCLOJXWEN-UHFFFAOYSA-K aluminum;2-phenylphenolate Chemical compound [Al+3].[O-]C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1.[O-]C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1.[O-]C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 PSYWRPCLOJXWEN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 229940027991 antiseptic and disinfectant quinoline derivative Drugs 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 125000005605 benzo group Chemical group 0.000 description 1
- ZYGHJZDHTFUPRJ-UHFFFAOYSA-N benzo-alpha-pyrone Natural products C1=CC=C2OC(=O)C=CC2=C1 ZYGHJZDHTFUPRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XJHABGPPCLHLLV-UHFFFAOYSA-N benzo[de]isoquinoline-1,3-dione Chemical class C1=CC(C(=O)NC2=O)=C3C2=CC=CC3=C1 XJHABGPPCLHLLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 150000001716 carbazoles Chemical class 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 1
- 229960000956 coumarin Drugs 0.000 description 1
- 235000001671 coumarin Nutrition 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- AKUNKIJLSDQFLS-UHFFFAOYSA-M dicesium;hydroxide Chemical compound [OH-].[Cs+].[Cs+] AKUNKIJLSDQFLS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 229910052730 francium Inorganic materials 0.000 description 1
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium dioxide Chemical compound O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002391 heterocyclic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000007857 hydrazones Chemical class 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 1
- 239000000990 laser dye Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000434 metal complex dye Substances 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000037230 mobility Effects 0.000 description 1
- 239000002052 molecular layer Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- QZXNDEONRUSYFB-UHFFFAOYSA-N n-[4-(4-aminophenyl)phenyl]-3-methylaniline Chemical group CC1=CC=CC(NC=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 QZXNDEONRUSYFB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFQXGXDIJMBKTC-UHFFFAOYSA-N oxostrontium Chemical compound [Sr]=O UFQXGXDIJMBKTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N peryrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=3C2=C2C=CC=3)=C3C2=CC=CC3=C1 CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical class N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 150000003222 pyridines Chemical class 0.000 description 1
- 150000003230 pyrimidines Chemical class 0.000 description 1
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 1
- 150000003252 quinoxalines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000009103 reabsorption Effects 0.000 description 1
- 239000012508 resin bead Substances 0.000 description 1
- PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N rhodamine B Chemical class [Cl-].C=12C=CC(=[N+](CC)CC)C=C2OC2=CC(N(CC)CC)=CC=C2C=1C1=CC=CC=C1C(O)=O PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001952 rubidium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003852 triazoles Chemical class 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Abstract
層へのダメージを抑制し、有機層へのキャリア注入性に
優れ、EL特性の向上と素子の長寿命化が可能な透明電
極を有する有機EL素子を実現する。 【解決手段】 第1の電極と第2の電極と、これらの電
極間に1種以上の有機層とを有し、少なくとも前記第1
の電極および第2の電極のいずれかは、ZnO系透明電
極を有する構成の有機EL素子とした。
Description
た有機EL素子に関し、さらに詳細には、透明電極に関
する。
インジウム(ITO)などの透明電極(ホール注入電
極)上にトリフェニルジアミン(TPD)などのホール
輸送材料を蒸着により薄膜とし、さらにアルミキノリノ
ール錯体(Alq3 )などの蛍光物質を発光層として積
層し、さらにMgなどの仕事関数の小さな金属電極(電
子注入電極)を形成した基本構成を有する素子で、10
V前後の電圧で数100から数10000cd/m2ときわ
めて高い輝度が得られることで注目されている。
して用いられる材料は、発光層や電子注入輸送層等へ電
子を多く注入するものが有効であると考えられている。
換言すれば、仕事関数の小さい材料ほど電子注入電極と
して適していると言える。仕事関数の小さい材料として
は種々のものがあるが、有機EL素子の電子注入電極と
して用いられるものとしては、例えば特開平2−155
95号公報には、アルカリ金属以外の複数の金属からな
り、かつこれらの金属の少なくとも1種の金属の仕事関
数が、4eV未満である電子注入電極として、例えばMg
Agが開示されている。
カリ金属が好ましく、米国特許第3173050号、同
3382394号明細書には、アルカリ金属として、例
えばNaKが記載されている。しかし、アルカリ金属を
用いたものは、活性が高く、化学的に不安定であり、安
全性、信頼性の点でMgAg等を用いた電子注入電極に
比べ劣っている。
上に透明電極を形成し、この透明電極側から発光を取り
出す試みも種々なされている。この場合、現在最も普及
している酸化インジウム系透明電極(ITO、IZO
等)材料をスパッタ、あるいは蒸着などのPVDプロセ
スにより形成するのが一般的である。
常、その抵抗値を下げ透過率を上げるために若干の酸素
を導入して成膜することが必要となる。しかし、有機層
上にこれらの電極を形成すると、主に酸素を原因として
有機層はアッシング等のダメージを受け、EL特性や寿
命特性の低下を引き起こす。
欠陥によるキャリア発生機構であり、その大きな仕事関
数(φW=〜5.0V )と平坦特性に優れることから、
有機EL素子においてはアノード透明電極として使用す
るのが一般的である。このため、カソード側に従来の酸
化インジウム系透明電極を使用した場合、EL特性は確
認できるものの発光効率は極めて低く実用的でない。
層上に透明電極を形成する際に生じる有機層へのダメー
ジを抑制し、有機層へのキャリア注入性に優れ、EL特
性の向上と素子の長寿命化が可能な透明電極を有する有
機EL素子を実現することである。
2の電極と、これらの電極間に1種以上の有機層とを有
し、少なくとも前記第1の電極および第2の電極のいず
れかは、ZnO系透明電極を有する有機EL素子。 (2) 前記第1の電極および/または第2の電極は、
前記ZnO系透明電極と、酸化インジウム系透明電極と
を有する上記(1)の有機EL素子。 (3) 前記ZnO系透明電極は、酸化亜鉛(ZnO)
に高原子価金属イオン種がドーピングされている上記
(1)または(2)の有機EL素子。 (4) 前記ZnO系透明電極は、3価のIII 族元素、
または4価のIV族元素をドーパントとして有する上記
(1)〜(3)のいずれかの有機EL素子。 (5) 前記ZnO系透明電極のドーパントは、B,A
l,GaおよびInから選ばれる3価のIII 族元素、ま
たはSi,Ge,SnおよびPbから選ばれる4価のIV
族元素である上記(4)の有機EL素子。 (6) 前記ZnO系透明電極は、ドーパントをZnに
対して0.01〜30at%含有する上記(1)〜(5)
のいずれかの有機EL素子。 (7) 前記ZnO系透明電極は、スパッタリング法に
より不活性ガス雰囲気下で成膜されている上記(1)〜
(6)のいずれかの有機EL素子。 (8) 前記ZnO系透明電極は、陰極ないし電子注入
電極である上記(1)〜(7)のいずれかの有機EL素
子。 (9) 前記ZnO系透明電極の仕事関数は、ITO、
IZOの仕事関数より低い上記(8)の有機EL素子。 (10)前記ZnO系透明電極の仕事関数は、4.6eV
以下である上記(8)または(9)の有機EL素子。 (11)前記ZnO系透明電極と、有機層との間には無
機電子注入層を有する上記(8)〜(10)のいずれか
の有機EL素子。 (12)前記ZnO系透明電極は、陽極ないしホール注
入電極である上記(1)〜(7)のいずれかの有機EL
素子。
極陽透明電極としてZnO系(高原子価金属イオンドー
プ)透明電極材料を用いることで上記課題を解決した。
よびInから選ばれる3価のIII -B族元素、またはS
i,Ge,SnおよびPbから選ばれる4価のIV-B族
元素が挙げられ、これをZnに対し0.01〜3at%ド
ープする。ZnOはn型半導体として知られているが、
例えばAlのような原子価の高い金属イオンを添加する
ことにより、キャリア密度を高めることができる。
欠陥の量よりも多くすることで、主に電気伝導度は不純
物の導入によって生じるキャリア数により支配される。
明電極は、酸素導入を必要としないAr、Kr等の不活
性ガス雰囲気下で、低い比抵抗(〜4×10-4Ω・cm)
と高い透過率が得られる材料である。しかも、Zn−O
結合が強固であるため、酸素が外れにくく、有機層への
アッシングが非常に少なくなり、EL特性、寿命特性に
優れた有機EL素子を実現することができる。
明電極は、Zn原子サイトに高原子価元素を置換するこ
とで、原子価制御により電子のキャリア密度(仕事関数
φW)を変化させることができる。ある所定のバンドを
有する有機層に合わせて有機層/透明電極、あるいは有
機層/無機キャリア注入層/透明電極間の電極界面にお
けるエネルギー障壁を適宜軽減させ、キャリア注入効率
を向上させる(発光効率を向上させる)ことができる。
電極と第2の電極と、これらの電極間に1種以上の有機
層とを有し、少なくとも前記第1の電極およびと第2の
電極のいずれかは、ZnO系透明電極材料により形成さ
れているものであり、このZnO系透明電極は、好まし
くはZnOに高原子価金属イオン種がドーピングされて
いるものである。
て用いられるZnO系(高原子価金属イオンドープ)透
明電極は、好ましくは高原子価金属イオンとして3価の
III族元素、または4価のIV族元素をドーパントとして
有する。このようなドーパントとしては、具体的には
B,Al,GaおよびInから選ばれる3価のIII -B
族元素、またはSiおよびGeから選ばれる4価のIV-
B族元素が好ましい。これらのドーパントは単独で用い
てもよいし、2種以上を混合して用いてもよい。2種以
上を混合して用いる場合の混合比は任意である。
機EL素子を駆動するための一対の電極であって、陽極
側を第1の電極、陰極側を第2の電極とする。
をZnに対して総計0.01〜30at%、好ましくは
0.05〜10at%、特に0.1〜5at%含有する。
第2の電極(陰極側)として機能させる場合低いほど好
ましく、特にITO、IZOなどの酸化インジウム系透
明電極より低いことが好ましい。具体的には、仕事関数
4.6eV以下、より好ましくは4.5eV以下、特に4.
45eV以下であることが好ましい。その下限値としては
特に規制されるものではないが、通常4.2eV程度であ
る。
場合には、接する有機層あるいはホール注入輸送層等と
のイオン化ポテンシャルの関係上、仕事関数(φW)は
高い方が好ましい。この場合、ITO、IZOなどの酸
化インジウム系透明電極と同等か、これよりも高いもの
であってもよい。具体的には、仕事関数4.5eV以上、
より好ましくは4.8eV以上、特に4.9eV以上である
ことが好ましい。その上限値としては特に規制されるも
のではないが、通常5.5eV程度である。
の仕事関数(φW)と、有機層または無機電子注入層
(無機電子注入輸送層)の仕事関数との差は、好ましく
は1.5eV以内、特に1.0eV以内であることが好まし
い。
明電極の仕事関数(φW)と、有機層または無機ホール
注入層(無機ホール注入輸送層)の仕事関数との差は、
好ましくは1.5eV以内、特に1.0eV以内であること
が好ましい。
ZO等の酸化インジウム系透明電極との2層構造の電極
として用いてもよい。この場合、有機層あるいは電子/
ホール注入輸送層側にZnO系透明電極を配し、その反
対側に酸化インジウム系透明電極を配置するとよい。酸
化インジウム系透明電極と組み合わせることにより、酸
化インジウム系透明電極の低抵抗性を有効に利用しつ
つ、スパッタ時のアッシングから有機層を保護するとと
もに、電荷注入効率を改善することができる。酸化イン
ジウム系の透明電極としては、下記のホール注入電極材
料と同様である。
は可視光域、より好ましくは有機EL素子の発光波長帯
域において、好ましくは60%以上、より好ましくは7
0%以上、特に80%以上の透過率を有することが好ま
しい。
入性を確保しうる程度の膜厚とすればよい。また、膜厚
が厚すぎると光透過性が低下してくる。具体的には50
〜300nm、より好ましくは60〜250nm、特に70
〜200nm程度である。また、酸化インジウム系の電極
と組み合わせて用いる場合には、1〜250nm、より好
ましくは5〜200nm程度が好ましい。この場合、組み
合わせる酸化インジウム系電極の膜厚は30〜250n
m、より好ましくは50〜200nm程度が好ましい。
は500Ω/□以下、より好ましくは100Ω/□以下
である。
は、スパッタリング法、スプレー法、MOCVD法等の
物理的、化学的薄膜形成方法が考えられるが、特にスパ
ッタリング法が好ましい。
場合、スパッタ時のスパッタガスの圧力は、0.1〜1
Paの範囲が好ましい。スパッタガスは、通常のスパッタ
装置に使用される不活性ガス、例えばAr,Ne,X
e,Kr等が使用できる。また、必要によりN2 を用い
てもよい。スパッタ時の雰囲気としては、有機層上に成
膜する場合、O2 等の酸素源を加えることなく、上記不
活性ガスのみを用いることが好ましい。
波スパッタ法や、DCスパッタ法等が使用できる。スパ
ッタ装置の電力としては、好ましくはRFスパッタで
0.1〜10W/cm2 の範囲が好ましく、成膜レートは
0.5〜10nm/min 、特に1〜5nm/min の範囲が好
ましい。
て上記ZnO系透明電極と、有機層との間に無機電子注
入層を有していてもよい。無機電子注入層を設けること
により電子注入特性が飛躍的に改善される。なお、無機
電子注入層は無機物により形成された薄膜であるが、通
常、膜厚が非常に薄いため、この場合でもZnO系透明
電極による有機層へのダメージ防止効果が得られる。
ウム(Li2O)、酸化ルビジウム(Rb2O)、酸化カ
リウム(K2O)、酸化ナトリウム(Na2O)、酸化セ
シウム(Cs2O)、酸化ストロンチウム(SrO)、
酸化マグネシウム(MgO)、および酸化カルシウム
(CaO)の1種または2種以上を含有する。これらは
単独で用いてもよいし、2種以上を混合して用いてもよ
く、2種以上を用いる場合の混合比は任意である。ま
た、これらのなかでは酸化ストロンチウムが最も好まし
く、次いで酸化マグネシウム、酸化カルシウム、さらに
酸化リチウム(Li2O)の順で好ましく、次いで酸化
ルビジウム(Rb2O)、次いで酸化カリウム(K
2O)、および酸化ナトリウム(Na2O)が好ましい。
これらを混合して用いる場合には、これらのなかで酸化
ストロンチウムが40 mol%以上、または酸化リチウム
と酸化ルビジウムの総計が40 mol%以上、特に50 m
ol%以上含有されていることが好ましい。
コン(SiO2)、および/または酸化ゲルマニウム
(GeO2)を含有する。これらはいずれか一方を用い
てもよいし、両者を混合して用いてもよく、その際の混
合比は任意である。
(stoichiometric composition)で存在するが、これか
ら多少偏倚し、非化学量論的組成(non-stoichiometr
y)となっていてもよい。
くは上記各構成成分が全成分に対して、SrO、Mg
O、CaO、Li2O、Rb2O、K2O、Na2O、Cs
2O、SiO2、GeO2に換算して、 主成分:80〜99 mol%、より好ましくは90〜95
mol%、 安定剤: 1〜20 mol%、より好ましくは 5〜10
mol%、 含有する。
は0.1〜2nm、より好ましくは0.3〜0.8nmであ
る。
成分として仕事関数4eV以下、より好ましくは1〜4eV
であって、好ましくはLi,Na,K,Rb,Csおよ
びFrから選択される1種以上のアルカリ金属元素、ま
たは、好ましくはMg,CaおよびSrから選択される
1種以上のアルカリ土類金属元素、または、好ましくは
LaおよびCeから選択される1種以上のランタノイド
系元素のいずれかの酸化物を含有するものであってもよ
い。これらのなかでも、特に酸化リチウム、酸化マグネ
シウム、酸化カルシウム、酸化セリウムが好ましい。こ
れらを混合して用いる場合の混合比は任意である。ま
た、これらの混合物中には酸化リチウムがLi2O換算
で、50 mol%以上含有されていることが好ましい。
分としてZn,Sn,V,Ru,SmおよびInから選
択される1種以上の元素を含有する。この場合の第2成
分の含有量は、好ましくは0.2〜40 mol%、より好
ましくは1〜20 mol%である。含有量がこれより少な
いと電子注入機能が低下し、含有量がこれを超えるとホ
ールブロック機能が低下してくる。2種以上を併用する
場合、合計の含有量は上記の範囲にすることが好まし
い。第2成分は金属元素の状態でも、酸化物の状態であ
ってもよい。
抗)の第2成分を含有させることにより、絶縁性物質中
に導電物質が島状に存在するようになり、電子注入のた
めのホッピングパスが形成されるものと考えられる。
(stoichiometric composition)であるが、これから多
少偏倚して非化学量論的組成(non-stoichiometry)と
なっていてもよい。また、第2成分も、通常、酸化物と
して存在するが、この酸化物も同様である。
好ましくは0.2〜30nm、特に0.2〜10nm程度が
好ましい。電子注入層がこれより薄くても厚くても、電
子注入層としての機能を十分に発揮できなくなくなって
くる。
合、第1の電極はホール注入層等へホールを効率よく注
入することのできるものが好ましく、仕事関数4.5eV
〜5.5eVの物質が好ましい。具体的には、錫ドープ酸
化インジウム(ITO)、亜鉛ドープ酸化インジウム
(IZO)、酸化インジウム(In2O3 )、酸化スズ
(SnO2 )および酸化亜鉛(ZnO)のいずれかを主
組成としたものが好ましい。これらの酸化物はその化学
量論組成から多少偏倚していてもよい。In2 O3に対
するSnO2 の混合比は、1〜20wt%、さらには5〜
12wt%が好ましい。また、IZOでのIn2 O3 に対
するZnOの混合比は、通常、12〜32wt%程度であ
る。
酸化シリコン(SiO2 )を含有していてもよい。酸化
シリコン(SiO2 )の含有量は、ITOに対するSi
O2の mol比で0.5〜10%程度が好ましい。SiO2
を含有することにより、ITOの仕事関数が増大す
る。
通常400〜700nm、特に各発光光に対する光透過率
が50%以上、さらには80%以上、特に90%以上で
あることが好ましい。透過率が低くなりすぎると、発光
層からの発光自体が減衰され、発光素子として必要な輝
度を得難くなってくる。
〜300nmの範囲が好ましい。また、その上限は特に制
限はないが、あまり厚いと透過率の低下や剥離などの心
配が生じる。厚さが薄すぎると、十分な効果が得られ
ず、製造時の膜強度等の点でも問題がある。
合、第2の電極は、仕事関数が4eV以下の金属、合金ま
たは金属間化合物から構成されることが好ましい。材料
の仕事関数が4eVを超えると、電子の注入効率が低下
し、ひいては発光効率も低下してくる。仕事関数が4eV
以下の電子注入電極膜の構成金属としては、例えば、L
i、Na、K等のアルカリ金属、Mg、Ca、Sr、B
a等のアルカリ土類金属、La、Ce等の希土類金属
や、Al、In、Ag、Sn、Zn、Zr等が挙げられ
る。仕事関数が4eV以下の金属を含有する電子注入電極
の構成合金としては、例えばAg・Mg(Ag:1〜2
0at%)、Al・Li(Li:0.5〜12at%)、I
n・Mg(Mg:50〜80at%)、Al・Ca(C
a:5〜20at%)等が挙げられる。これらは単独で、
あるいは2種以上の組み合わせとして存在してもよく、
これらを2種以上組み合わせた場合の混合比は任意であ
る。
できるが、好ましくはスパッタ法、さらにはDCスパッ
タ法により形成することが好ましい。DCスパッタ装置
の電力としては、好ましくは0.1〜10W/cm2、特
に0.5〜7W/cm2の範囲が好ましい。成膜レートと
しては、好ましくは0.1〜100nm/min 、特に1〜
30nm/min が好ましい。
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
を十分行える一定以上の厚さとすればよく、1nm以上、
好ましくは3nm以上とすればよい。また、その上限値に
は特に制限はないが、通常膜厚は3〜500nm程度とす
ればよい。
詳述する。
1種類、または2種類以上の有機化合物薄膜の積層膜か
らなる。
入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再結合によ
り励起子を生成させる機能を有する。発光層には、比較
的電子的にニュートラルな化合物を用いることで、電子
とホールを容易かつバランスよく注入・輸送することが
できる。
他、さらに有機材料のホール輸送層を設けたり、電子注
入輸送層等を有していても良い。
は、陽極(ホール注入電極)からのホールの注入を容易
にする機能、ホールを安定に輸送する機能および電子を
妨げる機能を有するものであり、電子注入輸送層は、陰
極(電子注入電極)からの電子の注入を容易にする機
能、電子を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機
能を有するものである。これらの層は、発光層に注入さ
れるホールや電子を増大・閉じこめさせ、再結合領域を
最適化させ、発光効率を改善する。
電子注入輸送層の厚さは、特に制限されるものではな
く、形成方法によっても異なるが、通常5〜500nm程
度、特に10〜300nmとすることが好ましい。
の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光層の
厚さと同程度または1/10〜10倍程度とすればよ
い。電子の注入層と輸送層とを分ける場合は、注入層は
1nm以上、輸送層は1nm以上とするのが好ましい。この
ときの注入層、輸送層の厚さの上限は、通常、注入層で
500nm程度、輸送層で500nm程度である。このよう
な膜厚については、注入輸送層を2層設けるときも同じ
である。
する化合物である蛍光性物質を含有させる。このような
蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−26469
2号公報に開示されているような化合物、例えばキナク
リドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物から選択
される少なくとも1種が挙げられる。また、トリス(8
−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノールま
たはその誘導体を配位子とする金属錯体色素などのキノ
リン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アントラセ
ン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘導体
等が挙げられる。さらには、特開平8−12600号公
報に記載のフェニルアントラセン誘導体、特開平8−1
2969号公報に記載のテトラアリールエテン誘導体等
を用いることができる。
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
好ましく、さらには8−キノリノールまたはその誘導体
を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このよう
なアルミニウム錯体としては、特開昭63−26469
2号、特開平3−255190号、特開平5−7077
3号、特開平5−258859号、特開平6−2158
74号等に開示されているものを挙げることができる。
ラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネ
シウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜
鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、
トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−
8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−
キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キ
ノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−
8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜
鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メ
タン]等がある。
のほかに他の配位子を有するアルミニウム錯体であって
もよく、このようなものとしては、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(フェノラト)アルミニウム(III)
、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(オルト−
クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(メタークレゾラト)アルミニウム
(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ
−クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル
−8−キノリノラト)(オルト−フェニルフェノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノ
ラト)(メタ−フェニルフェノラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)(2,3−ジメチルフェノ
ラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キ
ノリノラト)(2,6−ジメチルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(3,4−ジメチルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(3,5−ジメ
チルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2,6−ジフェニルフェノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラ
ト)(2,4,6−トリフェニルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(2,3,6−トリメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(2,
3,5,6−テトラメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(1−ナ
フトラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)
(オルト−フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,
4−ジメチル−8−キノリノラト)(メタ−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジメチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチル−8
−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4−エチ
ル−8−キノリノラト)(パラ−クレゾラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−4−メトキシ−8−キ
ノリノラト)(パラ−フェニルフェノラト)アルミニウ
ム(III) 、ビス(2−メチル−5−シアノ−8−キノリ
ノラト)(オルト−クレゾラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−6−トリフルオロメチル−8−キノ
リノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(III) 等が
ある。
ノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス
(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)アルミニウム
(III) −μ−オキソ−ビス(2,4−ジメチル−8−キ
ノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス(4−エチル−
2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −
μ−オキソ−ビス(4−エチル−2−メチル−8−キノ
リノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4
−メトキシキノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オ
キソ−ビス(2−メチル−4−メトキシキノリノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(5−シアノ−2−メチル−
8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−
ビス(5−シアノ−2−メチル−8−キノリノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−5−トリフルオ
ロメチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ
−オキソ−ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル
−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 等であっても
よい。
−12600号公報に記載のフェニルアントラセン誘導
体や特開平8−12969号公報に記載のテトラアリー
ルエテン誘導体なども好ましい。
ってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等を使用することが好ましい。これら
の蛍光性物質を蒸着すればよい。
も1種のホール注入輸送性化合物と少なくとも1種の電
子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ましく、
さらにはこの混合層中にドーパントを含有させることが
好ましい。このような混合層における化合物の含有量
は、0.01〜20wt% 、さらには0.1〜15wt% と
することが好ましい。
スができるため、各キャリアは極性的に有利な物質中を
移動し、逆の極性のキャリア注入は起こりにくくなるた
め、有機化合物がダメージを受けにくくなり、素子寿命
がのびるという利点がある。また、前述のドーパントを
このような混合層に含有させることにより、混合層自体
のもつ発光波長特性を変化させることができ、発光波長
を長波長に移行させることができるとともに、発光強度
を高め、素子の安定性を向上させることもできる。
物および電子注入輸送性化合物は、各々、後述のホール
輸送層用の化合物および電子注入輸送層用の化合物の中
から選択すればよい。なかでも、ホール輸送層用の化合
物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、例えばホ
ール輸送材料であるトリフェニルジアミン誘導体、さら
にはスチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン
誘導体を用いるのが好ましい。
ン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム(Alq3 )を用いることが好まし
い。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラ
アリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
蛍光を持ったアミン誘導体、例えば上記のホール輸送材
料であるトリフェニルジアミン誘導体、さらにはスチリ
ルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を用
いるのが好ましい。
移動度とキャリア濃度によるが、一般的には、ホール注
入輸送性化合物の化合物/電子注入輸送機能を有する化
合物の重量比が、1/99〜99/1、さらに好ましく
は10/90〜90/10、特に好ましくは20/80
〜80/20程度となるようにすることが好ましい。
する厚み以上で、有機化合物層の膜厚未満とすることが
好ましい。具体的には1〜85nmとすることが好まし
く、さらには5〜60nm、特には5〜50nmとすること
が好ましい。
蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、蒸気圧(蒸
発温度)が同程度あるいは非常に近い場合には、予め同
じ蒸着ボード内で混合させておき、蒸着することもでき
る。混合層は化合物同士が均一に混合している方が好ま
しいが、場合によっては、化合物が島状に存在するもの
であってもよい。発光層は、一般的には、有機蛍光物質
を蒸着するか、あるいは、樹脂バインダー中に分散させ
てコーティングすることにより、発光層を所定の厚さに
形成する。
開昭63−295695号公報、特開平2−19169
4号公報、特開平3−792号公報、特開平5−234
681号公報、特開平5−239455号公報、特開平
5−299174号公報、特開平7−126225号公
報、特開平7−126226号公報、特開平8−100
172号公報、EP0650955A1等に記載されて
いる各種有機化合物を用いることができる。例えば、テ
トラアリールベンジシン化合物(トリアリールジアミン
ないしトリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級ア
ミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリア
ゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有する
オキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等である。こ
れらの化合物は、1種のみを用いても、2種以上を併用
してもよい。2種以上を併用するときは、別層にして積
層したり、混合したりすればよい。
輸送層とに分けて設層する場合は、ホール注入輸送層用
の化合物のなかから好ましい組合せを選択して用いるこ
とができる。このとき、ホール注入電極(ITO等)側
からイオン化ポテンシャルの小さい化合物の順に積層す
ることが好ましい。また、ホール注入電極表面には薄膜
性の良好な化合物を用いることが好ましい。このような
積層順については、ホール注入輸送層を2層以上設ける
ときも同様である。このような積層順とすることによっ
て、駆動電圧が低下し、電流リークの発生やダークスポ
ットの発生・成長を防ぐことができる。また、素子化す
る場合、蒸着を用いているので1〜10nm程度の薄い膜
も均一かつピンホールフリーとすることができるため、
ホール注入層にイオン化ポテンシャルが小さく、可視部
に吸収をもつような化合物を用いても、発光色の色調変
化や再吸収による効率の低下を防ぐことができる。ホー
ル注入輸送層は、発光層等と同様に上記の化合物を蒸着
することにより形成することができる。
ノラト)アルミニウム(Alq3 )等の8−キノリノー
ルまたはその誘導体を配位子とする有機金属錯体などの
キノリン誘導体、オキサジアゾール誘導体、ペリレン誘
導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、キノキサリ
ン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、ニトロ置換フルオ
レン誘導体等を用いることができる。電子注入輸送層は
発光層を兼ねたものであってもよく、このような場合は
トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等を使用する
ことが好ましい。電子注入輸送層の形成は、発光層と同
様に、蒸着等によればよい。
とに分けて積層する場合には、電子注入輸送層用の化合
物の中から好ましい組み合わせを選択して用いることが
できる。このとき、電子注入電極側から電子親和力の値
の大きい化合物の順に積層することが好ましい。このよ
うな積層順については、電子注入輸送層を2層以上設け
るときも同様である。
輸送層の形成には、均質な薄膜が形成できることから、
真空蒸着法を用いることが好ましい。真空蒸着法を用い
た場合、アモルファス状態または結晶粒径が0.2μm
以下の均質な薄膜が得られる。結晶粒径が0.2μm を
超えていると、不均一な発光となり、素子の駆動電圧を
高くしなければならなくなり、ホールの注入効率も著し
く低下する。
0-4Pa以下の真空度とし、蒸着速度は0.01〜1nm/
sec 程度とすることが好ましい。また、真空中で連続し
て各層を形成することが好ましい。真空中で連続して形
成すれば、各層の界面に不純物が吸着することを防げる
ため、高特性が得られる。また、素子の駆動電圧を低く
したり、ダークスポットの発生・成長を抑制したりする
ことができる。
合において、1層に複数の化合物を含有させる場合、化
合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着する
ことが好ましい。
る基板としては、非晶質基板たとえばガラス、石英な
ど、結晶基板たとえば、Si、GaAs、ZnSe、Z
nS、GaP、InPなどがあげられ、またこれらの結
晶基板に結晶質、非晶質あるいは金属のバッファ層を形
成した基板も用いることができる。また金属基板として
は、Mo、Al、Pt、Ir、Au、Pdなどを用いる
ことができ、好ましくはガラス基板が用いられる。基板
は、光取り出し側となる場合、上記電極と同様な光透過
性を有することが好ましい。
ために、素子上を封止板等により封止することが好まし
い。封止板は、湿気の侵入を防ぐために、接着性樹脂層
を用いて、封止板を接着し密封する。封止ガスは、A
r、He、N2 等の不活性ガス等が好ましい。また、こ
の封止ガスの水分含有量は、100ppm 以下、より好ま
しくは10ppm 以下、特には1ppm 以下であることが好
ましい。この水分含有量に下限値は特にないが、通常
0.1ppm 程度である。
であって、ガラスや石英、樹脂等の透明ないし半透明材
料が挙げられるが、特にガラスが好ましい。このような
ガラス材として、コストの面からアルカリガラスが好ま
しいが、この他、ソーダ石灰ガラス、鉛アルカリガラ
ス、ホウケイ酸ガラス、アルミノケイ酸ガラス、シリカ
ガラス等のガラス組成のものも好ましい。特に、ソーダ
ガラスで、表面処理の無いガラス材が安価に使用でき、
好ましい。封止板としては、ガラス板以外にも、金属
板、プラスチック板等を用いることもできる。
し、所望の高さに保持してもよい。スペーサーの材料と
しては、樹脂ビーズ、シリカビーズ、ガラスビーズ、ガ
ラスファイバー等が挙げられ、特にガラスビーズ等が好
ましい。なお、封止板に凹部を形成した場合には、スペ
ーサーは使用しても、使用しなくてもよい。
されていても、接着時に混入してもよい。封止用接着剤
中におけるスペーサーの含有量は、好ましくは0.01
〜30wt%、より好ましくは0.1〜5wt%である。
て、気密性が良好なものであれば特に限定されるもので
はないが、カチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキシ
樹脂接着剤を用いることが好ましい。
色変換膜、あるいは誘電体反射膜を用いて発光色をコン
トロールしてもよい。
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機EL素子の発光する光に合わせてカラーフィルター
の特性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すれば
よい。
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
吸収し、蛍光変換膜中の蛍光体から光を放出させること
で、発光色の色変換を行うものであるが、組成として
は、バインダー、蛍光材料、光吸収材料の三つから形成
される。
いものを用いれば良く、EL発光波長域に吸収が強いこ
とが望ましい。実際には、レーザー色素などが適してお
り、ローダミン系化合物・ペリレン系化合物・シアニン
系化合物・フタロシアニン系化合物(サブフタロシアニ
ン等も含む)ナフタロイミド系化合物・縮合環炭化水素
系化合物・縮合複素環系化合物・スチリル系化合物・ク
マリン系化合物等を用いればよい。
ような材料を選べば良く、フォトリソグラフィー・印刷
等で微細なパターニングが出来るようなものが好まし
い。また、基板上にホール注入電極と接する状態で形成
される場合、ホール注入電極(ITO、IZO等)の成
膜時にダメージを受けないような材料が好ましい。
い場合に用いるが、必要のない場合は用いなくても良
い。また、光吸収材料は、蛍光性材料の蛍光を消光しな
いような材料を選べば良い。
示すように基板1/ホール注入電極2/ホール注入輸送
層3/発光層4/有機電子輸送層5/無機電子注入層6
/電子注入電極7とが順次積層された順積層の構成とし
てもよい。また、図2に示すように基板1/電子注入電
極7/無機電子注入層6/有機電子輸送層5/発光層4
/ホール注入輸送層3/ホール注入電極2とが順次積層
された逆積層の構成としてもよい。なお、無機電子注入
層+有機電子輸送層に代えて有機の電子注入輸送層とし
てもよいし、ホール注入輸送層を、注入層+輸送層と別
個に設けてもよい。要求される性能や仕様などにより最
適な積層構成とすればよい。
れ、また交流駆動も可能である。印加電圧は、通常、2
〜30V 程度である。
ZO(サンプル1)、ZnOにAlを98:2wt%で混
合したもの(サンプル2)、ZnOのみのもの(サンプ
ル3)をそれぞれ用意した。
素分圧を0〜0.025の範囲で変化させ、ガラス基板
上にそれぞれ薄膜を形成し、得られた薄膜の比抵抗を測
定した。このときの成膜条件としては、IZOはDC2
00Wを投入し、ZnO:Alおよび純ZnOはRF1
20Wを投入した。また、スパッタガスにはKrを用
い、成膜時の圧力を0.2〜0.3Paとした。結果を図
3に示す。
膜は、酸素を含有しない不活性ガス雰囲気下で低い比抵
抗が得られている。
IZO(サンプル11)、ZnOにAlを98:2wt%
で混合したもの(サンプル12)、ZnOにAlを9
8:2wt%で混合したもの(サンプル13)、ZnOに
Alを98:2wt%で混合したもの(サンプル14)、
ZnOのみのもの(サンプル15)をそれぞれ用意し
た。
それぞれ薄膜を形成し、得られた薄膜の仕事関数を光電
子測定法により測定した。このときの成膜条件として
は、サンプル11のIZOは、DC200Wを投入し、
スパッタ雰囲気をArにO2 を2%添加した混合ガスと
し、スパッタ時の圧力を0.31Paとした。サンプル1
2のZnO:Alは、RF120Wを投入し、スパッタ
雰囲気をKr:100%とし、スパッタ時の圧力を0.
15Paとした。サンプル13のZnO:Alは、RF1
20Wを投入し、スパッタ雰囲気をArにO2 を5%添
加した混合ガスとし、スパッタ時の圧力を0.31Paと
した。サンプル14のZnO:Alは、RF120Wを
投入し、スパッタ雰囲気をKrにH2 を2%添加した混
合ガスとし、スパッタ時の圧力を0.20Paとした。純
ZnOはRF120Wを投入し、スパッタ雰囲気をK
r:100%とし、スパッタ時の圧力を0.15Paとし
た。
に、サンプル11のIZOの仕事関数は4.73eVであ
るのに対し、Kr:100%で成膜したZnO:Alの
サンプル12は、仕事関数が4.42eVと小さくなって
いる。また、サンプル12〜14から明らかなように、
ZnO:Al系の透明電極は、スパッタ雰囲気に非常に
敏感であり、還元性雰囲気〜酸化性雰囲気で仕事関数が
大きく変化していることがわかる。また、ZnOにAl
をドープすることで、仕事関数が低下していることがわ
かる。
真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×1
0-4Pa以下まで減圧した。次いで、真空蒸着法にてAu
ホール注入電極を膜厚100nmに成膜した。得られたA
u電極を、パターニングし、次いで中性洗剤、アセト
ン、エタノールを用いて超音波洗浄し、煮沸エタノール
中から引き上げて乾燥した。次いで、表面をUV/O3
洗浄した後、再び真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し
て、槽内を1×10-4Pa以下まで減圧した。
[N−フェニル−N−4−トリル(4−アミノフェニ
ル)]ベンジジン(ATP34)を蒸着速度0.2nm/
sec.で50nmの厚さに蒸着し、ホール注入層とし、次い
で減圧状態を保ったまま、N,N’−ジフェニル−N,
N’−m−トリル−4,4’−ジアミノ−1,1’−ビ
フェニル(以下、TPD)を蒸着速度0.2nm/sec.で
20nmの厚さに蒸着し、ホール輸送層とした。
ス(m−メチルフェニル)−N,N´−ジフェニル−
1,1´−ビフェニル−4,4´−ジアミン(TPD
5)とトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以
下、Alq3 )を全体の蒸着速度0.2nm/sec.で1:
1の割合とし、これにルブレンを3体積%ドープしたも
のを100nmの厚さに蒸着して、発光層とした。次いで
減圧を保ったまま、トリス(8−キノリノラト)アルミ
ニウム(以下、Alq3 )を蒸着速度0.2nm/sec.で
20nmの厚さに蒸着して電子注入輸送層とした。
とRuO2 を70:30体積%の割合で共蒸着(2元蒸
着)し、1nmの厚さに成膜して無機電子注入層とした。
次いで、蒸着装置からスパッタ装置に移し、ZnO:A
l=98:2wt%のターゲットを用い、スパッタ法にて
ZnO系透明電極を150nmの厚さに成膜した。このと
きのスパッタ条件として、スパッタガス:Ar100
%、スパッタ時の圧力:0.2Pa、投入電力:RF30
0Wとした。最後に、接着剤を用いてガラス封止板を接
着し、密封して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、9.7V 、550cd/m2 の発光が観測された。
輝度の半減時間は250時間以上であった。
注入電極を形成した後に、蒸着装置からスパッタ装置に
移し、ITOターゲットを用い、スパッタ法にてITO
透明電極を150nmの厚さに成膜した。このときのスパ
ッタ条件として、スパッタガスにArにO 2 を2%混合
したものを用い、スパッタ時の圧力:0.5Pa、投入電
力:DC300Wとした。その他は、実施例1と同様に
して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、9.5V 、80cd/m2 の発光が観測された。輝
度の半減時間は100時間以下であった。
注入電極を形成した後に、蒸着装置からスパッタ装置に
移し、IZOターゲットを用い、スパッタ法にてIZO
透明電極を150nmの厚さに成膜した。このときのスパ
ッタ条件として、スパッタガスにArにO 2 を2%混合
したものを用い、スパッタ時の圧力:0.5Pa、投入電
力:DC300Wとした。その他は、実施例1と同様に
して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、9.2V 、120cd/m2 の発光が観測された。
輝度の半減時間は120時間以下であった。
真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×1
0-4Pa以下まで減圧した。次いで、真空蒸着法にてAl
陰電極を膜厚200nmに成膜した。得られたAl電極
を、パターニングし、次いで中性洗剤、アセトン、エタ
ノールを用いて超音波洗浄し、煮沸エタノール中から引
き上げて乾燥した。次いで、表面をUV/O3 洗浄した
後、再び真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内
を1×10-4Pa以下まで減圧した。
とRuO2 を70:30体積%の割合で共蒸着(2元蒸
着)し、1nmの厚さに成膜して無機電子注入層とした。
ノリノラト)アルミニウム(以下、Alq3 )を蒸着速
度0.2nm/sec.で20nmの厚さに蒸着して電子注入輸
送層とした。
ス(m−メチルフェニル)−N,N´−ジフェニル−
1,1´−ビフェニル−4,4´−ジアミン(TPD
5)とトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以
下、Alq3 )を全体の蒸着速度0.2nm/sec.で1:
1の割合とし、これにルブレンを3体積%ドープしたも
のを100nmの厚さに蒸着して、発光層とした。
ビス(m−メチルフェニル)−N,N´−ジフェニル−
1,1´−ビフェニル−4,4´−ジアミン(TPD
5)を蒸着速度0.2nm/sec.で20nmの厚さに蒸着
し、ホール輸送層とし、続けてN,N’−ジフェニル−
N,N’−ビス[N−フェニル−N−4−トリル(4−
アミノフェニル)]ベンジジン(ATP34)を蒸着速
度0.2nm/sec.で50nmの厚さに蒸着し、ホール注入
層とした。
し、ホール注入電極を200nmの厚さに成膜した。この
ときターゲットにはZnO:Al=98:2wt%のター
ゲットを用い、スパッタ条件として、スパッタガス:A
r100%、スパッタ時の圧力:0.2Pa、投入電力:
RF300Wとした。最後に、接着剤を用いてガラス封
止板を接着し、密封して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、15.8V 、220cd/m2 の発光が観測され
た。輝度の半減時間は150時間以上であった。
送層を形成した後に、蒸着装置からスパッタ装置に移
し、ITOターゲットを用い、スパッタ法にてITO透
明電極を200nmの厚さに成膜した。このときのスパッ
タ条件として、スパッタガスにArにO2 を2%混合し
たものを用い、スパッタ時の圧力:0.5Pa、投入電
力:DC300Wとした。その他は、実施例2と同様に
して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、15.0V 、80cd/m2 の発光が観測された。
輝度の半減時間は100時間以下であった。
送層を形成した後に、蒸着装置からスパッタ装置に移
し、IZOターゲットを用い、スパッタ法にてIZO透
明電極を200nmの厚さに成膜した。このときのスパッ
タ条件として、スパッタガスにArにO2 を2%混合し
たものを用い、スパッタ時の圧力:0.5Pa、投入電
力:DC300Wとした。その他は、実施例2と同様に
して有機EL素子を得た。
し、10mA/cm2 の定電流密度で連続駆動させた。初期
には、14.5V 、95cd/m2 の発光が観測された。
輝度の半減時間は100時間以下であった。
に、ZnO:Al系サンプルは、O2による有機層のア
ッシングが非常に少ないため、輝度の向上と、寿命の改
善が認められた。また、逆積層(実施例2、比較例3,
4)が順積層(実施例1、比較例1,2)と比較して全
体的に初期特性で劣っているのは、ホール輸送層(注入
層)であるアミン系材料が、スパッタダメージを受けた
ためであると考えられる。また、ITO,IZOに比べ
駆動電圧が高いのは、ZnO:Al系電極の仕事関数が
小さいため、ホール注入電極(陽極)側有機層界面にお
いて障壁が存在するためであると考えられる。
に透明電極を形成する際に生じる有機層へのダメージを
抑制し、有機層へのキャリア注入性に優れ、EL特性の
向上と素子の長寿命化が可能な透明電極を有する有機E
L素子を実現することができる。
断面図である。
概略断面図である。
たグラフである。
Claims (12)
- 【請求項1】 第1の電極と第2の電極と、これらの電
極間に1種以上の有機層とを有し、 少なくとも前記第1の電極および第2の電極のいずれか
は、ZnO系透明電極を有する有機EL素子。 - 【請求項2】 前記第1の電極および/または第2の電
極は、前記ZnO系透明電極と、酸化インジウム系透明
電極とを有する請求項1の有機EL素子。 - 【請求項3】 前記ZnO系透明電極は、酸化亜鉛(Z
nO)に高原子価金属イオン種がドーピングされている
請求項1または2の有機EL素子。 - 【請求項4】 前記ZnO系透明電極は、3価のIII 族
元素、または4価のIV族元素をドーパントとして有する
請求項1〜3のいずれかの有機EL素子。 - 【請求項5】 前記ZnO系透明電極のドーパントは、
B,Al,GaおよびInから選ばれる3価のIII 族元
素、またはSi,Ge,SnおよびPbから選ばれる4
価のIV族元素である請求項4の有機EL素子。 - 【請求項6】 前記ZnO系透明電極は、ドーパントを
Znに対して0.01〜30at%含有する請求項1〜5
のいずれかの有機EL素子。 - 【請求項7】 前記ZnO系透明電極は、スパッタリン
グ法により不活性ガス雰囲気下で成膜されている請求項
1〜6のいずれかの有機EL素子。 - 【請求項8】 前記ZnO系透明電極は、陰極ないし電
子注入電極である請求項1〜7のいずれかの有機EL素
子。 - 【請求項9】 前記ZnO系透明電極の仕事関数は、I
TO、IZOの仕事関数より低い請求項8の有機EL素
子。 - 【請求項10】 前記ZnO系透明電極の仕事関数は、
4.6eV以下である請求項8または9の有機EL素子。 - 【請求項11】 前記ZnO系透明電極と、有機層との
間には無機電子注入層を有する請求項8〜10のいずれ
かの有機EL素子。 - 【請求項12】 前記ZnO系透明電極は、陽極ないし
ホール注入電極である請求項1〜7のいずれかの有機E
L素子。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35455599A JP2001176673A (ja) | 1999-12-14 | 1999-12-14 | 有機el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP35455599A JP2001176673A (ja) | 1999-12-14 | 1999-12-14 | 有機el素子 |
Publications (1)
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---|---|
JP2001176673A true JP2001176673A (ja) | 2001-06-29 |
Family
ID=18438352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP35455599A Pending JP2001176673A (ja) | 1999-12-14 | 1999-12-14 | 有機el素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2001176673A (ja) |
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