JP2001168317A - 金属微粒子秩序構造形成方法 - Google Patents
金属微粒子秩序構造形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は基板上の自己組織化膜上に堆積した
金属微粒子をチオール分子で被覆する際に、チオールで
被覆された金属微粒子が自己組織化膜より遊離すること
を防止することを課題とする。 【解決手段】 本発明では、基板上の自己組織化膜上に
堆積した金属微粒子をチオール分子で被覆する際に、基
板に電圧を印加して、金属微粒子を自己組織化膜表面上
から遊離することを防ぎ、金属微粒子の秩序構造を形成
する。
金属微粒子をチオール分子で被覆する際に、チオールで
被覆された金属微粒子が自己組織化膜より遊離すること
を防止することを課題とする。 【解決手段】 本発明では、基板上の自己組織化膜上に
堆積した金属微粒子をチオール分子で被覆する際に、基
板に電圧を印加して、金属微粒子を自己組織化膜表面上
から遊離することを防ぎ、金属微粒子の秩序構造を形成
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に堆積した
金属微粒子の有機溶媒処理方法に関する。
金属微粒子の有機溶媒処理方法に関する。
【0002】より詳細には、自己組織化膜上に堆積した
金属微粒子の2次元的な秩序構造の形成法に関する。
金属微粒子の2次元的な秩序構造の形成法に関する。
【0003】
【従来の技術】単電子素子は、クーロンエネルギーによ
り電子のトンネリングが抑制される「クーロンブロッケ
イド」現象を利用し、電子を一個単位で制御するもので
ある。単電子素子は以下の様な優れた特徴を有する。 寸法が小さくなるほど動作可能な温度が高くなる。 材料は導体でも半導体でも良い。 電子一個を制御するものであるので、消費電力も従来
品に比べて数万分の1程度に減少する。
り電子のトンネリングが抑制される「クーロンブロッケ
イド」現象を利用し、電子を一個単位で制御するもので
ある。単電子素子は以下の様な優れた特徴を有する。 寸法が小さくなるほど動作可能な温度が高くなる。 材料は導体でも半導体でも良い。 電子一個を制御するものであるので、消費電力も従来
品に比べて数万分の1程度に減少する。
【0004】この単電子素子を室温で動作させるために
は、その静電容量を10-18F程度とする必要がある。
この静電容量から予想される素子サイズは数nmであ
る。このサイズの秩序構造を作成するために様々な方法
が試みられているが、いまだ決め手となる方法は開発さ
れていない。
は、その静電容量を10-18F程度とする必要がある。
この静電容量から予想される素子サイズは数nmであ
る。このサイズの秩序構造を作成するために様々な方法
が試みられているが、いまだ決め手となる方法は開発さ
れていない。
【0005】秩序構造(nmオーダー)を作成するための
手法として、以下の2方法が主に研究されている。 従来のリソグラフィー技術を援用する方法、 微細な構造を自己組織的に形成する方法 しかし、のリソグラフィー技術は1/10ミクロン程度の
パターンを加工できるまでに技術が発達してきたとは言
え、まだまだ数nmレベルの加工を再現性良く行なうこと
は困難である。また、収束電子線による描画が主に検討
されているが、電子線描画では一つ一つのパターンを電
子線で描画しなければならず、スループットが懸念され
ること。また、電子線描画の工程中で作成された秩序構
造にダメージが発生すること等の問題点を抱えている。
手法として、以下の2方法が主に研究されている。 従来のリソグラフィー技術を援用する方法、 微細な構造を自己組織的に形成する方法 しかし、のリソグラフィー技術は1/10ミクロン程度の
パターンを加工できるまでに技術が発達してきたとは言
え、まだまだ数nmレベルの加工を再現性良く行なうこと
は困難である。また、収束電子線による描画が主に検討
されているが、電子線描画では一つ一つのパターンを電
子線で描画しなければならず、スループットが懸念され
ること。また、電子線描画の工程中で作成された秩序構
造にダメージが発生すること等の問題点を抱えている。
【0006】そこで最近注目されているのがの秩序構
造を自己組織的に形成する方法である。これは、有機化
学、触媒化学の分野において、直径数nm〜数十nmの
金属微粒子及びその凝集物(クラスター)の研究が進ん
できたことが背景としている。
造を自己組織的に形成する方法である。これは、有機化
学、触媒化学の分野において、直径数nm〜数十nmの
金属微粒子及びその凝集物(クラスター)の研究が進ん
できたことが背景としている。
【0007】単電子素子に用いられる秩序構造は、nmレ
ベルであれば、導体であっても良いので、数nm程度の大
きさの金属微粒子の凝集物を単電子素子に応用しようと
するものである。特に注目されているのが、金属微粒子
をチオール分子で被覆して金属チオール粒子を形成する
方法である。
ベルであれば、導体であっても良いので、数nm程度の大
きさの金属微粒子の凝集物を単電子素子に応用しようと
するものである。特に注目されているのが、金属微粒子
をチオール分子で被覆して金属チオール粒子を形成する
方法である。
【0008】数nm程度の金属微粒子は体積に対する表
面積の比率が大きく、反応性に富んでいる。そのため、
そのままだと金属微粒子は凝集してしまう。そこで、金
属微粒子の表面をチオール分子で被覆して金属微粒子の
凝集を防止する。
面積の比率が大きく、反応性に富んでいる。そのため、
そのままだと金属微粒子は凝集してしまう。そこで、金
属微粒子の表面をチオール分子で被覆して金属微粒子の
凝集を防止する。
【0009】基板に金属微粒子を堆積する方法として
は、第一に金属チオール粒子の水溶液を基板上に滴下
し、溶媒を乾燥する方法がある。しかし、この方法は、
凝集物(クラスター)を構成する金属微粒子の個数、凝
集物(クラスター)のパターン形成を制御することが難
しいという欠点があった。
は、第一に金属チオール粒子の水溶液を基板上に滴下
し、溶媒を乾燥する方法がある。しかし、この方法は、
凝集物(クラスター)を構成する金属微粒子の個数、凝
集物(クラスター)のパターン形成を制御することが難
しいという欠点があった。
【0010】さらに進んだ例としては、金属微粒子を有
機分子のSAM上に堆積した後、金属微粒子をチオール
処理することでSAM上を拡散させて秩序構造を形成し
た例が挙げられる。(T. Sato, D. Brown, F. G. Johns
on, Chem. Commun., 1007, (1997))がある。
機分子のSAM上に堆積した後、金属微粒子をチオール
処理することでSAM上を拡散させて秩序構造を形成し
た例が挙げられる。(T. Sato, D. Brown, F. G. Johns
on, Chem. Commun., 1007, (1997))がある。
【0011】この方法を図3を用いて説明する。本例で
は、金属として金を用いている。
は、金属として金を用いている。
【0012】シリコン酸化膜上にAPTS(3-(2-amino-eth
ylamino)propyltrimetoxysilane)によりSAMを形成
する。この基板を別に用意した金微粒子のコロイドを含
む溶液(金コロイド溶液)に浸漬して、SAMに金コロ
イドを堆積する。すると、APTSのアミノ基と金コロイド
表面との間に静電気的な緩い結合が生じ、金コロイドは
SAM上に固定される(図3(c))。尚、金コロイドと
は、個々の金コロイド粒子を示す。
ylamino)propyltrimetoxysilane)によりSAMを形成
する。この基板を別に用意した金微粒子のコロイドを含
む溶液(金コロイド溶液)に浸漬して、SAMに金コロ
イドを堆積する。すると、APTSのアミノ基と金コロイド
表面との間に静電気的な緩い結合が生じ、金コロイドは
SAM上に固定される(図3(c))。尚、金コロイドと
は、個々の金コロイド粒子を示す。
【0013】また、金コロイドは正に帯電するため、互
いに反発しあい、凝集物(クラスター)となることな
く、コロイドが有する電荷量によって規定される距離だ
け離れて存在している。この段階では金コロイド同士を
結合して凝集物(クラスター)とすることは不可能であ
る。また、付着する基板単位面積当たりの金コロイドの
個数の上限も制限されていた(図3(a))。
いに反発しあい、凝集物(クラスター)となることな
く、コロイドが有する電荷量によって規定される距離だ
け離れて存在している。この段階では金コロイド同士を
結合して凝集物(クラスター)とすることは不可能であ
る。また、付着する基板単位面積当たりの金コロイドの
個数の上限も制限されていた(図3(a))。
【0014】この処理の後、金コロイドが付着したSA
Mを基板ごとチオール溶液に浸し、金微粒子の表面をチ
オール分子により被覆する。
Mを基板ごとチオール溶液に浸し、金微粒子の表面をチ
オール分子により被覆する。
【0015】チオール分子の有する硫黄原子は金と非常
に結合し易く、チオール分子は金コロイドとSAMアミ
ノ基との緩い静電気的結合と置き換わって、金と共有結
合を生成する。このようにして金微粒子は、チオール分
子により被覆され金チオール粒子となる(図3(d))。
に結合し易く、チオール分子は金コロイドとSAMアミ
ノ基との緩い静電気的結合と置き換わって、金と共有結
合を生成する。このようにして金微粒子は、チオール分
子により被覆され金チオール粒子となる(図3(d))。
【0016】チオール分子による被覆が完成すると、金
チオール粒子はSAM表面を拡散することが可能とな
る。これにより、金チオール粒子はSAM上を拡散しな
がら、お互い同士が接触するとファンデルワールス力に
より結合し、2次元的な秩序構造を形成する(図3
(b))。
チオール粒子はSAM表面を拡散することが可能とな
る。これにより、金チオール粒子はSAM上を拡散しな
がら、お互い同士が接触するとファンデルワールス力に
より結合し、2次元的な秩序構造を形成する(図3
(b))。
【0017】この従来法は、金属として銀、白金等を用
いることでもSAM上で2次元秩序構造を得ることが可
能である。
いることでもSAM上で2次元秩序構造を得ることが可
能である。
【0018】以上のように、この方法は非常に巧妙であ
り数nm程度の金属微粒子の秩序構造を再現性良く得られ
る利点を有している。
り数nm程度の金属微粒子の秩序構造を再現性良く得られ
る利点を有している。
【0019】また、金属微粒子付着処理とチオール処理
とを繰り返すことにより、SAM表面の金属微粒子の個
数を増やして、基板面積と同等の広がりを持つ2次元的
な秩序構造を得ることも可能である。
とを繰り返すことにより、SAM表面の金属微粒子の個
数を増やして、基板面積と同等の広がりを持つ2次元的
な秩序構造を得ることも可能である。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来法では、
SAMに付着した金属微粒子がチオール処理の過程でS
AMより遊離する欠点を有していた。処理条件や、金属
微粒子の粒径によっても異なるが、付着した金属微粒子
の全てが遊離してしまうこともあった。これは、チオー
ル処理の過程で「チオール分子−金属微粒子間結合」が
生成することで、金属コロイドとSAMのアミノ基との
間の静電気的な結合が失われるためである。これによ
り、SAM表面と結合していた金属微粒子は、結合を解
かれ、SAM上を拡散することが可能となる。しかし、
同時に、静電気的な結合が失われることで、金属チオー
ル粒子をSAM上に束縛する力が弱くなり、金属チオー
ル粒子は溶液中に遊離していく。
SAMに付着した金属微粒子がチオール処理の過程でS
AMより遊離する欠点を有していた。処理条件や、金属
微粒子の粒径によっても異なるが、付着した金属微粒子
の全てが遊離してしまうこともあった。これは、チオー
ル処理の過程で「チオール分子−金属微粒子間結合」が
生成することで、金属コロイドとSAMのアミノ基との
間の静電気的な結合が失われるためである。これによ
り、SAM表面と結合していた金属微粒子は、結合を解
かれ、SAM上を拡散することが可能となる。しかし、
同時に、静電気的な結合が失われることで、金属チオー
ル粒子をSAM上に束縛する力が弱くなり、金属チオー
ル粒子は溶液中に遊離していく。
【0021】金属として金を用いた場合、金微粒子の粒
径が10nm未満の場合に金チオール粒子のSAMからの遊
離が顕著であった。さらに、金微粒子の粒径が1nm以下
となると、基板上に金微粒子が殆ど残留せず、秩序構造
を形成することが非常に難しかった。
径が10nm未満の場合に金チオール粒子のSAMからの遊
離が顕著であった。さらに、金微粒子の粒径が1nm以下
となると、基板上に金微粒子が殆ど残留せず、秩序構造
を形成することが非常に難しかった。
【0022】その様子を図3(a)、(b)に模式的に示した
が、チオール処理前においてはSAM上に107個の金属
微粒子が存在したとして、チオール処理を施すことによ
り、金属チオール粒子が凝集した秩序構造がSAM上に
形成されるのであるが、同時に、約半数の金属チオール
粒子がSAMから遊離してしまい63個のみが残留して
いる。
が、チオール処理前においてはSAM上に107個の金属
微粒子が存在したとして、チオール処理を施すことによ
り、金属チオール粒子が凝集した秩序構造がSAM上に
形成されるのであるが、同時に、約半数の金属チオール
粒子がSAMから遊離してしまい63個のみが残留して
いる。
【0023】本発明はこのような問題点に鑑みなされた
ものであり、SAM上に堆積した金属微粒子をチオール
分子で被覆する処理の際に、金属チオール粒子がSAM
より遊離するのを防ぐことを目的とする。
ものであり、SAM上に堆積した金属微粒子をチオール
分子で被覆する処理の際に、金属チオール粒子がSAM
より遊離するのを防ぐことを目的とする。
【0024】また、金属微粒子を無駄にすることなく、
SAM上に金属微粒子の秩序構造を効率良く形成するこ
とを目的とする。さらに金属微粒子の秩序構造のサイズ
を調整することが可能な金属微粒子秩序構造形成方法を
提供することを目的とする。
SAM上に金属微粒子の秩序構造を効率良く形成するこ
とを目的とする。さらに金属微粒子の秩序構造のサイズ
を調整することが可能な金属微粒子秩序構造形成方法を
提供することを目的とする。
【0025】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に金属
微粒子秩序構造を形成する方法において、(1)金属酸
化膜基板を(APTS 3-(2-amino-ethylamino)propyltrimet
oxysilane)を少なくとも含む溶液に浸漬して、該基板表
面にAPTSの自己組織化膜(SAM)を形成する工程と、
(2)粒径Dが0.8≦D≦10nmの金属微粒子のコロイド
を含む溶液に該SAMを有する基板を浸漬し、該SAM
表面に金属コロイドを付着する工程と、(3)該SAM
表面に金属コロイドが付着した基板を、チオール基を有
する物質を少なくとも含有する溶液に浸漬して、金属微
粒子をチオール化し金属チオール粒子を得る工程と、
(4)工程(3)と同時に、SAM表面に金属コロイド
が付着した基板を第1の電極として、該溶液中に第2の
電極を設けて、所定の大きさの電圧を印加する工程と、
を有する金属微粒子秩序構造形成方法を提案する。
微粒子秩序構造を形成する方法において、(1)金属酸
化膜基板を(APTS 3-(2-amino-ethylamino)propyltrimet
oxysilane)を少なくとも含む溶液に浸漬して、該基板表
面にAPTSの自己組織化膜(SAM)を形成する工程と、
(2)粒径Dが0.8≦D≦10nmの金属微粒子のコロイド
を含む溶液に該SAMを有する基板を浸漬し、該SAM
表面に金属コロイドを付着する工程と、(3)該SAM
表面に金属コロイドが付着した基板を、チオール基を有
する物質を少なくとも含有する溶液に浸漬して、金属微
粒子をチオール化し金属チオール粒子を得る工程と、
(4)工程(3)と同時に、SAM表面に金属コロイド
が付着した基板を第1の電極として、該溶液中に第2の
電極を設けて、所定の大きさの電圧を印加する工程と、
を有する金属微粒子秩序構造形成方法を提案する。
【0026】本発明は、予めSAM上に付着させた金属
コロイドのチオール処理を行なう際に、基板とチオール
溶液との間に電圧を印加することで、金属チオール粒子
と基板との間に静電気的な引力を生じSAMから金属チ
オール粒子が遊離することを抑制することを可能にし
た。
コロイドのチオール処理を行なう際に、基板とチオール
溶液との間に電圧を印加することで、金属チオール粒子
と基板との間に静電気的な引力を生じSAMから金属チ
オール粒子が遊離することを抑制することを可能にし
た。
【0027】従来法では、金属微粒子の粒径が小さくな
るほど、チオール処理後にSAMから遊離する量も増加
する。そのため、粒径の小さい金属微粒子をSAM上に
残すことは非常に困難であった。例えば、金属として金
を用いた場合、事実上1nm以下の粒径の金微粒子をSA
M上に残留させることはできなかった。しかし、本発明
によれば、1nm以下の金微粒子であってもSAM上に容
易に金チオール粒子を残留させることが可能となった。
るほど、チオール処理後にSAMから遊離する量も増加
する。そのため、粒径の小さい金属微粒子をSAM上に
残すことは非常に困難であった。例えば、金属として金
を用いた場合、事実上1nm以下の粒径の金微粒子をSA
M上に残留させることはできなかった。しかし、本発明
によれば、1nm以下の金微粒子であってもSAM上に容
易に金チオール粒子を残留させることが可能となった。
【0028】本発明により、従来法に比べてSAMから
遊離する金属微粒子の個数が減少したために、金属微粒
子の無駄が無くなり、効率よく金属微粒子秩序構造を形
成することが可能となった。
遊離する金属微粒子の個数が減少したために、金属微粒
子の無駄が無くなり、効率よく金属微粒子秩序構造を形
成することが可能となった。
【0029】さらに、基板とチオール溶液間の印加電圧
を変えることで、金属チオール粒子のSAM上での移動
有効長を調整し、金属微粒子の2次元秩序構造のサイズ
を容易に制御することが可能となった。ここで、金属チ
オール粒子の移動有効長とは、金属チオール粒子のSA
M上での単位時間あたりの移動距離であり、金属チオー
ル粒子のSAM上での拡散しやすさの目安である。移動
有効長が大きいほど、金属チオール粒子はSAM上を拡
散しやすいことを表す。
を変えることで、金属チオール粒子のSAM上での移動
有効長を調整し、金属微粒子の2次元秩序構造のサイズ
を容易に制御することが可能となった。ここで、金属チ
オール粒子の移動有効長とは、金属チオール粒子のSA
M上での単位時間あたりの移動距離であり、金属チオー
ル粒子のSAM上での拡散しやすさの目安である。移動
有効長が大きいほど、金属チオール粒子はSAM上を拡
散しやすいことを表す。
【0030】具体的には、チオール処理の際の印加電圧
が低ければ、個々の金属チオール粒子はSAM上で移動
し易く(移動有効長が長い)、従って、金属チオール粒
子同士が衝突する確率が大きくなる。このような場合に
は、個数は少ないが面積が広い2次元秩序構造が生じ易
い。
が低ければ、個々の金属チオール粒子はSAM上で移動
し易く(移動有効長が長い)、従って、金属チオール粒
子同士が衝突する確率が大きくなる。このような場合に
は、個数は少ないが面積が広い2次元秩序構造が生じ易
い。
【0031】それに対し、印加電圧が高いと、個々の金
属チオール粒子はSAM上で移動しにくく(移動有効長
が短い)、基板上での金属微粒子同士の衝突確率が小さ
くなるために個数は多いが面積の狭い2次元秩序構造が
生じ易い。
属チオール粒子はSAM上で移動しにくく(移動有効長
が短い)、基板上での金属微粒子同士の衝突確率が小さ
くなるために個数は多いが面積の狭い2次元秩序構造が
生じ易い。
【0032】移動有効長は金属微粒子の粒径にも依存す
る。その他の条件が同じであれば、粒径が大きいほど、
金属チオール粒子の移動有効長は小さくなる。
る。その他の条件が同じであれば、粒径が大きいほど、
金属チオール粒子の移動有効長は小さくなる。
【0033】このように、本発明では、金属微粒子の粒
径及び印加電圧を通して金属微粒子の2次元秩序構造の
大きさと、面密度を制御することが可能となった。
径及び印加電圧を通して金属微粒子の2次元秩序構造の
大きさと、面密度を制御することが可能となった。
【0034】SAMを形成するための基板としては、表
面にAPTSと反応するための水酸基を有する金属酸化膜が
好適である。例えば、酸化チタン膜、酸化ニッケル膜、
アルミナ膜、石英、ガラス等である。酸化シリコンは良
質なシリコン単結晶が容易に入手可能であり特に好適で
ある。
面にAPTSと反応するための水酸基を有する金属酸化膜が
好適である。例えば、酸化チタン膜、酸化ニッケル膜、
アルミナ膜、石英、ガラス等である。酸化シリコンは良
質なシリコン単結晶が容易に入手可能であり特に好適で
ある。
【0035】本発明に用いる金属微粒子は、0.8nm〜10n
mの範囲が好適である。
mの範囲が好適である。
【0036】電圧印加を行なわない場合、金属チオール
粒子とSAMとを結合している静電気力は、周囲から受
ける熱的な揺らぎと同程度の大きさであり、金属チオー
ル粒子は、僅かな刺激でSAMより遊離してしまう。
粒子とSAMとを結合している静電気力は、周囲から受
ける熱的な揺らぎと同程度の大きさであり、金属チオー
ル粒子は、僅かな刺激でSAMより遊離してしまう。
【0037】本発明のように、チオール処理の際に電圧
を印加することで、SAMと金属チオール粒子との間の
結合を保っている静電気力を補い、従来法では、遊離し
ていた10nm以下の金属微粒子を中心に持つ金属チオー
ル粒子を束縛する効果が見られる。
を印加することで、SAMと金属チオール粒子との間の
結合を保っている静電気力を補い、従来法では、遊離し
ていた10nm以下の金属微粒子を中心に持つ金属チオー
ル粒子を束縛する効果が見られる。
【0038】下限値の0.8nmは暫定的な値である。これ
は、発明者らが入手できた最小の金属微粒子の粒径であ
る(Nanoprobes,Inc製 金微粒子,平均粒径0.8nm)。
本発明者らの評価によると、金微粒子の粒径が0.8nmの
場合でも、SAMから遊離する金微粒子はなかった。こ
のことから、本発明は、金微粒子の粒径は0.8nm未満で
もSAMからの遊離抑制効果を発揮すると思われる。
は、発明者らが入手できた最小の金属微粒子の粒径であ
る(Nanoprobes,Inc製 金微粒子,平均粒径0.8nm)。
本発明者らの評価によると、金微粒子の粒径が0.8nmの
場合でも、SAMから遊離する金微粒子はなかった。こ
のことから、本発明は、金微粒子の粒径は0.8nm未満で
もSAMからの遊離抑制効果を発揮すると思われる。
【0039】金属チオール粒子を被覆するチオール分子
としては、脂肪族飽和炭化水素鎖、又は芳香族炭化水素
鎖を有するものが用いられる。例えば、ドデカンチオー
ル、ヘキサンチオール、ベンゼンチオール等である。本
発明者らの検討によれば、チオールの炭化水素鎖の鎖長
が長くなるほど金属チオール粒子をSAM上に束縛する
ためには高い電圧が必要となる。本発明者らの評価によ
ると、金属チオール粒子を基板上に束縛するという点で
は直鎖状の脂肪族飽和炭化水素鎖の場合には炭素数を8
〜14の範囲とすることが望ましい。
としては、脂肪族飽和炭化水素鎖、又は芳香族炭化水素
鎖を有するものが用いられる。例えば、ドデカンチオー
ル、ヘキサンチオール、ベンゼンチオール等である。本
発明者らの検討によれば、チオールの炭化水素鎖の鎖長
が長くなるほど金属チオール粒子をSAM上に束縛する
ためには高い電圧が必要となる。本発明者らの評価によ
ると、金属チオール粒子を基板上に束縛するという点で
は直鎖状の脂肪族飽和炭化水素鎖の場合には炭素数を8
〜14の範囲とすることが望ましい。
【0040】また、チオール分子の鎖長はチオール分子
で被覆された金属チオール粒子のSAM上での拡散のし
易さ(SAMからの遊離のし易さ)とも関係する。
で被覆された金属チオール粒子のSAM上での拡散のし
易さ(SAMからの遊離のし易さ)とも関係する。
【0041】単電子素子を作成するために最も期待され
ている粒径が2〜3nmの金の微粒子を用いて、SAM上
での拡散のし易さの面からチオール分子の炭素数につい
て調査を行なったところ、炭素数が10〜12の範囲で
良い結果が得られた。ここで良い結果とは、SAMから
金微粒子が遊離せず、かつ、SAM上で金微粒子の秩序
構造が素早く形成されたことを言う。
ている粒径が2〜3nmの金の微粒子を用いて、SAM上
での拡散のし易さの面からチオール分子の炭素数につい
て調査を行なったところ、炭素数が10〜12の範囲で
良い結果が得られた。ここで良い結果とは、SAMから
金微粒子が遊離せず、かつ、SAM上で金微粒子の秩序
構造が素早く形成されたことを言う。
【0042】また、チオール分子の炭素数は2次元秩序
構造中での金属微粒子間の距離を決定する。金属微粒子
間の距離は、単電子素子のトンネル障壁の大きさを決め
る重要な要素である。
構造中での金属微粒子間の距離を決定する。金属微粒子
間の距離は、単電子素子のトンネル障壁の大きさを決め
る重要な要素である。
【0043】単電子素子のトンネル障壁から見た場合、
金属微粒子同士間の望ましい距離は1nm以下である。こ
の距離を与えるチオール分子の鎖長は、実験的には10
〜12の炭素数のチオール分子である。
金属微粒子同士間の望ましい距離は1nm以下である。こ
の距離を与えるチオール分子の鎖長は、実験的には10
〜12の炭素数のチオール分子である。
【0044】ただし、上述のように、これらの評価は粒
径が2〜3nmの金微粒子に限ったものであるので、金属
微粒子の粒径や、種類が異なっている場合には、その条
件で再度評価を行なうことが望ましい。
径が2〜3nmの金微粒子に限ったものであるので、金属
微粒子の粒径や、種類が異なっている場合には、その条
件で再度評価を行なうことが望ましい。
【0045】また、チオール分子を溶解するための溶媒
としてはエタノールが好適に用いられる。
としてはエタノールが好適に用いられる。
【0046】また、チオール溶液の濃度は、金属微粒子
表面へのチオール分子の結合性を大きく左右する。厳密
には、チオール溶液の濃度は、溶液中の金属微粒子の濃
度及び用いるチオール分子の種類にも左右されると思わ
れるが、チオール分子としてドデカンチオール用いた場
合、チオール溶液濃度が0.1〜10mmol/lであることが望
ましい。
表面へのチオール分子の結合性を大きく左右する。厳密
には、チオール溶液の濃度は、溶液中の金属微粒子の濃
度及び用いるチオール分子の種類にも左右されると思わ
れるが、チオール分子としてドデカンチオール用いた場
合、チオール溶液濃度が0.1〜10mmol/lであることが望
ましい。
【0047】チオール溶液の濃度が0.1mmol/l以上であ
れば、金属微粒子を被覆するチオール分子の量は充分で
あり、完全にチオール分子で被覆された金属微粒子を得
ることができる。また、10mmol/l以下であれば、チオー
ル分子がミセルとなることで金属微粒子との反応性が乏
しくなることはない。請求項中で用いている用語である
が、「自己組織化膜」とは、分子の一端が基板表面原子
と反応し結合する官能基を有し、骨格はアルキル鎖等で
構成されており、基板表面がその分子の単分子層で被覆
された膜である。その特徴として、官能基が基板表面原
子と結合するため、分子の吸着の格子周期は、基板表面
原子の格子の倍数であり、また、分子同士は、骨格のア
ルキル鎖同士の相互作用により基板表面から一定の向き
に配向している。基板表面が分子で覆われてしまうと、
基板表面原子の露出がなくなるために、その自己組織化
膜を構成する分子の基板への堆積は単分子層で終了す
る。
れば、金属微粒子を被覆するチオール分子の量は充分で
あり、完全にチオール分子で被覆された金属微粒子を得
ることができる。また、10mmol/l以下であれば、チオー
ル分子がミセルとなることで金属微粒子との反応性が乏
しくなることはない。請求項中で用いている用語である
が、「自己組織化膜」とは、分子の一端が基板表面原子
と反応し結合する官能基を有し、骨格はアルキル鎖等で
構成されており、基板表面がその分子の単分子層で被覆
された膜である。その特徴として、官能基が基板表面原
子と結合するため、分子の吸着の格子周期は、基板表面
原子の格子の倍数であり、また、分子同士は、骨格のア
ルキル鎖同士の相互作用により基板表面から一定の向き
に配向している。基板表面が分子で覆われてしまうと、
基板表面原子の露出がなくなるために、その自己組織化
膜を構成する分子の基板への堆積は単分子層で終了す
る。
【0048】「秩序構造」とは、金属微粒子がSAM上
で2次元的に凝集して得られた構造とする。
で2次元的に凝集して得られた構造とする。
【0049】ここで、前記所定の大きさの電圧として、
前記金属チオール粒子が前記基板表面から遊離せず、か
つ、該金属チオール粒子が前記自己組織化膜上を拡散す
ることが可能な大きさの電圧を印加することが望まし
い。
前記金属チオール粒子が前記基板表面から遊離せず、か
つ、該金属チオール粒子が前記自己組織化膜上を拡散す
ることが可能な大きさの電圧を印加することが望まし
い。
【0050】本発明の構成で特徴的な点は、金属チオー
ル粒子の遊離抑制効果が電極に印加する電圧の極性によ
らないことである。電圧印加時に基板が陽極であって
も、陰極であっても同様な効果を奏する。ただし、印加
電圧を大きくすると、それに伴い、金属微粒子がSAM
から遊離し難くなることから、金属微粒子に働く力は静
電気的なものと思われる。
ル粒子の遊離抑制効果が電極に印加する電圧の極性によ
らないことである。電圧印加時に基板が陽極であって
も、陰極であっても同様な効果を奏する。ただし、印加
電圧を大きくすると、それに伴い、金属微粒子がSAM
から遊離し難くなることから、金属微粒子に働く力は静
電気的なものと思われる。
【0051】これは、基板に印加した電圧の極性とは常
に反対の極性に金属チオール粒子を帯電する何らかのメ
カニズムによるものと思われるが、詳細は不明である。
に反対の極性に金属チオール粒子を帯電する何らかのメ
カニズムによるものと思われるが、詳細は不明である。
【0052】印加する電圧は小さい場合でも、上述の粒
径範囲の金属チオール粒子がSAM表面より遊離するこ
とがない大きさであることが望ましく、印加電圧が大き
い場合でも該金属チオール粒子がSAM上で2次元拡散
をすることができる大きさであることが望ましい。
径範囲の金属チオール粒子がSAM表面より遊離するこ
とがない大きさであることが望ましく、印加電圧が大き
い場合でも該金属チオール粒子がSAM上で2次元拡散
をすることができる大きさであることが望ましい。
【0053】印加電圧は、金属微粒子の粒径、目標とす
る2次元秩序構造のサイズ、金属微粒子を被覆している
チオール分子の種類等により好適な値を選択することが
望ましい。
る2次元秩序構造のサイズ、金属微粒子を被覆している
チオール分子の種類等により好適な値を選択することが
望ましい。
【0054】印加電圧は0〜5Vの範囲であることが望
ましい。
ましい。
【0055】印加電圧が5V以下であれば、長時間の電
圧印加でも、SAMに有機成分と思われる汚染が付着す
ることがない。
圧印加でも、SAMに有機成分と思われる汚染が付着す
ることがない。
【0056】この印加電圧は粒径が0.8〜10nmの金微粒
子がチオール分子により覆われた金属チオール粒子に有
効であることが確認されている。
子がチオール分子により覆われた金属チオール粒子に有
効であることが確認されている。
【0057】本発明は、前記の金属微粒子秩序構造形成
方法により作成された金属微粒子秩序構造を有する基板
をチオール基を2つ以上有するチオールを含む物質を含
有する溶液に浸漬することで金属チオール粒子同士を結
合する金属微粒子秩序構造形成方法を提案する。
方法により作成された金属微粒子秩序構造を有する基板
をチオール基を2つ以上有するチオールを含む物質を含
有する溶液に浸漬することで金属チオール粒子同士を結
合する金属微粒子秩序構造形成方法を提案する。
【0058】金属チオール粒子による2次元秩序構造
は、金属チオール粒子同士のファンデルワールス結合に
より維持されている。ファンデルワールス結合はそれ程
大きな力ではないため金属チオール粒子の粒径が大きい
場合に、僅かな刺激で2次元秩序構造が乱されることが
ある。
は、金属チオール粒子同士のファンデルワールス結合に
より維持されている。ファンデルワールス結合はそれ程
大きな力ではないため金属チオール粒子の粒径が大きい
場合に、僅かな刺激で2次元秩序構造が乱されることが
ある。
【0059】本発明のように、2次元秩序構造が形成さ
れた後にその基板を2つ以上のチオール基を持つ多官能
性チオール分子を含む溶液中に浸漬すると、金属チオー
ル粒子と結合する1官能性チオール分子の一部と置換し
て、金属チオール粒子同士を供有結合で結び付ける。こ
れにより、より強固な2次元的秩序構造を得ることが可
能となる。
れた後にその基板を2つ以上のチオール基を持つ多官能
性チオール分子を含む溶液中に浸漬すると、金属チオー
ル粒子と結合する1官能性チオール分子の一部と置換し
て、金属チオール粒子同士を供有結合で結び付ける。こ
れにより、より強固な2次元的秩序構造を得ることが可
能となる。
【0060】用いられる多官能性チオールは、ヘキサン
ジチオール、オクタンジチオールが好適である。
ジチオール、オクタンジチオールが好適である。
【0061】また、本発明は粒径Dが0.8≦D≦10nmで
ある金属微粒子の表面が少なくとも1個以上のチオール
基を有する物質によって被覆された金属チオール粒子を
含む溶液中に第1の電極を有し、該溶液中に、金属微粒
子を堆積するための、表面にAPTSよりなる自己組織化膜
を有する酸化物基板を第2の電極として設置し、両極間
に電圧を印加することで、溶液中の金属チオール粒子を
基板に堆積させる金属微粒子秩序構造形成方法を提供す
る。
ある金属微粒子の表面が少なくとも1個以上のチオール
基を有する物質によって被覆された金属チオール粒子を
含む溶液中に第1の電極を有し、該溶液中に、金属微粒
子を堆積するための、表面にAPTSよりなる自己組織化膜
を有する酸化物基板を第2の電極として設置し、両極間
に電圧を印加することで、溶液中の金属チオール粒子を
基板に堆積させる金属微粒子秩序構造形成方法を提供す
る。
【0062】このように、予めチオール分子で覆われた
金属微粒子を含む溶液を作成しておき、その溶液中に第
1の電極を兼ねた基板と、第2の電極を浸漬して電圧を印
加すると、基板付近のチオール分子で被覆された金属微
粒子が基板上に堆積し、2次元秩序構造を形成すること
が可能となる。
金属微粒子を含む溶液を作成しておき、その溶液中に第
1の電極を兼ねた基板と、第2の電極を浸漬して電圧を印
加すると、基板付近のチオール分子で被覆された金属微
粒子が基板上に堆積し、2次元秩序構造を形成すること
が可能となる。
【0063】また、本発明は前記金属微粒子として金微
粒子、白金微粒子又は、銀微粒子を用いることができ
る。
粒子、白金微粒子又は、銀微粒子を用いることができ
る。
【0064】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図1をもっ
て説明する。本例は、金属微粒子として金を用いた場合
である。図1は基板上に堆積された金コロイドに電圧を
印加した状態で、チオール処理を行うプロセスの模式図
である。絶縁性を有するシリコン酸化膜の基板13上に
は、一端がシラン、他端がアミノ基を有するAPTS11の
SAMが形成されている。まず、この基板は金コロイドを
含む溶液に浸される。これにより、金コロイド12はS
AM11のアミノ基と静電気的な結合を生じる(図3
(a)、(c))。続いて、金コロイド12が堆積した基板を
チオール溶液で処理する。チオール溶液中に第2の電極
を設け、基板に電圧15を印加し、該チオール溶液に基
板を浸す(図2)。金コロイド12は、チオール分子1
4により被覆され金チオール粒子16となり、アミノ基
との吸着力を弱められ、SAM11表面を拡散すること
ができるようになる(図1(d))。同時に、金チオール
粒子16は、印加電圧による静電気的引力を受けてお
り、SAM11より遊離することはない。このようにし
て、金チオール粒子はSAM11上を動きまわり、お互
いが衝突するとファンデルワールス力で結合して2次元
的な秩序構造を形成していく(図1(b))。
て説明する。本例は、金属微粒子として金を用いた場合
である。図1は基板上に堆積された金コロイドに電圧を
印加した状態で、チオール処理を行うプロセスの模式図
である。絶縁性を有するシリコン酸化膜の基板13上に
は、一端がシラン、他端がアミノ基を有するAPTS11の
SAMが形成されている。まず、この基板は金コロイドを
含む溶液に浸される。これにより、金コロイド12はS
AM11のアミノ基と静電気的な結合を生じる(図3
(a)、(c))。続いて、金コロイド12が堆積した基板を
チオール溶液で処理する。チオール溶液中に第2の電極
を設け、基板に電圧15を印加し、該チオール溶液に基
板を浸す(図2)。金コロイド12は、チオール分子1
4により被覆され金チオール粒子16となり、アミノ基
との吸着力を弱められ、SAM11表面を拡散すること
ができるようになる(図1(d))。同時に、金チオール
粒子16は、印加電圧による静電気的引力を受けてお
り、SAM11より遊離することはない。このようにし
て、金チオール粒子はSAM11上を動きまわり、お互
いが衝突するとファンデルワールス力で結合して2次元
的な秩序構造を形成していく(図1(b))。
【0065】本発明の効果を模式的に図1(a)、(b)に示
す。例えば、SAM上に107個の金コロイドが付着した基板
に電圧を印加しながらチオール処理を施すことにより、
金微粒子の表面はチオールにより被覆されて金チオール
粒子となる。これにより、金チオール粒子はSAM上で
拡散することが可能となり2次元秩序構造を形成する。
図3に示した従来法では、チオール処理の際に金チオー
ル粒子の多くがSAMから遊離していたが、本発明によ
るとチオール処理の後に金微粒子が失われることがな
い。
す。例えば、SAM上に107個の金コロイドが付着した基板
に電圧を印加しながらチオール処理を施すことにより、
金微粒子の表面はチオールにより被覆されて金チオール
粒子となる。これにより、金チオール粒子はSAM上で
拡散することが可能となり2次元秩序構造を形成する。
図3に示した従来法では、チオール処理の際に金チオー
ル粒子の多くがSAMから遊離していたが、本発明によ
るとチオール処理の後に金微粒子が失われることがな
い。
【0066】
【実施例】<実施例1>図1、2を用いて、本発明の方
法を用いて作製される金属微粒子秩序構造の形成の実施
例を示す。
法を用いて作製される金属微粒子秩序構造の形成の実施
例を示す。
【0067】(1)基板の調製 APTSによる自己組織化膜を形成するための基板13とし
て、シリコン酸化膜を用いた。これは、シリコン基板1
3の表面を200nm熱酸化したものである。基板の清浄度
が次の工程のSAMの付着性に係わるために、基板はO
2プラズマ処理により表面をクリーニングした。
て、シリコン酸化膜を用いた。これは、シリコン基板1
3の表面を200nm熱酸化したものである。基板の清浄度
が次の工程のSAMの付着性に係わるために、基板はO
2プラズマ処理により表面をクリーニングした。
【0068】(2)基板上へのSAMの形成 表面を清浄にした基板13をAPTS(3-(2-amino-ethylam
ino)propyltrimetoxysilane)を5mmol/l含んだ水溶液に
30分浸漬する。
ino)propyltrimetoxysilane)を5mmol/l含んだ水溶液に
30分浸漬する。
【0069】シリコン酸化膜の表面には、多数の水酸基
があり、その水酸基とAPTSのシランが結合して、金属酸
化膜上にSAM11を形成する。
があり、その水酸基とAPTSのシランが結合して、金属酸
化膜上にSAM11を形成する。
【0070】続いて、該基板13を純水で洗浄後、N2
ガスブローにより水分を除去し、基板13とAPTSの間の結
合形成を完了した。
ガスブローにより水分を除去し、基板13とAPTSの間の結
合形成を完了した。
【0071】(3)金コロイド溶液の調製 本実施例では金属として金を用いた。
【0072】金コロイドはBritish Bio Cell社の粒径5
nmの金コロイド水溶液を用いた。
nmの金コロイド水溶液を用いた。
【0073】(4)基板への金コロイドの付着 工程(2)で得られた基板13を、工程(3)の金コロ
イド水溶液に30分浸漬する。この操作により、金コロ
イド12は、アミノ基と弱い静電気的な結合を生じSAM
上に吸着する。金コロイド12同士は、同じ極性を有し
ているために、静電気的な反発力によりお互いが反発し
あい、一個一個距離を隔ててSAM11に分散して吸着
する(図1(a))。
イド水溶液に30分浸漬する。この操作により、金コロ
イド12は、アミノ基と弱い静電気的な結合を生じSAM
上に吸着する。金コロイド12同士は、同じ極性を有し
ているために、静電気的な反発力によりお互いが反発し
あい、一個一個距離を隔ててSAM11に分散して吸着
する(図1(a))。
【0074】この工程終了後、SAM11表面に存在す
る金コロイドの個数を走査型電子顕微鏡(以下SEMと
いう。)によって評価したが、単位面積当たりの金コロ
イドの個数は2000個/μm2であった。
る金コロイドの個数を走査型電子顕微鏡(以下SEMと
いう。)によって評価したが、単位面積当たりの金コロ
イドの個数は2000個/μm2であった。
【0075】(5)チオール処理 続いて、金コロイドをチオール分子14で被覆すること
を目的とするチオール処理を行なう。この際にSAM1
1表面から、金チオール粒子が遊離するのを防ぐため
に、図2のように、第二の電極として対向電極21を設
け、また、基板22全体に電圧23を印加した状態で、
基板をチオール-アルコール溶液24(5mmol/lのドデカ
ンチオールのエチルアルコール溶液)24に2時間浸漬
した。この際に印加した電圧は3Vである。本実施例で
は基板22を陽極として電圧印加を行なっているが、こ
れとは逆に、基板22を陰極としても構わない。
を目的とするチオール処理を行なう。この際にSAM1
1表面から、金チオール粒子が遊離するのを防ぐため
に、図2のように、第二の電極として対向電極21を設
け、また、基板22全体に電圧23を印加した状態で、
基板をチオール-アルコール溶液24(5mmol/lのドデカ
ンチオールのエチルアルコール溶液)24に2時間浸漬
した。この際に印加した電圧は3Vである。本実施例で
は基板22を陽極として電圧印加を行なっているが、こ
れとは逆に、基板22を陰極としても構わない。
【0076】その結果、印加した電圧により生じた弱い
静電気的な引力により金チオール粒子はSAM11表面
の移動は可能であるが、SAM11表面から離れること
ができない程度に基板表面に固定される。金チオール粒
子は、SAM11表面を拡散して、他の金チオール粒子
と接触すると、ファンデルワールス力により結合し秩序
構造を形成していく。
静電気的な引力により金チオール粒子はSAM11表面
の移動は可能であるが、SAM11表面から離れること
ができない程度に基板表面に固定される。金チオール粒
子は、SAM11表面を拡散して、他の金チオール粒子
と接触すると、ファンデルワールス力により結合し秩序
構造を形成していく。
【0077】工程(5)が終了した後に、SEMで秩序
構造の観察を行なったところ、15〜20個の金チオー
ル粒子が2次元的に凝集した秩序構造が約100個μm2の
面密度で一様にSAM11上に分布していることが明ら
かとなった。
構造の観察を行なったところ、15〜20個の金チオー
ル粒子が2次元的に凝集した秩序構造が約100個μm2の
面密度で一様にSAM11上に分布していることが明ら
かとなった。
【0078】金チオール粒子の秩序構造のサイズは、印
加電圧により調整することが可能である。印加電圧を高
くすると、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数が
減少するために、秩序構造のサイズは小さくなる。反対
に印加電圧を大きくすると秩序構造に含まれる金チオー
ル粒子の個数が増加するために、秩序構造のサイズは大
きくなる。
加電圧により調整することが可能である。印加電圧を高
くすると、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数が
減少するために、秩序構造のサイズは小さくなる。反対
に印加電圧を大きくすると秩序構造に含まれる金チオー
ル粒子の個数が増加するために、秩序構造のサイズは大
きくなる。
【0079】本実施例で、印加電圧を増加して5Vとし
た場合、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数は1
0〜15個と、3Vの場合よりサイズが小さくなってお
り、秩序構造の面密度は200個/μm2と増加してい
た。
た場合、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数は1
0〜15個と、3Vの場合よりサイズが小さくなってお
り、秩序構造の面密度は200個/μm2と増加してい
た。
【0080】逆に、印可電圧を減少して1Vとしたとこ
ろ、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数は30〜
40個と、3Vの場合より大きくなっており、秩序構造
の面密度は30個/μm2と減少していた。 (6)基板上の金微粒子数を増やす この工程は、大面積の秩序構造を形成する場合に行なえ
ばよく、工程(5)で所定の径と密度の金チオール粒子
の秩序構造を得ることができれば省略しても良い。
ろ、秩序構造に含まれる金チオール粒子の個数は30〜
40個と、3Vの場合より大きくなっており、秩序構造
の面密度は30個/μm2と減少していた。 (6)基板上の金微粒子数を増やす この工程は、大面積の秩序構造を形成する場合に行なえ
ばよく、工程(5)で所定の径と密度の金チオール粒子
の秩序構造を得ることができれば省略しても良い。
【0081】工程(4)と工程(5)を繰り返し行なう
ことで、基板上の金チオール粒子の個数を増加すること
ができる。
ことで、基板上の金チオール粒子の個数を増加すること
ができる。
【0082】<実施例2>実施例1と同様の工程で作成
したチオール分子で表面が被覆された金チオール粒子が
2次元的な秩序構造を有する基板をオクタンジチオール
を5mmol/l含むエタノール溶液に浸漬した。この操作を
施すことにより、金チオール粒子を被覆しているチオー
ル分子の一部が置換され互いに接触する金チオール粒子
同士が連結され、実施例1で作成された基板表面の2次
元秩序構造をより一層強固にすることができた。
したチオール分子で表面が被覆された金チオール粒子が
2次元的な秩序構造を有する基板をオクタンジチオール
を5mmol/l含むエタノール溶液に浸漬した。この操作を
施すことにより、金チオール粒子を被覆しているチオー
ル分子の一部が置換され互いに接触する金チオール粒子
同士が連結され、実施例1で作成された基板表面の2次
元秩序構造をより一層強固にすることができた。
【0083】<実施例3>工程(1)〜(4)までは実
施例1と同様にして金コロイドが表面に付着したSAM
を有する基板を作成した。
施例1と同様にして金コロイドが表面に付着したSAM
を有する基板を作成した。
【0084】(5)2官能性チオールによる処理 実施例1とは異なり、2官能性チオール分子を含む溶液
に工程(4)で得られた基板を浸漬した。2官能性チオ
ールとしては、オクタンジチオールの5mmol/lエタノー
ル溶液を用いた。
に工程(4)で得られた基板を浸漬した。2官能性チオ
ールとしては、オクタンジチオールの5mmol/lエタノー
ル溶液を用いた。
【0085】基板を陽極とし、オクタンジチオールのエ
タノール溶液中に第二の電極として対向電極を設置し、
両極間に3Vの電圧を2時間印加した。
タノール溶液中に第二の電極として対向電極を設置し、
両極間に3Vの電圧を2時間印加した。
【0086】その結果、SAM表面には金チオール粒子
が15〜20個2次元的に凝集した秩序構造が約100個/
μm2の面密度で一様に分布していることがSEM観察で
確認された。
が15〜20個2次元的に凝集した秩序構造が約100個/
μm2の面密度で一様に分布していることがSEM観察で
確認された。
【0087】また、本実施例より得られた金チオール粒
子の2次元的な秩序構造は、金チオール粒子同士が共有
結合で結ばれているため、非常に強固であり、熱処理等
への耐久性が高い。
子の2次元的な秩序構造は、金チオール粒子同士が共有
結合で結ばれているため、非常に強固であり、熱処理等
への耐久性が高い。
【0088】<実施例4>実施例1の工程(1)、
(2)と同様にして表面にSAMを有する基板を作成し
た。
(2)と同様にして表面にSAMを有する基板を作成し
た。
【0089】(3)金チオール粒子分散溶液の作製 さらに、市販の粒径5nmの金微粒子を1−ドデカンチオ
ールを5mmol/l含むエタノール溶液に分散させて、予め
チオールで表面を被覆された金チオール粒子分散溶液を
作成した。
ールを5mmol/l含むエタノール溶液に分散させて、予め
チオールで表面を被覆された金チオール粒子分散溶液を
作成した。
【0090】(4)電極の設置 工程(3)で作成した金チオール粒子分散溶液中に図2
に示したように第二の電極としてリング状の対向電極2
1を設置し、前記表面にSAMを有する基板22を金チ
オール粒子分散溶液24中に浸漬した。
に示したように第二の電極としてリング状の対向電極2
1を設置し、前記表面にSAMを有する基板22を金チ
オール粒子分散溶液24中に浸漬した。
【0091】(5)電圧の印加 前記対向電極を陰極とし、前記基板を陽極となるよう
に、直流電源23に接続し3Vの電圧を印加した。
に、直流電源23に接続し3Vの電圧を印加した。
【0092】(6)秩序構造形成 約10時間通電を行ない、基板を取り出してSAM膜表
面のSEM観察を行なったところ、金チオール粒子が2
0〜30個凝集した秩序構造が、50個/μm2の面密度
で生成していた。
面のSEM観察を行なったところ、金チオール粒子が2
0〜30個凝集した秩序構造が、50個/μm2の面密度
で生成していた。
【0093】<比較例1>工程(5)のチオール処理の
際に電圧を印加しない以外は実施例1と同様にしてSA
M上に金チオール粒子の秩序構造を形成した。
際に電圧を印加しない以外は実施例1と同様にしてSA
M上に金チオール粒子の秩序構造を形成した。
【0094】実施例1と同様に工程(4)終了後、工程
(5)終了後にSEMによる評価を行なったところ、従
来法ではチオール処理の前後でSAM上の金チオール粒
子が5割減少していた。
(5)終了後にSEMによる評価を行なったところ、従
来法ではチオール処理の前後でSAM上の金チオール粒
子が5割減少していた。
【0095】
【発明の効果】本発明により、基板上に堆積した金属微
粒子をチオール分子で被覆する処理の際に、金属チオー
ル粒子のSAMよりの遊離を抑制することが可能となっ
た。さらにチオール処理時に印加する電圧を調整するこ
とで、金属微粒子の秩序構造のサイズを調整することが
可能となった。さらに、金属微粒子を無駄にすることな
く、SAM上に金属微粒子の秩序構造を効率良く形成す
ることが可能となった。
粒子をチオール分子で被覆する処理の際に、金属チオー
ル粒子のSAMよりの遊離を抑制することが可能となっ
た。さらにチオール処理時に印加する電圧を調整するこ
とで、金属微粒子の秩序構造のサイズを調整することが
可能となった。さらに、金属微粒子を無駄にすることな
く、SAM上に金属微粒子の秩序構造を効率良く形成す
ることが可能となった。
【図1】本発明による金属微粒子秩序構造形成の模式図
【図2】本発明によるチオール分子処理時の電圧印加の
様子を示す模式図
様子を示す模式図
【図3】従来技術による金属微粒子の堆積と秩序構造形
成の模式図
成の模式図
11:SAM 12:金コロイド 13:基板 14:チオール分子 15・23:電源 16:金チオール粒子 21:対向電極 22:基板 24:チオールアルコール溶液
Claims (8)
- 【請求項1】 基板上に金属微粒子秩序構造を形成する
方法において、(1)金属酸化膜基板をAPTS(3-(2-ami
no-ethylamino)propyltrimetoxysilane)を少なくとも
含む溶液に浸漬して、該基板表面にAPTSの自己組織化膜
(SAM)を形成する工程と、(2)粒径Dが0.8≦D
≦10nmの金属微粒子のコロイドを含む溶液に該SAMを
有する基板を浸漬し、該SAM表面に金属コロイドを付
着する工程と、(3)該SAM表面に金属コロイドが付
着した基板を、チオール基を有する物質を少なくとも含
有する溶液に浸漬して、金属微粒子をチオール化し金属
チオール粒子を得る工程と、(4)工程(3)と同時
に、SAM表面に金属コロイドが付着した基板を第1の
電極として、該溶液中に第2の電極を設けて、所定の大
きさの電圧を印加する工程と、を少なくとも有する金属
微粒子秩序構造形成方法。 - 【請求項2】 前記所定の大きさの電圧として、前記金
属チオール粒子が前記基板表面から遊離せず、かつ、該
金属チオール粒子が前記自己組織化膜上を拡散すること
が可能な大きさの電圧を印加する請求項1記載の金属微
粒子秩序構造形成方法。 - 【請求項3】 前記所定の大きさの電圧として、0〜5
Vを印加する請求項1又は2記載の金属微粒子秩序構造
形成方法。 - 【請求項4】 請求項1記載の金属微粒子秩序構造形成
方法により作成された金属微粒子秩序構造を有する基板
をチオール基を2つ以上有するチオールを含む物質を含
有する溶液に浸漬することで金属チオール粒子同士を結
合する金属微粒子秩序構造形成方法。 - 【請求項5】 粒径Dが0.8≦D≦10nmである金属微粒
子の表面が少なくとも1個以上のチオール基を有する物
質によって被覆された金属チオール粒子を含む溶液中に
第1の電極を有し、該溶液中に、金属微粒子を堆積する
ための、表面に自己組織化膜を有する基板を第2の電極
として設置し、両極間に電圧を印加することで、溶液中
の金属微粒子を基板に堆積させる金属微粒子秩序構造形
成方法。 - 【請求項6】 前記金属微粒子として金微粒子を用いる
請求項1〜5のいずれか一項に記載の金属微粒子秩序構
造形成法。 - 【請求項7】 前記金属微粒子として白金微粒子を用い
る請求項1〜5のいずれか一項に記載の金属微粒子秩序
構造形成法。 - 【請求項8】 前記金属微粒子として銀微粒子を用いる
請求項1〜5のいずれか一項に記載の金属微粒子秩序構
造形成法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35296599A JP2001168317A (ja) | 1999-12-13 | 1999-12-13 | 金属微粒子秩序構造形成方法 |
US10/149,547 US6755953B2 (en) | 1999-12-13 | 2000-12-07 | Method for forming ordered structure of fine metal particles |
PCT/JP2000/008638 WO2001043196A1 (fr) | 1999-12-13 | 2000-12-07 | Procede de formation de structure ordonnee de fines particules de metal |
EP20000979953 EP1239521A4 (en) | 1999-12-13 | 2000-12-07 | Method for forming ordered structure of fine metal particles |
KR10-2002-7007503A KR100499594B1 (ko) | 1999-12-13 | 2000-12-07 | 금속 미립자 질서 구조 형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35296599A JP2001168317A (ja) | 1999-12-13 | 1999-12-13 | 金属微粒子秩序構造形成方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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ID=18427669
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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EP (1) | EP1239521A4 (ja) |
JP (1) | JP2001168317A (ja) |
KR (1) | KR100499594B1 (ja) |
WO (1) | WO2001043196A1 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008161857A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-07-17 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | 金属含有コロイド粒子担持担体およびその製造方法 |
US7547503B2 (en) | 2006-03-14 | 2009-06-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photosensitive silane coupling agent, method of forming pattern, and method of fabricating device |
US7704672B2 (en) | 2006-03-14 | 2010-04-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Photosensitive silane coupling agent, method of modifying surface, method of forming pattern, and method of fabricating device |
US7901866B2 (en) | 2006-10-10 | 2011-03-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern forming method |
US7906367B2 (en) | 2006-03-09 | 2011-03-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of forming fine particle pattern, and method of producing a device |
WO2011135922A1 (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-03 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 近接場光源2次元アレイとその製造方法、2次元アレイ型表面プラズモン共振器、太陽電池、光センサー及びバイオセンサー |
WO2013141149A1 (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2014175658A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Sk Innovation Co Ltd | 均一なパターン配列のナノ粒子を有する単電子トランジスタ及びその製造方法 |
WO2023089990A1 (ja) * | 2021-11-19 | 2023-05-25 | ソニーグループ株式会社 | 構造体および構造体の製造方法ならびに前駆体組成物 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100968560B1 (ko) * | 2003-01-07 | 2010-07-08 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 박막 트랜지스터 기판의금속배선 형성방법 |
KR101424966B1 (ko) * | 2004-06-08 | 2014-08-01 | 쌘디스크 코포레이션 | 나노구조체의 침착후 캡슐화: 그 나노구조체를 혼입하고 있는 조성물, 디바이스 및 시스템 |
US7776758B2 (en) | 2004-06-08 | 2010-08-17 | Nanosys, Inc. | Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers |
US7968273B2 (en) | 2004-06-08 | 2011-06-28 | Nanosys, Inc. | Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers |
WO2005122235A2 (en) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Nanosys, Inc. | Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers |
US7829150B2 (en) * | 2004-06-17 | 2010-11-09 | Cornell Research Foundation, Inc. | Growth of inorganic thin films using self-assembled monolayers as nucleation sites |
KR100590476B1 (ko) * | 2004-10-04 | 2006-06-19 | 변종식 | 온열 및 초장파 치료용 보료 |
JP4707995B2 (ja) * | 2004-11-05 | 2011-06-22 | 富士フイルム株式会社 | 規則配列したナノ構造材料 |
US20080085479A1 (en) * | 2006-10-10 | 2008-04-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern forming method and device production process using the method |
WO2011135924A1 (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-03 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 金属ナノ粒子配列構造体、その製造装置及びその製造方法 |
US9823246B2 (en) | 2011-12-28 | 2017-11-21 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Fluorescence enhancing plasmonic nanoscopic gold films and assays based thereon |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9418289D0 (en) * | 1994-09-10 | 1994-10-26 | Univ Liverpool | Solutions or dispersions and a method of synthesising materials having controlled electronic and optical properties therefrom |
WO1997036333A1 (fr) | 1996-03-26 | 1997-10-02 | Samsung Electronics Co., Ltd | Dispositif a effet de tunnel et procede de fabrication de ce dispositif |
WO1998010289A1 (en) * | 1996-09-04 | 1998-03-12 | The Penn State Research Foundation | Self-assembled metal colloid monolayers |
US6099897A (en) * | 1997-01-29 | 2000-08-08 | Mitsuboshi Belting Ltd. | Method for producing metal particulate dispersion and metal particle-carrying substance |
-
1999
- 1999-12-13 JP JP35296599A patent/JP2001168317A/ja active Pending
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7906367B2 (en) | 2006-03-09 | 2011-03-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of forming fine particle pattern, and method of producing a device |
US7547503B2 (en) | 2006-03-14 | 2009-06-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photosensitive silane coupling agent, method of forming pattern, and method of fabricating device |
US7704672B2 (en) | 2006-03-14 | 2010-04-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Photosensitive silane coupling agent, method of modifying surface, method of forming pattern, and method of fabricating device |
US7901866B2 (en) | 2006-10-10 | 2011-03-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern forming method |
JP2008161857A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-07-17 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | 金属含有コロイド粒子担持担体およびその製造方法 |
JP2012096234A (ja) * | 2006-12-08 | 2012-05-24 | Jgc Catalysts & Chemicals Ltd | 金属含有コロイド粒子担持担体およびその製造方法 |
WO2011135922A1 (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-03 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 近接場光源2次元アレイとその製造方法、2次元アレイ型表面プラズモン共振器、太陽電池、光センサー及びバイオセンサー |
JP5408576B2 (ja) * | 2010-04-27 | 2014-02-05 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 近接場光源2次元アレイとその製造方法、2次元アレイ型表面プラズモン共振器、太陽電池、光センサー及びバイオセンサー |
WO2013141149A1 (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP5642317B2 (ja) * | 2012-03-19 | 2014-12-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2014175658A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Sk Innovation Co Ltd | 均一なパターン配列のナノ粒子を有する単電子トランジスタ及びその製造方法 |
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