JP2001147159A - 感度補正装置 - Google Patents
感度補正装置Info
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Abstract
ルの分光感度特性の補正を容易にかつ適正に行なえる感
度補正装置を提供することにある。 【解決手段】 所望波数範囲での連続光を発生する連続
スペクトル光源12と、分光器16が分散可能な波数範
囲でかつ補正対象となる波数範囲を、隣り合う小範囲で
一部の波数或いは波数範囲が重複するように複数の小範
囲に分割する分割手段30と、前記分割手段30での各
小範囲の測定毎に各対応標準波数を変え各チャンネルに
受光させる波数走査手段14と、ある小範囲の標準波数
光を標準チャンネルに受光させた時の強度に対する他チ
ャンネルの強度の相対比を得、該相対比から該小範囲で
のばらつきを補正可能な感度補正値を得、該各小範囲で
の感度補正値をつなぎ合わせ、前記分割前の波数範囲で
の感度補正値を得る感度補正手段30と、を備えたこと
を特徴とする感度補正装置10。
Description
分光器及びマルチチャンネル検出器の感度補正に用いら
れる光源、及び補正値取得機構の改良に関する。
しては、種々のものがあるが、代表的なものに、分光器
と、マルチチャンネル検出器を組み合わせた分析装置が
ある。このような分析装置では、連続光を分光器に投射
し、分光器で分光した波数光毎の強度を、マルチチャン
ネル検出器により測定する。
は、例えばCCD(chargecoupled de
vice)が用いられる。このCCD検出器等のマルチ
チャンネル検出器は、分光したスペクトルを一度に測定
できる検出器であるため、このCCD検出器を用いたC
CD測定法は、従来の光電子増倍管を用いた測定法に代
わる方法として注目されている。
ネル検出器の各測定チャンネルは、感度にばらつきがあ
り、またCCDの各チャンネルに対して分光器のスルー
プットにも差異があり、測定を適正に行うには、これを
補正する必要がある。そこで、従来より、分析装置で
は、分光器及びCCD検出器の出力の感度補正が行なわ
れている。
を揃える。この線スペクトル光源の、ある波数の輝線ス
ペクトルを順次、測定チャンネル上を走査し、各測定チ
ャンネルの出力値の補正値を得ている。そして、実際の
測定の際は、検出器の測定チャンネルの各出力値に対
し、前述のようにして得られた各対応補正値を考慮する
のが一般的である。
来の線スペクトル光源を用いたのでは、輝線スペクトル
の、ある特定の一波数のみでの感度補正しかできない。
一方、最近の分析装置の高性能化、測定試料の多様化に
伴い、より広い測定波数範囲をカバーできる点が強く望
まれる。このために、従来は、線スペクトルの異なる種
々の線スペクトル光源を揃え、補正の際は所望のものを
選択して用いる方法も考えられる。
領域にうまく合う線スペクトルがない場合が生じる。ま
た、装置の部品点数が増加してしまう。また、異なる光
源を用いる際は、予め、個々の光源の特性を測定してお
く必要があり、面倒であった。このため、前記問題を解
決するための有効な手段として採用するまでには至らな
かった。
たものであり、その目的は分光器及びマルチチャンネル
検出器の感度特性の補正を容易にかつ正確に行うことの
できる感度補正装置を提供することにある。
に本発明にかかる感度補正装置は、連続スペクトル光源
と、分割手段と、波数走査手段と、読出手段と、感度補
正手段と、を備えることを特徴とする。
の波数範囲での連続光を発生する。また、前記分割手段
は、前記分光器が分散可能な波数範囲で、かつ補正対象
となる波数範囲を、隣り合う小波数範囲で一部の波数或
いは波数範囲が重複するように複数の小波数範囲に分割
する。
した各小波数範囲の測定毎に各対応標準波数を変え各チ
ャンネルに受光させる。前記読出手段は、前記チャンネ
ルの出力を読出す。前記感度補正手段は、ある小波数範
囲の標準波数光を標準チャンネルに受光させた時の強度
に対する他チャンネルの強度の相対比を得、該相対比か
ら該小波数範囲でのばらつきを補正可能な感度補正値を
得、各小波数範囲での感度補正値をつなぎ合わせ、前記
分割前の波数範囲での感度補正値を得る。
補正手段で得た各感度補正値が各対応波数に考慮され
る。なお、本発明において、前記連続スペクトル光源
は、各波数における光強度が既知の絶対光源であること
が好適である。ここにいう各波数における光強度が既知
の絶対光源とは、所定の電力で動作させると、ある特定
の連続スペクトル強度が必ず得られる連続スペクトル光
源をいう。
前記感度補正手段は、前記補完手段で得られた補完値を
欠陥チャンネルの出力とし、該欠陥チャンネルの感度補
正値を得ることも好適である。ここで、前記補完手段
は、あるチャンネルに欠陥がある場合には、該欠陥チャ
ンネルの両側に位置する正常チャンネルから得た読出手
段の出力を基に、該欠陥チャンネルから得た読出手段の
出力を補完する。ここにいう欠陥チャンネルの両側に位
置する正常チャンネルとは、ある欠陥チャンネルの直ぐ
隣りに位置するチャンネルも欠陥チャンネルであれば、
さらに同方向のチャンネルのうちで、該欠陥チャンネル
に一番近い位置にある正常チャンネル等をいう。
ることも好適である。ここで、前記判定手段は、前記補
完手段の前段に設けられ、前記読出手段で得たチャンネ
ルの出力が所定の範囲内にあれば、これを正常チャンネ
ルとして判断する。一方、前記読出手段で得たチャンネ
ルの出力が前記所定の範囲外にあれば、これを欠陥チャ
ンネルとして判断する。
な実施形態について説明する。図1には、本発明の一実
施形態にかかる感度補正装置の概略構成が示されてい
る。同図に示す感度補正装置10は、絶対光源12(連
続スペクトル光源)と、回折格子14を含む分光器16
と、CCD検出器(マルチチャンネル検出器)18と、
波数走査手段20と、読出手段22と、コンピュータ
(分割手段、感度補正手段)24を含む。
スペクトル光源としての絶対光源12は、駆動ドライバ
26により所定の電力で動作させると、所望の波数範囲
での連続光L0を発生する。この絶対光源12からは、
ある所定の電力で動作させると、ある特定の連続スペク
トル強度が必ず得られる。
電力値に対する連続スペクトル強度に関する情報は、コ
ンピュータ24の光源情報記憶部28に格納されてい
る。そして、感度補正等を行う際は、コンピュータ24
のCPU30は、光源情報記憶部28の強度情報にアク
セス可能とする。また、前記分割手段としてのコンピュ
ータ24は、分光器16が分散可能な波数範囲で、かつ
補正対象となる波数範囲を、隣り合う小区域(小波数範
囲)で一部の波数或いは波数範囲が重複するように複数
の小区域(小波数範囲)に分割する。例えば、後述する
第1小区域(Nν1)と第2小区域(Nν2)に分け
る。
より、絶対光源12からの連続光L 0を分離し、例えば
第1小区域(Nν1)の測定を行なう場合、その中心
(標準)波数ν1cの光Lν1cを得る。また、第2小
区域(Nν2)の測定を行なう場合、その中心(標準)
波数ν2 cの光Lν2cを得る。
域の測定を行なう際は、分光器16からの波数光L
ν1cの進行方向に対し、ほぼ直交する2次元空間上に
配列された複数の測定チャンネルを含み、各測定チャン
ネルは、分光器16からの波数光Lν1cを受光した時
の光強度を個々に出力する。前記波数走査手段20は、
例えば回折格子14の駆動ドライバ31と、前記コンピ
ュータ24を含む。
格子14を回転させることにより、各測定チャンネルに
は、各小区域の測定毎に、各対応区域の中心波数成分の
光を順次受光させる。例えば第1小区域の測定を行なう
際は、その中心波数ν1cの光Lν1cを各チャンネル
に順次受光させる。また、第2小区域の測定を行なう際
は、その中心波数ν2cの光Lν2cを各チャンネルに
順次受光させる。
と、アンプ34と、A/D変換器36と、前記コンピュ
ータ24を含む。そして、このコンピュータ24により
各測定チャンネルの出力を読出す。また、本実施形態に
おいて特徴的なことは、コンピュータ24は、前記感度
補正手段としての機能を含むことである。
38には、各測定チャンネルに各中心波数の光を受光さ
せた時の感度補正値を、各対応小区域毎に得るための各
機器の動作の制御情報を含む。そして、得られた感度補
正値は、コンピュータ24の補正値記憶部40に格納さ
れることとなる。
ピュータ24は、例えば第1小区域の中心波数光を中心
測定チャンネルDc(標準チャンネル)に受光させた時
の強度に対する他チャンネルの強度の相対比を得る。こ
の相対強度比のばらつきを補正可能な感度補正値を各対
応波数について得る。そして、実際の分析測定の際は、
各波数に対し各対応感度補正値を考慮する。なお、本実
施形態では、感度補正に用いる波数は、分光器16での
標準波数をCPU30により変えることにより適宜変更
可能である。
は、CPU30により書換え可能である。また、本実施
形態において、絶対光源12からの連続光L0は、まず
入射スリット44から分光器16内に入射し、コリメー
ト鏡46で平行化させ、回折格子14に入射させる。こ
こで、感度補正値の取得のための測定の際は、回折格子
14を回転させ、第1小区域の中心波数ν1cの光L
ν1cを各測定チャンネルに順次受光させる。
子14で分離された各波数光は、結像鏡48で集光さ
れ、CCD検出器18の各対応測定チャンネルに同時受
光され、各波数に対し、各対応感度補正値が考慮され
る。本実施形態にかかる感度補正装置10は、概略以上
のように構成され、以下にその作用について説明する。
CD検出器18の感度補正を行う際は、連続スペクトル
光源としての絶対光源12を用いている。この結果、本
実施形態では、感度特性の補正に用いる波数の変更を行
う際は、従来の線スペクトル光源を用いた場合のよう
に、波数の異なる種々の光源の取替え等を行うことな
く、駆動ドライバ31等により分光器16の回折格子1
4を回転させるのみで、容易に変更可能である。
クトル光源を用いて感度補正を行った従来方式に比較
し、より広い波数範囲での感度補正を、より容易に行う
ことができるので、特に本実施形態のような分析装置で
は有効である。また、本実施形態では、一般的な連続ス
ペクトル光源を用いるのではなく、各波数における光強
度が既知の絶対光源12を用いることもある。
は、駆動ドライバ26により絶対光源12を、所定の電
力で動作させると、ある特定の連続スペクトル強度が必
ず得られる。そして、本実施形態では、この電力に対す
る連続スペクトル強度に関する情報は、例えばコンピュ
ータ24の光源情報記憶部28に格納されている。
30が適宜、その情報にアクセスするのみで、従来一般
的な光源の連続スペクトルの強度測定を行うことなく、
常に正確な連続スペクトル強度情報を得ることができ
る。しかも、絶対光源12の使用中、得られる連続スペ
クトルの強度は、実質的に経時変化等を起こさないの
で、より確実な連続スペクトルの強度情報により、感度
補正を、より正確に行うことが可能となる。
全波数範囲は広いが、このような広い波数範囲を測定す
るには、測定チャンネル数は有限であるから、1回の測
定で取れる範囲は限られている。このため、分光器16
により分散可能な波数範囲の全てを測定チャンネルに割
当て、つまり1回の測定で感度補正値を得ようとする場
合、像の歪みなどにより中心から遠ざかると、分解能を
低下させてしまう。
は、所定の数の測定チャンネルを用いて、分解能を低下
させることなく広い波数範囲での感度補正を容易にかつ
適正に行えることとしたことである。以下に、その作用
について図2のフローチャートを参照しつつ説明する。
ピュータ24は分光器16の分散可能な全波数範囲を、
複数の小区域(小波数範囲)に分割可能な分割手段とし
ての機能をも含む。例えば、コンピュータ24は、分光
器16の分散可能な全波数範囲を、隣合う小区域で一部
の波数或いは波数範囲が重複するように、複数の小区域
に分割する(S10)。
な全波数範囲を、波数ν1〜ν13とした場合、例えば
波数ν1〜ν7の第1小区域Nν1と、波数ν7〜ν
13の第2小区域Nν2とに分割する。この場合、第1
小区域Nν1と第2小区域Nν2、つまり隣合う小区域
で重複する波数は波数ν7となる。
能な全波数範囲を複数の小区域に分割後、各測定チャン
ネルに対し、第1小区域Nν1のある標準波数、例えば
該区域の中心波数ν1cでの測定を行なう(S12)。
すなわち、回転格子を回転させ、図4に示すように各測
定チャンネルD1〜Dnのほぼ中心部分に対し、まず第
1小区域の測定の際は、分光器16からの中心波数光L
ν1cが順次照射される。
分散可能な全波数範囲での感度補正値の取得のための測
定を、全波数範囲での各波数光を各チャンネルに割当
て、1回の測定で済ませるのではなく、分光器16の分
散可能な全波数範囲を、隣合う小区域で一部の波数ν7
が重複するように、複数の第1小区域Nν1、第2小区
域Nν2に分割する。分割後、コンピュータ24は回転
格子14を回転させ、図4に示すように測定チャンネル
D1〜Dnに対し、第1小区域Nν1の中心波数ν1c
の光Lν1cでの強度測定を行う。
光Lν1cを受光した時の各測定チャンネルの出力値
は、アンプ34で増幅され、A/D変換器36でデジタ
ル変換された後、コンピュータ24に入力される。この
結果、第1小区域Nν1の中心波数ν1cの光Lν1c
での測定では、中心チャンネルDcの強度を基準にした
場合の、各測定チャンネルD1〜Dnの強度は、例えば
図5に示すような相対強度比I11〜I1nとして得ら
れることとなる。
1cの光Lν1cでの測定後、各チャンネルの出力値I
11〜I1nを、同図破線に示すようなフラットに可能
な感度補正値を得ている(S14)。このように第1小
区域Nν1の中心波数ν1cの光Lν1cでの出力値I
11〜I1nから、中心チャンネルDcが該区域の中心
波数光Lν1cを受光した時の強度に対する相対強度比
を得る。この第1小区域Nν1の中心波数ν1cでの感
度補正値を各チャンネルについて得る。
れる。
1小区域での各チャンネルの波数ν 11〜ν1nに対応
する。したがって、α<1n>は、この小区域でのチャ
ンネルDnでの感度補正値を意味する。また、上記I
11〜I1nは、各チャンネルでこの区域の中心波数ν
1cの光を受光した時の各対応測定チャンネルD1〜D
nの出力値近傍の平均値である。また、上記I
ν1cは、感度補正値を取得するための測定時に、中心
波数ν1 cの光を受光した時の中心測定チャンネルDc
近傍の平均値である。
出力値Iν11´〜Iν1n´は、上記数1の感度補正
値α<11>〜α<1n>を用いて、次記数2で与えら
れる。
得のための測定を、分光器16の分散可能な全波数範囲
を全チャンネルに割当て、1回の測定で済ませてしまう
のではなく、まず分光器16の分散可能な全波数範囲
(ν1〜ν13)を、隣合う小区域で一部の波数ν7が
重複するように複数の第1小区域Nν1(ν1〜ν7)
と、第2小区域Nν2(ν7〜ν13)に分割する。
し、例えば第1小区域Nν1(ν1〜ν7)の中心波数
ν4での測定を行ない、例えば中心チャンネルD4の出
力を基準にした場合の各チャンネルの出力の相対比を得
る。これらの相対強度比から、この第1小区域Nν
1(ν1〜ν7)でのばらつきを補正可能な感度補正値
を得る。
分光測定の際は、分光測定を行い(S16)、各測定チ
ャンネルD1〜Dnからの出力、つまり該区域の各波数
光を受光した時の生の出力値は、前述のようにして得ら
れた各対応感度補正値により補正されることとなる(S
18)。最終的には、このような感度補正後の出力値を
用いて、分析がより適正に行なわれることとなる(S2
0)。
ルの数に拘わらず、ある特定の小区域、例えば第1小区
域Nν1での感度補正を、分解能を損なうことなく適正
に行うことが可能となる。
定のみを行った例について説明したが、複数の小区域の
連続測定を行なうことが可能である。そして、このよう
な複数の小区域の連続測定を行なう際は、以下に示す方
法を用いることが好ましい。以下に、図6に示すフロー
チャートを参照しつつ、この連続測定方法について説明
する。なお、前記2と対応する部分には符号100を加
えて示し、説明を省略する。
可能な全波数範囲での感度補正値の取得のための測定
を、1回の測定で済ませるのではなく、分光器の分散可
能な全波数範囲を、隣合う小区域で波数ν7が重複する
ように複数の小区域、例えば前記図3に示したような第
1小区域Nν1(ν1〜ν7)と、第2小区域Nν
2(ν7〜ν13)に分割する(S110)。
し、前記各小区域の連続測定を行なう。分割数、つまり
小区域の数と同じ回数だけ測定を行なう(S112)。
すなわち、前記分割後、前述のようにコンピュータ24
は、回転格子14を回転させ、図7に示すように測定チ
ャンネルD1〜Dnに対し、第1小区域Nν1(ν1〜
ν7)の中心波数ν1cの光Lν1cでの強度測定を順
次行う。
の各測定チャンネルの出力値は、アンプ34で増幅さ
れ、A/D変換器36でデジタル変換された後、コンピ
ュータ24に入力される。つぎに、図8に示すように前
記測定チャンネルD1〜D7に対し、前記第2小区域N
ν2(ν7〜ν13)の中心波数ν2cの光Lν2cで
の光強度測定を順次行う。
の各測定チャンネルからの出力値は、アンプ34で増幅
され、A/D変換器36でデジタル変換された後、コン
ピュータ24に入力される。この結果、第1小区域Nν
1の中心波数ν1cでの測定では、各測定チャンネルD
1〜Dnからは、中心チャンネルDcの強度を基準にし
た場合の、例えば図9に示すような各相対強度比I11
〜I1nが得られることとなる。
での測定では、同様の測定チャンネルD1〜Dnから
は、中心チャンネルDcの強度を基準にした場合の、例
えば図10に示すような各相対強度比I21〜I2nが
得られることとなる。また、重複する波数ν1n(ν
21)での強度を基準にした場合の、各小波数範囲の相
対強度比を求め、各波数での特性を図11に示すような
フラットに可能な感度補正値を得る(S114)。
1n(ν21)での光強度を基準にした場合の、各第1
小区域と第2小区域での相対強度比を考慮し、これらの
各小区域での測定結果をつなぎ合わせ、分光器16の分
散可能な全波数範囲での、各対応感度補正値を得てい
る。
る。
3の感度補正値を用い、次記式4で与えられる。
ν2でのつなぎ波数位置は同一波数(ν1n=
ν21)、本実施形態では例えば波数ν7である。
次記数5で与えられる。
並べかえたものを以下に示す。 ―――――――――――――――――――――――――――――――――――― 測定波数 ν11 ν1n=ν21 ν2n ―――――――――――――――――――――――――――――――――――― 第1小区域での補正後の出力値(Iν11′… Iν1n′) ―――――――――――――――――――――――――――――――――――― 第2小区域での補正後の出力値 ( Iν21′ … Iν2n′) ――――――――――――――――――――――――――――――――――――
補正値α<Nν1n>は、次記数6で与えられる。
nでの中心波数の強度、<Iν1c>は第1小区域の中
心チャンネルDcでの中心波数ν1cの強度である。
置での出力値Iν1n´とIν21´は、次記数7で与
えられる。
するチャンネルDnとD1の出力の比Iν1n/I
ν21は、次記数8で与えられる。
置に対応するチャンネルDnとD1の出力の比
Iν1n′/Iν21′は、次記数9で与えられる。
(Nν21)*β(1,2)
変形すると、感度補正後の出力値I ν21′は次記数1
0で与えられる。
ν1n)*Iν1n′/β(1 2)
可能な全波数範囲(ν1〜ν13)を、隣合う小区域で
一部の波数(ν7)を重複するように複数の小区域、例
えば第1小区域(ν1〜ν7)と、第2小区域(ν7〜
ν13)とに分割している。そして、各区域の中心波数
光強度を基準にした場合の、各小区域での相対強度比を
得る。これらの各小区域での相対強度比を繋ぎ合わせ、
分光器が分散可能な全波数範囲(ν1〜ν13)での感
度補正値を得ている。
正値で各対応波数光を受光した時の出力値を補正してい
る。この結果、本実施形態では、測定チャンネル数に拘
わらず、より広い波数範囲での感度補正を、分解能を損
なうことなく適正に行うことが可能となる。以上のよう
に本実施形態にかかる感度補正装置10は、分光器16
の分散可能な全波数範囲を、一部の波数が重複するよう
に複数の小区域に分割している。
繋ぎ合わせ、分光器16の分散可能な全波数範囲に渡る
感度補正値を得ている。この結果、測定チャンネルの数
に拘わらず、より広い波数範囲での感度補正を、分解能
を損なうことなく適正に行うことができる。その理由
は、通常は、分光器は光を広い波数範囲を分散できる
が、中心から遠のくに従い、像歪みが生じ分解能が悪く
なる。したがって、像歪みが生じない程度の検出器チャ
ンネル数を使って広い範囲の測定を行なうことができ
る。
合を改善するために広い波数範囲を上述のように区切っ
て小区間を検出器の測定チャンネルに割当てることによ
り、広い波数範囲で感度補正された歪みの少ない測定が
得られる。そして、その全波数範囲について小区間の測
定時に一部分を重複させて測定し、その各小区域での測
定結果を繋ぎ合わせて全領域に渡る感度補正値を得てい
る。 これにより、検出器の全ての測定チャンネルの例
えば数倍のチャンネル数の測定が得られる。
8の出力の感度特性を補正する際は、連続スペクトル光
源としての絶対光源12を用いることとした。この結
果、コンピュータ24により駆動ドライバ31の動作を
制御し、分光器16の波数を走査するのみで、任意の波
数での感度補正を、容易に行うことができる。
が、回折格子による分散は検出器(各チャンネルは一定
の間隔をもつ)の位置によって異なるため、各チャンネ
ルにおける分散の違いも考慮に入れた補正も必要とな
る。また、前記各構成では、小区域を2つ設定した例に
ついて説明したが、本発明はこれに限られるものではな
く、3つ以上に分割してもよい。また、前記各構成で
は、分光器が分散可能な全波数範囲を複数分割した例に
ついて説明したが、分光器が分散可能なある特定の波数
範囲を複数分割し、この特定の波数範囲での感度補正を
可能にしてもよい。
ある波数ν7が重複した例について説明したが、本発明
はこれに限定されるものではなく、ある波数範囲を重複
させてもよい。また、前記各構成では、標準波数として
各小区域の中心波数を用いた例について説明したが、該
区域の他の波数を用いてもよい。また、前記各構成で
は、標準チャンネルとしてチャンネルD1〜Dnのうち
の、中心チャンネルDcを用いた例について説明した
が、他のチャンネルを用いてもよい。
はないので、これを補正しようとするものである。この
とき、測定チャンネル、例えば図12に示すようなチャ
ンネルDEに欠陥がある場合があり、欠陥のある測定チ
ャンネルDEについては、その出力IEがゼロの場合も
ある。このため、欠陥のある測定チャンネルDEについ
ては、前記本実施形態の感度補正が不可能な場合もあ
る。
すように、前記図1に示したコンピュータと同様のコン
ピュータ214には、読出手段222からの測定チャン
ネルの出力が入力される判定手段252と、補完手段2
54を設けることも好ましい。前記判定手段252は、
図14に示す測定チャンネルの出力が所定の設定値、例
えばImin以上であれば、該出力に対応する測定チャ
ンネルを正常チャンネルとして判断する。
定値Iminより小さければ、これを欠陥チャンネルと
して判断する。前記補完手段254は、判定手段252
により測定チャンネルDEに欠陥があると判断された場
合には、図15に示すような欠陥チャンネルDEの両側
に位置する正常チャンネルDE−1とDE+1の出力I
E−1とIE+1に基づき、該欠陥チャンネルDEの出
力を補完し、これを出力I*E等とする。そして、コン
ピュータ214は、欠陥チャンネルDEの出力をI*E
とし、上記のようにして感度補正値を得る。
ネルDEの直ぐ隣りに位置するチャンネルも欠陥チャン
ネルであれば、さらに同一の方向のチャンネルのうち
で、該欠陥チャンネルに一番近い正常チャンネルの出力
を選択する。この結果、本実施形態によれば、欠陥チャ
ンネルがある場合であって、前記感度補正をより適正に
行うことができる。
補正装置によれば、分割手段により分光器が分散可能な
波数範囲でかつ補正対象となる波数範囲を、隣り合う小
範囲で一部の波数或いは波数範囲が重複するように複数
の小範囲に分割する。波数走査手段により分割手段での
各対応小範囲の測定毎に各対応標準波数を変え各チャン
ネルに受光させる。そして、感度補正手段により小範囲
の標準波数光を標準チャンネルに受光させた時の強度に
対する他チャンネルの強度の相対比を得、該相対比から
該小範囲でのばらつきを補正可能な感度補正値を得、該
各小範囲での感度補正値をつなぎ合わせ、前記分割前の
波数範囲での感度補正値を得ることとした。この結果、
本発明においては、より広い波数範囲での感度補正を所
定数の測定チャンネルを用いて分解能を低下させること
なく適正に行なえる。しかも、本発明においては、波数
走査手段により分光器の波数走査を行うのみで、従来極
めて困難であった任意の波数での感度補正を容易に行う
ことができる。また、本発明において、前記連続スペク
トル光源として、各波数における光強度が既知の絶対光
源を用いることにより、正確な連続スペクトル強度が確
実に得られるので、前記感度補正を、より正確に及び容
易に行うことができる。さらに、本発明において、判定
手段により、あるチャンネルに欠陥があると判断した場
合には、補完手段により、該欠陥チャンネルの両側に位
置する正常チャンネルの出力に基づき、該欠陥チャンネ
ルの出力を補完することにより、欠陥チャンネルがある
場合であっても、前記感度補正をより適正に行うことが
できる。
略構成の説明図である。
フローチャートである。
小区域への分割方法の説明図である。
図である。
の説明図である。
ある。
な補完手段の説明図である。
段、補完手段、判定手段)
Claims (4)
- 【請求項1】 分光器により分散された各波数光を受光
可能なマルチチャンネル検出器を光検出器として用いる
分析装置の感度補正装置であって、 所望の波数範囲での連続光を発生する連続スペクトル光
源と、 前記分光器が分散可能な波数範囲で、かつ補正対象とな
る波数範囲を、隣り合う小波数範囲で一部の波数或いは
波数範囲が重複するように複数の小波数範囲に分割する
分割手段と、 前記分割手段で分割した各小波数範囲の測定毎に各対応
標準波数を変え各チャンネルに受光させる波数走査手段
と、 前記チャンネルの出力を読出す読出手段と、 ある小波数範囲の標準波数光を標準チャンネルに受光さ
せた時の強度に対する他チャンネルの強度の相対比を
得、該相対比から該小波数範囲でのばらつきを補正可能
な感度補正値を得、該各小波数範囲での感度補正値をつ
なぎ合わせ、前記分割前の波数範囲での感度補正値を得
る感度補正手段と、 を備え、実際の分析測定の際は、前記感度補正手段で得
た各感度補正値が各対応波数に考慮されることを特徴と
する感度補正装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の感度補正装置において、 前記連続スペクトル光源は、各波数における光強度が既
知の絶対光源であることを特徴とする感度補正装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の感度補正装置にお
いて、 あるチャンネルに欠陥がある場合には、該欠陥チャンネ
ルの両側に位置する正常チャンネルから得た読出手段の
出力を基に、該欠陥チャンネルから得た読出手段の出力
を補完する補完手段を備え、 前記感度補正手段は、前記補完手段で得られた補完値を
欠陥チャンネルからの出力とし、該欠陥チャンネルの感
度補正値を得ることを特徴とする感度補正装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の感度補正装置において、 前記補完手段の前段に設けられ、前記読出手段で得たチ
ャンネルの出力が所定の範囲内にあれば、これを正常チ
ャンネルとして判断し、 一方、前記読出手段で得たチャンネルの出力が前記所定
の範囲外にあれば、これを欠陥チャンネルとして判断す
る判定手段を備えたことを特徴とする感度補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33145599A JP2001147159A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 感度補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33145599A JP2001147159A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 感度補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001147159A true JP2001147159A (ja) | 2001-05-29 |
Family
ID=18243849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33145599A Ceased JP2001147159A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 感度補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001147159A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006058237A (ja) * | 2004-08-23 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 分光装置及びスペクトルレーザ顕微鏡 |
US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
-
1999
- 1999-11-22 JP JP33145599A patent/JP2001147159A/ja not_active Ceased
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
JP2006058237A (ja) * | 2004-08-23 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 分光装置及びスペクトルレーザ顕微鏡 |
US7330257B2 (en) | 2004-08-23 | 2008-02-12 | Nikon Corporation | Spectroscope and spectrum laser microscope |
JP4529587B2 (ja) * | 2004-08-23 | 2010-08-25 | 株式会社ニコン | 分光装置及びスペクトルレーザ顕微鏡 |
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