JP2001143984A - 位置決め装置 - Google Patents

位置決め装置

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JP2001143984A
JP2001143984A JP32578699A JP32578699A JP2001143984A JP 2001143984 A JP2001143984 A JP 2001143984A JP 32578699 A JP32578699 A JP 32578699A JP 32578699 A JP32578699 A JP 32578699A JP 2001143984 A JP2001143984 A JP 2001143984A
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stage
bearing
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hydrostatic bearing
static pressure
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Choshoku Sai
長植 崔
Kotaro Tsui
浩太郎 堆
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Canon Inc
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 低発塵性とメンテナンス性を向上させ、かつ
コスト低減を図る。 【解決手段】 基準面であるzガイド41を有する定盤
としての固定ベース40と、複数箇所に配置した第1の
静圧軸受で固定ベース40上に移動可能に支持されるx
yステージ20,30と、該xyステージ上に第2の静
圧軸受で移動可能に支持される基板ステージとしてのウ
エハステージ10とを備え、xyステージ20,30を
x方向およびy方向に支持するガイド21,42に係る
軸受を負荷容量重視型の静圧軸受14,24で構成し、
x方向およびy方向に対して垂直なz方向にxyステー
ジ20,30を支持する軸受を消費流量重視型の静圧軸
受15,25で構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種測定器、およ
び半導体リソグラフィ工程で用いる投影露光装置などに
おいてウエハ等の基板を高速、高精度で移動させ、位置
決めをする位置決め装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来技術としては、図8に示すように、
特開平3−245932号公報に開示されている位置決
め装置がある。この位置決め装置は、ウエハ99および
xy位置計測ミラー100等を搭載するウエハステージ
101を備えており、エアベアリング114,115,
124,125でガイドされリニアモータ(不図示)で
駆動されるxyステージ120,130にて、該ウエハ
ステージ101を最終位置決めするように構成されてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の位置決め装置では、エアベアリング114等の採用
により、低発塵性、メンテナンス性に優れているが、x
yステージ120,130の振動が直接ウエハステージ
101に伝達されるため、xyステージ120,130
の構造体の固有振動数を高く設定しなければならず、特
にエアベアリング部は高剛性、かつ高減衰性が求められ
る。そのため、エアベアリング114,115,12
4,125には、エアギャップを数ミクロン程度に設定
する多孔質絞り方式などが用いられることが多く、結果
的に、セラミクス等の高剛性材料による構造体、高いガ
イド平面度などが求められてコスト高になるという問題
があった。
【0004】本発明は、上記従来技術の問題に鑑み、低
発塵性およびメンテナンス性に優れており、かつコスト
を低減することができる位置決め装置を提供することを
目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、位置決め装置において、基準面を有する
定盤と、該定盤上を第1方向に移動可能な第1ステージ
と、該第1ステージを該第1方向に案内するためのヨー
ガイドと、該第1ステージに対して第2方向に移動可能
な第2ステージとを有し、該基準面に対して第1ステー
ジを支持する静圧軸受に消費流量重視型の静圧軸受を用
い、該ヨーガイドに対して該第1ステージを支持する静
圧軸受に負荷容量重視型の静圧軸受を用いることを特徴
とする。
【0006】また、本発明は、基板および計測ミラーを
搭載し、xy平面において3自由度を有する基板ステー
ジと、該基板ステージとは別にxy方向に可動のxyス
テージとを備え、前記基板ステージは前記xyステージ
よりローレンツ力に基きxy平面の3自由度方向に制御
力を付与される位置決め装置において、前記xyステー
ジのガイドを静圧軸受で構成することを特徴としてもよ
く、xyステージのガイドを負荷容量重視型の静圧軸受
で構成してもよい。
【0007】
【発明の実施の形態および作用】本発明では、第2ステ
ージは、負荷容量重視型の静圧軸受によって、前記第1
ステージに対して支持されていてもよく、前記第2ステ
ージは、消費流量重視型の静圧軸受によって、前記基準
面に対して支持されていてもよく、負荷容量重視型の静
圧軸受はオリフィス絞り型の静圧軸受であることが望ま
しく、該オリフィス絞り型の静圧軸受は、多孔質材料の
一部を気体が流出しないように施して作成することがで
き、前記消費流量重視型の静圧軸受は、多孔質材料を絞
りとする静圧軸受であることが望ましく、前記第1ステ
ージおよび前記第2ステージのうち少なくとも一方のス
テージは、リニアモータで駆動されることが望ましい。
【0008】また、本発明は、前記負荷容量重視型の静
圧軸受がオリフィス絞り型静圧軸受であってもよく、前
記xyステージは、基準面を有する定盤上にあってそれ
ぞれ対応する横方向に移動可能なxステージおよびyス
テージの両ステージを備え、該両ステージのうちの一方
のステージが一方の横方向静圧軸受を介して前記基準面
上の固定ガイドに案内されて一方の横方向に移動し、他
方のステージが前記一方の横方向と交差する他方の横方
向に他方の横方向静圧軸受を介して前記一方のステージ
の可動ガイドに案内されて移動し、前記両ステージはx
y方向と交差するz方向にz方向静圧軸受で支持される
ことが望ましい。
【0009】また、前記静圧軸受は流体回収型の軸受で
あることが望ましく、前記静圧軸受に用いられる材料は
自己潤滑型であることが好ましく、前記xyステージの
駆動手段には、非接触にて力が伝達される要素を用いる
ことが好ましく、前記駆動手段がリニアモータであるこ
とが好ましい。
【0010】本発明によれば、ガイドに係る横方向軸受
を負荷容量重視型のオリフィス絞り型の静圧軸受にする
ことにより、軸受すきまを従来に比し大きくした領域で
使用することができ、従来に比し、ガイド部の低精度化
および低剛性化によりコストダウンが図られる。一方、
ガイドに係る軸受以外のz方向軸受として消費流量重視
型の多孔質静圧気体軸受を採用することにより、位置決
め装置全体の消費流量の低減を図られ、ランニングコス
トの削減が可能である。さらには、基板ステージが、x
yステージよりローレンツ力に基きxy平面の3自由度
方向に制御力を付与されることにより、剛性および減衰
性能が従来に比し低下してもxyステージの振動は基板
ステージに伝達されない。また、xyステージのガイド
を静圧軸受にすることにより、低発塵性、メンテナンス
性に優れている。
【0011】また、本発明によれば、xyステージのガ
イドをオリフィス絞り型の静圧軸受にすることにより、
低発塵性、メンテナンス性が大きく向上する。また静圧
軸受を負荷容量重視型の例えばオリフィス絞り型もしく
は表面絞り型の静圧軸受にすることにより、軸受隙間を
従来に比し大きくした領域で使用することができ、従来
に比し、ガイド部の低精度化および低剛性化によりコス
トダウンが図られる。さらには、基板ステージが、xy
ステージよりローレンツ力に基きxy平面の3自由度方
向に制御力を付与されることにより、剛性および減衰性
能が従来に比し低下してもxyステージの挙動は基板ス
テージに伝達されない。
【0012】
【実施例】図1は本発明の実施例に係る位置決め装置を
示す斜視図である。本実施例に係る位置決め装置は、基
板ステージとしてのウエハステージ10、xyステージ
を形成するxステージ20とyステージ30、および定
盤としての固定ベース40等を備えて構成されている。
そして、本実施例では、yステージ30が第1ステージ
に相当し、xステージ20が第2ステージに相当する。
【0013】ウエハステージ10は、ウエハ3、xy位
置計測ミラー2x,2y、およびそれらを保持している
天板1を備えて構成される。xy位置計測ミラー2x,
2yは、レーザビーム5x,5yが照射されるところの
反射面を有しており、レーザ干渉計により、ある基準に
対する天板1の距離変動を正確に測定することを可能に
する。相対距離の変動があってはならないウエハ3、お
よび計測ミラー2x,2yを保持する天板1の材質に
は、高剛性かつ線膨張係数の小さいもの、例えば、Si
Cなどのセラミックスを適用することが望ましい。
【0014】xステージ20は、x天板11、x側板1
2、x底板13より構成される。本構造体の材質とし
て、安価で軽量なアルミニウム等の適用も可能である。
【0015】yステージ30は、側面にガイド面を有す
る可動ガイド21と、yスライダ22R,22Lとを備
えて構成される。本構造体の材質にも、アルミニウム等
の適用は可能である。
【0016】固定ベース40は、各ステージの下面を支
持する基準面としての平坦なzガイド41、およびyス
テージ30をx方向に支持するヨーガイド42を備えて
構成される。
【0017】また、yステージ30は、x方向に関して
横方向静圧軸受であるy横気体軸受24を介してヨーガ
イド42に、z方向に関してz方向静圧軸受であるy底
気体軸受25を介してzガイド41に支持され、y方向
に滑らかに動くことができる。また、xステージ20
は、y方向に関して横方向静圧軸受であるx横気体軸受
14を介して可動ガイド21に、z方向に関してz方向
静圧軸受であるx底気体軸受15を介してzガイド41
に支持され、x方向には可動ガイド21に沿って、y方
向にはyステージ30と共に滑らかに動くことができ
る。気体軸受パッドの形態をとったy横気体軸受24は
yスライダ22Lの外側面に、y底気体軸受25はyス
ライダ22R,22Lの下面にそれぞれ固定されてい
る。同様にx横気体軸受14はx側板12の内側面に、
x底気体軸受15はx底板13の下面にそれぞれ固定さ
れている。本実施例に係る第1の静圧軸受は上記x横気
体軸受14,x底気体軸受15,y横気体軸受24およ
びy底気体軸受25によって構成されている。
【0018】本実施例において用いられている負荷容量
重視型のオリフィス絞り静圧気体軸受を図2に、消費流
量重視型の多孔質絞り静圧気体軸受を図3に示す。図2
(a)はy横気体軸受24の正面図を、図2(b)は前
記正面図のA−A断面図を示す。気体軸受はオリフィス
絞り型の四角形静圧パッド49(Lx×Ly)が用いら
れる。軸受面51には、径の小さいオリフィスが形成さ
れた複数の給気孔52と、隣り合う各給気孔52,52
の開口部間を結ぶように溝幅rの給気溝53が設けられ
ている。この給気溝53により、軸受の負荷容量を高め
ることができる。給気孔52には供給孔54が連通して
おり、外部の高圧気体源からチューブ45により、高圧
気体が軸受内に供給される。このオリフィス絞り型の四
角形静圧パッド49は十分な負荷容量および軸受ギャッ
プ(隙間)Sを有し、xyステージ20,30に対しガ
イドの働きとクッションの働きをする。
【0019】静圧パッド49は前述したようにyスライ
ダ22Lに固定されているが、yスライダ22Lに直接
給気孔を設け、yスライダ22Lの側面を気体軸受にし
てもかまわない。x横気体軸受14にも、y横気体軸受
24のような軸受を用いる。
【0020】図3(a)はy底気体軸受25の底面図
を、図3(b)は前記正面図のB−B断面図を示す。気
体軸受には多孔質絞り型の四角形静圧パッド50(Lx
×Ly)が用いられる。軸受面には、セラミックス、カ
ーボン、焼結金属等の多孔質材料からなり静圧パッド5
0と相似四角形の多孔質絞り56が用いられ、多孔質絞
り56の表面(軸受面)と同一表面になる5mm以下の
ランド部bを設けるか、またはランド部bを多孔質絞り
56の軸受面より低くし、多孔質絞り56の外周は接着
剤でシールする。高圧気体は不図示の気体コンプレッサ
よリチューブ55および給気口59を通して給気チャン
バ58に送られ、さらに多孔質絞り56を経過して軸受
ギャップS内に流入し、軸受ギャップS内に静圧を生じ
ることによって荷重を支える。軸受の外径寸法、軸受の
ギャップおよび給気圧が等しい場合、多孔質絞り型静圧
気体軸受はオリフィス絞り型静圧気体軸受に比べ消費流
量が小さいので、xyステージ20,30の底気体軸受
15,25に多孔質絞り型静圧気体軸受を採用すること
により、位置決め装置全体の気体消費流量を抑制するこ
とができ、ランニングコストのダウンに貢献する。x底
気体軸受15にも、y横気体軸受25のような軸受を用
いる。軸受は、前記図2、図3に示した軸受の形状に限
らず、円板形状の静圧気体軸受を採用してもよい。
【0021】図1において、ウエハステージ10は、x
ステージ20のx天板11上に例えば、特開平7−11
1238号公報に開示されているような第2の静圧軸受
を構成する支持手段により搭載される。ウエハステージ
10は、リニアモータ6x,6yによりローレンツ力に
基く制御力をx方向、y方向およびz軸周りの回転方向
に付与され、xyレーザ干渉計の出力をもとに、x方
向、y方向およびz軸周りの回転方向に位置決めされ
る。リニアモータ6x,6yにより、xステージ20の
xy方向の振動はウエハステージ10には伝達されな
い。したがって、xステージ20およびyステージ30
に用いられている気体軸受は負荷にさえ耐えられればよ
く、剛性あるいは減衰性能は従来に比し、小さくてもか
まわない。
【0022】図4は負荷を受けるときの静圧気体軸受を
示す平面図である。まず、ウエハステージ10をx方向
に駆動するときの気体軸受について、図4(a)を参照
しながら説明する。駆動時、ウエハステージ10および
xステージ20の合計質量に駆動加速度をかけ合わせた
駆動力fxの反力がyステージ30に生じ、y横気体軸
受24に負荷としてかかる。このとき、y横気体軸受2
4はこのfxに対して、負荷容量および軸受ギャップS
が十分に大きくクッションとしての働きがあることが望
ましいく、十分余裕があることが好ましい。
【0023】次に、ウエハステージ10をy方向に駆動
するときの気体軸受について、図4(b)を参照しなが
ら説明する。駆動時、前述と同様にウエハステージ10
およびxステージ20の合計質量に駆動加速度をかけ合
わせた駆動力fyが、x横気体軸受14に負荷としてか
かる。このとき、x横気体軸受14はこのfyに対し
て、負荷容量および軸受ギャップSが十分に大きくクッ
ションとしての働きがあることが望ましく、十分余裕が
あることが好ましい。
【0024】図1におけるy底気体軸受25およびx底
気体軸受15には、上記のような大きな並進力が作用す
ることはないが、駆動力とステージ重心からの距離とを
かけ合わせたモーメントが作用する場合があるが、各気
体軸受にかかる負荷は、前述したものより小さいことが
予想される。そこで、本発明の位置決め装置全体の気体
消費流量を低減し、ランニングコストをダウンするため
には図3に示すような気体消費流量が小さい多孔質絞り
の静圧気体軸受を適用している。
【0025】図5はオリフィス絞り型空気軸受の静的負
荷変位特性を、多孔質絞り型空気軸受と併せてグラフに
て示した図である。同図において、横軸が空気ギャップ
(隙間)Sを示し、縦軸が負荷容量を示している。従っ
てグラフの傾きが、その空気ギャップにおける剛性を示
している。グラフより、同じ負荷容量を達成するために
オリフィス絞りの方の場合の隙間S2 が、多孔質絞りの
場合の隙間S1 よりはるかに大きい。例えば、負荷50
kgを支えるため、オリフィス絞りの空気ギャップは2
0μmと大きいのに対して、多孔質絞りは4μmと非常
に小さい。このことは、例えば、ガイド平面度の観点か
らは、オリフィス絞りの方が多孔質に比べて、緩やかに
なりうることを示している。
【0026】元来、静圧軸受の設計においては、剛性を
あげることが主目的であり、そのためには多孔質絞りで
代表されるように、小さいギャップ内で急激に負荷変化
をもたらすような軸受を設計することがよいとされてき
た。しかし、本実施例においては元来の設計法ではな
く、大きいギャップで大きい負荷をとれる軸受設計が望
ましい。
【0027】ただし、減衰性能的には不利な方向に働く
が、本発明においては自励振動を起こさない程度で十分
であり、例えば、静圧パッドの軸受面に大きな段付(ポ
ケット)を設けないことなどで回避できる。
【0028】図6はxyリニアモータを示す図である。
同図(a)がxyリニアモータ6xの上面図、同図
(b)が同図(a)のC−C断面図である。本実施例に
おけるxyリニアモータ6x,6yのうち、特にウエハ
ステージ10にx方向にローレンツ力に基き制御力を付
与するリニアモータ6xについて説明する。
【0029】xyリニアモータ6xは、可動子である永
久磁石61Ma〜61Md、固定子であるコイル61C
より構成されている。永久磁石61Ma〜61Mdは,
極性の異なるものを対向させ、互い違いに4列(61M
a、61Mb、61Mc、61Md)配置している。6
5はヨークであり、66は上下のヨーク65,65間を
支持する支柱である。上方のヨーク65は天板1に固定
されている。対向する磁石によりできる磁界中を横切る
ようにコイル61Cが配置されており、該コイル61C
はコイルホルダ62の中に保持されている。コイルホル
ダ62はホルダ台63を介して、x天板11に固定され
ている。また、コイルホルダ62は、内部に冷却水64
を流して、コイル61Cの発熱による温度上昇を低減さ
せている。
【0030】ウエハステージ10にy方向にローレンツ
力に基き制御力を付与するxyリニアモータ6yも同様
である。また、xステージ20をx方向に、yステージ
30をy方向に駆動する大ストロークアクチュエータ
(不図示)にも同様にリニアモータが適用でき、それぞ
れの可動子は、xステージ20、yスライダ22L,2
2Rに固定され、それぞれの固定子は可動ガイド21、
ヨーガイド42に固定されている。xyステージ20,
30のxy位置はエンコーダにより検出される。
【0031】なお、上記大ストロークアクチュエータは
非接触にかつ各ステージ20,30を所定加速度にて駆
動するのに十分な力が伝わることが望ましく、そのため
には磁気ねじ、もしくはコスト的にアップするが静圧ね
じなどを用いることも可能である。
【0032】また、本位置決め装置を真空内雰囲気で使
用する場合は、図7(a)〜(b)に示すような流体回
収型の静圧軸受パッド70を用いることにより実現でき
る。この静圧軸受パッド70は、図7(a)に示すよう
に、軸受面71側の四角形の各角部の位置に途中の深さ
まで開けた給気孔72と、隣り合う給気孔72,72間
の給気溝73と、給気孔72および給気溝73の外側を
囲む四角形の各角部に途中の深さまで給気孔72より深
く開けた排気孔77と、隣り合う排気孔77,77間の
排気溝76とを備えている。チューブ75および供給孔
74を通じて供給される高圧空気は、給気孔72より軸
受面71に噴出し、排気溝76、排気孔77、排出孔7
8およびチューブ79を通って排出回収され、外部に空
気を漏らすことはなくなる。
【0033】また、ガイド42との接触の場合に備え
て、上記各パッド49,70の材料は例えばカーボンな
どの自己潤滑型を用いることも可能である。また、オリ
フィス絞り型の静圧軸受であるパッド49,70は、多
孔質材料の一部を気体が流出しないように、例えば目止
めやシールを施して、作成してもよい。
【0034】また、本実施例において、xステージ20
およびyステージ30のz方向はzガイド41で支持さ
れているが、xステージ20のz方向はyステージ30
に支持されてもかまわない。
【0035】
【デバイス生産方法の実施例】次に上記本発明に係る位
置決め装置を用いた露光装置を利用したデバイスの生産
方法の実施例を説明する。図9は微小デバイス(ICや
LSI等の半導体チップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁
気ヘッド、マイクロマシン等)の製造のフローを示す。
ステップ1(回路設計)ではデバイスのパターン設計を
行う。ステップ2(マスク製作)では設計したパターン
を形成したマスクを製作する。一方、ステップ3(ウエ
ハ製造)ではシリコンやガラス等の材料を用いてウエハ
を製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と
呼ばれ、上記用意したマスクとウエハを用い、リソグラ
フィ技術によりウエハ上に実際の回路を形成する。次の
ステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4
によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化する
工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディ
ング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程を
含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製された
半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検
査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成
し、これが出荷(ステップ7)される。
【0036】図10は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上記露光装置によってマスクの
回路パターンをウエハに焼付露光する。ステップ17
(現像)では露光したウエハを現像する。ステップ18
(エッチング)では現像したレジスト像以外の部分を削
り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッチング
が済んで不要となったレジストを取り除く。これらのス
テップを繰り返し行うことによって、ウエハ上に多重に
回路パターンが形成される。
【0037】本実施例の生産方法を用いれば、従来は製
造が難しかった高集積度のデバイスを低コストに製造す
ることができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、定盤が
有している基準面に対して第1ステージを支持する静圧
軸受に消費流量重視型の静圧軸受を用い、ヨーガイドに
対して該第1ステージを支持する静圧軸受に負荷容量重
視型の静圧軸受を用いることにより、静圧軸受の消費流
量を減少させ、位置決め装置全体の消費流量を低減し、
ランニングコストのダウンが可能であるという効果を奏
する。また、xyステージのガイド構成をオリフィス絞
り型等の静圧軸受にすることにより、またはxyステー
ジのガイドを負荷容量重視型の静圧軸受で構成すること
により、静圧軸受のギャップを大きくとることが可能と
なる。結果的に、xyステージは低精度で、安価な材料
を適用することによるコストダウンが達成できる。さら
には低発塵性、メンテナンス性が非常に高まる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例に係る位置決め装置を示す斜
視図である。
【図2】 本発明の実施例に係る位置決め装置の横方向
静圧気体軸受を示し、(a)が正面図であり、(b)が
(a)のA−A断面図である。
【図3】 本発明の実施例に係る位置決め装置の横方向
静圧気体軸受を示し、(a)が正面図であり、(b)が
(a)のB−B断面図である。
【図4】 本発明の実施例に係る位置決め装置が負荷を
受けるときの静圧気体軸受を示す平面図である。
【図5】 静圧気体軸受の負荷変位特性をグラフで示し
た図である。
【図6】 本発明の実施例に係る位置決め装置のxyリ
ニアモータを示し、(a)が上面図であり、(b)が
(a)のC−C断面図である。
【図7】 本発明の実施例に係る位置決め装置を真空内
雰囲気で使用する場合に適した静圧気体軸受を示し、
(a)が正面図であり、(b)が(a)のD−D断面図
である。
【図8】 従来の位置決め装置の斜視図である。
【図9】 本発明に係る位置決め装置を用いた露光装置
による微小デバイスの製造の流れを示す図である。
【図10】 図9におけるウエハプロセスの詳細な流れ
を示す図である。
【符号の説明】
1:天板、2(2x,2y):xy位置計測ミラー、
3:ウエハ、6(6x,6y):xyリニアモータ、1
0:ウエハステージ、11:x天板、12:x側板、1
3:x底板、14,15,24,25:気体軸受(第1
の静圧軸受)、20:xステージ、21:可動ガイド、
22L,22R:yスライダ、30:yステージ、4
0:固定ベース、41:zガイド(基準面)、42:ヨ
ーガイド。

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準面を有する定盤と、該定盤上を第1
    方向に移動可能な第1ステージと、該第1ステージを該
    第1方向に案内するためのヨーガイドと、該第1ステー
    ジに対して第2方向に移動可能な第2ステージとを有
    し、該基準面に対して第1ステージを支持する静圧軸受
    に消費流量重視型の静圧軸受を用い、該ヨーガイドに対
    して該第1ステージを支持する静圧軸受に負荷容量重視
    型の静圧軸受を用いることを特徴とする位置決め装置。
  2. 【請求項2】 前記第2ステージは、負荷容量重視型の
    静圧軸受によって、前記第1ステージに対して支持され
    ていることを特徴とする請求項1に記載の位置決め装
    置。
  3. 【請求項3】 前記第2ステージは、消費流量重視型の
    静圧軸受によって、前記基準面に対して支持されている
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の位置
    決め装置。
  4. 【請求項4】 前記負荷容量重視型の静圧軸受はオリフ
    ィス絞り型の静圧軸受であることを特徴とする請求項1
    に記載の位置決め装置。
  5. 【請求項5】 前記オリフィス絞り型の静圧軸受は、多
    孔質材料の一部を気体が流出しないように施して作成し
    たことを特徴とする請求項4に記載の位置決め装置。
  6. 【請求項6】 前記消費流量重視型の静圧軸受は、多孔
    質材料を絞りとする静圧軸受であることを特徴とする請
    求項1〜5のいずれかに記載の位置決め装置。
  7. 【請求項7】 前記第1ステージおよび前記第2ステー
    ジのうち少なくとも一方のステージは、リニアモータで
    駆動されることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに
    記載の位置決め装置。
  8. 【請求項8】 基板および計測ミラーを搭載し、xy平
    面において3自由度を有する基板ステージと、該基板ス
    テージとは別にxy方向に可動のxyステージとを備
    え、前記基板ステージは前記xyステージよりローレン
    ツ力に基きxy平面の3自由度方向に制御力を付与され
    る位置決め装置において、前記xyステージのガイドを
    負荷容量重視型の静圧軸受で構成したことを特徴とする
    位置決め装置。
  9. 【請求項9】 前記負荷容量重視型の静圧軸受はオリフ
    ィス絞り型静圧軸受であることを特徴とする請求項8に
    記載の位置決め装置。
  10. 【請求項10】 前記xyステージは、基準面を有する
    定盤上にあってそれぞれ対応する横方向に移動可能なx
    ステージおよびyステージの両ステージを備え、該両ス
    テージのうちの一方のステージが一方の横方向静圧軸受
    を介して前記基準面上の固定ガイドに案内されて一方の
    横方向に移動し、他方のステージが前記一方の横方向と
    交差する他方の横方向に他方の横方向静圧軸受を介して
    前記一方のステージの可動ガイドに案内されて移動し、
    前記両ステージはxy方向と交差するz方向にz方向静
    圧軸受で支持されることを特徴とする請求項8または請
    求項9に記載の位置決め装置。
  11. 【請求項11】 基板および計測ミラーを搭載し、xy
    平面において3自由度を有する基板ステージと、該基板
    ステージとは別にxy方向に可動のxyステージとを備
    え、前記基板ステージは前記xyステージよりローレン
    ツ力に基きxy平面の3自由度方向に制御力を付与され
    る位置決め装置において、前記xyステージのガイドを
    静圧軸受で構成したことを特徴とする位置決め装置。
  12. 【請求項12】 前記静圧軸受は流体回収型の軸受であ
    ることを特徴とする請求項8または請求項11に記載の
    位置決め装置。
  13. 【請求項13】 前記静圧軸受に用いられる材料は自己
    潤滑型であることを特徴とする請求項8または請求項1
    1に記載の位置決め装置。
  14. 【請求項14】 前記xyステージの駆動手段には、非
    接触にて力が伝達される要素を用いたことを特徴とする
    請求項8または請求項11に記載の位置決め装置。
  15. 【請求項15】 前記駆動手段がリニアモータであるこ
    とを特徴とする請求項14に記載の位置決め装置。
  16. 【請求項16】 請求項1〜15のいずれかに記載の位
    置決め装置を用いることを特徴とする露光装置。
  17. 【請求項17】 請求項1〜15のいずれかに記載の位
    置決め装置を用いる露光方法を利用して製造することを
    特徴とする半導体デバイスの製造方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100428052B1 (ko) * 2002-07-09 2004-04-28 한국과학기술원 I형 빔으로 구성된 이중 h구조를 이용한 장행정스테이지
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
KR100780615B1 (ko) * 2001-12-31 2007-11-29 엘지.필립스 엘시디 주식회사 노광장비의 요 가이드 휨 모니터링 장치 및 방법
JP2010048303A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Myotoku Ltd エアスライド装置
JP2010067949A (ja) * 2008-06-27 2010-03-25 Asml Netherlands Bv オブジェクトサポート位置決めデバイスおよびリソグラフィ装置
JP2010197538A (ja) * 2009-02-24 2010-09-09 Canon Inc ステージ装置、露光装置及びデバイス製造方法
US7946767B2 (en) 2007-07-11 2011-05-24 Sumitomo Heavy Industries, Ltd Hydrostatic bearing and stage apparatus
JP5339056B2 (ja) * 2006-07-14 2013-11-13 株式会社ニコン 露光装置及びデバイス製造方法
JP2019201183A (ja) * 2018-05-18 2019-11-21 キヤノン株式会社 ステージ装置、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
WO2024050884A1 (zh) * 2022-09-05 2024-03-14 台湾积体电路制造股份有限公司 一种标尺组件

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
KR100780615B1 (ko) * 2001-12-31 2007-11-29 엘지.필립스 엘시디 주식회사 노광장비의 요 가이드 휨 모니터링 장치 및 방법
KR100428052B1 (ko) * 2002-07-09 2004-04-28 한국과학기술원 I형 빔으로 구성된 이중 h구조를 이용한 장행정스테이지
JP5339056B2 (ja) * 2006-07-14 2013-11-13 株式会社ニコン 露光装置及びデバイス製造方法
US7946767B2 (en) 2007-07-11 2011-05-24 Sumitomo Heavy Industries, Ltd Hydrostatic bearing and stage apparatus
JP2010067949A (ja) * 2008-06-27 2010-03-25 Asml Netherlands Bv オブジェクトサポート位置決めデバイスおよびリソグラフィ装置
US8279408B2 (en) 2008-06-27 2012-10-02 Asml Netherlands B.V. Object support positioning device and lithographic apparatus
JP2010048303A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Myotoku Ltd エアスライド装置
JP2010197538A (ja) * 2009-02-24 2010-09-09 Canon Inc ステージ装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP2019201183A (ja) * 2018-05-18 2019-11-21 キヤノン株式会社 ステージ装置、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
JP7161309B2 (ja) 2018-05-18 2022-10-26 キヤノン株式会社 ステージ装置、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
WO2024050884A1 (zh) * 2022-09-05 2024-03-14 台湾积体电路制造股份有限公司 一种标尺组件

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