JP2001133394A - 光測定装置 - Google Patents
光測定装置Info
- Publication number
- JP2001133394A JP2001133394A JP31310599A JP31310599A JP2001133394A JP 2001133394 A JP2001133394 A JP 2001133394A JP 31310599 A JP31310599 A JP 31310599A JP 31310599 A JP31310599 A JP 31310599A JP 2001133394 A JP2001133394 A JP 2001133394A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measured
- projector
- objects
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/025—Fruits or vegetables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06166—Line selective sources
- G01N2201/0618—Halogene sources
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の被測定物の測定間隔を長くすることな
く、異なる品種の被測定物の状態を高精度に測定するこ
とができる光測定装置を提供する。 【解決手段】 投光器４に給電する可変定電圧電源回路
８には切り換えツマミが付設してあり、該切り換えツマ
ミを操作することによって、可変定電圧電源回路８から
投光器４に印加される電圧を段階的に変更する。投光器
４はハロゲンランプを内蔵しており、可変定電圧電源回
路８から高い電圧が印加された場合、高強度の光を被測
定物Ｈに照射し、可変定電圧電源回路８から低い電圧が
印加された場合、低強度の光を被測定物Ｈに照射する。
これによって、異なる品種の被測定物Ｈの糖度を測定す
る場合であっても、受光器５には略同じ強度の透過光が
入射されるため、コンベア10による被測定物Ｈの搬送速
度を低減することなく、被測定物Ｈの糖度を高精度に測
定することができる。
く、異なる品種の被測定物の状態を高精度に測定するこ
とができる光測定装置を提供する。 【解決手段】 投光器４に給電する可変定電圧電源回路
８には切り換えツマミが付設してあり、該切り換えツマ
ミを操作することによって、可変定電圧電源回路８から
投光器４に印加される電圧を段階的に変更する。投光器
４はハロゲンランプを内蔵しており、可変定電圧電源回
路８から高い電圧が印加された場合、高強度の光を被測
定物Ｈに照射し、可変定電圧電源回路８から低い電圧が
印加された場合、低強度の光を被測定物Ｈに照射する。
これによって、異なる品種の被測定物Ｈの糖度を測定す
る場合であっても、受光器５には略同じ強度の透過光が
入射されるため、コンベア10による被測定物Ｈの搬送速
度を低減することなく、被測定物Ｈの糖度を高精度に測
定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、青果物等の被測定
物の透過光に基づいて、前記被測定物の状態を光学的に
測定する光測定装置に関する。
物の透過光に基づいて、前記被測定物の状態を光学的に
測定する光測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】青果物等の複数の被測定物を選果する選
果場には、各被測定物に近赤外線をそれぞれ照射し、そ
の透過光を分光した結果に基づいて、各被測定物の糖度
及び酸度等を測定する光測定装置が導入されている。
果場には、各被測定物に近赤外線をそれぞれ照射し、そ
の透過光を分光した結果に基づいて、各被測定物の糖度
及び酸度等を測定する光測定装置が導入されている。
【０００３】図４は特開平 7−229840号公報に開示され
た光測定装置の構成を示す模式的平面図であり、図中、
80はコンベアである。コンベア80の上には複数の被測定
物Ｈ，Ｈ，…が適宜距離を隔てて載置してあり、コンベ
ア80はモータ81によって矢符方向へ駆動される。被測定
物Ｈ，Ｈ，…の搬送領域に臨ませて、被測定物Ｈのサイ
ズを測定するサイズ測定器61が配置してある。サイズ測
定器61は、前記搬送領域の両側に光源62及び該光源62が
出射した光を受光するフォトセンサ63を配置してなり、
被測定物Ｈの通過によって光源62からフォトセンサ63へ
入射する光が遮られた時間、及びコンベア80による被測
定物Ｈの搬送速度に基づいて被測定物Ｈの直径が算出さ
れる。
た光測定装置の構成を示す模式的平面図であり、図中、
80はコンベアである。コンベア80の上には複数の被測定
物Ｈ，Ｈ，…が適宜距離を隔てて載置してあり、コンベ
ア80はモータ81によって矢符方向へ駆動される。被測定
物Ｈ，Ｈ，…の搬送領域に臨ませて、被測定物Ｈのサイ
ズを測定するサイズ測定器61が配置してある。サイズ測
定器61は、前記搬送領域の両側に光源62及び該光源62が
出射した光を受光するフォトセンサ63を配置してなり、
被測定物Ｈの通過によって光源62からフォトセンサ63へ
入射する光が遮られた時間、及びコンベア80による被測
定物Ｈの搬送速度に基づいて被測定物Ｈの直径が算出さ
れる。
【０００４】サイズ測定器61の下流には、被測定物Ｈの
糖度を測定する測定装置本体41が配置してある。測定装
置本体41は、前記搬送領域の一側に配置した投光器42、
及び搬送領域の他側に配置した受光器51を備えている。
投光器42は、ハウジング45内にランプ43及びリフレクタ
44等が配設してあり、ハウジング45に開設した出光口46
から被測定物Ｈの側部へ光を照射する。
糖度を測定する測定装置本体41が配置してある。測定装
置本体41は、前記搬送領域の一側に配置した投光器42、
及び搬送領域の他側に配置した受光器51を備えている。
投光器42は、ハウジング45内にランプ43及びリフレクタ
44等が配設してあり、ハウジング45に開設した出光口46
から被測定物Ｈの側部へ光を照射する。
【０００５】受光器51は、遮光性のハウジング56を備え
ており、該ハウジング56の前記投光器42の出光口46に対
向する部分に開設した入光口に集光レンズ52が嵌合して
ある。被測定物Ｈを透過した透過光は集光レンズ52によ
って集光され、スリット53に入射される。スリット53を
通過した光は、フラットフィールド凹面型の回拆格子54
に入射され、該回拆格子54によって分光された帯状の光
は、電荷蓄積型のラインセンサ55上に照射され、該ライ
ンセンサ55によって分光が複数の波長に対応して光電変
換される。このラインセンサ55の電荷蓄積時間は、コン
ピュータ71に設けた制御部73によって後述する如く調整
される。
ており、該ハウジング56の前記投光器42の出光口46に対
向する部分に開設した入光口に集光レンズ52が嵌合して
ある。被測定物Ｈを透過した透過光は集光レンズ52によ
って集光され、スリット53に入射される。スリット53を
通過した光は、フラットフィールド凹面型の回拆格子54
に入射され、該回拆格子54によって分光された帯状の光
は、電荷蓄積型のラインセンサ55上に照射され、該ライ
ンセンサ55によって分光が複数の波長に対応して光電変
換される。このラインセンサ55の電荷蓄積時間は、コン
ピュータ71に設けた制御部73によって後述する如く調整
される。
【０００６】このようにしてラインセンサ55から出力さ
れた電気信号は、コンピュータ71の演算部72に与えられ
る。そして、演算部72は、予め定めた複数の波長に係る
電気信号を用いて、被測定物Ｈの糖度を算出する。
れた電気信号は、コンピュータ71の演算部72に与えられ
る。そして、演算部72は、予め定めた複数の波長に係る
電気信号を用いて、被測定物Ｈの糖度を算出する。
【０００７】このような光測定装置によって被測定物Ｈ
の糖度を測定するには、コンベア80によって搬送される
被測定物Ｈ，Ｈ，…がサイズ測定器61を通過する都度、
サイズ測定器61から演算部72に受光結果が与えられる。
演算部72は、与えられた受光結果に基づいて、各被測定
物Ｈ，Ｈ，…の通過による遮光時間をそれぞれ求める。
演算部72には、コンベア80の搬送速度も与えられてお
り、演算部72は、遮光時間を求める都度、得られた遮光
時間及び搬送速度を用いて、次に測定すべき被測定物Ｈ
の直径を算出し、その結果を制御部73に与える。
の糖度を測定するには、コンベア80によって搬送される
被測定物Ｈ，Ｈ，…がサイズ測定器61を通過する都度、
サイズ測定器61から演算部72に受光結果が与えられる。
演算部72は、与えられた受光結果に基づいて、各被測定
物Ｈ，Ｈ，…の通過による遮光時間をそれぞれ求める。
演算部72には、コンベア80の搬送速度も与えられてお
り、演算部72は、遮光時間を求める都度、得られた遮光
時間及び搬送速度を用いて、次に測定すべき被測定物Ｈ
の直径を算出し、その結果を制御部73に与える。
【０００８】制御部73には、相異なる複数の電荷蓄積時
間が、被測定物Ｈに係る複数の直径範囲に対応付けて予
め設定してあり、制御部73は、演算部72から与えられた
被測定物Ｈの直径に対応する電荷蓄積時間を決定し、決
定した電荷蓄積時間をラインセンサ55に設定する。これ
によって、測定すべき被測定物Ｈのサイズに応じた電荷
蓄積時間がラインセンサ55に設定される。そして、演算
部72は、ラインセンサ55から与えられた電気信号の内、
予め定めた複数の波長に係る電気信号を用いて、被測定
物Ｈの糖度を算出する。
間が、被測定物Ｈに係る複数の直径範囲に対応付けて予
め設定してあり、制御部73は、演算部72から与えられた
被測定物Ｈの直径に対応する電荷蓄積時間を決定し、決
定した電荷蓄積時間をラインセンサ55に設定する。これ
によって、測定すべき被測定物Ｈのサイズに応じた電荷
蓄積時間がラインセンサ55に設定される。そして、演算
部72は、ラインセンサ55から与えられた電気信号の内、
予め定めた複数の波長に係る電気信号を用いて、被測定
物Ｈの糖度を算出する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
7−229840号公報に開示された光測定装置にあっては次
のような問題があった。即ち、異なる品種の被測定物の
糖度を測定する場合、品種によって直径及び皮厚が異な
るため、被測定物を透過した透過光の強度は品種間によ
っては１０倍以上も異なることがある。特開平 7−2298
40号公報に開示された光測定装置では、電荷蓄積時間を
調整することによって、被測定物のサイズの不均一さに
拘わらず、ラインセンサ55から出力される信号レベルを
略一定にするようになしてあるが、前述した如き品種間
による透過光の強度差に対して、被測定物の搬送速度を
低減することなく電荷蓄積時間を調整することによっ
て、前述した信号レベルの均一化を図るには限界があっ
た。そのため、透過光の強度が低い品種の被測定物で
は、Ｓ／Ｎ比が低く、被測定物の状態を高精度に測定す
ることができない。
7−229840号公報に開示された光測定装置にあっては次
のような問題があった。即ち、異なる品種の被測定物の
糖度を測定する場合、品種によって直径及び皮厚が異な
るため、被測定物を透過した透過光の強度は品種間によ
っては１０倍以上も異なることがある。特開平 7−2298
40号公報に開示された光測定装置では、電荷蓄積時間を
調整することによって、被測定物のサイズの不均一さに
拘わらず、ラインセンサ55から出力される信号レベルを
略一定にするようになしてあるが、前述した如き品種間
による透過光の強度差に対して、被測定物の搬送速度を
低減することなく電荷蓄積時間を調整することによっ
て、前述した信号レベルの均一化を図るには限界があっ
た。そのため、透過光の強度が低い品種の被測定物で
は、Ｓ／Ｎ比が低く、被測定物の状態を高精度に測定す
ることができない。
【００１０】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、その目的とするところは可変電圧電源回路か
ら投光器に異なる電圧を印加し得る構成にすることによ
って、複数の被測定物の測定間隔を長くすることなく、
異なる品種の被測定物の状態を高精度に測定することが
できる光測定装置を提供することにある。
であって、その目的とするところは可変電圧電源回路か
ら投光器に異なる電圧を印加し得る構成にすることによ
って、複数の被測定物の測定間隔を長くすることなく、
異なる品種の被測定物の状態を高精度に測定することが
できる光測定装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】第１発明に係る光測定装
置は、被測定物に投光する投光器と、該投光器が被測定
物へ投光し、該被測定物を透過した光が入射する受光器
とを備え、該受光器に入射された光の強度に基づいて前
記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器
に異なる電圧を印加することが可能な可変電圧電源回路
を備えることを特徴とする。
置は、被測定物に投光する投光器と、該投光器が被測定
物へ投光し、該被測定物を透過した光が入射する受光器
とを備え、該受光器に入射された光の強度に基づいて前
記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器
に異なる電圧を印加することが可能な可変電圧電源回路
を備えることを特徴とする。
【００１２】被測定物の品種に応じて、可変電圧電源回
路から投光器に印加する電圧を調整しておき、投光器か
ら被測定物に適宜の強度の光を照射する。これによっ
て、異なる品種の被測定物の状態を測定する場合であっ
ても、受光器には略同じ強度の透過光が入射されるた
め、複数の被測定物の測定間隔を長くすることなく、被
測定物の状態を高精度に測定することができる。
路から投光器に印加する電圧を調整しておき、投光器か
ら被測定物に適宜の強度の光を照射する。これによっ
て、異なる品種の被測定物の状態を測定する場合であっ
ても、受光器には略同じ強度の透過光が入射されるた
め、複数の被測定物の測定間隔を長くすることなく、被
測定物の状態を高精度に測定することができる。
【００１３】第２発明に係る光測定装置は、第１発明に
おいて、被測定物の径方向の寸法を測定する寸法測定器
と、該寸法測定器が測定した被測定物の寸法に基づい
て、前記可変電圧電源回路が投光器に印加する電圧を制
御する制御手段とを備えることを特徴とする。
おいて、被測定物の径方向の寸法を測定する寸法測定器
と、該寸法測定器が測定した被測定物の寸法に基づい
て、前記可変電圧電源回路が投光器に印加する電圧を制
御する制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１４】制御手段は、寸法測定器が測定した被測定
物の径方向の寸法が大きい場合、可変電圧電源回路に高
い電圧を投光器に印加させ、寸法測定器が測定した被測
定物の前記寸法が小さい場合、可変電圧電源回路に低い
電圧を投光器に印加させる。これによって、その寸法に
応じた強度の光が投光器から被測定物に照射されるの
で、異なる寸法の被測定物の状態を測定する場合であっ
ても、受光器には略同じ強度の透過光が入射される。そ
のため、複数の被測定物の測定間隔を長くすることな
く、被測定物の状態を高精度に測定することができる。
物の径方向の寸法が大きい場合、可変電圧電源回路に高
い電圧を投光器に印加させ、寸法測定器が測定した被測
定物の前記寸法が小さい場合、可変電圧電源回路に低い
電圧を投光器に印加させる。これによって、その寸法に
応じた強度の光が投光器から被測定物に照射されるの
で、異なる寸法の被測定物の状態を測定する場合であっ
ても、受光器には略同じ強度の透過光が入射される。そ
のため、複数の被測定物の測定間隔を長くすることな
く、被測定物の状態を高精度に測定することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて具体的に説明する。 （実施の形態１）図１は、本発明に係る光測定装置の要
部構成を示すブロック図であり、図中、10はコンベアで
ある。コンベア10の上には複数の被測定物Ｈ，Ｈ，…が
適宜距離を隔てて載置してあり、コンベア10は図示しな
いモータによって矢符方向へ駆動される。コンベア10の
一側には、被測定物Ｈ，Ｈ，…の搬送領域に臨ませて、
被測定物Ｈの糖度又は酸度等を測定すべく、被測定物Ｈ
の側部へ光を出射する投光器４が配置してある。コンベ
ア10の他側には、集光レンズ及びコネクタ等を設けてな
る受光器５が、前記投光器４に対向配置してあり、該受
光器５のコネクタには光ファイバ６が連結してある。こ
れら、投光器４及び受光器５は遮光性の筐体（図示せ
ず）内に配置してある。
に基づいて具体的に説明する。 （実施の形態１）図１は、本発明に係る光測定装置の要
部構成を示すブロック図であり、図中、10はコンベアで
ある。コンベア10の上には複数の被測定物Ｈ，Ｈ，…が
適宜距離を隔てて載置してあり、コンベア10は図示しな
いモータによって矢符方向へ駆動される。コンベア10の
一側には、被測定物Ｈ，Ｈ，…の搬送領域に臨ませて、
被測定物Ｈの糖度又は酸度等を測定すべく、被測定物Ｈ
の側部へ光を出射する投光器４が配置してある。コンベ
ア10の他側には、集光レンズ及びコネクタ等を設けてな
る受光器５が、前記投光器４に対向配置してあり、該受
光器５のコネクタには光ファイバ６が連結してある。こ
れら、投光器４及び受光器５は遮光性の筐体（図示せ
ず）内に配置してある。
【００１６】投光器４から投光され被測定物Ｈ内を透過
した光は、受光器５によって受光されて光ファイバ６に
入射され、該光ファイバ６によって測定装置本体１へ導
かれる。測定装置本体１内に導かれた光は、リファレン
スフィルタ又はＶ１０フィルタ等のフィルタ群を光路に
進退可能に設けてなるフィルタ切り換えユニット11を経
て分光器12に入射される。測定を開始するに先立って、
フィルタ切り換えユニット11をして、フィルタ群を光路
に挿入せしめ、リファレンスを測定し、フィルタ群を光
路から挿出せしめた後、被測定物Ｈの状態を測定するよ
うになしてある。
した光は、受光器５によって受光されて光ファイバ６に
入射され、該光ファイバ６によって測定装置本体１へ導
かれる。測定装置本体１内に導かれた光は、リファレン
スフィルタ又はＶ１０フィルタ等のフィルタ群を光路に
進退可能に設けてなるフィルタ切り換えユニット11を経
て分光器12に入射される。測定を開始するに先立って、
フィルタ切り換えユニット11をして、フィルタ群を光路
に挿入せしめ、リファレンスを測定し、フィルタ群を光
路から挿出せしめた後、被測定物Ｈの状態を測定するよ
うになしてある。
【００１７】分光器12は入射された光を分光し、それを
光電変換器13に与える。光電変換器13は分光器12から与
えられた分光の内、所要波長（糖度を測定する場合は７
４０ｎｍ及び８４０ｎｍ）の光を、その強度に応じた電
気信号に変換し、それをコンピュータ２に与える。コン
ピュータ２は次の（１）式によって対応する波長の吸光
度をそれぞれ算出し、その波長における吸光度の移動平
均をそれぞれ求め、それらを２次微分して２次微分値を
それぞれ算出する。 吸光度＝ｌｏｇ10（リファレンス値／当該波長に係る電気信号の値） …（１）
光電変換器13に与える。光電変換器13は分光器12から与
えられた分光の内、所要波長（糖度を測定する場合は７
４０ｎｍ及び８４０ｎｍ）の光を、その強度に応じた電
気信号に変換し、それをコンピュータ２に与える。コン
ピュータ２は次の（１）式によって対応する波長の吸光
度をそれぞれ算出し、その波長における吸光度の移動平
均をそれぞれ求め、それらを２次微分して２次微分値を
それぞれ算出する。 吸光度＝ｌｏｇ10（リファレンス値／当該波長に係る電気信号の値） …（１）
【００１８】コンピュータ２には、例えば次の（２）式
が予め設定してあり、コンピュータ２は（２）式に対応
する２次微分値をそれぞれ代入することによって、被測
定物Ｈの糖度Ｃを演算する。 Ｃ＝Ａ1 ＷＬ740nm ＋Ａ2 ＷＬ840nm …（２） 但し、Ａ1 ，Ａ2 ：係数 ＷＬ：対応する波長における吸光度の２次微分値
が予め設定してあり、コンピュータ２は（２）式に対応
する２次微分値をそれぞれ代入することによって、被測
定物Ｈの糖度Ｃを演算する。 Ｃ＝Ａ1 ＷＬ740nm ＋Ａ2 ＷＬ840nm …（２） 但し、Ａ1 ，Ａ2 ：係数 ＷＬ：対応する波長における吸光度の２次微分値
【００１９】前述した投光器４には可変定電圧電源回路
８から給電される。可変定電圧電源回路８には切り換え
ツマミ（図示せず）が付設してあり、該切り換えツマミ
を操作することによって、可変定電圧電源回路８から投
光器４に印加される電圧を段階的に変更する。投光器４
はハロゲンランプを内蔵しており、可変定電圧電源回路
８から高い電圧が印加された場合、高強度の光を被測定
物Ｈに照射し、可変定電圧電源回路８から低い電圧が印
加された場合、低強度の光を被測定物Ｈに照射する。
８から給電される。可変定電圧電源回路８には切り換え
ツマミ（図示せず）が付設してあり、該切り換えツマミ
を操作することによって、可変定電圧電源回路８から投
光器４に印加される電圧を段階的に変更する。投光器４
はハロゲンランプを内蔵しており、可変定電圧電源回路
８から高い電圧が印加された場合、高強度の光を被測定
物Ｈに照射し、可変定電圧電源回路８から低い電圧が印
加された場合、低強度の光を被測定物Ｈに照射する。
【００２０】このような装置によって、例えば被測定物
Ｈとして異なる品種の柑橘類の糖度を測定するには、可
変定電圧電源回路８に設けた切り換えツマミを操作し
て、投光器４への印加電圧を１０Ｖにしておき、コンベ
ア10によって搬送される複数の温州ミカンへ投光器４か
ら投光する。また、温州ミカンの直径より大きな直径の
中サイズの晩柑類の糖度を測定する場合、切り換えツマ
ミを操作して、投光器４への印加電圧を１３Ｖにしてお
き、コンベア10によって搬送される複数の中サイズの晩
柑類へ投光器４から投光する。更に、切り換えツマミを
操作して、投光器４への印加電圧を１５Ｖにしておき、
コンベア10によって搬送される複数の大サイズの晩柑類
に投光器４から投光する。
Ｈとして異なる品種の柑橘類の糖度を測定するには、可
変定電圧電源回路８に設けた切り換えツマミを操作し
て、投光器４への印加電圧を１０Ｖにしておき、コンベ
ア10によって搬送される複数の温州ミカンへ投光器４か
ら投光する。また、温州ミカンの直径より大きな直径の
中サイズの晩柑類の糖度を測定する場合、切り換えツマ
ミを操作して、投光器４への印加電圧を１３Ｖにしてお
き、コンベア10によって搬送される複数の中サイズの晩
柑類へ投光器４から投光する。更に、切り換えツマミを
操作して、投光器４への印加電圧を１５Ｖにしておき、
コンベア10によって搬送される複数の大サイズの晩柑類
に投光器４から投光する。
【００２１】なお、被測定物Ｈのサイズのみならず、例
えば、皮厚等も考慮した被測定物の光透過性に基づい
て、可変定電圧電源回路８から投光器４に印加する電圧
を設定する。そのため、可変定電圧電源回路８は前述し
た３段階以上の電圧を印加し得るようになしてもよい。
えば、皮厚等も考慮した被測定物の光透過性に基づい
て、可変定電圧電源回路８から投光器４に印加する電圧
を設定する。そのため、可変定電圧電源回路８は前述し
た３段階以上の電圧を印加し得るようになしてもよい。
【００２２】これによって、異なる品種の被測定物Ｈの
糖度を測定する場合であっても、受光器５には略同じ強
度の透過光が入射されるため、コンベア10による被測定
物Ｈの搬送速度を低減することなく、被測定物Ｈの糖度
を高精度に測定することができる。
糖度を測定する場合であっても、受光器５には略同じ強
度の透過光が入射されるため、コンベア10による被測定
物Ｈの搬送速度を低減することなく、被測定物Ｈの糖度
を高精度に測定することができる。
【００２３】なお、本実施の形態では、投光器４の電源
として、階段状に印加電圧を変更可能な可変定電圧電源
回路８が設けてあるが、本発明はこれに限らず、連続的
に印加電圧を変更可能な電源回路を設けてもよいことは
いうまでもない。
として、階段状に印加電圧を変更可能な可変定電圧電源
回路８が設けてあるが、本発明はこれに限らず、連続的
に印加電圧を変更可能な電源回路を設けてもよいことは
いうまでもない。
【００２４】（実施の形態２）図２は実施の形態２を示
すブロック図であり、被測定物Ｈのサイズを検出した結
果に基づいて、可変定電圧電源回路８から投光器４に印
加される電圧を変更するようになしてある。図２に示し
た如く、コンベア10の投光器４より上流には、被測定物
Ｈ，Ｈ，…のサイズをそれぞれ測定するサイズ測定器３
が配置してある。サイズ測定器３は、コンベア10の両側
に光源31及び該光源31が出射した光を受光するフォトセ
ンサ32を配置してなり、フォトセンサ32が受光した信号
は、コンピュータ２に与えられる。なお、図中、図１に
示した部分に対応する部分には同じ番号を付してその説
明を省略する。
すブロック図であり、被測定物Ｈのサイズを検出した結
果に基づいて、可変定電圧電源回路８から投光器４に印
加される電圧を変更するようになしてある。図２に示し
た如く、コンベア10の投光器４より上流には、被測定物
Ｈ，Ｈ，…のサイズをそれぞれ測定するサイズ測定器３
が配置してある。サイズ測定器３は、コンベア10の両側
に光源31及び該光源31が出射した光を受光するフォトセ
ンサ32を配置してなり、フォトセンサ32が受光した信号
は、コンピュータ２に与えられる。なお、図中、図１に
示した部分に対応する部分には同じ番号を付してその説
明を省略する。
【００２５】図３は図２に示したコンピュータ２の動作
手順を示すフローチャートである。コンピュータ２は、
フォトセンサ32が出力した信号を取り込む（ステップＳ
１）。コンピュータ２には、コンベア10による被測定物
Ｈの搬送速度が予め設定してあり、コンピュータ２は、
被測定物Ｈの通過によって光源31からフォトセンサ32へ
入射する光が遮られた時間、及び搬送速度に基づいて被
測定物Ｈの直径を算出する（ステップＳ２）。
手順を示すフローチャートである。コンピュータ２は、
フォトセンサ32が出力した信号を取り込む（ステップＳ
１）。コンピュータ２には、コンベア10による被測定物
Ｈの搬送速度が予め設定してあり、コンピュータ２は、
被測定物Ｈの通過によって光源31からフォトセンサ32へ
入射する光が遮られた時間、及び搬送速度に基づいて被
測定物Ｈの直径を算出する（ステップＳ２）。
【００２６】コンピュータ２には、受光器５に入射され
る透過光の強度を略一定にすべく、被測定物Ｈに係る複
数の直径範囲別に投光器４に印加すべき電圧がそれぞれ
設定してあり、コンピュータ２は、算出した被測定物Ｈ
の直径が属する直径範囲に係る電圧を求め（ステップＳ
３）、求めた電圧に変更すべく、電圧変更指令をコント
ローラ９に与える（ステップＳ４）。そして、コントロ
ーラ９は、与えられた電圧変更指令の電圧になるよう
に、可変定電圧電源回路８が投光器４に印加する電圧を
変更する。
る透過光の強度を略一定にすべく、被測定物Ｈに係る複
数の直径範囲別に投光器４に印加すべき電圧がそれぞれ
設定してあり、コンピュータ２は、算出した被測定物Ｈ
の直径が属する直径範囲に係る電圧を求め（ステップＳ
３）、求めた電圧に変更すべく、電圧変更指令をコント
ローラ９に与える（ステップＳ４）。そして、コントロ
ーラ９は、与えられた電圧変更指令の電圧になるよう
に、可変定電圧電源回路８が投光器４に印加する電圧を
変更する。
【００２７】これによって、その寸法に応じた強度の光
が投光器４から被測定物Ｈに照射されるので、異なるサ
イズの被測定物Ｈの糖度を測定する場合であっても、受
光器５には略同じ強度の透過光が入射される。そのた
め、コンベア10による被測定物Ｈ，Ｈ，…の搬送速度を
低減することなく、各被測定物Ｈ，Ｈ，…の糖度を高精
度に測定することができる。
が投光器４から被測定物Ｈに照射されるので、異なるサ
イズの被測定物Ｈの糖度を測定する場合であっても、受
光器５には略同じ強度の透過光が入射される。そのた
め、コンベア10による被測定物Ｈ，Ｈ，…の搬送速度を
低減することなく、各被測定物Ｈ，Ｈ，…の糖度を高精
度に測定することができる。
【００２８】なお、特許請求の範囲の項に、図面との対
照を便利にするために符号を記載してあるが、この記載
によって本発明は添付図面の構造に限定されるものでは
ない。
照を便利にするために符号を記載してあるが、この記載
によって本発明は添付図面の構造に限定されるものでは
ない。
【００２９】
【発明の効果】以上詳述した如く、第１発明に係る光測
定装置にあっては、異なる品種の被測定物の状態を測定
する場合であっても、受光器には略同じ強度の透過光が
入射されるため、複数の被測定物の測定間隔を長くする
ことなく、被測定物の状態を高精度に測定することがで
きる。
定装置にあっては、異なる品種の被測定物の状態を測定
する場合であっても、受光器には略同じ強度の透過光が
入射されるため、複数の被測定物の測定間隔を長くする
ことなく、被測定物の状態を高精度に測定することがで
きる。
【００３０】第２発明に係る光測定装置にあっては、そ
の径方向の寸法に応じた強度の光が投光器から被測定物
に照射されるので、異なる径方向の寸法の被測定物の状
態を測定する場合であっても、受光器には略同じ強度の
透過光が入射される。そのため、複数の被測定物の測定
間隔を長くすることなく、被測定物の状態を高精度に測
定することができる等、本発明は優れた効果を奏する。
の径方向の寸法に応じた強度の光が投光器から被測定物
に照射されるので、異なる径方向の寸法の被測定物の状
態を測定する場合であっても、受光器には略同じ強度の
透過光が入射される。そのため、複数の被測定物の測定
間隔を長くすることなく、被測定物の状態を高精度に測
定することができる等、本発明は優れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る光測定装置の要部構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】実施の形態２を示すブロック図である。
【図３】図２に示したコンピュータの動作手順を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図４】従来の光測定装置の構成を示す模式的平面図で
ある。
ある。
１ 測定装置本体 ２ コンピュータ ３ サイズ測定器 ４ 投光器 ５ 受光器 ６ 光ファイバ ８ 可変定電圧電源回路 ９ コントローラ １０ コンベア Ｈ 被測定物
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定物に投光する投光器（４）と、該
投光器（４）が被測定物へ投光し、該被測定物を透過し
た光が入射する受光器（５）とを備え、該受光器（５）
に入射された光の強度に基づいて前記被測定物の状態を
測定する装置において、 前記投光器（４）に異なる電圧を印加することが可能な
可変電圧電源回路（８）を備えることを特徴とする光測
定装置。 - 【請求項２】 被測定物の径方向の寸法を測定する寸法
測定器（３）と、該寸法測定器（３）が測定した被測定
物の寸法に基づいて、前記可変電圧電源回路（８）が投
光器（４）に印加する電圧を制御する制御手段（２，
９）とを備える請求項１記載の光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31310599A JP2001133394A (ja) | 1999-11-02 | 1999-11-02 | 光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31310599A JP2001133394A (ja) | 1999-11-02 | 1999-11-02 | 光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001133394A true JP2001133394A (ja) | 2001-05-18 |
Family
ID=18037222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31310599A Pending JP2001133394A (ja) | 1999-11-02 | 1999-11-02 | 光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001133394A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007088563A1 (en) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Sacmi Cooperativa Meccanici Imola Societa Cooperativa | Portable device for the quality control of products |
-
1999
- 1999-11-02 JP JP31310599A patent/JP2001133394A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007088563A1 (en) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Sacmi Cooperativa Meccanici Imola Societa Cooperativa | Portable device for the quality control of products |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7545487B2 (en) | Inspection of eggs in the presence of blood | |
| DE50115281D1 (de) | Verfahren zur Auswertung von Echelle-Spektren | |
| US8049882B2 (en) | Spectrometric optical method and system providing required signal-to-noise of measurements | |
| JP2003513236A (ja) | 分光分析用内蔵型光学プローブ | |
| EP1341223A4 (en) | METHOD FOR MONITORING POLISHING AND ASSOCIATED DEVICE, POLISHING DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE PRODUCTION METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE | |
| JPH0347450B2 (ja) | ||
| JP2012008098A (ja) | 青果物内部検査装置 | |
| US20230035404A1 (en) | Combined ocd and photoreflectance method and system | |
| JP2001133394A (ja) | 光測定装置 | |
| JP2000310592A (ja) | 光測定装置 | |
| JP3797476B2 (ja) | 厚さ／成分計測方法及び装置 | |
| JP3611519B2 (ja) | 農産物の内部品質評価装置 | |
| JP7280038B2 (ja) | 携帯型測定装置 | |
| JP3576105B2 (ja) | 内部品質計測装置 | |
| US7301164B2 (en) | Measuring apparatus | |
| US20050128478A1 (en) | Optical unit and measuring apparatus having the same | |
| JP2002206967A (ja) | 測光装置および測色装置 | |
| JP2002107294A (ja) | 分光分析装置 | |
| JPS6183922A (ja) | 分光測色装置 | |
| JP3611512B2 (ja) | 分光分析装置 | |
| JP3574920B2 (ja) | 光測定装置 | |
| JP2004037470A (ja) | 農産物の内部品質評価装置 | |
| JP2001133401A (ja) | 光学的測定装置 | |
| JP2000193588A (ja) | 光測定装置 | |
| JP3821727B2 (ja) | 分光分析装置 |