JP7280038B2 - 携帯型測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、測定対象の内部品質を測定する携帯型測定装置に関する。

従来、測定対象（例えば、青果物）の内部品質を測定する装置として、分光分析法を利用した非破壊型の測定装置が使用されている。また、園地やハウス等、場所を選ばず測定することを目的とした、携帯型測定装置が存在する。

上述のような測定装置では、光源として消費電力の大きいハロゲンランプを使用している。また、携帯型測定装置は、バッテリー駆動であるため、消費電力を低減することが必要とされている。

特許文献１には、非測定時には光源に定格よりも低い電圧をかけることで、すぐに使用可能状態に移行できる状態を維持することにより、光源の寿命を延ばすことを可能とする、製版用光学測定装置の光源電圧変換装置が開示されている。

また、特許文献２には、籾・玄米判別センサの光量調節装置が開示されている。

また、特許文献３には、複数の受光素子の出力特性の変化を補償する分光分析方法が記載されている。

実開昭６３－１０９６０８号公報 特開平８－１０５８３８号公報 特開２０００－２０６０３７号公報

しかしながら、特許文献１に記載の装置は、主に光源のランプの寿命を延ばすことを目的としている。また、特許文献２に記載の装置は、センサの光量調節の迅速化を目的としており、消費電力についての記載はない。

つまり、特許文献１及び２では、消費電力の大きいハロゲンランプを使用するバッテリー駆動の携帯型測定装置の消費電力を低減することについて考慮されていない。

本発明の一態様は、携帯型測定装置の消費電力を低減することを目的とする。

上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る携帯型測定装置は、測定対象に対して近赤外光を含む測定光を照射する、１０Ｗ以上の出力を有するハロゲン光源と、前記測定対象からの透過光および／または反射光を受光して当該測定対象の品質を測定する測定部と、前記測定部が測定を行っていない時間の少なくとも一部の時間において、前記ハロゲン光源に対して、前記測定部の測定時の電圧より低い電圧を供給する電圧制御部とを備える。

上記の構成によれば、１０Ｗ以上の高輝度の測定光を用いた精度の高い測定装置であっても、測定を行っていない場合において測定時よりも低い電圧を供給しているため、非測定時における消費電力を低減することができる。すなわち、携帯型測定装置の消費電力を低減することができる。

また、本発明の一態様に係る携帯型測定装置では、前記測定時の電圧より低い電圧が供給されている待機状態から測定可能な状態に前記ハロゲン光源を復帰させた後、復帰後の前記ハロゲン光源から出射された光のスペクトルを取得する取得部と、前記取得部が取得したスペクトルを用いて、前記測定部が出力した測定値を補正する補正部とをさらに備える構成である。

上記の構成によれば、復帰後のハロゲン光源から出射された光のスペクトルを用いて測定部が出力した測定値を補正することができるので、光源の電圧を変化させた状態であっても測定対象の品質をより精度良く測定することができる。

また、本発明の一態様に係る携帯型測定装置では、前記測定時の電圧を供給する第１電源回路と、前記測定時の電圧より低い電圧を供給する第２電源回路とを備え、前記電圧制御部は、前記第１電源回路と前記第２電源回路とを切り替えることにより、前記ハロゲン光源に供給する電圧を変化させる構成であってもよい。上記の構成によれば、ハロゲン光源に供給する電圧の切り替えを、第１電源回路と第２電源回路との切り替えによって行うことができる。

また、本発明の一態様に係る携帯型測定装置では、前記ハロゲン光源から外部へ出射される前記測定光を遮断する遮光部と、前記測定光が外部へ出射されないようにする遮断位置と、前記測定光を外部へ出射させる出射位置との間で前記遮光部を移動させる開閉機構とをさらに備えており、前記開閉機構は、自己保持型ソレノイドを備える構成であることが好ましい。

上記の構成によれば、遮光部が一度移動した後は、次に遮光部が移動するまで、電圧を印加する必要がない。このように、開閉動作を行う時のみ電圧を印加すればよいので、従来よりも遮光部を移動させるための消費電力を低減することができる。

また、本発明の一態様に係る携帯型測定装置では、前記開閉機構は、前記自己保持型ソレノイドの働きにより一方向に移動した遮光部を、逆方向に引き戻すばねをさらに備えている構成であってもよい。上記の構成によれば、ばねの力により出射位置から遮断位置へ遮光部を移動させることができるので消費電力をさらに低減させることができる。

本発明の一態様によれば、携帯型測定装置の消費電力を低減することができる。

本発明の実施形態１に係る測定装置１の外観を示す斜視図である。 上記測定装置の構成を示すブロック図である。 上記測定装置が備える開閉機構の構造を示す図である。 上記測定装置が備える分光器の構成を示す図である。 上記測定装置が備える円板の構成を示す図である。 上記測定装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。

〔実施形態１〕
（測定装置１の構成）
図１は、本発明の実施形態１に係る測定装置１の外観を示す斜視図である。図２は、測定装置１の構成を示すブロック図である。

測定装置１は、青果物（例えばりんご・みかん等青果物（以下、測定対象２））へ測定光を照射し、透過及び／または反射した光を受光し、受光した光を分光分析法により分析することにより、測定対象２の、糖度、酸度、及び傷害度等の内部品質を非破壊で測定する、バッテリー駆動の携帯型測定装置である。ただし、本発明の携帯型測定装置の測定対象は、青果物に限定されず、穀物など、他の生物由来の物体であってもよい。

図１および図２に示すように、測定装置１は、制御部３、投光部４、受光部５、入力部６、表示部７、記憶部８、センサ部２９、第１電源回路１３、第２電源回路１４、及びファイバ１５を備えている。

入力部６は、ユーザによる指示（測定対象２の種類の入力、測定の開始指示など）を受け付ける。入力部６は、入力された測定対象２の種類の情報を制御部３に出力する。

投光部４は、測定対象２に対して測定光を照射する。投光部４は、図２に示すように、ハロゲン光源１６、開閉機構１７、及びファイバ１８を備えている。

ハロゲン光源１６は、測定対象２へ測定光を照射するためのハロゲンランプであり、ファイバ１８へ測定光を照射する。また、ハロゲン光源１６は、リファレンス測定及び波長校正測定のため、ファイバ１５を介して受光部５にも光を照射する。

測定に用いる分光分析には、特定波長での透過度を用いるため、測定波長周辺での波長強度の変化が少ない光源が好ましい。ハロゲン光源１６は、例えば５００～２５００ｎｍの波長範囲の光を測定光として出射する。糖度を測定する場合には、特定波長は、６００～１０００ｎｍであり、ハロゲン光源１６は、６００～１０００ｎｍでの波長強度の変化が少ないため、糖度測定用の光源として好適である。また、光源の輝度が高いものであれば、高い精度での測定を行うことが可能となる。そのため、ハロゲンランプは、例えば１０Ｗ以上の高輝度の光を出射できるものであることが好ましい。

図３は、開閉機構１７の構造を示す図である。開閉機構１７は、ハロゲン光源１６から照射される測定光が、測定時以外に測定対象２に照射されないように（すなわち、測定光が外部へ出射されないように）測定光を遮断するための機構である。開閉機構１７は、図２および図３に示すように、遮光部２０、ソレノイド１９、ばね３０、及びプランジャ４０を備えている。

遮光部２０は、ハロゲン光源１６からの測定光を遮断する遮断位置、及び測定光を遮断しない出射位置との間で、ソレノイド１９の制御により移動する。ソレノイド１９は、自己保持型ソレノイドであり、電圧が印加されることにより、遮光部２０を移動させる。

具体的には、遮光部２０が遮断位置にある時、ソレノイド１９に対して電圧が印加されると、ソレノイド１９は吸引動作を行い（具体的には、電磁力によってプランジャ４０を引き込むことにより）、遮光部２０を出射位置（図３における右側、一方向）へ移動させる。また、再度ソレノイド１９に対して電圧が印加されると、ソレノイド１９は磁力を失い、ばね３０の力により遮光部２０は遮断位置（図３における左側、逆方向）へ移動する。なお、上記遮断位置及び出射位置は、反対であってもよい。このように、ばね３０の力により出射位置から遮断位置へ遮光部２０を移動させることができるので消費電力を低減させることができる。

従来、遮光部を開閉させるソレノイドとして、ロータリーソレノイドが使用されているが、ロータリーソレノイドは、遮光部を出射位置で固定するために電圧を印加し続ける必要がある。これに対して、上述したようにソレノイド１９は自己保持型ソレノイドであるため、ソレノイド１９は、遮光部２０が一度移動した後は、次に遮光部２０が移動するまで、電圧を印加する必要がない。このように、開閉動作を行う時のみ電圧を印加すればよいので、従来よりも遮光部を移動させるための消費電力を低減することができる。

ファイバ１８は、遮光部２０が出射位置にある場合、ハロゲン光源１６からの測定光を、測定対象２へ導光するための導光用ファイバである。第１電源回路１３は、後述する電圧制御部９の指示に従い、ハロゲン光源１６へ測定時用の高い電圧（以降では、第１電圧と称する）を印加する回路である。第２電源回路１４は、電圧制御部９の指示に従い、ハロゲン光源１６へ非測定時用の低い電圧（以降では、第２電圧と称する）を印加する回路である。

受光部５は、投光部４から照射され測定対象２を透過及び／または反射した測定光（以下、計測光）を受光し、受光した計測光のスペクトルデータを電気信号として、取得部１０または内部品質値算出部１２へ入力する。受光部５は、図２に示すように、ファイバ２２、及び分光器２１を備えている。ファイバ２２は、測定対象２からの計測光を受光し、分光器２１へ計測光を導光するための光ファイバである。

分光器２１は、計測光を受光し、電気信号として取得部１０または内部品質値算出部１２へ出力するものであり、例えば高精度ＳＷ－ＮＩＲ分光器である。図４は、分光器２１の構成を示す図である。分光器２１は、図３及び図４に示すように、凹面回折格子２４、受光センサ２５、フィルタ部２３及び入光口２８を備えている。凹面回折格子２４は、入光口２８から受光した計測光を、複数の波長の光に分光する。

受光センサ２５は、例えば赤外高感度型リニアイメージセンサであり、凹面回折格子２４によって分光された計測光における波長毎の光量を検出することにより、分光スペクトルデータを取得する。分光スペクトルデータとは、測定対象光の波長ごとの光強度を示すデータである。また、受光センサ２５は、計測した分光スペクトルデータを、電気信号として取得部１０または内部品質値算出部１２へ出力する。

フィルタ部２３は、複数のフィルタ及び開口部を持つ円板２６及びモータ２７を備えており、モータ２７の駆動により円板２６を回転させることで、各種測定を切り替える。図５は、円板２６の構成を示す図である。円板２６は、図５に示すように、１つの遮光部２６ｄ、１つの波長校正フィルタ２６ａ、３つのリファレンスフィルタ２６ｂ、及び１つの開口部２６ｃを同心円状に備えている。円板２６の各部は、回転することによって円板２６の法線方向から見たときに入光口２８と重なるように構成されている。円板２６の回転の制御（すなわち、モータ２７の制御）は、制御部３によって行われる。

遮光部２６ｄは、円板２６において光を通さない部分であり、後述するリファレンス測定時の暗電流データを測定するときに入光口２８と重ねられる。波長校正フィルタ２６ａは、測定用の波長範囲（６００ｎｍ～１０００ｎｍ）において、少なくとも２つのピーク部を有する光を透過させるフィルタであり、測定装置１が、波長校正測定を行う時に、入光口２８と重ねられ、ファイバ１５を介してハロゲン光源１６から導光された光（校正光）を通過させる。なお、波長校正測定とは、測定装置１の光学部品の劣化、外乱光等に起因する測定値のずれを補正するためのデータを取得する測定である。

３つのリファレンスフィルタ２６ｂは、透過光量が互いに異なるフィルタであり、測定装置１がリファレンス測定を行うときに、順に入光口２８と重ねられ、ファイバ１５を介してハロゲン光源１６から導光された光（リファレンス光）を通過させる。

本実施形態の円板２６では、３つのリファレンスフィルタ２６ｂが設けられている構成であったが、円板２６に設けられるリファレンスフィルタ２６ｂの数は、１個でもよいし、２個でもよいし、４個以上であってもよい。リファレンスフィルタ２６ｂの枚数が多くなるほど測定の精度は高くなるが、リファレンス測定にかかる時間が増加する。なお、リファレンス測定とは、ハロゲン光源１６に起因する測定値のずれを補正するためのデータを取得する測定である。開口部２６ｃは、モータ２７の駆動により、入光口２８と重なり、ファイバ２２を介して導光された計測光を通過させる。

表示部７は、制御部３の指示に従い、測定対象２の種類、補正部１１から入力された補正後の測定値等の情報を表示する。入力部６及び表示部７は、タッチパネルであってもよく、その場合、タッチパネルが、入力部６及び表示部７の両方を兼ねてもよい。記憶部８は、内部品質値算出部１２で測定対象２の品質を測定する際に使用する検量式、補正部１１が光のスペクトルから補正値を算出するための式等の情報が格納されている記憶領域である。

センサ部２９は、ファイバ１８を介してハロゲン光源１６から出射された光を測定対象２に照射するとともに、測定対象２を透過及び／または反射した測定光を受光しファイバ２２を介して受光部５へ導光させる部材である。

ファイバ１５は、後述する波長校正測定及びリファレンス測定を行う際にハロゲン光源１６からの光を受光部５へ導光する。ファイバ１５は、制御部３の指示により波長校正測定時及びリファレンス測定時において、ハロゲン光源１６から受光部５への光を通すよう切替可能に構成されている。以下、光を通すときの状態を入射状態、通さない時を非入射状態と呼ぶ。ファイバ１５及びファイバ２２は、制御部３の指示に従い、入射切替部材（不図示）によって、どちらが分光器２１へ光を入射するかを切り替えられる。つまり、ファイバ１５が入射状態の時、ファイバ２２は非入射状態であり、ファイバ１５が非入射状態の時、ファイバ２２は入射状態である。

制御部３は、測定装置１の各動作を制御するものであり、電圧制御部９、取得部１０、補正部１１、及び内部品質値算出部１２を備えている。

電圧制御部９は、投光部４へ印加する電圧を制御する。具体的には、電圧制御部９は、入力部６を介してユーザからの測定を行う指示を受けると、投光部４のハロゲン光源１６に対して測定時用の第１電圧（例えば１２Ｖ）を印加させる。また、電圧制御部９は、測定を行っていない時間の一部、つまり待機状態では、ハロゲン光源１６に対して非測定時用の第２電圧（例えば７Ｖ）を印加するよう制御を行う。なお、待機状態と判断する基準は、測定が終了してから任意の時間が経過した時であってもよいし、ユーザによって入力部から測定時から待機状態へ移行するよう指示された時であってもよい。

ここで、ハロゲンランプはフィラメントの温度により波長特性が変化する。そのため、非測定時にハロゲンランプを消灯した場合、フィラメントの温度が下がるため、消灯状態から点灯させたときに、測定可能になるまで（つまりハロゲンランプの波長が安定するまで）に時間がかかる。さらに、ハロゲンランプは、消灯時から点灯時に突入電力が流れ消費電力が増えるため、非測定時に消灯することは好ましくない。以上のことから、消費電力を低減させつつ、波長特性の変化を防止するために、非測定時にハロゲン光源１６へ印加する電圧を、波長特性が大きく変化しない程度、およそ測定時における電圧の５０～７０％程度まで下げることが好ましい。すなわち、第２電圧は、第１電圧の５０～７０％程度であることが好ましい。

取得部１０は、受光部５から取得した光のスペクトルデータを取得し、補正部１１に出力する。内部品質値算出部１２は、受光部５から取得した光のスペクトルデータを用いて、記憶部８に記憶されている検量式を参照し、測定対象２の内部品質値を算出する。内部品質値算出部１２は、算出した内部品質値を補正部１１へ入力する。補正部１１は、取得部１０から取得したデータに基づいて、内部品質値算出部１２から取得した測定値を補正する。

（測定装置１における処理の流れの一例）
次に、測定装置１の処理（制御方法）の流れの一例について、図６を用いて説明する。図６は、測定装置１における処理の流れの一例を示すフローチャートである。前提として、測定装置１には電源が入っており、待機状態として、ハロゲン光源１６には、非測定時用の低い電圧が第２電源回路１４から印加されている。また、遮光部２０は、遮断状態となっている。

測定装置１の処理では、まず、ユーザの操作により、入力部６から制御部３へ、測定対象２の種類としての青果物の種類が入力される（ステップＳ１）。青果物の種類が入力されると、制御部３の電圧制御部９は、ハロゲン光源１６に対して電圧を印加する回路を第２電源回路１４から第１電源回路１３へ切り替え、測定時用の第１電圧を印加させる（ステップＳ２）。

次に、制御部３は、所定の時間が経過した後、ファイバ１５を入射状態へ切り替えさせる。また、制御部３は、ソレノイド１９を作動させ、遮光部２０を遮断位置から出射位置へ移動させる（ステップＳ３）。

次に、測定装置１は、リファレンス測定を行う（ステップＳ４）。具体的には、測定用の電圧を印加されて復帰したハロゲン光源１６が、入射状態のファイバ１５を介して、入光口２８へリファレンス光を入射させる。この状態において、制御部３がモータ２７を駆動させ、複数のリファレンスフィルタ２６ｂを順次入光口２８に重ねさせる。受光センサ２５は、リファレンスフィルタ２６ｂが切り替えられるごとに、それぞれのリファレンスフィルタ２６ｂを通過したリファレンス光のスペクトルデータを取得し、測定リファレンススペクトルデータとして取得部１０へ出力する。次に、制御部３が、モータ２７を駆動し、遮光部２６ｄを入光口２８に重ねさせ、この状態において受光センサ２５が、光のスペクトルデータを定暗電流データとして取得し、取得部１０に出力する。取得部１０は、受信した測定リファレンススペクトルデータ、及び測定暗電流データを補正部１１に出力する（ステップＳ３）。

なお、測定前には、予め、基準リファレンススペクトルデータ、基準暗データを測定し、記憶部８に記憶させておく。具体的には、まず、制御部３が、非測定時に、測定雰囲気温度が基準温度（例えば、２５°Ｃ）において、ファイバ１５を入射状態にして、モータ２７を稼働させ、複数のリファレンスフィルタ２６ｂを順次入光口２８に重ねさせる。次に、受光センサ２５が、リファレンスフィルタ２６ｂ毎にハロゲン光源１６から照射されリファレンスフィルタ２６ｂを透過したリファレンス光のスペクトルデータを基準リファレンススペクトルデータとして取得し、その基準リファレンススペクトルデータを記憶部８に記憶させておく。次に、制御部３が、前記基準温度において、モータ２７を駆動させ、遮光部２６ｄを入光口２８と重ねさせ、受光センサ２５が、この時取得するスペクトルデータを、基準暗データとして記憶部８に記憶しておく。

なお、本発明の一態様では、基準リファレンススペクトルデータの値が所定の範囲から外れている場合、制御部３は、ハロゲン光源１６が照射する光の強度を安定させるために、以下の工程を行うまでに所定の時間、各部を待機させておいてもよい。

次に、測定装置１は、波長校正測定を行う（ステップＳ５）。具体的には、まず、制御部３が、モータ２７を駆動させ、波長校正フィルタ２６ａを入光口２８に重ねさせる。これにより、ハロゲン光源１６から照射された光は、ファイバ１５、入光口２８および波長校正フィルタ２６ａを通り、受光センサ２５へ入射する。受光センサ２５は、受光した光のスペクトルデータを取得し、校正用のスペクトルデータとして取得部１０に出力する。取得部１０は、受光センサ２５から取得した校正用のスペクトルデータを補正部１１に出力する。

次に、測定装置１は、品質測定を行う（ステップＳ６）。具体的には、まず、制御部３が、ファイバ２２を入射状態に切り替えるとともに、モータ２７を駆動させて円板２６の開口部２６ｃを入光口２８と重ねさせる。この状態において、制御部３が、ソレノイド１９を駆動させ、遮光部２０を出射位置及び遮断位置に、それぞれ所定の時間間隔で移動させることで、ハロゲン光源１６からの測定光を測定対象２に出射、または遮断させる。

次に、受光センサ２５が、遮光部２０が出射位置にある場合及び遮断位置にある場合の計測光のスペクトルデータを、前者を測定外乱光含有試料情報として、後者を測定外乱光情報として取得部１０に出力する。取得部１０は、受信した測定外乱光含有試料情報、及び測定外乱光情報を内部品質値算出部１２に出力する。

次に、補正部１１は、記憶部８及び取得部１０からリファレンス測定で取得したデータ及び波長校正測定で取得したデータを取得するとともに、内部品質値算出部１２から測定値を取得し、これらのデータに基づいて補正された測定値を算出する（ステップＳ６）。内部品質値算出部１２において算出した品質測定値をリファレンス測定及び波長校正測定の結果により補正する方法については、例えば、特許文献３に記載されている方法を用いればよい。

補正部１１が測定値の補正を行った後、制御部３は、補正後の測定値を表示部７に表示させる。次に、制御部３がソレノイド１９を作動させ、遮光部２０を遮断位置へ移動させる（ステップＳ７）。最後に、電圧制御部９が、電圧を印加する回路を第１電源回路１３から第２電源回路１４へ切り替え、ハロゲン光源１６に対して非測定時用の第２電圧を印加させる（ステップＳ８）。

なお、本実施形態では、ステップＳ２の後にステップＳ３、ステップＳ７の後にステップＳ８を行うが、これらのステップは、ステップＳ３、およびステップＳ８よりも先にそれぞれ行ってもよい。

また、本実施例では、リファレンス測定及び波長校正測定により、測定値のずれを補正したが、リファレンス測定を行い、ハロゲン光源１６の波長が安定するまで時間を取ることで、ずれを補正したとみなし、波長校正測定で得られるデータのみから品質測定で得たデータを補正してもよい。また、補正を行わない場合は、ステップＳ５及びステップＳ６を省略する。

以上のように、測定装置１は、測定対象２に対して近赤外光を含む測定光を照射する、１０Ｗ以上の出力を有するハロゲン光源１６と、測定対象２からの透過光および／または反射光を受光して測定対象２の品質を測定する測定部（具体的には、受光部５および内部品質値算出部１２）と、上記測定部が測定を行っていない時間の少なくとも一部の時間において、ハロゲン光源１６に対して、上記測定部の測定時の電圧より低い電圧を供給する電圧制御部９とを備える。

上記の構成によれば、測定を行っていない場合において測定時よりも低い電圧を供給しているため、非測定時における消費電力を低減することができる。すなわち、消費電力の大きいハロゲンランプを使用するバッテリー駆動の測定装置１の消費電力を低減することができる。

また、測定装置１は、測定時の電圧より低い電圧が供給されている待機状態から測定可能な状態にハロゲン光源１６を復帰させた後、復帰後のハロゲン光源１６から出射された光のスペクトルを取得する取得部１０と、取得部１０が取得したスペクトルを用いて、上記測定部が出力した測定値を補正する補正部１１とをさらに備える。

上記の構成によれば、復帰後のハロゲン光源１６から出射された光のスペクトルを用いて測定部が出力した測定値を補正することができるので、測定対象の品質をより精度良く測定することができる。

〔ソフトウェアによる実現例〕
測定装置１の制御ブロック（特に制御部３）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ソフトウェアによって実現してもよい。

後者の場合、測定装置１は、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するコンピュータを備えている。このコンピュータは、例えば１つ以上のプロセッサを備えていると共に、上記プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を備えている。そして、上記コンピュータにおいて、上記プロセッサが上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。上記プロセッサとしては、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いることができる。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）等の他、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などをさらに備えていてもよい。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明の一態様は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

１ 測定装置（携帯型測定装置）
２ 測定対象
５ 受光部（測定部）
９ 電圧制御部
１０ 取得部
１１ 補正部
１２ 内部品質値算出部（測定部）
１３ 第１電源回路
１４ 第２電源回路
１６ ハロゲン光源
１７ 開閉機構
１９ ソレノイド（自己保持型ソレノイド）
２０ 遮光部
３０ ばね

Claims (5)

1. 測定対象に対して近赤外光を含む測定光を照射する、１０Ｗ以上の出力を有するハロゲン光源と、
   前記測定対象からの透過光および／または反射光を受光して当該測定対象の品質を測定する測定部と、
   前記測定部が測定を行っていない時間の少なくとも一部の時間において、前記ハロゲン光源に対して、前記測定部の測定時の電圧より低い電圧を供給する電圧制御部と、
   前記測定時の電圧より低い電圧が供給されている待機状態から測定可能な状態に前記ハロゲン光源を復帰させた後、復帰後の前記ハロゲン光源から出射された光のスペクトルを取得する取得部と、
   前記取得部が取得したスペクトルを用いて、前記測定部が出力した測定値を補正する補正部と、を備えることを特徴とする携帯型測定装置。
2. 前記測定時の電圧より低い電圧は、前記測定部の測定時の電圧の５０～７０％であることを特徴とする請求項１に記載の携帯型測定装置。
3. 前記測定時の電圧を供給する第１電源回路と、
   前記測定時の電圧より低い電圧を供給する第２電源回路とを備え、
   前記電圧制御部は、前記第１電源回路と前記第２電源回路とを切り替えることにより、前記ハロゲン光源に供給する電圧を変化させることを特徴とする請求項１または２に記載の携帯型測定装置。
4. 前記ハロゲン光源から外部へ出射される前記測定光を遮断する遮光部と、
   前記測定光が外部へ出射されないようにする遮断位置と、前記測定光を外部へ出射させる出射位置との間で前記遮光部を移動させる開閉機構とをさらに備えており、
   前記開閉機構は、自己保持型ソレノイドを備えることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の携帯型測定装置。
5. 前記開閉機構は、前記自己保持型ソレノイドの働きにより一方向に移動した遮光部を、逆方向に引き戻すばねをさらに備えていることを特徴とする請求項４に記載の携帯型測定装置。

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