JP2001109889A - 画像処理装置 - Google Patents
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/40062—Discrimination between different image types, e.g. two-tone, continuous tone
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06T7/12—Edge-based segmentation
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- G—PHYSICS
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- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
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- G—PHYSICS
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- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
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- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
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- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 大容量のメモリを必要とすることなく、高精
度で、高速、簡易、安価に領域判定を行うことができる
画像処理装置を提供する。 【解決手段】 入力される画像データの注目画素の領域
判定に際し、該注目画素を含む複数の画素からなるメイ
ンマスク内に、主走査方向に２種類および副走査方向に
２種類の合計４種類のサブマスクを設け、主走査方向の
２種類のサブマスクの合計濃度の差と正規化された副走
査方向の２種類のサブマスクの合計濃度の差とを足し合
わせた値をしきい値と比較することで、エッジ領域か否
かが判定される。
度で、高速、簡易、安価に領域判定を行うことができる
画像処理装置を提供する。 【解決手段】 入力される画像データの注目画素の領域
判定に際し、該注目画素を含む複数の画素からなるメイ
ンマスク内に、主走査方向に２種類および副走査方向に
２種類の合計４種類のサブマスクを設け、主走査方向の
２種類のサブマスクの合計濃度の差と正規化された副走
査方向の２種類のサブマスクの合計濃度の差とを足し合
わせた値をしきい値と比較することで、エッジ領域か否
かが判定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、スキャ
ナ、デジタル複写機、あるいはファクシミリ等におい
て、入力される画像データに対して注目画素の領域判定
（領域分離）を行い、各領域に応じた画像処理を行う画
像処理装置に関する。
ナ、デジタル複写機、あるいはファクシミリ等におい
て、入力される画像データに対して注目画素の領域判定
（領域分離）を行い、各領域に応じた画像処理を行う画
像処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の画像処理装置では、例えば、特開
平８−１２５８５７号公報に開示されるように、第１お
よび第２の特徴パラメータを求め、これらを神経回路網
を用いた判定回路に入力して注目画素の領域判定（領域
分離）を行っていた。ここで、神経回路網とは予め学習
されたものであり、非線型なものである。また、非線型
ということは、第１および第２の特徴パラメータの入力
をそれぞれ縦軸および横軸において座標変換し、その座
標上に分離状態を表すものが存在するというものであ
る。
平８−１２５８５７号公報に開示されるように、第１お
よび第２の特徴パラメータを求め、これらを神経回路網
を用いた判定回路に入力して注目画素の領域判定（領域
分離）を行っていた。ここで、神経回路網とは予め学習
されたものであり、非線型なものである。また、非線型
ということは、第１および第２の特徴パラメータの入力
をそれぞれ縦軸および横軸において座標変換し、その座
標上に分離状態を表すものが存在するというものであ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のような非線型分
離方式により領域分離を行う場合、かなり大きな座標を
記憶することが必要になる。この座標は、一般に、ルッ
クアップテーブルと呼ばれ、入力軸に応じて出力を変換
する働きのものを採用する。したがって、このようなル
ックアップテーブルは、データを記憶するためのメモリ
を使う。さらに、上記従来の構成では、かなり大きい容
量のメモリが必要になっていた。
離方式により領域分離を行う場合、かなり大きな座標を
記憶することが必要になる。この座標は、一般に、ルッ
クアップテーブルと呼ばれ、入力軸に応じて出力を変換
する働きのものを採用する。したがって、このようなル
ックアップテーブルは、データを記憶するためのメモリ
を使う。さらに、上記従来の構成では、かなり大きい容
量のメモリが必要になっていた。
【０００４】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、大容量のメモリを必要とする
ことなく、高精度で、高速、簡易、安価に領域判定を行
うことができる画像処理装置を提供することにある。
ものであり、その目的は、大容量のメモリを必要とする
ことなく、高精度で、高速、簡易、安価に領域判定を行
うことができる画像処理装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る画像処理装
置は、上記の課題を解決するために、入力される画像デ
ータの注目画素の領域判定に際し、該注目画素を含む複
数の画素からなるメイン画素グループ内に設けられる少
なくとも四種類のサブ画素グループのそれぞれについて
合計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領域判定を
行うことを特徴としている。
置は、上記の課題を解決するために、入力される画像デ
ータの注目画素の領域判定に際し、該注目画素を含む複
数の画素からなるメイン画素グループ内に設けられる少
なくとも四種類のサブ画素グループのそれぞれについて
合計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領域判定を
行うことを特徴としている。
【０００６】上記の構成によれば、四種類のサブ画素グ
ループの合計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領
域判定を行うので、領域判定のために大容量のメモリを
必要としない。また、合計濃度の算出は、加算のみの処
理であるため、高精度で、高速、簡易、安価に領域判定
を行う画像処理装置を提供できる。
ループの合計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領
域判定を行うので、領域判定のために大容量のメモリを
必要としない。また、合計濃度の算出は、加算のみの処
理であるため、高精度で、高速、簡易、安価に領域判定
を行う画像処理装置を提供できる。
【０００７】前記領域判定において、前記注目画素がエ
ッジ領域か否かが判定されることは好ましく、これによ
って、四種類のサブ画素グループの合計濃度に基づきエ
ッジ領域と非エッジ領域との二種類の領域に分離でき
る。なお、エッジ領域とは、濃度の濃淡差が大きい領域
を意味し、文字領域が含まれる。
ッジ領域か否かが判定されることは好ましく、これによ
って、四種類のサブ画素グループの合計濃度に基づきエ
ッジ領域と非エッジ領域との二種類の領域に分離でき
る。なお、エッジ領域とは、濃度の濃淡差が大きい領域
を意味し、文字領域が含まれる。
【０００８】また、前記サブ画素グループの大きさが相
互に異なる場合に、係数によって正規化されることは好
ましく、これによって、サブ画素グループの大きさが相
互に異なる場合でも高精度な領域分離を実現できる。さ
らに、これによって、副走査方向のライン数を小さく設
計することが可能になる。副走査方向の大きさはライン
メモリのライン数に影響するため、このように副走査方
向のライン数を小さく設計することで、安価な画像処理
装置を提供できる。
互に異なる場合に、係数によって正規化されることは好
ましく、これによって、サブ画素グループの大きさが相
互に異なる場合でも高精度な領域分離を実現できる。さ
らに、これによって、副走査方向のライン数を小さく設
計することが可能になる。副走査方向の大きさはライン
メモリのライン数に影響するため、このように副走査方
向のライン数を小さく設計することで、安価な画像処理
装置を提供できる。
【０００９】また、前記サブ画素グループは、前記メイ
ン画素グループの端部またはその近傍に設けられること
は好ましく、例えば、四種類のサブ画素グループを、そ
れぞれメイン画素グループの上・下・左・右の端部また
はその近傍に設けることで、メイン画素グループの大き
さに対し大きい面積の情報を収集でき、領域分離精度を
向上できる。
ン画素グループの端部またはその近傍に設けられること
は好ましく、例えば、四種類のサブ画素グループを、そ
れぞれメイン画素グループの上・下・左・右の端部また
はその近傍に設けることで、メイン画素グループの大き
さに対し大きい面積の情報を収集でき、領域分離精度を
向上できる。
【００１０】また、前記四種類のサブ画素グループの合
計濃度が二組に分類され、各組の合計濃度の差を足し合
わせた値Ｓを算出し、その値Ｓに基づき領域判定を行う
ことは好ましく、これによって、合計濃度を算出する加
算器、各組の合計濃度の差を算出する減算器、および比
較器により領域判定できるため、高精度で、高速、簡
易、安価に領域判定を行う画像処理装置を提供できる。
計濃度が二組に分類され、各組の合計濃度の差を足し合
わせた値Ｓを算出し、その値Ｓに基づき領域判定を行う
ことは好ましく、これによって、合計濃度を算出する加
算器、各組の合計濃度の差を算出する減算器、および比
較器により領域判定できるため、高精度で、高速、簡
易、安価に領域判定を行う画像処理装置を提供できる。
【００１１】また、前記メイン画素グループ内の主走査
方向の互いに隣接または一定間隔で配置される画素の濃
度差の合計である繁雑度と、副走査方向の互いに隣接ま
たは一定間隔で配置される画素の濃度差の合計である繁
雑度とをそれぞれ算出し、該算出結果に基づき更に領域
判定を行うことは好ましく、これによって、さらに領域
分離精度を向上できる。
方向の互いに隣接または一定間隔で配置される画素の濃
度差の合計である繁雑度と、副走査方向の互いに隣接ま
たは一定間隔で配置される画素の濃度差の合計である繁
雑度とをそれぞれ算出し、該算出結果に基づき更に領域
判定を行うことは好ましく、これによって、さらに領域
分離精度を向上できる。
【００１２】また、前記の値Ｓに基づきエッジ領域か否
かが判定された後、非エッジ領域と判定されたものに対
して主走査方向の前記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度
との差を算出し、該算出結果に基づき再度エッジ領域か
否かが判定されることは好ましく、これによって、前記
の値Ｓによっては検出できなかったエッジ領域をさらに
検出することも可能になる。
かが判定された後、非エッジ領域と判定されたものに対
して主走査方向の前記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度
との差を算出し、該算出結果に基づき再度エッジ領域か
否かが判定されることは好ましく、これによって、前記
の値Ｓによっては検出できなかったエッジ領域をさらに
検出することも可能になる。
【００１３】また、エッジ領域か否かが判定された後、
非エッジ領域と判定されたものに対して主走査方向の前
記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度との合計を算出し、
該算出結果に基づき網点領域か非エッジ領域かが判定さ
れることは好ましく、これによって、エッジ領域、非エ
ッジ領域、および網点領域の３領域に分離できる。
非エッジ領域と判定されたものに対して主走査方向の前
記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度との合計を算出し、
該算出結果に基づき網点領域か非エッジ領域かが判定さ
れることは好ましく、これによって、エッジ領域、非エ
ッジ領域、および網点領域の３領域に分離できる。
【００１４】また、主走査方向の前記繁雑度は、互いに
一画素おきに配置される画素の濃度差の合計である一
方、副走査方向の前記繁雑度は、互いに隣接する画素の
濃度差の合計であることは好ましく、これによって、入
力解像度や前記メイン画素グループの大きさ（マスクサ
イズ）に適した繁雑度の算出が可能になる。
一画素おきに配置される画素の濃度差の合計である一
方、副走査方向の前記繁雑度は、互いに隣接する画素の
濃度差の合計であることは好ましく、これによって、入
力解像度や前記メイン画素グループの大きさ（マスクサ
イズ）に適した繁雑度の算出が可能になる。
【００１５】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度または合計濃度を算出し、該算出結果に基づきエッジ
領域か否かを判定する処理を含むことは好ましく、これ
によって、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止
でき、特に中間調画像における高濃度の画像部分でフィ
ルタ処理を行ったときに境界線のような不具合な画像の
発生を防止できる。また、メイン画素グループ内の合計
濃度に基づき判定を行うことで、除算回路を設けなくて
もエッジ領域か否かを判定できる。
度または合計濃度を算出し、該算出結果に基づきエッジ
領域か否かを判定する処理を含むことは好ましく、これ
によって、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止
でき、特に中間調画像における高濃度の画像部分でフィ
ルタ処理を行ったときに境界線のような不具合な画像の
発生を防止できる。また、メイン画素グループ内の合計
濃度に基づき判定を行うことで、除算回路を設けなくて
もエッジ領域か否かを判定できる。
【００１６】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度を算出する場合に、合計濃度を画素数で除するのでは
なく、画素数に最も近い２の累乗で除することは好まし
く、これによって、ハード化する際、除算はビットシフ
トで可能になるため、除算回路を設けなくても平均濃度
に近い値を算出できる。
度を算出する場合に、合計濃度を画素数で除するのでは
なく、画素数に最も近い２の累乗で除することは好まし
く、これによって、ハード化する際、除算はビットシフ
トで可能になるため、除算回路を設けなくても平均濃度
に近い値を算出できる。
【００１７】また、前記サブ画素グループの合計濃度に
基づきエッジ領域か否かを判定する際に、エッジ領域と
の判定が予め定める回数続いた場合または予め定める頻
度で発生した場合に、エッジ領域か否かを判定するため
のしきい値を変化させることは好ましく、これによっ
て、エッジ領域の判定精度をさらに向上できる。
基づきエッジ領域か否かを判定する際に、エッジ領域と
の判定が予め定める回数続いた場合または予め定める頻
度で発生した場合に、エッジ領域か否かを判定するため
のしきい値を変化させることは好ましく、これによっ
て、エッジ領域の判定精度をさらに向上できる。
【００１８】また、領域判定に際し、予め定める順番で
複数の判定処理を行うことは好ましく、例えば、領域判
定において優先順位を設け、その順位により領域が決定
されるようにすることによって、複雑なルックアップテ
ーブルや回路を要せず、しきい値との判定だけで領域分
離を行うことができる。
複数の判定処理を行うことは好ましく、例えば、領域判
定において優先順位を設け、その順位により領域が決定
されるようにすることによって、複雑なルックアップテ
ーブルや回路を要せず、しきい値との判定だけで領域分
離を行うことができる。
【００１９】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度または合計濃度の算出結果に基づく判定、前記の値Ｓ
に基づく判定、前記主走査方向および副走査方向の繁雑
度の差に基づく判定、次いで前記主走査方向および副走
査方向の繁雑度の合計に基づく判定の順番で判定処理を
行うことは好ましく、これによって、良好な領域分離結
果を得ることができる。
度または合計濃度の算出結果に基づく判定、前記の値Ｓ
に基づく判定、前記主走査方向および副走査方向の繁雑
度の差に基づく判定、次いで前記主走査方向および副走
査方向の繁雑度の合計に基づく判定の順番で判定処理を
行うことは好ましく、これによって、良好な領域分離結
果を得ることができる。
【００２０】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じてフィルタ処理の係数を変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
た領域に応じてフィルタ処理の係数を変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
【００２１】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じてガンマ補正テーブルを変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
た領域に応じてガンマ補正テーブルを変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
【００２２】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じて誤差拡散パラメータを変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
た領域に応じて誤差拡散パラメータを変更することは好
ましく、これによって高画質の画像処理装置を提供でき
る。
【００２３】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
１〜図１４に基づいて説明すれば、以下の通りである。
１〜図１４に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００２４】本実施形態の画像処理装置は、図１に示す
ように、入力濃度変換部２、領域分離部３、フィルタ処
理部４、変倍処理部５、ガンマ補正部６、および誤差拡
散処理部７を備えて構成されている。
ように、入力濃度変換部２、領域分離部３、フィルタ処
理部４、変倍処理部５、ガンマ補正部６、および誤差拡
散処理部７を備えて構成されている。
【００２５】本画像処理装置の画像処理では、まず、Ｃ
ＣＤ(Charge Coupled Device) 部１から入力濃度変換部
２に画像データが入力される。入力濃度変換部２では、
入力された画像データが濃度データに変換され、濃度デ
ータに変換された画像データは、領域分離部３に送出さ
れる。
ＣＤ(Charge Coupled Device) 部１から入力濃度変換部
２に画像データが入力される。入力濃度変換部２では、
入力された画像データが濃度データに変換され、濃度デ
ータに変換された画像データは、領域分離部３に送出さ
れる。
【００２６】領域分離部３では、後述のように、入力さ
れた画像データに対して、サブマスクの合計濃度や繁雑
度などの各種の領域分離パラメータを算出し、その算出
結果に応じて画像データ内の注目画素の領域を決定す
る。決定された領域は、領域データとして、フィルタ処
理部４、ガンマ補正部６、および誤差拡散処理部７へそ
れぞれ送出される。
れた画像データに対して、サブマスクの合計濃度や繁雑
度などの各種の領域分離パラメータを算出し、その算出
結果に応じて画像データ内の注目画素の領域を決定す
る。決定された領域は、領域データとして、フィルタ処
理部４、ガンマ補正部６、および誤差拡散処理部７へそ
れぞれ送出される。
【００２７】領域分離部３からの画像データは、そのま
まフィルタ処理部４へ送出される。フィルタ処理部４で
は、後述のように、画像データの各領域に対し予め設定
されたフィルタ係数でフィルタ処理が行われ、フィルタ
処理が施された画像データは、変倍処理部５へ送出され
る。
まフィルタ処理部４へ送出される。フィルタ処理部４で
は、後述のように、画像データの各領域に対し予め設定
されたフィルタ係数でフィルタ処理が行われ、フィルタ
処理が施された画像データは、変倍処理部５へ送出され
る。
【００２８】変倍処理部５では、予め設定された変倍率
に応じて変倍処理が行われる。変倍処理が行われた画像
データは、ガンマ補正部６へ送出される。ガンマ補正部
６では、後述のように、画像データの各領域に対し予め
用意されたガンマ補正テーブルにてガンマ変換処理が行
われる。ガンマ変換が行われた画像データは、誤差拡散
処理部７へ送出される。
に応じて変倍処理が行われる。変倍処理が行われた画像
データは、ガンマ補正部６へ送出される。ガンマ補正部
６では、後述のように、画像データの各領域に対し予め
用意されたガンマ補正テーブルにてガンマ変換処理が行
われる。ガンマ変換が行われた画像データは、誤差拡散
処理部７へ送出される。
【００２９】誤差拡散処理部７では、後述のように、画
像データの各領域に対し予め設定された誤差拡散パラメ
ータで誤差拡散処理が行われる。誤差拡散処理部７で処
理が行われた画像データは、外部装置８へ送出される。
外部装置８としては、例えば、記憶装置、プリンタ、パ
ソコンなどが挙げられる。
像データの各領域に対し予め設定された誤差拡散パラメ
ータで誤差拡散処理が行われる。誤差拡散処理部７で処
理が行われた画像データは、外部装置８へ送出される。
外部装置８としては、例えば、記憶装置、プリンタ、パ
ソコンなどが挙げられる。
【００３０】次に、上記領域分離部３で行われる領域分
離処理について説明する。図２では、領域分離処理に用
いられるメインマスクとサブマスク（「サブマトリク
ス」ともいう。）との関係が示される。ここで、メイン
画素グループとしてのメインマスクは、ｉ０〜ｉ２７で
ある。また、メインマスクの注目画素は、ｉ１０とす
る。一方、サブ画素グループとしてのサブマスクには、
以下の４種類のサブマスクが用意される。
離処理について説明する。図２では、領域分離処理に用
いられるメインマスクとサブマスク（「サブマトリク
ス」ともいう。）との関係が示される。ここで、メイン
画素グループとしてのメインマスクは、ｉ０〜ｉ２７で
ある。また、メインマスクの注目画素は、ｉ１０とす
る。一方、サブ画素グループとしてのサブマスクには、
以下の４種類のサブマスクが用意される。
【００３１】主走査方向のサブマスクとして、二つのサ
ブマスクが用意される。主走査方向の第１のサブマスク
を、ｉ０、ｉ１、ｉ２、ｉ３、ｉ４、ｉ５、ｉ６とし、
主走査方向の第２のサブマスクを、ｉ２１、ｉ２２、ｉ
２３、ｉ２４、ｉ２５、ｉ２６、ｉ２７とする。これら
主走査方向の第１および第２のサブマスクを一組とす
る。
ブマスクが用意される。主走査方向の第１のサブマスク
を、ｉ０、ｉ１、ｉ２、ｉ３、ｉ４、ｉ５、ｉ６とし、
主走査方向の第２のサブマスクを、ｉ２１、ｉ２２、ｉ
２３、ｉ２４、ｉ２５、ｉ２６、ｉ２７とする。これら
主走査方向の第１および第２のサブマスクを一組とす
る。
【００３２】さらに、副走査方向のサブマスクとして、
二つのサブマスクが用意される。副走査方向の第１のサ
ブマスクを、ｉ０、ｉ７、ｉ１４、ｉ２１とし、副走査
方向の第２のサブマスクを、ｉ６、ｉ１３、ｉ２０、ｉ
２７とする。これら副走査方向の第１および第２のサブ
マスクを別の一組とする。
二つのサブマスクが用意される。副走査方向の第１のサ
ブマスクを、ｉ０、ｉ７、ｉ１４、ｉ２１とし、副走査
方向の第２のサブマスクを、ｉ６、ｉ１３、ｉ２０、ｉ
２７とする。これら副走査方向の第１および第２のサブ
マスクを別の一組とする。
【００３３】下記の表１には、これら主走査方向の第１
および第２のサブマスク、並びに副走査方向の第１およ
び第２のサブマスクと、これら各サブマスクの呼び名と
が示される。
および第２のサブマスク、並びに副走査方向の第１およ
び第２のサブマスクと、これら各サブマスクの呼び名と
が示される。
【００３４】
【表１】
【００３５】領域分離部３の領域分離処理では、上記の
ように、メインマスクとサブマスクとが設定され、各サ
ブマスクの合計濃度が算出される。
ように、メインマスクとサブマスクとが設定され、各サ
ブマスクの合計濃度が算出される。
【００３６】まず、サブマスクmask-m1 の合計濃度を、
合計濃度sum-m1とすると、 sum-m1＝ｉ０＋ｉ１＋ｉ２＋ｉ３＋ｉ４＋ｉ５＋ｉ６ である。同様に、サブマスクmask-m2 の合計濃度を、合
計濃度sum-m2とすると、 sum-m2＝ｉ21＋ｉ22＋ｉ23＋ｉ24＋ｉ25＋ｉ26＋ｉ27 である。
合計濃度sum-m1とすると、 sum-m1＝ｉ０＋ｉ１＋ｉ２＋ｉ３＋ｉ４＋ｉ５＋ｉ６ である。同様に、サブマスクmask-m2 の合計濃度を、合
計濃度sum-m2とすると、 sum-m2＝ｉ21＋ｉ22＋ｉ23＋ｉ24＋ｉ25＋ｉ26＋ｉ27 である。
【００３７】さらに、副走査方向のサブマスクについて
も同様に合計濃度が算出される。サブマスクmask-s1 の
合計濃度を、合計濃度sum-s1とすると、 sum-s1＝ｉ０＋ｉ７＋ｉ14＋ｉ21 である。同様に、サブマスクmask-s2 の合計濃度を、合
計濃度sum-s2とすると、 sum-s2＝ｉ６＋ｉ13＋ｉ20＋ｉ27 である。
も同様に合計濃度が算出される。サブマスクmask-s1 の
合計濃度を、合計濃度sum-s1とすると、 sum-s1＝ｉ０＋ｉ７＋ｉ14＋ｉ21 である。同様に、サブマスクmask-s2 の合計濃度を、合
計濃度sum-s2とすると、 sum-s2＝ｉ６＋ｉ13＋ｉ20＋ｉ27 である。
【００３８】上記の各計算式で、各サブマスク合計４種
類、２組の合計濃度が算出されると、次に、下記の式
で、各組の合計濃度差の和Ｓ、つまり、主走査方向の二
つのサブマスクの合計濃度差と副走査方向の二つのサブ
マスクの合計濃度差との和が算出される。
類、２組の合計濃度が算出されると、次に、下記の式
で、各組の合計濃度差の和Ｓ、つまり、主走査方向の二
つのサブマスクの合計濃度差と副走査方向の二つのサブ
マスクの合計濃度差との和が算出される。
【００３９】 Ｓ＝｜sum-m1−sum-m2｜＋（｜sum-s1−sum-s2｜）＊α …（１） なお、上記式（１）中のαは、主走査方向のサブマスク
と副走査方向のサブマスクとの大きさ（画素数）が異な
るため、その正規化を行う係数である。この場合は、７
／４と設定される。
と副走査方向のサブマスクとの大きさ（画素数）が異な
るため、その正規化を行う係数である。この場合は、７
／４と設定される。
【００４０】上記のようにして求められた合計濃度差の
和Ｓは、予め設定されたしきい値と比較され、しきい値
よりも大きい場合はエッジ領域、そうでない場合は非エ
ッジ領域と判定される。下記の表２では、しきい値を
「１５０」に設定して、実際に本領域分離処理で領域を
判定した結果が示される。
和Ｓは、予め設定されたしきい値と比較され、しきい値
よりも大きい場合はエッジ領域、そうでない場合は非エ
ッジ領域と判定される。下記の表２では、しきい値を
「１５０」に設定して、実際に本領域分離処理で領域を
判定した結果が示される。
【００４１】
【表２】
【００４２】上記のように、単純に合計濃度差の和Ｓを
算出することで、写真連続階調部と、１０ポイント文字
部との領域分離が可能になる。なお、しきい値の範囲
は、特に限定されるものではない。
算出することで、写真連続階調部と、１０ポイント文字
部との領域分離が可能になる。なお、しきい値の範囲
は、特に限定されるものではない。
【００４３】また、本領域分離処理では、副走査方向の
大きさ（画素数）が比較的小さいため、ラインメモリの
節約が可能になっている。さらに、本領域分離処理で
は、メインマスクに対するサブマスクの位置は、左右端
と上下端とに配置されている。サブマスクの位置は、メ
インマスクの大きさ、検出する画像、さらに入力解像度
に応じて、適宜変更すればよい。
大きさ（画素数）が比較的小さいため、ラインメモリの
節約が可能になっている。さらに、本領域分離処理で
は、メインマスクに対するサブマスクの位置は、左右端
と上下端とに配置されている。サブマスクの位置は、メ
インマスクの大きさ、検出する画像、さらに入力解像度
に応じて、適宜変更すればよい。
【００４４】なお、本領域分離処理では、サブマスクの
形状（大きさ）が主走査方向と副走査方向とで異なるた
め、正規化係数を乗算しているが、形状が同じであれ
ば、正規化係数の乗算は必要ない。
形状（大きさ）が主走査方向と副走査方向とで異なるた
め、正規化係数を乗算しているが、形状が同じであれ
ば、正規化係数の乗算は必要ない。
【００４５】次に、本領域分離処理において、さらに繁
雑度を用いた処理例について説明する。
雑度を用いた処理例について説明する。
【００４６】上記したサブマスク各組の合計濃度差の和
Ｓとともに、メインマスク内の主走査方向の隣接する画
素の濃度差の合計と、副走査方向の隣接する画素の濃度
差の合計とを求める。ここでは、これらそれぞれの濃度
差の合計を繁雑度と呼ぶ。ただし、本領域分離処理で
は、主走査方向は、隣接する画素の濃度差の合計ではな
く、ひとつ飛ばしの画素同士の濃度差の合計とされてお
り、繁雑度は、このような互いに所定間隔で配置される
画素の濃度差の合計をも含む意味である。
Ｓとともに、メインマスク内の主走査方向の隣接する画
素の濃度差の合計と、副走査方向の隣接する画素の濃度
差の合計とを求める。ここでは、これらそれぞれの濃度
差の合計を繁雑度と呼ぶ。ただし、本領域分離処理で
は、主走査方向は、隣接する画素の濃度差の合計ではな
く、ひとつ飛ばしの画素同士の濃度差の合計とされてお
り、繁雑度は、このような互いに所定間隔で配置される
画素の濃度差の合計をも含む意味である。
【００４７】まず、図３および図４に基づき、メインマ
スクに対する繁雑度の算出方法について説明する。主走
査方向の繁雑度の算出については、図３に示すように、
各矢印の先端部の画素と後端部の画素との濃度差を算出
し、矢印の数すべてにおけるこれら濃度差を合計する。
したがって、主走査方向では、合計で２０か所の濃度差
の合計が算出される。なお、矢印の先端部の画素と後端
部の画素との濃度差は、絶対値とする。
スクに対する繁雑度の算出方法について説明する。主走
査方向の繁雑度の算出については、図３に示すように、
各矢印の先端部の画素と後端部の画素との濃度差を算出
し、矢印の数すべてにおけるこれら濃度差を合計する。
したがって、主走査方向では、合計で２０か所の濃度差
の合計が算出される。なお、矢印の先端部の画素と後端
部の画素との濃度差は、絶対値とする。
【００４８】副走査方向の繁雑度の算出については、図
４に示すように、各矢印の先端部の画素と後端部の画素
との濃度差を算出し、矢印の数すべてにおけるこれら濃
度差を合計する。したがって、副走査方向では、合計で
２１か所の濃度差の合計が算出される。なお、矢印の先
端部の画素と後端部の画素との濃度差は、絶対値とす
る。
４に示すように、各矢印の先端部の画素と後端部の画素
との濃度差を算出し、矢印の数すべてにおけるこれら濃
度差を合計する。したがって、副走査方向では、合計で
２１か所の濃度差の合計が算出される。なお、矢印の先
端部の画素と後端部の画素との濃度差は、絶対値とす
る。
【００４９】上記のように、本領域分離処理では、ひと
つ飛ばしの画素同士の濃度差を合計して主走査方向の繁
雑度を算出する一方、隣接する画素の濃度差を合計して
副走査方向の繁雑度を算出している。
つ飛ばしの画素同士の濃度差を合計して主走査方向の繁
雑度を算出する一方、隣接する画素の濃度差を合計して
副走査方向の繁雑度を算出している。
【００５０】ここで、主走査方向に算出された繁雑度
を、繁雑度busy-mとし、副走査方向に算出された繁雑度
を、繁雑度busy-sとすると、これら繁雑度の差分値busy
-gapは、 busy-gap＝｜busy-m−busy-s｜ となる。
を、繁雑度busy-mとし、副走査方向に算出された繁雑度
を、繁雑度busy-sとすると、これら繁雑度の差分値busy
-gapは、 busy-gap＝｜busy-m−busy-s｜ となる。
【００５１】そして、上記合計濃度差の和Ｓによって検
出された非エッジ領域に対し、上記繁雑度の合計の差分
値busy-gapが予め定めるしきい値（下記の例では、「１
２０」）より大きい場合はエッジ領域と、そうでない場
合はそのまま非エッジ領域と判定される。これにより、
上記合計濃度差の和Ｓで検出されにくい部分において、
さらに差分値busy-gapにてエッジ領域を抽出することが
できる。
出された非エッジ領域に対し、上記繁雑度の合計の差分
値busy-gapが予め定めるしきい値（下記の例では、「１
２０」）より大きい場合はエッジ領域と、そうでない場
合はそのまま非エッジ領域と判定される。これにより、
上記合計濃度差の和Ｓで検出されにくい部分において、
さらに差分値busy-gapにてエッジ領域を抽出することが
できる。
【００５２】次に、上記した主走査方向の繁雑度と副走
査方向の繁雑度との合計を、合計値busy-sumとすると、 busy-sum＝busy-m＋busy-s となる。
査方向の繁雑度との合計を、合計値busy-sumとすると、 busy-sum＝busy-m＋busy-s となる。
【００５３】上記合計濃度差の和Ｓ、さらに繁雑度の差
分値busy-gapによって検出された非エッジ領域に対し、
繁雑度の合計値busy-sumが予め定めるしきい値（下記の
例では、「１８０」）よりも大きい場合は網点領域に、
そうでない場合はそのまま非エッジ領域と判定される。
下記の表３では、実際に本領域分離処理で領域判定した
場合の網点領域の各特徴量およびその判定結果が示され
る。なお、各しきい値の範囲は、特に限定されるもので
はない。
分値busy-gapによって検出された非エッジ領域に対し、
繁雑度の合計値busy-sumが予め定めるしきい値（下記の
例では、「１８０」）よりも大きい場合は網点領域に、
そうでない場合はそのまま非エッジ領域と判定される。
下記の表３では、実際に本領域分離処理で領域判定した
場合の網点領域の各特徴量およびその判定結果が示され
る。なお、各しきい値の範囲は、特に限定されるもので
はない。
【００５４】
【表３】
【００５５】表３の「白黒１７５線３０％濃度」とは、
印刷物の解像度が１７５線で白黒比が３０％であること
を表している。上記のように、この網点領域は、合計濃
度差の和Ｓによる判定、および繁雑度の差分値busy-gap
による判定では非エッジ領域と判定されるが、繁雑度の
合計値busy-sumの特徴量の算出結果によって、網点領域
として判定することが可能になる。
印刷物の解像度が１７５線で白黒比が３０％であること
を表している。上記のように、この網点領域は、合計濃
度差の和Ｓによる判定、および繁雑度の差分値busy-gap
による判定では非エッジ領域と判定されるが、繁雑度の
合計値busy-sumの特徴量の算出結果によって、網点領域
として判定することが可能になる。
【００５６】次に、本領域分離処理において、さらにメ
インマスク内の平均濃度または合計濃度を用いた処理例
について説明する。図２に示されるメインマスク内の完
全平均濃度、簡易平均濃度、および合計濃度は、以下の
ように算出できる。
インマスク内の平均濃度または合計濃度を用いた処理例
について説明する。図２に示されるメインマスク内の完
全平均濃度、簡易平均濃度、および合計濃度は、以下の
ように算出できる。
【００５７】 完全平均濃度＝（ｉ０〜ｉ２７の合計）／２８ 簡易平均濃度＝（ｉ０〜ｉ２７の合計）／３２ ※ ３２は、２5 （５bit シフト） 合計濃度＝（ｉ０〜ｉ２７の合計） 本領域分離処理では、これら完全平均濃度、簡易平均濃
度、および合計濃度のいずれを用いてもよいが、それぞ
れ次のような特徴がある。
度、および合計濃度のいずれを用いてもよいが、それぞ
れ次のような特徴がある。
【００５８】完全平均濃度は、メインマスク内の平均濃
度を誤差なく算出するものであるが、除算の係数は「２
８」であるため簡易平均濃度に比べると高速にはでき
ず、さらに除算回路が必要になってしまう。
度を誤差なく算出するものであるが、除算の係数は「２
８」であるため簡易平均濃度に比べると高速にはでき
ず、さらに除算回路が必要になってしまう。
【００５９】簡易平均濃度は、完全平均濃度に対し「２
８／３２」の誤差が発生するが、画像濃度を８bit ２５
６階調とした場合、合計濃度算出で最大１３bit になっ
た値は５bit シフトしてやればよいので、最終８bit の
比較器で領域判定が可能になる。
８／３２」の誤差が発生するが、画像濃度を８bit ２５
６階調とした場合、合計濃度算出で最大１３bit になっ
た値は５bit シフトしてやればよいので、最終８bit の
比較器で領域判定が可能になる。
【００６０】合計濃度は、もっとも簡易であるが、画像
濃度を８bit ２５６階調とした場合、最大１３bit の比
較器が必要になる。
濃度を８bit ２５６階調とした場合、最大１３bit の比
較器が必要になる。
【００６１】本領域分離処理では、これら完全平均濃
度、簡易平均濃度、および合計濃度のいずれかを用いた
領域判定は、上述した合計濃度差の和Ｓ、繁雑度の差分
値busy-gap、および繁雑度の合計値busy-sumの各特徴量
算出の前に行う。また、これら完全平均濃度、簡易平均
濃度、および合計濃度のいずれかを用いた領域判定で
は、算出された濃度値が予め設定されているしきい値と
比較され、濃度値がしきい値以上の値の場合は非エッジ
領域と判定される。さらに、ここで決定された非エッジ
領域は、以後の領域判定によっても不変とする。これに
よって、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止で
きる。
度、簡易平均濃度、および合計濃度のいずれかを用いた
領域判定は、上述した合計濃度差の和Ｓ、繁雑度の差分
値busy-gap、および繁雑度の合計値busy-sumの各特徴量
算出の前に行う。また、これら完全平均濃度、簡易平均
濃度、および合計濃度のいずれかを用いた領域判定で
は、算出された濃度値が予め設定されているしきい値と
比較され、濃度値がしきい値以上の値の場合は非エッジ
領域と判定される。さらに、ここで決定された非エッジ
領域は、以後の領域判定によっても不変とする。これに
よって、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止で
きる。
【００６２】仮に高濃度部がエッジ領域と判定される
と、後述するその後のフィルタ処理において、高濃度部
および中間調領域で輪郭のようなエラーが発生する。こ
の不具合を防止するため、上記のように、まず完全平均
濃度、簡易平均濃度、および合計濃度のいずれかを用い
た領域判定を行い、高濃度部でのエッジ領域の出現を防
止する。
と、後述するその後のフィルタ処理において、高濃度部
および中間調領域で輪郭のようなエラーが発生する。こ
の不具合を防止するため、上記のように、まず完全平均
濃度、簡易平均濃度、および合計濃度のいずれかを用い
た領域判定を行い、高濃度部でのエッジ領域の出現を防
止する。
【００６３】次に、図５を参照して、本領域分離処理に
おいて、さらに上述した合計濃度差の和Ｓによるエッジ
判定結果に応じ、エッジ判定のしきい値の値を変更する
処理例について説明する。
おいて、さらに上述した合計濃度差の和Ｓによるエッジ
判定結果に応じ、エッジ判定のしきい値の値を変更する
処理例について説明する。
【００６４】図５に示される本領域分離処理では、ま
ず、メインマスク内の簡易平均濃度が算出され（ステッ
プＳ１）、しきい値ａｖｅと比較される（ステップＳ
２）。簡易平均濃度がしきい値ａｖｅ以上の場合は、写
真領域（非エッジ領域）と判定され、この判定結果は以
後の領域判定によっても不変である（ステップＳ３）。
ず、メインマスク内の簡易平均濃度が算出され（ステッ
プＳ１）、しきい値ａｖｅと比較される（ステップＳ
２）。簡易平均濃度がしきい値ａｖｅ以上の場合は、写
真領域（非エッジ領域）と判定され、この判定結果は以
後の領域判定によっても不変である（ステップＳ３）。
【００６５】簡易平均濃度がしきい値ａｖｅより小さい
場合は、上述したサブマスク（サブマトリクス）の合計
濃度差の和Ｓが算出され（ステップＳ４）、しきい値de
lta（delta ＝１５０）と比較される（ステップＳ
５）。合計濃度差の和Ｓがしきい値delta より大きい場
合は、文字領域（エッジ領域）と判定され、この判定結
果は以後の領域判定によっても不変である（ステップＳ
６）。また、ステップＳ６で文字領域と判定されると、
フィードバックカウントが「１」アップする。このフィ
ードバックカウントは、ステップＳ５で合計濃度差の和
Ｓがしきい値delta以下の場合に、しきい値ｆｂ１と比
較される（ステップＳ７）。しきい値ｆｂ１は、予め定
める履歴状態のなかで文字領域の発生頻度が高いか否か
を決定するためのしきい値であり、本領域分離処理で
は、予め定める履歴状態を前歴８画素、しきい値ｆｂ１
を「２」に設定している。
場合は、上述したサブマスク（サブマトリクス）の合計
濃度差の和Ｓが算出され（ステップＳ４）、しきい値de
lta（delta ＝１５０）と比較される（ステップＳ
５）。合計濃度差の和Ｓがしきい値delta より大きい場
合は、文字領域（エッジ領域）と判定され、この判定結
果は以後の領域判定によっても不変である（ステップＳ
６）。また、ステップＳ６で文字領域と判定されると、
フィードバックカウントが「１」アップする。このフィ
ードバックカウントは、ステップＳ５で合計濃度差の和
Ｓがしきい値delta以下の場合に、しきい値ｆｂ１と比
較される（ステップＳ７）。しきい値ｆｂ１は、予め定
める履歴状態のなかで文字領域の発生頻度が高いか否か
を決定するためのしきい値であり、本領域分離処理で
は、予め定める履歴状態を前歴８画素、しきい値ｆｂ１
を「２」に設定している。
【００６６】したがって、前歴８画素に対し、合計濃度
差の和Ｓによるエッジ判定結果が３画素以上あった場合
（即ち、フィードバックカウントがしきい値ｆｂ１より
大きい場合）に、前記エッジ判定しきい値delta の値を
予め定める量ｆｂ２（ｆｂ２＝８０）分だけ引下げ、こ
の引下げられたしきい値delta −ｆｂ２と、合計濃度差
の和Ｓとが比較される（ステップＳ８）。そして、合計
濃度差の和Ｓがしきい値delta −ｆｂ２より大きい場合
は、文字領域と判定され、この判定結果は以後の領域判
定によっても不変とする（ステップＳ９）。
差の和Ｓによるエッジ判定結果が３画素以上あった場合
（即ち、フィードバックカウントがしきい値ｆｂ１より
大きい場合）に、前記エッジ判定しきい値delta の値を
予め定める量ｆｂ２（ｆｂ２＝８０）分だけ引下げ、こ
の引下げられたしきい値delta −ｆｂ２と、合計濃度差
の和Ｓとが比較される（ステップＳ８）。そして、合計
濃度差の和Ｓがしきい値delta −ｆｂ２より大きい場合
は、文字領域と判定され、この判定結果は以後の領域判
定によっても不変とする（ステップＳ９）。
【００６７】このように、前歴状態のエッジ判定結果に
応じてエッジ判定のしきい値の値を変更し、フィードバ
ック補正を行うことで、前歴状態に応じてエッジ判定精
度をアップさせることが可能になる。
応じてエッジ判定のしきい値の値を変更し、フィードバ
ック補正を行うことで、前歴状態に応じてエッジ判定精
度をアップさせることが可能になる。
【００６８】ステップＳ７でフィードバックカウントが
しきい値ｆｂ１以下と判断された場合またはステップＳ
８で合計濃度差の和Ｓがしきい値delta −ｆｂ２以下と
判断された場合は、続いて繁雑度に基づく領域分離処理
が行われる。
しきい値ｆｂ１以下と判断された場合またはステップＳ
８で合計濃度差の和Ｓがしきい値delta −ｆｂ２以下と
判断された場合は、続いて繁雑度に基づく領域分離処理
が行われる。
【００６９】主走査方向の繁雑度と副走査方向の繁雑度
との差分値busy-gap、および主走査方向の繁雑度と副走
査方向の繁雑度との合計値busy-sumが算出され（ステッ
プＳ１０）た後、繁雑度の差分値busy-gapが予め定める
しきい値busy-g（busy-g＝１２０）と比較される（ステ
ップＳ１１）。
との差分値busy-gap、および主走査方向の繁雑度と副走
査方向の繁雑度との合計値busy-sumが算出され（ステッ
プＳ１０）た後、繁雑度の差分値busy-gapが予め定める
しきい値busy-g（busy-g＝１２０）と比較される（ステ
ップＳ１１）。
【００７０】繁雑度の差分値busy-gapがしきい値busy-g
以上の場合は、文字領域（エッジ領域）と判定され、こ
の判定結果は以後の領域判定によっても不変である（ス
テップＳ１２）。繁雑度の差分値busy-gapがしきい値bu
sy-gより小さい場合は、繁雑度の合計値busy-sumが予め
定めるしきい値busy-s（busy-s＝１８０）と比較される
（ステップＳ１３）。繁雑度の合計値busy-sumがしきい
値busy-s以上の場合は、網点領域と判定され（ステップ
Ｓ１４）、繁雑度の合計値busy-sumがしきい値busy-sよ
り小さい場合は、写真領域と判定される（ステップＳ１
５）。
以上の場合は、文字領域（エッジ領域）と判定され、こ
の判定結果は以後の領域判定によっても不変である（ス
テップＳ１２）。繁雑度の差分値busy-gapがしきい値bu
sy-gより小さい場合は、繁雑度の合計値busy-sumが予め
定めるしきい値busy-s（busy-s＝１８０）と比較される
（ステップＳ１３）。繁雑度の合計値busy-sumがしきい
値busy-s以上の場合は、網点領域と判定され（ステップ
Ｓ１４）、繁雑度の合計値busy-sumがしきい値busy-sよ
り小さい場合は、写真領域と判定される（ステップＳ１
５）。
【００７１】ステップＳ３、ステップＳ６、ステップＳ
９、ステップＳ１２、ステップＳ１４、またはステップ
Ｓ１５の段階で領域が確定すると、図５中のの段階に
戻り、再び上述した領域分離処理が次の画素に対して行
われる。
９、ステップＳ１２、ステップＳ１４、またはステップ
Ｓ１５の段階で領域が確定すると、図５中のの段階に
戻り、再び上述した領域分離処理が次の画素に対して行
われる。
【００７２】本領域分離処理では、以上のように、メイ
ンマスク内の平均濃度による判定、サブマスクの合計濃
度差の和Ｓによる判定、フィードバック補正による判
定、繁雑度の差分値busy-gapによる判定、および繁雑度
の合計値busy-sumによる判定、の順番で判定が行われ
る。各判定においては、上記各特徴量（領域分離パラメ
ータ）がそれぞれ各しきい値と比較され、領域が決定さ
れる。これによって、本領域分離処理では、大きなメモ
リを必要とせず、各しきい値との比較のみで、エッジ領
域、非エッジ領域、および網点領域の３種類の領域を検
出することが可能になる。
ンマスク内の平均濃度による判定、サブマスクの合計濃
度差の和Ｓによる判定、フィードバック補正による判
定、繁雑度の差分値busy-gapによる判定、および繁雑度
の合計値busy-sumによる判定、の順番で判定が行われ
る。各判定においては、上記各特徴量（領域分離パラメ
ータ）がそれぞれ各しきい値と比較され、領域が決定さ
れる。これによって、本領域分離処理では、大きなメモ
リを必要とせず、各しきい値との比較のみで、エッジ領
域、非エッジ領域、および網点領域の３種類の領域を検
出することが可能になる。
【００７３】また、ハード的に構成する場合、上記各特
徴量による処理を順番に行うのではなく、各特徴量（平
均濃度、合計濃度差の和Ｓ、差分値busy-gap、合計値bu
sy-sum）を、いわゆるパイプライン処理でそれぞれ並列
に算出し並列に処理することで、さらに高速で簡易なハ
ード構成のシステムを提供できる。
徴量による処理を順番に行うのではなく、各特徴量（平
均濃度、合計濃度差の和Ｓ、差分値busy-gap、合計値bu
sy-sum）を、いわゆるパイプライン処理でそれぞれ並列
に算出し並列に処理することで、さらに高速で簡易なハ
ード構成のシステムを提供できる。
【００７４】図６は、並列処理による本領域分離処理を
ブロック化して示す図であり、ブロック２１〜２３の処
理がステップＳ１〜Ｓ３に対応し、ブロック２４〜２７
の処理がステップＳ４〜Ｓ９に対応し、ブロック２８〜
３２の処理がステップＳ１０〜Ｓ１５に対応している。
この場合、ブロック２１〜２３の処理、ブロック２４〜
２７の処理、およびブロック２８〜３２の処理が、並列
に処理される。
ブロック化して示す図であり、ブロック２１〜２３の処
理がステップＳ１〜Ｓ３に対応し、ブロック２４〜２７
の処理がステップＳ４〜Ｓ９に対応し、ブロック２８〜
３２の処理がステップＳ１０〜Ｓ１５に対応している。
この場合、ブロック２１〜２３の処理、ブロック２４〜
２７の処理、およびブロック２８〜３２の処理が、並列
に処理される。
【００７５】また、図７は、図６に対応し、並列処理に
よって判定された各結果に対し、領域が設定されている
真理値表である。図７の表中、「領域設定」の欄におい
て、「０」は写真領域を表し、「１」は文字領域を表
し、「２」は網点領域を表している。また、図７の表
中、「写真」「文字１」「文字２」「網点」の欄は、そ
れぞれブロック２３、ブロック２６、ブロック３０、ブ
ロック３２に対応しており、それぞれブロック２２、ブ
ロック２５、ブロック２９、ブロック３１の判定結果が
ｙｅｓの場合は「１」となり、ｎｏの場合は「０」とな
る。
よって判定された各結果に対し、領域が設定されている
真理値表である。図７の表中、「領域設定」の欄におい
て、「０」は写真領域を表し、「１」は文字領域を表
し、「２」は網点領域を表している。また、図７の表
中、「写真」「文字１」「文字２」「網点」の欄は、そ
れぞれブロック２３、ブロック２６、ブロック３０、ブ
ロック３２に対応しており、それぞれブロック２２、ブ
ロック２５、ブロック２９、ブロック３１の判定結果が
ｙｅｓの場合は「１」となり、ｎｏの場合は「０」とな
る。
【００７６】このように、並列処理によって得られた各
結果に対し、図７の真理値表に示すように領域を決定す
れば、さらに高速で簡易なハード構成のシステムを提供
できる。
結果に対し、図７の真理値表に示すように領域を決定す
れば、さらに高速で簡易なハード構成のシステムを提供
できる。
【００７７】次に、本領域分離処理の検出結果に基づ
き、図１に示されるフィルタ処理部４において行われる
フィルタ処理について説明する。
き、図１に示されるフィルタ処理部４において行われる
フィルタ処理について説明する。
【００７８】フィルタ処理部４では、各領域に対し予め
設定されたフィルタ係数でフィルタ処理が行われる。図
８には、非エッジ領域のフィルタ係数、図９には、エッ
ジ領域のフィルタ係数、図１０には、網点領域のフィル
タ係数が示される。なお、図８〜図１０に示される各フ
ィルタ処理では、各格子内に記載されている値と画像濃
度との積和が、分母１、３１、５５でそれぞれ除算され
る。
設定されたフィルタ係数でフィルタ処理が行われる。図
８には、非エッジ領域のフィルタ係数、図９には、エッ
ジ領域のフィルタ係数、図１０には、網点領域のフィル
タ係数が示される。なお、図８〜図１０に示される各フ
ィルタ処理では、各格子内に記載されている値と画像濃
度との積和が、分母１、３１、５５でそれぞれ除算され
る。
【００７９】このフィルタ処理では、副走査方向のマス
クサイズは、上記領域分離処理で使用していたマスクサ
イズと同じ大きさである。実際、ハード構成する場合、
領域分離処理でマスクサイズ（特に副走査方向のライン
数）を小さく設計しても、フィルタ処理用のマスクが大
きいと、その大きい分だけラインメモリが必要になって
しまう。
クサイズは、上記領域分離処理で使用していたマスクサ
イズと同じ大きさである。実際、ハード構成する場合、
領域分離処理でマスクサイズ（特に副走査方向のライン
数）を小さく設計しても、フィルタ処理用のマスクが大
きいと、その大きい分だけラインメモリが必要になって
しまう。
【００８０】また、このフィルタ処理では、フィルタの
強調レベルは、エッジ領域が一番高く、非エッジ領域が
一番低い設定となっている。このように、上記領域分離
処理の検出結果に基づき、各領域に応じてフィルタ係数
を変更してフィルタ処理を行うことで、より高画質の画
像処理を実現できる。
強調レベルは、エッジ領域が一番高く、非エッジ領域が
一番低い設定となっている。このように、上記領域分離
処理の検出結果に基づき、各領域に応じてフィルタ係数
を変更してフィルタ処理を行うことで、より高画質の画
像処理を実現できる。
【００８１】なお、ここで設定されている各領域に対す
るフィルタ係数は、他の係数であっても差し支えない。
るフィルタ係数は、他の係数であっても差し支えない。
【００８２】次に、本領域分離処理の検出結果に基づ
き、図１に示されるガンマ補正部６において行われるガ
ンマ変換処理について説明する。
き、図１に示されるガンマ補正部６において行われるガ
ンマ変換処理について説明する。
【００８３】ガンマ補正部６では、各領域に対し予め用
意されたガンマ補正テーブルにてガンマ変換処理が行わ
れる。図１１には、非エッジ領域のγ補正グラフが示さ
れる。入力軸は、フィルタ後画像データであり、この例
では、８ｂｉｔ２５６階調とし、出力も同様８ｂｉｔ２
５６階調とする。
意されたガンマ補正テーブルにてガンマ変換処理が行わ
れる。図１１には、非エッジ領域のγ補正グラフが示さ
れる。入力軸は、フィルタ後画像データであり、この例
では、８ｂｉｔ２５６階調とし、出力も同様８ｂｉｔ２
５６階調とする。
【００８４】図１２には、エッジ領域のγ補正グラフが
示される。入出力軸は、図１１と同様であり、エッジ領
域と判定された場合のみ、図１２のγ補正グラフを使用
して処理が行われる。また、図１３には、網点領域のγ
補正グラフが示される。入出力軸は、図１１と同様であ
り、網点領域と判定された場合のみ、図１３のγ補正グ
ラフを使用して処理が行われる。
示される。入出力軸は、図１１と同様であり、エッジ領
域と判定された場合のみ、図１２のγ補正グラフを使用
して処理が行われる。また、図１３には、網点領域のγ
補正グラフが示される。入出力軸は、図１１と同様であ
り、網点領域と判定された場合のみ、図１３のγ補正グ
ラフを使用して処理が行われる。
【００８５】実際にハード構成する場合は、ＳＲＡＭ(s
tatic ＲＡＭ）やＲＯＭなどのメモリを使用し、入力８
ｂｉｔ、出力８ｂｉｔ２５６バイトの大きさのものを使
用し、入力軸はＳＲＡＭおよびＲＯＭのアドレスにデー
タを入力すれば、出力からγ変換後の画像データが出力
される。
tatic ＲＡＭ）やＲＯＭなどのメモリを使用し、入力８
ｂｉｔ、出力８ｂｉｔ２５６バイトの大きさのものを使
用し、入力軸はＳＲＡＭおよびＲＯＭのアドレスにデー
タを入力すれば、出力からγ変換後の画像データが出力
される。
【００８６】図１１〜図１３のγ補正グラフを比較する
と、エッジ領域のγ補正が一番立っている（換言すれ
ば、入力データに対し出力データが大きい）。このよう
にガンマ補正テーブルを設定すれば、エッジ領域がくっ
きり再現され、さらに濃度が低いエッジ領域も再現可能
となる。すなわち、上記領域分離処理の検出結果に基づ
き、各領域に応じて異なるガンマ補正テーブルにてガン
マ変換処理を行うことで、より高画質の画像処理を実現
できる。
と、エッジ領域のγ補正が一番立っている（換言すれ
ば、入力データに対し出力データが大きい）。このよう
にガンマ補正テーブルを設定すれば、エッジ領域がくっ
きり再現され、さらに濃度が低いエッジ領域も再現可能
となる。すなわち、上記領域分離処理の検出結果に基づ
き、各領域に応じて異なるガンマ補正テーブルにてガン
マ変換処理を行うことで、より高画質の画像処理を実現
できる。
【００８７】次に、本領域分離処理の検出結果に基づ
き、図１に示される誤差拡散処理部７において行われる
誤差拡散処理について説明する。
き、図１に示される誤差拡散処理部７において行われる
誤差拡散処理について説明する。
【００８８】誤差拡散処理部７では、領域分離処理の結
果に応じて誤差拡散パラメータを切り替え、各領域に対
し予め設定された誤差拡散パラメータで誤差拡散処理が
行われる。
果に応じて誤差拡散パラメータを切り替え、各領域に対
し予め設定された誤差拡散パラメータで誤差拡散処理が
行われる。
【００８９】まず、誤差拡散処理について説明する。こ
の例では、２値誤差拡散処理とする。誤差拡散は、擬似
中間調表現の一種で最近よく画像処理技術に採用されて
いる。図１４に、注目画素と誤差拡散マスクとの関係を
示す。ｐが注目画素であり、ａ〜ｄまでが、誤差を振り
まく画素である。まず、注目画素のｐの濃度をＤｐ、誤
差量をＥｒ、量子化しきい値（誤差拡散パラメータ）を
Ｔｈとした場合、 Ｄｐ＜ Ｔｈ → ０に量子化される。 Ｅｒ＝Ｄｐ Ｄｐ≧ Ｔｈ → ２５５に量子化される。 Ｅｒ＝Ｄｐ−２５５ ここで算出された誤差量Ｅｒは、図１４の画素ａ〜ｄ
に、ある係数分だけ振りまかれる。すなわち、画素ａ〜
ｄのそれぞれの係数をＷａ〜Ｗｄとし、その合計が１と
なるよう設定する。画素ａには、Ｅｒ×Ｗａ、画素ｂに
は、Ｅｒ×Ｗｂ、画素ｃには、Ｅｒ×Ｗｃ、画素ｄに
は、Ｅｒ×Ｗｄの誤差が算出され、それぞれ画素の現在
の濃度値に対し、足しこまれる。
の例では、２値誤差拡散処理とする。誤差拡散は、擬似
中間調表現の一種で最近よく画像処理技術に採用されて
いる。図１４に、注目画素と誤差拡散マスクとの関係を
示す。ｐが注目画素であり、ａ〜ｄまでが、誤差を振り
まく画素である。まず、注目画素のｐの濃度をＤｐ、誤
差量をＥｒ、量子化しきい値（誤差拡散パラメータ）を
Ｔｈとした場合、 Ｄｐ＜ Ｔｈ → ０に量子化される。 Ｅｒ＝Ｄｐ Ｄｐ≧ Ｔｈ → ２５５に量子化される。 Ｅｒ＝Ｄｐ−２５５ ここで算出された誤差量Ｅｒは、図１４の画素ａ〜ｄ
に、ある係数分だけ振りまかれる。すなわち、画素ａ〜
ｄのそれぞれの係数をＷａ〜Ｗｄとし、その合計が１と
なるよう設定する。画素ａには、Ｅｒ×Ｗａ、画素ｂに
は、Ｅｒ×Ｗｂ、画素ｃには、Ｅｒ×Ｗｃ、画素ｄに
は、Ｅｒ×Ｗｄの誤差が算出され、それぞれ画素の現在
の濃度値に対し、足しこまれる。
【００９０】このようにして、注目画素で発生した誤差
を予め設定している画素に、ある所定の係数で誤差を配
分し、注目画素を量子化していく。量子化された画素は
０か２５５になっているので、０は０、２５５を１とす
ることで、２値誤差拡散が可能になる。
を予め設定している画素に、ある所定の係数で誤差を配
分し、注目画素を量子化していく。量子化された画素は
０か２５５になっているので、０は０、２５５を１とす
ることで、２値誤差拡散が可能になる。
【００９１】本画像処理においては、下記の表４に示す
ように、上述した領域分離処理の結果に基づき、誤差拡
散パラメータとしての量子化しきい値Ｔｈを変更する。
ように、上述した領域分離処理の結果に基づき、誤差拡
散パラメータとしての量子化しきい値Ｔｈを変更する。
【００９２】
【表４】
【００９３】上記のように、エッジ領域の量子化しきい
値Ｔｈを他の領域よりも小さく設定することによって、
エッジ領域がくっきり再現される。すなわち、上記領域
分離処理の検出結果に基づき、各領域に応じて異なる誤
差拡散パラメータにて誤差拡散処理を行うことで、より
高画質の画像処理を実現できる。
値Ｔｈを他の領域よりも小さく設定することによって、
エッジ領域がくっきり再現される。すなわち、上記領域
分離処理の検出結果に基づき、各領域に応じて異なる誤
差拡散パラメータにて誤差拡散処理を行うことで、より
高画質の画像処理を実現できる。
【００９４】なお、上記の例では、誤差拡散パラメータ
として量子化しきい値Ｔｈを変更しているが、これに限
らず、他の誤差拡散パラメータを変更するようにしても
よい。
として量子化しきい値Ｔｈを変更しているが、これに限
らず、他の誤差拡散パラメータを変更するようにしても
よい。
【００９５】また、四種類のサブマスクの合計濃度に基
づき領域判定を行う例としては、上述の例に限らず、以
下のように領域判定を行うことも可能である。すなわ
ち、四種類のサブマスクの合計濃度をそれぞれsum1,sum
2,sum3,sum4 とすると、sum1〜sum4のなかで最大値およ
び最小値を求め、その結果をそれぞれmax とmin とす
る。このmax とmin との差、すなわち、max - min の算
出結果に応じて、領域判定を行うことが可能である。つ
まり、この領域判定によれば、max - min の算出結果が
予め定めるしきい値より大きい場合はエッジ領域と判定
し、そうでない場合は非エッジ領域と判定することがで
きる。
づき領域判定を行う例としては、上述の例に限らず、以
下のように領域判定を行うことも可能である。すなわ
ち、四種類のサブマスクの合計濃度をそれぞれsum1,sum
2,sum3,sum4 とすると、sum1〜sum4のなかで最大値およ
び最小値を求め、その結果をそれぞれmax とmin とす
る。このmax とmin との差、すなわち、max - min の算
出結果に応じて、領域判定を行うことが可能である。つ
まり、この領域判定によれば、max - min の算出結果が
予め定めるしきい値より大きい場合はエッジ領域と判定
し、そうでない場合は非エッジ領域と判定することがで
きる。
【００９６】
【発明の効果】本発明に係る画像処理装置は、以上のよ
うに、入力される画像データの注目画素の領域判定に際
し、該注目画素を含む複数の画素からなるメイン画素グ
ループ内に設けられる少なくとも四種類のサブ画素グル
ープのそれぞれについて合計濃度を算出し、これら合計
濃度に基づき領域判定を行う構成である。
うに、入力される画像データの注目画素の領域判定に際
し、該注目画素を含む複数の画素からなるメイン画素グ
ループ内に設けられる少なくとも四種類のサブ画素グル
ープのそれぞれについて合計濃度を算出し、これら合計
濃度に基づき領域判定を行う構成である。
【００９７】それゆえ、四種類のサブ画素グループの合
計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領域判定を行
うので、大容量のメモリを必要とすることなく領域判定
を行うことができるという効果を奏する。また、合計濃
度の算出は、加算のみの処理であるため、高精度で、高
速、簡易、安価に領域判定を行う画像処理装置を提供で
きるという効果を奏する。
計濃度を算出し、これら合計濃度に基づき領域判定を行
うので、大容量のメモリを必要とすることなく領域判定
を行うことができるという効果を奏する。また、合計濃
度の算出は、加算のみの処理であるため、高精度で、高
速、簡易、安価に領域判定を行う画像処理装置を提供で
きるという効果を奏する。
【００９８】前記領域判定において、前記注目画素がエ
ッジ領域か否かが判定される構成とすることによって、
四種類のサブ画素グループの合計濃度に基づきエッジ領
域と非エッジ領域との二種類の領域に分離できる。
ッジ領域か否かが判定される構成とすることによって、
四種類のサブ画素グループの合計濃度に基づきエッジ領
域と非エッジ領域との二種類の領域に分離できる。
【００９９】また、前記サブ画素グループの大きさが相
互に異なる場合に、係数によって正規化される構成とす
ることによって、サブ画素グループの大きさが相互に異
なる場合でも高精度な領域分離を実現できる。さらに、
これによって、副走査方向のライン数を小さく設計する
ことが可能になり、安価な画像処理装置を提供できる。
互に異なる場合に、係数によって正規化される構成とす
ることによって、サブ画素グループの大きさが相互に異
なる場合でも高精度な領域分離を実現できる。さらに、
これによって、副走査方向のライン数を小さく設計する
ことが可能になり、安価な画像処理装置を提供できる。
【０１００】また、前記サブ画素グループは、前記メイ
ン画素グループの端部またはその近傍に設けられる構成
とすることによって、メイン画素グループの大きさに対
し大きい面積の情報を収集でき、領域分離精度を向上で
きる。
ン画素グループの端部またはその近傍に設けられる構成
とすることによって、メイン画素グループの大きさに対
し大きい面積の情報を収集でき、領域分離精度を向上で
きる。
【０１０１】また、前記四種類のサブ画素グループの合
計濃度が二組に分類され、各組の合計濃度の差を足し合
わせた値Ｓを算出し、その値Ｓに基づき領域判定を行う
構成とすることによって、合計濃度を算出する加算器、
各組の合計濃度の差を算出する減算器、および比較器に
より領域判定できるため、高精度で、高速、簡易、安価
に領域判定を行う画像処理装置を提供できる。
計濃度が二組に分類され、各組の合計濃度の差を足し合
わせた値Ｓを算出し、その値Ｓに基づき領域判定を行う
構成とすることによって、合計濃度を算出する加算器、
各組の合計濃度の差を算出する減算器、および比較器に
より領域判定できるため、高精度で、高速、簡易、安価
に領域判定を行う画像処理装置を提供できる。
【０１０２】また、前記メイン画素グループ内の主走査
方向の互いに隣接または一定間隔で配置される画素の濃
度差の合計である繁雑度と、副走査方向の互いに隣接ま
たは一定間隔で配置される画素の濃度差の合計である繁
雑度とをそれぞれ算出し、該算出結果に基づき更に領域
判定を行う構成とすることによって、さらに領域分離精
度を向上できる。
方向の互いに隣接または一定間隔で配置される画素の濃
度差の合計である繁雑度と、副走査方向の互いに隣接ま
たは一定間隔で配置される画素の濃度差の合計である繁
雑度とをそれぞれ算出し、該算出結果に基づき更に領域
判定を行う構成とすることによって、さらに領域分離精
度を向上できる。
【０１０３】また、前記の値Ｓに基づきエッジ領域か否
かが判定された後、非エッジ領域と判定されたものに対
して主走査方向の前記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度
との差を算出し、該算出結果に基づき再度エッジ領域か
否かが判定される構成とすることによって、前記の値Ｓ
によっては検出できなかったエッジ領域をさらに検出す
ることも可能になる。
かが判定された後、非エッジ領域と判定されたものに対
して主走査方向の前記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度
との差を算出し、該算出結果に基づき再度エッジ領域か
否かが判定される構成とすることによって、前記の値Ｓ
によっては検出できなかったエッジ領域をさらに検出す
ることも可能になる。
【０１０４】また、エッジ領域か否かが判定された後、
非エッジ領域と判定されたものに対して主走査方向の前
記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度との合計を算出し、
該算出結果に基づき網点領域か非エッジ領域かが判定さ
れる構成とすることによって、エッジ領域、非エッジ領
域、および網点領域の３領域に分離できる。
非エッジ領域と判定されたものに対して主走査方向の前
記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度との合計を算出し、
該算出結果に基づき網点領域か非エッジ領域かが判定さ
れる構成とすることによって、エッジ領域、非エッジ領
域、および網点領域の３領域に分離できる。
【０１０５】また、主走査方向の前記繁雑度は、互いに
一画素おきに配置される画素の濃度差の合計である一
方、副走査方向の前記繁雑度は、互いに隣接する画素の
濃度差の合計である構成とすることによって、入力解像
度や前記メイン画素グループの大きさ（マスクサイズ）
に適した繁雑度の算出が可能になる。
一画素おきに配置される画素の濃度差の合計である一
方、副走査方向の前記繁雑度は、互いに隣接する画素の
濃度差の合計である構成とすることによって、入力解像
度や前記メイン画素グループの大きさ（マスクサイズ）
に適した繁雑度の算出が可能になる。
【０１０６】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度または合計濃度を算出し、該算出結果に基づきエッジ
領域か否かを判定する処理を含む構成とすることによっ
て、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止でき、
特に中間調画像における高濃度の画像部分でフィルタ処
理を行ったときに境界線のような不具合な画像の発生を
防止できる。また、メイン画素グループ内の合計濃度に
基づき判定を行うことで、除算回路を設けなくてもエッ
ジ領域か否かを判定できる。
度または合計濃度を算出し、該算出結果に基づきエッジ
領域か否かを判定する処理を含む構成とすることによっ
て、高濃度部でエッジ領域が検出されるのを防止でき、
特に中間調画像における高濃度の画像部分でフィルタ処
理を行ったときに境界線のような不具合な画像の発生を
防止できる。また、メイン画素グループ内の合計濃度に
基づき判定を行うことで、除算回路を設けなくてもエッ
ジ領域か否かを判定できる。
【０１０７】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度を算出する場合に、合計濃度を画素数で除するのでは
なく、画素数に最も近い２の累乗で除する構成とするこ
とによって、ハード化する際、除算はビットシフトで可
能になるため、除算回路を設けなくても平均濃度に近い
値を算出できる。
度を算出する場合に、合計濃度を画素数で除するのでは
なく、画素数に最も近い２の累乗で除する構成とするこ
とによって、ハード化する際、除算はビットシフトで可
能になるため、除算回路を設けなくても平均濃度に近い
値を算出できる。
【０１０８】また、前記サブ画素グループの合計濃度に
基づきエッジ領域か否かを判定する際に、エッジ領域と
の判定が予め定める回数続いた場合または予め定める頻
度で発生した場合に、エッジ領域か否かを判定するため
のしきい値を変化させる構成とすることによって、エッ
ジ領域の判定精度をさらに向上できる。
基づきエッジ領域か否かを判定する際に、エッジ領域と
の判定が予め定める回数続いた場合または予め定める頻
度で発生した場合に、エッジ領域か否かを判定するため
のしきい値を変化させる構成とすることによって、エッ
ジ領域の判定精度をさらに向上できる。
【０１０９】また、領域判定に際し、予め定める順番で
複数の判定処理を行う構成とすることによって、複雑な
ルックアップテーブルや回路を要せず、しきい値との判
定だけで領域分離を行うことができる。
複数の判定処理を行う構成とすることによって、複雑な
ルックアップテーブルや回路を要せず、しきい値との判
定だけで領域分離を行うことができる。
【０１１０】また、前記メイン画素グループ内の平均濃
度または合計濃度の算出結果に基づく判定、前記の値Ｓ
に基づく判定、前記主走査方向および副走査方向の繁雑
度の差に基づく判定、次いで前記主走査方向および副走
査方向の繁雑度の合計に基づく判定の順番で判定処理を
行う構成とすることによって、良好な領域分離結果を得
ることができる。
度または合計濃度の算出結果に基づく判定、前記の値Ｓ
に基づく判定、前記主走査方向および副走査方向の繁雑
度の差に基づく判定、次いで前記主走査方向および副走
査方向の繁雑度の合計に基づく判定の順番で判定処理を
行う構成とすることによって、良好な領域分離結果を得
ることができる。
【０１１１】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じてフィルタ処理の係数を変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
た領域に応じてフィルタ処理の係数を変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
【０１１２】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じてガンマ補正テーブルを変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
た領域に応じてガンマ補正テーブルを変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
【０１１３】また、上記領域判定処理によって判定され
た領域に応じて誤差拡散パラメータを変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
た領域に応じて誤差拡散パラメータを変更する構成とす
ることによって、高画質の画像処理装置を提供できる。
【図１】本発明の実施の一形態に係る画像処理装置の構
成およびその画像処理手順を示す図である。
成およびその画像処理手順を示す図である。
【図２】上記画像処理装置の領域分離処理に用いられる
メインマスクとサブマスクとを説明する図である。
メインマスクとサブマスクとを説明する図である。
【図３】上記画像処理装置の領域分離処理に用いられる
主走査方向の繁雑度の算出方法を説明する図である。
主走査方向の繁雑度の算出方法を説明する図である。
【図４】上記画像処理装置の領域分離処理に用いられる
副走査方向の繁雑度の算出方法を説明する図である。
副走査方向の繁雑度の算出方法を説明する図である。
【図５】上記画像処理装置の領域分離処理の処理手順を
説明するフローチャートである。
説明するフローチャートである。
【図６】上記画像処理装置の並列処理による領域分離処
理をブロック化して示す図である。
理をブロック化して示す図である。
【図７】上記並列処理によって判定された各結果に対
し、領域が設定されている真理値表である。
し、領域が設定されている真理値表である。
【図８】上記画像処理装置のフィルタ処理に用いられる
非エッジ領域のフィルタ係数を説明する図である。
非エッジ領域のフィルタ係数を説明する図である。
【図９】上記画像処理装置のフィルタ処理に用いられる
エッジ領域のフィルタ係数を説明する図である。
エッジ領域のフィルタ係数を説明する図である。
【図１０】上記画像処理装置のフィルタ処理に用いられ
る網点領域のフィルタ係数を説明する図である。
る網点領域のフィルタ係数を説明する図である。
【図１１】上記画像処理装置のガンマ変換処理における
非エッジ領域のγ補正グラフである。
非エッジ領域のγ補正グラフである。
【図１２】上記画像処理装置のガンマ変換処理における
エッジ領域のγ補正グラフである。
エッジ領域のγ補正グラフである。
【図１３】上記画像処理装置のガンマ変換処理における
網点領域のγ補正グラフである。
網点領域のγ補正グラフである。
【図１４】上記画像処理装置の誤差拡散処理に用いられ
る注目画素と誤差拡散マスクとの関係を説明する図であ
る。
る注目画素と誤差拡散マスクとの関係を説明する図であ
る。
１ ＣＣＤ部 ２ 入力濃度変換部 ３ 領域分離部 ４ フィルタ処理部 ５ 変倍処理部 ６ ガンマ補正部 ７ 誤差拡散処理部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｆ (72)発明者 谷村 美保子 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 大槻 正明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 安岡 紀英 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Ｆターム(参考） 5B057 CE03 CE11 CE13 CH04 CH09 DA08 DB02 DB09 DC16 DC22 DC30 5C077 PP27 PP43 PP46 PP47 5L096 EA11 FA06 FA44 9A001 HH25 HH28 JJ35 KK42
Claims (17)
- 【請求項１】入力される画像データの注目画素の領域判
定に際し、該注目画素を含む複数の画素からなるメイン
画素グループ内に設けられる少なくとも四種類のサブ画
素グループのそれぞれについて合計濃度を算出し、これ
ら合計濃度に基づき領域判定を行うことを特徴とする画
像処理装置。 - 【請求項２】前記領域判定では、前記注目画素がエッジ
領域か否かが判定されることを特徴とする請求項１記載
の画像処理装置。 - 【請求項３】前記サブ画素グループの大きさが相互に異
なる場合に、係数によって正規化されることを特徴とす
る請求項１または２記載の画像処理装置。 - 【請求項４】前記サブ画素グループは、前記メイン画素
グループの端部またはその近傍に設けられることを特徴
とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装
置。 - 【請求項５】前記四種類のサブ画素グループの合計濃度
が二組に分類され、各組の合計濃度の差を足し合わせた
値Ｓを算出し、その値Ｓに基づき領域判定を行うことを
特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の画像処
理装置。 - 【請求項６】前記メイン画素グループ内の主走査方向の
互いに隣接または一定間隔で配置される画素の濃度差の
合計である繁雑度と、副走査方向の互いに隣接または一
定間隔で配置される画素の濃度差の合計である繁雑度と
をそれぞれ算出し、該算出結果に基づき更に領域判定を
行うことを特徴とする請求項５記載の画像処理装置。 - 【請求項７】前記の値Ｓに基づきエッジ領域か否かが判
定された後、非エッジ領域と判定されたものに対して主
走査方向の前記繁雑度と副走査方向の前記繁雑度との差
を算出し、該算出結果に基づき再度エッジ領域か否かが
判定されることを特徴とする請求項６記載の画像処理装
置。 - 【請求項８】エッジ領域か否かが判定された後、非エッ
ジ領域と判定されたものに対して主走査方向の前記繁雑
度と副走査方向の前記繁雑度との合計を算出し、該算出
結果に基づき網点領域か非エッジ領域かが判定されるこ
とを特徴とする請求項６または７記載の画像処理装置。 - 【請求項９】主走査方向の前記繁雑度は、互いに一画素
おきに配置される画素の濃度差の合計である一方、副走
査方向の前記繁雑度は、互いに隣接する画素の濃度差の
合計であることを特徴とする請求項６〜８のいずれか１
項に記載の画像処理装置。 - 【請求項１０】前記メイン画素グループ内の平均濃度ま
たは合計濃度を算出し、該算出結果に基づきエッジ領域
か否かを判定する処理を含むことを特徴とする請求項１
〜９のいずれか１項に記載の画像処理装置。 - 【請求項１１】前記メイン画素グループ内の平均濃度を
算出する場合に、合計濃度を画素数で除するのではな
く、画素数に最も近い２の累乗で除することを特徴とす
る請求項１０記載の画像処理装置。 - 【請求項１２】前記サブ画素グループの合計濃度に基づ
きエッジ領域か否かを判定する際に、エッジ領域との判
定が予め定める回数続いた場合または予め定める頻度で
発生した場合に、エッジ領域か否かを判定するためのし
きい値を変化させることを特徴とする請求項２〜１１の
いずれか１項に記載の画像処理装置。 - 【請求項１３】領域判定に際し、予め定める順番で複数
の判定処理を行うことを特徴とする請求項１〜１２のい
ずれか１項に記載の画像処理装置。 - 【請求項１４】前記メイン画素グループ内の平均濃度ま
たは合計濃度の算出結果に基づく判定、前記の値Ｓに基
づく判定、前記主走査方向および副走査方向の繁雑度の
差に基づく判定、次いで前記主走査方向および副走査方
向の繁雑度の合計に基づく判定の順番で判定処理を行う
ことを特徴とする請求項１３記載の画像処理装置。 - 【請求項１５】請求項１〜１４のいずれか１項に記載の
領域判定処理によって判定された領域に応じてフィルタ
処理の係数を変更することを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項１６】請求項１〜１４のいずれか１項に記載の
領域判定処理によって判定された領域に応じてガンマ補
正テーブルを変更することを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項１７】請求項１〜１４のいずれか１項に記載の
領域判定処理によって判定された領域に応じて誤差拡散
パラメータを変更することを特徴とする画像処理装置。
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