JP2001085353A - レーザー処理方法 - Google Patents

レーザー処理方法

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JP2001085353A
JP2001085353A JP2000243484A JP2000243484A JP2001085353A JP 2001085353 A JP2001085353 A JP 2001085353A JP 2000243484 A JP2000243484 A JP 2000243484A JP 2000243484 A JP2000243484 A JP 2000243484A JP 2001085353 A JP2001085353 A JP 2001085353A
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Hiroo Ishihara
浩朗 石原
Kazuhisa Nakashita
一寿 中下
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 量産性に優れ、高い精度のレーザー処理方法
を提供する。 【構成】 レーザー発振装置およびレーザー光学装置
と、試料を移動させるためのステージとは、別の防振装
置上に設置することによって、ステージの移動に伴う振
動をレーザー発振装置およびレーザー光学装置の光学系
に伝播しないようにして、レーザーの安定性を高め、か
つ、生産性を高める。前記ステージを移動させて二つの
アライメントマーカーを結ぶ線とモニターカメラのマー
カーとの位置合わせを行った後、ステージを回転させ
て、前記二つのアライメントマーカーを結ぶ線と線状の
レーザー光との位置合わせを行う。そして、前記ステー
ジは、前記マーカーと垂直な向きに移動する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、信頼性および量産性に
優れたレーザー処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体素子プロセスの低温化・大
面積化に関して盛んに研究が進められている。特に、レ
ーザースクライブ技術(高エネルギーのレーザー光を試
料薄膜等に照射して、切断する技術)、レーザーアニー
ル技術(高エネルギーのレーザー光を試料表面に照射し
て、表面近傍の結晶化等をおこなう技術)、レーザード
ーピング技術(高エネルギーのレーザー光を試料表面に
照射して、不純物拡散等をおこなう技術)等のレーザー
処理技術は究極の低温プロセス、大面積処理技術と注目
されている。
【0003】しかしながら、現在のところ、実験室レベ
ルでの研究が主体で、量産時における問題については多
くは考慮されてこなかった。例えば、レーザー光照射中
の試料の誤動作・微動を減らすための技術や、レーザー
光を容易に目的とする箇所に照射するためのアライメン
ト技術は、開発されていなかった。
【0004】特に、大面積処理には、試料を1軸方向に
移動させて、ストライプ状のレーザー光を照射する方法
が効率的である。これは、スポット状のレーザー光を走
査させる場合に比べて、運動方向が1方向であるため、
試料の移動が容易かつ簡便であることによる。しかし、
量産性を向上させる上で、ステージの振動がレーザー装
置に伝達し、レーザー出力が変動することが問題となっ
ていたが、これといった解決方法は提示されてこなかっ
た。また、このようなストライプ状のレーザー光を利用
する場合には、試料のアライメント法に関してはこれま
で大した考察がなされなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、ステージの
振動がレーザー装置に伝達しないようなレーザー処理方
法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザー処理方
法は、基板に設けられたパターンに線状のレーザー光の
照射面を、前記基板と前記パターンの境界に交差させた
まま移動させることを特徴とする。また、本発明のレー
ザー処理方法は、基板に設けられたパターンに線状のレ
ーザー光の前記第一の方向の長さが、前記第一の方向に
垂直な第二の方向の長さよりも短く、前記線状のレーザ
ー光を前記第一の方向に移動させつつ前記基板と前記パ
ターンの境界にも照射することを特徴とする。さらに、
本発明のレーザー処理方法は、前記線状のレーザー光を
前記境界に平行な方向に移動させることを特徴とする。
試料を移動するためのステージは、ステップモーターや
サーボモーターを使用するために、その振動によって試
料の位置がずれてしまうことが指摘されてきた。この点
に関し、本発明では、レーザー発振装置およびレーザー
光学系装置を試料が設置されるステージとは別の防振構
造の装置(例えば、防振台や光学架台)上に設置し、ま
た、ステージおよびその駆動機構は前記防振装置とは別
の防振装置や床面上に設置するものである。
【0007】この結果、ステージの移動に伴う振動がレ
ーザー光学系やレーザー発振装置に伝達することがなく
なり、光軸のずれに伴うレーザー出力の変動がなくな
る。レーザー光学系およびレーザー発振装置は、同じ防
振装置上に設置されてもよいし、独立な防振装置上に設
置されてもよい。
【0008】このようなレーザー処理装置の典型は、図
1に示される。図1においては、防振台1上にレーザー
発振装置2、レーザー増幅装置3、レーザー光学装置4
が配置され、光路にはミラー5〜8が設けられている。
また、レーザー光学装置では、ガウス分布をした正方形
に近い形状のレーザー光が、均一性に優れたストライプ
状のレーザー光に加工されて出力される。そして、この
レーザー光は、長方形のミラー9によって試料に照射さ
れる。
【0009】このように、レーザー発振・増幅装置と光
学装置が全て同じ防振台1上に設置されている。一方、
試料11は、ステージ(X−Y−θ)10上に設置さ
れ、これは、先の防振台とは別の台の上に設置される。
なお、ステージはX軸およびY軸はDCサービモーター
で、θ軸はステッピングモーター(パルスモーター)に
よって駆動される。
【0010】また、試料のアライメントは、重要な技術
であるが、特に、レーザー光がストライプ状となると多
くのミスアライメント要素が問題となる。特に、集積回
路のように、試料のパターンとレーザー光との平行度が
高度に要求される場合には、これらを無視することはで
きない。
【0011】例えば、基板に対して、試料パターンがわ
ずかに回転して形成されている場合がある。また、レー
ザー光の照射面と試料(ステージ)の移動方向がわずか
に異なる場合もある。さらに、アライメント用のモニタ
ーカメラとレーザー光の照射面とが平行度でない場合も
ある。
【0012】このようなミスアライメント要素におい
て、最初のもの以外は、ずれが予めわかっているので、
アライメント時に補正することが可能である。そこで、
本発明では、最初に試料をモニターカメラで位置合わせ
し、ついで、予め分かっている補正をおこなうことによ
って、レーザー光線と試料との平行度を実現する。補正
は、試料ステージを回転させることによっておこなう。
すなわち、本発明では、ステージは、試料を1方向に移
動させるだけでなく、回転させる必要もある。以下に、
実施例を示し、より詳細に本発明を説明する。
【0013】
【実施例】図2は本実施例で使用したアライメントをお
こなう装置の概略を示したものである。試料(基板)1
4は、少なくとも1方向に平行移動でき、かつ、回転移
動できるステージ15上に設置された。また、試料14
上には、アライメントマーカー16が少なくとも2つ印
刷等の手段によって形成されていた。このアライメント
マーカー16を少なくとも2つのモニターカメラ13で
合わせることによってアライメントをおこなった。な
お、モニターカメラ13には、アーム12が取り付けら
れており、試料14のセット、リセットの際には、モニ
ターカメラ13をアーム12に沿って移動させて、試料
14のセット、リセットに支障のないようにした。レー
ザーの照射面17は、長方形状でアライメントマーカー
16とほぼ平行になるように照射される。
【0014】図3には、本実施例で使用したレーザー処
理装置の概念図を示した。レーザー発振装置18は防振
台23、光学装置19は光学架台24にそれぞれ設置さ
れている。また、ステージ22は、別な防振台25上に
設置されている。ステージ22は、Y軸およびθ軸の移
動が可能で、Y軸はDCサーボモーターによって、ま
た、θ軸はパルスモーターによって駆動される。レーザ
ー装置から発生したレーザー光26は、光学架台24上
に設けられたミラー20やシリンドリカルレンズ21を
経由してステージ22上の試料に照射された。このよう
に、全ての装置が独立して防振装置上に設置されている
ため、外部の振動はもちろん、ステージ22の移動にと
もなう振動がレーザーの出力を変動させることは全くな
かった。ちなみに、全ての装置を1つの防振台上に設置
した場合には、ステージの移動に伴う振動がレーザー装
置および光学装置に伝わり、レーザー出力の変動をもた
らした。そのため、振動がおさまるまで(約2秒間)レ
ーザー照射が不可能であり、生産性が低下した。
【0015】図4はアライメントの際に用いる物体を示
す。試料(基板)32上には、パターン33が印刷され
ているが、このパターン33は、試料32に対してずれ
て印刷されている場合がある。また、試料32は、ステ
ージ15上に、ピン31によって固定されるが、その位
置も正確でない(平行度が正しくない)場合がある。こ
のような理由から、パターン33は、レーザー照射面2
8に対して、平行でないことがある。そこで、試料32
のアライメントマーカー34をモニターカメラ27で観
察し、位置合わせをおこなうことによって、試料32の
パターン33とレーザーの照射面28を平行になるよう
に修正する。しかし、ここで注意しなければならないこ
とは、2つのモニターカメラ27を結ぶ直線もレーザー
の照射面28とは平行でない場合があることである。し
かし、モニターカメラ27やステージ15の移動方向が
レーザーの照射面28となす角度は、予め分かっている
ので、簡単に補正することができる。
【0016】図5にはアライメントの工程を示す。ま
ず、図5(A)に示すように、試料を防振台25にそっ
て移動させて、アライメントマーカーをほぼモニターカ
メラの直下に配置する。
【0017】そして、図5(B)に示すように、ステー
ジ15を平行移動および回転移動させることによって、
アライメントマーカーをモニターカメラのマーカーと平
行になるようにする。本実施例でのステージ15は、横
方向への移動が不可能であるが、横方向への駆動が可能
であれば、ステージ15を図の縦方向だけでなく、図の
横方向に移動させると、より位置合わせの精度を上げる
ことができる。
【0018】このようにして位置合わせが終了したら、
図5(C)のように、予め設定された角度だけステージ
15を回転させる。前記予め設定された角度とは、モニ
ターカメラのマーカーと線状レーザー光との平行である
べき所、そのずれがある場合である。ここで回転する角
度には、モニターカメラのマーカーを結ぶ線が線状のレ
ーザー光の照射面となる角度やステージ15の移動方向
がレーザー照射面となす角度が情報として含まれてい
る。この回転角は、予め駆動制御装置の記憶装置に記憶
させておき、位置合わせ終了の指示があると同時に自動
的に補正されるようにしておいてもよい。この工程によ
って、試料のパターン、レーザー照射面と平行となる。
【0019】その後は、図5(D)のように、試料を移
動させて、レーザー照射の開始位置まで移動させる。こ
のときの移動量は、予め設定されたものを使用してもよ
いし、また、任意に設定してもよい。以上の工程を経る
ことによってアライメントが終了した。
【0020】
【発明の効果】本発明によって生産性に優れたレーザー
処理が可能となった。特に、本発明は、ストライプ状の
レーザー光を試料に照射するレーザー処理装置において
効果的であり、レーザースクライブ、レーザーアニー
ル、レーザードーピングその他のレーザー処理装置にお
いて、正確な処理と高い量産性を達成することができ
た。このように本発明は、工業上、有益なものと考えら
れる。本発明によれば、試料を移動させるためのステー
ジが防振機能を有する物体上に設置されたレーザー発振
装置およびレーザー光学装置と別に設けられているた
め、試料を移動させるモータ等の振動がレーザー発振装
置およびレーザー光学装置に伝達することがなくなり、
光軸のずれに伴うレーザー出力の変動がなくなる。本発
明によれば、二つのアライメントマーカーを結ぶ線とモ
ニターカメラのマーカーとの位置合わせと、前記二つの
アライメントマーカーを結ぶ線と線状のレーザー光の回
転ずれを合わせることにより、試料のパターンが線状の
レーザー光と平行になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザー処理装置の概念図を示す。
【図2】本発明のレーザー処理装置におけるアライメン
ト装置の概念図を示す。
【図3】実施例で用いられたレーザー処理装置の概念図
を示す。
【図4】レーザー処理装置におけるアライメント工程で
使用する物体の名称を示す。
【図5】実施例のアライメント工程を示す。
【符号の説明】
1 光学架台 2 レーザー装置(発振段) 3 レーザー装置(増幅段) 4 ビーム成形光学系 5〜9 全反射ミラー 10 試料ステージおよび駆動機構 11 試料(基板) 12 アーム 13、27 モニターカメラ 14、32 試料 15 ステージ 16、34 アライメントマーカー 17、28 レーザー照射面 25 防振台 31 ピン 33 パターン

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板に設けられたパターンに線状のレーザ
    ー光を照射するレーザー処理方法において、 前記線状のレーザー光の照射面を、前記基板と前記パタ
    ーンの境界に交差させたまま移動させることを特徴とす
    るレーザー処理方法。
  2. 【請求項2】基板に設けられたパターンに線状のレーザ
    ー光を照射するレーザー処理方法において、 前記線状のレーザー光の前記第一の方向の長さは、前記
    第一の方向に垂直な第二の方向の長さよりも短く、 前記線状のレーザー光を前記第一の方向に移動させつつ
    前記基板と前記パターンの境界にも照射することを特徴
    とするレーザー処理方法。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2において、前記線
    状のレーザー光を前記境界に平行な方向に移動させるこ
    とを特徴とするレーザー処理方法。
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