JP2001082943A - 被検物の傾き測定装置 - Google Patents

被検物の傾き測定装置

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JP2001082943A
JP2001082943A JP26100799A JP26100799A JP2001082943A JP 2001082943 A JP2001082943 A JP 2001082943A JP 26100799 A JP26100799 A JP 26100799A JP 26100799 A JP26100799 A JP 26100799A JP 2001082943 A JP2001082943 A JP 2001082943A
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JP26100799A
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Inventor
Hideyuki Kondo
秀幸 近藤
Toshiyuki Inoue
利幸 井上
Hiroaki Furuhata
寛明 振旗
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Nidec Sankyo Corp
Nippon Steel Texeng Co Ltd
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
Nisshin Koki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高価なビームスプリッタを用いず、低価格か
つ簡単な構成で被検物の傾きを測定すること。また、光
のパワーロスが少なく、しかも干渉現象が生じないよう
にすること。 【解決手段】 この被検物の傾き測定装置は、光源11
と、受光素子19と、光源11の出射光を平行光にして
被検物18に照射し、その反射光を集光して受光素子1
9に結像するコリメートレンズ17とを備え、受光素子
19の結像位置から被検物18の傾きを測定する。そし
て、被検物18に傾きが無いとき、被検物18への入射
光の光軸aと、被検物18からの反射光の光軸bがV字
型になるように配置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクピック
アップの偏光ビームスプリッタ等の被検物の傾き(平行
度)を測定する傾き測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来のレーザオートコリメータ
の基本構成を示す図である。図において、レーザダイオ
ード(LD)11から出射された直線偏波(例えばp偏
波)のレーザ光は全反射ミラー14で反射する。さら
に、この直線偏波のレーザ光は、ビームスプリッタ15
で反射し、λ/4板16を通過しさらに、コリメートレ
ンズ17を通過して平行光となり、被検物18に照射さ
れる。
【0003】被検物18で反射した反射光は、コリメー
トレンズ17で集光され、λ/4板16を通過して直線
偏波(例えばs偏波)となり、ビームスプリッタ15を
透過して受光素子19に結像する。
【0004】このような構成により、受光素子19の結
像位置に応じて被検物18の傾きが測定される。例え
ば、被検物の傾きがないときの結像位置が予め分かって
いれば、それとの相対位置から被検物18の傾きが測定
される。なお、受光素子19としては、二次元位置検出
素子(PSD)または個体撮像素子(CCD)が用いら
れる。
【0005】図7は、従来のレーザオートコリメータの
ユニット構成を示す図である。図において、レーザオー
トコリメータは、照明ユニット31、プリズムユニット
32、コリメータユニット33、CCDカメラ34、点
灯回路35、コネクタ36から構成され、それらが支持
板37上に配置固定される。
【0006】照明ユニット31には、レーザダイオード
11が備えられる。プリズムユニット32には、全反射
ミラー14、ビームスプリッタ15が備えられる。コリ
メータユニット33には、λ/4板16、コリメートレ
ンズ17が備えられ、前後可動して焦点調整可能になっ
ている。CCDカメラ34は、受光素子19に対応す
る。点灯回路35は、レーザダイオード11の点灯制御
を行う。レーザダイオード11への電源供給と、CCD
カメラ34の撮像データの出力は、コネクタ36を介し
て行われる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザオートコ
リメータは、ビームスプリッタ15とλ/4板16を用
いて被検物への照射光と被検物からの反射光を分離する
構成になっている。この構成は、一般的になっている
が、ビームスプリッタ15が高価であると共にこのビー
ムスプリッタ15を保持する機構が必要となり、被検物
の傾きを測定するレーザオートコリメータとしてはもう
少し簡単かつ安価なものが望まれている。
【0008】また、ビームスプリッタ15としてハーフ
プリズムを採用すると、レーザダイオード11から出射
されるレーザ光は、受光素子19で受光される際には約
1/4の光量となり、光のパワーロスが大きくなる。さ
らに、ビームスプリッタ15には入出力光に対して平行
(垂直)な面があり、その面からの反射光と入出力光と
の間で干渉現象を起こし、被検物の傾き測定に障害とな
ることがある。
【0009】本発明の目的は、高価なビームスプリッタ
を用いず、低価格かつ簡単な構成で被検物の傾きを測定
することができると共に、光のパワーロスが少なく、し
かも干渉現象が生じない傾き測定装置を提供することに
ある。
【0010】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、請求項1記載の発明では、光源と、受光素子と、
光源の出射光を平行光にして被検物に照射し、その反射
光を集光して受光素子に結像するコリメートレンズとを
備え、受光素子の結像位置から被検物の傾きを測定する
被検物の傾き測定装置において、被検物に傾きが無いと
き、被検物への照射光の光軸と、被検物からの反射光の
光軸がV字型になるように配置する。これにより、光源
と、受光素子と、コリメートレンズのみで傾き測定装置
を構成することが可能となる。
【0011】また、請求項2記載の発明では、請求項1
記載の構成において、光源の出射光を反射してコリメー
トレンズに斜め方向から入射させる全反射ミラー、また
は光源の出射光をコリメートレンズに斜め方向から入射
させると共にコリメートレンズで集光された被検物の反
射光を反射して受光素子に結像させる全反射ミラーの少
なくとも一方を備える。このようにすると、V字角を小
さいままで維持しつつ、光源と受光素子との間の距離を
大きくでき、光源や受光素子の配置が容易となる。
【0012】さらに、請求項3記載の発明では、光源と
してレーザダイオードを用い、このレーザダイオードと
コリメートレンズとの間に集光レンズを介在させること
によりレーザダイオードから出射させる出射光の開角を
調整し、コリメートレンズに集光させるように構成して
いる。このように、一旦集光レンズでレーザダイオード
の光を集光し、開角を調整しているので、被検物に合っ
たレンズ系を構成することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。なお、図6や図7に示す部材と同一部材に
は同一符号を付して説明し、その説明を省略または簡易
化することとする。
【0014】図1は、本発明の傾き測定装置の第1の実
施の形態を示す図である。図において、光源となるレー
ザダイオード(LD)11から出射したレーザ光は、集
光レンズ12で集光され、その焦点に配置されたピンホ
ール13を通過し、所定の入射角(≠0)でコリメート
レンズ17に入射して平行光となり、被検物18を所定
の入射角で照射する。被検物18から所定の反射角で反
射した反射光は、コリメートレンズ17で集光され、受
光素子19上に結像する。
【0015】なお、コリメートレンズ17は、焦点調整
(図1の矢示A参照)が可能であり、受光素子19は焦
点調整(図1で上下方向移動)および角度ゼロ位置調整
(図1で左右方向および紙面の表裏方向)が可能となっ
ている。
【0016】このように、この傾き測定装置は、被検物
18が傾いていない状態のときに、レーザダイオード1
1の出射光の光軸aと、被検物18の反射光の光軸bが
V字型になるように配置する。すなわち、レーザダイオ
ード11の出射光をコリメートレンズ17に所定の入射
角で入射することにより、レーザダイオード11の出射
光と、被検物18の反射光を異なる光路に設定すること
ができる。
【0017】ただし、この第1の実施の形態の傾き測定
装置では、被検物18への照射光が所定の入射角をもつ
ので、レーザダイオード11および受光素子19と被検
物18が近接し、かつ被検物18までの距離が分かって
いるという条件が必要である。この条件のもとで、被検
物18からの反射光がコリメートレンズ17を介して受
光素子19に結像する位置に応じて、被検物18の傾き
を測定することが可能となる。ただし、この第1の実施
の形態の傾き測定装置では、後述する照明ユニットと受
光素子19の配置に十分なスペースをとる必要があり、
V字角が大きくなる傾向を有する。
【0018】この第1の実施の形態の傾き測定装置は、
受光素子19が小さく、照明ユニットも十分小さくでき
る場合や、V字の角度を大きくとっても性能的に問題の
無い場合に好適となる。
【0019】なお、図1の傾き測定装置の各部材の数値
は、次のとおりとなっているが、この数値に本発明は限
定されない。レーザダイオード11は、5mWでかつ6
35nmの赤外光を出射するものとなっている。集光レ
ンズ12は、NA値が0.45で、焦点距離が3.3m
mとなっており、ピンホール13の穴径は0.2mm
で、レーザダイオード11の出射面からピンホール13
までの距離は24mmとされている。コリメートレンズ
17は、NA値が0.45、F値が8、焦点距離が15
0mm、外径が20mmのはり合わせレンズとなってい
る。
【0020】図2は、第1の実施の形態の傾き測定装置
のユニット構成を示す図である。この第1の実施の形態
の傾き測定装置は、照明・カメラユニット21と、コリ
メータユニット22から構成される。照明・カメラユニ
ット21には、レーザダイオード11、集光レンズ1
2、ピンホール13,受光素子19、レーザダイオード
11の点灯制御を行う点灯回路35が備えられている。
コリメータユニット22には、コリメートレンズ17が
備えられ、前後可動して焦点調整可能となっている。
【0021】図3は、本発明の傾き測定装置の第2の実
施の形態を示す図である。図において、レーザダイオー
ド(LD)11から出射したレーザ光は、集光レンズ1
2で集光され、その焦点に配置されたピンホール13を
通過して全反射ミラー14で反射する。さらに、このレ
ーザ光は、所定の入射角(≠0)でコリメートレンズ1
7に入射して平行光となり、被検物18を所定の入射角
で照射する。被検物18から所定の反射角で反射した反
射光は、コリメートレンズ17で集光され、受光素子1
9上に結像する。
【0022】なお、全反射ミラー14は、3軸調整が可
能であり、コリメートレンズ17は焦点調整(図3の矢
示A参照)が可能であり、受光素子19は焦点調整(図
3で上下方向移動)および角度ゼロ位置調整(図3で左
右や紙面表裏方向)が可能となっている。
【0023】図4は、第2の実施の形態の傾き測定装置
におけるユニット構成を示す図である。図において、こ
の傾き測定装置は、照明・カメラユニット21と、コリ
メータユニット22から構成される。照明・カメラユニ
ット21には、レーザダイオード11、集光レンズ1
2、ピンホール13、全反射ミラー14、受光素子1
9、レーザダイオード11の点灯制御を行う点灯回路3
5が備えられる。コリメータユニット22にはコリメー
トレンズ17が備えられ、前後可動して焦点調整可能に
なっている。
【0024】この第2の実施の形態の傾き測定装置の各
部材の具体的な数値は、第1の実施の形態の場合と同一
となっているが、それらの数値に限定されることはな
い。この第2の実施の形態は、V字角を小さいままで維
持しつつ、レーザダイオード11と、受光素子19との
間の距離を大きくでき、受光素子19の大きさ等に制約
を受けず、適用範囲が広いものとなる。
【0025】このように、上述の両実施の形態の傾き測
定装置は、図7に示す従来のレーザオートコリメータの
ユニット構成に比べて、大幅に簡単化することができ
る。この結果、組立工数、組立時間が減少し、組立効率
が向上する。また、製品の価格を低下させることができ
る。また、光の干渉やパワーロスなどを考慮する必要が
減少し、光源を偏波光とするなどの特別な考慮を、それ
ほど必要としないで済むようになる。
【0026】図5は、本発明の傾き装置装置の利用形態
を説明する図である。ここでは、光ディスクのピックア
ップ部で用いられる偏光ビームスプリッタの平行度を検
査する場合について説明する。
【0027】光ディスクのピックアップ部は、次のよう
な構成である。レーザダイオード(LD)51から出射
された直線偏波(例えばp偏波)のレーザ光は、コリメ
ートレンズ52で平行光となり、偏光ビームスプリッタ
53で反射し、λ/4板54を通過して円偏波となり、
対物レンズ55を介して光ディスク56に集光する。光
ディスク56で反射した反射光は、対物レンズ55で集
光され、λ/4板54を通過して直線偏波(例えばs偏
波)となり、偏光ビームスプリッタ53を透過し、集光
レンズ57で集光されてフォトディテクタ(PD)58
に受光される。
【0028】ここで、レーザダイオード51またはフォ
トディテクタ58を取り外し、本発明の傾き測定装置を
その位置に配置することにより、偏光ビームスプリッタ
53の平行度(傾き)を測定することができる。このよ
うに、本発明の傾き測定装置は、極めて限られた小さな
範囲で、かつ被検物の位置(傾き測定装置との距離)が
判明しており、傾きだけが変動するような状況において
の利用に適する。
【0029】なお、上述の各実施の形態は、本発明の好
適な実施の形態の例であるが、これに限定されるもので
はなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の
変形実施が可能である。例えば、図3の構成において、
レーザダイオード11の出射光を反射する全反射ミラー
14と同様に、受光素子19の手前に被検物18の反射
光を反射する全反射ミラーを配置するようにしてもよ
い。
【0030】また、1つのコリメートレンズ17とせ
ず、コリメートレンズを2つとし、入射用と出射用に分
けても良い。さらに、集光レンズ12を設けないように
しても良い。また、被検物18が平行(基準位置)のと
き、反射光が受光素子19の中央にくるように配置する
のが好ましいが、傾き方向が常に一方側の場合は、受光
素子19の一端側に平行時の反射光がくるように構成し
ても良い。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明では、光源の出射光をコリメートレンズに所定の入射
角で入射し、光源の出射光の光軸と、被検物の反射光の
光軸がV字型になるように配置することにより、光源
と、受光素子と、コリメートレンズのみで傾き測定装置
を構成することができる。すなわち、偏光ビームスプリ
ッタを用いない簡単かつ安価な傾き測定装置を実現する
ことができる。また、光のパワーロスが少なく、しかも
干渉現象が生じない傾き測定装置とすることができる。
【0032】また、請求項2記載の発明では、光源と受
光素子との距離を離間させることができる。これによ
り、受光面積の大きな受光素子を用いることができ、被
検物の傾き測定範囲を大きくすることができる。また、
V字角を小さいままで維持しつつ、光源と受光素子との
間の距離を大きくできるので、光源や受光素子の配置が
容易となる。また、この構成により受光面積の大きな受
光素子を用いることができ、被検物の傾き測定範囲を大
きくすることができる。
【0033】さらに、請求項3記載の発明では、光源と
してレーザダイオードを用い、このレーザダイオードと
コリメートレンズとの間に集光レンズを介在させること
によりレーザダイオードから出射させる出射光の開角を
調整し、コリメートレンズに集光させるように構成して
いる。このため、光の使用効率が向上し、精度の良い測
定が可能となると共に、一旦集光レンズでレーザダイオ
ードの光を集光し、開角を調整しているので、被検物の
性質、形状にに合ったレンズ系を構成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の傾き測定装置の第1の実施の形態を示
す図である。
【図2】図1の傾き測定装置のユニット構成を示す図で
ある。
【図3】本発明の傾き測定装置の第2の実施の形態を示
す図である。
【図4】図3の傾き測定装置のユニット構成を示す図で
ある。
【図5】本発明の傾き装置装置の利用形態を説明する図
である。
【図6】従来のレーザオートコリメータの基本構成を示
す図である。
【図7】従来のレーザオートコリメータのユニット構成
を示す図である。
【符号の説明】 11 レーザダイオード(光源) 12 集光レンズ 13 ピンホール 17 コリメートレンズ 18 被検物 19 受光素子 21 照明・カメラユニット 22 コリメータユニット 35 点灯回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 利幸 長野県諏訪市大字中州4600番地 日新工機 株式会社内 (72)発明者 振旗 寛明 長野県諏訪市大字中州4600番地 日新工機 株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA33 AA35 AA37 CC21 DD00 EE00 EE05 FF01 FF43 GG12 HH03 JJ01 JJ16 JJ26 LL04 LL12 LL30 NN02 PP02 PP03 QQ28

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、受光素子と、上記光源の出射光
    を平行光にして被検物に照射し、その反射光を集光して
    上記受光素子に結像するコリメートレンズとを備え、上
    記受光素子の結像位置から上記被検物の傾きを測定する
    被検物の傾き測定装置において、 上記被検物に傾きが無いとき、上記被検物への照射光の
    光軸と、上記被検物からの反射光の光軸がV字型になる
    ように配置したことを特徴とする被検物の傾き測定装
    置。
  2. 【請求項2】 前記光源の出射光を反射して前記コリメ
    ートレンズに斜め方向から入射させる全反射ミラー、ま
    たは前記光源の出射光を前記コリメートレンズに斜め方
    向から入射させると共に前記コリメートレンズで集光さ
    れた前記被検物の反射光を反射して前記受光素子に結像
    させる全反射ミラーの少なくとも一方を備えたことを特
    徴とする請求項1記載の被検物の傾き測定装置。
  3. 【請求項3】 前記光源としてレーザダイオードを用
    い、このレーザダイオードと前記コリメートレンズとの
    間に集光レンズを介在させることにより前記レーザダイ
    オードから出射させる出射光の開角を調整し、前記コリ
    メートレンズに集光させるように構成したことを特徴と
    する請求項1または2記載の被検物の傾き測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013007662A (ja) * 2011-06-24 2013-01-10 Mitsutoyo Corp 斜入射干渉計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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