JP2001078038A - 画像処理装置、方法及び記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 様々な欠陥部を各々精度良く修正することを
可能とする。 【解決手段】 写真フィルムに記録された画像をR,G,B,
IRについて各々読み取り、R,G,B,IRの各データに対して
倍率色収差補正(101)を行った後に、IRデータに基づき
処理対象の画像の欠陥部を検出し(102)、処理対象の欠
陥部に対して所定の特徴量を演算し(106)、演算結果に
基づいて処理対象の欠陥に対する修正方法として補間方
法と輝度調整方法の何れかを選択するか、双方の修正方
法の適用範囲を決定する(108)。そして、双方の修正方
法の何れか一方又は両方を適用して修正値を決定(110〜
116)した後に、最終的な修正値を決定する(118)。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は画像処理装置、方法
及び記録媒体に係り、特に、画像情報が表す画像中の欠
陥部を修正する画像処理装置、該画像処理装置に適用可
能な画像処理方法、及びコンピュータを画像処理装置と
して機能させるためのプログラムが記録された記録媒体
に関する。

【０００２】

【従来の技術】写真フィルムは、取扱い方によっては乳
剤面やバック面（乳剤面の裏面）に傷が付くことがある
が、写真フィルムの画像記録領域内に相当する箇所に傷
が付いていた場合、該写真フィルムに記録されている画
像を出力（印画紙等の画像記録材料に記録、或いはディ
スプレイ等の表示手段に表示）したとすると、傷の程度
にもよるが、写真フィルムに付いた傷が、低濃度の筋や
白い筋等の欠陥部として出力画像上で明瞭に視認される
ことが多い。また、写真フィルムの表面に塵埃等の異物
が付着していた場合にも、該異物が欠陥部として明瞭に
視認される。

【０００３】写真フィルムに光を照射し写真フィルムを
透過した光を印画紙に照射することで印画紙に画像を露
光記録する面露光タイプの写真焼付装置では、写真フィ
ルムの傷付き対策として、光源と写真フィルムとの間に
拡散板を配置し、拡散板によって散乱された光を写真フ
ィルムに照射している。しかし、上記技術では出力画像
（印画紙に露光記録した画像）中の欠陥部を消去するこ
とは困難であり、欠陥が若干軽減される（目立たなくな
る）に過ぎない。

【０００４】また、写真フィルムに記録された画像をＣ
ＣＤ等の読取センサによって読み取る構成の画像読取装
置に適用可能な技術として、特開平１１−７５０３９号
公報には、可視光域３波長と、非可視光域（例えば赤外
域や紫外域）１波長を含む少なくとも４波長以上の波長
域で写真フィルムを各々読み取り、非可視光域での読み
取りによって得られた情報に基づいて、可視光域での読
み取りによって得られた画像情報を補正する技術が開示
されている。

【０００５】可視光域の光は、写真フィルムに記録され
ている画像濃度に応じて透過光量が変化すると共に、写
真フィルムに傷や異物が付いている箇所でも傷や異物に
よって光が一部屈折されたり反射されることで透過光量
が変化する。一方、非可視光域の光は、写真フィルムに
傷や異物が付いている箇所では透過光量が変化するもの
の、写真フィルムに記録されている画像濃度の影響は受
けない。

【０００６】従って、前記公報に記載の技術によれば、
非可視光域の光の透過光量の変化から写真フィルムに付
いている傷や異物を検出し、写真フィルムに付いている
傷や異物に起因する可視光域の光の透過光量の変動を補
正すること、すなわち写真フィルムに付いている傷や異
物に起因する画像（可視光域での読み取りによって得ら
れた画像情報が表す画像）の欠陥部を修正することが可
能となる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、欠陥部を修
正するための修正方法（修正アルゴリズム）としては種
々の修正方法が考えられ、例えば欠陥部の周囲の領域の
情報から欠陥部の輝度及び濃度を補間によって決定して
欠陥部を修正する修正方法（補間方法）、欠陥部領域の
輝度を調整することで画像の欠陥部を修正する修正方法
（輝度調整方法）、欠陥部やその付近の領域における空
間周波数の高周波成分を減じ欠陥部をぼかすことで欠陥
部を修正する修正方法（ぼかし方法）等が考えられる。

【０００８】しかしながら、上記何れの修正方法も何ら
かの欠点を有している。すなわち補間方法は、欠陥部内
及び該欠陥部に隣接する周囲領域において元の画像の濃
度が滑らかかつ連続的に変化していることを前提とし
て、前記周囲領域における濃度変化から補間を行うもの
であるので、例えば欠陥部内において本来は濃度が複雑
に変化している等の場合に補間演算の精度（元の画像の
濃度の再現精度）が低く、違和感を与える不適正な修正
結果となることがある。

【０００９】また、補間方法による欠陥部の修正では、
欠陥部の周囲の領域のうち何れの方向（補間方向）に存
在する領域の情報を用いて補間を行うかによって修正精
度が大きく相違するが、欠陥部を適正に修正できる適正
な補間方向は欠陥部によって異なるので、修正対象の欠
陥部によって修正精度が大きくばらつく、という欠点も
ある。

【００１０】また、例えば写真フィルムの乳剤面側に傷
が付いていたり、或いは写真フィルムに異物が付着して
いることに起因して生ずる欠陥部は、写真フィルムに記
録された画像を読み取ることによって得られる画像デー
タ上での前記欠陥部の色が、写真フィルムに撮影記録さ
れた被写体における前記欠陥部に相当する部分の色と相
違していることが多い。これに対し、輝度調整方法は欠
陥部の色を変えずに輝度のみを調整するものであるの
で、上記のような欠陥部を精度良く修正することは困難
である。

【００１１】また、輝度調整方法では、欠陥部付近にお
ける非可視光域の光の透過光量の変化に基づいて輝度調
整量を決定するが、写真フィルムに付いている傷等によ
る屈折率が光の波長によって相違している等の理由によ
り、欠陥部付近における非可視光域の光の透過光量の変
化が、欠陥部付近における傷等に起因する可視光域の光
の透過光量の変化と若干相違していることがあり、非可
視光域の光の透過光量の変化に基づいて決定した輝度調
整量に従って欠陥部を修正したとしても、例えば前記透
過光量の変化の相違が微小な欠陥部として残ることがあ
った。

【００１２】また、ぼかし方法は欠陥部やその付近の領
域における空間周波数の高周波成分を減じて欠陥部をぼ
かすものであるので、深い傷や比較的サイズの大きな異
物の付着に起因する欠陥部の修正には適していない。す
なわち、上記のような欠陥部を修正するためには欠陥部
をぼかす度合いを大きくする必要があり、画像の画質低
下を招くことがある。このように、上述した種々の修正
方法の何れを適用したとしても、互いに異なる特徴を備
えた様々な欠陥部の各々を精度良く修正することは困難
であった。

【００１３】一方、デジタルスチルカメラ（ＤＳＣ：以
下単にデジタルカメラという）が内蔵しているＣＣＤ等
の光電変換素子の多数の光電変換セルの中に、入射光量
と出力信号との関係が所期の関係と異なっているセル
（所謂欠陥画素）が存在していた場合にも、被写体を撮
像することで得られる画像データが表す画像に、写真フ
ィルムに付いた傷や異物に起因する欠陥部と同様の欠陥
部が生ずる。この欠陥部も写真フィルムに付いた傷や異
物に起因する欠陥部と同様に修正可能であるが、この修
正に前記何れの修正方法を適用したとしても、様々な欠
陥部の各々を精度良く修正することは困難であった。

【００１４】本発明は上記事実を考慮して成されたもの
で、様々な欠陥部を各々精度良く修正することが可能な
画像処理装置、方法及び記録媒体を得ることが第１の目
的である。

【００１５】また本発明は、補間方法による欠陥部の修
正における修正精度のばらつきを抑制することができる
画像処理装置、方法及び記録媒体を得ることが第２の目
的である。

【００１６】更に本発明は、輝度調整方法による欠陥部
の修正精度を向上させることができる画像処理装置、方
法及び記録媒体を得ることが第３の目的である。

【００１７】

【課題を解決するための手段】前述したように、画像の
欠陥部を修正するための複数種の修正方法は何らかの欠
点を有しているが、本願発明者は、これらの修正方法に
よって適正に修正可能な欠陥部が各修正方法毎に異なっ
ていると共に、適正な修正方法が異なる欠陥部が互いに
異なる特徴を有している点に着目し、画像中の個々の欠
陥部毎に、その画像特徴量に基づいて、複数種の修正方
法の中から何れか１つを選択的に適用するか、或いは複
数種の修正方法の中から２つ以上の修正方法を各々の適
用範囲を適正に定めて組み合わせて適用することで、各
種の欠陥部を精度良く修正できることに想到し、請求項
１の発明を成すに至った。

【００１８】上記に基づき、第１の目的を達成するため
に請求項１記載の発明に係る画像処理装置は、画像情報
が表す画像の欠陥部を検出する検出手段と、欠陥部の特
徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき修正方法を
複数種の修正方法の中から選択するか、又は欠陥部の修
正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適用範囲を決
定する決定手段と、前記画像情報に対し、前記決定手段
によって選択された修正方法を適用して欠陥部の修正を
行うか、又は前記２つ以上の修正方法を前記決定手段に
よって決定された適用範囲内で各々適用して欠陥部の修
正を行う修正手段と、を含んで構成されている。

【００１９】請求項１記載の発明に係る画像処理装置
は、具体的には、例えば写真感光材料等の画像記録材料
に光を照射し、前記画像記録材料を透過又は反射した光
を、多数の光電変換セルを備えた光電変換素子によって
光電変換する（読み取る）ことで前記画像記録材料に記
録された画像の画像情報を取得し、各種の補正（例えば
暗補正やシェーディング補正等）や各種の画像処理（例
えば色補正や濃度補正等）を行って出力する構成であっ
てもよいし、被写体からの光を光電変換素子によって光
電変換することで前記被写体を含む画像の画像情報を取
得し、取得した画像情報を情報記憶媒体へ記憶させる構
成（所謂デジタルカメラ）であってもよい。また、画像
記録材料に記録された画像を読み取る画像読取装置、或
いは該画像読取装置やデジタルカメラ等の画像情報入力
機器から画像情報を取得する構成の装置を請求項１の発
明に係る画像処理装置として用いてもよい。

【００２０】また請求項１の発明に係る画像処理装置
は、画像情報が表す画像の欠陥部を検出する検出手段を
備えている。この欠陥部の検出は、具体的には以下のよ
うに行うことができる。すなわち、画像情報が画像記録
材料に記録された画像を表している場合、画像記録材料
に付いている傷や異物に起因する欠陥部を検出すること
は、例えば請求項２にも記載したように、画像が記録さ
れた画像記録材料に非可視光を照射し、画像記録材料を
透過又は反射した非可視光を光電変換した結果から検出
することができる。また、光電変換素子を用いて画像情
報を取得する態様において、光電変換素子の欠陥画素に
起因する欠陥部を検出することは、例えば画像処理装置
の製造時に、検査によって発見された光電変換素子の欠
陥画素を特定するための情報が記憶手段に記憶されるの
であれば、該記憶手段に記憶された欠陥画素を特定する
ための情報を読み出すことで行うことができる。

【００２１】また、請求項１の発明に係る決定手段は、
欠陥部の特徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき
修正方法を複数種の修正方法の中から選択するか、又は
欠陥部の修正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適
用範囲を決定するので、欠陥部が適正に修正されるよう
に最適な修正方法を選択するか、又は最適な適用範囲を
決定することができる。なお、複数種の修正方法として
は、例えば請求項５に記載したように、欠陥部の情報を
該欠陥部の周囲の領域の情報から補間によって求める補
間方法や、欠陥部の輝度が変化するように画像情報を修
正する輝度調整方法を含むことができる。また、欠陥部
やその付近の領域における空間周波数の高周波成分を減
じて欠陥部がぼけるように画像情報を修正するぼかし方
法を含んでいてもよい。

【００２２】そして、請求項１の発明に係る修正手段
は、画像情報に対し、決定手段によって選択された修正
方法を適用して欠陥部の修正を行うか、又は２つ以上の
修正方法を決定手段によって決定された適用範囲内で各
々適用して欠陥部の修正を行うので、様々な欠陥部（例
えば適正に修正可能な修正方法が異なる欠陥部）を各々
精度良く修正することが可能となる。

【００２３】なお、画像情報が画像記録材料に記録され
た画像を表している場合、請求項２に記載したように、
検出手段は、画像が記録された画像記録材料に非可視光
を照射し、画像記録材料を透過又は反射した非可視光を
光電変換した結果から画像の欠陥部を検出することが好
ましい。これにより、画像記録材料の画像記録領域内に
付いている傷又は異物に起因する欠陥部を確実に検出す
ることができる。

【００２４】請求項３記載の発明は、請求項１の発明に
おいて、決定手段は、欠陥部の特徴量として、画像情報
が表す画像の欠陥部付近における各成分色毎の濃度変化
の相関、前記画像の欠陥部の周囲の領域における濃度の
分布、欠陥部が前記画像中の主要部領域内に存在してい
るか否か、及び、欠陥部の前記主要部領域との重複割合
の少なくとも１つを用いて、適用すべき修正方法の選択
又は適用範囲の決定を行うことを特徴としている。

【００２５】例えば元の色の情報が残っている欠陥部
は、輝度調整方法や他の類似の修正方法によって精度良
く修正することができるが、元の色が残っていない欠陥
部の修正には補間方法や他の類似の修正方法が適してい
る。欠陥部に元の色の情報が残っていれば欠陥部付近に
おける各成分色毎の濃度変化の相関が強く、欠陥部に元
の色の情報が残っていなければ前記相関は弱いことが多
いので、欠陥部付近における各成分色毎の濃度変化の相
関に基づいて、上記のように適正な修正方法が異なる欠
陥部の切り分けを行うことができる。

【００２６】また、例えば周囲の領域における濃度の変
化が緩やかな欠陥部は、補間方法や他の類似の修正方法
によって精度良く修正することができるが、欠陥部の周
囲の領域に濃度が急激に変化している箇所（所謂エッ
ジ）やテクスチャ（細かな模様パターンが一様に分布し
ている状態）が存在していた場合の欠陥部の修正は、欠
陥部に元の色が残っているか否かにも依存するが輝度調
整方法や他の類似の修正方法が適している。適正な修正
方法が異なる上記のような欠陥部は、欠陥部の周囲の領
域における濃度の分布に基づいて切り分けを行うことが
できる。

【００２７】更に、画像中の主要部領域（例えば人物の
顔に相当する領域）は、画像の鑑賞等において注目され
る領域であるので、欠陥部が主要部領域内に位置してい
る場合や、欠陥部の一部が主要部領域と重複しておりか
つ重複割合が高い場合には、該欠陥部に対する修正結果
が不適正となることは好ましくなく、欠陥部に元の色が
残っているか否かにも依存するが輝度調整方法や他の類
似の修正方法が適している。上記のような欠陥部は、欠
陥部が画像中の主要部領域内に存在しているか否か、或
いは欠陥部の主要部領域との重複割合に基づいて抽出で
きる。

【００２８】請求項３の発明では、欠陥部付近における
各成分色毎の濃度変化の相関、欠陥部の周囲の領域にお
ける濃度の分布、欠陥部が主要部領域内に存在している
か否か、及び、欠陥部の主要部領域との重複割合の少な
くとも１つを用いて、適用すべき修正方法の選択又は適
用範囲の決定を行うので、修正方法の選択又は適用範囲
の決定を精度良く行うことができる。

【００２９】請求項４記載の発明は、請求項２の発明に
おいて、決定手段は、欠陥部の特徴量として、画像記録
材料に非可視光を照射したときの欠陥部付近における非
可視光の透過又は反射光量の変化と、画像記録材料に可
視光を照射したときの欠陥部付近における可視光の透過
又は反射光量の変化の相関、及び欠陥部付近における非
可視光の透過又は反射光量の少なくとも一方を用いて、
適用すべき修正方法の選択又は適用範囲の決定を行うこ
とを特徴としている。

【００３０】欠陥部に元の色の情報が残っているか否か
は、前述のように欠陥部付近における各成分色毎の濃度
変化の相関から判定可能であるが、画像情報が画像記録
材料に記録されている画像を表している場合、欠陥部に
元の色の情報が残っていれば、画像記録材料に非可視光
を照射したときの欠陥部付近における非可視光の透過又
は反射光量の変化と、画像記録材料に可視光を照射した
ときの欠陥部付近における可視光の透過又は反射光量の
変化の相関が強くなり、欠陥部に元の色の情報が残って
いなければ前記相関は弱くなる。従って、欠陥部付近に
おける非可視光と可視光の透過又は反射光量の変化の相
関に基づいて、適正な修正方法が異なる欠陥部を弁別す
ることができる。

【００３１】また、規模等が大きな欠陥部は修正結果が
不適正となると目立つので、このような欠陥部の修正に
は輝度調整方法や他の類似の修正方法が適している。画
像情報が画像記録材料に記録された画像を表している場
合、該画像情報が表す画像中の欠陥部の規模等は、画像
記録材料に非可視光を照射したときの欠陥部付近におけ
る非可視光の透過又は反射光量から判断することができ
る。

【００３２】請求項４の発明の発明では、欠陥部付近に
おける非可視光と可視光の透過又は反射光量の変化の相
関、及び欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光
量の少なくとも一方を用いて、適用すべき修正方法の選
択又は適用範囲の決定を行うので、修正方法の選択又は
適用範囲の決定を精度良く行うことができる。

【００３３】ところで、例えば画像記録材料が、光透過
性を有する支持体の一方の面に互いに異なる複数種の色
素層が各々形成された透過原稿（例えば写真フィルム）
である等の場合、画像記録材料に傷が付いている箇所で
の透過光量は一般に光の波長に拘わらず低下するが、傷
によって画像記録材料の色素層が損傷を受けているとき
には、損傷を受けた色素層に対応する波長域の光の透過
光量は、損傷を受けた箇所の周囲の箇所における透過光
量よりも増大する。そして、上記のように傷によって色
素層が損傷を受けている場合、傷によって生ずる欠陥部
に元の色の情報が残っていないので、このような欠陥部
の修正には補間方法や他の類似の修正方法が適してい
る。

【００３４】上記に基づき請求項６記載の発明では、画
像記録材料に非可視光及び可視域内の所定の複数の波長
域の光を各々照射したときに、非可視光については欠陥
部における透過光量が欠陥部の周囲の領域における透過
光量より低く、かつ前記複数の波長域のうちの少なくと
も１つの波長域の光については、欠陥部における透過光
量が前記周囲の領域における透過光量より高い場合に
は、欠陥部の修正に適用すべき修正方法として、欠陥部
の情報を該欠陥部の周囲の領域の情報から補間によって
求める補間方法を選択する。これにより、修正方法選択
対象の欠陥部が、画像記録材料に付いた傷によって色素
層が損傷を受けている箇所に対応する欠陥部か否かを正
確に判定することができ、色素層に損傷を与えている傷
に起因する欠陥部を精度良く修正することができる。

【００３５】また、欠陥部に対応する画像記録材料上の
所定箇所において光の波長に拘わらず透過光量の低下が
生ずる場合、前記所定箇所には色素層に損傷を与えない
傷が付いているか、或いは異物が付着していることが考
えられるが、例えば付着している異物を除去した後の画
像記録材料に、光の波長に拘わらず透過光量が低下する
箇所が存在していた場合、該箇所には色素層に損傷を与
えない傷が付いていると推測され、上記のような傷によ
って生ずる欠陥部には元の色の情報が残っているので、
該欠陥部の修正には輝度調整方法や他の類似の修正方法
が適している。

【００３６】上記に基づき請求項７記載の発明では、画
像記録材料に非可視光及び可視域内の所定の複数の波長
域の光を各々照射したときに、非可視光及び前記複数の
波長域の光の何れについても、欠陥部における透過光量
が欠陥部の周囲の領域における透過光量より低い場合に
は、欠陥部の修正に適用すべき修正方法として、欠陥部
の輝度が変化するように画像情報を修正する輝度調整方
法を選択する。これにより、修正方法選択対象の欠陥部
が、画像記録材料に付いた傷によって色素層が損傷を受
けていない箇所に対応する欠陥部か否かを正確に判定す
ることができ、色素層に損傷を与えていない傷に起因す
る欠陥部を精度良く修正することができる。

【００３７】第２の目的を達成するために請求項８記載
の発明に係る画像処理装置は、画像情報が表す画像中に
存在する欠陥部に対し、該欠陥部内から互いに異なる複
数の方向に沿って画像特徴量を各々演算する特徴量演算
手段と、前記欠陥部に対して画像上で所定の方向に存在
する領域の情報から前記欠陥部を修正するための修正値
を補間によって求めることを前記複数の方向について各
々行う個別修正値演算手段と、前記特徴量演算手段によ
って演算された各方向毎の画像特徴量に基づいて、前記
個別修正値演算手段によって各方向毎に演算された修正
値から最終修正値を求める最終修正値演算手段と、前記
画像情報に対し、前記最終修正値演算手段によって演算
された最終修正値を用いて前記欠陥部の修正を行う修正
手段と、を含んで構成されている。

【００３８】請求項８記載の発明では、画像情報が表す
画像中に存在する欠陥部に対し、特徴量演算手段によ
り、該欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿って画
像特徴量が各々演算される。なお、特徴量演算手段が演
算する画像特徴量としては、各方向が適正な補間方向か
否かを評価可能な画像特徴量を用いることができ、例え
ば画像領域の境界やテクスチャが存在しているか否かを
判定可能な画像特徴量や、欠陥部と非欠陥部との境界位
置に関連する画像特徴量を用いることができる。

【００３９】また、請求項８の発明に係る個別修正値演
算手段は、欠陥部に対して画像上で所定の方向に存在す
る領域の情報から欠陥部を修正するための修正値を補間
によって求めることを複数の方向について各々行い、最
終修正値演算手段は、特徴量演算手段によって演算され
た各方向毎の画像特徴量に基づいて、個別修正値演算手
段によって各方向毎に演算された修正値から最終修正値
を求める。最終修正値は、例えば各方向毎の画像特徴量
から各方向毎の重みを決定し、各方向毎の修正値の加重
平均を演算する等によって求めることができる。

【００４０】このように、請求項８の発明では、複数の
方向について各々修正値を求めるので、何れかの方向が
適正な補間方向に合致している可能性が高く、各方向毎
の画像特徴量に基づいて各方向毎の修正値から最終修正
値を求めるので、最終修正値に対し、画像特徴量から適
正な補間方向と推定される方向についての修正値が及ぼ
す影響が大きくなるように、最終修正値を演算すること
ができる。従って、請求項８の発明によれば、個々の欠
陥部毎に適正な補間方向が相違していることによる影響
を小さくすることができ、補間方法による欠陥部の修正
における修正精度のばらつきを抑制することができる。

【００４１】請求項９記載の発明は、請求項８の発明に
おいて、特徴量演算手段は、画像特徴量として、所定の
方向に沿った画像の濃度変化、画像情報が表す画像が記
録された画像記録材料に非可視光を照射したときの画像
記録材料を透過又は反射した非可視光の所定の方向に沿
った光量変化、所定の方向に沿って一定距離内に画像上
に存在している欠陥画素の数、及び、所定の方向に沿っ
て画像を辿ったときに欠陥部に属さない正常画素が出現
する迄の距離、の少なくとも何れかを、複数の方向につ
いて各々演算することを特徴としている。

【００４２】補間方法は、欠陥部内及び該欠陥部に隣接
する周囲領域において元の画像の濃度が滑らかかつ連続
的に変化していることを前提として補間を行うものであ
るので、例えば欠陥部の周囲に、異なる画像領域の境界
やテクスチャ等のように濃度が大きく又は複雑に変化し
ている領域が存在していた場合、前記領域が存在してい
る方向を補間方向としたときの補間演算の精度は低く、
適正な補間方向（高い補間演算精度が得られる方向）は
前記領域が存在している方向と異なる方向となる。上記
のような画像領域の境界やテクスチャの有無等は各方向
に沿った画像の濃度変化から判断することができる。

【００４３】また補間方法では、補間方向に沿った欠陥
部の長さ（補間長さ）が長くなるに従って補間演算の精
度が低下し、適正な補間方向は補間長さの短い方向とな
る。補間長さは、画像情報が表す画像が記録された画像
記録材料に非可視光を照射したときの画像記録材料を透
過又は反射した非可視光の光量変化（これにより欠陥部
の境界位置が検知できる）、又は一定距離内に画像上に
存在している欠陥画素の数、又は画像を辿ったときに欠
陥部に属さない正常画素が出現する迄の距離の何れか
（欠陥部と非欠陥部との境界位置に関連する画像特徴
量）から判断することができる。

【００４４】請求項９の発明では、画像特徴量として、
所定の方向に沿った画像の濃度変化、画像記録材料を透
過又は反射した非可視光の所定の方向に沿った光量変
化、所定の方向に沿って一定距離内に画像上に存在して
いる欠陥画素の数、及び、所定の方向に沿って画像を辿
ったときに欠陥部に属さない正常画素が出現する迄の距
離、の少なくとも何れかを複数の方向について各々演算
するので、複数の方向の各々が適正な補間方向か否かを
正確に評価できる画像特徴量が得られる。

【００４５】請求項１０記載の発明は、請求項８の発明
において、特徴量演算手段及び個別修正値演算手段の少
なくとも一方は、所定方向に沿って画像を辿ったときに
欠陥部に属さない正常画素が一定数出現する迄の範囲で
画像特徴量又は修正値を演算することを、複数の方向に
ついて各々行うことを特徴としている。

【００４６】請求項１０の発明では、各方向毎の画像特
徴量又は修正値の演算が、所定方向に沿って画像を辿っ
たときに欠陥部に属さない正常画素が一定数（例えば画
像特徴量又は修正値の演算に支障を来さない程度の数）
出現する迄の範囲で行われるので、画像特徴量又は修正
値の演算に要する時間を短縮することができる。

【００４７】第３の目的を達成するために請求項１１記
載の発明に係る画像処理装置は、画像記録材料に記録さ
れた画像を表す画像情報から検出された前記画像の欠陥
部に対し、前記画像記録材料に非可視光を照射したとき
の前記欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光量
と、画像記録材料における可視光と非可視光の屈折率の
相違とに基づいて、前記欠陥部を修正するための輝度変
更量を演算する演算手段と、前記画像情報が表す画像の
前記欠陥部の輝度が、前記演算手段によって演算された
輝度変化量だけ変化するように画像情報を修正する修正
手段と、を含んで構成されている。

【００４８】画像記録材料に非可視光を照射したときの
非可視光の透過又は反射光量は、画像記録材料に記録さ
れている画像濃度の影響は受けず、画像記録材料に付い
ている傷等のみに応じて変化するが、このときの非可視
光の透過又は反射光量の変化量は、画像記録材料におけ
る可視光と非可視光の屈折率の相違により、画像記録材
料に可視光を照射したときの、画像記録材料に付いてい
る傷等に起因する可視光の透過又は反射光量の変化量と
は相違している。

【００４９】これに対して請求項１１記載の発明に係る
演算手段は、画像記録材料に非可視光を照射したときの
欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光量と、画
像記録材料における可視光と非可視光の屈折率の相違と
に基づいて、欠陥部を修正するための輝度変更量を演算
しているので、画像記録材料に付いている傷等に起因す
る可視光の透過又は反射光量の変化量を正確に求めるこ
とができ、該変化量が正確に補正されるように輝度変更
量を演算することができる。そして修正手段は、演算さ
れた輝度変化量だけ欠陥部の輝度が変化するように画像
情報を修正するので、輝度調整方法による欠陥部の修正
精度を向上させることができる。

【００５０】なお、画像記録材料における可視光と非可
視光の屈折率の相違については、請求項１２に記載した
ように、画像記録材料に非可視光を照射したときの欠陥
部付近における非可視光の透過又は反射光量の変化から
高周波成分を抽出した値と、画像記録材料に可視光を照
射したときの欠陥部付近における可視光の透過又は反射
光量の変化から高周波成分を抽出した値と、の比を演算
することで、前記相違を表す特徴量を得ることができ
る。非可視光及び可視光の光量の変化から高周波成分を
抽出することで、光量変化の直流成分や低周波成分（こ
れらは傷等に起因する成分でないことが殆どである）を
除去することができ、前記屈折率の相違に起因する光量
の比を正確に表す特徴量を得ることができる。

【００５１】また、前記屈折率の相違については、請求
項１２に記載したように、画像記録材料の種類に基づい
て、前記相違を表す特徴量を取得することも可能であ
る。すなわち、光の波長毎の屈折率の相違は、画像記録
材料の材質（詳しくは支持体の材質）によっておおよそ
定まるので、画像記録材料の種類から可視光と非可視光
の屈折率の相違を特定することができ、前記相違を表す
特徴量を取得することができる。

【００５２】請求項１２の発明では、画像記録材料にお
ける可視光と非可視光の屈折率の相違を表す特徴量とし
て、欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光量の
変化から高周波成分を抽出した値と、欠陥部付近におけ
る可視光の透過又は反射光量の変化から高周波成分を抽
出した値と、の比を演算するか、又は画像記録材料の種
類に基づいて前記特徴量を取得するので、該特徴量を用
いて輝度修正量を演算することで、画像記録材料に付い
ている傷等に起因する可視光の透過又は反射光量の変化
を正確に補正できる輝度変更量を得ることができる。

【００５３】請求項１３記載の発明に係る画像処理方法
は、画像情報が表す画像の欠陥部を検出し、欠陥部の特
徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき修正方法を
複数種の修正方法の中から選択するか、又は欠陥部の修
正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適用範囲を決
定し、前記画像情報に対し、前記選択した修正方法を適
用して欠陥部の修正を行うか、又は前記２つ以上の修正
方法を前記決定した適用範囲内で各々適用して欠陥部の
修正を行うので、請求項１の発明と同様に、様々な欠陥
部を各々精度良く修正することが可能となる。

【００５４】請求項１４記載の発明に係る画像処理方法
は、画像情報が表す画像中に存在する欠陥部に対し、該
欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿って画像特徴
量を各々演算すると共に、前記欠陥部に対して画像上で
所定の方向に存在する領域の情報から前記欠陥部を修正
するための修正値を補間によって求めることを前記複数
の方向について各々行い、前記各方向毎の画像特徴量に
基づいて、前記各方向毎の修正値から最終修正値を求
め、前記画像情報に対し、前記最終修正値を用いて前記
欠陥部の修正を行うので、請求項８の発明と同様に、補
間方法による欠陥部の修正における修正精度のばらつき
を抑制することができる。

【００５５】請求項１５記載の発明に係る画像処理方法
は、画像記録材料に記録された画像を表す画像情報から
検出された前記画像の欠陥部に対し、前記画像記録材料
に非可視光を照射したときの前記欠陥部付近における非
可視光の透過又は反射光量と、画像記録材料における可
視光と非可視光の屈折率の相違とに基づいて、前記欠陥
部を修正するための輝度変更量を演算し、前記画像情報
が表す画像の前記欠陥部の輝度が、前記演算手段によっ
て演算された輝度変化量だけ変化するように画像情報を
修正するので、請求項１１の発明と同様に、輝度調整方
法により欠陥部を高精度に修正することができる。

【００５６】請求項１６記載の発明に係る記録媒体は、
画像情報が表す画像の欠陥部を検出する第１のステッ
プ、欠陥部の特徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用す
べき修正方法を複数種の修正方法の中から選択するか、
又は欠陥部の修正に適用する２つ以上の修正方法の各々
の適用範囲を決定する第２のステップ、及び、前記画像
情報に対し、前記選択した修正方法を適用して欠陥部の
修正を行うか、又は前記２つ以上の修正方法を前記決定
した適用範囲内で各々適用して欠陥部の修正を行う第３
のステップを含む処理をコンピュータに実行させるため
のプログラムが記録されている。

【００５７】請求項１６記載の発明に係る記録媒体に
は、上記第１乃至第３のステップを含む処理、すなわち
コンピュータを、請求項１に記載の画像処理装置として
機能させるためのプログラムが記録されているので、コ
ンピュータが前記記録媒体に記録されたプログラムを読
み出して実行することにより、請求項１の発明と同様
に、様々な欠陥部を各々精度良く修正することが可能と
なる。

【００５８】請求項１７記載の発明に係る記録媒体は、
画像情報が表す画像中に存在する欠陥部に対し、該欠陥
部内から互いに異なる複数の方向に沿って画像特徴量を
各々演算すると共に、前記欠陥部に対して画像上で所定
の方向に存在する領域の情報から前記欠陥部を修正する
ための修正値を補間によって求めることを前記複数の方
向について各々行う第１のステップ、前記各方向毎の画
像特徴量に基づいて、前記各方向毎の修正値から最終修
正値を求める第２のステップ、及び、前記画像情報に対
し、前記最終修正値を用いて前記欠陥部の修正を行う第
３のステップを含む処理をコンピュータに実行させるた
めのプログラムが記録されている。

【００５９】請求項１７記載の発明に係る記録媒体に
は、上記第１乃至第３のステップを含む処理、すなわち
コンピュータを、請求項８に記載の画像処理装置として
機能させるためのプログラムが記録されているので、コ
ンピュータが前記記録媒体に記録されたプログラムを読
み出して実行することにより、請求項８の発明と同様
に、補間方法による欠陥部の修正における修正精度のば
らつきを抑制することができる。

【００６０】請求項１８記載の発明に係る記録媒体は、
画像記録材料に記録された画像を表す画像情報から検出
された前記画像の欠陥部に対し、前記画像記録材料に非
可視光を照射したときの前記欠陥部付近における非可視
光の透過又は反射光量と、画像記録材料における可視光
と非可視光の屈折率の相違とに基づいて、前記欠陥部を
修正するための輝度変更量を演算する第１のステップ、
前記画像情報が表す画像の前記欠陥部の輝度が、前記演
算手段によって演算された輝度変化量だけ変化するよう
に画像情報を修正する第２のステップを含む処理をコン
ピュータに実行させるためのプログラムが記録されてい
る。

【００６１】請求項１８記載の発明に係る記録媒体に
は、上記第１及び第２のステップを含む処理、すなわち
コンピュータを、請求項１１に記載の画像処理装置とし
て機能させるためのプログラムが記録されているので、
コンピュータが前記記録媒体に記録されたプログラムを
読み出して実行することにより、請求項１１の発明と同
様に、輝度調整方法により欠陥部を高精度に修正するこ
とができる。

【００６２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施形態の一例を詳細に説明する。なお、以下では一例と
して、写真フィルムに付いている傷や異物に起因する欠
陥部を修正する場合を説明する。

【００６３】図１には、本実施形態に係る画像処理シス
テム１０が示されている。画像処理システム１０は、フ
ィルムスキャナ１２、画像処理装置１４及びプリンタ１
６が直列に接続されて構成されている。なお、フィルム
スキャナ１２及び画像処理装置１４は本発明に係る画像
処理装置に対応している。

【００６４】フィルムスキャナ１２は、写真フィルム
（例えばネガフィルムやリバーサルフィルム）等の写真
感光材料（以下単に写真フィルムと称する）に記録され
ている画像（被写体を撮影後、現像処理されることで可
視化されたネガ画像又はポジ画像）を読み取り、該読み
取りによって得られた画像データを出力するものであ
り、図２にも示すように、ハロゲンランプ等から成り写
真フィルム２６に光を照射する光源２０を備えている。
なお、光源から射出される光は可視光域の波長の光及び
赤外域の波長の光を各々含んでいる。

【００６５】光源２０の光射出側には、写真フィルム２
６に照射する光の光量を調節するための絞り２１、フィ
ルタユニット２３、写真フィルム２６に照射する光を拡
散光とする光拡散ボックス２２が順に配置されている。
フィルタユニット２３は、入射光のうちＲに相当する波
長域の光（Ｒ光）のみ透過させるフィルタ２３Ｃと、入
射光のうちＧに相当する波長域の光（Ｇ光）のみ透過さ
せるフィルタ２３Ｍと、入射光のうちＢに相当する波長
域の光（Ｂ光）のみ透過させるフィルタ２３Ｙと、入射
光のうち赤外域の光（ＩＲ光）のみ透過させるフィルタ
２３ＩＲの４個のフィルタが、図２矢印Ａ方向に沿って
回転可能とされたターレット２３Ａに嵌め込まれて構成
されている。

【００６６】写真フィルム２６を挟んで光源２０と反対
側には、光軸Ｌに沿って、写真フィルム２６を透過した
光を結像させるレンズ２８、エリアＣＣＤ３０が順に配
置されている。エリアＣＣＤ３０は、各々可視光域及び
赤外域に感度を有する多数のＣＣＤセルがマトリクス状
に配列されたモノクロのＣＣＤであり、受光面がレンズ
２８の結像点位置に一致するように配置されている。ま
た、エリアＣＣＤ３０とレンズ２８との間にはシャッタ
（図示省略）が設けられている。

【００６７】エリアＣＣＤ３０はＣＣＤドライバ３１を
介してスキャナ制御部３３に接続されている。スキャナ
制御部３３はＣＰＵ、ＲＯＭ（例えば記憶内容を書換え
可能なＲＯＭ）、ＲＡＭ及び入出力ポートを備え、これ
らがバス等を介して互いに接続されて構成されている。
スキャナ制御部３３はフィルムスキャナ１２の各部の動
作を制御する。また、ＣＣＤドライバ３１はエリアＣＣ
Ｄ３０を駆動するための駆動信号を生成し、エリアＣＣ
Ｄ３０の駆動を制御する。

【００６８】写真フィルム２６はフィルムキャリア２４
（図１参照、図２では図示省略）によって搬送され、画
像の画面中心が光軸Ｌに一致する位置（読取位置）に位
置決めされる。また、スキャナ制御部３３は画像が読取
位置に位置決めされている状態で、フィルタ２３ＩＲを
含む全てのフィルタ２３が順に光軸Ｌ上に位置するよう
にフィルタユニット２３のターレット２３Ａを回転駆動
させると共に、所定の読取条件（予め固定的に定められ
た読取条件、又はプレスキャンを行うことで決定された
読取条件）に対応するエリアＣＣＤ３０の電荷蓄積時間
をＣＣＤドライバ３１へ設定し、絞り２１を前記所定の
読取条件に対応する位置へ移動させる。

【００６９】これにより、写真フィルム２６上の画像記
録領域に各フィルタ２３に対応する波長域（Ｒ又はＧ又
はＢ又はＩＲ）の光が順に照射され、写真フィルム２６
上の画像記録領域を透過した光はエリアＣＣＤ３０によ
って光電変換され、エリアＣＣＤ３０から信号として出
力される。エリアＣＣＤ３０から出力された信号は、Ａ
／Ｄ変換器３２によって透過光量を表すデジタルデータ
に変換されて画像処理装置１４に入力される。

【００７０】なお、Ｒ、Ｇ、Ｂの各波長域の光の透過光
量は、画像記録領域に記録されている画像のＲ，Ｇ，Ｂ
濃度に応じて変化する（写真フィルム２６に傷や異物が
付いていた場合にはこれらによっても変化するが、ＩＲ
光の透過光量は画像濃度の影響を受けず、傷や異物等の
みによって変化する）。従って、Ｒ、Ｇ、Ｂの各波長域
の透過光を光電変換することは画像を読み取ることに相
当し、画像処理装置１４に入力されるＲ、Ｇ、Ｂ、ＩＲ
の各波長域のデータのうちＩＲを除くＲ、Ｇ、Ｂの各デ
ータ（画像データ）は本発明の画像情報に対応してい
る。

【００７１】一方、画像処理装置１４のスキャナ補正部
３６は、入力された画像データ（及びＩＲデータ）に対
し、暗補正、濃度変換、シェーディング補正等の各種の
補正処理を順に行う。スキャナ補正部３６の出力端はＩ
／Ｏコントローラ３８の入力端に接続されており、スキ
ャナ補正部３６で前記各処理が施された画像データはＩ
／Ｏコントローラ３８に入力される。Ｉ／Ｏコントロー
ラ３８の入力端は、イメージプロセッサ４０のデータ出
力端にも接続されており、イメージプロセッサ４０から
画像処理（詳細は後述）が行われた画像データが入力さ
れる。

【００７２】また、Ｉ／Ｏコントローラ３８の入力端は
制御部４２にも接続されている。制御部４２は拡張スロ
ット（図示省略）を備えており、この拡張スロットに
は、デジタルスチルカメラに装填可能なＰＣカードやＩ
Ｃカード（以下、これらをデジタルカメラカードと総称
する）、ＣＤ−ＲＯＭやＭＯ、ＣＤ−Ｒ等の情報記憶媒
体に対してデータ（或いはプログラム）の読出し／書込
みを行うドライバ（図示省略）や、他の情報処理機器と
通信を行うための通信制御装置が接続される。拡張スロ
ットを介して外部から入力された画像データはＩ／Ｏコ
ントローラ３８へ入力される。

【００７３】Ｉ／Ｏコントローラ３８の出力端は、イメ
ージプロセッサ４０のデータ入力端及び制御部４２に各
々接続されており、更にＩ／Ｆ回路５４を介してプリン
タ１６に接続されている。Ｉ／Ｏコントローラ３８は、
入力された画像データを、出力端に接続された前記各機
器に選択的に出力する。

【００７４】本実施形態では、写真フィルム２６に記録
されている個々の画像に対し、フィルムスキャナ１２に
おいて異なる解像度で２回の読み取りを行う。なお、本
実施形態のように読取センサとしてエリアセンサ（エリ
アＣＣＤ３０）を用いた態様において、読み取りの解像
度の切り替え（各回の読み取りで異なる解像度の画像デ
ータを得ること）は、例えばプレスキャン時もファイン
スキャン時と同一の高解像度で読み取りを行い、得られ
た画像データに対して画素の間引き又は画素の統合等の
後処理を行うか、或いはファインスキャン時にはエリア
センサによって読み取りを複数回行うと共に、各回の読
み取り時にピエゾ素子等のアクチュエータにより画素間
隔の整数分の１に相当する距離だけエリアセンサを移動
させることで実現できる。

【００７５】１回目の比較的低解像度での読み取り（プ
レスキャン）では、画像の濃度が非常に低い場合にも、
エリアＣＣＤ３０で蓄積電荷の飽和が生じないように決
定した読取条件（写真フィルム２６に照射する光のＲ、
Ｇ、Ｂの各波長域毎の光量、エリアＣＣＤ３０の電荷蓄
積時間）で各画像の読み取りが行われる。なお、本実施
形態ではプレスキャン時にはＩＲ読み取りは行なわな
い。このプレスキャンによって得られたデータ（プレス
キャン画像データ）は、Ｉ／Ｏコントローラ３８から制
御部４２へ入力される。

【００７６】制御部４２は、ＣＰＵ４６、ＲＡＭ４８、
ＲＯＭ５０（例えば記憶内容を書換え可能なＲＯＭ）、
入出力ポート５２を備え、これらがバスを介して互いに
接続されて構成されている。制御部４２は、Ｉ／Ｏコン
トローラ３８から入力されたプレスキャン画像データに
基づいて画像の濃度等の画像特徴量を演算し、各画像に
対し、フィルムスキャナ１２が比較的高解像度での再度
の読み取り（ファインスキャン）を行う際の読取条件を
決定し、決定した読取条件をフィルムスキャナ１２に出
力する。

【００７７】また制御部４２は、プレスキャン画像デー
タに基づいて、画像中の主要画像領域（例えば人物の顔
に相当する領域（顔領域))の抽出を含む画像特徴量の演
算を行い、フィルムスキャナ１２がファインスキャンを
行うことによって得られる画像データ（ファインスキャ
ン画像データ）に対する各種の画像処理の処理条件を演
算により自動的に決定し（セットアップ演算）、決定し
た処理条件をイメージプロセッサ４０へ出力する。

【００７８】なお、制御部４２は、フィルムスキャナ１
２から入力されたＩＲデータに基づいて、画像データが
表す画像中に、写真フィルム２６に付いている傷や塵埃
等の異物に起因する欠陥部が生じているか否かを探索す
る機能、イメージプロセッサ４０が欠陥部修正処理を行
うためのパラメータを設定する機能を有している。ま
た、制御部４２のバスにはディスプレイ４３、キーボー
ド４４及びマウス（図示省略）が接続されている。

【００７９】制御部４２は、演算した画像処理の処理条
件に基づき、ファインスキャン画像データを対象として
イメージプロセッサ４０で行われる画像処理と等価な画
像処理をプレスキャン画像データに対して行ってシミュ
レーション画像データを生成する。そして、生成したシ
ミュレーション画像データを、ディスプレイ４３に画像
を表示するための信号に変換し、該信号に基づいてディ
スプレイ４３にシミュレーション画像を表示する。ま
た、表示されたシミュレーション画像に対しオペレータ
によって画質等の検定が行われ、検定結果として処理条
件の修正を指示する情報がキーボード４４やマウスを介
して入力されると、入力された情報に基づいて画像処理
の処理条件の再演算等を行う。

【００８０】一方、フィルムスキャナ１２で画像に対し
てファインスキャンが行われることによってＩ／Ｏコン
トローラ３８に入力された画像データ（ファインスキャ
ン画像データ）は、Ｉ／Ｏコントローラ３８からイメー
ジプロセッサ４０へ入力される。

【００８１】イメージプロセッサ４０は、階調変換や色
変換を含む色・濃度補正処理、画素密度変換処理、画像
の超低周波輝度成分の階調を圧縮するハイパートーン処
理、粒状を抑制しながらシャープネスを強調するハイパ
ーシャープネス処理等の各種の画像処理を行う画像処理
回路を各々備えており、入力された画像データに対し、
制御部４２によって各画像毎に決定されて通知された処
理条件に従って種々の画像処理を行う。また、イメージ
プロセッサ４０は制御部４２によって設定されたパラメ
ータに従って欠陥部修正処理を行う機能を有している。

【００８２】イメージプロセッサ４０で画像処理が行わ
れた画像データを印画紙への画像の記録に用いる場合に
は、イメージプロセッサ４０で画像処理が行われた画像
データは、Ｉ／Ｏコントローラ３８からＩ／Ｆ回路５４
を介し記録用画像データとしてプリンタ１６へ出力され
る。また、画像処理後の画像データを画像ファイルとし
て外部へ出力する場合は、Ｉ／Ｏコントローラ３８から
制御部４２へ画像データが出力される。これにより、制
御部４２では、外部への出力用としてＩ／Ｏコントロー
ラ３８から入力された画像データを、拡張スロットを介
して画像ファイルとして外部（前記ドライバや通信制御
装置等）に出力する。

【００８３】プリンタ１６は、画像メモリ５８、Ｒ，
Ｇ，Ｂのレーザ光源６０、該レーザ光源６０の作動を制
御するレーザドライバ６２を備えている。画像処理装置
１４から入力された記録用画像データは画像メモリ５８
に一旦記憶された後に読み出され、レーザ光源６０から
射出されるＲ，Ｇ，Ｂのレーザ光の変調に用いられる。
レーザ光源６０から射出されたレーザ光は、ポリゴンミ
ラー６４、ｆθレンズ６６を介して印画紙６８上を走査
され、印画紙６８に画像が露光記録される。画像が露光
記録された印画紙６８は、プロセッサ部１８へ送られて
発色現像、漂白定着、水洗、乾燥の各処理が施される。
これにより、印画紙６８に露光記録された画像が可視化
される。

【００８４】次に本実施形態の作用として、スキャナ１
２から画像処理装置１４にファインスキャン画像データ
が入力されると制御部４２で実行される欠陥部修正値決
定処理について説明する。

【００８５】この欠陥部修正値決定処理は、請求項１３
乃至請求項１５に記載の画像処理方法が適用された処理
であり、制御部４２のＣＰＵ４６により、欠陥部修正値
決定プログラムが実行されることにより実現される。欠
陥部修正値決定プログラムは、その他の処理をＣＰＵ４
６で実行させるためのプログラムと共に、当初は、情報
記憶媒体７２（図１参照）に記憶されている。なお、図
１では情報記憶媒体７２をフロッピーディスクとして示
しているが、ＣＤ−ＲＯＭやメモリカード等で構成して
もよい。

【００８６】制御部４２に接続された情報読出装置（図
示省略）に情報記憶媒体７２が装填され、情報記憶媒体
７２から画像処理装置１４へのプログラムの移入（イン
ストール）が指示されると、情報読出装置によって情報
記憶媒体７２から欠陥部修正値決定プログラム等が読み
出され、記憶内容を書換え可能なＲＯＭ５０に記憶され
る。そして、欠陥部修正値決定処理を実行すべきタイミ
ングが到来すると、ＲＯＭ５０から欠陥部修正値決定プ
ログラムが読み出され、該プログラムがＣＰＵ４６によ
って実行される。

【００８７】これにより、画像処理装置１４は、請求項
１、請求項８、請求項１１に記載の画像処理装置として
機能する。このように、欠陥部修正値決定プログラム等
を記憶している情報記憶媒体７２は請求項１６乃至請求
項１８に記載の記録媒体に対応している。

【００８８】以下、欠陥部修正値決定処理について、図
３のフローチャートを参照して説明する。ステップ１０
０では、制御部４２に入力された単一の画像（処理対象
の画像）のＲ，Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデータをＲ
ＡＭ４８等に取り込み、次のステップ１０１では取り込
んだ画像データ及びＩＲデータに対し、フィルムスキャ
ナ１２のレンズ２８の倍率色収差に起因するＲ，Ｇ，
Ｂ，ＩＲの各データ上での画素位置のずれを補正する倍
率色収差補正を行う。

【００８９】倍率色収差補正は、例えばレンズ２８の倍
率色収差に起因する画像上の各位置での基準波長域（例
えばＧ）の画素位置に対する非基準波長域（例えばＲ，
Ｂ，ＩＲ）の画素位置の変化方向及び変化量（倍率色収
差量）を予め測定して倍率色収差補正データとして記憶
しておき、非基準波長域のデータが表す各画素毎の値
が、本来の画素位置に対して倍率色収差補正データが表
す変化方向に倍率色収差補正データが表す変化量だけず
れた位置における値であるとみなして、本来の画素位置
における値を求めることを、非基準波長域の各データに
対して各々行うことによって成される。

【００９０】ステップ１０２ではＲＡＭ４８等に取り込
んだＲ，Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデータに基づき、
Ｒ，Ｇ，Ｂの画像データが表す処理対象の画像の欠陥部
を検出する欠陥部検出処理を行う。まず欠陥部検出処理
の説明に先立ち、写真フィルムに傷や異物の付いている
箇所のＩＲ光による検出の原理について説明する。

【００９１】図４（Ａ）に示すように、写真フィルム上
の表面に傷や異物が付いていない箇所に光を照射したと
きの透過光量は、写真フィルムへの入射光量に対し、写
真フィルムによる光の吸収に応じた減衰量だけ減衰す
る。なお、写真フィルムで光の吸収が生ずる波長域はお
およそ可視光域であり、赤外域のＩＲ光については殆ど
吸収されないので、前記傷や異物が付いていない箇所に
ＩＲ光を照射した場合の透過光量は入射光量から僅かに
変化するのみである。

【００９２】一方、写真フィルム上の傷が付いている箇
所に光を照射した場合、照射された光の一部は傷によっ
て屈折するので、前記傷が付いている箇所に光を照射し
たときの透過光量（前記箇所を直線的に透過する光の光
量）は、写真フィルムへの入射光量に対し、前述した写
真フィルムによる光の吸収に起因する減衰に、傷による
光の屈折に起因する減衰を加えた減衰量だけ減衰する。
なお、図４（Ａ）では光の入射側に傷が付いている場合
を示しているが、光の射出側に傷が付いている場合も同
様である。

【００９３】傷による光の屈折はＩＲ光でも生ずるの
で、前記傷が付いている箇所にＩＲ光を照射した場合の
ＩＲ光の透過光量は、傷による光の屈折に起因する減衰
に応じた減衰量だけ減衰する。なお傷による光の屈折
は、例として図４（Ｂ）にも示すように、傷の規模（深
さ等）が大きくなるに伴って顕著となる（可視光もＩＲ
光も同様）ので、前記傷が付いている箇所にＩＲ光を照
射した場合の透過光量は傷の規模が大きくなるに従って
小さくなる。従って、ＩＲ光の透過光量の減衰量に基づ
いて、写真フィルムに付いている傷の規模も検知するこ
とができる。

【００９４】また、写真フィルム上の塵埃等の異物がつ
いている箇所に光を照射した場合、照射した光は異物に
よって反射されるので、異物の大きさや種類（光透過
率）にも依存するが、前記異物が付いている箇所に光を
照射した場合の光の透過光量は前記異物によって大きく
減衰する。異物が付いている箇所に光を照射した場合の
透過光量の減衰は、前記箇所にＩＲ光を照射した場合も
同様である。

【００９５】上記のように、写真フィルムにＩＲ光を透
過した場合の透過光量は、写真フィルム上の傷又は異物
が付いている箇所でのみ変化し、写真フィルムに画像が
記録されていたとしても、該画像の透過濃度の変化の影
響を受けないので、写真フィルムにＩＲ光を照射して透
過光量を検出することで、写真フィルムに付いている傷
や異物を検出できる。

【００９６】上記に基づき、ステップ１０２では以下の
ようにして欠陥部検出処理を行う。写真フィルムにＩＲ
光を照射したときの透過光量は、前述のように通常は画
像上の位置に拘わらず略一定となり、写真フィルムに傷
又は異物が付いている箇所でのみ低下する（図５参
照）。ＩＲデータは処理対象の画像上の各位置における
ＩＲ光の透過光量を表しているので、処理対象の画像上
の傷や異物が付いていない箇所におけるＩＲデータが表
すＩＲ光の透過光量（例えば透過光量の最大値）を基準
値とする。そして、各画素毎にＩＲ光の透過光量を基準
値と比較し、基準値に対する透過光量の変化量（低下
量）が所定値（傷や異物が付いていない箇所におけるＩ
Ｒ光の透過光量の若干の変動を考慮して定めた値）以上
の画素を、修正対象の欠陥部に属する欠陥画素として全
て検出する。

【００９７】またステップ１０２では、検出した欠陥画
素を、欠陥画素相互の位置関係（例えば隣接しているか
否か）等に基づいて、同一の欠陥部に属する欠陥画素毎
に分類し、各欠陥部に関する情報（例えば各欠陥部に属
する欠陥画素を表す情報や各欠陥画素におけるＩＲ光の
透過光量の低下量等の情報）をＲＡＭ４８等に記憶す
る。ステップ１０２は、写真フィルムのＩＲ光の透過光
量を測定するフィルムスキャナ１２と共に本発明の検出
手段（詳しくは請求項２に記載の検出手段）に対応して
いる。

【００９８】ステップ１０４では、ステップ１０２の欠
陥部検出処理によって検出された欠陥部の中から処理対
象の単一の欠陥部を選択する。本実施形態では、欠陥部
を修正するための修正方法として補間方法と輝度調整方
法が用意されており、次のステップ１０６では選択した
処理対象の欠陥部に対し、該欠陥部の修正に補間方法と
輝度調整方法の何れを適用するかを選択（又は双方の修
正方法の適用範囲を決定）するための所定の特徴量を演
算する。この所定の特徴量としては、例えば欠陥部付近
におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃度変化（透過光量の変化）の相
関を表す特徴量を用いることができる。

【００９９】図４（Ｂ）に示すように、写真フィルムの
乳剤層はＲ，Ｇ，Ｂの各感光層を含んで構成されてお
り、画像が露光記録され現像等の処理が行われた写真フ
ィルム（ネガフィルム）は、Ｒ感光層にＣのネガ像が形
成され、Ｇの感光層にＭのネガ像が形成され、Ｂの感光
層にＹのネガ像が形成される。そして写真フィルムを透
過した可視光のうち、Ｒ光についてはＲ感光層において
Ｃのネガ像の透過濃度に応じた減衰量だけ減衰（吸収）
され、Ｇ光についてはＧ感光層においてＭのネガ像の透
過濃度に応じた減衰量だけ減衰（吸収）され、Ｂ光につ
いてはＢ感光層においてＹのネガ像の透過濃度に応じた
減衰量だけ減衰（吸収）される。

【０１００】ここで、例として図４（Ｂ）に示すよう
に、乳剤面と反対側のバック面に傷が付いている場合、
透過光に対するＲ，Ｇ，Ｂの各感光層における光の吸収
の比率は傷が付いていない場合と同じである。すなわ
ち、図４（Ｂ）において、写真フィルムへの入射光量を
Ｉ₀、傷が付いていないときのＲ光、Ｇ光、Ｂ光の透過
光量を各々Ｉ_0R，Ｉ_0G ，Ｉ_0B とし、傷が付いたときに
傷が付いている箇所を直線的に透過して乳剤層に入射す
る光量をＩ₁（Ｉ₁＜Ｉ₀：Ｉ₀−Ｉ₁が傷による光の減衰
分）、傷が付いているときのＲ光、Ｇ光、Ｂ光の透過光
量を各々Ｉ_1R，Ｉ_1G ，Ｉ_1B とすると、以下の（１）式
の関係が成り立つ。 Ｉ_0R／Ｉ₀≒Ｉ_1R／Ｉ₁ Ｉ_0G／Ｉ₀≒Ｉ_1G／Ｉ₁ Ｉ_0B／Ｉ₀≒Ｉ_1B／Ｉ₁ …（１）

【０１０１】このように、バック面に傷が付いている場
合、傷が付いている箇所におけるＲ光、Ｇ光、Ｂ光の透
過光量は、何ら傷が付いていないときよりも低下する
（ＩＲ光の透過光量も同様）。（１）式より明らかなよ
うに、バック面に傷が付いている箇所に対応する欠陥部
は、傷が付いていない場合と比較して輝度のみが変化
し、写真フィルムに記録されている画像の色情報は保存
されているので、輝度調整方法を適用し欠陥部領域の輝
度を調整することで、画像データが表す画像の欠陥部を
修正することができる。

【０１０２】一方、例として図４（Ｃ）に示すように乳
剤面に傷が付いている場合、浅い傷であれば各感光層の
うちの一部の感光層（色素層）が削られる（損傷を受け
る）ことで、透過光に対するＲ，Ｇ，Ｂの各感光層にお
ける光の吸収の比率は傷が付いていない場合と変化す
る。また、各感光層が全て剥ぎ取られているような非常
に深い傷であれば、透過光に対する各感光層における光
の吸収は生じない。従って、何れの場合も（１）式の関
係は成立しない。

【０１０３】なお、乳剤面に傷が付いている場合にも、
傷が付いている箇所におけるＩＲ光の透過光量は何ら傷
が付いていないときよりも低下する。一方、乳剤面に傷
が付いている場合、Ｒ光、Ｇ光、Ｂ光については、Ｒ，
Ｇ，Ｂのうち損傷を受けていない感光層に対応する波長
域の光については透過光量が低下するものの、損傷を受
けた感光層に対応する波長域の光については、傷による
光の減衰の程度等にも依存するが一般に透過光量が増大
する。

【０１０４】このように、乳剤面に傷が付いている箇所
に対応する欠陥部は、傷の深さに拘わらず、傷が付いて
いない場合と比較して輝度及び色が各々変化しており、
写真フィルムに記録されている画像の色情報も失われて
いるので、輝度を調整しても欠陥部を精度良く修正する
ことは困難である。このため、乳剤面に傷が付いている
箇所に対応する欠陥部の修正には、欠陥部の周囲の領域
の情報から補間によって欠陥部の輝度及び濃度を決定す
る修正方法（補間方法）が適している。なお、写真フィ
ルムに異物が付いていることに起因して生じた欠陥部に
ついても、異物が付いていない場合と比較して輝度及び
色が各々変化するので、上記の欠陥部を修正する場合に
も補間方法が適している。

【０１０５】上述したように、写真フィルムのバック面
に付いた傷に起因する欠陥部では、欠陥部内の各部にお
いてＲ，Ｇ，Ｂの各波長域の光が略一定の割合で低下す
るので、画像データ上での欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの
濃度変化量が略一定となるのに対し、写真フィルムの乳
剤面に付いた傷や異物に起因する欠陥部では前記割合が
不定であるので、前記濃度変化量も不定となる。従っ
て、所定の特徴量として欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃
度変化の相関を表す特徴量を用いれば、該特徴量の演算
結果に基づいて、処理対象の欠陥部がバック面に付いた
傷に起因する欠陥部か（輝度調整方法で修正すべき欠陥
部か）、乳剤面に付いた傷又は異物に起因する欠陥部か
（補間方法で修正すべき欠陥部か）を判断することが可
能となる。

【０１０６】なお、欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃度変
化の相関を表す特徴量に代えて、欠陥部付近におけるＩ
Ｒ光の透過光量の変化と欠陥部付近におけるＲ光、Ｇ
光、Ｂ光の透過光量の変化との相関を表す特徴量を用い
てもよい。具体的には、前記相関を表す特徴量として、
後述する（４）式から求まるゲインGain_Xを用い、処理
対象の欠陥部に属する全ての欠陥画素についてゲインGa
in_Xを各々演算し、演算結果が全て所定の数値範囲（例
えば0.6〜1.5）内に入っていれば相関が強いと判断して
輝度調整方法を選択、或いは輝度調整方法の適用割合を
高くし、所定の数値範囲内に入っていない欠陥画素があ
れば相関が弱いと判断して補間方法を選択、或いは補間
方法の適用割合を高くするようにしてもよい。

【０１０７】また、所定の特徴量として欠陥部の周囲の
領域におけるエッジ強度やテクスチャ強度を用いてもよ
い。すなわち、補間方法は欠陥部内及び欠陥部の周囲領
域で元の画像の濃度が滑らかかつ連続的に変化している
ことを前提として、周囲領域における濃度変化から補間
を行うものであるので、例えば欠陥部の周囲にエッジ強
度の高いエッジが存在していた等の場合に補間演算の精
度が低下し、欠陥部を精度良く修正することが困難とな
る。従って、所定の特徴量として欠陥部の周囲の領域に
おけるエッジ強度を用いれば、該特徴量の演算結果に基
づいて、処理対象の欠陥部が輝度調整方法で修正すべき
欠陥部か補間方法で修正すべき欠陥部かを判断すること
が可能となる。欠陥部の周囲の領域におけるエッジ強度
は欠陥部の周囲領域における濃度分布から求めることが
できる。

【０１０８】また、テクスチャが存在している画像の観
察においてはテクスチャの異なる部分が異なる画像領域
として区別されるので、欠陥部の周囲領域に明瞭なテク
スチャが存在している欠陥部の修正に失敗した場合にも
非常に目立つ。このような欠陥部の修正にも、欠陥部の
修正精度のばらつきが比較的小さい輝度調整方法が適し
ている。従って、所定の特徴量として欠陥部の周囲の領
域におけるテクスチャ強度を用いれば、該特徴量の演算
結果に基づいて、処理対象の欠陥部が輝度調整方法で修
正すべき欠陥部か補間方法で修正すべき欠陥部かを判断
することが可能となる。

【０１０９】なお、欠陥部の周囲領域のテクスチャ強度
としては、例えば統計的なテクスチャ特徴の代表的な計
算方法である周知の濃度ヒストグラム、同時生起(co-oc
currence)行列、差分統計量、ランレングス行列、パワ
ースペクトル等のうちの少なくとも１つを用いて求めた
統計量を用いることができ、欠陥部の周囲領域における
濃度分布から上記統計量を求めることができる。

【０１１０】更に、所定の特徴量として欠陥部が画像中
の主要部領域内に存在しているか否か（又は欠陥部と主
要部領域との重複割合）を用いてもよい。すなわち、画
像中の主要部領域（例えば人物の顔に相当する領域）
は、画像の鑑賞等において注目される領域であるので、
例えば主要部領域内に存在している欠陥部や主要部領域
と重複している欠陥部の修正には、欠陥部の修正精度の
ばらつきが比較的小さい輝度調整方法が適している。従
って、所定の特徴量として欠陥部が画像中の主要部領域
内に存在しているか否か、或いは欠陥部と主要部領域と
の重複割合を用いれば、該特徴量の演算結果に基づい
て、処理対象の欠陥部が輝度調整方法で修正すべき欠陥
部か補間方法で修正すべき欠陥部かを判断することが可
能となる。

【０１１１】また、所定の特徴量として欠陥部付近にお
けるＩＲ光の透過光量を用いてもよい。すなわち、規模
の大きな欠陥部（例えば大きな傷や異物、或いは深い傷
や光透過性を有しない異物に対応する欠陥部）は修正結
果が不適正となると目立つので、このような欠陥部の修
正には欠陥部の修正精度のばらつきが比較的小さい輝度
調整方法が適している。欠陥部の規模は欠陥部付近にお
けるＩＲ光の透過光量やその変化から判断できるので、
所定の特徴量として、ＩＲ光の透過光量（又はＩＲ光の
透過光量から求まる欠陥部の規模を表す特徴量）を用い
れば、所定の特徴量の演算結果に基づいて、処理対象の
欠陥部が輝度調整方法で修正すべき欠陥部か補間方法で
修正すべき欠陥部かを判断することが可能となる。

【０１１２】なお、ステップ１０６において、所定の特
徴量として、上述した各種の特徴量から複数種の特徴量
を演算してもよいことは言うまでもない。

【０１１３】上記のようにして所定の特徴量を演算する
と、次のステップ１０８では、所定の特徴量の演算結果
に基づき、処理対象の欠陥部の修正に適用する修正方法
として補間方法又は輝度調整方法を選択するか、又は処
理対象の欠陥部の修正に補間方法及び輝度調整方法を各
々適用する場合の各修正方法の適用範囲（適用割合）を
決定する。なお、ステップ１０８は、先に説明したステ
ップ１０６と共に、本発明の決定手段（詳しくは請求項
３又は請求項４に記載の決定手段）に対応している。

【０１１４】ステップ１０８における適用する修正方法
の選択又は修正方法の適用範囲の決定は、例えば図６
（Ａ）に示すように、所定の特徴量の値と補間方法の適
用割合α（輝度調整方法の適用割合でもよい）との関係
を表すマップを用いることで行うことができる。なお、
図６（Ａ）のマップにおいて、α＝１の範囲は補間方法
のみを選択して欠陥部の修正を行い、α＝０の範囲は輝
度調整方法のみを選択して欠陥部の修正を行うことを表
し、０＜α＜１の範囲では、補間方法が適用割合＝α
で、輝度調整方法の適用割合＝（１−α）で各々適用さ
れる。ステップ１０６で演算された所定の特徴量の値に
応じて上記のように修正方法の選択・適用割合の決定を
行うことにより、処理対象の欠陥部が精度良く修正され
るように、適用すべき修正方法が選択されるか又は各修
正方法の最適な適用割合が決定されることになる。

【０１１５】なお、ステップ１０８において、図６
（Ａ）のマップに代えて図６（Ｂ）や図６（Ｃ）に示す
ようなマップを用いてもよい。図６（Ｂ）のマップでは
適用割合αに０又は１の何れかの値が設定されるので、
修正方法として補間方法及び輝度調整方法の何れか一方
が選択される。また、図６（Ｃ）のマップでは殆どの場
合に適用割合αの値が０＜α＜１となり、修正方法とし
て補間方法及び輝度調整方法が各々適用される。なお、
特徴量の値の変化に対して適用割合αの値が非線形に変
化するマップを用いてもよい。

【０１１６】次のステップ１１０では処理対象の欠陥部
の修正に補間方法を適用するか否か判定する。適用割合
α＝０であれば判定が否定されてステップ１１４へ移行
するが、適用割合α≠０であれば判定が肯定されてステ
ップ１１２へ移行し、補間方法による修正値決定処理が
行われる。以下、この補間方法による修正値決定処理に
ついて、図７のフローチャートを参照して説明する。

【０１１７】ステップ１５０では、処理対象の欠陥画素
として、処理対象の欠陥部に属する各欠陥画素の中から
単一の欠陥画素を選択し、次のステップ１５２ではスキ
ャン方向（探索方向）を初期化する。本実施形態に係る
補間方法による修正値決定処理では、例として図８に複
数本の矢印で示すように、処理対象の欠陥画素から放射
状に延びる複数の方向に沿って各々スキャンし、各方向
について濃度勾配、正常画素間距離の各特徴量及び補間
値を各々演算する（詳細は後述）。先のステップ１５２
における初期化は、複数の方向うちの所定の一方向を現
在のスキャン方向（最初のスキャン方向）として設定す
ることによって成される。

【０１１８】次のステップ１５４では補間演算部を初期
化する。補間演算部は正常画素（欠陥部に属さない画
素）のデータが入力されると、入力されたデータを保持
すると共に、入力されたデータに基づいて前述の濃度勾
配、正常画素間距離及び補間値の演算を行うサブルーチ
ンであり、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色毎に各々用意され、上記の
演算をＲ，Ｇ，Ｂ各色毎に別個に行う。ステップ１５４
における初期化は、各補間演算部に保持されているデー
タをクリアすることによって成される。

【０１１９】ステップ１５６では、参照すべき画素のア
ドレスとして、処理対象の欠陥画素に対して現在のスキ
ャン方向に相当する方向に存在し、かつ画像上での距離
が欠陥画素から最も近い未参照画素（最初は処理対象の
欠陥画素に対して現在のスキャン方向に隣接している画
素）のアドレスを判定する。

【０１２０】なお、本実施形態では、図８に示すように
処理対象の画素を通って延びる直線に沿った方向をスキ
ャン方向として定義しているが、実際のスキャンは前記
直線に沿って処理対象の画素から遠ざかる方向にスキャ
ンするので、単一のスキャン方向についてスキャン方向
が１８０°異なる２回のスキャンを行う（各回のスキャ
ンを便宜的に正方向、負方向と称する）。このため、先
のステップ１５６では、詳しくは現在のスキャン方向が
正方向か負方向かを判断し（スキャン方向が設定される
ときに正負の方向も初期設定される）、判断した方向に
存在する未参照画素のアドレスを判定する。

【０１２１】ステップ１５８では、ステップ１５６で判
定したアドレスの画素（参照画素）のＲ，Ｇ，Ｂ，ＩＲ
の各データを取り込む。次のステップ１６０では、ステ
ップ１５８で取り込んだＩＲデータに基づいて参照画素
が欠陥画素か否か判定する。なお、ＩＲデータを参照す
ることに代えて、欠陥部検出処理（図３のフローチャー
トのステップ１０２）において、画像中の全ての画素を
欠陥画素か正常画素かに応じてラベリングしておき、ラ
ベリング結果を参照することで前記判定を行うようにし
てもよい。

【０１２２】ステップ１６０の判定が肯定された場合に
はステップ１６２へ移行し、一定距離以上スキャンした
にも拘わらず正常画素が検出されなかったか否か判定す
る。この判定が否定された場合にはステップ１５６に戻
り、ステップ１５６以降の処理・判定（同一のスキャン
方向に沿ったスキャン）が繰り返される。

【０１２３】ステップ１６０において、参照画素が正常
画素であった場合には判定が否定されてステップ１６４
へ移行し、先のステップ１５８で取り込んだ参照画素の
Ｒ，Ｇ，Ｂのデータを補間演算部に各々入力する。な
お、入力したデータは補間演算部で各々保持される。次
のステップ１６６では、一定数以上の正常画素を参照し
たか否か判定する。判定が否定された場合にはステップ
１５６に戻り、同一方向へのスキャンを繰り返す。

【０１２４】また、一定数以上の正常画素を参照（一定
数以上の正常画素のデータを補間演算部に入力）する
と、ステップ１６６の判定が肯定されてステップ１６８
へ移行し、現在のスキャン方向に対し、正方向及び負方
向へのスキャンを各々行ったか否か判定する。判定が否
定された場合にはステップ１７０へ移行し、スキャン方
向の正負を切り替えた後にステップ１５６に戻る。これ
により、前回と１８０°異なるスキャン方向に沿ってス
キャンが行われることになる。

【０１２５】現在のスキャン方向に対し、正方向及び負
方向のスキャンで各々一定数以上の正常画素を参照する
と、ステップ１６６及びステップ１６８の判定が各々肯
定されてステップ１７２へ移行する。このとき補間演算
部には、欠陥部を挟みスキャン方向に沿って欠陥部の両
側に位置している各々一定数の正常画素（図９（Ａ）に
「−」で示す正常画素）のデータが各々入力されてお
り、補間演算部が一定水準以上の演算精度で演算可能な
状態となっている。

【０１２６】このため、ステップ１７２では補間演算部
により欠陥画素の画素値（Ｒ，Ｇ，Ｂ各色毎の濃度値、
図９（Ａ）に「□」で示す値）の補間演算を行わせる。
この補間演算は、例えば最小自乗法等を適用して行うこ
とができる。そして、演算結果として処理対象の欠陥画
素の画素値の補間値ＶＡＬＵＥ_X（ｉ）（但し、ｉはス
キャン方向を識別するための符号であり、ＸはＲ，Ｇ，
Ｂの何れかを表す）を取り込むと共に、補間演算の過程
で演算された濃度勾配の傾き（絶対値）ＧＲＡＤ
（ｉ）、正常画素間距離ＤＩＳＴ（ｉ）（図９（Ａ）参
照）を取り込み、取り込んだデータを記憶する。

【０１２７】次のステップ１７４では、全てのスキャン
方向についてスキャンを行ったか否か判定する。判定が
否定された場合には、ステップ１７６で現在のスキャン
方向を切り替えた後にステップ１５４に戻る。これによ
り、所定の複数のスキャン方向について、処理対象の欠
陥画素の画素値の補間値ＶＡＬＵＥ_X（ｉ）、濃度勾配
の傾きＧＲＡＤ（ｉ）及び正常画素間距離ＤＩＳＴ
（ｉ）が各々演算・記憶されることになる。

【０１２８】なお、図８に示す「方向６」のように、ス
キャン方向が欠陥部（図８における白い領域）の延びる
方向と略一致していた場合には、一定距離以上スキャン
しても正常画素が検出されないので、ステップ１６２の
判定が肯定されてステップ１７４へ移行することで、該
スキャン方向についてのスキャンは中止される。これに
より、処理時間を短縮することができる。

【０１２９】なお、上記のステップ１５２〜ステップ１
７６は、補間演算部と共に請求項８に記載の特徴量演算
手段及び個別修正値演算手段（詳しくは請求項９及び請
求項１０に記載の特徴量演算手段及び個別修正値演算手
段）に対応している。

【０１３０】全てのスキャン方向についてスキャンを完
了すると、ステップ１７４の判定が肯定されてステップ
１７８へ移行し、各スキャン方向毎に演算・記憶されて
いる濃度勾配の傾きＧＲＡＤ（ｉ）及び正常画素間距離
ＤＩＳＴ（ｉ）に基づいて、各スキャン方向毎の重み係
数を演算する。本実施形態では、各スキャン方向毎の重
み係数Ｍ（ｉ）を次の（２）式に従って演算する。 Ｍ（ｉ）＝Ｍｇ（ＧＲＡＤ（ｉ))×Ｍｄ（ＤＩＳＴ（ｉ)) …（２）

【０１３１】なお（２）式においてＭｇ及びＭｄは重み
係数であり、重み係数Ｍｇは濃度勾配の傾きＧＲＡＤが
小さいときに重みが大きくなるように、例として図９
（Ｂ）に示すようなマップを用いて濃度勾配の傾きＧＲ
ＡＤに応じて定めることができる。また、重み係数Ｍｄ
についても正常画素間距離ＤＩＳＴが小さいときに重み
が大きくなるように、例として図９（Ｃ）に示すような
マップを用いて正常画素間距離ＤＩＳＴに応じて定める
ことができる。

【０１３２】これにより、濃度勾配の傾きＧＲＡＤが小
さくかつ正常画素間距離ＤＩＳＴが小さいスキャン方向
については重み係数Ｍの値が大きくなり、濃度勾配の傾
きＧＲＡＤ及び正常画素間距離ＤＩＳＴの何れか一方が
大きいスキャン方向については重み係数Ｍの値が小さく
（或いは０に）されることになる。また、ステップ１６
２の判定が肯定されることでスキャンが中止されたスキ
ャン方向については、重み係数Ｍの値が無条件で０とさ
れる。

【０１３３】次のステップ１８０では、各スキャン方向
毎の補間値ＶＡＬＵＥ_X（ｉ）及び重み係数Ｍ（ｉ）に
基づき、処理対象の欠陥画素の修正画素値ＤＩ_Xを次の
（３）式に従ってＲ，Ｇ，Ｂ毎に演算する。 ＤＩ_X＝Σ（Ｍ（ｉ）×ＶＡＬＵＥ_X（ｉ））／Σ（Ｍ（ｉ)) …（３）

【０１３４】（３）式では、各スキャン方向毎の補間値
ＶＡＬＵＥ_X（ｉ）を重み係数Ｍ（ｉ）に応じて重み付
けして修正画素値ＤＩ_Xを求めているので、個々の欠陥
部毎や単一の欠陥部内の各部分毎に適正なスキャン方向
がばらついていたとしても、適正な修正画素値を得るこ
とができる。なお、上記のステップ１７８、１８０は、
請求項８に記載の最終修正値演算手段に対応している。

【０１３５】次のステップ１８２では、処理対象の欠陥
部内の全ての欠陥画素に対して上記の処理を行ったか否
か判定する。判定が否定された場合にはステップ１５０
に戻り、修正画素値ＤＩ_Xを未演算の欠陥画素に対して
ステップ１５０以降の処理を繰り返す。そして、ステッ
プ１８２の判定が肯定されると、補間方法による修正値
決定処理を終了する。

【０１３６】上記のようにして補間方法による修正値決
定処理を終了すると、図３のフローチャートのステップ
１１４へ移行する。ステップ１１４では、処理対象の欠
陥部の修正に輝度調整方法を適用するか否か判定する。
適用割合α＝１であれば判定が否定されてステップ１１
８へ移行するが、適用割合α≠１であれば判定が肯定さ
れてステップ１１６へ移行し、輝度調整方法による修正
値決定処理が行われる。以下、この輝度調整方法による
修正値決定処理について、図１０のフローチャートを参
照して説明する。

【０１３７】ステップ２００では、処理対象の画像の
Ｒ，Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデータ（倍率色収差補
正後のデータ）から、処理対象の欠陥部を含む一部領域
（例えば処理対象の欠陥部及びその周囲領域から成る領
域）のデータを各々抽出する。次のステップ２０２で
は、抽出した各データをハイパスフィルタに各々入力す
ることで、Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＩＲの各データから、Ｒの高周
波成分データＨ−r、Ｇの高周波成分データＨ−g、Ｂの
高周波成分データＨ−b、ＩＲの高周波成分データＨ−I
Rを各々生成する。

【０１３８】次のステップ２０４では、処理対象の欠陥
部に属する各欠陥画素の中から処理対象の欠陥画素とし
て未処理の欠陥画素を選択し、高周波成分データＨ−
r、Ｈ−g、Ｈ−b、Ｈ−IRから、前記選択した欠陥画素
の高周波成分データh-r，h-g，h-b，h-IRを各々抽出す
る。次のステップ２０６では、処理対象の欠陥画素の
Ｒ，Ｇ，ＢとＩＲの高周波成分の比（ゲインGain_X：但
しＸはＲ，Ｇ，Ｂの何れかを表す）を次の（４）式に従
って演算する。 Gain_X＝h-x／h-IR …（４） なお、上記の（４）式では直流成分や低周波成分が除去
された高周波成分データh-r，h-g，h-b，h-IRを用い、
ゲインGain_Xとして高周波成分データh-r，h-g，h-bと高
周波成分データh-IRの比を求めているので、このゲイン
Gain_Xは、写真フィルムにおけるＲ，Ｇ，Ｂの各波長域
の光とＩＲ光の屈折率の相違に起因するＲ，Ｇ，Ｂの各
波長域の光とＩＲ光の透過光量の比率を表している。

【０１３９】ステップ２０８ではＲ，Ｇ，Ｂ，ＩＲの各
データから、処理対象の欠陥画素のデータＤｒ，Ｄｇ，
Ｄｂ，ｉｒを各々抽出する。そしてステップ２１０で
は、ステップ２０６で演算したゲインGain_Xに基づい
て、処理対象の欠陥画素の修正画素値ＤＧ_Xを次の
（５）式に従って演算する。 ＤＧ_X＝Ｄ_X−ｉｒ×Gain_X …（５） （５）式の第２項は、写真フィルムにおけるＲ，Ｇ，Ｂ
の各波長域の光とＩＲ光の屈折率の相違に起因するＲ，
Ｇ，Ｂの各波長域の光とＩＲ光の透過光量の比率を表す
ゲインGain_Xを用いてデータｉｒを補正しているので、
写真フィルムに付いている傷等に起因する処理対象の欠
陥画素位置におけるＲ光又はＧ光又はＢ光の透過光量
（の対数値）の変化量を正確に表す値となる。そして
（５）式は欠陥画素の画素値を（ｉｒ×Gain_X）だけ変
更しているので、修正画素値ＤＧ_Xとして、写真フィル
ムに付いている傷等に起因するＲ光又はＧ光又はＢ光の
透過光量の変化を正確に補正した値を得ることができ
る。なお、上述したステップ２００〜ステップ２１０は
請求項１１に記載の演算手段に対応している。

【０１４０】次のステップ２１２では、処理対象の欠陥
部に属する全ての欠陥画素に対して上記の処理を行った
か否か判定する。判定が否定された場合にはステップ２
０４に戻り、ステップ２０４以降の処理を繰り返す。そ
してステップ２１２の判定が肯定されると、輝度調整方
法による修正値決定処理を終了する。

【０１４１】上記のようにして輝度調整方法による修正
値決定処理を終了すると、図３のフローチャートのステ
ップ１１８へ移行し、処理対象の欠陥部に対する修正値
を決定する。本実施形態における欠陥部に対する修正値
は、前記欠陥部に属する各欠陥画素の修正画素値から成
り、処理対象の欠陥部の修正に補間方法及び輝度調整方
法の何れか一方を適用する場合には、処理対象の欠陥部
に属する各欠陥画素の修正画素値として補間方法又は輝
度調整方法によって決定された修正画素値を各々設定す
ることで、処理対象の欠陥部に対する修正値を決定する
ことができる。

【０１４２】また、処理対象の欠陥部の修正に補間方法
及び輝度調整方法を各々適用する場合、処理対象の欠陥
部に対する修正値は、補間方法によって決定された修正
画素値をＤＩ_X、輝度調整方法によって決定された修正
画素値をＤＧ_X、補間方法の適用割合をαとしたとき
に、処理対象の欠陥部に属する各欠陥画素の修正画素値
Ｄ０_Xを次の（６）式によって各々演算することで決定
することができる。 Ｄ０_X＝α×ＤＩ_X＋（１−α）×ＤＧ_X …（６） 上記により、処理対象の欠陥部が精度良く修正されるよ
うに処理対象の欠陥部に対する修正値を決定することが
できる。ステップ１１８は請求項１、請求項８、請求項
１１に記載の修正手段に対応している。

【０１４３】次のステップ１２０では、欠陥部検出処理
（ステップ１０２）で検出された全ての欠陥部に対して
ステップ１０４以降の処理を行ったか否か判定する。判
定が否定された場合にはステップ１０４に戻り、未処理
の他の欠陥部を処理対象の欠陥部としてステップ１０４
以降の処理を繰り返す。これにより、欠陥部検出処理に
よって検出された全ての欠陥部に対し、所定の特徴量の
演算、演算結果に基づく適用すべき修正方法の選択又は
適用範囲（適用割合）の決定、修正値の決定が各々行わ
れることになる。

【０１４４】検出された全ての欠陥部に対して修正値が
各々決定されると、ステップ１２０の判定が肯定されて
ステップ１２２へ移行し、各欠陥部に対する修正値を、
欠陥部の位置を表す情報（例えば各欠陥部を構成する欠
陥画素のアドレス）と共にイメージプロセッサ４０に通
知し、欠陥部修正値決定処理を終了する。

【０１４５】イメージプロセッサ４０では、ファインス
キャン画像データに対し、制御部４２で欠陥部修正値決
定処理が行われることで制御部４２から通知された修正
値に従って欠陥部を修正する（詳しくは欠陥部に属する
各欠陥画素の値を、通知された修正画素値に置き換え
る）欠陥部修正処理を行う。このように、イメージプロ
セッサ４０も請求項１、請求項８、請求項１１に記載の
修正手段に対応している。

【０１４６】またイメージプロセッサ４０は、欠陥部修
正処理を行った画像データに対し、制御部４２における
セットアップ演算によって決定された処理条件で各種の
画像処理を行い、Ｉ／Ｏコントローラ３８及びＩ／Ｆ回
路５４を介してプリンタ１６へ出力する。これにより、
印画紙６８に露光記録される画像から、修正対象として
選択された欠陥部が消去される。

【０１４７】なお、上記では本発明に係る複数種の修正
方法の一例として補間方法及び輝度調整方法を説明した
が、これに限定されるものではなく、ローパスフィルタ
等をかけることで欠陥部をぼかす、所謂ぼかし方法を加
えてもよいし、処理対象の欠陥部の所定の特徴量の値に
よっては無修正（欠陥部の修正を行なわない）を選択す
るようにしてもよい。

【０１４８】また、上記では欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂ
の濃度変化の相関を表す特徴量等の所定の特徴量を演算
し、演算結果に基づいて適用割合αを決定していたが、
これに限定されるものではなく、欠陥部におけるＲ，
Ｇ，Ｂ，ＩＲの各波長域の光の透過光量と、欠陥部の周
囲の領域におけるＲ，Ｇ，Ｂ，ＩＲの各波長域の光の透
過光量と、を比較し、何れの波長域の光も透過光量が低
下していた場合には輝度調整方法を選択し、Ｒ，Ｇ，Ｂ
のうち少なくとも１つの波長域の光の透過光量が増大し
ていた場合には補間方法を選択するようにしてもよい。
上記のように修正方法を選択することは請求項６及び請
求項７の発明に対応している。

【０１４９】また、上記では補間方法による修正値決定
処理（図７）において、各方向について濃度勾配及び補
間画素間距離を演算して各方向の重みを決定すること
を、欠陥部に属する全ての欠陥画素について各々行って
いたが、これに限定されるものではなく、単一の欠陥部
に属する全ての欠陥画素に対し、各方向の重みとして同
一の値を用いて（例えば欠陥部の中央、或いは重心に相
当する位置に位置している画素について求めた各方向の
重みを、単一の欠陥部に属する全ての欠陥部に共通に用
いる等）、各欠陥画素の最終補間値の演算を行うように
してもよい。

【０１５０】また、上記では輝度調整方法による修正値
決定処理（図１０）において、画像記録材料における可
視光と非可視光の屈折率の相違を表す特徴量としてゲイ
ンGain_Xを用いていたが、これに限定されるものではな
く、写真フィルムにおける光の波長毎の屈折率の相違
は、写真フィルムのフィルムベースの材質によっておお
よそ定まるので、例えばフィルムタイプ（１３５サイズ
／２４０サイズ／…）毎にＲ，Ｇ，Ｂの各波長域とＩＲ
光の波長域における屈折率の相違を予め測定してデータ
として記憶しておき、写真フィルムのフィルムタイプを
検出し、対応するデータを読み出して（５）式の演算等
に用いてもよい。

【０１５１】更に、上記では写真フィルムに記録されて
いる画像を読み取る画像読取装置の一例として、光電変
換セルがマトリクス状に配列されたエリアセンサ（エリ
アＣＣＤ３０）によって画像を読み取る構成を説明した
が、これに限定されるものではなく、光電変換セルがラ
イン状に配列されたラインセンサによって画像を読み取
るようにしてもよい。また、上記では写真フィルムを透
過した光を光電変換することで画像を読み取る構成を説
明したが、これに限定されるものではなく、写真フィル
ムを反射した光を光電変換することで画像を読み取る構
成を採用してもよい。

【０１５２】また、上記ではプレスキャン時にＲ，Ｇ，
Ｂの読み取りを行い、ファインスキャン時にＲ，Ｇ，
Ｂ，ＩＲの読み取りを行う例を説明したが、これに限定
されるものではなく、ＩＲ読み取りはプレスキャン時に
のみ行ってもよいし、プレスキャン時及びファインスキ
ャン時に各々行ってもよい。

【０１５３】また、上記では写真フィルムに付いた傷や
異物に起因する欠陥部を修正する場合を説明したが、本
発明はこれに限定されるものではない。例えば、フィル
ムスキャナやデジタルカメラ等に設けられているＣＣＤ
等の光電変換素子の中に欠陥画素が存在していた場合、
画像或いは被写体を撮像することで得られる画像データ
が表す画像に、傷や異物に起因する欠陥部と同様の欠陥
部が生ずる。この画素欠陥に起因する欠陥部の修正に本
発明を適用し、各欠陥部の特徴量に応じて最適な修正方
法の選択、或いは各修正方法の適用範囲の決定を行って
もよい。

【０１５４】画素欠陥に起因する欠陥部は、例えば装置
製造時に欠陥画素に起因する欠陥部を検出することは、
例えば画像処理装置の製造時に、検査によって発見され
た光電変換素子の欠陥画素を特定するための情報を装置
内蔵のＲＯＭ等に記憶しておき、ＲＯＭ等に記憶された
情報を読み出すことで検出することができる。また、例
えば単一の光電変換素子によって可視光及びＩＲ光の光
電変換（読み取り）を各々行う構成（例えばターレット
を回転させて各波長域の光の読み取りを順次行う構成）
のフィルムスキャナであれば、光電変換素子の画素欠陥
に起因する画像の欠陥部の検出は、可視光の読み取り結
果とＩＲ光の読み取り結果を比較することで行うことも
可能である。

【０１５５】

【発明の効果】以上説明したように請求項１及び請求項
１３記載の発明は、画像情報が表す画像の欠陥部の特徴
量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき修正方法を複
数種の修正方法の中から選択するか、又は欠陥部の修正
に適用する２つ以上の修正方法の各々の適用範囲を決定
し、画像情報に対し、選択された修正方法を適用して欠
陥部の修正を行うか、又は２つ以上の修正方法を決定さ
れた適用範囲内で各々適用して欠陥部の修正を行うの
で、様々な欠陥部を各々精度良く修正することが可能と
なる、という優れた効果を有する。

【０１５６】請求項２記載の発明は、請求項１の発明に
おいて、画像が記録された画像記録材料に非可視光を照
射し、画像記録材料を透過又は反射した非可視光を光電
変換した結果から画像の欠陥部を検出するようにしたの
で、上記効果に加え、画像記録材料の画像記録領域内に
付いている傷又は異物に起因する欠陥部を確実に検出す
ることができる、という効果を有する。

【０１５７】請求項３記載の発明は、請求項１の発明に
おいて、欠陥部付近における各成分色毎の濃度変化の相
関、欠陥部の周囲の領域における濃度の分布、欠陥部が
主要部領域内に存在しているか否か、及び、欠陥部の主
要部領域との重複割合の少なくとも１つを用いて修正方
法の選択又は適用範囲の決定を行うので、上記効果に加
え、修正方法の選択又は適用範囲の決定を精度良く行う
ことができる、という効果を有する。

【０１５８】請求項４記載の発明は、請求項２の発明に
おいて、欠陥部付近における非可視光と可視光の透過又
は反射光量の変化の相関、及び欠陥部付近における非可
視光の透過又は反射光量の少なくとも一方を用いて修正
方法の選択又は適用範囲の決定を行うので、上記効果に
加え、修正方法の選択又は適用範囲の決定を精度良く行
うことができる、という効果を有する。

【０１５９】請求項６記載の発明は、請求項２の発明に
おいて、画像記録材料に非可視光及び可視域内の所定の
複数の波長域の光を各々照射したときに、非可視光につ
いては欠陥部における透過光量が欠陥部の周囲の領域に
おける透過光量より低く、かつ複数の波長域のうちの少
なくとも１つの波長域の光については、欠陥部における
透過光量が前記周囲の領域における透過光量より高い場
合に、欠陥部の修正に適用すべき修正方法として補間方
法を選択するので、上記効果に加え、色素層に損傷を与
えている傷に起因する欠陥部を精度良く修正することが
できる、という効果を有する。

【０１６０】請求項７記載の発明は、請求項２の発明に
おいて、画像記録材料に非可視光及び可視域内の所定の
複数の波長域の光を各々照射したときに、非可視光及び
複数の波長域の光の何れについても、欠陥部における透
過光量が欠陥部の周囲の領域における透過光量より低い
場合に、欠陥部の修正に適用すべき修正方法として輝度
調整方法を選択するので、上記効果に加え、色素層に損
傷を与えていない傷に起因する欠陥部を精度良く修正す
ることができる、という効果を有する。

【０１６１】請求項８及び請求項１４記載の発明は、画
像中の欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿って画
像特徴量を演算すると共に、欠陥部に対して画像上で所
定の方向に存在する領域の情報から補間によって修正値
を求めることを複数の方向について行い、各方向毎の画
像特徴量に基づいて、各方向毎の修正値から最終修正値
を求めて欠陥部の修正を行うので、補間方法による欠陥
部の修正における修正精度のばらつきを抑制することが
できる、という優れた効果を有する。

【０１６２】請求項９記載の発明は、請求項８の発明に
おいて、画像特徴量として、所定の方向に沿った画像の
濃度変化、画像記録材料を透過又は反射した非可視光の
所定の方向に沿った光量変化、所定の方向に沿って一定
距離内に画像上に存在している欠陥画素の数、及び所定
の方向に沿って画像を辿ったときに欠陥部に属さない正
常画素が出現する迄の距離の少なくとも何れかを複数の
方向について各々演算するので、上記効果に加え、複数
の方向の各々が適正な補間方向か否かを正確に評価でき
る画像特徴量が得られる、という効果を有する。

【０１６３】請求項１０記載の発明は、請求項８の発明
において、所定方向に沿って画像を辿ったときに欠陥部
に属さない正常画素が一定数出現する迄の範囲で画像特
徴量又は修正値を演算することを、複数の方向について
各々行うので、上記効果に加え、画像特徴量又は修正値
の演算に要する時間を短縮することができる、という効
果を有する。

【０１６４】請求項１１及び請求項１５記載の発明は、
画像の欠陥部に対し、画像記録材料に非可視光を照射し
たときの欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光
量と、画像記録材料における可視光と非可視光の屈折率
の相違とに基づいて輝度変更量を演算し、欠陥部の輝度
が前記輝度変化量だけ変化するように画像情報を修正す
るので、輝度調整方法による欠陥部の修正精度を向上さ
せることができる、という優れた効果を有する。

【０１６５】請求項１２記載の発明は、請求項１１の発
明において、可視光と非可視光の屈折率の相違を表す特
徴量として、欠陥部付近における非可視光の透過又は反
射光量の変化から高周波成分を抽出した値と、欠陥部付
近における可視光の透過又は反射光量の変化から高周波
成分を抽出した値と、の比を演算するか、又は画像記録
材料の種類に基づいて前記屈折率の相違を表す特徴量を
取得するので、上記効果に加え、画像記録材料に付いて
いる傷等に起因する可視光の透過又は反射光量の変化を
正確に補正できる輝度変更量を得ることができる、とい
う効果を有する。

【０１６６】請求項１６記載の発明は、画像の欠陥部を
検出する第１のステップ、欠陥部の特徴量に基づいて適
用すべき修正方法を選択するか、又は適用する２つ以上
の修正方法の各々の適用範囲を決定する第２のステッ
プ、及び、選択した修正方法を適用して欠陥部の修正を
行うか、又は２つ以上の修正方法を決定した適用範囲内
で各々適用して欠陥部の修正を行う第３のステップを含
む処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録媒体に記録したので、様々な欠陥部を各々精度良く
修正することが可能となる、という優れた効果を有す
る。

【０１６７】請求項１７記載の発明は、画像中の欠陥部
内から互いに異なる複数の方向に沿って画像特徴量を各
々演算すると共に、欠陥部に対して画像上で所定の方向
に存在する領域の情報から修正値を補間によって求める
ことを複数の方向について行う第１のステップ、各方向
毎の画像特徴量に基づいて、各方向毎の修正値から最終
修正値を求める第２のステップ、及び最終修正値を用い
て欠陥部の修正を行う第３のステップを含む処理をコン
ピュータに実行させるためのプログラムを記録媒体に記
録したので、補間方法による欠陥部の修正における修正
精度のばらつきを抑制することができる、という優れた
効果を有する。

【０１６８】請求項１８記載の発明は、画像の欠陥部に
対し、画像記録材料に非可視光を照射したときの欠陥部
付近における非可視光の透過又は反射光量と、画像記録
材料における可視光と非可視光の屈折率の相違とに基づ
いて輝度変更量を演算する第１のステップ、欠陥部の輝
度が前記輝度変化量だけ変化するように画像情報を修正
する第２のステップを含む処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録媒体に記録したので、輝度
調整方法による欠陥部の修正精度を向上させることがで
きる、という優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本実施形態に係る画像処理システムの概略構
成図である。

【図２】 フィルムスキャナの概略構成を示す斜視図で
ある。

【図３】 欠陥部修正値決定処理の内容を示すフローチ
ャートである。

【図４】 （Ａ）は写真フィルムの傷及び異物が付いて
いない箇所、傷が付いている箇所、異物が付いている箇
所における光の透過を各々示す概念図、（Ｂ）は写真フ
ィルムのバック面に傷が付いている場合、（Ｃ）は写真
フィルムの乳剤面に傷が付いている場合の光の透過を各
々示す概念図である。

【図５】 （Ａ）はバック面に傷が付いている場合、
（Ｂ）は乳剤面に傷が付いている場合のＲ光、Ｇ光、Ｂ
光、ＩＲ光の透過光量の変化の一例を示す線図である。

【図６】 （Ａ）乃至（Ｃ）は、欠陥部の特徴量の演算
結果から適用すべき修正方法を選択又は適用範囲を決定
するためのマップの一例を示す線図である。

【図７】 補間方法による修正値決定処理の内容を示す
フローチャートである。

【図８】 図７の処理におけるスキャン方向の一例を示
す概念図である。

【図９】 （Ａ）は正常画素の画素値からの欠陥画素の
画素値の補間演算を説明するための線図、（Ｂ）は傾き
ＧＲＡＤと重み係数Ｍｇの関係、（Ｃ）は正常画素間距
離ＤＩＳＴと重み係数Ｍｄの関係を各々示す線図であ
る。

【図１０】 輝度調整方法による修正値決定処理の内容
を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１２ フィルムスキャナ １４ 画像処理装置 ２０ 光源 ２３ フィルタユニット ２６ 写真フィルム ３０ エリアＣＣＤ ４０ イメージプロセッサ ４２ 制御部 ７２ 情報記憶媒体

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H110 AC14 BA11 BA16 CE07 5B057 BA02 CA01 CA08 CB01 CB08 CC02 CE02 CE04 CE05 CE06 CE20 DB02 DB06 DB09 5C072 AA05 BA15 BA19 EA05 EA08 HA02 HA13 QA14 QA16 QA20 VA03 WA04 XA05 5C077 LL01 LL11 MP01 MP08 PP01 PP02 PP10 PP32 PP41 PP43 PP47 PP49 PP58 PP61 PP68 PQ08 PQ12 PQ20 RR19 SS03

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像情報が表す画像の欠陥部を検出する
   検出手段と、 欠陥部の特徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき
   修正方法を複数種の修正方法の中から選択するか、又は
   欠陥部の修正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適
   用範囲を決定する決定手段と、 前記画像情報に対し、前記決定手段によって選択された
   修正方法を適用して欠陥部の修正を行うか、又は前記２
   つ以上の修正方法を前記決定手段によって決定された適
   用範囲内で各々適用して欠陥部の修正を行う修正手段
   と、 を含む画像処理装置。
2. 【請求項２】 前記画像情報は画像記録材料に記録され
   た画像を表し、 前記検出手段は、前記画像が記録された前記画像記録材
   料に非可視光を照射し、画像記録材料を透過又は反射し
   た非可視光を光電変換した結果から前記画像の欠陥部を
   検出することを特徴とする請求項１記載の画像処理装
   置。
3. 【請求項３】 前記決定手段は、前記欠陥部の特徴量と
   して、画像情報が表す画像の欠陥部付近における各成分
   色毎の濃度変化の相関、前記画像の欠陥部の周囲の領域
   における濃度の分布、欠陥部が前記画像中の主要部領域
   内に存在しているか否か、及び、欠陥部の前記主要部領
   域との重複割合の少なくとも１つを用いて、前記適用す
   べき修正方法の選択又は前記適用範囲の決定を行うこと
   を特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
4. 【請求項４】 前記決定手段は、前記欠陥部の特徴量と
   して、前記画像記録材料に非可視光を照射したときの前
   記欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光量の変
   化と、前記画像記録材料に可視光を照射したときの前記
   欠陥部付近における可視光の透過又は反射光量の変化の
   相関、及び前記欠陥部付近における非可視光の透過又は
   反射光量の少なくとも一方を用いて、前記適用すべき修
   正方法の選択又は前記適用範囲の決定を行うことを特徴
   とする請求項２記載の画像処理装置。
5. 【請求項５】 前記複数種の修正方法には、欠陥部の情
   報を該欠陥部の周囲の領域の情報から補間によって求め
   る補間方法、及び欠陥部の輝度が変化するように画像情
   報を修正する輝度調整方法が含まれることを特徴とする
   請求項１記載の画像処理装置。
6. 【請求項６】 前記決定手段は、前記画像記録材料に非
   可視光及び可視域内の所定の複数の波長域の光を各々照
   射したときに、非可視光については欠陥部における透過
   光量が前記欠陥部の周囲の領域における透過光量より低
   く、かつ前記複数の波長域のうちの少なくとも１つの波
   長域の光については、前記欠陥部における透過光量が前
   記周囲の領域における透過光量より高い場合には、欠陥
   部の修正に適用すべき修正方法として、欠陥部の情報を
   該欠陥部の周囲の領域の情報から補間によって求める補
   間方法を選択することを特徴とする請求項２記載の画像
   処理装置。
7. 【請求項７】 前記決定手段は、前記画像記録材料に非
   可視光及び可視域内の所定の複数の波長域の光を各々照
   射したときに、非可視光及び前記複数の波長域の光の何
   れについても、前記欠陥部における透過光量が前記欠陥
   部の周囲の領域における透過光量より低い場合には、欠
   陥部の修正に適用すべき修正方法として、欠陥部の輝度
   が変化するように画像情報を修正する輝度調整方法を選
   択することを特徴とする請求項２記載の画像処理装置。
8. 【請求項８】 画像情報が表す画像中に存在する欠陥部
   に対し、該欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿っ
   て画像特徴量を各々演算する特徴量演算手段と、 前記欠陥部に対して画像上で所定の方向に存在する領域
   の情報から前記欠陥部を修正するための修正値を補間に
   よって求めることを前記複数の方向について各々行う個
   別修正値演算手段と、 前記特徴量演算手段によって演算された各方向毎の画像
   特徴量に基づいて、前記個別修正値演算手段によって各
   方向毎に演算された修正値から最終修正値を求める最終
   修正値演算手段と、 前記画像情報に対し、前記最終修正値演算手段によって
   演算された最終修正値を用いて前記欠陥部の修正を行う
   修正手段と、 を含む画像処理装置。
9. 【請求項９】 前記特徴量演算手段は、前記画像特徴量
   として、所定の方向に沿った前記画像の濃度変化、前記
   画像情報が表す画像が記録された画像記録材料に非可視
   光を照射したときの画像記録材料を透過又は反射した非
   可視光の所定の方向に沿った光量変化、所定の方向に沿
   って一定距離内に前記画像上に存在している欠陥画素の
   数、及び、所定の方向に沿って前記画像を辿ったときに
   欠陥部に属さない正常画素が出現する迄の距離、の少な
   くとも何れかを、前記複数の方向について各々演算する
   ことを特徴とする請求項８記載の画像処理装置。
10. 【請求項１０】 前記特徴量演算手段及び個別修正値演
    算手段の少なくとも一方は、所定方向に沿って前記画像
    を辿ったときに欠陥部に属さない正常画素が一定数出現
    する迄の範囲で前記画像特徴量又は前記修正値を演算す
    ることを、前記複数の方向について各々行うことを特徴
    とする請求項８記載の画像処理装置。
11. 【請求項１１】 画像記録材料に記録された画像を表す
    画像情報から検出された前記画像の欠陥部に対し、前記
    画像記録材料に非可視光を照射したときの前記欠陥部付
    近における非可視光の透過又は反射光量と、画像記録材
    料における可視光と非可視光の屈折率の相違とに基づい
    て、前記欠陥部を修正するための輝度変更量を演算する
    演算手段と、 前記画像情報が表す画像の前記欠陥部の輝度が、前記演
    算手段によって演算された輝度変化量だけ変化するよう
    に画像情報を修正する修正手段と、 を含む画像処理装置。
12. 【請求項１２】 前記演算手段は、画像記録材料におけ
    る可視光と非可視光の屈折率の相違を表す特徴量とし
    て、前記画像記録材料に非可視光を照射したときの前記
    欠陥部付近における非可視光の透過又は反射光量の変化
    から高周波成分を抽出した値と、画像記録材料に可視光
    を照射したときの欠陥部付近における可視光の透過又は
    反射光量の変化から高周波成分を抽出した値と、の比を
    演算するか、又は画像記録材料の種類に基づいて前記特
    徴量を取得することを特徴とする請求項１１記載の画像
    処理装置。
13. 【請求項１３】 画像情報が表す画像の欠陥部を検出
    し、 欠陥部の特徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき
    修正方法を複数種の修正方法の中から選択するか、又は
    欠陥部の修正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適
    用範囲を決定し、 前記画像情報に対し、前記選択した修正方法を適用して
    欠陥部の修正を行うか、又は前記２つ以上の修正方法を
    前記決定した適用範囲内で各々適用して欠陥部の修正を
    行う画像処理方法。
14. 【請求項１４】 画像情報が表す画像中に存在する欠陥
    部に対し、該欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿
    って画像特徴量を各々演算すると共に、前記欠陥部に対
    して画像上で所定の方向に存在する領域の情報から前記
    欠陥部を修正するための修正値を補間によって求めるこ
    とを前記複数の方向について各々行い、 前記各方向毎の画像特徴量に基づいて、前記各方向毎の
    修正値から最終修正値を求め、 前記画像情報に対し、前記最終修正値を用いて前記欠陥
    部の修正を行う画像処理方法。
15. 【請求項１５】 画像記録材料に記録された画像を表す
    画像情報から検出された前記画像の欠陥部に対し、前記
    画像記録材料に非可視光を照射したときの前記欠陥部付
    近における非可視光の透過又は反射光量と、画像記録材
    料における可視光と非可視光の屈折率の相違とに基づい
    て、前記欠陥部を修正するための輝度変更量を演算し、 前記画像情報が表す画像の前記欠陥部の輝度が、前記演
    算手段によって演算された輝度変化量だけ変化するよう
    に画像情報を修正する画像処理方法。
16. 【請求項１６】 画像情報が表す画像の欠陥部を検出す
    る第１のステップ、 欠陥部の特徴量に基づいて、欠陥部の修正に適用すべき
    修正方法を複数種の修正方法の中から選択するか、又は
    欠陥部の修正に適用する２つ以上の修正方法の各々の適
    用範囲を決定する第２のステップ、 及び、前記画像情報に対し、前記選択した修正方法を適
    用して欠陥部の修正を行うか、又は前記２つ以上の修正
    方法を前記決定した適用範囲内で各々適用して欠陥部の
    修正を行う第３のステップを含む処理をコンピュータに
    実行させるためのプログラムが記録された記録媒体。
17. 【請求項１７】 画像情報が表す画像中に存在する欠陥
    部に対し、該欠陥部内から互いに異なる複数の方向に沿
    って画像特徴量を各々演算すると共に、前記欠陥部に対
    して画像上で所定の方向に存在する領域の情報から前記
    欠陥部を修正するための修正値を補間によって求めるこ
    とを前記複数の方向について各々行う第１のステップ、 前記各方向毎の画像特徴量に基づいて、前記各方向毎の
    修正値から最終修正値を求める第２のステップ、 及び、前記画像情報に対し、前記最終修正値を用いて前
    記欠陥部の修正を行う第３のステップを含む処理をコン
    ピュータに実行させるためのプログラムが記録された記
    録媒体。
18. 【請求項１８】 画像記録材料に記録された画像を表す
    画像情報から検出された前記画像の欠陥部に対し、前記
    画像記録材料に非可視光を照射したときの前記欠陥部付
    近における非可視光の透過又は反射光量と、画像記録材
    料における可視光と非可視光の屈折率の相違とに基づい
    て、前記欠陥部を修正するための輝度変更量を演算する
    第１のステップ、 前記画像情報が表す画像の前記欠陥部の輝度が、前記演
    算手段によって演算された輝度変化量だけ変化するよう
    に画像情報を修正する第２のステップを含む処理をコン
    ピュータに実行させるためのプログラムが記録された記
    録媒体。