JP2002354258A

JP2002354258A - 画像読取装置

Info

Publication number: JP2002354258A
Application number: JP2001160238A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Yamaguchi; 博司山口
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 2001-05-29
Filing date: 2001-05-29
Publication date: 2002-12-06
Anticipated expiration: 2021-05-29
Also published as: US7035437B2; EP1263206A2; US20020181759A1; EP1263206A3; JP4143279B2

Abstract

(57)【要約】【課題】フィルムの種類や画像の状態によらず、フィル
ムに付着したゴミや埃等の異物、フィルムに付いた傷等
に起因する画像欠陥を誤検出なく高精度に検出できる画
像読取装置を提供する。【解決手段】原稿画像が担持する可視像を読み取る第１
読取手段、および、可視像の読み取りとは異なる波長で
参照画像を読み取る第２読取手段を有する画像読取手段
と、画像読取手段が読み取った可視像および参照画像を
用いて、可視像信号と参照画像信号の相関的な画素分布
情報を知見し、これを用いて、原稿画像に付着した異物
および原稿の傷に起因する画像欠陥を検出する検出手段
とを有することにより、前記課題を解決する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムに撮影さ
れた画像等を光電的に読み取る画像読取装置の技術分野
に属し、詳しくは、フィルム種や画像の状態によらず、
フィルムに付着した異物やフィルムの傷に起因する画像
欠陥を正確に検出することができる画像読取装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】現在、ネガフィルム、リバーサルフィル
ム等の写真フィルム（以下、フィルムとする）に撮影さ
れた画像の感光材料（印画紙）への焼き付けは、フィル
ムの画像を感光材料に投影して露光する、いわゆる直接
露光が主流である。これに対し、近年では、フィルムに
記録された画像を光電的に読み取って、読み取った画像
をデジタル信号とした後、種々の画像処理を施して記録
用の画像データとし、この画像データに応じて変調した
記録光によって感光材料を露光してプリントとして出力
し、また、画像データを画像ファイルとしてＣＤ−Ｒや
ＨＤ（ハードディスク）等の記録媒体に出力することも
行われている。

【０００３】このようなデジタルの処理によれば、フィ
ルムに撮影された画像を読み取って、デジタルの画像デ
ータとして画像処理を行うので、非常に好適に色や濃度
を補正できるばかりか、階調補正やシャープネス処理
（鮮鋭度補正）等、通常の直接露光のプリンタでは基本
的に不可能な画像処理を行って、高画質な画像を得るこ
とができる。

【０００４】ところで、フィルムを原稿とする画像の出
力において、画質劣化を起こす重大な要因として、フィ
ルムに付着したゴミや埃等の異物、摩擦等で形成された
フィルムの傷等に起因する画像欠陥（以下、ゴミ傷とす
る）が有る。従来の直接露光のプリンタでは、オペレー
タの手作業によって、フィルムを清浄化し、また、色材
で画像（フィルム）を修正することにより、このような
ゴミ傷を修正したプリントの出力を行っている。これに
対し、フィルムの画像を光電的に読み取り、デジタルの
画像データとして取り扱うデジタルの処理では、読み取
って得られた画像データを画像解析することで、ゴミ傷
を検出し、かつ、画像処理によって修正することができ
る。

【０００５】デジタルのプリンタにおいては、このよう
なフィルムのゴミ傷の検出方法としては、従来より、赤
外光（ＩＲ光）等の非可視領でフィルムの画像を読み取
って、この非可視像像を解析する方法が知られている
（特開平６−２８４６８号、同１１−７５０３９号公報
等参照）。すなわち、ＩＲ光は、フィルムに撮影された
画像（色素）には吸収されず、ゴミ傷によっては散乱さ
れるので、ＩＲ光でフィルムを読み取った際における信
号強度の変化からゴミ傷を検出することができる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、フィルムの
種類や画像の状態、さらには、非可視光の波長によって
は、画像が非可視光に吸収を有する場合があり、この際
には、ゴミ傷ではない、適正な部分まで、ゴミ傷と判定
して、誤検出してしまう。そのため、ＩＲ光等を用いた
ゴミ傷の検出結果に応じて画像の補正を行うと、ゴミ傷
ではない適正な部分まで画像の修正を行ってしまう場合
があり、この場合には、逆に、画質を低下してしまう。
また、本来は修正する必要が無い、適正な部分まで処理
を行うので、処理に時間がかかり、生産性（処理効率）
を低下してしまうという問題もある。これらの不都合を
回避するためには、非可視光の波長を色素の吸収が全く
無い波長にする必要があり、収差等の点で光学系の設計
が非常に困難になり、また、大幅なコストアップを伴う
という問題もある。

【０００７】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決することにあり、フィルムに撮影された画像等を光
電的に読み取る画像読取装置において、フィルムの種類
や画像の状態によらず、フィルムに付着したゴミや埃等
の異物、フィルムに付いた傷等に起因する画像欠陥を誤
検出なく高精度に検出することができ、従って、これら
に起因する画像欠陥を好適に修正した、高画質な画像を
出力でき、かつ、生産性も良好で、しかも低コストな画
像読取装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、原稿画像を光電的に読み取る画像読取装
置であって、前記原稿画像が担持する可視像を読み取る
第１読取手段、および、前記可視像の読み取りとは異な
る波長で参照画像を読み取る第２読取手段を有する画像
読取手段と、前記画像読取手段が読み取った可視像およ
び参照画像を用いて、可視像信号と参照画像信号の相関
的な画素分布情報を知見し、これを用いて、原稿画像に
付着した異物および原稿の傷に起因する画像欠陥を検出
する検出手段とを有することを特徴とする画像読取装置
を提供する。

【０００９】このような本発明の画像読取装置におい
て、前記検出手段は、前記参照画像信号と閾値とを用い
て画像欠陥の検出を行うものであり、かつ、前記画素分
布情報に応じて前記参照画像信号を補正し、もしくは、
前記画素分布情報に応じて前記閾値を変更して、前記画
像欠陥の検出を行うのが好ましく、また、前記検出手段
は、可視像信号と参照画像信号との相関的な画素分布情
報から、可視像信号に対する適正な参照画像信号を求
め、この適正な参照画像信号を用いて、前記参照画像信
号の補正、もしくは、前記閾値の変更を行うのが好まし
い。さらに、前記第２読取手段は、前記参照画像として
非可視像を読み取るのが好ましく、あるいは、前記第２
読取手段は、前記第１読取手段が読み取る可視像の内の
１色に対応し、かつ、前記第１読取手段とは異なる波長
によって、前記参照画像を読み取るのが好ましい。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の画像読取装置につ
いて、添付の図面に示される好適実施例を基に詳細に説
明する。

【００１１】図１に、本発明の画像読取装置を利用する
デジタルフォトプリントシステムの一例のブロック図が
示される。図１に示されるデジタルフォトプリントシス
テム１０（以下、プリントシステム１０とする）は、フ
ィルムＦに撮影された画像を光電的に読み取り、（写
真）プリントとして出力するもので、基本的に、スキャ
ナ１２と、画像処理部１４と、ディスプレイ１８と、操
作系２０（キーボード２０ａならにマウス２０ｂ）と、
プリンタ２２とを有して構成される。

【００１２】スキャナ１２は、フィルムＦの各コマに撮
影された画像を光電的に読み取る装置で、図２の概念図
に示すように、光源２４、ドライバ２６、拡散ボックス
２８、キャリア３０、結像レンズユニット３２、読取部
３４、アンプ（増幅器）３６、およびＡ／Ｄ（アナログ
／デジタル）変換器３８を有して構成される。

【００１３】図示例のスキャナ１２において、光源２４
は、ＬＥＤ(Light Emitting Diode)を利用するもので、
Ｒ（赤）光、Ｇ（緑）光およびＢ（青）光の各可視光を
出射する３種のＬＥＤと、非可視光であるＩＲ（赤外）
光を出射するＬＥＤとが配列されて構成される。このよ
うな光源２４は、ドライバ２６によって駆動され、各可
視光およびＩＲ光が、順次、出射される。拡散ボックス
２８は、フィルムＦに入射する光を、フィルム面方向で
均一にするものである。

【００１４】キャリア３０は、フィルムＦを断続的に搬
送して、フィルムＦに撮影された各画像（各コマ）を、
順次、所定の読取位置に搬送／保持するものである。ス
キャナ３０は、フィルムサイズ等に応じた複数種が用意
され、スキャナ１２の本体に着脱自在に構成される。図
示例において、キャリア３０は、読取位置を挟んで配置
される、フィルムＦを長手方向に搬送する搬送ローラ対
４０ａおよび４０ｂと、所定の読取位置において、各コ
マの読取領域を規制するマスク４２とを有する。

【００１５】結像レンズユニット３２は、フィルムＦの
投影光を読取部３４の所定位置に決結像するものであ
る。読取部３４は、エリアＣＣＤセンサを用いて、フィ
ルムＦに撮影された画像を光電的に読み取るもので、キ
ャリア３０のマスク４２で規制された１コマの全面を読
み取る（面露光による画像読取）。

【００１６】このようなスキャナ１２において、フィル
ムＦを読み取る際には、まず、キャリア３０によってフ
ィルムＦを搬送し、読み取りを行うコマ（通常は、１コ
マ目か最終コマ）を読取位置に搬送する。次いで、ドラ
イバ２６による作用の下、例えば、光源２４のＲのＬＥ
Ｄを駆動して、Ｒ光を出射する。Ｒ光は、拡散ボックス
２８によってフィルムＦの面方向で光量を均一にされた
後、読取位置に入射して、此処に保持されるコマに入
射、透過して、このコマに撮影された画像を担持する投
影光となる。この投影光は、結像レンズユニット３２に
よって読取部３４の所定位置（エリアＣＣＤセンサの受
光面）に結像され、このコマのＲ画像が光電的に読み取
られる。

【００１７】同様にして、光源２４のＧおよびＢのＬＥ
Ｄを、順次、発光して、このコマのＧ画像およびＢ画像
の読み取りを行い、最後に、光源２４のＩＲのＬＥＤを
発光して、ＩＲによる読み取り（ＩＲ画像の読み取り）
を行って、このコマの読み取りを終了する。従って、ス
キャナ１２からは、Ｒ、ＧおよびＢの各可視像と、ＩＲ
画像（非可視像）との、４チャネルの画像信号が出力さ
れる。１コマの読み取りを終了したら、キャリア３０
は、フィルムＦを搬送して、次に読み取りを行うコマを
読取位置に搬送する。

【００１８】読取部３４からの出力信号は、アンプ３６
で増幅され、Ａ／Ｄ変換器３８によってデジタルの画像
信号に変換されて、画像処理部１４（データ補正部４
４）に出力される。

【００１９】本発明において、画像読取手段は、図示例
のスキャナ１２に限定はされない。例えば、４色のＬＥ
Ｄではなく、ハロゲンランプ等の白色光源を用いると共
に、拡散ボックス２８の上流にＲ，Ｇ，ＢおよびＩＲの
フィルタ挿入手段を設けることにより、フィルムに撮影
された画像を同様の４チャネルで読み取るものであって
もよい。あるいは、同様の白色光源と、Ｒ、Ｇ、Ｂおよ
びＩＲの画像を読み取る４ラインのＣＣＤセンサを用い
て、いわゆるスリット走査によって、フィルムに撮影さ
れた画像を同様の４チャネルで画像を読み取るものであ
ってもよい。

【００２０】プリントシステム１０においては、通常、
１コマにつき、プリント等の出力のために高解像度で画
像を読み取るファインスキャンと、ファインスキャンの
読取条件やデータ処理部１４における画像処理条件を決
定するために、ファインスキャンに先立って行われる、
低解像度での画像読取であるプレスキャンとの、２回の
画像読取が行われる。この際において、通常、プレスキ
ャンとファインスキャンの出力信号は、解像度と出力レ
ベルが異なる以外は、基本的に同じデータである。

【００２１】前述のように、スキャナ１２から出力され
たデジタルの画像信号は、画像処理部１４に出力され
る。図３に、画像処理部１４のブロック図を示す。図３
に示されるように、画像処理部１４は、データ補正部４
４、Ｌｏｇ変換器４６、フレームメモリ４８（以下、Ｆ
Ｍ４８とする）、ゴミ傷修正部５０、画像補正部５４、
およびデータ変換部（３Ｄ−ＬＵＴ）５８を有して構成
される。

【００２２】図示は省略するが、プリントシステム１０
の画像処理部１４は、プレスキャンデータを処理して、
検定用のシミュレーション画像をディスプレイ２０に表
示するために、Ｌｏｇ変換器４６からデータの流れ方向
の下流（以下、下流とする）で分岐して、ＦＭ４８〜デ
ータ変換部５８と基本的に同様の処理経路を有する。な
お、この処理経路には、ゴミ傷修正部５０は、有っても
無くてもよい。

【００２３】データ補正部４４は、スキャナ１２から出
力されたＲ、Ｇ、ＢおよびＩＲの各画像の出力データ
に、ＤＣオフセット補正、暗時補正、シェーディング補
正等の所定の補正を施す部位である。Ｌｏｇ変換器４６
は、データ補正部４４で処理された出力データを、例え
ばＬＵＴ（ルックアップテーブル）等によってＬｏｇ変
換して、デジタルの画像（濃度）データとする。Ｌｏｇ
変換器４６で変換された、Ｒ、Ｇ、Ｂ、およびＩＲの各
画像の画像データは、それぞれ、対応するＦＭ４８に記
憶される。

【００２４】ＦＭ４８に記憶された画像データは、ゴミ
傷修正部５０で処理される。ゴミ傷修正部５０は、Ｒ、
ＧおよびＢの可視像の画像データ、および、ＩＲ画像
（非可視像）の画像データを用いて、フィルムＦに付着
したゴミや埃等の異物、フィルムＦに入った傷などに起
因する画像欠陥（以下、ゴミ傷とする）を検出し、検出
したゴミ傷を修正する部位である。なお、可能であれ
ば、以下に説明するゴミ傷の検出は、プレスキャンの画
像データを用いて行ってもよい。ここで、ゴミ傷修正部
５０においては、単純にＩＲの画像データ（以下、ＩＲ
データとする）の強度からゴミ傷を検出するのではな
く、Ｒ、ＧおよびＢの可視像の画像データ（以下、可視
像データとする）と、ＩＲデータとを用いて、両者の画
像濃度（画像信号）の相関関係から画像欠陥を検出す
る。

【００２５】フィルムのゴミ傷を修正するために、従来
より、ＩＲ画像を読み取り、そのＩＲ画像の濃度（ＩＲ
の信号強度）の変動を用いてゴミ傷を検出することが行
われている。しかしながら、この方法では、画像の状態
やフィルムの種類等によっては、フィルムに撮影された
画像がＩＲ光を吸収する場合があり、その結果、ゴミ傷
の誤検出を生じ、不要な部分（適正部分）の画像修正に
よって、画質の劣化や処理時間の増大等の不都合を招い
ていたのは、前述の通りである。

【００２６】本発明者は、画像欠陥の誤検出を生じさせ
るＩＲ光の吸収要因について、詳細に検討を重ねた結
果、画像中（フィルム中）に残存する銀成分がＩＲ光を
吸収し、その結果、前述のような誤検出を生じているこ
とを突き止めた。いわゆるカラーの銀塩写真フィルム
は、基本的に、発色／現像処理の後に行われる漂白処理
および定着処理によって、存在する銀成分は全て取り除
かれるように設計されている。ところが、処理液の劣化
やフィルム特性等に起因して、漂白処理等で除去しきれ
ずに、画像中に銀成分が残留（以下、これを残留銀とす
る）してしまう場合がある。また、本発明者の検討によ
れば、ネガフィルムの場合には、処理液の限界に応じ
て、低濃度〜中濃度の領域よりも、高濃度部（撮影シー
ンの高輝度部）に、銀成分が残留してしまう場合が多
い。

【００２７】この残留銀は、ＩＲ光を吸収する。そのた
め、ＩＲ画像の濃度のみを利用して、例えば、ＩＲ濃度
（ＩＲデータ）が閾値よりも高い部分（読取部３４にお
ける受光量が低い部分）をゴミ傷として検出してしまう
と、ゴミ傷では無いにも関わらず、残留銀に起因してＩ
Ｒ濃度が高い部分もゴミ傷として検出してしまう。その
結果、ゴミ傷では無い適正な部分を不要に修正する結果
となり、画質の低下や処理時間の増加を招いているの
は、前述の通りである。しかも、残留銀の量は、処理液
の状態やフィルムの特性に応じて、種々、変化するた
め、固定のパラメータでは適正に対応することは不可能
である。

【００２８】これに対し、本発明においては、Ｒ，Ｇお
よびＢの可視像濃度と、ＩＲ濃度との相関的な画素分布
を利用することにより、残留銀の影響を排除して、高精
度にゴミ傷の検出することを実現している。

【００２９】図４に、ある画像の各画素に付いて、可視
像の濃度（画像データ）と、ＩＲ画像の濃度との相関を
取った一例を示す。なお、図４において、（Ａ）はＲ濃
度（Ｄ_R）とＩＲ濃度（Ｄ_IR）の相関を、（Ｂ）はＧ濃
度（Ｄ_G）とＩＲ濃度（Ｄ_IR）の相関を、（Ｃ）はＢ濃
度（Ｄ_B）とＩＲ濃度（Ｄ_IR）の相関を、それぞれ示
す。また、（Ｄ）は、Ｒ、ＧおよびＢの全てを含む画像
濃度（Ｄ_V）とＩＲ濃度（Ｄ_IR）の相関を示す。なお、
Ｄ_Vは、例えば、下記式Ｄ_V＝αＤ_R＋βＤ_G＋γＤ_B で算出すればよい。ここで、α、βおよびγは係数（好
ましくは、α＋β＋γ＝１）であり、装置特性やフィル
ム種等に応じて適宜決定すればよいが、ネガフィルムの
場合には、通常、Ｒ感光層が最も下で、Ｂ感光層が最も
上に有るので、層構成に起因する銀成分の洗浄性を考慮
すると、「α＞β＞γ」とするのが好ましい。

【００３０】図４に示されるように、何れの可視像にお
いても、高濃度側においてＩＲ濃度の最低ラインが上が
っている。残留銀およびゴミ傷が全く無ければ、ＩＲ濃
度は、可視像濃度によらず均一、すなわち、Ｄ_IRは一直
線となるはずであるので、このＩＲ濃度の最低ラインが
上昇している部分が、残留銀に起因するＩＲ濃度である
と考えられる。

【００３１】残留銀に起因するＩＲ濃度をＤ_Ag、ゴミ傷
に起因するＩＲ濃度をＤ_de、フィルム自身が元々有して
いるＩＲ濃度をＣとすると、測定されたＩＲ濃度Ｄ
_IRは、Ｄ_IR＝Ｄ_Ag＋Ｄ_de＋Ｃで示すことができる。すなわち、測定されたＩＲ濃度Ｄ
_IRから、残留銀に起因するＩＲ濃度をＤ_Agを取り除くこ
とができれば、ゴミ傷に起因する画像欠陥を、残留銀に
影響されることなく、高精度に検出することができる。

【００３２】ここで、残留銀がＩＲ濃度に影響を与えて
いるのであれば、同じ画素（画像位置）のＩＲ濃度と、
可視像濃度とは、相関を有するはずである。また、一般
的なフィルムＦおいては、画像（１コマ）の殆どの領域
には、ゴミ傷は存在しない。本発明の検討によれば、ゴ
ミ傷を有する画素は、通常、１画像中で０．３％程度で
あり、１％を超えることは、極めて稀である。

【００３３】従って、可視像が同じ画像濃度の画素の集
合を考えれば、必ずゴミ傷を有さない画素が存在するは
ずであり、この画素集合においては、最もＩＲ濃度の低
い画素のＩＲデータが、ゴミ傷に起因する画像欠陥を有
さない画素のＩＲデータ、すなわち、残留銀のみに依存
するＩＲデータであると考えられる。言い換えれば、フ
ィルムＦにゴミ傷が無ければ、可視像濃度に対するＩＲ
濃度（適正なＩＲ濃度）は、図４に示されるＩＲ濃度Ｄ
_IRの最低ラインとなり、この最低ラインよりも上に存在
する画素が、ゴミ傷を有する画素と判定できる。本発明
は、これを用いることにより、ゴミ傷に起因する画像欠
陥の検出を、残留銀に影響を受ることなく、高精度に行
うことを可能にしている。

【００３４】以下、図５を参照して、ゴミ傷修正部５０
における処理について、具体的に説明する。ＦＭ４８に
Ｒ、ＧおよびＢの可視像データと、ＩＲデータとが記憶
されたら、ゴミ傷修正部５０は、両者を読み出し、ま
ず、全ての画素（ｘ_i，ｙ_i）について、可視像データ
であるＲＧＢ（ｘ_i，ｙ_i）からＩＲデータであるＩＲ
（ｘ_i，ｙ_i）を減算して、可視色素像データＣＭＹ
（ｘ_i，ｙ_i）を求める。ＣＭＹ（ｘ_i，ｙ_i）＝ＲＧＢ（ｘ_i，ｙ_i）−ＩＲ
（ｘ_i，ｙ_i）なお、ＲＧＢ（ｘ_i，ｙ_i）は、例えば、前述の「Ｄ_V
＝αＤ_R＋βＤ_G＋γＤ_B」で求めればよい。

【００３５】次いで、全ての画素（ｘ_i，ｙ_i）につい
て、図４（Ｄ）に示されるような、可視色素像データＣ
ＭＹ（ｘ_i，ｙ_i）とＩＲ（ｘ_i，ｙ_i）との相関的な
画素分布を求める。

【００３６】画素分布を求めたら、ゴミ傷修正部５０
は、同じ可視色素像データＣＭＹ（ｘ _i，ｙ_i）を有す
る画素の集合において、最小のＩＲデータを検出し、こ
れを、この画素集合ｇにおけるＭinＩＲ［ＣＭＹ
（ｘ_g，ｙ_g）］とする。

【００３７】さらに、ＭinＩＲ［ＣＭＹ（ｘ_g，
ｙ_g）］を求めたら、これを残留銀像Ａｇ
_Image（ｘ_g，ｙ_g）とする。すなわち、図４（Ｄ）を
参照すれば、ＩＲ濃度Ｄ _IRの最低ラインが、残留銀像Ａ
ｇ_Image（ｘ_g，ｙ_g）となる。Ａｇ_Image（ｘ_g，ｙ_g）＝ＭinＩＲ［ＣＭＹ（ｘ_g，
ｙ_g）］なお、残留銀像Ａｇ_Image（ｘ_g，ｙ_g）は、各画素集
合ｇ毎にテーブル化して記憶してもよく、あるいは、全
画素集合ｇに対応して、Ｆ［ＣＭＹ（ｘ_g，ｙ _g）］の
ように関数化してもよい。

【００３８】残留銀像Ａｇ_Image（ｘ_g，ｙ_g）を求め
たら、各画素のＩＲ（ｘ_i，ｙ_i）から、対応する画素
集合ｇの残留銀像Ａｇ_Image（ｘ_g，ｙ_g）を減算する
ことにより、補正されたＩＲデータであるＩＲ’
（ｘ_i，ｙ_i）を求める。すなわち、ゴミ傷が無い場合
の適正なＩＲ濃度を用いて、ＩＲ画像を補正する。ＩＲ’（ｘ_i，ｙ_i）＝ＩＲ（ｘ_i，ｙ_i）−Ａｇ
_Image（ｘ_g，ｙ_g）

【００３９】次いで、補正されたＩＲデータであるＩ
Ｒ’（ｘ_i，ｙ_i）を用いて、ゴミ傷を有する画素を検
出する。検出方法には、特に限定はなく、例えば、Ｉ
Ｒ’（ｘ _i，ｙ_i）が所定の閾値を超えた画素は、ゴミ
傷を有する画素として検出する方法が例示される。

【００４０】ゴミ傷を有する画素を検出したら、そのア
ドレス情報を用いて、可視像を修正すなわちＲ、Ｇおよ
びＢの可視像データを修正して、ゴミ傷の無い画像とす
る。なお、可視像（ゴミ傷）の修正方法には、特に限定
はなく、例えば、補間による修正や、画素の連続性を利
用する修正等、公知の方法が各種利用可能である。ゴミ
傷を修正した可視像データは、次の画像補正部５４に送
られる。

【００４１】以上の例では、測定されたＩＲデータ（Ｉ
Ｒ濃度）を補正して、所定の閾値によってゴミ傷を検出
した。しかしながら、本発明は、これに限定はされず、
例えば、ＩＲデータを補正するのではなく、算出した残
留銀像Ａｇ_Imageに応じて、閾値を変更して、変更した
閾値と測定したＩＲデータとを用いて、ゴミ傷を検出し
てもよい。また、図示例においては、残留銀の影響を強
く意識して、画像濃度ＲＧＢを用いて処理を行っている
が、これ以外にも、一色の可視像データ（例えば、Ｒ画
像データ）のみを用いて、可視像データとＩＲデータと
の相関、および残留銀像Ａｇ_Imageを求め、同様にし
て、ゴミ傷の検出を行ってもよい。

【００４２】また、以上の例では、参照画像としてＩＲ
画像（非可視像）を読み取って、ゴミ傷の検出を行って
いる。しかしながら、本発明は、これに限定はされず、
例えば、Ｒ、ＧおよびＢの可視像の何れか１色に対応す
る色で、かつ、可視像の読み取りとは異なる波長で参照
画像を読み取り、可視像と参照画像との相関的な画素分
布から、ゴミ傷を検出してもよい。

【００４３】図６（Ａ）に、フィルムＦの或る１色（色
素）の発色特性の一例を示す。図６（Ａ）に示される色
による画像読取を、発色のピークに対応する波長ａと、
発色濃度がそれよりも低い長波長側の波長ｂで行ったと
する。この際における両波長の測定濃度は、発色のピー
クである波長ａを横軸にすると、図６（Ｂ）に示すよう
に、傾きが１以下の直線となる。

【００４４】ここで、ゴミ傷に起因するフィルムＦの透
過光量の低下、すなわちスキャナ１２で読み取られる画
像濃度の変動は、色素とは無関係で、読み取りの波長に
は影響を受けないので、波長ａでも波長ｂでも同様であ
る。そのため、ゴミ傷を有する画素における波長ａの測
定濃度と、波長ｂの測定濃度との関係は、図６（Ｃ）に
示されるように、傾き１の方向の成分となる。従って、
同色に対応し、かつ複数の異なる波長での測定濃度の適
正な関係が傾き１よりも小さければ、ゴミ傷を有する画
素は、図６（Ｄ）に示されるように、低発色濃度側（波
長ｂ）による測定濃度が、両測定濃度の適正な関係より
も高濃度になり、すなわち分離できる。

【００４５】本方法は、これを利用することにより、可
視像濃度と参照画像濃度との相関的な画素分布から、ゴ
ミ傷を検出する。前述のように、１つの画像の大部分は
ゴミ傷を有さない画素である。また、ゴミ傷を有さなけ
れば、同色に対応し、かつ異なる波長で読み取った二つ
の画像は、発色特性と読み取り波長差との関係に応じた
ものになる。従って、例えば、可視像を発色のピークで
読み取り、参照画像を同色に対応する異なる波長で読み
取り、各画素毎に可視像濃度と参照画像濃度との相関関
係を求めることにより、図６（Ｂ）に示されるような、
この画像における可視像濃度と参照画像濃度との適正な
相関関係を知見できる。その上で、ゴミ傷に起因する画
像欠陥を有する画素は、この相関から外れ、通常、参照
画像の濃度がこの相関よりも高くなるので、この相関か
ら外れる画素をゴミ傷として検出する。すなわち、前述
のＩＲ画像を読み取る方法は、この方法を極端にしたも
のと考えることができる。

【００４６】同じ画素であれば、残留銀による影響は、
可視像も参照画像も同様に受ける。従って、本方法にお
いても、残留銀に起因する誤検出を生じることが無く、
ゴミ傷に起因する画像欠陥を高精度に検出できる。ま
た、ＩＲ光のような長波長の光を用いる必要がなく、可
視光を用いて、ゴミ傷を検出できる。可視光とＩＲ光と
を扱う光学系は、軸上収差等の関係で設計が非常に困難
であるのは周知の通りであるが、本方法によれば、これ
を解決し、可視光のみを用いる光学系と同様に設計を行
えばよい。さらに、一部のフィルム（例えばイーストマ
ンコダック社のコダクローム等）は、ＩＲ等の非可視像
に吸収を有するので、従来から利用されているＩＲを用
いた画像欠陥の検出を利用することができないが、可視
光を用いる本方法によれば、何ら問題無く、ゴミ傷に起
因する画像欠陥を検出できる。

【００４７】すなわち、本方法によれば、残留銀に起因
する誤検出を無くした高精度な画像欠陥の検出を可能に
した上で、さらに、参照画像の読み取り光源（フィル
タ）等の光学系の選択幅の拡大、光学系の設計容易化、
フィルム種による非適正を無くす等、各種の効果を得る
ことができる。

【００４８】このようなゴミ傷検出は、Ｒ、ＧおよびＢ
の何れの色で行ってもよい。ここで、参照画像の読み取
りは、可視像の読み取りと同色に対応し、かつ、異なる
波長であればよいが、発色濃度の差が大きい程、画像欠
陥の検出が容易かつ高精度になる傾向にある。その反
面、参照画像の読み取り波長が、他の色の発色が有る領
域であると、可視像の読み取りと発色濃度の差が大きく
ても、逆に、画像欠陥の検出が困難になる。従って、参
照画像の読み取り波長は、これらを加味して、適宜、決
定すればよい。

【００４９】前述のように、ゴミ傷修正部５０で画像欠
陥を修正されたＲ、ＧおよびＢの可視像データは、次い
で、画像補正部５４で処理される。画像補正部５４は、
デジタルのプリントシステムで施されている、各種の画
像処理を行う部位で、一例として、画像の拡縮処理（電
子変倍処理）、シャープネス（鮮鋭度強調）処理、濃度
補正、色補正（彩度補正）、覆い焼き処理（画像濃度ダ
イナミックレンジの拡縮処理）、階調変換等の画像処理
を施す。

【００５０】画像補正部５４で各種の画像処理を施され
た処理された可視像データは、データ変換部５８に出力
される。データ変換部５８は、例えば、三次元（３Ｄ）
−ＬＵＴ等を用いて可視像データを変換して、プリンタ
２２におけるプリント出力に対応する画像データとし
て、プリンタ２２に出力する。なお、プリントシステム
１０においては、画像補正部５４で処理した可視像デー
タを各種の画像フォーマット、例えばＪＰＥＧのフォー
マットの画像ファイｒに変換して、画像ファイルとして
ＣＤ−ＲやＭＤ（ミニディスク）等の記録媒体に出力し
てもよく、また、プリントと画像ファイルの両方を出力
してもよい。

【００５１】プリンタ２２は、公知のカラープリンタ
で、例えば、供給されたＲ、ＧおよびＢの画像データに
応じて変調したレーザビームによって、印画紙を二次元
的に走査露光して潜像を記録し、露光済の感光材料に、
現像／定着／水洗の湿式現像処理を施して潜像を顕像化
した後、乾燥して、プリントとして出力する。

【００５２】以上、本発明の画像読取装置について詳細
に説明したが、本発明は上記実施例に限定はされず、本
発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良およ
び変更を行ってもよいのはもちろんである。例えば、以
上の例では、写真フィルムを対象として画像読取を行っ
て、ゴミ傷に起因する画像欠陥の検出を行ったが、本発
明は、これに限定はされず、印画紙や印刷物等の反射原
稿等の画像読取にも、好適に利用可能である。

【００５３】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
画像読取装置によれば、フィルムに撮影された画像等を
光電的に読み取る画像読取において、フィルムの種類や
画像の状態によらず、フィルムのゴミ傷を誤検出なく高
精度に検出することができ、従って、ゴミ傷を好適に修
正した高画質な画像を、良好な生産性で出力できる。し
かも、本発明によれば、利用可能なフィルム種の拡大、
光源やフィルタ等の光学部材の選択幅の拡大、光学系の
設計容易化等も図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の画像読取装置を利用するデジタルプ
リントシステムの一例のブロック図である。

【図２】図１に示されるデジタルフォトプリントシス
テムのスキャナの概念図である。

【図３】図１に示されるデジタルフォトプリントシス
テムの画像処理部のブロック図である。

【図４】（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）および（Ｄ）は、本
発明における画像欠陥の検出を説明するためのグラフで
ある。

【図５】本発明における画像欠陥の検出、および修正
処理を説明するためのフローチャートである。

【図６】（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）および（Ｄ）は、本
発明における画像欠陥の検出の別の例を説明するための
グラフである。

【符号の説明】

１０（デジタルフォト）プリントシステム１２スキャナ１４画像処理部１８ディスプレイ２０操作系２２プリンタ２４光源２６ドライバ２８拡散ボックス３０キャリア３２結像レンズユニット３４読取部３６アンプ３８Ａ／Ｄ変換器４０搬送ローラ対４２マスク４４データ補正部４６Ｌｏｇ変換器４８ＦＭ（フレームメモリ）５０ゴミ傷修正部５４画像補正部５８データ変換部

フロントページの続きＦターム(参考） 2H106 AA33 BA01 BA22 BA26 BA47 5B057 AA20 BA02 CA01 CA16 CB01 CB16 CC01 CE02 DA03 DB02 DB06 DC22 5C062 AA01 AB03 AB17 AB46 AC02 AC58 AE01 BA06 5C077 LL02 MM03 MP08 NP01 PP80 PQ12 PQ20 PQ23

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】原稿画像を光電的に読み取る画像読取装置
であって、前記原稿画像が担持する可視像を読み取る第１読取手
段、および、前記可視像の読み取りとは異なる波長で参
照画像を読み取る第２読取手段を有する画像読取手段
と、前記画像読取手段が読み取った可視像および参照画像を
用いて、可視像信号と参照画像信号の相関的な画素分布
情報を知見し、これを用いて、原稿画像に付着した異物
および原稿の傷に起因する画像欠陥を検出する検出手段
とを有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】前記検出手段は、前記参照画像信号と閾値
とを用いて画像欠陥の検出を行うものであり、かつ、前記画素分布情報に応じて前記参照画像信号を補
正し、もしくは、前記画素分布情報に応じて前記閾値を
変更して、前記画像欠陥の検出を行う請求項１に記載の
画像読取装置。
【請求項３】前記検出手段は、可視像信号と参照画像信
号との相関的な画素分布情報から、可視像信号に対する
適正な参照画像信号を求め、この適正な参照画像信号を
用いて、前記参照画像信号の補正、もしくは、前記閾値
の変更を行う請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】前記第２読取手段は、前記参照画像として
非可視像を読み取る請求項１〜３のいずれかに記載の画
像読取装置。
【請求項５】前記第２読取手段は、前記第１読取手段が
読み取る可視像の内の１色に対応し、かつ、前記第１読
取手段とは異なる波長によって、前記参照画像を読み取
る請求項１〜３のいずれかに記載の画像読取装置。