JP2001077454A - 半導体製造装置及び製造方法 - Google Patents

半導体製造装置及び製造方法

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JP2001077454A
JP2001077454A JP25480199A JP25480199A JP2001077454A JP 2001077454 A JP2001077454 A JP 2001077454A JP 25480199 A JP25480199 A JP 25480199A JP 25480199 A JP25480199 A JP 25480199A JP 2001077454 A JP2001077454 A JP 2001077454A
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久弥 加藤
Tokuyuki Takeuchi
徳之 竹内
Kazuo Saito
和夫 斎藤
Mitsuo Okumura
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Abstract

(57)【要約】 【課題】半導体素子又は半導体レーザを安定した状態で
搬送又は整列させ、且つその作業性を向上させる。 【解決手段】コレット装置10の吸着コレット11は、
その先端の吸着面11aが水平面に対して傾斜してお
り、この吸着コレット11によりレーザバーが傾斜した
状態で吸着・搬送される。ホルダ装置20のホルダ28
は、図の左右方向にスライド可能な一対の保持板62,
63と、図の上下方向にスライド可能な一対の保持板6
4,65とを有する。左右の保持板62,63に設けら
れた段差部にレーザバーが横並びの状態で載置される。
ホルダ28は水平面に対して傾斜している。この傾斜角
は、積載した状態のレーザバーが倒れず、且つ自重で高
さ合わせが可能な角度であればよい。トレイ31は、コ
レット吸着面11aやホルダ28の傾斜角に応じて傾斜
角度が調整される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置及
び製造方法にかかり、詳しくは、例えばバー状の半導体
レーザを搬送しホルダに整列するための装置及び方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体レーザ(レーザダイオー
ド)の製造過程において、レーザ基板をへき開して短冊
状(バー状)にし、そのレーザバーに対して発光端面の
保護や光出力の効率向上のために光学薄膜等の被膜が作
製される。また、その被膜の製造過程において、生産効
率(スループット性)を向上させるべく、複数のレーザ
バーがホルダに整列され且つ固定される。
【0003】図9には、レーザバー100の外観を示
す。長尺の直方体形状をなすレーザバー100におい
て、基板101の両側面には電極102,103が形成
されている。また、図の上側に光出力側端面104が形
成され、図の下側に光反射側端面105が形成されてお
り、これら端面104,105がコート面となってい
る。レーザバー100のサイズは、共振器長(キャビテ
ィ長)W、レーザバー長さL、レーザバー厚さHで規定
され、通常、W=300〜1,000μm、L=10,
000〜20,000μm、H=50〜200μmとい
った寸法で作製される。
【0004】図10は、ホルダ70の構成を示す平面図
であり、本ホルダ70は、図のA方向に移動可能な一対
の保持板71と、図のB方向に移動可能な一対の保持板
72とを備える。ホルダ70には、上記保持板71及び
72に挟まれるようにしてレーザバー100とダミーバ
ー110とが交互に配列される。符号73は、レーザバ
ー100及びダミーバー110の落下防止のための四角
枠状の押さえカバーである。
【0005】ダミーバー110は、レーザバー100と
ほぼ同じ寸法で形成されるスペーサであり(但し、ダミ
ーバー110の方がW寸法が僅かに短い)、こうしてレ
ーザバー100とダミーバー110とを交互に並べる方
法は、被膜形成工程に有用な技術として特開平9−83
072号公報等にも開示されている。
【0006】かかる場合、レーザバー100はコート面
を上にしてホルダ70に整列され、通常は図11に示さ
れるように、ホルダ70が水平面に配置され、その上に
レーザバー100を並べる毎に図の左右の保持板72が
宛われてレーザバー100の転倒が防止される。またそ
の際、レーザバー100が浮き上がって高さズレが生じ
るのを防止すべく、面合わせ用のプレート75が上方か
ら宛われるようになっていた。
【0007】ところが、上記図11の装置では、プレー
ト75による面合わせの作業が強いられ、作業性が悪い
といった問題がある。また、先に整列されたレーザバー
には、その後何度もプレート75が宛われるため、その
際にコート面が損傷するおそれがあった。
【0008】他のレーザバー整列装置として、図12の
装置では、左右一対のガイド81で囲われたホルダ80
内に、レーザバー100とダミーバー110とが交互に
積載される。また、レーザバー100及びダミーバー1
10は、積載された状態で昇降機構82により昇降でき
るようになっていた。ところが、本装置では、ガイド8
1の壁面に沿ってレーザバー100のコート面が揃えら
れるものの、整列状態のレーザバー100が昇降機構8
2により昇降されるため、レーザバー100が損傷した
り、パーティクルが発生したりするおそれがあった。
【0009】一方、レーザバー搬送の従来技術として、
ピンセットでレーザバーを持ち上げて搬送するものがあ
る。つまり、図13のように、電極やへき開端面等の要
部を損傷させないよう、レーザバー端部を真空ピンセッ
ト90でつかみ、例えば前記図10相当のホルダ70に
レーザバー100を整列させていく。
【0010】しかしながら、上記ピンセット90による
搬送技術では、面積が非常に小さいために取り扱いが困
難となる。また、ピンセット90を手動操作する場合、
レーザバー100の搬送時にピンセット90がホルダ7
0等に接触する等、ピンセット90が誤って操作される
と、レーザバー100が脱落し、汚れや損傷の原因とな
るおそれがあった。
【0011】他方、特開平5−23987号公報等に
は、吸着コレット装置を用いて電子部品を吸着し、所定
位置に搬送する装置が提案されている。すなわち、この
吸着コレット装置は、電子部品表面に当接させられる吸
着面と、該吸着面において開口する吸引孔とを備え、吸
引孔を介して電子部品表面に吸引負圧を作用させて当該
電子部品を吸着し、搬送するものであった。しかしなが
ら、上記公報を含め吸着コレットによる従来の搬送技術
では、レーザバーを安定した状態で搬送し且つホルダに
整列させることに関しては何ら考慮されていなかった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題に
着目してなされたものであって、半導体素子又は半導体
レーザを安定した状態で搬送又は整列させ、且つその作
業性を向上させることができる半導体製造装置及び製造
方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の半導体
製造装置では、ホルダは、半導体素子を横並びの状態で
載置するための第1の載置面と、その第1の載置面に垂
直に設けられる第2の載置面とを有し、前記第1の載置
面が水平面に対して傾いている。
【0014】また、請求項2に記載の半導体製造装置で
は、ホルダは、半導体素子を横並びの状態で載置するた
めの第1の載置面と、その第1の載置面に垂直に設けら
れる第2の載置面とを有し、前記第1の載置面が水平面
に対して傾き、且つ吸着コレットの吸着面は、半導体素
子の吸着部位に応じて第1の載置面に対してほぼ平行に
或いは第2の載置面に対してほぼ平行に設けられる。
【0015】なお、本明細書では、重力が作用する方向
と直角をなす面を水平面と称し、半導体製造装置が水平
面に設置される場合には、前記第1の載置面は本製造装
置の設置面に対して傾くことになる。
【0016】請求項1,2の構成によれば、半導体素子
の整列に際し、水平面を基準に傾斜した第1の載置面と
それに垂直な第2の載置面との上に最初の半導体素子が
載置され、以降、第1の載置面に沿って半導体素子が並
べられる。その際、個々の半導体素子は傾いた状態でホ
ルダに積載されるので、従来技術と異なり、半導体素子
が転倒したり、転倒防止用部材を宛うことに起因して半
導体素子が浮き上がったりする等の不都合は生じない。
このとき、半導体素子は、第1の載置面に沿って自重に
より高さが揃えられる。また、整列状態の半導体素子を
移動させることもないので、半導体素子に傷がついた
り、パーティクルが発生することもない。その結果、半
導体素子を安定した状態で整列させ、且つその作業性を
向上させることができる。
【0017】特に請求項2の構成では、吸着コレットの
吸着面が第1又は第2の載置面の何れかに対してほぼ平
行に設けられている、すなわち、吸着コレットの吸着面
がホルダの傾斜に合わせて傾斜しているので、例えば直
方体状の半導体素子を吸着コレットからホルダに受け渡
す際において当該素子の不用意な動きや位置ズレが抑制
できる。それ故、より一層安定した搬送及び整列作業が
実現できる。
【0018】また、請求項3に記載の発明では、ホルダ
は、半導体レーザを横並びの状態で載置するための第1
の載置面と、その第1の載置面に垂直に設けられる第2
の載置面とを有し、前記第1の載置面が水平面に対して
傾き、且つ半導体レーザを吸着してホルダに搬送するた
めの吸着コレットの吸着面は、半導体レーザの吸着部位
に応じて第1の載置面に対してほぼ平行に或いは第2の
載置面に対してほぼ平行に設けられる。
【0019】本請求項3の発明によれば、個々の半導体
レーザは傾いた状態でホルダに積載されるので、半導体
レーザが転倒したり、転倒防止用部材を宛うことに起因
して半導体レーザが浮き上がったりする等の不都合は生
じない。このとき、半導体レーザは、第1の載置面に沿
って自重により高さが揃えられる。また、整列状態の半
導体レーザを移動させることもないので、半導体レーザ
に傷がついたり、パーティクルが発生することもない。
更に、吸着コレットの吸着面が第1又は第2の載置面の
何れかに対してほぼ平行に設けられている、すなわち、
吸着コレットの吸着面がホルダの傾斜に合わせて傾斜し
ているので、例えば直方体状の半導体レーザを吸着コレ
ットからホルダに受け渡す際において当該半導体レーザ
の不用意な動きや位置ズレが抑制できる。その結果、半
導体レーザを安定した状態で搬送及び整列させ、且つそ
の作業性を向上させることができる。
【0020】請求項1〜3の発明では、請求項4に記載
したように、前記第1の載置面は、積載した状態の半導
体素子が(第2の載置面とは逆側に)倒れず、且つ自重
で高さ合わせが可能な角度で傾いていると良く、具体的
には、請求項5に記載したように、前記第1の載置面の
傾斜角が20°〜70°の範囲内であることが望まし
い。
【0021】一方、請求項6に記載の発明では、ホルダ
を有するホルダ装置と、予め半導体レーザが並べられる
トレイを有するトレイ装置と、吸着コレットを鉛直方向
に上下動させるコレット装置と、吸着コレットの真下に
ホルダ装置又はトレイ装置が配置されるよう水平方向の
位置合わせを行う水平移動手段とを備える。
【0022】つまり、吸着コレットがトレイ上の半導体
レーザを吸着した後、上動してトレイから離れ、更にそ
の後、水平移動手段の駆動により吸着コレットの真下に
ホルダ装置が配置される。そして、吸着コレットが下動
して半導体レーザがホルダに整列される。本構成によれ
ば、トレイからホルダへの半導体レーザの搬送及び整列
作業が連続的に効率良く実施される。
【0023】請求項6に記載の半導体製造装置は、以下
の請求項7〜10の如く構成できる。つまり、請求項7
に記載の発明では、ホルダ装置は、ホルダの傾斜角を任
意に調整可能な角度調整機構を備えるので、ホルダの傾
斜角と吸着コレットの傾斜角とを一致させる等、ホルダ
の傾斜角を常時最適に調整することが可能となる。
【0024】請求項8に記載の発明では、トレイ装置に
はトレイ上の半導体レーザの配置が調整できるよう位置
調整部材が設けられており、吸着コレットはトレイの一
定位置から半導体レーザを受け取る。従って、吸着コレ
ットによる搬送時の初期の位置合わせが容易になり、半
導体レーザを効率良く搬送することが可能となる。
【0025】請求項9に記載の発明では、トレイの傾斜
角度は、ホルダの傾斜角に合わせて調整できるので、吸
着コレットの吸着面に対して平行にトレイを設置するこ
とができ、吸着コレットによりトレイから半導体レーザ
を受け取る際、当該半導体レーザを安定して扱うことが
可能となる。
【0026】請求項10に記載の発明では、コレット装
置は、半導体レーザを複数箇所で吸着するので、半導体
レーザを安定して吸着保持することができる。例えば半
導体レーザの両端2カ所を吸着すればよい。
【0027】また、請求項11に記載の発明では、吸着
コレットの吸着面は、半導体素子の受け渡し面の傾きに
合わせて傾斜しているので、吸着コレットにより半導体
素子を相手側に受け渡す際において当該素子の不用意な
動きや位置ズレが抑制できる。それ故、より一層安定し
た搬送及び受け渡し作業が実現できる。上記吸着コレッ
トの吸着面は、水平面に対して20°〜70°の範囲内
で傾斜していると良い(請求項12)。
【0028】また、請求項13に記載の発明では、吸着
コレットの先端部は樹脂材料で構成される。この場合、
例えば半導体レーザよりも十分に柔らかい軟質の樹脂材
料を用いる。これにより、吸着コレットによる搬送時
に、傷、欠け、割れ等の発生を防止することができる。
特に請求項14に記載したように、吸着コレットの先端
部をポリイミド樹脂とすれば、耐熱性の向上を図ること
ができ、加熱工程との共用も可能となる。
【0029】一方、半導体製造方法として、請求項15
に記載の発明では、吸着コレットにより半導体レーザを
水平面に対して傾斜させて吸着し、ホルダに搬送する工
程と、該傾斜した状態のまま、同様に傾斜したホルダに
半導体レーザを載置する工程とを有する。
【0030】本請求項15の半導体製造方法によれば、
個々の半導体レーザは傾斜した状態で吸着コレットに吸
着され、その後、ホルダに積載されるので、半導体レー
ザを吸着コレットからホルダに受け渡す際において当該
半導体レーザの不用意な動きや位置ズレが抑制できる。
また、半導体レーザが転倒したり、転倒防止用部材を宛
うことに起因して半導体レーザが浮き上がったりする等
の不都合は生じない。このとき、半導体レーザは自重に
より高さが揃えられる。また、整列状態の半導体レーザ
を移動させることもないので、半導体レーザに傷がつい
たり、パーティクルが発生することもない。その結果、
半導体レーザを安定した状態で搬送及び整列させ、且つ
その作業性を向上させることができる。なお、半導体レ
ーザを搬送しホルダに載置する際、吸着コレットの先端
部における吸着面の傾きは20°〜70°の範囲内で調
整されると良い(請求項16)。
【0031】また、請求項17に記載の半導体製造方法
では、半導体レーザを予め収容するトレイから吸着コレ
ットにより当該半導体レーザを受け取る工程と、その
後、ホルダ上に吸着コレットが配置されるよう水平方向
の位置合わせを行う工程とを有する。上記各工程によ
り、トレイからホルダへの半導体レーザの搬送及び整列
作業が連続的に効率良く実施される。
【0032】請求項18に記載の半導体製造方法では、
半導体レーザの搬送に際し、吸着コレットはエアを吸引
し続け、当該半導体レーザをホルダに載置する直前にエ
アを排出するので、半導体レーザをホルダに載置する
際、半導体レーザが吸着コレットから強制的に離れる。
これにより、静電気等が原因で半導体レーザが整列しに
くくなるといった不都合が解消される。また、ホルダに
載置する際、吸着コレットによりホルダ表面に半導体レ
ーザを押し付けることがないので、半導体レーザの損傷
等が未然に防止できる。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、この発明をレーザバー整列
装置に具体化した一実施の形態を図面に従って説明す
る。本実施の形態の装置において、製造の対象となるレ
ーザバー(半導体レーザ)100は、前記図9と同等の
寸法及び形状を持つものとし、そのレーザバーの搬送及
び整列の工程について説明する。また、ダミーバー11
0についても同じものとする。
【0034】図1は、本実施の形態におけるレーザバー
整列装置を示す全体斜視図である。本レーザバー整列装
置はその概要として、レーザバー100を吸着して搬送
するためのコレット装置10と、レーザバー100を整
列させるためのホルダ装置20と、整列前のレーザバー
100を収容しておくためのトレイ装置30と、水平方
向(xy方向)に移動可能な水平移動手段としての移動
装置40と、位置合わせの確認を行うための実体顕微鏡
50とを備える。移動装置40は、ホルダ装置20及び
トレイ装置30を搭載し、x軸,y軸の2方向に移動し
て位置合わせの微調整を行うxyステージ41と、xy
ステージ41の下部に設けられ、位置合わせの粗調整を
行うガイド42とからなる。以下に各装置の詳細な構成
を説明する。
【0035】コレット装置10は、軟質の樹脂材料から
なる吸着コレット11と、その吸着コレット11の上部
に接続される接続管12と、吸着コレット11を鉛直方
向に上下動させるためのコレット駆動部13とからな
る。吸着コレット11は略ニードル形状をなし、図2に
示されるようにその軸線が鉛直方向に延び、先端の吸着
面11aが水平面Hzを基準に角度θ1で傾斜して設け
られている。この傾斜角θ1は20°〜70°の範囲内
であればよいが、より望ましくは30°〜60°程度で
あるとよく、本実施の形態ではθ1=30°とする。
【0036】軟質樹脂製の吸着コレット11を用いるこ
とで、レーザバー100の真空吸着時に傷、欠け、割れ
等が防止される。特に、ダイボンディング等、加圧・加
熱する工程で当該コレット装置10を共用することを想
定し、耐熱性に優れるポリイミド樹脂にて吸着コレット
11を構成すると良い。なお、吸着コレット11自体が
軟質の樹脂材料でなくとも、その先端部に軟質の樹脂材
料からなる吸着パッドを設ける構成でも良い。
【0037】本コレット装置10において、図示しない
真空ポンプが駆動され、接続管12を介して吸着コレッ
ト11に吸引負圧が作用すると、その吸着面11aにレ
ーザバー100が吸着される。このとき、レーザバー1
00は、吸着面11aの傾斜角θ1にて傾斜した状態で
吸着されることとなる。
【0038】次に、ホルダ装置20について図3を用い
て説明する。ホルダ装置20は、基台21とその上に載
置されたyステージ22とを備え、これら両者の間には
蝶番23が設けられている。yステージ22は、蝶番2
3により任意の角度に傾斜し、その傾斜の状態は角度固
定ガイド24により固定される。なお、ホルダ装置20
の角度調整機構は、図示したような蝶番23と角度固定
ガイド24とによるものに限定されず、市販のθステー
ジなど角度が調整できるものであれば良い。
【0039】yステージ22には、平坦板で構成される
テーブル26が設けられ、テーブル26の上には治具2
7により位置固定されてホルダ28が載置されている。
この場合、yステージ22を傾けることでテーブル26
が傾き、結果としてホルダ28の角度が調整される。ま
た、yステージ22の手前側に設けられたレバー25を
操作することにより、テーブル26が前後方向(y方
向)にスライドし、その位置が微調整されるようになっ
ている。
【0040】ホルダ28は、円板状のホルダ本体61
と、図の左右方向にスライド可能な一対の保持板62,
63と、図の上下方向にスライド可能な一対の保持板6
4,65とを有し、それら保持板62〜65がホルダ2
8の中央部に向けてスライドすることで、レーザバー1
00及びダミーバー110が整列状態で固定保持され
る。ここで、図4(a)のホルダ断面図にも示されるよ
うに、左右の保持板62,63には、ホルダ中央部側の
端部に段差部62a,63aが設けられており、この段
差部62a,63aの上にレーザバー100及びダミー
バー110が横並びの状態で載置される。向かい合う段
差部62a,63aの間は、窓部66となっている。
【0041】また、図4(b)に示されるように、ホル
ダ本体61は水平面Hzを基準に角度θ2で傾斜してお
り、レーザバー100及びダミーバー110が実際に載
置される段差部62a,63aの傾きも同じθ2とな
る。この傾斜角θ2は、前述の角度調整機構により調整
されるようになっており、積載した状態のレーザバー1
00及びダミーバー110が保持板65とは逆側に倒れ
ず、且つ自重で高さ合わせが可能な角度であればよい。
実際には、傾斜角θ2は20°〜70°の範囲内であれ
ばよいが、より望ましくは30°〜60°程度であると
よく、本実施の形態ではθ2=60°とする。
【0042】また、傾斜角θ2は、コレット吸着面11
aの傾き(前述のθ1)に応じて調整されるようになっ
ており、吸着コレット11による傾斜状態のままレーザ
バー100をホルダ28に載置するには、(90°−θ
1)=θ2としてコレット吸着面11aとホルダ28と
が直交するように角度調整する。但し、θ1,2は指定
の角度に対し±10°の範囲にあれば実用上の問題は少
ないと考える。かかる場合、保持板62,63の段差部
62a,63aにより「第1の載置面」が構成され、図
の下側の保持板65の端面により「第2の載置面」が構
成される。
【0043】因みに、ホルダ28の傾斜角θ2が70°
を越えると、保持板65側(ホルダ手前側)にレーザバ
ー100がこぼれ易くなったり、ホルダ装置20のテー
ブル26等が吸着コレット11の搬送動作の妨げとなる
といった不都合が生じる。また、傾斜角θ2が20°未
満であると、保持板65とが逆側にレーザバー100が
倒れ易くなってしまう。
【0044】次に、トレイ装置30の構成を図5及び図
6を用いて説明する。トレイ装置30は、レーザバー1
00及びダミーバー110を収容するトレイ31と、そ
のトレイ31を載せるためのトレイ台32と、トレイ台
32の傾斜角θ3を調整するための角度調整部33と、
トレイ台32の高さを調整するための高さ調整部34と
から構成される。
【0045】トレイ台32には、レーザバー100又は
ダミーバー110が常に同じ位置から受け渡されるよう
トレイ31の位置調整を行うための調整ねじ35が設け
られており、この調整ねじ35により吸着コレット11
による搬送時の初期の位置合わせが行われる。
【0046】角度調整部33において、球状の穴部36
内には、トレイ台32に連結されたボール37が収容さ
れており、このボール37の位置を任意に変更し調整ね
じ38で固定することにより、水平面Hzに対するトレ
イ31の角度θ3が調整される。この傾斜角θ3は、前
記コレット吸着面11aの傾斜角θ1やホルダ28の傾
斜角θ2に応じて決定されればよい。実際には、傾斜角
θ3は20°〜70°の範囲内であればよいが、より望
ましくは30°〜60°程度であるとよく、本実施の形
態ではθ3=30°(=θ1)とする。また、高さ調整
部34には調整ねじ39が設けられている。なお、トレ
イ装置30の構成は、図5及び図6のものに限定される
ものではなくトレイ31のセット、位置調整、角度調整
が可能な構造であれば良い。
【0047】次に、上記構成のレーザバー整列装置の動
作手順を説明する。先ず始めに、xyステージ41又は
ガイド42による位置調整を行ってトレイ31上の所定
位置に吸着コレット11を配置し、トレイ31に収容さ
れているレーザバー100又はダミーバー110を吸着
コレット11にて真空吸着する。このとき、実体顕微鏡
50で吸着コレット11の先端位置を確認しながら操作
が行われる。その後、レーザバー100又はダミーバー
110を吸着した状態の吸着コレット11の真下に、同
じくxyステージ41又はガイド42による位置調整を
行ってホルダ装置20を移動させ、実体顕微鏡50で位
置確認を行いながらレーザバー100又はダミーバー1
10をホルダ28に載置し整列させる。
【0048】より詳細には、レーザバー100の搬送及
び整列の様子を示す図7において、既述の通りトレイ3
1は角度θ3で傾斜し、且つ吸着コレット11の吸着面
11aは角度θ1で傾斜しており(θ1=θ3)、吸着
コレット11はレーザバー100の電極面(図9の10
2又は103)の端部を真空吸着して持ち上げる。この
とき、トレイ31はコレット吸着面11aに平行に設置
されているので、レーザバー100が安定した状態で且
つ確実に受け渡される。そして次に、レーザバー100
を真空吸着したままホルダ28上でxy方向(水平方
向)の位置合わせした後、吸着コレット11を降下させ
てホルダ28に近づける。
【0049】なお前記図1には、ホルダ28とトレイ3
1とが同じ向きに傾斜した状態を示したが、実際のレー
ザバー搬送時には図7の通り、ホルダ28とトレイ31
とを互いに逆向きに傾斜させる。但し、仮にホルダ28
とトレイ31とが同じ向きに傾斜していても、レーザバ
ー受け取り後に吸着コレット11をその軸線を中心に1
80°回転させれば、トレイ31からホルダ28へのレ
ーザバー100の搬送が良好に実施される。
【0050】その後、レーザバー100をホルダ28に
載置する直前に真空吸引を停止すると共に、コレット先
端部からエアを排出する。これにより、吸着コレット1
1に吸着されていたレーザバー100が確実に吸着面1
1aから離れ、ホルダ28に所定順序で整列される。こ
のとき、コレット吸着面11a及びホルダ28が角度θ
1,θ2でそれぞれ傾斜し、レーザバー100のコート
面は保持板62,63の段差部62a,63aに平行
に、レーザバー100の電極面は保持板65の端面に平
行になっているので、レーザバー100を吸着コレット
11からホルダ28に受け渡す際において当該レーザバ
ー100の不用意な動きや位置ズレが抑制される。そし
てその後、前記整列させたホルダ28を用いて、レーザ
バー100の被膜形成面(コート面)に対し所定の被膜
形成処理が施される。
【0051】上記整列作業において、最初は、保持板6
2,63の段差部62a,63aとそれに垂直な保持板
65の端面との上に最初のダミーバー110が載置さ
れ、以降、段差部62a,63aに沿ってレーザバー1
00及びダミーバー110が連続して交互に並べられ
る。その際、個々のレーザバー100及びダミーバー1
10は傾いた状態でホルダ28に積載されるので、転倒
したり、転倒防止用部材を宛うことに起因して浮き上が
ったりする等の不都合は生じない。レーザバー100
は、段差部62a,63aに沿って自重により高さが揃
えられる。また、整列状態のレーザバー100を移動さ
せることもないので、レーザバー100のコート面に傷
がついたり、パーティクルが発生することもない。
【0052】以上詳述した本実施の形態によれば、以下
に示す効果が得られる。吸着コレット11によりレーザ
バー100を傾斜状態で吸着して搬送し、同じく傾斜し
たホルダ28にレーザバー100を載置するので、レー
ザバー100を安定した状態で搬送及び整列させること
ができ、且つその作業性が向上する。
【0053】コレット装置10、ホルダ装置20、トレ
イ装置30及び移動装置40等によりレーザバー整列装
置を構成したので、トレイ装置30からホルダ装置20
へのレーザバー100の搬送及び整列作業を連続的に効
率良く実施することが可能となる。また、水平方向(x
y方向)の移動は移動装置40により行い、上下方向
(垂直方向)の移動はコレット装置10により行うの
で、レーザバー整列の精度向上が可能となり、仮に精度
が悪化しても、各動作を行う部位の調整を独立して行う
ことで容易に調整できる。
【0054】レーザバー100をホルダ28に載置する
直前に吸着コレット11からエアが排出されるので、レ
ーザバー載置の際、レーザバー100が吸着コレット1
1から強制的に離れ、静電気等が原因でレーザバー10
0が整列しにくくなるといった不都合が解消される。ま
た、ホルダ28に載置する際、吸着コレット11により
ホルダ表面にレーザバー100を押し付けることがない
ので、レーザバー100の損傷等が未然に防止できる。
【0055】なお本発明は、上記以外に次の形態にて具
体化できる。コレット装置10の構成を図8のように変
更する。図8のコレット装置10では、吸着コレット1
1が平行に2本設けられ、その先端部においてレーザバ
ー100が吸着される。この場合、レーザバー100
は、両端2カ所で吸着保持されるため、搬送時の安定性
が向上する。
【0056】上記実施の形態では、コレット軸が鉛直方
向に延び、その軸方向に対して吸着面11aが斜めに形
成されていたが、コレット軸自体が斜めに設けられる場
合には、そのコレット軸と吸着面11aとが垂直であっ
てもよい。要は、コレット吸着面11aが水平面に対し
て傾斜し、ホルダ28に対して垂直又は平行となる構成
であれば、既述の優れた効果が得られる。
【0057】上記実施の形態では、コレット吸着面11
aをホルダ28の保持板65端面(第2の載置面)に対
してほぼ平行に設け、レーザバー100の電極面側を吸
着コレット11で吸着することとしたが(図7参照)、
これに代えて、コレット吸着面11aをホルダ28の保
持板62,63の段差部62a,63a(第1の載置
面)に対してほぼ平行に設けてもよい。例えばレーザバ
ー100以外の半導体素子を吸着・搬送する場合には、
このようにコレット吸着面の向きを特定しない方が望ま
しいと考える。そして、半導体素子の吸着部位に応じて
コレット吸着面の向きを決めればよい。
【0058】上記実施の形態では、ホルダ装置20及び
トレイ装置30をxyステージ41に搭載し、xyステ
ージ41等によりx軸及びy軸方向の移動を行うことと
したが、これに代えて、コレット装置10がx軸及びy
軸方向に移動できる構成としても良い。或いは、コレッ
ト装置10のxy方向の移動、ホルダ装置20及びトレ
イ装置30のxy方向の移動が共に可能な構成であって
も良い。
【0059】上記実施の形態では、実体顕微鏡50で位
置調整しながら手動操作によりレーザバー100の搬送
及び整列を行ったが、実体顕微鏡50に代えて画像認識
技術と連携した自動位置調整装置を設け、自動位置調整
を行うようにしてもよい。この場合、生産効率(スルー
プット性)が向上する。
【0060】本発明の吸着コレットは、上記レーザバー
整列装置以外にも適用できる。かかる場合にも、吸着コ
レットの吸着面を、半導体素子の受け渡し面の傾きに合
わせて傾斜させることで、吸着コレットにより半導体素
子を相手側に受け渡す際において当該素子の不用意な動
きや位置ズレが抑制できる。それ故、より一層安定した
搬送及び受け渡し作業が実現できる。なおこの場合、吸
着面の傾斜角は20°〜70°の範囲内であればよい
が、より望ましくは30°〜60°程度であるとよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】発明の実施の形態におけるレーザバー整列装置
を示す全体斜視図。
【図2】吸着コレットの先端形状を示す図。
【図3】ホルダ装置の構成を示す斜視図。
【図4】ホルダの構成を示す断面図。
【図5】トレイ装置の構成を示す斜視図。
【図6】トレイ装置の構成を示す断面図。
【図7】レーザバーの搬送及び整列の様子を説明するた
めの略図。
【図8】コレット装置の別の構成例を示す斜視図。
【図9】レーザバーの構成例を示す斜視図。
【図10】従来技術におけるホルダを示す平面図。
【図11】従来技術におけるレーザバー整列装置を示す
図。
【図12】従来技術におけるレーザバー整列装置を示す
図。
【図13】従来技術におけるレーザバー搬送の状態を示
す図。
【符号の説明】
10…コレット装置、11…吸着コレット、11a…吸
着面、20…ホルダ装置、23…角度調整機構を構成す
る蝶番、24…角度調整機構を構成する角度固定ガイ
ド、28…ホルダ、35…位置調整部材を構成する調整
ねじ、62〜65…保持板、62a,63a…段差部、
30…トレイ装置、31…トレイ、40…水平移動手段
を構成する移動装置、50…実体顕微鏡、100…レー
ザバー(半導体レーザ)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹内 徳之 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 斎藤 和夫 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 奥村 充男 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 Fターム(参考) 5F031 DA05 FA02 GA23 KA17 KA20 5F073 DA35

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体素子をホルダに整列させる機構を有
    する半導体製造装置において、 前記ホルダは、半導体素子を横並びの状態で載置するた
    めの第1の載置面と、その第1の載置面に垂直に設けら
    れる第2の載置面とを有し、前記第1の載置面が水平面
    に対して傾いていることを特徴とする半導体製造装置。
  2. 【請求項2】半導体素子を吸着コレットで吸着してホル
    ダに搬送し、当該ホルダに整列させる半導体製造装置で
    あって、 前記ホルダは、半導体素子を横並びの状態で載置するた
    めの第1の載置面と、その第1の載置面に垂直に設けら
    れる第2の載置面とを有し、前記第1の載置面が水平面
    に対して傾き、且つ吸着コレットの吸着面は、半導体素
    子の吸着部位に応じて第1の載置面に対してほぼ平行に
    或いは第2の載置面に対してほぼ平行に設けられること
    を特徴とする半導体製造装置。
  3. 【請求項3】バー状の半導体レーザをホルダに整列さ
    せ、その状態で半導体レーザの光共振器をなす少なくと
    も一方の端面に被膜を作製するための半導体製造装置に
    おいて、 前記ホルダは、半導体レーザを横並びの状態で載置する
    ための第1の載置面と、その第1の載置面に垂直に設け
    られる第2の載置面とを有し、前記第1の載置面が水平
    面に対して傾き、且つ半導体レーザを吸着してホルダに
    搬送するための吸着コレットの吸着面は、半導体レーザ
    の吸着部位に応じて第1の載置面に対してほぼ平行に或
    いは第2の載置面に対してほぼ平行に設けられることを
    特徴とする半導体製造装置。
  4. 【請求項4】前記第1の載置面は、積載した状態の半導
    体素子が倒れず、且つ自重で高さ合わせが可能な角度で
    傾いていることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記
    載の半導体製造装置。
  5. 【請求項5】前記第1の載置面の傾斜角が20°〜70
    °の範囲内であることを特徴とする請求項1〜3の何れ
    かに記載の半導体製造装置。
  6. 【請求項6】請求項3に記載の半導体製造装置におい
    て、 ホルダを有するホルダ装置と、 予め半導体レーザが並べられるトレイを有するトレイ装
    置と、 吸着コレットを鉛直方向に上下動させるコレット装置
    と、 吸着コレットの真下にホルダ装置又はトレイ装置が配置
    されるよう水平方向の位置合わせを行う水平移動手段
    と、を備えることを特徴とする半導体製造装置。
  7. 【請求項7】請求項6に記載の半導体製造装置におい
    て、 前記ホルダ装置は、ホルダの傾斜角を任意に調整可能な
    角度調整機構を備えることを特徴とする半導体製造装
    置。
  8. 【請求項8】請求項6に記載の半導体製造装置におい
    て、 前記トレイ装置にはトレイ上の半導体レーザの配置が調
    整できるよう位置調整部材が設けられ、吸着コレットは
    トレイの一定位置から半導体レーザを受け取ることを特
    徴とする半導体製造装置。
  9. 【請求項9】請求項6に記載の半導体製造装置におい
    て、 トレイの傾斜角度は、ホルダの傾斜角に合わせて調整で
    きることを特徴とする半導体製造装置。
  10. 【請求項10】請求項6に記載の半導体製造装置におい
    て、 前記コレット装置は、半導体レーザを複数箇所で吸着す
    るものであることを特徴とする半導体製造装置。
  11. 【請求項11】半導体素子を吸着して搬送するための吸
    着コレットを備える半導体製造装置であって、 吸着コレットの吸着面は、半導体素子の受け渡し面の傾
    きに合わせて傾斜していることを特徴とする半導体製造
    装置。
  12. 【請求項12】請求項11に記載の半導体製造装置にお
    いて、 吸着コレットの吸着面は水平面に対して20°〜70°
    の範囲内で傾斜していることを特徴とする半導体製造装
    置。
  13. 【請求項13】吸着コレットの先端部は樹脂材料で構成
    されることを特徴とする請求項2,3,11,12の何
    れかに記載の半導体製造装置。
  14. 【請求項14】吸着コレットの先端部はポリイミド樹脂
    からなることを特徴とする請求項13に記載の半導体製
    造装置。
  15. 【請求項15】バー状の半導体レーザをホルダに整列さ
    せ、その状態で半導体レーザの光共振器をなす少なくと
    も一方の端面に被膜を作製するための半導体製造方法に
    おいて、 吸着コレットにより半導体レーザを水平面に対して傾斜
    させて吸着し、ホルダに搬送する工程と、 該傾斜した状態のまま、同様に傾斜したホルダに半導体
    レーザを載置する工程と、を有することを特徴とする半
    導体製造方法。
  16. 【請求項16】請求項15に記載の半導体製造方法にお
    いて、 半導体レーザを搬送しホルダに載置する際、吸着コレッ
    トの先端部における吸着面の傾きは20°〜70°の範
    囲内で調整されることを特徴とする半導体製造方法。
  17. 【請求項17】請求項15又は16に記載の半導体製造
    方法において、 半導体レーザを予め収容するトレイから吸着コレットに
    より当該半導体レーザを受け取る工程と、その後、ホル
    ダ上に吸着コレットが配置されるよう水平方向の位置合
    わせを行う工程とを有することを特徴とする半導体製造
    方法。
  18. 【請求項18】請求項15〜17の何れかに記載の半導
    体製造方法において、 半導体レーザの搬送に際し、吸着コレットはエアを吸引
    し続け、当該半導体レーザをホルダに載置する直前にエ
    アを排出することを特徴とする半導体製造方法。
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