JP2001074427A - Ic検査装置 - Google Patents
Ic検査装置Info
- Publication number
- JP2001074427A JP2001074427A JP24536499A JP24536499A JP2001074427A JP 2001074427 A JP2001074427 A JP 2001074427A JP 24536499 A JP24536499 A JP 24536499A JP 24536499 A JP24536499 A JP 24536499A JP 2001074427 A JP2001074427 A JP 2001074427A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- character
- lead
- light
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
効率良く取得でき、また、エンボステープの縁部に伴う
ICの位置の誤認を効率良く低減することができるIC
検査装置を提供すること。 【解決手段】 文字用照明14から緑色(λ=550n
m)の光をICパッケージ19の斜め方向から照射し、
リード用照明15から赤色(λ=650nm)の光をIC
パッケージ19の上方から照射し、赤色の光については
透過するが緑色の光については吸収または反射するフィ
ルタ16と、緑色の光については透過するが赤色の光に
ついては吸収または反射するフィルタ17とを設けて、
文字用照明14の照明条件とリード用照明15の照明条
件とを独立に設定できるようにする。
Description
リードを光学的に検査するIC検査装置に関し、特に、
ICに付された文字の画像とリードの画像を効率良く取
得でき、また、エンボステープの縁部に伴うICの位置
の誤認を効率良く低減することができるIC検査装置に
関する。
来、ICパッケージ等の電子部品は、エンボステープ等
にラッピングして出荷することが多いため、このラッピ
ング直前に行われる電子部品の外観検査では、電子部品
がエンボステープに収納された状態をCCDカメラなど
で光学的に撮像するのが一般的である。
には、エンボステープに収納されたICパッケージに照
明を照射し、ICパッケージの文字およびリードからの
反射光をCCDカメラなどで撮像して、ICパッケージ
の種別を認識しつつリードの浮きやピッチが検査される
ことが多い。
た文字の画像とリードの画像の両方を取得し、取得した
画像に基づいてICパッケージの検査をおこなう従来技
術として、 (1)文字用照明の照明条件とリード用照明の照明条件
とのバランスを考え、最適と思われる条件下で文字とリ
ードを同時に検査する技術(従来技術1) (2)文字用照明とリード用照明を切り替えながら、2
枚の画像を取り込んで検査する技術(従来技術2) (3)文字用照明とリード用照明の色を変え、ダイクロ
イックミラーなどで分岐して2台のカメラで撮像し、そ
れぞれ撮像した画像を用いて検査する技術 (4)文字用照明とリード用照明の色を変え、3種類の
CCDカメラからなるカラーカメラで撮像し、それぞれ
撮像した画像を用いて検査する技術が知られている。
合には、リードを強調すれば文字が見づらくなり、文字
を強調すればリードが見づらくなるため、文字およびリ
ードの双方について良好な画像を取得することが難しい
という問題がある。
時間が長くなるという問題があり、従来技術3を用いた
場合には、検査装置の装置規模が大きくなるという問題
があり、従来技術4を用いた場合には、コストがかかる
という問題がある。
スペース化および低コスト化を図りつつ、ICパッケー
ジに付された文字の画像とリードの画像をいかに効率良
く取得するかが極めて重要な課題となっている。
ものであり、ICに付された文字の画像とリードの画像
を効率良く取得できるIC検査装置を提供することを第
1の目的とする。
のリードの検査、文字検査、ボイド検査などを実施する
場合に、照明によってエンボステープの縁が光ってしま
い、エンボステープ内でのIC位置の検出を失敗させる
場合がある。
従来の検査装置を示す図である。
テープ縁部30′によって反射されて反射光線L′とな
り、カメラ11で検出される。また、エンボステープ縁
部30′からの反射は、鏡面反射成分が支配的である。
よりも若干大きめに作られているため、エンボステープ
上でのICパッケージの位置は常に一定となるわけでは
なく、その都度平行移動や回転が生ずる。
しては、まず最初にエンボステープ内でのICパッケー
ジの位置を見つけだし、あらかじめ登録したデータから
の相対移動量を検出する必要がある。
こととすると、本来のリードのみならず文字列をもリー
ドとして検出してしまい、結果的に正しい検査結果が得
られない場合が生ずる。このため、かかるIC位置決め
は、ICパッケージ検査装置において必要不可欠な機能
となっている。
決め要領の一例を示す図であり、同図(a)に示すよう
に、図中に示すA点及びB点を特定し、この両点に基づ
いてIC位置決めを行う技術が知られている。
ICパッケージのリードや文字などを検査する場合に、
該リードや文字だけではなくエンボステープの縁部も反
射で白く光ってしまう。
の上部と下部に所在する白線がエンボステープの縁部で
あるため、かかるエンボステープの縁部をリードとして
検出すると、同図(b)に示すような誤った検出結果と
なる。
るICパッケージの文字やリードの画像を取得する場合
に、照明によってエンボステープの縁が光ってしまうこ
とが多いため、このエンボステープの縁部が、ICパッ
ケージの位置の誤認を招く大きな原因となっている。
Cパッケージの位置の誤認をいかに効率良く低減するか
も、極めて重要な課題となっている。
ものであり、エンボステープの縁部からの反射光による
位置決め誤りを効率良く低減することができるIC検査
装置を提供することを第2の目的とする。
発明の第1発明では、上記第1の目的を達成するため
に、IC上の文字及び該ICのリードを光学的に検査す
るIC検査装置において、第1の色の光を前記IC上の
文字に対して照射する文字用照明と、前記第1の色と異
なる第2の色の光を前記ICのリードに対して照射する
リード用照明と、前記第1の色の光を透過し、かつ、前
記第2の色の光を反射又は吸収する第1のフィルタと、
前記第2の色の光を透過し、かつ、前記第1の色の光を
反射又は吸収する第2のフィルタと、前記IC上の文字
で反射し第1のフィルタを透過した光を第1の画像形成
領域で受光するとともに、前記ICのリードで反射し第
2のフィルタを透過した光を第2の画像形成領域で受光
する撮像手段とを具備したことを特徴としている。
明する。
がIC19上の文字19aに対して照射され、第1の色
と異なる第2の色の光がIC19のリード19bに対し
て照射される。そして、第1のフィルタ17によって第
1の色の光が透過され、かつ、第2の色の光が反射又は
吸収され、第2のフィルタ16によって第2の色の光が
透過され、かつ、第1の色の光が反射又は吸収される。
さらに、IC19上の文字19aで反射され第1のフィ
ルタ17を透過した光は、第1の画像形成領域21で受
光されるとともに、IC19のリード19bL、19bR
で反射され第2のフィルタ16を透過した光は、第2の
画像形成領域22、23で受光される。
過し、かつ、第2の色の光を反射又は吸収する第1のフ
ィルタ17と、第2の色の光を透過し、かつ、第1の色
の光を反射又は吸収する第2のフィルタ16とを配設す
るよう構成したので、文字とリードの照明条件を独立に
設定することができ、かつ、一回の撮像で文字とリード
を検査することができる。
目的を達成するために、エンボステープ上に収容された
IC上の文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領
域で取得し、該取得した各画像に基づいて前記ICの位
置決めを行い、前記ICを検査するIC検査装置におい
て、前記エンボステープの縁部からの反射光を含まない
画像を取得する画像取得手段と、該画像取得手段により
取得された前記エンボステープの縁部からの反射光を含
まない画像に基づいて、前記ICの位置決めを行う位置
決め手段とを具備したことを特徴としている。
目的を達成するために、エンボステープ上に収容された
IC上の文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領
域で取得し、該取得した各画像に基づいて前記ICの位
置決めを行い、前記ICを検査するIC検査装置におい
て、前記エンボステープの縁部からの反射光を除去する
除去手段と、該除去手段により前記エンボステープの縁
部からの反射光を除去した画像に基づいて、前記ICの
位置決めを行う位置決め手段とを具備したことを特徴と
している。
に対応させて説明する。
ば、エンボステープの縁部30′からの反射光L′を含
まない画像が取得され、取得されたエンボステープの縁
部30′からの反射光L′を含まない画像に基づいて、
IC19の位置決めが行われる。
ンボステープの縁部からの反射光を含まない画像を用い
てICの位置決めを行うよう構成したので、エンボステ
ープの縁部からの反射光による位置決め誤りを効率良く
低減することができる。
目的を達成するために、エンボステープ上に収容された
IC上の文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領
域で取得し、該取得した各画像に基づいて前記ICの位
置決めを行い、前記ICを検査するIC検査装置におい
て、前記IC上の文字の画像の位置決め結果に基づい
て、前記ICの位置決めを行う位置決め手段を具備した
ことを特徴としている。
る。
文字19aの画像21の位置決め結果に基づいて、IC
19の位置決めが行われる。
19aの画像21の位置決め結果に基づいて、IC19
の位置決めを行うよう構成したので、エンボステープの
縁部からの反射光による位置決め誤りを効率良く低減す
ることができる。また、ICのリードからの反射光が鏡
面反射成分を多く含む場合でも、ICのリードの検査を
実行することができる。さらに、結果的に、ICの3分
割された全ての画像の位置決め結果に基づいて、ICの
位置決めを行う場合に比べて、位置決め検査回数、位置
決め設定回数が減り、もって検査時間及び設定時間を短
縮することができる。
発明に係る電子部品検査装置及び電子部品検査方法の好
適な実施の形態を詳細に説明する。なお、下記に示す実
施の形態1では、1回の撮像によって文字とリードの画
像を取得する点について説明し、実施の形態2では、エ
ンボステープ内でのICパッケージの位置決めについて
説明することとする。
態に係るICパッケージ検査装置による文字およびリー
ドの撮像概念について説明する。ICパッケージに付さ
れた文字を撮像する場合には、文字の凹凸(刻印の場合
には凹部、印刷の場合には凸部)の反射を利用するた
め、照明を斜め方向からICパッケージに照射して画像
を撮像し、また、リードの場合には、エンボステープの
黒色によってコントラストが比較的明瞭となるため、照
明を上方からICパッケージに照射して画像を撮像す
る。
撮影しようとすると、文字用照明がリードの撮影に影響
を与え、またリード用照明が文字の撮影に影響を与える
ために、最適な照明条件を設定することが難しい。
しても、必ずしも文字およびリードの両者を明瞭に撮影
できるとは限らず、トレードオフの関係にある両画像の
均衡を図れるにすぎない。
ジ検査装置では、文字用照明の色とリード用照明の色を
変えてICパッケージに照射し、プリズムなどによって
撮像領域を文字部とリード部に分割し、文字とリードを
それぞれ撮像するよう構成することにより、文字とリー
ドの照明条件を独自に設定でき、かつ、一度の撮像で文
字およびリードの検査を可能としている。
550nm)とし、リード用照明の色を赤色(λ=650
nm)として、文字部には緑色を透過するが赤色を吸収ま
たは反射するフィルタを介在させ、リード部には赤色を
透過するが緑色を吸収または反射するフィルタを介在さ
せている。
ージ検査装置によれば、文字とリードの照明条件がトレ
ードオフの関係ではなくなるので、各照明条件を独自に
設定することができ、また検査時間の短縮、省スペース
化および低コスト化を図ることができる。
ージ検査装置の画像撮像部の装置構成および動作につい
て説明する。図1は、実施の形態1で用いるICパッケ
ージ検査装置の撮像部の装置構成を示すブロック図であ
る。また、図2は、図1のICパッケージ検査装置の撮
像部で3分割に撮像されたICパッケージの画像を示す
図である。
は、撮像カメラ11と、偏光素子12と、プリズム13
と、文字用照明14と、リード用照明15と、フィルタ
16と、フィルタ17とから構成されている。
するICパッケージ19に付された文字19aおよびリ
ード19bL、19bRを撮像するCCDカメラである。
なお、本実施の形態では、映り込みを防止するため、図
2に示すような3分割した画像を撮像カメラ11で撮像
し、左右の画像部22および23を用いてリード19b
L、19bRの検査をおこなうとともに、中央の画像部2
1を用いて文字19aを検査する。
(P偏光またはS偏光を反射または吸収する)素子であ
り、プリズム13は、偏光波の進路を垂直方向に変換す
るものである。
の文字19aの画像を取得するための照明であり、具体
的には、この文字用照明14では、緑色(λ=550n
m)の光または拡散光またはP偏光などを図示したよう
にICパッケージ19の斜め方向の2箇所から照射す
る。このように文字用照明14を斜め方向から照射する
理由は、文字19aの場合には文字の凹凸(刻印の場合
には凹部、印刷の場合には凸部)の反射を利用するため
である。
のリード19bL、19bRの画像を取得するための照明
であり、具体的には、このリード用照明15では、赤色
(λ=650nm)の光を図示したようにICパッケージ
19の上方から照射する。このようにリード用照明15
を上方から照射する理由は、リード19bの場合には、
エンボステープの黒色によってコントラストが比較的明
瞭となるためである。なお、リード用照明15は、実際
にはICパッケージ19の真上から照射しているのでは
なく、有る程度の角度をもたせて紙面を貫くICパッケ
ージ19の斜め上方向の2箇所から照射している。
のリード用照明15を用いることによって、四方向から
ICパッケージ19に対して照明することにより照明光
量を増やしている。
射する赤色の光については透過するが文字用照明14か
ら照射する緑色の光については吸収または反射するフィ
ルタである。すなわち、このフィルタ16を設けること
により、文字用照明14からの光の影響を受けないリー
ドの画像を取得することが可能となる。
する緑色の光については透過するがリード用照明15か
ら照射する赤色の光については吸収または反射するフィ
ルタである。すなわち、このフィルタ17を設けること
により、リード用照明15からの光の影響を受けないI
Cパッケージ19の文字画像を取得することが可能とな
る。
光とリード用照明15から赤色の光とをICパッケージ
19に対して同時に照射すると、このICパッケージ1
9で反射された緑色と赤色の混ざった反射光がフィルタ
16および17に到達する。
の反射光のみが図2に示す画像の左右部22および13
に至り、また、フィルタ17を透過した緑色の反射光の
みが図2に示す画像の中央部21に至る。
角度や光強度などの照明条件を変化させたとしても、リ
ード19bL、19bRの画像がこの文字用照明14の影
響を受けることはなく、逆に、リード用照明15の設置
角度や光強度などの照明条件を変化させたとしても、文
字19aの画像がこのリード用照明15の影響を受ける
ことはない。
従来のICパッケージ検査装置の画像撮像部にフィルタ
16および17を付加するよう構成したので、文字とリ
ードの照明条件を独立に設定することができ、かつ、一
回の撮像で文字とリードを検査することができる。
は、図示した位置に限定されるものではなく、ICパッ
ケージ19と撮像カメラ11との間の任意の位置に配設
することが可能である。
15が照射する光の色や、フィルタ16および17が透
過する光の色は、必ずしも赤色と緑色に限定されるもの
ではなく、他の色を用いることもできる。
を検査する場合について示したが、リードとボイド、ま
たは、ボイドと文字を検査する場合に本発明を適用する
こともできる。
部によって反射される光に起因するICの位置検出の失
敗を防ぐ実施の形態について説明する。
光らさないよう撮像し、これによりエンボステープ縁部
をリードの一部と誤って検出されないこととしている。
込まないこととすれば、エンボステープ縁部からの反射
光を取り除くことができる。
光を含まない画像を用いてICの位置決めを行うように
したICパッケージ検査装置の実施形態の構成を示す図
である。
ラ11と、位置決めユニット31と、文字検査領域生成
ユニット32と、左リード検査領域生成ユニット33
と、右リード検査領域34と、文字検査ユニット35
と、左リード検査ユニット36と、右リード検査ユニッ
ト37とから構成されている。
(a)、(b)、(c)を参照して詳細に説明する。な
お、図5(a)、(b)、(c)は、図3に示すIC検
査装置で生成されるICパッケージ19の検出領域を示
す図である。
で鏡面反射された反射光線L′が入射されない位置に設
けられている。これにより、カメラ11にはエンボステ
ープ縁部30′による鏡面反射光線L′以外の反射光の
成分が入射されることになる。従って、カメラ11はエ
ンボステープ縁部30′からの反射光線L′を含まない
ICパッケージ19の画像を取得する。
得されたエンボステープ縁部30′からの反射光線L′
を含まないICパッケージ19の画像と予め登録されて
いる位置決め用の画像パターンとを突き合わせることに
より相対移動量を求める。
めユニット31で求められた相対移動量に基づいて、文
字検出領域Smを生成する。左リード検査領域生成ユニ
ット33は、位置決めユニット31で求められた相対移
動量に基づいて、左リード列検出領域SLを生成する。
置決めユニット31で求められた相対移動量に基づい
て、右リード列検出領域SRを生成する。
成ユニット32で生成された文字検出領域Sm内におい
てICパッケージ19の文字19aを検査する。
査領域生成ユニット33で生成された左リード列検出領
域SL内においてICパッケージ19の左リード19bL
を検査する。
査領域生成ユニット34で生成された右リード列検出領
域SR内においてICパッケージ19の右リード19bR
を検査する。
ジ検査装置の処理手順について図3、図5(a)、
(b)、(c)、図6を参照して説明する。図6は、本
実施の形態2に係るICパッケージ検査装置の処理手順
を示すフローチャートである。
よびエンボステープ30に向けて照射されると、ICパ
ッケージ19およびエンボステープ30表面上において
入射光線Lの反射が起きる。カメラ11はエンボステー
プ縁部30′による鏡面反射成分が入射されない位置に
設けられているので、カメラ11にはエンボステープ縁
部30′による鏡面反射光線L′以外の反射光が入射さ
れる。これにより、エンボステープ縁部30′からの反
射光L′を含まない図2のICパッケージ19の画像2
1、22、23が、カメラ11によって取り込まれる
(ステップS701)。
メラ11で取得されたエンボステープ縁部30′からの
反射光線L′を含まないICパッケージ19の画像2
1、22、23と予め登録されている位置決め用の画像
パターンとが突き合わされることにより相対移動量が求
められる。こうして、ICパッケージ19の位置決めが
行われる(ステップS702)。
いて、位置決めユニット31で求められた相対移動量に
基づいて、文字検出領域Smが生成される(ステップS
703)。次に、文字検査ユニット35によって、文字
検査領域生成ユニット32で生成された文字検出領域S
m内のICパッケージ19の文字19aが検査される
(ステップS704)。
において、位置決めユニット31で求められた相対移動
量に基づいて、左リード列検出領域SLが生成される
(ステップS705)。
て、左リード検査領域生成ユニット33で生成された左
リード列検出領域SL内のICパッケージ19の左リー
ド19bLが検査される(ステップS706)。
において、位置決めユニット31で求められた相対移動
量に基づいて、右リード列検出領域SRが生成される
(ステップS707)。
て、右リード検査領域生成ユニット34で生成された右
リード列検出領域SR内のICパッケージ19の右リー
ド19bRが検査される(ステップS708)。
ステープ縁部30′からの反射光L′を含まない画像を
用いてICパッケージ19の位置決めを行うよう構成し
たので、位置決め誤りを効率良く低減することができ
る。
反射成分が入射されない位置に設けることにより、エン
ボステープ縁部からの反射光線を含まないICパッケー
ジの画像を取得するようにしているが、カメラとICパ
ッケージとの間に偏光素子を設けることにより、エンボ
ステープ縁部からの反射光線を含まないICパッケージ
の画像を取得するようにしてもよい。
偏光素子を設けることにより、エンボステープ縁部から
の反射光線を含まないICパッケージの画像を取得する
ようにした実施形態を示す図である。なお、同図におい
て、上述の図3の実施形態と同一の構成要素には同一の
符号を付しており、これらの構成要素の説明については
適宜省略する。
カメラ11とICパッケージ19との間に偏光素子40
を設けている。
をP偏光とした場合、この入射光LPをICパッケージ
19およびエンボステープ縁部30′に入射させると、
入射光LPはエンボステープ縁部30′で鏡面反射され
る。これにより、エンボステープ縁部30′で鏡面反射
された反射光線LP′のP偏光成分が偏光素子40で反
射または吸収される。つまり、エンボステープ縁部3
0′からの反射光LP′が取り除かれる。従って、カメ
ラ11にはエンボステープ縁部30′による鏡面反射光
LP′以外の反射光の成分が入射されることになる。こ
うして、エンボステープ縁部30′からの反射光LP′
を含まない図2のICパッケージ19の画像21、2
2、23が、カメラ11によって取得される。
メラ11で取得されたエンボステープ縁部30′からの
反射光線LP′を含まないICパッケージ19の画像2
1、22、23と予め登録されている位置決め用の画像
パターンとが突き合わされることにより相対移動量が求
められる。こうして、ICパッケージ19の位置決めが
行われる。
ステープ縁部30′からの反射光LP′を含まない画像
を用いてICパッケージ19の位置決めを行うよう構成
したので、位置決め誤りを効率良く低減することができ
る。
偏光としているが、S偏光としてもよい。
ステープの縁部からの反射光を除去した画像の一例を示
す図である。
では、図10(a)に示すICパッケージの上部または
下部にみられるエンボステープの縁部に対応する白線が
除去されているのが分かる。
ボステープの縁部に対応する白線を除去し、IC位置決
めでの虚報をなくしたうえで、正しい文字検査をおこな
うことができることとなる。
反射成分を多く含む場合(リードからの反射光の鏡面反
射成分とエンボステープの縁部からの反射光の鏡面反射
成分とが同等の場合)、上述したようにICパッケージ
の3分割された全ての画像の位置決め結果に基づいてI
Cパッケージの位置決めを行うと、ICパッケージの3
分割された全ての画像の鏡面反射成分が抑制されるの
で、エンボステープの縁部からの反射光だけでなく、鏡
面反射成分であるリードからの反射光までが抑制されて
しまい、結果的にリードの検査が困難になる。
光による位置決め誤りを効率良く低減できるだけでな
く、ICのリードからの反射光が鏡面反射成分を多く含
む場合でも、ICパッケージのリードの検査を実行でき
る実施形態について説明する。
ージ19上の文字19aの画像21の位置決め結果に基
づいて、ICパッケージ19の位置決めを行うようにし
ている。
リード列検出領域SLの位置を算定する場合を例にし
て、エンボステープの縁部の反射光の影響を受けずにリ
ード検査を実行する原理について説明する。
左リード列検出領域の位置を算定する場合について説明
する光学系の概念図である。なお、ここでは画像分割手
段としてプリズムを用いるとともに、レンズをテレセン
トリックレンズとした場合を示すこととする。
表面上の文字19aの位置Xmを出発した光は、レンズ
61によってカメラ11の像面上のxmに集光されると
ともに、プリズム62とレンズ61によってカメラ11
の像面上の位置xLに集光される。
Lに集光される光線は、あたかもICパッケージ19の
左リード19bLの位置XLから発されたものと等価なも
のと考えることができるため、カメラ11の像面上の位
置xmからxLを求めるには、文字19aの位置Xmか
ら左リード19bLの位置XLを導きだせば良いことがわ
かる。
と左リード19bLの位置XLとの関係は、 XL−Xm=L×tanθ …(1) となるため、カメラ11の像面上のxmとxLとの関係
は、 xL=xm+β×L×tanθ …(2) となる。ただし、βは、レンズ倍率とする。このため、
上記(1)式、(2)式を用いることにより、図5のI
Cパッケージ19の文字19aの画像21にて位置決め
を行い、その結果をプリズム62を透過した画像に反映
して、左リード列検出領域SLおよび右列リード検出領
域SRを生成することが可能となる。なお、y方向につ
いては、ICパッケージ19の文字19aの画像21と
プリズム62を透過した画像との相対移動量は同一とな
る。
検査装置の処理手順について図3、図5(a)、
(b)、(c)、図6を参照して説明する。なお、図6
で説明した上記処理と同様の処理の説明については適宜
省略する。なお、図3において、カメラ11はエンボス
テープ縁部30′による鏡面反射される反射光線L′が
入射されない位置に設けられているが、この実施形態で
は、ICパッケージ19のリード19bL、19bRおよ
びエンボステープ縁部30′によって鏡面反射される反
射光が入射する位置にカメラ11が設けられている場合
を想定する。
よびエンボステープ30に向けて照射されると、ICパ
ッケージ19およびエンボステープ30表面上において
入射光線Lの反射が起きる。そして、カメラ11にはI
Cパッケージ19およびエンボステープ30によって反
射された反射光線L′が入射される。これにより、IC
パッケージ19のリード19bL、19bRおよびエンボ
ステープ縁部30′によって鏡面反射される反射光を含
む図2のICパッケージ19の画像21、22、23
が、カメラ11によって取り込まれる(ステップS70
1)。
メラ11で取り込まれたICパッケージ19の画像2
1、22、23のうちICパッケージ19の文字19a
の画像21の位置が検出され、この位置が検出されたI
Cパッケージ19の文字19aの画像21と、予め登録
されている位置決め用の画像パターンとが突き合わされ
ることにより相対移動量が求められる。つまり、ICパ
ッケージ19の文字19aとエンボステープ縁部30′
とは形状も光の反射態様も明らかに異なるので、ICパ
ッケージ19の文字19aの画像21を用いれば、位置
決め誤りが生じることもなくICパッケージ19の位置
決めを行うことができる(ステップS702)。
処理が行われる(ステップS703)。次に、上述した
ステップS704と同様の処理が行われる(ステップS
704)。
において、位置決めユニット31で検出されたICパッ
ケージ19の文字19aの画像21の位置に基づいて、
左リード列検出領域SLが生成される(上記(1)式、
(2)式を参照)(ステップS705)。
て、左リード検査領域生成ユニット33で生成された左
リード列検出領域SL内のICパッケージ19の左リー
ド19bLが検査される。つまり、左リード列検出領域
SL内にはエンボステープ縁部30′からの反射光が存
在しているが、ICパッケージ19の左リード19bL
で鏡面反射された反射光は抑制されないので、左リード
19bLを検査することが可能となる(ステップS70
6)。
において、位置決めユニット31で検出されたICパッ
ケージ19の文字19aの画像21の位置に基づいて、
右リード列検出領域SRが生成される(上記(1)式、
(2)式を参照)(ステップS707)。
て、右リード検査領域生成ユニット34で生成された右
リード列検出領域SR内のICパッケージ19の右リー
ド19bRが検査される。つまり、右リード列検出領域
SR内にはエンボステープ縁部30′からの反射光が存
在しているが、ICパッケージ19の右リード19bR
で鏡面反射された反射光は抑制されないので、右リード
19bRを検査することが可能となる(ステップS70
8)。
ICパッケージ19上の文字19aの画像21の位置決
め結果に基づいて、ICパッケージ19の位置決めを行
うよう構成したので、エンボステープの縁部からの反射
光による位置決め誤りを効率良く低減することができ
る。また、ICパッケージのリードからの反射光が鏡面
反射成分を多く含む場合でも、ICパッケージのリード
の検査を実行することができる。さらに、結果的に、I
Cパッケージの3分割された全ての画像の位置決め結果
に基づいて、ICの位置決めを行う場合に比べて、位置
決め検査回数、位置決め設定回数が減り、もって検査時
間及び設定時間を短縮することができる。
検査装置の撮像部の装置構成を示すブロック図である。
部で3分割に撮像されたICパッケージの画像を示す図
である。
検査装置の装置構成を示すブロック図である。
例を示す図である。
C検査装置で生成されるICパッケージ19の検出領域
を示す図である。
査装置の処理手順を示すフローチャートである。
除去した画像の一例を示す図である。
ド検査領域の位置を算定する場合について説明する光学
系の概念図である。
の検査装置を示す図である。
め要領の一例を示す図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 IC上の文字及び該ICのリードを光学
的に検査するIC検査装置において、 第1の色の光を前記IC上の文字に対して照射する文字
用照明と、 前記第1の色と異なる第2の色の光を前記ICのリード
に対して照射するリード用照明と、 前記第1の色の光を透過し、かつ、前記第2の色の光を
反射又は吸収する第1のフィルタと、 前記第2の色の光を透過し、かつ、前記第1の色の光を
反射又は吸収する第2のフィルタと、 前記IC上の文字で反射し第1のフィルタを透過した光
を第1の画像形成領域で受光するとともに、前記ICの
リードで反射し第2のフィルタを透過した光を第2の画
像形成領域で受光する撮像手段とを具備したことを特徴
とするIC検査装置。 - 【請求項2】 エンボステープ上に収容されたIC上の
文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領域で取得
し、該取得した各画像に基づいて前記ICの位置決めを
行い、前記ICを検査するIC検査装置において、 前記エンボステープの縁部からの反射光を含まない画像
を取得する画像取得手段と、 該画像取得手段により取得された前記エンボステープの
縁部からの反射光を含まない画像に基づいて、前記IC
の位置決めを行う位置決め手段とを具備したことを特徴
とするIC検査装置。 - 【請求項3】 エンボステープ上に収容されたIC上の
文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領域で取得
し、該取得した各画像に基づいて前記ICの位置決めを
行い、前記ICを検査するIC検査装置において、 前記エンボステープの縁部からの反射光を除去する除去
手段と、 該除去手段により前記エンボステープの縁部からの反射
光を除去した画像に基づいて、前記ICの位置決めを行
う位置決め手段とを具備したことを特徴とするIC検査
装置。 - 【請求項4】 エンボステープ上に収容されたIC上の
文字の画像とリードの画像をそれぞれ異なる領域で取得
し、該取得した画像に基づいて前記ICの位置決めを行
い、前記ICを検査するIC検査装置において、 前記IC上の文字の画像の位置決め結果に基づいて、前
記ICの位置決めを行う位置決め手段を具備したことを
特徴とするIC検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24536499A JP2001074427A (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | Ic検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24536499A JP2001074427A (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | Ic検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001074427A true JP2001074427A (ja) | 2001-03-23 |
Family
ID=17132575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24536499A Pending JP2001074427A (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | Ic検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001074427A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008241716A (ja) * | 2008-04-03 | 2008-10-09 | Shibaura Mechatronics Corp | 表面検査装置及び方法 |
-
1999
- 1999-08-31 JP JP24536499A patent/JP2001074427A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008241716A (ja) * | 2008-04-03 | 2008-10-09 | Shibaura Mechatronics Corp | 表面検査装置及び方法 |
JP4573308B2 (ja) * | 2008-04-03 | 2010-11-04 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 表面検査装置及び方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4224863B2 (ja) | 検査装置及び検査方法、並びにパターン基板の製造方法 | |
JPH0572961B2 (ja) | ||
JP3692685B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
US7355692B2 (en) | System and method for inspecting electrical circuits utilizing reflective and fluorescent imagery | |
JP2005127989A (ja) | 傷検出装置および傷検出プログラム | |
JP3676092B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
US20030117616A1 (en) | Wafer external inspection apparatus | |
JP3090594B2 (ja) | 画像認識装置を用いたコイン判別装置 | |
JPH08247736A (ja) | 実装基板検査装置 | |
JP2001074427A (ja) | Ic検査装置 | |
JP2914967B2 (ja) | 外観検査方法 | |
JPH10288508A (ja) | 外観検査装置 | |
JPH06160065A (ja) | 欠け検査装置 | |
JPH08233747A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JPH033884B2 (ja) | ||
JP2000258348A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JPH01155248A (ja) | はんだ付け検査装置 | |
JP3369880B2 (ja) | 鏡面状被検査物の鏡面認識方法 | |
JP2570508B2 (ja) | はんだ付検査装置 | |
JP2008014714A (ja) | 欠陥検査方法 | |
JPH0414281B2 (ja) | ||
JPH10132704A (ja) | 光学検査装置 | |
JPH0627705B2 (ja) | 蒸気もれ検出装置 | |
JPH1185997A (ja) | 画像処理装置 | |
JP2781022B2 (ja) | はんだ付外観検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060606 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20080925 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20080930 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20081128 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090414 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090929 |