JP2001066341A - 導通検査方法及び導通検査装置 - Google Patents

導通検査方法及び導通検査装置

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JP2001066341A
JP2001066341A JP24355099A JP24355099A JP2001066341A JP 2001066341 A JP2001066341 A JP 2001066341A JP 24355099 A JP24355099 A JP 24355099A JP 24355099 A JP24355099 A JP 24355099A JP 2001066341 A JP2001066341 A JP 2001066341A
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JP
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contact pin
wiring circuit
conductive
wiring
contact
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JP24355099A
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English (en)
Inventor
Nobusane Oono
信実 大野
Tsutomu Takahashi
努 高橋
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 導通検査の誤判定がなく,精度の良い検査を
行うことができる,導通検査方法及び導通検査装置を提
供すること。 【解決手段】 プリント配線板の配線回路を電気導通の
有無により検査する導通検査方法において,第1配線回
路群711に向かって付勢された第1コンタクトピン3
1,第2配線回路群712に向かって付勢された第2コ
ンタクトピン32,及び第1コンタクトピンと第1配線
回路群との間に配設された導電性ゴム部材2を用い,第
1配線回路群711に対しては,第1コンタクトピン3
1で導電性ゴム部材2を押圧し,これを介して第1コン
タクトピンを接続させ,第2配線回路群712に対して
は,第2コンタクトピン32を直接に接触させてこれを
押圧し,第2コンタクトピンを接続させて,電気導通の
有無を検査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は,プリント配線板の配線回路を検
査するための導通検査方法及び導通検査装置に関する。
【0002】
【従来技術】従来,プリント配線板に設けた複数の配線
回路を電気導通の有無により検査する方法,及びその装
置としては,種々のものが提案されている。その一例と
して,コンタクトピンを用いた導通検査方法がある。こ
の方法においては,プリント配線板の配線回路と対向す
るよう配置され,配線回路側に付勢された導電性のコン
タクトピンを,直接に配線回路に当接させることによ
り,配線回路とコンタクトピンとを電気的に接続する。
このとき,配線回路に断線や短絡が生じていなければ,
正常な電気導通が得られる。これにより,各配線回路の
良否が判定できる。
【0003】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の導
通検査方法においては次の問題がある。即ち,上記コン
タクトピンは細径であるため,例えばリング状の端子部
(ランド)を有するバイアホール上の配線回路のよう
な,凹部を有する配線回路等については,凹部内でコン
タクトピンが浮いてしまう場合がある。この場合には,
配線回路にはコンタクトピンを接続させることができ
ず,正常な配線回路であっても,配線回路に断線が生じ
ていると誤った判定をしてしまうおそれがある。
【0004】一方,異方導電性ゴム部材を用いた導通検
査方法もある。この方法においては,まず,プリント配
線板と対面するように上記異方導電性ゴム部材を配置す
る。次いで,配線回路と対向するよう配置された押圧突
起を有する検査ヘッドを用いて,異方導電性ゴム部材を
その厚み方向に押圧する。そして,上記異方導電性ゴム
部材の導電性粒子を互いに接触させ,これらを介して,
配線回路と押圧突起とを電気的に接続して,電気導通の
有無を検査する。
【0005】しかし,この導通検査方法においても,上
記凹部を有する配線回路等については,凹部によって異
方導電性ゴム部材への押圧力が不足しやすく,上記異方
導電性ゴム部材の導電性粒子を接触させることができな
いおそれがある。そのため,配線回路と押圧突起との電
気的な接続を確実に行うことができず,配線回路に断線
が生じていると誤った判定をしてしまうおそれがある。
【0006】それ故,例えば凹部のない配線回路だけが
形成されたプリント配線板に関しては,上記2つの導通
検査方法でも,ある程度の検査精度を確保できるが,形
状の異なる配線回路が混在したプリント配線板に対して
は,上記2つの導通検査方法では,十分な検査精度を確
保できないという問題がある。
【0007】本発明は,かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので,導通検査の誤判定がなく,精度の良い検
査を行うことができる,導通検査方法及び導通検査装置
を提供しようとするものである。
【0008】
【課題の解決手段】請求項1に記載の発明は,プリント
配線板に設けた複数の配線回路を電気導通の有無により
検査する導通検査方法において,上記複数の配線回路の
うちの一部の配線回路と一対一で対向するよう配置され
ていると共に上記一部の配線回路側に付勢された導電性
の第1コンタクトピンと,上記一部の配線回路を除く残
りの配線回路と一対一で対向するよう配置されていると
共に上記残りの配線回路側に付勢された導電性の第2コ
ンタクトピンと,上記第1コンタクトピンと上記一部の
配線回路との間に配設された,電気絶縁性部材の内部に
おいて複数の導電性粒子を厚み方向に配設してなる導電
性ゴム部材とを用い,上記一部の配線回路に対しては,
上記第1コンタクトピンにより上記導電性ゴム部材をそ
の厚み方向に押圧することにより,上記導電性ゴム部材
の導電性粒子を介して上記第1コンタクトピンを電気的
に接続させ,一方,上記残りの配線回路に対しては,上
記第2コンタクトピンを直接に接触させてこれを押圧す
ることにより,上記第2コンタクトピンを電気的に接続
させて,上記電気導通の有無を検査することを特徴とす
る導通検査方法にある。
【0009】本発明において最も注目すべきことは,一
部の配線回路(以下,第1配線回路群)と残りの配線回
路(以下,第2配線回路群)とで,コンタクトピンの接
続方法を異にしたことと,第1配線回路群への電気的な
接続性を高めたことである。
【0010】上記第1配線回路群と上記第2配線回路群
との分類は,例えば,コンタクトピンの直接接触により
精度よく検査可能な配線回路を上記第2配線回路群に
し,コンタクトピンの直接接触では検査精度が低下する
おそれのある配線回路を上記第1配線回路群にすること
ができる。上記第1配線回路群に分類される配線回路と
しては,例えばバイアホール上の配線回路のような,凹
部を有する配線回路,フォトビア,レーザービア等があ
る。また,上記第第2配線回路群に分類される配線回路
としては,例えば凹部のない配線回路,ビルドアップ配
線回路等がある。また,導電性ゴム部材としては,等方
導電性ゴム,異方導電性ゴムなどの,導電性を有するゴ
ムがある。
【0011】次に,本発明の作用効果につき説明する。
本発明においては,上記第1配線回路群については,各
配線回路に向かって個々に付勢された上記第1コンタク
トピンによって,両者間に介在させた上記導電性ゴム部
材を押圧することにより,電気導通の有無を検査する。
そのため,例えば各配線回路が凹部を有している場合の
ように,コンタクトピンによる直接接触方法の適用が困
難な場合においても,上記導電性ゴム部材を上記第1配
線回路群に十分に接触させることができるので,上記凹
部の影響を回避できる。
【0012】また,上記第1コンタクトピンは上記のご
とく付勢されているため,上記導電性ゴム部材への押圧
力が不足することがなく,上記のごとく配列された導電
性粒子間の接触は確実なものとなる。それ故,上記第1
配線回路群については,たとえこれらが従来ならばコン
タクトピンの直接接触による導通検査が困難なものだと
しても,上記第1コンタクトピンと電気的に確実に接続
させることができるので,上記第1コンタクトピンとの
接続不良に起因した誤判定を防止できる。
【0013】一方,上記第2配線回路群については,コ
ンタクトピンによる直接接触方法を適用可能な配線回路
を選択しておくことにより,従来と同様に上記第2コン
タクトピンと電気的に確実に接続させることができる。
【0014】従って,上記第1配線回路群としては,例
えばバイアホール上の配線回路のような,凹部を有する
配線回路等を採用することが可能となる。また,上記第
2配線回路群としては,従来と同様に,例えば凹部のな
い配線回路等の採用が可能である。そのため,形状の異
なる配線回路が混在したプリント配線板に対しても,精
度の良い検査を行うことが可能となる。
【0015】次に,請求項2の発明は,プリント配線板
に設けた複数の配線回路を電気導通の有無により検査す
る導通検査装置において,該導通検査装置は,上記複数
の配線回路のうちの一部の配線回路と一対一で対向する
よう配置されていると共に上記一部の配線回路側に付勢
された導電性の第1コンタクトピンと,上記一部の配線
回路を除く残りの配線回路と一対一で対向するよう配置
されていると共に上記残りの配線回路側に付勢された導
電性の第2コンタクトピンと,上記第1コンタクトピン
と上記一部の配線回路との間に配設された,電気絶縁性
部材の内部において複数の導電性粒子を厚み方向に配設
してなる導電性ゴム部材とを有することを特徴とする導
通検査装置にある。
【0016】上記導通検査装置によれば,上述のごとき
導通検査方法を確実に行うことができる。そのため,導
通検査の誤判定がなくなり,精度の良い検査が可能とな
る。
【0017】上記電気絶縁性部材としては,例えば弾力
性を有する樹脂,ゴム状重合体等を用いることができ
る。上記樹脂としては,例えばシリコーン系樹脂,エポ
キシ系樹脂(特に弾性エポキシ樹脂がよい。),ウレタ
ン系樹脂等がある。また,上記ゴム状重合体としては,
例えば共役ジエン系ゴム,ブロック共重合体,及びこれ
らの水素添加物や,クロロプレン,ウレタンゴム,ポリ
エステル系ゴム,エピクロルヒドリンゴム,シリコーン
ゴム,エチレンプロピレン共重合体,エチレンプロピレ
ンジエン共重合体等がある。
【0018】上記共役ジエン系ゴムとしては,例えばポ
リブタジエン,天然ゴム,ポリイソプレン,SBR,N
BR等がある。また,上記ブロック共重合体としては,
例えばスチレンブタジエンジエンブロック共重合体,ス
チレンイソプレンブロック共重合体等がある。
【0019】上記電気絶縁性部材としては,特に,上記
シリコーンゴムが好ましく,さらに液状シリコーンゴム
を架橋又は縮合させたものが好ましい。上記液状シリコ
ーンゴムとしては,例えば縮合型,付加型,ビニル基含
有型,ヒドロキシル基含有型等がある。具体的には,ジ
メチルシリコーン生ゴム,メチルビニルシリコーン生ゴ
ム,メチルフェニルビニルシリコーン生ゴム等がある。
なお,上記液状シリコーンゴムの粘度は,歪速度10
−1secで,10〜10 ポアズであることが好まし
い。
【0020】上記導電性粒子としては,例えばカーボン
粒子及び繊維や,ニッケル,コバルト,鉄等の強磁性金
属粒子,これらの合金粒子,さらに貴金属を含有させた
もの,また,これらを芯粒子として貴金属をメッキ等に
より被覆させたものがある。上記貴金属としては,例え
ば金,銀,白金,パラジウム,ロジウム等がある。上記
メッキとしては,例えば化学メッキ,無電解メッキ等が
ある。
【0021】また,この他にも,上記導電性粒子として
は,例えば非磁性金属粒子,無機質粒子,ポリマー粒子
等の芯粒子に対して,例えばニッケル,コバルト等の強
磁性金属を含有させたものに貴金属を被覆させたもの
や,上記強磁性金属と貴金属との両方を被覆させたもの
がある。なお,上記導電性粒子の形状としては,例えば
球状,星状,及びこれらを凝集した塊状等がある。
【0022】上記導電性粒子としては,特に,ニッケル
に金を被覆させたもの,ニッケルに銀を被覆させたも
の,ニッケルに金と銀との両方を被覆させたもの,ニッ
ケルに白金を被覆させたものが好ましい。上記導電性粒
子の粒子径は,20μm〜50μmであることが好まし
い。また,上記導電性粒子の粒子径分布は,1〜10で
あることが好ましい。また,上記導電性粒子の含水率
は,0%〜1%であることが好ましい。また,上記導電
性粒子の表面積は,1m2〜150m2であることが好ま
しい。
【0023】また,上記導電性ゴム部材は,上記電気絶
縁性部材を100とすると,これに対して上記導電性粒
子を0.01〜1.0の重量比で構成されていることが
好ましい。また,上記導電性ゴム部材の硬度は,20〜
80であることが好ましい。また,上記導電性ゴム部材
には,上記導電性粒子が3μm〜50μmのピッチで配
列されていることが好ましい。
【0024】なお上記導電性ゴム部材には,必要に応じ
て,例えばシリカ粉,コロイダルシリカ,エアロゲルシ
リカ,アルミナ等の無機充填材を含有させることができ
る。
【0025】一方,上記第1コンタクトピンの硬度は,
HRC50〜HRC65であることが好ましい。また,
上記第1コンタクトピンの直径やピッチは,プリント配
線板の配線回路に応じて,種々に対応させることができ
るが,上記第1コンタクトピンの直径は,φ0.1mm
〜φ3.0mmであることが好ましく,上記第1コンタ
クトピンは,0.15mm〜5.0mmのピッチで配設
されていることが好ましい。また,上記第1コンタクト
ピンの先端形状としては,例えば半球形,円錐形,多角
錐等がある。なお,上記第2コンタクトピンについて
も,上記と同様である。
【0026】次に,請求項3の発明のように,上記第1
コンタクトピンの先端形状は,頂部を球状に丸めた円錐
形であることが好ましい。この場合には,上記導電性ゴ
ム部材への損傷を最小限に抑えることができる。
【0027】次に,請求項4の発明のように,上記導電
性ゴム部材は,電気絶縁性シートを厚み方向に貫通する
ように,かつ,上記第1コンタクトピンに対面する位置
にそれぞれ配設されていることが好ましい。この場合に
は,上記電気絶縁性シートに対して部分的に上記導電性
ゴム部材を配設すればよいので,例えば芯粒子に貴金属
を被覆させた導電性粒子を用いる場合等,上記導電性ゴ
ム部材が高価になる場合には,検査にかかるコストを低
減できる。
【0028】次に,請求項5の発明のように,上記電気
絶縁性シートは,上記第2コンタクトピンが配設された
領域にも延設されており,かつ,上記第2コンタクトピ
ンに対面する位置には,第2コンタクトピンを挿通する
ための挿通穴を設けてあることが好ましい。この場合に
は,上記電気絶縁性シートに対して,第2コンタクトピ
ンがスムーズに摺動するように,上記第2コンタクトピ
ンに対して,一定のクリアランスを持たせた。この場合
には,穴明を行なうことが望ましい。
【0029】次に,請求項6の発明のように,上記第1
コンタクトピン及び上記第2コンタクトピンは,それぞ
れを付勢するための導電性の弾性部材を介して,導電性
のリードワイヤーを有するストッパ端子に接続されてお
り,上記第1コンタクトピン,上記第2コンタクトピ
ン,上記弾性部材,及び上記ストッパー端子は,上記第
1コンタクトピン及び上記第2コンタクトピンを進退可
能に挿通するガイド孔を設けたガイド板と,上記弾性部
材を収容する挿通穴を設けたメインボードと,上記スト
ッパー端子を係止する端子穴を設けた背面ボードとを順
次積層してなるハウジングに収納されており,上記第1
コンタクトピン及び上記第2コンタクトピンは,それぞ
れ上記ハウジングの上記ガイド孔から先端を突出させた
状態で,上記配線回路側に付勢されていることが好まし
い。
【0030】この場合には,上記導電性ゴム部材を上記
ハウジングと上記プリント配線板との間に配置し,例え
ばプレス機等を用いてこれらを加圧圧縮することによ
り,上記弾性部材の付勢力を利用して,上記第1コンタ
クトピンの先端で上記導電性ゴム部材をその厚み方向に
押圧できる。そのため,上記導電性ゴム部材の導電性粒
子を介して,上記第1配線回路群と上記第1コンタクト
ピンとを電気的に確実に接続させることができる。
【0031】また,上記弾性部材の付勢力により,上記
第1コンタクトピンと上記ストッパー端子との間も電気
的に確実に接続させることができる。それ故,上記リー
ドワイヤー,上記ストッパー端子,及び上記弾性部材を
通じて上記第1コンタクトピンに加えた検査用電圧を,
上記導電性ゴム部材を介して上記第1配線回路群まで確
実に印加させることができる。また,上記リードワイヤ
ー,上記ストッパー端子,及び上記弾性部材を通じて上
記第2コンタクトピンに加えた検査用電圧は,直接に上
記第2配線回路群まで印加させることができる。上記弾
性部材としては,例えばコイルスプリング,一体形のプ
ローブ等がある。
【0032】次に,請求項7の発明のように,上記弾性
部材は,コイルスプリングであることが好ましい。この
場合には,導電性と弾性力の両方を容易に確保できる。
【0033】
【発明の実施の形態】実施形態例1 本発明の実施形態例にかかる導通検査方法及び導通検査
装置につき,図1,図2を用いて説明する。本例の導通
検査装置1は,図1,図2に示すごとく,プリント配線
板7に設けた複数の配線回路71を電気導通の有無によ
り検査するものである。導通検査装置1は,導電性の第
1コンタクトピン31及び第2コンタクトピン32と,
導電性ゴム部材2とを有する。
【0034】上記第1コンタクトピン31は,上記複数
の配線回路71のうちの一部の配線回路(以下,第1配
線回路群711)と一対一で対向するよう配置されてお
り,上記第1配線回路群711側に付勢されている。上
記第2コンタクトピン32は,上記第1配線回路群71
1を除く残りの配線回路(以下,第2配線回路群71
2)と一対一で対向するよう配置されており,上記第2
配線回路群712側に付勢されている。
【0035】上記導電性ゴム部材2は,電気絶縁性部材
の内部において複数の導電性粒子を厚み方向に配設して
なり,上記第1コンタクトピン31と上記第1配線回路
群711との間に配設されている。
【0036】上記導電性ゴム部材2は,電気絶縁性シー
ト20の一部を厚み方向に貫通するように,複数ヶ所に
配設されており,上記第1コンタクトピン31に対面す
る位置にそれぞれ配設されている。また,上記電気絶縁
性シート20は,上記第1コンタクトピン31が配設さ
れていた領域だけでなく,上記第2コンタクトピン32
が配設された領域にも延設されている。そして,上記第
2コンタクトピン32に対面する位置には,第2コンタ
クトピンを挿通するための挿通穴200を設けてある。
【0037】導電性ゴム部材2は,異方電性ゴムを用い
ており,電気絶縁性部材として弾力性を有するシリコー
ン系樹脂を用い,導電性粒子として平均粒子径30μm
の球状のニッケルに対してメッキにより金を0.03μ
mの厚みで被覆させたものを用いている。なお,導電性
粒子の粒子径分布は1〜10であり,含水率は0%〜1
%であり,表面積は1m2〜150m2である。また,導
電性ゴム部材2は,電気絶縁性部材を100とすると,
これに対して導電性粒子を0.01〜0.5の重量比で
構成されている。また,導電性ゴム部材2の硬度は30
〜65である。また,導電性ゴム部材2には,導電性粒
子が3μm〜50μmのピッチで配列されている。
【0038】一方,上記第1コンタクトピン31及び上
記第2コンタクトピン32の硬度はHRC65である。
また,第1コンタクトピン31及び第2コンタクトピン
32の直径やピッチは,プリント配線板7の配線回路7
1に対応させてある。
【0039】即ち,本例においては,第1配線回路群7
11及び第2配線回路群712の幅は50μmであり,
第1配線回路群711及び第2配線回路群712は15
0μmのピッチで配設されている。また,第1コンタク
トピン31及び第2コンタクトピン32の直径はφ0.
1mm〜φ3.0mmであり,第1コンタクトピン31
及び第2コンタクトピン32は0.1mm以上のピッチ
で配設されている。
【0040】また,第1コンタクトピン31の先端形状
は頂部を球状に丸めた円錐形である。一方,第2コンタ
クトピン32の先端形状は頂部が尖った円錐形である。
【0041】上記第1コンタクトピン31は,図1に示
すごとく,コンタクトピンを付勢するための導電性の弾
性部材(以下,コイルスプリング33)を介して,導電
性のリードワイヤー341を有するストッパー端子34
に接続されている。第1コンタクトピン31,コイルス
プリング33,及びストッパー端子34は,ガイド板4
1とメインボード42と背面ボード43とを順次積層し
てなるハウジング4に収納されている。また,上記第2
コンタクトピン32も,第1コンタクトピン31と同様
に,ストッパー端子34に接続され,ハウジング4に収
納されている。
【0042】ガイド板41には第1コンタクトピン31
及び第2コンタクトピン32を進退可能に挿通するガイ
ド孔410が設けてあり,メインボード42にはコイル
スプリング33を収容する挿通穴420が設けてあり,
背面ボード43にはストッパー端子34を係止する端子
穴430が設けてある。また,第1コンタクトピン31
及び第2コンタクトピン32は,ハウジング4のガイド
孔410から先端を突出させた状態で,それぞれ第1配
線回路群711,第2配線回路群712側に付勢されて
いる。
【0043】本例のプリント配線板7には,リング状の
端子部(ランド)及び凹部を有するバイアホール上の配
線回路71と,凹部のない配線回路71とが多数混在し
ているが,本例においては,コンタクトピンの直接接触
方法に不向きな前者を上記第1配線回路群711に分類
し,コンタクトピンの直接接触方法に適用可能な後者を
上記第2配線回路群712に分類してある。
【0044】次に,上記検査装置を用いた導通検査方法
について概説する。本例の導通検査方法においては,上
記第1配線回路群711に対しては,上記第1コンタク
トピン31により上記導電性ゴム部材2をその厚み方向
に押圧することにより,上記導電性ゴム部材2の導電性
粒子を介して第1コンタクトピン31を電気的に接続さ
せて,電気導通の有無を検査する。一方,上記第2配線
回路群712に対しては,上記第2コンタクトピン32
を直接に接触させてこれを押圧することにより,上記第
2コンタクトピン32を電気的に接続させて,電気導通
の有無を検査する。
【0045】具体的には,図2に示すごとく,まず,電
気絶縁性シート20をハウジング4とプリント配線板7
との間に配置し,導電性ゴム部材2を第1配線回路群7
11と対面させる。そして,ハウジング4とプリント配
線板7との間に,電気絶縁性シート20及び導電性ゴム
部材2を挟み込んだ状態で固定する。次いで,プレス機
(図示略)を用いてハウジング4とプリント配線板7と
を近づけ,これらを加圧圧縮する。
【0046】すると,第1コンタクトピン31は,導電
性ゴム部材2に当接した段階でガイド孔410に沿って
若干後退するが,ストッパー端子34に一端を当接させ
たコイルスプリング33(図1)によって押し戻され,
その先端で導電性ゴム部材2をその厚み方向に押圧す
る。
【0047】そして,上記厚み方向に沿って配列された
導電性粒子を接触させ,これらを介して,第1配線回路
群711と第1コンタクトピン31とを電気的に接続さ
せる。また,コイルスプリング33の付勢力により,第
1コンタクトピン31とストッパー端子34との間も電
気的に接続させる(図1)。これにより,検査器(図示
略)からリードワイヤー341,ストッパー端子34,
及びコイルスプリング33を通じて第1コンタクトピン
31に加えた検査用電圧を,導電性ゴム部材2を介して
第1配線回路群711まで印加させる。
【0048】また,リードワイヤー341,ストッパー
端子34,及びコイルスプリング33を通じて第2コン
タクトピン32に加えた検査用電圧は,直接に第2配線
回路群712まで印加させる。そして,電気導通の有無
を検査する。なお,検査終了後は,ハウジング4とプリ
ント配線板7とを遠ざける。すると,第1コンタクトピ
ン31及び第2コンタクトピン32は,コイルスプリン
グ33の付勢力により,再びガイド板41より突出し,
元の状態に復元する。
【0049】次に,本例の作用効果につき説明する。本
例においては,第1配線回路群711については,各配
線回路71に向かって個々に付勢された第1コンタクト
ピン31によって,両者間に介在させた導電性ゴム部材
2を押圧することにより,電気導通の有無を検査する。
そのため,バイアホール上に配設された本例の配線回路
のように,第1配線回路群711に分類された各配線回
路71が凹部を有していても,導電性ゴム部材2を第1
配線回路群711に十分に接触させることができるの
で,上記凹部の影響を回避できる。
【0050】また,第1コンタクトピン31は上記のご
とく付勢されているため,導電性ゴム部材2への押圧力
が不足することがなく,上記のごとく配列された導電性
粒子間の接触は確実なものとなる。それ故,第1配線回
路群711については,たとえこれに分類された各配線
回路71が凹部を有していても,第1コンタクトピン3
1と電気的に確実に接続させることができるので,第1
コンタクトピン31との接続不良に起因した誤判定を防
止できる。
【0051】一方,第2配線回路群712については,
凹部を有していない配線回路71を選択しておくことに
より,従来と同様に,第2コンタクトピン32と電気的
に確実に接続させることができる。
【0052】従って,上記のごとく,凹部を有するバイ
アホール上の配線回路71と凹部のない配線回路71と
を,それぞれ第1配線回路群711,第2配線回路群7
12として分けておくことにより,凹部のあるものも,
凹部のないものも,どちらも十分な精度で導通検査が可
能となる。そのため,形状の異なる配線回路が混在した
プリント配線板7に対しても,精度の良い検査を行うこ
とが可能となる。
【0053】また,第1コンタクトピン31の先端形状
は頂部を球状に丸めた円錐形である。そのため,導電性
ゴム部材2への損傷を最小限に抑えることができる。ま
た,導電性ゴム部材2は,上記のごとく,電気絶縁性シ
ート20に対して部分的に配設すればよい。そのため,
本例のように,金メッキを施した導電性粒子を用い,導
電性ゴム部材2が高価になる場合には,検査にかかるコ
ストを低減できる。また,電気絶縁性シート20には,
第2コンタクトピン32を挿通するための挿通穴200
を設けてある。そのため,導電性ゴムが不要となり,検
査に要するコストを低減できる。
【0054】実施形態例2 本例は,電気絶縁性部材として弾力性を有するエポキシ
系樹脂を用い,導電性粒子として平均粒子径30μmの
球状のニッケルに対してメッキにより銀を0.03μm
の厚みで被覆させたものを用いている。その他は,実施
形態例1と同様である。本例においても,実施形態例1
と同様の作用効果を得ることができる。
【0055】
【発明の効果】上述のごとく,本発明によれば,導通検
査の誤判定がなく,精度の良い検査を行うことができ
る,導通検査方法及び導通検査装置を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例1における,導通検査装置の説明
図。
【図2】実施形態例1における,導通検査方法の説明
図。
【符号の説明】
1...導通検査装置, 2...導電性ゴム部材, 31...第1コンタクトピン, 32...第2コンタクトピン, 33...コイルスプリング, 34...ストッパー端子, 4...ハウジング, 41...ガイド板, 42...メインボード, 43...背面ボード, 7...プリント配線板, 71...配線回路, 711...第1配線回路群, 712...第2配線回路群,

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板に設けた複数の配線回路
    を電気導通の有無により検査する導通検査方法におい
    て,上記複数の配線回路のうちの一部の配線回路と一対
    一で対向するよう配置されていると共に上記一部の配線
    回路側に付勢された導電性の第1コンタクトピンと,上
    記一部の配線回路を除く残りの配線回路と一対一で対向
    するよう配置されていると共に上記残りの配線回路側に
    付勢された導電性の第2コンタクトピンと,上記第1コ
    ンタクトピンと上記一部の配線回路との間に配設され
    た,電気絶縁性部材の内部において複数の導電性粒子を
    厚み方向に配設してなる導電性ゴム部材とを用い,上記
    一部の配線回路に対しては,上記第1コンタクトピンに
    より上記導電性ゴム部材をその厚み方向に押圧すること
    により,上記導電性ゴム部材の導電性粒子を介して上記
    第1コンタクトピンを電気的に接続させ,一方,上記残
    りの配線回路に対しては,上記第2コンタクトピンを直
    接に接触させてこれを押圧することにより,上記第2コ
    ンタクトピンを電気的に接続させて,上記電気導通の有
    無を検査することを特徴とする導通検査方法。
  2. 【請求項2】 プリント配線板に設けた複数の配線回路
    を電気導通の有無により検査する導通検査装置におい
    て,該導通検査装置は,上記複数の配線回路のうちの一
    部の配線回路と一対一で対向するよう配置されていると
    共に上記一部の配線回路側に付勢された導電性の第1コ
    ンタクトピンと,上記一部の配線回路を除く残りの配線
    回路と一対一で対向するよう配置されていると共に上記
    残りの配線回路側に付勢された導電性の第2コンタクト
    ピンと,上記第1コンタクトピンと上記一部の配線回路
    との間に配設された,電気絶縁性部材の内部において複
    数の導電性粒子を厚み方向に配設してなる導電性ゴム部
    材とを有することを特徴とする導通検査装置。
  3. 【請求項3】 請求項2において,上記第1コンタクト
    ピンの先端形状は,頂部を球状に丸めた円錐形であるこ
    とを特徴とする導通検査装置。
  4. 【請求項4】 請求項2又は3において,上記導電性ゴ
    ム部材は,電気絶縁性シートを厚み方向に貫通するよう
    に,かつ,上記第1コンタクトピンに対面する位置にそ
    れぞれ配設されていることを特徴とする導通検査装置。
  5. 【請求項5】 請求項4において,上記電気絶縁性シー
    トは,上記第2コンタクトピンが配設された領域にも延
    設されており,かつ,上記第2コンタクトピンに対面す
    る位置には,第2コンタクトピンを挿通するための挿通
    穴を設けてあることを特徴とする導通検査装置。
  6. 【請求項6】 請求項2〜5のいずれか一項において,
    上記第1コンタクトピン及び上記第2コンタクトピン
    は,それぞれを付勢するための導電性の弾性部材を介し
    て,導電性のリードワイヤーを有するストッパ端子に接
    続されており,上記第1コンタクトピン,上記第2コン
    タクトピン,上記弾性部材,及び上記ストッパー端子
    は,上記第1コンタクトピン及び上記第2コンタクトピ
    ンを進退可能に挿通するガイド孔を設けたガイド板と,
    上記弾性部材を収容する挿通穴を設けたメインボード
    と,上記ストッパー端子を係止する端子穴を設けた背面
    ボードとを順次積層してなるハウジングに収納されてお
    り,上記第1コンタクトピン及び上記第2コンタクトピ
    ンは,それぞれ上記ハウジングの上記ガイド孔から先端
    を突出させた状態で,上記配線回路側に付勢されている
    ことを特徴とする導通検査装置。
  7. 【請求項7】 請求項6において,上記弾性部材は,コ
    イルスプリングであることを特徴とする導通検査装置。
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