JP2001035798A - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置

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JP2001035798A
JP2001035798A JP11203168A JP20316899A JP2001035798A JP 2001035798 A JP2001035798 A JP 2001035798A JP 11203168 A JP11203168 A JP 11203168A JP 20316899 A JP20316899 A JP 20316899A JP 2001035798 A JP2001035798 A JP 2001035798A
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film forming
film
chamber
substrate
forming chamber
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JP11203168A
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English (en)
Inventor
Takuya Masui
卓也 増井
Kazuyuki Hayashi
和志 林
Toshiaki Takahashi
利彰 高橋
Akimitsu Nakagami
明光 中上
Koichi Osada
耕一 長田
Kenichi Inoue
憲一 井上
Yuzo Mori
勇藏 森
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 成膜室の大型化や増設を伴うことなく、複数
種の膜を円滑に効率よく、しかも高精度で積層形成す
る。 【解決手段】 積層すべき各膜に対応して複数の成膜室
10p,10i,10nを装備し、各成膜室でプラズマ
CVDによる成膜を行うようにした成膜装置。厚さの小
さい膜を形成するための成膜室10p,10nには、プ
ラズマ発生用電極として固定電極16を設け、厚さの大
きい膜を形成するための成膜室10i内には、基材に近
接した状態で回転する回転電極18を設ける。また、こ
の回転電極18に対して基材を移動させる搬送台12を
装備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマによる化
学反応を利用して複数種の薄膜を基材上に積層状態で形
成する成膜装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、太陽電池の製造を目的として、基
材上にp型アモルファスシリコン薄膜、i型アモルファ
スシリコン(真性アモルファスシリコン)薄膜、及びn
型アモルファスシリコン薄膜を積層状態で形成するプラ
ズマCVD装置の開発が進められている。その一例を図
7に示す。
【0003】図示の装置は、一方向に延びる単一のチャ
ンバを備え、このチャンバ内が長手方向について複数に
区画されることにより、基板導入室80、p層成膜室8
1、i層成膜室82、n層成膜室83、及び基板取出し
室84が順に形成されている。相互隣接する室同士の間
には基板搬送通路が形成されるとともに、この通路を開
閉するゲート86が設けられている。また、各室80〜
84には排気口88が設けられ、これら排気口88に接
続される図略のポンプによって各室内に真空状態が形成
されるようになっている。
【0004】p層成膜室81内には、平板状の下側電極
91Aと上側電極91Bとが平行状態で配置されてお
り、同様にi層成膜室82内には平板状の下側電極92
Aと上側電極92Bとが、n層成膜室83内には平板状
の下側電極93Aと上側電極93Bとが、それぞれ平行
状態で配置されている。下側電極91A,92A,93
Aと上側電極91B,92B,93Bとの間には高周波
電源90が接続されている。
【0005】この装置において、各室80〜84内を排
気し、基材である基板96を基板導入室80からp層成
膜室81内に導入してその下側電極91A上に載置し、
下側電極91Aと上側電極91Bとの間に高周波電力
(あるいは直流電力でもよい)を印加して上下電極間に
プラズマ94を発生させた状態で、図略の反応ガス供給
源からシランガス(SiH4)及びp型ドーパントガス
(例えばB26)をp層成膜室81内に導入すると、こ
のガスはプラズマ94で化学反応を起こし、その結果、
基板96上にp型アモルファスシリコン成膜(p層)が
形成される。
【0006】次に、この基板96をi層成膜室82の下
側電極92A上に載置し、下側電極92Aと上側電極9
2Bとの間に高周波電力または直流電力を印加してプラ
ズマ94を発生させた状態で、図略の反応ガス供給源か
らシランガス(SiH4)をi層成膜室82内に導入す
ることにより、前記p型アモルファスシリコン薄膜上に
i型アモルファスシリコン(真性アモルファスシリコ
ン)成膜(i層)が形成される。
【0007】さらに、前記基板96をn層成膜室83の
下側電極93A上に載置し、下側電極93Aと上側電極
93Bとの間に高周波電力または直流電力を印加してプ
ラズマ94を発生させた状態で、図略の反応ガス供給源
からシランガス(SiH4)及びn型ドーパントガス
(例えばPH3)をn層成膜室83内に導入することに
より、前記i型アモルファスシリコン薄膜上にn型アモ
ルファスシリコン成膜(n層)が形成される。このよう
にしてpin成膜が完了した基板96は、基板取出し室
84を通じてチャンバ外に搬出される。
【0008】従って、この装置では、基板96をp層成
膜室81、i層成膜室82、n層成膜室83の順に搬送
することにより、pin成膜を連続的に行うことができ
る。
【0009】ところで、太陽電池を構成する各層のう
ち、i層はp層及びn層に比べて層厚が非常に大きいの
で、その成膜所要時間はp層やn層の成膜所要時間より
も数段長くなる。従って、各成膜室81〜83を均等に
配置すると、i層成膜室82で成膜が停滞し、円滑で効
率の高い連続成膜の実現の妨げとなる。
【0010】そこで従来は、前記図7に示すように、i
層成膜室82における上下電極92A,92Bをp層成
膜室81における上下電極91A,91B及びn層成膜
室83における上下電極93A,93Bよりも大きくし
て同時に複数個の基板96に対する成膜ができるように
したり、別例として図8に示すように、i層成膜室82
をp層成膜室81及びn層成膜室83よりも多く配置し
たりすることにより、各工程での成膜時間の均衡が図ら
れている。
【0011】また、図9に示すように共通の基板搬送室
85に基板導入室80、p層成膜室81、i層成膜室8
2、n層成膜室83、及び基板取出し室84を接続し、
前記基板搬送室85を通じて各室間での基板のやり取り
を行う、いわゆるクラスタツール型の成膜装置でも、同
図に示すようにi層成膜室82の個数を増やしたり、i
層成膜室82を大型化したりすることが行われている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】前記i層の所要成膜時
間は、p層及びn層のそれに比べて著しく長いため、i
層成膜室82を多少大型化したり個数を増やしたりする
だけでは、各層の成膜時間を十分に均衡させることがで
きない。
【0013】しかも、i層成膜室82の大型化や増設
は、成膜装置全体の占有面積増加や、搬送機構をはじめ
とする装置構造の複雑化につながり、結果として製品の
コスト増大を招く不都合がある。
【0014】このような不都合は、太陽電池の製造装置
に限らず、互いに厚さの異なる複数種の膜を積層する装
置について発生し得るものである。
【0015】かかる不都合を解消する手段として、例え
ば特開平9−104985号公報に示される装置を用い
ることが考えられる。この装置は、高速で回転するドラ
ム状の回転電極を基板上に近接させ、これら基板と回転
電極との間にプラズマを発生させた状態で、前記回転電
極の回転により反応ガスをプラズマ発生領域に巻き込ん
で化学反応を起こさせるものであり、コンパクトな構造
でありながら、大面積の領域に対して高速で連続成膜で
きる画期的な手段である。
【0016】しかし、この装置では、高速成膜が可能で
ある反面、静止型の前記平行平板型電極に比べて膜厚の
管理が難しく、特にp層やn層といった非常に薄い膜を
高精度で形成することは難しい。また、回転電極を高速
回転させるための駆動装置や、回転中の電極に高周波電
圧を印加するための複雑な装置が必要であり、コストも
非常に高くなる。
【0017】本発明は、このような事情に鑑み、成膜室
の大型化や増設を伴うことなく、複数種の膜を円滑に効
率よく、しかも高精度で積層形成することができる成膜
装置を提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段として、本発明は、外部から隔離された状態で相
互接続される複数の成膜室を備え、各成膜室内に基材と
の間にプラズマを発生させるための電極を設けて当該プ
ラズマに反応ガスを供給することにより成膜が行われる
ようにし、これら成膜室によって前記基材上に互いに厚
さの異なる複数種の膜が積層されるように構成した成膜
装置であって、前記成膜室のうち、最も厚さの小さい膜
を形成するための成膜室には、前記電極として成膜中実
質的に静止状態を保つ固定電極を設け、最も厚さの大き
い膜を形成するための成膜室内には、基材に近接した状
態で回転する回転電極を設け、かつ、この回転電極に対
して基材を移動させる基材送り手段を備えたものであ
る。
【0019】この構成によれば、最も厚さの小さい膜を
形成する成膜室では、成膜中に実質上静止状態を保つ固
定電極を用いることにより、所望の膜厚精度を確保する
ことができる一方、最も厚さの大きい膜を形成する成膜
室では、固定電極よりも成膜速度の高い回転電極を用い
ることにより、特に成膜室の拡大や増設をしなくても、
厚さの大きい膜を短時間で形成することができ、その結
果、全膜を形成するための流れ工程を円滑でかつ効率の
高いものにすることができる。
【0020】なお、最も厚さの小さい膜、及び最も厚さ
の大きい膜以外の中間厚さ膜が存在する場合、その成膜
に用いる電極としては、当該膜の具体的な厚さ寸法に応
じて固定電極、回転電極を使い分けるようにすればよ
い。
【0021】また、固定電極は、成膜中に実質上静止状
態を保つものであればよく、成膜前あるいは成膜中にプ
ラズマ密度の調整や周波数マッチングの目的で位置が微
調整されるような電極も含まれる。具体的には、互いに
平行な状態で配置される一対の平板状電極が好適である
が、その他、ECR(電子サイクロトロン共鳴;Electr
on Cyclotron Resonance)型や、ICP(誘導結合プラ
ズマ;Inductively Coupled Plasma)型の電極も適用が
可能である。
【0022】各成膜室の具体的な配置は適宜設定が可能
であるが、これらを成膜順に直列に並べれば、より効率
の高い成膜ができる。
【0023】さらに、前記回転電極を装備した成膜室内
の基材送り手段を、この成膜室と隣接する成膜室との間
で基材を移送する手段として兼用すれば、構成の簡素化
及び作業の高能率化をさらに進めることができる。
【0024】より具体的に、各成膜室を成膜順に直列に
並べるとともに、基材が載置された状態で前記各成膜室
を順に通過する基材搬送台を備え、この基材搬送台が各
成膜室における電極を兼ねかつ回転電極を装備した成膜
室における基材送り手段を兼ねるようにすれば、前記基
材搬送台を所定方向に移動させるだけの簡単な操作で、
各成膜室での成膜を連続的にかつ効率よく行うことが可
能になる。また、回転電極を用いる成膜室では、当該回
転電極の設置スペースがあればよく、固定電極のように
基板投影面積と同面積の電極を設ける必要がないので、
装置全体の占有スペースを大幅に削減できる。この効果
は、基材面積が大きいほど顕著となる。
【0025】本発明の成膜対象となる基材は、例えばガ
ラス基板のように単体のものでもよいし、長尺シート状
の基材であって、成膜後に適当な寸法に切断して使用さ
れるものであってもよい。後者の場合、前記長尺シート
状の基材を繰り出す基材繰出し部と、繰り出された基材
を巻き取る基材巻取り部とを備え、前記基材繰出し部か
ら繰出された基材が各成膜室を通過してから前記基材巻
取り部に巻き取られるように構成すれば、各膜を効率よ
く連続形成することができる。
【0026】また、各成膜室に共通して連通する排気室
を備え、この排気室を通じて各成膜室への基材の搬入及
び各成膜室からの基材の搬出が行われるように構成すれ
ば、各成膜室を共通の排気室に接続したコンパクトな構
造でありながら、各成膜室同士の隔離を完全にして使用
ガスの混合によるコンタミネーションを防止し、ひいて
は形成膜の高品質化を果たすことができる。
【0027】本発明は、例えば太陽電池の製造を目的と
して基材上にp層、i層、n層の各半導体薄膜(例えば
アモルファスシリコン、水素化アモルファスシリコンを
はじめとするアモルファス材料成膜)を積層する場合に
特に好適である。この場合には、前記成膜室として、基
材上にp型半導体薄膜、n型半導体薄膜のいずれか一方
の不純物半導体薄膜を形成する第1成膜室と、この第1
成膜室で形成された薄膜上に真性半導体薄膜を形成する
第2成膜室と、この第2成膜室で形成された薄膜上に他
方の不純物半導体薄膜を形成する第3成膜室とを備える
とともに、前記第1成膜室及び第3成膜室に前記固定電
極を設け、第2成膜室内に前記回転電極及び基材送り手
段を設けるようにすればよい。
【0028】この場合でも、前記第1成膜室、第2成膜
室、第3成膜室の順にこれらの成膜室を直列に並べるこ
とにより、効率の高い成膜ができる。
【0029】また、前記第2成膜室に設けられる基材送
り手段を、当該第2成膜室から第3成膜室への基材搬出
手段、第1成膜室から当該第2成膜室への基材搬入手段
の少なくとも一方として兼用することにより、構成の簡
素化及び作業の高能率化をさらに進めることができる。
【0030】特に、基材が載置された状態で第1成膜
室、第2成膜室、第3成膜室の順に各成膜室を移動する
基材搬送台を備え、この基材搬送台が各成膜室における
電極を兼ねかつ第2成膜室における基材送り手段を兼ね
るようにしたものでは、基材搬送台を所定方向に移動さ
せるだけの簡単な操作で各膜の連続形成を実現できると
ともに、装置全体の占有スペースを大幅に削減できる。
【0031】この装置においても、長尺シート状の基材
を繰り出す基材繰出し部と、繰り出された基材を巻き取
る基材巻取り部とを備え、前記基材繰出し部から繰出さ
れた基材が第1成膜室、第2成膜室、第3成膜室をこの
順に通過してから前記基材巻取り部に巻き取られるよう
に構成すれば、長尺シート状基材に対する成膜も効率よ
く行うことができる。
【0032】また、前記第1成膜室、第2成膜室、及び
第3成膜室に共通して連通する排気室を備え、この排気
室を通じて前記第1成膜室への基材の搬入、第1成膜室
から第2成膜室への基材の搬送、第2成膜室から第3成
膜室への基材の搬送、及び第3成膜室からの基材の搬出
が行われるように構成すれば、各成膜室を共通の排気室
に接続したコンパクトな構造でありながら、各成膜室同
士の隔離を完全にして使用ガスの混合によるコンタミネ
ーションを防止し、ひいては形成膜の高品質化を果たす
ことができる。
【0033】
【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態を図
面に基づいて説明する。
【0034】1)第1の実施の形態(図1) 図示の成膜装置は、アモルファスシリコン半導体を利用
したpin構造をもつ太陽電池を製造するためのもので
あり、基材である基板14上にp層、i層、n層を順に
積層するように構成されたものである。
【0035】この装置は、内部が密閉されたチャンバ1
0を備え、このチャンバ10内に、p層成膜室10p、
i層成膜室10i、及びn層成膜室10nが形成されて
いる。これらの成膜室10p,10i,10nは、その
順に、チャンバ10の長手方向(図の左右方向)に直列
に並んでいる。
【0036】チャンバ10の下部には、基板(基材)1
4が載置可能な基板搬送台12が設置され、これら基板
搬送台12及び基板14は、アースに接続された状態
で、p層成膜室(第1成膜室)10p、i層成膜室(第
2成膜室)10i、n層成膜室(第3成膜室)10nの
順に送り駆動されるようになっている。この送り駆動手
段としては、送りねじとその回転駆動モータとの組み合
わせなど、一般の工作機械などで使用されている搬送機
構をそのまま適用することが可能である。
【0037】p層成膜室10pの上部及びn層成膜室1
0nの上部には、平板状の固定電極16が基板搬送台1
2及びその上に載置される基板14と平行になるように
配置されている。この固定電極16には、高周波電源2
0(あるいは直流電源でもよい。)が印加され、これに
より、当該固定電極16と基板搬送台12上の基板14
との間に成膜用のプラズマが生成されるようになってい
る。すなわち、基板搬送台12は、p層、n層の各成膜
室10p,10nにおいて、固定電極16とともに平行
平板型電極を構成する役割も担っている。
【0038】一方、i層成膜室10iの上部には、図の
奥行き方向に延びるドラム状の回転電極18が設けられ
ている。この回転電極18は、その下方を通過する基台
搬送台12上の基板14の上面に近接する位置で高速回
転駆動されるように構成されている。この回転電極18
にも図示の高周波電源20あるいは直流電源が印加さ
れ、これによって当該回転電極18と基板搬送台12上
の基板14との間に成膜用のプラズマが生成されるよう
になっている。すなわち、基板搬送台12は、i層成膜
室10iにおいて、回転電極18と対の電極を構成する
とともに、成膜中に当該回転電極18に対して基板14
を移動させる基板送り手段としての役割も担っている。
【0039】次に、この装置による成膜工程を説明す
る。
【0040】チャンバ10内の基板搬送台12上に基板
(例えばガラス基板)14を載置し、これらをp層成膜
室10p内において固定電極16と対向する位置に位置
決めする。図略の排気口からチャンバ10内を排気し、
固定電極16に高周波電源20もしくは直流電源を印加
して基板14との間にプラズマを発生させながら、p層
成膜室10p内に原料ガス(例えばSiH4とH2との混
合ガス)及びp型ドーパントガス(例えばB26)を導
入すると、これらのガスは前記プラズマで化学反応を起
こし、その結果、基板14上にp型アモルファスシリコ
ン薄膜(p層)が形成される。
【0041】このp層は、約5〜20nmと非常に薄いもの
であるが、成膜中に両電極が実質上静止状態を保つ平行
平板型電極(基板搬送台12と固定電極)を用いること
により、高精度の膜厚管理が可能である。この平行平板
型電極を用いた場合には、回転電極を用いる場合よりも
成膜速度が落ちるが、上述のようにp層は薄いので所要
成膜時間は長くならない。
【0042】次に、i層成膜室10i内の回転電極18
を高速回転駆動してこれに高周波電力または直流電力を
印加した状態で、当該i層成膜室10i内に前記原料ガ
スを導入し、かつ、基板搬送台12及びその上の基板1
4を所定速度で通過させると、前記回転電極18と基板
14との間にプラズマが発生するとともに、前記原料ガ
スが回転電極18の回転によって当該回転電極18と基
板14との間のプラズマへ巻き込まれ、ここで前記原料
ガスが化学反応を起こす。このような化学反応を伴いな
がら基板14を基板搬送台12とともに所定方向(図1
では右方向)に送られる結果、基板14上に既形成され
たp層上に真性アモルファスシリコン薄膜(i層)が積
層される。
【0043】このi層は、前記p層と比べると膜厚がか
なり大きいが(約400〜600nm)、回転電極18を用いれ
ば前記平行平板型電極(基板搬送台12と固定電極1
6)を用いる場合よりも高速で成膜できるため、p層成
膜時間とほとんど変わらない短い時間でi層の成膜が可
能である。この回転電極18を用いた場合、前記平行平
板型電極よりも膜厚管理は難しいが、上述のようにi層
はp層に比べ十分厚く、さほど高い膜厚精度は要求され
ないので、何ら不都合は生じない。
【0044】次に、前記基板搬送台12及び基板14を
n層成膜室10n内において固定電極16と対向する位
置に位置決めし、その固定電極16に高周波電源20も
しくは直流電源を印加して基板14との間にプラズマを
発生させながら、n層成膜室10n内に原料ガス(例え
ばSiH4とH2との混合ガス)及びn型ドーパントガス
(例えばPH3)を導入する。これらのガスは前記プラ
ズマで化学反応を起こし、その結果、基板14上にn型
アモルファスシリコン薄膜(n層)が形成される。
【0045】このn層は、前記p層と同様に非常に薄い
ものであるが(約10〜30nm)、上述のように平行平板型
電極の適用によって高精度の膜厚管理が可能である。ま
た、p層と同様にn層は薄いため、所要成膜時間は長く
ならない。
【0046】従って、この成膜装置によれば、各成膜室
での要求膜厚に応じて固定電極16と回転電極18とを
適正に使い分けることにより、各成膜室での所要成膜時
間を均等化して円滑で効率のよい流れ作業を可能としな
がら、各成膜室で要求される膜厚精度を満足させること
ができる。
【0047】さらに、この実施の形態では、成膜室10
p,10i,10nを順に通過する基板搬送台12を備
え、この基板搬送台12を各成膜室における電極(図例
ではアース電極)として兼用し、かつ、i層成膜室10
iでの成膜中における基板送り手段として兼用している
ので、装置全体の構成が非常に簡素化される。しかも基
板14は終始基板搬送台12に載置しておけばよいの
で、その取扱いも簡単で作業能率が高い。また、中央の
i層成膜室10iにおいては、最低限回転電極18の設
置スペースを確保しておけばよく、固定電極型のように
基板14と少なくとも同面積の電極を設ける必要がない
ので、占有スペースをさらに削減することが可能であ
る。この効果は、基板14の面積が大きいほど顕著とな
る。
【0048】なお、この実施の形態のように全ての成膜
室を基板搬送台12が通過するのではなく、i層成膜室
10iでの基材送り手段である基板搬送台12を、p層
成膜室10pからi層成膜室10iへの基板搬入手段、
i層成膜室10iからn層成膜室成膜室10nへの基板
搬出手段のいずれか一方としてのみ兼用するようにして
もよい。
【0049】また、各成膜室で成膜する半導体薄膜とし
ては、前記アモルファスシリコン薄膜に限らず、例えば
水素化アモルファスシリコン薄膜、SiC薄膜(p層
用)、SiGe薄膜(i層用)などの他の半導体薄膜も
含まれる。これは以降の実施の形態においても同様であ
る。
【0050】2)第2の実施の形態(図2) この実施の形態では、p層成膜室10P、i層成膜室1
0I、及びn層成膜室10Nが各々独立し、かつ相互に
接続されている。具体的には、i層成膜室10Iはその
基材送り手段である基板搬送台12の進行方向に延びる
形状を有し、その長手方向中央上部に回転電極18が設
けられるとともに、i層成膜室10Iの一方の端部上に
p層成膜室10Pが配設され、他方の端部上にn層成膜
室10Nが配設されている。p層成膜室10P及びn層
成膜室10N内には、例えば前記図7に示した上下電極
91A,91Bと同様の平行平板型電極が装備されてい
る。
【0051】この構成において、p層成膜室10Pの平
行平板型電極によって基板14上にp層を形成した後、
図の実線に示すように基板搬送台12をi層成膜室10
Iの一方の端部に位置させた状態で前記基板14をp層
成膜室10Pから直下方へそのまま降ろせば、前記基板
搬送台12上に基板14を載せることができる。そし
て、この基板搬送台12を図の二点鎖線に示す他方端部
の位置まで移動させてその移動中にi層の成膜を行った
後、この基板14をそのまま直上方へ上げれば、当該基
板14を簡単にn層成膜室10N内に搬入することがで
き、その中の平行平板電極でn層を形成することができ
る。
【0052】この実施の形態で示すように、「各成膜室
をその成膜順に直列に配する」とは、必ずしもこれら成
膜室が一直線上に配列されるものに限らず、図2のよう
な配置にすれば、図1の装置と同様、上からみた装置全
体の占有面積を大幅に削減することが可能である。
【0053】3)第3の実施の形態(図3) 本発明において、各成膜室で形成される薄膜の質を向上
させるには、コンタミネーション(反応ガスが混じるこ
とによる汚染)で膜質が低下するのを確実に防止するこ
とが有効である。
【0054】そこでこの実施の形態では、前記コンタミ
ネーションを防ぐべく、チャンバ10内が5つに完全区
画されて基板導入室10a、p層成膜室10p、i層成
膜室10i、n層成膜室10n、及び基板取出し室10
bがその順に直列形成されるとともに、隣接する室同士
を区画する壁に基板14が通過可能な連通路及び当該連
通路を開閉するゲート24が設けられている。
【0055】p層成膜室10p及びn層成膜室10nに
は、専用の固定電極である下側電極13A及び上側電極
13Bが設けられ、i層成膜室10iには、専用の回転
電極18及び基板搬送台(基材送り手段)15が設けら
れている。また、各室ごとに排気口11が設けられ、こ
れらの排気口11に排気用の真空ポンプが接続されてい
る。
【0056】この構成によれば、基板搬送時以外は原則
としてゲート24を閉じておくことにより、導入ガスの
混合によるコンタミネーションを確実に防止することが
できる。
【0057】4)第4の実施の形態(図4) この実施の形態では、前記第3の実施の形態で示した基
板導入室10a、p層成膜室10p、i層成膜室10
i、n層成膜室10n、及び基板取出し室10bに加
え、p層成膜室10pとi層成膜室10iとの間に基板
搬送室10cが介設され、i層成膜室10iとn層成膜
室10nとの間に基板搬送室10dが介設されるととも
に、各基板搬送室10c,10d内も排気口11から排
気されるようになっている。
【0058】この構成によれば、前記基板搬送室10
c,10dの介在によって、隣り合う成膜室同士でのガ
スの混合及びこれに起因するコンタミネーションをより
確実に防止することができる。
【0059】5)第5の実施の形態(図5) この実施の形態では、共通の排気室10Eにp層成膜室
10P、i層成膜室10I、及びn層成膜室10Nが接
続されており、各室10E,10P,10I,10Nに
専用の排気ポンプ26E,26P,26I,26Nが接
続されている。そして、前記排気室10Eを通じて各成
膜室への基板の搬出入が行われるように構成されてい
る。すなわち、当該排気室10E内には各成膜室に対し
て基板を搬出入するための搬送機構が設けられ、装置外
部→排気室10E→p層成膜室10P→排気室10E→
i層成膜室10I→排気室10E→n層成膜室10N→
排気室10E→装置外部の順に基板が搬送されるように
なっている。
【0060】この構成によれば、例えば前記図4に示し
た基板導入室10a、基板搬送室10c,10d、及び
基板取出し室10bを単一の排気室10Eで賄うことが
でき、コンパクトな構成でありながら、ガスの混合によ
るコンタミネーションを確実に防止して高品質の成膜を
行うことができる。
【0061】なお、前記成膜室10P,10I,10N
に加え、或いはこれらに代えて別の成膜室も設ける場合
などには、例えば前記図9に示したような中央集中型の
システムにしてもよい。
【0062】6)第6の実施の形態(図6) この実施の形態では、成膜を行う基材として、前記各実
施形態で示した単体の基板14に代え、長手方向に連続
する長尺シート状の基材30が用いられている。この基
材30は、例えば成膜後に適当な長さに寸断して使用さ
れるものである。
【0063】一方、チャンバ10内の基本的な構造は前
記図3に示したものと同等であるが、その基材導入室1
0a及び基材取出し室10bにはそれぞれ基材繰出しロ
ーラ31及び基材巻取りローラ32が設けられ、基材繰
出しローラ31から繰出された基材30がp層成膜室1
0p、i層成膜室10i、n層成膜室10nを順に通過
して基材巻取りローラ32に巻き取られるとともに、そ
の際、各成膜室10p,10i,10n内でこれに対応
する薄膜が形成されるように構成されている。
【0064】このように、本発明の対象となる基材は基
板に限るものではなく、図示のようなシート状基材に対
しても、連続的に効率よく複数種の膜を積層することが
可能である。
【0065】その他、本発明は例えば次のような実施の
形態をとるようにしてもよい。
【0066】 前記図3等の装置では、コンタミネー
ションの防止のために各室同士を仕切り壁で完全に仕切
るようにしているが、例えば前記図1に示した装置にお
いて、気体の流れを利用したエアカーテンによりガスの
混合を防ぐことも可能である。
【0067】 前記実施形態では、p層→i層→n層
の順に成膜を行うものを示したが、要求される膜構造に
よっては、n層→i層→p層の順に成膜を行うようにし
てもよい。この場合、n層成膜室が第1成膜室に、p層
が第3成膜室にそれぞれ相当することになる。また、p
in成膜を複数層重ねたタンデム型の膜形成にも応用す
ることができる。
【0068】 本発明にかかる装置は、pin構造を
もつ太陽電池の製造に限らず、基材上に互いに厚さの異
なる複数種の薄膜を積層形成する場合に広く適用が可能
である。この場合において、最も厚さの大きい膜の形成
に回転電極を、最も厚さの小さい膜の形成に固定電極を
用いるようにすればよく、それ以外の中間厚さ膜が存在
する場合には当該膜の具体的な厚さ寸法に応じて回転電
極、固定電極を適宜使い分けるようにすればよい。
【0069】 本発明にいう「固定電極」を備えた装
置としては、図例の平行平板型プラズマCVD装置に限
らず、その他、磁場中でサイクロトロン運動している電
子にその運動周期に共鳴する変動電場(電磁波)を印加
することでプラズマの発生、維持を行うECR(electr
on cycrotron resonance)プラズマCVD装置や、アル
ゴンガスを高周波誘導コイルによってプラズマ化するI
CP(Inductive Coupled Plasma)CVD装置を適用し
てもよい。また、「回転電極」及び「固定電極」を具備
した成膜室に加え、他の手法による成膜(例えばスパッ
タリングやクリーニング)を行う成膜室を適宜付加する
ことも自由である。
【0070】
【発明の効果】以上のように本発明は、複数種の膜をプ
ラズマCVDにより積層するにあたり、最も厚さの小さ
い膜を形成するための成膜室には固定電極を、最も厚さ
の大きい膜を形成するための成膜室内には、基材に近接
した状態で回転する回転電極を、それぞれ設けるように
したものであるので、成膜室の大型化や増設を伴うこと
なく、複数種の膜を円滑に効率よく、しかも高精度で積
層形成することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態にかかる成膜装置の
構成図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態にかかる成膜装置の
構成図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態にかかる成膜装置の
構成図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態にかかる成膜装置の
構成図である。
【図5】(a)は本発明の第5の実施の形態にかかる成
膜装置の平面図、(b)は正面図である。
【図6】本発明の第6の実施の形態にかかる成膜装置の
構成図である。
【図7】従来の成膜装置の一例を示す構成図である。
【図8】従来の成膜装置の他の例を示す構成図である。
【図9】従来の成膜装置の他の例を示す構成図である。
【符号の説明】
10 チャンバ 10a,10A 基材搬入室 10b,10B 基材取出し室 10e,10E 排気室 10p,10P p層成膜室 10i,10I i層成膜室 10n,10N n層成膜室 12,15 基板搬送台(基材搬送台) 13A 下側電極(固定電極) 13B 上側電極(固定電極) 14 基板(基材) 16 固定電極 18 回転電極 20 プラズマ発生用高周波電源 22 プラズマ 30 長尺シート状基材 31 基材繰出しローラ 32 基材巻取りローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 和志 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 高橋 利彰 兵庫県高砂市荒井町新浜2丁目3番1号 株式会社神戸製鋼所高砂製作所内 (72)発明者 中上 明光 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 長田 耕一 兵庫県高砂市荒井町新浜2丁目3番1号 株式会社神戸製鋼所高砂製作所内 (72)発明者 井上 憲一 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 森 勇藏 大阪府交野市私市8丁目16番19号 Fターム(参考) 4K030 AA06 AA17 AA20 BA09 BA29 BA30 BA31 BA37 BB12 CA17 FA03 GA12 GA14 KA08 KA16 KA28 LA16 5F045 AA08 AA10 AB01 AB04 AB06 AC01 AF07 BB09 BB14 CA13 DA52 DP22 DQ15 EB08 EB09 EH04 EH07 EH11 EH14 EM10 EN04 HA24

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部から隔離された状態で相互接続され
    る複数の成膜室を備え、各成膜室内に基材との間にプラ
    ズマを発生させるための電極を設けて当該プラズマに反
    応ガスを供給することにより成膜が行われるようにし、
    これら成膜室によって前記基材上に互いに厚さの異なる
    複数種の膜が積層されるように構成した成膜装置であっ
    て、前記成膜室のうち、最も厚さの小さい膜を形成する
    ための成膜室には、前記電極として成膜中実質的に静止
    状態を保つ固定電極を設け、最も厚さの大きい膜を形成
    するための成膜室内には、基材に近接した状態で回転す
    る回転電極を設け、かつ、この回転電極に対して基材を
    移動させる基材送り手段を備えたことを特徴とする成膜
    装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の成膜装置において、最も
    厚さの小さい膜を形成するための成膜室内の電極を、互
    いに平行な状態で配置される一対の平板状電極としたこ
    とを特徴とする成膜装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の成膜装置におい
    て、各成膜室を成膜順に直列に並べたことを特徴とする
    成膜装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の成膜装置において、前記
    回転電極を装備した成膜室内の基材送り手段を、この成
    膜室と隣接する成膜室との間で基材を移送する手段とし
    て兼用したことを特徴とする成膜装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の成膜装置において、各成
    膜室を成膜順に直列に並べるとともに、基材が載置され
    た状態で前記各成膜室を順に通過する基材搬送台を備
    え、この基材搬送台が各成膜室における電極を兼ねかつ
    回転電極を装備した成膜室における基材送り手段を兼ね
    るようにしたことを特徴とする成膜装置。
  6. 【請求項6】 請求項3記載の成膜装置において、長尺
    シート状の基材を繰り出す基材繰出し部と、繰り出され
    た基材を巻き取る基材巻取り部とを備え、前記基材繰出
    し部から繰出された基材が各成膜室を通過してから前記
    基材巻取り部に巻き取られるように構成したことを特徴
    とする成膜装置。
  7. 【請求項7】 請求項1記載の成膜装置において、各成
    膜室に共通して連通する排気室を備え、この排気室を通
    じて各成膜室への基材の搬入及び各成膜室からの基材の
    搬出が行われるように構成したことを特徴とする成膜装
    置。
  8. 【請求項8】 請求項1または2記載の成膜装置におい
    て、前記成膜室として、基材上にp型半導体薄膜、n型
    半導体薄膜のうちのいずれか一方の不純物は導体成膜を
    形成する第1成膜室と、この第1成膜室で形成された薄
    膜上にi型半導体薄膜を形成する第2成膜室と、この第
    2成膜室で形成された薄膜上に他方の不純物半導体薄膜
    を形成する第3成膜室とを備えるとともに、前記第1成
    膜室及び第3成膜室に前記固定電極を設け、第2成膜室
    内に前記回転電極を設けたことを特徴とする成膜装置。
  9. 【請求項9】 請求項8記載の成膜装置において、前記
    第1成膜室、第2成膜室、第3成膜室の順にこれらの成
    膜室を直列に並べたことを特徴とする成膜装置。
  10. 【請求項10】 請求項9記載の成膜装置において、前
    記第2成膜室に設けられる基材送り手段を、当該第2成
    膜室から第3成膜室への基材搬出手段、第1成膜室から
    当該第2成膜室への基材搬入手段の少なくとも一方とし
    て兼用したことを特徴とする成膜装置。
  11. 【請求項11】 請求項10記載の成膜装置において、
    基材が載置された状態で第1成膜室、第2成膜室、第3
    成膜室の順に各成膜室を移動する基材搬送台を備え、こ
    の基材搬送台が各成膜室における電極を兼ねかつ第2成
    膜室における基材送り手段を兼ねるようにしたことを特
    徴とする成膜装置。
  12. 【請求項12】 請求項9記載の成膜装置において、長
    尺シート状の基材を繰り出す基材繰出し部と、繰り出さ
    れた基材を巻き取る基材巻取り部とを備え、前記基材繰
    出し部から繰出された基材が第1成膜室、第2成膜室、
    第3成膜室を順に通過してから前記基材巻取り部に巻き
    取られるように構成したことを特徴とする成膜装置。
  13. 【請求項13】 請求項8記載の成膜装置において、前
    記第1成膜室、第2成膜室、及び第3成膜室に共通して
    連通する排気室を備え、この排気室を通じて前記第1成
    膜室への基材の搬入、第1成膜室から第2成膜室への基
    材の搬送、第2成膜室から第3成膜室への基材の搬送、
    及び第3成膜室からの基材の搬出が行われるように構成
    したことを特徴とする成膜装置。
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