JP2001022075A - レジスト用樹脂、化学増幅型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 - Google Patents
レジスト用樹脂、化学増幅型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法Info
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- JP2001022075A JP2001022075A JP11198164A JP19816499A JP2001022075A JP 2001022075 A JP2001022075 A JP 2001022075A JP 11198164 A JP11198164 A JP 11198164A JP 19816499 A JP19816499 A JP 19816499A JP 2001022075 A JP2001022075 A JP 2001022075A
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Abstract
キシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラ
フィーに好適なレジスト用樹脂および化学増幅型レジス
ト組成物を提供する。 【解決手段】 酸によりアルカリ水溶液に可溶となるレ
ジスト用樹脂であって、式(1)、(2)および(3)
から選ばれる少なくとも1種の構造を有する単量体単位
が含まれていることを特徴とするレジスト用樹脂。 【化7】 (Rは水素原子またはアルキル基、nは0〜10の整
数) 【化8】 (Rは水素原子またはアルキル基、nは0〜10の整
数) 【化9】 (Rは水素原子またはアルキル基、mは0〜3の整数、
nは0〜10の整数)
Description
よび化学増幅型レジスト組成物に関し、特にエキシマレ
ーザーあるいは電子線を使用する微細加工に好適なレジ
スト用樹脂および化学増幅型レジスト組成物に関する。
造における微細加工の分野においてはリソグラフィー技
術の進歩により急速に微細化が進んでいる。その微細化
の手法としては一般に露光光源の短波長化が用いられ、
具体的には従来のg線、i線に代表される紫外線からD
UVへ変化してきている。
m)リソグラフィー技術が市場に導入され、更に短波長
化を計ったArFエキシマレーザー(193nm)リソ
グラフィー技術が導入されようとしており、更に次世代
の技術としてはF2エキシマレーザー(157nm)リ
ソグラフィー技術が研究されている。また、これらと若
干異なるタイプのリソグラフィー技術として電子線リソ
グラフィー技術についても精力的に研究されている。
る高解像度のレジストとして、インターナショナル・ビ
ジネス・マシーン(IBM)社より「化学増幅型レジス
ト」が提唱され、現在、この化学増幅型レジストの改良
および開発が精力的に進められている。
用される樹脂もその構造変化を余儀なくされ、KrFエ
キシマレーザーリソグラフィーにおいては、248nm
に対して透明性の高いポリヒドロキシスチレンやその水
酸基を酸解離性の溶解抑制基で保護したものが用いら
れ、ArFエキシマレーザーリソグラフィーにおいて
は、上記樹脂は193nmにおいては透明性が不十分で
ほとんど使用不可能であるため、193nmにおいて透
明なアクリル系樹脂あるいはシクロオレフィン系樹脂が
注目されている。アクリル系樹脂としては、特開平4−
39665号公報、特開平10−207069号公報等
が挙げられ、シクロオレフィン系樹脂については特開平
10−153864号公報等が挙げられる。
いてもいまだ性能的には不十分であり、より高いドライ
エッチング耐性が求められている。
は、高いドライエッチング耐性を有するDUVエキシマ
レーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー
に好適なレジスト用樹脂および化学増幅型レジスト組成
物を提供することにある。
に鑑み、レジスト用樹脂の構造について鋭意検討した結
果、特定の構造の樹脂を用いることによりDUVエキシ
マレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィ
ーに好適なレジスト用樹脂および化学増幅型レジスト組
成物が得られることを見出し本発明に至った。
に可溶となるレジスト用樹脂であって、式(1)、
(2)および(3)から選ばれる少なくとも1種の構造
を有する単量体単位が含まれていることを特徴とするレ
ジスト用樹脂である。
数)
数)
nは0〜10の整数)
酸発生剤を含有する化学増幅型レジスト組成物である。
まず、酸によりアルカリ水溶液に可溶となる樹脂につい
て説明する。酸によりアルカリ水溶液に可溶となる樹脂
は、前記式(1)、(2)および(3)から選ばれる少
なくとも1種の構造を有する単量体単位が含まれていな
ければならない。これらの単量体単位は必要に応じて単
独あるいは2種以上を組み合わせることができる。これ
らの単量体単位は樹脂中に0.5〜20モル%含まれて
いることが好ましく、特に1〜10モル%が好ましい。
単位を樹脂中に導入することにより、ドライエッチング
耐性を向上させることが可能となり、ドライエッチング
後のレジスト表面の荒れが低減することを見出した。
る少なくとも1種の構造を有する単量体単位としては、
共重合により容易に樹脂骨格中へ導入できる(メタ)ア
クリレート系の単量体単位が好ましい。具体的には、グ
リシジル(メタ)アクリレート、メチルグリシジル(メ
タ)アクリレート、エチルグリシジル(メタ)アクリレ
ート、プロピルグリシジル(メタ)アクリレート、イソ
プロピルグリシジル(メタ)アクリレート、ブチルグリ
シジル(メタ)アクリレート、イソブチルグリシジル
(メタ)アクリレート、t−ブチルグリシジル(メタ)
アクリレート、1,3−エポキシ−2−(メタ)アクリ
ロイルオキシメチル−2−メチルプロパン、1,3−エ
ポキシ−2−(メタ)アクリロイルオキシメチル−2−
エチルプロパン、1,3−エポキシ−2−(メタ)アク
リロイルオキシメチル−2−プロピルプロパン、1,3
−エポキシ−2−(メタ)アクリロイルオキシメチル−
2−t−ブチルプロパン、1,2−エポキシ−4−メタ
クリロイルオキシメチルシクロヘキサン、1,2−エポ
キシ−4−アリルシクロヘキサン、1,2−エポキシ−
3−メタクリロイルオキシメチルシクロペンタン、1,
2−エポキシ−5−メタクリロイルオキシメチルシクロ
ヘプタン、1,2−エポキシ−5−メタクリロイルオキ
シメチルシクロオクタン等が挙げられる。
酸発生剤等と混合して化学増幅型レジスト組成物として
用いられる。この化学増幅型レジスト組成物を用いてパ
ターン形成を行う際、形成したレジストに対して、ドラ
イエッチングを行う前にUV,DUV,EB等の活性光
線の照射および/または遠赤外線あるいはホットプレー
ト等の熱源により一定時間加熱処理を行うことが好まし
い。この処理の作用機構の詳細は不明であるが、このよ
うな処理によりレジスト中に三次元架橋が形成され、そ
の結果としてドライエッチング耐性が向上したものと推
定している。
し易い官能基を有する構造、および高いドライエッチン
グ耐性を有するような構造を導入することが好ましい。
このような構造を導入するために用いられる他の単量体
単位としては、これまで化学増幅型レジスト組成物用樹
脂に用いられていたものが使用可能である。これらは、
リソグラフィーに使用される光源によって、任意に選択
される。
源とする場合は、その高いエッチング耐性を考慮して、
p−ヒドロキシスチレンあるいはその誘導体を共重合し
た樹脂が好適に用いられる。その場合は、化学増幅型レ
ジスト組成物として使用するために、酸によって脱離し
アルカリ性の現像液に可溶となる官能基をその共重合体
の構造中に有することが必須となる。
トラヒドロピラニル基あるいは、メチルアダマンチル基
等により、p−ヒドロキシスチレンの水酸基を保護した
り、共重合するモノマーのカルボキシル基を保護したり
することが好適である。
が短いためp−ヒドロキシスチレンあるいはその誘導体
を共重合した樹脂はその光線透過率の低さから使用でき
ない。よって、エッチング耐性とのバランスを考慮し
て、脂環式骨格を有する樹脂が好適に使用される。
載あるいは特開平10−207069号公報記載のアク
リル系樹脂、特開平10−207070号公報記載ある
いは特開平10−218941号公報記載のオレフィン
系樹脂が挙げられる。
骨格を有する単量体を重合して得られるアクリル系共重
合体がArFエキシマレーザーリソグラフィー用樹脂と
して特に好適である。
る共重合体、およびその樹脂組成物に、高いドライエッ
チング耐性を付与するものであり、特に酸により脱離す
る保護基を含有するものは193nmにおける高い感度
も付与することができる。脂環式骨格を有する単量体は
必要に応じて単独あるいは2種以上を組み合わせること
ができる。
キシル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)ア
クリレート、アダマンチル(メタ)アクリレート、トリ
シクロデカニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタ
ジエニル(メタ)アクリレート、および、これらの単量
体の脂環式環上にアルキル基、ヒドロキシル基、カルボ
キシル基等の置換基を有する誘導体からなる群から選ば
れる少なくとも1種が好ましい。具体的には、1−イソ
ボニルメタクリレート、2−メタクリロイルオキシ−2
−メチルアダマンタン、シクロヘキシルメタクリレー
ト、アダマンチルメタクリレート、トリシクロデカニル
メタクリレート、ジシクロペンタジエニルメタクリレー
ト等が挙げられる。
れる共重合体、およびその樹脂組成物に、基板に対する
密着性を付与するものであり、特に酸により脱離する保
護基を含有するものは193nmにおける高い感度を付
与することができる。ラクトン骨格を有する単量体は必
要に応じて単独あるいは2種以上を組み合わせることが
できる。
えば、δ−バレロラクトン環を有する(メタ)アクリレ
ート、γ−ブチロラクトン環を有する(メタ)アクリレ
ート、およびこれらの単量体のラクトン環上にアルキル
基、ヒドロキシル基、カルボキシル基等の置換基を有す
る誘導体からなる群から選ばれる少なくとも1種が好ま
しい。
メチル−δ−バレロラクトン、β−メタクリロイルオキ
シ−γ−ブチロラクトン、β−メタクリロイルオキシ−
β−メチル−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイル
オキシ−γ−ブチロラクトン、2−(1−メタクリロイ
ルオキシ)エチル−4−ブタノリド、パントラクトンメ
タクリレート等が挙げられる。
量平均分子量は特に限定されないが、好ましくは1,0
00〜100,000の範囲である。重量平均分子量は
大きい程ドライエッチング耐性が向上してレジスト形状
が良くなり、小さい程レジスト溶剤に対する溶解性が向
上して解像度が向上する。
造する方法としては、例えば、あらかじめ、単量体、重
合開始剤を有機溶剤に溶解させた単量体溶液を一定温度
に保持した有機溶剤中に滴下する、いわゆる滴下重合法
が簡便で好適である。
れないが、単量体および得られる共重合体のいずれも溶
解できる溶剤が好ましく、例えば、1,4−ジオキサ
ン、イソプロピルアルコール、アセトン、テトラヒドロ
フラン等が挙げられる。
はされないが、例えば、アゾビスイソブチロニトリル、
2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリ
ル)等のアゾ化合物、過酸化ベンゾイル等の有機過酸化
物等が挙げられる。また、n−ブチルメルカプタン、n
−オクチルメルカプタン等のメルカプタン類を連鎖移動
剤として併用してもよい。
ないが、50〜150℃の範囲が好ましい。滴下時間は
特に限定されないが、6時間以上であり、さらに滴下終
了後2時間程度その温度を保持し、重合を完結させるこ
とが好ましい。
リ水溶液に可溶となる樹脂溶液は、テトラヒドロフラ
ン、1,4−ジオキサン等の良溶媒にて適当な溶液粘度
に希釈された後、ヘプタン、メタノール、水等の多量の
貧溶媒中に滴下して析出させる。その後、その析出物を
濾別、十分に乾燥する。この工程は再沈殿と呼ばれ、場
合により不要となることもあるが、重合溶液中に残存す
る未反応の単量体、あるいは、重合開始剤等を取り除く
ために非常に有効である。これらの未反応物は、そのま
ま残存しているとレジスト性能に悪影響を及ぼす可能性
があるため、できれば取り除いた方が好ましい。
溶となる樹脂の粉体を溶剤に溶解させる。この溶剤は、
目的に応じて任意に選択されるが、溶剤の選択は樹脂の
溶解性以外の理由、たとえば、塗膜の均一性、外観、あ
るいは安全性等からも制約を受ける。
2−ペンタノン、2−ヘキサノン等の直鎖状ケトン類;
シクロペンタノン、シクロヘキサノン等の環状ケトン
類;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテー
ト等のプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセ
テート類;エチレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテ
ート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルアセ
テート類;プロピレングリコールモノメチルエーテル、
プロピレングリコールモノエチルエーテル等のプロピレ
ングリコールモノアルキルエーテル類;エチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル等のエチレングリコールモノアルキルエーテ
ル類;ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチ
レングリコールジエチルエーテル等のジエチレングリコ
ールアルキルエーテル類;酢酸エチル、乳酸エチル等の
エステル類;シクロヘキサノール、1−オクタノール等
のアルコール類;炭酸エチレン、γ−ブチロラクトン等
が挙げられる。これらの溶剤は、単独または2種以上を
混合して使用することができる。
る。光酸発生剤は化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤
として使用可能なものの中から任意に選択することがで
きる。また光酸発生剤は単独または2種以上を組み合わ
せて使用することができる。
ド化合物、スルホン化合物、スルホン酸エステル化合
物、キノンジアジド化合物およびジアゾメタン化合物等
が挙げられる。中でもオニウム塩化合物が好適であり、
例えば、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、ホスホニウ
ム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩等を挙げること
ができる。
リフレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロ
アンチモネート、トリフェニルスルホニウムナフタレン
スルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチル
スルホニウムトルエンスルホネート、ジフェニルヨード
ニウムトリフレート、ジフェニルヨードニウムピレンス
ルホネート、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼン
スルホネート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロ
アンチモネート等を挙げることができる。
により適宜決定されるが、酸によりアルカリ水溶液に可
溶となる樹脂100重量部当たり、通常0.1〜20重
量部、好ましくは0.5〜10重量部である。光酸発生
剤の使用量が少なすぎると、露光により発生した酸の触
媒作用による化学反応を十分に生起させることが困難と
なるおそれがあり、また多すぎるとレジスト組成物の安
定性が低下したり、組成物を塗布する際に塗布むらが生
じたり、現像時にスカム等を発生するおそれがある。
は、必要に応じて、界面活性剤、クエンチャー、増感
剤、ハレーション防止剤、保存安定剤、消泡剤等の各種
添加剤を配合することもできる。
レンラウリルエーテル、ポリエチレングリコールジラウ
レート等のノニオン系界面活性剤のほか、以下商品名
で、ポリフローNo.75(共栄社油脂化学工業製)、
メガファックスF173(大日本インキ化学工業製)、
サ−フロンSC−105(旭硝子製)、L−70001
(信越化学工業製)等が挙げられる。
明する。ここで「部」は、特に断りがない限り、「重量
部」を意味する。また、共重合体の物性測定およびレジ
ストの評価は以下の方法で行った。
クロマトグラフィー(GPC)により、ポリメタクリル
酸メチル換算で求めた。溶剤には、クロロホルムあるい
はテトラヒドロフランを使用した。
−NMRの測定により求めた。溶剤には、重クロロホル
ムあるいは重アセトンを使用した。
ト膜を露光した後、直ちに露光後ベークを行い、次い
で、アルカリ現像液で現像し、水洗し、乾燥して、レジ
ストパターンを形成した。ライン・アンド・スペースパ
ターン(L/S=1/1)を1/1の線幅に形成する露
光量を感度として測定した。
れるレジストパターンの最小寸法(μm)を解像度とし
た。
に形成したレジスト膜をエッチングし、膜厚の減少から
各レジストのエッチング速度(ノボラック樹脂のエッチ
ング速度を1として規格化)を測定した。エッチング条
件は、東京エレクトロン製エッチングマシーンを用い
て、ガスはC4F8/Ar/O2混合ガスを用い、20
00W、50mTorrで、50秒間実施した。
鏡にて観察し、レジスト表面に凹凸の無いものを
「○」、凹凸があり荒れているものを「×」として評価
した。
ーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、
1,4−ジオキサン20.0部を入れ、攪拌しながら湯
浴の温度を80℃に上げた。p−t−ブトキシスチレン
(略称:PTBST、分子量=176)22.0部、p−ヒ
ドロキシスチレン(略称:HS、分子量=120)13.5
部、1,3−エポキシ−2−メタクリロイルオキシメチ
ル−2−メチルプロパン(略称:OMA、分子量=170)
2.2部、1,4−ジオキサン62.5部、アゾビスイ
ソブチロニトリル1.9部を混合した単量体溶液を一定
速度で6時間かけて、フラスコ中に滴下し、その後、8
0℃の温度を2時間保持した。次いで、得られた反応溶
液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約10倍量
の水中に撹拌しながら滴下し、白色の析出物(共重合体
A−1)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下
60℃で約40時間乾燥した。
定した。重量平均分子量は9,400、共重合組成比は
PTBST/HS/OMA=50/45/5モル%であ
った。
−メタクリロイルオキシメチル−2−メチルプロパン
(略称:OMA、分子量=170)2.2部を1,2−エポ
キシ−4−メタクリロイルオキシメチルシクロヘキサン
(略称:CMA、分子量=196)2.5部に変更する以外
は同様に合成し、共重合体A−2を得た。
定した。重量平均分子量は9,400、共重合組成比は
PTBST/HS/CMA=50/45/5モル%であ
った。
ーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、
1,4−ジオキサン20.0部を入れ、攪拌しながら湯
浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオキシ
−2−メチルアダマンタン(略称:MAdMA、分子量
=234)29.3部、β−メタクリロイルオキシ−γ−ブ
チロラクトン(略称:HGBMA、分子量=170)19.
1部、1,3−エポキシ−2−メタクリロイルオキシメ
チル−2−メチルプロパン(略称:OMA、分子量=17
0)2.2部、1,4−ジオキサン62.5部、アゾビ
スイソブチロニトリル1.9部を混合した単量体溶液を
一定速度で6時間かけて、フラスコ中に滴下し、その
後、80℃の温度を2時間保持した。次いで、得られた
反応溶液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約1
0倍量のメタノール中に撹拌しながら滴下し、白色の析
出物(共重合体A−3)の沈殿を得た。得られた沈殿を
濾別し、減圧下60℃で約40時間乾燥した。
定した。重量平均分子量は9,800、共重合組成比は
MAdMA/HGBMA/OMA=50/45/5モル
%であった。
−メタクリロイルオキシメチル−2−メチルプロパン
(略称:OMA、分子量=170)2.2部を1,2−エポ
キシ−4−メタクリロイルオキシメチルシクロヘキサン
(略称:CMA、分子量=196)2.5部に変更する以外
は同様に合成し、共重合体A−4を得た。
定した。重量平均分子量は9,800、共重合組成比は
MAdMA/HGBMA/CMA=50/45/5モル
%であった。
ンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下
で、1,4−ジオキサン20.0部を入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。p−t−ブトキシスチ
レン(略称:PTBST、分子量=176)22.0部、p
−ヒドロキシスチレン(略称:HS、分子量=120)1
5.0部、1,4−ジオキサン62.5部、アゾビスイ
ソブチロニトリル1.9部を混合した単量体溶液を一定
速度で6時間かけて、フラスコ中に滴下し、その後、8
0℃の温度を2時間保持した。次いで、得られた反応溶
液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約10倍量
の水中に撹拌しながら滴下し、白色の析出物(共重合体
AH−1)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減圧
下60℃で約40時間乾燥した。
測定した。重量平均分子量は12,000、共重合組成
比はPTBST/HS=51/49モル%であった。
ンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下
で、1,4−ジオキサン20.0部を入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン(略称:MAdMA、分
子量=234)29.3部、β−メタクリロイルオキシ−γ
−ブチロラクトン(略称:HGBMA、分子量=170)2
1.2部、1,4−ジオキサン62.5部、アゾビスイ
ソブチロニトリル1.9部を混合した単量体溶液を一定
速度で6時間かけて、フラスコ中に滴下し、その後、8
0℃の温度を2時間保持した。次いで、得られた反応溶
液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約10倍量
のメタノール中に撹拌しながら滴下し、白色の析出物
(共重合体AH−2)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾
別し、減圧下60℃で約40時間乾燥した。
測定した。重量平均分子量は11,000、共重合組成
比はMAdMA/HGBMA=50/50モル%であっ
た。
径0.1μmのメンブランフィルターでろ過し、レジス
ト組成物溶液を調整した。その後、各組成物溶液をシリ
コンウエハー上にスピンコートしたのち、ホットプレー
トを用いて、120℃で60秒間プリベークを行い、膜
厚0.5μmのレジスト膜を形成した。次いで、KrF
エキシマレーザー露光機あるいはArFエキシマレーザ
ー露光機を使用して露光した後、ホットプレートを用い
て120℃で60秒間露光後ベークを行った。次いで、
2.38重量%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液
を用いて室温で現像し、純水で洗浄し、乾燥して、レジ
ストパターンを形成した。得られたレジストパターンの
評価結果を表2および表3に示した。また、上述した条
件にて各レジストのエッチング速度を測定した結果を表
2および表3に示した。
度を大きく低下させること無く、ドライエッチング耐性
が向上し、エッチング後のレジスト表面の荒れも発生し
なくなった。一方、比較例においては、ドライエッチン
グ耐性が十分でなく、エッチング後のレジスト表面の荒
れが発生した。
型レジスト組成物は、エッチング後のレジスト表面の荒
れが発生せずドライエッチング耐性が良好であり、また
感度および解像度も高く、高精度の微細なレジストパタ
ーンを安定して形成することができる。したがって、D
UVエキシマレーザーリソグラフィーや電子線リソグラ
フィー用、特にArFエキシマレーザーを使用するリソ
グラフィーに好適に用いることができる。
より、より高いドライエッチング耐性が得られる。
Claims (6)
- 【請求項1】 酸によりアルカリ水溶液に可溶となるレ
ジスト用樹脂であって、式(1)、(2)および(3)
から選ばれる少なくとも1種の構造を有する単量体単位
が含まれていることを特徴とするレジスト用樹脂。 【化1】 (Rは水素原子またはアルキル基、nは0〜10の整
数) 【化2】 (Rは水素原子またはアルキル基、nは0〜10の整
数) 【化3】 (Rは水素原子またはアルキル基、mは0〜3の整数、
nは0〜10の整数) - 【請求項2】 酸によりアルカリ水溶液に可溶となるレ
ジスト用樹脂が、脂環式骨格を有する単量体単位と、ラ
クトン骨格を有する単量体単位を含むことを特徴とする
請求項1のレジスト用樹脂。 - 【請求項3】 脂環式骨格を有する単量体単位が、シク
ロヘキシル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メ
タ)アクリレート、アダマンチル(メタ)アクリレー
ト、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、ジシク
ロペンタジエニル(メタ)アクリレートおよびこれらの
脂環式環上に置換基を有する誘導体からなる群から選ば
れる少なくとも1種であることを特徴とする請求項2記
載のレジスト用樹脂。 - 【請求項4】 ラクトン骨格を有する単量体単位が、δ
−バレロラクトン環を有する(メタ)アクリレート、γ
−ブチロラクトン環を有する(メタ)アクリレートおよ
びこれらの単量体のラクトン環上に置換基を有する誘導
体からなる群から選ばれる少なくとも1種であることを
特徴とする請求項2または3記載のレジスト用樹脂。 - 【請求項5】 請求項1〜4記載のレジスト用樹脂およ
び光酸発生剤を含有する化学増幅型レジスト組成物。 - 【請求項6】 請求項5記載の化学増幅型レジスト組成
物を用いてレジストを形成し、ドライエッチングを行う
前にレジストにUV,DUV,EB等の活性光線の照射
および/または遠赤外線あるいは熱源による加熱処理を
行うことを特徴とするレジストパターン形成方法。
Priority Applications (1)
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