JP2005048126A - 重合体、重合体の製造方法、レジスト組成物およびパターン形成方法 - Google Patents

重合体、重合体の製造方法、レジスト組成物およびパターン形成方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 レジスト等の構成成分樹脂として有用な重合体、その製造方法、および、DUVエキシマレーザーリソグラフィー等において用いた場合に、高感度、高解像度であり、ドライエッチング耐性に優れたレジスト組成物、このレジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】 本発明の重合体は、下記式(1)で表される構成単位と、脂環ラクトン骨格を有する構成単位とを含有するものであり、このレジスト用重合体を含有するレジスト組成物を用いてレジストパターンを形成する。
【化1】
Figure 2005048126

【選択図】 なし


Description

本発明は、塗料、接着剤、粘着剤、インキ用レジン、レジスト、光学材料等の構成成分樹脂として有用な重合体、および、その製造方法に関する。また、本発明は、この重合体を使用したレジスト組成物、および、パターン形成方法に関する。
近年、半導体素子や液晶素子の製造における微細加工の分野においては、リソグラフィー技術の進歩により急速に微細化が進んでいる。その微細化の手法としては、一般に、露光光源から発せられる照射光の短波長化が用いられ、具体的には、従来のg線(波長:438nm)、i線(波長:365nm)に代表される紫外線からDUV(Deep Ultra Violet)へと照射光が変化してきている。
現在では、KrFエキシマレーザー(波長:248nm)リソグラフィー技術が市場に導入され、さらなる短波長化を図ったArFエキシマレーザー(波長:193nm)リソグラフィー技術も導入されようとしている。さらに、次世代の技術として、F2エキシマレーザー(波長:157nm)リソグラフィー技術が研究されている。また、これらとは若干異なるタイプのリソグラフィー技術として、電子線リソグラフィー技術についても精力的に研究されている。
このような短波長の照射光あるいは電子線に対する高解像度のレジストとして、インターナショナル・ビジネス・マシーン(IBM)社より「化学増幅型レジスト」が提唱され、現在、この化学増幅型レジストの改良および開発が精力的に進められている。
照射光の短波長化においては、レジストに使用される樹脂もその構造変化を余儀なくされる。例えば、KrFエキシマレーザーリソグラフィーにおいては、波長248nmの照射光に対して透明性の高いポリヒドロキシスチレンや、その水酸基を酸解離性の溶解抑制基で保護したものが用いられる。しかし、ArFエキシマレーザーリソグラフィーにおいては、前記樹脂は波長193nmの照射光に対する透明性が必ずしも十分とはいえず、使用できない場合が多い。
そのため、ArFエキシマレーザーリソグラフィーにおいて使用されるレジスト樹脂として、波長193nmの照射光に対して透明なアクリル系樹脂が注目されている。この例として、シアノ基を有する構成単位を含有するアクリル系樹脂を含有する化学増幅型レジスト組成物が、特許文献1〜3等に開示されている。
特許文献1には、ArFエキシマレーザー(波長:193nm)リソグラフィー等において使用される、感度および解像度に優れたレジスト組成物として、極性部分を含む基を有する構成単位と酸により脱離する基を有する構成単位とを含有する(メタ)アクリル系共重合体と、光酸発生剤とを含有するレジスト組成物が記載されており、極性部分(極性基)の1つとして、シアノ基、ラクトンが挙げられている。
特許文献2には、シアノ基を有する構成単位と、脂環ラクトン構造を有する構成単位と、脂環式炭化水素基を有する構成単位とを含有する樹脂と、光酸発生剤とを含有するポジ型レジスト組成物が開示されている。
特許文献3には、少なくとも1個の自体脱離能を有するニトリル基を含有する部分を有している保護基により保護されたアルカリ可溶性基を含有し、かつ前記アルカリ可溶性基が酸により脱離して当該共重合体をアルカリ可溶性とならしめる構成単位、脂環式炭化水素を含む保護基により保護されたアルカリ可溶性基を含有し、かつ前記アルカリ可溶性基が酸により脱離して当該共重合体をアルカリ可溶性とならしめる構造を有する構成単位、および、ラクトン構造を有する保護基により保護されたアルカリ可溶性基を含有し、かつ前記アルカリ可溶性基が酸により脱離して当該共重合体をアルカリ可溶性とならしめる構造を有する構成単位を有する酸感応性重合体と、酸発生剤とを含んでなる化学増幅型レジスト材料が開示されている。
米国特許第6,165,678号明細書 特開2003−122007号公報 特開平11−352694号公報
本発明は、塗料、接着剤、粘着剤、インキ用レジン、レジスト、光学材料等の構成成分樹脂として有用な重合体、および、その製造方法を提供することを目的とする。また、本発明は、DUVエキシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー等において用いた場合に、高感度、高解像度であり、ドライエッチング耐性に優れたレジスト組成物、および、このレジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、前記課題に鑑み鋭意検討した結果、DUVエキシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィーにおいて、特定のシアノ基含有重合体をレジスト組成物に用いることにより、高感度、高解像度が損なわれることなく、ドライエッチング耐性が向上することを見出し、本発明に至った。
すなわち、本発明は、下記式(1)で表される構成単位と、脂環ラクトン骨格を有する構成単位とを含有する重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(1)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。R2〜R5は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L1は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n1は、0〜3の整数を表す。m1は、0または1を表す。
ただし、n1が2以上の場合には、L1は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
なお、この重合体において、式(1)で表される構成単位は、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。脂環ラクトン骨格を有する構成単位も、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。また、この重合体において、各構成単位は任意のシーケンスを取り得る。したがって、この重合体は、ランダム共重合体であっても、交互共重合体であっても、ブロック共重合体であってもよい。
また、本発明は、上記式(1)で表される構成単位が、下記式(2)で表される構成単位である上記の重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(2)中、R21は、水素原子またはメチル基を表す。Zは、エステル結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を構成する原子団を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。)
また、本発明は、上記式(1)で表される構成単位が、下記式(3)で表される構成単位である上記の重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(3)中、R31は、水素原子またはメチル基を表す。R32は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R33〜R35は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L3は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n3は、0〜3の整数を表す。
ただし、n3が2以上の場合には、L3は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
また、本発明は、上記式(1)で表される構成単位が、下記式(4)で表される構成単位である上記の重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(4)中、R41は、水素原子またはメチル基を表す。R42は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R43〜R46は、それぞれ独立に、水素原子、または、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって炭素数1〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。)
また、本発明は、上記式(1)で表される構成単位が、下記式(1−1)で表される構成単位、下記式(1−2)で表される構成単位、下記式(1−3)で表される構成単位、下記式(1−4)で表される構成単位、および、下記式(1−5)で表される構成単位からなる群より選ばれる少なくとも1種である上記の重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(1−1)〜(1−5)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。)
また、本発明は、上記式(1)で表される構成単位の比率が合計で10〜90モル%であり、脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で10〜90モル%である上記の重合体に関する。
また、本発明は、下記式(5)で表される構成単位を含有する重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(5)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。R52〜R59は、それぞれ独立に、少なくとも一つはシアノ基を表し、それ以外は水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって−O−、−S−、−NH−または炭素数2〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。L51は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n5は、0または1を表す。)
なお、この重合体において、式(5)で表される構成単位は、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。また、この重合体において、各構成単位は任意のシーケンスを取り得る。したがって、この重合体は、共重合体の場合、ランダム共重合体であっても、交互共重合体であっても、ブロック共重合体であってもよい。
また、本発明は、上記式(5)で表される構成単位が、下記式(5−1)で表される構成単位、および、下記式(5−2)で表される構成単位からなる群より選ばれる少なくとも1種である上記の重合体に関する。
Figure 2005048126
(式(5−1)および式(5−2)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。)
また、本発明は、さらに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有する上記の重合体に関する。
なお、この重合体において、脂環ラクトン骨格を有する構成単位も、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。
また、本発明は、上記式(5)で表される構成単位の比率が合計で10〜90モル%であり、脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で10〜90モル%である上記の重合体に関する。
また、本発明は、重合することにより目的とする重合体の構成単位となる単量体を含む溶液を重合容器中に滴下しながら重合を行う上記の重合体の製造方法に関する。
また、本発明は、上記の重合体1種以上を含有するレジスト組成物に関する。
また、本発明は、上記の重合体1種以上と、光酸発生剤とを含有するレジスト組成物に関する。
また、本発明は、上記のレジスト組成物を被加工基板上に塗布する工程と、250nm以下の波長の照射光で露光する工程と、現像液を用いて現像する工程とを有するパターン形成方法に関する。
また、本発明は、上記のレジスト組成物を被加工基板上に塗布する工程と、電子線で露光する工程と、現像液を用いて現像する工程とを有するパターン形成方法に関する。
なお、「炭素数1〜6のエステル基」とは、「炭素数1〜6のアルコールでエステル化されたカルボキシ基」のことをいう。
本発明の第1の重合体は、上記式(1)で表される構成単位と、脂環ラクトン骨格を有する構成単位とを含有する。上記式(1)で表される構成単位としては、中でも、上記式(2)で表される構成単位、上記式(3)で表される構成単位および上記式(4)で表される構成単位が好ましく、上記式(1−1)で表される構成単位、上記式(1−2)で表される構成単位、上記式(1−3)で表される構成単位、上記式(1−4)で表される構成単位および上記式(1−5)で表される構成単位がより好ましい。
なお、前述の通り、上記式(1)で表される構成単位は、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。脂環ラクトン骨格を有する構成単位も、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。また、この重合体において、各構成単位は任意のシーケンスを取り得る。したがって、この重合体は、ランダム共重合体であっても、交互共重合体であっても、ブロック共重合体であってもよい。
また、本発明の第2の重合体は、上記式(5)で表される構成単位を含有する。上記式(5)で表される構成単位としては、中でも、上記式(5−1)で表される構成単位および上記式(5−2)で表される構成単位が好ましい。この重合体においても、さらに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有することが好ましい。
なお、前述の通り、上記式(5)で表される構成単位は、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有する場合、脂環ラクトン骨格を有する構成単位も、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。また、この重合体において、各構成単位は任意のシーケンスを取り得る。したがって、この重合体は、共重合体の場合、ランダム共重合体であっても、交互共重合体であっても、ブロック共重合体であってもよい。
上記のような本発明の重合体は、塗料、接着剤、粘着剤、インキ用レジン、レジスト、光学材料等の構成成分樹脂として有用である。特に、本発明の重合体をレジスト樹脂として用いた場合、DUVエキシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー等において、高感度、高解像度であり、ドライエッチング耐性に優れたレジスト組成物を得ることができる。また、このレジスト組成物を用いることにより、高精度の微細なレジストパターンを安定して形成することができる。
1.式(1)で表される構成単位
本発明の第1の重合体は、前記式(1)で表される構成単位を含有する。
式(1)中、環状アルキル基の炭素数は3〜8が好ましい。橋かけ環式炭化水素基の炭素数は6〜20が好ましい。
環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基の置換基としては、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜8の環状アルキル基、橋かけ環式炭化水素基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜8のエステル基(炭素数1〜8のアルコールでエステル化されたカルボキシ基)、炭素数1〜8のアルコキシ基、シアノ基が挙げられる。置換基は、1種であっても、2種以上であってもよい。
前記式(1)で表される構成単位は、下記式(6)で表されるシアノ基を有する単量体に由来する。つまり、本発明の重合体は、下記式(6)で表されるシアノ基を有する単量体を含む単量体組成物を共重合して得られるものである。下記式(6)で表される単量体は、1種であっても、2種以上の混合物であってもよい。
Figure 2005048126
(式(6)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。R2〜R5は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L1は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n1は、0〜3の整数を表す。m1は、0または1を表す。
ただし、n1が2以上の場合には、L1は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
式(1)および式(6)中のR2〜R5の環状アルキル基、橋かけ環式炭化水素基としては、例えば、シクロペンタン環、シクロヘキサン環、シクロヘプタン環、シクロオクタン環、アダマンタン環、ショウノウ環、ピナン環、ノルボルナン環などが挙げられる。中でも、ドライエッチング耐性に優れる点から、アダマンタン環、ショウノウ環、ピナン環、ノルボルナン環などの橋かけ環式飽和炭化水素基が好ましく、また、溶剤への溶解性に優れる点から、シクロヘキサン環が好ましい。特に、ノルボルナン環、アダマンタン環、ピナン環がより好ましい。
また、他の単量体との共重合性に優れる点から、R2〜R5のうち2つが一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環状構造(環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基)を形成していることが好ましい。
式(1)および式(6)中の環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基以外のR2〜R5としては、ドライエッチング耐性に優れる点から、シアノ基が好ましく、また、熱安定性に優れる点から、水素原子が好ましい。中でも、高い感度が得られる点から、R2〜R5は、そのうち2つが一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環状構造(環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基)を形成しており、それ以外のR2〜R5の両方が水素原子であること、または、いずれか一方がシアノ基であり、もう一方が水素原子であることが特に好ましい。
式(1)および式(6)中のL1としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、−O−、−CH2−O−、−C(O)O−、−O−C(O)O−が好ましく、−C(O)O−がより好ましい。
式(1)および式(6)中のn1としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、1が好ましい。
式(1)および式(6)中のm1としては、熱安定性に優れる点から、1が好ましい。
上記式(1)で表される構成単位としては、他の単量体との共重合性、熱安定性およびドライエッチング耐性に優れ、さらに高い感度が得られる点から、上記式(2)で表される構成単位が好ましい。上記式(2)で表される構成単位は、下記式(7)で表される単量体に由来する。つまり、上記式(6)で表される化合物としては、下記式(7)で表される単量体が好ましい。
Figure 2005048126
(式(7)中、R21は、水素原子またはメチル基を表す。Zは、エステル結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を構成する原子団を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。)
式(2)および式(7)中のZとしては、他の単量体との共重合性に優れる点から、シクロヘキサン環、ノルボルナン環、アダマンタン環などの環式飽和炭化水素基が好ましく、また、ドライエッチング耐性に優れる点から、アダマンタン環、ショウノウ環、ノルボルナン環、ピナン環などの橋かけ環式飽和炭化水素基が好ましい。式(2)および式(7)中のZとしては、シクロヘキサン環、ノルボルナン環、アダマンタン環、ピナン環が特に好ましい。
上記式(1)で表される構成単位としては、上記式(3)で表される構成単位も好ましい。上記式(3)で表される構成単位は、下記式(8)で表される単量体に由来する。つまり、上記式(6)で表される化合物としては、下記式(8)で表される単量体も好ましい。
Figure 2005048126
(式(8)中、R31は、水素原子またはメチル基を表す。R32は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R33〜R35は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L3は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n3は、0〜3の整数を表す。
ただし、n3が2以上の場合には、L3は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
式(3)および式(8)中のR32としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基などが挙げられる。式(3)および式(8)中のR32としては、高い感度が得られる点から、メチル基、エチル基が好ましく、また、他の単量体との共重合性に優れる点から、メチル基が好ましい。式(3)および式(8)中のR32としては、メチル基が特に好ましい。
式(3)および式(8)中のR33〜R35としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、R33〜R35のうち2つが一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環構造(環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基)を形成していることが好ましく、ドライエッチング耐性に優れる点から、R33〜R35のうち2つが一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、橋かけ環式飽和炭化水素基を形成していることがより好ましい。
式(3)および式(8)中のL3としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、−O−、−CH2−O−、−C(O)O−、−O−C(O)O−が好ましく、−C(O)O−がより好ましい。
式(3)および式(8)中のn3としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、1が好ましい。
上記式(3)で表される構成単位としては、他の単量体との共重合性、熱安定性およびドライエッチング耐性に優れ、さらに高い感度が得られる点から、上記式(4)で表される構成単位が好ましい。上記式(4)で表される構成単位は、下記式(9)で表される単量体に由来する。つまり、上記式(8)で表される化合物としては、下記式(9)で表される単量体が好ましい。
Figure 2005048126
(式(9)中、R41は、水素原子またはメチル基を表す。R42は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R43〜R46は、それぞれ独立に、水素原子、または、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって炭素数1〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。)
式(4)および式(9)中のR42としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基などが挙げられる。式(4)および式(9)中のR42としては、高い感度が得られる点から、メチル基、エチル基が好ましく、また、他の単量体との共重合性に優れる点から、メチル基が好ましい。
式(4)および式(9)中のR43〜R46としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、水素原子が好ましく、また、ドライエッチング耐性に優れる点から、R43〜R46のうち2つ以上が一緒になって炭素数1〜6のアルキレン基を形成していること、すなわち、橋かけ環式炭化水素基を形成していることが好ましい。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。橋かけ環式炭化水素基としては、アダマンタン環、ショウノウ環、ノルボルナン環、ピナン環が好ましく、中でも、有機溶剤への溶解性に優れる点から、ピナン環がより好ましい。
上記式(6)で表される単量体として、具体的には、下記式(11−1)〜(11−34)で表される単量体が挙げられるが、これらに限定されるものではない。なお、式(11−1)〜(11−34)中、Rは水素原子またはメチル基を表し、R’は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表す。
Figure 2005048126
Figure 2005048126
Figure 2005048126
上記式(11−1)〜(11−34)で表される単量体としては、中でも、ドライエッチング耐性に優れる点から、上記式(11−5)〜(11−8)で表される単量体、上記式(11−18)〜(11−20)で表される単量体、上記式(11−22)で表される単量体、上記式(11−23)で表される単量体、上記式(11−24)で表される単量体、上記式(11−34)で表される単量体が好ましい。また、高い感度が得られる点から、上記式(11−4)〜(11−8)で表される単量体、上記式(11−24)で表される単量体が好ましい。中でも、ドライエッチング耐性に優れ、高い感度が得られ、他の単量体との共重合性に優れる点から、上記式(11−4)で表される単量体、上記式(11−6)〜(11−8)で表される単量体、上記式(11−24)で表される単量体、上記式(11−34)で表される単量体が特に好ましい。
上記式(1)で表される構成単位としては、中でも、下記式(1−1)〜(1−5)で表される構成単位が特に好ましい。
Figure 2005048126
(式(1−1)〜(1−5)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。)
2.式(5)で表される構成単位
本発明の第2の重合体は、前記式(5)で表される構成単位を含有する。
前記式(5)で表される構成単位は、下記式(10)で表されるシアノ基を有する単量体に由来する。つまり、本発明の重合体は、下記式(10)で表されるシアノ基を有する単量体を含む単量体組成物を重合(共重合を含む)して得られるものである。下記式(10)で表される単量体は、1種であっても、2種以上の混合物であってもよい。
Figure 2005048126
(式(10)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。R52〜R59は、それぞれ独立に、少なくとも一つはシアノ基を表し、それ以外は水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって−O−、−S−、−NH−または炭素数2〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。L51は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n5は、0または1を表す。)
式(5)および式(10)中のR52〜R59としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、水素原子、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。また、ドライエッチング耐性に優れる点から、R52〜R59のうち2〜4個が一緒になって炭素数2〜6のアルキレン基を形成していることが好ましく、炭素数2のアルキレン基または炭素数4のアルキレン基を形成していることがより好ましい。アルキレン基は、分岐していてもよい。
式(5)および式(10)中のn5としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、0が好ましい。
式(5)および式(10)中のL51としては、他の単量体との共重合性に優れる点から、−O−、−CH2−O−、−C(O)O−、−O−C(O)O−が好ましく、−C(O)O−がより好ましい。
式(5)および式(10)中のシアノ基の総数は、溶剤への溶解性に優れる点から、1または2が好ましい。
上記式(10)で表される単量体として、具体的には、下記式(11−35)〜(11−40)で表される単量体が挙げられるが、これらに限定されるものではない。なお、式(11−35)〜(11−40)中、Rは水素原子またはメチル基を表す。
Figure 2005048126
上記式(5)で表される構成単位としては、中でも、ドライエッチング耐性に優れ、高い感度が得られ、他の単量体との共重合性に優れる点から、下記式(5−1)で表される構成単位、下記式(5−2)で表される構成単位が特に好ましい。
Figure 2005048126
(式(5−1)および式(5−2)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。)
3.式(6)〜式(10)で表される単量体の製造方法
前記式(6)〜(10)で表される単量体は、例えば、下記の工程(I)〜(V)にて製造することができる。下記の工程(I)〜(V)は、それぞれ、前記式(11−24)で表される単量体、前記式(11−7)で表される単量体、前記式(11−22)で表される単量体、前記式(5−2)で表される単量体および前記式(11−34)で表される単量体の製造工程を示しているが、その他の前記式(6)〜式(10)で表される単量体も類似の工程にて製造することができる。
下記の工程(I)は、前記式(11−24)で表される単量体の製造工程を示しており、下記の工程(V)は、前記式(11−34)で表される単量体の製造工程を示している。
Figure 2005048126
まず、エポキシドに対するシアノ化反応により、β−シアノヒドリンを合成する。
原料であるピネンオキシドなどのエポキシドは公知の方法で製造することができ、また、市販品を使用することもできる。
シアノ化剤としては、シアン化水素、シアン化ナトリウム、シアン化カリウム、トリメチルシリルシアン、アセトンシアンヒドリン等が用いられる。シアノ化剤としては、安全性の点から、シアン化ナトリウム、シアン化カリウム、トリメチルシリルシアンが好ましく、また、安価である点から、シアン化水素、シアン化ナトリウム、シアン化カリウムが好ましい。
シアノ化反応は、酸性条件下でもアルカリ性条件下でも進行するが、反応速度の点から、シアノ化剤としてシアン化カリウムを用い、アルカリ性条件下でシアノ化反応を行うことが好ましい。
得られたβ−シアノヒドリンは、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製してもよいし、精製せずにそのまま次の反応に用いることもできる。
次の工程のβ−シアノヒドリンの(メタ)アクリル酸エステル化は、エステル化、エステル交換などの公知の方法により行うことができる。
エステル化剤としては、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸塩化物、(メタ)アクリル酸無水物、(メタ)アクリル酸エステル等が用いられる。エステル化剤としては、反応速度の点から、(メタ)アクリル酸塩化物、(メタ)アクリル酸無水物が好ましい。
また、必要に応じて、ルイス酸等の触媒を加えてもよい。
得られた単量体は、通常、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製して重合反応に用いる。
下記の工程(II)は、前記式(11−7)で表される単量体の製造工程を示している。
Figure 2005048126
まず、原料ケトンに対してアセトニトリルを付加させることにより、β−シアノヒドリンを合成する。
2−アダマンタノンなどの原料は公知の方法で製造することができ、また、市販品を使用することもできる。
アセトニトリルの付加反応は、一般に塩基性条件下で行われ、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、金属アルコキシド、水素化ナトリウム、水素化リチウム、アルキルリチウム等を用いることができる。中でも、反応速度の点から、n−ブチルリチウムが好ましく、また、取り扱いが容易である点から、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムが好ましい。
得られたβ−シアノヒドリンは、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製してもよいし、精製せずにそのまま次の反応に用いることもできる。
次の工程のβ−シアノヒドリンの(メタ)アクリル酸エステル化は、前記工程(I)と同様の方法により行うことができる。
得られた単量体は、通常、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製して重合反応に用いる。
下記の工程(III)は、前記式(11−22)で表される単量体の製造工程を示している。
Figure 2005048126
まず、カルボニル化合物あるいはエポキシドに対してマロノニトリルを付加させることにより、ヒドロキシマロノニトリル誘導体を合成する。
2−ノルボルナンカルボキシアルデヒドなどの原料は公知の方法で製造することができ、また、市販品を使用することもできる。
マロノニトリルの付加反応は、一般に塩基性条件下で行われ、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、金属アルコキシド、水素化ナトリウム、水素化リチウム、アルキルリチウム等を用いることができる。中でも、反応速度の点から、ナトリウムエトキシドが好ましく、また、副反応が少ない点から、水素化ナトリウムが好ましい。
得られたヒドロキシマロノニトリル誘導体は、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製してもよいし、精製せずにそのまま次の反応に用いることもできる。
次の工程のヒドロキシマロノニトリル誘導体の(メタ)アクリル酸エステル化は、前記工程(I)と同様の方法により行うことができる。
得られた単量体は、通常、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法で精製して重合反応に用いる。
下記の工程(IV)は、前記式(5−2)で表される単量体の製造工程を示している。
Figure 2005048126
原料であるテルピネンなどのジエンは公知の方法で製造することができ、また、市販品を使用することもできる。
アクリロニトリルとテルピネンとの環化付加反応は、公知の方法にて行うことができるが、必要に応じてルイス酸などの触媒を使用し、無溶媒またはメタノールなどの溶媒中で行うことが好ましい。触媒に用いるルイス酸としては、チタン、アルミニウム、スズなどの塩化物、酸化物、アルコキシド等を用いることができる。触媒に用いるルイス酸としては、中でも、反応速度および取り扱いが容易である点から、三塩化アルミニウムが好ましい。
得られた環化付加物は、精製せずにそのまま次の工程に用いることもできるが、蒸留、カラムクロマトグラフィーなど公知の方法によって精製することが好ましい。
環化付加物に対するアクリル酸あるいはメタクリル酸の不飽和結合への付加反応は、好ましくは酸触媒を使用し、無溶媒またはトルエンなどの溶媒中で、過剰のアクリル酸あるいはメタクリル酸を使用して行うことが好ましい。この付加反応において使用される酸触媒は特に限定されないが、塩酸、硫酸、硝酸、p−トルエンスルホン酸、酢酸、トリフルオロ酢酸、トリフルオロメタンスルホン酸などが挙げられる。酸触媒としては、中でも、反応速度の点から、硫酸、p−トルエンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸が好ましく、トリフルオロメタンスルホン酸がより好ましい。
また、不飽和結合に直接アクリル酸あるいはメタクリル酸を付加させようとすると、反応中に重合が起こる場合がある。そのため、公知の方法によって、水酸基の導入あるいは低級カルボン酸の付加によってエステル化し、これをエステル化あるいはエステル交換反応によって(メタ)アクリル酸エステルに誘導することが好ましい。水酸基を導入する方法としては、ハイドロボレーション、二重結合の酸化によって得られたエポキシドの開環などが挙げられる。低級カルボン酸を付加する方法としては、酢酸、ギ酸などを酸性条件下で付加させることが挙げられる。
また、得られた低級カルボン酸エステルを加水分解し、アルコール体としてもよい。
高収率で前記式(5−2)で表される単量体が得られることから、環化付加物に酢酸を付加し、得られた酢酸エステルをチタンイソプロポキシドなどのルイス酸触媒の存在下、メタクリル酸メチルとのエステル交換によって前記式(5−2)で表される単量体を合成することが好ましい。
上記反応の生成物は、いくつかの構造異性体、幾何異性体、光学異性体を含む場合がある。本発明においては、異性体の混合物のまま重合反応に使用することができる。また、反応中間体を含んでいてもそのまま重合反応に使用することができる。
上記反応の生成物は、必要に応じて、蒸留、薄膜蒸留、再結晶あるいはカラムクロマトグラフィーなどによって精製してもよい。
4.脂環ラクトン骨格を有する構成単位
本発明において、「脂環ラクトン」とは、環の少なくとも1つが炭素と水素のみで構成されているラクトンを指す。
本発明の第1の重合体は、上記式(1)で表される構成単位とともに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有する。また、本発明の第2の重合体も、上記式(10)で示される単量体の単独重合体、あるいは、2種以上の上記式(10)で示される単量体の共重合体であってもよいが、上記式(10)で示される単量体に由来する上記式(5)で表される構成単位とともに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有することが好ましい。脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有することにより、ドライエッチング耐性や金属表面等の極性の高い表面に対する密着性などが向上する。脂環ラクトン骨格を有する構成単位は、1種であっても、2種以上であってもよい。
脂環ラクトン骨格を有する構成単位が酸により脱離する保護基を有している場合、より優れた感度を有する。また、脂環ラクトン骨格を有する構成単位が高い炭素密度、つまり構成単位中の全原子数に対する炭素原子数の割合が高い場合、より優れたドライエッチング耐性を有する。
脂環ラクトン骨格を有する構成単位としては、感度あるいはドライエッチング耐性の点から、下記式(12−1)で表される構成単位、下記式(12−2)で表される構成単位、下記式(12−3)で表される構成単位、下記式(12−4)で表される構成単位、下記式(12−5)で表される構成単位が好ましい。
Figure 2005048126
(式(12−1)中、R101は水素原子またはメチル基を表し、A1、A2はそれぞれ独立に水素原子、炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基または炭素数1〜6のエステル基を表すか、あるいは、A1とA2とが一緒になって−O−、−S−、−NH−または炭素数1〜6のメチレン鎖[−(CH2k−(kは1〜6の整数を表す)]を表す。X6は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n6は0〜4の整数を表す。なお、n6が2以上の場合にはX6として複数の異なる基を有することも含む。
式(12−2)中、R102は水素原子またはメチル基を表し、A3、A4はそれぞれ独立に水素原子、炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基または炭素数1〜6のエステル基を表すか、あるいは、A3とA4とが一緒になって−O−、−S−、−NH−または炭素数1〜6のメチレン鎖[−(CH2l−(lは1〜6の整数を表す)]を表す。X7は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n7は0〜4の整数を表す。なお、n7が2以上の場合にはX7として複数の異なる基を有することも含む。
式(12−3)中、R103は水素原子またはメチル基を表し、R111、R121、R131はそれぞれ独立に水素原子またはメチル基を表す。Y11、Y21、Y31はそれぞれ独立に−CH2−または−CO−O−を表し、そのうち少なくとも一つは−CO−O−を表す。X8は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n8は0〜4の整数を表す。なお、n8が2以上の場合にはX8として複数の異なる基を有することも含む。
式(12−4)中、R104は水素原子またはメチル基を表し、R106、R107はそれぞれ独立に水素原子または炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基を表し、R112、R122、R132はそれぞれ独立に水素原子またはメチル基を表す。Y12、Y22、Y32はそれぞれ独立に−CH2−または−CO−O−を表し、そのうち少なくとも一つは−CO−O−を表す。X9は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n9は0〜4の整数を表す。なお、n9が2以上の場合にはX9として複数の異なる基を有することも含む。
式(12−5)中、R105は水素原子またはメチル基を表し、R108は水素原子または炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基を表し、R113、R123、R133はそれぞれ独立に水素原子またはメチル基を表す。Y13、Y23、Y33はそれぞれ独立に−CH2−または−CO−O−を表し、そのうち少なくとも一つは−CO−O−を表す。X10は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n10は0〜4の整数を表す。なお、n10が2以上の場合にはX10として複数の異なる基を有することも含む。)
なお、式(12−1)、式(12−2)、式(12−3)、式(12−4)および式(12−5)において、X6、X7、X8、X9およびX10で置換される位置は、環状構造のどの位置であってもよい。
式(12−1)中のA1、A2としては、ドライエッチング耐性が高い点から、−CH2−が好ましく、有機溶媒への溶解性が高い点から、−O−が好ましい。
式(12−1)中のn6は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(12−2)中のA3、A4としては、ドライエッチング耐性が高い点から、−CH2−が好ましく、有機溶媒への溶解性が高い点から、−O−が好ましい。
式(12−2)中のn7は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(12−3)中のR111、R121、R131としては、有機溶媒への溶解性が高い点から、水素原子が好ましい。
式(12−3)中のY11、Y21、Y31としては、金属表面等への密着性が高い点から、一つが−CO−O−であり、残りの二つが−CH2−であることが好ましい。
式(12−3)中のn8は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(12−4)中のR106、R107としては、感度および解像度の点から、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。
式(12−4)中のR112、R122、R132としては、有機溶媒への溶解性が高い点から、水素原子が好ましい。
式(12−4)中のY12、Y22、Y32としては、金属表面等への密着性が高い点から、一つが−CO−O−であり、残りの二つが−CH2−であることが好ましい。
式(12−4)中のn9は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(12−5)中のR108としては、感度および解像度の点から、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。
式(12−5)中のR113、R123、R133としては、有機溶媒への溶解性が高い点から、水素原子が好ましい。
式(12−5)中のY13、Y23、Y33としては、金属表面等への密着性が高い点から、一つが−CO−O−であり、残りの二つが−CH2−であることが好ましい。
式(12−5)中のn10は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
脂環ラクトン骨格を有する構成単位を重合体に導入するためには、脂環ラクトン骨格を有する単量体を共重合すればよい。脂環ラクトン骨格を有する単量体は、1種、あるいは、必要に応じて2種以上を組み合わせて使用することができる。
脂環ラクトン骨格を有する単量体としては、重合することにより上記式(12−1)〜(12−5)で表される構成単位となる単量体の他に、下記式(12−6)で表される単量体、下記式(12−7)で表される単量体、下記式(12−8)で表される単量体も好ましい。
Figure 2005048126
(式(12−6)中、R141は水素原子またはメチル基を表し、R142、R143はそれぞれ独立に炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基を表す。
式(12−7)中、R151は水素原子またはメチル基を表し、R152、R153はそれぞれ独立に炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基を表す。
式(12−8)中、R161は水素原子またはメチル基を表し、R162、R163はそれぞれ独立に炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基を表す。)
脂環ラクトン骨格を有する単量体として、具体的には、下記式(13−1)〜(13−21)で表される単量体が挙げられる。式(13−1)〜(13−21)中、Rは水素原子またはメチル基を表す。
Figure 2005048126
脂環ラクトン骨格を有する単量体としては、中でも、ドライエッチング耐性の点から、上記式(13−2)で表される単量体、上記式(13−6)で表される単量体、上記式(13−10)で表される単量体、上記式(13−14)で表される単量体、上記式(13−17)で表される単量体、および、これらの幾何異性体、光学異性体がより好ましく、また、レジスト溶媒への溶解性の点から、上記式(13−3)で表される単量体、上記式(13−7)で表される単量体、上記式(13−11)で表される単量体、上記式(13−15)で表される単量体、および、これらの幾何異性体、光学異性体がより好ましい。また、上記式(13−21)で表される単量体も好ましい。
5.本発明の重合体
本発明の第1の重合体は、上記式(1)で表される構成単位1種以上と、脂環ラクトン骨格を有する構成単位1種以上とを含有する。また、本発明の第2の重合体は、上記式(5)で表される構成単位1種以上を含有し、さらに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位1種以上を含有することが好ましい。
なお、本発明の重合体は、上記式(1)で表される構成単位1種以上と、上記式(5)で表される構成単位1種以上とを含有していてもよい。
また、本発明の重合体において、各構成単位は任意のシーケンスを取り得る。したがって、本発明の重合体は、共重合体の場合、ランダム共重合体であっても、交互共重合体であっても、ブロック共重合体であってもよい。
本発明の第1の重合体中の上記式(1)で表される構成単位の比率は、高い感度が得られる点から、合計で、10モル%以上が好ましく、15モル%以上がより好ましい。また、本発明の第1の重合体中の上記式(1)で表される構成単位の比率は、有機溶剤への溶解性の点から、合計で、90モル%以下が好ましく、70モル%以下がより好ましい。
本発明の第1の重合体中の脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率は、エッチング耐性に優れる点から、合計で、10モル%以上が好ましく、30モル%以上がより好ましい。また、本発明の第1の重合体中の脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率は、有機溶剤への溶解性の点から、合計で、90モル%以下が好ましく、70モル%以下がより好ましい。
本発明の第2の重合体中の上記式(5)で表される構成単位の比率は、エッチング耐性に優れる点から、合計で、10モル%以上が好ましく、15モル%以上がより好ましい。また、本発明の第2の重合体中の上記式(5)で表される構成単位の比率は、有機溶剤への溶解性の点から、合計で、90モル%以下が好ましく、70モル%以下がより好ましい。
本発明の第2の重合体中の脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率は、エッチング耐性に優れる点から、合計で、10モル%以上が好ましく、30モル%以上がより好ましい。また、本発明の第2の重合体中の脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率は、有機溶剤への溶解性の点から、合計で、90モル%以下が好ましく、70モル%以下がより好ましい。
本発明の重合体は、さらに、上記以外の構成単位を含有していてもよい。
特に、化学増幅型レジスト組成物用樹脂である場合、感度などの点から、本発明の重合体は、さらに、酸脱離性基を有する構成単位を含有することが好ましい。ここで「酸脱離性基」とは、酸の作用により分解または脱離する基のことをいう。酸脱離性基を有する構成単位は、全て同じである必要はなく、2種以上が混在するものであってもよい。
本発明の重合体中の酸脱離性基を有する構成単位の比率は、高い感度が得られる点から、合計で、10モル%以上が好ましく、30モル%以上がより好ましい。また、本発明の重合体中の酸脱離性基を有する構成単位の比率は、有機溶剤への溶解性の点から、合計で、90モル%以下が好ましく、70モル%以下がより好ましい。
本発明の第1の重合体においては、酸脱離性基を有する構成単位を含有する場合、上記式(1)で表される構成単位の比率が合計で15〜70モル%であり、脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で30〜70モル%であり、酸脱離性基を有する構成単位の比率が合計で30〜70モル%であることが特に好ましい。
また、本発明の第2の重合体においては、酸脱離性基を有する構成単位を含有する場合、上記式(5)で表される構成単位の比率が合計で15〜70モル%であり、脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で30〜70モル%であり、酸脱離性基を有する構成単位の比率が合計で30〜70モル%であることが特に好ましい。
酸脱離性基は、酸の作用により分解または脱離する基であれば特に限定されず、例えば、下記式(14−1)〜(14−9)で表される基が挙げられる。
Figure 2005048126
(式(14−1)中、R201は炭素数4〜20の三級アルキル基を表し、sは0〜10の整数を表す。
式(14−2)中、R202、R203はそれぞれ独立に水素原子または炭素数1〜18の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表し、R204は炭素数1〜20のヘテロ原子を含んでもよい一価の炭化水素基を表す。あるいは、R202とR203、R202とR204、または、R203とR204はそれらが結合している炭素原子とともに環状の炭化水素基を表す。
式(14−3)中、R205、R206、R207はそれぞれ独立に炭素数1〜18の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。あるいは、R205とR206、R205とR207、または、R206とR207はそれらが結合している炭素原子とともに環状の炭化水素基を表す。
式(14−4)中、R208、R209、R210はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表す。あるいは、R208とR209、R208とR210、または、R209とR210はそれらが結合している炭素原子とともに環状の炭化水素基を表す。ただし、R208、R209、R210のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A101は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。
式(14−5)中、R211、R212はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表し、R213はアルキル基またはアリール基を表す。あるいは、R211とR212、R211とR213、または、R212とR213はそれらが結合している炭素原子、酸素原子とともに環状の炭化水素基または脂肪族複素環を表す。ただし、R211、R212、R213のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A102は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。
式(14−6)中、R214、R215、R216はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表す。あるいは、R214とR215、R214とR216、または、R215とR216はそれらが結合しているケイ素原子とともに脂肪族複素環を表す。ただし、R214、R215、R216のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A103は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。
式(14−7)中、R217、R218、R219はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表す。あるいは、R217とR218、R217とR219、または、R218とR219はそれらが結合している炭素原子とともに環状の炭化水素基を表す。ただし、R217、R218、R219のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A104は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。
式(14−8)中、R220、R221はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表し、R222はアルキル基またはアリール基を表す。あるいは、R220とR221、R220とR222、または、R221とR222はそれらが結合している炭素原子、酸素原子とともに環状の炭化水素基または脂肪族複素環を表す。ただし、R220、R221、R222のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A105は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。
式(14−9)中、R223、R224、R225はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表す。あるいは、R223とR224、R223とR225、または、R224とR225はそれらが結合しているケイ素原子とともに脂肪族複素環を表す。ただし、R223、R224、R225のうち、少なくとも2つは水素以外の基を表す。A106は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。)
式(14−1)中、R201は炭素数4〜20、好ましくは炭素数4〜15の三級アルキル基を表し、sは0〜10の整数である。
式(14−1)で表される基として、具体的には、tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブトキシカルボニルメチル基、tert−アミロキシカルボニル基、tert−アミロキシカルボニルメチル基、1,1−ジエチルプロピルオキシカルボニル基、1,1−ジエチルプロピルオキシカルボニルメチル基、1−エチルシクロペンチルオキシカルボニル基、1−エチルシクロペンチルオキシカルボニルメチル基、1−エチル−2−シクロペンテニルオキシカルボニル基、1−エチル−2−シクロペンテニルオキシカルボニルメチル基、1−エトキシカルボニルメチル基、2−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルメチル基、2−テトラヒドロフラニルオキシカルボニルメチル基などが挙げられる。
式(14−2)中、R202、R203は、それぞれ独立に、水素原子または炭素数1〜18、好ましくは炭素数1〜10の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。このようなアルキル基として、具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、2−エチルシクロヘキシル基、n−オクチル基などが挙げられる。
式(14−2)中、R204は炭素数1〜20、好ましくは炭素数1〜10の酸素原子等のヘテロ原子を含んでもよい一価の炭化水素基を表す。R204としては、直鎖状、分岐状または環状のアルキル基、これらの水素原子の一部が水酸基、アルコキシ基、オキソ基、アミノ基、アルキルアミノ基などに置換されたものが挙げられる。
また、R202とR203、R202とR204、R203とR204は互いに結合して環を形成していてもよく、この場合には、R202、R203、R204は炭素数1〜18、好ましくは炭素数1〜10の酸素原子等のヘテロ原子を含んでもよいアルキレン基である。
式(14−2)で表される基として、具体的には、環状のものとしては、テトラヒドロフラン−2−イル基、2−メチルテトラヒドロフラン−2−イル基、テトラヒドロピラン−2−イル基、2−メチルテトラヒドロピラン−2−イル基などが挙げられる。また、直鎖状または分岐状のものとしては、下記に示す基などが挙げられる。
Figure 2005048126
式(14−2)で表される基としては、中でも、エトキシエチル基、ブトキシエチル基、エトキシプロピル基が好ましい。
式(14−3)中、R205、R206、R207は、それぞれ独立に、炭素数1〜18、好ましくは炭素数1〜10の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。このようなアルキル基としては、式(14−2)中のR202、R203と同様のものが挙げられる。
また、R205とR206、R205とR207、R206とR207は互いに結合して環を形成していてもよい。
式(14−3)で表される基として、具体的には、tert−ブチル基、tert−アミル基、トリエチルカルビル基、1−メチルシクロヘキシル基、1−エチルシクロペンチル基、1−エチルノルボルニル基、2−(2−メチル)アダマンチル基、2−(2−エチル)アダマンチル基、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−メチル−イソプロピル基、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−シクロヘキシル−イソプロピル基などが挙げられる。また、下記に示す基なども挙げられる。
Figure 2005048126
(式中、R24、R251、R252はそれぞれ独立に炭素数1〜6の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。R26、R27はそれぞれ独立に水素原子、ヘテロ原子を含んでもよい一価の炭化水素基またはヘテロ原子を介してもよい一価の炭化水素基を表す。この場合、ヘテロ原子としては、酸素原子、硫黄原子、窒素原子などが挙げられ、−OH、−OR28、−O−、−S−、−S(=O)−、−NH2、−NHR28、−N(R282、−NH−、−NR28−などの形態で含有または介在することができる。R28は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。)
24、R251、R252として、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、シクロプロピル基、シクロプロピルメチル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基などが挙げられる。
26、R27としては、水素原子の他には、直鎖状、分岐状または環状のアルキル基、ヒドロキシアルキル基、アルコキシ基、アルコキシアルキル基などが挙げられ、具体的には、メチル基、ヒドロキシメチル基、エチル基、ヒドロキシエチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、メトキシ基、メトキシメトキシ基、エトキシ基、tert−ブトキシ基などが挙げられる。
式(14−4)中、R208、R209、R210は、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基またはアリール基を表す。
アルキル基は、直鎖状であっても、分岐状であってもよい。アルキル基の炭素数は特に限定されないが、1〜18が好ましく、1〜10がより好ましい。また、シクロアルキル基の炭素数は特に限定されないが、1〜18が好ましく、1〜10がより好ましい。このようなアルキル基、シクロアルキル基としては、式(14−3)中のR205、R206、R207と同様のものが挙げられる。
アルケニル基の炭素数は特に限定されないが、2〜4が好ましい。このようなアルケニル基としては、ビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基などが挙げられる。
アリール基の炭素数は特に限定されないが、6〜14が好ましい。このようなアリール基としては、フェニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル基、ナフチル基、アントラセニル基などが挙げられる。
また、R208とR209、R208とR210、R209とR210は互いに結合して環を形成していてもよい。このような環を形成した基としては、式(14−3)中のR205とR206、R205とR207、R206とR207と同様のものが挙げられる。
式(14−4)中、A101は単環もしくは多環の置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素基を表す。この2価の芳香族炭化水素基の炭素数は特に限定されないが、6〜14が好ましい。このような2価の芳香族炭化水素基としては、フェニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル基、ナフチル基、アントラセニル基などが挙げられる。また、置換基としては、水酸基、ハロゲン原子(フッ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ基、シアノ基、メチル基・エチル基・プロピル基・イソプロピル基・n−ブチル基・sec−ブチル基・n−ペンチル基・n−ヘキシル基・シクロプロピル基・シクロプロピルメチル基・シクロブチル基・シクロペンチル基・シクロヘキシル基等のアルキル基、メトキシ基・エトキシ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキシプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・sec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアルコキシカルボニル基、ベンジル基・フェネチル基・クミル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等のアシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フェノキシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等のアリールオキシカルボニル基などが挙げられる。
式(14−5)中、R211、R212は、式(14−4)中のR208、R209、R210と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−5)中、R213はアルキル基またはアリール基を表す。
アルキル基は、直鎖状であっても、分岐状であってもよい。アルキル基の炭素数は特に限定されないが、1〜20が好ましく、1〜10がより好ましい。このようなアルキル基としては、式(14−2)中のR202、R203と同様のものが挙げられる。
アリール基の炭素数は特に限定されないが、6〜14が好ましい。このようなアリール基としては、フェニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル基、ナフチル基、アントラセニル基などが挙げられる。
また、R211とR212、R211とR213、R212とR213は互いに結合して環を形成していてもよく、この場合には、R211、R212、R213は、好ましくは炭素数1〜18、より好ましくは炭素数1〜10の酸素原子等のヘテロ原子を含んでもよいアルキレン基である。このような環を形成した基としては、式(14−2)中のR202とR203、R202とR204、R203とR204と同様のものが挙げられる。
式(14−5)中、A102は、式(14−4)中のA108と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−6)中、R214、R215、R216は、式(14−4)中のR208、R209、R210と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−6)中、A103は、式(14−4)中のA108と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−7)中、R217、R218、R219、A104は、それぞれ、式(14−4)中のR208、R209、R210、A101と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−8)中、R220、R221、R222、A105は、それぞれ、式(14−5)中のR211、R212、R213、A102と同様のものであり、好ましいものも同様である。
式(14−9)中、R223、R224、R225、A106は、それぞれ、式(14−6)中のR214、R215、R216、A103と同様のものであり、好ましいものも同様である。
酸脱離性基は、レジストに必要とされるドライエッチング耐性が高い点から、脂環式骨格を有することが好ましく、具体的には、式(14−3)で表される基として例示した下記に示す基が好ましい。
Figure 2005048126
(式中、R24、R251、R252はそれぞれ独立に炭素数1〜6の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。R26、R27はそれぞれ独立に水素原子、ヘテロ原子を含んでもよい一価の炭化水素基またはヘテロ原子を介してもよい一価の炭化水素基を表す。この場合、ヘテロ原子としては、酸素原子、硫黄原子、窒素原子などが挙げられ、−OH、−OR28、−O−、−S−、−S(=O)−、−NH2、−NHR28、−N(R282、−NH−、−NR28−などの形態で含有または介在することができる。R28は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状または環状のアルキル基を表す。)
酸脱離性基を有する構成単位としては、例えば、下記式(15−1)〜(15−4)で表される構成単位が挙げられる。
Figure 2005048126
(式(15−1)中、R81は水素原子またはメチル基を表す。式(15−2)中、R82は水素原子またはメチル基を表す。式(15−3)中、R83は水素原子またはメチル基を表す。式(15−4)中、R84は水素原子またはメチル基を表す。)
これらの中では、レジストに必要とされるドライエッチング耐性が高い点から、上記式(15−3)で表される構成単位、上記式(15−4)で表される構成単位が好ましい。
上記式(15−1)〜(15−4)で表される構成単位は、それぞれ、下記式(16−1)〜(16−4)で表される単量体を共重合することによって得られる。
Figure 2005048126
(式(16−1)中、R81は水素原子またはメチル基を表す。式(16−2)中、R82は水素原子またはメチル基を表す。式(16−3)中、R83は水素原子またはメチル基を表す。式(16−4)中、R84は水素原子またはメチル基を表す。)
酸脱離性基を有する構成単位としては、レジストに必要とされるドライエッチング耐性が高い点から、脂環式骨格を有する構成単位であることが好ましい。脂環式骨格を有する構成単位とは、環状の炭化水素基を1個以上有する構造を有する構成単位である。このような構成単位は、通常、環状の炭化水素基が酸の作用により脱離する基である。
酸脱離性基を有する構成単位としては、レジストに必要とされるドライエッチング耐性が高い点から、下記式(17−1)で表される構成単位、下記式(17−2)で表される構成単位、下記式(17−3)で表される構成単位が特に好ましい。
Figure 2005048126
(式(17−1)中、R301は水素原子またはメチル基を表し、R304は炭素数1〜3のアルキル基を表し、X11は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n11は0〜4の整数を表す。なお、n11が2以上の場合にはX11として複数の異なる基を有することも含む。
式(17−2)中、R302は水素原子またはメチル基を表し、R305、R306はそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基を表し、X12は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n12は0〜4の整数を表す。なお、n12が2以上の場合にはX12として複数の異なる基を有することも含む。
式(17−3)中、R303は水素原子またはメチル基を表し、R307は炭素数1〜3のアルキル基を表し、X13は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n13は0〜4の整数を表し、qは0または1を表す。なお、n13が2以上の場合にはX13として複数の異なる基を有することも含む。)
なお、式(17−1)、式(17−2)および式(17−3)において、X11、X12およびX13で置換される位置は、環状構造のどの位置であってもよい。
式(17−1)中のR304としては、感度および解像度の点から、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。
式(17−1)中のn11は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(17−2)中のR305、R306としては、感度および解像度の点から、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。
式(17−2)中のn12は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(17−3)中のR307としては、感度および解像度の点から、メチル基、エチル基、イソプロピル基が好ましい。
式(17−3)中のn13は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
式(17−3)中のqは、ドライエッチング耐性が高い点から、1であることが好ましい。
酸脱離性基を有する構成単位を重合体に導入するためには、酸脱離性基を有する単量体を共重合すればよい。酸脱離性基を有する単量体は、1種、あるいは、必要に応じて2種以上を組み合わせて使用することができる。
酸脱離性基を有する単量体として、具体的には、下記式(18−1)〜(18−18)で表される単量体が挙げられる。式(18−1)〜(18−18)中、Rは水素原子またはメチル基を表す。
Figure 2005048126
酸脱離性基を有する単量体としては、中でも、感度および解像度の点から、上記式(18−1)で表される単量体、上記式(18−2)で表される単量体、上記式(18−5)で表される単量体、上記式(18−16)で表される単量体あるいはこの幾何異性体、および、これらの光学異性体がより好ましく、上記式(18−1)で表される単量体、上記式(18−2)で表される単量体が特に好ましい。
また、酸脱離性基を有する構成単位としては、下記に示すものも挙げられる。
Figure 2005048126
(式中、R80は酸脱離性基を表す。)
本発明の重合体は、さらに、上記以外の構成単位を含有していてもよい。すなわち、本発明の重合体は、上記式(6)で表される単量体、上記式(10)で表される単量体、脂環ラクトン骨格を有する単量体および酸脱離性基を有する単量体以外の共重合可能な他の単量体を共重合したものであってもよい。
本発明の重合体は、例えば、酸脱離性基を有しない、脂環式骨格を有する構成単位を含有することができる。脂環式骨格を有する構成単位とは、環状の炭化水素基を1個以上有する構造を有する構成単位である。この脂環式骨格を有する構成単位は、1種としても、2種以上としてもよい。
脂環式骨格を有する構成単位を含有するレジスト用重合体は、ドライエッチング耐性に優れている。さらには、これらの構成単位が水酸基を有している場合、より優れたレジストパターン形状安定性を有する。
脂環式骨格を有する構成単位としては、レジストに必要とされるドライエッチング耐性が高い点から、下記式(19−1)で表される構成単位が好ましい。
Figure 2005048126
式(19−1)中、R408は水素原子またはメチル基を表し、X24は、置換基としてヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のエステル基およびアミノ基からなる群より選ばれる少なくとも一つの基を有していてもよい炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のエステル基またはアミノ基を表し、n24は0〜4の整数を表す。なお、n24が2以上の場合にはX24として複数の異なる基を有することも含む。)
なお、式(19−1)において、X24で置換される位置は、環状構造のどの位置であってもよい。
式(19−1)中のn24は、ドライエッチング耐性が高い点から、0であることが好ましい。
脂環式骨格を有する構成単位を重合体に導入するためには、脂環式骨格を有する単量体を共重合すればよい。脂環式骨格を有する単量体は、1種、あるいは、必要に応じて2種以上を組み合わせて使用することができる。
脂環式骨格を有する単量体としては、例えば、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸イソボルニル、(メタ)アクリル酸アダマンチル、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンタジエニル、(メタ)アクリル酸テトラシクロドデカニル、および、これらの化合物の環式炭化水素基上に置換基を有する誘導体が好ましい。
脂環式骨格を有する単量体として、具体的には、下記式(20−1)〜(20−4)で表される単量体が挙げられる。式(20−1)〜(20−4)中、Rは水素原子またはメチル基を表す。
Figure 2005048126
また、それ以外の共重合可能な他の単量体としては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸n−プロピル、(メタ)アクリル酸イソプロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸イソブチル、(メタ)アクリル酸t−ブチル、(メタ)アクリル酸メトキシメチル、(メタ)アクリル酸n−プロポキシエチル、(メタ)アクリル酸i−プロポキシエチル、(メタ)アクリル酸n−ブトキシエチル、(メタ)アクリル酸i−ブトキシエチル、(メタ)アクリル酸t−ブトキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシ−n−プロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシ−n−ブチル、(メタ)アクリル酸2−エトキシエチル、(メタ)アクリル酸1−エトキシエチル、(メタ)アクリル酸2,2,2−トリフルオロエチル、(メタ)アクリル酸2,2,3,3−テトラフルオロ−n−プロピル、(メタ)アクリル酸2,2,3,3,3−ペンタフルオロ−n−プロピル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸メチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸エチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸2−エチルヘキシル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸n−プロピル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸i−プロピル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸n−ブチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸i−ブチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸t−ブチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸メトキシメチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸エトキシエチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸n−プロポキシエチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸i−プロポキシエチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸n−ブトキシエチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸i−ブトキシエチル、α−(トリ)フルオロメチルアクリル酸t−ブトキシエチル等の直鎖または分岐構造を持つ(メタ)アクリル酸エステル;
スチレン、α−メチルスチレン、ビニルトルエン、p−ヒドロキシスチレン、p−t−ブトキシカルボニルヒドロキシスチレン、3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシスチレン、3,5−ジメチル−4−ヒドロキシスチレン、p−t−ぺルフルオロブチルスチレン、p−(2−ヒドロキシ−i−プロピル)スチレン等の芳香族アルケニル化合物;
アクリル酸、メタクリル酸、マレイン酸、無水マレイン酸、イタコン酸、無水イタコン酸等の不飽和カルボン酸およびカルボン酸無水物;
エチレン、プロピレン、ノルボルネン、テトラフルオロエチレン、アクリルアミド、N−メチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアクリルアミド、塩化ビニル、エチレン、フッ化ビニル、フッ化ビニリデン、テトラフルオロエチレン、ビニルピロリドン等
が挙げられる。これらの単量体は、必要に応じて1種または2種以上を組み合わせて使用することができる。
他の単量体は、本発明の効果を大きく損なわない範囲内で用いることができる。通常、他の単量体は、単量体成分全体に対して20モル%以下の範囲で用いることが好ましい。
本発明の重合体をArFエキシマレーザーリソグラフィー用に使用する場合は、脂環式骨格を有する構成単位と脂環ラクトン骨格を有する構成単位の両方を含有することが好ましい。
本発明の重合体の質量平均分子量は特に限定されないが、1,000以上であることが好ましく、また、100,000以下であることが好ましい。本発明の重合体の質量平均分子量は、5,000以上であることがより好ましく、また、20,000以下であることがより好ましい。
6.本発明の重合体の製造方法
本発明の重合体は、通常、重合開始剤の存在下で、上記式(6)で表される単量体1種以上と、脂環ラクトン骨格を有する単量体1種以上とを含む単量体組成物、あるいは、上記式(10)で表される単量体1種以上を含む単量体組成物を共重合して得られる。このような重合開始剤を使用する重合では、まず重合開始剤のラジカル体が反応溶液中に生じ、このラジカル体を起点として単量体の連鎖重合が進行する。
本発明の重合体の製造に用いられる重合開始剤としては、熱により効率的にラジカルを発生するものが好ましい。このような重合開始剤としては、例えば、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、ジメチル−2,2’−アゾビスイソブチレート等のアゾ化合物;2,5−ジメチル−2,5−ビス(tert−ブチルパーオキシ)ヘキサン等の有機過酸化物などが挙げられる。また、ArFエキシマレーザー(波長:193nm)光源を用いるリソグラフィーにおいて使用されるレジスト用重合体を製造する場合は、得られるレジスト用重合体の光線透過率(波長193nmの光に対する透過率)をできるだけ低下させない点から、用いる重合開始剤としては、分子構造中に芳香環を有しないものが好ましい。さらに、重合時の安全性等を考慮すると、用いる重合開始剤としては、10時間半減期温度が60℃以上のものが好ましい。
本発明の重合体を製造する際には、連鎖移動剤を使用してもよい。連鎖移動剤を使用することにより、低分子量の重合体を製造する場合に重合開始剤の使用量を少なくすることができ、また、得られる重合体の分子量分布を小さくすることができる。
好適な連鎖移動剤としては、例えば、1−ブタンチオール、2−ブタンチオール、1−オクタンチオール、1−デカンチオール、1−テトラデカンチオール、シクロヘキサンチオール、2−メチル−1−プロパンチオール、2−メルカプトエタノール等が挙げられる。
重合反応においては、成長末端にラジカルを持つ重合体が反応溶液中に生じるが、連鎖移動剤を使用すると、この成長末端のラジカルと連鎖移動剤とが衝突し、成長末端が失活した重合体になる。一方、連鎖移動剤はラジカルを持った構造、すなわちラジカル体になり、このラジカル体が起点となって再び単量体が連鎖重合していく。そのため、得られた重合体の末端には連鎖移動残基が存在する。ArFエキシマレーザー(波長:193nm)光源を用いるリソグラフィーにおいて使用されるレジスト用重合体を製造する場合は、得られるレジスト用重合体の光線透過率(波長193nmの光に対する透過率)をできるだけ低下させない点から、用いる連鎖移動剤としては、芳香環を有しないものが好ましい。
重合開始剤の使用量は特に限定されないが、通常、共重合に使用する単量体全量に対して1〜20モル%が好ましい。また、連鎖移動剤の使用量は特に限定されないが、通常、共重合に使用する単量体全量に対して1〜20モル%が好ましい。
本発明の重合体を製造する方法は特に限定されないが、一般に溶液重合で行われ、単量体を重合容器中に滴下する滴下重合と呼ばれる重合方法が好ましい。中でも、組成分布および/または分子量分布の狭い重合体が簡便に得られる点から、重合することにより目的とする重合体の構成単位となる単量体(単量体のみであっても、単量体を有機溶剤に溶解させた溶液であってもよい)を重合容器中に滴下しながら重合を行う滴下重合と呼ばれる重合方法により本発明の重合体を製造することが好ましい。
滴下重合法においては、例えば、有機溶剤をあらかじめ重合容器に仕込み、所定の重合温度まで加熱した後、単量体および重合開始剤、必要に応じて連鎖移動剤を有機溶剤に溶解させた単量体溶液を、重合容器内の有機溶剤中に滴下する。単量体は有機溶剤に溶解させずに滴下してもよく、その場合、重合開始剤と必要に応じて連鎖移動剤とを単量体に溶解させた溶液を有機溶剤中に滴下する。また、有機溶剤をあらかじめ重合容器内に仕込まずに単量体を重合容器中に滴下してもよい。
滴下重合法における重合温度は特に限定されないが、通常、50〜150℃の範囲内であることが好ましい。
滴下重合法において用いられる有機溶剤としては、用いる単量体、重合開始剤および得られる重合体、連鎖移動剤を併用する場合はその連鎖移動剤のいずれをも溶解できる溶剤が好ましい。このような有機溶媒としては、例えば、1,4−ジオキサン、イソプロピルアルコール、アセトン、テトラヒドロフラン(以下「THF」とも言う。)、メチルイソブチルケトン、γ−ブチロラクトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(以下「PGMEA」とも言う。)、乳酸エチル等が挙げられる。
滴下する、有機溶剤に溶解させた単量体溶液の単量体濃度は特に限定されないが、5〜50質量%の範囲内であることが好ましい。
なお、重合容器に仕込む有機溶剤の量は特に限定されず、適宜決めればよい。通常は、重合に使用する単量体全量に対して10〜200質量%の範囲内にする。
この滴下重合法では、単量体の一部を予め重合容器に仕込んでおいてもよい。予め重合容器に仕込んでおく単量体の量は、重合に使用する単量体全量に対して3〜70質量%の範囲内が好ましい。
また、この滴下重合法では、各単量体の重合速度や共重合反応性比によって、単量体の組成比が異なる、2種以上の単量体溶液を連続して滴下することができる。単量体の組成比が異なる、2種以上の単量体溶液を連続して滴下するとは、前段の単量体溶液の重合容器内への滴下が終了する前に、次段の単量体溶液の重合容器内への滴下を開始してもよいし、前段の単量体溶液の重合容器内への滴下が終了した直後に、次段の単量体溶液の重合容器内への滴下を開始してもよいし、また、前段の単量体溶液の重合容器内への滴下が終了した後から、重合が終了するまでの間の任意のタイミングで、次段の単量体溶液の重合容器内への滴下を開始してもよい。
また、単量体、重合開始剤および連鎖移動剤などは、それぞれ単独に滴下してもよい。
溶液重合等の方法によって製造された重合体溶液は、必要に応じて、1,4−ジオキサン、アセトン、THF、メチルイソブチルケトン、γ−ブチロラクトン、PGMEA、乳酸エチル等の良溶媒で適当な溶液粘度に希釈した後、メタノール、水等の多量の貧溶媒中に滴下して重合体を析出させる。この工程は一般に再沈殿と呼ばれ、重合溶液中に残存する未反応の単量体や重合開始剤等を取り除くために非常に有効である。これらの未反応物は、そのまま残存しているとレジスト性能に悪影響を及ぼす可能性があるので、できるだけ取り除くことが好ましい。再沈殿工程は、場合により不要となることもある。その後、その析出物を濾別し、十分に乾燥して本発明の重合体を得る。また、濾別した後、乾燥せずに湿粉のまま使用することもできる。
また、製造された重合体溶液はそのまま、または適当な溶剤で希釈してレジスト組成物等として使用することもできる。その際、保存安定剤などの添加剤を適宜添加してもよい。
7.本発明のレジスト組成物
本発明のレジスト組成物は、上記のような本発明の重合体(本発明のレジスト用重合体とも言う。)を溶剤に溶解したものである。また、本発明の化学増幅型レジスト組成物は、上記のような本発明のレジスト用重合体および光酸発生剤を溶剤に溶解したものである。本発明のレジスト用重合体は、1種を用いても、2種以上を併用してもよい。なお、溶液重合等によって得られた重合体溶液から重合体を分離することなく、この重合体溶液をそのままレジスト組成物に使用すること、あるいは、この重合体溶液を適当な溶剤で希釈してレジスト組成物に使用することもできる。
本発明のレジスト組成物において、本発明のレジスト用重合体を溶解させる溶剤は目的に応じて任意に選択されるが、溶剤の選択は樹脂の溶解性以外の理由、例えば、塗膜の均一性、外観あるいは安全性などからも制約を受けることがある。
本発明において使用される溶剤としては、例えば、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、2−ペンタノン、2−ヘキサノン等の直鎖もしくは分岐鎖ケトン類;シクロペンタノン、シクロヘキサノン等の環状ケトン類;PGMEA、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールモノアルキルアセテート類;エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノイソプロピルエーテル等のエチレングリコールモノアルキルエーテル類;ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル等のジエチレングリコールアルキルエーテル類;酢酸エチル、乳酸エチル等のエステル類;n−プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、n−ブチルアルコール、tert−ブチルアルコール、シクロヘキサノール、1−オクタノール等のアルコール類;1,4−ジオキサン、炭酸エチレン、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。これらの溶剤は、1種を用いても、2種以上を併用してもよい。
溶剤の含有量は、通常、レジスト用重合体(本発明の重合体)100質量部に対して200質量部以上であり、300質量部以上であることがより好ましい。また、溶剤の含有量は、通常、レジスト用重合体(本発明の重合体)100質量部に対して5000質量部以下であり、2000質量部以下であることがより好ましい。
本発明のレジスト用重合体を化学増幅型レジストに使用する場合は、光酸発生剤を用いることが必要である。
このような光酸発生剤としては、例えば、オニウム塩化合物、スルホンイミド化合物、スルホン化合物、スルホン酸エステル化合物、キノンジアジド化合物、ジアゾメタン化合物等が挙げられる。光酸発生剤としては、中でも、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩等のオニウム塩化合物が好ましく、具体的には、トリフェニルスルホニウムトリフレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムナフタレンスルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチルスルホニウムトルエンスルホネート、ジフェニルヨードニウムトリフレート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート等が挙げられる。光酸発生剤は、1種を用いても、2種以上を併用してもよい。
光酸発生剤の含有量は、選択された光酸発生剤の種類により適宜決められるが、通常、レジスト用重合体(本発明の重合体)100質量部に対して0.1質量部以上であり、0.5質量部以上であることがより好ましい。光酸発生剤の含有量をこの範囲にすることにより、露光により発生した酸の触媒作用による化学反応を十分に生起させることができる。また、光酸発生剤の含有量は、通常、レジスト用重合体(本発明の重合体)100質量部に対して20質量部以下であり、10質量部以下であることがより好ましい。光酸発生剤の含有量をこの範囲にすることにより、レジスト組成物の安定性が向上し、組成物を塗布する際の塗布むらや現像時のスカム等の発生が十分に少なくなる。
さらに、本発明のレジスト組成物には、必要に応じて、界面活性剤、クエンチャー、増感剤、ハレーション防止剤、保存安定剤、消泡剤等の各種添加剤を配合することもできる。これらの添加剤の種類、配合量は特に限定されず、適宜決めればよい。
8.本発明のパターン形成方法
次に、本発明のパターン形成方法の一例について説明する。
最初に、パターンを形成するシリコンウエハー等の被加工基板の表面に、本発明のレジスト組成物をスピンコート等により塗布する。そして、このレジスト組成物が塗布された被加工基板は、ベーキング処理(プリベーク)等で乾燥し、基板上にレジスト膜を形成する。
次いで、このようにして得られたレジスト膜に、フォトマスクを介して、250nm以下の波長の光を照射する(露光)。露光に用いる光は、KrFエキシマレーザーまたはArFエキシマレーザーであることが好ましく、特にArFエキシマレーザーであることが好ましい。また、電子線で露光することも好ましい。
光照射(露光)後、適宜熱処理(露光後ベーク、PEB)し、基板をアルカリ現像液に浸漬し、露光部分を現像液に溶解除去する(現像)。アルカリ現像液は公知のものいずれを用いてもよい。そして、現像後、基板を純水等で適宜リンス処理する。このようにして被加工基板上にレジストパターンが形成される。
通常、レジストパターンが形成された被加工基板は、適宜熱処理(ポストベーク)してレジストを強化し、レジストのない部分を選択的にエッチングする。エッチングを行った後、レジストは、通常、剥離剤を用いて除去される。
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。また、各実施例、比較例中「部」とあるのは、特に断りのない限り「質量部」を示す。
また、以下のようにして製造した重合体の物性等を測定した。
<レジスト用重合体の重量平均分子量>
約20mgのレジスト用重合体を5mLのTHFに溶解し、0.5μmメンブランフィルターで濾過して試料溶液を調製し、この試料溶液を東ソー製ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)を用いて測定した。この測定は、分離カラムは昭和電工社製、Shodex GPC K−805L(商品名)を3本直列にしたものを用い、溶剤はTHF、流量1.0mL/min、検出器は示差屈折計、測定温度40℃、注入量0.1mLで、標準ポリマーとしてポリスチレンを使用して測定した。
<レジスト用重合体の平均共重合組成比(モル%)>
1H−NMRの測定により求めた。この測定は、日本電子(株)製、GSX−400型FT−NMR(商品名)を用いて、約5質量%のレジスト用重合体試料の重水素化クロロホルム、重水素化アセトンあるいは重水素化ジメチルスルホキシドの溶液を直径5mmφの試験管に入れ、測定温度40℃、観測周波数400MHz、シングルパルスモードにて、64回の積算で行った。
また、製造した重合体を用い、以下のようにしてレジスト組成物を調製し、その物性等を測定した。
<レジスト組成物の調製>
製造したレジスト用重合体100部と、光酸発生剤であるトリフェニルスルホニウムトリフレート2部と、溶剤であるPGMEA700部とを混合して均一溶液とした後、孔径0.1μmのメンブランフィルターで濾過し、レジスト組成物溶液を調製した。
<レジストパターンの形成>
調製したレジスト組成物溶液をシリコンウエハー上にスピンコートし、ホットプレートを用いて120℃、60秒間プリベークを行い、膜厚0.4μmのレジスト膜を形成した。次いで、ArFエキシマレーザー露光機(波長:193nm)を使用して露光した後、ホットプレートを用いて120℃、60秒間露光後ベークを行った。次いで、2.38質量%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液を用いて室温で現像し、純水で洗浄し、乾燥してレジストパターンを形成した。
<感度>
0.16μmのライン・アンド・スペース(L/S=1/1)を1/1の線幅に形成する最小露光量(mJ/cm2)を感度として測定した。
<解像度>
前記露光量で露光したときに解像されるレジストパターンの最小寸法(μm)を解像度とした。
<エッチング速度>
シリコンウエハー上に形成したレジスト膜をエッチングし、膜厚の減少量から各レジストのエッチング速度(ノボラック樹脂のエッチング速度を1として規格化)を求めた。エッチングは、東京エレクトロン社製エッチングマシーンを用い、ガスはC48/Ar/O2混合ガスで、2000W,50mTorrで50秒間実施した。エッチング速度が小さいほどドライエッチング耐性が優れている。
<実施例1>
窒素導入口、攪拌機、コンデンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(以下、PGMEAと言う。)191.4部を入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃に上げた。下記式(21)で表される単量体(以下、M−1と言う。)41.5部、
Figure 2005048126
下記式(22)で表される2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダマンタン(以下、MAdMAと言う。)93.7部、
Figure 2005048126
下記式(23)で表される単量体(以下、M−2と言う。)94.5部、
Figure 2005048126
PGMEA344.5部および2,2’−アゾビスイソブチロニトリル(以下、AIBNと言う。)16.4部を混合した単量体溶液を、滴下装置を用い、一定速度で6時間かけてフラスコ中へ滴下し、その後、80℃で1時間保持した。次いで、得られた反応溶液を30倍量のメタノール中に攪拌しながら滴下し、白色の析出物の沈殿(共重合体A−1)を得た。沈殿物に残存する単量体を取り除くために、得られた沈殿を濾別し、重合に使用した単量体に対して30倍量のメタノール中で沈殿を洗浄した。そして、この沈殿を濾別し、減圧下50℃で約40時間乾燥した。
得られた共重合体A−1の各物性を測定した結果を表1に示す。
<実施例2>
窒素導入口、攪拌機、コンデンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、PGMEA186.7部を入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃に上げた。M−1を41.5部、MAdMAを93.7部、下記式(24)で表される単量体(以下、M−3と言う。)88.9部、
Figure 2005048126
PGMEA336.1部およびAIBN16.4部を混合した単量体溶液を、滴下装置を用い、一定速度で6時間かけてフラスコ中へ滴下し、その後、80℃で1時間保持した。以降の操作は実施例1と同様にして共重合体A−2を得た。
得られた共重合体A−2の各物性を測定した結果を表1に示す。
<実施例3>
窒素導入口、攪拌機、コンデンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、PGMEA195.7部を入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃に上げた。M−3を111.1部、下記式(25)で表される単量体(以下、M−4と言う。)123.7部、
Figure 2005048126
PGMEA352.2部およびAIBN16.4部を混合した単量体溶液を、滴下装置を用い、一定速度で6時間かけてフラスコ中へ滴下し、その後、80℃で1時間保持した。以降の操作は実施例1と同様にして共重合体A−3を得た。
得られた共重合体A−3の各物性を測定した結果を表1に示す。
<実施例4>
窒素導入口、攪拌機、コンデンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、PGMEA194.1部を入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃に上げた。下記式(26)で表される単量体(以下、M−5と言う。)55.1部、
Figure 2005048126
下記式(27)で表される単量体(以下、M−6と言う。)84.1部、
Figure 2005048126
MAdMA93.7部、PGMEA349.3部およびAIBN16.4部を混合した単量体溶液を、滴下装置を用い、一定速度で6時間かけてフラスコ中へ滴下し、その後、80℃で1時間保持した。以降の操作は実施例1と同様にして共重合体A−4を得た。
得られた共重合体A−4の各物性を測定した結果を表1に示す。
<比較例1>
窒素導入口、攪拌機、コンデンサーおよび温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気下で、PGMEA170.0部を入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃に上げた。M−1を41.5部、MAdMAを93.7部、下記式(28)で表されるα−メタクリロイルオキシ−γ−ブチロラクトン(以下、GBLMAと言う。)68.1部、
Figure 2005048126
PGMEA304.3部およびAIBN16.4部を混合した単量体溶液を、滴下装置を用い、一定速度で6時間かけてフラスコ中へ滴下し、その後、80℃で1時間保持した。以降の操作は実施例1と同様にして共重合体B−1を得た。
得られた共重合体B−1の各物性を測定した結果を表1に示す。
Figure 2005048126
本発明の重合体を用いたレジスト組成物(実施例1〜4)は、十分な感度および解像度を備えた上に、ドライエッチング耐性に優れていた。一方、比較例1の重合体を用いたレジスト組成物は、ドライエッチング耐性の点で劣っていた。
本発明の重合体は、塗料、接着剤、粘着剤、インキ用レジン、レジスト、光学材料等の構成成分樹脂として有用である。特に、本発明の重合体を、DUVエキシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー等においてレジスト樹脂として用いた場合に、高感度、高解像度であり、ドライエッチング耐性に優れているため、高精度の微細なレジストパターンを安定して形成することができる。そのため、本発明の重合体を用いたレジスト組成物は、DUVエキシマレーザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー、特にArFエキシマレーザー(波長:193nm)を使用するリソグラフィーに好適に用いることができる。

Claims (20)

  1. 下記式(1)で表される構成単位と、脂環ラクトン骨格を有する構成単位とを含有する重合体。
    Figure 2005048126
    (式(1)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。R2〜R5は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L1は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n1は、0〜3の整数を表す。m1は、0または1を表す。
    ただし、n1が2以上の場合には、L1は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
  2. 上記式(1)で表される構成単位が、下記式(2)で表される構成単位である請求項1に記載の重合体。
    Figure 2005048126
    (式(2)中、R21は、水素原子またはメチル基を表す。Zは、エステル結合している炭素原子とともに、環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を構成する原子団を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。)
  3. 上記式(1)で表される構成単位が、下記式(3)で表される構成単位である請求項1に記載の重合体。
    Figure 2005048126
    (式(3)中、R31は、水素原子またはメチル基を表す。R32は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R33〜R35は、そのうち2つ以上が一緒になって、それらが結合している炭素原子とともに、炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち少なくとも1つが炭素数1〜8の環状アルキル基または橋かけ環式炭化水素基を表し、それ以外が、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、シアノ基、炭素数1〜8の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表す。環状アルキル基および橋かけ環式炭化水素基は、置換基を有していてもよく、また、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。L3は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n3は、0〜3の整数を表す。
    ただし、n3が2以上の場合には、L3は、全て同じでなくてもよく、2種以上が混在していてもよい。)
  4. 上記式(1)で表される構成単位が、下記式(4)で表される構成単位である請求項1に記載の重合体。
    Figure 2005048126
    (式(4)中、R41は、水素原子またはメチル基を表す。R42は、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表す。R43〜R46は、それぞれ独立に、水素原子、または、炭素数1〜4の直鎖または分岐アルキル基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって炭素数1〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。)
  5. 上記式(1)で表される構成単位が、下記式(1−1)で表される構成単位、下記式(1−2)で表される構成単位、下記式(1−3)で表される構成単位、下記式(1−4)で表される構成単位、および、下記式(1−5)で表される構成単位からなる群より選ばれる少なくとも1種である請求項1に記載の重合体。
    Figure 2005048126
    (式(1−1)〜(1−5)中、R1は、水素原子またはメチル基を表す。)
  6. 上記式(1)で表される構成単位の比率が合計で10〜90モル%であり、
    脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で10〜90モル%である請求項1〜5のいずれかに記載の重合体。
  7. さらに、酸脱離性基を有する構成単位を含有する請求項1〜6のいずれかに記載の重合体。
  8. 下記式(5)で表される構成単位を含有する重合体。
    Figure 2005048126
    (式(5)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。R52〜R59は、それぞれ独立に、少なくとも一つはシアノ基を表し、それ以外は水素原子、ヒドロキシ基、カルボキシ基、炭素数1〜6の直鎖または分岐アルキル基、炭素数1〜6のエステル基、または、アルコキシ基を表すか、あるいは、そのうち2つ以上が一緒になって−O−、−S−、−NH−または炭素数2〜6のアルキレン基を表す。アルキレン基は、置換基を有していてもよく、分岐していてもよい。L51は、−CH2−、−O−、−CH2−O−、−C(O)−、−CH2−C(O)−、−C(O)O−、−O−C(O)−、または、−O−C(O)O−を表す。n5は、0または1を表す。)
  9. 上記式(5)で表される構成単位が、下記式(5−1)で表される構成単位、および、下記式(5−2)で表される構成単位からなる群より選ばれる少なくとも1種である請求項8に記載の重合体。
    Figure 2005048126
    (式(5−1)および式(5−2)中、R51は、水素原子またはメチル基を表す。)
  10. さらに、脂環ラクトン骨格を有する構成単位を含有する請求項8または9に記載の重合体。
  11. 上記式(5)で表される構成単位の比率が合計で10〜90モル%であり、
    脂環ラクトン骨格を有する構成単位の比率が合計で10〜90モル%である請求項10に記載の重合体。
  12. さらに、酸脱離性基を有する構成単位を含有する請求項8〜11のいずれかに記載の重合体。
  13. 質量平均分子量が1,000〜100,000である請求項1〜12のいずれかに記載の重合体。
  14. 重合することにより目的とする重合体の構成単位となる単量体を含む溶液を重合容器中に滴下しながら重合を行う請求項1〜13のいずれかに記載の重合体の製造方法。
  15. 請求項1〜13のいずれかに記載の重合体1種以上を含有するレジスト組成物。
  16. 請求項1〜13のいずれかに記載の重合体1種以上と、光酸発生剤とを含有するレジスト組成物。
  17. 前記光酸発生剤の含有量が、前記重合体100質量部に対して0.1〜20質量部である請求項16に記載のレジスト組成物。
  18. 請求項15〜17のいずれかに記載のレジスト組成物を被加工基板上に塗布する工程と、
    250nm以下の波長の照射光で露光する工程と、
    現像液を用いて現像する工程と
    を有するパターン形成方法。
  19. 露光に用いる光が、ArFエキシマレーザーである請求項18に記載のパターン形成方法。
  20. 請求項15〜17のいずれかに記載のレジスト組成物を被加工基板上に塗布する工程と、
    電子線で露光する工程と、
    現像液を用いて現像する工程と
    を有するパターン形成方法。
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