JP2001018220A - セラミック基板の分割方法 - Google Patents

セラミック基板の分割方法

Info

Publication number
JP2001018220A
JP2001018220A JP11197042A JP19704299A JP2001018220A JP 2001018220 A JP2001018220 A JP 2001018220A JP 11197042 A JP11197042 A JP 11197042A JP 19704299 A JP19704299 A JP 19704299A JP 2001018220 A JP2001018220 A JP 2001018220A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic substrate
dicing
substrate
blade
dividing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11197042A
Other languages
English (en)
Inventor
Shizue Tanaka
志津枝 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11197042A priority Critical patent/JP2001018220A/ja
Publication of JP2001018220A publication Critical patent/JP2001018220A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
  • Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 分割形状不良が発生することはなく、かつダ
イシング時のブレード消耗ばらつきによるセラミック基
板の切れ残りという問題が生じることもなく、安定した
基板分割を行うことができるセラミック基板の分割方法
を提供することを目的とする。 【解決手段】 一方の面の分割部分にブレイク溝11a
を有するセラミック基板11を備え、このセラミック基
板11の他方の面における前記ブレイク溝11aと対応
する部分をダイシングすることにより、前記セラミック
基板11を分割するようにしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗素子やチ
ップ抵抗器などのチップ部品の基材として用いられるセ
ラミック基板の分割方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種のセラミック基板の分割方
法としては、特開平8−241808号公報に示されて
いるように、セラミック基板に形成されたブレイク溝に
沿って「折る」または「割る」といった操作を行うこと
により、個片に分割していた。
【0003】またアルミナ基板を基材とする磁気抵抗素
子においても同様に、アルミナ基板に形成されたブレイ
ク溝に沿って「折る」または「割る」といった操作を行
うことにより、個片に分割していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の「折る」または「割る」という基板の分割方法で
は、図5に示すように、ブレイク溝1に沿って基板2を
分割した際に、斜めにクラック3が走り、端面形状の不
良が生じるという問題点を有していた。このような端面
形状の不良が生じた場合、外観上問題があるだけでな
く、実装上の支障が生じるという問題点も有していた。
【0005】また、「折る」または「割る」以外の分割
方法として、シリコン基板でよく使用されるダイシング
法のように、ブレードを高速回転させることにより、ブ
レードを破砕しながら基板も破砕して「切り離す」方法
があるが、アルミナ基板のダイシング時は、ブレードの
消耗が非常に大きく、ダイシング条件の設定に問題を有
するものであった。
【0006】ダイシングを行うときのブレードの半径消
耗量を図6に示す。ブレードの種類によっても差がある
が、消耗量としては、シリコン基板ではブレード厚:
0.2mm、ダイシング深さ:0.3mm、ダイシング
長さ:125mに対してブレードの消耗は約0.02m
m程度である。しかしながら、アルミナ基板では、ダイ
ヤ粒径が大きく消耗しにくいブレードを使用しても、ブ
レード厚:0.2mm、ダイシング深さ:0.3mm、
ダイシング長さ:125mでブレードの消耗は約0.3
6mmとなる。これを、ブレード厚:0.1mm、ダイ
シング深さ:0.635mm、ダイシング長さ:125
mに換算すると、ブレードの半径消耗量は約1.52m
mとなる。
【0007】ダイシング高さの変化が発生したときのダ
イシング状態を、図7,図8に示す。図7はダイシング
開始直後、図8は連続的にダイシングを行ったときのダ
イシング状態を示したものである。図7,図8におい
て、4はアルミナ等のセラミック基板、5はダイシング
を行った後の溝、6はセラミック基板4を貼り付けるテ
ープで、一般に0.1mm程度の厚さのものを使用す
る。
【0008】ダイシングを行うときのダイシング高さと
しては、テープ6が切り離されず、かつセラミック基板
4が完全に切断されている高さに設定する必要がある。
従って高さ変化幅としては、0.05mm程度が限度で
ある。
【0009】しかしながら、アルミナ基板のようなブレ
ードの消耗量の大きい基板をダイシングによって切り離
そうとすると、連続でダイシングを行ったとき、初期的
には図8のように基板を確実に切り離す条件で設定して
も、連続でダイシングしていくと、ブレードの消耗によ
ってダイシング位置が高くなり、図8のように基板に切
れ残りが発生する。
【0010】ダイシング装置には、ブレード消耗量を設
定するとブレード高さの補正をするものもあるが、ブレ
ード・アルミナ基板共に材質にわずかなばらつきがある
ため、このブレードの消耗量は一定ではなく、わずかな
ばらつきが発生する。ダイシング深さのばらつきとして
は、アルミナ基板のダイシングで、ブレード厚:0.1
mm、ダイシング深さ:0.635mmのとき、5.0
mのダイシング長さで、ブレードの半径消耗量は0.0
4mm〜0.08mmまでばらつく。このブレードの半
径消耗量のばらつきによって、連続ダイシングを行うと
アルミナ基板の切れ残りといった問題が生じ、後工程の
チップのピックアップのトラブルやチップのバリといっ
た問題が生じる。
【0011】このようにダイシング法によって基板を切
り離す場合には、ブレードの消耗が大きく、均等に消耗
しないため、ダイシングの高さ設定が非常に困難となる
ものであり、そのために連続稼働が困難になるという問
題点を有していた。
【0012】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、分割形状不良が発生することはなく、かつダイシン
グ時のブレード消耗ばらつきによるセラミック基板の切
れ残りという問題が生じることもなく、安定した基板分
割を行うことができるセラミック基板の分割方法を提供
することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のセラミック基板の分割方法は、一方の面の分
割部分にブレイク溝を有するセラミック基板を備え、こ
のセラミック基板の他方の面における前記ブレイク溝と
対応する部分をダイシングすることにより、前記セラミ
ック基板を分割するようにしたもので、この分割方法に
よれば、分割形状不良が発生することはなく、かつダイ
シング時のブレード消耗ばらつきによるセラミック基板
の切れ残り問題が生じることもなく、安定した基板分割
を行うことができるものである。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、一方の面の分割部分にブレイク溝を有するセラミッ
ク基板を備え、このセラミック基板の他方の面における
前記ブレイク溝と対応する部分をダイシングすることに
より、前記セラミック基板を分割するようにしたもの
で、この分割方法によれば、一方の面の分割部分にブレ
イク溝を有するセラミック基板の他方の面における前記
ブレイク溝と対応する部分をダイシングするようにして
いるため、ブレイク溝とダイシングとの組み合わせによ
り、従来の「折る」または「割る」といった操作を行っ
て個片に分割する方法のように分割形状不良が発生する
ことはなく、かつダイシング時のブレード消耗ばらつき
によるセラミック基板の切れ残り問題もブレイク溝との
組み合わせにより生じることもなく、安定した基板分割
を行うことができるという作用を有するものである。
【0015】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のセラミック基板として、グリーンシート状態でブレイ
ク溝を形成し、その後、焼成してなるアルミナ基板を使
用するようにしたもので、この分割方法によれば、ブレ
イク溝をアルミナ基板の焼成前に形成するようにしてい
るため、ブレイク溝の形成が容易に行えるという作用を
有するものである。
【0016】以下、本発明の一実施の形態におけるセラ
ミック基板の分割方法について、図面を参照しながら説
明する。
【0017】図1(a)〜(f)は本発明の一実施の形
態におけるセラミック基板の分割方法によって分割され
たセラミック基板を用いた磁気抵抗素子の製造方法を示
す工程図である。
【0018】まず、図1(a)に示すように、一方の面
(裏面)の分割部分にブレイク溝11aを有し、かつ他
方の面(上面)にガラスグレーズ等のグレーズ層12を
形成したアルミナ等のセラミック基板11上にNiF
e,NiCo等の強磁性体合金や、NiFe等の強磁性
層とCu等の非磁性層とを交互に積層した人工格子膜等
からなる磁気抵抗膜13を形成する。
【0019】次に、磁気抵抗膜13上にフォトレジスト
を全面に塗布し、かつこのフォトレジストを露光・現像
して、図1(b)に示すように、セラミック基板11お
よび磁気抵抗膜13の上面にフォトレジスト14のパタ
ーンを形成する。
【0020】次に図1(c)に示すように、フォトレジ
スト14のパターンをマスクとしてドライエッチング等
によりセラミック基板11の上面の磁気抵抗膜13をエ
ッチングし、セラミック基板11の上面に磁気抵抗膜1
3のパターンを形成する。
【0021】次に、図1(d)に示すように、エッチン
グ済みのセラミック基板11を剥離液に浸漬して、水洗
いし、かつ乾燥させて磁気抵抗膜13上のフォトレジス
ト14を除去する。なお、フォトレジスト14の除去方
法としては、酸素プラズマ処理等の方法を用いても良
い。
【0022】次に、磁気抵抗膜13のパターンが形成さ
れたセラミック基板11の上面に、図1(e)に示すよ
うに、エポキシ系、フェノール系等の樹脂を印刷し硬化
させて保護膜15を形成する。なお、この保護膜15は
SiOやSiN等の無機絶縁膜をスパッタ等によって着
膜しても良いものである。
【0023】次に、図1(f)に示すように、セラミッ
ク基板11の他方の面における前記ブレイク溝11aと
対応する部分をダイシング法によってダイシングするこ
とにより、セラミック基板11を分割して磁気抵抗素子
を製造するものである。
【0024】この時のダイシング条件例を(表1)に示
す。この条件で、セラミック基板75枚(約200m)
の連続ダイシングが可能であった。
【0025】
【表1】
【0026】ここでダイシングを行うセラミック基板の
形状例を図2(a)に示す。図2(b)は図2(a)の
A−A線断面図である。図2(a)において、11は多
数のスルーホール11bを有するとともに、一方の面
(裏面)の分割部分にブレイク溝11aを有するアルミ
ナ等のセラミック基板で、前記ブレイク溝11aは、セ
ラミック基板11の焼成前のグリーンシート状態で加工
した方が加工が容易に行えるものである。また、図2
(b)において、16はセラミック基板11のスルーホ
ール11b部にAgPd等の導電性材料により印刷・焼
成等の方法で形成された電極である。なお、この電極1
6は真空蒸着やスパッタ等の方法によって形成しても良
いものである。
【0027】図3は本発明の一実施の形態におけるセラ
ミック基板の分割方法によって分割されたセラミック基
板を用いた磁気抵抗素子の構成を示す外観図、図4は図
3のB−B線断面図である。
【0028】図3および図4において、11はアルミナ
等からなるセラミック基板で、このセラミック基板11
の上面には、セラミック基板11の平滑性を良くするた
めにガラスグレーズ等のグレーズ層12を形成してい
る。そしてこのグレーズ層12の上面には、NiFe,
NiCo等の強磁性体合金や、NiFe等の強磁性層と
Cu等の非磁性層とを交互に積層した人工格子膜等から
なる磁気抵抗膜13のパターンを形成している。前記セ
ラミック基板11の4隅には、セラミック基板11の上
面と裏面を接続するために、AgPd等の導電性材料に
より印刷・焼成等の方法で形成された電極16を有して
いる。この電極16と磁気抵抗膜13の接続は、磁気抵
抗膜パターンを延長して接続しても良く、あるいはNi
合金等の補強電極で接続しても良い。この磁気抵抗膜1
3のパターンの上面には保護膜15を有している。また
17,18は電源端子、19は出力端子である。
【0029】このように、上記磁気抵抗素子は、電圧印
加状態で磁気の有無を出力電圧として取り出す素子であ
るため、2つの電源端子17,18と1つの出力端子1
9の最低3端子が必要であり、かつパターンエリアを大
きく取るために、スルーホール11b部に形成された電
極16を4分割して形成するようにしているため、セラ
ミック基板11の分割の精度が更に要求されるものであ
り、またセラミック基板11は平滑性が要求されるた
め、セラミック基板11の表面にはガラスグレーズ等の
グレーズ層12を形成しており、したがって、このセラ
ミック基板11の分割においては、「折る」「割る」の
みの分割はできず、まずガラスグレーズ等のグレーズ層
12を切り離してから「折る」「割る」の分割をする必
要があった。更に、セラミック基板11を成形樹脂によ
り一体成形して使用する場合もあり、この場合、成形時
の成形圧がかかるため、セラミック基板11の厚さを
0.635mmのように厚くする必要があり、特に厚さ
が厚くなると、ダイシングによる切り離しが困難となる
が、本発明の一実施の形態におけるセラミック基板の分
割方法においては、このような場合に、特に効果が大き
いものである。
【0030】ダイシングに使用するブレードは、メタル
ボンドで400メッシュ以上のダイヤ粒径のブレードが
耐消耗性の点から望ましい。
【0031】ダイシング時は、ブレードが摩擦によって
高温になるため、冷却水によりブレードの冷却を行う
が、ブレードの厚さが厚くなると、ブレードの表面しか
冷却されないため、ブレード内部との温度差が発生し、
ブレードの破損につながる。したがって、ブレードの厚
さとしては、ブレードの冷却状態を良くするために比較
的薄い0.15mm厚以下が望ましい。
【0032】分割する基板としては、アルミナのような
耐摩耗性の良い切断しにくいセラミック基板に対して有
効である。
【0033】また基板の厚さは、チップ部品としては比
較的厚くて「折る」「割る」という分割では精度が出に
くく、また、ダイシング時のブレードの消耗の大きい厚
さ0.5mm以上の基板に対して効果を有するものであ
る。
【0034】そしてまたセラミック基板11の裏面のブ
レイク溝11aの深さについては、ブレイク溝11aの
部分でダイシングの高さばらつきを吸収できるため、連
続稼働時間、ブレード材質、ダイシング対象物などに応
じて設定すれば良い。
【0035】
【発明の効果】以上のように本発明のセラミック基板の
分割方法は、一方の面の分割部分にブレイク溝を有する
セラミック基板を備え、このセラミック基板の他方の面
における前記ブレイク溝と対応する部分をダイシングす
ることにより、前記セラミック基板を分割するようにし
たもので、この分割方法によれば、一方の面の分割部分
にブレイク溝を有するセラミック基板の他方の面におけ
る前記ブレイク溝と対応する部分をダイシングするよう
にしているため、ブレイク溝とダイシングとの組み合わ
せにより、従来の「折る」または「割る」といった操作
を行って個片に分割する方法のように分割形状不良が発
生することはなく、かつダイシング時のブレード消耗ば
らつきによるセラミック基板の切れ残り問題もブレイク
溝との組み合わせにより生じることもなく、安定した基
板分割を行うことができるというすぐれた効果を有する
ものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(f)本発明の一実施の形態における
セラミック基板の分割方法によって分割されたセラミッ
ク基板を用いた磁気抵抗素子の製造方法を示す工程図
【図2】(a)同セラミック基板の形状例を示す平面図 (b)(a)のA−A線断面図
【図3】同磁気抵抗素子の構成を示す外観図
【図4】図3のB−B線断面図
【図5】従来の基板の分割方法により分割される基板の
分割状態を示す断面図
【図6】同基板のダイシング時のブレードの半径消耗量
を示す図
【図7】同基板のダイシング時の初期の分割状態を示す
断面図
【図8】同基板のダイシング時の連続稼動後のダイシン
グ状態を示す断面図
【符号の説明】
11 セラミック基板 11a ブレイク溝

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方の面の分割部分にブレイク溝を有す
    るセラミック基板を備え、このセラミック基板の他方の
    面における前記ブレイク溝と対応する部分をダイシング
    することにより、前記セラミック基板を分割するように
    したセラミック基板の分割方法。
  2. 【請求項2】 セラミック基板として、グリーンシート
    状態でブレイク溝を形成し、その後、焼成してなるアル
    ミナ基板を使用するようにした請求項1に記載のセラミ
    ック基板の分割方法。
JP11197042A 1999-07-12 1999-07-12 セラミック基板の分割方法 Pending JP2001018220A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11197042A JP2001018220A (ja) 1999-07-12 1999-07-12 セラミック基板の分割方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11197042A JP2001018220A (ja) 1999-07-12 1999-07-12 セラミック基板の分割方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001018220A true JP2001018220A (ja) 2001-01-23

Family

ID=16367764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11197042A Pending JP2001018220A (ja) 1999-07-12 1999-07-12 セラミック基板の分割方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001018220A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100440565C (zh) * 2004-09-17 2008-12-03 日本电产三协株式会社 磁阻元件

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100440565C (zh) * 2004-09-17 2008-12-03 日本电产三协株式会社 磁阻元件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001018220A (ja) セラミック基板の分割方法
JP2002299196A (ja) 半導体製造用基板
JPS6029914A (ja) 薄膜ヘツド
JPS5877016A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
TWI755260B (zh) 電阻器之製造方法
JP2001102722A (ja) 配線基板およびその製造方法
JPH09329508A (ja) 力変換素子及びその製造方法
RU2173004C1 (ru) Способ изготовления керамических пластин
JPH04281205A (ja) エッチング方法
JP2552189B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
KR100379924B1 (ko) 반도체 센서의 제조방법
KR100479233B1 (ko) 온도 센서 제조 방법
JPH09260108A (ja) チップ型サーミスタ及びその製造方法
JP2003059901A (ja) 透明膜のエッチング方法
JPH07283060A (ja) 薄膜チップインダクタの製造方法
JPH1092770A (ja) 薄膜チップ部品の製造方法
JPH0321462A (ja) サーマルヘッド基板とその製造方法
JPH07176412A (ja) 角形チップ抵抗器の製造方法
JPH06338030A (ja) 水平型薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPS6124007A (ja) 薄膜磁気ヘツド
JPH05301364A (ja) 端面型サーマルヘッドの製造法
JPH05314428A (ja) 複合型磁気ヘッド
JPH05109713A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH1083938A (ja) 薄膜チップ部品及びその製造方法
JPH0376533B2 (ja)