JP2001013165A - プリント基板電気検査装置用コンタクトプローブ - Google Patents
プリント基板電気検査装置用コンタクトプローブInfo
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- JP2001013165A JP2001013165A JP11180799A JP18079999A JP2001013165A JP 2001013165 A JP2001013165 A JP 2001013165A JP 11180799 A JP11180799 A JP 11180799A JP 18079999 A JP18079999 A JP 18079999A JP 2001013165 A JP2001013165 A JP 2001013165A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プリント基板のテストランドを増やすことな
く簡便に検査ができる優れたプリント基板電気検査装置
用コンタクトプローブを提供する。 【解決手段】 棒状プローブピン２と、該棒状プローブ
ピン２の後端部に一端が固定保持された第１のスプリン
グ１３と、該第１のスプリング１３の他端が一端に接続
されたスリーブ１からなり、前記プローブピン２先端を
被検査物に当接した際に、前記第１のスプリング１３の
伸長により前記スリーブ１内をプローブピン２が移動す
るように構成されたスプリング付きコンタクトプローブ
であって、略円筒に形成された絶縁層３にて絶縁され且
前記プローブピン２に内装されるとともに、互いに連結
された被検査物に当接する第１のフィードバック電極４
と被検査物への当接信号を取り出す為のフィードバック
出力ケーブル８が接続された第２のフィードバック電極
５と、被検査物に当接するとともに前記絶縁層を外装し
且下面開放で略円筒に形成された信号入力電極７と、か
ら構成されたことを特徴とする。
く簡便に検査ができる優れたプリント基板電気検査装置
用コンタクトプローブを提供する。 【解決手段】 棒状プローブピン２と、該棒状プローブ
ピン２の後端部に一端が固定保持された第１のスプリン
グ１３と、該第１のスプリング１３の他端が一端に接続
されたスリーブ１からなり、前記プローブピン２先端を
被検査物に当接した際に、前記第１のスプリング１３の
伸長により前記スリーブ１内をプローブピン２が移動す
るように構成されたスプリング付きコンタクトプローブ
であって、略円筒に形成された絶縁層３にて絶縁され且
前記プローブピン２に内装されるとともに、互いに連結
された被検査物に当接する第１のフィードバック電極４
と被検査物への当接信号を取り出す為のフィードバック
出力ケーブル８が接続された第２のフィードバック電極
５と、被検査物に当接するとともに前記絶縁層を外装し
且下面開放で略円筒に形成された信号入力電極７と、か
ら構成されたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の回
路パターン等の電気的導通状態検査に適用して好適なプ
リント基板電気検査装置用コンタクトプローブに関す
る。
路パターン等の電気的導通状態検査に適用して好適なプ
リント基板電気検査装置用コンタクトプローブに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、プリント基板電気検査装置と
しては、プリント基板をプリント基板電気検査装置の検
査台に載せてコンタクトプローブをプリント基板の導電
部に接触させて、導通状態をチェックを行ったり、試験
電圧等を印加してプリント基板の各種の特性検査を行っ
ていた。
しては、プリント基板をプリント基板電気検査装置の検
査台に載せてコンタクトプローブをプリント基板の導電
部に接触させて、導通状態をチェックを行ったり、試験
電圧等を印加してプリント基板の各種の特性検査を行っ
ていた。
【０００３】その例としては、プローブが確実にプリン
ト基板の導電部に接触しているか確認するために、図３
（ａ）に示すように、フィードバック用のテストランド
Ａと信号入力用のテストランドＢをプリント基板に設
け、プリント基板電気検査装置に、信号入用コンタクト
プローブ１０とフィードバック信号用コンタクトプロー
ブ９とが取り付け、夫々テストランドＢとテストランド
Ａに接触させて、コンタクトプローブ１０より信号入力
し、コンタクトプローブ９からフィードバック信号を取
っていた。あるいは、プリント基板にコネクタ部品Ｄを
実装しているものにあっては、図３（ｂ）に示すよう
に、プリント基板電気検査装置に、信号入用コンタクト
プローブ１２とコネクタ部品Ｄに係合する部位を有する
フィードバック信号用コンタクトプローブ１１とが取り
付け、夫々テストランドＣとコネクタ部品Ｄに接触又は
係合させて、コンタクトプローブ１２より信号入力し、
コンタクトプローブ１１からフィードバック信号を取っ
ていた。これにより、確実にプリント基板の導電部に信
号が送られているかを確認していた。
ト基板の導電部に接触しているか確認するために、図３
（ａ）に示すように、フィードバック用のテストランド
Ａと信号入力用のテストランドＢをプリント基板に設
け、プリント基板電気検査装置に、信号入用コンタクト
プローブ１０とフィードバック信号用コンタクトプロー
ブ９とが取り付け、夫々テストランドＢとテストランド
Ａに接触させて、コンタクトプローブ１０より信号入力
し、コンタクトプローブ９からフィードバック信号を取
っていた。あるいは、プリント基板にコネクタ部品Ｄを
実装しているものにあっては、図３（ｂ）に示すよう
に、プリント基板電気検査装置に、信号入用コンタクト
プローブ１２とコネクタ部品Ｄに係合する部位を有する
フィードバック信号用コンタクトプローブ１１とが取り
付け、夫々テストランドＣとコネクタ部品Ｄに接触又は
係合させて、コンタクトプローブ１２より信号入力し、
コンタクトプローブ１１からフィードバック信号を取っ
ていた。これにより、確実にプリント基板の導電部に信
号が送られているかを確認していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来例のプリント基板電気検査装置では、検査するプリン
ト基板には、専用のフィードバック用のテストランドを
設ける必要があり、またコネクタ端子が設けられている
場合にあっても、コネクタの着脱作業が面倒な上着脱に
よる部品の劣化が激しいと言う問題があった。（通常コ
ンタクトプローブは数万〜数十万回／本の寿命があるの
に対して、コネクタに係合する部品を有するコンタクト
プローブでは数百回／本である。）更に、これに合わせ
て、設備側もピンボードの設計が必要となるともに、機
構が複雑となるなどの問題あった。
来例のプリント基板電気検査装置では、検査するプリン
ト基板には、専用のフィードバック用のテストランドを
設ける必要があり、またコネクタ端子が設けられている
場合にあっても、コネクタの着脱作業が面倒な上着脱に
よる部品の劣化が激しいと言う問題があった。（通常コ
ンタクトプローブは数万〜数十万回／本の寿命があるの
に対して、コネクタに係合する部品を有するコンタクト
プローブでは数百回／本である。）更に、これに合わせ
て、設備側もピンボードの設計が必要となるともに、機
構が複雑となるなどの問題あった。
【０００５】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、プリン
ト基板のフィードバック用のテストランドを増やすこと
なく簡便に検査ができる優れたプリント基板電気検査装
置用コンタクトプローブを提供することにある。
なされたものであり、その目的とするところは、プリン
ト基板のフィードバック用のテストランドを増やすこと
なく簡便に検査ができる優れたプリント基板電気検査装
置用コンタクトプローブを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
コンタクトプローブのプローブピンを、プリント基板の
導電部に接触させてプリント基板の電気的特性を検査す
るプリント基板電気検査装置において、棒状プローブピ
ンと、該棒状プローブピンの後端部に一端が固定保持さ
れた第１のスプリングと、該第１のスプリングの他端が
一端に接続されたスリーブからなり、前記プローブピン
先端を被検査物に当接した際に、前記第１のスプリング
の伸長により前記スリーブ内をプローブピンが移動する
ように構成されたスプリング付きコンタクトプローブで
あって、略円筒に形成された絶縁層にて絶縁され且前記
プローブに内装されるとともに、互いに連結された被検
査物に当接する第１のフィードバック電極と被検査物へ
の当接信号を取り出す為のフィードバック出力ケーブル
が接続された第２のフィードバック電極と、被検査物に
当接するとともに前記絶縁層を外装し且下面開放で略円
筒に形成された信号入力電極と、から構成されたことを
特徴とするものである。
コンタクトプローブのプローブピンを、プリント基板の
導電部に接触させてプリント基板の電気的特性を検査す
るプリント基板電気検査装置において、棒状プローブピ
ンと、該棒状プローブピンの後端部に一端が固定保持さ
れた第１のスプリングと、該第１のスプリングの他端が
一端に接続されたスリーブからなり、前記プローブピン
先端を被検査物に当接した際に、前記第１のスプリング
の伸長により前記スリーブ内をプローブピンが移動する
ように構成されたスプリング付きコンタクトプローブで
あって、略円筒に形成された絶縁層にて絶縁され且前記
プローブに内装されるとともに、互いに連結された被検
査物に当接する第１のフィードバック電極と被検査物へ
の当接信号を取り出す為のフィードバック出力ケーブル
が接続された第２のフィードバック電極と、被検査物に
当接するとともに前記絶縁層を外装し且下面開放で略円
筒に形成された信号入力電極と、から構成されたことを
特徴とするものである。
【０００７】請求項２記載の発明は、前記第１のフィー
ドバック電極と第２のフィードバック電極は、互いに連
結するための第２のスプリングにて付勢されており、前
記第１のフィードバック電極と信号入力電極とが被検査
物に対して略均一に当接する構成であることを特徴とす
るものである。
ドバック電極と第２のフィードバック電極は、互いに連
結するための第２のスプリングにて付勢されており、前
記第１のフィードバック電極と信号入力電極とが被検査
物に対して略均一に当接する構成であることを特徴とす
るものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明のプリント基板電気検査装
置用コンタクトプローブ一実施の形態を図１及び図２に
基づいて詳細に説明する。図１はコンタクトプローブの
断面図であり、図２はコンタクトプローブ動作を説明す
る図である。図１に示すようにコンタクトプローブは、
スリーブ１と、スリーブ１の中に摺動自在に内装するプ
ローブピン２と、プローブピン２の中に円筒に形成され
た絶縁層３にて絶縁され、且摺動自在に内装された第１
のフィードバック電極４と第２のフィードバック電極５
と、絶縁層３を外装し且下面開放で円筒に形成された信
号入力電極７とを、有する。
置用コンタクトプローブ一実施の形態を図１及び図２に
基づいて詳細に説明する。図１はコンタクトプローブの
断面図であり、図２はコンタクトプローブ動作を説明す
る図である。図１に示すようにコンタクトプローブは、
スリーブ１と、スリーブ１の中に摺動自在に内装するプ
ローブピン２と、プローブピン２の中に円筒に形成され
た絶縁層３にて絶縁され、且摺動自在に内装された第１
のフィードバック電極４と第２のフィードバック電極５
と、絶縁層３を外装し且下面開放で円筒に形成された信
号入力電極７とを、有する。
【０００９】スリーブ１は、プリント基板電気検査装置
の信号入力取付け部（不図示）に圧入嵌装されるもので
あり、概ね円筒状に形成し、上端からフィードバック出
力ケーブル８を外部へ引き出している。
の信号入力取付け部（不図示）に圧入嵌装されるもので
あり、概ね円筒状に形成し、上端からフィードバック出
力ケーブル８を外部へ引き出している。
【００１０】プローブピン２は、概ね円筒状に形成さ
れ、上端からフィードバック出力ケーブル８を外部へ引
き出す為の穴部を形成してあり、スリーブ１に圧入され
電気接続状態にしてある。また、プローブピン２の内部
には、上側端部に第１のスプリング１３を内装し、その
下側に第１のフィードバック電極４と第２のフィードバ
ック電極５を遊嵌状態で内装している。
れ、上端からフィードバック出力ケーブル８を外部へ引
き出す為の穴部を形成してあり、スリーブ１に圧入され
電気接続状態にしてある。また、プローブピン２の内部
には、上側端部に第１のスプリング１３を内装し、その
下側に第１のフィードバック電極４と第２のフィードバ
ック電極５を遊嵌状態で内装している。
【００１１】第１のフィードバック電極４は、中実の円
柱状及び円錐状に形成してあり、上側から太径部４ａと
細径部４ｂと第２太径部４ｃとその先端に円錐部４ｄと
を有している。太径部４ａは、プローブケース２の細径
部２ａより上方に入れ込んであり、下方に抜けないよう
にしてある。
柱状及び円錐状に形成してあり、上側から太径部４ａと
細径部４ｂと第２太径部４ｃとその先端に円錐部４ｄと
を有している。太径部４ａは、プローブケース２の細径
部２ａより上方に入れ込んであり、下方に抜けないよう
にしてある。
【００１２】第２のフィードバック電極５は、第２のス
プリングにて付勢され第１のフィードバック電極４に接
続されて、上端にはフィードバック出力ケーブル８が接
続されている。
プリングにて付勢され第１のフィードバック電極４に接
続されて、上端にはフィードバック出力ケーブル８が接
続されている。
【００１３】信号入力電極７は、第１のフィードバック
電極４と第２のフィードバック電極５を絶縁する略円筒
に形成された絶縁層３を外装し、下面開放で円筒に形成
されている。
電極４と第２のフィードバック電極５を絶縁する略円筒
に形成された絶縁層３を外装し、下面開放で円筒に形成
されている。
【００１４】次に、動作を説明する。プリント基板を検
査台に載置した後に、プリント基板電気検査装置に取り
付けられたコンタクトプローブが下降を開始する。そし
て第１のフィードバック電極４と信号入力電極７とがプ
リント基板のテストランドに接触すると検査を開始す
る。ここで、第１のフィードバック電極４と信号入力電
極７とは略均一にプリント基板のテストランドに当接す
るように第１のスプリングと第２のスプリングにて、プ
リント基板への付勢力をばねの強度により設定されてい
る。なお、通常プリント基板テストランドの直径は、プ
ローブピン２の直径よりも十分に大きいものである。
（テストランドの直径２ｍｍ〜３ｍｍに対して、プロー
ブピンの直径は０．５ｍｍ〜１ｍｍである。） 図２（ａ）に示す信号入力を信号入力電極７に投入する
と、もしコンタクトプローブ即ち第１のフィードバック
電極４と信号入力電極７とが、プリント基板上のテスト
ランドが正常に接触していればａ−ｂ間が短絡し、第１
のフィードバック電極４を介して第２のフィードバック
電極５に接続されたフィードバック出力ケーブル８より
図２（ｂ）に示す信号が出力される。この信号の有無に
より、プリント基板に正しく信号が送られていることが
判り接触不良がリアルタイムで判断できる。
査台に載置した後に、プリント基板電気検査装置に取り
付けられたコンタクトプローブが下降を開始する。そし
て第１のフィードバック電極４と信号入力電極７とがプ
リント基板のテストランドに接触すると検査を開始す
る。ここで、第１のフィードバック電極４と信号入力電
極７とは略均一にプリント基板のテストランドに当接す
るように第１のスプリングと第２のスプリングにて、プ
リント基板への付勢力をばねの強度により設定されてい
る。なお、通常プリント基板テストランドの直径は、プ
ローブピン２の直径よりも十分に大きいものである。
（テストランドの直径２ｍｍ〜３ｍｍに対して、プロー
ブピンの直径は０．５ｍｍ〜１ｍｍである。） 図２（ａ）に示す信号入力を信号入力電極７に投入する
と、もしコンタクトプローブ即ち第１のフィードバック
電極４と信号入力電極７とが、プリント基板上のテスト
ランドが正常に接触していればａ−ｂ間が短絡し、第１
のフィードバック電極４を介して第２のフィードバック
電極５に接続されたフィードバック出力ケーブル８より
図２（ｂ）に示す信号が出力される。この信号の有無に
より、プリント基板に正しく信号が送られていることが
判り接触不良がリアルタイムで判断できる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１乃至請求
項２記載の発明によれば、プリント基板のフィードバッ
ク用のテストランドを増やすことなく簡便にしかも確実
に検査ができるという効果を奏する。
項２記載の発明によれば、プリント基板のフィードバッ
ク用のテストランドを増やすことなく簡便にしかも確実
に検査ができるという効果を奏する。
【図１】本発明のコンタクトプローブの一実施の形態の
断面図である。
断面図である。
【図２】同上のコンタクトプローブの動作を説明する図
である。
である。
【図３】従来のプリント基板電気検査装置のコンタクト
プローブを説明する図である。
プローブを説明する図である。
１ スリーブ ２ プローブピン ２ａ 細径部 ３ 絶縁層 ４ フィードバック電極 ４ａ 太径部 ４ｂ 細径部 ４ｃ 第２太径部 ４ｄ 円錐部 ５ フィードバック電極 ６ 第２のスプリング ７ 信号入力電極 ８ フィードバック出力ケーブル ９ フィードバック信号用コンタクトプローブ １０ 信号入用コンタクトプローブ １１ フィードバック信号用コンタクトプローブ １２ 信号入用コンタクトプローブ １３ 第２のスプリング
Claims (2)
- 【請求項１】 コンタクトプローブのプローブピンを、
プリント基板の導電部に接触させてプリント基板の電気
的特性を検査するプリント基板電気検査装置において、
棒状プローブピンと、該棒状プローブピンの後端部に一
端が固定保持された第１のスプリングと、該第１のスプ
リングの他端が一端に接続されたスリーブからなり、前
記プローブピン先端を被検査物に当接した際に、前記第
１のスプリングの伸長により前記スリーブ内をプローブ
ピンが移動するように構成されたスプリング付きコンタ
クトプローブであって、略円筒に形成された絶縁層にて
絶縁され且前記プローブに内装されるとともに、互いに
連結された被検査物に当接する第１のフィードバック電
極と被検査物への当接信号を取り出す為のフィードバッ
ク出力ケーブルが接続された第２のフィードバック電極
と、被検査物に当接するとともに前記絶縁層を外装し且
下面開放で略円筒に形成された信号入力電極と、から構
成されたことを特徴とするプリント基板電気検査装置用
コンタクトプローブ。 - 【請求項２】 前記第１のフィードバック電極と第２の
フィードバック電極は、互いに連結するための第２のス
プリングにて付勢されており、前記第１のフィードバッ
ク電極と信号入力電極とが被検査物に対して略均一に当
接する構成であることを特徴とする請求項１記載のプリ
ント基板電気検査装置用コンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11180799A JP2001013165A (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | プリント基板電気検査装置用コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11180799A JP2001013165A (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | プリント基板電気検査装置用コンタクトプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001013165A true JP2001013165A (ja) | 2001-01-19 |
Family
ID=16089554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11180799A Withdrawn JP2001013165A (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | プリント基板電気検査装置用コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001013165A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100967318B1 (ko) | 2007-11-13 | 2010-07-05 | 이에 유나이티드 스틸 코포레이션 | 오스테나이트 스테인레스 스틸 검사용 탐침 장치 |
| CN101930044B (zh) * | 2009-06-26 | 2012-10-10 | 江苏通鼎光电股份有限公司 | 电缆在线生产过程中钢带与金属护套导通点的检测装置 |
| CN106154097A (zh) * | 2015-05-13 | 2016-11-23 | 富士施乐株式会社 | 基板检查装置、基板检查方法以及基板检查程序 |
| KR102286353B1 (ko) * | 2020-04-23 | 2021-08-05 | 주식회사 센서뷰 | 커넥터 테스트 프로브 장치 |
-
1999
- 1999-06-25 JP JP11180799A patent/JP2001013165A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100967318B1 (ko) | 2007-11-13 | 2010-07-05 | 이에 유나이티드 스틸 코포레이션 | 오스테나이트 스테인레스 스틸 검사용 탐침 장치 |
| CN101930044B (zh) * | 2009-06-26 | 2012-10-10 | 江苏通鼎光电股份有限公司 | 电缆在线生产过程中钢带与金属护套导通点的检测装置 |
| CN106154097A (zh) * | 2015-05-13 | 2016-11-23 | 富士施乐株式会社 | 基板检查装置、基板检查方法以及基板检查程序 |
| CN106154097B (zh) * | 2015-05-13 | 2019-02-15 | 富士施乐株式会社 | 基板检查装置、基板检查方法以及基板检查程序 |
| KR102286353B1 (ko) * | 2020-04-23 | 2021-08-05 | 주식회사 센서뷰 | 커넥터 테스트 프로브 장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060905 |