JP2001005195A - 現像装置及び現像方法並びに原盤の製造方法 - Google Patents

現像装置及び現像方法並びに原盤の製造方法

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JP2001005195A
JP2001005195A JP17991999A JP17991999A JP2001005195A JP 2001005195 A JP2001005195 A JP 2001005195A JP 17991999 A JP17991999 A JP 17991999A JP 17991999 A JP17991999 A JP 17991999A JP 2001005195 A JP2001005195 A JP 2001005195A
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Eiji Koyama
栄二 小山
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Hitachi Maxell Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 現像斑の発生を防止し、微細なパターンで露
光した露光部分を確実に除去することが可能な現像装置
及び現像方法を提供する。 【解決手段】 現像装置200は、原盤1の上方に、支
持板7により支持された超音波振動子3を備える。超音
波振動子3で超音波を発生させながら支持板7と原盤1
との間に現像液を充満させ、原盤1をターンテーブル4
により回転させる。これにより現像液14に超音波が伝
播してフォトレジストへの現像液14の浸透が均一にな
る。また原盤1を回転させることで、超音波振動子3は
原盤1に対して相対的に移動し、原盤全体に形成されて
いる現像液14に超音波を均一に伝播させる。これによ
り現像むらが発生することが防止され、フォトレジスト
に所望のパターンを形成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録媒体用の
原盤の現像装置及び現像方法に関し、更に詳細には、露
光したフォトレジストを均一に現像することができる現
像装置及び現像方法に関する。
【0002】
【従来の技術】音楽や動画像などの膨大な情報を記録再
生することが可能な情報記録媒体として光ディスクが広
く利用されている。光ディスク用基板には、通常、プリ
フォーマット信号用のプリピットや案内溝が形成されて
いる。かかる基板を製造するには、最初に原盤を次のよ
うな方法に従って製造する。
【0003】まず、ガラス基板を用意し、そのガラス基
板を光学研磨した後、洗浄して乾燥させる。次いで、か
かるガラス基板上にフォトレジストを均一に塗布した
後、熱処理を施すことによってガラス基板上にフォトレ
ジスト膜を形成する。つぎに、フォトレジスト上にレー
ザ光をプリフォーマット信号用のプリピットや案内溝の
形状に対応させて照射することによって所定の凹凸パタ
ーンでフォトレジストを露光する。次いで、現像により
フォトレジスト(ポジ型)の露光部分を除去する。現像
では、例えば、図4に示したような現像装置40を用
い、原盤49をターンテーブル44で回転させながら、
現像液48としてのアルカリ水溶液を、原盤49の上方
に設置されたノズル45からフォトレジスト表面46に
流下する。流下した現像液は遠心力で原盤の内周側から
外周側に向かって均一に流れて、フォトレジスト表面上
の全体にわたって形成させた露光部分をほぼ一様に除去
し、フォトレジスト上にプリピットや案内溝に相当する
凹凸部を形成する。その後、紫外線照射及び高温熱処理
を施すことによってフォトレジストを強固に硬化させ放
冷する。こうして、光ディスク用基板を製造するための
原盤が製造される。
【0004】そして、得られた原盤からスタンパを作製
し、作製されたスタンパを射出成形機に装着して射出成
形機にてプラスチック材料等を射出成形することによっ
て光ディスク用基板が製造される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】情報記録媒体において
は、近年、大容量化のために高密度化が要望されてい
る。この高密度化を実現するには、情報記録媒体の基板
に形成するプリピットの大きさを微小化したり、案内溝
の間隔を狭くしなければならない。しかしながら、基板
上に形成するプリピットや案内溝が微細になると、基板
を製造するための原盤のプリピットや案内溝に対応した
露光パターンも微細になるため、原盤を現像する際、そ
の露光された微小な部分においては現像液の流れが十分
に行き渡らず均一な現像が困難になる。このため、現像
後に、フォトレジストの露光部分が除去されることによ
って形成されるプリピットや案内溝のエッジ部分に荒れ
が生じたり、露光部分が全て除去されずに露光部分の底
にフォトレジストの残滓が発生するという問題があっ
た。
【0006】ところで、フォトリソグラフィーにおい
て、現像の際に超音波を与えることが、例えば、特開昭
52−67975号及び特開平5−136045号に開
示されている。しかしながら、これらの公報には、本発
明の現像装置および現像方法のように、現像の際に原盤
を回転させながら超音波を与えることは何ら記載されて
いない。
【0007】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、その目的は、微細なパターンで露光し
たフォトレジストの露光部分を全体にわたって均一に現
像することが可能な現像装置及び現像方法を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様に従
えば、所望の凹凸パターンで露光されたフォトレジスト
を有する原盤を現像するための現像装置において、原盤
を載置し回転させるためのターンテーブルと、超音波を
発生させるための超音波振動子と、該超音波振動子を支
持し、且つ上記原盤上に所定の高さで配置される支持板
と、原盤と支持板との間に現像液を供給するための現像
液供給源とを備えることを特徴とする現像装置が提供さ
れる。
【0009】本発明の現像装置は、原盤の上方に配置さ
れ且つ超音波振動子を支持するための支持板と原盤との
間に現像液を介在させた状態で、原盤をターンテーブル
で回転させて超音波振動子を原盤に対して相対的に移動
させながら超音波振動子により超音波を発生させる。換
言すれば、原盤上に形成された現像液を、超音波振動子
を支持するための支持板で覆い、かかる支持板に対して
原盤をターンテーブルにより回転させながら支持板によ
り支持されている超音波振動子から超音波を発生させ
る。これにより、現像の際に、現像液に超音波が伝播し
て現像液の浸透が極めて均一になり、現像斑が発生する
ことが殆どなくなる。現像中には、現像液を供給しつづ
けても、現像液の供給を停止させてもよい。
【0010】本発明の現像装置の超音波振動子は、例え
ば、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)やチタン酸バリウ
ムなどの圧電材料の焼結体から構成され、現像の際に
は、現像の進行度に応じて種々のパワーになるように調
整することもできる。
【0011】本発明の現像装置において、超音波振動子
を支持する支持板は、例えば、ステンレスなどの金属や
ガラス強化エポキシ、ガラスから構成することができ、
超音波振動子により発生させた超音波を良好に現像液に
伝達することができる材料から構成されることが望まし
い。
【0012】また、本発明の現像装置は、所望のパター
ンでフォトレジストを露光した原盤を現像しながら、案
内溝やプリピットなどの凹凸が形成される領域にレーザ
光を照射して、そこからの回折光強度をモニタするため
のモニタ装置を備えることができる。このモニタ装置に
よりフォトレジストの現像の進行度を制御することがで
きる。すなわち、フォトレジストに形成された凹凸部は
回折格子として作用するために、現像により凹凸部の幅
や深さが変化すると、それに伴って凹凸部で回折した回
折光の光強度が変化する。したがって、現像中に、凹凸
部が形成される領域にレーザー光を照射して、そこから
の回折光の光強度を、例えば光検出器などにより検出
し、検出された回折光の光強度をモニタ装置でモニタす
る。そして、凹凸の幅及び深さが所望の深さになるとき
の回折光強度が得られたときに現像液の供給を終了させ
れば、フォトレジストに形成される案内溝やプリピット
に相当する凹凸部を所望の寸法で現像させることができ
る。
【0013】本発明の第2の態様に従えば、露光された
フォトレジストを有する原盤を現像する現像方法におい
て、フォトレジスト上に現像液が供給された状態で原盤
を回転させながら、現像液及び原盤の少なくとも一方に
超音波を適用してフォトレジストを現像することを特徴
とする現像方法が提供される。
【0014】本発明の現像方法は、露光済みの原盤のフ
ォトレジスト上に現像液を形成した状態で、原盤を所定
の速度で回転させながら、現像液または原盤に超音波を
与える。これにより、フォトレジストを極めて微細なパ
ターンで露光しても、露光部分に現像液が不均一に到達
することが防止される。このため、フォトレジストの凹
凸部のエッジ部分に荒れが生じることが有効に防止され
るとともに、フォトレジストの露光部分を確実に除去す
ることができる。それゆえ、フォトレジストを所望の凹
凸パターンで現像することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明に従う現像方法及び
現像装置について実施例により詳細に説明するが、本発
明はこれに限定されるものではない。
【0016】
【実施例1】最初に、光ディスク用基板を製造するため
の原盤を以下に示す方法により作製した。まず、直径2
00mm、厚さ3mmのガラス基板を用意した。次い
で、かかるガラス基板上に、ポジ型フォトレジスト(ク
ラリアント社製AZ1400)を約140nmの膜厚で
塗布した後、80℃のベーク炉中に約1時間放置して熱
処理し、フォトレジスト中に含まれる残留溶剤を気化さ
せた。こうしてガラス基板上にフォトレジスト膜を形成
した。
【0017】つぎに、フォトレジスト膜が形成されたガ
ラス原盤を不図示の露光装置に装填し、露光を行った。
露光の際には、フォトレジスト上に照射する露光光を、
プリフォーマット信号に応じてオンオフさせるととも
に、溝幅が約0.75μm、トラックピッチが約1.5
μmの案内溝が形成されるように制御して、所望のパタ
ーンをフォトレジスト上に形成した。
【0018】次いで、露光装置から原盤を取り出し、図
1に示したような、本発明の現像方法に従う現像装置1
00を用いて、露光済みの原盤1を現像した。図1にお
いて、現像装置100は、原盤1が載置されるターンテ
ーブル4と、原盤1上に現像液を供給するための第1ノ
ズル5と、原盤上に純水を供給するための第2ノズル6
と、ターンテーブル4内に組み込まれた超音波振動子3
とを備える。ターンテーブル4は、不図示のモーターに
より所定の速度で回転することができる。超音波振動子
3は、所定の周波数の超音波を発生して、その超音波を
ターンテーブル4上に載置された原盤1に付与すること
ができる。超音波振動子3は、PZT素子から構成され
る。
【0019】現像の際には、現像装置100のターンテ
ーブル4上に原盤1を載置し、ターンテーブル4内に組
み込まれた超音波振動子3から24MHzの超音波を発
生させながら原盤を毎分200回転で回転させた。第1
ノズル5から現像液16(クラリアント社製MP−De
veloper)を毎分500mlの流量で30秒間流
して原盤のフォトレジスト2に形成した露光部分を除去
した後、現像液16の供給を停止し、第2ノズル6から
純水を流すことによってフォトレジストの表面上に残存
している現像液を流した。こうして、フォトレジストに
案内溝やプリピットに相当する凹凸が形成された原盤を
製造した。
【0020】次いで、製造した原盤のフォトレジスト表
面に導電膜を形成した後、Ni電解メッキを行ってNi
からなるスタンパを作製した。作製したスタンパを射出
成形機(不図示)の金型に取付けて、金型内に溶融した
ポリカーボネート(PC)樹脂を射出充填した後、冷却
して硬化させることによって光ディスク用のプラスチッ
ク基板を作製した。作製されたプラスチック基板は厚さ
が約0.6mm、直径が約120mmであり、その表面
には案内溝(グルーブ)やプリピットに相当する凹凸部
が形成されていた。更に、プラスチック基板の凹凸パタ
ーンが形成されている面上に、不図示のスパッタ装置に
よりアルミ膜を形成し、情報記録媒体の一種である再生
専用の光ディスクを製造した。
【0021】つぎに、製造した光ディスクに形成されて
いる案内溝やプリピットのエッジ部分及び底部をAFM
により観察した。AFMの観察では、比較のために、従
来の現像装置を用いて作製した光ディスクについても観
察した。観察の結果、本発明の現像装置を用いて製造さ
れた光ディスクは、従来の現像装置を用いて製造された
光ディスクよりも、案内溝やプリピットのエッジ部分は
極めてシャープであり、底部は極めて平滑であった。
【0022】光ディスク駆動装置に、本実施例の現像方
法で製造した光ディスクを装填し、ランド部(案内溝
間)及びグルーブ部(案内溝)のそれぞれにおいてトラ
ックキングをかけてトラッキング信号を測定した。ま
た、比較のために、従来の現像方法で製造した光ディス
クについても同様にトラッキング信号を測定した。その
結果、ランド部のトラッキング信号のノイズは従来より
も2dB小さく、グルーブ部のトラッキング信号のノイ
ズは従来よりも3dB小さかった。
【0023】
【実施例2】本実施例では、実施例1と同様にして露光
した原盤を、図2に示した構成の現像装置200を用い
て現像した。最初に、図2に示した現像装置200の構
成について説明する。現像装置200は、原盤1を載置
するためのターンテーブル4と、超音波を発生させるた
めの超音波振動子3と、超音波振動子3を支持するため
の支持板7と、現像液または純水を原盤表面に導くため
のノズル5と、現像液及び純水を原盤上に供給するため
の現像液/純水供給装置8と、原盤にレーザー光を照射
するためのレーザー光源9と、原盤からの回折光を検出
するための光検出器11a〜cと、現像の進行度をモニ
タするためのモニタ装置12とを主に備える。
【0024】上記構成において、支持板7は、その底面
が原盤表面から5mmの間隔になるように配置されてい
る。この間隔が10mmよりも大きくなると、原盤1と
支持板7との間に現像液を充満させることが困難とな
り、0.5mm未満では現像液の流れが不均一となる恐
れがある。支持板7には、ターンテーブル4の回転軸と
同軸になる位置に貫通穴(排出口)7aが形成されてお
り、この貫通穴7aにノズル5の先端5aが嵌合されて
いる。ノズル5からの現像液または純水は、この貫通穴
7aを通じて原盤の表面上に供給される。また、支持板
7の上面には、4つの超音波振動子3a〜3dが、図3
に示したように円周方向に均一な位置に配置されてい
る。この超音波振動子3a〜3dは実施例1と同一の超
音波振動子を用いた。
【0025】レーザー光源9から出射するレーザー光
は、ミラー10で反射して、ターンテーブル4の下方か
ら原盤1に入射する。原盤1に入射したレーザー光は、
フォトレジスト2に到達し、現像中にフォトレジスト1
に形成される凹凸により回折して回折光となる。フォト
レジストの凹凸により発生した0次回折光(透過光)及
び±1次回折光は、それぞれ光検出器11a〜cにより
その光強度が検出される。モニタ装置12は、現像液/
純水供給装置8に接続されており、現像によりフォトレ
ジストに形成される凹凸部から、光検出器11a〜cに
より検出された回折光の光強度をモニタしる。モニタ装
置12内に、或いは別途、制御用コンピュータ(不図
示)を設け、凹凸部の溝深さや幅が所望の値になった時
点で現像液の供給を停止するとともに純水を供給するよ
うに現像液/純水供給装置8に制御信号を出すこともで
きる。
【0026】現像液/純水供給装置8は、アルカリ液で
ある現像液及び純水をそれぞれ貯蔵するタンク(不図
示)を備え、現像が行われる際には、現像液タンクから
ノズル5に現像液を供給することができ、一方、モニタ
装置12または制御用コンピュータからの指示により原
盤の現像を終了する際には、純水タンクからノズル5に
純水を供給するように切り換えることができる。
【0027】つぎに、かかる現像装置200を用いて、
実施例1と同様にして露光した原盤の現像方法について
説明する。まず、実施例1と同様にして露光した原盤を
ターンテーブル4上に載置した後、ターンテーブル4を
毎分200回転の速度で回転させることによって、原盤
1を支持板7に対して回転移動させた。次いで、現像液
/純水供給装置内8の現像タンクからノズル5に現像液
を毎分500mlの流量で供給した。こうして、現像液
14を、支持板7の貫通穴を7a通じて支持板7とフォ
トレジスト2の表面との間に充満させた。なお、現像液
には、実施例1と同一の現像液を用いた。
【0028】ついで、現像液の流量が毎分50mlにな
るように現像液/純水供給装置8を制御するとともに、
超音波振動子3から40MHzの超音波を発生させて現
像液14に超音波を付与した。そして、モニタ装置12
で現像の進行度をモニタして、案内溝やプリピットに相
当するフォトレジストの凹凸部が所望の寸法で現像され
た時点で、現像液/純水供給装置8を制御して現像液の
供給を停止し、純水タンクからノズル5に純水を毎分1
000mlの流量で供給した。こうして、支持板7とフ
ォトレジスト表面との間隙に充満されている現像液14
を純水で置換して、原盤の現像を終了した。
【0029】次いで、得られた原盤を用いて実施例1と
同様の製造方法により光ディスクを製造した。製造した
光ディスクに形成されている案内溝やプリピットのエッ
ジ部分及び底部を、実施例1と同様にAFMにより観察
した。観察の結果、本実施例で製造した光ディスクは、
従来の現像装置を用いて製造された光ディスクよりも、
案内溝やプリピットのエッジ部分は極めてシャープであ
り、底部は極めて平滑であった。
【0030】また、実施例1と同様に、光ディスク駆動
装置を用いて、ランド部(案内溝間)及びグルーブ部
(案内溝)におけるトラッキング信号を測定した。その
結果、ランド部のトラッキング信号のノイズは従来より
も2dB小さく、グルーブ部のトラッキング信号のノイ
ズは従来よりも3dB小さかった。
【0031】
【実施例3】この実施例では、現像中に、現像液の供給
を停止させた以外は、実施例2と同一の現像装置を用い
て原盤の現像を行った。現像液の供給を停止したときに
は、現像液は、支持板7と原盤1との間に表面張力で維
持されていた。原盤回転中においても現像液は、原盤1
と支持板7との間であって、それらの外縁部でメニスカ
スを形成していることが確認された。そして、得られた
原盤を用いて実施例1と同様の製造方法により光ディス
クを製造した。製造した光ディスクに形成されている案
内溝やプリピットのエッジ部分及び底部を、実施例1と
同様にAFMにより観察した。観察の結果、本実施例で
製造した光ディスクは、従来の現像装置を用いて製造さ
れた光ディスクよりも、案内溝やプリピットのエッジ部
分は極めてシャープであり、底部は極めて平滑であっ
た。
【0032】また、実施例1と同様に、光ディスク駆動
装置を用いて、ランド部(案内溝間)及びグルーブ部
(案内溝)におけるトラッキング信号を測定した。その
結果、ランド部のトラッキング信号のノイズは従来より
も2dB小さく、グルーブ部のトラッキング信号のノイ
ズは従来よりも2dB小さかった。
【0033】以上、本発明の現像装置及び現像方法につ
いて実施例1〜3により詳細に説明したが、本発明はこ
れらに限定されるものではない。例えば、上記実施例1
〜3では、再生専用の光ディスクを製造したが、1回だ
けの情報の記録が可能な追記型光記録媒体や、光磁気デ
ィスクや相変化ディスクなどの書き換え型光記録媒体を
製造することが可能である。
【0034】また、上記実施例2の現像装置では、支持
板の上面に超音波振動子を設ける構成にしたが、超音波
振動子を支持板の下面に設けて、現像中に超音波振動子
を現像液に浸漬させる構成にすることも可能である。か
かる構成では、現像液に直接超音波を与えることが可能
となる。また、支持板を省略して超音波振動子と原版と
の間に直接現像液を供給できるように超音波振動子を構
成させることも可能である。
【0035】また、上記実施例では、フォトレジストの
膜厚が140nmの原盤を露光及び現像し、得られた原
盤から光ディスクを製造したが、フォトレジストの膜厚
が20nm〜300nmの原盤に本発明の現像方法及び
現像装置を適用することもできる。フォトレジストの膜
厚が20nm〜300nmの原盤に本発明の現像方法及
び現像装置を適用して光ディスクを製造した場合におい
ても、案内溝やプリピットのエッジ部分は極めてシャー
プであり、底部は極めて平滑となっていることをAF
M、SEMによる観察から確認した。
【0036】
【発明の効果】本発明の現像装置によれば、現像中、現
像液に超音波を付与することができるので、プリピット
や案内溝に相当する凹凸部で現像液を良好に攪拌させる
ことができる。それゆえ、超微細な凹凸パターンで露光
された原盤であっても、所望の形状の凹凸で現像するこ
とができるので、超高密度記録用の情報記録媒体の原盤
を現像する装置として極めて好適である。
【0037】また、本発明の現像方法では、露光された
原盤上に現像液を供給した状態で、原盤を回転させなが
ら現像液及び原盤の少なくとも一方に超音波を適用して
フォトレジストを現像するので、フォトレジストの露光
部分を均一に現像することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の現像方法に従う現像装置の一例の概略
構成図である。
【図2】本発明に従う現像装置の概略構成図である。
【図3】図2に示す現像装置の支持板を上面側から見た
図であり、4つの超音波振動子が配置されている様子を
示す。
【図4】従来の現像装置の概略構成図である。
【符号の説明】 1 原盤 2 フォトレジスト 3 超音波振動子 4 ターンテーブル 5 ノズル 7 支持板 8 現像液/純水供給装置 9 レーザー光源 11 光検出器 12 モニタ装置

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所望の凹凸パターンで露光されたフォト
    レジストを有する原盤を現像するための現像装置におい
    て、 原盤を載置し回転させるためのターンテーブルと、 超音波を発生させるための超音波振動子と、 該超音波振動子を支持し、且つ上記原盤上に所定の高さ
    で配置される支持板と、 原盤と支持板との間に現像液を供給するための現像液供
    給源とを備えることを特徴とする現像装置。
  2. 【請求項2】 上記支持板に、原盤中心に対向する位置
    に現像液排出口が形成されており、該現像液排出口と現
    像液供給源が連結されていることを特徴とする請求項1
    に記載の現像装置。
  3. 【請求項3】 現像時に、上記支持板と原盤との間に現
    像液が充満されることを特徴とする請求項1または2に
    記載の現像装置。
  4. 【請求項4】 更に、上記原盤に光を照射するための光
    源と、 フォトレジスト上の凹凸パターンによる回折光を検出す
    るための光検出器と、 光検出器で検出した回折光の光強度に基づいてフォトレ
    ジストの現像進行度をモニタするためのモニタ装置とを
    備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に
    記載の現像装置。
  5. 【請求項5】 上記現像液供給源は、原盤の現像中に、
    現像液の供給を停止することを特徴とする請求項1〜4
    のいずれか一項に記載の現像装置。
  6. 【請求項6】 上記支持板と原盤との間隙が、0.5m
    m〜10mmの範囲内にあることを特徴とする請求項1
    〜5のいずれか一項に記載の現像装置。
  7. 【請求項7】 露光されたフォトレジストを有する原盤
    を現像する現像方法において、 フォトレジスト上に現像液が供給された状態で原盤を回
    転させながら、現像液及び原盤の少なくとも一方に超音
    波を適用してフォトレジストを現像することを特徴とす
    る現像方法。
  8. 【請求項8】 上記フォトレジストの厚さが300nm
    以下であることを特徴とする請求項7に記載の現像方
    法。
  9. 【請求項9】 基板上にフォトレジストを形成し、フォ
    トレジストを所望のパターンに露光した後、フォトレジ
    ストの露光部分を現像して情報記録媒体用の原盤を製造
    する製造方法であって、 請求項7に記載の現像方法を含むことを特徴とする情報
    記録媒体用の原盤の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20030053376A (ko) * 2001-12-22 2003-06-28 동부전자 주식회사 감광막 제거장치와, 이를 이용하여 웨이퍼 표면의감광막을 제거하는 방법
KR101391075B1 (ko) * 2005-08-15 2014-04-30 램 리써치 코포레이션 포토레지스트를 현상하는 장치 및 그 장치를 동작시키는방법

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KR20030053376A (ko) * 2001-12-22 2003-06-28 동부전자 주식회사 감광막 제거장치와, 이를 이용하여 웨이퍼 표면의감광막을 제거하는 방법
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