JP2000512054A - 電源断から保護される電気的に消去可能かつプログラム可能な不揮発性メモリ - Google Patents
電源断から保護される電気的に消去可能かつプログラム可能な不揮発性メモリInfo
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [請求項1] 電源電圧(Vcc)からプログラミングまたは消去用高電圧(V pp)を生成する手段(30)を備えた電気的に消去可能かつプログラム可能なメモ リ(10)であって、 電源電圧(Vcc)の断の場合に、プログラムされる、または消去されるプロセ ス中のメモリセル(Ci,j)に上記高電圧(Vpp)を供給するパスを維持する手段 (SWi、TIi)と、該高電圧(Vpp)を維持することのできる電気容量(Chv、CR2 )と、を備えることを特徴としたメモリ。 [請求項2] 請求項1記載のメモリにおいて、 プログラムされる、または消去されるプロセス中のセルに上記高電圧(Vpp) を供給するパスを維持する手段が、該高電圧(Vpp)を供給され、その出力(OUT )が該高電圧(Vpp)を供給するトランジスタ(TPGR1、TPGR2)と、メモリセル を選択するトランジスタ(TSWLi、TSBLi)と、接地トランジスタ(TPGR1)と、 を制御するメモリスイッチ(SWi)を備えるメモリ。 [請求項3] 請求項2記載のメモリにおいて、 メモリスイッチ(SWi)が、上記高電圧(Vpp)を供給され、分離トランジスタ (TIi)によって制御される、少なくとも2つの閉ループ反転ゲート(INV1、INV 2)を備えるメモリ。 [請求項4] 前記の請求項のいずれか1つに記載のメモリにおいて、 上記高電圧(Vpp)を維持することのできる上記容量が、該高電圧を生成する 上記手段(30)内に存在する安定化容量(Chv)を備えるメモリ。 [請求項5] 請求項1ないし4のいずれか1つに記載のメモリにおいて、 上記高電圧(Vpp)はランプ(Vpp)を発生させる回路(34)によって印加され 、電源電圧(Vcc)の断の場合に上記ランプ発生回路(34)を禁止する手段(TR4 、40、40'、50、60)を備えるメモリ。 [請求項6] 請求項5記載のメモリにおいて、 ランプ発生回路(34)を禁止する上記手段(TR4、40、50、60)は: 電源電圧(Vcc)の断を検出するためのものであって、電源電圧の断が検出さ れた時に活性化される回路(40、40')と、 ランプ電圧(Vpp)が効率しきい値(Vppmin)に達した時に活性化される(DET ECT)ランプ発生回路(34)の出力における電圧(Vpp)をモニタする回路(50) と、を備え、 ランプ発生回路(34)が、両方の回路が活性化された時に禁止されるメモリ。 [請求項7] 請求項6記載のメモリにおいて、 電源電圧(Vcc)の断を検出する回路(40)が、該電源電圧をモニタし、該電 源電圧が予め定められたしきい値(Vccmin)を下回る時に活性化されるように設 計されたメモリ。 [請求項8] 請求項6記載のメモリにおいて、 電源電圧の断を検出する回路(40')が、ランプ発生回路(34)に印加される 高電圧(Vppreg)をモニタし、該高電圧(Vppreg)がその通常値(Vregnom)を 下回る時に活性化されるように設計されたメモリ。 [請求項9] 請求項1ないし8のいずれか1つに記載のメモリ(10)と、 上記メモリ(10)を、データを蓄積する手段として用いる論理回路(20)と、を 備えるマイクロ回路(1)。 [請求項10] 請求項9記載のマイクロ回路において、 電源電圧(Vcc)が現れる時、論理回路(20)の始動が、メモリ(10)のプロ グラミングまたは消去動作の継続時間とほぼ等しい時間間隔の間遅延されるマイ クロ回路。 [請求項11] 請求項10記載のマイクロ回路において、 上記高電圧(Vpp)が、該高電圧(Vpp)を生成する手段(30)の出力に存在す ることを条件として、論理回路(20)の始動が遅延されるマイクロ回路。 [請求項12] 電気的に消去可能かつプログラム可能なメモリ(10 )に、上記メモリ(10)の電源電圧(Vcc)の断がメモリセル(Ci,j)のプログ ラミングまたは消去動作の間に起こった時に誤ったデータを書き込む危険性を減 らす方法であって、 該メモリ(10)は、プログラミングまたは消去用高電圧(Vpp)を生成する手 段(30)を備え: 電源電圧(Vcc)がない時に、メモリセル(Ci,j)に上記高電圧(Vpp)を供給 するパスを維持し、 プログラミングまたは消去動作に必要な時間の間、該高電圧(Vpp)を維持す る、 ことからなるステップを備えることを特徴とした方法。 [請求項13] 請求項12記載の方法において、 上記高電圧(Vpp)の保持が、少なくとも、該高電圧(Vpp)を生成する手段( 30)の内部容量(Chv、CR2)によって確保される方法。 [請求項14] 請求項12および13のいずれか1つに記載の方法において、 上記高電圧(Vpp)を供給するパスを維持するために、該高電圧(Vpp)を供給 されるメモリスイッチ(SWi)が備えられ、その出力(OUT)が、該高電圧(Vpp )を供給するトランジスタ(TPGR1、TPGR2)と、メモリセルを選択するトランジ スタ(TSWLi、TSBLi)と、接地トランジスタ(TPGR1)と、を制御する方法。 [請求項15] 請求項12ないし14のいずれか1つに記載の方法であって、 電流を消費することのできるメモリ回路(34)をスイッチオフにする、あるい は禁止することからなるステップをさらに備える方法。 [請求項16] 請求項12ないし15のいずれか1つに記載の方法において、 電源電圧(Vcc)の断が起こった時点において、メモリ(10)に印加される上 記高電圧(Vpp)が効率しきい値(Vppmin)より高いか、あるいはこれに等しい 値を示すことを条件として、該高電圧(Vpp)を供給 するパスが維持される方法。 [請求項17] 請求項12ないし16のいずれか1つに記載の方法において、 電源電圧(Vcc)の断の検出が、該電源電圧が子め定められたしきい値(Vccmi n)を下回るかを判定することからなる方法。 [請求項18] 請求項12ないし16のいずれか1つに記載の方法において、 電源電圧(Vcc)の断の検出が、高電圧(Vpp)を生成する手段(30)内に存在 する電圧(Vppreg)がその通常値(Vregnom)を下回るかを判断することからな る方法。
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Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5768208A (en) * | 1996-06-18 | 1998-06-16 | Microchip Technology Incorporated | Fail safe non-volatile memory programming system and method therefor |
US5943263A (en) | 1997-01-08 | 1999-08-24 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for programming voltage protection in a non-volatile memory system |
FR2770325B1 (fr) * | 1997-10-29 | 2001-10-05 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit generateur de tension pour programmer ou effacer une memoire qui utilise des transistors a grille flottante |
DE69816032D1 (de) * | 1998-04-30 | 2003-08-07 | St Microelectronics Srl | Verfahren zur Sicherung von Daten im Falle unerwünschter Unterbrechnungen während ein Programmzyklus eines nichtflüchtigen Speichers, und ein nichtflüchtiger Speicher |
JP4248624B2 (ja) * | 1998-07-03 | 2009-04-02 | 株式会社デンソー | 内燃機関用電子制御装置。 |
JP4231572B2 (ja) * | 1998-07-07 | 2009-03-04 | 沖電気工業株式会社 | 電圧監視回路及びそれを内蔵したメモリカード |
EP1496468A1 (fr) * | 2003-07-11 | 2005-01-12 | Axalto S.A. | Procédé de gestion d'une mémoire dans un objet portatif du type mixte |
CN100428203C (zh) * | 2006-11-23 | 2008-10-22 | 北京飞天诚信科技有限公司 | 基于非易失性存储的便携式设备的实现掉电保护的方法 |
KR100888842B1 (ko) * | 2007-06-28 | 2009-03-17 | 삼성전자주식회사 | 읽기 전압을 최적화할 수 있는 플래시 메모리 장치 및그것의 독출 전압 설정 방법 |
CN101656108B (zh) * | 2008-08-19 | 2012-06-27 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 电源供电电路及应用方法 |
CN103345942B (zh) * | 2013-07-03 | 2016-03-02 | 上海华力微电子有限公司 | 解析存储器操作类型错误的方法及其装置 |
CN105631965B (zh) * | 2014-10-30 | 2018-03-16 | 中车大连电力牵引研发中心有限公司 | 车载wtb报文记录仪 |
KR101745679B1 (ko) * | 2014-11-27 | 2017-06-09 | 주식회사 엘지화학 | 고흡수성 수지의 제조 방법 및 이를 통해 제조된 고흡수성 수지 |
FR3039921B1 (fr) * | 2015-08-06 | 2018-02-16 | Stmicroelectronics (Rousset) Sas | Procede et systeme de controle d'une operation d'ecriture d'une donnee dans une cellule-memoire du type eeprom |
FR3041807B1 (fr) * | 2015-09-24 | 2017-12-08 | Stmicroelectronics Rousset | Procede de controle d'un cycle d'ecriture de memoire de type eeprom et dispositif correspondant |
CN105404346B (zh) * | 2015-12-22 | 2017-08-08 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 电压调整、高压产生和存储器电路 |
CN107403644B (zh) * | 2017-05-22 | 2020-01-10 | 宜鼎国际股份有限公司 | 具备异常电源保护的闪存装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2604555B1 (fr) * | 1986-09-30 | 1988-11-10 | Eurotechnique Sa | Circuit integre du type circuit logique comportant une memoire non volatile programmable electriquement |
JP2507576B2 (ja) * | 1988-12-28 | 1996-06-12 | 株式会社東芝 | 半導体不揮発性メモリ |
EP0598475A3 (en) * | 1992-11-17 | 1995-03-22 | Advanced Micro Devices Inc | Device and method for protecting a programmable logic circuit against input overvoltages. |
US5371709A (en) * | 1993-04-01 | 1994-12-06 | Microchip Technology Incorporated | Power management system for serial EEPROM device |
JPH07248977A (ja) * | 1994-03-10 | 1995-09-26 | Fuji Electric Co Ltd | 不揮発性メモリ回路 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7426136B2 (en) | 2002-09-25 | 2008-09-16 | Renesas Technology Corp. | Non volatile memory |
US7558107B2 (en) | 2002-09-25 | 2009-07-07 | Renesas Technology Corp. | Non volatile memory |
US7808828B2 (en) | 2002-09-25 | 2010-10-05 | Renesas Electronics Corporation | Non volatile memory |
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