JP2000332402A - 電子部品搭載装置 - Google Patents
電子部品搭載装置Info
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Abstract
の吹出し口を構成し、回路基板と電子部品との接合部の
酸化を防止して接合品質を安定化させる電子部品搭載装
置を提供する 【解決手段】 ボンディングヘッドの先端側に取り付け
られるボンディングツールを電子部品の背面に当接させ
てこれを所定の加熱源を用いて加熱することにより、電
子部品及び回路基板の電極同士を熱接合させてボンディ
ングを行う電子部品搭載装置において、上記電極同士の
熱接合に際してその接合部及びその近傍に対して不活性
ガスを吹き出す吹出し口を、上記ボンディングツールの
電子部品に当接する部分近傍に設ける。
Description
回路基板に搭載する電子部品搭載装置に関する。
するために、半導体チップ等の電子部品を実装対象物で
ある回路基板上に直接に実装するフリップチップ実装が
用いられてきている。この工法では、一般に、電子部品
の電極部分にバンプが形成され、熱を加えてバンプを回
路基板上の電極に接合する。最近では、かかる工法を採
用する電子部品搭載装置として、電子部品を真空吸着し
ハンドリングしつつ、熱を加えて回路基板上の所定位置
に搭載するボンディングヘッドを有するものが主流とな
っている。
れた電子部品搭載装置におけるボンディングヘッドの一
例を示す。図6及び7は、それぞれ、ボンディングヘッ
ドの構成を示す断面説明図及びボンディングヘッドの下
端面を示す説明図である。このボンディングヘッド50
は、電子部品51を下端側で吸着保持しながら熱を加え
て回路基板54上の所定位置に接合するもので、その下
端側には、回路基板54に対する電子部品51のボンデ
ィングを直接に行うボンディングツール58が吸着保持
されている。このボンディングヘッド50は、昇降機構
66及び水平方向移動機構67を備え、回路基板54の
上方で昇降する若しくは水平方向に移動することができ
る。ボンディングヘッド50の内部には、吸着保持され
るボンディングツール58の下面側で電子部品51を吸
着するためのエア経路60(図中の中央にある経路)
と、上記ボンディングツール58を吸着保持するための
エア経路61(図中の左側にある経路)とが設けられて
いる。また、ヘッド50の内部には、上記ヘッド50の
下端面の周縁部に形成された複数の吹出し口62aに連
通するガス供給経路62(図中の右側にある経路)が設
けられている。
ィングツール58に吸着保持された電子部品51が、そ
の下面側に形成されたバンプ64と回路基板54上に形
成された電極65とが接触するように位置決めされた状
態(図6参照)で、所定の加熱源(不図示)により加熱
され上記バンプ64が溶融させられることにより、回路
基板54に接合されるようにしてボンディングが行われ
る。かかるボンディングの間に、上記バンプ64と電極
65との接合部63の酸化を防止するために、ガス供給
経路62を通じて、窒素N2などの不活性ガスが供給さ
れ、吹出し口62aから上記接合部63に対して吹き付
けられる。この不活性ガスは、ガス供給経路62が連通
するガス供給源68から供給される。上記不活性ガスの
吹出し口62aは、ボンディングヘッド50の下端側
で、ボンディングツール58が吸着される部分の外側近
傍に形成されており、図7からよく分かるように、ボン
ディングツール58が吸着保持された状態で、ツール5
8の外周に沿って位置する。不活性ガスは、各吹出し口
62aから均等な量で吹き出される。
ボンディングヘッド50では、不活性ガスの吹出し口6
2aがヘッド50の下端側に設けられているため、サイ
ズの異なる各種電子部品51を対象とする場合には、上
記吹出し口62aの位置が電子回路51と回路基板54
との接合部63から大きく離れることがある。この場合
には、接合部63に達する不活性ガスは周囲の大気との
混合により濃度が低下し、接合部63の酸化を十分に防
止することができず、接合品質が低下する惧れがある。
また、いずれの場合にも、上記吹出し口62aから基板
表面までの高さが同じであるため、圧力差が生じにく
く、回路基板54に吹き付けられた不活性ガスは、電子
部品51と基板54との間に流路を確保し得ず、不活性
ガスが接合部63まで到達しないことがある。これによ
り、接合部63の酸化を十分に防止することができず、
安定した接合品質を得ることができなくなる。
たもので、各種の部品形状に対応し得る不活性ガスの吹
出し口を構成し、回路基板と電子部品との接合部の酸化
を防止して接合品質を安定化させる電子部品搭載装置を
提供することを目的とする。
明は、ボンディングヘッドの先端側に取り付けられるボ
ンディングツールを電子部品の背面に当接させてこれを
所定の加熱源を用いて加熱することにより、電子部品及
び回路基板の電極同士を熱接合させてボンディングを行
う電子部品搭載装置において、上記電極同士の熱接合に
際してその接合部分に対して不活性ガスを吹き出す吹出
し口が、上記ボンディングツールの電子部品に当接する
部分近傍に設けられていることを特徴としたものであ
る。
項1に係る発明において、上記ボンディングツールにお
いて、上記吹出し口の一部が他の吹出し口と比べて電子
部品に当接する部分から離れて設けられていることを特
徴としたものである。
項1又は2に係る発明において、上記加熱源がセラミッ
クヒータであることを特徴としたものである。
て、添付図面を参照しながら説明する。図1は、本発明
の実施の形態に係る電子部品搭載装置の内部構造を示す
斜視図である。この電子部品搭載装置1は、順次電子部
品3を回路基板5上の所定位置に位置決めした上で、電
子部品3に熱を加え、回路基板5に対して熱接合させる
ことによりボンディングを行うもので、その基本的な構
成として、電子部品3を保持しながら熱を加えるボンデ
ィングヘッド10と、回路基板5が載置されるボンディ
ングステージ21とを有している。ボンディングヘッド
10は、ボンディングステージ21上に吸着式に保持さ
れて配置される回路基板5の上方で、水平方向移動機構
19及び昇降機構18(図2参照)により、水平方向
(図中のX方向)及び鉛直方向(図中のZ方向)に可動
である。この電子部品搭載装置1では、回路基板5に搭
載される電子部品3が、トレイ20に複数収納されてお
り、ボンディングヘッド10は、各電子部品3を順次取
り出して回路基板5上の所定位置に搭載するようになっ
ている。
20は、水平方向(図中の上記X方向に直交するY方
向)に可動であるスライドベース22上に固定されてお
り、該スライドベース22の動作に伴ない、水平方向に
移動することができる。また、この電子部品搭載装置1
では、電子部品3の搭載作業に際して電子部品3及び回
路基板5の位置を認識する手段として、画像認識光学系
25が装備されており、該画像認識光学系25は、図中
のX及びY方向の両方向に可動であり、回路基板5が載
置されるボンディングステージ22の動作に伴ない移動
する。この画像認識光学系25は、視野の切替えによっ
て、その下方に位置する回路基板5及びその上方に位置
する電子部品3を位置認識するものである。
光学系25が電子部品3及び回路基板5の位置を認識す
ると、この位置情報に基づき、上記ボンディングヘッド
10が電子部品3を吸着保持しながらハンドリングし、
回路基板5上の所定位置に電子部品3を位置決めする。
このように電子部品3が位置決めされた状態で、電子部
品3に熱が加えられて、その下端面に形成されたバンプ
4(図2参照)が溶融されることにより、電子部品3が
回路基板5に熱接合させられる。
概略的に示す縦断面説明図である。このボンディングヘ
ッド10は、上から順に、ボンディングヘッド本体9と
ウォータジャケット15と加熱源14とボンディングツ
ール2とが組合せられてなるもので、その内部には、一
端側でボンディングヘッド本体9から減圧装置(不図
示)に連通する一方、他端側でボンディングツール2の
下端面にて開口するエア経路11(図中の中央にある経
路)と、一端側でボンディングヘッド本体9から減圧装
置(不図示)に連通する一方、他端側で加熱源14の下
端面にて開口するエア経路12(図中の左側にある経
路)とを有している。このボンディングヘッド10で
は、上記エア経路12における減圧作用により、上記加
熱源14の下面側にボンディングツール2が吸着保持さ
れるとともに、上記エア経路11における減圧作用によ
り、上記ボンディングツール2の下面側に回路基板3が
その背面において当接して吸着保持される。更に、ボン
ディングヘッド10は、その内部に、一端側でボンディ
ングヘッド本体9からガス供給源17に連通し、他端側
で加熱源14の下端面にて開口する不活性ガス供給経路
13(図中の右側にある経路)を有している。この不活
性ガス供給経路13には、不活性ガス供給のオンオフを
制御し得る電磁弁16が設けられている。
ンディングツール2が、その上面側に配置された加熱源
14からの熱を受け、電子部品3の下端面に形成された
バンプ4を加熱溶融させて、回路基板5上の電極6と接
合させることにより、ボンディングが行われる。この実
施の形態では、上記加熱源14として、セラミックヒー
タが用いられる。かかる電子部品3のボンディングに際
して、上記加熱源14の上面側に配置されるウォータジ
ャケット15の内部には、冷却水が循環させられ、これ
により、加熱源14からヘッド上方への熱の伝達が遮断
され、ボンディングヘッド10の熱膨張等による機械精
度の低下が防止される。
電子部品3のボンディングの間に、上記電子部品3側の
バンプ4と回路基板5側の電極6との接合部7の酸化を
防止するために、上記ガス供給源17から不活性ガス供
給経路13を通じて供給される例えば窒素などの不活性
ガスが、接合部7に対して吹き付けられる。本実施の形
態では、この接合部7に対する不活性ガスの吹付けを実
現するために、上記ボンディングツール2の加熱源14
に接触する上面側で、その周縁に沿って、所定深さの溝
部2cが設けられており、更に、この溝部2cの底面か
ら下方へ延び、ボンディングツール2の下端面にて開口
するガス流路2bが、所定間隔を隔てて複数設けられて
いる。上記溝部2cの幅は、図2から分かるように、ボ
ンディングツール2が他の部品とともに電子部品吸着用
のエア経路11を構成するように加熱源14の下端面に
吸着保持された状態で、上記エア経路12には連通せ
ず、不活性ガス供給経路13にのみ連通するように設定
されている。上記ガス流路2bは、ツール2の下面側
で、ガス吹出し口2aとして開口する。かかる構造を備
えたボンディングツール2によれば、上記ガス供給源1
7から不活性ガス供給経路13を通じて供給された不活
性ガスが、エア経路13に連通する部分から溝部2cに
流れ込み、ボンディングツール2の周縁に沿って溝部2
cの全体に広がり、各ガス流路2bを経て上記吹出し口
2aから均等に吹き出される。
示す説明図である。このボンディングツール2では、電
子部品3(1点鎖線で示す)がエア経路11における減
圧作用により吸着保持された状態で、ボンディングツー
ル2の下端面におけるガス吹出し口2aが、電子部品3
の周囲近傍に位置することになる。これにより、ガス流
路2bを通じて供給される不活性ガスが、各吹出し口2
aから電子部品3と回路基板5との接合部7に対して確
実に吹き付けられることになる。このように、電子部品
3と回路基板5との接合部7に比較的近い電子部品3の
周囲近傍から、上記接合部7に対して不活性ガスを確実
に吹き付けることにより、接合部7に到達した不活性ガ
スの濃度は雰囲気によっても余り低下せず、熱接合に際
して接合部7又は半田材等が酸化することを十分に防止
することができる。この結果、高品質なボンディングを
実現することができる。
ツール2側に吹出し口2aが設けられるので、吹出し口
2aの位置が異なるボンディングツールを予め用意し
て、ボンディングヘッド10の下端側にて吸着保持され
た状態でその吹出し口2aが電子部品3の周囲近傍に位
置するボンディングツール2を電子部品3の形状及びサ
イズに応じて適宜選択するようにして、上記接合部7に
対する良好な不活性ガスの吹出しを、ボンディングツー
ル2の品種対応のみで実現することができる。なお、前
述した実施の形態において、ボンディングツール2は多
数の吹出し口2aを有しているが、これに限定されるこ
となく、複数の吹出し口2aの代わりにスリット状の開
口部若しくは連続した環状のスリットを有していてもよ
い。
しく説明する。なお、以下の説明では、前述した実施の
形態における場合と同じものについては同一の符号を付
し、それ以上の説明を省略する。図4及び5は、それぞ
れ、本発明の他の実施の形態に係るボンディングヘッド
を概略的に示す断面説明図、及び、ボンディングツール
の下端面を示す説明図である。このボンディングヘッド
30は、前述した実施の形態と同じ構成を有しており、
この実施の形態では、ボンディングツール32の一辺側
で、所定深さの溝部32cの底面から下方へ延びるガス
流路33bに対応する部位にて、ツール32の下面33
が高くなるように設定されている。すなわち、ガス流路
33bがボンディングツール32の下端面で開口してな
る吹出し口33aが、ツール32における他の吹出し口
32aよりも高い位置に形成され、ツール32の下面側
における電子部品3に当接する部分から離れている。
2を用いた場合に、ボンディングヘッド30内の不活性
ガス供給経路13を通じて供給される不活性ガスが、高
さの異なる吹出し口32a及び33aから吹き出される
と、高い位置にある吹出し口33aから吹き出される不
活性ガスによる接合部7への圧力が、接合部7の近傍に
位置する吹出し口32aのそれに比べて小さくなる。こ
の不活性ガスの圧力差により、電子部品3に当接する部
分近傍に吹出し口32aが位置する圧力の高い側から、
吹出し口33aが形成された圧力の低い側へ、電子部品
3と回路基板5との隙間を通過する不活性ガス気流が発
生することになる(矢印で示す)。これにより、接合部
7に到達した不活性ガスの濃度が安定して確保され、熱
接合に際して、接合部7又は半田材等の酸化を十分に防
止することができ、高品質なボンディングを達成するこ
とができる。
限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
において、種々の改良及び設計上の変更が可能であるこ
とは言うまでもない。
によれば、電極同士の熱接合に際してその接合部に対し
て不活性ガスを吹き出す吹出し口が、ボンディングツー
ルの電子部品に当接する部分近傍に設けられているの
で、接合部に対して不活性ガスを確実に吹き付け、接合
部近傍の不活性ガスの濃度を安定して確保することがで
きる。これにより、熱接合に際して、接合部又は半田材
等の酸化を十分に防止することができ、高品質なボンデ
ィングを達成することができる。また、この発明によれ
ば、吹出し口の位置が異なるボンディングツールを予め
用意して、ボンディングヘッドの下端側にて吸着保持さ
れた状態でその吹出し口が電子部品の周囲近傍に位置す
るボンディングツールを電子部品の形状及びサイズに応
じて適宜選択するようにして、接合部に対する良好な不
活性ガスの吹出しを、ボンディングツールの品種対応の
みで実現することができる。
ルにおいて、不活性ガスの吹出し口の一部が他の吹出し
口と比べて電子部品に当接する部分から離れて設けられ
ているので、高い位置にある吹出し口から吹き出される
不活性ガスによる接合部への圧力が、接合部の近傍に位
置する吹出し口のそれに比べて小さくなり、かかる不活
性ガスの圧力差によって、電子部品と回路基板との隙間
を通過する不活性ガス気流を発生させることができる。
この結果、接合部に到達する不活性ガスの濃度が安定し
て確保され、熱接合に際して、接合部又は半田材等の酸
化を十分に防止することができ、高品質なボンディング
を実現することができる。
の内部構造を示す全体斜視図である。
概略的に示す縦断面説明図である。
下端面を示す説明図である。
ヘッドを概略的に示す縦断面説明図である。
ルの下端面を示す説明図である。
断面説明図である。
明図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 ボンディングヘッドの先端側に取り付け
られるボンディングツールを電子部品の背面に当接させ
てこれを所定の加熱源を用いて加熱することにより、電
子部品及び回路基板の電極同士を熱接合させてボンディ
ングを行う電子部品搭載装置において、 上記電極同士の熱接合に際してその接合部及びその近傍
に対して不活性ガスを吹き出す吹出し口が、上記ボンデ
ィングツールの電子部品に当接する部分近傍に設けられ
ていることを特徴とする電子部品搭載装置。 - 【請求項2】 上記ボンディングツールにおいて、上記
吹出し口の一部が他の吹出し口と比べて電子部品に当接
する部分から離れて設けられていることを特徴とする請
求項1記載の電子部品搭載装置。 - 【請求項3】 上記加熱源がセラミックヒータであるこ
とを特徴とする請求項1又は2に記載の電子部品搭載装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14482599A JP4294165B2 (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 電子部品搭載装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14482599A JP4294165B2 (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 電子部品搭載装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000332402A true JP2000332402A (ja) | 2000-11-30 |
JP4294165B2 JP4294165B2 (ja) | 2009-07-08 |
Family
ID=15371341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14482599A Expired - Fee Related JP4294165B2 (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 電子部品搭載装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4294165B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101228572B1 (ko) * | 2010-11-30 | 2013-01-31 | 스테코 주식회사 | 열전달 지연부재가 구비된 칩 접합장치 및 이를 이용한 칩 접합방법 |
JP2015051449A (ja) * | 2013-09-09 | 2015-03-19 | 昭和電工株式会社 | 伝熱ろう付方法 |
CN113319500A (zh) * | 2021-05-18 | 2021-08-31 | 大连交通大学 | 一种真空吸盘式焊缝背部防氧化装置 |
US11501450B2 (en) | 2018-06-01 | 2022-11-15 | Nec Corporation | Object tracking device by analyzing an image, object tracking tracking method by analyzing an image, recording medium, and object tracking tracking system by analyzing an image |
-
1999
- 1999-05-25 JP JP14482599A patent/JP4294165B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113319500A (zh) * | 2021-05-18 | 2021-08-31 | 大连交通大学 | 一种真空吸盘式焊缝背部防氧化装置 |
CN113319500B (zh) * | 2021-05-18 | 2023-10-20 | 大连交通大学 | 一种真空吸盘式焊缝背部防氧化装置 |
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---|---|
JP4294165B2 (ja) | 2009-07-08 |
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