JP2000329791A - プリント基板検査機用治具 - Google Patents

プリント基板検査機用治具

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JP2000329791A
JP2000329791A JP11177323A JP17732399A JP2000329791A JP 2000329791 A JP2000329791 A JP 2000329791A JP 11177323 A JP11177323 A JP 11177323A JP 17732399 A JP17732399 A JP 17732399A JP 2000329791 A JP2000329791 A JP 2000329791A
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Takashi Nansai
高司 南斎
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント基板検査機用の治具の製作と、保守
の簡素化。 【構成】 土台として、縦に平行に並んだ、支え板12
と、その支え板の上に固定されたベース板6で、ベース
板6を薄くしても強度を持たせ、そのベース板6に開口
されたベース穴16を加工し易くし、更に、ベース穴1
6に差し込まれたプローブ1と、そのプローブ1の先端
の位置決めを行う為に設けられ、尚且つ、治具の再利用
の為に交換可能なガイド板11とで構成された治具。及
び、前記プローブ1のプランジャー2が、摩耗の際、プ
ランジャー2のみが交換できる事を特徴とするプロー
ブ。これらを用いる事で、プリント基板検査機用の治具
のコスト低減化を可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板検査器の
治具に関し、特にプリント基板検査器の治具の製作の簡
素化に関する。
【0002】
【従来の技術】次に、従来の実施例について図面を参照
しながら具体的に説明する。
【0003】図1は、従来のプリント基板検査機用治具
の主要部分であるプローブと、そのプローブを取り付ら
れたベース板の断面図である。
【0004】図1を参照するに、従来、この種のプリン
ト基板検査機用治具は、厚さ10〜20mm程度の主に
アクリル製のベース板6にベース穴16を開口し、その
穴に差し込まれるソケット5と、そのソケットの内筒部
分に差し込まれるプローブ1とで構成されている。
【0005】図2(a)は、従来のプリント基板検査機
用治具で使用されるプローブの代表的な1例の側面図、
及び、その断面図。(b)は、前記プローブをベース板
に取り付ける際に使用するソケットの側面図、及び、そ
の断面図である。
【0006】図2(a)〜(b)を参照するに、従来の
プローブは、筒状のスリーブ3と、そのスリーブ3の内
筒部分に収まる押しバネのスプリング4と、前記スリー
ブ3の内筒部分に差し込まれ、尚且つ、スリーブ3の内
筒部分に対して軸方向に移動可能に配設された棒状のプ
ランジャー2で構成される。
【0007】又、前記スリーブ3の両端の片端側は、ス
プリング4が抜け落ちない様にカシメ23が設けられ、
もう片端側は、プランジャー2が抜け落ちない様にカシ
メ24が設けられており、プランジャー2に設けられた
段付き部分25が、このカシメ24に引っかかり、プラ
ンジャー2が、スリーブ3から抜け落ちるのを防止して
いる。
【0008】尚、スプリング4はスリーブ3のカシメ部
分23と、プランジャー2の片端に挟まれた状態に配設
され、常にプランジャー2をスリーブ3に対して、軸方
向に押し出す力を与えている。
【0009】更に、これらのスリーブ3、スプリング
4、プランジャー2及び、筒状のソケット5は金属製
で、導電性を持っている。
【0010】図3は、プローブの先端にプリント基板が
押し付けられた状態を示す側面図である。
【0011】図3を参照するに、実際にプリント基板の
検査を行う際は、プローブ1の先端部分、即ち、プラン
ジャー2の先端部分がプリント基板26に押し付けら
れ、プランジャー2が押し縮められる事によって発生す
る前記スプリング4の反発力によって、プランジャー2
の先端部分は、プリント基板26に押し付けられて、電
気的にプリント基板26と導通状態となる。この状態
で、ソケット5に取り付けられた配線8から、プローブ
1、プリント基板26へと、電流を流す事により、各種
検査を行う。
【0012】又、このプローブ1は、検査するプリント
基板の種類にもよるが、1つの治具あたり、数本〜2,
000本程使用し、プリント基板の検査の際には、全て
のプローブが同時にプリント基板に接触し、検査を行
う。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このプ
リント基板検査機用の治具は、検査の際に、プローブ1
本がプリント基板に押し付けられると、前記スプリング
4は、100〜200gの力で、プランジャー2の先端
をプリント基板に押し付けるので、1つの治具あたり、
およそ数本〜2,000本のプローブが、同時にプリン
ト基板に接触すると、プローブ1本あたり100gとし
て、少なくとも、数百g〜200Kg。場合によって
は、400Kgもの力が、プリント基板と、プローブが
取り付けられた前記ベース板6に掛かる事になる。この
為、このベース板6は、これだけの力を受ける為に薄く
する事が難しい。
【0014】更に、プローブ1を取り付ける為の前記ソ
ケット5用の前記ベース穴16を、この厚さ10〜20
mmの前記ベース板6に開口せねばならないが、この穴
が、1mm前後か、それ以下の極小の穴径の為、10〜
20mmのベース板6を貫通させ、尚且つ、ソケット5
を圧入する為の精度の高い穴開けは、手間がかかり、治
具製作の際の大きな問題点である。
【0015】又、構造上、プローブ1をベース板6に対
して垂直に配設する為、プローブ1の外径以下のピッチ
でプローブ1を配設する事が難しく、プローブの先端を
曲げたり、別の方法を取る必要があった。
【0016】本発明は、従来の上記実状に鑑みてなされ
たものであり、従って本発明の目的は、従来の技術に内
在する上記欠点を解消し、更に、従来のプリント基板検
査機用治具に比べて、より低コストで治具を提供するこ
とにある。
【0017】
【課題を解決する為の手段】上記目的を解決する為に、
本発明に係わるプリント基板検査機用治具では、従来の
検査治具に比べ、主にアクリル製の前記ベース板の厚み
を、大幅に薄くし、その代わりに、ベース板の下に、ベ
ース板を支える補強用の板を、ベース板に対して垂直
に、おおよそ一定間隔で配設する事によって、従来のベ
ース板と同等、又はそれ以上の強度をもたせ、尚且つ、
ベース板の厚みを薄くする事によって、製作の際の1番
の手間であった、ベース板への数個〜2000個の穴あ
けの手間を、大幅に軽減している。
【0018】そして従来では、ベース板の厚みでプロー
ブの振れを支えていたが、このプリント基板検査機用治
具では、ベース板の上に、プローブ先端の位置を決める
ガイド板を設ける事によりベース板で全ての力を受ける
必要が無くなり、更に従来、ベース板への穴あけの際に
ソケットを圧入する為、ベース板に開ける穴の精度がう
るさかったが、このプリント基板検査機用治具では、ソ
ケットやプローブをベース板に直接圧入しない為、ベー
ス板の穴あけの際の穴精度を、あまり要求しない。
【0019】これらは、従来のプリント基板検査機用治
具に比べ、大幅に製作の手間を省けるものである。
【0020】又、このプリント基板検査機用治具に合わ
せて、プローブも、専用の物を用いる事で、更に従来に
無い特徴を持たせる事が出来る。
【0021】
【実施例】次に本発明をその好ましい各実施例について
図面を参照しながら具体的に説明する。
【0022】図4(a)〜(b)は、本発明で使用され
るプローブの側面図、及び、その部分断面図である。
【0023】図4(a)〜(b)を参照するに、本発明
におけるプローブ1は、円柱状の軸方向の中心部に穴の
空いた筒状の形状を持ち、尚且つ、その片端側にスプリ
ングの抜け防止の為のフランジ構造を持つガイド金具8
と、そのガイド金具8のフランジ側の穴に圧入、又は、
固定された、棒状の端子9と、前記ガイド金具8の、も
う片端側の穴に、軸方向に移動可能に配設された、棒状
の形状を持つプランジャー2と、ガイド金具8の全長を
短く縮めた形状で、その中心の軸方向の穴に、プランジ
ャー2が、ストッパー22の位置まで圧入され、尚且
つ、プランジャー2と共に、前記ガイド金具8に対して
軸方向に移動可能に配設された、フランジ金具7と、フ
ランジ金具7のフランジ部分と、前記ガイド金具8のフ
ランジ部分の間に挟まれる状態に配設され、フランジ金
具7及び、プランジャー2を、ガイド金具8に対して、
図4の上方向に押し出す力を与える押しバネのスプリン
グ4を具備する構造を持つ。
【0024】尚、プローブ1の構成部品は、全て導電性
を持った素材で出来ている。
【0025】図5(a)〜(e)は、図4に示されたプ
ローブの各構成要素の分解側面図である。
【0026】図6(a)〜(b)は、本発明で使用され
る前記プローブの第2の実施例の側面図、及び、その部
分断面図である。
【0027】図6(a)〜(b)を参照するに、図4に
示された前記プローブ1でのスプリング4の片端側の内
径を、プランジャー2の外径に合わせて、細く絞り、そ
こにプランジャー2を圧入する事で、スプリング4に、
フランジ金具7の機能も持たせた、ガイドスプリング1
0を用いれば、部品点数を減らす事も可能である。
【0028】更に、端子9と、ガイド金具8を、初めか
ら一体で製作する事も可能である。
【0029】図7(a)〜(d)は、図6に示されたプ
ローブの各構成要素の分解側面図である。
【0030】図8(a)〜(b)は、本発明のプリント
基板検査機用治具の具体的な実施例を示す図であり、
(a)は、治具本体、及び、治具本体に、図6〜7で示
されたプローブが取り付けられた状態の、部分側面図、
(b)は、(a)のC部分を拡大した部分断面図であ
る。
【0031】図8(a)〜(b)を参照するに、実際に
治具にプローブを取り付けた状態の実施例の構造として
は、まず、アングル型の断面形状を持つ素材を枠状に接
続した、額縁の様な外観を持つベースフレーム14と、
そのベースフレーム14の上面にビス止め、又は、接着
により固定された、複数の連結カラー13と、その複数
の連結カラー13の間に、平行に、それぞれ挟みこまれ
る形で接着、又は、ビス止め等で固定された、支え板1
2と、その支え板の上に接着等で固定された、板状の形
状を持つ、ベース板6と、そのベース板6に開口された
ベース穴16と、ベース穴16に差し込まれたプローブ
1と、そのプローブ1の先端部分の位置決めを行う為に
設けられた、薄い板状の形状を持ち、尚且つ、プローブ
1の先端部分の位置決めを行うガイド穴15が開口され
たガイド板11と、ガイド板11の位置を固定する為
に、ベース板6と、ガイド板11の間に設けられ、それ
ぞれの両端を、ベース板6と、ガイド板11に接着、又
は、ビス止め等で固定された、複数個のスペーサ18
で、構成される構造を持つ、
【0032】上記ベースフレーム14は、今回、アング
ル形状の例を書いたが、実際は板状の物でも良く、場合
によっては、無くても使用可能な場合もある。
【0033】止め穴19は、複数個の連結カラー13
と、複数個の支え板12を、組み立てる際、長ネジ等で
固定する等に使用する穴である。
【0034】又、図8(a)に示すように、ベース穴1
6と、ガイド穴15は、上方向から見て、同じ位置に開
口する必要は無い。その為に構造上で許す限り、ガイド
穴15を近づけて開口すれば、プローブ1の先端のピッ
チは、図8(b)に示すように、かなり近づけて配置す
る事も可能である上、ベース穴16の穴位置を規格化す
れば、不用になった治具のガイド板11を新規制作する
事によって、治具の再利用も可能になる。
【0035】図9は、図8(a)をA−B間で切断し
た、部分切断図である。
【0036】図9及び、図8(a)を参照するに、実際
に使用する際、この治具は、プリント基板検査機に設置
され、図9及び、図8(a)で示す様にプローブ先端部
分に、プリント基板26が押し付けられると、プローブ
1の先端はプリント基板26によって数ミリ程度、押し
縮められ、ガイドスプリング10の反発力によって、プ
リント基板26の表面の凹凸に追従しながらプリント基
板26の配線部分等に電気的に接続される。この状態
で、プリント基板検査機から、プローブ1の端子9に接
続された配線27を通して、プローブ1に電流が流さ
れ、その電流が、プローブ1から、プリント基板26の
配線部分に流される事によって、各種検査が行われる。
【0037】図10(a)〜(b)は、前記ベース板上
にプローブを固定する方法の1例を示した部分断面図で
あり、(a)は、プローブの標準的な固定方法を示した
部分断面図であり、(b)は、前記端子を用いずに、前
記ガイド金具に直接配線を接続した実施例の部分断面図
である。
【0038】図10(a)〜(b)を参照するに、プロ
ーブ1はベース板6に固定する際に、チューブ状の端子
ガイド21を使用するが、この端子ガイド21は、図1
0(a)の右側の例で示す様に、ベース穴16に圧入さ
れた状態に固定し、その中心部の穴にプローブ1を圧入
する方法、又は、図10(a)の左側の例で示す様に、
ベース穴16にプローブ1を挿入した状態で、プローブ
1の、下側から、端子ガイド21を圧入してプローブ1
を固定する方法、又は、従来のプローブの様に、直接ベ
ース穴16にプローブ1を圧入する方法などが有る。
【0039】更に、端子9は、配線を接続する為の部分
であるが、図10(b)に示すように、端子9を使用せ
ずに、ガイド金具8に直接、配線27を接続し、使用す
る事も可能である。
【0040】又、プローブ1の先端部分、即ち、プラン
ジャー2の先端が摩耗した場合、従来は、プローブ全体
を交換していたが、このプローブでは、先端部分のプラ
ンジャー2のみを交換することが可能であり、これは治
具のメンテナンスを容易にし、維持費削減に大きく貢献
するものである。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来のプリント基板検査機用治具に比べ、製作の際の大
きな手間であった、ベース板への穴あけコストが、大幅
に削減できる上に、完成後のメンテナンスが容易にな
り、維持費も低減する事が可能である。更に従来不要に
なった治具は廃棄処分されていたが、不要治具の再利用
も可能になる等、資源再利用の点から見ても、優れた特
徴を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来例の代表的な1例を示した実施例の断面図
である。
【図2】(a)〜(b)は、従来例の代表的な1例を示
したプローブ、及びソケットの側面図、及び、その断面
図であり、(a)は、プローブの代表的な1例の側面
図、及び、その断面図。(b)は、ソケットの側面図、
及び、その断面図である。
【図3】従来例の代表的な1例を示した実施例の側面図
であり、プローブの先端にプリント基板が押し付けられ
た状態を示す側面図である。
【図4】(a)〜(b)は、本発明で使用されるプロー
ブの側面図、及び、その部分断面図である。
【図5】(a)〜(e)は、図4に示されたプローブの
各構成要素の分解側面図である。
【図6】(a)〜(b)は、本発明で使用される図4〜
図5で示したプローブの第2の実施例の側面図、及び、
その部分断面図である。
【図7】(a)〜(d)は、図6に示された、プローブ
の第2の実施例の、各構成要素の分解側面図である。
【図8】(a)〜(b)は、本発明の具体的な実施例を
示す図であり、(a)は、治具本体、及び、治具本体
に、図6〜図7で示されたプローブが取り付けられた状
態の、部分側面図、(b)は、(a)のC部分を拡大し
た部分断面図である。
【図9】図8(a)をA−B線に沿って切断し矢印の方
向に見た、部分切断図である。
【図10】(a)〜(b)は、ベース板上にプローブを
固定する方法の1例を示した部分断面図である。(a)
は、プローブの標準的な固定方法を示した部分断面図で
あり、(b)は、前記端子を用いずに、前記ガイド金具
に直接配線を接続した実施例の部分断面図である。
【符号の説明】
1…プローブ 2…プランジャー 3…スリーブ 4…スプリング 5…ソケット 6…ベース板 7…フランジ金具 8…ガイド金具 9…端子 10…ガイドスプリング 11…ガイド板 12…支え板 13…連結カラー 14…ベースフレーム 15…ガイド穴 16…ベース穴 17…ビス 18…スペーサ 19…止め穴 20…皿ビス 21…端子カイド 22…ストッパー 23…カシメ 24…カシメ 25…段付き部分 26…プリント基板 27…配線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】縦に並んだ複数の支え板と、その複数の支
    え板をそれぞれ一体に連結する複数の連結部分と、前記
    支え板の上に固定された、ベース板を土台とする事を特
    徴としたプリント基板検査機用治具。
  2. 【請求項2】前記ベース板に開口した穴に差し込まれ
    る、導電性を持った素材で製作されたプローブと、その
    プローブの先端部分の位置決めを行う為に、前記ベース
    板上に、複数のスペーサーを介して固定され、尚且つ、
    前記プローブ先端が差し込まれ、その先端部分の位置決
    めを行う為の穴が開口された、ガイド板を具備する事を
    更に特徴とする請求項1に記載のプリント基板検査機用
    治具。
  3. 【請求項3】前記プローブ部分が、前記ベース板に差し
    込まれ、尚且つ、配線が接続される為の端子部分と、そ
    の端子部分に接続される、フランジを持った円筒形状の
    第1の金具部分と、前記第1の金具の長さを短くした形
    状を持ち、尚且つ、前記第1の金具と軸方向に対象に配
    設された第2の金具と、第1の金具のフランジ部分と、
    第2の金具のフランジ部分の間にそれぞれ圧入にて配設
    された押しバネと、前記第2の金具の軸方向の中心部の
    穴に圧入され、尚且つ、前記第1の金具の軸方向の中心
    部に開口された穴の内部を、軸方向に移動可能に配設さ
    れた、棒状の第3の金具を具備することを更に特徴とす
    る請求項1に記載のプリント基板検査機用治具に使用す
    るプローブ。
  4. 【請求項4】前記プローブの構成部品の前記第2の金具
    部分を使用せずに、前記押しバネ片端部分の形状を前記
    第3の金具が圧入可能な形状に絞る事で代用も可能とす
    る事を更に特徴とする請求項3に記載のプローブ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003107130A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Yokowo Co Ltd 検査用ヘッド
JP2010078432A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Nidec-Read Corp 基板検査治具及び接触子
JPWO2009102029A1 (ja) * 2008-02-14 2011-06-16 日本発條株式会社 コンタクトプローブおよびプローブユニット
CN107796963A (zh) * 2017-11-23 2018-03-13 重庆市远望谷科技有限公司 一种新型多功能pcb印制板检测用夹具

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003107130A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Yokowo Co Ltd 検査用ヘッド
JPWO2009102029A1 (ja) * 2008-02-14 2011-06-16 日本発條株式会社 コンタクトプローブおよびプローブユニット
JP2010078432A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Nidec-Read Corp 基板検査治具及び接触子
CN107796963A (zh) * 2017-11-23 2018-03-13 重庆市远望谷科技有限公司 一种新型多功能pcb印制板检测用夹具

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