JP2000315830A - 磁電変換素子の製造方法 - Google Patents
磁電変換素子の製造方法Info
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Abstract
の優れた連続方法で製造することを可能とする。 【解決手段】 基板が磁性体の磁電変換素子用ペレット
を、リードフレームに接続する工程を備える磁電変換素
子の製造方法は、複数の半導体素子を形成したウエハの
裏面に樹脂層を設ける工程と、樹脂層を設けたウエハを
ダイシングして個別の磁電変換素子用ペレットにする工
程と、磁電変換素子用ペレットを、樹脂層を介してリー
ドフレームに固着する工程と、磁電変換素子用ペレット
上の電極をリードフレームと結線する工程とを具え、該
樹脂層が厚み1〜50μmであり、前記樹脂層の樹脂が
ガラス転移点60〜160℃、接着活性温度170〜3
50℃、および熱伝導率0.2〜3.5W/m/℃を有
している。
Description
レットをリードフレームに極めて短時間に容易に固着す
る磁電変換素子の製造方法に関する。
ィスクやCD−ROMなどのドライブモーター用の回転
位置検出センサあるいはポテンショメーター、歯車セン
サなどとして広く用いられている。そしてその需要の増
加に伴い、コストダウンの要求が益々強くなり、生産性
向上が至上命題になっている。
るホール素子を例にして従来の半導体ペレットとリード
フレームの一体化の方法を説明する。
には樹脂ペーストが用いられ、ディスペンス方式やスタ
ンピング方式によりリードフレームの所定の位置に塗布
された樹脂ペースト上にペレットを搭載し、加熱硬化す
る。次いで、数分から数時間の硬化後、引き続きの工程
でAu線やAl線で半導体ペレットの回路上の電極とリ
ードフレームを連結する。
ドフレームのアイランド部分に順次塗布していくので時
間がかかり、時間経過とともに粘度変化して塗布量が変
化するために接着状態が不安定になることもあり、さら
に、樹脂ペーストが硬化する時間が必要なために次工程
との連続化が困難であった。
0号公報、特開昭59−45351号公報、特開昭59
−143335号公報、特開昭59−221369号公
報、特開昭60−66440号公報、特開昭62−28
5429号公報、特開平1−319948号公報に記載
されている。
態の熱硬化性樹脂層をシリコンウエハの裏面に形成して
おき、切断後の半導体ペレットをリードフレームの所定
箇所に載置し、熱圧着する方法である。
の調整により熱硬化性樹脂層を半硬化状態にする必要が
あり、そのコントロールは極めて難しく、その結果製造
工程に適用しようとするとその管理が煩雑になるという
問題が生じる。又、予め熱硬化性樹脂を塗布する方法で
は次のワイヤボンディング工程での接合強度を保証する
のが難しい。その理由は、接着強度上どうしても熱硬化
性樹脂を厚く塗布しなければならなく、熱硬化性樹脂が
厚くなるとワイヤボンディングに超音波を用いた場合に
超音波がうまく伝達されないため、接合強度は低下する
のが一般的だからである。
いとモールド時にペレットが動いてしまうという心配が
あるので、ガラス転移点が160℃より高いものを用い
ていた。そして、ガラス転移点が高くなると、ペレット
へのダメージも強くなる、接着活性温度が高くなってリ
ードフレームの温度も高くなり、リードフレーム上のA
gメッキの酸化防止のための不活性ガスが必要となる、
などの問題が生じていた。
製造に用いられている手法、すなわち、トランジスタや
ダイオード等のディスクリート品で用いられる、基板が
Siの半導体ペレットに、あらかじめAu−SiやAu
−Snなどの金属層を形成し、リードフレームに熱圧着
してリードフレームと接着させると同時にSiと金属層
を共晶化させるために極めて短時間で接着固定が可能な
方法を適用することが考えられる。
電変換半導体ペレットでは上述したディスクリート品に
用いられる方法を適用しても、酸化物であるフェライト
とAu等の金属では共晶反応を起こさないために上記手
法の適用は極めて困難である。
電変換素子を製造する際に、磁電変換素子用ペレットを
リードフレームに固着する工程が、より容易に短時間で
行われ、接着強度が強く連続工程として次工程を行うこ
とを可能とするより作業性の優れた磁電変換素子の製造
方法を提供することを目的とする。
め、本発明者らが鋭意検討を重ねた結果、予め特定の樹
脂をウエハの裏面に塗布または貼り付けること、および
該樹脂に特定な物性を有するものを用いることにより、
工程間の連続化が可能となり、作業性の優れたボンディ
ング法を実現できるという結論に達した。
子用ペレットを、リードフレームに接続する工程を備え
る磁電変換素子の製造方法は、複数の半導体素子が一括
して形成されたウエハの裏面に樹脂層を設ける工程と、
前述の樹脂層を設けたウエハをダイシングして個別の磁
電変換素子用ペレットにする工程と、前述の磁電変換素
子用ペレットを、前記樹脂層を介してリードフレームに
固着する工程と、前述の磁電変換素子用ペレット上の電
極をリードフレームに結線する工程と、を備えており、
ここで用いられる樹脂層は、厚みが1〜50μmであ
り、該樹脂層の樹脂はガラス転移点が60〜160℃、
接着活性化温度が170〜350℃、および熱伝導率が
0.2〜3.5W/m/℃である。
可塑性樹脂または熱硬化性樹脂であることが好ましい。
法では、リードフレームの所定位置にAg入り熱硬化性
樹脂をディスペンスして磁電変換素子用ペレットを搭載
し、2時間にわたってオーブンで加熱してAg入り熱可
塑性樹脂を硬化させ、その後Au線で磁電変換素子用ペ
レットの電極とリード部を結線し、次いで樹脂モールド
して磁電変換素子を得る。
変換素子用ペレットにダイシングする前のウエハの段階
で、リードフレームにではなく複数の半導体素子が一括
して形成されたウエハの裏側に樹脂層を設けること、お
よび用いる樹脂のガラス転移点が160℃以下であるこ
とを特徴としている。
素子の製造方法を示す。
1(a)に複数の半導体素子が一括して形成されたウエ
ハ1の裏面に樹脂層2を設けたものの上面図を示し、そ
のA−A′線に沿った断面図を図1(b)に示し、図1
(c)に個々の半導体素子の上面図を示す。
たウエハ1は、慣用の材料および方法を用いて製造され
る。例えば、ウエハ1は高透磁率磁性体を基板3として
用い、その上に絶縁膜4を介して半導体薄膜5が蒸着な
どの従来の方法を用いて形成される。この半導体薄膜5
に感磁部7と4つの電極部8を含むパターンを形成し、
該感磁部7の上に磁気集束用の磁性体チップ6を搭載す
る。
は、フェライトが好ましく、特に、Mn−Znフェライ
トは透磁率が高く比較的安価であるので好適なものとし
て用いられる。また、半導体素子上に磁性体チップ6を
新たに搭載することによりさらに大幅な感度アップをは
かることができる。
薄膜としては、InSbまたはInAsなどが用いら
れ、このInSb系半導体薄膜は特開平9−14865
2号公報に記載の方法、つまりアンチモン単独では付着
しない温度に設定した結晶性基板上に、インジウムとア
ンチモンを蒸着する際に、蒸着初期にアンチモンをイン
ジウムより過剰に蒸着し、蒸着終期にインジウムのみあ
るいはアンチモンに対して過剰にインジウムを蒸着し、
そして過剰のインジウムと化合物を形成しうる元素を蒸
着することにより形成してもよい。
脂を塗布するか、またはシート状の熱硬化性樹脂を貼付
することによって設けられる。具体的には、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂などから選ぶことができる。これら
の樹脂の物性は、ガラス転移点が60〜160℃、好ま
しくは60〜90℃であり、接着活性化温度が170〜
400℃、好ましくは250〜270℃、熱伝導率が
0.2〜3.5W/m/℃、好ましくは3〜3.5W/
m/℃である。
いる場合、熱可塑性樹脂をウエハの裏面に塗布し、塗布
後溶剤をオーブン等の熱で乾燥させる。また、熱硬化性
樹脂を用いる場合、事前に熱硬化性樹脂をシート状にし
ておき、160℃の熱板上のウエハ裏面にラミネート
し、180℃のアニール処理を行うことにより樹脂層を
設ける。
望ましくは4〜7μmである。樹脂層の厚さが1〜50
μmの範囲以内であると、電極部とリードフレームの結
線部の信頼性が高く、50μmよりも厚くなるとワイヤ
ボンディング時に超音波を用いる際に、超音波がうまく
伝達されないために金線と電極が接合されない場合があ
る。
脂層2が設けられたウエハ1をダイシング装置により切
断し、ウエハ状態からペレット状態にし、磁電変換素子
用ペレット9が得られる。図2(d)のウエハ上の横方
向および縦方向の複数の線は、ダイシングする線を表
す。図2(e)はこのようにして得られた磁電変換用ペ
レット9の断面図を示す。
ト9をリードフレーム10のアイランドに固着する。図
2(f)はリードフレーム10に熱圧着した磁電変換素
子用ペレット9の断面図である。この固着の工程で、樹
脂層2として熱可塑性樹脂を用いた場合は、160℃〜
300℃の温度でリードフレーム10に熱圧着する。ま
た、樹脂層2として熱硬化性樹脂を用いた場合は、22
0℃以上の温度でリードフレームに熱圧着する。熱圧着
して磁電変換素子用ペレット9をリードフレーム10に
完全に固着するのに要する時間は1秒以内である。この
固着に要する時間が1秒以内と短いので、連続して次の
工程に移すことができる。また、樹脂層2はウエハ1の
ときにウエハの裏面に一度に設けられるので時間もかか
らず、ダイシング後の磁電変換素子用ペレット9はいず
れも樹脂ペーストが同様に設けられており、接着状態が
不安定になることもない。
り160℃より高い温度でないとモールド時にペレット
が動く心配があるので問題とされていたが、本発明者ら
が多くの実験を行った結果、樹脂層に160℃以下のガ
ラス転移点の樹脂を用いてもモールド時に何の問題もな
いことがわかった。しかも、ガラス転移点の低い方がペ
レットへのダメージが少なくなり、極めて有利である。
合、例えばガラス転移点が160℃より高い樹脂を用い
た場合は、短時間で固着させるために接着活性化温度は
350℃以上になり、運転条件としては、マージンをみ
てリードフレームの温度は450℃程度になる。この場
合、一般的にリードフレーム上のAgメッキの酸化防止
のためにN2やH2等の不活性ガスが必要となる。しか
し、ガラス転移点が60℃程度の樹脂を用いた場合は、
組立時のリードフレームの温度は250℃程度となり不
活性ガスを用いなくても十分であり、本発明の範囲以内
のガラス転移点を有する樹脂を用いると余計なコストを
省くことができる。
された4つの電極部8とリードフレームを金の細線によ
って結線し、エポキシ樹脂で成型する。このとき樹脂層
2の厚みが前述したように1〜50μm、望ましくは4
〜7μmであるのでワイヤボンディングで超音波を用い
たとき、超音波がうまく伝達され結線部の信頼性が高
い。
するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものでは
ない。
3,000cm2/V/sec(ファン・デル・パウ法
で測定)のInSb薄膜を形成した。
ホルダに設置し、蒸着源用のInおよびSbのボートを
有する真空蒸着機内に設置して、真空度7×10-6To
rr、基板温度を400℃に設定して、トータル設定時
間を17分とし、最終温度を480℃にして蒸着を行う
ことによって形成した。
し、上記のようにして得られたInSb薄膜上にポリイ
ミド樹脂を滴下し、フェライトをその上に重ね、重しを
置いて200℃で12時間放置した。次に室温に戻しマ
イカを剥ぎ取った。このInSb薄膜にフォトリソグラ
フィーによってホール素子パターンを形成した。
したウエハの裏面にアルファメタルズ社製の熱可塑性樹
脂STAYHOLD908を塗布し乾燥させた。この樹
脂のガラス転移点は85℃、接着活性化温度は170
℃、および熱伝導率は0.2〜0.3W/m/℃であ
る。塗布は図3に示すノードソン社製のパルススプレー
コート装置により実施した。タンク11内のスラリー状
の樹脂をポンプ12で回路内に循環させて塗布部13で
パルス状のエア圧をかけてウエハ裏面上に塗布した。乾
燥後の樹脂の膜厚は平均で5μmであった。
としてそれぞれフェライトチップを搭載したウエハをダ
イシングにより個別のペレットに切断した。引き続き2
50℃に設定したダイボンダにてリードフレームのアイ
ランドにペレットを熱圧着した。接続時間は1秒以下の
ため連続して次工程であるワイヤボンド工程作業を実施
できた。
ドフレームをワイヤボンダにて金線を介して接続した。
この際、温度を130℃以下に設定することにより金線
と電極間は良好な接続強度を得られた。
シ樹脂で成型した。
ウエハ状の半導体装置にアルファメタルズ社の熱可塑性
樹脂STAYSTIK181を塗布した。この樹脂のガ
ラス転移点は85℃、接着活性化温度は170℃、およ
び熱伝導率は3〜3.5W/m/℃である。塗布は図4
に示すアイデックコントロールズ社製のオフセットロー
ルコート装置を用いた。インクタンクローラー15に供
給された樹脂はブレード14で均一な厚みになり着肉ロ
ーラー16、版胴ローラー17、印刷ローラー18と順
に転写されウエハ裏面に塗布された。乾燥後の樹脂の膜
厚は平均で5μmであった。
にして、250℃にしたリードフレーム上に熱圧着し1
秒でペレットをリードフレームに固着し、引き続き良好
な状態でダイボンド、ワイヤボンド、モールド各工程を
連続的に組み立てた。
インチφのフェライト基板上に電子移動度20,000
cm2/V/secの特性(ファン・デル・パウ法で測
定)のInSbの半導体薄膜を、真空度7×10-6To
rr、基板温度を400℃に設定して、トータル設定時
間を30分とし、最終温度を540℃にして蒸着法で形
成し、このInSb薄膜をフォトリソグラフィーの手法
でホール素子パターンを形成した。
熱可塑性樹脂STAYSTIK181を実施例1と同様
のパルススプレー法で塗布した。乾燥後の樹脂の膜厚は
平均5μmであった。
て、250℃にしたリードフレーム上に熱圧着し1秒で
ペレットをリードフレームに固着し、引き続き良好な状
態でダイボンド、ワイヤボンド、モールド各工程を連続
的に組み立てた。
ウエハ状の半導体装置に日立化成製の厚み25μmのシ
ート状の熱硬化性樹脂HIATTACH DF−335
−7を貼り付けた。この樹脂のガラス転移点は123
℃、接着活性化温度は230℃、および熱伝導率は3W
/m/℃である。貼り付けは図5のように温度160℃
のヒーター20上にウエハ1を置きシート状の樹脂2を
温度40〜70℃のロール19でラミネートする方法を
用いた。
間、オーブンで180℃にて5分間のアニール処理を行
った。
て、250℃にしたリードフレーム上に熱圧着し1秒で
ペレットをリードフレームに固着し、引き続き良好な状
態でダイボンド、ワイヤボンド、モールド各工程を連続
的に組み立てた。
リードフレームと磁電変換素子用ペレットの固着工程に
おいて、ペレットへのダメージが低くなる、または該固
着が容易に短時間で実施でき、時間をおかずに次工程の
ワイヤボンディングを行うことができる、および不活性
ガスを用いる必要がないなどの作業性が向上する。ま
た、本発明はリードフレームと磁電変換素子用ペレット
の接着性も優れた生産性の良好な磁電変換素子を連続工
程にて製造することを可能とする。
ウエハを製造する工程までを説明した図であり、(a)
は樹脂層を設けた、複数の半導体素子が一括して形成さ
れたウエハの上面図、(b)は図(a)のA−A′線に
おける断面図、(c)は、個々の半導体素子の上面図で
ある。
態にする工程を説明した図であり、(d)は樹脂層を設
けたウエハのダイシングを表す上面図、(e)は磁電変
換素子用ペレットの断面図、(f)はリードフレームに
磁電変換素子用ペレットを固着した断面図である。
明図である。
説明図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 基板が磁性体の磁電変換素子用ペレット
を、リードフレームに接続する工程を備える磁電変換素
子の製造方法であって、 複数の半導体素子が一括して形成されたウエハの裏面に
樹脂層を設ける工程と、 前記樹脂層を設けたウエハをダイシングして個別の磁電
変換素子用ペレットにする工程と、 前記磁電変換素子用ペレットを、前記樹脂層を介してリ
ードフレームに固着する工程と、 前記磁電変換素子用ペレット上の電極をリードフレーム
と結線する工程と、を備え、 前記樹脂層が厚み1〜50μmであり、前記樹脂層の樹
脂がガラス転移点60〜160℃、接着活性温度170
〜350℃、および熱伝導率0.2〜3.5W/m/℃
を有することを特徴とする磁電変換素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記樹脂層の樹脂が、熱可塑性樹脂であ
ることを特徴とする請求項1に記載の磁電変換素子の製
造方法。 - 【請求項3】 前記樹脂層の樹脂が、熱硬化性樹脂であ
ることを特徴とする請求項1に記載の磁電変換素子の製
造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11123665A JP2000315830A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 磁電変換素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11123665A JP2000315830A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 磁電変換素子の製造方法 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2010158250A Division JP2011009756A (ja) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | 磁電変換素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000315830A true JP2000315830A (ja) | 2000-11-14 |
Family
ID=14866274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11123665A Pending JP2000315830A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 磁電変換素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2000315830A (ja) |
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- 1999-04-30 JP JP11123665A patent/JP2000315830A/ja active Pending
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