JP2000295098A - フェーズロックループ回路 - Google Patents

フェーズロックループ回路

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JP2000295098A JP11098330A JP9833099A JP2000295098A JP 2000295098 A JP2000295098 A JP 2000295098A JP 11098330 A JP11098330 A JP 11098330A JP 9833099 A JP9833099 A JP 9833099A JP 2000295098 A JP2000295098 A JP 2000295098A
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voltage
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nmos
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Kenji Arai
健嗣 新井
Tomonobu Yokoyama
友信 横山
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体チップ上に形成した精度の高いPLL
(フェーズロックループ回路)を提供する。 【解決手段】 LPF(ループフィルタ)10Aにおい
て、抵抗21,22で分圧された基準電圧VRは、NM
OS20のゲートに与えられ、PMOS19とNMOS
20に所定電流が流れる。PMOS19とNMOS20
のゲート電圧は、電流ミラー回路を構成するPMOS1
7とNMOS18のゲートにバイアス電圧VP,VNと
して与えられる。PFD(位相差検出回路)1から検出
信号UP,DNが出力されると、PMOS17またはN
MOS18は精度の良い高抵抗として動作する。PMO
S17とNMOS18のオン抵抗、抵抗15、及びキャ
パシタ16によるラグリードフィルタの出力は制御電圧
VCとしてVCO(電圧制御発振回路)2に与えられ、
所定の応答特性を有する発振信号FVが得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路上に形成
されたフェーズロックループ回路(以下、「PLL」と
いう)、特にそのループフィルタ(以下、「LPF」と
いう)の構成技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】PLLは、発振器の出力信号の位相を、
外部から与えられる基準信号の位相に一致追従させる回
路である。PLLは、基準信号の周波数を元にして任意
周波数の信号を生成する周波数シンセサイザや、データ
信号の中から同期クロック信号を抽出するクロック再生
回路等に広く使用されている。
【0003】図2は、従来のPLLの構成図である。こ
のPLLは、位相差検出回路(以下、「PFD」とい
う)1、電圧制御発振回路(以下、「VCO」という)
2、帰還回路3、及びLPF10で構成されている。P
FD1は、基準信号FRと内部信号FIとの位相差を検
出し、内部信号FIの位相が遅れているときには検出信
号UPを、進んでいるときには検出信号DNを、その位
相差に応じた時間だけレベル“L”にして出力するもの
である。位相差がない場合は、PFD1からレベル
“H”の検出信号UP,DNが出力されるようになって
いる。
【0004】LPF10は、検出信号UP,DNの高周
波成分を抑制して位相差に応じた安定した制御電圧VC
を生成するものである。このLPF10は、電源電位V
DDとノードN1との間に接続され、PFD1から与え
られる検出信号UPによってオン/オフ制御されるPチ
ャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」とい
う)11を有している。また、LPF10は、検出信号
DNのレベルを反転するインバータ12、及び接地電位
GNDとノードN1との間に接続され、インバータ12
の出力信号によってオン/オフ制御されるNチャネルM
OSトランジスタ(以下、「NMOS」という)13を
有している。ノードN1には抵抗14の一端が接続さ
れ、この抵抗14の他端がノードN2に接続されてい
る。ノードN2と接地電位GNDとの間には、直列接続
された抵抗15とキャパシタ16が接続され、これらの
抵抗14,15、及びキャパシタ16によってラグリー
ドフィルタが構成されている。そして、ノードN2か
ら、検出信号UP,DN中の高周波成分や雑音が除去さ
れて位相差に応じた制御電圧VCが出力されるようにな
っている。
【0005】VCO2は、制御電圧VCによってその発
振信号FVの周波数が制御される発振器であり、制御電
圧VCの上昇に伴ってその発振信号FVの周波数が上昇
する特性を有している。また、帰還回路3は、例えば分
周器等で構成され、発振信号FVの周波数を1/nに分
周し、内部信号FIとしてPFD1に帰還する回路であ
る。このようなPLLで、例えば、VCO2は1MHz
を中心とする一定範囲の周波数で発振するように設計さ
れ、帰還回路3の分周比が1/10に設定されていると
する。
【0006】ここで、PLLへの電源が投入されるとと
もに、外部から例えば100kHzの基準信号FRが与
えられたとする。電源投入直後、LPF10のキャパシ
タ16は充電されていないので、このLPF10から出
力される制御電圧VCは低く、VCO2の発振信号FV
の周波数は1MHzより低くなる。従って、帰還回路3
から出力される内部信号FIは100kHzよりも低く
なり、内部信号FIの位相は基準信号FRに対して遅
れ、PFD1から“L”の検出信号UPが出力される。
これにより、PMOS11がオンとなり、電源電位VD
DからこのPMOS11、及び抵抗14,15を通して
キャパシタ16が充電され、ノードN2から出力される
制御電圧VCは上昇する。
【0007】制御電圧VCの上昇により、VCO2の発
振信号FVの周波数は上昇する。そして、発振信号FV
が1MHzとなり、内部信号FIが100kHzとなっ
て位相同期が確立すると、PFD1の検出信号UP,D
Nはともに“H”となる。これにより、LPF10から
出力される制御電圧VCの上昇は停止して一定値に保持
され、VCO2の発振信号FVの周波数は1MHzに固
定される。ここで、例えば電源電圧変動等によって内部
信号FIの位相が基準信号FRに対して進むと、位相同
期が外れてPFD1から“L”の検出信号DNが出力さ
れ、LPF10のNMOS13がオンとなる。これによ
り、キャパシタ16に充電されていた電荷は、抵抗1
5,14、及びNMOS13を通して接地電位GNDに
放電され、ノードN2の制御電圧VCが低下する。制御
電圧VCの低下により、VCO2の発振信号FVの周波
数は低下し、内部信号FIの位相が遅れるように制御さ
れる。
【0008】また、内部信号FIの位相が基準信号FR
に対して遅れると、PFD1から“L”の検出信号UP
が出力され、LPF10から出力される制御電圧VCが
上昇する。これによってVCO2の発振信号FVの周波
数は上昇し、内部信号FIの位相が進むように制御され
る。このようなフィードバック制御により、内部信号F
Iの位相は基準信号FRの位相に一致追随するようにな
っている。ここで、検出信号UP,DNに基づいて制御
電圧VCを生成するLPF10の応答特性は、PLLの
動作特性に大きな影響を与える。即ち、抵抗14,1
5、及びキャパシタ16で構成されるラグリードフィル
タの時定数を大きくすると、同期確立までの遷移時間で
あるロックアップタイムは長くなるが、一旦同期が確立
すると雑音等による位相ジッタが小さいという特性を示
す。一方、ラグリードフィルタの時定数を小さくする
と、ロックアップタイムは短くなるが、雑音等による位
相ジッタが大きいという特性を示す。このため、例えば
クロック再生回路等に用いられるPLLでは、位相ジッ
タを小さくするために、時定数の大きいLPF10を使
用している。また、携帯電話機等の送受信周波数制御に
用いられる周波数シンセサイザでは、応答速度を速くす
るために時定数の小さいLPF10を使用している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
PLLでは、次の(i)〜(iii)のような課題があっ
た。 (i) PLLを構成するPFD1、LPF10、VC
O2、及び帰還回路3を1つの集積回路として半導体チ
ップ上に形成する場合、LPF10の抵抗14,15の
抵抗値やキャパシタ16の容量値を正確に形成すること
が困難であった。特に、CMOS等の集積回路における
配線パターンの微細化のため、製造プロセスのばらつき
の影響が大きくなり、設計通りの時定数を得ることが困
難となり、所期の特性が得られないことがあった。 (ii) 時定数の大きなLPF10を必要とする場合、
抵抗14の抵抗値を大きくする必要があるが、CMOS
等の集積回路において、例えば100kΩのような安定
した高抵抗を得ることは困難であった。 (iii) LPF10を含めてPLLを1つの集積回路と
して半導体チップ上に形成すると、そのLPF10の特
性を変更することができない。このため、多用途に使用
する汎用PLLではLPF10を外付けする必要があ
り、小形化が困難となっていた。 本発明は、前記従来技術が持っていた課題を解決し、精
度の高いLPFを含めて1つの半導体チップ上に形成し
たPLLを提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の内の第1の発明は、半導体基板上に形成さ
れ、基準信号と内部信号との位相差を検出し、該内部信
号の遅れまたは進みに対応して第1または第2の検出信
号を出力するPFDと、印加された制御電圧に対応する
周波数の発振信号を出力するVCOと、前記発振信号に
基づいて前記内部信号を生成して該PFDに帰還する帰
還回路と、前記VCOの周波数を制御するための前記制
御電圧を生成するフィルタ回路とを備えたPLLにおい
て、前記フィルタ回路を次のように構成している。
【0011】即ち、このフィルタ回路は、第1の検出信
号に基づいて第1の電源電位と第1のノードとの間の接
続をオン/オフ制御する第1のスイッチ手段と、出力ノ
ードと前記第1のノードとの間に接続され、制御電極に
与えられる第1のバイアス電圧によってオン抵抗が制御
される第1のトランジスタと、第2のノードと前記出力
ノードとの間に接続され、制御電極に与えられる第2の
バイアス電圧によってオン抵抗が制御される第2のトラ
ンジスタと、前記第2の検出信号に基づいて第2の電源
電位と前記第2のノードとの間の接続をオン/オフ制御
する第2のスイッチ手段と、前記第1及び第2の電源電
位間の電圧を第1及び第2の抵抗で分圧して前記第2の
バイアス電圧を生成する分圧手段とを有している。
【0012】更に、このフィルタ回路は、第1及び第2
の電源電位間に直列に接続され、前記第2のバイアス電
圧に応じて流れる電流が制御されるトランジスタを有
し、該トランジスタに流れる電流に基づいて前記第1の
バイアス電圧を生成するバイアス生成手段と、前記出力
ノードと前記第1または第2の電源電位との間に接続さ
れ、前記制御電圧に対応する電圧を保持することによっ
て前記制御電圧の変動を抑制する容量手段とを有してい
る。
【0013】第2の発明は、第1の発明におけるフィル
タ回路において、前記容量手段に直列に接続され、該容
量手段に入出力する電流を制限することによって前記制
御電圧の変動を抑制する抵抗手段を設けている。第3の
発明は、第1及び第2の発明におけるフィルタ回路を、
前記第1のトランジスタに並列にそれぞれ特性の異なる
単数または複数の第3のトランジスタを接続し、第1の
選択信号に基づいて該第1または第3のトランジスタの
内のいずれかを選択するとともに、前記第2のトランジ
スタに並列にそれぞれ特性の異なる単数または複数の第
4のトランジスタを接続し、該第1の選択信号に基づい
て該第2または第4のトランジスタの内のいずれかを選
択するように構成している。
【0014】第4の発明は、第1〜第3の発明における
フィルタ回路を、前記分圧手段を構成する第2の抵抗を
直列接続された複数の直列抵抗で構成するとともに、第
2の選択信号に基づいて該直列抵抗を短絡するための短
絡部を設けている。第5の発明は、第2〜第4の発明に
おけるフィルタ回路を、前記抵抗手段を直列接続された
複数の直列抵抗で構成するとともに、第3の選択信号に
基づいて該直列抵抗を短絡するための短絡部を設けてい
る。
【0015】第6の発明は、第1〜第5の発明における
フィルタ回路を、前記容量手段を容量の異なる複数のキ
ャパシタで構成するとともに、第4の選択信号に基づい
て該キャパシタと前記第3のノードとの接続をオン/オ
フ制御するためのスイッチ部を設けている。第7の発明
は、第1〜第6の発明におけるフィルタ回路を、非動作
時の消費電力を低減するため及び静止時電流テストによ
る故障検出を可能にするため、電力制御信号によって制
御され、前記分圧手段を前記第1及び第2の電源電位か
ら切り離すためのスイッチ部を設けている。
【0016】本発明によれば、以上のようにPLLを構
成したので、次のような作用が行われる。フィルタ回路
の分圧手段によって基準電圧が生成され、この基準電圧
がバイアス生成手段に与えられて第1及び第2のバイア
ス電圧が生成される。これらの第1及び第2のバイアス
電圧は、それぞれ第1及び第2のトランジスタの制御電
極に与えられ、これらの第1及び第2のトランジスタの
オン抵抗が制御される。
【0017】ここで、例えばVCOから帰還回路を介し
て帰還された内部信号の位相が基準信号に対して遅れる
と、PFDから第1の検出信号が出力される。これによ
り、フィルタ回路の第1のスイッチ手段がオンとなり、
第1の電源電位から第1のトランジスタ、及び出力ノー
ドに接続された抵抗手段を介して容量手段に電流が流
れ、この容量手段に電荷が蓄積されて出力ノードの制御
電圧が上昇する。これにより、VCOの発振信号の周波
数は位相差をなくすように制御され、周波数が上昇して
位相差は小さくなり、最終的に内部信号の位相は基準信
号の位相に一致する。
【0018】これとは逆に、VCOから帰還回路を介し
て帰還された内部信号の位相が基準信号に対して進む
と、PFDから第2の検出信号が出力される。これによ
り、フィルタ回路の第2のスイッチ手段がオンとなり、
容量手段から抵抗手段、及び第2のトランジスタを介し
て第2の電源電位(例えば、接地電位)に電流が流れ、
この容量手段の電荷が放電されて出力ノードの制御電圧
は低下する。これにより、VCOの発振信号の周波数は
位相差をなくすように制御され、周波数が低下して位相
差は小さくなり、最終的に内部信号の位相は基準信号の
位相に一致する。このようなフィードバック制御によっ
て、内部信号の位相は基準信号の位相に一致追随する。
【0019】
【発明の実施の形態】第1の実施形態 図1は、本発明の第1の実施形態を示すPLLの構成図
であり、図2の従来のPLLと共通の要素には共通の符
号が付されている。このPLLは、半導体チップ上に形
成されたもので、図2のPLLと同様のPFD1、VC
O2、及び帰還回路3と、図2とは異なるフィルタ回路
(例えば、LPF)10Aとで構成されている。
【0020】即ち、PFD1は、外部から与えられる基
準信号FRと、帰還回路3から与えられる内部信号FI
との位相差を検出して、内部信号FIの位相が遅れてい
るときには検出信号UPを、進んでいるときには検出信
号DNを、その位相差に応じた時間だけ“L”にして出
力するものである。また、位相差がない場合、PFD1
は、いずれも“H”の検出信号UP,DNを出力するよ
うになっている。また、VCO2は、LPF10Aから
与えられる制御電圧VCによって発振信号FVの周波数
が制御される発振器であり、この制御電圧VCの上昇に
伴ってその発振信号FVの周波数が上昇する特性を有し
ている。更に、帰還回路3は、例えば分周器等で構成さ
れ、発振信号FVの周波数を1/nに分周し、内部信号
FIとしてPFD1に帰還するための回路である。
【0021】一方、LPF10Aは、検出信号UP,D
Nの高周波成分を抑制して位相差に応じた安定した制御
電圧VCを生成するものである。このLPF10は、電
源電位VDDとノードN1aとの間に接続され、PFD
1から与えられる検出信号UPによってオン/オフ制御
される第1のスイッチ手段(例えば、PMOS)11を
有している。また、LPF10Aは、検出信号DNのレ
ベルを反転するインバータ12、及び接地電位GNDと
ノードN1bとの間に接続され、このインバータ12の
出力信号によってオン/オフ制御される第2のスイッチ
手段(例えば、NMOS)13を有している。ノードN
1aには第1のトランジスタ(例えば、PMOS)17
のソースが接続され、このPMOS17のドレインが出
力ノード(例えば、ノードN2)に、ゲートがノードN
3にそれぞれ接続されている。ノードN1bには第2の
トランジスタ(例えば、NMOS)18のソースが接続
され、このNMOS18のドレインが出力ノード(例え
ば、ノードN2)に接続されている。
【0022】更に、LPF10Aはバイアス生成手段
(例えば、PMOS19及びNMOS20)を有してお
り、このPMOS19のソースが電源電位VDDに、ド
レインとゲートがノードN3に接続されている。ノード
N3にはNMOS20のドレインが接続され、このNM
OS20のソースが接地電位GNDに接続されている。
また、電源電位VDDと接地電位GNDの間には、分圧
手段(例えば、抵抗21,22)が接続されており、こ
れらの抵抗21,22で分圧されて生成された基準電圧
VRが、NMOS20,18のゲートに共通に与えられ
るようになっている。このように、PMOS17及びN
MOS18は、PMOS19及びNMOS20とともに
電流ミラー回路を構成し、これらのPMOS17及びN
MOS18のゲートに、それぞれバイアス電圧VP,V
Nが出力されるようになっている。
【0023】ノードN2と接地電位GNDとの間には、
直列接続された抵抗手段(例えば、抵抗)15及び容量
手段(例えば、キャパシタ)16が接続されている。ま
た、PMOS17及びNMOS18は、図2中の抵抗1
4に対応するものであり、これらのPMOS17または
NMOS18のオン抵抗と、抵抗15と、キャパシタ1
6とによってラグリードフィルタが構成されている。そ
して、このラグリードフィルタによって、検出信号U
P,DN中の高周波成分や雑音が除去されて、ノードN
2から位相差に応じた制御電圧VCが出力されるように
なっている。
【0024】次に、動作を説明する。このようなPLL
で、例えば、VCO2は10MHzを中心とする一定範
囲の周波数で発振するように設計され、帰還回路3の分
周比が1/100に設定されているとする。ここで、P
LLへの電源が投入されるとともに、外部から例えば1
00kHzの基準信号FRが与えられたとする。電源の
投入により、電源電位VDDは抵抗21,22によって
分圧され、これらの抵抗21,22で生成された基準電
圧VRが、NMOS20のゲートに与えられる。これに
より、PMOS19及びNMOS20には、基準電圧V
Rに応じた所定の電流が流れる。
【0025】電源投入直後、LPF10Aのキャパシタ
16は充電されていないので、このLPF10Aから出
力される制御電圧VCは低く、VCO2の発振信号FV
の周波数は10MHzより低くなる。従って、帰還回路
3から出力される内部信号FIは100kHzよりも低
くなり、この内部信号FIの位相は基準信号FRに対し
て遅れる。PFD1から出力される検出信号UPは、位
相遅れを検出している期間“L”となり、PMOS11
はオンとなる。一方、検出信号DNは“H”となってい
るので、NMOS13はオフである。これにより、PM
OS17には、そのゲートに供給されるバイアス電圧V
Pに基づいて所定の電流が流れ、このPMOS17は所
定のオン抵抗を有する抵抗として動作する。そして、電
源電位VDDからPMOS11,17、及び抵抗15を
通してキャパシタ16が充電され、ノードN2から出力
される制御電圧VCは上昇する。
【0026】制御電圧VCの上昇により、VCO2の発
振信号FVの周波数は上昇する。そして、発振信号FV
が10MHzになり、内部信号FIが100kHzとな
って位相同期が確立すると、PFD1の検出信号UP,
DNはともに“H”となる。これにより、PMOS11
及びNMOS13はともにオフとなり、LPF10Aか
ら出力される制御電圧VCの上昇は停止して一定値に保
持される。これにより、VCO2の発振信号FVの周波
数は10MHzに固定される。ここで、例えば電源電圧
変動等により内部信号FIの位相が基準信号FRに対し
て進むと、位相同期が外れてPFD10から出力される
検出信号DNは、位相進みを検出している期間“L”と
なり、LPF10AのNMOS13がオンとなる。これ
により、NMOS18には、そのゲートに供給されるバ
イアス電圧VNに基づいて所定の電流が流れ、このNM
OS18は所定のオン抵抗を有する抵抗として動作す
る。そして、キャパシタ16に充電されていた電荷は、
抵抗15、及びNMOS18,13を通して接地電位G
NDに放電され、ノードN2の制御電圧VCが低下す
る。制御電圧VCの低下により、VCO2の発振信号F
Vの周波数は低下し、内部信号FIの位相が遅れるよう
に制御される。
【0027】また、内部信号FIの位相が基準信号FR
に対して遅れると、PFD1から出力される検出信号U
Pは“L”となり、LPF10Aから出力される制御電
圧VCが上昇する。これによってVCO2の発振信号F
Vの周波数は上昇し、内部信号FIの位相が進むように
制御される。このようなフィードバック制御により、内
部信号FIの位相は基準信号FRの位相に一致追随す
る。
【0028】以上のように、この第1の実施形態のPL
Lは、次の(1)〜(3)のような利点がある。 (1) ラグリードフィルタの抵抗を、PMOS17及
びNMOS18のオン抵抗で構成し、これらのPMOS
17及びNMOS18のオン抵抗を電流ミラー回路から
のバイアス電圧VP,VNによって制御するようになっ
ている。これにより、大きな抵抗値(即ち、オン抵抗)
を容易に得ることができる。 (2) 電流ミラー回路におけるバイアス電圧VP,V
Nは、抵抗21,22による分圧回路で生成された基準
電圧VRで決定される。抵抗21,22による分圧回路
の分圧比は、半導体チップの製造プロセスのばらつきに
はほとんど影響されないので、設計通りの特性を容易に
得ることができる。 (3) LPF10AをPFD1や帰還回路3等ととも
に同一の半導体チップ上に形成しているので、小形化が
可能である。
【0029】第2の実施形態 図3は、本発明の第2の実施形態を示すLPFの回路図
である。このLPF10Bは、図1中のLPF10Aに
代えて用いられるものであり、要素と共通の要素には共
通の符号が付されている。このLPF10Bでは、PM
OS11のソースと電源電位VDDとの間にスイッチ用
のPMOS23を設け、NMOS13のソースと接地電
位GNDとの間にスイッチ用のNMOS24を設けてい
る。そして、NMOS24のゲートには、外部から選択
信号SA0が与えられ、PMOS23のゲートにはイン
バータ25を介してこの選択信号SA0が与えられるよ
うになっている。更に、PMOS23,11,17、及
びNMOS18,13,24の直列回路と並列に、PM
OS23,11,17、及びNMOS18,1
,24(但し、i=1〜m)の直列回路が設けら
れている。各直列回路中のPMOS17とNMOS1
のゲート幅及びゲート長のディメンジョンは、それ
ぞれ異なる寸法に設計され、それぞれ異なるオン抵抗を
有するようになっている。
【0030】これらのPMOS11及び各PMOS11
のゲートには、検出信号UPが共通に与えられ、NM
OS13及び各NMOS13のゲートには、検出信号
DNが、インバータ12を介して共通に与えられるよう
になっている。また、PMOS17及び各PMOS17
のゲートはPMOS19のゲートに、NMOS18及
び各NMOS18のゲートはNMOS20のゲート
に、それぞれ共通接続されている。更に、各PMOS1
とNMOS18のドレインは、ノードN2に共通
接続されている。そして、NMOS24のゲートに
は、外部から選択信号SAiが与えられ、PMOS23
のゲートにはインバータ25を介してこの選択信号
SAiが与えられるようになっている。このLPF10
Bにおいて、外部から与えられる選択信号SAiの内
の、いずれか1つのみが“H”に設定され、その他のす
べてが“L”に設定される。これにより、“H”の選択
信号SAiが与えられた直列回路のPMOS23とN
MOS24がオンになり、この直列回路が選択され
る。そして、その他の直列回路は電源電位VDD及び接
地電位GNDから切り離される。
【0031】このようなLPF10Bを有するPLLの
動作は、図1のPLLの動作と同様であり、前記(1)
〜(3)の利点に加えて次の(4)のような利点があ
る。 (4) 各直列回路におけるPMOS17とNMOS
18のオン抵抗は、それぞれ異なる値となるように設
計されているので、外部からの選択信号SAiによって
所望の特性のLPFを選択することができる。
【0032】第3の実施形態 図4は、本発明の第3の実施形態を示すLPFの回路図
である。このLPF10Cは、図1中のLPF10Aに
代えて用いられるものであり、要素と共通の要素には共
通の符号が付されている。このLPF10Cでは、図1
中の抵抗22に代えて直列接続された複数の直列抵抗2
,22,…,22n+1 を設けている。各直列抵抗
22及び直列抵抗j+1 (但し、j=0〜n)の接続点
と接地電位GNDとの間には、これらの直列抵抗22
を短絡するための短絡部(例えば、NMOS)26
設けている。このLPF10Cは、デコーダ27を有し
ており、このデコーダ27の入力側に外部から2進数の
選択符号SCBが与えられるようになっている。デコー
ダ27は、選択符号SCBをデコードして選択信号SB
0,SB1,…,SBnの内の1つに“H”を出力し、
その他のすべてに“L”を出力するものである。選択信
号SB0〜SBnは、それぞれNMOS26〜26
のゲートに与えられ、これらの選択信号SB0〜SBn
によってNMOS26〜26がオン/オフ制御され
るようになっている。
【0033】同様に、このLPF10Cでは、図1中の
抵抗15に代えてノードN3,N4間に直列接続された
それぞれ抵抗値の異なる複数の直列抵抗15,1
,…,15を設けている。各直列抵抗15(但
し、k=0〜p)の両端には、これらの直列抵抗15
を短絡するための短絡部(例えば、NMOS)28
接続されている。そして、これらのNMOS28の各
ゲートは、デコーダ29の出力側にそれぞれ接続されて
おり、外部から与えられる2進数の選択符号SCCに基
づいてオン/オフ制御されるようになっている。
【0034】更に、このLPF10Cでは、図1中のキ
ャパシタ16に代えて、それぞれ容量値の異なる複数の
キャパシタ16,16,…,16を設けている。
各キャパシタ16(但し、l=0〜q)の一端は接地
電位GNDに接続され、他端がそれぞれスイッチ部(例
えば、アナログスイッチ)30,30,…,30
を介してノードN4に共通接続されている。これらのア
ナログスイッチ30の制御端子はデコーダ31の出力
側にそれぞれ接続されており、外部から与えられる2進
数の選択符号SCDに基づいてオン/オフ制御されるよ
うになっている。
【0035】このLPF10Cにおいて、外部から選択
符号SCB,SCC,SCDが与えられると、デコーダ
27によってこの選択符号SCBに対応した選択信号S
Bjのみが“H”となる。これによってNMOS26
がオンとなり、直列抵抗22 j+1 〜22n+1 が短絡され
る。また、デコーダ29によって選択符号SCCに対応
した選択信号SCkのみが“H”となる。これによって
NMOS28がオンとなり、直列抵抗15が短絡さ
れる。更に、デコーダ31によって選択符号SCDに対
応した選択信号SDlのみが“H”となる。これによっ
てアナログスイッチ30がオンとなり、キャパシタ1
がノードN4に接続され、他のキャパシタは切り離
される。
【0036】このようなLPF10Cを有するPLLの
動作は、図1のPLLの動作と同様であり、前記(1)
〜(3)の利点に加えて、次の(5)〜(8)のような
利点がある。 (5) 直列接続された直列抵抗22〜22n+1 の一
部を、外部からの選択符号SCBに基づいて短絡するた
めのNMOS26〜26を有している。これによ
り、外部から所望の特性のLPFを選択することができ
る。
【0037】(6) 直列接続された異なる抵抗値を有
する直列抵抗15〜15のいずれかを、外部からの
選択符号SCCに基づいて短絡するためのNMOS28
〜28を有している。これにより、外部から所望の
特性のLPFを選択することができる。 (7) 容量値の異なる複数のキャパシタ16,16
,…,16を、外部からの選択符号SCDに基づい
て選択接続するためのアナログスイッチ30〜30
を有している。これにより、外部から所望の特性のLP
Fを選択することができる。 (8) 外部から2進数で与えられる選択符号SCB,
SCC,SCDをデコードして、それぞれ対応する選択
信号SBj,SCk,SDlを出力するデコーダ27,
29,31を有している。これにより、個別の選択信号
SBj,SCk,SDlを与える場合に比べて、外部接
続用の端子数を削減することができる。
【0038】第4の実施形態 図5は、本発明の第4の実施形態を示すLPFの回路図
である。このLPF10Dは、図1中のLPF10Aに
代えて用いられるものであり、要素と共通の要素には共
通の符号が付されている。このLPF10Dでは、抵抗
21と電源電位VDDとの間にスイッチ用のPMOS3
2を設け、抵抗22と接地電位GNDとの間にスイッチ
用のNMOS33を設けるとともに、ノードN3と接地
電位GNDとの間にスイッチ用のNMOS34を設けて
いる。そして、PMOS32とNMOS34のゲートに
は、外部からパワーダウン制御信号PDが与えられ、N
MOS33のゲートにはインバータ35を介してこのパ
ワーダウン制御信号PDが与えられるようになってい
る。その他の構成は、図1中のLPF10Aと同様であ
る。
【0039】このLPF10Dにおいて、外部からのパ
ワーダウン制御信号PDが“H”になると、PMOS3
2とNMOS33はオフとなり、抵抗21,22は、電
源電位VDD及び接地電位GNDから切り離される。ま
た、NMOS34はオンとなり、ノードN3は接地電位
GNDに接続される。一方、パワーダウン制御信号PD
が“L”になると、NMOS34はオフとなり、PMO
S32とNMOS33はオンとなる。これにより、抵抗
21,22に電源電位VDD及び接地電位GNDから電
流が流れ、これらの抵抗21,22の接続点に基準電圧
VRが出力される。
【0040】このようなLPF10Dを有するPLLに
おけるパワーダウン制御信号PDが“L”のときの動作
は、図1のPLLの動作と同様であり、前記(1)〜
(3)の利点に加えて、次の(9)のような利点があ
る。 (9) 外部からのパワーダウン制御信号PDを“H”
にすることにより、抵抗21,22を、電源電位VDD
及び接地電位GNDから切り離すことができるので、動
作していないときの消費電力を低減することができる。
更に、非動作時の電流の値によって異常を判定するIdd
q テスト(静止時電流テスト)による故障検出が可能と
なる。
【0041】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次の(a)〜(k)のようなものがある。 (a) PFD1は、位相差を検出したときに“L”の
検出信号UP,DNを出力するようになっているが、
“H”の検出信号UP,DNを出力するものでも良い。
その場合、インバータ12を検出信号UP側に接続すれ
ば良い。 (b) VCO2は、制御電圧VCの上昇に伴って発振
信号FVの周波数が上昇するようになっているが、この
制御電圧VCの上昇に伴って発振信号FVの周波数が低
下するものでも良い。その場合、例えば、PFD1とL
PF10A等との間の検出信号UP,DNの接続を逆に
すれば良い。 (c) 帰還回路3は、発振信号FVを1/nに分周し
て内部信号FIを生成するようになっているが、分周せ
ずに信号レベルを調整するだけでPFD1に帰還するよ
うにしても良い。
【0042】(d) PFD1,VCO2,帰還回路
3、及びLPF10A,10B,10C,10Dを、す
べて同一の半導体チップ上に形成しているが、例えば電
圧制御型水晶発振回路等のVCO2を使用する場合等に
は、このVCO2を外付けにしても良い。 (e) 図1のLPF10Aでは、図2中の抵抗14を
PMOS17及びNMPS18のオン抵抗で置き換える
ようにしているが、抵抗15も同様にPMOS及びNM
OSのオン抵抗で置き換えるようにしても良い。 (f) 図3のLPF10Bでは、スイッチ用のPMO
S23等を電源電位VDD側に挿入しているが、PMO
S11等とPMOS17等の間に挿入しても良い。同様
に、NMOS24等をNMOS13等とNMOS18等
の間に挿入しても良い。
【0043】(g) 図3のLPF10Bでは、選択信
号SA0〜SAmを個別に与えるように構成している
が、図4のLPF10Cと同様に、2進数の選択符号を
デコーダで解読して、これらの選択信号SA0〜SAm
を生成するようにしても良い。 (h) 図4のLPF10Cでは、抵抗22,15、及
びキャパシタ16の値をすべて外部からの信号で選択で
きるように構成しているが、例えば、抵抗22や、抵抗
15だけを選択できるように構成しても良い。 (i) 図4のLPF10Cでは、2進数の選択符号S
BC等をデコーダ27等でデコードして選択信号SB0
等を生成するように構成しているが、図3のLPF10
Bと同様に、選択信号SB0等を個別に与えるようにし
ても良い。その場合、外部接続用の端子数は増加する
が、選択の組み合わせを多くすることができる。
【0044】(j) 図4のLPF10Cに、図3と同
様の直列回路を複数並列に設けても良い。更に、そのL
PF10Cに、図5と同様のパワーダウン制御のための
回路を追加しても良い。 (k) 図6(a),(b)は、本発明のその他の実施
形態を示すLPFの回路図であり、同図(a)は図3の
LPFに対する変形回路例を、同図(b)は電流ミラー
回路の変形例を示している。例えば、図6(a)に示す
ように、検出信号UPからのスイッチをPMOS11の
みとし、PMOS17,17,…,17に接続し
ても良い。同様に、検出信号DNからのスイッチをNM
OS13のみとし、NMOS18,18,…,18
に接続しても良い。また、図6(b)に示すように、
VP,VNのバイアス配線にキャパシタCP,CNを挿
入する。これにより、電源ノイズが生じてもこのキャパ
シタCP,CNによりノイズを吸収させることが可能に
なり、ノイズによるバイアス電圧変動等の影響を防ぎ、
安定したバイアス電圧をオン抵抗用トランジスタPMP
S17,NMOS13に供給することができる。
【0045】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、第1または第2の電源電位と出力ノードとの
間を、それぞれ第1及び第2のバイアス電圧で制御され
る第1及び第2のトランジスタによるオン抵抗で接続し
ている。これにより、大きな抵抗値を容易に得ることが
できるという効果がある。更に、第1のバイアス電圧
は、抵抗による分圧手段から得られる第2のバイアス電
圧で制御されるバイアス生成手段で生成するようになっ
ているので、精度の良いバイアス電圧によって精度の良
い高抵抗を得ることができるという効果がある。
【0046】第2の発明によれば、出力ノードに抵抗手
段と容量手段による電圧変動抑制回路が接続されている
ので、安定した動作が可能になる。第3の発明によれ
ば、第1及び第2のトランジスタに並列に、特性の異な
る第3及び第4のトランジスタを設けて、第1の選択信
号でいずれかのトランジスタを選択するように構成して
いる。これにより、第1の発明の効果に加えて、所望の
特性のLPFを選択することができるという効果があ
る。
【0047】第4の発明によれば、分圧手段における第
2の抵抗を複数の直列抵抗で構成し、第2の選択信号で
これらの直列抵抗の幾つかを短絡するように構成してい
る。これにより、第1及び第2の発明の効果に加えて、
LPFの特性の選択範囲を広くすることができるという
効果がある。第5の発明によれば、抵抗手段を複数の直
列抵抗で構成し、第3の選択信号でこれらの直列抵抗を
短絡するように構成している。これにより、第3の発明
と同様に、LPFの特性の選択範囲を広くすることがで
きるという効果がある。
【0048】第6の発明によれば、容量手段を複数のキ
ャパシタで構成し、第4の選択信号でこれらのキャパシ
タの接続制御を行うように構成している。これにより、
第3の発明と同様に、LPFの特性の選択範囲を広くす
ることができるという効果がある。第7の発明によれ
ば、非動作時の消費電力を低減するために、フィルタ回
路の分圧手段等に流れる電流を停止するスイッチ部を設
けている。これにより、第1〜第5の発明の効果に加え
て、不必要な電力消費を抑制するとともに、静止時電流
テストによる故障検出が可能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示すPLLの構成図
である。
【図2】従来のPLLの構成図である。
【図3】本発明の第2の実施形態を示すLPFの回路図
である。
【図4】本発明の第3の実施形態を示すLPFの回路図
である。
【図5】本発明の第4の実施形態を示すLPFの回路図
である。
【図6】本発明のその他の実施形態を示すLPFの回路
図である。
【符号の説明】
1 PFD(位相差検出回路) 2 VCO(電圧制御発振回路) 3 帰還回路 10A,10B,10C,10D LPF(ループフ
ィルタ) 11,17,19,23,32 PMOS 13,18,20,24,26,28,33,34
NMOS 15,21,22 抵抗 16 キャパシタ 27,29,31 デコーダ 30 アナログスイッチ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に形成され、基準信号と内
    部信号との位相差を検出し、該内部信号の遅れまたは進
    みに対応して第1または第2の検出信号を出力する位相
    差検出回路と、 印加された制御電圧に対応する周波数の発振信号を出力
    する電圧制御発振回路と、 前記発振信号に基づいて前記内部信号を生成して該位相
    差検出回路に帰還する帰還回路と、 前記電圧制御発振回路の周波数を制御するための前記制
    御電圧を生成するフィルタ回路とを備えたフェーズロッ
    クループ回路において、 前記フィルタ回路は、 前記第1の検出信号に基づいて第1の電源電位と第1の
    ノードとの間の接続をオン/オフ制御する第1のスイッ
    チ手段と、 出力ノードと前記第1のノードとの間に接続され、制御
    電極に与えられる第1のバイアス電圧によってオン抵抗
    が制御される第1のトランジスタと、 第2のノードと前記出力ノードとの間に接続され、制御
    電極に与えられる第2のバイアス電圧によってオン抵抗
    が制御される第2のトランジスタと、 前記第2の検出信号に基づいて第2の電源電位と前記第
    2のノードとの間の接続をオン/オフ制御する第2のス
    イッチ手段と、 前記第1及び第2の電源電位間の電圧を第1及び第2の
    抵抗で分圧して前記第2のバイアス電圧を生成する分圧
    手段と、 前記第1及び第2の電源電位間に直列に接続され、前記
    第2のバイアス電圧に応じて流れる電流が制御されるト
    ランジスタを有し、該トランジスタに流れる電流に基づ
    いて前記第1のバイアス電圧を生成するバイアス生成手
    段と、 前記出力ノードと前記第1または第2の電源電位との間
    に接続され、前記制御電圧に対応する電圧を保持するこ
    とによって前記制御電圧の変動を抑制する容量手段と
    を、 有することを特徴とするフェーズロックループ回路。
  2. 【請求項2】 前記フィルタ回路において、前記容量手
    段に直列に接続され、該容量手段に入出力する電流を制
    限することによって前記制御電圧の変動を抑制する抵抗
    手段を設けたことを特徴とする請求項1記載のフェーズ
    ロックループ回路。
  3. 【請求項3】 前記フィルタ回路において、前記第1の
    トランジスタに並列にそれぞれ特性の異なる単数または
    複数の第3のトランジスタを接続し、第1の選択信号に
    基づいて該第1または第3のトランジスタの内のいずれ
    かを選択するとともに、前記第2のトランジスタに並列
    にそれぞれ特性の異なる単数または複数の第4のトラン
    ジスタを接続し、該第1の選択信号に基づいて該第2ま
    たは第4のトランジスタの内のいずれかを選択するよう
    に構成したことを特徴とする請求項1または2記載のフ
    ェーズロックループ回路。
  4. 【請求項4】 前記フィルタ回路において、前記分圧手
    段を構成する第2の抵抗を直列接続された複数の直列抵
    抗で構成するとともに、第2の選択信号に基づいて該直
    列抵抗を短絡するための短絡部を設けたことを特徴とす
    る請求項1、2、または3記載のフェーズロックループ
    回路。
  5. 【請求項5】 前記フィルタ回路において、前記抵抗手
    段を直列接続された複数の直列抵抗で構成するととも
    に、第3の選択信号に基づいて該直列抵抗を短絡するた
    めの短絡部を設けたことを特徴とする請求項2、3、ま
    たは4記載のフェーズロックループ回路。
  6. 【請求項6】 前記フィルタ回路において、前記容量手
    段を容量の異なる複数のキャパシタで構成するととも
    に、第4の選択信号に基づいて該キャパシタと前記第3
    のノードとの接続をオン/オフ制御するためのスイッチ
    部を設けたことを特徴とする請求項1、2、3、4、ま
    たは5記載のフェーズロックループ回路。
  7. 【請求項7】 前記フィルタ回路において、非動作時の
    消費電力を低減するため及び静止時電流テストによる故
    障検出を可能にするため、電力制御信号によって制御さ
    れ、前記分圧手段を前記第1及び第2の電源電位から切
    り離すためのスイッチ部を設けたことを特徴とする請求
    項1、2、3、4、5、または6記載のフェーズロック
    ループ回路。
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