JP2000286229A - 表面処理装置 - Google Patents

表面処理装置

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JP2000286229A
JP2000286229A JP11088384A JP8838499A JP2000286229A JP 2000286229 A JP2000286229 A JP 2000286229A JP 11088384 A JP11088384 A JP 11088384A JP 8838499 A JP8838499 A JP 8838499A JP 2000286229 A JP2000286229 A JP 2000286229A
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pot
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敦資 坂井田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】処理液の品質低下を抑制しつつ処理液の有効利
用を図ることができる表面処理装置を提供する。 【解決手段】エッチングポット5には内部にエッチング
液が満たされ、底部にウエハ4が外周部をシールした状
態で支持され、ウエハ4の被処理面がエッチング液に接
する。サブポット40において表面処理を行った後のエ
ッチングの一部と、新しいエッチング液とが混合され再
生処理される。エッチングポット5での表面処理を行っ
た後のエッチング液の一部が連通管60を通してサブポ
ット40に移送され、サブポット40での再生処理を行
った後のエッチング液が連通管60を通してエッチング
ポット5に移送される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハの
表面にエッチング処理やメッキ処理等を行うための表面
処理装置に関し、例えば、半導体圧力センサや半導体加
速度センサ等を製造する際に用いると好適なものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、図6に示すように、半導体ウエハ
70上に数100〜数1000個程度の凹部72を水酸
化カリウム(KOH水溶液)等のエッチング液を用いて
形成し、圧力センサや加速度センサ等の半導体センサを
製造している。
【0003】これらの製造工程には、半導体回路の保護
や給電電極保護のために、それらを処理液からマスキン
グするため、図7に示すような各種の治具75が用いら
れている。例えば、エッチング工程では、図6の半導体
ウエハ70上の各チップ71は、図8に詳細を示すよう
に、中央に島状の膨らみを残してその周りを水酸化カリ
ウム等の異方性エッチング液で溶かし込んで凹部72を
作り、加速度センサを製作している。
【0004】この処理工程は、図8に示したように、ウ
エハ70上にマスク76を形成し、被エッチング面を高
温の水酸化カリウム等の強アルカリに浸すことにより、
凹部72が異方性エッチングによって形成される。
【0005】エッチングの方式としては、浸漬方式が一
般的に用いられてきた。例えば、図7に示すように、セ
ラミック等の高耐食のプレート73に、ワックス74で
ウエハ70の回路面と縁面をマスキングし被エッチング
面のみがエッチング液に溶解するようにする。そして、
図9に示すように、キャリア80においてウエハ70を
マスキングしたマスキング治具75を並べて配置し、エ
ッチング槽81に容れたエッチング液82に所望のエッ
チング量になるまで浸漬し、次に図示していない搬送装
置等により水洗槽83に移し替えて純水84に浸漬する
ことでエッチングを停止する。十分水洗した後、キャリ
ア80を水洗槽83から取り出す。洗浄に用いた純水を
乾燥した後、図示していない溶剤洗浄装置等で図7のワ
ックス74を溶解しウエハ70をプレート73から外し
ていた。
【0006】このような工程からなる浸漬方式は、マス
キング治具75の全体を処理液に浸漬するためマスキン
グ作業中に付着した不純物が処理液を汚染したり、ワッ
クス等のマスキング材料の処理液への溶出等があり、高
純度の薬品を使用するウエハ製造工程では慢性的な品質
不良につながる問題であった。
【0007】近年、更に小型高機能化を目的としたセン
サが開発され、図10に示すように、半導体の回路側の
面に直接エッチング加工を施して四角錐のキャビティ8
5を形成している。このようなセンサでは、半導体回路
に悪影響を与える水酸化カリウム等のアルカリ金属を含
むエッチング液が使用できないことから、水酸化テトラ
メチルアンモニウム水溶液(頭文字から以下TMAHと
呼ぶ)等のアルカリ溶液が用いられている。エッチング
処理は、回路面のマスキングはしないものの、キャリア
にウエハを複数枚セットし、従来同様のエッチング装置
によって行われている。
【0008】TMAHは、KOH等に比べ10倍以上高
価なエッチング液で、大気中のCO 2 を吸収する性質が
ある。このような、高価で不安定なエッチング液を従来
と同じエッチング装置で使用すると、搬送治具による液
汚染に加え、CO2 を吸収し液の分解も生じ、エッチン
グ条件が不安定になるため、頻繁にエッチング液の更新
が必要となり、安定した生産が極めて困難になると言っ
た問題があった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
事情に鑑みなされたものであり、その目的は、処理液の
品質低下を抑制しつつ処理液の有効利用を図ることがで
きる表面処理装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
よれば、表面処理槽において半導体ウエハの被処理面が
処理液にて表面処理され、この表面処理を行った後の処
理液の一部が連通管を通して再生処理槽に移送される。
そして、再生処理槽において、表面処理を行った後の処
理液の一部と、新しい処理液とが混合されて処理液が再
生処理される。この再生処理槽での再生処理を行った後
の処理液が連通管を通して表面処理槽に移送される。こ
の処理液にて表面処理槽において、新たに設置された半
導体ウエハの被処理面が表面処理される。このように、
処理液が繰り返し使われる。
【0011】このようにして、処理液の品質低下を抑制
しつつ処理液の有効利用を図ることができる。請求項
4,5に記載の発明によれば、処理液を汚染しない気体
を用いて処理液が槽間で移送され、処理液が空気に触れ
ることがなく、空気による液の汚染を回避できる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、この発明を具体化した実施
の形態を図面に従って説明する。図1に、本実施形態の
エッチング装置の全体構成を示す。本エッチング装置
は、台1の上にエッチングユニット2とエッチング液管
理ユニット3が搭載されている。エッチングユニット2
は、半導体ウエハとしてのシリコンウエハ4をエッチン
グするためのものであり、エッチングユニット2はエッ
チング液を入れるエッチングポット5と、エッチングポ
ット5を載せるエッチングベース6と、エッチングポッ
ト5の上面開口部を塞ぐエッチングヘッド7とから構成
されている。つまり、エッチングポット5をエッチング
ベース6とエッチングヘッド7で挟むように配置するこ
とによりエッチングポット5内の気密を保つことができ
るようになっている。また、エッチング液管理ユニット
3は、エッチング液を準備・循環供給するサブポット4
0を有する。サブポット40もエッチングポット5と同
様に密閉容器として使用される。
【0013】図2にはエッチングユニット2におけるエ
ッチングポット5の拡大断面図を、図3にはエッチング
ベース6の拡大断面図を、図4にはエッチングヘッド7
の拡大断面図を、示す。また、図5にはエッチング液管
理ユニット3の拡大断面図を示す。
【0014】図2において、エッチングポット5は、プ
レート状のウエハベース8と、筒状のウエハリング9と
を具備している。ウエハベース8の中央部には貫通孔1
0が設けられ、その上面開口部にはウエハプレート11
が当該開口部を塞ぐように配置されている。このウエハ
プレート11は、例えばステンレス鋼(SUS304)
等の薄い金属板よりなる。ウエハプレート11は、予備
加熱用熱伝達板および電気化学ストップ用電極として機
能する。ウエハプレート11の上面にはシリコンウエハ
4が載置できるとともにその上にウエハリング9が一方
の開口部を下にした状態で配置される。つまり、シリコ
ンウエハ4が筒状のウエハリング9の下面開口部を塞ぐ
ように配置される。このように、ウエハベース8にはそ
の中央部にシリコンウエハ4が乗せられる。この際、ウ
エハ4は被エッチング面(図8のセンサならば回路形成
面とは反対の面、図10のセンサならば回路形成面)が
上向きになるように配置される。また、ウエハベース8
におけるウエハ載置部の外周側には凹部12が環状に形
成され、この凹部12にウエハリング9の突部13が嵌
合する。このように凹部12は位置合わせの機能を持
つ。さらに、ウエハベース8における凹部12の外周側
(ウエハ載置部の周囲)には、平坦なシール面S1が環
状に形成され、シール面S1には凹部14が環状に形成
され真空用ポケットとして機能する。
【0015】また、ウエハリング9の下面での内周部に
はウエハ形シールパッキン15が固定され、このパッキ
ン15はシリコンウエハ4の縁部上面をシールすべくウ
エハ形状に形抜きされている。ウエハ形シールパッキン
15により、ウエハリング9内に満たされるエッチング
液に対しシールすることができる。つまり、シールパッ
キン15は、ウエハベース8にシリコンウエハ4を載置
した状態でウエハリング9の下面とウエハ4の外周部と
を液密状態でシールするためのものである。また、ウエ
ハリング9における下面外周部には平坦なシール面S2
が環状に形成され、このシール面S2には凹部16が環
状に形成され真空用ポケットとして機能する。
【0016】ウエハベース8のシール面S1とウエハリ
ング9のシール面S2との間には、環状のX形パッキン
17が配置されている。断面がX形をしたX形パッキン
17は、円周上に数箇所(実施形態では8箇所)上下の
真空室をつなぐように連結穴17aが設けられている。
そして、図1の真空ポンプ18によって図2の凹部(真
空用ポケット)14,16内の空気を排出することで内
部の真空と大気圧との差圧により弾性変形して(X形パ
ッキン17が収縮して)ウエハベース8とウエハリング
9とが引き寄せられ、シールパッキン15にてシリコン
ウエハ4の外周部をシールした状態で固定される。この
駆動力(実施形態では約40Kg)はウエハ4のシール
力として働くが、ちなみに本実施形態ではウエハ4のシ
ール長さで1.4Kg/cmのシール力が得られる。
【0017】このようにエッチングポット5は、内部に
処理液としてのエッチング液が満たされ、底部にウエハ
4をその外周部をシールした状態で支持し、ウエハ4の
被エッチング面がエッチング液に接する構成となってい
る。
【0018】図3のエッチングベース6において、ベー
ス材20には予備加熱用の加熱ヒータ21が配置され、
加熱ヒータ21には温度センサ22が設けられている。
また、ベース材20には電極23が設けられている。そ
して、エッチングベース6にエッチングポット5が搭載
された図1の状態においては、加熱ヒータ21とウエハ
プレート11とが接触して熱的に接続され、加熱ヒータ
21の発する熱がウエハプレート11を通してエッチン
グポット5でのウエハ4の外周部を加熱することができ
る。このとき、ウエハ4の外周部のみ加熱され、エッチ
ングポット5の外周部での放熱分を補って均一なる加熱
動作を行うことができる。また、図1の状態では、エッ
チングベース6の電極23がウエハプレート11と接触
して電気的に接続される。
【0019】図4のエッチングヘッド7において、エッ
チングポット1の上面開口部を塞ぐキャップ材30を有
する。キャップ材30の下面にはポットパッキン31が
設けられ、このポットパッキン31にてエッチングポッ
ト5の上面開口部を気密状態で塞ぐ。このようにしてエ
ッチングポット5内の気密が保たれる。
【0020】キャップ材30には攪拌翼32が垂下さ
れ、モータ33の駆動により同攪拌翼32が回転してエ
ッチング液を攪拌する。また、キャップ材30には拡散
板34が垂下され、拡散板34はエッチング液中におい
てウエハ4と対向して配置される。拡散板34にてエッ
チング液の攪拌時に同液が拡散されるとともに拡散板3
4はウエハの電気化学ストップのための電極として機能
する。さらに、キャップ材30には温度センサ35が垂
下され、温度センサ35にてエッチング液の温度が検出
される。さらに、キャップ材30には送気口36が設け
られ、送気口36を通して、エッチング液を汚染しない
気体として不活性ガス(ここでは窒素ガス)がエッチン
グポット5内に圧入できる。また、キャップ材30には
排液口37が設けられ、排液口37を通してエッチング
ポット5内の液を外部に排出できる。キャップ材30に
は給排液ノズル38が上下に移動可能に垂下され、給排
液ノズル38を通してエッチングポット5に対し給液お
よび排液できる。
【0021】図1の温調器39には温度センサ22,3
5および加熱ヒータ21が接続され、温調器39により
ヒータ温度やエッチング液温が所定の温度となるように
加熱ヒータ21が通電制御される。
【0022】図5のエッチング液管理ユニット3におい
て、サブポット40はエッチング液を安定的に加熱保持
するためのものであり、ベース材41にて支持されてい
る。サブポット40にはエッチング液42が注入され
る。エッチング液管理ユニット3にはスターラ43が備
えられ、スターラ43の回転子43aがサブポット40
内に配置され、モータ43cによるマグネット43bの
回転に伴いエッチング液42中の回転子43aが回転し
てエッチング液42が攪拌される。
【0023】ここで、サブポット40のエッチング液の
容量は1000ccであり、前述のエッチングポット5
のエッチング液の容量と等しい。なお、サブポット40
のエッチング液の容量はエッチングポット5のエッチン
グ液の容量より大きくてもよい。
【0024】サブポット40の周囲には加熱ヒータ44
が配置されている。また、サブポット40の上面開口部
はキャップ材45にて気密状態で塞がれ、キャップ材4
5には排液口46、給排液ノズル47、送気管48が設
けられている。また、キャップ材45には温度センサ4
9が垂下されている。さらに、温調器50には温度セン
サ49と加熱ヒータ44が接続され、温調器50により
温度センサ49によるエッチング液の温度が所定の温度
となるように加熱ヒータ44が通電制御される。
【0025】図1において、エッチングユニット2とエ
ッチング液管理ユニット3との間は連通管60が設けら
れ、給排液ノズル38と給排液ノズル47とが連通管6
0によりつながれている。連通管60には電磁式開閉バ
ルブCが設けられている。また、ユニット2とユニット
3との間は連通管61が設けられ、排液口37と排液口
46とが連通管61によりつながれている。連通管61
には電磁式開閉バルブE1,E2が直列に設けられ、バ
ルブE1,E2の間の分岐点aはエゼクタ62の吸引口
と接続されている。エゼクタ62には電磁式開閉バルブ
S3を通して純水が供給されるようになっており、エゼ
クタ62への純水の供給にて同エゼクタ62が吸引動作
を行う。また、純水は電磁式開閉バルブS4を通してエ
ッチングユニット2の送気口36に供給できるようにな
っている。一方、窒素ガスが電磁式開閉バルブS2を通
してエッチングユニット2の送気口36に供給できると
ともに、電磁式開閉バルブS1を通してエッチング液管
理ユニット3の送気口48に供給できるようになってい
る。
【0026】そして、バルブCを開いて窒素圧送用のバ
ルブS1,S2、排気用のバルブE1,E2を適選操作
することにより、エッチング液を循環することができる
構成となっている。
【0027】また、図1の陽極酸化電源装置63にはエ
ッチングユニット2の拡散板34と電極23が接続さ
れ、陽極酸化電源装置63により拡散板34とウエハプ
レート11との間の電圧が制御され、ウエハ4でのエッ
チングの開始・停止を陽極酸化作用によって制御する。
また、付帯設備として、エッチング液を定量供給するた
めの給液ポンプ(図示略)を備えている。
【0028】このように、エッチング槽であるエッチン
グポット5は、ウエハベース8においてウエハ4の被エ
ッチング面を上向きに配置して底板となるウエハ4を支
え、筒状のウエハリング9にてウエハ縁面がマスキング
される。また、同ポット5は気密構造をなし、サブポッ
ト40はエッチング液を気密性を保った状態で加熱攪拌
し、2つのポット5,40が連通管60を用いて接続さ
れ、ポット5,40内を不活性ガスである窒素ガスにて
掃気(パージ)できるとともに同ガスで加圧することに
よりエッチング液を圧送してポット間でエッチング液を
移送することができるようになっている。
【0029】また、エッチングポット5に内蔵される前
記ウエハプレート11に関し、同プレート11はエッチ
ングポット5の内部が不活性ガスによって加圧された時
にウエハ4を変形から保護する。
【0030】なお、エッチング装置には生産管理装置と
してのコントローラが備えられ、同コントローラにて各
バルブS1〜S4,E1,E2,C等が制御されるよう
になっている。
【0031】本実施形態においては、エッチングポット
5とエッチングヘッド7にて表面処理槽が構成され、ま
た、サブポット40とキャップ材45にて再生処理槽が
構成されている。
【0032】次に、このように構成したエッチング装置
の作用(エッチング作業の手順)について説明する。エ
ッチング処理開始前の準備として、図1の連通管60に
設けたバルブCを閉じ、バルブE1とバルブS1を開
き、サブポット40内部を窒素ガスで掃気した後、図示
していない薬品供給ポンプによりエッチング液を供給し
貯蔵(例えば1000cc)する。供給後、バルブE1
とバルブS1を閉じる。この状態では、サブポット40
内は気密が保たれ、エッチング液が外気に触れることが
無い。
【0033】サプポット40内に貯蔵されたエッチング
液は、加熱ヒータ44とスターラ43によってエッチン
グ温度(例えば90℃)に温度制御される。また、サブ
ポット40が密閉構造であることから、エッチング液の
昇温によりサブポット40内の圧力が上がりエッチング
液が蒸発するのが抑えられる。そのため、長期に保存し
ても安定した組成を保つことができる。
【0034】エッチング作業は、ウエハ4を図2のウエ
ハベース8にセットし、ウエハリング9を乗せて、X型
パッキン17を真空ポンプ18(図1参照)によって作
動してエッチングポット5を組み付ける。そして、エッ
チングベース8に図示していないローダ等により図1に
示すようにエッチングベース6上に搭載し、エッチング
ポット5上面の開口部にエッチングヘッド7を降下し、
エッチングポット5の上部円周をエッチングヘッド7の
ポットパッキン31(図4参照)にて気密にシールす
る。
【0035】この状態で、エッチング前の予備加熱とし
て、加熱ヒータ21によりウエハ4をウエハプレート1
1を介してエッチング温度(例えば90℃)に加熱す
る。そして、バルブS2及びバルブE2を開いて窒素ガ
スをエッチングポット5に供給し、加熱中のエッチング
ポット5内を窒素ガスにより掃気する(その他のバルブ
は全て閉じている)。これにより、窒素ガス雰囲気に置
換される。
【0036】ウエハ4がエッチング温度に昇温し、温度
等のエッチング条件が揃った時点で、ウエハ4に陽極酸
化電源装置63から電圧を加え、ウエハ4がエッチング
液に触れてもエッチングされない準備をする。つまり、
ウエハ4を電気化学ストップする準備を行う。
【0037】その後、バルブS2を閉じ、サブポット4
0側の加熱ヒータ44、回転子43aの駆動を停止し、
バルブC及びバルブS1を開き、送気管48から窒素ガ
スをサブポット40に供給する。これにより、サブポッ
ト40内の圧力が上昇し、ポット40内のエッチング液
は、窒素ガスの圧力によって連通管60を通して給排液
ノズル38からエッチングポット5内に供給される。こ
のとき、エッチング液の流入中はウエハ4に陽極酸化電
源装置63から電圧が加えられているため、エッチング
液に触れてもウエハ4がエッチングされることはない。
【0038】エッチング液を必要量サブポット40から
エッチングポット5に移した後、バルブS1を閉じて窒
素ガスの供給を停止し、バルブC及びバルブE2を閉
じ、エッチングポット5内を密閉化する。そして、エッ
チングヘッド7の攪拌翼32を回転する。
【0039】エッチングポット5内のエッチング液は、
ウエハ4を介してエッチングベース6内に設けた加熱ヒ
ータ21によって加熱され、ウエハ4がエッチング温度
に昇温しエッチング条件が揃った時点で、陽極酸化電源
装置63による電圧印加を停止してエッチングを開始す
る。エッチング中はサブポット40と同様にエッチング
ポット5が密閉構造であることから、エッチング液の昇
温によりエッチングポット5内の圧力が上がりエッチン
グ液が蒸発するのが抑えられる。そのため、安定した組
成を保つことができる。
【0040】また、エッチング中はエッチング液が、エ
ッチングポット5内に設けた攪拌翼32によって攪拌さ
れるとともに、ウエハ4に対向して設けた拡散板34に
よって、ウエハ4全面にわたって均一な攪拌が行われ高
精度な面内分布でエッチングが進む。
【0041】予め確認されているエッチングレートから
求めたエッチング時間が経過すると、再び陽極酸化電源
装置63によってウエハ4に電圧を印加してエッチング
を停止させる。
【0042】そして、エッチングヘッド7の攪拌翼32
及びエッチングベース6の加熱ヒータ21を停止し、エ
ッチングヘッド7に設けた給排液ノズル38を下降して
ウエハ4の表面からの距離が所定値となった位置で停止
させる。この給排液ノズル38の先端より下方にはエッ
チング液が所定量(例えば30cc)だけ存在すること
になる。この液量(例えば30cc)が、エッチングポ
ット5内のエッチング後のエッチング液のうちのエッチ
ング液汚染防止に必要な排液量(例えば30cc)であ
り、残り(例えば1000cc−30cc=970c
c)が再生用となる。
【0043】その後、バルブC、バルブE1及びバルブ
S2を開き、エッチングポット5側での送気管36から
窒素ガスを供給する。これにより、エッチングポット5
内の圧力が上昇し、エッチングを行った後のエッチング
液の一部(例えば1000cc−30cc=970c
c)が、窒素ガスの圧力によって給排液ノズル38から
連通管60を通してサブポット40内に移送される。
【0044】このとき、エッチング液の液面が低下して
も一定の残量(例えば30cc)を保つため、ウエハ4
への通電が保たれエッチング停止効果が確保される。そ
して、エッチング液がサブポット40に戻ったら、給排
液ノズル38を元の高さに戻し、バルブE1、バルブC
及びバルブS2を閉じる。さらに、図示していないエッ
チング液供給ポンプにて、エッチングポット5側に残し
たエッチング液量と同量(例えば排液量30cc)をサ
ブポット40に供給し、サブポット40内の液量を初期
状態の液量(例えば1000cc)にする。
【0045】再び、次サイクルのエッチング作業の準備
のため、サブポット40内を気密に保ち、エッチング液
が外気に触れることが無いようにして、貯蔵されたエッ
チング液を加熱・攪拌しておく。このようにして、エッ
チングを行った後のエッチング液の一部(例えば970
cc)と新しいエッチング液(例えば30cc)とが混
合され、エッチング液が再生処理される。
【0046】一方、エッチングポット5において、エッ
チング液をサブポット40に戻した後、バルブE2、バ
ルブS3及びバルブS4を開いて、エッチングポット5
内に純水を注入する。さらに、エッチングヘッド7に設
けた攪拌翼32を起動してエッチング液を希釈洗浄す
る。また、バルブS3を開くことでエゼクタ62が作動
し、洗浄水を効率よく排液することができ、洗浄効果を
高めることができる。
【0047】十分な洗浄を行った後、攪拌翼32の駆動
を停止し、バルブS4及びバルブE2を閉じて給水を停
止し、エッチングポット5内の排液管(図示略)にエゼ
クタ62を接続してエッチングポット5内の洗浄水を排
液する。さらに、このようにエッチングポット5内の洗
浄水を排液した後、バルブS3を閉じてバルブE2、バ
ルブS2を開き、配管内及びエッチングポット5内をブ
ローし、純水が残ることを防止する。
【0048】引き続き、エッチング開始時と逆動作を行
って、エッチングユニット2からエッチングポット5を
取り出し、X型パッキン17内の真空を解除してウエハ
4を取り出すことで、エッチング作業を終了する。
【0049】次サイクルのエッチングは、前記と同様の
手順で行われる。つまり、エッチングポット5にシリコ
ンウエハ4を新たにセットし、サブポット40にて所定
の温度に調整されたエッチング液(再生処理を行った後
のエッチング液)を連通管60を通してエッチングポッ
ト5に移送し、エッチングポット5にてシリコンウエハ
4をエッチングし、さらに、エッチングポット5内のエ
ッチング液を所定量(例えば30cc)だけ残してサブ
ポット40に移し、サブポット40において新しいエッ
チング液を所定量(例えば30cc)だけ加え、エッチ
ング後のエッチングポット5でのエッチング液を排出
し、ウエハ4を取り出す。以後、これを繰り返す。
【0050】このようなエッチングの繰り返しにおい
て、エッチング液の汚染濃度は一定の濃度になり、それ
以上高濃度となることはない。つまり、エッチング液の
清浄度は、1回のエッチングに必要な最小限がエッチン
グポット5内に残され、水洗によって排液され、同時に
サブポット40に排液量に見合った分の新液が補給され
る構成となっているため、エッチング液の汚れは一定以
上進まずエッチング液を更新することなく常に安定した
状態を保つことができる。
【0051】ここで、エッチング後においてエッチング
ポット5に残すエッチング液の量(例として30ccを
挙げた)、即ち、エッチング後のエッチング液のうちの
エッチング液の汚染防止に必要な排液量とは、液汚染を
最小に抑えて少量の薬品を長期に使用するための量であ
り、1枚のウエハを処理することでエッチング液中に溶
け込むSiに見合った汚染量を毎回エッチング液から排
液し、この分を新しく追加することで、エッチング液中
のSiの溶解量を一定に保つことができ、液の清浄度を
長く安定させる量である。
【0052】従来の水槽に浸漬する方式(図9参照)で
は、処理枚数に比例してSiの溶解量が増加し、やが
て、エッチング品質に悪影響が現れる(エッチングレー
トの低下やエッチング面が荒れる等)ので、その前に予
防保全的にエッチング液を全量更新する方式をとってい
る。これに比べ、本実施形態では、新液の状態から少し
Siの溶解量が増えた段階で安定し長期的に一定に濃度
を保つため、エッチングレート、品質ともに毎回同じ条
件を整えることができる。
【0053】以上述べたように、エッチングポット5と
は別にサブポット40を用意し、エッチングポット5と
サブポット40とを連通管60で連結し、サブポット4
0でエッチングを行った後のエッチング液の一部と新し
いエッチング液とを混合して再生処理を行いエッチング
ポット5に戻すようにしたので、エッチング液が繰り返
し使われ、エッチング液の品質低下を抑制しつつエッチ
ング液の有効利用を図ることができる。また、両ポット
(容器)5,40内を窒素ガス(不活性ガス)にて掃気
した状態で窒素ガスで加圧することによりエッチング液
をポンプレスにて移送するようにしたので、液が空気に
触れることがなく、空気による液の汚染を回避できる。
このように、最小限の液量に抑え、且つ、エッチング液
を大気等の液を分解・汚染する雰囲気に触れることなく
循環使用することにより、従来に無い省資源型の表面処
理装置とすることができる。
【0054】また、エッチング液を少量ずつ処理毎に更
新して行くことで、エッチング液の汚染を最小限に抑
え、長期に処理条件を安定化することができる効果もあ
る。さらに、エッチング毎に補給されるエッチング液
は、常温等のエッチング液保管に最適な管理法式が選定
できるため、これらの液のライフも大幅に延ばすことが
できる。
【0055】また、エッチングポット5において、ウエ
ハ4を底面に配置し、被エッチング面をエッチング液に
対して上向きにすることで、エッチング液の給液時に付
着した気泡やエッチング中に発生する反応ガスの離脱を
容易にし、これらの気泡による未処理チップや形状不良
を無くすことができる。また、処理液を少量(エッチン
グポット内容積)で処理することができるため、大幅な
省資源化が実現でき、エッチングポット5からウエハ4
を取り出すことなくその場で水洗まで連続的に行うこと
ができ、従来のような搬送中に反応が進むことで生じる
ウエハ面内の厚みバラツキを低減することもできる。さ
らに、エッチング液はエッチング中は気密を保ったエッ
チングポット5内で、また、非エッチング中はサブポッ
ト40内でエッチング温度に保持されており、常に窒素
ガス(不活性ガス)により外気から隔離されるため高温
の状態でも、分解・蒸発等が少なくエッチング条件を安
定に保つことができる。
【0056】さらに、接液部がエッチングポット5及び
サブポット40内に限られるため、エッチングポット5
のハンドリングによる汚染がエッチングポット5の外面
に生じても、エッチング液を汚染することが全くなく、
作業も安全に行える。
【0057】また、エッチングポット5でのエッチング
およびサブポット40での再生処理は気密構造のポット
5,40中で行われるので、エッチング液の組成変化を
防止することができる。さらに、エッチングポット5が
ウエハ治具となり、ウエハが取り外し可能に支持されて
いるので有利である。また、エッチングポット5におい
てエッチング前にウエハ下側から予備加熱するヒータ2
1を設けたので好ましいものとなっている。さらに、エ
ッチングポット5において電極34,11を配置してウ
エハの電気化学ストップを行うようにしたので好ましい
ものとなっている。
【0058】なお、上述した実施形態では、電気化学ス
トップエッチングの機構(陽極酸化電源装置63による
エッチングの開始・停止の制御)を用いたが、この機能
は付随機能であり、必要に応じて設ければよい。
【0059】また、エッチングポット5のエッチング液
の加熱のために加熱ヒータ21を用いたが、これはエッ
チングポット5の予備加熱に効果があると同時に、最も
温度の高い点がウエハ表面になることから、熱分解性の
高い液の安定性を長期に保つのに大きな効果がある。し
かし、熱分解性の無い、または問題にならない処理液を
用いる場合は、エッチングポット5内に加熱ヒータを配
置して液を直接加熱してもよい。また、これらポット内
外のヒータを併用することにより、更に高いエッチング
品質(面内のエッチング量分布)が得られる。
【0060】サブポット40内の液の攪拌に、マグネッ
トカップリング式の攪拌機構43を用いたが、これは、
密閉化に有利に働く点を考慮した構造であるが、エッチ
ング液の異物による汚染を問題にする場合は、エッチン
グヘッドと同様な、軸を持った攪拌方式(インペラ式)
としてもよい。
【0061】サブポット40の加熱機構についても、内
部ヒータによる加熱でも同様の効果が得られることは言
うまでもない。排液スピードを高めるために、ベルヌイ
式(流体駆動式)エゼクタ62を用いているが、水洗時
間との兼ね合いで、省いたり、他の手段を用いてもよ
い。
【0062】また、図1の連通管60にてエッチングポ
ット5からサブポット40へのエッチング液の移送およ
びサブポット40からエッチングポット5へのエッチン
グ液の移送を行ったが、エッチングポット5からサブポ
ット40へのエッチング液の移送用連通管と、サブポッ
ト40からエッチングポット5へのエッチング液の移送
用連通管を設けてもよい。
【0063】本実施形態は、Siのエッチングについて
述べてきたが、金メッキ等、同様の処理液が高価で液汚
染が問題となる処理液を用いる、ウエハの表面処理工程
に本発明が応用できることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施形態のエッチング装置を示す全体構成
図。
【図2】 エッチングポットの拡大断面図。
【図3】 エッチングベースの拡大断面図。
【図4】 エッチングヘッドの拡大断面図。
【図5】 エッチング液管理ユニットの拡大断面図。
【図6】 ウエハを示す図。
【図7】 マスキング治具を示す図。
【図8】 加速度センサを示す図。
【図9】 エッチング工程を説明するための工程図。
【図10】 圧力センサを示す図。
【符号の説明】
2…エッチングユニット、3…エッチング液管理ユニッ
ト、4…シリコンウエハ、5…エッチングポット、11
…ウエハプレート、15…シールパッキン、21…加熱
ヒータ、31…ポットパッキン、34…拡散板、40…
サプポット、60…連通管、61…連通管。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4K057 WA20 WB06 WE21 WM03 WM11 WM13 WM17 WM19 WM20 WN01 5F043 AA02 BB01 EE03 EE04 EE10 EE15 EE22 EE28 EE33 EE35 FF03 GG10

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に処理液が満たされ、底部に半導体
    ウエハをその外周部をシールした状態で支持し、半導体
    ウエハの被処理面が処理液に接する表面処理槽と、 表面処理を行った後の処理液の一部と、新しい処理液と
    を混合して処理液を再生処理する再生処理槽と、 前記表面処理槽での表面処理を行った後の処理液の一部
    を前記再生処理槽に移送するとともに、前記再生処理槽
    での再生処理を行った後の処理液を前記表面処理槽に移
    送するための連通管と、を備えたことを特徴とする表面
    処理装置。
  2. 【請求項2】 再生処理槽の処理液の容量は表面処理槽
    の処理液の容量以上であることを特徴とする請求項1に
    記載の表面処理装置。
  3. 【請求項3】 表面処理槽および再生処理槽を気密構造
    としたことを特徴とする請求項1に記載の表面処理装
    置。
  4. 【請求項4】 処理液を汚染しない気体を用いて処理液
    を圧送することにより槽間の処理液の移送を行うように
    したことを特徴とする請求項3に記載の表面処理装置。
  5. 【請求項5】 処理液を汚染しない気体を用いて槽内を
    掃気するようにしたことを特徴とする請求項4に記載の
    表面処理装置。
  6. 【請求項6】 表面処理槽にはウエハが取り外し可能に
    支持されていることを特徴とする請求項1に記載の表面
    処理装置。
  7. 【請求項7】 表面処理槽に、表面処理前に予備加熱す
    る手段を設けたことを特徴とする請求項1に記載の表面
    処理装置。
  8. 【請求項8】 表面処理槽に、ウエハの電気化学ストッ
    プを行うための手段を設けたことを特徴とする請求項1
    に記載の表面処理装置。
  9. 【請求項9】 予備加熱手段は、ウエハ下面側から加熱
    するものであることを特徴とする請求項7に記載の表面
    処理装置。
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